FR2830155A1 - Controle de detecteur de rayons x - Google Patents
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Abstract
Appareil radiologique (14) comprenant une source de rayons X (15) et un détecteur (22), contrôlant le détecteur à l'aide d'une commande (36) qui étalonne le détecteur pendant une phase d'étalonnage du fonctionnement et alimente électriquement le détecteur pendant les phases d'utilisation du fonctionnement, qui surviennent à des instants différents. Un processeur (28, 36) lit les données créées par les éléments photodétecteurs, analyse les données et identifie des éléments photodétecteurs correspondant à des données indiquant des éléments photodétecteurs défectueux pendant la phase d'étalonnage du fonctionnement et pendant une partie prédéterminée d'une pluralité des phases d'utilisation du fonctionnement.
Description
CONTROLE DE DETECTEUR DE RAYONS X
=. La présente invention est relative à des appareils de radiologie employant un détecteur et concerne plus particulièrement le contrôle et la correction de tels appareils. - -. -; L'apparition de nouveaux détecteurs numériques de rayons X pose un problème concernant les pertes d'informations d'image à des endroits comportant des détauts dans le détecteur. Les détauts sont ordinairement provoqués par des composants correspondant à des pixels détectueux, qui sont des composants 0 produisant des pixcls qui soit ne réagissent pas électriquement soit ont un comportement statistiquement différent de celui des composants correspondant à des
pixels qui les entourent.
Il existe des pro cédés pour identifier l'emplacement de tel s comp o s ants correspondant à des pixels défectueux pendant l' étalonnage et la mise en marche du détecteur numérique. Ils consistent ordinairement à analyser des images à champ plat, qui ne contiennent aucune structure, et à rechercher des composants déviants correspondant à des pixels. Ces images à champ plat sont obtenues soit (l) en mode trames "sombres" ou décalées, dans lequel l'imageur est lu sans utiliser de rayons X, soit (2) en mode trames "lumineuses" ou radiologiques, dans lequel un o signal radiologique est appliqué avant l'affichage. Les composants correspondant à des pixels identifiés pendant l'étalonnage sont ordinairement stockés dans une mappe de pixels défectueux. Il existe différents procédés pour corriger des composants correspondant à des pixels identifiés dans une mappe de pixcls détectueux avant
l'affichage de l'image.
Dans certaines conditions, des composants correspondant à des pixels détectueux, qui n'ont pas été identifiés pendant l'étalonnage initial, peuvent appara^tre avec le temps dans le détecteur en silicium amorphe. La présente invention s'intéresse aux problèmes évoqués ci-dessus et apporte une solution. Dans une forme de réalisation, le comportement des composants correspondant aux pixels est
contrôlé et la mappe de pixels détectueux peut être actualisée.
Un détecteur numérique de rayons X, en siliclum amorphe, est constitué par une matrice de composants correspondant à des pixels (par exemple, 2048 x 2048). Chaque composant est constitué par une photodiode et un transistor à effet de champ (TEC) correspondant. Pour réaliser une image radiologique, un
scintillateur est couplé à la matrice pour convertir en lumière les rayons X incidents.
La lumière produite par le scintillateur est convertie en charge électrique et stockée dans les diodes. La charge est affichée en activant les TEC correspondant à chaque
diode. -: ^:- -.--: -
Des algorithmes ont été conçus pour analyser des images acquises à s l'aide d'un imageur à rayons X à écran plat et pour détecter des composants correspondant à des pixels défectueux. I1 s'agit de composants qui n'ont pas de réaction électrique ou dont le comportement est statistiquement différent de celui des composants qui les entourent. Souvent, cela peut être du à des défauts de la structure
- d'un TEC ou d'une diode de la maLice.
Ces algorithmes servent à créer une mappe d'image (mappe de pixels détectueux) contenant les emplacements des composants correspondant à des pixels détectueux dans la matrice du détecteur. Dans ce domaine, on peut citer les brevets suivants: .. le brevet des E.U.A. n 5 657 400 qui concerne l'identification et la i5 correction automatiques de pixels défectueux dans un détecteur de rayons X à semi conducteur à grande surface; le brevet des E.U.A. n 5 854 655 qui concerne un circuit de détection de pixels détectueux d'un dispositif d'analyse d'image à semiconducteur, permettant de détecter des pixels détectueux, le brevet des E. U.A. n 5 272 536 qui concerne un dispositif de correction de courant d'obscurité et de pixels défectueux; le brevet des E.U.A. n 5 047 863 qui concerne un dispositif de correction de détaut pour des dispositifs d'imagerie à semi-conducteur, comportant une détection des pixels détectueux; et le brevet des E.U.A. n 4 996 413 qui concerne ltexkaction de
donnces d'un détecteur d'image.
En plus de détecter les composants correspondant à des pixels défectueux, certains de ces brevets décrivent également des procédés pour corriger le pixel avant l'affichage de l'image. La plupart des procédés de correction reposent sur le remplacement du pixel défectueux par la valeur de son pixel voisin ou par une combinaison linéaire de ceux-ci. En outre, certains procédés de correction perfectonnés reposant sur la structure de l'image située au-dessous ont été proposés dans la demande U.S. n 09/474 715, intitulée "Correction Of Defective Pixels In A Detector", déposée le 29 décembre 1999 sous le n de regiske 15-XZ-4974, aux noms de Aufrichtig, Xue et Kump, et dans la demande U.S. n 09/474 498, intitulée r u} 2830155 "Correction Of Detective Pixels In A Detector Using Temporal Gradients" déposoe le 29 décembre 1999 sous le n de registre 15-XZ-5428 aux noms de Aufrichtig, Xue
et Kump.
s La forme de réalisation préférée est utile dans un système d'imagerie radiologique comprenant une source de rayons X et un détecteur numérique comprenant des composants correspondant à des pixels, disposés en rangées et co lonne s p our cré er des donné es s ervant à générer une image radio lo gi que d 'une partie d'un patient. Dans un tel environnement, le détecteur peut étre contrôlé en o étalonnant le détecteur pendant une phase d'étalonnage du fonctionnement, en alimentant électriquement le détecteur pendant des phases d'utilisation du fonctionnement qui surviennent à des instants différents, en excitant la source de rayons X lors d'un mode exlosition du fonctioement au cours des phases d'util i s ati on du foncti onnement de faç on que l e s rayons X so i ent transmi s au détecteur et en inhibant la source de rayons X dans un mode sombre de fonctionnement au cours des phases d'utilisation du fonctionnement. Les données créces par les composants correspondant aux pixels sont lues et analysées. Les composants correspondant à des donnces indiquant des composants défectueux sont identifiés pendant la phase d'étalonnage du fonctionnement et pendant une partie
prédéterminée de plusieurs des phases d'utilisation du fonctionnement.
A l'aide des techniques ci-dessus, des détecteurs de rayons X peuvent étre contrôlés avec une facilité et une précision d'un degré impossible auparavant. 2s L'invention et nombre des avantages qui s'y attachent apparâtront
facilement plus clairement en rétérence à la description détaillée ciaprès, faite en
considération des dessins annexés, sur lesquels: la Figure 1 est un schéma de principe d'une forme prétérée d'un appareil radiologique mettant en _uvre la présente invention et illustrant un exemple de matrice de détecteurs d'image, la Figure 2 est une vue schématique de la matrice de détecteur d'image représentée sur la Figure 1; et les Figures 3a et 3b sont des organigrammes illustrant un mode de fonctionnement préféré de l'appareil représenté sur les figures 1 et 3s 2. - - Considérant la Figure 1, un appareil radiologique 14 comprend un tobe 15 à rayons X qui, lorsqu'il est excité par une source d'électricité 16, émet un faisccau 17 de rayons X. Comme illustré, le faisceau de rayons X est dirigé vers un patient 18 allongé sur une table 20 laissant passer les rayons X. La partie du faisccau qui traverse la tableet le patient frappe un détecteur de rayons X, désigné par le repère 22. Le détecteur 22 de rayons X comporte un scintillateur 24 et convertit les photons des rayons X en photons d'énergie plus basse dans le spectre visible. Une matrice 26 de photodétecteurs, contiguë au scintillateur 24, convertit les photons de la lumière en signal électrique. Un système de commande 27 de détecteurs contient o des composants électroniques pour faire fonctionner la matrice de détecteurs afin
d'acquérir une image et d'extraire le signal de chaque élément photodétecteur.
Le signal délivré par la matrice 26 de photodétecteurs est couplé à un processeur 28 d'image qui comporte des circuits pour traiter et accentuer le signal d'image radiologique. L'image traitée est ensuite affchée sur un écran vidéo 32 et peut être archivée dans un dispositif 30 de stockage d'images. Le processeur 28 d'image produit en outre un signal de commande de luminosité qui est appliqué à un circuit de commande d'exposition 34 afin de réguler la source 16 d'électricité et donc l'exposition aux rayons X. - L'ensemble du fonctionnement de l'appareil radiologique 14 est régi o par un système de commande 36 de l'appareil, qui reçoit des instructions du radiologue par l'intermédiaire d'un panneau d'interface opérateur 38. Le système de
commande 36 comporte une mémoire 37 et un processeur 39.
La Figure 2 représente les circuits de la matrice 26 de photodétecteurs, qui est constituée par des rangées et colonnes d'éléments détecteurs ou composants 40 correspondant à des pixcls. Les éléments détecteurs 40 sont disposés sur une tranche de silicium amorphe en une matrice à deux dimensions classique de m colonnes et n rangées m et n étant des entiers. Par exemple, un détecteur typique de rayons X à haute définition est constitué par une matrice de
1000 à 4000 rangées et colonnes d'éléments.
Chaque élément détecteur 40 comporte une photodiode 42 et un transistor 44 à couches minces. Les photo diodes 42 sont réalisées à partir d'une grande surface de tranche, ce qui assure que la photodiode intercepte une partie calibrable de la lumière produite par le scintillateur 24. Chaque photodiode 42 a également une capacitance relativement grande qui lui permet de stocker la charge
électrique résultant de l'excitation des photons.
s La cathode des photodiodes 42 de chaque colonne de la matrice est connectée par la-piste conductrice source-drain du transistor correspondant 44 à une ligne de signal de colonne commune (48.sup.-l à 48. sup.-m) pour la colonne. Par exemple, les photo dio des 42 de la co lonne 1 s ont couplées à la première ligne de s signal 48.sup.-1. Les anodes des diodes de chaque rangée sont connectées en commun à une source de tension de polarisation négative (-v). Les électrodes de grilles des transistors 44 de chaque rangée sont connoctées à une ligne de sélection de rangée commune (46.sup.-l à 46.sup.-n), par exemple la ligne 46.sup.-1 pour le rangée 1. Les lignes de sélection de rangées et les lignes de signaux de colonnes sont o couplées au système de-commande 27 de détecteurs et les lignes de signaux de
colonnes sont également connectées au processeur 28 d'image.
Afin d'acquérir une image radiologique à l'aide du détecteur représenté sur la Figure 2, l'appareil 14 peut exécuter diverses séquences. Voici un premier exemple de séquence, initialement, le système de commande 27 de détecteurs connecte à la terre toutes les lignes de signaux de colonne 48. sup.-l à 48.sup.-m et applique une tension positive à toutes les lignes 46-t à 46n de sélection de rangées. La tension positive appliquce aux lignes de sélection de rangées débloque le transistor 44 présent dans chaque élément photodétecteur 40 en appliquant une charge positive aux photodiodes 42 à polarisation inverse. Une fois que les o photodiodes ontété entièrement chargées, le système de commande 27 de détecteur applique aux lignes de sélection de rangées une tension négative -V, laquelle est plus négative que la tension d'alimentation négative (-V). Cette polarisation négative des lignes de sélection de rangées bloque le transistor 44 dans chaque élément
photodétecteur 40.
:5 _ Le détecteur 22 est ensuite exposé à une impulsion de photons de rayons X produits d'une manière classique par le tube d'excitation 15 de l'appareil afn de générer un faisceau 17 de photons de rayons X. Les photons des rayons X sont convertis en photons de plus faible énergie par le scintillateur 24. Lorsque ces photons de plus faible énergie frappent les photo diodes 42 dans le détecteur 2 6, les diodes conduisent l'électricité et déchargent une partie de leur charge positive. La quantité de la charge positive évacuce d'une photodiode donnée 42 dépend de la quantité de photons de plus faible énergie qui la frappe, laquelle dépend elle-méme de l'intensité de l'énergie des rayons X qui frappent la région du scintillateur 24 adjacente à la photodiode. Par conséquent, la quantité de charge évacuée de la - - photodiode 42 dans chaque élément photodétecteur 40 est fonction de l'intensité des
rayons X frappant la région correspondante du détecteur 22 de rayons X. -
-- Au terme de l'exposition aux rayons X, la charge résiduelle présente :
: dans chaque photodiode 42 est détectée. A cette fin, la ligne de signal de colonne 48-
s à 48m pour chaque colonne de la matrice de détecteur est simultanément connectée à - des circuits de détection séparés dans le processeur 28 d'image. N'importe lequel de plusieurs types de circuits de détection peut être inclus dans le processeur 28 d'image. Par exemple, le circuit de détection peut mesurer la tension dans la photodiode, et par conséquent la quantité de charge restant sur la photodiode. Selon o une autre possibilité, le circuit de détection peut connecter à la terre la ligne de signal de colonne correspondante 48- à 48m et mesurer la quantité de charge nocessaire pour remplacer la charge évacuée par l'exposition aux rayons X. Pour une définition maximale de l'image, les charges des photo diodes sont détectées une rangée à la fo i s par le système de commande 27 de détecteurs en appliquant de manière successive la tension positive à chacune des lignes de sélection de rangée. Lorsqu'une ligne de sélection de rangée est polarisoe positivement, les transistors 44 de la matrice de détecteurs connectés à cette ligne de - sélection de rangée sont débloqués, en couplant ainsi les photodiodes correspondantes 42 de la rangée sélectionnée à leurs-lignes de signaux de colonnes
48 à48 m.
- Le problème que résout la forme de réalisation prétérée concerne le cas dans lequel le comportement d'éléments photodétecteurs dans le détecteur d' image change au fil du temps, en amenant des éléments photo détecteurs individuels à devenir défectueux. Par exemple, une fuite d'une diode peut évoluer avec le temps (de l'ordre de quatre heures) dans un élément photodétecteur en provoquant un grand changement dans la réponse de l'élément photodétecteur. De même, une fuite dans un transistor à effet de champ (TEC) peut également appara^tre après un certain nombre d'heures dans des éléments photodétecteurs individuels en faisant appara^tre un manque de linéarité dans le comportement de l'élément photodétecteur. Ces types d'effets de fuites sont ordinairement annulés au cours du cycle d'alimentation électrique des détecteurs, mais il arrive fréquemment qu'ils réapparaissent ultérieurement dans les mêmes éléments photodétecteurs. Ces types de détauts ne sont ordinairement jamais détectés pendant l'étalonnage, car il est fréquent qu'ils surviennent peu de temps après la mise sous tension. Par conséquent, on a besoin d'un procédé de contrôle continu des éléments photodétecteurs présents dans le
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détecteur, de façon que des éléments photodétecteurs défectueux potentiels puissent
être ajoutés dans la mappe de pixcls défectueux.
La forme de réalisation prétérée comprend un procédé pour le contrôle et l'actualisation sans assistance de la mappe de pixels détectueux. Le procédé consiste à acquérir des images sombres lorsque le détecteur n'est pas utilisé pour des applications cliniques (à des patients). Les images sombres ne nécessitent pas l'utilisation de rayons X et peuvent être acquises sans assistance dans le cadre
d'une opération de fond.
La forme de réalisation prétérée utilise 3 mappes de pixels o détectueux.
BadMapOrig est obtenue après un étalonnage classique du détecteur.
Par exemple, il peut s'agir d'un fichier ASCII ou binaire dans la mémoire 37, contenant des index de rangées et de colormes pour tous les éléments photodétecteurs défectueux détectés pendant l'étalonnage. L'étalonnage du détecteur est une tâche qui survient avec une périodicité de l'ordre de plusieurs mois (ordinairement 6 ou 12 mois). BadMapPower est obtenue pendant une utilisation normale du détecteur. Elle est remise à zéro entre- chaque cycle d'alimentation élechique du détecteur. Elle contient l'emplacement d'éléments photodétecteurs qui n'ont pas été o détectés pendant l'étalonnage mais dérivés dans l'image sombre (décalé) après le dernier réenclenchement d'alimentation. La mappe BadMapPower est également
stockée dans la mémoire 37.
BadMapUpdate est obtenue pendant une utilisation normale du détecteur. Elle représente des éléments photodétecteurs qui n'ont pas été détectés s pendant l'étalonnage mais qui présentent fréquemment (par exemple 6 fois sur 10) une dérive après un cycle d'alimentation électrique du détecteur. Cette mappe de pixcls est également actualisée si un cycle d'alimentation électrique n'a pas eu lieu au cours laps de temps donné (par exemple 24 heures) et elle est stockée dans la
mémoire 37.
Les valeurs dans les trois mappes ci-dessus correspondent à des
éléments photodétecteurs présents dans le détecteur 22.
L'organigramme des figures 3a et 3b illustre la manière dont sont obtenues ces mappes de pixels défectueux. En bref, le procédé consiste à acquérir des images sombres entre des examens de patient. Par exemple, une image sombre peut être 3s acquise toutes les 10 minutes. Afin d'accro^tre la sensibilité au retard d'une diode, ir
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l'image sombre doit être acquise avec le plus long temps dintégration possible. Cet intervalle de temps d'intégration (compris entre 2 et 20 secondes) peut être plus long que la durée maximale utilisée dans le contexte clinique (par exemple 2 à 5 s.) Les éléments photodétecteurs qui ont des valeurs sombres hors du niveau donné sont signalés comme défectueux dans la mappe de pixels BadMapPower. Au cours d'un cycle dialimentation électrique donné, la mappe de pixels défectueux est une combinaison de la mappe d'étalonnage (BadMapOrig) et de BadMapPower. Après que des éléments photodétecteurs ont été ajoutés dans la mappe de pixcls détectueux, il faut vérifer que le détecteur est conforme aux spécifications en ce qui concerne le 0 nombre global d'éléments photodétecteurs défectueux, et des combinaisons (agrégats) de ceux-ci. On peut utiliser à cette fin le programme ordinaire de contrôle d'étalonnage. Si une spécification n'est pas respectée au cours de l'exécution d'un cycle -d'alimentation électrique, les éléments photodétecteurs à l'origine d-u -dé-faut sont remis à zéro. Le nombre de fois qu'un élément photodétecteur est inclus dans BadMapPower est contrôlé et, si une fréquence d'apparition prédéterminée (par exemple 60% du temps) est dépassée, cet élément est inclus dans les archives de BadMapUpdate. Si une actualisation de la mappe de pixcls déLectueux par BadMapUpdate aboutit à un non-respect de la spécification, une intervention est notifiée et le détecteur doit être réétalonné. La mappe BadMapUpdate est remise à
zéro après l'étalonnage d'un détecteur.
La mappe de pixels défectueux appliquée pour toute image donnce est le "ou logique" de BadMapOrig et de BadMapUpdate. Ensuite, ces éléments photodétecteurs identifiés subissent le processus de masquage "normal" de l'élément photodétecteur défectueux, qui consiste ordinairement en une interpolation de la
valeur manquante à partir des éléments photodétecteurs voisins non défectueux.
La notification d'intervention peut se faire par une sélection automatique d'un numéro par l'intermédiaire du modem du système, ou simplement par un affichage à l'écran d'une alerte demandant à l'utilisateur de réclamer une intervention. Les figures 3a et 3b illustrent cette strategie de contrôle d'éléments photodétecteurs détectueux. Dans les mappes de pixels détectueux, une valeur zéro (0) indique un élément photodétecteur non défectueux, tandis qu'une valeur différente de zéro indique un élément photodétecteur défectueux. Une opération du type "ou logique" ne donne une valeur zéro (0) que lorsque les deux arguments
d'entrée sont zéro, autrement elle donne une valeur un (1).
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En référence aux figures 3a et 3b, lors de l'étape 100, le système de . commande 36 étalonne le détecteur 22 d'une manière bien connue. Lors de l'étape 102, le processeur 39 stocke dans la mappe BadMapOrig, dans la mémoire 37, une identification de tous les éléments photodétecteurs détectueux localisés pendant s l'étalonnage en lisant et analysant les donnces fournies par le détecteur 22. Lors de l'étape 104, le processeur 39 met à une valeur zéro les valeurs correspondant à tous les éléments photodétecteurs présents dans la mappe BadMapUpdate. Les étapes 100
à 104 sont exécutées pendant une mise en route d'étalonnage.
Lors de l'étape 106, le processeur 39 met à une valeur zéro les 0 valeurs correspondant à tous les éléments photodétecteurs de la mappe BadMapPower lorsque le détecteur est soumis à un cycle d'alimentation électrique par le système de commande 36 ou lorsqu'un délai d'actualisation, par exemple de 24 heures, est dépasse. Le système de co-rum-ande 36 fait subir au systérne 14 un cycle d'alimentation électrique suivant une périodicité voulue par un utilisateur qui met en marche et arréte le système par l'intermédiaire de l'interface 38. Lors de l'étape 108, le processeur 39 rend les valeurs correspondant à tous les éléments photodétecteurs de la mappe BadMap égales aux valeurs correspondantes de la mappe BadMapOrig soumises à une opération ou logique avec les valeurs correspondantes de la mappe BadMapUpdate. Lors de l'étape 110, le processeur détermine si le nombre global d'éléments photodétecteurs détectueux et d'agrégats d'éléments photodétecteurs indiqué par les valeurs de la mappe BadMap ne reste pas en deçà d'une tolérance de
spécification. Dans l'affirmative, une intervention est notifiée lors de l'étape 112.
Dans la négative, lors de l'étape 114, le système de commande 36 détermine si un protocole clinique ou de patient a été sélectionné par l'intermédiaire de l'interface 2s opérateur 38. Dans l'affirmative, lors de l'étape 116, un examen complet de l'image clinique/de patient est effectué en utilisant BadMap pour la correction des pixels défectueux. Pendant l'examen de l'image, le tube 1S à rayons X est excité par la commande 34 pendant un mode exposition du fonctionnement. Dans la négative, lors de l'étape 118, le processeur 39 déterminé si le dernier test de décalage a eu lieu depuis un laps de temps inférieur à une durée prédéterminée, par exemple 10 minutes. Dans l'affirmative, le programme revient à l'étape 114. Dans la négative, lors de l'étape 120, le processeur 39 acquiert une trame de données d'image sombre (décalée) en lisant les valeurs des éléments photodétecteurs dans le détecteur 22 en utilisant un délai maximal admissible. La lecture est effectuée par l'intermédiaire du processeur 28. Les donnces d'image sombre sont obtenues pendant que le tube 15 à
- rayons X est arrêté par les systèmes de commande 34 et 36. -
- Lors de l'étape 122, si l'élément photodétecteur dans la trame d'image sombre obtenue lors de l'étape 20 a une valeur qui se situe en dehors de la limite de seuil de trame sombre, le processeur 39 met à un un bit correspondant de la mappe BadMapPower. Si le pixel a été indiqué en Nf des derniers cycles Np d'alimentation électrique, le bit correspondant dans la mappe BadMapUpdate est alors mis à un. Une valeur typique de Nf est de 6 et une valeur typique de Np est de 10. Lors de l'étape 124, les valeurs de la mappe BadMap sont rendues égales aux o valeurs correspondantes de la mappe BadMap qui a subi une opération ou logique avec les valeurs correspondantes de la mappe BadMapPower. Lors de l'étape 126, le processeur 39 détermine si le nombre global d'éléments photodétecteurs détectueux et d'agrégats d'éléments photodétecteurs identifiés dans la mappe BadMap se situe au-delà d'une tolérance d'une spécification. Dans l'affirmative, lors de l'étape 128, les valeurs de la mappe BadMapPower et de la mappe BadMap qui ont amené le défaut à se situer en deçà de la tolérance de la spécification sont mises à zéro. Dans la négative, lors de l'étape 130, le système de commande 36 détermine si le temps écoulé depuis le dernier cycle d'alimentation électrique dépasse ube périodicité
d'actualisation prédétermince. Dans l'affirmative, le programme revient à l'étape 106.
Dans la négative, le programme se poursuit par l'étape 114. Les étapes 106 à 130
illustrent une phase dutilisation dans le fonctionnement de l'appareil 14.
- La forme de réalisation prétérée offre un certain nombre d'avantages. Le contrôle peut se dérouler de façon ininterrompue sous la forme d'une opération de fond pour l'utilisateur. Dans le cas de nouveaux pixels détectueux, ceux - 25 ci sont ajoutés dans la mappe de pixcls défectueux, afin que l'image soit corrigée d'une façon appropriée. Le détecteur est également contr81é pour s'assurer de ce qu'il reste conforme aux spécifications requises pour les pixels détectueux. Si le détecteur n' est p as conforme aux spécifications, un centre d'interventi on 5 0 est avis é par l'intermédiaire d'un modem 52 et d'un réseau 54. Le message transmis au centre d'intervention 50 par le système de commande 36 mentionne les données indiquant des éléments photodétecteurs détectueux et--peut identifier les éléments
photodétecteurs détectueux.
Grâce à cet méthodologie, des pixels détectueux non détectés par
l'étalonnage sont identifiés et corrigés d'une façon appropriée.
Claims (10)
- 3. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que le processeur lit lesdonnces pendant le mode sombre du fonctionnement.
- 4. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que le processeur est conçu pour identifier des éléments photodétecteurs correspondant à des donnces indiquant des éléments photodétecteurs détectueux pendant la phase d'utilisation du s fonctionnement.28301 55S. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que le processeur identifie des éléments photodétecteurs correspondant à des données indiquant des éléments photodétecteurs défectueux pendant toute phase d'étalonnage du fonctionnement, la s phase d'utilisation en cours du fonctionnement et pendant une partie prédéterminéede phases d'utilisation antérieures du fonctionnement.
- 6. Dispositif selon la revendication S. caractérisé en ce que le processeur utilise les éléments photodétecteurs identifiés pour corriger des données obtenues pendant le o mode d'exposition du fonctionnement aLm de faciliter la production de l'image radiologique. 7. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que l'appareil comprend une mémoire (37) et en ce que le processeur est conçu pour: is stocker dans la mémoire une première mappe identifiant des éléments photodétecteurs correspondant à des données indiquant des éléments photodétecteurs détectueux pendant la phase d'étalonnage la plus récente du fonctionnement; stocker dans la mémoire une seconde mappe indiquant des éléments photodétecteurs correspondant à des donnces indiquant des éléments photodétecteurs défectueux pendant la phase d'utilisation en cours du fonctionnement; et stocker dans la mémoire une troisième mappeldentifant des éléments photodétecteurs correspondant à des données indiquant des éléments photodétecteurs défectueux pendant une partie prédétermince d'une pluralité de phases d'utilisation dufonctionnement survenant avant la phase d'utilisation en cours du fonctionnement.2s -;-;: 8. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que le processeur est conçu pour lire pério diquement les données pendant la phase d' uti lisati on du fonctionnement. .. 9. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé en ce que le processeur est conçu pour lire les données pendant le mode sombre du fonctionnement et pour analyser les données lues en déterminant si les valeurs des données sont dans des limites deniveaux prédéterminés.
- 10. Dans un système d'imagerie radiologique (14) comprenant une source de rayons X (15) et un détecteur numérique (22) comportant des éléments photodétecteurs disposés en rangées et colonnes pour créer des données servant à générer une image radiologique d'une partie d'un patient, procédé de contrôle du détecteur comprenant les étapes consistant à: étalonner le détecteur pendant une phase d'étalonnage du fonctionnement; alimenter électriquement le détecteur pendant des phases d'utilisation du fonctionnement, survenant à des instants différents; exciter la source de rayons X lors d'un mode d'exposition du fonctionnement pendant to les phases d'utilisation du fonctionnement de façon que des rayons X soient transmis au détecteur;: inhiber la source de rayons X en mode sombre du fonctionnement pendant les phasesd'utilisation du fonctionnement;;-..lire les données créées par lesdits éléments photodétecteurs; i5 analyser les données lues; et identifier les éléments photodétecteurs correspondant à des données indiquant des éléments photodétecteurs détectueux pendant la phase d'étalonnage du fonctionnement et pendant une partie prédétermince d'une pluralité des phasesd'utilisation du fonctionnement. - -..2 0. - -. ..
- 11. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce qu'il comporte en outrel'étape consistant à stocLer les éléments photodétecteurs identifiés.
- 12. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce que ladite lecture comportela lecture des données pendant le mode sombre du fonctionnement.
- 13. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce que ladite étape d'identification consiste à identifier les éléments photodétecteurs correspondant à des donnces indiquant des éléments photodétecteurs défectueux pendant la phased'utilisation du fonctionnement.
- 14. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce que ladite étape d'identification consiste à identifier des éléments photodétecteurs correspondant à des données indiquant des éléments photodétecteurs défectueux pendant n'importe quelle phase d'étalonnage du fonctionnement, la phase d'utilisation en cours du fonctionnement et pendant une partie prédétermince de phases d'utilisation antérieures du fonctionnement.:.:-: : 1S. Procédé selon la revendication 14, caractérisé en outre par l'utilisation des s éléments photodétecteurs identifiés pour corriger des données obtenues pendant le mode d' exposition du fonctionnement afin de faciliter la production de l'image radiologique. 16. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en qu'il comprend en outre les o étapes consistant à: stocker une première mappe identifiant les éléments photodétecteurs correspondant à des données indiquant des éléments photodétecteurs détectueux pendant la phase d'étalonnage la plus récente du fonctionnement; stocLer une seconde mappe d'identification d'éléments photodétecteurs correspondant à des donnces indiquant des éléments photodétecteurs détectueux pendant la phase d'utilisation en cours du fonctionnement; et stocker une koisième mappe identifiant des éléments photodétecteurs correspondant à des données indiquant des éléments photodétecteurs détectueux pendant une partie prédéterminée d'une pluralité de phases d'utilisation du fonctionnement survenantavant la phase d'utilisation en cours du fonctionnement.
- 17. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce 4ue ladite lecture consiste à lire les données à peu près toutes les 10 minutes pendant la phase d'utilisation dufonctionnement. -2s -. 18. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce que ladite lecture consiste à lire les données pendant le. mode sombre du fonctionnement et en ce que ladite analyse consiste à analyser les données lues en déterminant si les valeurs des donnéessont conformes à des limites de niveaux prédéterminés.
- 19. Procédé selon la revendication 10, comportant en outre l'étape consistant à entrer en contact avec un centre d'intervention (SO) et à signaler les données
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