JP2005109084A - プリント基板および電子装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 はんだ付け部の劣化を診断するための専門的な知識や特別な装置を必要とせずに、プリント基板に実装した回路部品のはんだ付け部の劣化を診断することができるプリント基板および電子装置を提供する。
【解決手段】 回路部品をはんだ付け実装したプリント基板10上に、前記回路部品の回路動作に影響しないダミー部品としての抵抗器1をはんだ付け実装し、この抵抗器1のはんだ付け部に加わる応力を前記回路部品のはんだ付け部に加わる応力よりも厳しい条件とする。
【選択図】 図1
【解決手段】 回路部品をはんだ付け実装したプリント基板10上に、前記回路部品の回路動作に影響しないダミー部品としての抵抗器1をはんだ付け実装し、この抵抗器1のはんだ付け部に加わる応力を前記回路部品のはんだ付け部に加わる応力よりも厳しい条件とする。
【選択図】 図1
Description
この発明は、回路部品をはんだ付け実装したプリント基板のはんだ劣化の診断を行なうことができるプリント基板およびそのプリント基板を内蔵した電子装置に関する。
プリント基板のはんだ付け部の劣化は、はんだ付け部にかかる部品重量,熱,振動,衝撃等による応力が断続的にはんだ付け部に加わることにより進行し、最終的にははんだクラックが発生する。このようなはんだ付け部に発生する応力を緩和してはんだ付け部の劣化を抑制するものとして、例えば、特許文献1に示すものがある。
特許文献1では、ねじの締結部と、ねじ締結部から最も近いスルーホール部のはんだ付け部との間を遮断するように長穴溝を設け、この長穴溝により外内部からの応力を緩和してはんだ付け部の劣化を抑制する技術が示されている。
また、プリント基板のはんだ付け部の劣化を診断するものとして、例えば特許文献2に示す劣化診断装置がある。
特許文献2では、プリント基板のはんだ付け部のはんだの電位を検出する電位検出手段を設け、この電位検出手段により検出されたはんだの電位に基づき、プリント基板の劣化度を算出することで劣化度合いを判定し、劣化度が一定レベルを超えたときに警報を発するようにしている。
特開平9−27660号公報
特開平9−304461号公報
特許文献1では、ねじの締結部と、ねじ締結部から最も近いスルーホール部のはんだ付け部との間を遮断するように長穴溝を設け、この長穴溝により外内部からの応力を緩和してはんだ付け部の劣化を抑制する技術が示されている。
また、プリント基板のはんだ付け部の劣化を診断するものとして、例えば特許文献2に示す劣化診断装置がある。
特許文献2では、プリント基板のはんだ付け部のはんだの電位を検出する電位検出手段を設け、この電位検出手段により検出されたはんだの電位に基づき、プリント基板の劣化度を算出することで劣化度合いを判定し、劣化度が一定レベルを超えたときに警報を発するようにしている。
特許文献1のものでは、はんだ付け部の劣化を抑制することは可能であるが、はんだ付け部の劣化を診断するためには、診断の対象となるプリント基板の入出力端子より電気的特性検出して定格値と比較する等、別途にはんだ付け部の劣化を検出するための診断を行なう必要があり、この場合には診断箇所の決定や診断基準の決定等に専門的な知識および技術を必要とする。
また、特許文献2に示されたものは、プリント基板のはんだ付け部の劣化を診断するためには、電位検出手段や劣化度判定手段等からなる劣化診断装置を別途用意し、各はんだ付け部のはんだの電位を測定する必要がある。
この発明は、はんだ付け部の劣化を診断するための専門的な知識や特別な装置を必要とせずに、プリント基板に実装した回路部品のはんだ付け部の劣化を診断することができるプリント基板および電子装置を提供することにある。
また、特許文献2に示されたものは、プリント基板のはんだ付け部の劣化を診断するためには、電位検出手段や劣化度判定手段等からなる劣化診断装置を別途用意し、各はんだ付け部のはんだの電位を測定する必要がある。
この発明は、はんだ付け部の劣化を診断するための専門的な知識や特別な装置を必要とせずに、プリント基板に実装した回路部品のはんだ付け部の劣化を診断することができるプリント基板および電子装置を提供することにある。
上記目的を達成するため、この発明のプリント基板は、回路部品をはんだ付け実装したプリント基板において、同一プリント基板上に前記回路部品の回路動作に影響しないダミー部品をはんだ付け実装し、このダミー部品のはんだ付け部に加わる応力を前記回路部品のはんだ付け部に加わる応力よりも厳しい条件とするものとする。
また、この発明の電子装置は、回路部品をはんだ付け実装した複数のプリント基板を内蔵した電子装置において、前記複数のプリント基板のそれぞれに前記回路部品の回路動作に影響しないダミー部品をはんだ付け実装し、このダミー部品のはんだ付け部に加わる応力を前記回路部品のはんだ付け部に加わる応力よりも厳しい条件とするものとする。
また、この発明の電子装置は、回路部品をはんだ付け実装した複数のプリント基板を内蔵した電子装置において、前記複数のプリント基板のそれぞれに前記回路部品の回路動作に影響しないダミー部品をはんだ付け実装し、このダミー部品のはんだ付け部に加わる応力を前記回路部品のはんだ付け部に加わる応力よりも厳しい条件とするものとする。
この発明によれば、プリント基板上に回路部品の回路動作に影響しないダミー部品をはんだ付け実装し、このダミー部品のはんだ付け部に加わる応力を前記回路部品のはんだ付け部に加わる応力よりも厳しい条件とし、長期稼動によりダミー部品のはんだ付け部にはんだクラックが発生したことを検出して前記回路部品のはんだ付け部の劣化度合いを診断することができる。したがって、はんだ付け部の劣化を診断するための専門的な知識や特別な装置を必要とせずに、プリント基板に実装した回路部品のはんだ付け部の劣化度合いを診断することが可能になり、前記回路部品のはんだ付け部にクラックが発生する前にプリント基板の予防保全の時期を決定することができる。
図1は、この発明の第1の実施の形態を示す回路図である。
図1において、1はダミー部品としての抵抗器であり、この実施の形態では5V電源に接続されている。10はプリント基板であり、プリント基板10上には、通常の回路動作を行なうための回路部品(図示せず)がはんだ付け実装されるとともに、ダミー部品としての抵抗器1がはんだ付け実装されている。
一般に回路部品は、その装置の寿命を満たすための寿命保証をするために、適用する装置や回路条件等に応じて定められたディレーティング値に基づいて抵抗容量が決定される。例えば、抵抗器の抵抗値を100Ωとした場合、この抵抗器で発生する損失は0.25Wであり、ディレーティング値を50%以下とすると、0.5W以上の抵抗器が使用される。そこで、ダミー部品としての抵抗器に0.25Wの抵抗器1を使用すると、通常の回路動作を行なう回路部品としての抵抗器に比べて少なくとも2倍の責務が加わるために、ダミー部品としての抵抗器1のはんだ付け部の温度上昇値は、通常の回路動作を行なうための抵抗器に比べてほぼ2倍の温度上昇値となる。このため、ダミー部品としての抵抗器1のはんだ付け部のはんだ劣化は、通常の回路動作を行なうための抵抗器のはんだに比べて速く進行し、最終的にははんだクラックが発生する。このはんだクラックを目視検査等により検出することで、回路部品の劣化を診断し、プリント基板の保守時期を簡便に特定することができる。
図1において、1はダミー部品としての抵抗器であり、この実施の形態では5V電源に接続されている。10はプリント基板であり、プリント基板10上には、通常の回路動作を行なうための回路部品(図示せず)がはんだ付け実装されるとともに、ダミー部品としての抵抗器1がはんだ付け実装されている。
一般に回路部品は、その装置の寿命を満たすための寿命保証をするために、適用する装置や回路条件等に応じて定められたディレーティング値に基づいて抵抗容量が決定される。例えば、抵抗器の抵抗値を100Ωとした場合、この抵抗器で発生する損失は0.25Wであり、ディレーティング値を50%以下とすると、0.5W以上の抵抗器が使用される。そこで、ダミー部品としての抵抗器に0.25Wの抵抗器1を使用すると、通常の回路動作を行なう回路部品としての抵抗器に比べて少なくとも2倍の責務が加わるために、ダミー部品としての抵抗器1のはんだ付け部の温度上昇値は、通常の回路動作を行なうための抵抗器に比べてほぼ2倍の温度上昇値となる。このため、ダミー部品としての抵抗器1のはんだ付け部のはんだ劣化は、通常の回路動作を行なうための抵抗器のはんだに比べて速く進行し、最終的にははんだクラックが発生する。このはんだクラックを目視検査等により検出することで、回路部品の劣化を診断し、プリント基板の保守時期を簡便に特定することができる。
なお、この実施の形態では、ダミー部品としての抵抗器1の責務を通常の回路動作を行なう回路部品の2倍として説明したが、実際のプリント基板への適用においては、ダミー部品の責務を通常の回路動作を行なう回路部品の2倍とするのではなく、その装置に応じた適切な値が選定される。
また、上記では、ダミー部品のはんだ付け部の温度上昇の条件を通常の回路動作を行なう回路部品よりも厳しい条件としたが、ダミー部品のはんだ付け部に加わる振動,衝撃等の応力を回路部品よりも厳しい条件とすることも可能である。
図2は、この発明の第2の実施の形態を示す回路図であり、図1と同一符号を付したものはおおよそ同一の機能を有するので詳細な説明は省略する。
図2において、図1と異なる点は、ダミー部品としての抵抗器1に直列に発光ダイオード2が接続されていることである。なお、図2においても、第1の実施の形態と同様に、プリント基板10上には、抵抗器1とともに通常の回路動作を行なうための回路部品(図示せず)がはんだ付け実装されている。
また、上記では、ダミー部品のはんだ付け部の温度上昇の条件を通常の回路動作を行なう回路部品よりも厳しい条件としたが、ダミー部品のはんだ付け部に加わる振動,衝撃等の応力を回路部品よりも厳しい条件とすることも可能である。
図2は、この発明の第2の実施の形態を示す回路図であり、図1と同一符号を付したものはおおよそ同一の機能を有するので詳細な説明は省略する。
図2において、図1と異なる点は、ダミー部品としての抵抗器1に直列に発光ダイオード2が接続されていることである。なお、図2においても、第1の実施の形態と同様に、プリント基板10上には、抵抗器1とともに通常の回路動作を行なうための回路部品(図示せず)がはんだ付け実装されている。
このような構成において、第1の実施の形態と同様に、ダミー部品としての抵抗器1の責務を通常の回路動作を行なう回路部品に比べて厳しい条件に設定する。このように設定して回路動作を行なうと、抵抗器1のはんだ付け部においてはんだクラックが発生するまでは、発光ダイオード2に電流が流れて点灯しているが、ダミー部品としての抵抗器1のはんだ付け部のはんだ劣化が進行し、はんだクラックが発生すると発光ダイオード2には電流が流れなくなるために、発光ダイオード2が消灯する。発光ダイオード2が消灯したことにより回路部品のはんだ劣化が進んでいることの警報を視覚的に行なうことができ、プリント基板の保守時期を簡便に特定することができる。特に、この実施の形態によれば、発光ダイオード2の点灯・消灯に基づき視覚により一見してはんだの劣化を認識することができるので、プリント基板の保守時期の特定が一層容易になる。
図3は、この発明の第3の実施の形態を示す回路図であり、図1,2と同一符号を付したものはおおよそ同一の機能を有するので詳細な説明は省略する。
図3において、5V電源にダミー部品としての抵抗器11および抵抗器12が直列に接続され、プリント基板10上に通常の回路動作を行なうための回路部品(図示せず)とともにはんだ付け実装されている。ここで、抵抗器11および抵抗器12の抵抗値を同一にすると、はんだクラックが発生していない状態では、抵抗器11と抵抗器12との接続点の電位は2.5Vであり、A/D変換器20によりアナログ電圧レベルがデジタル信号に変換され、CPU30に読み込まれる。CPU30では読み込まれた電圧レベルに基づいてダミー部品としての抵抗器11,12のはんだ付け部に接触不良が発生したか否かを判断する。この実施の形態では、CPU30は、検出された電圧レベルが2.5Vであればはんだクラックは発生しておらず正常であると判断し、外部に設けられた警報回路40に警報信号を送信しない。
図3において、5V電源にダミー部品としての抵抗器11および抵抗器12が直列に接続され、プリント基板10上に通常の回路動作を行なうための回路部品(図示せず)とともにはんだ付け実装されている。ここで、抵抗器11および抵抗器12の抵抗値を同一にすると、はんだクラックが発生していない状態では、抵抗器11と抵抗器12との接続点の電位は2.5Vであり、A/D変換器20によりアナログ電圧レベルがデジタル信号に変換され、CPU30に読み込まれる。CPU30では読み込まれた電圧レベルに基づいてダミー部品としての抵抗器11,12のはんだ付け部に接触不良が発生したか否かを判断する。この実施の形態では、CPU30は、検出された電圧レベルが2.5Vであればはんだクラックは発生しておらず正常であると判断し、外部に設けられた警報回路40に警報信号を送信しない。
一方、長期間の装置の稼動後、抵抗器11のはんだ付け部のはんだ劣化が進行し、抵抗器11の(イ)点ではんだクラックが発生した場合には、抵抗器11と抵抗器12との接続点の電位は0Vとなり、CPU30が0V相当のデジタル信号をA/D変換器20を介して検出すると、はんだクラックが発生したと判断して外部の警報回路40に警報信号を送信する。また、抵抗器11の(ロ)点ではんだクラックが発生した場合には、抵抗器11と抵抗器12との接続点の電位は5Vとなり、CPU30が5V相当のデジタル信号をA/D変換器20を介して検出すると、はんだクラックが発生したと判断して外部の警報回路40に警報信号を送信する。なお、抵抗器12の両端ではんだクラックが発生した場合にも、上記と同様の理論によりCPU30は警報信号を外部の警報回路40に警報信号を送信することができる。
このようにCPU30では、読み込まれた電圧レベルに基づいてダミー部品のはんだ付け部にはんだクラックが発生したか否かを判断し、はんだクラックが発生したと判断すれば外部の警報回路40に警報信号を送信することにより、はんだクラックの発生を電気的に検出して回路部品のはんだ劣化が進んでいることの警報を発することができ、プリント基板の保守時期を簡便に特定することができる。
図4は、この発明の第4の実施の形態を示す回路図であり、図1,2,3と同一符号を付したものはおおよそ同一の機能を有するので詳細な説明は省略する。
図4において、10a〜10dはそれぞれプリント基板を示し、これら複数のプリント基板10a〜10dが電子装置50内に内蔵されている。プリント基板10aには、5V電源に直列に接続されたダミー部品としての抵抗器11a,12aが通常の回路動作を行なうための回路部品(図示せず)とともにはんだ付け実装されている。同様に、プリント基板10b〜10dにおいても、5V電源に直列に接続されたダミー部品としての抵抗器11b〜11dと抵抗器12b〜12dとがそれぞれ通常の回路動作を行なうための回路部品(図示せず)とともにはんだ付け実装されている。また、プリント基板10dには、A/D変換器20およびCPU30が設けられている。
図4は、この発明の第4の実施の形態を示す回路図であり、図1,2,3と同一符号を付したものはおおよそ同一の機能を有するので詳細な説明は省略する。
図4において、10a〜10dはそれぞれプリント基板を示し、これら複数のプリント基板10a〜10dが電子装置50内に内蔵されている。プリント基板10aには、5V電源に直列に接続されたダミー部品としての抵抗器11a,12aが通常の回路動作を行なうための回路部品(図示せず)とともにはんだ付け実装されている。同様に、プリント基板10b〜10dにおいても、5V電源に直列に接続されたダミー部品としての抵抗器11b〜11dと抵抗器12b〜12dとがそれぞれ通常の回路動作を行なうための回路部品(図示せず)とともにはんだ付け実装されている。また、プリント基板10dには、A/D変換器20およびCPU30が設けられている。
このような構成において、第3の実施の形態と同様に、各プリント基板10a〜10dに設けられた抵抗器11a〜11d,12a〜12dによって分圧された電圧をプリント基板10dに設けたCPU30がA/D変換器20を介して検出し、検出した電圧レベルに基づいてダミー部品のはんだ付け部にはんだクラックが発生したか否かを判断し、はんだクラックが発生したと判断すれば外部の警報回路40に警報信号を送信する。
1…抵抗器、2…発光ダイオード、10…プリント基板、11…抵抗器、12…抵抗器、30…CPU、40…警報回路。
Claims (8)
- 回路部品をはんだ付け実装したプリント基板において、同一プリント基板上に前記回路部品の回路動作に影響しないダミー部品をはんだ付け実装し、このダミー部品のはんだ付け部に加わる応力を前記回路部品のはんだ付け部に加わる応力よりも厳しい条件とすることを特徴とするプリント基板。
- 前記ダミー部品は振動,衝撃,温度の少なくとも1つの条件を前記回路部品よりも厳しい条件とすることを特徴とする請求項1に記載のプリント基板。
- 前記ダミー部品のはんだ付け部の接触不良が発生したことを検出する検出手段を有し、この検出手段がはんだ付け部の接触不良を検出したときに警報を発することを特徴とする請求項1または2に記載のプリント基板。
- 前記はんだ付け部の接触不良を検出した信号を電気通信回線を介して外部に設けた警報手段に送信することを特徴とする請求項3に記載のプリント基板。
- 回路部品をはんだ付け実装した複数のプリント基板を内蔵した電子装置において、前記複数のプリント基板のそれぞれに前記回路部品の回路動作に影響しないダミー部品をはんだ付け実装し、このダミー部品のはんだ付け部に加わる応力を前記回路部品のはんだ付け部に加わる応力よりも厳しい条件とすることを特徴とする電子装置。
- 前記ダミー部品は振動,衝撃,温度の少なくとも1つの条件を前記回路部品よりも厳しい条件とすることを特徴とする請求項1に記載の電子装置。
- 前記ダミー部品のはんだ付け部の接触不良が発生したことを検出する検出手段を有し、この検出手段がはんだ付け部の接触不良を検出したときに警報を発することを特徴とする請求項5または6に記載の電子装置。
- 前記はんだ付け部の接触不良を検出した信号を電気通信回線を介して外部に設けた警報手段に送信することを特徴とする請求項7に記載のプリント基板。
Priority Applications (1)
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