KR20140036644A

KR20140036644A - 틸트 검사 장치 및 그 방법

Info

Publication number: KR20140036644A
Application number: KR20120102987A
Authority: KR
Inventors: 전진아
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2012-09-17
Filing date: 2012-09-17
Publication date: 2014-03-26
Also published as: CN103685873A; US9134118B2; US20140022538A1; CN103685873B

Abstract

렌즈 모듈을 검사하기 위한 틸트 검사 장치가 개시된다. 센서와 렌즈를 포함하는 렌즈 모듈을 검사하기 위한 틸트 검사 장치에 있어서, 렌즈 모듈의 틸트를 검사하기 위한 빛을 확산시켜 출력하는 발광부, 확산된 빛을 반사하는 반사부, 반사되는 빛이 렌즈 모듈 내의 센서에 의해 센싱되면, 센싱 결과를 센서로부터 수신하는 인터페이스부 및, 인터페이스부를 통해 수신된 센싱 결과를 이용하여 뎁스 정보를 검출하고, 뎁스 정보에 기초하여 렌즈 및 센서 간의 틸트 상태를 검출하는 검출부를 포함한다. 이에 따라, 틸트 검사 공정의 효율을 향상시킬 있다.

Description

틸트 검사 장치 및 그 방법{TILT CHECK APPARATUS AND THE METHOD THEREOF}

본 발명은 틸트 검사 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 특히, 렌즈와 센서의 조립시 틸트 평가 공정에 사용되는 틸트 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.

디지털 카메라는 렌즈(Lens)를 통해 외부의 빛을 받고, 입력된 빛을 이용하여 센서(Sensor)에서 영상 데이터를 추출하는 장치이다. 따라서, 렌즈와 센서는 카메라에 있어서 중요한 구성이라고 할 수 있다.

카메라를 개발할 때, 렌즈와 센서 조립 과정에서 조립이 잘 되지 않으면 렌즈와 센서의 수평이 틀어지는 틸트(Tilt)가 발생한다. 발생된 틸트는 화질에 영향을 준다. 따라서, 렌즈와 센서의 조립 과정에서 조립의 정상 여부를 판단하기 위해 틸트 정도를 평가한다.

종래에는 검사자가 렌즈와 센서가 조립된 렌즈 모듈을 라이브 뷰 모드(Live view mode)로 동작시키고 평가하였다. 즉, 라이브 뷰 모드 동작 상태에서 각 모서리 및 중앙 영역에서 오토 포커스(Auto Focus: AF) 데이터를 측정하고, AF 데이터의 최고 값(Peak 값)이 나타나는 위치를 측정하여 틸트 정도를 평가하였다. 이러한 방법은 센서를 라이브 뷰 모드에서 동작시키면 해상도가 낮아 실질적인 AF 데이터와 차이가 있고, AF 데이터의 최고 값을 이용하여 틸트를 조정해도 에러가 발생하는 어려움이 있었다. 또한, 센서를 연속적으로 풀 사이즈 스틸 캡쳐 모드(Full Size Still Capture Mode)로 구동시켜 AF 데이터가 최고 값이 되는 위치를 정확히 찾아내기 어렵기 때문에 AF 최고 값을 이용하여 에러를 보상할 방법도 없었다.

따라서, 용이하게 틸트를 검사하고, 정확한 틸트 보정 값을 얻을 수 있는 기술에 대한 필요성이 대두되었다.

본 발명은 상술한 필요성에 따라 안출된 것으로, 본 발명은 용이한 틸트 검사와 정확한 보정 값을 얻을 수 있는 틸트 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 상술한 목적을 달성하기 위한 일 실시 예에 따르면 센서와 렌즈를 포함하는 렌즈 모듈을 검사하기 위한 틸트 검사 장치는 상기 렌즈 모듈의 틸트를 검사하기 위한 빛을 확산시켜 출력하는 발광부, 상기 확산된 빛을 반사하는 반사부, 상기 반사되는 빛이 상기 렌즈 모듈 내의 상기 센서에 의해 센싱되면, 센싱 결과를 상기 센서로부터 수신하는 인터페이스부 및 상기 인터페이스부를 통해 수신된 상기 센싱 결과를 이용하여 뎁스 정보를 검출하고, 상기 뎁스 정보에 기초하여 상기 렌즈 및 상기 센서 간의 틸트 상태를 검출하는 검출부를 포함한다.

그리고, 상기 검출부는 상기 뎁스 정보 중에서 상기 센서의 중심 영역의 뎁스 및 각 모서리 영역의 뎁스를 검출할 수 있다.

또한, 상기 검출부는 상기 검출된 각 뎁스의 평균 값을 산출하며, 산출된 평균 값과 검출된 뎁스 간의 차이를 계산하고, 계산된 값을 비교하여 상기 틸트 상태를 검출할 수 있다.

한편, 틸트 검사 장치는 검출된 상기 뎁스 정보와 상기 틸트 상태를 저장하는 저장부 및 상기 뎁스 정보와 상기 틸트 상태를 출력하는 출력부를 더 포함할 수 있다.

그리고, 상기 발광부는 90도 위상 차가 있는 빛을 복수 번 출력할 수 있다.

본 발명의 상술한 목적을 달성하기 위한 일 실시 예에 따르면 센서와 렌즈를 포함하는 렌즈 모듈을 검사하기 위한 틸트 검사 방법은 렌즈 모듈의 틸트를 검사하기 위한 빛을 확산시켜 출력하는 단계, 상기 확산된 빛을 반사하는 단계, 상기 반사되는 빛이 상기 렌즈 모듈 내의 상기 센서에 의해 센싱되면, 센싱 결과를 상기 센서로부터 수신하는 단계 및 상기 수신된 상기 센싱 결과를 이용하여 뎁스 정보를 검출하고, 상기 뎁스 정보에 기초하여 상기 렌즈 및 상기 센서 간의 틸트 상태를 검출하는 단계를 포함한다.

그리고, 상기 검출하는 단계는 상기 뎁스 정보 중에서 상기 센서의 중심 영역의 뎁스 및 각 모서리 영역의 뎁스를 검출할 수 있다.

또한, 상기 검출하는 단계는 상기 검출된 각 뎁스의 평균 값을 산출하며, 산출된 평균 값과 검출된 뎁스 간의 차이를 계산하고, 계산된 값을 비교하여 상기 틸트 상태를 검출할 수 있다.

한편, 틸트 검사 방법은 검출된 상기 뎁스 정보와 상기 틸트 상태를 저장하는 단계 및 상기 뎁스 정보와 상기 틸트 상태를 표시하는 단계를 더 포함할 수 있다.

그리고, 상기 빛을 확산시켜 출력하는 단계는 90도 위상 차가 있는 빛을 복수 번 출력할 수 있다.

이상과 같이 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 렌즈와 센서의 결합 공정에서 틸트 검사를 용이하게 할 수 있고, 정확한 보정 값을 얻음으로써 렌즈와 센서의 결합 공정의 효율을 향상시키는 효과가 있다.

도 1 내지 도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 틸트 검사 장치의 구성을 나타내는 블록도.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 틸트 검사 장치의 구조를 설명하는 도면.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 빛의 위상을 이용하여 뎁스를 구하는 방법을 설명하는 도면.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 틸트 검사 방법의 흐름도.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 뎁스 검출 방법의 흐름도.

이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 일 실시예를 보다 상세하게 설명한다.

도 1 내지 도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 틸트 검사 장치의 구성을 나타내는 블록도이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 틸트 검사 장치(100)는 발광부(110), 반사부(120), 인터페이스부(130), 검출부(140)를 포함한다. 발광부(110)는 렌즈와 센서를 포함하는 렌즈 모듈의 틸트를 검사하기 위한 빛을 확산시켜 출력한다. 발광부(110)는 빛을 출력하는 광원, 빛을 모았다가 확산시키기 위한 렌즈와 산광기(diffuser)를 포함할 수 있다. 반사부(120)는 확산된 빛을 렌즈 모듈로 반사시킨다. 렌즈 모듈(10)은 틸트 검사 장치(100)의 인터페이스부(130)와 연결된다.

반사부(120)에서 반사된 빛은 렌즈 모듈(10)로 입력된다. 렌즈 모듈(10)의 뎁스 센서는 입력된 빛을 센싱하여 틸트 검사 장치(100)로 센싱 결과를 보낸다. 인터페이스부(130)는 렌즈 모듈(10)의 센서로부터 센싱 결과를 수신하여 검출부(140)로 보낸다.

검출부(140)는 인터페이스부(130)를 통해 수신된 센싱 결과를 이용하여 뎁스 정보를 검출한다. 그리고, 뎁스 정보에 기초하여 렌즈 및 센서 간의 틸트 상태를 검출한다. 또한, 검출부(140)는 뎁스 정보 중에서 센서의 중심 영역 및 각 모서리 영역의 다섯 영역에서 뎁스를 검출할 수 있다. 각 영역에서 검출된 뎁스의 평균 값을 산출하여, 산출된 평균 값과 검출된 뎁스 간의 차이를 계산하고, 계산된 값을 비교하여 틸트 상태를 검출할 수 있다. 뎁스를 검출하는 영역은 상술한 영역에 한정되는 것이 아니다. 따라서, 다른 영역에 대하여 뎁스를 검출할 수 있으며, 다른 영역을 상술한 영역에 추가한 여섯 영역 이상의 영역에서 뎁스를 검출할 수도 있다.

도 2에 따르면, 틸트 검사 장치(100)는 저장부(150)와 출력부(160)를 더 포함할 수 있다.

저장부(150)는 검출된 뎁스 정보와 틸트 상태를 저장할 수 있다. 또한, 저장부는 틸트 검사 장치(100)를 구동하기 위한 프로그램이 저장될 수도 있다. 예를 들어, 저장부(170)는 롬(ROM), 램(RAM) 또는 틸트 검사 장치(100)에 탈착/장착 가능한 메모리 카드(예, SD 카드, 메모리 스틱)를 포함할 수 있다. 또한 저장부는 비휘발성 메모리, 휘발성메모리, 하드 디스크 드라이브(HDD) 또는 솔리드 스테이트 드라이브(SSD)를 포함할 수 있다.

출력부(160)는 검출된 뎁스 정보와 틸트 상태를 출력할 수 있다. 표시되는 뎁스 정보는 센서의 중심 영역, 각 모서리 영역과 반사부(120)와 거리가 될 수 있고, 틸트 상태는 산출된 각 영역의 뎁스의 평균 값과 각 영역의 뎁스의 차이가 될 수 있다. 출력부(160)는 액정 디스플레이 패널(Liquid Crystal Display Panel: LCD Panel), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel: PDP), 유기발광 소자(Organic Light Emitting Diode, OLED), VFD(Vacuum Fluorescent Display), FED(Field Emission Display), ELD(Electro Luminescence Display) 등과 같은 다양한 디스플레이 유닛으로 구현될 수 있다. 또는, 프린터가 될 수도 있다.

다음에는 렌즈 모듈(10)의 틸트 검사 장치의 구조에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.

도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 틸트 검사 장치의 구조를 설명하는 도면이다.

도 3의 (1)에 따르면, 발광부(110)는 산광기(diffuser)(111), 렌즈(112), 광원(113)을 포함한다. 광원(113)의 한 가지 예로서 광다이오드(Light Diode)가 될 수 있다. 광다이오드는 포토다이오드(Photo Diode)라고도 하며 적외선 영역의 특정 주파수의 빛을 출력할 수 있다. 렌즈(112)는 광다이오드에서 출력된 빛을 집적한다. 산광기(diffuser)(111)는 렌즈(112)를 통과하여 집적된 빛을 확산시키는 역할을 한다. 예를 들어, 산광기는 실유리로 된 판지나 녹슬지 않은 금속으로 된 그물 등으로 만들 수 있다. 발광부(110)는 틸트 검사 장치(100)에서 검사하려는 렌즈 모듈(10)과 같은 편, 즉, 반사부(120)의 맞은 편에 배치하여 반사부(120)를 향해 빛을 출력한다.

반사부(120)는 발광부(110) 및 렌즈 모듈(10)과 맞은 편에 배치되어 발광부(110)로부터 출력된 빛을 반사시킨다. 반사부(120)는, 예를 들어, 흰색 벽일 수 있다. 반사부(120)에서 반사된 빛은 균일하게 렌즈 모듈(10)로 입사될 수 있다.

검사하려는 렌즈 모듈(10)은 렌즈(11), 센서(12)를 포함하고, 카메라 메인보드(20)에 연결되어 검사대(미도시)에 장착될 수 있다. 카메라 메인보드(20)는 렌즈 모듈(10)을 조정하기 위한 조정 모드를 제공하고, 렌즈 모듈(10)을 구동시키는 역할을 한다. 또한, 카메라 메인보드(20)는 센싱된 데이터를 틸트 검사 장치(100)로 전송해 줄 수 있도록 틸트 검사 장치(100)의 인터페이스부(130)와 연결할 수 있는 단자 또는 커넥터를 포함할 수 있다.

렌즈 모듈(10)은 뎁스 센서만 포함할 수 있고, 뎁스 및 컬러를 센싱할 수 있는 센서를 포함할 수도 있다. 뎁스 센서는 특정 주파수의 빛, 예를 들어, 적외선 영역의 850nm 파장의 빛을 센싱할 수 있다. 반사부(120)에서 반사된 빛은 렌즈(11)를 통과하여 센서(12)에서 센싱된다.

도 3의 (1)에서 도시된 바와 같이, 렌즈(11)를 기준으로 센서(12)가 기울어져 있는 경우, 센서의 a 영역과 e 영역에서 센싱되는 광량과 빛의 위상은 차이가 생긴다.

먼저, 광량을 이용하여 뎁스와 틸트 상태를 검출하는 과정에 대해 설명하고, 위상(phase)을 이용하여 뎁스와 틸트 상태를 검출하는 과정은 후술하기로 한다. 도 3의 (2)는 센서(12)를 정면에서 본 도면을 도시하였다. 도 3의 (2)를 참조하면, a와 b 영역은 반사부(120)로부터 가장 멀기 때문에 센싱되는 광량은 가장 작다. d와 e 영역은 반사부(120)로부터 가장 가깝기 때문에 센싱되는 광량은 가장 크다. 센서(12)에서 센싱된 결과는 인터페이스부(130)를 통해 검출부(140)로 전송된다. 검출부(140)는 뎁스 정보를 검출하기 위해, 일정 영역에서 센싱된 광량을 이용하여 각 영역에서 뎁스 정보를 검출하고, 센서(12)가 기울어져 있는지 검출할 수 있다. 검출부(140)는 각 영역의 뎁스 정보를 검출하고 각 뎁스의 평균 값을 산출한다. 산출된 평균 값과 검출된 뎁스 간의 차이를 계산하여 틸트 상태를 검출할 수 있다.

예를 들어, a와 b 영역의 뎁스는 1002mm, c 영역의 뎁스는 1000mm, d와 e 영역의 뎁스는 998mm라고 한다. 다섯 영역의 뎁스 평균 값은 1000mm가 된다. 따라서, a와 b 영역의 틸트 상태는 +2mm, c 영역의 틸트 상태는 0mm, d와 e 영역의 틸트 상태는 -2mm가 된다. 검출된 틸트 상태는 틸트 보정량이 된다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따르면 틸트 보정량을 정량적으로 검출할 수 있다. 검출된 틸트 보정량을 기초로 렌즈 모듈의 조정 장치(예, 조정 나사)를 조정하여 틸트를 보정할 수 있다. 예를 들어, 작업자는 1mm의 틸트를 조정하기 위해 조정 장치를 어떻게 얼마나 조정하면 되는지 알고 있기 때문에 틸트 조정 작업에 있어서 효율을 높일 수 있다.

도 3에서는, 렌즈(11)는 지면에 대해 수직으로 맞춰진 상태에서 센서(12)의 틸트 상태를 검사하는 방법에 대해 설명하였다. 일반적으로 렌즈 모듈(10)의 렌즈(11)는 경통에 결합되어 있다. 그리고, 경통을 틸트 검사 장치(100)의 검사대에 올려놓을 수 있다.

촬상 장치를 개발하는 과정에서 모듈간의 결합이나 세팅 값의 조정을 위해 여러 과정을 거치게 된다. 따라서, 경통과 렌즈(11)의 결합 오류 여부는 다른 공정에서 검출하고 조정될 수 있다. 또한, 경통을 검사대에 올려놓는 경우, 틸트 검사 장치(100)는 검사대에 수평기를 구비하고, 검사자가 검사대의 수평 상태를 조절하게 함으로써 경통 또는 렌즈 모듈의 수평 상태를 유지시킬 수 있다.

경통과 렌즈의 결합에 오류가 없는 상태에서 검사대를 조정하여 수평 상태를 보장할 수 있으므로 렌즈(11)는 지면에 대해 수직을 유지할 수 있다. 렌즈(11)가 지면에 대해 수직을 유지할 수 있으므로 센서(12)의 틸트 상태를 검출할 수 있다. 따라서, 검출된 틸트 보정량을 이용하여 렌즈(11)와 센서(12)의 틸트 상태의 조정이 가능하다

다음에는 빛의 위상을 이용하여 뎁스와 틸트 상태를 검출하는 과정을 설명한다.

도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 빛의 위상을 이용하여 뎁스를 구하는 방법을 설명하는 도면이다.

먼저, 광원(113)은 일정 주기에 따라 빛을 출력한다. 광원(113)에서 빛을 출력하는 주기는 센서(12)에서 센싱되는 주기와 동기화시킨다. 도 4에 따르면, 광원(113)에서 출력되는 빛의 파형과 반사되어 센서(12)에서 센싱되는 빛의 파형이 도시되어 있다. 출력되는 빛과 반사되는 빛간에는 거리에 의해 시간 T만큼 위상차가 발생한다. 예를 들어, 광원(12)은 위상을 0도, 90도, 180도, 270도 변화시키면서 빛을 출력한다. 도 4에는 광원에서 출력되는 0도일 때 파형(31), 180도일 때 파형(32), 90도일 때 파형(33), 270도일 때 파형(34)이 도시되어 있다. 각 위상에서 출력되는 빛의 파형에 따라 면적을 구하고, 각 면적간이 관계를 이용하면 위상 차이에 의한 딜레이 시간(delay time)(T)을 구할 수 있다. 반사부(120)와 센서(12)와의 거리를 알고 시간을 구할 수 있으므로 뎁스를 검출할 수 있다. 즉, 발광부(110)는 뎁스를 검출하기 위해 90도 위상 차가 있는 빛을 네 번 출력할 수 있다.

출력되는 빛의 위상이 90도 차이가 있는 것은 일 실시 예이다. 뎁스를 구하는 알고리즘, 검사 방법, 검사 장치 등에 따라 빛의 위상은 다양하게 설정될 수 있다. 또한, 빛을 출력하는 횟수도 네 번에 국한되는 것이 아니고, 빛의 위상 차에 따라 적절하게 설정될 수 있다.

상술한 과정에서 렌즈나 산광기 등에 의한 영향은 미리 측정하고 계산하여 보정 값을 산출하고, 산출된 보정 값은 검출부(140)에 저장해 둘 수 있다. 검출부(140)는 뎁스 검출시 저장된 보정 값을 적용하여 뎁스를 검출할 수 있다. 상술한 위상을 이용한 뎁스 검출 방법은 일 실시 예일 뿐이며, 다양한 방법으로 위상을 이용하여 뎁스는 검출될 수 있다.

또한, 뎁스 검출 방법에 대해 광량을 이용한 방법과 위상을 이용한 방법을 나누어 설명하였으나, 실제 검출부(140)가 뎁스를 검출할 때에는 양 방법을 동시에 적용하여 뎁스를 검출할 수 있다.

도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 틸트 검사 방법의 흐름도이다.

렌즈와 센서를 포함하는 렌즈 모듈(10)을 검사대에 장착하고, 센서가 뎁스 정보를 받도록 설정한다. 발광부(110)는 렌즈 모듈의 틸트를 검사하기 위해 빛을 확산시켜 출력한다(S510). 발광부(110)에서 출력되는 빛은 적외선 영역의 특정 주파수를 갖는다. 반사부(120)는 확산된 빛을 반사시킨다(S520).

반사부(120)에 반사된 빛은 렌즈 모듈의 센서로 입사되고, 센서는 빛을 센싱하고 센싱 결과를 출력한다. 인터페이스부(130)는 반사된 빛이 렌즈 모듈(10) 내의 센서에 의해 센싱되면 센싱 결과를 수신한다(S530).

검출부(140)는 수신된 광량 및 빛의 위상 정보를 포함하는 센싱 결과를 이용하여 뎁스 정보를 검출하고, 뎁스 정보에 기초하여 렌즈 및 센서 간의 틸트 상태를 검출한다(S540). 구체적인 틸트 검사 방법은 상술하였으므로 생략하기로 한다.

도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 뎁스 검출 방법의 흐름도이다.

도 6을 참조하면, 검출부(140)는 센서의 중심 영역의 뎁스 및 각 모서리 영역의 뎁스를 검출할 수 있다(S610). 예를 들어, 뎁스 정보는 mm 단위로 검출될 수 있다.

검출된 각 뎁스의 평균 값을 산출하며, 산출된 평균 값과 검출된 뎁스 간의 차이를 계산하고, 계산된 값을 비교하여 틸트 상태를 검출할 수 있다(S620). 예를 들어, 틸트 상태는 각 영역별로 산출된 평균 값과 각 영역에서 검출된 뎁스 간의 mm 단위의 차이 값으로 검출될 수 있다. 검출된 차이 값은 틸트 보정량이 될 수 있다. 틸트 보정량은 저장부(150)에 저장될 수 있고, 출력부(160)로 출력될 수 있다.

상술한 다양한 실시 예에 따른 틸트 검사 방법은 프로그램으로 구현되어 틸트 검사 장치에 제공될 수 있다.

일 예로, 반사되는 빛이 렌즈 모듈 내의 센서에 의해 센싱되면, 센싱 결과를 센서로부터 수신하는 단계, 수신된 센싱 결과를 이용하여 뎁스 정보를 검출하고, 뎁스 정보에 기초하여 렌즈 및 센서 간의 틸트 상태를 검출하는 단계를 수행하거나, 뎁스 정보 중에서 센서의 중심 영역의 뎁스 및 각 모서리 영역의 뎁스를 검출하는 단계, 검출된 각 뎁스의 평균 값을 산출하여, 산출된 평균 값과 검출된 뎁스 간의 차이를 계산하고, 계산된 값을 비교하여 틸트 상태를 검출하는 단계를 수행하는 프로그램이 저장된 비일시적 판독 가능 매체(non-transitory computer readable medium)가 제공될 수 있다.

비일시적 판독 가능 매체란 레지스터, 캐쉬, 메모리 등과 같이 짧은 순간 동안 데이터를 저장하는 매체가 아니라 반영구적으로 데이터를 저장하며, 기기에 의해 판독(reading)이 가능한 매체를 의미한다. 구체적으로는, 상술한 다양한 어플리케이션 또는 프로그램들은 CD, DVD, 하드 디스크, 블루레이 디스크, USB, 메모리카드, ROM 등과 같은 비일시적 판독 가능 매체에 저장되어 제공될 수 있다. 또한, 이상에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안될 것이다.

10 : 렌즈 모듈
11, 112 : 렌즈 12 : 센서
20 : 카메라 메인보드
100 : 틸트 검사 장치
110 : 발광부 111 : 산광기
120 : 반사부 130 : 인터페이스부
140 : 검출부 150 : 저장부
160 : 출력부

Claims

센서와 렌즈를 포함하는 렌즈 모듈을 검사하기 위한 틸트 검사 장치에 있어서,
상기 렌즈 모듈의 틸트를 검사하기 위한 빛을 확산시켜 출력하는 발광부;
상기 확산된 빛을 반사하는 반사부;
상기 반사되는 빛이 상기 렌즈 모듈 내의 상기 센서에 의해 센싱되면, 센싱 결과를 상기 센서로부터 수신하는 인터페이스부; 및,
상기 인터페이스부를 통해 수신된 상기 센싱 결과를 이용하여 뎁스 정보를 검출하고, 상기 뎁스 정보에 기초하여 상기 렌즈 및 상기 센서 간의 틸트 상태를 검출하는 검출부;를 포함하는 틸트 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 뎁스 정보 중에서 상기 센서의 중심 영역의 뎁스 및 각 모서리 영역의 뎁스를 검출하는 것을 특징으로 하는 틸트 검사 장치.
제2항에 있어서,
상기 검출부는,
상기 검출된 각 뎁스의 평균 값을 산출하며, 산출된 평균 값과 검출된 뎁스 간의 차이를 계산하고, 계산된 값을 비교하여 상기 틸트 상태를 검출하는 것을 특징으로 하는 틸트 검사 장치.
제1항에 있어서,
검출된 상기 뎁스 정보와 상기 틸트 상태를 저장하는 저장부; 및
상기 뎁스 정보와 상기 틸트 상태를 출력하는 출력부;를 더 포함하는 틸트 검사 장치.
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 발광부는,
기 설정된 위상 차가 있는 빛을 복수 번 출력하는 것을 특징으로 하는 틸트 검사 장치.
센서와 렌즈를 포함하는 렌즈 모듈을 검사하기 위한 틸트 검사 방법에 있어서,
렌즈 모듈의 틸트를 검사하기 위한 빛을 확산시켜 출력하는 단계;
상기 확산된 빛을 반사하는 단계;
상기 반사되는 빛이 상기 렌즈 모듈 내의 상기 센서에 의해 센싱되면, 센싱 결과를 상기 센서로부터 수신하는 단계; 및,
상기 수신된 상기 센싱 결과를 이용하여 뎁스 정보를 검출하고, 상기 뎁스 정보에 기초하여 상기 렌즈 및 상기 센서 간의 틸트 상태를 검출하는 단계;를 포함하는 틸트 검사 방법.
제6항에 있어서,
상기 검출하는 단계는,
상기 뎁스 정보 중에서 상기 센서의 중심 영역의 뎁스 및 각 모서리 영역의 뎁스를 검출하는 것을 특징으로 하는 틸트 검사 방법.
제7항에 있어서,
상기 검출하는 단계는,
상기 검출된 각 뎁스의 평균 값을 산출하며, 산출된 평균 값과 검출된 뎁스 간의 차이를 계산하고, 계산된 값을 비교하여 상기 틸트 상태를 검출하는 것을 특징으로 하는 틸트 검사 방법.
제6항에 있어서,
검출된 상기 뎁스 정보와 상기 틸트 상태를 저장하는 단계; 및
상기 뎁스 정보와 상기 틸트 상태를 표시하는 단계;를 더 포함하는 틸트 검사 방법.
제6항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 빛을 확산시켜 출력하는 단계는,
기 설정된 위상 차가 있는 빛을 복수 번 출력하는 것을 특징으로 하는 틸트 검사 방법.