JP2009064568A - 電圧異常検出回路を備えたdc/acインバータ基板 - Google Patents

電圧異常検出回路を備えたdc/acインバータ基板 Download PDF

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Abstract

【課題】 異常放電による電圧異常を検出可能な、電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板を提供することにある。
【解決手段】 本発明のDC/ACインバータ基板は、電圧異常検出回路を備えている。電圧異常検出回路の高圧側検出センサ、低圧側検出センサ、高圧低圧兼用検出センサのいずれもトランスの2次側または接続点とは電気的に接続せずに配置する。これらの検出センサは、電気的に接続していないため異常放電発生時に過電圧が検出センサ回路に印加されないことから破損しない。
【選択図】 図1

Description

本発明は、液晶用バックライトのランプ点灯を制御するためのDC/ACインバータ基板に関し、特に電圧異常を検出可能な、電圧異常検出回路付きのDC/ACインバータ基板に関する。
液晶表示装置は、デバイスが非発光であることから光源としてバックライトが必要である。バックライトの光源としては、冷陰極蛍光管(CCFL)や、発光ダイオード(LED)などが使用されている。液晶表示装置は、これらの光源を点灯させるために、点灯回路を搭載したDC/ACインバータ基板を備えている。DC/ACインバータ基板には、DC電圧から高圧AC電圧を発生させるDC/ACインバータ回路、点灯回路とともに、さらに保護回路を備えている。保護回路は、光源に流れる電流を検出して、光源に流れる電流が異常に高くなった場合には高圧AC電圧の出力を停止させる。
これらのDC/ACインバータ基板(以下、INV基板と略記する)を、図7に示す。図においては4つのトランスを備え、それぞれがランプを動作させる構成例を示している。DC/ACインバータ基板は、DC電圧入力の入力コネクタ11と、AC電圧を出力する出力コネクタ12と、DC/AC出力変換するトランス13と、回路を過電流から保護する過電流ヒューズ14と、トランス異常出力時の過熱から保護する温度ヒューズ15と、出力コネクタ12と接続したランプからの電流(以下、管電流と略する)をフィードバックして、管電流が所定値以上になった場合には停止させる管電流検出回路16から構成されている。
例えば、出力コネクタ12におけるコネクタ抜けなどのオープンの場合には、管電流検出回路16にて電流検出を行い、異常時にインバータ出力回路を停止する。また、トランスの出力異常にて過熱が発生した際は、温度ヒューズ15が切れて、インバータ出力を停止する。DC入力の過電流に関しても過電流ヒューズ14が切れて、インバータ出力を停止する。このように、INV基板における過電流や、過熱を検出し、インバータ出力を停止することでINV基板や液晶表示装置の破損を防止する。
例えば、特許文献1(特開2005−183099号公報)には、保護回路を備えた放電灯点灯回路が開示されている。放電灯点灯回路の高圧トランスの二次側配線中で放電が発生した場合、その放電を検知して放電灯点灯回路の動作を停止する。大型の液晶表示装置に対しても構成可能な安価な放電灯点灯回路が提案されている。
特許文献1の放電灯点灯回路51を図8に示す。トランス55の二次側の一方に放電灯56を接続し、放電灯56の他方にランプ電流を電圧に変換するための電流電圧変換回路57とランプ電流制御用パターン58を設ける。トランス55の二次側のGND側に放電検出用パターン61をランプ電流制御用パターン58と近接並行して設けた構成とする。このため、ランプ電流制御用パターン56に流れるランプ電流の高周波成分ノイズ成分にて放電検出用パターンに誘起される電圧によってコロナ放電あるいはアーク放電を検知できる。
誘起される電圧を検知し、放電灯点灯回路の動作を停止することによって放電灯点灯回路を保護する。トランスの二次側のGND側に放電検出用パターンを設けた構成としているため、独立した放電検出用パターンを設ける必要がなく、放電灯点灯回路を簡素化できる。さらに、放電検出用パターンを直線状ではなく、ジグザグに形成することによってパターンのインダクタンスを任意に得られ、より効率よく放電を検出できる。
さらに電源装置の保護回路や、検出装置に関する先行文献として下記文献がある。特許文献2(特開2000−83319号公報)には、温度センサから構成された加熱防止用保護手段を備えた電源装置が開示されている。特許文献3(特開2001−14093号公報)には、電気的接続を平面配線及び接続器を利用した接触検出装置が開示されている。特許文献4(特開2001−286161号公報)には、圧電トランスの出力を監視する電源装置が開示されている。
特許文献5(特開2002−22777号公報)には、電流及び電圧が光に作用する性質を利用して配電線または送電線などの送配電線の電気量を測定する光方式センサ装置が開示されている。送配電線のそれぞれに光センサヘッドを取り付け、送配電線の電圧又は電流変化を読み取り、電気信号として送信している。
特許文献6(特開2003−28823号公報)には、印加電圧に応じ特定のガスに対し高い感度を示すセンサ1、2に、高電圧及び低電圧を交互に印加する信号処理装置が開示されている。特許文献7(特開2006−105955号公報)には、電源ケーブルの外側にセンサ対を近接配置し、両電極間の電圧により通電の有無を検出する通電検知装置が開示されている。特許文献8(特開平9−264792号公報)には、基板の表面及び裏面を検出することで、表面側と裏面側の温度差を補正する非接触温度センサが開示されている。
特開2005−183099号公報 特開2000−83319号公報 特開2001−14093号公報 特開2001−286161号公報 特開2002−22777号公報 特開2003−28823号公報 特開2006−105955号公報 特開平9−264792号公報
液晶表示装置はバックライトを点灯させるために、高圧トランスを含むDC/ACインバータ回路を搭載したINV基板を備えている。このINV基板においては、高圧トランスの二次側端子と配線間の接続不良、配線の断線、ランプとの接続不良が発生する場合がある。その不良箇所の間隔が狭い場合には、不良箇所でコロナ放電やアーク放電が発生し、INV基板や液晶表示装置を損傷させてしまうという問題がある。そのためINV基板には保護回路が設けられている。
しかし、例えば特許文献1(特開2005−183099号公報)に記載された保護回路は不十分であり、下記の問題点がある。特許文献1では、コロナ放電あるいはアーク放電を検知するために、放電検出用パターンとランプ電流制御用パターンとを近接並行して設けた構成となっている。放電検出用パターンはトランス2次側出力に配置し、ランプ電流制御用パターンは放電灯の出力の放電検出用パターンと近接並行に設けている。
第1の欠点として、放電検出用パターンとランプ電流制御用パターンにてトランスの2次側配線中でのコロナ放電あるいはアーク放電を検出することはできる。しかし、ランプの低圧側でのコロナ放電あるいはアーク放電に関しては、検知するための開示がされていず、ランプの低圧側は検知できない。またそのパターンの詳細、例えばトランスやランプ接続点に対するパターン配置位置やその大きさなどについて具体的な開示がされていない。そのため、各々のパターンがコロナ放電あるいはアーク放電が発生した箇所から、離れた位置に設けた場合には、放電の異常電圧が通常電圧と同等電圧程度まで減衰し、検出することができなくなってしまう。
そのために第2の欠点として、プリント基板に放電検出用パターンとランプ電流制御用パターンを配置位置に制約が発生する必要が生じる。例えば、プリント基板上に実装している部品の配置によっては、互いのパターンを近接並行に設けられない場合がある。逆に、互いのパターンを近接並行に設けようとすると、実装する部品を考慮した場合にプリント基板のサイズはある一定サイズの大きさを必要とし、プリント基板サイズを小さくすることが困難となる。言い換えればプリント基板の小型化には不利な方式であるといえる。
第3の欠点として、異常電圧が放電検出パターンに回り込んで破損し、異常電圧を検出できなくなることである。放電検出用パターンをトランス2次側出力に電気的に直接接続しているため、コロナ放電あるいはアーク放電が発生した際に、異常電圧が放電検出パターンに回り込む。そのため放電検出パターンが破損し、異常電圧を検出できなくなる。同様にランプ電流制御用パターンも放電灯の出力に電気的に接続しているため、コロナ放電あるいはアーク放電が発生した際に、異常電圧が放電検出パターンに回り込む。そのためパターンが破損し、異常電圧を検出できなくなる。
このように先行文献に示された保護回路では異常放電による異常電圧の検出としては不十分であり、さらに効果的な保護回路が期待されている。本発明の目的は、上記した課題に鑑み、特に異常放電による電圧異常を検出可能な、電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板を提供することにある。
本発明のDC/ACインバータ基板は電圧異常検出回路を備えている。本発明の第1の電圧異常検出回路は、トランスと、ランプに接続するための接続点と、前記トランスの2次側に電気的に接続せずに配置した高圧側検出センサと、前記高圧側検出センサからのセンス電圧を入力とし、このセンス電圧が設定値以上の場合には異常検出信号を出力する高圧用電圧異常検出回路と、前記高圧用電圧異常検出回路からの異常検出信号を入力とし、トランス出力を停止する制御回路とで構成されたことを特徴とする。
本発明の第2の電圧異常検出回路は、トランスと、ランプに接続するための接続点と、前記接続点に電気的に接続せずに配置した低圧側検出センサと、前記低圧側検出センサからのセンス電圧を入力とし、このセンス電圧が設定値以上の場合には異常検出信号を出力する低圧用電圧異常検出回路と、前記低圧用電圧異常検出回路からの異常検出信号を入力とし、トランス出力を停止する制御回路とで構成されたことを特徴とする。
本発明の第3の電圧異常検出回路は、トランスと、ランプに接続するための接続点と、前記トランスの2次側に電気的に接続せずに配置した高圧側検出センサと、前記高圧側検出センサからのセンス電圧を入力とし、このセンス電圧が設定値以上の場合には異常検出信号を出力する高圧用電圧異常検出回路と、前記接続点に電気的に接続せずに配置した低圧側検出センサと、前記低圧側検出センサからのセンス電圧を入力とし、このセンス電圧が設定値以上の場合には異常検出信号を出力する低圧用電圧異常検出回路と、前記高圧用電圧異常検出回路からの異常検出信号及び前記高圧用電圧異常検出回路からの異常検出信号を入力し、この2つの異常検出信号のいずれかによりトランス出力を停止する制御回路とで構成されたことを特徴とする。
本発明の第4の電圧異常検出回路は、トランスと、ランプに接続するための接続点と、前記トランスの2次側と前記接続点の間に配置した高圧低圧兼用検出センサと、前記高圧低圧兼用検出センサからのセンス電圧を入力とし、このセンス電圧が設定値以上の場合には異常検出信号を出力する高圧低圧兼用電圧異常検出回路と、前記高圧低圧兼用電圧異常検出回路からの異常検出信号を入力とし、トランス出力を停止する制御回路とで構成されたことを特徴とする。
本発明の光源ユニットは、上記した電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板で、前記接続点にランプが接続されることを特徴とする。
本発明の液晶表示装置は、液晶パネルと、液晶パネルを駆動する電気回路と、上記した光源ユニットとを備えたことを特徴とする。
本発明のDC/ACインバータ基板は電圧異常検出回路を備えている。その電圧異常検出回路の高圧側検出センサ、低圧側検出センサ、高圧低圧兼用検出センサのいずれもトランスの2次側または接続点とは電気的に接続せずに配置する。これらの検出センサは、電気的に接続していないため異常放電発生時に過電圧が検出センサ回路に印加されない。そのため破損しないという効果が得られる。
本発明の構成によれば、安定的に異常放電発生時の異常電圧を検出できる電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板が得られる。
本発明のDC/ACインバータ基板の最良の実施形態例について、以下図面を参照して詳細に説明する。
本発明の第1の実施例について、図1〜3、表1〜4を参照して説明する。図1には液晶表示装置バックライトのランプ点灯を制御する電圧異常検出回路図を示す。図2にはDC/ACインバータ基板の外観図を示す。図3には高圧側及び低圧側検出センサの配置位置を示す外観図を示す。表1〜4には、電圧異常検出回路の測定結果をそれぞれ示す。
図1に示す本発明の電圧異常検出回路は、DCからACへ出力変換するトランス1と、液晶用バックライトのランプ8に電圧を供給する高圧側とランプリターン電流が流れる低圧側との2接点を有する接続点2と、トランス1の2次(出力)近傍に設けた導電体の高圧側検出センサ3と、接続点2のランプリターン電流側近傍に設けた導電体の低圧側検出センサ4と、高圧側検出センサ3の出力に接続した高圧用電圧異常検出回路5と、低圧側検出センサ4の出力に接続した低圧用電圧異常検出回路6と、高圧用及び低圧用電圧異常検出回路の2つの出力と接続点2からのランプリターン電流とを入力とする制御回路7にて構成される。接続点2の2つの端子のうちトランス1の2次側からの電圧をランプ8に供給する端子側を高圧側、ランプ8からのランプリターン電流が流れる側を低圧側と呼ぶ。
トランス1の出力の一方の端子は、接続点2の高圧側に、もう一方の端子は接地電圧に接続する。接続点2の一方(高圧側)は、トランス1からの出力に接続され、ランプ8に電圧を供給する。接続点2のもう一方(低圧側)は、ランプ8のリターン側に接続され、さらに制御回路7に接続する。高圧側検出センサ3はトランスの2次(出力)近傍に設けられ、そのセンス電圧を高圧用電圧異常検出回路5に出力する。低圧側検出センサ4は接続点2のランプリターン電流側近傍に設けられ、そのセンス電圧を低圧用電圧異常検出回路6に出力する。制御回路7は高圧用及び低圧用電圧異常検出回路からの2つの出力と接続点2からのランプリターン電流とを入力される。
図2に示すINV基板は、トランス1と、接続点2と、高圧側検出センサ3と低圧側検出センサ4と、高圧用電圧異常検出回路5と、低圧用電圧異常検出回路6と、制御回路7とが搭載される。ここでは4組が搭載された例を示しているが、これの組数は必要に応じて増減できる。また図においては高圧用電圧異常検出回路5、低圧用電圧異常検出回路6、制御回路7は省略し、図示していない。ランプ8は、接続点2の2つの端子(高圧側、低圧側)に接続され、トランス1からの高電圧が供給されることで点灯する。
高圧用及び低圧用異常電圧検出回路は、特に限定されないが同一の回路で構成することができる。例えば、それぞれの検出センサからのセンス電圧を、抵抗とダイオードのアノードとに入力する。抵抗の他端子は接地電圧に接続されている。そのセンス電圧は、ダイオードのカソードを経由して、HPF(High Pass Filter)に入力される。HPFの出力と、閾値電圧Ref1とをコンパレータ(比較器)で比較判定し、その比較判定結果を異常検出信号としてフリップフロップに出力する。高圧用及び低圧用異常電圧検出回路で、異常電圧を検知した場合には、それぞれのフリップフロップを経由した異常検出信号により、制御回路7はトランス1の出力を停止させる。
通常動作時には、検出センサからのコンパレータへの入力電圧は4V程度である。しかしながら、トランス1、ランプ8、ランプケーブル等からのアーク放電もしくはコロナ放電等の異常放電が発生した際には、コンパレータの入力電圧が5〜8Vまで上昇する。例えば異常放電の場合には、コンパレータに入力される電圧は、高圧側では6V、低圧側では5Vとなる。この時にコンパレータの基準値(閾値電圧)を4V以上、例えば4.5Vに設定する。異常放電による高電圧が発生した場合には、コンパレータが異常と判断して異常検出信号を制御回路7に出力し、INV基板のトランス出力を停止する。
なお、異常電圧の判断を正確に行うためには閾値電圧Ref1は、通常時の電圧よりもある程度大きくしておけばよく、その電圧値は特に限定されるものではない。本実施例においては、通常時の電圧ばらつきが+0.2〜0.3V程度であったため、閾値電圧は通常時の電圧(4V)に0.5V加算した値とした。その結果、誤判定の不具合なく、異常を検出することができた。このように、トランス1の2次側近傍に設けた高圧側検出センサ3と、接続点2近傍に設けた低圧側検出センサ4とで電圧を検出する。それぞれの検出センサからのセンス電圧を、高圧用電圧異常検出回路5および低圧用電圧異常検出回路6とで、比較判定する。
例えば、接続点2の接続不良時(半接触状態含む)、ランプ8側でのケーブル断線・ケーブル接触不良で、アーク放電あるいはコロナ放電等の電圧異常が発生する。この場合には、通常より大きな電圧(5〜8V)が生じ、高圧側及び低圧側検出センサで検知され、高圧用及び低圧用電圧異常検出回路で、異常電圧として判定する。高圧用及び低圧用電圧異常検出回路では通常の電圧(4V)程度以上の任意の電圧を上方閾値電圧(4.5V)として設定する。コンパレータは、電圧異常によって大きな電圧が発生した場合は、異常と判断して制御回路7に入力し、INV基板の出力を停止する。
次に高圧側及び低圧側検出センサの配置位置や大きさについて、測定結果に基づいて説明する。これらの検出センサは、導電体により形成する。この検出センサの材質は特に限定されないが、銅またはその合金などの導電体とすることができる。特に、INV基板の配線パターンを形成する導電材料と同じにすることにより、パターン配線費用、形成プロセスの省略化が実現でき、かつ有効な検出感度を得ることが出来る。
図3に、高圧側及び低圧側検出センサの配置位置、大きさを説明するための配置図を示す。高圧側検出センサ3は、トランス1の出力付近に、低圧側検出センサ4は、接続点2付近に配置する。この配置位置はトランス1や接続点2に近接させるほど、両検出センサの検出感度を上げることができる。ここではトランスの幅は20mm、接続点の幅5mm、センサの大きさは幅5mm、長さ8mmの大きさで、高圧側及び低圧側の接続配線から1mmの間隔(距離)離して配置した。この配置関係において異常放電を発生させ、異常電圧を測定した。表1にトランス1の2次側と高圧側検出センサ3との距離Dと、高圧側の異常検出可否及び検出電圧を示す。同様に表2に、接続点2と低圧側検出センサ4との距離Dと、低圧側の異常検出可否及び検出電圧を示す。
Figure 2009064568
Figure 2009064568
表1、2に示すように異常放電発生時には、高圧側検出センサもしくは低圧側検出センサで通常電圧よりも高い電圧が検出される。例えば、通常時には、4V程度の電位が出力されているセンサ出力が、電圧異常時には高圧側または低圧側のセンサ出力が4V以上の検出電圧を示している。表の異常検出可否欄における○印は安定的に検出可(検出電圧4.5V以上)、△印はどうにか検出可(検出電圧4〜4.5V)、X印は検出不可(検出電圧4V以下)として判定した。焼損は、センサの位置が近すぎて異常放電が回り込みセンサが焼損したことを示す。
表1の高圧側検出センサにおいては、センサとトランスとの間隔を0.5mmと近接させた場合には、検出する電圧(センス電圧)が大きくなりすぎる。また逆に16mmと離した場合には、検出電圧が4Vとなり、異常判定が困難になる。高圧側検出センサとトランス2次側との最近接距離が1〜13mm、より好ましくは1〜10mmであることが分かる。表2の低圧側検出センサの場合には、センサを0.5mmと接続点に近接させると、検出する電圧が大きくなりすぎる。また逆に13mm以上離した場合には、検出電圧が4Vとなり異常判定が困難になる。低圧側検出センサと接続点との最近接距離が1〜10mm、より好ましくは1〜7mmであることが分かる。
高圧側検出センサとトランス出力とを電気的に接続せずに、高圧側検出センサとトランス出力とを上記の最適距離をもって配置する。そのため、異常放電発生時に過電圧が検出センサ回路にかかることなく、異常電圧が検出可能である。従って高圧側検出センサは、破損することがない。また低圧側検出センサと接続点出力とを電気的に直接接続せずに、低圧側検出センサを接続点出力とを上記の最適距離をもって配置する。そのため、異常放電発生時に過電圧が検出センサ回路にかかることなく、異常電圧が検出可能である。従って低圧側検出センサは、破損することがない。本発明においては、導電体配線により直接に接続することを電気的に接続すると表す。上記したように、例えば高圧側検出センサとトランス出力とを距離をもって配置する場合には、高圧側検出センサとトランス出力とを電気的に接続しないと表記する。
さらにセンサの検出感度を上げるためにはそれぞれの検出センサのサイズを、測定した。高圧側検出センサ3の幅(W)と、高圧側の異常検出結果及び検出電圧を表3に示す。同様に低圧側検出センサ4の幅(W)と、低圧側の異常検出可否及び検出電圧を表4に示す。このときトランス又は接続点との距離は4mmとし、その他特記しない寸法は表1、2と同じである。
Figure 2009064568
Figure 2009064568
表3に示す高圧側検出センサの場合には、センサの幅が1mmの場合には検出電圧4Vであり、異常検出ができない。しかしセンサの幅を3mm以上の大きさとすることで検出可能となる。センサの幅が5mm以上の場合の異常電圧は一定値を示している。従って高圧側検出センサの幅は、3mm以上が好ましい。
表4に示す低圧側検出センサの場合には、センサの幅が1mmの場合には検出電圧4Vであり、異常検出ができない。センサの幅が3mmの場合にも検出電圧4.2Vであり、どうにか検出可能であるが安定的な異常検出ではない。センサの幅を5mm以上の大きさとすることで安定して検出可能となる。センサの幅が8mm以上の場合の異常電圧は一定値を示している。従って低圧側検出センサの幅は、5mm以上が好ましい。
センサの幅は10mmまでの測定であるが、高圧側検出センサの幅は近接させるトランスの幅、低圧側検出センサの幅は接点の幅と同等程度以上とすることが、さらに好ましいと考えられる。このとき高圧側及び低圧側検出センサの幅の上限は特に限定されない。しかし、大きくすれば基板のサイズが大きくなることから、基板サイズを大きく影響しない程度が好ましい。例えば高圧側及び低圧側検出センサの幅の上限は50mm以下、あるいはトランスの幅の3倍以下程度が好ましい。このようにセンサの大きさは小さく、その配置位置の許容範囲が大きいことから、INV基板への部品搭載への影響は少ない。そのためセンサは、INV基板サイズに影響を及ぼすことなく、配置可能である。さらに後述するようにセンサをINV基板の裏面に配置する場合には、センサ配置の自由度はますます大きくなる。
INV基板とランプとの接続方法は、従来からの半田等による電気的接続方法を用いることができる。またランプと接続する接続点をコネクタで構成することもできる。近年のランプとランプを駆動させるINV基板の構成は、ランプ交換性や作業性を考慮してコネクタが用いられつつある。コネクタを用いた場合、振動その他のことを原因としてコネクタが半分抜けかかったような電気的半接触状態(接続が不十分な状態)が出現し、放電が発生する。この放電による異常電圧に対し、適用できる。
さらに、実施例の高圧側検出センサと、低圧側検出センサの少なくともひとつはトランス及び接続点が搭載された基板面(表面)の反対面(裏面)に設けることができる。検出センサを裏面に設けることで、表面側の回路配置に影響されずに自由な位置に検出センサを設置できる利点がある。通常、INV基板の裏面には回路は配置されない。ゆえに、検出センサを裏面に設置すれば配線とのショートなどを考慮することなくある程度の自由度を持った配置を実現できる。また、電圧異常検出感度を向上させるには、高圧用電圧異常検出回路、低圧用電圧異常検出回路を、INV基板を挟んで、その反対面にトランス及び接続点を位置させることで実現できる。このとき検出センサの一部は、INV基板を挟んでトランスまたは接続点とオーバラップさせる。
また実施例においては、高圧側検出センサと高圧用電圧異常検出回路、低圧側検出センサと低圧用電圧異常検出回路の両方を設けている。しかし、片方の高圧側検出センサと高圧用電圧異常検出回路のみ、あるいは低圧側検出センサと低圧用電圧異常検出回路のみとすることもできる。しかし、高圧側及び低圧側の両方に設けることがより好ましい。
本実施例のINV基板は、基板の異常接続によるコロナ放電あるいはアーク放電時の電圧異常を、高圧側と低圧側を共に感度良く電圧監視する検出機構を備えている。検出機構は、検出部(センサ)と演算回路部からなる。検出部は高圧側検出センサ、低圧側検出センサであり、演算回路部は高圧用電圧異常検出回路、低圧用電圧異常検出回路である。特に検出部(センサ)の配置位置を、トランス出力あるいはランプ接続点とは電気的に接続せずにそれぞれの近傍に配置する。それぞれを近傍に配置することにより、過電圧による破損がなく、電圧異常等を感度良く検出することができる。さらに、演算回路部は入力されたセンス電圧と閾値電圧とを比較し、異常検出信号を出力し、トランスの出力を停止させることでINV基板の破損を防止できる。本実施例によれば異常放電を感度良く検出できるDC/ACインバータ基板が得られる。
本発明の第2実施例について、図4を参照して説明する。図4には、第2実施例の液晶表示装置バックライトのランプ点灯を制御する電圧異常検出回路図を示す。実施例1の電圧異常検出回路は放電の異常高電圧を検出する実施例であるが、本実施例2はさらに電流低下異常を検出するための電流低下用電圧異常検出回路を付加した実施例である。また実施例1と同じ回路部品は同一符号とし、その説明を省略する。
図4に示す第2の電圧異常検出回路は、実施例1の回路にさらに接続点2のランプリターン電流側(低圧側)と制御回路7との間に、電流低下用電圧異常検出回路を設けている。電流低下用電圧異常検出回路は電流電圧変換回路9と電流検出回路10から構成する。電流電圧変換回路9は、ダイオードD1、D2、抵抗R1、R2、コンデンサC1から構成する。接続点2の低圧側に、抵抗R1と、ダイオードD1のアノードとを接続する。抵抗R1の他端は接地電圧に接続する。ダイオードD1のカソードは、コンデンサC1と抵抗R2およびダイオードD2のカソードに接続する。コンデンサC1と抵抗R2の他端はそれぞれ接地電圧に接続する。ダイオードD2のアノードは電流検出回路10のコンパレータ入力に接続する。電流電圧変換回路9は、ランプ8のランプリターン電流を電圧に変換し、電流検出回路10に出力する。
電流検出回路10は、電流電圧変換回路9からの出力と、閾値電圧Ref2とを比較判定する。電流電圧変換回路9からの出力が閾値電圧Ref2よりも小さい場合に異常検出信号を制御回路7に出力する。制御回路7は、電流電検出回路10からの異常検出信号によりINV基板のトランス出力を停止する。例えば、ランプの劣化やランプ故障の場合には、ランプの出力電流が少なくなる。ランプリターン電流が小さくなる電流低下異常を、電流電圧変換回路9と、電流検出回路10により検出し、異常検出信号を出力する。制御回路7は、入力された異常検出信号により、INV基板のトランス出力を停止する。
本実施例においては、高圧側検出センサ3と高圧用電圧異常検出回路5及び低圧側検出センサ4と低圧用電圧異常検出回路6により異常放電発生時の過電圧を検出する。さらに電流電圧変換回路9と電流検出回路10から構成された電流低下用電圧異常検出回路を設けることで、ランプ電流が小さい場合の電流低下異常を検出することができる。このように異常放電及び電流低下異常を検出できる電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板が得られる。
本発明の実施例3として、図5、6、及び表5、6を参照して説明する。本実施例は、実施例1、2の高圧用電圧異常検出回路及び低圧用電圧異常検出回路を共用とし、1つの高圧低圧兼用電圧異常検出回路とした実施例である。さらに高圧側検出センサ及び低圧側検出センサを共用とし、1つの高圧低圧兼用検出センサすることもできる。図5に高圧低圧兼用電圧異常検出回路図を示す。図6には、高圧低圧兼用検出センサの配置位置を示す外観図を示す。表5、6には、電圧異常検出回路の測定結果をそれぞれ示す。また実施例1、2と同じ回路部品は同一符号とし、その説明を省略する。
図5に示す電圧異常検出回路は、実施例1及び2の高圧用電圧異常検出回路5及び低圧用電圧異常検出回路6を1つの高圧低圧兼用電圧異常検出回路21として構成する。電圧異常検出回路が1つであり、高圧側検出センサ3及び低圧側検出センサ4からの出力は、ともに高圧低圧兼用電圧異常検出回路21に共通に入力される。
高圧低圧兼用異常電圧検出回路21は、高圧側検出センサ3及び低圧側検出センサ4からのセンス電圧を、ダイオードのアノードと抵抗とに入力する。抵抗の他端は接地電圧に接続される。そのセンス電圧を、ダイオードのカソードを経由してHPFに入力する。そのHPFの出力と、閾値電圧Ref1とをコンパレータ(比較器)で比較判定し、その比較判定結果をフリップフロップに出力する。高圧低圧兼用異常電圧検出回路21で、異常電圧を検知した場合には、フリップフロップからの信号により、制御回路7はトランス1の出力を停止する。高圧低圧兼用異常電圧検出回路21の構成は、入力するセンス電圧が異なるだけで、高圧用異常電圧検出回路5及び低圧用異常電圧検出回路6と同じである。
通常動作時には、コンパレータの入力電圧は4V程度である。しかしながら、トランス1、ランプ8、ランプケーブル等からのアーク放電もしくはコロナ放電のような異常放電が発生した際には、コンパレータの入力電圧が5〜8Vまで上昇する。例えばコンパレータの入力電圧は、5Vとなる。この時にコンパレータの基準値(閾値電圧)を4V以上、例えば4.5Vに設定しておけば、コンパレータが異常と判断して制御回路7に出力する。制御回路7は、コンパレータからの異常検出信号により、INV基板のトランス出力を停止することができる。
さらに高圧側及び低圧側検出センサの2つを共用とし、1つの高圧低圧兼用検出センサ22とすることができる。図6に高圧低圧兼用検出センサ22の配置位置を示す外観図を示す。高圧低圧兼用検出センサ22は、トランス1からの出力配線(高圧側)と、ランプからのランプリターン電流配線(低圧側)の近傍に配置する。図6においては、高圧側と低圧側の配線上をオーバラップした検出センサを設けている。しかし、これらは特に限定されるものではなく、INV基板の表面に回路素子を搭載し、反対の裏面側に検出センサを設けることができる。
図6の高圧低圧兼用検出センサ22の配置位置と、そのときの検出可否と検出電圧の測定結果を表5,6に示す。トランス1の幅20mm、接続点2の幅は5mmである。表5には、高圧低圧兼用検出センサ22の大きさとして、幅5mm、長さ10mmとしたときのトランス1との距離(A)、接続点2との距離(B)における検出可否と、検出電圧の測定結果を示す。また表6には、高圧低圧兼用検出センサ22とトランス1との距離(A)、接続点2との距離(B)は等しく4mm、高圧低圧兼用検出センサ22の長さ10mmである。高圧低圧兼用検出センサ22の幅(W)と検出可否と、検出電圧の測定結果を示す。
Figure 2009064568
Figure 2009064568
表5の測定結果によれば、高圧低圧兼用検出センサとトランス2次側との距離(A)は1〜13mmが好ましく、さらに1〜10mmがより好ましい。また高圧低圧兼用検出センサと接続点との最近接距離(B)は1〜10mm好ましく、さらに1〜7mmがより好ましい。さらに表6の測定結果によれば、高圧低圧兼用検出センサの幅は3mm以上の幅が好ましく、さらに高圧低圧兼用検出センサの幅が5mm以上の幅がより好ましい。またその上限は特に限定されない。しかし、大きくすれば基板のサイズが大きくなることから、基板サイズを大きくしない程度が好ましい。例えば高圧側及び低圧側検出センサの幅の上限は50mm以下、あるいはトランスの幅の3倍以下程度が好ましい。
本実施例においては、電圧異常検出回路の高圧用及び低圧用電圧異常検出回路を共用とし、1つの高圧低圧兼用電圧異常検出回路とする。さらに高圧側及び低圧側検出センサを共用し、1つの高圧低圧兼用検出センサとする。このようにひとつの検出回路、センサで共用とし、回路を削減することが可能となる。検出回路を共用化することで、配線の断線、回路の故障等の危険性を回避し、省スペース化によるINV基板の小型化、更には製造上の歩留りなどの面で優位である。異常放電及びランプ電流が小さい異常を検出でき、小型化、ローコストのDC/ACインバータ基板が得られる。
本発明は、液晶用バックライトのランプ点灯を制御するためのDC/ACインバータ基板に関し、特に電圧異常を検出可能な、電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板を提供するものである。本発明の電圧異常検出機構は、基板接続点の半接触状態時に発生するコロナ放電あるいはアーク放電等の高電圧異常を感度良く電圧監視できる。
電圧異常の検出は、検出部(センサ)と電圧異常検出回路により検出する。特に検出部(センサ)の配置位置を、トランスの2次側またはランプ接続点に電気的に接続せずにそれぞれの近傍に配置することにより、電圧異常等を感度良く検出することができる。さらに、電圧異常検出回路からの異常検出信号を入力された制御回路によりトランスの出力を停止させることでINV基板の破損を防止することもできる。また、本発明のDC/ACインバータ基板では、高圧側検出センサと低圧側検出センサとを接続すれば、高圧側及び低圧側の電圧異常検出回路を共用できるためインバータ基板を小型化することもできる。
さらに本発明のDC/ACインバータ基板は基板接続点の出力に電流電圧変換回路と検出回路を備えることで、ランプからの出力電流が少ない電流低下異常を検出することができる。接続点から出力された電流値を電流電圧変換回路にて電圧値に変換し、変換された電圧値を検出回路のコンパレータ(比較器)で演算することで、電流低下異常についても感度良く検出することができる。異常放電及びランプ電流が小さい異常を検出でき、小型化、ローコストのDC/ACインバータ基板が得られる。
本発明によれば、電圧異常を検出可能な、電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板が得られる。また上述した電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板の接続点にランプが接続されることで光源ユニットが得られる。さらにこの光源ユニットと、液晶パネルと、液晶パネルを駆動する電気回路とで構成することで液晶表示装置が得られる。
以上実施例について詳述したが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の変更を施すことができ、これらの変更例も本願に含まれることはいうまでもない。
本発明における第1実施例の電圧異常検出回路図である。 本発明におけるDC/ACインバータ基板の外観図である。 高圧側及び低圧側検出センサの配置位置を示す外観図である。 本発明における第2実施例の電圧異常検出回路図である。 本発明における第3実施例の電圧異常検出回路図である。 高圧低圧兼用検出センサの配置位置を示す外観図を示す。 DC/ACインバータ基板の外観図である。 特許文献1における放電灯点灯回路図である。
符号の説明
1 トランス
2 接続点
3 高圧側検出センサ
4 低圧側検出センサ
5 高圧用電圧異常検出回路
6 低圧用電圧異常検出回路データ回路
7 制御回路
8 ランプ
9 電流電圧変換回路
10 電流検出回路
11 入力コネクタ
12 出力コネクタ
13 トランス
14 過電流ヒューズ
15 温度ヒューズ
16 管電流検出回路
21 高圧低圧兼用電圧異常検出回路
22 高圧低圧兼用検出センサ
51 放電灯点灯回路
52 入力電圧ライン
53 制御回路
54 トランス駆動回路
55 トランス
56 放電灯
57 電流電圧変換回路
58 ランプ電流制御用パターン
59 過電流検出ダイオード
60 放電検出ダイオード
61 放電検出用パターン
62 放電検出ダイオード
63 積分回路
64 積分抵抗
65 積分コンデンサ

Claims (29)

  1. トランスと、ランプに接続するための接続点と、前記トランスの2次側に電気的に接続せずに配置した高圧側検出センサと、前記高圧側検出センサからのセンス電圧を入力とし、このセンス電圧が設定値以上の場合には異常検出信号を出力する高圧用電圧異常検出回路と、前記高圧用電圧異常検出回路からの異常検出信号を入力とし、トランス出力を停止する制御回路とから構成された電圧異常検出回路を設けたことを特徴とする電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  2. 前記高圧側検出センサが、前記トランスの2次側と電気的に接続されずに、そのトランス近傍に配置したことを特徴とする請求項1に記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  3. トランスと、ランプに接続するための接続点と、前記接続点に電気的に接続せずに配置した低圧側検出センサと、前記低圧側検出センサからのセンス電圧を入力とし、このセンス電圧が設定値以上の場合には異常検出信号を出力する低圧用電圧異常検出回路と、前記低圧用電圧異常検出回路からの異常検出信号を入力とし、トランス出力を停止する制御回路とから構成された電圧異常検出回路を設けたことを特徴とする電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  4. 前記低圧側検出センサが、前記接続点と電気的に接続せず前記接続点のうちランプリターン電流側の接続点近傍に配置したことを特徴とする請求項3に記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  5. トランスと、ランプに接続するための接続点と、前記トランスの2次側に電気的に接続せずに配置した高圧側検出センサと、前記高圧側検出センサからのセンス電圧を入力とし、このセンス電圧が設定値以上の場合には異常検出信号を出力する高圧用電圧異常検出回路と、前記接続点に電気的に接続せずに配置した低圧側検出センサと、前記低圧側検出センサからのセンス電圧を入力とし、このセンス電圧が設定値以上の場合には異常検出信号を出力する低圧用電圧異常検出回路と、前記高圧用電圧異常検出回路からの異常検出信号及び前記高圧用電圧異常検出回路からの異常検出信号を入力し、この2つの異常検出信号のいずれかによりトランス出力を停止する制御回路とから構成された電圧異常検出回路を設けたことを特徴とする電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  6. 前記高圧側検出センサの配置位置が前記低圧側検出センサの配置位置と比較してトランス近傍に配置され、前記低圧側検出センサの配置位置が前記高圧側検出センサの配置位置と比較して接続点近傍に配置されていることを特徴とする請求項5に記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  7. 前記高圧側検出センサと前記低圧側検出センサとを電気的に接続し、前記高圧用電圧異常検出回路と前記低圧用電圧異常検出回路とを共用とし、1つの高圧低圧兼用電圧異常検出回路としたことを特徴とする請求項5または6に記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  8. 前記高圧側検出センサと前記トランスの2次側との最近接距離が1〜13mm、より好ましくは1〜10mmであることを特徴とする請求項1、2、5〜7のいずれかに記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  9. 前記低圧側検出センサと前記接続点との最近接距離が1〜10mm、より好ましくは1〜7mmであることを特徴とする請求項3〜7のいずれかに記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  10. 前記高圧側検出センサと前記トランスの2次側の最近接距離が1〜13mm、前記低圧側検出センサと前記接続点の最近接距離が1〜10mmであり、より好ましくは前記高圧側検出センサと前記トランスの2次側の最近接距離が1〜10mm、前記低圧側検出センサと前記接続点の最近接距離が1〜7mmであることを特徴とする請求項5〜7のいずれかに記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  11. 前記高圧側検出センサの幅が3mm以上であることを特徴とする請求項1、2、5〜8、10のいずれかにに記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  12. 前記高圧側検出センサの幅が前記トランスの幅以上であることを特徴とする請求項1、2、5〜8、10のいずれかに記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  13. 前記低圧側検出センサの幅が3mm以上、より好ましくは5mm以上であることを特徴とする請求項3〜7、9、10のいずれかに記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  14. 前記低圧側検出センサの幅が前記接続点の幅以上であることを特徴とする請求項3〜7、9、10に記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  15. 前記高圧側検出センサの幅が3mm以上であり、前記低圧側検出センサの幅が3mm以上、より好ましくは前記高圧側検出センサの幅が3mm以上であり、前記低圧側検出センサの幅が5mm以上であることを特徴とする請求項5〜7、10のいずれかに記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  16. 前記高圧側検出センサの幅がトランスの幅以上であり、前記低圧側検出センサの幅が接続点の幅以上であることを特徴とする請求項5〜7、10のいずれかに記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  17. 前記高圧側検出センサまたは前記低圧側検出センサのうち少なくともどちらかひとつは、前記トランス及び前記接続点が搭載された基板面の反対面に設けたことを特徴とする請求項1〜16のいずれかに記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  18. 前記基板反対面に設けられた高圧側検出センサおよび低圧側検出センサは、基板を挟んで少なくともその一部が前記トランスまたは前記接続点とオーバラップするように設けたことを特徴とする請求項17に記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  19. トランスと、ランプに接続するための接続点と、前記トランスの2次側と前記接続点の間に配置した高圧低圧兼用検出センサと、前記高圧低圧兼用検出センサからのセンス電圧を入力とし、このセンス電圧が設定値以上の場合には異常検出信号を出力する高圧低圧兼用電圧異常検出回路と、前記高圧低圧兼用電圧異常検出回路からの異常検出信号を入力とし、トランス出力を停止する制御回路とで構成された電圧異常検出回路を設けたことを特徴とする電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  20. 前記高圧低圧兼用検出センサと前記トランスの2次側との最近接距離が1〜13mm、前記高圧低圧兼用検出センサと前記接続点との最近接距離が1〜10mm、より好ましくは前記高圧低圧兼用検出センサと前記トランスの2次側との最近接距離が1〜10mm、前記高圧低圧兼用検出センサと前記接続点との最近接距離が1〜7mmであることを特徴とする請求項19に記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  21. 前記高圧低圧兼用検出センサの幅が3mm以上、より好ましくは前記高圧低圧兼用検出センサの幅が5mm以上であることを特徴とする請求項19または20に記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  22. 前記高圧低圧兼用検出センサが、前記トランス及び前記接続点が搭載された基板面の反対面に設けたことを特徴とする請求項19に記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  23. 前記基板反対面に設けられた高圧低圧兼用検出センサは、基板を挟んで少なくともその一部は前記トランスおよび前記接続点とオーバラップするように設けたことを特徴とする請求項22に記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  24. 前記高圧側検出センサ、前記低圧側検出センサあるいは前記高圧低圧兼用検出センサのうち少なくとも何れかを基板内の接続配線と同じ導電材料で形成することを特徴とする請求項1〜23のいずれかに記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  25. 前記導電材料が銅またはその合金であることを特徴とする請求項24に記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  26. 前記接続点のうちのランプリターン電流側の接続点に接続され、抵抗とコンデンサとダイオードから構成された電流電圧変換回路と、前記電流電圧変換回路の出力に接続された電流検出回路とをさらに備え、前記電流電圧変換回路の出力が設定値以下の場合には、前記電流検出回路は異常検出信号を前記制御回路出力することを特徴とする請求項1〜25のいずれかに記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板。
  27. 請求項1〜26のいずれかに記載の電圧異常検出回路を備えたDC/ACインバータ基板において、前記接続点にランプが接続されることを特徴とする光源ユニット。
  28. 前記ランプが冷陰極管(CCFL)またはLEDであることを特徴とする請求項27に記載の光源ユニット。
  29. 液晶パネルと、液晶パネルを駆動する電気回路と、請求項28に記載の光源ユニットとを備えたことを特徴とする液晶表示装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2458948A1 (en) * 2009-07-21 2012-05-30 Sharp Kabushiki Kaisha Discharge tube lighting device and method for detecting abnormal electric discharge in same

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101539581B1 (ko) * 2009-01-15 2015-07-27 삼성디스플레이 주식회사 광원 구동 방법, 이를 수행하기 위한 광원 어셈블리 및 이를 갖는 액정 표시 장치
US8451573B1 (en) * 2012-02-24 2013-05-28 General Electric Company Overvoltage protection device for a wind turbine and method
US9430012B2 (en) * 2012-12-11 2016-08-30 General Electric Company Systems and methods of transformer failure detection and control
JP6125948B2 (ja) * 2013-08-12 2017-05-10 本田技研工業株式会社 非接触充電装置
KR102031685B1 (ko) * 2013-12-31 2019-10-15 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 및 그의 구동방법
CN103869207B (zh) * 2014-03-06 2017-05-31 京东方科技集团股份有限公司 Dc‑dc器件焊接检测装置
US9618162B2 (en) 2014-04-25 2017-04-11 Cree, Inc. LED lamp

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002341775A (ja) * 2001-05-11 2002-11-29 Toshiba Corp 平面表示装置のコロナ放電保護装置
JP2004135489A (ja) * 2002-07-22 2004-04-30 Fujitsu Ltd インバータの電流検出方法、その電流検出回路、その異常検出方法、その異常検出回路、表示装置、情報処理装置、試験方法及び試験装置
JP2005267923A (ja) * 2004-03-17 2005-09-29 Nec Access Technica Ltd 放電管点灯制御回路およびその異常検出回路
WO2007069394A1 (ja) * 2005-12-16 2007-06-21 Minebea Co., Ltd. 放電灯点灯装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3208320B2 (ja) 1996-03-28 2001-09-10 シャープ株式会社 非接触温度センサ
JP2000083319A (ja) 1998-09-03 2000-03-21 Taiyo Yuden Co Ltd 電源装置
JP2001014093A (ja) 1999-06-30 2001-01-19 Touch Panel Systems Kk 音響的接触検出装置
US6804129B2 (en) * 1999-07-22 2004-10-12 02 Micro International Limited High-efficiency adaptive DC/AC converter
JP2001286161A (ja) 2000-03-30 2001-10-12 Toshiba Corp 圧電トランスを用いた電源装置及び情報処理装置
JP2002022777A (ja) 2000-07-13 2002-01-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光方式センサ装置
JP4577748B2 (ja) 2001-07-18 2010-11-10 本田技研工業株式会社 信号処理装置
US7003412B2 (en) * 2003-09-17 2006-02-21 Rockwell Automation Technologies, Inc. Method and system for verifying voltage in an electrical system
JP3930473B2 (ja) 2003-12-18 2007-06-13 ミネベア株式会社 放電灯点灯回路
JP2006105955A (ja) 2004-09-08 2006-04-20 Teikoku Electric Mfg Co Ltd 電気機器の通電検知装置
JP4884665B2 (ja) * 2004-11-12 2012-02-29 ローム株式会社 直流−交流変換装置、そのコントローラic、及び直流−交流変換装置の並行運転システム
US7733078B2 (en) * 2006-09-05 2010-06-08 Greenlee Textron, Inc. Self-test probe design & method for non-contact voltage detectors

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002341775A (ja) * 2001-05-11 2002-11-29 Toshiba Corp 平面表示装置のコロナ放電保護装置
JP2004135489A (ja) * 2002-07-22 2004-04-30 Fujitsu Ltd インバータの電流検出方法、その電流検出回路、その異常検出方法、その異常検出回路、表示装置、情報処理装置、試験方法及び試験装置
JP2005267923A (ja) * 2004-03-17 2005-09-29 Nec Access Technica Ltd 放電管点灯制御回路およびその異常検出回路
WO2007069394A1 (ja) * 2005-12-16 2007-06-21 Minebea Co., Ltd. 放電灯点灯装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2458948A1 (en) * 2009-07-21 2012-05-30 Sharp Kabushiki Kaisha Discharge tube lighting device and method for detecting abnormal electric discharge in same
EP2458948A4 (en) * 2009-07-21 2012-12-05 Sharp Kk DISCHARGE LIGHT TUBE DEVICE AND METHOD FOR DETECTING ABNORMAL ELECTRICAL DISCHARGE IN IT

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