JP2006331546A - 光ディスク、光ディスク装置および光ディスク製造装置 - Google Patents

光ディスク、光ディスク装置および光ディスク製造装置 Download PDF

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亮介 笠原
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株式会社リコー
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Abstract

【課題】 チルトの検出精度を向上するとともに、チルト検出を短時間に行なうことにより、情報信号の安定した記録/再生を行なうことが可能な光ディスク装置を実現する。
【解決手段】 光ディスク10に記録されているチルト値に関する情報を読み出し、読み出されたチルト値に関する情報に基づき光ピックアップ部22の姿勢を制御して、光ディスク10のチルト補正を行なう。
【選択図】 図1

Description

本発明は、光ディスクに対して情報信号の書き込み/読み出しを行なう光ディスク装置、および光ディスク、光ディスク製造装置に関する。
光ディスク装置では、情報記録媒体として光ディスクが用いられ、スパイラル状または同心円状のトラックが形成された光ディスクの記録面に対してレーザ光を照射することにより、情報信号(データ)の記録/消去を行ない、さらには記録面からの反射光に基づいてデータの再生等を行っている。そして、光ディスクの記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するための装置として、光ピックアップ装置が備えられている。
通常、かかる光ピックアップ装置は、対物レンズが光路中に配置され、光源から出射されるレーザ光を光ディスクの記録面に導くとともに、記録面で反射された戻り光を所定の受光位置まで導く光学系、受光位置に配置された光検出器、および対物レンズをその光軸方向(フォーカス方向)やトラックの接線方向に直交する方向(トラッキング方向)に駆動するレンズ駆動装置等を備えている。光検出器は、記録面に記録されているデータの再生情報だけでなく、対物レンズの位置制御に必要な情報(サーボ情報)を含む信号も出力する。
そして、光ディスク装置では、データの記録/再生等を行なう際に、光検出器からのサーボ情報を含む信号に基づいて、フォーカスエラー信号およびトラックエラー信号を検出し、レーザ光にフォーカスずれがある場合には、レンズ駆動装置を介して対物レンズをフォーカス方向にシフトさせてフォーカスずれを補正している(フォーカス制御)。また、レーザ光にトラックずれがある場合には、レンズ駆動装置を介して対物レンズをトラッキング方向にシフトさせてトラックずれを補正している(トラッキング制御)。
さらに、光ディスク装置に用いられるCD(Compact Disk)やDVD(Digital Versatile Disk)等の光ディスクにおいては、一般に基材としてポリカーボネート等の樹脂が用いられているために、光ディスク面に反りが生じ易い。そのため、光ピックアップ装置から照射されるレーザ光の光軸方向と、その照射位置における光ディスク面に垂直な方向との間にずれ(以下、「チルト」ともいう。)が発生する場合が多い。このチルトは主に光ディスクの半径方向(ラジアル方向)で発生し、光学系のコマ収差を引き起こす。それにより、隣接トラック間でのクロストークやジッターの劣化等が発生し、光ディスクの再生品質に悪影響を与える。
そこで、光ディスク装置においては、光ディスクの記録/再生動作中においてチルトに基づく収差を補正する機構(チルト補正機構)が備えられている。チルト補正機構では、例えばチルトの角度値(チルト角)の検出を行なうための専用の光ビームとディテクタとからなるチルト検出手段が設けられ、フォーカス制御やトラッキング制御と同時に、チルト検出手段により検出されたチルト角に応じて光ピックアップ装置内の対物レンズの傾き、または光ピックアップ装置全体の傾きを制御することにより、光ビームの光軸が光ディスク面に対して垂直を保つようにチルトサーボ(チルト制御)をかけることが一般的に行われている。
具体的には、チルト補正機構では、光ディスクの傾き(ディスクチルト)と対物レンズまたは光ピックアップ装置の傾きとを個別に検出し、その差が0となるように制御するか、或いは、光ディスクと対物レンズまたは光ピックアップ装置との傾き(相対チルト)を直接検出し、その値を0となるように制御している。
ここで、従来のチルト補正機構に用いられるチルト検出手段として、以下のような技術が開示されている。例えば、光学的なチルト検出方法を用いたものとして、発射光を光ディスクに向けて照射する発光手段と、発射光の光ディスクによる反射光を受光すべく、発光手段の両側に設置された一対の受光手段とから構成され、この一対の受光手段からの出力信号の差によってチルトを検出する技術がある(例えば、特許文献1参照)。
また、光ピックアップ装置のRF信号とプッシュプル信号とを用いたものとして、光ディスクのデータが記憶された領域については、光ピックアップ装置から出力されるRF信号の振幅が最大となるようにチルト補正を行い、データが記憶されていない領域についてはRF信号を得ることができないため、トラックエラー信号を検出する際のプッシュプル信号におけるオフセットがほぼ0となるようにチルト検出を行なう技術がある(例えば、特許文献2参照)。
さらには、ジッター量を用いるものとして、再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学ヘッドのラジアルチルト位置を変更するラジアルチルト位置可変手段とを備え、ラジアルチルトを変化させながら、予め光ディスクに記録されたランダム信号を再生し、ジッター量が最小となる最適なラジアルチルトを検出する技術がある(例えば、特許文献3参照)。
実公平3−29778号公報 特開2001−52362号公報 特開平8−45081号公報
ところで、現在、次世代大容量光ディスクの規格として、Blu−Ray DiscやHD−DVDといった波長405nmの青紫色レーザを用いる新たな高記録密度仕様のものが実用化されようとしている。このような規格の光ディスクを用いる光ディスク装置においては、レーザ光のスポット径を小さくすることが必須となる。そのために、上記したようなレーザの波長を短くすることと同時に、対物レンズの開口数(NA)を大きくすることが必要となる。ところが、対物レンズの開口数を大きくすると、チルト角に対するマージンが小さくなる。すなわち、光ディスクがわずかに傾いていても、再生品質の大きな劣化を招くこととなる。そこで、光ディスクの高密度化に対応するためには、光ディスク装置に高精度のチルト補正機構を配設することが不可欠となり、そのためには、高い精度でチルトを検出することが必須となる。
しかしながら、上記した特許文献1に記載された技術は、発光手段の両側に設置された一対の受光手段の配置位置の相違に基づいて、受光手段からの出力信号の差によりチルトを検出するものである。そのため、光ピックアップ装置を小型化した場合には、チルト角を位置に変換するための光路を短くせざるを得ない。その結果、原理上チルト角の変化に対する検出感度が鈍くなり、高い精度でチルトを検出することが難しいという問題がある。また、専用のチルトセンサ(受光手段)を用いることから、それに伴って多数の部品が必要となり、コストを低く抑えることも困難である。
また、上記した特許文献2に記載された技術のように、RF信号やプッシュプル信号等といった記録/再生時に使用する信号を利用する方法では、チルトエラー量に対してRF信号やプッシュプル信号等の信号は2次関数となるため、最適チルトを与える信号振幅の極大値付近では、チルトエラー量に対する感度が低くなり、検出精度を高くするのが困難であるという問題がある。また、チルト量を変化させながら、モニタする信号の最大値を探す必要があるため、チルト検出に時間がかかるという不都合もある。
さらには、上記した特許文献3に記載された技術のようにジッター量を用いる方法では、チルト量を変化させながら、モニタする信号の最大値を探す必要があるため、チルト検出に時間がかかるという問題がある。また、予め光ディスクに記録されたランダム信号をチルト検出に用いるため、光ディスク全面のチルトを検出するのは不可能に近いという大きな問題もある。さらには、再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段が必要となり、コストアップも不回避である。
この発明は、上述のような技術的課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、チルトの検出精度を向上するとともに、チルト検出を短時間に行なうことにより、情報信号の安定した記録/再生を行なうことが可能な光ディスク装置を実現することにある。
さらに他の目的は、光ディスク装置において、製造コストの低廉化を図ることにある。
かかる目的のもと、本発明の請求項1に記載の光ディスクは、データの書き込みおよび/または読み出しが可能な光ディスクであって、前記光ディスクの面上の複数の位置でのチルト値に関する情報が記録される領域を備えたことを特徴としている。
また、本発明の請求項2に記載の光ディスクは、請求項1記載の光ディスクにおいて、前記領域に記録される前記チルト値に関する情報は、前記光ディスクの離散的な位置における当該チルト値に関する情報であることを特徴としている。
また、本発明の請求項3に記載の光ディスクは、請求項1または請求項2記載の光ディスクにおいて、前記領域に記録される前記チルト値に関する情報は、前記光ディスクの円周方向において少なくとも4つの位置での当該チルト値に関する情報であることを特徴としている。
また、本発明の請求項4に記載の光ディスクは、請求項1〜請求項3のいずれかに記載の光ディスクにおいて、前記領域に記録される前記チルト値に関する情報は、前記光ディスクを異なる複数の回転数で回転させた際の当該回転数毎の当該チルト値に関する情報であることを特徴としている。
また、本発明の請求項5に記載の光ディスクは、請求項1〜請求項4のいずれかに記載の光ディスクにおいて、前記光ディスクの中心軸側近傍に配置されたことを特徴としている。
本発明の請求項6に記載の光ディスクは、請求項1〜請求項4のいずれかに記載の光ディスクにおいて、前記光ディスクの前記データが記録される領域に混在して配置されたことを特徴としている。
本発明の請求項7に記載の光ディスクは、請求項1〜請求項6のいずれかに記載の光ディスクにおいて、前記チルト値の検出精度に関する情報が記録される領域をさらに備えたことを特徴としている。
本発明の請求項8に記載の光ディスク装置は、請求項1〜請求項7のいずれかに記載の光ディスクに記録されているチルト値に関する情報を読み出すチルト情報読み出し手段と、前記光ディスクに対してデータの書き込みおよび/または読み出しを行なう光ピックアップと、前記チルト情報読み出し手段によって読み出された前記チルト値に関する情報に基づき前記光ピックアップの姿勢を制御して、前記光ディスクのチルト補正を行なうチルト制御手段と、を備えたことを特徴としている。
本発明の請求項9に記載の光ディスク装置は、請求項8記載の光ディスク装置において、前記チルト情報読み出し手段によって読み出された前記チルト値に関する情報を記録する記憶手段をさらに備えたことを特徴としている。
本発明の請求項10に記載の光ディスク装置は、請求項8または請求項9記載の光ディスク装置において、前記光ディスクのチルト値を当該光ディスク面上の位置と対応付けて検出するチルト検出手段と、前記チルト検出手段により検出された前記チルト値に関する情報を前記光ディスクに記録するチルト情報記録手段と、をさらに備えたことを特徴としている。
本発明の請求項11に記載の光ディスク装置は、請求項10記載の光ディスク装置において、前記チルト情報記録手段は、前記チルト値に関する情報とともに、当該チルト値を検出した前記チルト検出手段の検出精度に関する情報を前記光ディスクに記録することを特徴としている。
本発明の請求項12に記載の光ディスク装置は、請求項10記載の光ディスク装置において、前記チルト情報記録手段は、前記チルト検出手段によって検出されたチルト値に関する情報により前記光ディスクに記録されているチルト値に関する情報を更新することを特徴としている。
本発明の請求項13に記載の光ディスク装置は、請求項10〜請求項12のいずれかに記載の光ディスク装置において、前記チルト検出手段は、前記データの記録/再生処理が実行される前にて、または記録/再生処理の途中にて、または記録/再生処理が実行された後にて、前記チルト値を検出することを特徴としている。
本発明の請求項14に記載の光ディスク装置は、請求項10〜請求項13のいずれかに記載の光ディスク装置において、前記チルト検出手段は、前記光ディスクを異なる複数の回転数で回転させた際の当該回転数毎の前記チルト値を検出することを特徴としている。
本発明の請求項15に記載の光ディスク装置は、請求項8〜請求項14のいずれかに記載の光ディスク装置において、前記光ディスクの異なる複数の回転数毎の前記チルト値に基づいて、前記データの記録/再生処理が実行される際の当該光ディスクの回転数に対応したチルト情報を算出する演算手段をさらに備え、前記チルト制御手段は、前記演算手段により算出された前記チルト情報に基づいて前記光ディスクのチルト補正を行なうことを特徴としている。
本発明の請求項16に記載の光ディスク装置は、請求項8〜請求項14のいずれかに記載の光ディスク装置において、前記チルト制御手段は、前記光ディスクの異なる複数の回転数毎の前記チルト値から、前記データの記録/再生処理が実行される際の当該光ディスクの回転数に最も近いチルト情報を選択し、選択された当該チルト情報に基づいて、前記光ディスクのチルト補正を行なうことを特徴としている。
本発明の請求項17に記載の光ディスク装置は、請求項10〜請求項16のいずれかに記載の光ディスク装置において、前記光ディスクに記録されたチルト値の検出精度に関する情報と、前記チルト検出手段の検出精度に関する情報とを比較する検出精度比較手段をさらに備え、前記チルト検出手段は、前記検出精度比較手段により前記チルト検出手段の検出精度が前記光ディスクに記録されたチルト値の検出精度よりも高いと判断された場合に動作することを特徴としている。
本発明の請求項18に記載の光ディスク製造装置は、請求項1〜請求項7のいずれかに記載の光ディスクのチルト値を当該光ディスク面上の位置と対応付けて検出するチルト検出手段と、前記チルト検出手段により検出された前記チルト値に関する情報を前記光ディスクに記録するチルト情報記録手段と、を備えたことを特徴としている。
本発明の請求項19に記載の光ディスク製造装置は、請求項18記載の光ディスク製造装置において、前記チルト情報記録手段は、前記チルト値に関する情報とともに、当該チルト値を検出した前記チルト検出手段の検出精度に関する情報を前記光ディスクに記録することを特徴としている。
本発明の請求項20に記載の光ディスク製造装置は、請求項18または請求項19記載の光ディスク製造装置において、前記チルト検出手段は、前記光ディスクを異なる複数の回転数で回転させた際の当該回転数毎の前記チルト値を検出することを特徴としている。
本発明によれば、光ディスク装置において、情報信号の安定した記録/再生を行なうことが可能となった。また、光ディスク装置を安価に製造することが可能となった。
以下、この発明を実施するための最良の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図中において、同一または相当する構成要素については同一の符号を付し、その重複説明は適宜、簡略化または省略する。
[実施の形態1]
図1は本実施の形態が適用される光ディスク装置の一例を示した概略構成図である。図1に示す光ディスク装置1は、光源としての半導体レーザ素子から出射されたレーザ光を光ディスク10に向けて照射し、光ディスク10からの反射光を受光して受光強度に対応した信号を発生する光ピックアップ部(光ピックアップ)22、光ピックアップ部22からのレーザ光を光ディスク10表面に結像させる対物レンズ21、光ディスク10を保持して回転させるスピンドルモータ24、光ピックアップ部22の姿勢を制御することでチルト補正を行なうチルト制御手段としてのチルト補正部23、光ピックアップ部22やスピンドルモータ24、チルト補正部23等を制御する演算手段の一例としての演算部25、演算部25が実行する処理プログラムや各種データ等を記憶するための記憶手段としての記憶部26により主要部が構成されている。
図2は、対物レンズ21および光ピックアップ部22の概略構成図である。図2に示したように、光ピックアップ部22は、光源としてのレーザダイオード221、レーザ光を平行光にするコリメータレンズ222、レーザ光を透過/反射するビームスプリッタ223、反射ミラーとしての立上ミラー224、直線偏光を円偏光に、または円偏光を直線偏光に変換する1/4波長板225、光ディスク10からの戻り光を集光する集光レンズ226、光ディスク10からの戻り光を受光する受光素子227から構成されている。
また、対物レンズ21には、不図示の支持ホルダを介して、対物レンズ21をトラッキング方向にシフトさせるトラッキングコイル211、対物レンズ21をフォーカス方向にシフトさせるフォーカシングコイル212が連結されている。
光ピックアップ部22において、レーザダイオード221から拡散光として出射されたレーザ光(直線偏光)は、コリメータレンズ222によって平行光とされ、ビームスプリッタ223に入射する。ビームスプリッタ223は、光の偏光方向の違いによって貼り合せ面で光を透過または反射させる働きをするものである。ここで、ビームスプリッタ223へ入射するレーザ光は平行光であり、ビームスプリッタ223の入射面に対して平行振動するため、ビームスプリッタ223を透過する。透過したレーザ光は、立上ミラー224で方向を変えられた後、1/4波長板225に入射する。1/4波長板225では直線偏光が円偏光に変換される。そして、レーザ光は光ピックアップ部22の光ディスク10側に配設された対物レンズ21に入射する。対物レンズ21に入射した光は、光ディスク10の記録面上に集光される。
その後、光ディスク10の記録面に入射したレーザ光はこの記録面で反射され、再び対物レンズ21を経て1/4波長板225に入射する。このとき、1/4波長板225により円偏光から再び直線偏光に変換されるが、最初に1/4波長板225に入射したレーザ光とは位相が90°ずれる。それにより、立上ミラー224で方向を変えられた後にビームスプリッタ223に入射する際には、ビームスプリッタ223の入射面に対して垂直振動するレーザ光となる。そのため、このレーザ光はビームスプリッタ223により入射方向と垂直な方向に反射される。そして、この反射されたレーザ光は、集光レンズ226により受光素子227に集光される。
受光素子227は、検出領域が複数に分割された多分割検出器(例えば、4分割検出器)であり、各検出領域の出力信号を演算部25(図1参照)に送信する。そして、演算部25においてこれらの出力信号は演算され、光ディスク10に記録されている情報(データ)に対応した再生情報信号と、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号とが生成される。
生成された再生情報信号に基づいて、光ディスク10に記録されているデータが再生される。また、トラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号は位相補償が施された後、対物レンズ21に連結されたトラッキングコイル211やフォーカシングコイル212に送信される。そして、トラッキングコイル211やフォーカシングコイル212を駆動し、対物レンズ21に対してトラッキング方向のずれを補正するトラッキングサーボや、フォーカス方向のずれを補正するフォーカシングサーボが実行される。
ここで、本実施の形態の光ディスク装置1に用いる光ディスク10には、記録面の所定の領域に、光ディスク10のチルト情報が予め記録されている。このチルト情報とは、ポリカーボネート等の樹脂で形成された光ディスク10に反りが生じること等が要因となって発生する、光ピックアップ部22から照射されるレーザ光の光軸方向と、レーザ光の照射位置における光ディスク10面に垂直な方向との間のずれ(チルト)の角度値(チルト値)に関する情報であって、記録面の位置に対応付けられたものである。また、チルト情報としては、光ディスク10の記録面に形成されたスパイラル状または同心円状のトラックの接線方向に関するタンジェンシャルチルト、トラックの接線方向に直交する方向に関するラジアルチルトの両方、または、タンジェンシャルチルトとラジアルチルトとのいずれか一方が記録されている。
本実施の形態の光ディスク装置1では、データの記録/再生の前、またはデータの記録/再生の途中、さらには記録/再生の後において、チルト情報読み取り手段として機能する光ピックアップ部22によって光ディスク10からチルト情報を読み込み、このチルト情報を演算部25の制御の下で記憶部26に記憶する。そして、データの記録/再生時には、演算部25は光ピックアップ部22がレーザ光を照射しているその位置でのチルト値を記憶部26から読み出し、読み出されたチルト値に基づいて算出されたチルト角をチルト補正部23に出力する。
チルト補正部23においては、演算部25によって指定されたチルト角と一致するように光ピックアップ部22を傾斜させる。それにより、対物レンズ21から照射されるレーザ光の光軸方向をその照射位置における光ディスク10面に垂直な方向に維持して、光ディスク10のチルトを補正する。
なお、この場合、チルト補正部23は、対物レンズ21を傾斜させることにより、光ディスク10のチルトを補正することも可能である。なお、光ピックアップ部22と対物レンズ21とを一体的に光ピックアップとして捉え、対物レンズ21を傾斜させることも含めて、チルト補正部23は光ピックアップの姿勢を制御するものと考えることもできる。
なお、チルト補正部23は、チルトエラーにより生じるコマ収差を、光源から対物レンズ21に至る光路中において、例えば液晶素子を用いて、波面収差を発生させ補正することも可能である。
次に、本実施の形態の光ディスク装置1において実行される、複数の回転数についてのチルト情報が記憶された光ディスク10に対するデータの記録/再生処理の手順を説明する。図3は、光ディスク10に対するデータの記録/再生処理の手順を説明するフローチャートである。ここで、光ディスク10に複数の回転数におけるチルト情報を記憶しておくのは、光ディスク10のチルト値は、光ディスク10を回転させた際の遠心力の影響を受けることにより、光ディスク10の回転数によって異なる値をとるためである。
本実施の形態の光ディスク装置1では、図3に示したように、まず、光ディスク10に記憶されたチルト情報を読み取り、これを記憶部26に記憶する。そして、演算部25は、光ディスク装置1が記録/再生の際に用いる回転数におけるチルト情報が記憶部25に記憶されているか否かを判断する(S101)。
記録/再生に用いる回転数におけるチルト情報が記憶部25に記憶されている場合には、その回転数におけるチルト情報を選択する(S105)。そして、選択されたチルト情報により、チルト補正部23によるチルト補正を行ないながら、データの記録/再生処理を実行する(S104)。
ステップS101において、記録/再生に用いる回転数におけるチルト情報が記憶部25に記憶されていない場合には、演算部25は、記憶部25に記憶されている回転数におけるチルト情報に基づいて、データの記録/再生時に用いる回転数におけるチルト情報を補間する(S102)。
ここで、ステップS102において行なわれるチルト情報の補間方法の一例を示す。例えば、y(ω)を回転数ωにおける光ディスク10上の任意の位置でのチルト値であるとする。また、y(ω1)、y(ω2)をそれぞれω1>ω、ω>ω2を満たす回転数ω1、ω2における既知の同位置でのチルト値とする。すると、y(ω)は、
y(ω)=(y(ω1)−y(ω2))/(ω1−ω2)×(ω−ω2)+y(ω) …(1)
として補間することができる。この(1)式は一次の補間を用いるものであるが、より高次の補間を行なうこともできる。
なお、ステップS102において、演算部25は、記憶部25に記憶されている回転数におけるチルト情報から、データの記録/再生時に用いる回転数に最も近い回転数におけるチルト情報を選択することもできる。
その後、補間したチルト情報を選択し(S103)、選択されたチルト情報を用いて、チルト補正部23によるチルト補正を行ないながら、データの記録/再生処理を実行する(S104)。
なお、光ディスク装置1において、光ディスク10の読み取りが行なわれる半径位置での回転数が変化するCLVやZ−CAV等を用いてデータの記録/再生処理を実行する場合には、光ディスク10における読み取り半径位置が変化する毎に、図3に示した手順を繰り返すことにより、記録/再生時に用いる回転数にマッチしたチルト情報を用いてチルト補正を行なえばよい。
また、光ディスク10に記憶されたチルト情報が離散的な場合には、演算部25において、サンプリング周波数の半分のカットオフのLPF(Low Pass Filter)をかけ、連続的なチルト情報としてチルト補正部23を駆動すればよい。ここで、図4は、ディスクチルトの周波数(ω)特性を示した図である。図4に示すように、ディスクチルト量は2ω成分で最大値を取り、3ω以上の領域で大きく減衰する特性を有している。したがって、ディスクチルトのDC成分〜2ω成分を補償できれば、チルト補正効果を大きく高めることができる。例えば、光ディスク10の1周につき4点のサンプリング値がある場合には、サンプリング定理により2ωのカットオフを有するLPFをかけることにより、2ω成分までのチルト情報を忠実に再現することが可能となる。
このように、本実施の形態の光ディスク装置1では、データの記録/再生を行なう際に、光ディスク10に記録されたチルト情報に基づいてチルト補正部23を駆動することにより、チルト補正を行なっている。そのため、光ディスク10のチルトを検出するチルト検出機構を配設することなく、高精度なチルト補正が可能となる。それにより、チルト検出機構が備えられていない光ディスク装置1においても、光ディスク10のチルトが原因で発生するコマ収差を最小限に抑えることができ、隣接トラック間で発生するクロストークやジッターの劣化等を抑制することが可能となって、光ディスク10の再生品質を高いレベルに維持することができる。
また、チルト補正を行なうに際して光ディスク10に記録されたチルト情報を用いるので、光ディスク10のチルト検出を行なうための処理時間が殆ど必要ない。そのために、レーザ光の照射位置におけるリアルタイムのチルト情報を得ることができ、精度の極めて高いチルト補正が可能となる。
さらに、光ディスク10のチルトを検出するチルト検出機構を配設する必要がないので、光ディスク装置1を安価に製造することも可能となる。
続いて、図5は、チルト情報を記録する領域を有する光ディスク10の構成の一例を示した図である。図5(a)に示した光ディスク10では、チルト情報が記録された領域(チルト情報記録領域)10aが光ディスク10の中心軸側に配置され、データが記録された領域(データ領域)10bが光ディスク10の外周部側に配置されている。データの読み込み速度を考慮すれば、光ディスク10のマウント処理と同時にチルト情報が読み込めるように、図5(a)に示した光ディスク10のようなチルト情報記録領域10aがTOC(Table Of Contents)情報等のマウント処理に必要な情報の記録領域の近傍に配置された構成が好ましい。
ここで、図5(a)に示した構成の光ディスク10を用いた際の、光ディスク装置1で実行される光ディスク10のマウント処理の一例を図6に示す。図6に示したように、光ディスク装置1では、まず、光ディスク10からTOC情報の読み込み等の従来のマウント処理(S201)を行なった後、光ディスク10のチルト情報記録領域10aからディスク面のチルト情報を読み出し、記憶部26に記憶する(S202)。このようにして、光ディスク10のマウント処理が行なわれる。
また、光ディスク10においては、図5(b)に示したように、チルト情報記録領域10aとデータ領域10bとを混在させて構成することもできる。これは、ディスクフォーマットにおいて、データフレーム内にチルト情報記録領域10aを配設する方法の一例である。なお、データフレーム以外の他の領域にチルト情報記録領域10aを配置してもよい。このように、チルト情報記録領域10aを光ディスク10の記録面上に分散させて配置することで、光ディスク10のマウント処理時に、チルト情報を読み込む時間が不要となる。そのため、図5(b)に示した光ディスク10のような構成を採用すれば、データを記録/再生するのと同時に、チルト情報の記録/再生をしながらのチルト補正が可能となる。
次に、光ディスク10へのチルト情報の記録方法について説明する。図7は、光ディスク10にチルト情報を記録する際に用いるチルト情報記録装置2の一例を示す概略構成図である。本実施の形態の光ディスク装置1に用いる光ディスク10においては、例えば、図7に示したチルト情報記録装置2を用いて、光ディスク10の物理的構造が作られる製造時に、光ディスク10のチルトが検出され、検出されたチルト情報が光ディスク10のチルト情報記録領域10aに記録される。なお、光ディスク10としては、チルト情報記録領域10aを有していれば、読み込み専用ディスク媒体(ROMメディア)、書き込み専用ディスク媒体(Recordableメディア)、書き換え可能ディスク媒体(ReWritableメディア)等のいずれをも用いることができる。
図7に示したチルト情報記録装置2は、光源としての半導体レーザ素子から出射されたレーザ光を光ディスク10に照射し、光ディスク10にチルト情報を記録する光ピックアップ部22、光ピックアップ部22からのレーザ光を光ディスク10表面に結像させる対物レンズ21、光ディスク10を保持して回転させるスピンドルモータ24、光ピックアップ部22やスピンドルモータ25、チルト検出部27等を制御する演算部25、演算部25が実行する処理プログラムや各種データ等を記憶するための記憶部26、光ディスク10のチルトを検出するチルト検出部27により主要部が構成されている。
ここで、チルト検出部27について述べる。図8は、チルト検出部27の構成の一例を示す概略構成図である。図8に示したように、本実施の形態のチルト検出部27は、光源としてのレーザダイオード271、レーザ光を平行光にするコリメータレンズ272、レーザ光を透過/反射するビームスプリッタ273、光ディスク10からの戻り光を集光する検出レンズ276、光ディスク10からの戻り光を検出する位置検出素子277から構成されている。
本実施の形態のチルト検出部27では、レーザダイオード271から拡散光として出射されたレーザ光は、コリメータレンズ272によって平行光とされ、ビームスプリッタ273に垂直入射する。ビームスプリッタ273に入射したレーザ光は、ビームスプリッタ273の貼り合せ面で反射され、光ディスク10の表面に照射される。光ディスク10の表面で反射したレーザ光は、ビームスプリッタ273を透過する。ビームスプリッタ273を透過したレーザ光は、検出レンズ276によって位置検出素子277上に結像される。そして、位置検出素子277によって検出されたレーザ光の集光点の座標情報により、光ディスク10のディスクチルトが検出される。なお、位置検出素子277としては、フォトダイオードの表面抵抗を利用してスポット光の位置を検出する位置センサを用いている。
本実施の形態のチルト情報記録装置2に配設されるチルト検出部27は、一般の光ディスク装置等の内部に配設される場合と異なり、小型化する必要がない。そのため、検出レンズ276の焦点距離を充分に長く設定することができるので、ディスクチルトを表す角度の変化を位置検出素子277上での距離の変化として変換する際の光路を充分に長く設定することができる。その結果、ディスクチルトを位置検出素子277上で敏感に検知することが可能となり、精度の高いディスクチルトの検知が実現できる。また、一般の光ディスク装置等に使用される場合と異なり、チルト検出部27はコスト面からの制約を受けることなく製造できるので、チルト検出部27に配設する各種部品も高精度に設定することができる。そのため、チルト検出部27自体の構成面からも検出精度を高めることが可能である。このように、本実施の形態のチルト情報記録装置2では、光ディスク10のディスクチルトを高精度に検出することができる。
次に、本実施の形態のチルト情報記録装置2がチルト情報記録領域10aを有する光ディスク10へチルト情報を記録する際の手順を説明する。図9は、光ディスク10へチルト情報を記録する際の手順を説明するフローチャートである。図9に示したように、チルト情報記録装置2では、まず、演算部25はスピンドルモータ24の回転数を所定の回転数に設定し、スピンドルモータ24を回転させる(S301)。演算部25の制御の下、チルト検出部27をディスクラジアル方向に走査させながら、チルト検出部27によって光ディスク10の各位置におけるチルト情報を検出する。そして、その光ディスク10の各位置に対応付けられたチルト情報検出値を記憶部26に記憶する(S302)。
次に、スピンドルモータ24の回転数の設定を変え(S303)、同様にチルト情報を検出して、その光ディスク10の各位置に対応付けられたチルト情報検出値を記憶部26に記憶する。それにより、複数の回転数における光ディスク10の各位置に対応付けられたチルト情報検出値が記憶部26に記憶される。ここで、チルト情報の検出を1の回転数のみで行なってもよいが、上述したように、光ディスク10のチルト値は、光ディスク10を回転させた際の遠心力の影響を受けることにより、光ディスク10の回転数によって異なる値をとる。そのため、複数の回転数でのチルト情報の検出を行なうことにより、より精度の高いチルト補正が可能となる。
予め設定されていたすべての回転数におけるチルト情報が記憶部26に記憶された後、演算部25は、記憶部26に記憶されたチルト情報を光ディスク10のチルト情報記録領域10aに書き込む(S304)。
ここで、チルト検出部27により検出され、光ディスク10に記録されるチルト情報としては、タンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトの両方が望ましいが、いずれか一方でもよい。
このように、本実施の形態のチルト情報記録装置2を用いて、光ディスク10の製造時にチルト検出を行ない、チルト情報記録領域10aにチルト情報を記録しておくことにより、チルト検出機構が配置されていない光ディスク装置1においても、データの記録/再生の途中に、高精度なチルト補正を行なうことが可能となる。
以上説明したように、本実施の形態の光ディスク装置1では、データの記録/再生を行なう際に、光ディスク10に記録されたチルト情報に基づいてチルト補正部23を駆動することにより、チルト補正を行なっている。そのため、光ディスク10のチルトを検出するチルト検出機構を配設することなく、高精度なチルト補正が可能となる。それにより、チルト検出機構が備えられていない光ディスク装置1においても、光ディスク10のチルトが原因で発生するコマ収差を最小限に抑えることができ、隣接トラック間で発生するクロストークやジッターの劣化等を抑制することが可能となって、光ディスク10の再生品質を高いレベルに維持することができる。
また、チルト補正を行なうに際して光ディスク10に記録されたチルト情報を用いるので、光ディスク10のチルト検出を行なうための処理時間が殆ど必要ない。そのために、レーザ光の照射位置におけるリアルタイムのチルト情報を得ることができ、精度の極めて高いチルト補正が可能となる。
さらに、光ディスク10のチルトを検出するチルト検出機構を配設する必要がないので、光ディスク装置1を安価に製造することも可能となる。
[実施の形態2]
実施の形態1では、チルト検出機構が配置されていない光ディスク装置1について説明したが、本実施の形態2では、チルト検出機構が配置されるとともに、検知されたチルト情報を光ディスク10に記録可能な光ディスク装置3について説明する。なお、本実施の形態2における上記した実施の形態1と同様な構成についての説明は省略する。
図10は本実施の形態の光ディスク装置3を示した概略構成図である。図10に示す光ディスク装置3は、実施の形態1で説明した光ディスク装置1において、光ディスク10のチルトを検出するチルト検出手段としてのチルト検出部28をさらに備えたことを特徴としている。本実施の形態のチルト検出部28は、実施の形態1で説明したチルト情報記録装置2に用いられるチルト検出部27と略同様の構成を有している(図8参照)。ただし、本実施の形態のチルト検出部28は、光ディスク装置3内部に配設できるように小型に設計されている。
本実施の形態の光ディスク装置3においては、チルト検出部28により光ディスク10のチルトを検出することが可能である。そして、チルト検出部28により検出された光ディスク10のチルト値は、チルト情報記録手段として機能する光ピックアップ部22により、光ディスク10のチルト情報記録領域10aに記録される。
ここで、チルト検出部28により光ディスク10のチルトを検出して、チルト情報記録領域10aを有する光ディスク10へそのチルト情報を記録する際の手順を説明する。図11は、光ディスク10へチルト情報を記録する際の手順を説明するフローチャートである。図11に示したように、まず、演算部25はスピンドルモータ24の回転数を所定の回転数に設定し、スピンドルモータ24を回転させる(S401)。演算部25の制御の下、チルト検出部28をディスクラジアル方向に走査させながら、チルト検出部28によって光ディスク10の各位置におけるチルト情報を検出する。そして、その光ディスク10の各位置に対応付けられたチルト情報検出値を記憶部26に記憶する(S402)。すなわち、光ディスク10の読み取り面上のチルト値は、光ディスク10表面のチルト値と略同一であるので、光ディスク10表面のチルト値を読み取り面上のチルト値として代用することが可能である。
また、上述した図4に示すように、光ディスク10のディスクチルトは周波数(ω)特性を有し、ディスクチルト量は2ω成分で最大値を取り、3ω以上の領域で大きく減衰する。したがって、検出されたディスクチルトのDC成分〜2ω成分を補償できれば、チルト補正効果を大きく高めることができる。例えば、光ディスク10の1周につき少なくとも4点のサンプリング値が得られれば、サンプリング定理により2ω成分までのチルト情報を忠実に再現することが可能となる。
次に、スピンドルモータ24の回転数の設定を変え(S403)、同様にチルト情報を検出して、その光ディスク10の各位置に対応付けられたチルト情報検出値を記憶部26に記憶する。それにより、複数の回転数における光ディスク10の各位置に対応付けられたチルト情報検出値が記憶部26に記憶される。ここで、チルト情報の検出を1の回転数のみで行なってもよいが、上述したように、光ディスク10のチルト値は、光ディスク10を回転させた際の遠心力の影響を受けることにより、光ディスク10の回転数によって異なる値をとる。そのため、複数の回転数でのチルト情報の検出を行なうことにより、より精度の高いチルト補正が可能となる。
予め設定されていたすべての回転数におけるチルト情報が記憶部26に記憶された後、演算部25は、記憶部26に記憶されたチルト情報を光ディスク10のチルト情報記録領域10aに書き込む(S404)。
そして、本実施の形態の光ディスク装置3においても、上述した手順によりチルト情報が記録された光ディスク10を用いて、上述した図3に示したものと同様の手順により、光ディスク10に対するデータの記録/再生処理が実行される。
ここで、チルト検出部28は、タンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトの両方を検出できるように構成され、光ディスク10に対してタンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトを記録できるように構成するのが望ましいが、タンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトのいずれか一方を検出でき、記録できるように構成することもできる。
また、例えば、本実施の形態の光ディスク装置3のチルト検出部28がラジアルチルトのみを検出することができ、光ディスク10にはラジアルチルトだけが記録されている場合において、さらに光ディスク装置3をタンジェンシャルチルト、またはタンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトの両方を検出可能に構成すれば、ラジアルチルトだけが記録されている光ディスク10に対して、タンジェンシャルチルトを追加して記録することが可能となる。
さらには、光ディスク10が多層構造を有している場合、各層毎にチルト検出を行ない、各層毎のチルト情報を光ディスク10に記録できるように構成することもできる。
このように、本実施の形態の光ディスク装置3では、光ディスク装置3自身により、光ディスク10のチルトを検出して、それをチルト情報として光ディスク10に記録することが可能である。そのため、本実施の形態の光ディスク装置3によってチルト情報が記録された光ディスク10を用いれば、光ディスク10のチルトを検出するチルト検出機構が配設されていない光ディスク装置においても、高精度なチルト補正が可能となるので、光ディスク10のチルトが原因で発生するコマ収差を最小限に抑えることができる。その結果、隣接トラック間で発生するクロストークやジッターの劣化等を抑えることが可能となって、光ディスク10の再生品質を高いレベルに維持することができる。
また、チルト補正機能を実行するための光ディスク装置と光ディスク10との組み合わせとしては、本実施の形態のようなチルト検出部28を備えた光ディスク装置3とチルト情報が記録されていない安価な光ディスク10との組み合わせと、実施の形態1に示したチルト検出部28を持たない安価な光ディスク装置1とチルト情報が記録されている光ディスク10との組み合わせとを、ユーザがそのニーズに合わせて選択することも可能となる。例えば、ユーザが大量の光ディスク10を使用する場合には、本実施の形態のようなチルト検出部28を備えた光ディスク装置3とチルト情報が記録されていない安価な光ディスク10との組み合わせを選択することで、コストを最小限に抑えることが可能となる。
[実施の形態3]
実施の形態2では、チルト検出機構が配置されるとともに、検知されたチルト情報を光ディスク10に記録可能な光ディスク装置3について説明したが、本実施の形態3では、さらにチルト情報の更新が可能に構成された光ディスク装置4について説明する。なお、本実施の形態3における上記した実施の形態2と同様な構成についての説明は省略する。
本実施の形態の光ディスク装置4は、図10に示した実施の形態2の光ディスク装置3と同様の構成を有している。本実施の形態の光ディスク装置4では、演算部25が、チルト情報が記録された光ディスク10を用いた場合には、必要に応じて光ディスク10に記録されたチルト情報を更新することが可能に構成されていることを特徴としている。
図12は、本実施の形態の光ディスク装置4において、光ディスク10に対してチルト情報を更新する際の手順を説明するフローチャートである。図12に示したように、本実施の形態の光ディスク装置4では、上述したマウント処理(図6参照)が行なれ、データの記録/再生を行なう光ディスク10にチルト情報の記録が既に存在する場合には、光ディスク10からチルト情報が読み出されて記録部26に記憶される。その後、光ディスク10に記録されたチルト情報の精度と光ディスク装置4に配置されたチルト検出部28の検出精度との比較を行なう(S501)。
ステップS501において、光ディスク装置4に配置されたチルト検出部28の検出精度のほうが光ディスク10に記録されたチルト情報の精度よりも高いと判断された場合には、演算部25はスピンドルモータ24の回転数を所定の回転数に設定し、スピンドルモータ24を回転させる(S502)。演算部25の制御の下、チルト検出部28をディスクラジアル方向に走査させながら、チルト検出部28によって光ディスク10の各位置におけるチルト情報を検出する。そして、その光ディスク10の各位置に対応付けられたチルト情報検出値を記憶部26に記憶する(S503)。
次に、スピンドルモータ24の回転数の設定を変え(S504)、同様にチルト情報を検出して、その光ディスク10の各位置に対応付けられたチルト情報検出値を記憶部26に記憶する。それにより、複数の回転数における光ディスク10の各位置に対応付けられたチルト情報検出値が記憶部26に記憶される。ここで、チルト情報の検出を1の回転数のみで行なってもよいが、上述したように、光ディスク10のチルト値は、光ディスク10を回転させた際の遠心力の影響を受けることにより、光ディスク10の回転数によって異なる値をとる。そのため、複数の回転数でのチルト情報の検出を行なうことにより、精度の高いチルト補正が可能となる。
予め設定されていたすべての回転数におけるチルト情報が記憶部26に記憶された後、演算部25は、今回検出されて記憶部26に記憶されたチルト情報によって、光ディスク10のチルト情報記録領域10aのチルト情報を更新する(S505)。ここでの更新処理は、チルト情報を書き換えるか、または、チルト情報を追記した上で、以前に存在するチルト情報を無効化することにより行なわれる。
その後、光ディスク10に記録されたチルト情報を用いてチルト補正を行ないながら、データの記録/再生を行なう(S506)。
一方、ステップS501において、光ディスク装置4に配置されたチルト検出部28の検出精度のほうが光ディスク10に記録されたチルト情報の精度よりも低いと判断された場合には、光ディスク10に記録されているチルト情報をそのまま用いてチルト補正を行ないながら、データの記録/再生を行なう(S506)。
ここで、ステップS501において行なわれる、光ディスク装置4に配置されたチルト検出部28の検出精度と、光ディスク10に記録されたチルト情報の精度との比較は、以下のような方法で行なうことが可能である。
すなわち、本実施の形態の光ディスク装置4においては、チルト検出部28の精度の指標が予め設定される。具体的には、光ディスク装置4の製造時に、チルト検出部28のテストを行なって精度指標を算出し、それを例えば記憶部26に記憶しておく。
一方、光ディスク10においては、例えば本実施の形態のようにチルト検出部28が配置された光ディスク装置4によりチルト情報が記録された場合には、光ディスク10にチルト情報が記録される際、或いは更新される際に、チルト情報を検出する際に用いられたチルト検出部28のチルト精度情報を、チルト情報と合わせてチルト情報記録領域10aに記録しておく。また、実施の形態1に示したチルト情報記録装置2(図7参照)を用いて、光ディスク10の製造時にチルト情報が記録される際には、チルト情報記録装置2のチルト精度情報を、チルト情報と合わせてチルト情報記録領域10aに記録しておく。
そして、検出精度比較手段として機能する演算部25により、光ディスク装置4の精度指標と、光ディスク10に記録されたチルト精度情報とが比較されることで、いずれの検出精度が高いかが判断される。
ただし、ステップS501においては、光ディスク装置4に配置されたチルト検出部28の検出精度のほうが光ディスク10に記録されたチルト情報の精度よりも高いと判断された場合においても、処理速度を優先することを選択し、光ディスク10に記録されたチルト情報を用いてチルト補正を行なうように設定することも可能である。この場合には、チルト検出部28によるチルト情報の検出のための時間とチルト情報の更新処理の時間とを短縮できるため、処理速度を高めることが可能である。
また、光ディスク装置4に配置されたチルト検出部28の検出精度と、光ディスク10に記録されたチルト情報の精度との比較は、タンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトのそれぞれについて行なうように設定することもできる。すなわち、光ディスク装置4および光ディスク10には、それぞれタンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトに関する精度指標とチルト精度情報とを記録しておき、タンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトのそれぞれに対して、別個に図12に示したステップS501〜S506の処理を行なうことも可能である。したがって、このような設定により、タンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトのいずれか一方について、光ディスク10のチルト情報記録領域10aのチルト情報を更新することも可能となる。
このように、本実施の形態の光ディスク装置4では、既にチルト情報が記録された光ディスク10においても、より高精度なチルト情報が得られる場合には、チルト情報を更新することが可能である。そのため、本実施の形態の光ディスク装置4によってチルト情報が記録された光ディスク10を用いれば、光ディスク10のチルトを検出するチルト検出機構が配設されていない光ディスク装置においても、高精度なチルト補正が可能となるので、光ディスク10のチルトが原因で発生するコマ収差を最小限に抑えることができる。その結果、隣接トラック間で発生するクロストークやジッターの劣化等を抑えることが可能となって、光ディスク10の再生品質を高いレベルに維持することができる。
また、チルト検出機構が配設されている光ディスク装置においては、配置されているチルト検出部28の検出精度よりも光ディスク10に記録されているチルト情報の精度が高い場合には、光ディスク10に記録されているチルト情報を用いることで、より高精度なチルト補正が可能となる。
実施の形態1の光ディスク装置の概略構成図である。 対物レンズおよび光ピックアップ部の概略構成図である。 光ディスクに対するデータの記録/再生処理の手順を説明するフローチャートである。 ディスクチルトの周波数特性を示した図である。 チルト情報を記憶する領域を有する光ディスクの構成の一例を示した図である。 光ディスクのマウント処理の手順を説明するフローチャートである。 チルト情報記録装置の概略構成図である。 チルト検出部の概略構成図である。 光ディスクへチルト情報を記録する際の手順を説明するフローチャートである。 実施の形態2の光ディスク装置の概略構成図である。 光ディスクへチルト情報を記録する際の手順を説明するフローチャートである。 光ディスクに対してチルト情報を更新する際の手順を説明するフローチャートである。
符号の説明
1,3,4 光ディスク装置、
10 光ディスク、10a チルト情報記録領域、10b データ領域、
21 対物レンズ、22 光ピックアップ部(光ピックアップ)、
23 チルト補正部、24 スピンドルモータ、25 演算部、26 記憶部、
27,28 チルト検出部、211 トラッキングコイル、
212 フォーカシングコイル、221,271 レーザダイオード、
222,272 コリメータレンズ、223,273 ビームスプリッタ、
224 立上ミラー、225 1/4波長板、226 集光レンズ、
227 受光素子、276 検出レンズ、277 位置検出素子。

Claims (20)

  1. データの書き込みおよび/または読み出しが可能な光ディスクであって、
    前記光ディスクの面上の複数の位置でのチルト値に関する情報が記録される領域を備えたことを特徴とする光ディスク。
  2. 前記領域に記録される前記チルト値に関する情報は、前記光ディスクの離散的な位置における当該チルト値に関する情報であることを特徴とする請求項1記載の光ディスク。
  3. 前記領域に記録される前記チルト値に関する情報は、前記光ディスクの円周方向において少なくとも4つの位置での当該チルト値に関する情報であることを特徴とする請求項1または請求項2記載の光ディスク。
  4. 前記領域に記録される前記チルト値に関する情報は、前記光ディスクを異なる複数の回転数で回転させた際の当該回転数毎の当該チルト値に関する情報であることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載の光ディスク。
  5. 前記領域は、前記光ディスクの中心軸側近傍に配置されたことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれかに記載の光ディスク。
  6. 前記領域は、前記光ディスクの前記データが記録される領域に混在して配置されたことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれかに記載の光ディスク。
  7. 前記チルト値の検出精度に関する情報が記録される領域をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれかに記載の光ディスク。
  8. 請求項1〜請求項7のいずれかに記載の光ディスクに記録されているチルト値に関する情報を読み出すチルト情報読み出し手段と、
    前記光ディスクに対してデータの書き込みおよび/または読み出しを行なう光ピックアップと、
    前記チルト情報読み出し手段によって読み出された前記チルト値に関する情報に基づき前記光ピックアップの姿勢を制御して、前記光ディスクのチルト補正を行なうチルト制御手段と、
    を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
  9. 前記チルト情報読み出し手段によって読み出された前記チルト値に関する情報を記録する記憶手段をさらに備えたことを特徴とする請求項8記載の光ディスク装置。
  10. 前記光ディスクのチルト値を当該光ディスク面上の位置と対応付けて検出するチルト検出手段と、
    前記チルト検出手段により検出された前記チルト値に関する情報を前記光ディスクに記録するチルト情報記録手段と、
    をさらに備えたことを特徴とする請求項8または請求項9記載の光ディスク装置。
  11. 前記チルト情報記録手段は、前記チルト値に関する情報とともに、当該チルト値を検出した前記チルト検出手段の検出精度に関する情報を前記光ディスクに記録することを特徴とする請求項10記載の光ディスク装置。
  12. 前記チルト情報記録手段は、前記チルト検出手段によって検出されたチルト値に関する情報により前記光ディスクに記録されているチルト値に関する情報を更新することを特徴とする請求項10記載の光ディスク装置。
  13. 前記チルト検出手段は、前記データの記録/再生処理が実行される前にて、または記録/再生処理の途中にて、または記録/再生処理が実行された後にて、前記チルト値を検出することを特徴とする請求項10〜請求項12のいずれかに記載の光ディスク装置。
  14. 前記チルト検出手段は、前記光ディスクを異なる複数の回転数で回転させた際の当該回転数毎の前記チルト値を検出することを特徴とする請求項10〜請求項13のいずれかに記載の光ディスク装置。
  15. 前記光ディスクの異なる複数の回転数毎の前記チルト値に基づいて、前記データの記録/再生処理が実行される際の当該光ディスクの回転数に対応したチルト情報を算出する演算手段をさらに備え、
    前記チルト制御手段は、前記演算手段により算出された前記チルト情報に基づいて前記光ディスクのチルト補正を行なうことを特徴とする請求項8〜請求項14のいずれかに記載の光ディスク装置。
  16. 前記チルト制御手段は、前記光ディスクの異なる複数の回転数毎の前記チルト値から、前記データの記録/再生処理が実行される際の当該光ディスクの回転数に最も近いチルト情報を選択し、選択された当該チルト情報に基づいて、前記光ディスクのチルト補正を行なうことを特徴とする請求項8〜請求項14のいずれかに記載の光ディスク装置。
  17. 前記光ディスクに記録されたチルト値の検出精度に関する情報と、前記チルト検出手段の検出精度に関する情報とを比較する検出精度比較手段をさらに備え、
    前記チルト検出手段は、前記検出精度比較手段により前記チルト検出手段の検出精度が前記光ディスクに記録されたチルト値の検出精度よりも高いと判断された場合に動作することを特徴とする請求項10〜請求項16のいずれかに記載の光ディスク装置。
  18. 請求項1〜請求項7のいずれかに記載の光ディスクのチルト値を当該光ディスク面上の位置と対応付けて検出するチルト検出手段と、
    前記チルト検出手段により検出された前記チルト値に関する情報を前記光ディスクに記録するチルト情報記録手段と、
    を備えたことを特徴とする光ディスク製造装置。
  19. 前記チルト情報記録手段は、前記チルト値に関する情報とともに、当該チルト値を検出した前記チルト検出手段の検出精度に関する情報を前記光ディスクに記録することを特徴とする請求項18記載の光ディスク製造装置。
  20. 前記チルト検出手段は、前記光ディスクを異なる複数の回転数で回転させた際の当該回転数毎の前記チルト値を検出することを特徴とする請求項18または請求項19記載の光ディスク製造装置。

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