JP2003308697A - メモリセル回路にデータを格納する方法、メモリセル回路、データをメモリセルに書き込むシステム、及び信号を供給するシステム - Google Patents

メモリセル回路にデータを格納する方法、メモリセル回路、データをメモリセルに書き込むシステム、及び信号を供給するシステム

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JP2003308697A
JP2003308697A JP2003105545A JP2003105545A JP2003308697A JP 2003308697 A JP2003308697 A JP 2003308697A JP 2003105545 A JP2003105545 A JP 2003105545A JP 2003105545 A JP2003105545 A JP 2003105545A JP 2003308697 A JP2003308697 A JP 2003308697A
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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、より小さな面積を占める、改善さ
れたマルチポートメモリセル回路を提供すること目的と
する。 【解決手段】 従来のマルチポートメモリセルよりも少
ない数の書き込み線及び/又はトランジスタを有し、こ
れゆえに、より小さな面積を占める、改善されたマルチ
ポートメモリセル回路が提供される。減少された面積の
メモリセル回路は、ビット線の組みの各ビット線に関連
するワード線と、ビット線の組みのサブセットを選択す
る第1のワード線と、ビット線のサブセットの1つのビ
ット線を選択する第2のワード線と、選択されたビット
線上のビット値を格納するメモリセルを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般的には、回路
設計の分野に関連し、特に、改善されたマルチポートメ
モリセルに関連する。
【0002】
【従来の技術】スーパースカラー、ベリーロングインス
トラクションワード(VLIW)プロセッサ及びネット
ワーク内プロセッサでは、並列書き込みポートを有する
メモリセルが、典型的には必要である。これらの並列書
き込みポートは、並列ビット線と関連し、これは、並列
実行ユニットから1つのメモリセルへの直接通信パスを
可能とするだけでなく、多くのメモリセルへ同じデータ
を書き込むことの両方を可能とする。
【0003】従来技術のマルチポートレジスタメモリセ
ルは、各差動書き込みビット線について単一書き込みワ
ード線を又は、各単一書き込みビット線について差動書
き込み線を使用した。差動ワード又はビット線を使用す
ることは、線の数が多数となり、次にメモリセルのレイ
アウト面積を増加することになる。
【0004】図1は、他の従来技術のマルチ書き込みポ
ートメモリセルの例を示す。図1は、差動ワード又はビ
ット線メモリセル上のレイアウト面積を減少させる第1
ステップを示す。説明のために、書き込みポートのみが
示されている。図1は、マルチポートレジスタファイル
内のメモリセルの配列の1つのメモリセルのみを示す。
メモリセルは、バックツーバックインバータ156と1
58を有し、これは、ノード152と154を有する。
6つのワード線(WLs)即ち、WLA、WLB、WL
C、WLD、WLE、及びWLFと、BLA、BLB、
BLC、BLD、BLE、及びBLFの6データビット
線(BLs)により示された6つの書き込みポートがあ
る。書き込みワード線と書き込みビット線(即ち、書き
込みポート)の間は、1対1の対応がある。例えば、ワ
ード線WLAは、ビット線BLAがノード152に接続
することを許すスイッチである、トランジスタ112を
有する。ワード線WLAは、トランジスタ114に接続
され、これは、ビット線BLAが’1’のときに、トラ
ンジスタ140を通して、ノード154をグランドに接
続することを可能とするスイッチである。1対1対応
は。WLBとBLB、WLCとBLC、WLDとBL
D、WLEとBLE、及びWLFとBLFについても成
り立つ。
【0005】図1の回路110の動作の例は、ワード線
WLAが’1’であるときである。トランジスタ112
と114は、オンされる。続いて、ビット線BLAが’
1’の場合には、トランジスタ140はオンされそし
て、ノード154をグランドgndへ引く。’1’のビ
ット線BLA値は、トランジスタ112を通してノード
152へ行く。バックツーバックインバータ156と1
58は、ノード152を’1’に維持し、そして、ノー
ド154を'0'へ維持する。同様に、例えば、ワード線
WLDが'1’であるときには、トランジスタ122と
124は、オンされる。ビット線BLDが’1’の場合
には、トランジスタ146はオンされそして、ノード1
54をグランドgndへ引く。ノード152は、ビット
線BLDの値を有する。ビット線BLDが’0’の場合
には、トランジスタ146はオフされる。ノード152
は、’0’へ引かれ、そしてノード154はインバータ
156により’1’へ引かれる。
【0006】図1に適用可能な、従来技術の従来の最終
デコーディング回路が、図2に示されている。この例
は、書き込みポートAからF、即ち、図1のWLAから
WLF、についてのアドレスは、最終デコードが、ここ
ではダイナミック回路を使用して、2入力ANDゲート
からなるように、プリデコードされていると仮定する。
例えば、ポートAのANDゲートは、アドレス入力A0
のトランジスタ214と、アドレス入力A1のトランジ
スタ216を有する。信号pcは、通常はクロック信号
である、プリチャージ信号である。pc=’0’である
ときには、ノード213は、トランジスタ212を介し
て、’1’へ”プリチャージ”される。ANDゲート、
即ち、トランジスタ216に直列に接続されたトランジ
スタ214、は、トランジスタ218がオフされるの
で、ディスエーブル(遮断)される。アドレスA0とA
1は、そして、pc=’1’のときに読まれる。トラン
ジスタ218は、オンされ、これゆえに、ANDゲート
を、即ち、トランジスタ214と216を、イネーブル
(活性化)する。ノード213は、A0とA1の両方
が’1’のときに、グランドに引かれ、そうでない場合
には、ノード213は’1’のままである。ノード21
3が、’0’であるときには、WLAは、インバータ2
70を介して、’1’である。アドレス線B0、B1か
らF0,F1を有する他の5つのANDゲートは、A
0、A1についてのANDゲートと同様な方法で動作す
る。デコーダ回路210の出力は、図1のワード線WL
AからWLFへ入力される、ワード線WLAからWLF
である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】図1は、従来技術より
も減少された面積を与えるが、より小さな面積へのより
多くのメモリについての連続する要求があるので、更に
改善が必要である。従って、従来技術よりも小さな面積
を有する新しい回路が必要である。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、従来のマルチ
ポートメモリセルよりも少ない数の書き込み線を有し、
これゆえに、より小さな面積を占める、改善されたマル
チポートメモリセル回路を提供する。更に加えて、好ま
しい実施例に従って、図1よりもトランジスタが少な
い。電力消費も減少されうる。
【0009】本発明の一実施例は、メモリセル回路の面
積を減少させる方法を有し、メモリセルは、第1の複数
のビット線と、各ビット線に関連する複数のワード線を
有する。最初に、前記第1の複数のビット線から第2の
複数のビット線を選択するために、第1のワード線が使
用される。次に、第2の複数のビット線の1つのビット
線を選択するために第2のワード線が使用される。そし
て、ビット線上のビット値は、メモリセル内に格納され
る。
【0010】本発明の一面は、第1の複数のビット線の
各ビット線に関連する複数のワード線と、第1の複数の
ビット線から第2の複数のビット線を選択するための、
複数のワード線のうちの第1のワード線と、第2の複数
のビット線のうちの1つのビット線を選択するための、
複数のワード線のうちの第2のワード線と、前記1つの
ビット線上のビット値を格納するメモリセルとを有す
る、減少された面積のメモリセル回路を有する。
【0011】本発明の他の実施例は、データを格納する
メモリセルと、第1のワード線と第2のワード線と、複
数のビット線と、前記複数のビット線の第1のビット線
を第1のノードに接続する、第1のワード線により制御
される第1のスイッチと、第1のノードをメモリセルに
接続する、前記第2のワード線により制御される第2の
スイッチとを有するメモリセル回路を有する。
【0012】本発明の更に他の実施例は、データをメモ
リセルに書き込むシステムを有する。このシステムは、
第1のワード線が第1のビット線を選択するときに、複
数のビット線の第1のビット線を選択する、第1のマル
チプレクサと、第1のワード線が第2のビット線を選択
するときに、複数のビット線の第2のビット線を選択す
る、第2のマルチプレクサと、第2のワード線に基づい
て、第1のマルチプレクサの出力と、第2のマルチプレ
クサの出力との間を選択する第3のマルチプレクサを有
し、第3のマルチプレクサの出力は、データをメモリセ
ルに書き込む。
【0013】本発明の更なる実施例は、ビット線アドレ
スを有するビット線からデータを受信する、第1のマル
チプレクサと、第1のマルチプレクサからデータを受信
しそしてデータをメモリセルへ書き込む、第2のマルチ
プレクサへ、複数の選択器信号を供給するシステムを有
する。このシステムは、第1の複数のビット線アドレス
を受信しそして、第1の複数の書き込みイネーブル信号
を発生する、第1の複数のデコーダと、第1の複数の書
き込みイネーブル信号を、複数の選択器信号のうちの、
第1のマルチプレクサを制御する第1の選択器信号へ結
合する、少なくとも1つの論理ゲートと、第2の複数の
ビット線アドレスを受信しそして、第2の複数の書き込
みイネーブル信号を発生する、第2の複数のデコーダ
と、第1の複数の書き込みイネーブル信号の1つの書き
込みイネーブル信号と第2の複数の書き込みイネーブル
信号の1つの書き込みイネーブル信号を、複数の選択器
信号のうちの、第2のマルチプレクサを制御する第2の
選択器信号へ結合する、少なくとも1つの論理ゲートと
を有する。
【0014】本発明の他の面は、第1の複数のビット線
を有するメモリ回路を提供する。メモリセル回路は、第
1の複数のビット線から第2の複数のビット線を選択す
る手段と、第2の複数のビット線の1つのビット線を選
択する手段と、ビット線上のビット値をメモリセルに書
き込む手段とを有する。
【0015】本発明のこれらの及び他の実施例、特徴、
面及び優位点は、以下の説明、請求の範囲及び添付の図
面により、より理解されよう。
【0016】
【発明の実施の形態】以下の説明では、本発明の特定の
実施例の徹底的な説明を提供するために、多くの特定の
詳細が示される。しかしながら、当業者には、本発明
は、以下に示される全ての特定の詳細なしに実行されう
ることは、理解されよう。他の例では、既知の特徴は本
発明を曖昧にするので詳細には説明されない。
【0017】図1の回路は、6つの選択器線(ワード線
WLAからWLF)を有する単一の6入力マルチプレク
サ(ビット線BLAからBLF)として示され、ここで
使用される” マルチプレクサ”は、幾つかの入力の1
つを選択しそして、その情報を出力へスイッチングする
回路である。図1では、各ワード線は、関連するビット
線を選択し、例えば、ワード線WLAはビット線BLA
を選択する。ワード線の数を減少させるために、本発明
の1つの好ましい実施例は、各ワード線が1つ又はそれ
以上のビット線を選択する複数のカスケード接続された
マルチプレクサを使用する。
【0018】図3は、本発明の一実施例のマルチ書き込
みポートメモリセルの概略である。回路300は、5つ
のワード線、即ち、WLAB,WLCD、WLEF、W
LBDF及びWLACEと、6つのビット線BLA、B
LB、BLC、BLD、BLE、及びBLFを有する。
ワード線ラベル中の”WL”の後に続く文字は、ワード
線がアサートされた(選択信号が出された)ときに、ど
のビット線が選択されたかを、選択肢内で示す。例え
ば、ワード線WLABがアサートされたときに、何れか
のビット線BLA又はBLBが選択され、又は、ワード
線WLBDFがアサートされたときに、何れかのビット
線BLB、BLD又はBLFが選択されうる。ワード線
WLABはトランジスタm3とm4のゲートに接続され
る。ワード線WLCDはトランジスタm2とm5のゲー
トに接続される。ワード線WLEFはトランジスタm1
とm6のゲートに接続される。ワード線WLBDFはト
ランジスタm7とm11のゲートに接続される。トラン
ジスタm7はノードn1を介して、トランジスタm4、
m5及びm6に接続される。トランジスタm7は、ノー
ドn4にも接続される。トランジスタm11は、トラン
ジスタm12とノードn3へ接続されている。トランジ
スタm12は、ノードn1を介して、トランジスタm
4、m5及びm6に接続されている。ワード線WLAC
Eは、トランジスタm8とm10のゲート接続されてい
る。トランジスタm8のゲートは、ノードn2を介し
て、トランジスタm1、m2及びm3に接続されてい
る。トランジスタm8のゲートも、ノードn4に接続さ
れている。トランジスタm10は、トランジスタm9へ
接続されている。トランジスタm9のゲートは、ノード
n2を介して、トランジスタm4、m5及びm6へ接続
されている。バックツーバックインバータInv1とI
nv2は、1ビットメモリセルを構成する。インバータ
Inv1の出力は、ノードn3を介してインバータIn
v2の入力へ接続されている。インバータInv2の出
力は、ノードn4を介してインバータInv1の入力へ
接続されている。ビット線BLEは、トランジスタm1
へ接続されている。ビット線BLCは、トランジスタm
2へ接続されている。ビット線BLAは、トランジスタ
m3へ接続されている。ビット線BLBは、トランジス
タm4へ接続されている。ビット線BLDは、トランジ
スタm5へ接続されている。ビット線BLFは、トラン
ジスタm6へ接続されている。
【0019】図3では、ワード線は、1つのビット線を
選択するためにペア内で、アサートされる(即ち、’
1’に設定され):1)ワード線WLAB、WLCD又
は、WLEFを有するワード線WLBDF又は、2)ワ
ード線WLAB、WLCD又は、WLEFを有するワー
ド線WLACE。ワード線WLABがアサートされると
きには、トランジスタm3とm4がオンされそれぞれ、
ビット線BLAとBLBを選択する。ワード線WLCD
がアサートされるときには、トランジスタm2とm5が
オンされそれぞれ、ビット線BLCとBLDを選択す
る。ワード線WLEFがアサートされるときには、トラ
ンジスタm1とm6がオンされそれぞれ、ビット線BL
EとBLFを選択する。ワード線WLBDFがアサート
されるときには、トランジスタm7とm11がオンされ
それぞれ、これにより、どのワード線即ち、WLAB、
WLCD又は、WLEFがそれぞれアサートされている
かにより、ビット線BLB,BLD又はBLFを選択す
る。ワード線WLACEがアサートされるときには、ト
ランジスタm8とm10がオンされそれぞれ、これによ
り、どのワード線即ち、WLAB、WLCD又は、WL
EFがそれぞれアサートされているかにより、ビット線
BLA,BLC又はBLEを選択する。選択されたビッ
ト線は、そして、メモリセル(例えば、ノードn4)の
値を’0’又は、’1’へ設定する。
【0020】例えば、ワード線WLEF及びWLBDF
がアサートされたときには、ビット線BLFが選択され
る。WLBDFがトランジスタm7とm11をオンする
ので、BLF上の値はノードn4を設定する。値が’
1’の場合には、m12はオンされそして、ノードn3
は、グランドgndに引かれる。値が'0'の場合には、
ノードn3は、インバータInv1を介してノードn4
により変化される。WLBDFの代わりに、ワード線W
LACEがアサートされるときには、ビット線BLEが
BLFの代わりに選択される。BLE上の値は、WLB
DFがアサートされたときに、BLFと同様にノードn
4を設定する。
【0021】図4は、本発明の一実施例の図3のメモリ
回路300に対応する最終ラインデコード回路410の
概略を示す。図4は、図2のインバータが図4のNAN
Dゲートに置きかえられたことを除いては、図2の最終
デコード回路と同様である。図2に示されたように、ア
ドレス線、例えば、A0とA1が、'1’のときには、
対応するビット線の、この場合には図3のBLAの、上
の値は、メモリセルに書きこまれる。A0とA1が’
1’なら、NANDゲート420は、それぞれ、ワード
線WLACEとWLABをアサートする。B0とB1
が’1’なら、NANDゲート422とNANDゲート
424とは、それぞれ、ワード線WLBDFとWLAB
をアサートする。C0とC1が’1’なら、NANDゲ
ート420とNANDゲート426は、それぞれ、ワー
ド線WLACEとWLCDをアサートする。D0とD1
が’1’なら、NANDゲート422とNANDゲート
426は、それぞれ、ワード線WLBDFとWLCDを
アサートする。E0とE1が’1’なら、NANDゲー
ト420とNANDゲート428は、それぞれ、ワード
線WLACEとWLEFをアサートする。F0とF1
が’1’なら、NANDゲート422とNANDゲート
428は、それぞれ、ワード線WLBDFとWLEFを
アサートする。このように、例えば、WLABのアサー
ト(選択信号が出されたこと)は、BLA上の書き込み
データが、図3のトランジスタm3を通して、ノードn
2へ書きこまれることを起こす。同時に、WLACEが
アサートされたこと(選択信号が出されたこと)は、ノ
ードn2上のデータがトランジスタm8を介してノード
n4上へ書き込まれることを起こす。
【0022】図5は、本発明の一面の従属接続されたマ
ルチプレクサの例を示す図3の再配置を示す図である。
図3と図5の回路は、同じように動作する。マルチプレ
クサは2段である。第1段は、マルチプレクサ510と
512を有する。マルチプレクサ510は、スイッチと
して動作する、トランジスタm1、m2及び、m3を有
する。それぞれ、選択器線WLAB、WLCD及びWL
EFを伴なうビット線BLA,BLC及びBLEの、マ
ルチプレクサ510への3つの入力データ線がある。マ
ルチプレクサ510の出力は、ノードn1である。マル
チプレクサ512は、スイッチとして動作する、トラン
ジスタm4、m5及びm6を有する。それぞれ、選択器
線WLAB、WLCD及びWLEFを伴なうビット線B
LB,BLD及びBLFの、マルチプレクサ512への
3つの入力データ線がある。マルチプレクサ512の出
力は、ノードn2である。マルチプレクサ520は、そ
れぞれマルチプレクサ510と512からノードn1と
n2で2つの入力を有する。マルチプレクサ520に対
する選択線は、WLACEとWLBDFである。WLA
CEはマルチプレクサ510選択するのに使用され、そ
して、WLBDFはマルチプレクサ512を選択するの
に使用される。ノードn3の出力とノードn4の反転出
力を有する、マルチプレクサ520の差動出力がある。
WLACEが’1’の場合には、トランジスタm7がオ
ンとなるので、ノードn3は、ノードn1の値と等しく
設定される。WLBDFが’1’の場合には、トランジ
スタm8がオンとなるので、ノードn3は、ノードn2
の値と等しく設定される。メモリセル525は、バック
ツーバックインバータInv1とInv2を有する。
【0023】図6は、本発明の他の実施例のn*m書き
込みポート(即ち、書き込みビット線)についての一般
化されたメモリセル回路の概略を示す図であり、”n”
と”m”は正の数である。n>1及びm>2が好まし
い。図6に示されたように、メモリセル回路610は、
nインスタンスのm対1NMOS通過ゲートマルチプレ
クサ612、614から616と、これに続く、単一の
n対1マルチプレクサ618と、これに続く、バックツ
ーバックインバータペア、即ち、データを格納する、メ
モリセル688を有する。ビット線(即ち、書き込みポ
ート)は、BL11からBLnmにラベル付けされてい
る。ビット線は、mビット線を有するnグループ、例え
ば、各グループについて、BL11、BL12、...
BL1m、として示されている。ワード線は、WL11
からWL1m及びWL21からWL2nにラベル付けさ
れており、ここで、ワード線WL11からWL1mは、
マルチプレクサ612、614から616の選択器線で
あり、ここで、ワード線WL21からWL2nは、マル
チプレクサ618の選択器線である。
【0024】第1段のマルチプレクサ612、614か
ら616への選択器線は、ワード線がアサートされたと
きに設定され、マルチプレクサ当り1ビット線が選択さ
れる。例えば、ワード線WL11が選択されたときに
は、トランジスタ620、630から640がオンされ
そして、ビット線BL11、BL21からBLn1が選
択され、それぞれ、マルチプレクサ出力626、636
から646へ出力される。ワード線WL12が選択され
たときには、トランジスタ622、632から642が
オンされそして、ビット線BL12、BL22からBL
n2が選択され、それぞれ、マルチプレクサ出力62
6、636から646へ出力される。そして、ワード線
WL1mが選択されたときには、トランジスタ624、
634から644がオンされそして、ビット線BL1
m、BL2mからBLnmが選択され、それぞれ、マル
チプレクサ出力626、636から646へ出力され
る。
【0025】第2段のマルチプレクサ618への選択器
線は、第1段のマルチプレクサ612、614から61
6からのどの出力が、ノード680即ち、バックツーバ
ックインバータ684と686のメモリセルの1つの入
力へ送られるかを選択する。ワード線WL21がアサー
トされるときには、マルチプレクサ612が選択されそ
して、その出力626がノード680へ送られる。ワー
ド線WL22がアサートされるときには、マルチプレク
サ614が選択されそして、その出力636がノード6
80へ送られる。そして、ワード線WL2nがアサート
されるときには、マルチプレクサ616が選択されそし
て、その出力646がノード680へ送られる。図3の
動作と同様に、例えば、WL21がアサートされそし
て、出力626が'1'のときには、トランジスタ654
と656はオンされそして、(トランジスタ652もオ
ンされるので)ノード680が'1’へ引かれるのと同
時に、ノード682はグランドへ引かれる。
【0026】図6の回路610の代わりの実施例では、
トランジスタ654、656、662、664からトラ
ンジスタ672及び674は存在しない。トランジスタ
654と656は、トランジスタ652がノード680
を’1’へ引いているときに、ノード682を’0’へ
引くのに使用される。トランジスタ662と664は、
トランジスタ660がノード680を’1’へ引いてい
るときに、ノード682を’0’へ引くのに使用され
る。トランジスタ672と674は、トランジスタ67
0がノード680を’1’へ引いているときに、ノード
682を’0’へ引くのに使用される。トランジスタ6
54、656、662、664、672及び674なし
では、マルチプレクサ618は、例えば、マルチプレク
サ612の第1段のマルチプレクサの構造と同様に見え
る。
【0027】図5は、n=2且つm=3を有する図6の
特別な場合である。ビット線は、BL11=BLA、B
L12=BLC、BL13=BLE、BL21=BL
B、BL22=BLD、及びBL23=BLFにマップ
されている。ワード線は、WL11=WLAB、WL1
2=WLCD、WL13=WLEF、WL21=WLA
CE、及びWL22=WLBDFにマップされている。
このように、図5は、図6のサブセットである。
【0028】図7は、本発明の他の実施例の図6の回路
610に、ワード線信号を供給する一般化された回路の
概略を示す図である。アドレス701、702、70
3、704、705、706、707、708、及び7
09は、図6のそれぞれの、1つ又はそれ以上のビット
線BL11、BL21、BLn1、BL12、BL2
2、BLn2、BL1m、BL2m、及びBLnmを選
択するために、例えば、プロセッサにより送られる。各
アドレスラベルは、それをデコーダに接続する1つ又は
それ以上のアドレス信号線を有する。ビット線アドレス
701、702から703は、それぞれ、デコーダ71
2、714から716に接続され、これはアドレス信号
をデコードして、それぞれ、書き込みイネーブル信号
【0029】
【外1】 から
【0030】
【外2】 を与える。これらの書き込みイネーブル信号は、そし
て、ORゲート740を使用して結合され、ワード線信
号WL11を与え、これは、図6のマルチプレクサ61
2、614から616についての選択信号として使用さ
れる。ビット線アドレス704、705から706は、
それぞれ、デコーダ720、722から724に接続さ
れ、これは、アドレス信号をデコードして、それぞれ、
書き込みイネーブル信号
【0031】
【外3】 から
【0032】
【外4】 を与える。これらの書き込みイネーブル信号は、そし
て、ORゲート742を使用して結合され、ワード線信
号WL12を与え、これは、図6のマルチプレクサ61
2、614から616についての他の選択信号として使
用される。ビット線アドレス707、708から709
は、それぞれ、デコーダ730、732から734に接
続され、これは、アドレス信号をデコードして、それぞ
れ、書き込みイネーブル信号
【0033】
【外5】 から
【0034】
【外6】 を与える。これらの書き込みイネーブル信号は、そし
て、ORゲート744を使用して結合され、ワード線信
号WL1mを与え、これは、図6のマルチプレクサ61
2、614から616についての更に他の選択信号とし
て使用される。
【0035】図6の第1段のマルチプレクサについて使
用されるワード線選択信号、即ち、マルチプレクサ61
2、614から616は、以下のブール等式により表現
されることも可能である。
【0036】
【数1】 ここで、’+’は論理OR演算子を示し、そして、
【0037】
【外7】 はビット線BLijに対する書き込みイネーブル(デコ
ードされたアドレス)である。書き込みイネーブル信号
【0038】
【外8】 は、ビット線BLijについてのアドレスが、ビット線
が選択されたことを示すときには、値’1’を有する。
通常は、このメモリセルに対しては、このメモリセルに
書き込まれるデータを供給するために1つのビット線の
みが選択されるが、1つ又はそれ以上他のメモリセルも
同時にそれらに書き込まれるデータを有しても良い。こ
れは、このメモリセルが書き込まれているのと同時に、
同じビット線を有する他のメモリセルが、他のビット線
から書き込まれることを可能とする。このように、2つ
のメモリセルは順次に書き込むのと比較して、性能が向
上される。
【0039】上述の書き込みイネーブル信号は、共に、
異なって結合され、図6の第2段マルチプレクサ618
についての選択線として使用されるワード線を発生す
る。書き込みイネーブル信号
【0040】
【外9】 から
【0041】
【外10】 は、ORゲート750へ入力され、ワード線WL21を
発生する。書き込みイネーブル信号
【0042】
【外11】 から
【0043】
【外12】 は、ORゲート752へ入力され、ワード線WL22を
発生する。書き込みイネーブル信号
【0044】
【外13】 から
【0045】
【外14】 は、ORゲート754へ入力され、ワード線WL2mを
発生する。
【0046】図6の第2段マルチプレクサ618につい
て使用されるワード線選択信号は、以下のブール等式で
表現することも可能である。
【0047】
【数2】
【0048】図8は、n=2且つm=3の図6に対応す
るように再ラベル付けされたワード線を有する図4を示
す図である。反転イネーブル信号についてのラベル(書
き込みイネーブルバーについての
【0049】
【外15】 )が、即ち、それぞれ、アドレス線ペア(A0,A
1)、(B0,B1)、(C0,C1)、(D0,D
1)、(E0,E1)、及び(F0,F1)について
の、
【0050】
【外16】 及び
【0051】
【外17】 が追加された。アドレスがビット線を選択するときに
は、書き込みイネーブルバー信号は、’0’である。ア
ドレス線ペアは、ビット線BLAからBLFに対応す
る。A0とA1が共に’1’で且つpc=1のときに
は、
【0052】
【外18】 である。B0とB1が共に’1’で且つpc=1のとき
には、
【0053】
【外19】 である。(C0,C1)、(D0,D1)、(E0,E
1)、及び(F0,F1)についても同様である。
【0054】NOT(NOT(X) AND NOT
(Y))=X OR Yのブール論理等価から、図8の
回路810は、n=2且つm=3を有する図7の回路7
10のサブセットであるように修正されることが可能で
ある。図8の各プリチャージ回路、例えば、トランジス
タ212、214、216、218を有するプリチャー
ジ回路は、書き込みイネーブルバー出力、即ち、
【0055】
【外20】 を有し、且つ、そして、例えば、420及び424のよ
うな、適切なNANDゲートへ入力される、反転された
出力を有する。各プリチャージ回路の出力へ(図示して
いない)インバータを追加し、そして、上述のブール論
理等価を適用することにより、NANDゲート、即ち、
420、422、424、426及び428を、ORゲ
ートにより置換されてもよい。このように、図7の各デ
コーダは、例えば、書き込みイネーブルバー出力、即
ち、インバータに接続された
【0056】
【外21】 を有する、トランジスタ212、214、216、21
8を有するプリチャージ回路のような、例えば、
【0057】
【外22】 を発生するための、プリチャージ回路と、例えば、42
0のような、ORゲートにより置きかえられた、NAN
Dゲートにより、本発明の一実施例で実行されることが
可能である。他の実施例では、デコーダは、完全に又は
部分的にビット線アドレスをデコードしてもよくそし
て、最終でコード段階である必要はない。更に、他の実
施例では、ORゲートは、図6のマルチプレクサについ
ての選択信号を発生するために、論理的に等価なゲート
により置きかえられても良い。
【0058】表1は、図1と比較して、本発明の実施例
が、どのように、種々の数のビット線に対して、書き込
みワード線とトランジスタの数を減少させたか示す。従
来技術で必要なワード線の数は、ビット線の数と等し
い。図1から、従来技術は、ビット線当り、3つのトラ
ンジスタを有する。
【0059】
【表1】 上述の表1から分かるように、本発明の実施例のワード
線の数は、(n+m)であり、一方、従来技術では、ワ
ード線の数は、(n*m)である。一般的な傾向は、ビ
ット線の数が増加するにつれて、節約されたワード線の
数と節約されたトランジスタの数が増加する。どの場合
にも、書き込みポートの数が増加するときに、節約され
る。
【0060】従来技術と比較した本発明の幾つかの優位
点は、少ないトランジスタとメモリセルを通るより少な
いワード線と、より小さいビット線キャパシタンス(例
えば、図1のビット線あたり1つのNMOSドレインと
1つのNMOSゲートと比較した、図3のビット線あた
り1つのNMOSドレイン)と、及びより少ない駆動す
べきワード線、を含む。このように、本発明の実施例の
メモリセル回路は、より小さな面積と、より低い電力消
費を有する。
【0061】明細書と図面は、説明の目的のために提供
されている。それへの追加、削減及び他の修正及び変更
は、請求の範囲に記載の、本発明のより広い意図及び範
囲から離れることなくなされうることは明らかである。
【0062】付記 (付記1) 第1の複数のビット線と、各ビット線に関
連する複数のワード線を有するメモリセル回路にデータ
を格納する方法であって、前記複数のワード線のうちの
1つの第1のワード線のみを使用し、前記第1の複数の
ビット線から第2の複数のビット線を選択し、前記複数
のワード線のうちの1つの第2のワード線のみを使用
し、前記第2の複数のビット線の1つのビット線を選択
し、前記ビット線上のビット値を前記メモリセル回路に
格納する、メモリセル回路にデータを格納する方法。
【0063】(付記2) 第2の複数のビット線は、前
記第1の複数のビット線より少ない、付記1に記載のメ
モリセル回路にデータを格納する方法。
【0064】(付記3) 前記メモリセル回路は、更に
バックツーバックインバータを有する、付記1に記載の
メモリセル回路にデータを格納する方法。
【0065】(付記4) 前記第2の複数のビット線
は、異なるマルチプレクサからのビット線を有する、付
記1に記載のメモリセル回路にデータを格納する方法。
【0066】(付記5) 第1の複数のビット線の各ビ
ット線に関連する複数のワード線を有し、前記第1の複
数のビット線から第2の複数のビット線を選択するため
の、前記複数のワード線のうちの第1のワード線を有
し、前記第1のワード線のみが前記第2の複数のビット
線を選択するために使用され、前記第2の複数のビット
線のうちの1つのビット線を選択するための、前記複数
のワード線のうちの第2のワード線を有し、前記第2の
ワード線のみが前記1つのビット線を選択するために使
用され、前記1つのビット線上のビット値を格納するメ
モリセルとを有する、減少された面積のメモリセル回
路。
【0067】(付記6) データを格納するメモリセル
と、第1のワード線と第2のワード線と、複数のビット
線と、前記複数のビット線の第1のビット線を第1のノ
ードに接続する、前記第1のワード線により制御される
第1のスイッチと、前記第1のノードを前記メモリセル
に接続する、前記第2のワード線により制御される第2
のスイッチとを有するメモリセル回路。
【0068】(付記7) 前記メモリセルは、バックツ
ーバックインバータを有する、付記6に記載のメモリセ
ル回路。
【0069】(付記8) 前記第1のスイッチは、CM
OSトランジスタを有する、付記6に記載のメモリセル
回路。
【0070】(付記9) 前記第2のスイッチは、他の
CMOSトランジスタを有する、付記8に記載のメモリ
セル回路。
【0071】(付記10) 前記第1のワード線は、前
記ビット線のアドレスの最終デコードをするプリチャー
ジ回路と、前記第1のワード線上の第1の信号を発生す
る第1のNANDゲートと、を有する最終デコード回路
により発生される、付記6に記載のメモリセル回路。
【0072】(付記11) 前記最終デコード回路は、
前記第2のワード線上に第2の信号を発生する第2のN
ANDゲートを更に有する、付記10に記載のメモリセ
ル回路。
【0073】(付記12) 第1のワード線が第1のビ
ット線を選択するときに、複数のビット線の前記第1の
ビット線を選択する、第1のマルチプレクサと、前記第
1のワード線が第2のビット線を選択するときに、前記
複数のビット線の前記第2のビット線を選択する、第2
のマルチプレクサと、第2のワード線に基づいて、前記
第1のマルチプレクサの出力と、前記第2のマルチプレ
クサの出力との間を選択する第3のマルチプレクサを有
し、前記第3のマルチプレクサの出力は、データを前記
メモリセルに書き込む、データをメモリセルに書き込む
システム。
【0074】(付記13) 前記メモリセルは、第2の
インバータに接続された第1のインバータを有する、付
記12に記載のデータをメモリセルに書き込むシステ
ム。
【0075】(付記14) 前記第1のマルチプレクサ
の前記出力は、前記第1のビット線上の信号である、付
記12に記載のデータをメモリセルに書き込むシステ
ム。
【0076】(付記15) 前記第2のマルチプレクサ
の前記出力は、前記第2のビット線上の信号である、付
記14に記載のデータをメモリセルに書き込むシステ
ム。
【0077】(付記16) 前記第2のマルチプレクサ
の前記出力が前記第2のワード線により選択されたとき
に、前記第3のマルチプレクサの前記出力は、前記第2
のビット線上の前記信号である、付記15に記載のデー
タをメモリセルに書き込むシステム。
【0078】(付記17) ビット線アドレスを有する
ビット線からデータを受信する、第1のマルチプレクサ
と、前記第1のマルチプレクサからデータを受信しそし
て前記データをメモリセルへ書き込む、第2のマルチプ
レクサへ、複数の選択器信号を供給するシステムであっ
て、第1の複数のビット線アドレスを受信しそして、第
1の複数の書き込みイネーブル信号を発生する、第1の
複数のデコーダと、前記第1の複数の書き込みイネーブ
ル信号を、前記複数の選択器信号のうちの、前記第1の
マルチプレクサを制御する第1の選択器信号へ結合す
る、少なくとも1つの論理ゲートと、第2の複数のビッ
ト線アドレスを受信しそして、第2の複数の書き込みイ
ネーブル信号を発生する、第2の複数のデコーダと、前
記第1の複数の書き込みイネーブル信号の1つの書き込
みイネーブル信号と前記第2の複数の書き込みイネーブ
ル信号の1つの書き込みイネーブル信号を、前記複数の
選択器信号のうちの、前記第2のマルチプレクサを制御
する第2の選択器信号へ結合する、少なくとも1つの論
理ゲートとを有する、信号を供給するシステム。
【0079】(付記18) 前記論理ゲートは、ORゲ
ートを含む、付記17に記載の信号を供給するシステ
ム。
【0080】(付記19) 前記論理ゲートは、NAN
Dゲートを含む、付記17に記載の信号を供給するシス
テム。
【0081】(付記20) 前記デコーダはプリチャー
ジ信号を含む、付記17に記載の信号を供給するシステ
ム。
【0082】(付記21) 第1の複数のビット線を有
するメモリ回路であって、前記第1の複数のビット線か
ら第2の複数のビット線を選択する手段と、前記第2の
複数のビット線の1つのビット線を選択する手段と、前
記ビット線上のビット値を格納する手段とを有する、メ
モリセル回路。
【0083】
【発明の効果】本発明によって、従来のマルチポートメ
モリセルよりも少ない数の書き込み線を有し、これゆえ
に、より小さな面積を占める、改善されたマルチポート
メモリセル回路を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術のマルチ書き込みポートメモリセルの
例の概略を示す図である。
【図2】図1に適用可能な、従来技術の従来の最終デコ
ード回路を示す図である。
【図3】本発明の一実施例のマルチ書き込みポートメモ
リセルの概略を示す図である。
【図4】図3のメモリセル回路に対応する最終デコード
回路の概略を示す図である。
【図5】本発明の一面の従属接続されたマルチプレクサ
の例を示す図3の再配置された概略を示す図である。
【図6】本発明の他の実施例のn*m書き込みポート
(即ち、書き込みビット線)についての一般化されたメ
モリセル回路の概略を示す図である。
【図7】本発明の他の実施例の図6の回路に、ワード線
信号を供給する一般化された回路の概略を示す図であ
る。
【図8】n=2且つm=3の図6に対応するように再ラ
ベル付けされたワード線を有する図4を示す図である。
【符号の説明】
BLA、BLB、BLC、BLD、BLE、BLF ビ
ット線 WLA、WLB、WLC、WLD、WLE、WLF ワ
ード線 112 トランジスタ 152、154 ノード 156、158 インバータ m1からm12 トランジスタ Inv1,Inv2 インバータ 420、422、424、426、428 NANDゲ
ート 510、512、520 マルチプレクサ 525 メモリセル 612、614、616、618 マルチプレクサ 688 メモリセル 740、742、744 ORゲート 750、752、754 ORゲート 710、810 回路 712から734 デコーダ 750から744 ORゲート

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の複数のビット線と、各ビット線に
    関連する複数のワード線を有するメモリセル回路にデー
    タを格納する方法であって、 前記複数のワード線のうちの1つの第1のワード線のみ
    を使用し、前記第1の複数のビット線から第2の複数の
    ビット線を選択し、 前記複数のワード線のうちの1つの第2のワード線のみ
    を使用し、前記第2の複数のビット線の1つのビット線
    を選択し、 前記ビット線上のビット値を前記メモリセル回路に格納
    する、メモリセル回路にデータを格納する方法。
  2. 【請求項2】 第2の複数のビット線は、前記第1の複
    数のビット線より少ない、請求項1に記載のメモリセル
    回路にデータを格納する方法。
  3. 【請求項3】 前記メモリセル回路は、更にバックツー
    バックインバータを有する、請求項1に記載のメモリセ
    ル回路にデータを格納する方法。
  4. 【請求項4】 前記第2の複数のビット線は、異なるマ
    ルチプレクサからのビット線を有する、請求項1に記載
    のメモリセル回路にデータを格納する方法。
  5. 【請求項5】 第1の複数のビット線の各ビット線に関
    連する複数のワード線を有し、 前記第1の複数のビット線から第2の複数のビット線を
    選択するための、前記複数のワード線のうちの第1のワ
    ード線を有し、前記第1のワード線のみが前記第2の複
    数のビット線を選択するために使用され、 前記第2の複数のビット線のうちの1つのビット線を選
    択するための、前記複数のワード線のうちの第2のワー
    ド線を有し、前記第2のワード線のみが前記1つのビッ
    ト線を選択するために使用され、 前記1つのビット線上のビット値を格納するメモリセル
    とを有する、減少された面積のメモリセル回路。
  6. 【請求項6】 データを格納するメモリセルと、 第1のワード線と第2のワード線と、 複数のビット線と、 前記複数のビット線の第1のビット線を第1のノードに
    接続する、前記第1のワード線により制御される第1の
    スイッチと、 前記第1のノードを前記メモリセルに接続する、前記第
    2のワード線により制御される第2のスイッチとを有す
    るメモリセル回路。
  7. 【請求項7】 前記メモリセルは、バックツーバックイ
    ンバータを有する、請求項6に記載のメモリセル回路。
  8. 【請求項8】 第1のワード線が第1のビット線を選択
    するときに、複数のビット線の前記第1のビット線を選
    択する、第1のマルチプレクサと、 前記第1のワード線が第2のビット線を選択するとき
    に、前記複数のビット線の前記第2のビット線を選択す
    る、第2のマルチプレクサと、 第2のワード線に基づいて、前記第1のマルチプレクサ
    の出力と、前記第2のマルチプレクサの出力との間を選
    択する第3のマルチプレクサを有し、前記第3のマルチ
    プレクサの出力は、データを前記メモリセルに書き込
    む、データをメモリセルに書き込むシステム。
  9. 【請求項9】 ビット線アドレスを有するビット線から
    データを受信する、第1のマルチプレクサと、前記第1
    のマルチプレクサからデータを受信しそして前記データ
    をメモリセルへ書き込む、第2のマルチプレクサへ、複
    数の選択器信号を供給するシステムであって、 第1の複数のビット線アドレスを受信しそして、第1の
    複数の書き込みイネーブル信号を発生する、第1の複数
    のデコーダと、 前記第1の複数の書き込みイネーブル信号を、前記複数
    の選択器信号のうちの、前記第1のマルチプレクサを制
    御する第1の選択器信号へ結合する、少なくとも1つの
    論理ゲートと、 第2の複数のビット線アドレスを受信しそして、第2の
    複数の書き込みイネーブル信号を発生する、第2の複数
    のデコーダと、 前記第1の複数の書き込みイネーブル信号の1つの書き
    込みイネーブル信号と前記第2の複数の書き込みイネー
    ブル信号の1つの書き込みイネーブル信号を、前記複数
    の選択器信号のうちの、前記第2のマルチプレクサを制
    御する第2の選択器信号へ結合する、少なくとも1つの
    論理ゲートとを有する、信号を供給するシステム。
  10. 【請求項10】 第1の複数のビット線を有するメモリ
    回路であって、 前記第1の複数のビット線から第2の複数のビット線を
    選択する手段と、 前記第2の複数のビット線の1つのビット線を選択する
    手段と、 前記ビット線上のビット値を格納する手段とを有する、
    メモリセル回路。
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