JP2013080787A - 寿命推定装置、寿命推定方法及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式に基づいて、前記コンデンサを有する電子機器の寿命を推定する寿命推定装置であって、前記電子機器が有する前記コンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する温度別滞在時間テーブルと、前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記関係式を用いてそれぞれ算出する第1寿命算出部と、前記コンデンサの推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する劣化度算出部と、前記劣化度の逆数を、前記電子機器の寿命として算出する第2寿命算出部と、を備える。
【選択図】図1
Description
ここで、L:コンデンサの推定寿命[時間]、L0:コンデンサの基準寿命[時間]、Tmax:コンデンサの最高使用温度[℃]、T:コンデンサの周囲温度[℃]である。なお、基準寿命L0、および最高使用温度Tmaxは、コンデンサの特性値としてコンデンサの製造メーカによって公表されている。
特許文献1には、まず初期時点において、標準的な使用条件で想定される電解コンデンサの温度t0における総余寿命をアレニウスの法則に基づいて計算しておき、その後、所定時間毎に、経過時間とその間の平均温度txとを考慮して、前記温度t0における余寿命に逐次換算し、この換算した余寿命と前記総余寿命と初期時点からの経過時間とに基づいて、ある時点における実使用時(電解コンデンサを備えた電子機器の実使用時)の余寿命を計算することが記載されている。
しかしながら、コンデンサの温度は電子機器の動作状態や気温等により様々に変化するのが通常である。これまでの技術では、このようなコンデンサの温度変化が正確に反映されておらず、電子機器の寿命が正確に算出されているとは必ずしも言えない。
本発明の実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム(寿命推定装置)1000の概要について、図1を参照しながら説明する。
本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム1000は、インバータ等の各種電子機器が有するコンデンサの寿命を算出することで、電子機器の寿命を推定する装置である。また本実施形態に係るコンデンサ余寿命診断システム1000は、算出したコンデンサの寿命と、電子機器が設置された時期と、により、電子機器内のコンデンサの交換推奨時期を算出し、出力することもできる。
次に、コンデンサ余寿命診断システム1000の構成について、適宜図面を参照しながら説明する。
コンデンサ余寿命診断システム1000は、図2に例示するように、CPU100、メモリ110、記憶装置120、通信装置130、入力装置140、出力装置150、記録媒体読取装置160を備えるコンピュータにより実現することができる。
温度変化DB500には、図4に示すように、1月1日から12月31日までの1年間に各地点において計測された1時間毎の気温データが、日時を示す情報と対応付けて時系列に記憶されている。図4に示す例では、A地点、B地点、C地点の1年間の1時間毎の気温が例示されている。
温度分布DB(温度対応テーブル)510には、図5に示すように、電子機器の盤内温度(電子機器における温度)と、電子機器が上記温度である場合に計測されたコンデンサの温度と、が対応付けて記憶されている。
図5に例示する温度分布DBでは、2つの電子機器(型式・シリアル番号がXXXXXX0で特定される電子機器と、型式・シリアル番号がYYYYYY0で特定される電子機器)について、盤内温度とコンデンサの実測温度との関係が記憶されている。
なお、電子機器の盤内温度が同じでも、電子機器の負荷の程度に応じてコンデンサの温度は変動する。そのため、本実施形態に係る温度分布DB510は、電子機器を所定負荷(例えば50%)で動作させたときの盤内温度とコンデンサの温度との関係を記憶している。電子機器の負荷によるコンデンサの温度の変動分は、以下に記載する温度補正データベース520により補正する。
温度補正DB520には、図6に示すように、電子機器の負荷が上記所定負荷(50%)である場合を基準にして、電子機器の負荷が0%から100%まで変化した場合におけるコンデンサの温度の変化量が記憶されている。
コンデンサDB530には、図7に示すように、電子機器が有する各コンデンサの各種特性値が記憶されている。図7には、各コンデンサの基準寿命L0と、コンデンサの基準温度(最高使用温度)Tmaxと、が例示されている。
温度変化算出部600は、入力装置140から、電子機器が設置される最寄地点を示す情報の入力を受け付けると、温度変化DB500から最寄地点における1年間の気温データを読み出す。例えば図4に示すA地点が最寄地点として指定された場合には、温度変化算出部600は、A地点の年間気温データを温度変化DB500から読み出す。そして温度変化算出部600は、読み出した気温データを最寄地点温度テーブル700としてメモリ110あるいは記憶装置120に記憶する。最寄地点温度テーブル700の例を図9に示す。
周囲温度変化算出部610は、温度分布DB510を参照し、上記電子機器温度テーブル710に記憶されている電子機器の1年間の1時間毎の各盤内温度を、それぞれコンデンサの温度に変換し、コンデンサ温度テーブル720としてメモリ110あるいは記憶装置120に記憶する。
装置稼動状態作成部620は、入力装置140から、電子機器の装置稼動状態を示す情報を取得し、動作状態記憶テーブル740を生成する。動作状態記憶テーブル740を図13及び図14に示す。
装置稼動状態を示す情報には、1日のうち電子機器が動作中である期間を示す情報、例えば1日のうち電子機器が動作を開始する時刻と動作を終了する時刻が記載されている。
例えば、動作状態記憶テーブル740は、午前0時から24時までの1時間毎に、電子機器が動作中であるか、動作中でないかを示す情報を記憶している。図13は、電子機器が毎日午前8時から午後9時までの間動作する場合の動作状態記憶テーブル740を示し、図14は、電子機器が毎日24時間連続して動作する場合の動作状態記憶テーブル740を示す。
稼動考慮周囲温度変化算出部630は、温度変化算出部600が生成した電子機器温度テーブル710に記憶されている電子機器の1年間分の盤内温度データのうち、電子機器が動作中の期間に対応する盤内温度データを、コンデンサ温度テーブル720に記載されているコンデンサの各温度データに変換する。
寿命予測算出部640は、上記コンデンサ温度テーブル720に1月1日から12月31日まで時系列に記載されているコンデンサの各温度データを、温度別に並べ替える。その際寿命予測算出部640は、並べ替えた温度毎に、コンデンサがその温度であった合計時間Dを求め、各温度の温度データと対応付けて記憶する。
コンデンサ温度テーブル720には温度データが1時間毎に記憶されているので、各温度の温度データの数(頻度)が、コンデンサがその温度であった合計時間Dに相当する。
その際、寿命予測算出部640はコンデンサDB530を参照し、コンデンサの寿命を算出するために必要な特性値(基準寿命及び基準温度)を読み出す。寿命予測算出部640が、各温度についてコンデンサの寿命Jを算出した結果を図18に示す。
交換推奨時期算出部650は、入力装置140から、電子機器が設置された時期を示す情報を受け付けると、上記算出した電子機器の寿命と、電子機器の設置時期と、に基づいて、電子機器が有するコンデンサの交換推奨時期を算出する。
例えば、電子機器の設置時期が2008年1月であり、電子機器の寿命が5年と算出された場合には、交換推奨時期算出部650は、コンデンサの交換推奨時期を2013年1月と算出する。
なお交換推奨時期算出部650は、電子機器の寿命に所定の係数を掛けて、コンデンサの交換推奨時期を算出するようにしてもよい。例えば係数を0.8とした場合には、交換推奨時期算出部650は、電子機器の設置時期が2008年1月であり、電子機器の寿命が5年と算出された場合には、コンデンサの交換推奨時期を2012年1月と算出する。
例えば、電子機器の設置時期が2008年1月であり、診断年月が2011年1月であり、電子機器の寿命が5年と算出された場合には、交換推奨時期算出部650は、コンデンサの交換推奨期間を2011年1月から2年以内と算出する。
次に、コンデンサ余寿命診断システム1000の処理の流れについて、適宜図面を参照しながら説明する。コンデンサ余寿命診断システム1000の処理の流れを示すフローチャートを図8及び図16に示す。
まずコンデンサ余寿命診断システム1000は、入力装置140から各種データの入力を受け付ける(S1)。
入力装置140から受け付けるデータは、例えば、図1に示した、「装置稼動状態」、「負荷率」、「装置型式」、「シリアルNO」、「温度測定値」、「診断年月」、「診断日時」、「最寄地点」、「設置年月」である。
「装置型式」及び「シリアルNO」は、電子機器を特定するための情報である。
「温度測定値」は、電子機器の盤内温度の実測値である。
「診断年月」及び「診断日時」は、電子機器の盤内温度を測定した年月日及び時刻を示す。
「最寄地点」は、電子機器が設置される場所や建物、地域に最も近い場所を示す情報を表す。「最寄地点」を入力する際は、事前に定められた複数の候補地点の中から選ぶようにしてもよい。
「設置年月」は、電子機器がはじめて動作を開始した年月を示す。電子機器の寿命の起点となる情報である。
TB(n)=T(x,n)+ΔT (式2)
ただし、TB(n):1年分の盤内温度変化(n=1〜8760)、T(x,n):最寄地点xの1年分の温度変化(n=1〜8760)、ΔT:温度偏差をあらわす。
TS(n)=f(TB(n))+ f(LF) (式3)
ただし、TS(n):1年分のコンデンサの温度(n=1〜8760)、f(TB(n)):盤内温度から換算した1年分のコンデンサの温度(n=1〜8760)、LF:負荷率、f(LF):負荷率LFに応じたコンデンサの温度変化量をあらわす。
TS’=aTB+b (式4)
ただし、a、bは定数とする。
例えば、電子機器温度テーブル710に記憶されている電子機器の盤内温度が18℃である場合には、温度分布DB510に記載されている盤内温度15℃及び20℃のときのコンデンサの各温度を線形補完する。
(式4)に、TB=15℃、TS’=18℃、および、TB=20℃、TS’=25℃を代入してa、bを求め、このa、bを用いて、TBに対するTS’を求める。
110 メモリ
120 記憶装置
130 通信装置
140 入力装置
150 出力装置
160 記録媒体読取装置
200 記録媒体
300 ネットワーク
400 コンデンサ余寿命診断システム制御プログラム
500 温度変化データベース
510 温度分布データベース
520 温度補正データベース
530 コンデンサデータベース
600 温度変化算出部
610 周囲温度変化算出部
620 装置稼動状態作成部
630 稼動考慮周囲温度変化算出部
640 寿命予測算出部
650 交換推奨時期算出部
700 最寄地点温度テーブル
710 電子機器温度テーブル
720 コンデンサ温度テーブル
730 温度別滞在時間テーブル
740 動作状態記憶テーブル
1000 コンデンサ余寿命診断システム
Claims (8)
- コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式に基づいて、前記コンデンサを有する電子機器の寿命を推定する寿命推定装置であって、
前記電子機器が有する前記コンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する温度別滞在時間テーブルと、
前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記関係式を用いてそれぞれ算出する第1寿命算出部と、
前記コンデンサの推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する劣化度算出部と、
前記劣化度の逆数を、前記電子機器の寿命として算出する第2寿命算出部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。 - 請求項1に記載の寿命推定装置であって、
前記コンデンサの推定温度を所定時間毎に記憶したコンデンサ温度テーブルと、
前記コンデンサ温度テーブルに記憶されている各推定温度の温度別の頻度を求め、各推定温度の前記頻度からそれぞれ各推定温度の前記合計時間を求め、前記各合計時間をそれぞれ前記各推定温度と対応付けることにより、前記温度別滞在時間テーブルを作成する温度別滞在時間テーブル作成部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。 - 請求項2に記載の寿命推定装置であって、
前記電子機器における推定温度を前記所定時間毎に記憶した電子機器温度テーブルと、
前記電子機器が所定温度である場合における前記コンデンサの温度の計測値と、前記所定温度と、を複数の所定温度について対応付けて記憶した温度対応テーブルと、
前記電子機器温度テーブルに記憶されている前記電子機器の各推定温度を、前記温度対応テーブルを用いて、前記コンデンサの各推定温度に変換することにより、前記コンデンサ温度テーブルを作成するコンデンサ温度テーブル作成部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。 - 請求項2に記載の寿命推定装置であって、
前記電子機器における推定温度を、前記電子機器が前記推定温度であった時刻を示す時刻情報と対応付けて、前記所定時間毎に記憶した電子機器温度テーブルと、
前記電子機器が所定温度である場合における前記コンデンサの温度の計測値と、前記所定温度と、を複数の所定温度について対応付けて記憶した温度対応テーブルと、
前記電子機器が動作中である期間を記憶した動作状態記憶テーブルと、
前記電子機器温度テーブルに記憶されている前記電子機器の各推定温度のうち、前記電子機器が動作中である期間における各推定温度を、前記温度対応テーブルを用いて、前記コンデンサの各推定温度に変換することにより、前記コンデンサ温度テーブルを作成するコンデンサ温度テーブル作成部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。 - 請求項3又は4に記載の寿命推定装置であって、
前記電子機器が設置される最寄地点において前記所定時間毎に計測された温度を、この温度の計測日時を示す情報と対応付けて記憶した最寄地点温度テーブルと、
前記電子機器における温度の計測値と、この温度の計測日時を示す情報と、の入力を受け付ける計測温度入力部と、
前記電子機器における温度の計測値と、この温度が計測された日時における前記最寄地点の温度と、の差分を算出する差分算出部と、
前記最寄地点温度テーブルに記憶されている各温度を、前記差分を用いて、それぞれ前記電子機器における各推定温度に換算し、前記電子機器温度テーブルを作成する電子機器温度テーブル作成部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。 - 請求項1〜5に記載の寿命推定装置であって、
前記電子機器が設置された時期を示す情報を受け付ける設置時期入力部と、
前記設置時期と、前記電子機器の寿命と、に基づいて、前記電子機器が有する前記コンデンサの交換推奨時期を算出する交換時期算出部と、
前記交換推奨時期を示すメッセージを出力する交換時期出力部と、
を備えることを特徴とする寿命推定装置。 - 電子機器が有するコンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する寿命推定装置による、前記電子機器の寿命推定方法であって、
前記寿命推定装置が、前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式を用いてそれぞれ算出し、
前記寿命推定装置が、前記推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、
前記寿命推定装置が、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出し、
前記寿命推定装置が、前記劣化度の逆数を前記電子機器の寿命として算出する
ことを特徴とする寿命推定方法。 - 電子機器が有するコンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶するコンピュータに、
前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式を用いてそれぞれ算出する手順と、
前記推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求める手順と、
前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する手順と、
前記劣化度の逆数を前記電子機器の寿命として算出する手順と、
を実行させるプログラム。
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