JP2003198937A - Ｘ線検出器モニタリング - Google Patents
Ｘ線検出器モニタリングInfo
- Publication number
- JP2003198937A JP2003198937A JP2002278304A JP2002278304A JP2003198937A JP 2003198937 A JP2003198937 A JP 2003198937A JP 2002278304 A JP2002278304 A JP 2002278304A JP 2002278304 A JP2002278304 A JP 2002278304A JP 2003198937 A JP2003198937 A JP 2003198937A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- during
- detector
- data
- phase
- pixel elements
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 42
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 17
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 6
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 claims 1
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 claims 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000001351 cycling effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- VHYFNPMBLIVWCW-UHFFFAOYSA-N 4-Dimethylaminopyridine Chemical compound CN(C)C1=CC=NC=C1 VHYFNPMBLIVWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 102100033029 Carbonic anhydrase-related protein 11 Human genes 0.000 description 1
- 101000867841 Homo sapiens Carbonic anhydrase-related protein 11 Proteins 0.000 description 1
- 101001075218 Homo sapiens Gastrokine-1 Proteins 0.000 description 1
- 101000726523 Homo sapiens Putative gap junction epsilon-1 protein Proteins 0.000 description 1
- 102100030593 Putative gap junction epsilon-1 protein Human genes 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000000638 stimulation Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/06—Adjustment of display parameters
- G09G2320/0693—Calibration of display systems
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
- G09G2330/08—Fault-tolerant or redundant circuits, or circuits in which repair of defects is prepared
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
- G09G2330/10—Dealing with defective pixels
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 欠陥のおそれがあるピクセル素子を不良ピク
セル・マップに追加できるように、検出器内のピクセル
素子を継続的にモニタリングする方法を提供する。 【解決手段】 Ｘ線源（１５）及び横列と縦列の形に配
列させたピクセル素子を備えたディジタル検出器（２
２）を含むＸ線システム（１４）は、較正動作フェーズ
の間に検出器を較正しかつ異なる時点で生じる使用動作
フェーズの間に検出器に電源供給する制御器（３６）を
用いて検出器をモニタリングしている。処理装置（２
８、３６）は、ピクセル素子が生成させたデータを読み
取り、このデータを解析し、かつ較正動作フェーズの
間、並びに複数の使用動作フェーズの所定部分の間で欠
陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素
子を特定している。
セル・マップに追加できるように、検出器内のピクセル
素子を継続的にモニタリングする方法を提供する。 【解決手段】 Ｘ線源（１５）及び横列と縦列の形に配
列させたピクセル素子を備えたディジタル検出器（２
２）を含むＸ線システム（１４）は、較正動作フェーズ
の間に検出器を較正しかつ異なる時点で生じる使用動作
フェーズの間に検出器に電源供給する制御器（３６）を
用いて検出器をモニタリングしている。処理装置（２
８、３６）は、ピクセル素子が生成させたデータを読み
取り、このデータを解析し、かつ較正動作フェーズの
間、並びに複数の使用動作フェーズの所定部分の間で欠
陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素
子を特定している。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は検出器を利用するＸ
線システムに関し、より具体的には、こうしたシステム
のモニタリング及び補正に関する。
線システムに関し、より具体的には、こうしたシステム
のモニタリング及び補正に関する。
【０００２】
【発明の背景】新規のディジタル式Ｘ線検出器を導入す
ると、検出器内の欠陥を含む位置で画像情報が失われる
ことに関する問題が生じる。欠陥は、典型的には、電気
的に応答していないか、その周囲のピクセル素子と統計
的に異なる挙動を示すかのいずれかであるようなピクセ
ル素子である不良ピクセル素子に起因する。
ると、検出器内の欠陥を含む位置で画像情報が失われる
ことに関する問題が生じる。欠陥は、典型的には、電気
的に応答していないか、その周囲のピクセル素子と統計
的に異なる挙動を示すかのいずれかであるようなピクセ
ル素子である不良ピクセル素子に起因する。
【０００３】ディジタル検出器の較正及びセットアップ
の間にこうした欠陥ピクセル素子の位置を特定するため
の方法が存在している。この操作は、典型的には、構造
を全く含まないフラット・フィールド画像を解析し、外
れたピクセル素子を検索することにより実施される。こ
れらのフラット・フィールド画像は、（１）Ｘ線を用い
ずにイメージャを読み取るモードである「暗（ｄａｒ
ｋ）」フレーム（すなわち、オフセット・フレーム）
（２）読み出しに先だってＸ線信号を加えるモードであ
る「明（ｌｉｇｈｔ）」フレーム（すなわち、Ｘ線フレ
ーム）、という２つのモードのうちの一方により取得す
る。較正の間に特定したピクセル素子は、典型的には、
不良ピクセル・マップに保存する。不良ピクセル・マッ
プ内で特定されたピクセル素子を画像表示の前に補正す
るような別の方法が存在する。
の間にこうした欠陥ピクセル素子の位置を特定するため
の方法が存在している。この操作は、典型的には、構造
を全く含まないフラット・フィールド画像を解析し、外
れたピクセル素子を検索することにより実施される。こ
れらのフラット・フィールド画像は、（１）Ｘ線を用い
ずにイメージャを読み取るモードである「暗（ｄａｒ
ｋ）」フレーム（すなわち、オフセット・フレーム）
（２）読み出しに先だってＸ線信号を加えるモードであ
る「明（ｌｉｇｈｔ）」フレーム（すなわち、Ｘ線フレ
ーム）、という２つのモードのうちの一方により取得す
る。較正の間に特定したピクセル素子は、典型的には、
不良ピクセル・マップに保存する。不良ピクセル・マッ
プ内で特定されたピクセル素子を画像表示の前に補正す
るような別の方法が存在する。
【０００４】ある種の条件下では、欠陥ピクセル素子
は、初期較正の間に特定されなくとも、アモルファスシ
リコン検出器内で時間の経過と共に発生することがあ
る。本発明は、上述の問題に取り組み、解決法を提供す
る。実施の一形態では、ピクセル素子の挙動をモニタリ
ングし、不良ピクセル・マップを更新することができ
る。
は、初期較正の間に特定されなくとも、アモルファスシ
リコン検出器内で時間の経過と共に発生することがあ
る。本発明は、上述の問題に取り組み、解決法を提供す
る。実施の一形態では、ピクセル素子の挙動をモニタリ
ングし、不良ピクセル・マップを更新することができ
る。
【０００５】アモルファスシリコンのディジタル式Ｘ線
検出器は、ピクセル素子からなるアレイ（例えば、２０
４８×２０４８）から構成されている。各素子は、１つ
のフォトダイオードと、１つの関連する電界効果トラン
ジスタ（ＦＥＴ）と、から構成されている。Ｘ線イメー
ジングの目的では、このアレイにシンチレータを結合さ
せ、入射Ｘ線を光に変換している。シンチレータが発生
させた光は、電荷に変換してダイオード内に保存してい
る。この電荷は、各ダイオードに関連するＦＥＴを導通
させることにより読み出している。
検出器は、ピクセル素子からなるアレイ（例えば、２０
４８×２０４８）から構成されている。各素子は、１つ
のフォトダイオードと、１つの関連する電界効果トラン
ジスタ（ＦＥＴ）と、から構成されている。Ｘ線イメー
ジングの目的では、このアレイにシンチレータを結合さ
せ、入射Ｘ線を光に変換している。シンチレータが発生
させた光は、電荷に変換してダイオード内に保存してい
る。この電荷は、各ダイオードに関連するＦＥＴを導通
させることにより読み出している。
【０００６】フラットパネル型Ｘ線イメージャにより収
集した画像を解析し、不良ピクセル素子を検出するよう
なアルゴリズムが設計されている。不良ピクセル素子と
は、電気的に応答がないか、あるいはその周囲のピクセ
ル素子と統計的に異なる挙動を示すようなピクセル素子
である。これには、多くの場合、アレイ内のＦＥＴまた
はダイオード構造の欠陥が関係していることがある。
集した画像を解析し、不良ピクセル素子を検出するよう
なアルゴリズムが設計されている。不良ピクセル素子と
は、電気的に応答がないか、あるいはその周囲のピクセ
ル素子と統計的に異なる挙動を示すようなピクセル素子
である。これには、多くの場合、アレイ内のＦＥＴまた
はダイオード構造の欠陥が関係していることがある。
【０００７】これらのアルゴリズムの結果、検出器アレ
イ内での欠陥ピクセル素子の位置を含んだ画像マップ
（不良ピクセル・マップ）が生成される。この分野の特
許としては、
イ内での欠陥ピクセル素子の位置を含んだ画像マップ
（不良ピクセル・マップ）が生成される。この分野の特
許としては、
【０００８】
【特許文献１】米国特許第５，６５７，４００号（大面
積半導体Ｘ線検出器内の不良ピクセルの自動特定及び補
正を目的とする）、
積半導体Ｘ線検出器内の不良ピクセルの自動特定及び補
正を目的とする）、
【０００９】
【特許文献２】米国特許第５，８５４，６５５号（欠陥
ピクセルの検出が可能な半導体画像取り込みデバイスの
欠陥ピクセル検出回路を目的とする）、
ピクセルの検出が可能な半導体画像取り込みデバイスの
欠陥ピクセル検出回路を目的とする）、
【００１０】
【特許文献３】米国特許第５，２７２，５３６号（暗電
流及び欠陥ピクセルの補正装置を目的とする）、
流及び欠陥ピクセルの補正装置を目的とする）、
【００１１】
【特許文献４】米国特許第５，０４７，８６３号（非動
作ピクセル検出を含む半導体イメージング・デバイス用
の欠陥補正装置を目的とする）、
作ピクセル検出を含む半導体イメージング・デバイス用
の欠陥補正装置を目的とする）、
【００１２】
【特許文献５】米国特許第４，９９６，４１３号（画像
検出器からのデータの読み取りを目的とする）、が含ま
れる。
検出器からのデータの読み取りを目的とする）、が含ま
れる。
【００１３】欠陥ピクセル素子の検出の外に、これらの
特許の幾つかは、画像表示の前にピクセルを補正する方
法も記載している。ほとんどの補正方法では、欠陥ピク
セルをそれと隣り合ったピクセルの値、あるいはこれら
の一次結合（ｌｉｎｅａｒｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ）で
置き換えることに依っている。さらに、
特許の幾つかは、画像表示の前にピクセルを補正する方
法も記載している。ほとんどの補正方法では、欠陥ピク
セルをそれと隣り合ったピクセルの値、あるいはこれら
の一次結合（ｌｉｎｅａｒｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ）で
置き換えることに依っている。さらに、
【００１４】
【特許文献６】Ａｕｆｒｉｃｈｔｉｇ、Ｘｕｅ及びＫｕ
ｍｐの名による「Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ Ｏｆ Ｄｅｆ
ｅｃｔｉｖｅ Ｐｉｘｅｌｓ Ｉｎ Ａ Ｄｅｔｅｃｔ
ｏｒ」と題する米国出願第０９／４７４，７１５号（１
９９９年１２月２９日提出：整理番号１５−ＸＺ−４９
７４）
ｍｐの名による「Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ Ｏｆ Ｄｅｆ
ｅｃｔｉｖｅ Ｐｉｘｅｌｓ Ｉｎ Ａ Ｄｅｔｅｃｔ
ｏｒ」と題する米国出願第０９／４７４，７１５号（１
９９９年１２月２９日提出：整理番号１５−ＸＺ−４９
７４）
【００１５】
【特許文献７】Ａｕｆｒｉｃｈｔｉｇ、Ｘｕｅ及びＫｕ
ｍｐの名による「Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ Ｏｆ Ｄｅｆ
ｅｃｔｉｖｅ Ｐｉｘｅｌｓ Ｉｎ Ａ Ｄｅｔｅｃｔ
ｏｒ Ｕｓｉｎｇ Ｔｅｍｐｏｒａｌ Ｇｒａｄｉｅｎ
ｔｓ」と題する米国出願第０９／４７４，４９８号（１
９９９年１２月２９日提出：整理番号１５−ＸＺ−５４
２８）には、基になる画像構造に従った幾つかのより高
度な補正方法が提示されている。
ｍｐの名による「Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ Ｏｆ Ｄｅｆ
ｅｃｔｉｖｅ Ｐｉｘｅｌｓ Ｉｎ Ａ Ｄｅｔｅｃｔ
ｏｒ Ｕｓｉｎｇ Ｔｅｍｐｏｒａｌ Ｇｒａｄｉｅｎ
ｔｓ」と題する米国出願第０９／４７４，４９８号（１
９９９年１２月２９日提出：整理番号１５−ＸＺ−５４
２８）には、基になる画像構造に従った幾つかのより高
度な補正方法が提示されている。
【００１６】
【課題を解決するための手段】この好ましい実施形態
は、Ｘ線源と、患者の一部分のＸ線画像の作成に適した
データを生成させるために横列と縦列の形に配列させた
ピクセル素子を備えたディジタル検出器と、を備えるＸ
線イメージング・システムにおいて有用である。こうし
た環境の１つでは、その検出器は、較正動作フェーズの
間に検出器を較正すること、異なる時点で生じる使用動
作フェーズの間で検出器に電源供給すること、使用動作
フェーズの間に照射動作モードでＸ線源を付勢させＸ線
を検出器に伝達させること、並びに使用動作フェーズの
間に暗動作モードでＸ線源を抑止すること、によってモ
ニタリングすることができる。ピクセル素子が生成させ
たデータは、読み取られて解析される。較正動作フェー
ズの間、並びに複数の使用動作フェーズの所定部分の間
で、欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応するよう
なピクセル素子を特定している。
は、Ｘ線源と、患者の一部分のＸ線画像の作成に適した
データを生成させるために横列と縦列の形に配列させた
ピクセル素子を備えたディジタル検出器と、を備えるＸ
線イメージング・システムにおいて有用である。こうし
た環境の１つでは、その検出器は、較正動作フェーズの
間に検出器を較正すること、異なる時点で生じる使用動
作フェーズの間で検出器に電源供給すること、使用動作
フェーズの間に照射動作モードでＸ線源を付勢させＸ線
を検出器に伝達させること、並びに使用動作フェーズの
間に暗動作モードでＸ線源を抑止すること、によってモ
ニタリングすることができる。ピクセル素子が生成させ
たデータは、読み取られて解析される。較正動作フェー
ズの間、並びに複数の使用動作フェーズの所定部分の間
で、欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応するよう
なピクセル素子を特定している。
【００１７】上述の技法を用いることにより、従来は達
成できなかったような程度の容易さ及び正確さで、Ｘ線
検出器をモニタリングすることができる。
成できなかったような程度の容易さ及び正確さで、Ｘ線
検出器をモニタリングすることができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】図１を参照すると、Ｘ線システム
１４は、電源１６により付勢させた際に、Ｘ線ビーム１
７を放出するＸ線管１５を含んでいる。図示したよう
に、Ｘ線ビームは、Ｘ線透過性のテーブル２０上に横た
えた患者１８の方向に向けられる。テーブル及び患者を
透過して伝搬したビームは、番号２２で示すＸ線検出器
に当たる。Ｘ線検出器２２は、Ｘ線光子をより低エネル
ギーの可視スペクトル内の光子に変換しているシンチレ
ータ２４を備えている。シンチレータ２４と境を接して
光検出器アレイ２６があり、光の光子を電気信号に変換
している。検出器制御装置２７は、画像を収集し各光検
出器素子から信号を読み出すように検出器アレイを動作
させるための電子回路を含んでいる。
１４は、電源１６により付勢させた際に、Ｘ線ビーム１
７を放出するＸ線管１５を含んでいる。図示したよう
に、Ｘ線ビームは、Ｘ線透過性のテーブル２０上に横た
えた患者１８の方向に向けられる。テーブル及び患者を
透過して伝搬したビームは、番号２２で示すＸ線検出器
に当たる。Ｘ線検出器２２は、Ｘ線光子をより低エネル
ギーの可視スペクトル内の光子に変換しているシンチレ
ータ２４を備えている。シンチレータ２４と境を接して
光検出器アレイ２６があり、光の光子を電気信号に変換
している。検出器制御装置２７は、画像を収集し各光検
出器素子から信号を読み出すように検出器アレイを動作
させるための電子回路を含んでいる。
【００１９】光検出器アレイ２６からの出力信号は、Ｘ
線画像信号の処理及び強調のための回路を含んだ画像処
理装置２８と結合させている。次いで、処理した画像は
ビデオ・モニタ３２上に表示させており、またこの画像
は画像記憶デバイス３０内にアーカイブすることがあ
る。画像処理装置２８はさらに、電源１６を調節しこれ
によりＸ線照射を調節するために照射制御回路３４に加
えられる輝度調整信号を発生させている。
線画像信号の処理及び強調のための回路を含んだ画像処
理装置２８と結合させている。次いで、処理した画像は
ビデオ・モニタ３２上に表示させており、またこの画像
は画像記憶デバイス３０内にアーカイブすることがあ
る。画像処理装置２８はさらに、電源１６を調節しこれ
によりＸ線照射を調節するために照射制御回路３４に加
えられる輝度調整信号を発生させている。
【００２０】Ｘ線システム１４の全体動作はシステム制
御装置３６により統御しており、このシステム制御装置
３６はオペレータ・インタフェース・パネル３８を介し
てＸ線技師からのコマンドを受け取っている。制御装置
３６は、メモリ３７及び処理装置３９を含んでいる。
御装置３６により統御しており、このシステム制御装置
３６はオペレータ・インタフェース・パネル３８を介し
てＸ線技師からのコマンドを受け取っている。制御装置
３６は、メモリ３７及び処理装置３９を含んでいる。
【００２１】図２は、マトリックス状の検出器素子（す
なわち、ピクセル素子）４０により形成されている光検
出器アレイ２６の回路を表している。ピクセル素子４０
は、アモルファスシリコンのウェハ上でｍ個の縦列とｎ
個の横列（ここで、ｍとｎは整数）からなる従来型の２
次元アレイの形に配列させている。例えば、典型的な高
分解能Ｘ線検出器は、素子の横列と縦列が１，０００〜
４，０００のアレイである。
なわち、ピクセル素子）４０により形成されている光検
出器アレイ２６の回路を表している。ピクセル素子４０
は、アモルファスシリコンのウェハ上でｍ個の縦列とｎ
個の横列（ここで、ｍとｎは整数）からなる従来型の２
次元アレイの形に配列させている。例えば、典型的な高
分解能Ｘ線検出器は、素子の横列と縦列が１，０００〜
４，０００のアレイである。
【００２２】各ピクセル素子４０は、フォトダイオード
４２及び薄膜トランジスタ４４を含んでいる。フォトダ
イオード４２は、シンチレータ２４が発生させた光の相
当大きな部分が確実にフォトダイオードにより捕捉され
るように大きなウェハ面積により製作している。各フォ
トダイオード４２はさらに、光子刺激に起因する電荷を
保存できるように比較的大きなキャパシタンスを有す
る。
４２及び薄膜トランジスタ４４を含んでいる。フォトダ
イオード４２は、シンチレータ２４が発生させた光の相
当大きな部分が確実にフォトダイオードにより捕捉され
るように大きなウェハ面積により製作している。各フォ
トダイオード４２はさらに、光子刺激に起因する電荷を
保存できるように比較的大きなキャパシタンスを有す
る。
【００２３】アレイの各縦列内のフォトダイオード４２
の陰極は、関連するトランジスタ４４のソース・ドレイ
ン間電導経路により、その縦列に対する共通縦列信号線
（４８-1〜４８-m）と接続させている。例えば、縦列１
内の各フォトダイオード４２は第１の信号線４８-1と結
合している。各横列内のダイオードのアノードは、共同
して負のバイアス電圧源（−ｖ）と接続させている。各
横列内のトランジスタ４４のゲート電極は、横列１での
線４６-1などのような共通横列選択線（４６-1〜４
６-n）と接続させている。横列選択線及び縦列信号線は
検出器制御装置２７と結合させており、また縦列信号線
はさらに、画像処理装置２８と接続させている。
の陰極は、関連するトランジスタ４４のソース・ドレイ
ン間電導経路により、その縦列に対する共通縦列信号線
（４８-1〜４８-m）と接続させている。例えば、縦列１
内の各フォトダイオード４２は第１の信号線４８-1と結
合している。各横列内のダイオードのアノードは、共同
して負のバイアス電圧源（−ｖ）と接続させている。各
横列内のトランジスタ４４のゲート電極は、横列１での
線４６-1などのような共通横列選択線（４６-1〜４
６-n）と接続させている。横列選択線及び縦列信号線は
検出器制御装置２７と結合させており、また縦列信号線
はさらに、画像処理装置２８と接続させている。
【００２４】図２に示す検出器を用いてＸ線画像を収集
するために、システム１４は様々なシーケンスを実行す
ることがある。例示的なシーケンスの１つを以下に示
す。先ず、検出器制御装置２７によって、すべての縦列
信号線４８-1〜４８-mを接地に接続させ、すべての横列
選択線４６-1〜４６-nに正の電圧を印加する。横列選択
線に印加した正電圧により各ピクセル素子４０内のトラ
ンジスタ４４がオンになり、逆バイアスされたフォトダ
イオード４２上に正電荷が溜まる。フォトダイオードが
完全に充電されると、検出器制御装置２７は負の供給電
圧（−Ｖ）と比べてより負値が大きい負電圧−Ｖを横列
選択線に印加する。横列選択線に対するこの負バイアス
により各ピクセル素子４０内のトランジスタ４４がオフ
になる。
するために、システム１４は様々なシーケンスを実行す
ることがある。例示的なシーケンスの１つを以下に示
す。先ず、検出器制御装置２７によって、すべての縦列
信号線４８-1〜４８-mを接地に接続させ、すべての横列
選択線４６-1〜４６-nに正の電圧を印加する。横列選択
線に印加した正電圧により各ピクセル素子４０内のトラ
ンジスタ４４がオンになり、逆バイアスされたフォトダ
イオード４２上に正電荷が溜まる。フォトダイオードが
完全に充電されると、検出器制御装置２７は負の供給電
圧（−Ｖ）と比べてより負値が大きい負電圧−Ｖを横列
選択線に印加する。横列選択線に対するこの負バイアス
により各ピクセル素子４０内のトランジスタ４４がオフ
になる。
【００２５】次いで、Ｘ線光子のビーム１７を発生させ
るように管球１５を付勢させながらシステムが従来の方
式で発生させたパルス状Ｘ線光子に検出器２２を曝露さ
せる。このＸ線光子はシンチレータ２４によってより低
エネルギーの光子に変換している。これらより低エネル
ギーの光子が検出器２６内のフォトダイオード４２に当
たると、ダイオードは電気を通じさせ、かつその正電荷
の一部分を放電させる。所与のフォトダイオード４２か
ら取り去られる正電荷の量は、そのフォトダイオードに
当たるより低エネルギーの光子の量に依存しており、さ
らにこれは、シンチレータ２４のそのフォトダイオード
と隣接した領域に当たるＸ線エネルギー強度に依存して
いる。したがって、各ピクセル素子４０内のフォトダイ
オード４２から取り去られる電荷量は、Ｘ線検出器２２
の対応する領域に当たるＸ線強度の関数である。
るように管球１５を付勢させながらシステムが従来の方
式で発生させたパルス状Ｘ線光子に検出器２２を曝露さ
せる。このＸ線光子はシンチレータ２４によってより低
エネルギーの光子に変換している。これらより低エネル
ギーの光子が検出器２６内のフォトダイオード４２に当
たると、ダイオードは電気を通じさせ、かつその正電荷
の一部分を放電させる。所与のフォトダイオード４２か
ら取り去られる正電荷の量は、そのフォトダイオードに
当たるより低エネルギーの光子の量に依存しており、さ
らにこれは、シンチレータ２４のそのフォトダイオード
と隣接した領域に当たるＸ線エネルギー強度に依存して
いる。したがって、各ピクセル素子４０内のフォトダイ
オード４２から取り去られる電荷量は、Ｘ線検出器２２
の対応する領域に当たるＸ線強度の関数である。
【００２６】Ｘ線照射が終了した後、各フォトダイオー
ド４２内の残留電荷を検知する。これを行うには、各検
出器アレイ縦列に対する縦列信号線４８-1〜４８-mを、
画像処理装置２８の別々の検知回路に同時に接続する。
幾つかのタイプの検知回路のうちの任意の回路を画像処
理装置２８に組み込むことができる。例えば、検知回路
は、フォトダイオード両端の電圧（すなわち、フォトダ
イオード上に残っている電荷量）を計測することができ
る。別法として、その検知回路は、当該の縦列信号線４
８-1〜４８-mを接地電位に接続し、Ｘ線照射により取り
去られた電荷を置換するのに必要な電荷量を計測するこ
とができる。
ド４２内の残留電荷を検知する。これを行うには、各検
出器アレイ縦列に対する縦列信号線４８-1〜４８-mを、
画像処理装置２８の別々の検知回路に同時に接続する。
幾つかのタイプの検知回路のうちの任意の回路を画像処
理装置２８に組み込むことができる。例えば、検知回路
は、フォトダイオード両端の電圧（すなわち、フォトダ
イオード上に残っている電荷量）を計測することができ
る。別法として、その検知回路は、当該の縦列信号線４
８-1〜４８-mを接地電位に接続し、Ｘ線照射により取り
去られた電荷を置換するのに必要な電荷量を計測するこ
とができる。
【００２７】最大画像分解能の場合では、そのフォトダ
イオード電荷は、検出器制御装置２７によって、横列選
択線の各々に正の電圧を順々に印加しながら１回あたり
１横列の割合で検知している。ある横列選択線が正にバ
イアスされると、当該横列選択線に接続された検出器ア
レイのトランジスタ４４がオンになり、これにより選択
した横列内の関連するフォトダイオード４２がその縦列
信号線４８-1〜４８-mと結合される。
イオード電荷は、検出器制御装置２７によって、横列選
択線の各々に正の電圧を順々に印加しながら１回あたり
１横列の割合で検知している。ある横列選択線が正にバ
イアスされると、当該横列選択線に接続された検出器ア
レイのトランジスタ４４がオンになり、これにより選択
した横列内の関連するフォトダイオード４２がその縦列
信号線４８-1〜４８-mと結合される。
【００２８】この好ましい実施形態により解決しようと
している問題は、画像検出器内のピクセル素子の挙動が
時間の経過と共に変化し、これにより個々のピクセル素
子が欠陥ピクセルとなるような状況に関連する。例え
ば、ダイオードのリーク（ｄｉｏｄｅ ｌｅａｋａｇ
ｅ）が時間の経過（数時のオーダー）と共にピクセル素
子内に発生し、ピクセル素子の応答が大幅に変化するこ
とがある。同様に、長い時間経つと個々のピクセル素子
内に電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）のリークも発生
し、ピクセル素子の挙動が非直線的となることがある。
これらの種類のリーク効果は、典型的には、検出器の電
源のサイクル動作の時点でリセットされるが、後続する
段階で同じピクセル素子内に再度発生することが多い。
較正は電源投入後の短時間内に実施することが多いた
め、この種の欠陥は較正中には検出されないのが普通で
ある。したがって、欠陥のおそれがあるピクセル素子を
不良ピクセル・マップに追加できるように、検出器内の
ピクセル素子を継続的にモニタリングする方法が必要で
ある。
している問題は、画像検出器内のピクセル素子の挙動が
時間の経過と共に変化し、これにより個々のピクセル素
子が欠陥ピクセルとなるような状況に関連する。例え
ば、ダイオードのリーク（ｄｉｏｄｅ ｌｅａｋａｇ
ｅ）が時間の経過（数時のオーダー）と共にピクセル素
子内に発生し、ピクセル素子の応答が大幅に変化するこ
とがある。同様に、長い時間経つと個々のピクセル素子
内に電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）のリークも発生
し、ピクセル素子の挙動が非直線的となることがある。
これらの種類のリーク効果は、典型的には、検出器の電
源のサイクル動作の時点でリセットされるが、後続する
段階で同じピクセル素子内に再度発生することが多い。
較正は電源投入後の短時間内に実施することが多いた
め、この種の欠陥は較正中には検出されないのが普通で
ある。したがって、欠陥のおそれがあるピクセル素子を
不良ピクセル・マップに追加できるように、検出器内の
ピクセル素子を継続的にモニタリングする方法が必要で
ある。
【００２９】この好ましい実施形態は、無支援でモニタ
リングを行い不良ピクセル・マップを更新するための方
法を含む。この方法は、検出器を臨床的に（患者に）利
用していないときに暗画像を収集することからなる。暗
画像ではＸ線を使用する必要がなく、無支援でバックグ
ラウンド動作として収集することができる。
リングを行い不良ピクセル・マップを更新するための方
法を含む。この方法は、検出器を臨床的に（患者に）利
用していないときに暗画像を収集することからなる。暗
画像ではＸ線を使用する必要がなく、無支援でバックグ
ラウンド動作として収集することができる。
【００３０】好ましい実施形態では３つの不良ピクセル
・マップを利用している。
・マップを利用している。
【００３１】ＢａｄＭａｐＯｒｉｇは検出器の標準較正
後に取得する。例えば、ＢａｄＭａｐＯｒｉｇは、較正
中に検出したすべての不良ピクセル素子に対する横列及
び縦列指標を含むようなメモリ３７内のＡＳＣＩＩまた
はバイナリのファイルとすることができる。検出器の較
正は、数ヶ月のオーダー（典型的には、６ヶ月または１
２ヶ月）で間隔をおいて行う作業である。
後に取得する。例えば、ＢａｄＭａｐＯｒｉｇは、較正
中に検出したすべての不良ピクセル素子に対する横列及
び縦列指標を含むようなメモリ３７内のＡＳＣＩＩまた
はバイナリのファイルとすることができる。検出器の較
正は、数ヶ月のオーダー（典型的には、６ヶ月または１
２ヶ月）で間隔をおいて行う作業である。
【００３２】ＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒは、検出器の標準
的使用の間に取得する。ＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒは、検
出器の各電源サイクルの間にリセットされる。ＢａｄＭ
ａｐＰｏｗｅｒは、較正中に検出されなかったが、最終
の電源リセット後に暗（オフセット）画像内でドリフト
を生じさせたピクセル素子の位置を含んでいる。Ｂａｄ
ＭａｐＰｏｗｅｒマップもメモリ３７内に保存される。
的使用の間に取得する。ＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒは、検
出器の各電源サイクルの間にリセットされる。ＢａｄＭ
ａｐＰｏｗｅｒは、較正中に検出されなかったが、最終
の電源リセット後に暗（オフセット）画像内でドリフト
を生じさせたピクセル素子の位置を含んでいる。Ｂａｄ
ＭａｐＰｏｗｅｒマップもメモリ３７内に保存される。
【００３３】ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅは検出器の標準
的使用の間に取得する。ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅは、
較正中に検出されなかったが検出器の電源サイクル後に
頻繁に（例えば、１０回中６回の割合で）ドリフトを示
すようなピクセル素子を表している。このピクセル・マ
ップも、電源サイクルが指定した時間間隔（例えば、２
４時間）以内に発生しなかった場合には更新されて、メ
モリ３７内に保存される。
的使用の間に取得する。ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅは、
較正中に検出されなかったが検出器の電源サイクル後に
頻繁に（例えば、１０回中６回の割合で）ドリフトを示
すようなピクセル素子を表している。このピクセル・マ
ップも、電源サイクルが指定した時間間隔（例えば、２
４時間）以内に発生しなかった場合には更新されて、メ
モリ３７内に保存される。
【００３４】上述した３つのマップの値は、検出器２２
のピクセル素子に対応する。
のピクセル素子に対応する。
【００３５】図３、４の流れ図は、これらの不良ピクセ
ル・マップを取得する方法を表している。簡単に言う
と、この方法は、患者検査の合間に暗画像を収集するこ
とからなる。例えば、１０分ごとに１枚の暗画像を収集
することがある。ダイオードの遅れ（ｌａｇ）に対する
感度を増加させるために、この暗画像は最長可能な積算
時間で収集すべきである。この積算時間間隔（２〜２０
秒の範囲）は、臨床上使用される最長タイミング（例え
ば、２〜５秒）と比べてより長くすることがある。指定
レベルを外れた暗値を有するピクセル素子はＢａｄＭａ
ｐＰｏｗｅｒピクセル・マップにおいて不良であると標
識付けする。所与の電源サイクル内において、不良ピク
セル・マップは、較正マップ（ＢａｄＭａｐＯｒｉｇ）
とＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒを結合させたものである。ピ
クセル素子を不良マップに追加した後、その検出器が不
良ピクセル素子やこれらの結合（クラスタ）の総数に関
する仕様を確実に満たしていることを確認する必要があ
る。この目的には標準較正確認ルーチンを使用すること
ができる。ある電源サイクル実施の間に仕様不適合があ
った場合は、その不適合を生じさせているピクセル素子
をリセットする。あるピクセル素子がＢａｄＭａｐＰｏ
ｗｅｒに包含された回数をモニタリングし、ある指定し
た発生頻度（例えば、全回数の６０％）を超えた場合に
は、これをＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅのレコード内に含
める。ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅによる不良ピクセル・
マップの更新により仕様不適合が生じた場合は、サービ
スに通知すると共に、その検出器は再較正させる必要が
ある。ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅは検出器較正後にリセ
ットする。
ル・マップを取得する方法を表している。簡単に言う
と、この方法は、患者検査の合間に暗画像を収集するこ
とからなる。例えば、１０分ごとに１枚の暗画像を収集
することがある。ダイオードの遅れ（ｌａｇ）に対する
感度を増加させるために、この暗画像は最長可能な積算
時間で収集すべきである。この積算時間間隔（２〜２０
秒の範囲）は、臨床上使用される最長タイミング（例え
ば、２〜５秒）と比べてより長くすることがある。指定
レベルを外れた暗値を有するピクセル素子はＢａｄＭａ
ｐＰｏｗｅｒピクセル・マップにおいて不良であると標
識付けする。所与の電源サイクル内において、不良ピク
セル・マップは、較正マップ（ＢａｄＭａｐＯｒｉｇ）
とＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒを結合させたものである。ピ
クセル素子を不良マップに追加した後、その検出器が不
良ピクセル素子やこれらの結合（クラスタ）の総数に関
する仕様を確実に満たしていることを確認する必要があ
る。この目的には標準較正確認ルーチンを使用すること
ができる。ある電源サイクル実施の間に仕様不適合があ
った場合は、その不適合を生じさせているピクセル素子
をリセットする。あるピクセル素子がＢａｄＭａｐＰｏ
ｗｅｒに包含された回数をモニタリングし、ある指定し
た発生頻度（例えば、全回数の６０％）を超えた場合に
は、これをＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅのレコード内に含
める。ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅによる不良ピクセル・
マップの更新により仕様不適合が生じた場合は、サービ
スに通知すると共に、その検出器は再較正させる必要が
ある。ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅは検出器較正後にリセ
ットする。
【００３６】与えられた任意の画像に対して適用する不
良ピクセル・マップは、ＢａｄＭａｐＯｒｉｇとＢａｄ
ＭａｐＵｐｄａｔｅの「論理和（Ｌｏｇｉｃａｌ Ｏ
ｒ）」である。次いで、これらの特定したピクセル素子
は、典型的には失われた値を隣り合う良好なピクセル素
子から補間する処理である「正規（ｎｏｒｍａｌ）」不
良ピクセル素子マスキング処理にかける。
良ピクセル・マップは、ＢａｄＭａｐＯｒｉｇとＢａｄ
ＭａｐＵｐｄａｔｅの「論理和（Ｌｏｇｉｃａｌ Ｏ
ｒ）」である。次いで、これらの特定したピクセル素子
は、典型的には失われた値を隣り合う良好なピクセル素
子から補間する処理である「正規（ｎｏｒｍａｌ）」不
良ピクセル素子マスキング処理にかける。
【００３７】サービスへの通知は、システムモデムを介
した自動ダイアルアップとしたり、あるいは単にユーザ
に対してサービスを呼ぶように警告する画面とすること
ができる。
した自動ダイアルアップとしたり、あるいは単にユーザ
に対してサービスを呼ぶように警告する画面とすること
ができる。
【００３８】図３・４は、この不良ピクセル素子のモニ
タリング方針を表している。不良ピクセル・マップ内
で、ゼロ（０）値は良好なピクセル素子を示しており、
一方、非ゼロ値は不良ピクセル素子を示している。「論
理和」演算は、入力した引数の両方がゼロである場合に
のみゼロ（０）の値を与え、これ以外の場合は壱（１）
の値を与える。
タリング方針を表している。不良ピクセル・マップ内
で、ゼロ（０）値は良好なピクセル素子を示しており、
一方、非ゼロ値は不良ピクセル素子を示している。「論
理和」演算は、入力した引数の両方がゼロである場合に
のみゼロ（０）の値を与え、これ以外の場合は壱（１）
の値を与える。
【００３９】図３・４を参照すると、ステップ１００に
おいて、制御装置３６は検出器２２をよく知られた方法
により較正する。ステップ１０２において、処理装置３
９は、較正中に検出器２２からのデータを読み取りかつ
解析することによって位置特定された欠陥のある（すな
わち、不良の）ピクセル素子のすべての同定を、メモリ
３７のマップＢａｄＭａｐＯｒｉｇ内に保存する。ステ
ップ１０４において、処理装置３９は、マップＢａｄＭ
ａｐＵｐｄａｔｅ内のすべてのピクセル素子に対応する
値をゼロ値に設定する。ステップ１００〜１０４は較正
セットアップ中に実行させる。
おいて、制御装置３６は検出器２２をよく知られた方法
により較正する。ステップ１０２において、処理装置３
９は、較正中に検出器２２からのデータを読み取りかつ
解析することによって位置特定された欠陥のある（すな
わち、不良の）ピクセル素子のすべての同定を、メモリ
３７のマップＢａｄＭａｐＯｒｉｇ内に保存する。ステ
ップ１０４において、処理装置３９は、マップＢａｄＭ
ａｐＵｐｄａｔｅ内のすべてのピクセル素子に対応する
値をゼロ値に設定する。ステップ１００〜１０４は較正
セットアップ中に実行させる。
【００４０】ステップ１０６において、検出器が制御装
置３６にる電源サイクルを受けた場合、または更新時間
間隔（例えば、２４時間）を超えた場合に、処理装置３
９はマップＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒ内のすべてのピクセ
ル素子に対応する値をゼロ値に設定する。制御装置３６
は、そのシステムをインタフェース３８経由で開始及び
停止させているユーザの希望に従って、システム１４に
適宜電源サイクルを受けさせている。ステップ１０８に
おいて、処理装置３９は、マップＢａｄＭａｐ内のすべ
てのピクセル素子に対応する値を、マップＢａｄＭａｐ
Ｏｒｉｇ内の対応する値とマップＢａｄＭａｐＵｐｄａ
ｔｅ内の対応する値との論理和に等しく設定している。
ステップ１１０において、処理装置３９は、マップＢａ
ｄＭａｐ内の値により示される欠陥ピクセル素子、及び
ピクセル素子のクラスタの総数が仕様許容値の域内を外
れているか否かを判定する。外れている場合は、ステッ
プ１１２においてサービスに通知する。外れていない場
合は、ステップ１１４において、制御装置３６は、オペ
レータ・インタフェース３８を介して臨床プロトコル
（すなわち、患者プロトコル）が選択されているか否か
を判定する。選択されていれば、ステップ１１６におい
て、ＢａｄＭａｐを用いて不良ピクセルを補正しながら
完全な臨床／患者画像検査を実施する。画像検査の間で
は、制御器３４により照射動作モードとしてＸ線管１５
を付勢させる。選択されていなければ、ステップ１１８
において、処理装置３９は、最後のオフセット試験が所
定の時間間隔（例えば、１０分間）以内に実施されたか
否かを判定する。実施されていれば、プログラムはステ
ップ１１４に戻る。実施されていなければ、ステップ１
２０において、処理装置３９は、検出器２２内のピクセ
ル素子の値を最大許容タイミングを使用しながら読み取
ることにより暗（オフセット）画像フレームのデータを
収集する。この読み取りは、処理装置２８を介して達成
される。暗画像データは、制御装置３４及び３６がＸ線
管１５をオフにしている間で取得する。
置３６にる電源サイクルを受けた場合、または更新時間
間隔（例えば、２４時間）を超えた場合に、処理装置３
９はマップＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒ内のすべてのピクセ
ル素子に対応する値をゼロ値に設定する。制御装置３６
は、そのシステムをインタフェース３８経由で開始及び
停止させているユーザの希望に従って、システム１４に
適宜電源サイクルを受けさせている。ステップ１０８に
おいて、処理装置３９は、マップＢａｄＭａｐ内のすべ
てのピクセル素子に対応する値を、マップＢａｄＭａｐ
Ｏｒｉｇ内の対応する値とマップＢａｄＭａｐＵｐｄａ
ｔｅ内の対応する値との論理和に等しく設定している。
ステップ１１０において、処理装置３９は、マップＢａ
ｄＭａｐ内の値により示される欠陥ピクセル素子、及び
ピクセル素子のクラスタの総数が仕様許容値の域内を外
れているか否かを判定する。外れている場合は、ステッ
プ１１２においてサービスに通知する。外れていない場
合は、ステップ１１４において、制御装置３６は、オペ
レータ・インタフェース３８を介して臨床プロトコル
（すなわち、患者プロトコル）が選択されているか否か
を判定する。選択されていれば、ステップ１１６におい
て、ＢａｄＭａｐを用いて不良ピクセルを補正しながら
完全な臨床／患者画像検査を実施する。画像検査の間で
は、制御器３４により照射動作モードとしてＸ線管１５
を付勢させる。選択されていなければ、ステップ１１８
において、処理装置３９は、最後のオフセット試験が所
定の時間間隔（例えば、１０分間）以内に実施されたか
否かを判定する。実施されていれば、プログラムはステ
ップ１１４に戻る。実施されていなければ、ステップ１
２０において、処理装置３９は、検出器２２内のピクセ
ル素子の値を最大許容タイミングを使用しながら読み取
ることにより暗（オフセット）画像フレームのデータを
収集する。この読み取りは、処理装置２８を介して達成
される。暗画像データは、制御装置３４及び３６がＸ線
管１５をオフにしている間で取得する。
【００４１】ステップ１２０で取得した暗画像フレーム
内のピクセル素子が暗フレームしきい値限界を外れた値
を有する場合には、ステップ１２２において、処理装置
３９はマップＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒ内の対応するビッ
トに値１を設定する。そのピクセルが最後のＮｐ回の電
源サイクルのうちＮｆ回で標識された場合には、マップ
ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅ内のこの対応するビットを値
１に設定する。典型的なＮｆの値は６であり、典型的な
Ｎｐの値は１０である。ステップ１２４において、マッ
プＢａｄＭａｐ内の値を、マップＢａｄＭａｐ内の対応
する値とマップＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒ内の対応する値
との論理和に等しくなるように設定する。ステップ１２
６において、処理装置３９は、マップＢａｄＭａｐ内で
特定された欠陥ピクセル素子、並びにピクセル素子のク
ラスタの総数が仕様の許容値の域外にあるか否かを判定
する。域外にあると判定された場合は、ステップ１２８
において、マップＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒ及びマップＢ
ａｄＭａｐ内で仕様域内の不適合を起こした値をゼロ値
に設定する。域外にない場合は、ステップ１３０におい
て、制御装置３６は、最後の電源サイクル以降の時間間
隔が所定の更新時間間隔を超えているか否かを判定す
る。超えている場合は、プログラムはステップ１０６に
戻り。超えていなければ、プログラムはステップ１１４
から継続される。ステップ１０６〜１３０は、システム
１４の使用動作フェーズを表している。
内のピクセル素子が暗フレームしきい値限界を外れた値
を有する場合には、ステップ１２２において、処理装置
３９はマップＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒ内の対応するビッ
トに値１を設定する。そのピクセルが最後のＮｐ回の電
源サイクルのうちＮｆ回で標識された場合には、マップ
ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅ内のこの対応するビットを値
１に設定する。典型的なＮｆの値は６であり、典型的な
Ｎｐの値は１０である。ステップ１２４において、マッ
プＢａｄＭａｐ内の値を、マップＢａｄＭａｐ内の対応
する値とマップＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒ内の対応する値
との論理和に等しくなるように設定する。ステップ１２
６において、処理装置３９は、マップＢａｄＭａｐ内で
特定された欠陥ピクセル素子、並びにピクセル素子のク
ラスタの総数が仕様の許容値の域外にあるか否かを判定
する。域外にあると判定された場合は、ステップ１２８
において、マップＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒ及びマップＢ
ａｄＭａｐ内で仕様域内の不適合を起こした値をゼロ値
に設定する。域外にない場合は、ステップ１３０におい
て、制御装置３６は、最後の電源サイクル以降の時間間
隔が所定の更新時間間隔を超えているか否かを判定す
る。超えている場合は、プログラムはステップ１０６に
戻り。超えていなければ、プログラムはステップ１１４
から継続される。ステップ１０６〜１３０は、システム
１４の使用動作フェーズを表している。
【００４２】この好ましい実施形態は多くの利点を提供
する。このモニタリングは、顧客にとってバックグラウ
ンド動作として無停止方式で続行することができる。新
たな不良ピクセルがあれば、これらを不良ピクセル・マ
ップに追加し、画像が適切に補正されるようにしてい
る。検出器はさらに、その検出器が確実に不良ピクセル
に関する要求仕様の範囲内にあるか否かのモニタリング
を受けている。検出器が仕様に適合していなければ、モ
デム５２及びネットワーク５４を介してサービスセンタ
５０に通知される。制御装置３６によりサービスセンタ
５０に転送するメッセージによって、欠陥ピクセル素子
を示すデータが報告されると共に、欠陥ピクセル素子を
特定することができる。
する。このモニタリングは、顧客にとってバックグラウ
ンド動作として無停止方式で続行することができる。新
たな不良ピクセルがあれば、これらを不良ピクセル・マ
ップに追加し、画像が適切に補正されるようにしてい
る。検出器はさらに、その検出器が確実に不良ピクセル
に関する要求仕様の範囲内にあるか否かのモニタリング
を受けている。検出器が仕様に適合していなければ、モ
デム５２及びネットワーク５４を介してサービスセンタ
５０に通知される。制御装置３６によりサービスセンタ
５０に転送するメッセージによって、欠陥ピクセル素子
を示すデータが報告されると共に、欠陥ピクセル素子を
特定することができる。
【００４３】この方法では、較正によって検出されなか
った不良ピクセルを特定して適正に補正している。
った不良ピクセルを特定して適正に補正している。
【００４４】当業者であれば、この好ましい実施形態
は、添付の特許請求の範囲で規定したような本発明の真
の精神及び趣旨を逸脱することなく変更及び修正が可能
であることを理解するであろう。
は、添付の特許請求の範囲で規定したような本発明の真
の精神及び趣旨を逸脱することなく変更及び修正が可能
であることを理解するであろう。
【図１】本発明を実現しているＸ線システムの好ましい
形態における例示的な画像検出器アレイを表しているブ
ロック概要図である。
形態における例示的な画像検出器アレイを表しているブ
ロック概要図である。
【図２】図１に示す画像検出器アレイの概要図である。
【図３】図１及び２に示す装置の好ましい動作モードを
表した流れ図である。
表した流れ図である。
【図４】図１及び２に示す装置の好ましい動作モードを
表した流れ図である。
表した流れ図である。
１４ Ｘ線システム
１５ Ｘ線管
１６ 電源
１７ Ｘ線ビーム
１８ 患者
２０ テーブル
２２ Ｘ線検出器
２４ シンチレータ
２６ 光検出器アレイ
２７ 検出器制御装置
２８ 画像処理装置
３０ 画像記憶デバイス
３２ ビデオ・モニタ
３４ 照射制御回路
３６ システム制御装置
３７ メモリ
３８ オペレータ・インタフェース
３９ 処理装置
４０ 検出器素子、ピクセル素子
４２ フォトダイオード
４４ 薄膜トランジスタ
４６ 横列選択線
４８ 縦列信号線
５０ サービスセンタ
５２ モデム
５４ ネットワーク
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｇ０１Ｔ 1/00 Ｇ０１Ｔ 1/17 Ｅ
1/17 7/00 Ｃ
7/00 Ｈ０４Ｎ 5/335 Ｐ
Ｈ０１Ｌ 27/14 Ｇ０１Ｔ 1/20 Ｅ
Ｈ０４Ｎ 5/335 Ａ６１Ｂ 6/00 ３５０Ｚ
// Ｇ０１Ｔ 1/20 Ｈ０１Ｌ 27/14 Ｋ
Ｚ
(72)発明者 リチャード・アウフリヒティヒ
アメリカ合衆国、カリフォルニア州、マウ
ンテン・ビュー、デール・アベニュー・エ
ーピーティー・43、1240番
(72)発明者 ポール・アール・グランフォース
アメリカ合衆国、カリフォルニア州、サニ
ーベール、リリー、1053番
(72)発明者 ゲルハルト・ブランスト
ドイツ、デー−64823・グロープ−ウムシ
ュタット、キルヒベルガーシュトル・38番
(72)発明者 ケネス・エス・カンプ
アメリカ合衆国、ウィスコンシン州、ウォ
ーキシャ、クレストウッド・ドライブ、
614番
Ｆターム(参考） 2G088 EE01 FF02 GG19 GG20 JJ05
JJ36 KK24 KK32 LL12 LL18
LL27
4C093 AA30 CA50 EB12 EB17 ED02
EE01 EE16 FA13 FA19 FA34
FA43 FC16 FC17 FD01 FD09
FH06 GA06 GA10
4M118 AA07 AA09 AB01 BA05 CA02
CA11 CB11 FB03 FB09 FB13
GA10
5C024 AX11 CX22 CX23 CY44 GX03
GY31 HX55
Claims (19)
- 【請求項１】 Ｘ線源（１５）と、患者（１８）の一部
分のＸ線画像の作成に適したデータを生成させるために
横列と縦列の形に配列させたピクセル素子（４０）を備
えたディジタル検出器（２２）と、を備えるＸ線イメー
ジング・システム（１４）において検出器をモニタリン
グするための装置であって、 較正動作フェーズの間に検出器を較正すること、 異なる時点で生じる使用動作フェーズの間で検出器に電
源供給すること、 使用動作フェーズの間に照射動作モードでＸ線源を付勢
させＸ線を検出器に伝達させること、及び使用動作フェ
ーズの間に暗動作モードでＸ線源を抑止すること、を行
うように配置させた制御器（３６、３４）と、 前記ピクセル素子により生成されるデータを読み取るこ
と、 前記読み取ったデータを解析すること、及び較正動作フ
ェーズの間、並びに複数の使用動作フェーズの所定部分
の間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピ
クセル素子を特定すること、を行うように配置した処理
装置（３９）と、を備えるモニタリング装置。 - 【請求項２】 メモリ（３７）をさらに備えると共に、
前記処理装置が前記特定したピクセル素子を該メモリ内
に保存するように配置されている、請求項１に記載の装
置。 - 【請求項３】 前記処理装置が暗動作モードの間にデー
タを読み取っている、請求項１に記載の装置。 - 【請求項４】 前記処理装置が、使用動作フェーズの間
で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセ
ル素子を特定するように配置されている、請求項１に記
載の装置。 - 【請求項５】 前記処理装置は、任意の較正動作フェー
ズ、現在の使用動作フェーズの間、並びに以前の使用動
作フェーズの所定部分の間で欠陥ピクセル素子を指示す
るデータに対応したピクセル素子を特定している、請求
項１に記載の装置。 - 【請求項６】 前記処理装置が前記特定したピクセル素
子を用いて照射動作モードの間に取得したデータを補正
し、Ｘ線画像の作成を支援している、請求項５に記載の
装置。 - 【請求項７】 前記システムがメモリ（３７）を備えて
おり、かつ前記処理装置が、 最新の較正動作フェーズの間で欠陥ピクセル素子を指示
するデータに対応したピクセル素子を特定している第１
のマップを前記メモリ内に保存すること、 現在の使用動作フェーズの間で欠陥ピクセル素子を指示
するデータに対応したピクセル素子を特定している第２
のマップを前記メモリ内に保存すること、 現在の使用動作フェーズの前に生じた複数の使用動作フ
ェーズの所定部分の間で欠陥ピクセル素子を指示するデ
ータに対応したピクセル素子を特定している第３のマッ
プを前記メモリ内に保存すること、を行うように配置さ
れている、請求項１に記載の装置。 - 【請求項８】 前記処理装置が使用動作フェーズの間に
データを周期的に読み取っている、請求項１に記載の装
置。 - 【請求項９】 前記処理装置が、暗動作モードの間にデ
ータを読み取ること、並びに、そのデータ値が所定のレ
ベル範囲内にあるか否かを決定することにより前記読み
取ったデータを解析すること、を行うように配置されて
いる、請求項１に記載の装置。 - 【請求項１０】 Ｘ線源（１５）と、患者の一部分のＸ
線画像の作成に適したデータを生成させるために横列と
縦列の形に配列させたピクセル素子を備えたディジタル
検出器（２２）と、を備えるＸ線イメージング・システ
ム（１４）において検出器をモニタリングする方法であ
って、 較正動作フェーズの間に検出器を較正するステップと、 異なる時点で生じる使用動作フェーズの間で検出器に電
源供給するステップと、 使用動作フェーズの間に照射動作モードでＸ線源を付勢
させＸ線を検出器に伝達させるステップと、 使用動作フェーズの間に暗動作モードでＸ線源を抑止す
るステップと、 前記ピクセル素子により生成されるデータを読み取るス
テップと、 前記読み取ったデータを解析するステップと、 較正動作フェーズの間、並びに複数の使用動作フェーズ
の所定部分の間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに
対応したピクセル素子を特定するステップと、を含む方
法。 - 【請求項１１】 前記特定したピクセル素子を保存する
ステップをさらに含む請求項１０に記載の方法。 - 【請求項１２】 前記読み取りのステップが暗動作モー
ドの間にデータを読み取るステップを含む、請求項１０
に記載の方法。 - 【請求項１３】 前記特定のステップが、使用動作フェ
ーズの間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応し
たピクセル素子を特定するステップを含む、請求項１０
に記載の方法。 - 【請求項１４】 前記特定のステップが、任意の較正動
作フェーズ、現在の使用動作フェーズの間、並びに以前
の使用動作フェーズの所定部分の間で欠陥ピクセル素子
を指示するデータに対応したピクセル素子を特定するス
テップを含む、請求項１０に記載の方法。 - 【請求項１５】 前記特定したピクセル素子を用いて照
射動作モードの間に取得したデータを補正し、Ｘ線画像
の作成を支援するステップをさらに含む請求項１４に記
載の方法。 - 【請求項１６】最新の較正動作フェーズの間で欠陥ピク
セル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特
定している第１のマップを保存するステップと、 現在の使用動作フェーズの間で欠陥ピクセル素子を指示
するデータに対応したピクセル素子を特定している第２
のマップを保存するステップと、 現在の使用動作フェーズの前に生じた複数の使用動作フ
ェーズの所定部分の間で欠陥ピクセル素子を指示するデ
ータに対応したピクセル素子を特定している第３のマッ
プを保存するステップと、をさらに含む請求項１０に記
載の方法。 - 【請求項１７】 前記読み取りのステップが、使用動作
フェーズの間で概ね１０分ごとにデータを読み取るステ
ップを含む、請求項１０に記載の方法。 - 【請求項１８】 前記読み取りのステップが暗動作モー
ドの間にデータを読み取るステップを含み、かつ前記解
析のステップが、そのデータ値が所定のレベル範囲内に
あるか否かを決定することにより前記読み取ったデータ
を解析するステップを含む、請求項１０に記載の方法。 - 【請求項１９】 サービスセンタ（５０）に連絡するス
テップと、欠陥ピクセル素子を指示するデータを報告す
るステップと、をさらに含む請求項１０に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/682,591 US6663281B2 (en) | 2001-09-25 | 2001-09-25 | X-ray detector monitoring |
| US09/682591 | 2001-09-25 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003198937A true JP2003198937A (ja) | 2003-07-11 |
| JP2003198937A5 JP2003198937A5 (ja) | 2008-07-31 |
| JP4325974B2 JP4325974B2 (ja) | 2009-09-02 |
Family
ID=24740329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002278304A Expired - Fee Related JP4325974B2 (ja) | 2001-09-25 | 2002-09-25 | Ｘ線検出器モニタリング |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6663281B2 (ja) |
| JP (1) | JP4325974B2 (ja) |
| DE (1) | DE10244404A1 (ja) |
| FR (1) | FR2830155B1 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006075359A (ja) * | 2004-09-09 | 2006-03-23 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
| US7203279B2 (en) | 2004-03-31 | 2007-04-10 | Shimadzu Corporation | Radiographic apparatus, and radiation detection signal processing method |
| JP2007143594A (ja) * | 2005-11-24 | 2007-06-14 | Shimadzu Corp | Ｘ線診断装置 |
| JP2010246714A (ja) * | 2009-04-15 | 2010-11-04 | Shimadzu Corp | 放射線撮影装置 |
| JP2016001855A (ja) * | 2014-06-12 | 2016-01-07 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置および画像処理方法、画像処理システム |
| JP2020537134A (ja) * | 2017-10-19 | 2020-12-17 | クロメック グループ ピーエルシーＫｒｏｍｅｋ Ｇｒｏｕｐ， Ｐｌｃ | 自動不適合ピクセルマスキング |
Families Citing this family (29)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10151021A1 (de) * | 2001-10-16 | 2003-04-30 | Infineon Technologies Ag | Sensor-Anordnung |
| US6895077B2 (en) * | 2001-11-21 | 2005-05-17 | University Of Massachusetts Medical Center | System and method for x-ray fluoroscopic imaging |
| US7068313B2 (en) * | 2002-02-08 | 2006-06-27 | Wallac Oy | Method and arrangement for processing measurement data |
| US6919568B2 (en) * | 2003-04-08 | 2005-07-19 | Ge Medical Systems Global Technology Company Llc | Method and apparatus for identifying composite defective pixel map |
| US7499599B2 (en) * | 2003-06-12 | 2009-03-03 | General Electric Company | Method of real-time correction of non-functioning pixels in digital radiography |
| DE10327039A1 (de) * | 2003-06-16 | 2005-01-20 | Siemens Ag | Verfahren zur Korrektur von durch Defekte in einer Röntgenspeicherleuchtstoffschicht hervorgerufenen Bildartefakten und Röntgenvorrichtung |
| DE10332834B4 (de) * | 2003-07-18 | 2005-05-12 | Siemens Ag | Verfahren zur Defekterkennung bei einem digitalen Röntgendetektor und zugehörige Röntgenvorrichtung |
| DE102004003881B4 (de) * | 2004-01-26 | 2013-06-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Bildaufnahmevorrichtung |
| US7330208B2 (en) * | 2004-03-08 | 2008-02-12 | Eastman Kodak Company | Electronic imaging system with adjusted dark floor correction |
| JP4709514B2 (ja) * | 2004-09-16 | 2011-06-22 | オリンパス株式会社 | カプセル型内視鏡システム |
| US7272207B1 (en) | 2006-03-24 | 2007-09-18 | Richard Aufrichtig | Processes and apparatus for variable binning of data in non-destructive imaging |
| US8284208B2 (en) * | 2006-05-24 | 2012-10-09 | General Electric Company | Processes and apparatus for information transfer |
| DE102006039389A1 (de) * | 2006-08-22 | 2008-02-28 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zur Reduzierung von Übergangsartefakten in einem Gesamtbild, das sich aus Teilbildern zusammensetzt |
| KR101141378B1 (ko) * | 2006-12-12 | 2012-05-03 | 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼 | 촬상장치 |
| EP2132726A4 (en) * | 2007-01-16 | 2011-01-12 | Bae Systems Information | REAL-TIME PIXEL REPLACEMENT FOR THERMAL IMAGING SYSTEMS |
| DE102007013620A1 (de) * | 2007-03-21 | 2008-09-25 | Siemens Ag | Vorrichtung und Verfahren zur Überwachung von Festkörperdetektoren |
| US7748901B2 (en) * | 2007-04-06 | 2010-07-06 | Unisyn Medical Technologies, Inc. | Universal x-ray test bed |
| US7519156B2 (en) * | 2007-05-23 | 2009-04-14 | General Electric Company | Method and apparatus for hot swapping portable detectors in x-ray systems |
| JP5441400B2 (ja) * | 2008-12-19 | 2014-03-12 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、放射線撮像装置及びその製造方法 |
| JP5317916B2 (ja) * | 2009-09-29 | 2013-10-16 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮影管理システム及び放射線撮影管理方法 |
| JP2011072346A (ja) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Fujifilm Corp | Ｘ線画像撮影装置、撮影方法および撮影プログラム |
| JP2011072538A (ja) * | 2009-09-30 | 2011-04-14 | Fujifilm Corp | Ｘ線画像撮影装置、撮影方法および撮影プログラム |
| JP2011072605A (ja) * | 2009-09-30 | 2011-04-14 | Fujifilm Corp | Ｘ線画像撮影装置、撮影方法および撮影プログラム |
| DE102010015422B4 (de) * | 2010-04-19 | 2013-04-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendetektor mit einer direkt konvertierenden Halbleiterschicht und Kalibrierverfahren für einen solchen Röntgendetektor |
| US8396188B2 (en) * | 2011-01-21 | 2013-03-12 | General Electric Company | X-ray system and method for producing X-ray image data |
| US9629591B2 (en) | 2011-01-21 | 2017-04-25 | General Electric Company | X-ray system and method with digital image acquisition |
| KR20130010255A (ko) * | 2011-07-18 | 2013-01-28 | 삼성전자주식회사 | 엑스선 장치 및 화소맵 업데이트 방법 |
| US8894280B2 (en) | 2011-12-31 | 2014-11-25 | Carestream Health, Inc. | Calibration and correction procedures for digital radiography detectors supporting multiple capture modes, methods and systems for same |
| DE102015213911B4 (de) * | 2015-07-23 | 2019-03-07 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren zum Erzeugen eines Röntgenbildes und Datenverarbeitungseinrichtung zum Ausführen des Verfahrens |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4996413A (en) | 1990-02-27 | 1991-02-26 | General Electric Company | Apparatus and method for reading data from an image detector |
| KR100202343B1 (ko) | 1990-03-13 | 1999-06-15 | 이데이 노부유끼 | 셰이딩 보정 장치 |
| US5047863A (en) | 1990-05-24 | 1991-09-10 | Polaroid Corporation | Defect correction apparatus for solid state imaging devices including inoperative pixel detection |
| US5657400A (en) | 1995-01-31 | 1997-08-12 | General Electric Company | Automatic identification and correction of bad pixels in a large area solid state x-ray detector |
| DE19527148C1 (de) * | 1995-07-25 | 1997-01-09 | Siemens Ag | Verfahren zum Betrieb eines digitalen Bildsystems einer Röntgendiagnostikeinrichtung |
| US5854655A (en) | 1995-08-29 | 1998-12-29 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Defective pixel detecting circuit of a solid state image pick-up device capable of detecting defective pixels with low power consumption and high precision, and image pick-up device having such detecting circuit |
| US6381374B1 (en) * | 1998-10-30 | 2002-04-30 | General Electric Company | Histogram analysis method for defective pixel identification |
| FR2786648B1 (fr) * | 1998-11-30 | 2001-01-05 | Commissariat Energie Atomique | Procede de correction des defauts d'images issues d'un detecteur de rayons x ou y de type matriciel |
| DE10019955A1 (de) * | 2000-04-20 | 2001-10-25 | Philips Corp Intellectual Pty | Röntgenuntersuchungsgerät und Verfahren zur Erzeugung eines Röntgenbildes |
| DE10122876C2 (de) * | 2000-11-24 | 2003-08-21 | Siemens Ag | Verfahren zum Betrieb eines Bildsystems einer bildgebenden medizinischen Untersuchungseinrichtung und medizinische Untersuchungseinrichtung |
| US6488409B1 (en) * | 2001-06-05 | 2002-12-03 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | X-ray detector image quality test techniques |
-
2001
- 2001-09-25 US US09/682,591 patent/US6663281B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-09-24 DE DE10244404A patent/DE10244404A1/de not_active Withdrawn
- 2002-09-25 JP JP2002278304A patent/JP4325974B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2002-09-25 FR FR0211827A patent/FR2830155B1/fr not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7203279B2 (en) | 2004-03-31 | 2007-04-10 | Shimadzu Corporation | Radiographic apparatus, and radiation detection signal processing method |
| JP2006075359A (ja) * | 2004-09-09 | 2006-03-23 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
| JP2007143594A (ja) * | 2005-11-24 | 2007-06-14 | Shimadzu Corp | Ｘ線診断装置 |
| JP4640136B2 (ja) * | 2005-11-24 | 2011-03-02 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線診断装置 |
| JP2010246714A (ja) * | 2009-04-15 | 2010-11-04 | Shimadzu Corp | 放射線撮影装置 |
| JP2016001855A (ja) * | 2014-06-12 | 2016-01-07 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置および画像処理方法、画像処理システム |
| US10140686B2 (en) | 2014-06-12 | 2018-11-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus, method therefor, and image processing system |
| JP2020537134A (ja) * | 2017-10-19 | 2020-12-17 | クロメック グループ ピーエルシーＫｒｏｍｅｋ Ｇｒｏｕｐ， Ｐｌｃ | 自動不適合ピクセルマスキング |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4325974B2 (ja) | 2009-09-02 |
| US6663281B2 (en) | 2003-12-16 |
| FR2830155B1 (fr) | 2005-04-29 |
| US20030058998A1 (en) | 2003-03-27 |
| DE10244404A1 (de) | 2003-05-08 |
| FR2830155A1 (fr) | 2003-03-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4325974B2 (ja) | Ｘ線検出器モニタリング | |
| US7732776B2 (en) | Radiation imaging apparatus, drive method and program of the radiation imaging apparatus | |
| TWI554978B (zh) | 自校正可攜式數位放射線攝影偵測器 | |
| JP4633486B2 (ja) | 画像撮影装置 | |
| US7613277B2 (en) | Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, and method of controlling radiation imaging apparatus | |
| EP1423733B1 (en) | Method and apparatus for identifying and correcting line artifacts in a solid state x-ray detector | |
| US20020044211A1 (en) | Image sensing apparatus | |
| US20030223539A1 (en) | Method and apparatus for acquiring and storing multiple offset corrections for amorphous silicon flat panel detector | |
| JP4035320B2 (ja) | パネル検出器のピクセル置換の方法及び装置 | |
| JP2003299641A (ja) | 半導体ｘ線検出器内の過剰ピクセル・ラグを有するピクセルを特定し補正する方法 | |
| JP2001099944A (ja) | 放射線検出器のノイズリダクション方法、放射線検出器、放射線診断装置 | |
| US20170290558A1 (en) | Radiographic image capturing apparatus and radiographic image capturing system | |
| JP2003303991A (ja) | 固体ｘ線検出器に対して信号依存オフセット及び利得調整を実行する方法及び装置 | |
| US6693668B1 (en) | Self-diagnostic image sensor | |
| US7129499B2 (en) | Radiographic apparatus and radiographic method | |
| JP4325788B2 (ja) | デジタル検出器においてデータ収集速度を増加させる方法及び装置 | |
| JPH1010237A (ja) | Ｘ線平面検出器 | |
| JP2005007086A (ja) | Ｘ線撮影システム | |
| JP2004518958A (ja) | Ｘ線検出器の量子検出効率の変化を監視する方法 | |
| EP3462215B1 (en) | System and method for verifying the integrity of a radiation detector | |
| US6989538B2 (en) | Method of reducing recovery time in an x-ray detector | |
| US7415097B2 (en) | Method for recording correction frames for high energy images | |
| JP2002315742A (ja) | Ｘ線診断装置およびｘ線診断装置の作動方法 | |
| JP2020182667A (ja) | 放射線撮像装置及びその制御方法 | |
| JP2001153957A (ja) | マルチチャネルスキャンドライバの欠陥検出装置と方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050921 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080613 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080725 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080805 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080918 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090519 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20090608 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20090608 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090608 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120619 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4325974 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130619 Year of fee payment: 4 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |