JPH03165270A - コンデンサの寿命監視装置 - Google Patents
コンデンサの寿命監視装置Info
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- JPH03165270A JPH03165270A JP30516189A JP30516189A JPH03165270A JP H03165270 A JPH03165270 A JP H03165270A JP 30516189 A JP30516189 A JP 30516189A JP 30516189 A JP30516189 A JP 30516189A JP H03165270 A JPH03165270 A JP H03165270A
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- Japan
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- capacitor
- temperature
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- temperature sensor
- arithmetic circuit
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- Pending
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 39
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 title claims description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 10
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract description 10
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 3
- 230000003449 preventive effect Effects 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明はコンデンサの寿命監視装置、特に、発電所など
産業上重要なプラントの工業用計器に使用されているコ
ンデンサの寿命を監視する装置に関する。
産業上重要なプラントの工業用計器に使用されているコ
ンデンサの寿命を監視する装置に関する。
[従来技術]
発電所など産業上重要なプラントで使用されている工業
用計器では、その計器の故障によりプラント等に重大な
損害を及ぼすことがある。このため、従来、アルミ電解
コンデンサのような環境による劣化の考えられる部品は
、予防保全として予め寿命がくる前に定期的に新しい部
品と交換するという処置がとられている。
用計器では、その計器の故障によりプラント等に重大な
損害を及ぼすことがある。このため、従来、アルミ電解
コンデンサのような環境による劣化の考えられる部品は
、予防保全として予め寿命がくる前に定期的に新しい部
品と交換するという処置がとられている。
[発明が解決しようとする課題」
上記のような従来の予防保全はその部品の寿命を推定し
、それ以前に部品を交換するものであるが、例えば、火
力プラント等では一定期間ごとに使用される装置全体の
予防保全を行うため、部品によっては使用環境が良いた
めまだ寿命に至っていないにもかかわらず、交換するも
のもある。このため、装置ごとの交換期間を変えること
もできるが、装置数が多いと交換時期の管理が複雑とな
る。また、使用期間を長くするため、交換周期を長くす
ると、実際に故障するものが現れ、危険である。
、それ以前に部品を交換するものであるが、例えば、火
力プラント等では一定期間ごとに使用される装置全体の
予防保全を行うため、部品によっては使用環境が良いた
めまだ寿命に至っていないにもかかわらず、交換するも
のもある。このため、装置ごとの交換期間を変えること
もできるが、装置数が多いと交換時期の管理が複雑とな
る。また、使用期間を長くするため、交換周期を長くす
ると、実際に故障するものが現れ、危険である。
本発明は上記のような従来技術の欠点を解消するために
創案されたものであり、装置内のコンデンサの寿命を監
視し、コンデンサの交換時期を容易に管理することがで
きるコンデンサの寿命監視装置を提供することを目的と
する。
創案されたものであり、装置内のコンデンサの寿命を監
視し、コンデンサの交換時期を容易に管理することがで
きるコンデンサの寿命監視装置を提供することを目的と
する。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために、本発明におけるコンデンサ
の寿命監視装置は、コンデンサの温度を検出する温度セ
ンサと、この温度センサの出力が入力される演算回路と
を有する。
の寿命監視装置は、コンデンサの温度を検出する温度セ
ンサと、この温度センサの出力が入力される演算回路と
を有する。
[作用]
アルミ電解コンデンサの寿命はその仕様に最高温度での
寿命が何時間というように定義されており、また周囲温
度が10℃下がると、寿命が2倍になるという性質をも
っている。そこで、この特性に着目し、上記のように構
成されたコンデンサの寿命予測装置は、工業用計器内部
のアルミ電解コンデンサのうちいちばん高温となり従っ
て短寿命と考えられるものの周囲温度を一定間隔ごとに
サンプリングし、その周期と温度から最高使用温度に換
算した使用時間を計算し、そのコンデンサの寿命を監視
する。
寿命が何時間というように定義されており、また周囲温
度が10℃下がると、寿命が2倍になるという性質をも
っている。そこで、この特性に着目し、上記のように構
成されたコンデンサの寿命予測装置は、工業用計器内部
のアルミ電解コンデンサのうちいちばん高温となり従っ
て短寿命と考えられるものの周囲温度を一定間隔ごとに
サンプリングし、その周期と温度から最高使用温度に換
算した使用時間を計算し、そのコンデンサの寿命を監視
する。
[実施例]
実施例について第1図の配置図と第2図のブロック図に
より説明すると、プリント基板2上に取付けられた、工
業用計器等内部のアルミ電解コンデンサのうちいちばん
高温となると考えられるアルミ電解コンデンサ1の近傍
に温度センサ3を取付ける。この温度センサ3の出力端
子が接続された増幅器4がA/D変換器5に接続され、
A/D変換器5は工業用計器を制御しているCPU6に
接続されている。また、このCPU6にはタイマ7が接
続され、その出力端子が警報器8に接続されている。
より説明すると、プリント基板2上に取付けられた、工
業用計器等内部のアルミ電解コンデンサのうちいちばん
高温となると考えられるアルミ電解コンデンサ1の近傍
に温度センサ3を取付ける。この温度センサ3の出力端
子が接続された増幅器4がA/D変換器5に接続され、
A/D変換器5は工業用計器を制御しているCPU6に
接続されている。また、このCPU6にはタイマ7が接
続され、その出力端子が警報器8に接続されている。
この寿命監視回路の動作を第2図のブロック図、第3図
のCPUの機能ブロック図および第4図のフローチャi
トにより説明する。温度センサ3の出力は増幅器4を介
してA/D変換器5に入力されてディジタル値に変換さ
れた後、CPU6に読み込まれる。このCPU6ではタ
イマ7からの時間信号により一定期間を毎に割り込みが
発生し、温度センサ3の出力0が演算回路9に取り込ま
れる。演算回路9では、サンプリング間隔t、検出温度
Oおよびコンデンサの最高使用温度fJ MAXから、
最高使用温度に換算した使用時間t′をt’=t/2” ただし、a=(θMAX−θ)/10 により計算する。したがって、サンプリング時の使用温
度θがθい、と等しければ、t’ =tとなり、また、
使用温度θがθMAXより10℃低ければt’=t/2
となる。この後、演算回路9はこのt′を用いて残りの
寿命時間TをT=T−t’により計算する。このとき、
Tは装置使用開始時にアルミ電解コンデンサの最高使用
温度θMAXでの寿命TMAXに設定されている。
のCPUの機能ブロック図および第4図のフローチャi
トにより説明する。温度センサ3の出力は増幅器4を介
してA/D変換器5に入力されてディジタル値に変換さ
れた後、CPU6に読み込まれる。このCPU6ではタ
イマ7からの時間信号により一定期間を毎に割り込みが
発生し、温度センサ3の出力0が演算回路9に取り込ま
れる。演算回路9では、サンプリング間隔t、検出温度
Oおよびコンデンサの最高使用温度fJ MAXから、
最高使用温度に換算した使用時間t′をt’=t/2” ただし、a=(θMAX−θ)/10 により計算する。したがって、サンプリング時の使用温
度θがθい、と等しければ、t’ =tとなり、また、
使用温度θがθMAXより10℃低ければt’=t/2
となる。この後、演算回路9はこのt′を用いて残りの
寿命時間TをT=T−t’により計算する。このとき、
Tは装置使用開始時にアルミ電解コンデンサの最高使用
温度θMAXでの寿命TMAXに設定されている。
次に、演算回路9はこの値Tを比較器10に入力し、比
較器10はこの値をコンデンサの寿命到達の判定値T’
、4□9と比較する。この判定値TMINはOより少し
大きい値であり、寿命が近いと判断するための値である
。そして、T<T、□1となると、比較器10が警報器
8に信号を出力し、警報回路8がコンデンサの寿命が終
わりに近づいたこを報知する。この警報が出された時点
でコンデンサを新品と交換するとともに、TをT MA
Xに再設定することにより、再びコンデンサの寿命監視
を再開することができる。この寿命監視装置では装置使
用開始時にT ” T MAXとし、温度のサンプリン
グ毎にTからt′を減算したが、逆に使用開始時にT=
Oとし、温度のサンプリング毎にT=T+t’と加算し
ていき、寿命判定値をTMAXより少し小さい値に設定
しておくことにより、寿命を判定することもできる。
較器10はこの値をコンデンサの寿命到達の判定値T’
、4□9と比較する。この判定値TMINはOより少し
大きい値であり、寿命が近いと判断するための値である
。そして、T<T、□1となると、比較器10が警報器
8に信号を出力し、警報回路8がコンデンサの寿命が終
わりに近づいたこを報知する。この警報が出された時点
でコンデンサを新品と交換するとともに、TをT MA
Xに再設定することにより、再びコンデンサの寿命監視
を再開することができる。この寿命監視装置では装置使
用開始時にT ” T MAXとし、温度のサンプリン
グ毎にTからt′を減算したが、逆に使用開始時にT=
Oとし、温度のサンプリング毎にT=T+t’と加算し
ていき、寿命判定値をTMAXより少し小さい値に設定
しておくことにより、寿命を判定することもできる。
なお、上記実施例では、装置内部で最も寿命を考慮する
必要のあるアルミ電解コンデンサ、即ち装置内で最も高
温となると考えられるものを選んで適用した場合を説明
したが、交換の必要のあるすべてのコンデンサの近傍に
温度センサを設けて、CPUで管理することもできる。
必要のあるアルミ電解コンデンサ、即ち装置内で最も高
温となると考えられるものを選んで適用した場合を説明
したが、交換の必要のあるすべてのコンデンサの近傍に
温度センサを設けて、CPUで管理することもできる。
また、比較回路と警報回路を設ける代わりに残りの寿命
時間Tの表示回路を設け、表示回路の表示値よりコンデ
ンサの交換時期を判定することもできる。
時間Tの表示回路を設け、表示回路の表示値よりコンデ
ンサの交換時期を判定することもできる。
更に、上記実施例では、本発明の寿命監視回路をCPU
によるディジタル演算回路を用いたが、アナログ演算回
路を用いて本発明の寿命監視回路を構成することもでき
る。
によるディジタル演算回路を用いたが、アナログ演算回
路を用いて本発明の寿命監視回路を構成することもでき
る。
[発明の効果コ
以上説明したように、本発明によれば、装置内のコンデ
ンサの残り寿命を予想することができ、警報が出された
時点でコンデンサを交換すればよく、コンデンサの交換
時期の管理を大幅に簡略化することができる。
ンサの残り寿命を予想することができ、警報が出された
時点でコンデンサを交換すればよく、コンデンサの交換
時期の管理を大幅に簡略化することができる。
第1図は本発明の寿命監視回路に用いる温度センサの配
置図、第2図は本発明の寿命監視回路を示すブロック図
、第3図は第2図のCPUの機能ブロック図、第4図は
第2図のCPUの動作を示すフローチャートである。 1・・アルミ電解コンデンサ、2・・プリント基板、3
・・温度センサ、4・・増幅器、5・・A/D変換器、
6・・CPU、7・・タイマ、8・・警報器、9・・演
算回路、1・比較器
置図、第2図は本発明の寿命監視回路を示すブロック図
、第3図は第2図のCPUの機能ブロック図、第4図は
第2図のCPUの動作を示すフローチャートである。 1・・アルミ電解コンデンサ、2・・プリント基板、3
・・温度センサ、4・・増幅器、5・・A/D変換器、
6・・CPU、7・・タイマ、8・・警報器、9・・演
算回路、1・比較器
Claims (1)
- (1)コンデンサの温度を検出する温度センサと、この
温度センサの出力が入力される演算回路とを備え、上記
演算回路によりコンデンサの寿命を演算することを特徴
とするコンデンサの寿命監視装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30516189A JPH03165270A (ja) | 1989-11-24 | 1989-11-24 | コンデンサの寿命監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30516189A JPH03165270A (ja) | 1989-11-24 | 1989-11-24 | コンデンサの寿命監視装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03165270A true JPH03165270A (ja) | 1991-07-17 |
Family
ID=17941802
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30516189A Pending JPH03165270A (ja) | 1989-11-24 | 1989-11-24 | コンデンサの寿命監視装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03165270A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08322141A (ja) * | 1995-05-25 | 1996-12-03 | Fuji Electric Co Ltd | 電解コンデンサの寿命警報装置 |
JP2006284605A (ja) * | 2006-06-23 | 2006-10-19 | Omron Corp | 温度検出構造および電子機器 |
JP2013022896A (ja) * | 2011-07-25 | 2013-02-04 | Seiko Epson Corp | 印刷装置及び印刷装置の異常検出方法 |
JP2013080787A (ja) * | 2011-10-03 | 2013-05-02 | Fuji Electric Co Ltd | 寿命推定装置、寿命推定方法及びプログラム |
JP2019179821A (ja) * | 2018-03-30 | 2019-10-17 | 株式会社アイエイアイ | 電子機器、ロボット制御装置、及び、電解コンデンサ寿命推定方法 |
-
1989
- 1989-11-24 JP JP30516189A patent/JPH03165270A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08322141A (ja) * | 1995-05-25 | 1996-12-03 | Fuji Electric Co Ltd | 電解コンデンサの寿命警報装置 |
JP2006284605A (ja) * | 2006-06-23 | 2006-10-19 | Omron Corp | 温度検出構造および電子機器 |
JP4508163B2 (ja) * | 2006-06-23 | 2010-07-21 | オムロン株式会社 | 温度検出構造および電子機器 |
JP2013022896A (ja) * | 2011-07-25 | 2013-02-04 | Seiko Epson Corp | 印刷装置及び印刷装置の異常検出方法 |
JP2013080787A (ja) * | 2011-10-03 | 2013-05-02 | Fuji Electric Co Ltd | 寿命推定装置、寿命推定方法及びプログラム |
JP2019179821A (ja) * | 2018-03-30 | 2019-10-17 | 株式会社アイエイアイ | 電子機器、ロボット制御装置、及び、電解コンデンサ寿命推定方法 |
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