JP2003195581A - 有機単層感光体を用いた電子写真装置における帯電条件の補正方法 - Google Patents
有機単層感光体を用いた電子写真装置における帯電条件の補正方法Info
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- JP2003195581A JP2003195581A JP2001397554A JP2001397554A JP2003195581A JP 2003195581 A JP2003195581 A JP 2003195581A JP 2001397554 A JP2001397554 A JP 2001397554A JP 2001397554 A JP2001397554 A JP 2001397554A JP 2003195581 A JP2003195581 A JP 2003195581A
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Abstract
形成を行うに際し、極めて簡単に、しかも自動化によ
り、感光層の膜厚変動による帯電条件の補正を行なうこ
とが可能な方法を提供する。 【解決手段】 用いる有機単層感光体について、予め、
感光層の厚み毎に適正な画像が得られるような帯電条件
を設定しておき、且つ、該感光体の感光層の厚み毎に、
暗電位と明電位とを測定し、該測定結果に基づいて、
式:Vr=α・Vo+β[Voは暗電位、Vrは明電
位、α及びβは定数]により、感光層の厚み毎にαの値
を算出し、繰り返し使用された感光体について、その表
面を、異なる2つの主帯電電位に帯電させ、それぞれに
ついて暗電位と明電位とを測定して前記式により、αの
値を算出し、このα値を、先に算出された感光層の厚み
毎のαの値と比較することにより、感光層の厚みを求
め、先に設定されている感光層厚みと適正な帯電条件と
の関係から、帯電条件を補正する。
Description
ての電子写真装置における帯電条件の補正方法に関する
ものであり、より詳細には、電子写真による画像形成サ
イクルを繰り返し行ったときに生じる有機単層感光体の
劣化に応じて、帯電条件を容易に補正して良好な画像を
形成することができる方法に関する。
転現像が主流であり、この反転現像によれば、感光体を
一様に帯電させた後、所定の画像情報に基づいてレーザ
照射による画像露光を行なって静電潜像を形成させ、こ
の静電潜像をトナーで現像し、トナー像を感光体から転
写紙に転写し、転写紙上のトナー像を定着して画像を形
成させる。
しては、セレン、アモルファスシリコン等の無機感光体
や、電荷発生剤や電荷輸送剤を含有する有機感光層を導
電性基体上に形成させた有機感光体が知られており、特
に有機感光体は、軽量性やコストの点で優れており、現
在、広く使用されている。ところで、有機感光体には、
電荷発生剤及び電荷輸送剤が単一の有機感光層中に分散
されている単層型のもの(有機単層感光体)と、電荷発
生剤を分散させた電荷発生層と、電荷発生層上に形成さ
れ且つ電荷輸送剤を分散させた電荷輸送層とから有機感
光層が形成されている積層型のもの(有機積層感光体)
とが知られている。この内、有機単層感光体は、特に製
造が容易であり、コストの面でも極めて安価であること
から、現在、広く使用されている。
層感光体を用いて画像形成を行う場合には、画像形成サ
イクルを繰り返し行うことによる感光層の摩耗による膜
厚低下が画像形成に及ぼす影響が大きく、耐久性が乏し
いという欠点がある。即ち、ある程度の回数の画像形成
を繰り返し行うと、感光層表面に残存したトナーを除去
するためのブレードクリーニングにより感光層が摩耗
し、その膜厚が低下すると、画像濃度の低下やカブリ等
を生じてしまうという欠点がある。即ち、有機積層感光
体では、電荷発生層上に電荷輸送層が形成されているた
め、画像形成サイクルを繰り返して行なっても、電荷輸
送層が保護層として機能するため、電荷発生層が摩耗す
ることはないが、有機単層感光体では、電荷発生剤を含
有する有機感光層が直接摩耗してしまうため、その膜厚
低下による感度変化等が大きく、有機積層感光体に比し
て、その耐久性が低いものとなっている。
形成サイクルをある程度の回数繰り返して行なって感光
層の厚みが薄くなると、適正な画像が形成されるように
帯電条件を補正することが必要である。具体的には、感
光体の主帯電電位を増大させるなどにより、適正濃度の
画像が得られるように調整される。
は、例えば、主帯電を行うための帯電器の帯電条件や現
像バイアス電圧を種々変更し、その都度、実際に画像形
成を行ない、得られる画像を確認しながら行われていた
ため、一般にサービスマンにより行なわれ、一般ユーザ
により行なうことは非常に難しいという問題がある。ま
た、サービスマンにより行なうとしても、その補正は極
めて面倒である。
を用いて電子写真による画像形成を行うに際し、極めて
簡単に、しかも自動化により、感光層の膜厚変動による
帯電条件の補正を行なうことが可能な帯電条件の補正方
法を提供することにある。
単層の有機感光層を有する有機単層感光体を使用し、有
機単層感光体表面を均一に主帯電し、帯電された該感光
体表面に画像情報に基づいて光照射を行なって静電潜像
を形成し、この静電潜像を、一定の現像バイアス電圧を
印加しながら現像することにより画像形成を行う電子写
真装置において、用いる有機単層感光体について、予
め、感光層の厚み毎に適正な画像が得られるような帯電
条件を設定しておき、且つ、該感光体の感光層の厚み毎
に、暗電位と明電位とを測定し、該測定結果に基づい
て、下記式(1): Vr=α・Vo+β (1) 式中、Voは、暗電位(V)を示し、Vrは、明電位
(V)を示し、α及びβは、それぞれ定数を示す、によ
り、感光層の厚み毎にαの値を算出しておくと共に、所
定枚数の画像形成サイクルを繰り返した後、前記感光体
について、その表面を、異なる2つの主帯電電位に帯電
させ、それぞれについて暗電位と明電位とを測定し、該
測定結果に基づいて、前記式(1)により、この状態の
感光体についてのαの値を算出し、このα値を、先に算
出された感光層の厚み毎のαの値と比較することによ
り、この状態の感光層の厚みを求め、上記で求められた
感光層の厚みに基づいて、先に設定されている感光層厚
みと適正な帯電条件との関係から、帯電条件を補正する
ことを特徴とする帯電条件の補正方法が提供される。
は、既に述べた通り、感光体表面を所定の電位に均一に
主帯電し、この状態で、画像情報に基づいて光照射を行
ない、静電潜像を形成する。即ち、光が照射された部分
の電位は低下し(明電位)、一方、光が照射されない部
分の電位はほとんど低下せず(暗電位)、暗電位と明電
位との電位差により、画像情報に対応する電荷像(静電
潜像)が形成されるわけである。従って、例えば、現在
汎用されている反転現像方式では、主帯電極性と同極性
に帯電された現像剤(トナー)を感光体表面に供給する
ことにより、該トナーが、電位の低い光照射部分に付着
し、可視像化されたトナー像が形成され、光未照射部分
が画像のバックグラウンドとなる。所謂、正規現像方式
は、この逆であり、主帯電極性と逆極性に帯電されたト
ナーが使用され、帯電トナーは、電位の高い光未照射部
分に付着してトナー像が形成され、電位の低い光照射部
分が画像のバックグラウンドとなる。このことから理解
されるように、反転現像或いは正規現像、何れの現像方
式においても、暗電位と明電位との差が画像のコントラ
ストに対応するコントラスト電位(Vc)となる。しか
るに、有機感光体の場合には、画像形成サイクルの繰り
返しにより、有機感光層が摩耗し、その帯電特性が劣化
し、一定の条件で主帯電を行ったとしても、暗電位が低
下し、上記のコントラスト電位(Vc)が低下し、この
結果、画像濃度の低下等の画像劣化を生じることにな
り、有機単層感光体では、この傾向が著しく大きい。こ
のため、特に有機単層感光体では、画像形成を繰り返し
行って感光層がある程度の厚みまで摩耗したときに、帯
電条件を補正して、 例えば一定のコントラスト電位
(Vc)が得られるように帯電条件を設定することが必
要である。
光体では、画像露光条件(例えば光照射に用いるレーザ
の出力)が一定であるときには、暗電位と明電位との間
に、比例関係が成立するという新規知見に基づいてなさ
れたものである。即ち、後述する実験例での実験結果を
示す図2のグラフを参照されたい。この図2は、有機単
層感光体の感光層の厚み毎に、帯電電圧を変化させて、
暗電位に対して明電位をプロットした曲線を示すもので
ある。(例えば、暗電位を測定した後、同一条件で帯電
を行ない、次いでレーザ光照射を行い、明電位を測定し
たものであり、レーザ光照射は全て同じ出力で行なわれ
ている。)図2から明らかな通り、少なくとも電荷のリ
ーク等を生じない有効な感光層厚みを有する領域では、
膜厚毎に、明電位は暗電位に比例しており、両者の間に
は直線関係があることがわかる。即ち、ある厚みの単層
の有機感光層については、前記式(1)で表される関係
が成立するのである。
来、全く知られておらず、本発明者等が初めて見出した
新規知見である。しかも、このような関係は、有機単層
感光体に特有であり、例えば有機積層感光体では、この
ような直線関係は成立しない。上記の明電位と暗電位と
の直線関係が有機単層感光体に特有であることの理由は
正確に解明されたわけではない。しかるに、有機単層感
光体では、感光層中に電荷発生剤が均一に分散されてい
るため、電荷発生剤量が感光層の厚みに比例するが、例
えば、有機積層感光体では、感光層が下方の電荷発生層
と表面側の電荷輸送層とに分けられており、感光層厚み
と電荷発生剤量との間には比例関係はなく、これが、有
機単層感光体では、明電位と暗電位との間に直線関係が
成立するが、有機積層感光体では両者の間に直線関係が
成立しない一因になっているものと思われる。
で表される直線関係が成立することは上述した通りであ
るが、更に、式(1)中の傾きαは、感光層の厚みによ
って異なるものである。即ち、図3には、感光層の厚み
毎に算出されたα(図3ではtanθで表されている)
を、感光層の厚みに対してプロットした曲線が示されて
いる。この図3から明らかな通り、感光層の厚み変化に
応じて、前記式(1)の直線の傾きα(tanθ)も変化
している。このことから理解されるように、上記傾きα
が判れば、このαの値から感光層の厚みが算出される。
電位との直線関係と、式(1)の直線の傾きαと感光層
の厚みとの関係とを利用して、帯電条件の補正を行うも
のである。即ち、本発明では、先ず、用いる有機単層感
光体について、感光層の厚み毎に適正な画像が得られる
ような帯電条件を設定しておく。例えば、感光層の厚み
を種々変更して画像出しを行い、感光層の厚み毎に、適
正な画像が得られるような帯電条件を設定しておく。こ
の帯電条件は、具体的には、一定のコントラスト電位
(Vc)が得られるような主帯電電位であり、このよう
な主帯電電位は、主帯電を行うために使用される主帯電
器の調整により設定することができる。また、上記のよ
うな適正な帯電条件の設定と共に、該感光体の感光層の
厚み毎に、暗電位と明電位とを測定し、前記式(1)の
αを求めておく。以上の情報は、例えば基本データとし
て、用いる電子写真装置に記憶させておけばよい。
され、ある程度の画像形成サイクルが繰り返された電子
写真装置について、帯電条件の補正が行われる。即ち、
画像形成の繰り返しにより、感光層厚みが低下したとき
に、2つの主帯電条件で主帯電を行い、それぞれについ
て、暗電位と明電位とを測定する。この測定結果から、
このときの有機単層感光体について、前記式(1)か
ら、α及びβの定数を算出することができ、これによ
り、画像形成の繰り返しにより感光層厚みが低下した感
光体について、式(1)のVo−Vr直線を画定するこ
とができる。
とし、これらの暗電位に対応する明電位の測定値を、そ
れぞれ、Vr1,Vr2とすると、これらを式(1)に
代入すると、次の関係式(1a),(1b)が得られ
る。 Vr1=α・Vo1+β (1a) Vr2=α・Vo2+β (1b) この連立方程式を解いて、α、βの値を求めることがで
きる。 α=(Vr2−Vr1)/(Vo2−Vo1) (2a) β=(Vr1Vo2−Vo1Vr2)/(Vo2−Vo1) (2b) 従って、この状態での有機単層感光体における式(1)
のVo−Vr直線を画定することができる。
り、基本データとして記憶されているαと感光層厚みと
の関係に基づいて、この有機単層感光体の感光層厚みを
求めることができる。一方、基本データとして、感光層
の厚み毎に、適正な帯電条件、例えば適正な画像を得る
ための一定のコントラスト電位(Vc)を与えるような
主帯電電位が設定されているから、上記で求められた感
光層厚みから、この基本データに基づいて、帯電条件の
補正を行うことができるわけである。
返して行うことによって摩耗して厚みが減少した有機単
層感光体について、帯電条件を補正することにより、適
正な濃度を有し、カブリ等の不具合のない良好な画像を
得ることができる。
暗電位との間に式(1)で示す直線関係が成立すること
を利用するものであることから、有機単層感光体を用い
ての電子写真法にのみ適用されるものであり、上記のよ
うな直線関係の成立しない有機積層感光体を用いた場合
には適用されない。
は、用いる主帯電器の種類に応じて、容易に行なうこと
ができる。例えば、スコロトロン帯電器を用いて主帯電
を行う場合には、スコロトロン帯電器のグリッド電圧を
調整し、接触帯電ローラを用いて主帯電を行う場合に
は、この帯電ローラに印加する電圧を調整することによ
り、感光層の厚みに応じて、適正なコントラスト電位
(Vc)を与えるような主帯電電位に帯電条件を補正す
ることができる。また、2つの主帯電条件で主帯電を行
い、それぞれについて、暗電位と明電位とを測定する操
作は、このような動作条件を予めプログラムしておき、
且つ画像露光部と現像部との間の領域に電位センサを設
け、画像形成装置の操作パネルに補正スイッチをONと
することにより、自動的に行なうことができる。更に、
その測定結果からのα、βの算出(式(1)の直線の画
定)や、画定した式(1)の直線の傾きαに基づいての
感光層厚みの算出及び算出された厚みに基づく帯電条件
の補正は、所定の演算プログラムを組み込んでおくこと
により、自動的に行なうことができる。従って、本発明
によれば、帯電条件の補正を極めて容易に行なうことが
でき、サービスマンの労力を著しく軽減することがで
き、また、場合によっては、このような補正を一般ユー
ザが容易に行なうこともできる。
いて、本発明を説明する。本発明の帯電条件補正方法を
適用する電子写真装置の一例を示す図1において、回転
可能に設けられている感光体ドラム1の周囲には、その
回転方向に沿って、帯電手段2、レーザ光学装置3、現
像手段4、転写手段5、クリーニング装置6及び除電ラ
ンプ7が配置されており、所定の紙等の転写シート9が
転写手段5と感光体ドラム2との間に搬送され、この転
写シート9の表面に、画像が形成されるようになってい
る。また、レーザ光学装置3と現像手段4との間には、
電位センサ10が設けられており、更に、図1では省略
されているが、上記転写シート9の排出側には、熱ロー
ラ等からなる定着装置が配置されている。
2により所定極性に一様に主帯電し、次いで、レーザ光
学装置3を用いて、所定の画像情報に基づいてレーザ光
が帯電された感光体ドラム1の表面に照射され、画像露
光による静電潜像の形成が行なわれる。このようにして
形成された静電潜像は、現像手段4により現像され、ト
ナー像が感光体ドラム1表面に形成される。形成された
トナー像は、転写手段5により、転写シート9の表面に
転写され、トナー像が転写された転写シート9は、図示
されていない定着装置に導入され、熱及び圧力により、
トナー像が転写シート9の表面に定着される。一方、ト
ナー像を転写シート9に転写した後は、クリーニング装
置6により感光体ドラム1表面に付着残存するトナーが
除去され、更に除電ランプによる光照射によって、感光
体ドラム1表面に残存する電荷が除去され、これによ
り、画像形成サイクルの一工程が終了し、次の画像形成
サイクルが行なわれる。
ミ等の導電性素管上に形成させた有機感光体ドラムであ
り、この有機感光層は、それ自体公知であり、電荷発生
剤及び電荷輸送剤を結着樹脂中に分散させた単一の層か
らなる。即ち、このような単層の有機感光層を備えた感
光体ドラム1において、明電位と暗電位との間に前述し
た式(1)に示す直線関係が成立し、本発明の補正方法
が適用されることは既に述べた通りである。
ては、例えば、セレン、セレン−テルル、アモルファス
シリコン、ピリリウム塩、アゾ系顔料、ジスアゾ系顔
料、アンサンスロン系顔料、フタロシアニン系顔料、イ
ンジコ系顔料、スレン系顔料、トルイジン系顔料、ピラ
ゾリン系顔料、ペリレン系顔料、キナクリドン系顔料等
が例示され、所望の領域に吸収波長域を有するよう、一
種または二種以上混合して用いられる。
例示される。 X型メタルフリーフタロシアニン。 オキソチタニルフタロシアニン。
たは未置換のアルキル基、シクロアルキル基、アリール
基、アルカリール基、またはアラールキル基である、で
表されるもの。上記一般式(A)において、アルキル基
としては、エチル基、プロピル基、ブチル基、2−エチ
ルヘキシル基等が挙げられ、シクロアルキル基として
は、シクロヘキシル基等が挙げられ、アリール基として
は、フェニル基、ナフチル基等が挙げられ、アルカリー
ル基としては、トリル基、キシリル基、エチルフェニル
基等が挙げられ、アラールキル基としては、ベンジル
基、フェネチル基等が挙げられる。置換基としては、ア
ルコキシ基、ハロゲン原子等がある。
基、アリール基または複素環基であり、nはゼロまたは
1であり、Cpはカップラー残基である、で表わされる
ビスアゾ顔料。上記一般式(B)において、ピラゾール
環の3位には、直接或いはビニリデン基を介して、置換
或いは未置換のアルキル基、アリール基或いは複素環基
が結合していてもよく、ここで、アルキル基としては、
メチル、エチル、プロピル、ブチル、アミル基等が挙げ
られ、アリール基としてはフェニル、ナフチル、ビフェ
ニル、アントリル、フェナントリル、フルオレニル基等
が挙げられ、複素環基としては、窒素、酸素、硫黄或い
はこれらの組み合わせを環中に含有する単環或いは多環
の飽和乃至不飽和の複素環基、例えばチエニル基、フリ
ル基、イミダゾリル基、ピロリル基、ピリミジニル基、
イミダゾール基、ピラジニル基、ピラゾリニル基、ピロ
リジニル基、ピラニル基、ピペリジル基、ピペラジニル
基、モルホリル基、ピリジル基、ピリミジル基、ピロリ
ジニル基、ピロリニル基、ベンゾフリル基、ベンゾイミ
ダゾリル基、ベンゾフラニル基、インドリル基、キノリ
ル基、カルバゾリル基、ジベンゾフラニル基等が挙げら
れる。これらの基が有していてもよい置換基としては、
低級アルキル基、低級アルコキシ基、アシルオキシ基、
クロール等のハロゲン原子、ヒドロキシル基、ニトリル
基、ニトロ基、アミノ基、アミド基、アシルオキシ基、
カルボキシル基等が挙げられる。一方、式(B)におけ
るカプラー残基としては、この種のアゾ顔料に使用され
るカプラー(アゾカップリング成分)の残基であれば任
意のもの、例えば置換或いは未置換のフェノール類、ナ
フトール類、或いは水酸基含有複素環環化合物等であっ
てよく、ここで置換基としては、低級アルキル基、低級
アルコキシ基、アリール基、アシルオキシ基、クロール
等のハロゲン原子、ヒドロキシル基、ニトリル基、ニト
ロ基、アミノ基、アミド基、アシルオキシ基、カルボキ
シル基等が挙げられる。
(結着樹脂)としては、種々の樹脂が使用でき、例え
ば、スチレン系重合体、アクリル系重合体、スチレン−
アクリル系重合体、エチレン−酢酸ビニル共重合体、ポ
リプロピレン、アイオノマー等のオレフィン系重合体、
ポリ塩化ビニル、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、ポ
リエステル、アルキッド樹脂、ポリアミド、ポリウレタ
ン、エポキシ樹脂、ポリカーボネート、ポリアリレー
ト、ポリスルホン、ジアリルフタレート樹脂、シリコー
ン樹脂、ケトン樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリ
エーテル樹脂、フェノール樹脂や、エポキシアクリレー
ト等の光硬化型樹脂等、各種の重合体が例示できる。こ
れらの結着樹脂は、一種または二種以上混合して用いる
こともできる。好適な樹脂は、スチレン系重合体、アク
リル系重合体、スチレン−アクリル系重合体、ポリエス
テル、アルキッド樹脂、ポリカーボネート、ポリアリレ
ート等である。
特に帝人化成社製パンライト、三菱瓦斯化学社製PC
Z、出光興産社製タフゼット(BグレードやHグレー
ド)等、下記一般式(C):
あって、R3及びR4は連結して、結合炭素原子と共
に、シクロヘキサン環のごときシクロ環を形成していて
もよい、で表されるビスフェノール類とホスゲンとから
誘導される構成単位を含むポリカーボネートを挙げるこ
とができる。
(D):
は未置換のアルキル基、シクロアルキル基、アリール
基、アルカリール基、またはアラールキル基であり、p
及びqは、共重合比を示す数であり、p+q=1とした
時、pが0.1〜0.4となる数である、で表される構
造を有する共重合ポリカーボネートが好適である。
−A換算)で10,000〜200,000が好ましい
が、耐摩耗性と生産性を考慮すると、18,000〜8
0,000が特に好適である。更に、感光層中に占める
結着樹脂の割合は、40〜70重量%が好ましいが、特
に前記一般式(D)の構造の共重合ポリカーボネートを
使用して耐摩耗性の向上を図るならば、50〜70重量
%の範囲が好適である。
電子輸送性或いは正孔輸送性のものを使用できる。その
適当な例は、次の通りである。
マレイン酸、ジブロム無水コハク酸、無水フタル酸、3
−ニトロ無水フタル酸、4−ニトロ無水フタル酸、無水
ピロメリット酸、ピロメリット酸、トリメリット酸、無
水トリメリット酸、フタルイミド、4−ニトロフタルイ
ミド、テトラシアノエチレン、テトラシアノキノジメタ
ン、クロルアニル、ブロモアニル、o−ニトロ安息香
酸、マロノニトリル、トリニトロフルオレノン、トリニ
トロチオキサントン、ジニトロベンゼン、ジニトロアン
トラセン、ジニトロアクリジン、ニトロアントラキノ
ン、ジニトロアントラキノン、チオピラン系化合物、キ
ノン系化合物、ベンゾキノン系化合物、ジフェノキノン
系化合物、ナフトキノン系化合物、アントラキノン系化
合物、スチルベンキノン系化合物などの電子吸引性物質
を単独または2種以上の組み合わせで用いることができ
る。
示することができる。
換基を有してもよいアリール基を示し、Rbは置換基を
有してもよいアルキル基、置換基を有してもよいアリー
ル基又は基−O−RG を示す。該基中のRG は、置換基
を有してもよいアルキル基または置換基を有してもよい
アリール基を示す、で表されるナフトキノン。
ルキル基、シクロアルキル基、アリール基、アラルキル
基、アルコキシ基等である、で表されるジフェノキノ
ン。R5、R6、R7及びR8は非対称構造の置換基で
あることが好ましく、R5、R6、R7及びR8の内、
2個が低級アルキル基であり、他の2個が分岐鎖アルキ
ル基、シクロアルキル基、アリール基またはアラールキ
ル基であることが好ましい。
これに限定されないが、3,5−ジメチル−3’,5’
−ジt−ブチルジフェノキノン、3,5−ジ メトキシ
−3’,5’−ジt−ブチルジフェノキノン、3,3’
−ジメチル−5,5’−ジt−ブチルジフェノキノン、
3,5’−ジメチル−3’,5−ジt−ブチルジフェノ
キノン、3,5,3’,5’−テトラメチルジフェノキ
ノン、2,6,2’,6’−テトラt−ブチルジフェノ
キノン、3,5,3’,5’−テトラフェニルジフェノ
キノン、3,5,3’,5’−テトラシクロヘキシルジ
フェノキノン、等を挙げることができる。これらのジフ
ェノキノン誘導体は、分子の対称性が低いために分子間
の相互作用が小さく、溶解性に優れているために好まし
い。
炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコ
キシ基、それぞれ置換基を有していてもよいアリール
基、シクロアルキル基、アラルキル基、ハロゲン化アル
キル基を示す、で表されるジフェノキノン。置換基とし
ては、ハロゲン原子、炭素数1〜6のアルキル基、炭素
数1〜6のアルコキシ基、水酸基、シアノ基、アミノ
基、ニトロ基、ハロゲン化アルキル基が挙げられる。
炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコ
キシ基、それぞれ置換基を有していてもよいアリール
基、シクロアルキル基、アラルキル基、ハロゲン化アル
キル基を示す、で表されるナフトキノン。置換基として
は、ハロゲン原子、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数
1〜6のアルコキシ基、水酸基、シアノ基、アミノ基、
ニトロ基、ハロゲン化アルキル基が挙げられる。
炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコ
キシ基、それぞれ置換基を有していてもよいアリール
基、シクロアルキル基、アラルキル基、ハロゲン化アル
キル基を示し、Xは、同一でも異なっていてもよく、炭
素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキ
シ基、それぞれ置換基を有していてもよいアリール基、
シクロアルキル基、アラルキル基、フェノキシ基、およ
びハロゲン化アルキル基を示し、これら基が互いに縮合
して環を形成していてもよく、nは、0〜5の整数であ
る、で表されるスチルベンキノン。
のものが知られており、これらの内から、溶解性や、正
孔輸送性に優れているものが使用される。 ピレン;N−エチルカルバゾール、N−イソプロピルカ
ルバゾール、N−メチル−N−フェニルヒドラジノ−3
−メチリデン−9−カルバゾール、N,N−ジフェニル
ヒドラジノ−3−メチリデン−9−エチルカルバゾー
ル、などのカルバゾール類;N,N−ジフェニルヒドラ
ジノ−3−メチリデン−10−エチルフェノチアジン;
N,N−ジフェニルヒドラジノ−3−メチリデン−10
−エチルフェノキサジン;p−ジエチルアミノベンズア
ルデヒド−N,N−ジフェニルヒドラゾン、p−ジエチ
ルアミノベンズアルデヒド−α−ナフチル−N−フェニ
ルヒドラゾン、p−ピロリジノベンズアルデヒド−N,
N−ジフェニルヒドラゾン、1,3,3−トリメチルイ
ンドレニン−ω−アルデヒド−N,N−ジフェニルヒド
ラゾン、p−ジエチルベンズアルデヒド−3−メチルベ
ンズチアゾリノン−2−ヒドラゾン、などのヒドラゾン
塩;2,5−ビス(p−ジエチルアミノフェニル)−
1,3,4−オキサジゾール;1−フェニル−3−(p
−ジエチルアミノスチリル)−5−(p−ジエチルアミ
ノフェニル)ピラゾリン、1−[キノニル(2)]−3
−(p−ジエチルアミノスチリル)−5−(p−ジエチ
ルアミノフェニル)ピラゾリン、1−[ピリジル
(2)]−3−(p−ジエチルアミノスチリル)−5−
(p−ジエチルアミノフェニル)ピラゾリン、1−[6
−メトキシ−ピリジル(2)]−3−(p−ジエチルア
ミノスチリル)−5−(p−ジエチルアミノフェニル)
ピラゾリン、1−[ピリジル(3)]−3−(p−ジエ
チルアミノスチリル)−5−(p−ジエチルアミノフェ
ニル)ピラゾリン、1−[レピジル(3)]−3−(p
−ジエチルアミノスチリル)−5−(p−ジエチルアミ
ノフェニル)ピラゾリン、1−[ピリジル(2)]−3
−(p−ジエチルアミノスチリル)−4−メチル−5−
(p−ジエチルアミノフェニル)ピラゾリン、1−[ピ
リジル(2)]−3−(α−メチル−p−ジエチルアミ
ノスチリル)−3−(p−ジエチルアミノフェニル)ピ
ラゾリン、1−フェニル−3−(p−ジエチルアミノス
チリル)−4−メチル−5−(p−ジエチルアミノフフ
ェル)ピラゾリン、スピロピラゾリン、などのピラゾリ
ン類;2−(p−ジエチルアミノスチリル)−3−ジエ
チルアミノベンズオキサゾール、2−(p−ジエチルア
ミノフェニル)−4−(p−ジメチルアミノフェニル)
−5−(2−クロロフェニル)オキサゾール、などのオ
キサゾール系化合物;2−(p−ジエチルアミノスチリ
ル)−6−ジエチルアミノベンゾチアゾールなどのチア
ゾール系化合物;ビス(4−ジエチルアミノ−2−メチ
ルフェニル)フェニルメタンなどのトリアリ−ルメタン
系化合物;1,1−ビス(4−N,N−ジエチルアミノ
−2−メチルフェニル)ヘプタン、1,1,2,2−テ
トラキス(4−N,N−ジメチルアミノ−2−メチルフ
ェニル)エタン、などのポリアリールアルカン類;N,
N´−ジフェニル−N,N´−ビス(メチルフェニル)
ベンジジン、N,N´−ジフェニル−N,N´−ビス
(エチルフェニル)ベンジジン、N,N´−ジフェニル
−N,N´−ビス(プロピルフェニル)ベンジジン、
N,N´−ジフェニル−N,N´−ビス(ブチルフェニ
ル)ベンジジン、N,N´−ビス(イソプロピルフェニ
ル)ベンジジン、N,N´−ジフェニル−N,N´−ビ
ス(第2級ブチルフェニル)ベンジジン、N,N´−ジ
フェニル−N,N´−ビス(第3級ブチルフェニル)ベ
ンジジン、N,N´−ジフェニル−N,N´−ビス
(2,4−ジメチルフェニル)ベンジジン、N,N´−
ジフェニル−N,N´−ビス(クロロフェニル)ベンジ
ジンなどのベンジジン系化合物;フェニレンジアミン誘
導体;ジアミノナフタレン誘導体;ジアミノフェナント
レン誘導体;トリフェニルアミン;ポリ−N−ビニルカ
ルバゾール;ポリビニルピレン;ポリビニルアントラセ
ン;ポリビニルアリクジン;ポリ−9−ビニルフェニル
アントラセン;ピレン−ホルムアルデヒド樹脂;エチル
カルバゾールホルムアルデヒド樹脂。
(K):
或いは未置換のアリール基であり、Yは置換或いは未置
換のアリーレン基であり、nはゼロまたは1の数であ
る、で表される芳香族アミン類が挙げられる。
て、ヒドラゾン類、特に下記式(L):
未置換のアリール基である、で表されるヒドラゾン類を
挙げることができる。
孔輸送剤は、高移動度を有しており、好適である。
炭素数1〜8のアルキル基、炭素数1〜8のアルコキシ
基を示し、また、各ベンゼン環は、置換基として、炭素
数1〜8のアルキル基、炭素数1〜8のアルコキシ基を
有していてよい。
発生剤(CGM)は固形分当たり0.5乃至7重量%、
特に2乃至5重量%の範囲の内、感度に悪影響を及ぼさ
ない範囲で可及的に少ない量で感光層中に含有されるの
がよく、また電荷輸送剤(CTM)は固形分当たり20
乃至70重量%、特に25乃至60重量%の範囲の内、
感度に影響を及ぼさない範囲で可及的に少ない量で感光
層中に含有されるのがよい。
という用途の広さからは、電子輸送剤(ET)と、正孔
輸送剤(HT)とを組み合わせで使用するのがよく、こ
の場合、ET:HTの重量比は10:1乃至1:10、
特に1:5乃至1:1の範囲にあるのが最もよい。
子写真学的特性に悪影響を及ぼさない範囲で、それ自体
公知の種々の配合剤、例えば、ビフェニル、o−ターフ
ェニル、m−ターフェニル、p−ターフェニル、p−ベ
ンジルフェニル及び水素化ターフェニル等のビフェノー
ル誘導体、ステアリン酸ブチル等のアルキルエステル、
ポリエチレングリコール、ポリプロピレングリコール、
ポリエチレングリコールモノエステル、ポリエチレング
リコールモノエーテル、ポリエチレングリコールジアル
キレート、ポリエチレングリコールジアルキルエーテル
等のポリアルキルオキシド類やポリフェニレンオキシド
等の可塑剤や潤滑剤、ヒンダードアミン、ヒンダードフ
ェノール等の酸化防止剤が配合されていてもよい。ま
た、形成した膜のレベリング性の向上や潤滑性の付与を
目的として、シリコーンオイルやフッ素系オイルなどの
レベリング剤を含有させることもできる。
%の立体障害性フェノール系酸化防止剤を配合すると、
電子写真学的特性に悪影響を与えることなく、感光層の
耐久性を顕著に向上させることができる。
ては、導電性を有する種々の材料が使用でき、例えば、
アルミニウム、銅、錫、白金、金、銀、バナジウム、モ
リブデン、クロム、カドミウム、チタン、ニッケル、イ
ンジウム、ステンレス鋼、真鍮等の金属単体や、上記金
属が蒸着またはラミネートされたプラスック材料;ヨウ
化アルミニウム、酸化錫、酸化インジウム等で被覆され
たガラス;等が例示される。本発明に用いる単層有機感
光体では、通常のアルミニウム素管、また膜厚が1乃至
50μmとなるようにアルマイト処理を施した素管を用
いことができる。
生材料、電荷輸送剤等と結着樹脂等を、従来公知の方
法、例えば、ロールミル、ボールミル、アトライタ、ペ
イントシェイカーあるいは超音波分散機等を用いて調製
し、従来公知の塗布手段により塗布、乾燥すればよい。
感光層の厚みは、特に制限されないが、一般に10乃至
50μmの範囲内で、感度低下や残留電位増大を来さな
い範囲で可及的に厚く設けることが望ましい。
は、種々の有機溶剤が使用でき、メタノール、エタノー
ル、イソプロパノール、ブタノール等のアルコール類、
n−ヘキサン、オクタン、シクロヘキサン等の脂肪族系
炭化水素、ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族炭
化水素、ジクロロメタン、ジクロロエタン、四塩化炭
素、クロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素、ジメチル
エーテル、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン、エ
チレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコ
ールジメチルエーテル等のエーテル類、アセトン、メチ
ルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、酢酸
エチル、酢酸メチル等のエステル類、ジメチルホルムア
ミド、ジメチルスルホキシド等、種々の溶剤が例示さ
れ、一種または二種以上混合して用いられる。塗布液の
固形分濃度は一般に5乃至50%とするのがよい。
上に直接形成してもよいが、下引き層を介して形成する
こともできる。このような下引き層としては、カゼイ
ン、ポリビニルアルコール、ポリビニルアセタール、ポ
リアミド、メラミン、セルロース、ポリチオフェン、ポ
リピロール、ポリアニリン、ポリエステル、ポリアクリ
レート、ポリスチレン等の高分子膜を例示することがで
きる。下引き層の厚みは、0.01μm乃至20μmの
範囲が好ましい。また、下引き層に導電性を付与するた
めに、金、銀、アルミ等の金属粉末、酸化チタン、酸化
スズ等の酸化金属粉末、カーボンブラック等の導電性微
粉末を分散させることもできる。
帯電手段2としては、コロトロンやスコロトロン等のコ
ロナ帯電器や接触帯電ローラなどが使用されるが、特に
スコロトロンが好適である。かかる帯電手段による感光
体ドラム1表面の帯電極性は、正及び負の何れでもよい
が、オゾン等の発生を防止するという見地からは、正極
性がよい。
一条件で主帯電を行うと、画像形成サイクルの繰り返し
による感光層の摩耗に伴って低下するが、その初期設定
値は、暗電位(Vo)と明電位(Vr)との差に相当す
るコントラスト電位(Vc)が400V以上、特に55
0V以上となるような電位、例えば700乃至720V
の範囲に設定される。即ち、画像形成サイクルの繰り返
しにより主帯電電位及びコントラスト電位(Vc)が低
下して画像濃度の低下等を来したときには、本発明に従
って補正を行ない、コントラスト電位(Vc)が上記範
囲内となるように、予め、感光層の厚み毎に設定されて
いる帯電条件に基づいて、主帯電電位を高める等の補正
が行われるわけである。具体的には、帯電手段2として
コロナ帯電器を用いているときには、コロナワイヤへの
印加電圧を高めたり或いはグリッド電圧を調整すること
により、また接触帯電ローラを用いている場合には、該
ローラへの印加電圧を高めることにより、主帯電電位を
適正な範囲に調整することができる。特に帯電手段2と
してスコロトロンを用いている場合には、グリッド電圧
の調整により、容易に主帯電電位の調整を行うことがで
きる。
それ自体公知の手段で行なうことができる。例えば、ス
キャナ等によって読み込まれた画像情報に基づいて、或
いはコンピュータ等から送られた画像情報に基づいて、
レーザ光を照射することにより行なわれる。勿論、この
ようなレーザ光学装置3を用いる代わりに、LEDを用
いたり、ハロゲンランプ等の光学系を使用し、このよう
な光学系からの原稿反射光を直接感光体ドラム1表面に
照射することにより画像露光を行なうことも可能であ
る。
手段4との間には、電位センサ10が設けられており、
帯電条件の補正を行なうときには、この電位センサ10
により、暗電位及び明電位の測定を行なう。電位センサ
10による測定個所は、感光体ドラム1表面の中心部
分、即ち画像形成領域にあたる部分である。即ち、帯電
条件の補正は、一定の電位に感光体ドラム1表面を帯電
した後、画像露光のための光照射を行わずに電位センサ
10により暗電位を測定し、次いで、同じ条件で同電位
に帯電された感光体ドラム1表面について、通常の画像
形成サイクルで行なわれる画像露光と同じ条件(例えば
同じレーザ出力)で光照射を行ない、電位センサ10に
より明電位を測定する。次いで、主帯電条件を変えて、
上記とは異なる電位に帯電された感光体ドラム1表面に
ついて、上記と同様にして暗電位及び明電位を測定す
る。この測定値に基づいて、前述した演算により、繰り
返し使用された感光体ドラム1についての式(1)にお
けるα及び感光層厚みの算出が行われ、算出された感光
層厚みに応じて、予め感光層厚み毎に設定されている帯
電条件に補正を行う。具体的には、所定のコントラスト
電位(Vc)が得られるような主帯電電位(或いは暗電
位)となるように、感光体ドラム1表面の主帯電電位の
調整が行なわれるわけである。尚、上記の暗電位及び明
電位の測定は、異なる2つの電位に感光体ドラム1表面
を帯電させて行うことが、前述した式(1)の直線の傾
きαの値を求めるために必須であるが、このような異な
る2つの電位の差は、通常、100V以上であることが
好ましい。両者の電位差があまり小さいと、測定誤差が
大きくなるおそれがあるためである。
ば、現像ローラにより、少なくとも所定極性に帯電され
たトナーを含む磁性現像剤を、磁力を利用して感光体ド
ラム1表面に搬送することにより行なわれる。このよう
な現像剤も特に制限されず、例えば非磁性トナーと、フ
ェライトや鉄粉等の磁性キャリヤとからなる二成分系現
像剤や、磁性トナーからなる一成分系現像剤の何れをも
使用することができる。トナーの帯電極性は、現像方式
によって異なり、例えば、現在汎用されている反転現像
方式では、感光体ドラム1の帯電極性と同極性であり、
正規現像方式では、感光体ドラム1の帯電極性と逆極性
であり、通常、所定の帯電部材或いはキャリヤとの摩擦
帯電により、適当な帯電量を有するように帯電される。
び非接触現像の何れでもよく、また、現像に際しては、
通常、現像バイアス電圧を、感光体ドラム1と現像ロー
ラとの間に印加して行なわれる。この現像バイアス電圧
は、帯電トナーを感光体ドラム1表面側に容易に移行し
得るような極性及び大きさを有するものであり、例えば
反転現像では、感光体ドラム1側がその帯電極性とは逆
性となるような向きで、且つ、絶対値が暗電位と明電位
との間の大きさとなるようなものである。従って、本発
明では、前述した帯電条件の補正に伴って、上記範囲と
なるように現像バイアス電圧の調整を行なうことが好ま
しい。
ローラが使用される。コロナ帯電器を用いる場合には、
搬送されてきた転写シート9の背面を、コロナ放電によ
り帯電トナーとは逆極性にコロナ帯電させることにより
行なわれ、この場合、転写用のコロナ帯電器と共に、転
写シート9の感光体ドラム1への巻きつきを防止する分
離用帯電器を使用するのがよい。また、転写ローラを用
いる場合には、該ローラが帯電トナーと逆極性の電位と
なるような転写電圧を印加して転写が行なわれる。
ゴム製のブレード或いはローラを備えており、これらを
感光体ドラム1表面に摺擦することにより、転写後の感
光体ドラム1表面に残存するトナーが分離回収される。
また、除電ランプ7は、感光体ドラム1表面に形成され
ている単層の有機感光層が感度を有する波長の光を、該
ドラム1表面に照射することにより、感光体ドラム1表
面の残留電位を除去する。図1では、この除電ランプ7
は、感光体ドラム1の回転方向に対して下流側に配置さ
れているが、これをクリーニング装置6と転写手段5と
の間の領域に配置することも可能である。
ルフリーフタロシアニンを5重量部、正孔輸送剤とし
て、下記式:
ルカルボニル−3−フェニル−1,4−ナフトキノンを
40重量部、結着剤として、下記式:
平均分子量:50,000)を100重量部、更に溶媒
としてテトラヒドロフラン800重量部を加え、ボール
ミルで50時間混合分散して単層型感光層用塗布液を調
製し、この塗布液をアルミニウム素管(Φ:78mm)
上に塗布した後、100℃で60分間熱風乾燥すること
により、膜厚が12μm、14μm、16μm、20μ
m及び36μmの単層有機感光体を作製した。
えた複写機に、上記で作製された感光体ドラムをそれぞ
れ装着した。尚、主帯電器としてはスコロトロンが使用
されている。この装置を使用し、主帯電電位を変化さ
せ、各主帯電電位毎に、暗電位と明電位とを測定した。
尚、測定に際してのレーザ出力は一定とした。その結果
を図2に示す。図2の結果から、このような単層有機感
光体では、明電位と暗電位とは比例関係にあり、式
(1): Vr=α・Vo+β (1) 式中、Voは、暗電位(V)を示し、Vrは、明電位
(V)を示し、α及びβは、それぞれ定数を示す、が成
立することが判る。
に対して上記直線の傾きα(tanθ)をプロットして図
3の曲線を得た。図3から、感光層の厚み毎に、上記直
線の傾きα(tanθ)は異なっており、この傾きαを算
出すれば、そのときの感光層厚みを求めることができる
ことが判る。
レーザ出力が画像露光を行い、画像実験を行うことによ
り、感光層厚みが36〜20μmのときには、主帯電電
位を770Vに設定すればよいことを確認した。即ち、
このような厚みでは、主帯電電位を上記値とすることに
より、適正なコントラスト電位(Vc)を確保すること
ができ、良好な画像を得ることができる。
の単層有機感光体ドラムが装着されたマシーンを使用
し、初期設定条件を次のように設定し、連続して400
Kの画像形成を行った。このときに得られた画像の濃度
を反射濃度計で測定したところ、1.24であり、画像
濃度はかなり低く、不鮮明であった。 主帯電電位: 770V (暗電位670V) コントラスト電位: 550V 現像方式: 反転現像 現像剤: 正帯電型二成分系現像剤 現像バイアス電圧: 520V 感光体ドラム周速: 290mm/sec
20V及び720Vに調整し、それぞれについて、暗電
位及び明電位を測定した。結果は、次の通りであった。 主帯電電位: 820V 720V 暗電位: 670V 570V 明電位: 140V 125V 上記の結果から、式(1)のα及びβを算出し、以下の
結果を得た。 α: 0.15 β: 39.5 以上のαの値及び図3から、このときの感光層厚みは、
約17μmであることが判った。そこで、先の実験結果
に基づき、スコロトロンのグリッド電圧を調整し、主帯
電電位を843Vとし、再び画像形成を行なったとこ
ろ、その画像濃度は、1.43に上昇し、鮮明な画像が
得られた。
暗電位と明電位とが直線関係(比例関係)にあるという
新規知見に基づき、2点の主帯電電位のそれぞれについ
て、暗電位と明電位とを測定することにより、その感光
層膜厚での上記直線関係を画定させ、該直線の傾きαを
算出することができる。また、感光層の厚み毎で直線の
傾きαは異なるため、求められたαの値から感光層の厚
みを求めることができるので、予め、感光層の厚み毎に
適正な帯電条件を設定しておくことにより、良好な画像
が得られるように、帯電条件を補正設定することができ
る。したがって、帯電条件の補正を極めて容易に行なう
ことができ、サービスマンの労力を著しく軽減すること
ができ、また、このような補正を一般ユーザが容易に行
なうこともできる。
示す図。
位と暗電位との関係を示す線図。
の傾きα(tanθ)を、感光層厚みに対してプロットし
たグラフ。
Claims (2)
- 【請求項1】 単層の有機感光層を有する有機単層感光
体を使用し、有機単層感光体表面を均一に主帯電し、帯
電された該感光体表面に画像情報に基づいて光照射を行
なって静電潜像を形成し、この静電潜像を、一定の現像
バイアス電圧を印加しながら現像することにより画像形
成を行う電子写真装置において、 用いる有機単層感光体について、予め、感光層の厚み毎
に適正な画像が得られるような帯電条件を設定してお
き、且つ、該感光体の感光層の厚み毎に、暗電位と明電
位とを測定し、該測定結果に基づいて、下記式(1): Vr=α・Vo+β (1) 式中、Voは、暗電位(V)を示し、Vrは、明電位
(V)を示し、α及びβは、それぞれ定数を示す、によ
り、感光層の厚み毎にαの値を算出しておくと共に、 所定枚数の画像形成サイクルを繰り返した後、前記感光
体について、その表面を、異なる2つの主帯電電位に帯
電させ、それぞれについて暗電位と明電位とを測定し、
該測定結果に基づいて、前記式(1)により、この状態
の感光体についてのαの値を算出し、このα値を、先に
算出された感光層の厚み毎のαの値と比較することによ
り、この状態の感光層の厚みを求め、 上記で求められた感光層の厚みに基づいて、先に設定さ
れている感光層厚みと適正な帯電条件との関係から、帯
電条件を補正することを特徴とする帯電条件の補正方
法。 - 【請求項2】 スコロトロン帯電器を用いて前記主帯電
を行ない、帯電条件の補正を、スコロトロン帯電器のグ
リッド電圧を調整することにより行なう請求項1に記載
の帯電条件の補正方法。
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