JP2003243269A - 残存寿命予測報知方法、温度検出構造および電子機器 - Google Patents
残存寿命予測報知方法、温度検出構造および電子機器Info
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/64—Testing of capacitors
Abstract
(57)【要約】
【課題】残存寿命を容易に把握認識できるようにするこ
とで、生産工程などに支障をきたすことなくメンテナン
ス管理を行うことができるようにする。 【解決手段】機器内に組み込まれた電解コンデンサ２４
の温度を検出し、アレニウスの法則に基づいて実使用に
おける残存寿命を演算し、残存寿命を表示するようにし
ている。電解コンデンサ２４と薄膜テープ２３を巻回し
て絶縁した温度センサ２２とを熱収縮チューブ２５内に
収容して、一次側の電解コンデンサ２４に、二次側の温
度センサ２２を密着させるよう構成してある。
とで、生産工程などに支障をきたすことなくメンテナン
ス管理を行うことができるようにする。 【解決手段】機器内に組み込まれた電解コンデンサ２４
の温度を検出し、アレニウスの法則に基づいて実使用に
おける残存寿命を演算し、残存寿命を表示するようにし
ている。電解コンデンサ２４と薄膜テープ２３を巻回し
て絶縁した温度センサ２２とを熱収縮チューブ２５内に
収容して、一次側の電解コンデンサ２４に、二次側の温
度センサ２２を密着させるよう構成してある。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンデンサなどの
残存寿命を予測する方法、それに好適な温度検出構造お
よびコンデンサを備える電源装置などの各種の電子機器
に関する。
残存寿命を予測する方法、それに好適な温度検出構造お
よびコンデンサを備える電源装置などの各種の電子機器
に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の電子機器、例えば、電源装置に
おいては、それに使用される回路部品の中で寿命が最も
短い電解コンデンサの寿命を予測して当該電源装置の寿
命としている。
おいては、それに使用される回路部品の中で寿命が最も
短い電解コンデンサの寿命を予測して当該電源装置の寿
命としている。
【０００３】電解コンデンサの寿命は、アレニウスの法
則に基づく下記の演算式によって算出できることが知ら
れている。
則に基づく下記の演算式によって算出できることが知ら
れている。
【０００４】Ｌｘ＝Ｌｏ×２(To-tx)/10×ｋ
Ｌｘ：実使用時の推定寿命（時間）
Ｌｏ：最高使用温度における寿命（時間）
Ｔｏ：電解コンデンサの最高使用温度（°Ｃ）
ｔｘ：実使用温度（°Ｃ）
ｋ：寿命係数
なお、寿命係数ｋは、コンデンサメーカによって各種の
式が提案されており、印加電圧、リプル電流、周囲温度
等による換算係数である。
式が提案されており、印加電圧、リプル電流、周囲温度
等による換算係数である。
【０００５】従来から、かかる演算式に基づく寿命予測
についての種々の提案が為されている。
についての種々の提案が為されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来例
では、アレニウスの法則に基づく演算式で推定寿命を算
し、この推定寿命から実際の稼動時間より換算された値
を減算し、予め定めた閾値に達したときに、寿命である
と判定して警報を出力するといったものであって、実使
用における残存寿命を報知できるようにしたものではな
い。
では、アレニウスの法則に基づく演算式で推定寿命を算
し、この推定寿命から実際の稼動時間より換算された値
を減算し、予め定めた閾値に達したときに、寿命である
と判定して警報を出力するといったものであって、実使
用における残存寿命を報知できるようにしたものではな
い。
【０００７】一般に、各種の生産設備などに利用されて
いる電子機器の交換は、生産業務などに支障をきたさな
いように年間スケジュールに組み込まれている。従っ
て、或る日突然に寿命到達の警報出力や表示が出るとい
った従来例では、使い勝手が悪く、寿命到達の警報出力
や表示が、定期メンテナンス時期以外に出された場合に
は、機器交換のためにライン停止を行わねばならなくな
るといった難点がある。
いる電子機器の交換は、生産業務などに支障をきたさな
いように年間スケジュールに組み込まれている。従っ
て、或る日突然に寿命到達の警報出力や表示が出るとい
った従来例では、使い勝手が悪く、寿命到達の警報出力
や表示が、定期メンテナンス時期以外に出された場合に
は、機器交換のためにライン停止を行わねばならなくな
るといった難点がある。
【０００８】したがって、実使用における残存寿命、す
なわち、稼動が可能な残り時間を、予測できるようにす
ること望まれる。
なわち、稼動が可能な残り時間を、予測できるようにす
ること望まれる。
【０００９】また、アレニウスの法則に基づく寿命の予
測を精度よく行おうとすると、上述の演算式から明らか
なように、電解コンデンサの実使用温度（ｔｘ）を正確
に検出する必要がある。電解コンデンサの実使用温度を
検出するために、温度センサが設置されるのであるが、
その周囲の空気の対流などの影響を受けるために、電解
コンデンサの正確な温度検出を行うのは容易でない。
測を精度よく行おうとすると、上述の演算式から明らか
なように、電解コンデンサの実使用温度（ｔｘ）を正確
に検出する必要がある。電解コンデンサの実使用温度を
検出するために、温度センサが設置されるのであるが、
その周囲の空気の対流などの影響を受けるために、電解
コンデンサの正確な温度検出を行うのは容易でない。
【００１０】特に、電源装置においては、トランスによ
って、一次側回路と二次側回路とが絶縁されており、寿
命予知の対象となる電解コンデンサが一次側回路である
のに対して、温度センサからの検出温度に基づいて、寿
命を演算する低電圧駆動のマイコンなどの演算回路は、
二次側回路となるのが一般的である。したがって、電解
コンデンサと温度センサとの絶縁をとりつつ、電解コン
デンサの温度を正確に検出するのは、一層困難である。
って、一次側回路と二次側回路とが絶縁されており、寿
命予知の対象となる電解コンデンサが一次側回路である
のに対して、温度センサからの検出温度に基づいて、寿
命を演算する低電圧駆動のマイコンなどの演算回路は、
二次側回路となるのが一般的である。したがって、電解
コンデンサと温度センサとの絶縁をとりつつ、電解コン
デンサの温度を正確に検出するのは、一層困難である。
【００１１】本発明は、このような実情に着目してなさ
れたものであって、実使用における残存寿命を予測でき
るようすることを主たる目的とし、さらに、その予測精
度を高めるのに好適な温度検出構造および残存寿命を報
知できるようした電子機器を提供することを目的とす
る。
れたものであって、実使用における残存寿命を予測でき
るようすることを主たる目的とし、さらに、その予測精
度を高めるのに好適な温度検出構造および残存寿命を報
知できるようした電子機器を提供することを目的とす
る。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明では、上記目的を
達成するために、次のように構成している。
達成するために、次のように構成している。
【００１３】すなわち、本発明の残存寿命予測方法は、
対象物の残存寿命を予測する方法であって、アレニウス
の法則に基づく演算式に従って、所定温度における残存
寿命を算出する算出ステップと、算出した残存寿命を、
実使用における残存寿命に変換する変換ステップとを備
えている。
対象物の残存寿命を予測する方法であって、アレニウス
の法則に基づく演算式に従って、所定温度における残存
寿命を算出する算出ステップと、算出した残存寿命を、
実使用における残存寿命に変換する変換ステップとを備
えている。
【００１４】本発明によると、アレニウスの法則に基づ
く演算式に従って、所定温度における残存寿命を算出
し、それを実使用における残存寿命に変換することによ
って、実使用における残存寿命を予測できることにな
り、この残存寿命から交換時期を把握してメンテナンス
計画を立てることができる。
く演算式に従って、所定温度における残存寿命を算出
し、それを実使用における残存寿命に変換することによ
って、実使用における残存寿命を予測できることにな
り、この残存寿命から交換時期を把握してメンテナンス
計画を立てることができる。
【００１５】本発明の一実施態様においては、予め定め
た時間が経過する度に、前記算出ステップおよび前記変
換ステップを行い、前記算出ステップでは、実使用にお
ける前記予め定めた時間の経過を、前記所定温度におけ
る経過時間に換算して残存寿命から減算し、前記変換ス
テップでは、前記所定温度における残存寿命と実使用に
おける残存寿命との間の比例関係に基づいて変換するも
のである。
た時間が経過する度に、前記算出ステップおよび前記変
換ステップを行い、前記算出ステップでは、実使用にお
ける前記予め定めた時間の経過を、前記所定温度におけ
る経過時間に換算して残存寿命から減算し、前記変換ス
テップでは、前記所定温度における残存寿命と実使用に
おける残存寿命との間の比例関係に基づいて変換するも
のである。
【００１６】ここで、予め定めた時間が経過する度と
は、一定の時間が経過する度、すなわち、一定の時間間
隔であってもよいし、一定でない時間間隔であってもよ
い。
は、一定の時間が経過する度、すなわち、一定の時間間
隔であってもよいし、一定でない時間間隔であってもよ
い。
【００１７】本発明によると、予め定めた時間が経過す
ると、その経過時間を、所定温度における経過時間に換
算し、所定温度における残存寿命から減算し、得られた
所定温度における残存寿命を、比例関係を利用して実使
用における残存寿命に変換するので、予め定めた時間が
経過する度に、その時点における残存寿命を予測できる
ことになる。
ると、その経過時間を、所定温度における経過時間に換
算し、所定温度における残存寿命から減算し、得られた
所定温度における残存寿命を、比例関係を利用して実使
用における残存寿命に変換するので、予め定めた時間が
経過する度に、その時点における残存寿命を予測できる
ことになる。
【００１８】本発明の他の実施態様においては、前記算
出ステップでは、実使用時の温度を用いてアレニウスの
法則に基づいて前記換算を行い、前記変換ステップで
は、前記所定温度における初期時点の総残存寿命を基準
とし、前記所定温度における他の時点の残存寿命と、前
記他の時点に対応する実使用における経過時間とに基づ
いて、実使用における残存寿命に変換するものである。
出ステップでは、実使用時の温度を用いてアレニウスの
法則に基づいて前記換算を行い、前記変換ステップで
は、前記所定温度における初期時点の総残存寿命を基準
とし、前記所定温度における他の時点の残存寿命と、前
記他の時点に対応する実使用における経過時間とに基づ
いて、実使用における残存寿命に変換するものである。
【００１９】本発明によると、予め定めた時間が経過す
ると、その経過時間を、実際の使用時の温度を用いてア
レニウスの法則に基づいて所定の温度における経過時間
に換算するので、実際の使用時の温度が所定温度から変
化しても正しく換算され、また、換算した経過時間を、
所定温度における残存寿命から減算するので、算出され
る所定温度における残存寿命は、それまでの実使用温度
を含む過去の履歴に基づくものとなり、残存寿命を精度
よく予測できる。さらに、所定温度における初期時点の
総残存寿命を基準として変換するので、実際の使用が開
始された後の時点における残存寿命を基準とする場合に
比べて、過渡的な温度変動の影響が少なく精度の高い実
使用における残存寿命に変換できる。
ると、その経過時間を、実際の使用時の温度を用いてア
レニウスの法則に基づいて所定の温度における経過時間
に換算するので、実際の使用時の温度が所定温度から変
化しても正しく換算され、また、換算した経過時間を、
所定温度における残存寿命から減算するので、算出され
る所定温度における残存寿命は、それまでの実使用温度
を含む過去の履歴に基づくものとなり、残存寿命を精度
よく予測できる。さらに、所定温度における初期時点の
総残存寿命を基準として変換するので、実際の使用が開
始された後の時点における残存寿命を基準とする場合に
比べて、過渡的な温度変動の影響が少なく精度の高い実
使用における残存寿命に変換できる。
【００２０】本発明の更に他の実施態様においては、残
存寿命の予測対象物がコンデンサである。
存寿命の予測対象物がコンデンサである。
【００２１】本発明によると、コンデンサの残存寿命を
予測できるので、コンデンサを備える各種機器の残存寿
命を、コンデンサの残存寿命として予測できることにな
る。
予測できるので、コンデンサを備える各種機器の残存寿
命を、コンデンサの残存寿命として予測できることにな
る。
【００２２】本発明の温度検出構造は、コンデンサの温
度を検出する構造であって、前記コンデンサの温度を検
出する温度センサを、絶縁テープで巻回して前記コンデ
ンサに密着させて配置したものである。
度を検出する構造であって、前記コンデンサの温度を検
出する温度センサを、絶縁テープで巻回して前記コンデ
ンサに密着させて配置したものである。
【００２３】本発明によると、絶縁テープとしては、極
めて薄いテープが市販されているので、かかる絶縁テー
プを巻回してもその厚さは極めて薄く、所望の絶縁性能
を確保しながらコンデンサに温度センサを極めて接近し
て配備することができ、コンデンサの温度を精度高く検
出できる。
めて薄いテープが市販されているので、かかる絶縁テー
プを巻回してもその厚さは極めて薄く、所望の絶縁性能
を確保しながらコンデンサに温度センサを極めて接近し
て配備することができ、コンデンサの温度を精度高く検
出できる。
【００２４】本発明の他の実施態様においては、前記絶
縁テープが巻回された温度センサおよび前記コンデンサ
を、熱収縮チューブ内に収納して一体化したものであ
る。
縁テープが巻回された温度センサおよび前記コンデンサ
を、熱収縮チューブ内に収納して一体化したものであ
る。
【００２５】本発明によると、熱収縮チューブの収縮に
よってコンデンサに絶縁テープを介して温度センサが密
着された状態で両者が一体化され、熱収縮チューブの熱
伝導によってチューブ内温度が均等化され、コンデンサ
温度とセンサ検出温度との差がほとんどなくなる。ま
た、熱収縮チューブを介しての一体化によって熱容量が
同じになり、外気風などにより温度センサだけが急峻に
温度変動することが無くなる。
よってコンデンサに絶縁テープを介して温度センサが密
着された状態で両者が一体化され、熱収縮チューブの熱
伝導によってチューブ内温度が均等化され、コンデンサ
温度とセンサ検出温度との差がほとんどなくなる。ま
た、熱収縮チューブを介しての一体化によって熱容量が
同じになり、外気風などにより温度センサだけが急峻に
温度変動することが無くなる。
【００２６】本発明の更に他の実施態様においては、前
記コンデンサは、トランスによって絶縁された一次側の
回路部品であり、前記温度センサは、二次側の回路に組
み込まれる部品であって、該温度センサは、リード線を
介して二次側の回路に接続されるものである。
記コンデンサは、トランスによって絶縁された一次側の
回路部品であり、前記温度センサは、二次側の回路に組
み込まれる部品であって、該温度センサは、リード線を
介して二次側の回路に接続されるものである。
【００２７】本発明によると、一次側の回路部品である
コンデンサと二次側の回路に組み込まれる温度センサと
の間の所望の絶縁を、前記絶縁テープを巻回して確保す
ることができる。また、コンデンサに密着して配置され
る温度センサは、二次側の回路に接続する必要がある
が、コンデンサを含む一次側の回路部品が実装されてい
る回路基板の配線パターンを介して接続するのでは、必
要な絶縁距離を確保するのが困難である。そこで、リー
ド線を用いることにより、前記回路基板を這わすことな
く、その上方を、二次側の回路まで架け渡して所望の絶
縁性能を確保しながら接続することができる。
コンデンサと二次側の回路に組み込まれる温度センサと
の間の所望の絶縁を、前記絶縁テープを巻回して確保す
ることができる。また、コンデンサに密着して配置され
る温度センサは、二次側の回路に接続する必要がある
が、コンデンサを含む一次側の回路部品が実装されてい
る回路基板の配線パターンを介して接続するのでは、必
要な絶縁距離を確保するのが困難である。そこで、リー
ド線を用いることにより、前記回路基板を這わすことな
く、その上方を、二次側の回路まで架け渡して所望の絶
縁性能を確保しながら接続することができる。
【００２８】本発明の電子機器は、コンデンサを備える
電子機器であって、前記コンデンサの温度を検出する温
度センサと、前記温度センサからの検出温度を用いて、
前記コンデンサの残存寿命を演算する演算手段と、演算
された残存寿命を報知する報知手段とを備え、前記演算
手段は、アレニウスの法則に基づく演算式に従って、所
定温度における残存寿命を算出する算出部を備えるもの
である。
電子機器であって、前記コンデンサの温度を検出する温
度センサと、前記温度センサからの検出温度を用いて、
前記コンデンサの残存寿命を演算する演算手段と、演算
された残存寿命を報知する報知手段とを備え、前記演算
手段は、アレニウスの法則に基づく演算式に従って、所
定温度における残存寿命を算出する算出部を備えるもの
である。
【００２９】本発明によると、コンデンサの温度を検出
する温度センサからの検出温度を用いて、アレニウスの
法則に基づく演算式に従って、所定温度における残存寿
命を算出するので、所定温度における残存寿命と実使用
における残存寿命とがほぼ比例関係にあることから、前
記所定温度における初期時点の総残存寿命と、前記演算
式に従って算出された残存寿命との比率を、実使用にお
ける前記比率とみなすことができ、例えば、残存寿命
が、総寿命（総残存寿命）の何％であるといった報知を
行うことができ、これに基づいて、交換時期を把握して
メンテナンス計画を立てることができる。
する温度センサからの検出温度を用いて、アレニウスの
法則に基づく演算式に従って、所定温度における残存寿
命を算出するので、所定温度における残存寿命と実使用
における残存寿命とがほぼ比例関係にあることから、前
記所定温度における初期時点の総残存寿命と、前記演算
式に従って算出された残存寿命との比率を、実使用にお
ける前記比率とみなすことができ、例えば、残存寿命
が、総寿命（総残存寿命）の何％であるといった報知を
行うことができ、これに基づいて、交換時期を把握して
メンテナンス計画を立てることができる。
【００３０】本発明の他の実施態様においては、前記演
算手段は、実使用における前記コンデンサの残存寿命を
演算するものであって、前記算出部で算出された所定温
度における残存寿命を、実使用における残存寿命に変換
する変換部を備え、前記報知手段は、演算された残存寿
命を表示するものである。
算手段は、実使用における前記コンデンサの残存寿命を
演算するものであって、前記算出部で算出された所定温
度における残存寿命を、実使用における残存寿命に変換
する変換部を備え、前記報知手段は、演算された残存寿
命を表示するものである。
【００３１】本発明によると、アレニウスの法則に基づ
く演算式に従って、所定温度における残存寿命を算出
し、それを実使用における残存寿命に変換して報知手段
で表示するので、この残存寿命から交換時期を把握して
メンテナンス計画を立てることができる。
く演算式に従って、所定温度における残存寿命を算出
し、それを実使用における残存寿命に変換して報知手段
で表示するので、この残存寿命から交換時期を把握して
メンテナンス計画を立てることができる。
【００３２】本発明の更に他の実施態様においては、前
記演算手段は、予め定めた時間が経過する度に、実使用
における前記コンデンサの残存寿命を演算するものであ
り、前記算出部は、実使用における前記予め定めた時間
の経過を、前記所定温度における経過時間に換算して残
存寿命から減算するものであり、前記変換部は、前記所
定温度における残存寿命と実使用における残存寿命との
間の比例関係に基づいて変換するものである。
記演算手段は、予め定めた時間が経過する度に、実使用
における前記コンデンサの残存寿命を演算するものであ
り、前記算出部は、実使用における前記予め定めた時間
の経過を、前記所定温度における経過時間に換算して残
存寿命から減算するものであり、前記変換部は、前記所
定温度における残存寿命と実使用における残存寿命との
間の比例関係に基づいて変換するものである。
【００３３】本発明によると、予め定めた時間が経過す
ると、その経過時間を、所定温度における経過時間に換
算し、所定温度における残存寿命から減算し、得られた
所定温度における残存寿命を、比例関係を利用して実使
用における残存寿命に変換して報知するので、予め定め
た時間が経過する度に、その時点における残存寿命を報
知できることになる。
ると、その経過時間を、所定温度における経過時間に換
算し、所定温度における残存寿命から減算し、得られた
所定温度における残存寿命を、比例関係を利用して実使
用における残存寿命に変換して報知するので、予め定め
た時間が経過する度に、その時点における残存寿命を報
知できることになる。
【００３４】本発明の好ましい実施態様においては、前
記算出部は、前記温度センサからの検出温度を用いてア
レニウスの法則に基づいて前記換算を行うものであり、
前記変換部は、前記所定温度における初期時点の総残存
寿命を基準とし、前記所定温度における他の時点の残存
寿命と、前記他の時点に対応する実使用における経過時
間とに基づいて、実使用における残存寿命に変換するも
のである。
記算出部は、前記温度センサからの検出温度を用いてア
レニウスの法則に基づいて前記換算を行うものであり、
前記変換部は、前記所定温度における初期時点の総残存
寿命を基準とし、前記所定温度における他の時点の残存
寿命と、前記他の時点に対応する実使用における経過時
間とに基づいて、実使用における残存寿命に変換するも
のである。
【００３５】本発明によると、予め定めた時間が経過す
ると、その経過時間を、実際の使用時の温度を用いてア
レニウスの法則に基づいて所定の温度における経過時間
に換算するので、実際の使用時の温度が所定温度から変
化しても正しく換算され、また、換算した経過時間を、
所定温度における残存寿命から減算するので、算出され
る所定温度における残存寿命は、それまでの実使用温度
を含む過去の履歴に基づくものとなり、残存寿命を精度
よく予測できる。さらに、所定温度における初期時点の
総残存寿命を基準として変換するので、実際の使用が開
始された後の時点における残存寿命を基準とする場合に
比べて、過渡的な温度変動の影響が少なく精度の高い実
使用における残存寿命に変換できる。
ると、その経過時間を、実際の使用時の温度を用いてア
レニウスの法則に基づいて所定の温度における経過時間
に換算するので、実際の使用時の温度が所定温度から変
化しても正しく換算され、また、換算した経過時間を、
所定温度における残存寿命から減算するので、算出され
る所定温度における残存寿命は、それまでの実使用温度
を含む過去の履歴に基づくものとなり、残存寿命を精度
よく予測できる。さらに、所定温度における初期時点の
総残存寿命を基準として変換するので、実際の使用が開
始された後の時点における残存寿命を基準とする場合に
比べて、過渡的な温度変動の影響が少なく精度の高い実
使用における残存寿命に変換できる。
【００３６】本発明の他の実施態様においては、前記変
換部における変換の基準となる前記初期時点の総残存寿
命を、別の時点における残存寿命に置き換える手段を備
えている。
換部における変換の基準となる前記初期時点の総残存寿
命を、別の時点における残存寿命に置き換える手段を備
えている。
【００３７】本発明によると、温度条件が大きく異なる
環境で使用するような場合には、変換の基準点を、温度
条件が変わった後の時点に置き換えることにより、精度
の高い残存寿命の演算が可能となる。
環境で使用するような場合には、変換の基準点を、温度
条件が変わった後の時点に置き換えることにより、精度
の高い残存寿命の演算が可能となる。
【００３８】本発明の他に実施態様においては、前記コ
ンデンサは、トランスによって絶縁された一次側の回路
部品であり、前記温度センサは、二次側の回路に組み込
まれる部品であって、該温度センサは、絶縁テープで巻
回されて前記コンデンサに密着配置されるものである。
ンデンサは、トランスによって絶縁された一次側の回路
部品であり、前記温度センサは、二次側の回路に組み込
まれる部品であって、該温度センサは、絶縁テープで巻
回されて前記コンデンサに密着配置されるものである。
【００３９】本発明によると、絶縁テープとしては、極
めて薄いテープが市販されているので、かかる絶縁テー
プを巻回してもその厚さは極めて小さく、一次側のコン
デンサと二次側の温度センサとの所望の絶縁性能を確保
しながらコンデンサに温度センサを極めて接近して配備
することができ、コンデンサの温度を精度高く検出でき
る。
めて薄いテープが市販されているので、かかる絶縁テー
プを巻回してもその厚さは極めて小さく、一次側のコン
デンサと二次側の温度センサとの所望の絶縁性能を確保
しながらコンデンサに温度センサを極めて接近して配備
することができ、コンデンサの温度を精度高く検出でき
る。
【００４０】本発明の更に他の実施態様においては、前
記絶縁テープが巻回された温度センサおよび前記コンデ
ンサを、熱収縮チューブ内に収納して一体化するととも
に、前記温度センサは、前記演算手段にリード線を介し
て接続されるものである。
記絶縁テープが巻回された温度センサおよび前記コンデ
ンサを、熱収縮チューブ内に収納して一体化するととも
に、前記温度センサは、前記演算手段にリード線を介し
て接続されるものである。
【００４１】本発明によると、熱収縮チューブの収縮に
よってコンデンサに絶縁テープを介して温度センサが密
着された状態で両者が一体化され、熱収縮チューブの熱
伝導によってチューブ内温度が均等化され、コンデンサ
温度とセンサ検出温度との差がほとんどなくなる。ま
た、熱収縮チューブを介しての一体化によって熱容量が
同じになり、外気風などにより温度センサだけが急峻に
温度変動することが無くなる。コンデンサに密着して配
置される温度センサは、二次側の回路である演算手段に
接続されるのであるが、コンデンサを含む一次側の回路
部品が実装されている回路基板の配線パターンを介して
接続するのでは、必要な絶縁距離を確保するのが困難で
ある。そこで、リード線を用いることにより、前記回路
基板を這わすことなく、その上方を、演算手段まで架け
渡して所望の絶縁性能を確保しながら接続することがで
きる。
よってコンデンサに絶縁テープを介して温度センサが密
着された状態で両者が一体化され、熱収縮チューブの熱
伝導によってチューブ内温度が均等化され、コンデンサ
温度とセンサ検出温度との差がほとんどなくなる。ま
た、熱収縮チューブを介しての一体化によって熱容量が
同じになり、外気風などにより温度センサだけが急峻に
温度変動することが無くなる。コンデンサに密着して配
置される温度センサは、二次側の回路である演算手段に
接続されるのであるが、コンデンサを含む一次側の回路
部品が実装されている回路基板の配線パターンを介して
接続するのでは、必要な絶縁距離を確保するのが困難で
ある。そこで、リード線を用いることにより、前記回路
基板を這わすことなく、その上方を、演算手段まで架け
渡して所望の絶縁性能を確保しながら接続することがで
きる。
【００４２】本発明の好ましい実施態様においては、前
記報知手段は、演算された残存寿命を、キャラクタ表示
と数値表示とに切換可能である。
記報知手段は、演算された残存寿命を、キャラクタ表示
と数値表示とに切換可能である。
【００４３】本発明によると、寿命到達までに期間があ
りすぎる期間はキャラクタ表示によって凡その劣化状態
を目安として把握することができ、寿命到達までの期間
が短くなると、数値表示に切換えることで、管理に有効
に活用することができる。
りすぎる期間はキャラクタ表示によって凡その劣化状態
を目安として把握することができ、寿命到達までの期間
が短くなると、数値表示に切換えることで、管理に有効
に活用することができる。
【００４４】本発明の他の実施態様においては、前記演
算手段は、前記算出部で算出される所定温度における残
存寿命が、前記所定温度における初期時点の総残存寿命
に占める割合を劣化度として算出する劣化度算出部を備
え、前記報知手段は、算出された前記劣化度を表示する
ものである。
算手段は、前記算出部で算出される所定温度における残
存寿命が、前記所定温度における初期時点の総残存寿命
に占める割合を劣化度として算出する劣化度算出部を備
え、前記報知手段は、算出された前記劣化度を表示する
ものである。
【００４５】本発明によると、演算された残存寿命を、
何年、何ヶ月、あるいは、何時間といった数値表示に限
らず、例えば、総寿命（総残存寿命）の何割あるいは何
％使用して劣化したか表示することが可能となり、この
劣化度に基づいて、交換時期を管理することができる。
何年、何ヶ月、あるいは、何時間といった数値表示に限
らず、例えば、総寿命（総残存寿命）の何割あるいは何
％使用して劣化したか表示することが可能となり、この
劣化度に基づいて、交換時期を管理することができる。
【００４６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の態様を図面
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
【００４７】図１に、本発明に係る電子機器の一例にあ
げた電源装置１の全体斜視図が、また、図２および図３
にその分解した斜視図が、図４に一部を切欠いた平面図
がそれぞれ示されている。
げた電源装置１の全体斜視図が、また、図２および図３
にその分解した斜視図が、図４に一部を切欠いた平面図
がそれぞれ示されている。
【００４８】この電源装置１は、電源施設に横架固定さ
れたＤＩＮレールなどの支持レール２の前面に係脱自在
に装着される箱型のユニット状に構成されたものであ
り、そのケーシング３は、前向きに開口した奥行きのあ
る箱形に樹脂成形されたケース本体３ａと、その前面に
係合連結される樹脂製のフロントカバー３ｂとからな
り、このケーシング３の内部に図３に示される電源回路
部４が組み込み支持されている。
れたＤＩＮレールなどの支持レール２の前面に係脱自在
に装着される箱型のユニット状に構成されたものであ
り、そのケーシング３は、前向きに開口した奥行きのあ
る箱形に樹脂成形されたケース本体３ａと、その前面に
係合連結される樹脂製のフロントカバー３ｂとからな
り、このケーシング３の内部に図３に示される電源回路
部４が組み込み支持されている。
【００４９】前記ケーシング３の前面、つまり、フロン
トカバー３ｂの前壁における上下中間部位には、後ろ向
きに開口した浅い箱形に樹脂成形された補助ケース５が
係脱自在に係合連結されており、フロントカバー３ｂと
補助ケース５との間に形成された空間に、後述のように
して残存寿命などの演算を行う演算回路部６が、図２及
び図４に示されるように組み込み支持されている。
トカバー３ｂの前壁における上下中間部位には、後ろ向
きに開口した浅い箱形に樹脂成形された補助ケース５が
係脱自在に係合連結されており、フロントカバー３ｂと
補助ケース５との間に形成された空間に、後述のように
して残存寿命などの演算を行う演算回路部６が、図２及
び図４に示されるように組み込み支持されている。
【００５０】前記電源回路部４は、電源回路用の基板と
して、左右に面する主基板７とその前部に前後に面して
連結された前部基板８とを備えており、主基板７に電源
回路を構成する各種電子部品９が実装されるとととも
に、前部基板８に入出力用の端子台１０，１１などが装
着されている。なお、端子ネジは、図示省略している。
して、左右に面する主基板７とその前部に前後に面して
連結された前部基板８とを備えており、主基板７に電源
回路を構成する各種電子部品９が実装されるとととも
に、前部基板８に入出力用の端子台１０，１１などが装
着されている。なお、端子ネジは、図示省略している。
【００５１】前記演算回路部６は、演算回路用の基板と
して、フロントカバー３ｂの前面に平行に支持される補
助基板１２を備えており、この補助基板１２には、残存
寿命、電圧設定値、出力電圧現在値、出力電流現在値、
ピーク電流値などを表示して報知する報知手段としての
ＬＥＤ表示器１３、表示のモードを切換えるモード切換
えスイッチ１４、ＣＰＵ１５、などが実装されている。
そして、演算回路部６における補助基板１２の背面に装
備されたコネクタ１６ａと電源回路部４の前部基板８に
装備されたコネクタ１６ｂとが、フロントカバー３ｂに
形成した開口１７を通して接続され、電源回路部４と演
算回路部６とが電気的に接続されるようになっている。
して、フロントカバー３ｂの前面に平行に支持される補
助基板１２を備えており、この補助基板１２には、残存
寿命、電圧設定値、出力電圧現在値、出力電流現在値、
ピーク電流値などを表示して報知する報知手段としての
ＬＥＤ表示器１３、表示のモードを切換えるモード切換
えスイッチ１４、ＣＰＵ１５、などが実装されている。
そして、演算回路部６における補助基板１２の背面に装
備されたコネクタ１６ａと電源回路部４の前部基板８に
装備されたコネクタ１６ｂとが、フロントカバー３ｂに
形成した開口１７を通して接続され、電源回路部４と演
算回路部６とが電気的に接続されるようになっている。
【００５２】上記構成によると、ケーシング３の前壁で
あるフロントカバー３ｂが電源回部４と演算回路部６と
を隔絶する遮熱用の隔壁となり、電源回路部４からの熱
を有効に遮断する。
あるフロントカバー３ｂが電源回部４と演算回路部６と
を隔絶する遮熱用の隔壁となり、電源回路部４からの熱
を有効に遮断する。
【００５３】図５は、この実施の形態の電源装置１のブ
ロック図である。
ロック図である。
【００５４】電源回路部４は、交流入力を整流平滑する
入力整流回路３１と、ＦＥＴなどのスイッチング素子を
備えるスイッチング回路３２と、入力をスイッチング素
子のオンオフ動作に応じて所定の出力に変換するトラン
ス３３と、トランス３３からのは出力を整流する出力整
流回路３４とを備えており、かかる構成は、基本的に従
来例と同様である。
入力整流回路３１と、ＦＥＴなどのスイッチング素子を
備えるスイッチング回路３２と、入力をスイッチング素
子のオンオフ動作に応じて所定の出力に変換するトラン
ス３３と、トランス３３からのは出力を整流する出力整
流回路３４とを備えており、かかる構成は、基本的に従
来例と同様である。
【００５５】この実施の形態では、ＬＥＤ表示器１３
に、出力電圧値、出力電流値、ピーク電流値などを表示
するために、出力電圧検出回路３５、出力電流検出回路
３６および電流／電圧変換器３７を備えており、出力電
圧検出回路３５および電流／電圧変換器３７の出力が、
上述のコネクタ１６ａ，１６ｂなどを介して演算回路部
６に与えられる。演算回路部６は、図示しないオペアン
プ、Ａ／Ｄ変換器および上述のＣＰＵ１５などを備えて
いる。
に、出力電圧値、出力電流値、ピーク電流値などを表示
するために、出力電圧検出回路３５、出力電流検出回路
３６および電流／電圧変換器３７を備えており、出力電
圧検出回路３５および電流／電圧変換器３７の出力が、
上述のコネクタ１６ａ，１６ｂなどを介して演算回路部
６に与えられる。演算回路部６は、図示しないオペアン
プ、Ａ／Ｄ変換器および上述のＣＰＵ１５などを備えて
いる。
【００５６】また、この実施の形態では、当該電源装置
１の交換時期を把握できるようにするために、トランス
３３で絶縁された一次側の回路部品である図３に示され
る電解コンデンサ２４の残存寿命を、二次側の演算回路
部６で後述のようにアレニウスの法則に基づく演算式に
従って算出し、残存寿命をＬＥＤ表示器１３に表示する
ようにしている。
１の交換時期を把握できるようにするために、トランス
３３で絶縁された一次側の回路部品である図３に示され
る電解コンデンサ２４の残存寿命を、二次側の演算回路
部６で後述のようにアレニウスの法則に基づく演算式に
従って算出し、残存寿命をＬＥＤ表示器１３に表示する
ようにしている。
【００５７】アレニウスの法則に基づいて、電解コンデ
ンサ２４の寿命を演算するには、電解コンデンサ２４の
温度を検出する必要があり、精度の高い残存寿命の演算
を行うためには、電解コンデンサ２４の温度検出を高精
度で行う必要がある。
ンサ２４の寿命を演算するには、電解コンデンサ２４の
温度を検出する必要があり、精度の高い残存寿命の演算
を行うためには、電解コンデンサ２４の温度検出を高精
度で行う必要がある。
【００５８】この場合、電解コンデンサ２４は、一次側
の回路部品であり、この電解コンデンサ２４の温度を検
出する温度センサは、二次側の回路である演算回路部６
に接続されることになり、電解コンデンサ２４と温度セ
ンサとは確実に絶縁しておく必要がある。代表的な安全
規格であるＩＥＣ６０９５０によれば、１次−２次間の
絶縁には、空間距離で４ｍｍ、沿面距離で５ｍｍ、固体
絶縁で０．４ｍｍの距離を取る必要がある。これに対し
て、電解コンデンサ２４の温度を精度良く検出するため
には、電解コンデンサ２４に温度センサをできるだけ接
近させることが望ましい。
の回路部品であり、この電解コンデンサ２４の温度を検
出する温度センサは、二次側の回路である演算回路部６
に接続されることになり、電解コンデンサ２４と温度セ
ンサとは確実に絶縁しておく必要がある。代表的な安全
規格であるＩＥＣ６０９５０によれば、１次−２次間の
絶縁には、空間距離で４ｍｍ、沿面距離で５ｍｍ、固体
絶縁で０．４ｍｍの距離を取る必要がある。これに対し
て、電解コンデンサ２４の温度を精度良く検出するため
には、電解コンデンサ２４に温度センサをできるだけ接
近させることが望ましい。
【００５９】そこで、この実施の形態では、次のような
温度検出構造としている。
温度検出構造としている。
【００６０】すなわち、図６に示すように、電解コンデ
ンサ２４の温度を検出する温度センサ２２としては、小
形のセンサ基板２１に実装したサーミスタが利用されて
おり、この温度センサ２２とセンサ基板２１とを、絶縁
性の薄膜テープ２３で複数層巻き、この実施の形態で
は、厚さ０．０２５ｍｍのポリエステル薄膜テープで３
層巻きにし、これによって、薄膜絶縁規定に適合させて
いる。
ンサ２４の温度を検出する温度センサ２２としては、小
形のセンサ基板２１に実装したサーミスタが利用されて
おり、この温度センサ２２とセンサ基板２１とを、絶縁
性の薄膜テープ２３で複数層巻き、この実施の形態で
は、厚さ０．０２５ｍｍのポリエステル薄膜テープで３
層巻きにし、これによって、薄膜絶縁規定に適合させて
いる。
【００６１】さらに、薄膜テープ２３で絶縁被覆した温
度センサ２２とセンサ基板２１とを、電解コンデンサ２
４の外周面に当て付けた状態で熱収縮チューブ２５に入
れ、熱収縮チューブ２５を加熱収縮させることで温度セ
ンサ２２を薄い絶縁層を介して電解コンデンサ２４に密
着させている。熱収縮チューブ２５としては、例えば、
ポリオレフィン樹脂、フッ素系ポリマーあるいは熱可塑
性エラストマーを材質としたものを使用することができ
る。
度センサ２２とセンサ基板２１とを、電解コンデンサ２
４の外周面に当て付けた状態で熱収縮チューブ２５に入
れ、熱収縮チューブ２５を加熱収縮させることで温度セ
ンサ２２を薄い絶縁層を介して電解コンデンサ２４に密
着させている。熱収縮チューブ２５としては、例えば、
ポリオレフィン樹脂、フッ素系ポリマーあるいは熱可塑
性エラストマーを材質としたものを使用することができ
る。
【００６２】リード線２６は、２次回路部品であり、１
次回路部品である電解コンデンサ２４に接触するため、
先に記した絶縁距離が要求される。リード線の絶縁被覆
が厚くなると、電解コンデンサ２４との密着性が阻害さ
れるので、３層絶縁線を、ここでは使用している。
次回路部品である電解コンデンサ２４に接触するため、
先に記した絶縁距離が要求される。リード線の絶縁被覆
が厚くなると、電解コンデンサ２４との密着性が阻害さ
れるので、３層絶縁線を、ここでは使用している。
【００６３】このように、薄膜テープ２３で温度センサ
２２とセンサ基板２１とを絶縁被覆することで、所望の
絶縁性能、すなわち、薄膜絶縁規定に適合させながら電
解コンデンサ２４に温度センサ２２を極めて接近して配
備することができた。上述のように薄膜テープ２３の厚
さは、０．０２５ｍｍであるので、３層巻きした薄膜テ
ープ２３の厚さは０．０７５ｍｍであって、上述のＩＥ
Ｃ６０９５０で定められた固体絶縁での必要距離０．４
ｍｍに比較して各段に小さく、薄膜テープ２３による断
熱の影響は極めて少なくできる。
２２とセンサ基板２１とを絶縁被覆することで、所望の
絶縁性能、すなわち、薄膜絶縁規定に適合させながら電
解コンデンサ２４に温度センサ２２を極めて接近して配
備することができた。上述のように薄膜テープ２３の厚
さは、０．０２５ｍｍであるので、３層巻きした薄膜テ
ープ２３の厚さは０．０７５ｍｍであって、上述のＩＥ
Ｃ６０９５０で定められた固体絶縁での必要距離０．４
ｍｍに比較して各段に小さく、薄膜テープ２３による断
熱の影響は極めて少なくできる。
【００６４】そして、熱収縮チューブ２５を用いて電解
コンデンサ２４と温度センサ２２およびセンサ基板２１
とを一体化してあるので、電解コンデンサ２４と温度セ
ンサ２２との密着性が向上するとともに、熱収縮チュー
ブ２５の熱伝導によってチューブ内温度が均等化され、
電解コンデンサ温度とセンサ検出温度との差がほとんど
なくなる。また、熱収縮チューブ２５を介しての一体化
によって熱容量が同じになり、外気風などにより温度セ
ンサ２２だけが急峻に温度変動することが無くなる。
コンデンサ２４と温度センサ２２およびセンサ基板２１
とを一体化してあるので、電解コンデンサ２４と温度セ
ンサ２２との密着性が向上するとともに、熱収縮チュー
ブ２５の熱伝導によってチューブ内温度が均等化され、
電解コンデンサ温度とセンサ検出温度との差がほとんど
なくなる。また、熱収縮チューブ２５を介しての一体化
によって熱容量が同じになり、外気風などにより温度セ
ンサ２２だけが急峻に温度変動することが無くなる。
【００６５】なお、薄膜テープ２３の厚みや幅あるいは
熱収縮チューブ２５の長さあるいはリード線２６の引き
出し方向などは、図６に限らず、適宜選択してもよいの
は勿論である。
熱収縮チューブ２５の長さあるいはリード線２６の引き
出し方向などは、図６に限らず、適宜選択してもよいの
は勿論である。
【００６６】さらに、この実施の形態では、センサ基板
２１から導出したリード線２６を、図３に示されるよう
に、主基板７の上方を架け渡すようにして前部基板８に
接続し、温度センサ２２からの検出出力を、図５に示さ
れる温度／電圧変換器３８および前記コネクタ１６ａ，
１６ｂを介して演算回路部６に与えるように構成されて
いる。これによって、電解コンデンサ４を含む一次側の
回路部品が実装されている主基板７の配線パターンなど
を用いることなく、温度センサ２２の検出出力を、演算
回路部６に与えることができる。
２１から導出したリード線２６を、図３に示されるよう
に、主基板７の上方を架け渡すようにして前部基板８に
接続し、温度センサ２２からの検出出力を、図５に示さ
れる温度／電圧変換器３８および前記コネクタ１６ａ，
１６ｂを介して演算回路部６に与えるように構成されて
いる。これによって、電解コンデンサ４を含む一次側の
回路部品が実装されている主基板７の配線パターンなど
を用いることなく、温度センサ２２の検出出力を、演算
回路部６に与えることができる。
【００６７】次に、演算回路部６における電解コンデン
サ２４の残存寿命の算出について詳細に説明する。
サ２４の残存寿命の算出について詳細に説明する。
【００６８】上述のように電解コンデンサの寿命は、ア
レニウスの法則に基づく下記の演算式によって算出でき
ることが知られている。
レニウスの法則に基づく下記の演算式によって算出でき
ることが知られている。
【００６９】
Ｌｘ＝Ｌｏ×２(To-tx)/10×ｋ ……（１）
Ｌｘ：実使用時の推定寿命（時間）
Ｌｏ：最高使用温度における寿命（時間）
Ｔｏ：電解コンデンサの最高使用温度（°Ｃ）
ｔｘ：実使用温度（°Ｃ）
ｋ：寿命係数
この実施の形態では、先ず、所定温度、例えば、標準的
な使用条件で想定される電解コンデンサ２４の温度ｔ0
℃を決定し、その所定温度ｔ0℃における初期時点の総
残存寿命Ｌ0を上記（１）式によって算出する。
な使用条件で想定される電解コンデンサ２４の温度ｔ0
℃を決定し、その所定温度ｔ0℃における初期時点の総
残存寿命Ｌ0を上記（１）式によって算出する。
【００７０】すなわち、
Ｌ0＝Ｌｏ×２(To-t0)/10×ｋ
次に電源装置１の実際の使用（実使用）が開始される
と、一定時間ａ、例えば、１／６０時間（１分）が経過
する度に、アレニウスの法則に基づく演算式である次式
によって、所定温度ｔ0℃における残存寿命を算出す
る。
と、一定時間ａ、例えば、１／６０時間（１分）が経過
する度に、アレニウスの法則に基づく演算式である次式
によって、所定温度ｔ0℃における残存寿命を算出す
る。
【００７１】
Ｌn＝Ｌn-1−ａ×２(tx-t0)/10×ｋ ……（２）
ここで、ｎ＝１，２，３…であり、ｔｘは、予め定めた
一定時間ａにおいて、温度センサ２２によって検出され
た温度の平均温度（℃）である。
一定時間ａにおいて、温度センサ２２によって検出され
た温度の平均温度（℃）である。
【００７２】この（２）式に示されるように、一定時間
ａが経過する度に、算出される残存寿命Ｌnは、前回算
出された残存寿命Ｌn-1よりも小さくなり、残存寿命
は、次第に減少していく。
ａが経過する度に、算出される残存寿命Ｌnは、前回算
出された残存寿命Ｌn-1よりも小さくなり、残存寿命
は、次第に減少していく。
【００７３】この（２）式において、右辺の第２項、す
なわち、ａ×２(tx-t0)/10×ｋは、検出された実使用温
度ｔｘにおける一定時間ａの経過を、所定温度ｔ0にお
ける経過時間に換算するものである。例えば、検出され
た実使用温度ｔｘが所定温度ｔ0に等しいときには、前
記第２項は、寿命係数ｋを無視すると、ａとなり、実使
用における経過時間ａに一致し、また、検出された実使
用温度ｔｘが所定温度ｔ0よりも１０℃高いときには、
２ａとなり、実使用温度における経過時間ａの２倍とな
り、また、検出された実使用温度ｔｘが所定温度ｔ0よ
りも１０℃低いときには、ａ／２となり、実使用温度に
おける経過時間ａの１／２となる。
なわち、ａ×２(tx-t0)/10×ｋは、検出された実使用温
度ｔｘにおける一定時間ａの経過を、所定温度ｔ0にお
ける経過時間に換算するものである。例えば、検出され
た実使用温度ｔｘが所定温度ｔ0に等しいときには、前
記第２項は、寿命係数ｋを無視すると、ａとなり、実使
用における経過時間ａに一致し、また、検出された実使
用温度ｔｘが所定温度ｔ0よりも１０℃高いときには、
２ａとなり、実使用温度における経過時間ａの２倍とな
り、また、検出された実使用温度ｔｘが所定温度ｔ0よ
りも１０℃低いときには、ａ／２となり、実使用温度に
おける経過時間ａの１／２となる。
【００７４】このようにして、一定時間ａ毎に、その間
に検出された実使用温度ｔｘを用いてアレニウスの法則
に基づき、所定温度ｔ0における経過時間に換算し、そ
れを前回の残存寿命Ｌn-1から減算し、今回の所定温度
ｔ0における残存寿命Ｌnとするものである。
に検出された実使用温度ｔｘを用いてアレニウスの法則
に基づき、所定温度ｔ0における経過時間に換算し、そ
れを前回の残存寿命Ｌn-1から減算し、今回の所定温度
ｔ0における残存寿命Ｌnとするものである。
【００７５】したがって、算出される所定温度ｔ0にお
ける残存寿命Ｌnは、それまでの実使用における温度ｔ
ｘおよび寿命係数ｋを含む過去の履歴全体に基づくもの
となり、過渡的な温度変動の影響が少なく、精度の高い
残存寿命の予測が可能となる。
ける残存寿命Ｌnは、それまでの実使用における温度ｔ
ｘおよび寿命係数ｋを含む過去の履歴全体に基づくもの
となり、過渡的な温度変動の影響が少なく、精度の高い
残存寿命の予測が可能となる。
【００７６】このようして算出される所定温度ｔ0にお
ける残存寿命Ｌnを、次のようにして実使用における残
存寿命に変換している。
ける残存寿命Ｌnを、次のようにして実使用における残
存寿命に変換している。
【００７７】図７は、この変換の説明に供するための図
である。同図において、縦軸は、所定温度ｔ0における
残存寿命を示すものであり、初期時点における総残存寿
命（総寿命）Ｌ0と、或る時点における残存寿命Ｌｎと
を示している。また、横軸は、実使用における残存寿命
に対応するものであり、前記或る時点までの実使用にお
ける経過時間Ｘｎと、寿命に達するまでの実使用におけ
る経過時間Ｘｘとを示している。
である。同図において、縦軸は、所定温度ｔ0における
残存寿命を示すものであり、初期時点における総残存寿
命（総寿命）Ｌ0と、或る時点における残存寿命Ｌｎと
を示している。また、横軸は、実使用における残存寿命
に対応するものであり、前記或る時点までの実使用にお
ける経過時間Ｘｎと、寿命に達するまでの実使用におけ
る経過時間Ｘｘとを示している。
【００７８】上述のように、一定時間ａが経過する度
に、所定温度ｔ0における残存寿命Ｌnが算出される一
方、稼動開始からの経過時間もａ時間毎に積算されてお
り、図７においては、残存寿命Ｌnが算出された或る時
点までに稼動を開始してからＸｎ時間が経過しているこ
とを示している。
に、所定温度ｔ0における残存寿命Ｌnが算出される一
方、稼動開始からの経過時間もａ時間毎に積算されてお
り、図７においては、残存寿命Ｌnが算出された或る時
点までに稼動を開始してからＸｎ時間が経過しているこ
とを示している。
【００７９】この実施の形態では、所定温度ｔ0におけ
る残存寿命と実使用における残存寿命とは、ほぼ比例す
ることを利用して、縦軸の初期時点の総残存寿命Ｌ0の
点Ａと、或る時点における残存寿命Ｌｎと前記或る時点
までの実使用における経過時間Ｘｎとの交点Ｂとを結ぶ
直線が、横軸と交わる点を、寿命に達するまでの経過時
間Ｘｘとするものである。
る残存寿命と実使用における残存寿命とは、ほぼ比例す
ることを利用して、縦軸の初期時点の総残存寿命Ｌ0の
点Ａと、或る時点における残存寿命Ｌｎと前記或る時点
までの実使用における経過時間Ｘｎとの交点Ｂとを結ぶ
直線が、横軸と交わる点を、寿命に達するまでの経過時
間Ｘｘとするものである。
【００８０】したがって、前記或る時点ｎにおける残存
寿命Ｌｒｅｓｔは、 Ｌｒｅｓｔ＝Ｘｘ−Ｘｎ＝｛Ｌn/(Ｌ0−Ｌn）｝×Ｘｎ ……（３） で演算できることになる。
寿命Ｌｒｅｓｔは、 Ｌｒｅｓｔ＝Ｘｘ−Ｘｎ＝｛Ｌn/(Ｌ0−Ｌn）｝×Ｘｎ ……（３） で演算できることになる。
【００８１】つまり、初期時点の総残存寿命Ｌ0と、一
定時間ａが経過する度に、算出される所定温度ｔ0にお
ける残存寿命Ｌnと、その時点までの稼動開始からの経
過時間Ｘｎとから実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔが
算出されることになる。
定時間ａが経過する度に、算出される所定温度ｔ0にお
ける残存寿命Ｌnと、その時点までの稼動開始からの経
過時間Ｘｎとから実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔが
算出されることになる。
【００８２】但し、稼動開始の初期には、直線の傾きが
大きく変動する虞れがあるので、Ｘｘが予め定めたＸｍ
ａｘ以上（Ｘｘ≧Ｘｍａｘ）になるときには、Ｘｘ＝Ｘ
ｍａｘとしている。
大きく変動する虞れがあるので、Ｘｘが予め定めたＸｍ
ａｘ以上（Ｘｘ≧Ｘｍａｘ）になるときには、Ｘｘ＝Ｘ
ｍａｘとしている。
【００８３】以上のようにして算出される実使用におけ
る残存寿命Ｌｒｅｓｔは、何年、何ヶ月、何日あるいは
何時間といった数値で表示してもよいが、電解コンデン
サの寿命は、一般には、数年から十数年にもなる。した
がって、残存寿命Ｌｒｅｓｔを、稼動開始当初から数値
表示させても寿命到達まで時間があり過ぎるために有効
利用し辛い。また、稼動開始からの経過時間Ｘｎが小さ
ければ、小さいほど上述の直線の傾きの変動が大きくな
るために、算出される実使用における残存寿命Ｌｒｅｓ
ｔも変動が大きくなる。
る残存寿命Ｌｒｅｓｔは、何年、何ヶ月、何日あるいは
何時間といった数値で表示してもよいが、電解コンデン
サの寿命は、一般には、数年から十数年にもなる。した
がって、残存寿命Ｌｒｅｓｔを、稼動開始当初から数値
表示させても寿命到達まで時間があり過ぎるために有効
利用し辛い。また、稼動開始からの経過時間Ｘｎが小さ
ければ、小さいほど上述の直線の傾きの変動が大きくな
るために、算出される実使用における残存寿命Ｌｒｅｓ
ｔも変動が大きくなる。
【００８４】そこで、この実施の形態では、算出される
実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔを次のようにして表
示している。
実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔを次のようにして表
示している。
【００８５】すなわち、図８は、電解コンデンサの残存
寿命を表示する場合の表示タイミングの切換えが模擬的
に示したものである。
寿命を表示する場合の表示タイミングの切換えが模擬的
に示したものである。
【００８６】電解コンデンサの寿命は、初期容量から２
０〜３０％減少した時点と規定されているので、算出さ
れる実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔが一定値（この
例では２年）以下になった時点から年数値表示とし、初
期値から年数値表示に変わるまでの期間を等分して、
「ＦＵＬＬ」，「ＨＡＬＦ」などのキャラクタ表示をＬ
ＥＤ表示器１３で行わせるものである。具体的には、Ｌ
ＥＤ表示器１３では、「ＦＵＬ」、「ＨＡＦ」といった
キャラクタ表示あるいは「２．０ｙ」といった年数値表
示を行う。
０〜３０％減少した時点と規定されているので、算出さ
れる実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔが一定値（この
例では２年）以下になった時点から年数値表示とし、初
期値から年数値表示に変わるまでの期間を等分して、
「ＦＵＬＬ」，「ＨＡＬＦ」などのキャラクタ表示をＬ
ＥＤ表示器１３で行わせるものである。具体的には、Ｌ
ＥＤ表示器１３では、「ＦＵＬ」、「ＨＡＦ」といった
キャラクタ表示あるいは「２．０ｙ」といった年数値表
示を行う。
【００８７】また、この実施の形態では、設備の変更等
により、温度や負荷などの使用条件が大きく変化して上
述の図７の直線の傾きが途中で大きく変化した場合に、
その変化に対応して精度の高い残存寿命の予測を行える
ように次のようにしている。
により、温度や負荷などの使用条件が大きく変化して上
述の図７の直線の傾きが途中で大きく変化した場合に、
その変化に対応して精度の高い残存寿命の予測を行える
ように次のようにしている。
【００８８】図９は、上述の図７に対応する図であり、
各時点の横軸の実使用における経過時間をＸ座標で、縦
軸の所定温度における残存寿命をＹ座標で示している。
各時点の横軸の実使用における経過時間をＸ座標で、縦
軸の所定温度における残存寿命をＹ座標で示している。
【００８９】稼動開始からＸ１時間経過したＣ時点（Ｘ
１，Ｙ２）での実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔは、
破線で示されるように寿命限界で制限されるので、Ｘ１
０−Ｘ１となる。ここで、Ｘ１０は、上述のＸｍａｘに
対応するものであり、電解コンデンサの物性面からの寿
命限界である。Ｃ時点（Ｘ１，Ｙ２）以降に、実使用温
度ｔｘが大きくなって傾きが変わったＤ時点（Ｘ２，Ｙ
３）での残存寿命Ｌｒｅｓｔは、１点鎖線で示されるよ
うにＸ９−Ｘ２となる。本来、真の残存寿命Ｌｒｅｓｔ
は、新しい傾きの実線で示される直線の横軸との交点
（ｘ６，０）のＸ６−Ｘ２となるはずである。
１，Ｙ２）での実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔは、
破線で示されるように寿命限界で制限されるので、Ｘ１
０−Ｘ１となる。ここで、Ｘ１０は、上述のＸｍａｘに
対応するものであり、電解コンデンサの物性面からの寿
命限界である。Ｃ時点（Ｘ１，Ｙ２）以降に、実使用温
度ｔｘが大きくなって傾きが変わったＤ時点（Ｘ２，Ｙ
３）での残存寿命Ｌｒｅｓｔは、１点鎖線で示されるよ
うにＸ９−Ｘ２となる。本来、真の残存寿命Ｌｒｅｓｔ
は、新しい傾きの実線で示される直線の横軸との交点
（ｘ６，０）のＸ６−Ｘ２となるはずである。
【００９０】上述の（３）式は、稼動開始からｎ時点ま
での経過時間Ｘｎにおける直線の傾きが一定であると仮
定して、初期時点の総残存寿命Ｌ0の点を基準として演
算している。このため、途中で傾きが変化した場合に
は、誤差が生じてしまう。しかし、この誤差は、時間の
経過とともに、補正されて解消される。例えば、Ｅ時点
（Ｘ３，Ｙ４）における残存寿命Ｌｒｅｓｔは、２点鎖
線で示されるようにＸ８−Ｘ３となり、また、Ｆ時点
（Ｘ４，Ｙ５）における残存寿命Ｌｒｅｓｔは、細い実
線で示されるようにＸ７−Ｘ４となり、真の残存寿命Ｌ
ｒｅｓｔとの誤差は、小さく補正されていき、Ｌｒｅｓ
ｔ≒０となるＨ時点（ｘ６，０）近傍では、その誤差は
解消される。
での経過時間Ｘｎにおける直線の傾きが一定であると仮
定して、初期時点の総残存寿命Ｌ0の点を基準として演
算している。このため、途中で傾きが変化した場合に
は、誤差が生じてしまう。しかし、この誤差は、時間の
経過とともに、補正されて解消される。例えば、Ｅ時点
（Ｘ３，Ｙ４）における残存寿命Ｌｒｅｓｔは、２点鎖
線で示されるようにＸ８−Ｘ３となり、また、Ｆ時点
（Ｘ４，Ｙ５）における残存寿命Ｌｒｅｓｔは、細い実
線で示されるようにＸ７−Ｘ４となり、真の残存寿命Ｌ
ｒｅｓｔとの誤差は、小さく補正されていき、Ｌｒｅｓ
ｔ≒０となるＨ時点（ｘ６，０）近傍では、その誤差は
解消される。
【００９１】一方、傾きが変わったＣ（Ｘ１，Ｙ２）時
点において、Ｘ１＝０、Ｌ０＝Ｙ２に置き換えてリセッ
トすれば、基準としていた初期時点の総残存寿命Ｌ0の
点（０，Ｌ0）が、Ｃ時点（Ｘ１，Ｙ２）に置き換えら
れることになり、これによって、誤差が生じるのを防ぐ
ことができる。
点において、Ｘ１＝０、Ｌ０＝Ｙ２に置き換えてリセッ
トすれば、基準としていた初期時点の総残存寿命Ｌ0の
点（０，Ｌ0）が、Ｃ時点（Ｘ１，Ｙ２）に置き換えら
れることになり、これによって、誤差が生じるのを防ぐ
ことができる。
【００９２】そこで、この実施の形態では、設備の変更
等により、温度や負荷などの使用条件が大きく変化した
ときには、その時点で、スイッチや外部信号によってリ
セットを行い、基準点を置き換えて誤差のない残存寿命
を表示するようにしている。
等により、温度や負荷などの使用条件が大きく変化した
ときには、その時点で、スイッチや外部信号によってリ
セットを行い、基準点を置き換えて誤差のない残存寿命
を表示するようにしている。
【００９３】また、この実施の形態では、初期時点にお
ける総残存寿命Ｌ0に対して、現在の寿命がどの程度減
少しているか、すなわち、劣化しているかを次式で算出
して劣化度Ｅ（％）として表示することもできる。
ける総残存寿命Ｌ0に対して、現在の寿命がどの程度減
少しているか、すなわち、劣化しているかを次式で算出
して劣化度Ｅ（％）として表示することもできる。
【００９４】Ｅ＝（Ｌn/Ｌ0）×１００
実使用の温度ｔｘが高い場合と低い場合とでは、図７に
示される直線の傾きが異なるので、残存寿命Ｌｒｅｓｔ
が同じであっても、劣化度Ｅは、異なることになる。し
たがって、一定の残りマージンを基準にして交換時期を
決定したい場合には、この劣化度による表示が有効であ
る。
示される直線の傾きが異なるので、残存寿命Ｌｒｅｓｔ
が同じであっても、劣化度Ｅは、異なることになる。し
たがって、一定の残りマージンを基準にして交換時期を
決定したい場合には、この劣化度による表示が有効であ
る。
【００９５】（その他の実施の形態）上述の実施の形態
では、予め定めた一定時間毎に残存寿命を算出したけれ
ども、本発明の他の実施の形態として、操作などに応答
して残存寿命を演算して表示するようにしてもよい。
では、予め定めた一定時間毎に残存寿命を算出したけれ
ども、本発明の他の実施の形態として、操作などに応答
して残存寿命を演算して表示するようにしてもよい。
【００９６】上述の実施の形態では、２点を結ぶ直線の
横軸との交点を、寿命に到達するまでの経過時間Ｘｘと
したけれども、２点に限らず、３点以上の点を用いて最
小二乗法などによって直線を求めてよい。
横軸との交点を、寿命に到達するまでの経過時間Ｘｘと
したけれども、２点に限らず、３点以上の点を用いて最
小二乗法などによって直線を求めてよい。
【００９７】
【発明の効果】以上のように本発明によれは、アレニウ
スの法則に基づく演算式に従って、所定温度における残
存寿命を算出し、それを実使用における残存寿命に変換
して報知するので、この残存寿命から交換時期を把握し
てメンテナンス計画を立てることができ、寿命の到達を
報知する従来のように、突然の寿命到達によって設備の
ラインを停止するような事態を未然に回避することがで
き、特に、コンデンサを備える電源装置などの各種電子
機器の交換時期の把握に有効である。
スの法則に基づく演算式に従って、所定温度における残
存寿命を算出し、それを実使用における残存寿命に変換
して報知するので、この残存寿命から交換時期を把握し
てメンテナンス計画を立てることができ、寿命の到達を
報知する従来のように、突然の寿命到達によって設備の
ラインを停止するような事態を未然に回避することがで
き、特に、コンデンサを備える電源装置などの各種電子
機器の交換時期の把握に有効である。
【００９８】また、本発明によれば、薄い絶縁テープを
温度センサに巻回して絶縁を確保しながら温度センサを
コンデンサに密着して配置でき、精度の高い温度検出が
可能となり、熱収縮チューブで温度センサと電解コンデ
ンサとを一体化することにより、外気風などによって温
度センサだけが急峻に温度変動するようなことがなく、
精度の高い温度検出、したがって、精度の高い残存寿命
の算出が可能になる。
温度センサに巻回して絶縁を確保しながら温度センサを
コンデンサに密着して配置でき、精度の高い温度検出が
可能となり、熱収縮チューブで温度センサと電解コンデ
ンサとを一体化することにより、外気風などによって温
度センサだけが急峻に温度変動するようなことがなく、
精度の高い温度検出、したがって、精度の高い残存寿命
の算出が可能になる。
【図１】本発明の一つの実施の形態に係る電源装置の全
体斜視図である。
体斜視図である。
【図２】図１の電源装置の分解斜視図である。
【図３】図１の電源装置の分解斜視図である。
【図４】図１の電源装置の一部を横断した平面図であ
る。
る。
【図５】電源装置の概略構成を示すブロック図である。
【図６】電解コンデンサの温度検出構造を示す説明図で
ある。
ある。
【図７】残存寿命の算出を説明するための図である。
【図８】表示タイミングの切換えを模擬的に示す説明図
である。
である。
【図９】リセット機能を説明するための図である。
４ 電源回路部
６ 演算回路部
１３ ＬＥＤ表示器
２１ センサ基板
２２ 温度センサ
２３ 絶縁テープ
２４ 電解コンデンサ
２５ 熱収縮チューブ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１４年１２月２７日（２００２．１２．
２７）
２７）
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００３
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００３】電解コンデンサの寿命は、温度と寿命との
関係を示す温度−寿命法則であるアレニウスの法則に基
づく下記の演算式によって算出できることが知られてい
る。
関係を示す温度−寿命法則であるアレニウスの法則に基
づく下記の演算式によって算出できることが知られてい
る。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１３】すなわち、本発明の残存寿命予測方法は、
対象物の残存寿命を予測する方法であって、温度−寿命
法則に基づく演算式に従って、所定温度における残存寿
命を算出する算出ステップと、算出した残存寿命を、実
使用における残存寿命に変換する変換ステップとを備え
ている。
対象物の残存寿命を予測する方法であって、温度−寿命
法則に基づく演算式に従って、所定温度における残存寿
命を算出する算出ステップと、算出した残存寿命を、実
使用における残存寿命に変換する変換ステップとを備え
ている。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１４】本発明によると、温度−寿命法則に基づく
演算式に従って、所定温度における残存寿命を算出し、
それを実使用における残存寿命に変換することによっ
て、実使用における残存寿命を予測できることになり、
この残存寿命から交換時期を把握してメンテナンス計画
を立てることができる。
演算式に従って、所定温度における残存寿命を算出し、
それを実使用における残存寿命に変換することによっ
て、実使用における残存寿命を予測できることになり、
この残存寿命から交換時期を把握してメンテナンス計画
を立てることができる。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１８】本発明の他の実施態様においては、前記算
出ステップでは、実使用時の温度を用いて温度−寿命法
則に基づいて前記換算を行い、前記変換ステップでは、
前記所定温度における初期時点の総残存寿命を基準と
し、前記所定温度における他の時点の残存寿命と、前記
他の時点に対応する実使用における経過時間とに基づい
て、実使用における残存寿命に変換するものである。
出ステップでは、実使用時の温度を用いて温度−寿命法
則に基づいて前記換算を行い、前記変換ステップでは、
前記所定温度における初期時点の総残存寿命を基準と
し、前記所定温度における他の時点の残存寿命と、前記
他の時点に対応する実使用における経過時間とに基づい
て、実使用における残存寿命に変換するものである。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１９】本発明によると、予め定めた時間が経過す
ると、その経過時間を、実際の使用時の温度を用いて温
度−時間法則に基づいて所定の温度における経過時間に
換算するので、実際の使用時の温度が所定温度から変化
しても正しく換算され、また、換算した経過時間を、所
定温度における残存寿命から減算するので、算出される
所定温度における残存寿命は、それまでの実使用温度を
含む過去の履歴に基づくものとなり、残存寿命を精度よ
く予測できる。さらに、所定温度における初期時点の総
残存寿命を基準として変換するので、実際の使用が開始
された後の時点における残存寿命を基準とする場合に比
べて、過渡的な温度変動の影響が少なく精度の高い実使
用における残存寿命に変換できる。
ると、その経過時間を、実際の使用時の温度を用いて温
度−時間法則に基づいて所定の温度における経過時間に
換算するので、実際の使用時の温度が所定温度から変化
しても正しく換算され、また、換算した経過時間を、所
定温度における残存寿命から減算するので、算出される
所定温度における残存寿命は、それまでの実使用温度を
含む過去の履歴に基づくものとなり、残存寿命を精度よ
く予測できる。さらに、所定温度における初期時点の総
残存寿命を基準として変換するので、実際の使用が開始
された後の時点における残存寿命を基準とする場合に比
べて、過渡的な温度変動の影響が少なく精度の高い実使
用における残存寿命に変換できる。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２８】本発明の電子機器は、コンデンサを備える
電子機器であって、前記コンデンサの温度を検出する温
度センサと、前記温度センサからの検出温度を用いて、
前記コンデンサの残存寿命を演算する演算手段と、演算
された残存寿命を報知する報知手段とを備え、前記演算
手段は、コンデンサ温度−寿命法則に基づく演算式に従
って、所定温度における残存寿命を算出する算出部を備
えるものである。
電子機器であって、前記コンデンサの温度を検出する温
度センサと、前記温度センサからの検出温度を用いて、
前記コンデンサの残存寿命を演算する演算手段と、演算
された残存寿命を報知する報知手段とを備え、前記演算
手段は、コンデンサ温度−寿命法則に基づく演算式に従
って、所定温度における残存寿命を算出する算出部を備
えるものである。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２９】本発明によると、コンデンサの温度を検出
する温度センサからの検出温度を用いて、コンデンサ温
度−寿命法則に基づく演算式に従って、所定温度におけ
る残存寿命を算出するので、所定温度における残存寿命
と実使用における残存寿命とがほぼ比例関係にあること
から、前記所定温度における初期時点の総残存寿命と、
前記演算式に従って算出された残存寿命との比率を、実
使用における前記比率とみなすことができ、例えば、残
存寿命が、総寿命（総残存寿命）の何％であるといった
報知を行うことができ、これに基づいて、交換時期を把
握してメンテナンス計画を立てることができる。
する温度センサからの検出温度を用いて、コンデンサ温
度−寿命法則に基づく演算式に従って、所定温度におけ
る残存寿命を算出するので、所定温度における残存寿命
と実使用における残存寿命とがほぼ比例関係にあること
から、前記所定温度における初期時点の総残存寿命と、
前記演算式に従って算出された残存寿命との比率を、実
使用における前記比率とみなすことができ、例えば、残
存寿命が、総寿命（総残存寿命）の何％であるといった
報知を行うことができ、これに基づいて、交換時期を把
握してメンテナンス計画を立てることができる。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３１】本発明によると、コンデンサ温度−寿命法
則に基づく演算式に従って、所定温度における残存寿命
を算出し、それを実使用における残存寿命に変換して報
知手段で表示するので、この残存寿命から交換時期を把
握してメンテナンス計画を立てることができる。
則に基づく演算式に従って、所定温度における残存寿命
を算出し、それを実使用における残存寿命に変換して報
知手段で表示するので、この残存寿命から交換時期を把
握してメンテナンス計画を立てることができる。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３４】本発明の好ましい実施態様においては、前
記算出部は、前記温度センサからの検出温度を用いてコ
ンデンサ温度−寿命法則に基づいて前記換算を行うもの
であり、前記変換部は、前記所定温度における初期時点
の総残存寿命を基準とし、前記所定温度における他の時
点の残存寿命と、前記他の時点に対応する実使用におけ
る経過時間とに基づいて、実使用における残存寿命に変
換するものである。
記算出部は、前記温度センサからの検出温度を用いてコ
ンデンサ温度−寿命法則に基づいて前記換算を行うもの
であり、前記変換部は、前記所定温度における初期時点
の総残存寿命を基準とし、前記所定温度における他の時
点の残存寿命と、前記他の時点に対応する実使用におけ
る経過時間とに基づいて、実使用における残存寿命に変
換するものである。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３５】本発明によると、予め定めた時間が経過す
ると、その経過時間を、実際の使用時の温度を用いてコ
ンデンサ温度−寿命法則に基づいて所定の温度における
経過時間に換算するので、実際の使用時の温度が所定温
度から変化しても正しく換算され、また、換算した経過
時間を、所定温度における残存寿命から減算するので、
算出される所定温度における残存寿命は、それまでの実
使用温度を含む過去の履歴に基づくものとなり、残存寿
命を精度よく予測できる。さらに、所定温度における初
期時点の総残存寿命を基準として変換するので、実際の
使用が開始された後の時点における残存寿命を基準とす
る場合に比べて、過渡的な温度変動の影響が少なく精度
の高い実使用における残存寿命に変換できる。
ると、その経過時間を、実際の使用時の温度を用いてコ
ンデンサ温度−寿命法則に基づいて所定の温度における
経過時間に換算するので、実際の使用時の温度が所定温
度から変化しても正しく換算され、また、換算した経過
時間を、所定温度における残存寿命から減算するので、
算出される所定温度における残存寿命は、それまでの実
使用温度を含む過去の履歴に基づくものとなり、残存寿
命を精度よく予測できる。さらに、所定温度における初
期時点の総残存寿命を基準として変換するので、実際の
使用が開始された後の時点における残存寿命を基準とす
る場合に比べて、過渡的な温度変動の影響が少なく精度
の高い実使用における残存寿命に変換できる。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９７
【補正方法】変更
【補正内容】
【００９７】
【発明の効果】以上のように本発明によれは、温度−寿
命法則に基づく演算式に従って、所定温度における残存
寿命を算出し、それを実使用における残存寿命に変換し
て報知するので、この残存寿命から交換時期を把握して
メンテナンス計画を立てることができ、寿命の到達を報
知する従来のように、突然の寿命到達によって設備のラ
インを停止するような事態を未然に回避することがで
き、特に、コンデンサを備える電源装置などの各種電子
機器の交換時期の把握に有効である。
命法則に基づく演算式に従って、所定温度における残存
寿命を算出し、それを実使用における残存寿命に変換し
て報知するので、この残存寿命から交換時期を把握して
メンテナンス計画を立てることができ、寿命の到達を報
知する従来のように、突然の寿命到達によって設備のラ
インを停止するような事態を未然に回避することがで
き、特に、コンデンサを備える電源装置などの各種電子
機器の交換時期の把握に有効である。
【手続補正書】
【提出日】平成１５年４月２１日（２００３．４．２
１）
１）
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明細書
【発明の名称】 残存寿命予測報知方法、温度検出構
造および電子機器
造および電子機器
【特許請求の範囲】
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンデンサなどの
残存寿命を予測して報知する方法、それに好適な温度検
出構造およびコンデンサを備える電源装置などの各種の
電子機器に関する。
残存寿命を予測して報知する方法、それに好適な温度検
出構造およびコンデンサを備える電源装置などの各種の
電子機器に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の電子機器、例えば、電源装置に
おいては、それに使用される回路部品の中で寿命が最も
短い電解コンデンサの寿命を予測して当該電源装置の寿
命としている。
おいては、それに使用される回路部品の中で寿命が最も
短い電解コンデンサの寿命を予測して当該電源装置の寿
命としている。
【０００３】電解コンデンサの寿命は、温度と寿命との
関係を示す温度−寿命法則であるアレニウスの法則に基
づく下記の演算式によって算出できることが知られてい
る。
関係を示す温度−寿命法則であるアレニウスの法則に基
づく下記の演算式によって算出できることが知られてい
る。
【０００４】Ｌｘ＝Ｌｏ×２(To-tx)/10×ｋ
Ｌｘ：実使用時の推定寿命（時間）
Ｌｏ：最高使用温度における寿命（時間）
Ｔｏ：電解コンデンサの最高使用温度（°Ｃ）
ｔｘ：実使用温度（°Ｃ）
ｋ：寿命係数
なお、寿命係数ｋは、コンデンサメーカによって各種の
式が提案されており、印加電圧、リプル電流、周囲温度
等による換算係数である。
式が提案されており、印加電圧、リプル電流、周囲温度
等による換算係数である。
【０００５】従来から、かかる演算式に基づく寿命予測
についての種々の提案が為されている。
についての種々の提案が為されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来例
では、アレニウスの法則に基づく演算式で推定寿命を算
出し、この推定寿命から実際の稼動時間より換算された
値を減算し、予め定めた閾値に達したときに、寿命であ
ると判定して警報を出力するといったものであって、実
使用における残存寿命を報知できるようにしたものでは
ない。
では、アレニウスの法則に基づく演算式で推定寿命を算
出し、この推定寿命から実際の稼動時間より換算された
値を減算し、予め定めた閾値に達したときに、寿命であ
ると判定して警報を出力するといったものであって、実
使用における残存寿命を報知できるようにしたものでは
ない。
【０００７】一般に、各種の生産設備などに利用されて
いる電子機器の交換は、生産業務などに支障をきたさな
いように年間スケジュールに組み込まれている。従っ
て、或る日突然に寿命到達の警報出力や表示が出るとい
った従来例では、使い勝手が悪く、寿命到達の警報出力
や表示が、定期メンテナンス時期以外に出された場合に
は、機器交換のためにライン停止を行わねばならなくな
るといった難点がある。
いる電子機器の交換は、生産業務などに支障をきたさな
いように年間スケジュールに組み込まれている。従っ
て、或る日突然に寿命到達の警報出力や表示が出るとい
った従来例では、使い勝手が悪く、寿命到達の警報出力
や表示が、定期メンテナンス時期以外に出された場合に
は、機器交換のためにライン停止を行わねばならなくな
るといった難点がある。
【０００８】したがって、実使用における残存寿命、す
なわち、稼動が可能な残り時間を、予測できるようにす
ること望まれる。
なわち、稼動が可能な残り時間を、予測できるようにす
ること望まれる。
【０００９】また、アレニウスの法則に基づく寿命の予
測を精度よく行おうとすると、上述の演算式から明らか
なように、電解コンデンサの実使用温度（ｔｘ）を正確
に検出する必要がある。電解コンデンサの実使用温度を
検出するために、温度センサが設置されるのであるが、
その周囲の空気の対流などの影響を受けるために、電解
コンデンサの正確な温度検出を行うのは容易でない。
測を精度よく行おうとすると、上述の演算式から明らか
なように、電解コンデンサの実使用温度（ｔｘ）を正確
に検出する必要がある。電解コンデンサの実使用温度を
検出するために、温度センサが設置されるのであるが、
その周囲の空気の対流などの影響を受けるために、電解
コンデンサの正確な温度検出を行うのは容易でない。
【００１０】特に、電源装置においては、トランスによ
って、一次側回路と二次側回路とが絶縁されており、寿
命予知の対象となる電解コンデンサが一次側回路である
のに対して、温度センサからの検出温度に基づいて、寿
命を演算する低電圧駆動のマイコンなどの演算回路は、
二次側回路となるのが一般的である。したがって、電解
コンデンサと温度センサとの絶縁をとりつつ、電解コン
デンサの温度を正確に検出するのは、一層困難である。
って、一次側回路と二次側回路とが絶縁されており、寿
命予知の対象となる電解コンデンサが一次側回路である
のに対して、温度センサからの検出温度に基づいて、寿
命を演算する低電圧駆動のマイコンなどの演算回路は、
二次側回路となるのが一般的である。したがって、電解
コンデンサと温度センサとの絶縁をとりつつ、電解コン
デンサの温度を正確に検出するのは、一層困難である。
【００１１】本発明は、このような実情に着目してなさ
れたものであって、実使用における残存寿命を予測して
報知できるようすることを主たる目的とし、さらに、そ
の予測精度を高めるのに好適な温度検出構造および残存
寿命を報知できるようした電子機器を提供することを目
的とする。
れたものであって、実使用における残存寿命を予測して
報知できるようすることを主たる目的とし、さらに、そ
の予測精度を高めるのに好適な温度検出構造および残存
寿命を報知できるようした電子機器を提供することを目
的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明では、上記目的を
達成するために、次のように構成している。
達成するために、次のように構成している。
【００１３】すなわち、本発明の残存寿命予測報知方法
は、対象物の残存寿命を予測して報知する方法であっ
て、温度−寿命法則に基づく演算式に従って、所定温度
における残存寿命を算出する算出ステップと、算出した
残存寿命を、実使用における残存寿命に変換する変換ス
テップと、変換した実使用における残存寿命を、寿命残
り期間として報知する報知ステップとを備えている。
は、対象物の残存寿命を予測して報知する方法であっ
て、温度−寿命法則に基づく演算式に従って、所定温度
における残存寿命を算出する算出ステップと、算出した
残存寿命を、実使用における残存寿命に変換する変換ス
テップと、変換した実使用における残存寿命を、寿命残
り期間として報知する報知ステップとを備えている。
【００１４】本発明によると、温度−寿命法則に基づく
演算式に従って、所定温度における残存寿命を算出し、
それを実使用における残存寿命に変換し、変換した実使
用における残存寿命を、寿命残り期間として報知するの
で、実使用における寿命の残り期間を把握することがで
き、この残り期間から交換時期を把握してメンテナンス
計画を立てることができる。
演算式に従って、所定温度における残存寿命を算出し、
それを実使用における残存寿命に変換し、変換した実使
用における残存寿命を、寿命残り期間として報知するの
で、実使用における寿命の残り期間を把握することがで
き、この残り期間から交換時期を把握してメンテナンス
計画を立てることができる。
【００１５】本発明の一実施態様においては、予め定め
た時間が経過する度に、前記算出ステップおよび前記変
換ステップを行い、前記算出ステップでは、実使用にお
ける前記予め定めた時間の経過を、前記所定温度におけ
る経過時間に換算して残存寿命から減算し、前記変換ス
テップでは、前記所定温度における残存寿命と実使用に
おける残存寿命との間の比例関係に基づいて変換するも
のである。
た時間が経過する度に、前記算出ステップおよび前記変
換ステップを行い、前記算出ステップでは、実使用にお
ける前記予め定めた時間の経過を、前記所定温度におけ
る経過時間に換算して残存寿命から減算し、前記変換ス
テップでは、前記所定温度における残存寿命と実使用に
おける残存寿命との間の比例関係に基づいて変換するも
のである。
【００１６】ここで、予め定めた時間が経過する度と
は、一定の時間が経過する度、すなわち、一定の時間間
隔であってもよいし、一定でない時間間隔であってもよ
い。
は、一定の時間が経過する度、すなわち、一定の時間間
隔であってもよいし、一定でない時間間隔であってもよ
い。
【００１７】この実施態様によると、予め定めた時間が
経過すると、その経過時間を、所定温度における経過時
間に換算し、所定温度における残存寿命から減算し、得
られた所定温度における残存寿命を、比例関係を利用し
て実使用における残存寿命に変換するので、予め定めた
時間が経過する度に、その時点における残存寿命を予測
できることになる。
経過すると、その経過時間を、所定温度における経過時
間に換算し、所定温度における残存寿命から減算し、得
られた所定温度における残存寿命を、比例関係を利用し
て実使用における残存寿命に変換するので、予め定めた
時間が経過する度に、その時点における残存寿命を予測
できることになる。
【００１８】本発明の他の実施態様においては、前記算
出ステップでは、実使用時の温度を用いて温度−寿命法
則に基づいて前記換算を行い、前記変換ステップでは、
前記所定温度における初期時点の総残存寿命を基準と
し、前記所定温度における他の時点の残存寿命と、前記
他の時点に対応する実使用における経過時間とに基づい
て、実使用における残存寿命に変換するものである。
出ステップでは、実使用時の温度を用いて温度−寿命法
則に基づいて前記換算を行い、前記変換ステップでは、
前記所定温度における初期時点の総残存寿命を基準と
し、前記所定温度における他の時点の残存寿命と、前記
他の時点に対応する実使用における経過時間とに基づい
て、実使用における残存寿命に変換するものである。
【００１９】この実施態様によると、予め定めた時間が
経過すると、その経過時間を、実際の使用時の温度を用
いて温度−寿命法則に基づいて所定の温度における経過
時間に換算するので、実際の使用時の温度が所定温度か
ら変化しても正しく換算され、また、換算した経過時間
を、所定温度における残存寿命から減算するので、算出
される所定温度における残存寿命は、それまでの実使用
温度を含む過去の履歴に基づくものとなり、残存寿命を
精度よく予測できる。さらに、所定温度における初期時
点の総残存寿命を基準として変換するので、実際の使用
が開始された後の時点における残存寿命を基準とする場
合に比べて、過渡的な温度変動の影響が少なく精度の高
い実使用における残存寿命に変換できる。
経過すると、その経過時間を、実際の使用時の温度を用
いて温度−寿命法則に基づいて所定の温度における経過
時間に換算するので、実際の使用時の温度が所定温度か
ら変化しても正しく換算され、また、換算した経過時間
を、所定温度における残存寿命から減算するので、算出
される所定温度における残存寿命は、それまでの実使用
温度を含む過去の履歴に基づくものとなり、残存寿命を
精度よく予測できる。さらに、所定温度における初期時
点の総残存寿命を基準として変換するので、実際の使用
が開始された後の時点における残存寿命を基準とする場
合に比べて、過渡的な温度変動の影響が少なく精度の高
い実使用における残存寿命に変換できる。
【００２０】本発明の更に他の実施態様においては、前
記報知ステップでは、実使用における前記残存寿命が、
一定値に達した後に、該残存寿命を、寿命残り期間とし
て報知するものである。
記報知ステップでは、実使用における前記残存寿命が、
一定値に達した後に、該残存寿命を、寿命残り期間とし
て報知するものである。
【００２１】この実施態様によると、寿命到達までの期
間が短くなって残存寿命が一定値に達した後には、寿命
残り期間として報知するので、管理に有効に活用でき
る。
間が短くなって残存寿命が一定値に達した後には、寿命
残り期間として報知するので、管理に有効に活用でき
る。
【００２２】本発明の好ましい実施態様においては、前
記報知ステップでは、前記寿命残り期間を、数値で表示
するものである。
記報知ステップでは、前記寿命残り期間を、数値で表示
するものである。
【００２３】この実施態様によると、寿命の残り期間
が、例えば、何年、何ヶ月といったように数値で表示さ
れるので、寿命の残り期間を容易に把握することができ
る。
が、例えば、何年、何ヶ月といったように数値で表示さ
れるので、寿命の残り期間を容易に把握することができ
る。
【００２４】本発明の他の実施態様においては、前記報
知ステップでは、前記寿命残り期間を、小数点を用いた
年数値表示するものである。
知ステップでは、前記寿命残り期間を、小数点を用いた
年数値表示するものである。
【００２５】この実施態様によると、寿命の残り期間
を、小数点を用いた年数値表示、例えば、「２．０」年
といった表示を行なうので、寿命の残り期間を容易に把
握できることになる。
を、小数点を用いた年数値表示、例えば、「２．０」年
といった表示を行なうので、寿命の残り期間を容易に把
握できることになる。
【００２６】本発明の更に他の実施態様においては、残
存寿命の予測対象物がコンデンサである。
存寿命の予測対象物がコンデンサである。
【００２７】この実施態様によると、コンデンサの残存
寿命を予測できるので、コンデンサを備える各種機器の
残存寿命を、コンデンサの残存寿命として予測して報知
できることになる。
寿命を予測できるので、コンデンサを備える各種機器の
残存寿命を、コンデンサの残存寿命として予測して報知
できることになる。
【００２８】本発明の温度検出構造は、コンデンサの温
度を検出する構造であって、前記コンデンサの温度を検
出する温度センサを、絶縁テープで巻回して前記コンデ
ンサに密着させて配置したものである。
度を検出する構造であって、前記コンデンサの温度を検
出する温度センサを、絶縁テープで巻回して前記コンデ
ンサに密着させて配置したものである。
【００２９】本発明によると、絶縁テープとしては、極
めて薄いテープが市販されているので、かかる絶縁テー
プを巻回してもその厚さは極めて薄く、所望の絶縁性能
を確保しながらコンデンサに温度センサを極めて接近し
て配備することができ、コンデンサの温度を精度高く検
出できる。
めて薄いテープが市販されているので、かかる絶縁テー
プを巻回してもその厚さは極めて薄く、所望の絶縁性能
を確保しながらコンデンサに温度センサを極めて接近し
て配備することができ、コンデンサの温度を精度高く検
出できる。
【００３０】本発明の他の実施態様においては、前記絶
縁テープが巻回された温度センサおよび前記コンデンサ
を、熱収縮チューブ内に収納して一体化したものであ
る。
縁テープが巻回された温度センサおよび前記コンデンサ
を、熱収縮チューブ内に収納して一体化したものであ
る。
【００３１】この実施態様によると、熱収縮チューブの
収縮によってコンデンサに絶縁テープを介して温度セン
サが密着された状態で両者が一体化され、熱収縮チュー
ブの熱伝導によってチューブ内温度が均等化され、コン
デンサ温度とセンサ検出温度との差がほとんどなくな
る。また、熱収縮チューブを介しての一体化によって熱
容量が同じになり、外気風などにより温度センサだけが
急峻に温度変動することが無くなる。
収縮によってコンデンサに絶縁テープを介して温度セン
サが密着された状態で両者が一体化され、熱収縮チュー
ブの熱伝導によってチューブ内温度が均等化され、コン
デンサ温度とセンサ検出温度との差がほとんどなくな
る。また、熱収縮チューブを介しての一体化によって熱
容量が同じになり、外気風などにより温度センサだけが
急峻に温度変動することが無くなる。
【００３２】本発明の更に他の実施態様においては、前
記コンデンサは、トランスによって絶縁された一次側の
回路部品であり、前記温度センサは、二次側の回路に組
み込まれる部品であって、該温度センサは、リード線を
介して二次側の回路に接続されるものである。
記コンデンサは、トランスによって絶縁された一次側の
回路部品であり、前記温度センサは、二次側の回路に組
み込まれる部品であって、該温度センサは、リード線を
介して二次側の回路に接続されるものである。
【００３３】この実施態様によると、一次側の回路部品
であるコンデンサと二次側の回路に組み込まれる温度セ
ンサとの間の所望の絶縁を、前記絶縁テープを巻回して
確保することができる。また、コンデンサに密着して配
置される温度センサは、二次側の回路に接続する必要が
あるが、コンデンサを含む一次側の回路部品が実装され
ている回路基板の配線パターンを介して接続するので
は、必要な絶縁距離を確保するのが困難である。そこ
で、リード線を用いることにより、前記回路基板を這わ
すことなく、その上方を、二次側の回路まで架け渡して
所望の絶縁性能を確保しながら接続することができる。
であるコンデンサと二次側の回路に組み込まれる温度セ
ンサとの間の所望の絶縁を、前記絶縁テープを巻回して
確保することができる。また、コンデンサに密着して配
置される温度センサは、二次側の回路に接続する必要が
あるが、コンデンサを含む一次側の回路部品が実装され
ている回路基板の配線パターンを介して接続するので
は、必要な絶縁距離を確保するのが困難である。そこ
で、リード線を用いることにより、前記回路基板を這わ
すことなく、その上方を、二次側の回路まで架け渡して
所望の絶縁性能を確保しながら接続することができる。
【００３４】本発明の電子機器は、コンデンサを備える
電子機器であって、前記コンデンサの温度を検出する温
度センサと、前記温度センサからの検出温度を用いて、
実使用における前記コンデンサの残存寿命を演算する演
算手段と、演算された残存寿命を、寿命残り期間として
報知する報知手段とを備え、前記演算手段は、コンデン
サ温度−寿命法則に基づく演算式に従って、所定温度に
おける残存寿命を算出する算出部と、前記算出部で算出
された所定温度における残存寿命を、実使用における残
存寿命に変換する変換部とを備えている。
電子機器であって、前記コンデンサの温度を検出する温
度センサと、前記温度センサからの検出温度を用いて、
実使用における前記コンデンサの残存寿命を演算する演
算手段と、演算された残存寿命を、寿命残り期間として
報知する報知手段とを備え、前記演算手段は、コンデン
サ温度−寿命法則に基づく演算式に従って、所定温度に
おける残存寿命を算出する算出部と、前記算出部で算出
された所定温度における残存寿命を、実使用における残
存寿命に変換する変換部とを備えている。
【００３５】本発明によると、コンデンサ温度−寿命法
則に基づく演算式に従って、所定温度における残存寿命
を算出し、それを実使用における残存寿命に変換し、変
換した実使用における残存寿命を、寿命残り期間として
報知するので、実使用における寿命の残り期間を把握す
ることができ、この残り期間から交換時期を把握してメ
ンテナンス計画を立てることができる。
則に基づく演算式に従って、所定温度における残存寿命
を算出し、それを実使用における残存寿命に変換し、変
換した実使用における残存寿命を、寿命残り期間として
報知するので、実使用における寿命の残り期間を把握す
ることができ、この残り期間から交換時期を把握してメ
ンテナンス計画を立てることができる。
【００３６】本発明の好ましい実施態様においては、前
記演算手段は、予め定めた時間が経過する度に、実使用
における前記コンデンサの残存寿命を演算するものであ
り、前記算出部は、実使用における前記予め定めた時間
の経過を、前記所定温度における経過時間に換算して残
存寿命から減算するものであり、前記変換部は、前記所
定温度における残存寿命と実使用における残存寿命との
間の比例関係に基づいて変換するものである。
記演算手段は、予め定めた時間が経過する度に、実使用
における前記コンデンサの残存寿命を演算するものであ
り、前記算出部は、実使用における前記予め定めた時間
の経過を、前記所定温度における経過時間に換算して残
存寿命から減算するものであり、前記変換部は、前記所
定温度における残存寿命と実使用における残存寿命との
間の比例関係に基づいて変換するものである。
【００３７】この実施態様によると、予め定めた時間が
経過すると、その経過時間を、所定温度における経過時
間に換算し、所定温度における残存寿命から減算し、得
られた所定温度における残存寿命を、比例関係を利用し
て実使用における残存寿命に変換するので、予め定めた
時間が経過する度に、その時点における残存寿命を予測
できることになる。
経過すると、その経過時間を、所定温度における経過時
間に換算し、所定温度における残存寿命から減算し、得
られた所定温度における残存寿命を、比例関係を利用し
て実使用における残存寿命に変換するので、予め定めた
時間が経過する度に、その時点における残存寿命を予測
できることになる。
【００３８】本発明の好ましい実施態様においては、前
記算出部は、前記温度センサからの検出温度を用いてコ
ンデンサ温度−寿命法則に基づいて前記換算を行うもの
であり、前記変換部は、前記所定温度における初期時点
の総残存寿命を基準とし、前記所定温度における他の時
点の残存寿命と、前記他の時点に対応する実使用におけ
る経過時間とに基づいて、実使用における残存寿命に変
換するものである。
記算出部は、前記温度センサからの検出温度を用いてコ
ンデンサ温度−寿命法則に基づいて前記換算を行うもの
であり、前記変換部は、前記所定温度における初期時点
の総残存寿命を基準とし、前記所定温度における他の時
点の残存寿命と、前記他の時点に対応する実使用におけ
る経過時間とに基づいて、実使用における残存寿命に変
換するものである。
【００３９】この実施態様によると、予め定めた時間が
経過すると、その経過時間を、実際の使用時の温度を用
いてコンデンサ温度−寿命法則に基づいて所定の温度に
おける経過時間に換算するので、実際の使用時の温度が
所定温度から変化しても正しく換算され、また、換算し
た経過時間を、所定温度における残存寿命から減算する
ので、算出される所定温度における残存寿命は、それま
での実使用温度を含む過去の履歴に基づくものとなり、
残存寿命を精度よく予測できる。さらに、所定温度にお
ける初期時点の総残存寿命を基準として変換するので、
実際の使用が開始された後の時点における残存寿命を基
準とする場合に比べて、過渡的な温度変動の影響が少な
く精度の高い実使用における残存寿命に変換できる。
経過すると、その経過時間を、実際の使用時の温度を用
いてコンデンサ温度−寿命法則に基づいて所定の温度に
おける経過時間に換算するので、実際の使用時の温度が
所定温度から変化しても正しく換算され、また、換算し
た経過時間を、所定温度における残存寿命から減算する
ので、算出される所定温度における残存寿命は、それま
での実使用温度を含む過去の履歴に基づくものとなり、
残存寿命を精度よく予測できる。さらに、所定温度にお
ける初期時点の総残存寿命を基準として変換するので、
実際の使用が開始された後の時点における残存寿命を基
準とする場合に比べて、過渡的な温度変動の影響が少な
く精度の高い実使用における残存寿命に変換できる。
【００４０】本発明の他の実施態様においては、前記変
換部における変換の基準となる前記初期時点の総残存寿
命を、別の時点における残存寿命に置き換える手段を備
えている。
換部における変換の基準となる前記初期時点の総残存寿
命を、別の時点における残存寿命に置き換える手段を備
えている。
【００４１】この実施態様によると、温度条件が大きく
異なる環境で使用するような場合には、変換の基準点
を、温度条件が変わった後の時点に置き換えることによ
り、精度の高い残存寿命の演算が可能となる。
異なる環境で使用するような場合には、変換の基準点
を、温度条件が変わった後の時点に置き換えることによ
り、精度の高い残存寿命の演算が可能となる。
【００４２】本発明の一実施態様においては、前記報知
手段は、実使用における前記残存寿命が、一定値に達し
た後に、該残存寿命を、寿命残り期間として報知するも
のである。
手段は、実使用における前記残存寿命が、一定値に達し
た後に、該残存寿命を、寿命残り期間として報知するも
のである。
【００４３】この実施態様によると、寿命到達までの期
間が短くなって残存寿命が一定値に達した後には、寿命
残り期間として報知するので、管理に有効に活用でき
る。
間が短くなって残存寿命が一定値に達した後には、寿命
残り期間として報知するので、管理に有効に活用でき
る。
【００４４】本発明の他の実施態様においては、前記報
知手段は、前記寿命残り期間を、数値で表示するもので
ある。
知手段は、前記寿命残り期間を、数値で表示するもので
ある。
【００４５】この実施態様によると、寿命の残り期間
が、例えば、何年、何ヶ月といったように数値で表示さ
れるので、寿命の残り期間を容易に把握することができ
る。
が、例えば、何年、何ヶ月といったように数値で表示さ
れるので、寿命の残り期間を容易に把握することができ
る。
【００４６】本発明の更に他の実施態様においては、前
記報知手段は、前記寿命残り期間を、小数点を用いた年
数値で表示するものである。
記報知手段は、前記寿命残り期間を、小数点を用いた年
数値で表示するものである。
【００４７】この実施態様によると、寿命の残り期間
を、小数点を用いた年数値表示、例えば、「２．０」年
といった表示を行なうので、寿命の残り期間を容易に把
握できることになる。
を、小数点を用いた年数値表示、例えば、「２．０」年
といった表示を行なうので、寿命の残り期間を容易に把
握できることになる。
【００４８】本発明の一実施態様においては、前記報知
手段は、前記一定値に達するまでは、前記残存寿命を、
キャラクタ表示するものである。
手段は、前記一定値に達するまでは、前記残存寿命を、
キャラクタ表示するものである。
【００４９】この実施態様によると、寿命到達までに期
間がありすぎる間はキャラクタ表示によって凡その劣化
状態を目安として把握することができ、寿命到達までの
期間が短くなると、数値表示に切換えることで、管理に
有効に活用することができる。
間がありすぎる間はキャラクタ表示によって凡その劣化
状態を目安として把握することができ、寿命到達までの
期間が短くなると、数値表示に切換えることで、管理に
有効に活用することができる。
【００５０】本発明の他の実施態様においては、前記コ
ンデンサは、トランスによって絶縁された一次側の回路
部品であり、前記温度センサは、二次側の回路に組み込
まれる部品であって、該温度センサは、絶縁テープで巻
回されて前記コンデンサに密着配置されるものである。
ンデンサは、トランスによって絶縁された一次側の回路
部品であり、前記温度センサは、二次側の回路に組み込
まれる部品であって、該温度センサは、絶縁テープで巻
回されて前記コンデンサに密着配置されるものである。
【００５１】この実施態様によると、絶縁テープとして
は、極めて薄いテープが市販されているので、かかる絶
縁テープを巻回してもその厚さは極めて小さく、一次側
のコンデンサと二次側の温度センサとの所望の絶縁性能
を確保しながらコンデンサに温度センサを極めて接近し
て配備することができ、コンデンサの温度を精度高く検
出できる。
は、極めて薄いテープが市販されているので、かかる絶
縁テープを巻回してもその厚さは極めて小さく、一次側
のコンデンサと二次側の温度センサとの所望の絶縁性能
を確保しながらコンデンサに温度センサを極めて接近し
て配備することができ、コンデンサの温度を精度高く検
出できる。
【００５２】本発明の更に他の実施態様においては、前
記絶縁テープが巻回された温度センサおよび前記コンデ
ンサを、熱収縮チューブ内に収納して一体化するととも
に、前記温度センサは、前記演算手段にリード線を介し
て接続されるものである。
記絶縁テープが巻回された温度センサおよび前記コンデ
ンサを、熱収縮チューブ内に収納して一体化するととも
に、前記温度センサは、前記演算手段にリード線を介し
て接続されるものである。
【００５３】この実施態様によると、熱収縮チューブの
収縮によってコンデンサに絶縁テープを介して温度セン
サが密着された状態で両者が一体化され、熱収縮チュー
ブの熱伝導によってチューブ内温度が均等化され、コン
デンサ温度とセンサ検出温度との差がほとんどなくな
る。また、熱収縮チューブを介しての一体化によって熱
容量が同じになり、外気風などにより温度センサだけが
急峻に温度変動することが無くなる。コンデンサに密着
して配置される温度センサは、二次側の回路である演算
手段に接続されるのであるが、コンデンサを含む一次側
の回路部品が実装されている回路基板の配線パターンを
介して接続するのでは、必要な絶縁距離を確保するのが
困難である。そこで、リード線を用いることにより、前
記回路基板を這わすことなく、その上方を、演算手段ま
で架け渡して所望の絶縁性能を確保しながら接続するこ
とができる。
収縮によってコンデンサに絶縁テープを介して温度セン
サが密着された状態で両者が一体化され、熱収縮チュー
ブの熱伝導によってチューブ内温度が均等化され、コン
デンサ温度とセンサ検出温度との差がほとんどなくな
る。また、熱収縮チューブを介しての一体化によって熱
容量が同じになり、外気風などにより温度センサだけが
急峻に温度変動することが無くなる。コンデンサに密着
して配置される温度センサは、二次側の回路である演算
手段に接続されるのであるが、コンデンサを含む一次側
の回路部品が実装されている回路基板の配線パターンを
介して接続するのでは、必要な絶縁距離を確保するのが
困難である。そこで、リード線を用いることにより、前
記回路基板を這わすことなく、その上方を、演算手段ま
で架け渡して所望の絶縁性能を確保しながら接続するこ
とができる。
【００５４】本発明の他の実施態様においては、前記演
算手段は、前記算出部で算出される所定温度における残
存寿命が、前記所定温度における初期時点の総残存寿命
に占める割合を劣化度として算出する劣化度算出部を備
え、前記報知手段は、算出された前記劣化度を表示する
ものである。
算手段は、前記算出部で算出される所定温度における残
存寿命が、前記所定温度における初期時点の総残存寿命
に占める割合を劣化度として算出する劣化度算出部を備
え、前記報知手段は、算出された前記劣化度を表示する
ものである。
【００５５】この実施態様によると、演算された残存寿
命を、何年、何ヶ月、あるいは、何時間といった数値表
示に限らず、例えば、総寿命（総残存寿命）の何割ある
いは何％使用して劣化したか表示することが可能とな
り、この劣化度に基づいて、交換時期を管理することが
できる。
命を、何年、何ヶ月、あるいは、何時間といった数値表
示に限らず、例えば、総寿命（総残存寿命）の何割ある
いは何％使用して劣化したか表示することが可能とな
り、この劣化度に基づいて、交換時期を管理することが
できる。
【００５６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の態様を図面
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
【００５７】図１に、本発明に係る電子機器の一例にあ
げた電源装置１の全体斜視図が、また、図２および図３
にその分解した斜視図が、図４に一部を切欠いた平面図
がそれぞれ示されている。
げた電源装置１の全体斜視図が、また、図２および図３
にその分解した斜視図が、図４に一部を切欠いた平面図
がそれぞれ示されている。
【００５８】この電源装置１は、電源施設に横架固定さ
れたＤＩＮレールなどの支持レール２の前面に係脱自在
に装着される箱型のユニット状に構成されたものであ
り、そのケーシング３は、前向きに開口した奥行きのあ
る箱形に樹脂成形されたケース本体３ａと、その前面に
係合連結される樹脂製のフロントカバー３ｂとからな
り、このケーシング３の内部に図３に示される電源回路
部４が組み込み支持されている。
れたＤＩＮレールなどの支持レール２の前面に係脱自在
に装着される箱型のユニット状に構成されたものであ
り、そのケーシング３は、前向きに開口した奥行きのあ
る箱形に樹脂成形されたケース本体３ａと、その前面に
係合連結される樹脂製のフロントカバー３ｂとからな
り、このケーシング３の内部に図３に示される電源回路
部４が組み込み支持されている。
【００５９】前記ケーシング３の前面、つまり、フロン
トカバー３ｂの前壁における上下中間部位には、後ろ向
きに開口した浅い箱形に樹脂成形された補助ケース５が
係脱自在に係合連結されており、フロントカバー３ｂと
補助ケース５との間に形成された空間に、後述のように
して残存寿命などの演算を行う演算回路部６が、図２及
び図４に示されるように組み込み支持されている。
トカバー３ｂの前壁における上下中間部位には、後ろ向
きに開口した浅い箱形に樹脂成形された補助ケース５が
係脱自在に係合連結されており、フロントカバー３ｂと
補助ケース５との間に形成された空間に、後述のように
して残存寿命などの演算を行う演算回路部６が、図２及
び図４に示されるように組み込み支持されている。
【００６０】前記電源回路部４は、電源回路用の基板と
して、左右に面する主基板７とその前部に前後に面して
連結された前部基板８とを備えており、主基板７に電源
回路を構成する各種電子部品９が実装されるとととも
に、前部基板８に入出力用の端子台１０，１１などが装
着されている。なお、端子ネジは、図示省略している。
して、左右に面する主基板７とその前部に前後に面して
連結された前部基板８とを備えており、主基板７に電源
回路を構成する各種電子部品９が実装されるとととも
に、前部基板８に入出力用の端子台１０，１１などが装
着されている。なお、端子ネジは、図示省略している。
【００６１】前記演算回路部６は、演算回路用の基板と
して、フロントカバー３ｂの前面に平行に支持される補
助基板１２を備えており、この補助基板１２には、残存
寿命、電圧設定値、出力電圧現在値、出力電流現在値、
ピーク電流値などを表示して報知する報知手段としての
ＬＥＤ表示器１３、表示のモードを切換えるモード切換
えスイッチ１４、ＣＰＵ１５、などが実装されている。
そして、演算回路部６における補助基板１２の背面に装
備されたコネクタ１６ａと電源回路部４の前部基板８に
装備されたコネクタ１６ｂとが、フロントカバー３ｂに
形成した開口１７を通して接続され、電源回路部４と演
算回路部６とが電気的に接続されるようになっている。
して、フロントカバー３ｂの前面に平行に支持される補
助基板１２を備えており、この補助基板１２には、残存
寿命、電圧設定値、出力電圧現在値、出力電流現在値、
ピーク電流値などを表示して報知する報知手段としての
ＬＥＤ表示器１３、表示のモードを切換えるモード切換
えスイッチ１４、ＣＰＵ１５、などが実装されている。
そして、演算回路部６における補助基板１２の背面に装
備されたコネクタ１６ａと電源回路部４の前部基板８に
装備されたコネクタ１６ｂとが、フロントカバー３ｂに
形成した開口１７を通して接続され、電源回路部４と演
算回路部６とが電気的に接続されるようになっている。
【００６２】上記構成によると、ケーシング３の前壁で
あるフロントカバー３ｂが電源回部４と演算回路部６と
を隔絶する遮熱用の隔壁となり、電源回路部４からの熱
を有効に遮断する。
あるフロントカバー３ｂが電源回部４と演算回路部６と
を隔絶する遮熱用の隔壁となり、電源回路部４からの熱
を有効に遮断する。
【００６３】図５は、この実施の形態の電源装置１のブ
ロック図である。
ロック図である。
【００６４】電源回路部４は、交流入力を整流平滑する
入力整流回路３１と、ＦＥＴなどのスイッチング素子を
備えるスイッチング回路３２と、入力をスイッチング素
子のオンオフ動作に応じて所定の出力に変換するトラン
ス３３と、トランス３３からのは出力を整流する出力整
流回路３４とを備えており、かかる構成は、基本的に従
来例と同様である。
入力整流回路３１と、ＦＥＴなどのスイッチング素子を
備えるスイッチング回路３２と、入力をスイッチング素
子のオンオフ動作に応じて所定の出力に変換するトラン
ス３３と、トランス３３からのは出力を整流する出力整
流回路３４とを備えており、かかる構成は、基本的に従
来例と同様である。
【００６５】この実施の形態では、ＬＥＤ表示器１３
に、出力電圧値、出力電流値、ピーク電流値などを表示
するために、出力電圧検出回路３５、出力電流検出回路
３６および電流／電圧変換器３７を備えており、出力電
圧検出回路３５および電流／電圧変換器３７の出力が、
上述のコネクタ１６ａ，１６ｂなどを介して演算回路部
６に与えられる。演算回路部６は、図示しないオペアン
プ、Ａ／Ｄ変換器および上述のＣＰＵ１５などを備えて
いる。
に、出力電圧値、出力電流値、ピーク電流値などを表示
するために、出力電圧検出回路３５、出力電流検出回路
３６および電流／電圧変換器３７を備えており、出力電
圧検出回路３５および電流／電圧変換器３７の出力が、
上述のコネクタ１６ａ，１６ｂなどを介して演算回路部
６に与えられる。演算回路部６は、図示しないオペアン
プ、Ａ／Ｄ変換器および上述のＣＰＵ１５などを備えて
いる。
【００６６】また、この実施の形態では、当該電源装置
１の交換時期を把握できるようにするために、トランス
３３で絶縁された一次側の回路部品である図３に示され
る電解コンデンサ２４の残存寿命を、二次側の演算回路
部６で後述のようにアレニウスの法則に基づく演算式に
従って算出し、残存寿命をＬＥＤ表示器１３に表示する
ようにしている。
１の交換時期を把握できるようにするために、トランス
３３で絶縁された一次側の回路部品である図３に示され
る電解コンデンサ２４の残存寿命を、二次側の演算回路
部６で後述のようにアレニウスの法則に基づく演算式に
従って算出し、残存寿命をＬＥＤ表示器１３に表示する
ようにしている。
【００６７】アレニウスの法則に基づいて、電解コンデ
ンサ２４の寿命を演算するには、電解コンデンサ２４の
温度を検出する必要があり、精度の高い残存寿命の演算
を行うためには、電解コンデンサ２４の温度検出を高精
度で行う必要がある。
ンサ２４の寿命を演算するには、電解コンデンサ２４の
温度を検出する必要があり、精度の高い残存寿命の演算
を行うためには、電解コンデンサ２４の温度検出を高精
度で行う必要がある。
【００６８】この場合、電解コンデンサ２４は、一次側
の回路部品であり、この電解コンデンサ２４の温度を検
出する温度センサは、二次側の回路である演算回路部６
に接続されることになり、電解コンデンサ２４と温度セ
ンサとは確実に絶縁しておく必要がある。代表的な安全
規格であるＩＥＣ６０９５０によれば、１次−２次間の
絶縁には、空間距離で４ｍｍ、沿面距離で５ｍｍ、固体
絶縁で０．４ｍｍの距離を取る必要がある。これに対し
て、電解コンデンサ２４の温度を精度良く検出するため
には、電解コンデンサ２４に温度センサをできるだけ接
近させることが望ましい。
の回路部品であり、この電解コンデンサ２４の温度を検
出する温度センサは、二次側の回路である演算回路部６
に接続されることになり、電解コンデンサ２４と温度セ
ンサとは確実に絶縁しておく必要がある。代表的な安全
規格であるＩＥＣ６０９５０によれば、１次−２次間の
絶縁には、空間距離で４ｍｍ、沿面距離で５ｍｍ、固体
絶縁で０．４ｍｍの距離を取る必要がある。これに対し
て、電解コンデンサ２４の温度を精度良く検出するため
には、電解コンデンサ２４に温度センサをできるだけ接
近させることが望ましい。
【００６９】そこで、この実施の形態では、次のような
温度検出構造としている。
温度検出構造としている。
【００７０】すなわち、図６に示すように、電解コンデ
ンサ２４の温度を検出する温度センサ２２としては、小
形のセンサ基板２１に実装したサーミスタが利用されて
おり、この温度センサ２２とセンサ基板２１とを、絶縁
性の薄膜テープ２３で複数層巻き、この実施の形態で
は、厚さ０．０２５ｍｍのポリエステル薄膜テープで３
層巻きにし、これによって、薄膜絶縁規定に適合させて
いる。
ンサ２４の温度を検出する温度センサ２２としては、小
形のセンサ基板２１に実装したサーミスタが利用されて
おり、この温度センサ２２とセンサ基板２１とを、絶縁
性の薄膜テープ２３で複数層巻き、この実施の形態で
は、厚さ０．０２５ｍｍのポリエステル薄膜テープで３
層巻きにし、これによって、薄膜絶縁規定に適合させて
いる。
【００７１】さらに、薄膜テープ２３で絶縁被覆した温
度センサ２２とセンサ基板２１とを、電解コンデンサ２
４の外周面に当て付けた状態で熱収縮チューブ２５に入
れ、熱収縮チューブ２５を加熱収縮させることで温度セ
ンサ２２を薄い絶縁層を介して電解コンデンサ２４に密
着させている。熱収縮チューブ２５としては、例えば、
ポリオレフィン樹脂、フッ素系ポリマーあるいは熱可塑
性エラストマーを材質としたものを使用することができ
る。
度センサ２２とセンサ基板２１とを、電解コンデンサ２
４の外周面に当て付けた状態で熱収縮チューブ２５に入
れ、熱収縮チューブ２５を加熱収縮させることで温度セ
ンサ２２を薄い絶縁層を介して電解コンデンサ２４に密
着させている。熱収縮チューブ２５としては、例えば、
ポリオレフィン樹脂、フッ素系ポリマーあるいは熱可塑
性エラストマーを材質としたものを使用することができ
る。
【００７２】リード線２６は、２次回路部品であり、１
次回路部品である電解コンデンサ２４に接触するため、
先に記した絶縁距離が要求される。リード線の絶縁被覆
が厚くなると、電解コンデンサ２４との密着性が阻害さ
れるので、３層絶縁線を、ここでは使用している。
次回路部品である電解コンデンサ２４に接触するため、
先に記した絶縁距離が要求される。リード線の絶縁被覆
が厚くなると、電解コンデンサ２４との密着性が阻害さ
れるので、３層絶縁線を、ここでは使用している。
【００７３】このように、薄膜テープ２３で温度センサ
２２とセンサ基板２１とを絶縁被覆することで、所望の
絶縁性能、すなわち、薄膜絶縁規定に適合させながら電
解コンデンサ２４に温度センサ２２を極めて接近して配
備することができた。上述のように薄膜テープ２３の厚
さは、０．０２５ｍｍであるので、３層巻きした薄膜テ
ープ２３の厚さは０．０７５ｍｍであって、上述のＩＥ
Ｃ６０９５０で定められた固体絶縁での必要距離０．４
ｍｍに比較して各段に小さく、薄膜テープ２３による断
熱の影響は極めて少なくできる。
２２とセンサ基板２１とを絶縁被覆することで、所望の
絶縁性能、すなわち、薄膜絶縁規定に適合させながら電
解コンデンサ２４に温度センサ２２を極めて接近して配
備することができた。上述のように薄膜テープ２３の厚
さは、０．０２５ｍｍであるので、３層巻きした薄膜テ
ープ２３の厚さは０．０７５ｍｍであって、上述のＩＥ
Ｃ６０９５０で定められた固体絶縁での必要距離０．４
ｍｍに比較して各段に小さく、薄膜テープ２３による断
熱の影響は極めて少なくできる。
【００７４】そして、熱収縮チューブ２５を用いて電解
コンデンサ２４と温度センサ２２およびセンサ基板２１
とを一体化してあるので、電解コンデンサ２４と温度セ
ンサ２２との密着性が向上するとともに、熱収縮チュー
ブ２５の熱伝導によってチューブ内温度が均等化され、
電解コンデンサ温度とセンサ検出温度との差がほとんど
なくなる。また、熱収縮チューブ２５を介しての一体化
によって熱容量が同じになり、外気風などにより温度セ
ンサ２２だけが急峻に温度変動することが無くなる。
コンデンサ２４と温度センサ２２およびセンサ基板２１
とを一体化してあるので、電解コンデンサ２４と温度セ
ンサ２２との密着性が向上するとともに、熱収縮チュー
ブ２５の熱伝導によってチューブ内温度が均等化され、
電解コンデンサ温度とセンサ検出温度との差がほとんど
なくなる。また、熱収縮チューブ２５を介しての一体化
によって熱容量が同じになり、外気風などにより温度セ
ンサ２２だけが急峻に温度変動することが無くなる。
【００７５】なお、薄膜テープ２３の厚みや幅あるいは
熱収縮チューブ２５の長さあるいはリード線２６の引き
出し方向などは、図６に限らず、適宜選択してもよいの
は勿論である。
熱収縮チューブ２５の長さあるいはリード線２６の引き
出し方向などは、図６に限らず、適宜選択してもよいの
は勿論である。
【００７６】さらに、この実施の形態では、センサ基板
２１から導出したリード線２６を、図３に示されるよう
に、主基板７の上方を架け渡すようにして前部基板８に
接続し、温度センサ２２からの検出出力を、図５に示さ
れる温度／電圧変換器３８および前記コネクタ１６ａ，
１６ｂを介して演算回路部６に与えるように構成されて
いる。これによって、電解コンデンサ４を含む一次側の
回路部品が実装されている主基板７の配線パターンなど
を用いることなく、温度センサ２２の検出出力を、演算
回路部６に与えることができる。
２１から導出したリード線２６を、図３に示されるよう
に、主基板７の上方を架け渡すようにして前部基板８に
接続し、温度センサ２２からの検出出力を、図５に示さ
れる温度／電圧変換器３８および前記コネクタ１６ａ，
１６ｂを介して演算回路部６に与えるように構成されて
いる。これによって、電解コンデンサ４を含む一次側の
回路部品が実装されている主基板７の配線パターンなど
を用いることなく、温度センサ２２の検出出力を、演算
回路部６に与えることができる。
【００７７】次に、演算回路部６における電解コンデン
サ２４の残存寿命の算出について詳細に説明する。
サ２４の残存寿命の算出について詳細に説明する。
【００７８】上述のように電解コンデンサの寿命は、ア
レニウスの法則に基づく下記の演算式によって算出でき
ることが知られている。
レニウスの法則に基づく下記の演算式によって算出でき
ることが知られている。
【００７９】
Ｌｘ＝Ｌｏ×２(To-tx)/10×ｋ ……（１）
Ｌｘ：実使用時の推定寿命（時間）
Ｌｏ：最高使用温度における寿命（時間）
Ｔｏ：電解コンデンサの最高使用温度（°Ｃ）
ｔｘ：実使用温度（°Ｃ）
ｋ：寿命係数
この実施の形態では、先ず、所定温度、例えば、標準的
な使用条件で想定される電解コンデンサ２４の温度ｔ0
℃を決定し、その所定温度ｔ0℃における初期時点の総
残存寿命Ｌ0を上記（１）式によって算出する。
な使用条件で想定される電解コンデンサ２４の温度ｔ0
℃を決定し、その所定温度ｔ0℃における初期時点の総
残存寿命Ｌ0を上記（１）式によって算出する。
【００８０】すなわち、
Ｌ0＝Ｌｏ×２(To-t0)/10×ｋ
次に電源装置１の実際の使用（実使用）が開始される
と、一定時間ａ、例えば、１／６０時間（１分）が経過
する度に、アレニウスの法則に基づく演算式である次式
によって、所定温度ｔ0℃における残存寿命を算出す
る。
と、一定時間ａ、例えば、１／６０時間（１分）が経過
する度に、アレニウスの法則に基づく演算式である次式
によって、所定温度ｔ0℃における残存寿命を算出す
る。
【００８１】
Ｌn＝Ｌn-1−ａ×２(tx-t0)/10×ｋ ……（２）
ここで、ｎ＝１，２，３…であり、ｔｘは、予め定めた
一定時間ａにおいて、温度センサ２２によって検出され
た温度の平均温度（℃）である。
一定時間ａにおいて、温度センサ２２によって検出され
た温度の平均温度（℃）である。
【００８２】この（２）式に示されるように、一定時間
ａが経過する度に、算出される残存寿命Ｌnは、前回算
出された残存寿命Ｌn-1よりも小さくなり、残存寿命
は、次第に減少していく。
ａが経過する度に、算出される残存寿命Ｌnは、前回算
出された残存寿命Ｌn-1よりも小さくなり、残存寿命
は、次第に減少していく。
【００８３】この（２）式において、右辺の第２項、す
なわち、ａ×２(tx-t0)/10×ｋは、検出された実使用温
度ｔｘにおける一定時間ａの経過を、所定温度ｔ0にお
ける経過時間に換算するものである。例えば、検出され
た実使用温度ｔｘが所定温度ｔ0に等しいときには、前
記第２項は、寿命係数ｋを無視すると、ａとなり、実使
用における経過時間ａに一致し、また、検出された実使
用温度ｔｘが所定温度ｔ0よりも１０℃高いときには、
２ａとなり、実使用温度における経過時間ａの２倍とな
り、また、検出された実使用温度ｔｘが所定温度ｔ0よ
りも１０℃低いときには、ａ／２となり、実使用温度に
おける経過時間ａの１／２となる。
なわち、ａ×２(tx-t0)/10×ｋは、検出された実使用温
度ｔｘにおける一定時間ａの経過を、所定温度ｔ0にお
ける経過時間に換算するものである。例えば、検出され
た実使用温度ｔｘが所定温度ｔ0に等しいときには、前
記第２項は、寿命係数ｋを無視すると、ａとなり、実使
用における経過時間ａに一致し、また、検出された実使
用温度ｔｘが所定温度ｔ0よりも１０℃高いときには、
２ａとなり、実使用温度における経過時間ａの２倍とな
り、また、検出された実使用温度ｔｘが所定温度ｔ0よ
りも１０℃低いときには、ａ／２となり、実使用温度に
おける経過時間ａの１／２となる。
【００８４】このようにして、一定時間ａ毎に、その間
に検出された実使用温度ｔｘを用いてアレニウスの法則
に基づき、所定温度ｔ0における経過時間に換算し、そ
れを前回の残存寿命Ｌn-1から減算し、今回の所定温度
ｔ0における残存寿命Ｌnとするものである。
に検出された実使用温度ｔｘを用いてアレニウスの法則
に基づき、所定温度ｔ0における経過時間に換算し、そ
れを前回の残存寿命Ｌn-1から減算し、今回の所定温度
ｔ0における残存寿命Ｌnとするものである。
【００８５】したがって、算出される所定温度ｔ0にお
ける残存寿命Ｌnは、それまでの実使用における温度ｔ
ｘおよび寿命係数ｋを含む過去の履歴全体に基づくもの
となり、過渡的な温度変動の影響が少なく、精度の高い
残存寿命の予測が可能となる。
ける残存寿命Ｌnは、それまでの実使用における温度ｔ
ｘおよび寿命係数ｋを含む過去の履歴全体に基づくもの
となり、過渡的な温度変動の影響が少なく、精度の高い
残存寿命の予測が可能となる。
【００８６】このようして算出される所定温度ｔ0にお
ける残存寿命Ｌnを、次のようにして実使用における残
存寿命に変換している。
ける残存寿命Ｌnを、次のようにして実使用における残
存寿命に変換している。
【００８７】図７は、この変換の説明に供するための図
である。同図において、縦軸は、所定温度ｔ0における
残存寿命を示すものであり、初期時点における総残存寿
命（総寿命）Ｌ0と、或る時点における残存寿命Ｌｎと
を示している。また、横軸は、実使用における残存寿命
に対応するものであり、前記或る時点までの実使用にお
ける経過時間Ｘｎと、寿命に達するまでの実使用におけ
る経過時間Ｘｘとを示している。
である。同図において、縦軸は、所定温度ｔ0における
残存寿命を示すものであり、初期時点における総残存寿
命（総寿命）Ｌ0と、或る時点における残存寿命Ｌｎと
を示している。また、横軸は、実使用における残存寿命
に対応するものであり、前記或る時点までの実使用にお
ける経過時間Ｘｎと、寿命に達するまでの実使用におけ
る経過時間Ｘｘとを示している。
【００８８】上述のように、一定時間ａが経過する度
に、所定温度ｔ0における残存寿命Ｌnが算出される一
方、稼動開始からの経過時間もａ時間毎に積算されてお
り、図７においては、残存寿命Ｌnが算出された或る時
点までに稼動を開始してからＸｎ時間が経過しているこ
とを示している。
に、所定温度ｔ0における残存寿命Ｌnが算出される一
方、稼動開始からの経過時間もａ時間毎に積算されてお
り、図７においては、残存寿命Ｌnが算出された或る時
点までに稼動を開始してからＸｎ時間が経過しているこ
とを示している。
【００８９】この実施の形態では、所定温度ｔ0におけ
る残存寿命と実使用における残存寿命とは、ほぼ比例す
ることを利用して、縦軸の初期時点の総残存寿命Ｌ0の
点Ａと、或る時点における残存寿命Ｌｎと前記或る時点
までの実使用における経過時間Ｘｎとの交点Ｂとを結ぶ
直線が、横軸と交わる点を、寿命に達するまでの経過時
間Ｘｘとするものである。
る残存寿命と実使用における残存寿命とは、ほぼ比例す
ることを利用して、縦軸の初期時点の総残存寿命Ｌ0の
点Ａと、或る時点における残存寿命Ｌｎと前記或る時点
までの実使用における経過時間Ｘｎとの交点Ｂとを結ぶ
直線が、横軸と交わる点を、寿命に達するまでの経過時
間Ｘｘとするものである。
【００９０】したがって、前記或る時点ｎにおける残存
寿命Ｌｒｅｓｔは、 Ｌｒｅｓｔ＝Ｘｘ−Ｘｎ＝｛Ｌn/(Ｌ0−Ｌn）｝×Ｘｎ ……（３） で演算できることになる。
寿命Ｌｒｅｓｔは、 Ｌｒｅｓｔ＝Ｘｘ−Ｘｎ＝｛Ｌn/(Ｌ0−Ｌn）｝×Ｘｎ ……（３） で演算できることになる。
【００９１】つまり、初期時点の総残存寿命Ｌ0と、一
定時間ａが経過する度に、算出される所定温度ｔ0にお
ける残存寿命Ｌnと、その時点までの稼動開始からの経
過時間Ｘｎとから実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔが
算出されることになる。
定時間ａが経過する度に、算出される所定温度ｔ0にお
ける残存寿命Ｌnと、その時点までの稼動開始からの経
過時間Ｘｎとから実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔが
算出されることになる。
【００９２】但し、稼動開始の初期には、直線の傾きが
大きく変動する虞れがあるので、Ｘｘが予め定めたＸｍ
ａｘ以上（Ｘｘ≧Ｘｍａｘ）になるときには、Ｘｘ＝Ｘ
ｍａｘとしている。
大きく変動する虞れがあるので、Ｘｘが予め定めたＸｍ
ａｘ以上（Ｘｘ≧Ｘｍａｘ）になるときには、Ｘｘ＝Ｘ
ｍａｘとしている。
【００９３】以上のようにして算出される実使用におけ
る残存寿命Ｌｒｅｓｔは、何年、何ヶ月、何日あるいは
何時間といった数値で表示してもよいが、電解コンデン
サの寿命は、一般には、数年から十数年にもなる。した
がって、残存寿命Ｌｒｅｓｔを、稼動開始当初から数値
表示させても寿命到達まで時間があり過ぎるために有効
利用し辛い。また、稼動開始からの経過時間Ｘｎが小さ
ければ、小さいほど上述の直線の傾きの変動が大きくな
るために、算出される実使用における残存寿命Ｌｒｅｓ
ｔも変動が大きくなる。
る残存寿命Ｌｒｅｓｔは、何年、何ヶ月、何日あるいは
何時間といった数値で表示してもよいが、電解コンデン
サの寿命は、一般には、数年から十数年にもなる。した
がって、残存寿命Ｌｒｅｓｔを、稼動開始当初から数値
表示させても寿命到達まで時間があり過ぎるために有効
利用し辛い。また、稼動開始からの経過時間Ｘｎが小さ
ければ、小さいほど上述の直線の傾きの変動が大きくな
るために、算出される実使用における残存寿命Ｌｒｅｓ
ｔも変動が大きくなる。
【００９４】そこで、この実施の形態では、算出される
実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔを次のようにして表
示している。
実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔを次のようにして表
示している。
【００９５】すなわち、図８は、電解コンデンサの残存
寿命を表示する場合の表示タイミングの切換えが模擬的
に示したものである。
寿命を表示する場合の表示タイミングの切換えが模擬的
に示したものである。
【００９６】電解コンデンサの寿命は、初期容量から２
０〜３０％減少した時点と規定されているので、算出さ
れる実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔが一定値（この
例では２年）以下になった時点から年数値表示とし、初
期値から年数値表示に変わるまでの期間を等分して、
「ＦＵＬＬ」，「ＨＡＬＦ」などのキャラクタ表示をＬ
ＥＤ表示器１３で行わせるものである。具体的には、Ｌ
ＥＤ表示器１３では、「ＦＵＬ」、「ＨＡＦ」といった
キャラクタ表示あるいは「２．０ｙ」といった年数値表
示を行う。
０〜３０％減少した時点と規定されているので、算出さ
れる実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔが一定値（この
例では２年）以下になった時点から年数値表示とし、初
期値から年数値表示に変わるまでの期間を等分して、
「ＦＵＬＬ」，「ＨＡＬＦ」などのキャラクタ表示をＬ
ＥＤ表示器１３で行わせるものである。具体的には、Ｌ
ＥＤ表示器１３では、「ＦＵＬ」、「ＨＡＦ」といった
キャラクタ表示あるいは「２．０ｙ」といった年数値表
示を行う。
【００９７】また、この実施の形態では、設備の変更等
により、温度や負荷などの使用条件が大きく変化して上
述の図７の直線の傾きが途中で大きく変化した場合に、
その変化に対応して精度の高い残存寿命の予測を行える
ように次のようにしている。
により、温度や負荷などの使用条件が大きく変化して上
述の図７の直線の傾きが途中で大きく変化した場合に、
その変化に対応して精度の高い残存寿命の予測を行える
ように次のようにしている。
【００９８】図９は、上述の図７に対応する図であり、
各時点の横軸の実使用における経過時間をＸ座標で、縦
軸の所定温度における残存寿命をＹ座標で示している。
各時点の横軸の実使用における経過時間をＸ座標で、縦
軸の所定温度における残存寿命をＹ座標で示している。
【００９９】稼動開始からＸ１時間経過したＣ時点（Ｘ
１，Ｙ２）での実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔは、
破線で示されるように寿命限界で制限されるので、Ｘ１
０−Ｘ１となる。ここで、Ｘ１０は、上述のＸｍａｘに
対応するものであり、電解コンデンサの物性面からの寿
命限界である。Ｃ時点（Ｘ１，Ｙ２）以降に、実使用温
度ｔｘが大きくなって傾きが変わったＤ時点（Ｘ２，Ｙ
３）での残存寿命Ｌｒｅｓｔは、１点鎖線で示されるよ
うにＸ９−Ｘ２となる。本来、真の残存寿命Ｌｒｅｓｔ
は、新しい傾きの実線で示される直線の横軸との交点
（ｘ６，０）のＸ６−Ｘ２となるはずである。
１，Ｙ２）での実使用における残存寿命Ｌｒｅｓｔは、
破線で示されるように寿命限界で制限されるので、Ｘ１
０−Ｘ１となる。ここで、Ｘ１０は、上述のＸｍａｘに
対応するものであり、電解コンデンサの物性面からの寿
命限界である。Ｃ時点（Ｘ１，Ｙ２）以降に、実使用温
度ｔｘが大きくなって傾きが変わったＤ時点（Ｘ２，Ｙ
３）での残存寿命Ｌｒｅｓｔは、１点鎖線で示されるよ
うにＸ９−Ｘ２となる。本来、真の残存寿命Ｌｒｅｓｔ
は、新しい傾きの実線で示される直線の横軸との交点
（ｘ６，０）のＸ６−Ｘ２となるはずである。
【０１００】上述の（３）式は、稼動開始からｎ時点ま
での経過時間Ｘｎにおける直線の傾きが一定であると仮
定して、初期時点の総残存寿命Ｌ0の点を基準として演
算している。このため、途中で傾きが変化した場合に
は、誤差が生じてしまう。しかし、この誤差は、時間の
経過とともに、補正されて解消される。例えば、Ｅ時点
（Ｘ３，Ｙ４）における残存寿命Ｌｒｅｓｔは、２点鎖
線で示されるようにＸ８−Ｘ３となり、また、Ｆ時点
（Ｘ４，Ｙ５）における残存寿命Ｌｒｅｓｔは、細い実
線で示されるようにＸ７−Ｘ４となり、真の残存寿命Ｌ
ｒｅｓｔとの誤差は、小さく補正されていき、Ｌｒｅｓ
ｔ≒０となるＨ時点（ｘ６，０）近傍では、その誤差は
解消される。
での経過時間Ｘｎにおける直線の傾きが一定であると仮
定して、初期時点の総残存寿命Ｌ0の点を基準として演
算している。このため、途中で傾きが変化した場合に
は、誤差が生じてしまう。しかし、この誤差は、時間の
経過とともに、補正されて解消される。例えば、Ｅ時点
（Ｘ３，Ｙ４）における残存寿命Ｌｒｅｓｔは、２点鎖
線で示されるようにＸ８−Ｘ３となり、また、Ｆ時点
（Ｘ４，Ｙ５）における残存寿命Ｌｒｅｓｔは、細い実
線で示されるようにＸ７−Ｘ４となり、真の残存寿命Ｌ
ｒｅｓｔとの誤差は、小さく補正されていき、Ｌｒｅｓ
ｔ≒０となるＨ時点（ｘ６，０）近傍では、その誤差は
解消される。
【０１０１】一方、傾きが変わったＣ（Ｘ１，Ｙ２）時
点において、Ｘ１＝０、Ｌ０＝Ｙ２に置き換えてリセッ
トすれば、基準としていた初期時点の総残存寿命Ｌ0の
点（０，Ｌ0）が、Ｃ時点（Ｘ１，Ｙ２）に置き換えら
れることになり、これによって、誤差が生じるのを防ぐ
ことができる。
点において、Ｘ１＝０、Ｌ０＝Ｙ２に置き換えてリセッ
トすれば、基準としていた初期時点の総残存寿命Ｌ0の
点（０，Ｌ0）が、Ｃ時点（Ｘ１，Ｙ２）に置き換えら
れることになり、これによって、誤差が生じるのを防ぐ
ことができる。
【０１０２】そこで、この実施の形態では、設備の変更
等により、温度や負荷などの使用条件が大きく変化した
ときには、その時点で、スイッチや外部信号によってリ
セットを行い、基準点を置き換えて誤差のない残存寿命
を表示するようにしている。
等により、温度や負荷などの使用条件が大きく変化した
ときには、その時点で、スイッチや外部信号によってリ
セットを行い、基準点を置き換えて誤差のない残存寿命
を表示するようにしている。
【０１０３】また、この実施の形態では、初期時点にお
ける総残存寿命Ｌ0に対して、現在の寿命がどの程度減
少しているか、すなわち、劣化しているかを次式で算出
して劣化度Ｅ（％）として表示することもできる。
ける総残存寿命Ｌ0に対して、現在の寿命がどの程度減
少しているか、すなわち、劣化しているかを次式で算出
して劣化度Ｅ（％）として表示することもできる。
【０１０４】Ｅ＝（Ｌn/Ｌ0）×１００
実使用の温度ｔｘが高い場合と低い場合とでは、図７に
示される直線の傾きが異なるので、残存寿命Ｌｒｅｓｔ
が同じであっても、劣化度Ｅは、異なることになる。し
たがって、一定の残りマージンを基準にして交換時期を
決定したい場合には、この劣化度による表示が有効であ
る。
示される直線の傾きが異なるので、残存寿命Ｌｒｅｓｔ
が同じであっても、劣化度Ｅは、異なることになる。し
たがって、一定の残りマージンを基準にして交換時期を
決定したい場合には、この劣化度による表示が有効であ
る。
【０１０５】（その他の実施の形態）上述の実施の形態
では、予め定めた一定時間毎に残存寿命を算出したけれ
ども、本発明の他の実施の形態として、操作などに応答
して残存寿命を演算して表示するようにしてもよい。
では、予め定めた一定時間毎に残存寿命を算出したけれ
ども、本発明の他の実施の形態として、操作などに応答
して残存寿命を演算して表示するようにしてもよい。
【０１０６】上述の実施の形態では、２点を結ぶ直線の
横軸との交点を、寿命に到達するまでの経過時間Ｘｘと
したけれども、２点に限らず、３点以上の点を用いて最
小二乗法などによって直線を求めてよい。
横軸との交点を、寿命に到達するまでの経過時間Ｘｘと
したけれども、２点に限らず、３点以上の点を用いて最
小二乗法などによって直線を求めてよい。
【０１０７】
【発明の効果】以上のように本発明によれは、温度−寿
命法則に基づく演算式に従って、所定温度における残存
寿命を算出し、それを実使用における残存寿命に変換
し、寿命残り期間として報知するので、この寿命残り期
間から交換時期を把握してメンテナンス計画を立てるこ
とができ、寿命の到達を報知する従来のように、突然の
寿命到達によって設備のラインを停止するような事態を
未然に回避することができ、特に、コンデンサを備える
電源装置などの各種電子機器の交換時期の把握に有効で
ある。
命法則に基づく演算式に従って、所定温度における残存
寿命を算出し、それを実使用における残存寿命に変換
し、寿命残り期間として報知するので、この寿命残り期
間から交換時期を把握してメンテナンス計画を立てるこ
とができ、寿命の到達を報知する従来のように、突然の
寿命到達によって設備のラインを停止するような事態を
未然に回避することができ、特に、コンデンサを備える
電源装置などの各種電子機器の交換時期の把握に有効で
ある。
【０１０８】また、本発明によれば、薄い絶縁テープを
温度センサに巻回して絶縁を確保しながら温度センサを
コンデンサに密着して配置でき、精度の高い温度検出が
可能となり、熱収縮チューブで温度センサと電解コンデ
ンサとを一体化することにより、外気風などによって温
度センサだけが急峻に温度変動するようなことがなく、
精度の高い温度検出、したがって、精度の高い残存寿命
の算出が可能になる。
温度センサに巻回して絶縁を確保しながら温度センサを
コンデンサに密着して配置でき、精度の高い温度検出が
可能となり、熱収縮チューブで温度センサと電解コンデ
ンサとを一体化することにより、外気風などによって温
度センサだけが急峻に温度変動するようなことがなく、
精度の高い温度検出、したがって、精度の高い残存寿命
の算出が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一つの実施の形態に係る電源装置の全
体斜視図である。
体斜視図である。
【図２】図１の電源装置の分解斜視図である。
【図３】図１の電源装置の分解斜視図である。
【図４】図１の電源装置の一部を横断した平面図であ
る。
る。
【図５】電源装置の概略構成を示すブロック図である。
【図６】電解コンデンサの温度検出構造を示す説明図で
ある。
ある。
【図７】残存寿命の算出を説明するための図である。
【図８】表示タイミングの切換えを模擬的に示す説明図
である。
である。
【図９】リセット機能を説明するための図である。
【符号の説明】
４ 電源回路部
６ 演算回路部
１３ ＬＥＤ表示器
２１ センサ基板
２２ 温度センサ
２３ 絶縁テープ
２４ 電解コンデンサ
２５ 熱収縮チューブ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
Ｆターム(参考） 5E082 AB09 BB03 BC14 MM31 MM35
MM38
5H730 AA12 AA17 AA20 AS01 BB21
BB91 CC01 EE01 FD01 FD61
FF09 FG01 XX04 XX24 XX38
XX50 ZZ12 ZZ15
Claims (16)
- 【請求項１】 対象物の残存寿命を予測する方法であっ
て、 アレニウスの法則に基づく演算式に従って、所定温度に
おける残存寿命を算出する算出ステップと、 算出した残存寿命を、実使用における残存寿命に変換す
る変換ステップとを備えることを特徴とする残存寿命予
測方法。 - 【請求項２】 予め定めた時間が経過する度に、前記算
出ステップおよび前記変換ステップを行い、 前記算出ステップでは、実使用における前記予め定めた
時間の経過を、前記所定温度における経過時間に換算し
て残存寿命から減算し、 前記変換ステップでは、前記所定温度における残存寿命
と実使用における残存寿命との間の比例関係に基づいて
変換する請求項１記載の残存寿命予測方法。 - 【請求項３】 前記算出ステップでは、実使用時の温度
を用いてアレニウスの法則に基づいて前記換算を行い、 前記変換ステップでは、前記所定温度における初期時点
の総残存寿命を基準とし、前記所定温度における他の時
点の残存寿命と、前記他の時点に対応する実使用におけ
る経過時間とに基づいて、実使用における残存寿命に変
換する請求項２記載の残存寿命予測方法。 - 【請求項４】 前記対象物がコンデンサである請求項１
〜３のいずれかに記載の残存寿命予測方法。 - 【請求項５】 コンデンサの温度を検出する構造であっ
て、 前記コンデンサの温度を検出する温度センサを、絶縁テ
ープで巻回して前記コンデンサに密着させて配置したこ
とを特徴とする温度検出構造。 - 【請求項６】 前記絶縁テープが巻回された温度センサ
および前記コンデンサを、熱収縮チューブ内に収納して
一体化した請求項５記載の温度検出構造。 - 【請求項７】 前記コンデンサは、トランスによって絶
縁された一次側の回路部品であり、前記温度センサは、
二次側の回路に組み込まれる部品であって、該温度セン
サは、リード線を介して二次側の回路に接続される請求
項５または６記載の温度検出構造。 - 【請求項８】 コンデンサを備える電子機器であって、 前記コンデンサの温度を検出する温度センサと、 前記温度センサからの検出温度を用いて、前記コンデン
サの残存寿命を演算する演算手段と、 演算された残存寿命を報知する報知手段とを備え、 前記演算手段は、アレニウスの法則に基づく演算式に従
って、所定温度における残存寿命を算出する算出部を備
えることを特徴とする電子機器。 - 【請求項９】 前記演算手段は、実使用における前記コ
ンデンサの残存寿命を演算するものであって、前記算出
部で算出された所定温度における残存寿命を、実使用に
おける残存寿命に変換する変換部を備え、 前記報知手段は、演算された残存寿命を表示するもので
ある請求項８記載の電子機器。 - 【請求項１０】 前記演算手段は、予め定めた時間が経
過する度に、実使用における前記コンデンサの残存寿命
を演算するものであり、 前記算出部は、実使用における前記予め定めた時間の経
過を、前記所定温度における経過時間に換算して残存寿
命から減算するものであり、 前記変換部は、前記所定温度における残存寿命と実使用
における残存寿命との間の比例関係に基づいて変換する
ものである請求項９記載の電子機器。 - 【請求項１１】 前記算出部は、前記温度センサからの
検出温度を用いてアレニウスの法則に基づいて前記換算
を行うものであり、 前記変換部は、前記所定温度における初期時点の総残存
寿命を基準とし、前記所定温度における他の時点の残存
寿命と、前記他の時点に対応する実使用における経過時
間とに基づいて、実使用における残存寿命に変換するも
のである請求項１０記載の電子機器。 - 【請求項１２】 前記変換部における変換の基準となる
前記初期時点の総残存寿命を、別の時点における残存寿
命に置き換える手段を備える請求項１１記載の電子機
器。 - 【請求項１３】 前記コンデンサは、トランスによって
絶縁された一次側の回路部品であり、前記温度センサ
は、二次側の回路に組み込まれる部品であって、該温度
センサは、絶縁テープで巻回されて前記コンデンサに密
着配置される請求項８〜１２のいずれかに記載の電子機
器。 - 【請求項１４】 前記絶縁テープが巻回された温度セン
サおよび前記コンデンサを、熱収縮チューブ内に収納し
て一体化するとともに、前記温度センサは、前記演算手
段にリード線を介して接続される請求項１３記載の電子
機器。 - 【請求項１５】 前記報知手段は、演算された残存寿命
を、キャラクタ表示と数値表示とに切換可能である請求
項８〜１４のいずれかに記載の電子機器。 - 【請求項１６】 前記演算手段は、前記算出部で算出さ
れる所定温度における残存寿命が、前記所定温度におけ
る初期時点の総残存寿命に占める割合を劣化度として算
出する劣化度算出部を備え、 前記報知手段は、算出された前記劣化度を表示する請求
項８〜１５のいずれかに記載の電子機器。
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002044630A JP3850311B2 (ja) | 2002-02-21 | 2002-02-21 | 残存寿命予測報知方法および電子機器 |
| KR10-2003-0004193A KR100538070B1 (ko) | 2002-02-21 | 2003-01-22 | 잔존 수명 예측방법, 온도 검출구조 및 전자기기 |
| US10/361,843 US6880967B2 (en) | 2002-02-21 | 2003-02-11 | Remaining lifetime estimating method, temperature detecting structure and electronic equipment |
| TW092103176A TWI259906B (en) | 2002-02-21 | 2003-02-17 | A condenser residual life prediction method, a temperature detecting construction and an electronic machine |
| EP03003773.3A EP1338874B2 (en) | 2002-02-21 | 2003-02-19 | Remaining lifetime estimating method, temperature detection structure and electronic equipment |
| CNB03104896XA CN1181353C (zh) | 2002-02-21 | 2003-02-21 | 剩余寿命预测方法、温度检测构造和电子装置 |
| CNU032044429U CN2630815Y (zh) | 2002-02-21 | 2003-02-21 | 温度检测构造和电子装置 |
| KR1020050101582A KR100656665B1 (ko) | 2002-02-21 | 2005-10-27 | 온도 검출구조 및 전자기기 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002044630A JP3850311B2 (ja) | 2002-02-21 | 2002-02-21 | 残存寿命予測報知方法および電子機器 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006173871A Division JP4508163B2 (ja) | 2006-06-23 | 2006-06-23 | 温度検出構造および電子機器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003243269A true JP2003243269A (ja) | 2003-08-29 |
| JP3850311B2 JP3850311B2 (ja) | 2006-11-29 |
Family
ID=27655309
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002044630A Expired - Lifetime JP3850311B2 (ja) | 2002-02-21 | 2002-02-21 | 残存寿命予測報知方法および電子機器 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6880967B2 (ja) |
| EP (1) | EP1338874B2 (ja) |
| JP (1) | JP3850311B2 (ja) |
| KR (2) | KR100538070B1 (ja) |
| CN (2) | CN1181353C (ja) |
| TW (1) | TWI259906B (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006302883A (ja) * | 2005-04-18 | 2006-11-02 | Marvell World Trade Ltd | 蛍光照明器具用の改良型制御システム |
| KR100799410B1 (ko) | 2005-03-15 | 2008-01-30 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로그래머블 컨트롤러 |
| JP2009195044A (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-27 | Tdk-Lambda Corp | 電源装置及び電解コンデンサ寿命警告方法 |
| US8093905B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-01-10 | Mitsubishi Electric Corporation | Power supply device and sequencer system |
| JP2012069712A (ja) * | 2010-09-23 | 2012-04-05 | Mitsubishi Materials Corp | 温度センサ付き電解コンデンサ |
| JP2013080787A (ja) * | 2011-10-03 | 2013-05-02 | Fuji Electric Co Ltd | 寿命推定装置、寿命推定方法及びプログラム |
| JP2018019530A (ja) * | 2016-07-28 | 2018-02-01 | 京セラ株式会社 | プロセッサ、電力管理装置、およびｅｍｓサーバ |
Families Citing this family (67)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20060262623A1 (en) | 2002-10-15 | 2006-11-23 | Sehat Sutardja | Phase locked loop with temperature compensation |
| JP4151651B2 (ja) * | 2003-03-17 | 2008-09-17 | 三菱電機株式会社 | インバータ装置 |
| NO320468B1 (no) * | 2003-10-17 | 2005-12-12 | Nat Oilwell Norway As | System for overvakning og administrasjon av vedlikehold av utstyrskomponenter |
| WO2005081384A2 (de) * | 2004-02-19 | 2005-09-01 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung und verfahren zum regeln einer taktfrequenz eines stromrichters |
| US7536506B2 (en) * | 2004-06-21 | 2009-05-19 | Dot Hill Systems Corporation | RAID controller using capacitor energy source to flush volatile cache data to non-volatile memory during main power outage |
| US7380055B2 (en) | 2004-06-21 | 2008-05-27 | Dot Hill Systems Corporation | Apparatus and method in a cached raid controller utilizing a solid state backup device for improving data availability time |
| US7081761B2 (en) * | 2004-07-14 | 2006-07-25 | General Motors Corporation | Ultracapacitor useful life prediction |
| US7414369B2 (en) * | 2005-04-18 | 2008-08-19 | Marvell World Trade Ltd. | Control system for fluorescent light fixture |
| US7451348B2 (en) | 2005-08-04 | 2008-11-11 | Dot Hill Systems Corporation | Dynamic write cache size adjustment in raid controller with capacitor backup energy source |
| US7487391B2 (en) * | 2005-08-04 | 2009-02-03 | Dot Hill Systems Corporation | Storage controller super capacitor adaptive life monitor |
| CN101208648B (zh) * | 2005-08-04 | 2010-06-02 | 达西系统股份有限公司 | 存储装置控制器的超级电容的寿命监视 |
| US7661002B2 (en) * | 2005-08-04 | 2010-02-09 | Dot Hill Systems Corporation | Storage controller super capacitor dynamic voltage throttling |
| CN101170263B (zh) * | 2006-10-27 | 2011-01-26 | 通用汽车环球科技运作公司 | 电气系统和提高超电容器性能的方法 |
| WO2008061562A1 (de) * | 2006-11-22 | 2008-05-29 | Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH | Elektronisches vorschaltgerät, leuchte sowie verfahren zum ermitteln einer kenngrösse betreffend die lebensdauer eines elektronischen vorschaltgeräts |
| US20080284449A1 (en) * | 2007-05-15 | 2008-11-20 | Vijay Phadke | Power converters with component stress monitoring for fault prediction |
| US7719812B2 (en) * | 2007-05-15 | 2010-05-18 | Astec International Limited | Power converters with rate of change monitoring for fault prediction and/or detection |
| US7719808B2 (en) * | 2007-05-15 | 2010-05-18 | Astec International Limited | Power converters with operating efficiency monitoring for fault detection |
| CN101132140B (zh) * | 2007-08-06 | 2011-01-12 | 上海发电设备成套设计研究院 | 一种汽轮发电机定子绕组绝缘寿命的评价方法 |
| FI120758B (fi) | 2007-08-31 | 2010-02-15 | Vacon Oyj | Komponentin eliniän määritys |
| US7817051B2 (en) * | 2007-09-14 | 2010-10-19 | Astec International Limited | Power converter with degraded component alarm |
| US7830269B2 (en) * | 2007-09-14 | 2010-11-09 | Astec International Limited | Health monitoring for power converter capacitors |
| US7804415B2 (en) | 2007-09-14 | 2010-09-28 | Astec International Limited | Health monitoring for power converter components |
| US20090167541A1 (en) * | 2007-12-26 | 2009-07-02 | Dooley Kevin A | Monitoring of Capacitor |
| CN101247284B (zh) * | 2008-03-20 | 2010-12-29 | 中国科学院嘉兴无线传感网工程中心 | 一种面向规则型带状无线传感器网络的寿命预测方法 |
| KR101004519B1 (ko) | 2008-12-08 | 2011-01-11 | 한국오므론전장주식회사 | 트랜스 결합 구조 |
| JP5192585B2 (ja) * | 2009-02-23 | 2013-05-08 | 三菱電機株式会社 | 開閉装置の余寿命診断方法及び装置 |
| CN101825689A (zh) * | 2010-04-27 | 2010-09-08 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 电源寿命适时监察方法 |
| DE102010031135B4 (de) * | 2010-07-08 | 2015-01-22 | Micropatent B.V. | Überwachungsanordnung zum Überwachen einer Vorrichtung und Verfahren zum Überwachen einer Vorrichtung |
| CN101936784A (zh) * | 2010-08-31 | 2011-01-05 | 美的集团有限公司 | 一种轴型电容器的测温装置 |
| FI20106251A0 (fi) | 2010-11-26 | 2010-11-26 | Endeleo Oy | Teholähde |
| JP5942355B2 (ja) * | 2011-07-25 | 2016-06-29 | セイコーエプソン株式会社 | 印刷装置 |
| US20150112697A1 (en) | 2011-11-25 | 2015-04-23 | Braebon Medical Corporation | Method and apparatus for verifying compliance with dental appliance therapy |
| FR2990725B1 (fr) * | 2012-05-16 | 2014-05-02 | Snecma | Procede de surveillance d'une degradation d'un dispositif embarque d'un aeronef avec determination automatique d'un seuil de decision |
| JP6060069B2 (ja) * | 2013-03-20 | 2017-01-11 | 株式会社デンソー | コンデンサモジュール |
| FR3010448B1 (fr) * | 2013-09-06 | 2015-08-21 | Snecma | Procede de surveillance d’une degradation d’un dispositif embarque d’un aeronef avec determination automatique d’un seuil de decision |
| CN103675533B (zh) * | 2013-11-28 | 2016-03-30 | 华为技术有限公司 | 直流母线电解电容寿命检测方法和装置 |
| JP2015156064A (ja) * | 2014-02-20 | 2015-08-27 | 日本電気株式会社 | 情報処理装置及び電源供給方法 |
| CN104036110A (zh) * | 2014-03-24 | 2014-09-10 | 北京航空航天大学 | 一种针对电子单机热待机环境下的剩余寿命预测装置 |
| US20160054289A1 (en) * | 2014-08-25 | 2016-02-25 | General Electric Company | Industrial machine lubricating oil analyzer system, computer program product and related methods |
| CN105469980A (zh) * | 2014-09-26 | 2016-04-06 | 西门子公司 | 电容器模块、电路布置及运行方法 |
| KR20160141971A (ko) * | 2015-06-02 | 2016-12-12 | 엘에스산전 주식회사 | Plc 장치 |
| EP3109648B1 (en) * | 2015-06-25 | 2018-05-02 | Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V. | Method and system for on-line monitoring an electrolytic capacitor condition |
| KR101626859B1 (ko) * | 2015-09-23 | 2016-06-02 | 홍종국 | 와이어 커넥터 타입 온도센서 |
| CN107091982B (zh) * | 2016-02-18 | 2023-12-26 | 浙江正泰电器股份有限公司 | 断路器的温度采集装置 |
| CN107505511A (zh) * | 2016-06-14 | 2017-12-22 | 北京天诚同创电气有限公司 | 直流支撑电容的生命周期预测方法、装置及系统 |
| WO2018073943A1 (ja) * | 2016-10-20 | 2018-04-26 | 三菱電機株式会社 | 寿命予測装置 |
| CN106597176A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-04-26 | 北京金风科创风电设备有限公司 | 电解电容器剩余寿命的预测方法及系统 |
| CN106597313A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-04-26 | 北京金风科创风电设备有限公司 | 电池剩余寿命的预测方法及系统 |
| FI128211B (fi) * | 2017-05-23 | 2019-12-31 | Abloy Oy | Sähkölukkojärjestely |
| DE112017001308T5 (de) * | 2017-07-18 | 2019-03-14 | Mitsubishi Electric Corporation | Speicherprogrammierbare Steuerung, Steuereinheit und Verfahren zum Berechnen der Lebensdauer einer Einheit |
| CN107607818A (zh) * | 2017-09-27 | 2018-01-19 | 四川大能科技有限公司 | 一种电动车驱动器电容寿命评估方法及其系统 |
| JP6933097B2 (ja) * | 2017-11-13 | 2021-09-08 | オムロン株式会社 | 電源システム、電源装置の動作状態表示法、およびプログラム |
| DE102017221096A1 (de) | 2017-11-24 | 2019-05-29 | Ziehl-Abegg Se | Verfahren und Bewertungseinheit zum Ermitteln der Restlebensdauer eines Kondensators sowie System |
| EP3521786B8 (en) * | 2018-01-31 | 2020-11-18 | ABB Power Grids Switzerland AG | Wound electrical component with printed electronics sensor |
| DE102018106114A1 (de) * | 2018-03-15 | 2019-09-19 | Eaton Intelligent Power Limited | Netzteil |
| JP7039019B2 (ja) * | 2018-03-30 | 2022-03-22 | 株式会社アイエイアイ | 電子機器、ロボット制御装置、及び、電解コンデンサ寿命推定方法 |
| JP6962302B2 (ja) | 2018-09-28 | 2021-11-05 | オムロン株式会社 | 電源装置および電源システム |
| JP7206758B2 (ja) * | 2018-09-28 | 2023-01-18 | 日本ケミコン株式会社 | コンデンサの寿命推定方法、その寿命推定プログラム、情報処理装置およびコンデンサ |
| DE102018217336A1 (de) * | 2018-10-10 | 2020-04-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Restlebensdauervorhersage für Schalter |
| CN109578313A (zh) * | 2018-12-21 | 2019-04-05 | 南京埃斯顿自动化股份有限公司 | 一种风扇寿命的实时在线预测方法 |
| KR102266350B1 (ko) | 2019-11-05 | 2021-06-17 | 주식회사 수산에너솔 | 알루미늄 고분자 커패시터의 수명 평가 방법 |
| FR3104727B1 (fr) * | 2019-12-13 | 2021-12-24 | Commissariat Energie Atomique | Surveillance du vieillissement d’un composant |
| CN111398706A (zh) * | 2020-03-16 | 2020-07-10 | 中国科学院微小卫星创新研究院 | 一种导航用大功率固态功放的寿命评估系统及方法 |
| JP2022142223A (ja) * | 2021-03-16 | 2022-09-30 | 本田技研工業株式会社 | 残存寿命予測方法、残存寿命予測システム及び車両 |
| CN113011653A (zh) * | 2021-03-18 | 2021-06-22 | 立铠精密科技(盐城)有限公司 | 一种刀具管理方法、系统及计算机可读存储介质 |
| EP4109063A1 (en) * | 2021-06-23 | 2022-12-28 | Delta Electronics (Thailand) Public Co., Ltd. | Lifetime estimation of electrolytic capacitors |
| KR102619765B1 (ko) * | 2021-10-29 | 2024-01-02 | 주식회사 건식 | 전원 공급 장치의 수명 표시 장치 |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2314954C3 (de) | 1973-03-26 | 1982-08-26 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Anordnung zur laufenden Ermittlung und Überwachung der Lebensdauer von thermisch belasteten dickwandigen Bauelementen |
| USRE32625E (en) * | 1983-01-05 | 1988-03-15 | Syracuse University | Dynamic testing of electrical conductors |
| US4733974A (en) † | 1986-07-29 | 1988-03-29 | Qualitrol Corporation | Transformer life consumption indicator |
| US5019760A (en) * | 1989-12-07 | 1991-05-28 | Electric Power Research Institute | Thermal life indicator |
| JP3007652B2 (ja) † | 1990-05-19 | 2000-02-07 | 日本ゼオン株式会社 | プラスチック成形品 |
| GB9420320D0 (en) † | 1994-10-08 | 1994-11-23 | Honeywell Sa | Electronic apparatus |
| JP3007952B2 (ja) † | 1995-05-22 | 2000-02-14 | 九州電力株式会社 | 蓄電池の寿命診断方法および寿命診断装置 |
| JP3206374B2 (ja) † | 1995-06-19 | 2001-09-10 | 松下電器産業株式会社 | 回路機能ブロックの信頼性試験方法 |
| US5700089A (en) * | 1996-05-08 | 1997-12-23 | Ferret Instruments, Inc. | Battery tester with load temperature detection |
| US5774425A (en) * | 1996-11-15 | 1998-06-30 | The University Of British Columbia | Time monitoring appliance |
| JP3516962B2 (ja) * | 1997-06-03 | 2004-04-05 | 三菱電機株式会社 | 絶縁紙の劣化評価方法 |
| US6564165B1 (en) * | 1999-12-22 | 2003-05-13 | Trw Inc. | Apparatus and method for inline testing of electrical components |
| US6532421B2 (en) * | 2000-04-07 | 2003-03-11 | Toho Gas Co., Ltd | Method for estimating a life of apparatus under narrow-band random stress variation |
| GB2361064A (en) | 2000-04-08 | 2001-10-10 | Glance Tech Ltd | Data logging device which determines lifetime of a product |
| DE10021118A1 (de) † | 2000-05-03 | 2001-11-08 | Baumueller Nuernberg Gmbh | Verfahren und Anordnung zum Erfassen des Lebensdauerendes eines elektrischen Geräts mit Elektrolyt-Kondensator |
| JP2001327162A (ja) † | 2000-05-19 | 2001-11-22 | Omron Corp | 電源装置およびこれに用いるアルミ電解コンデンサ |
| US6522247B2 (en) † | 2000-05-23 | 2003-02-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus monitoring system and apparatus monitoring method |
| US6637930B2 (en) * | 2001-10-02 | 2003-10-28 | International Rectifier Corporation | Method for calculating the temperature rise profile of a power MOSFET |
| US20040004994A1 (en) * | 2002-07-03 | 2004-01-08 | Dolly Wu | Temperature sensing read-out system for an integrated circuit |
-
2002
- 2002-02-21 JP JP2002044630A patent/JP3850311B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2003
- 2003-01-22 KR KR10-2003-0004193A patent/KR100538070B1/ko active IP Right Grant
- 2003-02-11 US US10/361,843 patent/US6880967B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-02-17 TW TW092103176A patent/TWI259906B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-02-19 EP EP03003773.3A patent/EP1338874B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-02-21 CN CNB03104896XA patent/CN1181353C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2003-02-21 CN CNU032044429U patent/CN2630815Y/zh not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-10-27 KR KR1020050101582A patent/KR100656665B1/ko active IP Right Grant
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100799410B1 (ko) | 2005-03-15 | 2008-01-30 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로그래머블 컨트롤러 |
| US7856278B2 (en) | 2005-03-15 | 2010-12-21 | Omron Corporation | Programmable controller device |
| JP2006302883A (ja) * | 2005-04-18 | 2006-11-02 | Marvell World Trade Ltd | 蛍光照明器具用の改良型制御システム |
| US8120286B2 (en) | 2005-04-18 | 2012-02-21 | Marvell World Trade Ltd. | Control system for fluorescent light fixture |
| JP2012124180A (ja) * | 2005-04-18 | 2012-06-28 | Marvell World Trade Ltd | 蛍光照明器具用の改良型制御システム |
| US8531107B2 (en) | 2005-04-18 | 2013-09-10 | Marvell World Trade Ltd | Control system for fluorescent light fixture |
| TWI426827B (zh) * | 2005-04-18 | 2014-02-11 | Marvell World Trade Ltd | 用於螢光燈裝置之改良式控制系統（一） |
| US8093905B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-01-10 | Mitsubishi Electric Corporation | Power supply device and sequencer system |
| JP2009195044A (ja) * | 2008-02-15 | 2009-08-27 | Tdk-Lambda Corp | 電源装置及び電解コンデンサ寿命警告方法 |
| JP2012069712A (ja) * | 2010-09-23 | 2012-04-05 | Mitsubishi Materials Corp | 温度センサ付き電解コンデンサ |
| JP2013080787A (ja) * | 2011-10-03 | 2013-05-02 | Fuji Electric Co Ltd | 寿命推定装置、寿命推定方法及びプログラム |
| JP2018019530A (ja) * | 2016-07-28 | 2018-02-01 | 京セラ株式会社 | プロセッサ、電力管理装置、およびｅｍｓサーバ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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