JP2006331546A - 光ディスク、光ディスク装置および光ディスク製造装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 チルトの検出精度を向上するとともに、チルト検出を短時間に行なうことにより、情報信号の安定した記録／再生を行なうことが可能な光ディスク装置を実現する。
【解決手段】 光ディスク１０に記録されているチルト値に関する情報を読み出し、読み出されたチルト値に関する情報に基づき光ピックアップ部２２の姿勢を制御して、光ディスク１０のチルト補正を行なう。
【選択図】 図１

Description

本発明は、光ディスクに対して情報信号の書き込み／読み出しを行なう光ディスク装置、および光ディスク、光ディスク製造装置に関する。

光ディスク装置では、情報記録媒体として光ディスクが用いられ、スパイラル状または同心円状のトラックが形成された光ディスクの記録面に対してレーザ光を照射することにより、情報信号（データ）の記録／消去を行ない、さらには記録面からの反射光に基づいてデータの再生等を行っている。そして、光ディスクの記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するための装置として、光ピックアップ装置が備えられている。

通常、かかる光ピックアップ装置は、対物レンズが光路中に配置され、光源から出射されるレーザ光を光ディスクの記録面に導くとともに、記録面で反射された戻り光を所定の受光位置まで導く光学系、受光位置に配置された光検出器、および対物レンズをその光軸方向（フォーカス方向）やトラックの接線方向に直交する方向（トラッキング方向）に駆動するレンズ駆動装置等を備えている。光検出器は、記録面に記録されているデータの再生情報だけでなく、対物レンズの位置制御に必要な情報（サーボ情報）を含む信号も出力する。

そして、光ディスク装置では、データの記録／再生等を行なう際に、光検出器からのサーボ情報を含む信号に基づいて、フォーカスエラー信号およびトラックエラー信号を検出し、レーザ光にフォーカスずれがある場合には、レンズ駆動装置を介して対物レンズをフォーカス方向にシフトさせてフォーカスずれを補正している（フォーカス制御）。また、レーザ光にトラックずれがある場合には、レンズ駆動装置を介して対物レンズをトラッキング方向にシフトさせてトラックずれを補正している（トラッキング制御）。

さらに、光ディスク装置に用いられるＣＤ（Compact Disk）やＤＶＤ（Digital Versatile Disk）等の光ディスクにおいては、一般に基材としてポリカーボネート等の樹脂が用いられているために、光ディスク面に反りが生じ易い。そのため、光ピックアップ装置から照射されるレーザ光の光軸方向と、その照射位置における光ディスク面に垂直な方向との間にずれ（以下、「チルト」ともいう。）が発生する場合が多い。このチルトは主に光ディスクの半径方向（ラジアル方向）で発生し、光学系のコマ収差を引き起こす。それにより、隣接トラック間でのクロストークやジッターの劣化等が発生し、光ディスクの再生品質に悪影響を与える。

そこで、光ディスク装置においては、光ディスクの記録／再生動作中においてチルトに基づく収差を補正する機構（チルト補正機構）が備えられている。チルト補正機構では、例えばチルトの角度値（チルト角）の検出を行なうための専用の光ビームとディテクタとからなるチルト検出手段が設けられ、フォーカス制御やトラッキング制御と同時に、チルト検出手段により検出されたチルト角に応じて光ピックアップ装置内の対物レンズの傾き、または光ピックアップ装置全体の傾きを制御することにより、光ビームの光軸が光ディスク面に対して垂直を保つようにチルトサーボ（チルト制御）をかけることが一般的に行われている。
具体的には、チルト補正機構では、光ディスクの傾き（ディスクチルト）と対物レンズまたは光ピックアップ装置の傾きとを個別に検出し、その差が０となるように制御するか、或いは、光ディスクと対物レンズまたは光ピックアップ装置との傾き（相対チルト）を直接検出し、その値を０となるように制御している。

ここで、従来のチルト補正機構に用いられるチルト検出手段として、以下のような技術が開示されている。例えば、光学的なチルト検出方法を用いたものとして、発射光を光ディスクに向けて照射する発光手段と、発射光の光ディスクによる反射光を受光すべく、発光手段の両側に設置された一対の受光手段とから構成され、この一対の受光手段からの出力信号の差によってチルトを検出する技術がある（例えば、特許文献１参照）。

また、光ピックアップ装置のＲＦ信号とプッシュプル信号とを用いたものとして、光ディスクのデータが記憶された領域については、光ピックアップ装置から出力されるＲＦ信号の振幅が最大となるようにチルト補正を行い、データが記憶されていない領域についてはＲＦ信号を得ることができないため、トラックエラー信号を検出する際のプッシュプル信号におけるオフセットがほぼ０となるようにチルト検出を行なう技術がある（例えば、特許文献２参照）。

さらには、ジッター量を用いるものとして、再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学ヘッドのラジアルチルト位置を変更するラジアルチルト位置可変手段とを備え、ラジアルチルトを変化させながら、予め光ディスクに記録されたランダム信号を再生し、ジッター量が最小となる最適なラジアルチルトを検出する技術がある（例えば、特許文献３参照）。

実公平３−２９７７８号公報 特開２００１−５２３６２号公報 特開平８−４５０８１号公報

ところで、現在、次世代大容量光ディスクの規格として、Ｂｌｕ−Ｒａｙ ＤｉｓｃやＨＤ−ＤＶＤといった波長４０５ｎｍの青紫色レーザを用いる新たな高記録密度仕様のものが実用化されようとしている。このような規格の光ディスクを用いる光ディスク装置においては、レーザ光のスポット径を小さくすることが必須となる。そのために、上記したようなレーザの波長を短くすることと同時に、対物レンズの開口数（ＮＡ）を大きくすることが必要となる。ところが、対物レンズの開口数を大きくすると、チルト角に対するマージンが小さくなる。すなわち、光ディスクがわずかに傾いていても、再生品質の大きな劣化を招くこととなる。そこで、光ディスクの高密度化に対応するためには、光ディスク装置に高精度のチルト補正機構を配設することが不可欠となり、そのためには、高い精度でチルトを検出することが必須となる。

しかしながら、上記した特許文献１に記載された技術は、発光手段の両側に設置された一対の受光手段の配置位置の相違に基づいて、受光手段からの出力信号の差によりチルトを検出するものである。そのため、光ピックアップ装置を小型化した場合には、チルト角を位置に変換するための光路を短くせざるを得ない。その結果、原理上チルト角の変化に対する検出感度が鈍くなり、高い精度でチルトを検出することが難しいという問題がある。また、専用のチルトセンサ（受光手段）を用いることから、それに伴って多数の部品が必要となり、コストを低く抑えることも困難である。
また、上記した特許文献２に記載された技術のように、ＲＦ信号やプッシュプル信号等といった記録／再生時に使用する信号を利用する方法では、チルトエラー量に対してＲＦ信号やプッシュプル信号等の信号は２次関数となるため、最適チルトを与える信号振幅の極大値付近では、チルトエラー量に対する感度が低くなり、検出精度を高くするのが困難であるという問題がある。また、チルト量を変化させながら、モニタする信号の最大値を探す必要があるため、チルト検出に時間がかかるという不都合もある。

さらには、上記した特許文献３に記載された技術のようにジッター量を用いる方法では、チルト量を変化させながら、モニタする信号の最大値を探す必要があるため、チルト検出に時間がかかるという問題がある。また、予め光ディスクに記録されたランダム信号をチルト検出に用いるため、光ディスク全面のチルトを検出するのは不可能に近いという大きな問題もある。さらには、再生信号からジッター量を検出するジッター量測定手段が必要となり、コストアップも不回避である。

この発明は、上述のような技術的課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、チルトの検出精度を向上するとともに、チルト検出を短時間に行なうことにより、情報信号の安定した記録／再生を行なうことが可能な光ディスク装置を実現することにある。
さらに他の目的は、光ディスク装置において、製造コストの低廉化を図ることにある。

かかる目的のもと、本発明の請求項１に記載の光ディスクは、データの書き込みおよび／または読み出しが可能な光ディスクであって、前記光ディスクの面上の複数の位置でのチルト値に関する情報が記録される領域を備えたことを特徴としている。

また、本発明の請求項２に記載の光ディスクは、請求項１記載の光ディスクにおいて、前記領域に記録される前記チルト値に関する情報は、前記光ディスクの離散的な位置における当該チルト値に関する情報であることを特徴としている。

また、本発明の請求項３に記載の光ディスクは、請求項１または請求項２記載の光ディスクにおいて、前記領域に記録される前記チルト値に関する情報は、前記光ディスクの円周方向において少なくとも４つの位置での当該チルト値に関する情報であることを特徴としている。

また、本発明の請求項４に記載の光ディスクは、請求項１〜請求項３のいずれかに記載の光ディスクにおいて、前記領域に記録される前記チルト値に関する情報は、前記光ディスクを異なる複数の回転数で回転させた際の当該回転数毎の当該チルト値に関する情報であることを特徴としている。

また、本発明の請求項５に記載の光ディスクは、請求項１〜請求項４のいずれかに記載の光ディスクにおいて、前記光ディスクの中心軸側近傍に配置されたことを特徴としている。

本発明の請求項６に記載の光ディスクは、請求項１〜請求項４のいずれかに記載の光ディスクにおいて、前記光ディスクの前記データが記録される領域に混在して配置されたことを特徴としている。

本発明の請求項７に記載の光ディスクは、請求項１〜請求項６のいずれかに記載の光ディスクにおいて、前記チルト値の検出精度に関する情報が記録される領域をさらに備えたことを特徴としている。

本発明の請求項８に記載の光ディスク装置は、請求項１〜請求項７のいずれかに記載の光ディスクに記録されているチルト値に関する情報を読み出すチルト情報読み出し手段と、前記光ディスクに対してデータの書き込みおよび／または読み出しを行なう光ピックアップと、前記チルト情報読み出し手段によって読み出された前記チルト値に関する情報に基づき前記光ピックアップの姿勢を制御して、前記光ディスクのチルト補正を行なうチルト制御手段と、を備えたことを特徴としている。

本発明の請求項９に記載の光ディスク装置は、請求項８記載の光ディスク装置において、前記チルト情報読み出し手段によって読み出された前記チルト値に関する情報を記録する記憶手段をさらに備えたことを特徴としている。

本発明の請求項１０に記載の光ディスク装置は、請求項８または請求項９記載の光ディスク装置において、前記光ディスクのチルト値を当該光ディスク面上の位置と対応付けて検出するチルト検出手段と、前記チルト検出手段により検出された前記チルト値に関する情報を前記光ディスクに記録するチルト情報記録手段と、をさらに備えたことを特徴としている。

本発明の請求項１１に記載の光ディスク装置は、請求項１０記載の光ディスク装置において、前記チルト情報記録手段は、前記チルト値に関する情報とともに、当該チルト値を検出した前記チルト検出手段の検出精度に関する情報を前記光ディスクに記録することを特徴としている。

本発明の請求項１２に記載の光ディスク装置は、請求項１０記載の光ディスク装置において、前記チルト情報記録手段は、前記チルト検出手段によって検出されたチルト値に関する情報により前記光ディスクに記録されているチルト値に関する情報を更新することを特徴としている。

本発明の請求項１３に記載の光ディスク装置は、請求項１０〜請求項１２のいずれかに記載の光ディスク装置において、前記チルト検出手段は、前記データの記録／再生処理が実行される前にて、または記録／再生処理の途中にて、または記録／再生処理が実行された後にて、前記チルト値を検出することを特徴としている。

本発明の請求項１４に記載の光ディスク装置は、請求項１０〜請求項１３のいずれかに記載の光ディスク装置において、前記チルト検出手段は、前記光ディスクを異なる複数の回転数で回転させた際の当該回転数毎の前記チルト値を検出することを特徴としている。

本発明の請求項１５に記載の光ディスク装置は、請求項８〜請求項１４のいずれかに記載の光ディスク装置において、前記光ディスクの異なる複数の回転数毎の前記チルト値に基づいて、前記データの記録／再生処理が実行される際の当該光ディスクの回転数に対応したチルト情報を算出する演算手段をさらに備え、前記チルト制御手段は、前記演算手段により算出された前記チルト情報に基づいて前記光ディスクのチルト補正を行なうことを特徴としている。

本発明の請求項１６に記載の光ディスク装置は、請求項８〜請求項１４のいずれかに記載の光ディスク装置において、前記チルト制御手段は、前記光ディスクの異なる複数の回転数毎の前記チルト値から、前記データの記録／再生処理が実行される際の当該光ディスクの回転数に最も近いチルト情報を選択し、選択された当該チルト情報に基づいて、前記光ディスクのチルト補正を行なうことを特徴としている。

本発明の請求項１７に記載の光ディスク装置は、請求項１０〜請求項１６のいずれかに記載の光ディスク装置において、前記光ディスクに記録されたチルト値の検出精度に関する情報と、前記チルト検出手段の検出精度に関する情報とを比較する検出精度比較手段をさらに備え、前記チルト検出手段は、前記検出精度比較手段により前記チルト検出手段の検出精度が前記光ディスクに記録されたチルト値の検出精度よりも高いと判断された場合に動作することを特徴としている。

本発明の請求項１８に記載の光ディスク製造装置は、請求項１〜請求項７のいずれかに記載の光ディスクのチルト値を当該光ディスク面上の位置と対応付けて検出するチルト検出手段と、前記チルト検出手段により検出された前記チルト値に関する情報を前記光ディスクに記録するチルト情報記録手段と、を備えたことを特徴としている。

本発明の請求項１９に記載の光ディスク製造装置は、請求項１８記載の光ディスク製造装置において、前記チルト情報記録手段は、前記チルト値に関する情報とともに、当該チルト値を検出した前記チルト検出手段の検出精度に関する情報を前記光ディスクに記録することを特徴としている。

本発明の請求項２０に記載の光ディスク製造装置は、請求項１８または請求項１９記載の光ディスク製造装置において、前記チルト検出手段は、前記光ディスクを異なる複数の回転数で回転させた際の当該回転数毎の前記チルト値を検出することを特徴としている。

本発明によれば、光ディスク装置において、情報信号の安定した記録／再生を行なうことが可能となった。また、光ディスク装置を安価に製造することが可能となった。

以下、この発明を実施するための最良の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図中において、同一または相当する構成要素については同一の符号を付し、その重複説明は適宜、簡略化または省略する。
［実施の形態１］
図１は本実施の形態が適用される光ディスク装置の一例を示した概略構成図である。図１に示す光ディスク装置１は、光源としての半導体レーザ素子から出射されたレーザ光を光ディスク１０に向けて照射し、光ディスク１０からの反射光を受光して受光強度に対応した信号を発生する光ピックアップ部（光ピックアップ）２２、光ピックアップ部２２からのレーザ光を光ディスク１０表面に結像させる対物レンズ２１、光ディスク１０を保持して回転させるスピンドルモータ２４、光ピックアップ部２２の姿勢を制御することでチルト補正を行なうチルト制御手段としてのチルト補正部２３、光ピックアップ部２２やスピンドルモータ２４、チルト補正部２３等を制御する演算手段の一例としての演算部２５、演算部２５が実行する処理プログラムや各種データ等を記憶するための記憶手段としての記憶部２６により主要部が構成されている。

図２は、対物レンズ２１および光ピックアップ部２２の概略構成図である。図２に示したように、光ピックアップ部２２は、光源としてのレーザダイオード２２１、レーザ光を平行光にするコリメータレンズ２２２、レーザ光を透過／反射するビームスプリッタ２２３、反射ミラーとしての立上ミラー２２４、直線偏光を円偏光に、または円偏光を直線偏光に変換する１／４波長板２２５、光ディスク１０からの戻り光を集光する集光レンズ２２６、光ディスク１０からの戻り光を受光する受光素子２２７から構成されている。
また、対物レンズ２１には、不図示の支持ホルダを介して、対物レンズ２１をトラッキング方向にシフトさせるトラッキングコイル２１１、対物レンズ２１をフォーカス方向にシフトさせるフォーカシングコイル２１２が連結されている。

光ピックアップ部２２において、レーザダイオード２２１から拡散光として出射されたレーザ光（直線偏光）は、コリメータレンズ２２２によって平行光とされ、ビームスプリッタ２２３に入射する。ビームスプリッタ２２３は、光の偏光方向の違いによって貼り合せ面で光を透過または反射させる働きをするものである。ここで、ビームスプリッタ２２３へ入射するレーザ光は平行光であり、ビームスプリッタ２２３の入射面に対して平行振動するため、ビームスプリッタ２２３を透過する。透過したレーザ光は、立上ミラー２２４で方向を変えられた後、１／４波長板２２５に入射する。１／４波長板２２５では直線偏光が円偏光に変換される。そして、レーザ光は光ピックアップ部２２の光ディスク１０側に配設された対物レンズ２１に入射する。対物レンズ２１に入射した光は、光ディスク１０の記録面上に集光される。

その後、光ディスク１０の記録面に入射したレーザ光はこの記録面で反射され、再び対物レンズ２１を経て１／４波長板２２５に入射する。このとき、１／４波長板２２５により円偏光から再び直線偏光に変換されるが、最初に１／４波長板２２５に入射したレーザ光とは位相が９０°ずれる。それにより、立上ミラー２２４で方向を変えられた後にビームスプリッタ２２３に入射する際には、ビームスプリッタ２２３の入射面に対して垂直振動するレーザ光となる。そのため、このレーザ光はビームスプリッタ２２３により入射方向と垂直な方向に反射される。そして、この反射されたレーザ光は、集光レンズ２２６により受光素子２２７に集光される。

受光素子２２７は、検出領域が複数に分割された多分割検出器（例えば、４分割検出器）であり、各検出領域の出力信号を演算部２５（図１参照）に送信する。そして、演算部２５においてこれらの出力信号は演算され、光ディスク１０に記録されている情報（データ）に対応した再生情報信号と、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号とが生成される。
生成された再生情報信号に基づいて、光ディスク１０に記録されているデータが再生される。また、トラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号は位相補償が施された後、対物レンズ２１に連結されたトラッキングコイル２１１やフォーカシングコイル２１２に送信される。そして、トラッキングコイル２１１やフォーカシングコイル２１２を駆動し、対物レンズ２１に対してトラッキング方向のずれを補正するトラッキングサーボや、フォーカス方向のずれを補正するフォーカシングサーボが実行される。

ここで、本実施の形態の光ディスク装置１に用いる光ディスク１０には、記録面の所定の領域に、光ディスク１０のチルト情報が予め記録されている。このチルト情報とは、ポリカーボネート等の樹脂で形成された光ディスク１０に反りが生じること等が要因となって発生する、光ピックアップ部２２から照射されるレーザ光の光軸方向と、レーザ光の照射位置における光ディスク１０面に垂直な方向との間のずれ（チルト）の角度値（チルト値）に関する情報であって、記録面の位置に対応付けられたものである。また、チルト情報としては、光ディスク１０の記録面に形成されたスパイラル状または同心円状のトラックの接線方向に関するタンジェンシャルチルト、トラックの接線方向に直交する方向に関するラジアルチルトの両方、または、タンジェンシャルチルトとラジアルチルトとのいずれか一方が記録されている。

本実施の形態の光ディスク装置１では、データの記録／再生の前、またはデータの記録／再生の途中、さらには記録／再生の後において、チルト情報読み取り手段として機能する光ピックアップ部２２によって光ディスク１０からチルト情報を読み込み、このチルト情報を演算部２５の制御の下で記憶部２６に記憶する。そして、データの記録／再生時には、演算部２５は光ピックアップ部２２がレーザ光を照射しているその位置でのチルト値を記憶部２６から読み出し、読み出されたチルト値に基づいて算出されたチルト角をチルト補正部２３に出力する。
チルト補正部２３においては、演算部２５によって指定されたチルト角と一致するように光ピックアップ部２２を傾斜させる。それにより、対物レンズ２１から照射されるレーザ光の光軸方向をその照射位置における光ディスク１０面に垂直な方向に維持して、光ディスク１０のチルトを補正する。
なお、この場合、チルト補正部２３は、対物レンズ２１を傾斜させることにより、光ディスク１０のチルトを補正することも可能である。なお、光ピックアップ部２２と対物レンズ２１とを一体的に光ピックアップとして捉え、対物レンズ２１を傾斜させることも含めて、チルト補正部２３は光ピックアップの姿勢を制御するものと考えることもできる。
なお、チルト補正部２３は、チルトエラーにより生じるコマ収差を、光源から対物レンズ２１に至る光路中において、例えば液晶素子を用いて、波面収差を発生させ補正することも可能である。

次に、本実施の形態の光ディスク装置１において実行される、複数の回転数についてのチルト情報が記憶された光ディスク１０に対するデータの記録／再生処理の手順を説明する。図３は、光ディスク１０に対するデータの記録／再生処理の手順を説明するフローチャートである。ここで、光ディスク１０に複数の回転数におけるチルト情報を記憶しておくのは、光ディスク１０のチルト値は、光ディスク１０を回転させた際の遠心力の影響を受けることにより、光ディスク１０の回転数によって異なる値をとるためである。
本実施の形態の光ディスク装置１では、図３に示したように、まず、光ディスク１０に記憶されたチルト情報を読み取り、これを記憶部２６に記憶する。そして、演算部２５は、光ディスク装置１が記録／再生の際に用いる回転数におけるチルト情報が記憶部２５に記憶されているか否かを判断する（Ｓ１０１）。
記録／再生に用いる回転数におけるチルト情報が記憶部２５に記憶されている場合には、その回転数におけるチルト情報を選択する（Ｓ１０５）。そして、選択されたチルト情報により、チルト補正部２３によるチルト補正を行ないながら、データの記録／再生処理を実行する（Ｓ１０４）。

ステップＳ１０１において、記録／再生に用いる回転数におけるチルト情報が記憶部２５に記憶されていない場合には、演算部２５は、記憶部２５に記憶されている回転数におけるチルト情報に基づいて、データの記録／再生時に用いる回転数におけるチルト情報を補間する（Ｓ１０２）。
ここで、ステップＳ１０２において行なわれるチルト情報の補間方法の一例を示す。例えば、ｙ（ω）を回転数ωにおける光ディスク１０上の任意の位置でのチルト値であるとする。また、ｙ（ω₁）、ｙ（ω₂）をそれぞれω₁＞ω、ω＞ω₂を満たす回転数ω₁、ω₂における既知の同位置でのチルト値とする。すると、ｙ（ω）は、
ｙ(ω)＝(ｙ(ω₁)−ｙ(ω₂))／(ω₁−ω₂)×(ω−ω₂)＋ｙ(ω) …（１）
として補間することができる。この（１）式は一次の補間を用いるものであるが、より高次の補間を行なうこともできる。
なお、ステップＳ１０２において、演算部２５は、記憶部２５に記憶されている回転数におけるチルト情報から、データの記録／再生時に用いる回転数に最も近い回転数におけるチルト情報を選択することもできる。
その後、補間したチルト情報を選択し（Ｓ１０３）、選択されたチルト情報を用いて、チルト補正部２３によるチルト補正を行ないながら、データの記録／再生処理を実行する（Ｓ１０４）。

なお、光ディスク装置１において、光ディスク１０の読み取りが行なわれる半径位置での回転数が変化するＣＬＶやＺ−ＣＡＶ等を用いてデータの記録／再生処理を実行する場合には、光ディスク１０における読み取り半径位置が変化する毎に、図３に示した手順を繰り返すことにより、記録／再生時に用いる回転数にマッチしたチルト情報を用いてチルト補正を行なえばよい。
また、光ディスク１０に記憶されたチルト情報が離散的な場合には、演算部２５において、サンプリング周波数の半分のカットオフのＬＰＦ（Low Pass Filter）をかけ、連続的なチルト情報としてチルト補正部２３を駆動すればよい。ここで、図４は、ディスクチルトの周波数（ω）特性を示した図である。図４に示すように、ディスクチルト量は２ω成分で最大値を取り、３ω以上の領域で大きく減衰する特性を有している。したがって、ディスクチルトのＤＣ成分〜２ω成分を補償できれば、チルト補正効果を大きく高めることができる。例えば、光ディスク１０の１周につき４点のサンプリング値がある場合には、サンプリング定理により２ωのカットオフを有するＬＰＦをかけることにより、２ω成分までのチルト情報を忠実に再現することが可能となる。

このように、本実施の形態の光ディスク装置１では、データの記録／再生を行なう際に、光ディスク１０に記録されたチルト情報に基づいてチルト補正部２３を駆動することにより、チルト補正を行なっている。そのため、光ディスク１０のチルトを検出するチルト検出機構を配設することなく、高精度なチルト補正が可能となる。それにより、チルト検出機構が備えられていない光ディスク装置１においても、光ディスク１０のチルトが原因で発生するコマ収差を最小限に抑えることができ、隣接トラック間で発生するクロストークやジッターの劣化等を抑制することが可能となって、光ディスク１０の再生品質を高いレベルに維持することができる。
また、チルト補正を行なうに際して光ディスク１０に記録されたチルト情報を用いるので、光ディスク１０のチルト検出を行なうための処理時間が殆ど必要ない。そのために、レーザ光の照射位置におけるリアルタイムのチルト情報を得ることができ、精度の極めて高いチルト補正が可能となる。
さらに、光ディスク１０のチルトを検出するチルト検出機構を配設する必要がないので、光ディスク装置１を安価に製造することも可能となる。

続いて、図５は、チルト情報を記録する領域を有する光ディスク１０の構成の一例を示した図である。図５（ａ）に示した光ディスク１０では、チルト情報が記録された領域（チルト情報記録領域）１０ａが光ディスク１０の中心軸側に配置され、データが記録された領域（データ領域）１０ｂが光ディスク１０の外周部側に配置されている。データの読み込み速度を考慮すれば、光ディスク１０のマウント処理と同時にチルト情報が読み込めるように、図５（ａ）に示した光ディスク１０のようなチルト情報記録領域１０ａがＴＯＣ（Table Of Contents）情報等のマウント処理に必要な情報の記録領域の近傍に配置された構成が好ましい。
ここで、図５（ａ）に示した構成の光ディスク１０を用いた際の、光ディスク装置１で実行される光ディスク１０のマウント処理の一例を図６に示す。図６に示したように、光ディスク装置１では、まず、光ディスク１０からＴＯＣ情報の読み込み等の従来のマウント処理（Ｓ２０１）を行なった後、光ディスク１０のチルト情報記録領域１０ａからディスク面のチルト情報を読み出し、記憶部２６に記憶する（Ｓ２０２）。このようにして、光ディスク１０のマウント処理が行なわれる。

また、光ディスク１０においては、図５（ｂ）に示したように、チルト情報記録領域１０ａとデータ領域１０ｂとを混在させて構成することもできる。これは、ディスクフォーマットにおいて、データフレーム内にチルト情報記録領域１０ａを配設する方法の一例である。なお、データフレーム以外の他の領域にチルト情報記録領域１０ａを配置してもよい。このように、チルト情報記録領域１０ａを光ディスク１０の記録面上に分散させて配置することで、光ディスク１０のマウント処理時に、チルト情報を読み込む時間が不要となる。そのため、図５（ｂ）に示した光ディスク１０のような構成を採用すれば、データを記録／再生するのと同時に、チルト情報の記録／再生をしながらのチルト補正が可能となる。

次に、光ディスク１０へのチルト情報の記録方法について説明する。図７は、光ディスク１０にチルト情報を記録する際に用いるチルト情報記録装置２の一例を示す概略構成図である。本実施の形態の光ディスク装置１に用いる光ディスク１０においては、例えば、図７に示したチルト情報記録装置２を用いて、光ディスク１０の物理的構造が作られる製造時に、光ディスク１０のチルトが検出され、検出されたチルト情報が光ディスク１０のチルト情報記録領域１０ａに記録される。なお、光ディスク１０としては、チルト情報記録領域１０ａを有していれば、読み込み専用ディスク媒体（ＲＯＭメディア）、書き込み専用ディスク媒体（Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅメディア）、書き換え可能ディスク媒体（ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅメディア）等のいずれをも用いることができる。

図７に示したチルト情報記録装置２は、光源としての半導体レーザ素子から出射されたレーザ光を光ディスク１０に照射し、光ディスク１０にチルト情報を記録する光ピックアップ部２２、光ピックアップ部２２からのレーザ光を光ディスク１０表面に結像させる対物レンズ２１、光ディスク１０を保持して回転させるスピンドルモータ２４、光ピックアップ部２２やスピンドルモータ２５、チルト検出部２７等を制御する演算部２５、演算部２５が実行する処理プログラムや各種データ等を記憶するための記憶部２６、光ディスク１０のチルトを検出するチルト検出部２７により主要部が構成されている。

ここで、チルト検出部２７について述べる。図８は、チルト検出部２７の構成の一例を示す概略構成図である。図８に示したように、本実施の形態のチルト検出部２７は、光源としてのレーザダイオード２７１、レーザ光を平行光にするコリメータレンズ２７２、レーザ光を透過／反射するビームスプリッタ２７３、光ディスク１０からの戻り光を集光する検出レンズ２７６、光ディスク１０からの戻り光を検出する位置検出素子２７７から構成されている。
本実施の形態のチルト検出部２７では、レーザダイオード２７１から拡散光として出射されたレーザ光は、コリメータレンズ２７２によって平行光とされ、ビームスプリッタ２７３に垂直入射する。ビームスプリッタ２７３に入射したレーザ光は、ビームスプリッタ２７３の貼り合せ面で反射され、光ディスク１０の表面に照射される。光ディスク１０の表面で反射したレーザ光は、ビームスプリッタ２７３を透過する。ビームスプリッタ２７３を透過したレーザ光は、検出レンズ２７６によって位置検出素子２７７上に結像される。そして、位置検出素子２７７によって検出されたレーザ光の集光点の座標情報により、光ディスク１０のディスクチルトが検出される。なお、位置検出素子２７７としては、フォトダイオードの表面抵抗を利用してスポット光の位置を検出する位置センサを用いている。

本実施の形態のチルト情報記録装置２に配設されるチルト検出部２７は、一般の光ディスク装置等の内部に配設される場合と異なり、小型化する必要がない。そのため、検出レンズ２７６の焦点距離を充分に長く設定することができるので、ディスクチルトを表す角度の変化を位置検出素子２７７上での距離の変化として変換する際の光路を充分に長く設定することができる。その結果、ディスクチルトを位置検出素子２７７上で敏感に検知することが可能となり、精度の高いディスクチルトの検知が実現できる。また、一般の光ディスク装置等に使用される場合と異なり、チルト検出部２７はコスト面からの制約を受けることなく製造できるので、チルト検出部２７に配設する各種部品も高精度に設定することができる。そのため、チルト検出部２７自体の構成面からも検出精度を高めることが可能である。このように、本実施の形態のチルト情報記録装置２では、光ディスク１０のディスクチルトを高精度に検出することができる。

次に、本実施の形態のチルト情報記録装置２がチルト情報記録領域１０ａを有する光ディスク１０へチルト情報を記録する際の手順を説明する。図９は、光ディスク１０へチルト情報を記録する際の手順を説明するフローチャートである。図９に示したように、チルト情報記録装置２では、まず、演算部２５はスピンドルモータ２４の回転数を所定の回転数に設定し、スピンドルモータ２４を回転させる（Ｓ３０１）。演算部２５の制御の下、チルト検出部２７をディスクラジアル方向に走査させながら、チルト検出部２７によって光ディスク１０の各位置におけるチルト情報を検出する。そして、その光ディスク１０の各位置に対応付けられたチルト情報検出値を記憶部２６に記憶する（Ｓ３０２）。
次に、スピンドルモータ２４の回転数の設定を変え（Ｓ３０３）、同様にチルト情報を検出して、その光ディスク１０の各位置に対応付けられたチルト情報検出値を記憶部２６に記憶する。それにより、複数の回転数における光ディスク１０の各位置に対応付けられたチルト情報検出値が記憶部２６に記憶される。ここで、チルト情報の検出を１の回転数のみで行なってもよいが、上述したように、光ディスク１０のチルト値は、光ディスク１０を回転させた際の遠心力の影響を受けることにより、光ディスク１０の回転数によって異なる値をとる。そのため、複数の回転数でのチルト情報の検出を行なうことにより、より精度の高いチルト補正が可能となる。

予め設定されていたすべての回転数におけるチルト情報が記憶部２６に記憶された後、演算部２５は、記憶部２６に記憶されたチルト情報を光ディスク１０のチルト情報記録領域１０ａに書き込む（Ｓ３０４）。
ここで、チルト検出部２７により検出され、光ディスク１０に記録されるチルト情報としては、タンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトの両方が望ましいが、いずれか一方でもよい。

このように、本実施の形態のチルト情報記録装置２を用いて、光ディスク１０の製造時にチルト検出を行ない、チルト情報記録領域１０ａにチルト情報を記録しておくことにより、チルト検出機構が配置されていない光ディスク装置１においても、データの記録／再生の途中に、高精度なチルト補正を行なうことが可能となる。

以上説明したように、本実施の形態の光ディスク装置１では、データの記録／再生を行なう際に、光ディスク１０に記録されたチルト情報に基づいてチルト補正部２３を駆動することにより、チルト補正を行なっている。そのため、光ディスク１０のチルトを検出するチルト検出機構を配設することなく、高精度なチルト補正が可能となる。それにより、チルト検出機構が備えられていない光ディスク装置１においても、光ディスク１０のチルトが原因で発生するコマ収差を最小限に抑えることができ、隣接トラック間で発生するクロストークやジッターの劣化等を抑制することが可能となって、光ディスク１０の再生品質を高いレベルに維持することができる。
また、チルト補正を行なうに際して光ディスク１０に記録されたチルト情報を用いるので、光ディスク１０のチルト検出を行なうための処理時間が殆ど必要ない。そのために、レーザ光の照射位置におけるリアルタイムのチルト情報を得ることができ、精度の極めて高いチルト補正が可能となる。
さらに、光ディスク１０のチルトを検出するチルト検出機構を配設する必要がないので、光ディスク装置１を安価に製造することも可能となる。

［実施の形態２］
実施の形態１では、チルト検出機構が配置されていない光ディスク装置１について説明したが、本実施の形態２では、チルト検出機構が配置されるとともに、検知されたチルト情報を光ディスク１０に記録可能な光ディスク装置３について説明する。なお、本実施の形態２における上記した実施の形態１と同様な構成についての説明は省略する。

図１０は本実施の形態の光ディスク装置３を示した概略構成図である。図１０に示す光ディスク装置３は、実施の形態１で説明した光ディスク装置１において、光ディスク１０のチルトを検出するチルト検出手段としてのチルト検出部２８をさらに備えたことを特徴としている。本実施の形態のチルト検出部２８は、実施の形態１で説明したチルト情報記録装置２に用いられるチルト検出部２７と略同様の構成を有している（図８参照）。ただし、本実施の形態のチルト検出部２８は、光ディスク装置３内部に配設できるように小型に設計されている。

本実施の形態の光ディスク装置３においては、チルト検出部２８により光ディスク１０のチルトを検出することが可能である。そして、チルト検出部２８により検出された光ディスク１０のチルト値は、チルト情報記録手段として機能する光ピックアップ部２２により、光ディスク１０のチルト情報記録領域１０ａに記録される。
ここで、チルト検出部２８により光ディスク１０のチルトを検出して、チルト情報記録領域１０ａを有する光ディスク１０へそのチルト情報を記録する際の手順を説明する。図１１は、光ディスク１０へチルト情報を記録する際の手順を説明するフローチャートである。図１１に示したように、まず、演算部２５はスピンドルモータ２４の回転数を所定の回転数に設定し、スピンドルモータ２４を回転させる（Ｓ４０１）。演算部２５の制御の下、チルト検出部２８をディスクラジアル方向に走査させながら、チルト検出部２８によって光ディスク１０の各位置におけるチルト情報を検出する。そして、その光ディスク１０の各位置に対応付けられたチルト情報検出値を記憶部２６に記憶する（Ｓ４０２）。すなわち、光ディスク１０の読み取り面上のチルト値は、光ディスク１０表面のチルト値と略同一であるので、光ディスク１０表面のチルト値を読み取り面上のチルト値として代用することが可能である。
また、上述した図４に示すように、光ディスク１０のディスクチルトは周波数（ω）特性を有し、ディスクチルト量は２ω成分で最大値を取り、３ω以上の領域で大きく減衰する。したがって、検出されたディスクチルトのＤＣ成分〜２ω成分を補償できれば、チルト補正効果を大きく高めることができる。例えば、光ディスク１０の１周につき少なくとも４点のサンプリング値が得られれば、サンプリング定理により２ω成分までのチルト情報を忠実に再現することが可能となる。

次に、スピンドルモータ２４の回転数の設定を変え（Ｓ４０３）、同様にチルト情報を検出して、その光ディスク１０の各位置に対応付けられたチルト情報検出値を記憶部２６に記憶する。それにより、複数の回転数における光ディスク１０の各位置に対応付けられたチルト情報検出値が記憶部２６に記憶される。ここで、チルト情報の検出を１の回転数のみで行なってもよいが、上述したように、光ディスク１０のチルト値は、光ディスク１０を回転させた際の遠心力の影響を受けることにより、光ディスク１０の回転数によって異なる値をとる。そのため、複数の回転数でのチルト情報の検出を行なうことにより、より精度の高いチルト補正が可能となる。

予め設定されていたすべての回転数におけるチルト情報が記憶部２６に記憶された後、演算部２５は、記憶部２６に記憶されたチルト情報を光ディスク１０のチルト情報記録領域１０ａに書き込む（Ｓ４０４）。
そして、本実施の形態の光ディスク装置３においても、上述した手順によりチルト情報が記録された光ディスク１０を用いて、上述した図３に示したものと同様の手順により、光ディスク１０に対するデータの記録／再生処理が実行される。

ここで、チルト検出部２８は、タンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトの両方を検出できるように構成され、光ディスク１０に対してタンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトを記録できるように構成するのが望ましいが、タンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトのいずれか一方を検出でき、記録できるように構成することもできる。
また、例えば、本実施の形態の光ディスク装置３のチルト検出部２８がラジアルチルトのみを検出することができ、光ディスク１０にはラジアルチルトだけが記録されている場合において、さらに光ディスク装置３をタンジェンシャルチルト、またはタンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトの両方を検出可能に構成すれば、ラジアルチルトだけが記録されている光ディスク１０に対して、タンジェンシャルチルトを追加して記録することが可能となる。
さらには、光ディスク１０が多層構造を有している場合、各層毎にチルト検出を行ない、各層毎のチルト情報を光ディスク１０に記録できるように構成することもできる。

このように、本実施の形態の光ディスク装置３では、光ディスク装置３自身により、光ディスク１０のチルトを検出して、それをチルト情報として光ディスク１０に記録することが可能である。そのため、本実施の形態の光ディスク装置３によってチルト情報が記録された光ディスク１０を用いれば、光ディスク１０のチルトを検出するチルト検出機構が配設されていない光ディスク装置においても、高精度なチルト補正が可能となるので、光ディスク１０のチルトが原因で発生するコマ収差を最小限に抑えることができる。その結果、隣接トラック間で発生するクロストークやジッターの劣化等を抑えることが可能となって、光ディスク１０の再生品質を高いレベルに維持することができる。

また、チルト補正機能を実行するための光ディスク装置と光ディスク１０との組み合わせとしては、本実施の形態のようなチルト検出部２８を備えた光ディスク装置３とチルト情報が記録されていない安価な光ディスク１０との組み合わせと、実施の形態１に示したチルト検出部２８を持たない安価な光ディスク装置１とチルト情報が記録されている光ディスク１０との組み合わせとを、ユーザがそのニーズに合わせて選択することも可能となる。例えば、ユーザが大量の光ディスク１０を使用する場合には、本実施の形態のようなチルト検出部２８を備えた光ディスク装置３とチルト情報が記録されていない安価な光ディスク１０との組み合わせを選択することで、コストを最小限に抑えることが可能となる。

［実施の形態３］
実施の形態２では、チルト検出機構が配置されるとともに、検知されたチルト情報を光ディスク１０に記録可能な光ディスク装置３について説明したが、本実施の形態３では、さらにチルト情報の更新が可能に構成された光ディスク装置４について説明する。なお、本実施の形態３における上記した実施の形態２と同様な構成についての説明は省略する。

本実施の形態の光ディスク装置４は、図１０に示した実施の形態２の光ディスク装置３と同様の構成を有している。本実施の形態の光ディスク装置４では、演算部２５が、チルト情報が記録された光ディスク１０を用いた場合には、必要に応じて光ディスク１０に記録されたチルト情報を更新することが可能に構成されていることを特徴としている。
図１２は、本実施の形態の光ディスク装置４において、光ディスク１０に対してチルト情報を更新する際の手順を説明するフローチャートである。図１２に示したように、本実施の形態の光ディスク装置４では、上述したマウント処理（図６参照）が行なれ、データの記録／再生を行なう光ディスク１０にチルト情報の記録が既に存在する場合には、光ディスク１０からチルト情報が読み出されて記録部２６に記憶される。その後、光ディスク１０に記録されたチルト情報の精度と光ディスク装置４に配置されたチルト検出部２８の検出精度との比較を行なう（Ｓ５０１）。

ステップＳ５０１において、光ディスク装置４に配置されたチルト検出部２８の検出精度のほうが光ディスク１０に記録されたチルト情報の精度よりも高いと判断された場合には、演算部２５はスピンドルモータ２４の回転数を所定の回転数に設定し、スピンドルモータ２４を回転させる（Ｓ５０２）。演算部２５の制御の下、チルト検出部２８をディスクラジアル方向に走査させながら、チルト検出部２８によって光ディスク１０の各位置におけるチルト情報を検出する。そして、その光ディスク１０の各位置に対応付けられたチルト情報検出値を記憶部２６に記憶する（Ｓ５０３）。

次に、スピンドルモータ２４の回転数の設定を変え（Ｓ５０４）、同様にチルト情報を検出して、その光ディスク１０の各位置に対応付けられたチルト情報検出値を記憶部２６に記憶する。それにより、複数の回転数における光ディスク１０の各位置に対応付けられたチルト情報検出値が記憶部２６に記憶される。ここで、チルト情報の検出を１の回転数のみで行なってもよいが、上述したように、光ディスク１０のチルト値は、光ディスク１０を回転させた際の遠心力の影響を受けることにより、光ディスク１０の回転数によって異なる値をとる。そのため、複数の回転数でのチルト情報の検出を行なうことにより、精度の高いチルト補正が可能となる。
予め設定されていたすべての回転数におけるチルト情報が記憶部２６に記憶された後、演算部２５は、今回検出されて記憶部２６に記憶されたチルト情報によって、光ディスク１０のチルト情報記録領域１０ａのチルト情報を更新する（Ｓ５０５）。ここでの更新処理は、チルト情報を書き換えるか、または、チルト情報を追記した上で、以前に存在するチルト情報を無効化することにより行なわれる。
その後、光ディスク１０に記録されたチルト情報を用いてチルト補正を行ないながら、データの記録／再生を行なう（Ｓ５０６）。

一方、ステップＳ５０１において、光ディスク装置４に配置されたチルト検出部２８の検出精度のほうが光ディスク１０に記録されたチルト情報の精度よりも低いと判断された場合には、光ディスク１０に記録されているチルト情報をそのまま用いてチルト補正を行ないながら、データの記録／再生を行なう（Ｓ５０６）。

ここで、ステップＳ５０１において行なわれる、光ディスク装置４に配置されたチルト検出部２８の検出精度と、光ディスク１０に記録されたチルト情報の精度との比較は、以下のような方法で行なうことが可能である。
すなわち、本実施の形態の光ディスク装置４においては、チルト検出部２８の精度の指標が予め設定される。具体的には、光ディスク装置４の製造時に、チルト検出部２８のテストを行なって精度指標を算出し、それを例えば記憶部２６に記憶しておく。
一方、光ディスク１０においては、例えば本実施の形態のようにチルト検出部２８が配置された光ディスク装置４によりチルト情報が記録された場合には、光ディスク１０にチルト情報が記録される際、或いは更新される際に、チルト情報を検出する際に用いられたチルト検出部２８のチルト精度情報を、チルト情報と合わせてチルト情報記録領域１０ａに記録しておく。また、実施の形態１に示したチルト情報記録装置２（図７参照）を用いて、光ディスク１０の製造時にチルト情報が記録される際には、チルト情報記録装置２のチルト精度情報を、チルト情報と合わせてチルト情報記録領域１０ａに記録しておく。
そして、検出精度比較手段として機能する演算部２５により、光ディスク装置４の精度指標と、光ディスク１０に記録されたチルト精度情報とが比較されることで、いずれの検出精度が高いかが判断される。

ただし、ステップＳ５０１においては、光ディスク装置４に配置されたチルト検出部２８の検出精度のほうが光ディスク１０に記録されたチルト情報の精度よりも高いと判断された場合においても、処理速度を優先することを選択し、光ディスク１０に記録されたチルト情報を用いてチルト補正を行なうように設定することも可能である。この場合には、チルト検出部２８によるチルト情報の検出のための時間とチルト情報の更新処理の時間とを短縮できるため、処理速度を高めることが可能である。

また、光ディスク装置４に配置されたチルト検出部２８の検出精度と、光ディスク１０に記録されたチルト情報の精度との比較は、タンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトのそれぞれについて行なうように設定することもできる。すなわち、光ディスク装置４および光ディスク１０には、それぞれタンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトに関する精度指標とチルト精度情報とを記録しておき、タンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトのそれぞれに対して、別個に図１２に示したステップＳ５０１〜Ｓ５０６の処理を行なうことも可能である。したがって、このような設定により、タンジェンシャルチルトおよびラジアルチルトのいずれか一方について、光ディスク１０のチルト情報記録領域１０ａのチルト情報を更新することも可能となる。

このように、本実施の形態の光ディスク装置４では、既にチルト情報が記録された光ディスク１０においても、より高精度なチルト情報が得られる場合には、チルト情報を更新することが可能である。そのため、本実施の形態の光ディスク装置４によってチルト情報が記録された光ディスク１０を用いれば、光ディスク１０のチルトを検出するチルト検出機構が配設されていない光ディスク装置においても、高精度なチルト補正が可能となるので、光ディスク１０のチルトが原因で発生するコマ収差を最小限に抑えることができる。その結果、隣接トラック間で発生するクロストークやジッターの劣化等を抑えることが可能となって、光ディスク１０の再生品質を高いレベルに維持することができる。
また、チルト検出機構が配設されている光ディスク装置においては、配置されているチルト検出部２８の検出精度よりも光ディスク１０に記録されているチルト情報の精度が高い場合には、光ディスク１０に記録されているチルト情報を用いることで、より高精度なチルト補正が可能となる。

実施の形態１の光ディスク装置の概略構成図である。 対物レンズおよび光ピックアップ部の概略構成図である。 光ディスクに対するデータの記録／再生処理の手順を説明するフローチャートである。 ディスクチルトの周波数特性を示した図である。 チルト情報を記憶する領域を有する光ディスクの構成の一例を示した図である。 光ディスクのマウント処理の手順を説明するフローチャートである。 チルト情報記録装置の概略構成図である。 チルト検出部の概略構成図である。 光ディスクへチルト情報を記録する際の手順を説明するフローチャートである。 実施の形態２の光ディスク装置の概略構成図である。 光ディスクへチルト情報を記録する際の手順を説明するフローチャートである。 光ディスクに対してチルト情報を更新する際の手順を説明するフローチャートである。

符号の説明

１,３,４ 光ディスク装置、
１０ 光ディスク、１０ａ チルト情報記録領域、１０ｂ データ領域、
２１ 対物レンズ、２２ 光ピックアップ部（光ピックアップ）、
２３ チルト補正部、２４ スピンドルモータ、２５ 演算部、２６ 記憶部、
２７,２８ チルト検出部、２１１ トラッキングコイル、
２１２ フォーカシングコイル、２２１,２７１ レーザダイオード、
２２２,２７２ コリメータレンズ、２２３,２７３ ビームスプリッタ、
２２４ 立上ミラー、２２５ １／４波長板、２２６ 集光レンズ、
２２７ 受光素子、２７６ 検出レンズ、２７７ 位置検出素子。

Claims (20)

1. データの書き込みおよび／または読み出しが可能な光ディスクであって、
   前記光ディスクの面上の複数の位置でのチルト値に関する情報が記録される領域を備えたことを特徴とする光ディスク。
2. 前記領域に記録される前記チルト値に関する情報は、前記光ディスクの離散的な位置における当該チルト値に関する情報であることを特徴とする請求項１記載の光ディスク。
3. 前記領域に記録される前記チルト値に関する情報は、前記光ディスクの円周方向において少なくとも４つの位置での当該チルト値に関する情報であることを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク。
4. 前記領域に記録される前記チルト値に関する情報は、前記光ディスクを異なる複数の回転数で回転させた際の当該回転数毎の当該チルト値に関する情報であることを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれかに記載の光ディスク。
5. 前記領域は、前記光ディスクの中心軸側近傍に配置されたことを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれかに記載の光ディスク。
6. 前記領域は、前記光ディスクの前記データが記録される領域に混在して配置されたことを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれかに記載の光ディスク。
7. 前記チルト値の検出精度に関する情報が記録される領域をさらに備えたことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれかに記載の光ディスク。
8. 請求項１〜請求項７のいずれかに記載の光ディスクに記録されているチルト値に関する情報を読み出すチルト情報読み出し手段と、
   前記光ディスクに対してデータの書き込みおよび／または読み出しを行なう光ピックアップと、
   前記チルト情報読み出し手段によって読み出された前記チルト値に関する情報に基づき前記光ピックアップの姿勢を制御して、前記光ディスクのチルト補正を行なうチルト制御手段と、
   を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
9. 前記チルト情報読み出し手段によって読み出された前記チルト値に関する情報を記録する記憶手段をさらに備えたことを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置。
10. 前記光ディスクのチルト値を当該光ディスク面上の位置と対応付けて検出するチルト検出手段と、
    前記チルト検出手段により検出された前記チルト値に関する情報を前記光ディスクに記録するチルト情報記録手段と、
    をさらに備えたことを特徴とする請求項８または請求項９記載の光ディスク装置。
11. 前記チルト情報記録手段は、前記チルト値に関する情報とともに、当該チルト値を検出した前記チルト検出手段の検出精度に関する情報を前記光ディスクに記録することを特徴とする請求項１０記載の光ディスク装置。
12. 前記チルト情報記録手段は、前記チルト検出手段によって検出されたチルト値に関する情報により前記光ディスクに記録されているチルト値に関する情報を更新することを特徴とする請求項１０記載の光ディスク装置。
13. 前記チルト検出手段は、前記データの記録／再生処理が実行される前にて、または記録／再生処理の途中にて、または記録／再生処理が実行された後にて、前記チルト値を検出することを特徴とする請求項１０〜請求項１２のいずれかに記載の光ディスク装置。
14. 前記チルト検出手段は、前記光ディスクを異なる複数の回転数で回転させた際の当該回転数毎の前記チルト値を検出することを特徴とする請求項１０〜請求項１３のいずれかに記載の光ディスク装置。
15. 前記光ディスクの異なる複数の回転数毎の前記チルト値に基づいて、前記データの記録／再生処理が実行される際の当該光ディスクの回転数に対応したチルト情報を算出する演算手段をさらに備え、
    前記チルト制御手段は、前記演算手段により算出された前記チルト情報に基づいて前記光ディスクのチルト補正を行なうことを特徴とする請求項８〜請求項１４のいずれかに記載の光ディスク装置。
16. 前記チルト制御手段は、前記光ディスクの異なる複数の回転数毎の前記チルト値から、前記データの記録／再生処理が実行される際の当該光ディスクの回転数に最も近いチルト情報を選択し、選択された当該チルト情報に基づいて、前記光ディスクのチルト補正を行なうことを特徴とする請求項８〜請求項１４のいずれかに記載の光ディスク装置。
17. 前記光ディスクに記録されたチルト値の検出精度に関する情報と、前記チルト検出手段の検出精度に関する情報とを比較する検出精度比較手段をさらに備え、
    前記チルト検出手段は、前記検出精度比較手段により前記チルト検出手段の検出精度が前記光ディスクに記録されたチルト値の検出精度よりも高いと判断された場合に動作することを特徴とする請求項１０〜請求項１６のいずれかに記載の光ディスク装置。
18. 請求項１〜請求項７のいずれかに記載の光ディスクのチルト値を当該光ディスク面上の位置と対応付けて検出するチルト検出手段と、
    前記チルト検出手段により検出された前記チルト値に関する情報を前記光ディスクに記録するチルト情報記録手段と、
    を備えたことを特徴とする光ディスク製造装置。
19. 前記チルト情報記録手段は、前記チルト値に関する情報とともに、当該チルト値を検出した前記チルト検出手段の検出精度に関する情報を前記光ディスクに記録することを特徴とする請求項１８記載の光ディスク製造装置。
20. 前記チルト検出手段は、前記光ディスクを異なる複数の回転数で回転させた際の当該回転数毎の前記チルト値を検出することを特徴とする請求項１８または請求項１９記載の光ディスク製造装置。
    
    

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