JP2003206198A - Iii族窒化物結晶成長方法およびiii族窒化物結晶成長装置 - Google Patents
Iii族窒化物結晶成長方法およびiii族窒化物結晶成長装置Info
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Abstract
る。 【解決手段】 センサー20の先端には空間的に分離し
た端子21,22が設置されており、センサー20の先
端に設置されている端子21,22間の電気的導通の有
無によって結晶成長容器18の底板17を停止あるいは
上方に移動させ、液面(気液界面)26の高さを一定に
保持するように構成されている。
Description
成長方法およびIII族窒化物結晶成長装置に関する。
べて輝度が小さく実用化に難点があったが、近年、一般
式InAlGaNで表されるIII族窒化物化合物半導体
において、低温AlNバッファー層あるいは低温GaN
バッファー層を用いることによる結晶成長技術の向上
と、Mgをドーパントした低抵抗のp型半導体層が得ら
れたことにより、高輝度青色LEDが実用化され、さら
には、青色波長領域で発振する半導体レーザが実現され
た。
タキシャル成長させる場合には、基板と半導体層の格子
定数や熱膨張係数が、同程度である必要がある。しか
し、III族窒化物半導体は、これらを同時に満足する基
板が現在世の中には存在しない。
ァイアやGaAsのようなIII族窒化物半導体と格子定
数や熱膨張係数の大きく異なる異種基板上に、ELO等
の結晶成長技術を駆使して厚膜GaNを成長し、それを
基板として半導体レーザ結晶を作製している。
た厚膜GaN基板は、転位密度が107cm-2程度と非
常に多くの結晶欠陥が含まれており、実用的な高出力レ
ーザ素子や、電子デバイスを作製するには未だ十分な品
質であるとは言えない。
膜GaN基板は、異種基板の面方位に依存してエピタキ
シャル成長したものであるので、その主面は、異種基板
の面方位で決定されている。現状では、厚膜GaNを成
長できる異種基板は、(0001)C面サファイアと
(111)GaAsであるので、厚膜GaN基板の主面
は(0001)C面のみとなっている。
作製されたLEDやLDのチップカットでは、短冊型に
カットすることが容易ではない。通常、C面を主面とし
た基板では、m面とa面が直交しているので、この面に
沿ってチップカットが行われるが、a面には30°で交
わる別のm面があるので、その面でへき開が起り、短冊
型にチップカットされない場合がある。
へき開容易面は、直交するC面とa面のみであり、a面
を主面とした基板では、へき開容易面は、直交するC面
とm面のみであるので、容易に短冊型にチップカットす
ることができる。
の面上に結晶成長した結晶とでは、歪みをかけた場合の
バンド構造の変化も異なるので、C面以外の基板を使用
することで、デバイスの特性を向上することや、基板の
面方位に依存した特性を利用して機能するデバイスの実
現が期待できる。
算機シミュレーションでレーザーのしきい値を下げる検
討が行なわれている。
厚膜GaN基板は存在しないので、このようなデバイス
は実現されていない。
のGaNバルク単結晶を作製する試みは様々な研究機関
においてなされているが、いまだに数ミリ程度のものし
か得られていないのが実状であり、実用化には程遠い状
態である。
aterials Vol.9(1997) p.
413−416」(従来技術1)には、Naをフラック
スとして用いたGaN結晶成長方法が示されている。こ
の従来技術1の方法は、フラックスとしてのアジ化ナト
リウム(NaN3)と金属Gaとを原料として、ステン
レス製の反応容器(容器内寸法;内径=7.5mm、長
さ=100mm)に窒素雰囲気で封入し、その反応容器
を600〜800℃の温度で24〜100時間保持する
ことにより、GaN結晶を成長させるものである。この
方法では、600〜800℃程度の比較的低温での結晶
成長が可能であり、容器内圧力も高々100kg/cm
2程度と低くできる点が特徴である。この方法で1mm
程度の大きさのGaN結晶ができている。
術2)には、図8,図9に示すように、種結晶をフラッ
クス融液の上に移動して結晶を引き上げる方法や、ある
いは、フラックス融液中に種結晶を沈ませて、III族窒
化物結晶のインゴットを作製する方法が開示されてい
る。
ているように、反応容器101内に収容されたフラック
スとIII族金属の混合融液102に種結晶103を用い
て結晶成長を開始し、種結晶103を上方に移動して、
気液界面113で結晶成長が行なわれるようにして、II
I族窒化物結晶のインゴット140を引き上げる。
法では、図9に示されているように、反応容器101内
に収容されたフラックスとIII族金属の混合融液102
と窒素原料ガスとの気液界面から種結晶103を用いて
結晶成長を開始し、種結晶103を融液中に沈め、下方
に移動して気液界面113で結晶成長が行なわれるよう
にする。そして、III族窒化物結晶のインゴット141
を作製する。
容器内の窒素原料とフラックスの蒸気圧を制御するため
に窒素原料とフラックスの蒸気圧を外部からかけてい
る。
術3)には、フラックス(Na)とIII族金属(Ga)
の混合融液が収容された反応容器に、外部から窒素原料
を気体として供給し、気液界面に種結晶を保持して成長
を行なう方法が開示されている。
術1では、反応容器が小さく、得られる結晶の大きさは
1mm程度であり、この程度の大きさではデバイスを実
用化するには小さすぎる。
ットの作製方法では、III族窒化物結晶のインゴットを
作製することができるが、窒素が気相から融液中に溶け
込み、結晶成長面に拡散する必要があるため、結晶成長
は窒素の供給律速となる。そのため、面内で特性の均一
な大きなインゴットを作製するには数μm/時と非常に
ゆっくり引き上げる必要があり、長時間を有するという
問題がある。
る場合は、窒素は気液界面から成長面に均一に供給され
るのでインゴットの気液界面に平行な断面内で特性の均
一なIII族窒化物のインゴットを作製することができ
る。しかし、この場合には、結晶を融液中に沈めるため
に、融液中の結晶に別の結晶核が付着して多結晶になる
場合があった。
持して成長を行なう方法では、気液界面に平行に結晶が
成長し、気液界面に平行な主面を有する板状結晶が成長
する。これは、窒素の供給が気液界面から行われるの
で、気液界面に沿って成長が進むためである。しかし、
従来技術3のように、種結晶を気液界面に浮かべただけ
では結晶がある程度の大きさになると、結晶は、その自
重で融液中に沈んでしまため、大きなものを作製するこ
とがは困難であるという問題があった。
験を行なった。すなわち、NaとGaの混合融液を使用
して大きな板状結晶を成長させるための実験を行なっ
た。
る板状結晶が気液界面に平行に成長したが、この板状結
晶は、約5mm程度の大きさになると、融液中に沈み、
成長速度が遅くなる場合があった。
そこから気液界面に沿って成長する結晶も観察された
が、このような結晶は、容器側面から融液表面に向かっ
て斜めに傾いて成長していた。この原因は、結晶成長中
にNaとGaの混合融液の液面が低下するためと考えら
れる。
で、成長中に蒸発し、気液界面(液面)の低下が起る。
そのため、成長点は気液界面の位置の低下をトレースす
るように下がり、結果として、斜めに傾いた結晶が成長
すると考えられる。
低下速度が速い場合は、結晶成長が中断してしまうこと
も分かった。
板状結晶が成長できない場合もあった。
の作製上の問題点を解決し、大面積の高品質なIII族窒
化物結晶を作製することの可能なIII族窒化物結晶成長
方法およびIII族窒化物結晶成長装置を提供することを
目的としている。
に、請求項1記載の発明は、アルカリ金属とIII族金属
原料を含む混合融液中でIII族金属原料と窒素原料を反
応させてIII族窒化物結晶を成長させるIII族窒化物結晶
成長方法において、アルカリ金属とIII族金属を含む混
合融液と窒素原料ガスとの気液界面付近、あるいは、ア
ルカリ金属とIII族金属を含む混合融液と窒素原料が分
解して生成した窒素ガスとの気液界面付近に、III族窒
化物結晶の成長中、III族窒化物結晶を継続して保持
し、気液界面に概ね平行に板状のIII族窒化物結晶を成
長することを特徴としている。
載のIII族窒化物結晶成長方法において、III族窒化物の
種結晶の所定の結晶面を気液界面に平行にして保持し、
該種結晶から気液界面に平行な主面を有する板状のIII
族窒化物結晶を結晶成長することを特徴としている。
載のIII族窒化物結晶成長方法において、気液界面に平
行にする種結晶の所定の結晶面は、(1−100)m面
あるいは(11−20)a面であり、該種結晶からm面
あるいはa面が気液界面に平行な板状のIII族窒化物結
晶を成長することを特徴としている。
属とIII族金属原料を含む混合融液中でIII族金属原料と
窒素原料を反応させてIII族窒化物結晶を成長させるIII
族窒化物結晶成長装置において、III族窒化物結晶の成
長中に、III族窒化物結晶を気液界面に継続して保持す
る機構が設けられていることを特徴としている。
載のIII族窒化物結晶成長装置において、III族窒化物結
晶を気液界面に継続して保持する機構には、III族窒化
物結晶の成長中に、気液界面の位置を一定にする機構が
用いられることを特徴としている。
載のIII族窒化物結晶成長装置において、III族窒化物結
晶を気液界面に継続して保持する機構には、III族窒化
物結晶の成長中に、III族窒化物結晶を気液界面の位置
に移動する機構が用いられることを特徴としている。
載のIII族窒化物結晶成長装置において、III族窒化物結
晶を気液界面の位置に移動する機構には、結晶成長容器
の上あるいは下に設置した治具を上下させてIII族窒化
物結晶を移動させる機構が用いられることを特徴として
いる。
載のIII族窒化物結晶成長装置において、III族窒化物結
晶を気液界面の位置に移動する機構には、気液界面にII
I族窒化物結晶が成長する治具を浮かせる機構が用いら
れることを特徴としている。
載のIII族窒化物結晶成長装置において、III族窒化物結
晶を保持する機構には、種結晶を設置する手段が設けら
れていることを特徴としている。
基づいて説明する。
装置の構成例を示す図である。図1を参照すると、この
結晶成長装置には、ステンレス製の閉じた形状の反応容
器10と、反応容器10内に設けられ、結晶成長を行な
うための結晶成長容器18と、融液24の液面(気液界
面)26を検知するためのセンサー20と、結晶成長容
器18の底板17と、結晶成長容器18の蓋19と、結
晶成長容器18の底板17を上下に移動するための移動
治具16と、移動治具16を移動させる治具移動装置2
7と、センサー20からの信号を処理し、気液界面26
の高さが一定に保持されるよう、移動治具16の移動を
制御する制御装置23と、ヒーター15と、反応容器1
0内の全圧力をモニターするための圧力計14とが設け
られている。
晶成長容器18の蓋19の材質は、例えばBN(ボロン
ナイトライド)である。
隙間がわずかにあいている。窒素原料ガスは、この隙間
を通して結晶成長容器18の内部空間25内に入り、ア
ルカリ金属とIII族金属の混合融液24との間に気液界
面26を形成する。
ガスを充満させ、かつ反応容器10内の窒素原料圧力を
制御することを可能にするガス供給管11が反応容器1
0を貫通して装着されている。ここで、ガス供給管11
はバルブ12で外部と分離することが可能となってい
る。また、窒素の圧力を圧力制御装置13で調整するこ
とが可能となっている。
面)26の高さが一定に保持されるように構成されてい
る。すなわち、図1の装置では、センサー20の先端に
は空間的に分離した端子21,22が設置されており、
センサー20の先端に設置されている端子21,22間
の電気的導通の有無によって結晶成長容器18の底板1
7を停止あるいは上方に移動させ、液面(気液界面)2
6の高さを一定に保持するように構成されている。
21,22がIII族金属とアルカリ金属の混合融液24
に接しており、端子21,22間に電気的導通がある場
合は、制御装置23から治具移動装置27に治具16の
移動を停止させる信号が送られ、治具16は停止してい
る。
6が下がり、端子21,22間の電気的導通がなくなっ
た場合には、制御装置23から治具移動装置27に治具
16を上方に移動させる信号が送られ、移動治具16が
上方に移動する。移動治具16上には結晶成長容器18
の底板17が設置されており、この底板17は、結晶成
長容器18の内側面に接して上下に移動可能になってい
る。従って、治具16に連動して底板17も上方に移動
し、融液24の液面(気液界面)26も上方に移動す
る。
1と端子22に接し、端子21,22間が電気的に導通
すると、制御装置23から治具移動装置27に治具16
の移動を停止させる信号が送られ、治具16は停止す
る。すなわち、融液の液面(気液界面)26の移動が停
止する。
6は常にセンサー20の端子21,22の高さに保持さ
れる。これにより、常に一定高さの気液界面26に沿っ
てIII族窒化物結晶28の成長が継続し、気液界面26
に平行な大型の板状のIII族窒化物結晶28を成長する
ことができる。
aNの成長方法を説明する。
としてNaを入れ、また、III族金属としてGaを入
れ、結晶成長容器18の上に蓋19をかぶせる。
液となった時の液面26の高さがセンサー20の端子2
1,22の高さよりもわずかに低くなるようにする。
2を閉じ、反応容器10内部を外部雰囲気と遮断する。
で昇温する。
時点では、センサー20の端子21,22と混合融液2
4とは接していないので、移動治具16と底板17が上
方へ移動する。それと連動して、液面26が上がり、セ
ンサー20の端子21、22と液面26とが接して、移
動治具16と底板17の移動が停止する。
1から窒素原料ガスである窒素ガスを入れ、圧力制御装
置13で窒素ガスの圧力を調整して、反応容器10内の
全圧を5MPaにする。この状態で200時間保持した
後、降温する。
反応容器10を開けると、Naの一部が成長容器18の
下部に付着していた。また、成長容器18の底板17は
上昇していたが、融液面(気液界面)26はセンサー2
0に接しており、GaNの結晶成長中、液面(気液界
面)26が一定の高さに保たれていた。
の内壁に核発生して成長したGaNの板状単結晶28が
気液界面26に平行に結晶成長していた。
常に一定の高さに保持された状態で結晶成長することが
できるので、従来のように成長容器内壁と気液界面が交
差する位置に核発生した結晶が、気液界面の位置の低下
とともに斜めに成長したり、途中で成長が停止したりす
ることがなくなる。その結果、常に一定高さの気液界面
に沿ってIII族窒化物の結晶成長が継続し、気液界面に
平行な大型の板状のIII族窒化物結晶を成長することが
できる。
装置の構成例を示す図である。図2を参照すると、この
結晶成長装置には、ステンレス製の閉じた形状の反応容
器30と、反応容器30内に設けられ、結晶成長を行な
うための結晶成長容器37と、結晶成長容器37の蓋3
8と、結晶を上下に移動するための移動治具39とが設
けられている。
長容器37の蓋38の材質は、例えばBN(ボロンナイ
トライド)である。
隙間がわずかにあいている。窒素原料ガスは、この隙間
を通して結晶成長容器37の内部空間46内に入り、ア
ルカリ金属とIII族金属の混合融液45との間に気液界
面48を形成するようになっている。
具39には、種結晶43を取り付ける(保持する)種結
晶ホルダー40と、融液面(気液界面)48を検知する
センサー端子41,42が備わっている。
39を移動させる治具移動装置36と、センサー端子4
1,42からの信号を処理し、移動治具39の移動を制
御する制御装置47と、ヒーター35と、反応容器30
内の全圧力をモニターするための圧力計34とが設けら
れている。
部空間に窒素原料ガスを充満させ、かつ反応容器30内
の窒素原料圧力を制御することを可能にするガス供給管
31が反応容器30を貫通して装着されている。ここ
で、ガス供給管31は、バルブ32で外部と分離するこ
とが可能となっている。また、窒素の圧力を圧力制御装
置33で調整することが可能となっている。
(気液界面)48の高さに保持するように構成されてい
る。すなわち、図2の装置では、結晶移動治具39に設
けられているセンサー端子41、42間の電気的導通の
有無によって結晶移動治具39を停止あるいは下方に移
動させ、III族窒化物結晶44を融液45の液面(気液
界面)48に保持するように構成されている。
サー端子41,42がIII族金属とアルカリ金属の混合
融液45に接しており、センサー端子41,42間に電
気的導通がある場合は、制御装置47から治具移動装置
36に治具39の移動を停止させる信号が送られ、治具
39は停止している。
8が下がり、端子41,42間の電気的導通がなくなっ
た場合には、制御装置47から治具移動装置36に治具
39を下方に移動させる信号が送られ、移動治具39が
下方に移動する。
42が融液面(気液界面)48に接し、センサー端子4
1,42間が電気的に導通すると、制御装置47から治
具移動装置36に治具39の移動を停止させる信号が送
られ、治具39は停止する。
ルダー40が設けられており、このホルダー40に種結
晶43が設置されている。種結晶43とセンサー端子4
2,41は同じ高さに設定されており、センサー端子4
1,42が液面(気液界面)48に接すると種結晶43
も液面(気液界面)48に接する。すなわち、種結晶4
3から気液界面48に沿って成長したIII族窒化物結晶
44もセンサー端子41,42が液面(気液界面)48
に接すると液面(気液界面)48に接する。
(気液界面)48の移動に追随して種結晶43と成長し
た結晶44も移動し、結晶44は、常に融液面(気液界
面)48に保持される。
aNの成長方法を説明する。
としてNaを入れ、また、III族金属としてGaを入れ
る。
液45となった時の液面48の高さがセンサー端子4
1,42の高さよりもわずかに低くなるようにする。す
なわち、種結晶ホルダー40が融液45に接しない高さ
にする。
結晶43を設置する。この時、種結晶43は、m面が気
液界面48に平行になるように設置した。
せる。次いで、反応容器30を密閉し、バルブ32を閉
じ、反応容器30内部を外部雰囲気と遮断する。次い
で、ヒーター35の温度を700℃まで昇温する。
管31から窒素ガスを入れ、圧力制御装置33で圧力を
調整して反応容器30内の全圧を5MPaにする。
る。いまの時点では、センサー端子41,42と融液4
5とは接していないので、移動治具39が下方へ移動す
る。それと連動して、種結晶43とセンサー端子41,
42も下方へ移動し、センサー端子41,42と種結晶
43とが液面48と接して、移動が停止する。この状態
で200時間保持した後、降温する。
反応容器30を開けると、Naの一部が成長容器37の
下部に付着していた。また、成長容器37内の融液面
(気液界面)48は下降していたが、センサー端子4
1,42は融液面(気液界面)48に接しており、種結
晶43から成長したm面を主面とするGaNの板状単結
晶44が気液界面48に平行に結晶成長していた。
気液界面48に保持した状態で結晶成長することができ
るので、従来のように成長容器内壁と気液界面が交差す
る位置に核発生した結晶が、気液界面の位置の低下とと
もに斜めに成長したり、途中で成長が停止したりするこ
とがなくなる。その結果、常に気液界面に沿ってIII族
窒化物の結晶成長が継続し、気液界面に平行な大型の板
状のIII族窒化物結晶を成長することができる。
装置の構成例を示す図である。
じた形状の反応容器50と、反応容器50内に設けら
れ、結晶成長を行なうための結晶成長容器56と、結晶
成長容器56の蓋57と、結晶を気液界面63に保持す
る結晶保持治具58と、ヒーター55と、反応容器50
内の全圧力をモニターするための圧力計54とが設けら
れている。
56の蓋57と結晶保持治具58の材質は、例えばBN
(ボロンナイトライド)である。
隙間がわずかにあいている。窒素原料ガスは、この隙間
を通して結晶成長容器56の内部空間61内に入り、ア
ルカリ金属とIII族金属の混合融液62との間に気液界
面63を形成する。
ある。図4を参照すると、結晶を気液界面63に保持す
る結晶保持治具58は、リング形状のものであって、リ
ングの内側に種結晶59を取り付けるための種結晶ホル
ダー65が設けられている。なお、図4では、種結晶ホ
ルダー65が1個しか図示されていないが、種結晶ホル
ダー65は、リングの対向面にさらに1個設置されてい
る。
部空間に窒素原料ガスを充満させ、かつ反応容器50内
の窒素原料圧力を制御することを可能にするガス供給管
51が反応容器50を貫通して装着されている。ここ
で、ガス供給管51は、バルブ52で外部と分離するこ
とが可能となっている。また、窒素の圧力を圧力制御装
置53で調整することが可能となっている。
63に保持するように構成されている。すなわち、図3
の装置では、アルカリ金属とIII族金属の混合融液62
に浮く結晶保持治具58を使用することで、常に気液界
面63に結晶を保持するように構成されている。
には種結晶ホルダー65が具備されており、これに種結
晶59を設置して混合融液62に浮かべ、種結晶59か
ら結晶成長を行なう。結晶保持治具58は常に融液62
の表面に浮いているので、成長したIII族窒化物結晶6
0は、常に気液界面63に保持され、気液界面63に沿
って板状のIII族窒化物結晶60の成長が継続する。
aNの成長方法を説明する。
としてNaを入れ、また、III族金属としてGaを入れ
る。
2つの種結晶ホルダー65にGaNの種結晶59を設置
する。この時、種結晶59はC面が気液界面63に平行
になるように設置する。
具58を成長容器56に収容し蓋57をかぶせる。次い
で、反応容器50を密閉し、バルブ52を閉じ、反応容
器50内部を外部雰囲気と遮断する。次いで、ヒーター
55の温度を700℃まで昇温する。
1から窒素ガスを入れ、圧力制御装置53で圧力を調整
して反応容器50内の全圧を5MPaにする。この状態
で200時間保持した後、降温する。
反応容器50を開けると、Naの一部が成長容器56の
下部に付着していた。また、成長容器56内の融液面
(気液界面)63は下降していたが、結晶保持治具58
は融液面(気液界面)63に接しており、図5に示すよ
うに、種結晶59から成長したC面を主面とするGaN
の板状単結晶60が2枚、気液界面63に平行に結晶成
長していた。
結晶を3個設置できる(3個の種結晶ホルダーを有す
る)結晶保持治具を使用して、図4,図5と同様の方法
で結晶成長を行なった場合を示す図である。
を主面とするGaNの板状単結晶60が3枚、気液界面
63に平行に結晶成長していた。
気液界面63に保持した状態で結晶成長することができ
るので、従来のように成長容器内壁と気液界面が交差す
る位置に核発生した結晶が、気液界面の位置の低下とと
もに斜めに成長したり、途中で成長が停止したりするこ
とがなくなる。その結果、常に気液界面に沿ってIII族
窒化物の結晶成長が継続し、気液界面に平行な大型の板
状のIII族窒化物結晶を成長することができる。
装置の構成例を示す図である。
本的には、第3の実施形態の結晶成長装置と同じである
が、第4の実施形態では、結晶成長容器を4個収容する
ことができるように構成されている。
閉じた形状の反応容器70と、反応容器70内に設けら
れ、結晶成長を行なうための結晶成長容器77と、結晶
成長容器77の蓋78と、結晶を気液界面に保持する結
晶保持治具79と、ヒーター75と、反応容器70内の
全圧力をモニターするための圧力計74と、結晶成長容
器77を4台設置するための支持台76とが設けられて
いる。
保持治具79は、第3の実施形態の結晶成長装置のもの
と同じものである。
部空間に窒素原料ガスを充満させ、かつ反応容器70内
の窒素原料圧力を制御することを可能にするガス供給管
71が反応容器70を貫通して装着されている。ガス供
給管71は、バルブ72で外部と分離することが可能と
なっている。また、窒素の圧力を圧力制御装置73で調
整することが可能となっている。
治具79には、例えば図6に示したものと同様のものを
用いることができる。この場合、結晶保持治具79は、
リング形状のものであって、リングの内側に種結晶80
を取り付ける種結晶ホルダーが3個具備されている。
は、第3の実施形態と同様の手順で行なえる。異なる点
は、1回で4個の結晶成長容器77にNaとGaと種結
晶80を設置する点である。
治具79に種結晶80を3個設置して結晶成長を行なう
ことで、1回の成長で、12枚のIII族窒化物(Ga
N)の板状結晶81を成長できた。なお、図7におい
て、符号83は混合融液である。
用することで、板状のGaN単結晶を一度に多数枚、結
晶成長することができる。
発明は、アルカリ金属とIII族金属原料を含む混合融液
中でIII族金属原料と窒素原料を反応させてIII族窒化物
結晶を成長させる場合に、アルカリ金属とIII族金属を
含む混合融液と窒素原料ガスとの気液界面付近、あるい
は、アルカリ金属とIII族金属を含む混合融液と窒素原
料が分解して生成した窒素ガスとの気液界面付近に、II
I族窒化物結晶の成長中、III族窒化物結晶を継続して保
持し、気液界面に概ね平行に板状のIII族窒化物結晶を
成長するようにしている。
を気液界面として、結晶成長を継続する間、成長してい
る結晶を常に気液界面に保持して結晶成長を行なうよう
にしている。
の板状結晶を、その主面を気液界面に概ね平行にして成
長させることができる。なお、自然核発生で成長を行な
うと通常、主面はC面となる。
通常Na(ナトリウム)やK(カリウム)が使用される
が、その他のアルカリ金属を使用することもできる。
ニウム,インジウムから選ばれるIII族金属と窒素との
化合物を意味する。
合融液中には、別の元素を溶融させておくこともでき
る。例えばn型不純物やp型不純物を溶融させドーピン
グしてもよい。
素原料としては、窒素ガスや窒素と別の元素との化合物
等の窒素を構成元素とする物質を使用することができ
る。従って、窒素原料は、気体であっても液体であって
も固体であっても良く、特にその種類は限定するもので
はないが、窒素原料を気体とするのが最も好ましい。す
なわち、この場合には、窒素原料を気体として気相から
供給し、気液界面付近の窒素濃度が最も高くなるように
することができる。こうすることで、気液界面付近に結
晶性の良い高品質のIII族窒化物を結晶成長させること
ができる。すなわち、成長速度を律速する窒素の供給を
十分にして、成長速度を速くすることができる。また、
窒素不足による窒素空孔等の欠陥が低減し、高品質なII
I族窒化物を成長することができる。具体的には、窒素
原料としては、窒素ガスを使用することができる。ま
た、窒素原料を気体とすることで、融液中の窒素濃度を
小さくでき、この場合には、結晶成長容器の側面や底面
での結晶成長が抑制され、III族原料の無駄な消費を少
なくすることができる。
晶成長方法において、III族窒化物の種結晶の所定の結
晶面を気液界面に平行にして保持し、該種結晶から気液
界面に平行な主面を有する板状のIII族窒化物結晶を結
晶成長するようにしている。
化物の板状結晶を成長すると、通常、結晶のC軸が気液
界面に垂直になる。すなわち、C面が気液界面に平行に
なり、C面を主面とするIII族窒化物の板状結晶が成長
する。
にその面方位を規定して成長を行なうことで、所望の結
晶面を主面とする板状結晶を成長することができる。
晶成長方法において、気液界面に平行にする種結晶の所
定の結晶面が、(1−100)m面あるいは(11−2
0)a面であり、この種結晶からm面あるいはa面が気
液界面に平行な板状のIII族窒化物結晶を成長するよう
にしている。
金属原料を含む混合融液中でIII族金属原料と窒素原料
を反応させてIII族窒化物結晶を成長させるIII族窒化物
結晶成長装置において、III族窒化物結晶の成長中に、I
II族窒化物結晶を気液界面に継続して保持する機構が設
けられている。
続して保持する機構としては、III族窒化物結晶の成長
中に、気液界面の位置を一定にする機構を用いることが
できる。
継続して保持する機構としては、III族窒化物結晶の成
長中に、III族窒化物結晶を気液界面の位置に移動する
機構を用いることができる。ここで、III族窒化物結晶
を気液界面の位置に移動する機構としては、結晶成長容
器の上あるいは下に設置した治具を上下させてIII族窒
化物結晶を移動させる機構を用いたり、あるいは、III
族窒化物III族窒化物結晶が成長する治具を気液界面に
浮かせる機構を用いることができる。
種結晶を設置する手段が設けられている。このとき、結
晶成長は種結晶を設置する機構(治具)に種結晶を設置
した後、気液界面に種結晶を保持して種結晶から結晶成
長を開始する。なお、種結晶を設置する方法は特に限定
するものではない。
求項9記載の発明によれば、アルカリ金属とIII族金属
原料を含む混合融液中でIII族金属原料と窒素原料を反
応させてIII族窒化物結晶を成長させる場合に、アルカ
リ金属とIII族金属を含む混合融液と窒素原料ガスとの
気液界面付近、あるいは、アルカリ金属とIII族金属を
含む混合融液と窒素原料が分解して生成した窒素ガスと
の気液界面付近に、III族窒化物結晶の成長中、III族窒
化物結晶を継続して保持し、気液界面に概ね平行に板状
のIII族窒化物結晶を成長するので、III族窒化物の板状
結晶を継続して成長することができる。その結果、大面
積を有する高品質のIII族窒化物の板状結晶を成長する
ことができる。
記載のIII族窒化物結晶成長方法において、III族窒化物
の種結晶の所定の結晶面を気液界面に平行にして保持
し、該種結晶から気液界面に平行な主面を有する板状の
III族窒化物結晶を結晶成長するので、従来では、C面
を主面とするIII族窒化物の板状結晶しか作製すること
が困難であったが、所望の結晶面を主面とするIII族窒
化物の板状結晶を容易に作製することができる。従っ
て、C面以外の主面を有するIII族窒化物基板を作製す
ることができる。また、この板状結晶を使用してデバイ
スを作製する場合には、基板の面方位に依存した特性を
利用して機能するデバイスを作製することが可能にな
る。
記載のIII族窒化物結晶成長方法において、気液界面に
平行にする種結晶の所定の結晶面は、(1−100)m
面あるいは(11−20)a面であり、該種結晶からm
面あるいはa面が気液界面に平行な板状のIII族窒化物
結晶を成長するので、従来作製が困難であったm面ある
いはa面を主面とした板状結晶を容易に作製することが
できる。また、この板状結晶を使用してデバイスを作製
する場合には、デバイスチップを容易に短尺形にチップ
カットすることができる。その結果、チップカット時の
歩留まりが向上し、低コスト化を図ることができる。
金属とIII族金属原料を含む混合融液中でIII族金属原料
と窒素原料を反応させてIII族窒化物結晶を成長させるI
II族窒化物結晶成長装置において、III族窒化物結晶の
成長中に、III族窒化物結晶を気液界面に継続して保持
する機構が設けられているので、原料の消費やアルカリ
金属の蒸発によって結晶成長中に気液界面が低下して
も、結晶を気液界面に保持することができて、従来のよ
うに、気液界面の低下とともに結晶が斜めに成長してし
まうことや、結晶成長が中断してしまうことを防止でき
る。その結果、気液界面で大きなIII族窒化物の板状結
晶を成長することができる。
記載のIII族窒化物結晶成長装置において、III族窒化物
結晶を気液界面に継続して保持する機構には、III族窒
化物結晶の成長中に、気液界面の位置を一定にする機構
が用いられるので、成長容器の側面に核発生した結晶が
成長した場合等で結晶を移動することが困難である場合
に有効である。すなわち、このような場合でも、気液界
面で大きなIII族窒化物の板状結晶を成長することがで
きる。
記載のIII族窒化物結晶成長装置において、III族窒化物
結晶を気液界面に継続して保持する機構には、III族窒
化物結晶の成長中に、III族窒化物結晶を気液界面の位
置に移動する機構が用いられるので、融液面(気液界
面)の位置変動を制御できないような場合においても、
常に結晶を気液界面に保持することができる。その結
果、気液界面で大きなIII族窒化物の板状結晶を成長す
ることができる。
記載のIII族窒化物結晶成長装置において、III族窒化物
結晶を気液界面の位置に移動する機構には、結晶成長容
器の上あるいは下に設置した治具を上下させてIII族窒
化物結晶を移動させる機構が用いられるので、ある程度
の大きさになった結晶が、その自重で融液中に沈むこと
を防止でき、気液界面で大きなIII族窒化物の板状結晶
を成長することができる。
記載のIII族窒化物結晶成長装置において、III族窒化物
結晶を気液界面の位置に移動する機構には、気液界面に
III族窒化物結晶が成長する治具を浮かせる機構が用い
られるので、治具から結晶成長した結晶を常に気液界面
に保持することができる。また、結晶を上下するための
大掛かりな機構を必要としないので、装置の構造を簡単
なものにすることができる。
記載のIII族窒化物結晶成長装置において、III族窒化物
結晶を保持する機構には、種結晶を設置する手段が設け
られているので、III族窒化物の種結晶を核として優先
的にIII族窒化物結晶を成長させることができ、種結晶
が設置されていない治具を使用した場合に比べて、治具
に結晶を付着させて成長することが容易になり、III族
窒化物の大きな板状結晶を容易に作製することができ
る。
長装置の構成例を示す図である。
長装置の構成例を示す図である。
長装置の構成例を示す図である。
長装置の構成例を示す図である。
Claims (9)
- 【請求項1】 アルカリ金属とIII族金属原料を含む混
合融液中でIII族金属原料と窒素原料を反応させてIII族
窒化物結晶を成長させるIII族窒化物結晶成長方法にお
いて、アルカリ金属とIII族金属を含む混合融液と窒素
原料ガスとの気液界面付近、あるいは、アルカリ金属と
III族金属を含む混合融液と窒素原料が分解して生成し
た窒素ガスとの気液界面付近に、III族窒化物結晶の成
長中、III族窒化物結晶を継続して保持し、気液界面に
概ね平行に板状のIII族窒化物結晶を成長することを特
徴とするIII族窒化物結晶成長方法。 - 【請求項2】 請求項1記載のIII族窒化物結晶成長方
法において、III族窒化物の種結晶の所定の結晶面を気
液界面に平行にして保持し、該種結晶から気液界面に平
行な主面を有する板状のIII族窒化物結晶を結晶成長す
ることを特徴とするIII族窒化物結晶成長方法。 - 【請求項3】 請求項2記載のIII族窒化物結晶成長方
法において、気液界面に平行にする種結晶の所定の結晶
面は、(1−100)m面あるいは(11−20)a面
であり、該種結晶からm面あるいはa面が気液界面に平
行な板状のIII族窒化物結晶を成長することを特徴とす
るIII族窒化物結晶成長方法。 - 【請求項4】 アルカリ金属とIII族金属原料を含む混
合融液中でIII族金属原料と窒素原料を反応させてIII族
窒化物結晶を成長させるIII族窒化物結晶成長装置にお
いて、III族窒化物結晶の成長中に、III族窒化物結晶を
気液界面に継続して保持する機構が設けられていること
を特徴とするIII族窒化物結晶成長装置。 - 【請求項5】 請求項4記載のIII族窒化物結晶成長装
置において、III族窒化物結晶を気液界面に継続して保
持する機構には、III族窒化物結晶の成長中に、気液界
面の位置を一定にする機構が用いられることを特徴とす
るIII族窒化物結晶成長装置。 - 【請求項6】 請求項4記載のIII族窒化物結晶成長装
置において、III族窒化物結晶を気液界面に継続して保
持する機構には、III族窒化物結晶の成長中に、III族窒
化物結晶を気液界面の位置に移動する機構が用いられる
ことを特徴とするIII族窒化物結晶成長装置。 - 【請求項7】 請求項6記載のIII族窒化物結晶成長装
置において、III族窒化物結晶を気液界面の位置に移動
する機構には、結晶成長容器の上あるいは下に設置した
治具を上下させてIII族窒化物結晶を移動させる機構が
用いられることを特徴とするIII族窒化物結晶成長装
置。 - 【請求項8】 請求項6記載のIII族窒化物結晶成長装
置において、III族窒化物結晶を気液界面の位置に移動
する機構には、気液界面にIII族窒化物結晶が成長する
治具を浮かせる機構が用いられることを特徴とするIII
族窒化物結晶成長装置。 - 【請求項9】 請求項6記載のIII族窒化物結晶成長装
置において、III族窒化物結晶を保持する機構には、種
結晶を設置する手段が設けられていることを特徴とする
III族窒化物結晶成長装置。
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