JP2003158559A - 自己診断装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被診断回路が扱うデータに依存せずに一定の
信頼性を確保すると共に、異常時の被診断回路の出力デ
ータを保持できる自己診断装置を得る。 【解決手段】 回路ブロックと、試験用データおよび基
準データとを予め格納した格納手段と、実際に試験用デ
ータを回路ブロックに入力した場合に回路ブロックから
出力として得られた試験用出力データと基準データとを
比較して、一致しているか否かにより異常の有無を診断
する試験回路と、試験回路により診断された試験結果を
記憶する記憶手段と、回路ブロックへの入力データを切
換える第１の切換手段と、回路ブロックから出力された
出力データをの出力経路を切換える第２の切換手段と、
回路ブロックの通常動作時と試験実行時で前記第１の切
換手段および第２の切換手段を切換える試験回路制御手
段とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、伝送装置に対し
て自己診断を行う自己診断装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１０は例えば、特開平０９−０２３２
５３号公報に記載された従来の自己診断装置の機能ブロ
ック図を示したものである。図１０において、２０は本
自己診断の診断対象となる被診断回路２２へ入力データ
を搬送するためのデータ入力線であり、２１は被診断回
路２２からの出力データを搬送するためのデータ出力線
である。２３は被診断回路２２に入力される前の入力デ
ータと、被診断回路２２を介した出力データとを一時格
納する信号記憶回路であり、２４はデータ入力線２０若
しくはデータ出力線２１に任意のデータが流れた場合
に、信号記憶回路２３に対して入力データ及び出力デー
タの収集を命令すると共に信号記憶回路２３に格納され
た入力データと出力データとを比較し診断する監視制御
部であり、２５は監視制御部２４の診断結果となる判定
信号である。

【０００３】次に、上記構成における動作について、図
１０を用いて説明する。データ入力線２０に任意のデー
タが流れると、監視制御部２４は信号記憶回路２３に対
して入力データの収集を命令し、信号記憶回路２３は入
力データを収集すると共に、一時保持する。同様にし
て、前記任意のデータが被診断回路２２を通過し、デー
タ出力線２１を流れると、監視制御部２４は信号記憶回
路２３に対して出力データの収集を命令し、信号記憶回
路２３は出力データを収集すると共に、一時保持する。

【０００４】次に、監視制御部２４は、任意の入力デー
タを被診断回路２２に入力した場合に、信号記憶回路２
３に一時保持された入力データに基づいて被診断回路２
２から出力されると予測される出力データ（基準デー
タ）を算出する算出プログラムを有しており、実際に被
診断回路２２へ特定の入力データを入力させた場合に算
出された基準データと、被診断回路２２から実際に出力
され、信号記憶回路２３に一時保持された出力データと
を比較する。この比較の結果、両者のデータが一致すれ
ば正常と診断し、一致しなければ異常と診断する。この
診断結果は監視制御部２４から判定信号２５として出力
され、例えば監視装置等に前記診断結果が表示される。

【０００５】以上のように、従来の自己診断装置では被
診断回路２２が扱うデータの種類に係わらず自己診断を
行うことができると共に、オンライン中であっても回路
の自己診断が可能である。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】以上のような、従来の
自己診断装置は、データが被診断回路２２に入力されて
始めて自己診断を実施するため、事前に被診断回路２２
の故障を検知できず、被診断回路２２から出力されるデ
ータにより前記出力データを利用する装置の誤動作を誘
発させる問題があった。このため、特に非同期ＴＤＭ伝
送装置のように変動があるデータ量を扱う装置において
は、一定の信頼性の確保が難しい。さらに、従来の自己
診断装置では故障が生じた場合、診断結果だけを出力と
するため、故障の改修をする場合には再現試験を実施す
る必要があり、再現性の低い事象である場合には多大な
労力と時間が必要となり経済性が著しく低下する問題が
あった。

【０００７】この発明は、以上のような問題を解決する
ためになされたものであり、被診断回路が扱うデータに
依存せずに一定の信頼性を確保すると共に、異常時の被
診断回路の出力データを保持できる自己診断装置を得る
ことを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】この発明に係る自己診断
装置は、入力された入力データを処理し、処理後のデー
タを出力データとして出力する回路ブロックと、前記回
路ブロックの処理機能の診断に用いる試験用データと、
前記回路ブロックが試験用データを正常に処理した場合
に出力データとして得られる基準データとを予め格納し
た格納手段と、実際に前記試験用データを前記回路ブロ
ックに入力した場合に前記回路ブロックから出力として
得られた試験用出力データと前記基準データとを比較し
て、一致しているか否かにより異常の有無を診断する試
験回路と、前記試験回路により診断された試験結果を記
憶する記憶手段と、前記回路ブロックへの入力データ
を、外部からの入力データまたは前記試験回路からの試
験用入力データのいずれかに切換える第１の切換手段
と、前記回路ブロックから出力された出力データを外部
へ出力する出力経路または前記試験回路へ出力する帰還
経路のいずれかに切換える第２の切換手段と、前記回路
ブロックの通常動作時には前記回路ブロックに外部から
の入力データが回路ブロックを介して外部へ出力される
よう前記第１の切換手段および第２の切換手段を切換
え、前記回路ブロックの試験実行時には前記試験回路か
らの試験用データが前記回路ブロックを介して試験回路
へ帰還するよう前記第１の切換手段および第２の切換手
段を切換える試験回路制御手段とを備えたものである。

【０００９】また、設定情報に基づいて前記回路ブロッ
クの各種設定を行う各種設定回路と、前記記憶手段に格
納された試験結果を読み出すと共に、前記各種設定回路
の設定情報を前記記憶手段に出力する監視制御装置と、
リセット信号の入力に基づいて前記記憶手段を介して前
記監視制御装置と各種設定回路との間における設定情報
の送受信を制御すると共に、前記各種設定回路による各
種設定完了を確認すると前記試験回路制御手段に通信可
能信号を出力するファームウェアとをさらに備え、前記
試験回路制御手段は、前記ファームウェアからの通信可
能信号の受信に応じて、前記試験回路からの試験用デー
タが前記回路ブロックを介して試験回路へ帰還するよう
前記第１の切換手段および第２の切換手段を切換えるも
のである。

【００１０】また、前記回路ブロックは、受信した入力
データをフレーム毎に抽出し、フレーム形式に変換する
フレーム抽出回路と、前記フレーム抽出回路によりフレ
ーム形式に変換された上記送信フレームのパリティチェ
ックを実施し、前記送信フレームに異常があれば前記送
信フレームを破棄すると共に、前記記憶手段に異常処理
信号を出力する異常処理回路とを少なくとも有し、前記
格納手段は、前記異常処理回路により異常処理信号が出
力される条件を備えた異常処理試験用データをさらに格
納し、前記試験回路は、前記試験用出力データと前記基
準データとを比較して異常の有無を診断した後、前記異
常処理試験用データを前記フレーム抽出回路へ入力し、
前記異常処理回路からの異常処理信号の受信の有無によ
り異常を診断するものである。

【００１１】また、前記回路ブロックは、複数段のブロ
ックから構成され、前記第１の切換手段を介した入力用
データを入力とし、前記回路ブロックの入力側から出力
側にかけて階層的に前記複数段ブロックの間毎に切換え
て出力する第３の切換手段をさらに備え、前記試験回路
は、診断結果が正常となるまで繰り返して前記試験用デ
ータを前記第１の切換手段を介して第３の切換手段に入
力するものである。

【００１２】また、前記回路ブロックは、複数段のブロ
ックから構成され、該複数段の各ブロックから出力され
る出力フレームを一時的に格納するフレーム整列バッフ
ァをさらに備え、前記フレーム整列バッファは、格納さ
れた複数の出力フレームからなる試験用出力データを順
に前記試験回路に出力させるものである。

【００１３】

【発明の実施の形態】実施の形態１．図１は、この発明
の実施の形態１に係る自己診断回路部を含む受信データ
制御回路の構成図である。図１において、１は非同期通
信データをＴＤＭ方式で搬送する非同期ＴＤＭ伝送装
置、２は外部からの送信データを搬送するための光信号
線、３は光信号線２により搬送される送信データを光信
号から電気信号に変換する光／電気変換回路、４は電気
信号に変換された送信データを一時格納するバッファで
ある。

【００１４】また、６はバッファ４から受け取った送信
データをフレーム形式に変換し、他のフレームフォーマ
ットに変換する受信フレーム制御部、７はバッファ４の
記憶領域を監視し、この記憶領域に余裕があり、かつ前
の試験から一定時間経過している場合にバッファ４に一
時格納されている送信データの出力を中止した後、受信
フレーム制御部６に対して処理機能試験を開始するため
の試験開始信号を出力する試験回路制御部である。

【００１５】また、８は試験回路制御部７からの試験開
始信号を受け取り、図示しないメモリ等の格納手段に格
納された試験用データを受信フレーム制御部６に送出す
ることにより、受信フレーム制御部６の処理機能試験を
実施する試験回路、５Ａは入力接点ａ若しくは入力接点
ｂを試験回路制御部７からの前記試験開始信号の有無に
より選択し、出力接点ｃに入力接点ａ、もしくは入力接
点ｂから入力された入力データを出力するセレクタ
（Ａ）、５Ｂはセレクタ（Ａ）５Ａとは逆に入力接点ｄ
から入力された入力データを試験回路制御部７からの試
験開始信号の有無により選択し、出力接点ｅもしくは出
力接点ｆに出力するセレクタ（Ｂ）である。

【００１６】さらに、９は試験回路８により得られた試
験結果に基づき診断した異常の有無を示す診断結果情
報、及び受信フレーム制御部６により試験用データから
変換された試験用フレームを一時的に保持するレジス
タ、１０は試験回路８がレジスタ９内に保持した領域を
一定周期毎に読み出す監視装置、１１は受信フレーム制
御部６から出力された送信フレームを搬送する出力信号
線である。

【００１７】図２は受信フレーム制御部６の詳細な構成
を示す構成図であり、図２において６１はセレクタ
（Ａ）５Ａから受け取った送信データをフレーム毎に抽
出し、フレーム形式に変換するフレーム抽出回路、６２
はフレーム抽出回路６１によってフレーム形式に変換さ
れた送信フレームのパリティチェックを実施し、送信フ
レームに異常があれば送信フレームを破棄する異常処理
回路、６３は異常処理回路６２から受け取った送信フレ
ームを他のフレームフォーマットに変換するフォーマッ
ト変換回路である。

【００１８】次に、上記構成における本実施の形態１に
係る自己診断装置の動作について説明する。はじめに、
図１における受信フレーム制御部６の動作の概要を説明
する。光信号線２を介して光／電気変換回路３に入力さ
れた送信データは、光信号から電気信号に変換され、電
気信号に変換された送信データはバッファ４に一時格納
される。ここで、もし受信フレーム制御部６の設定が通
常モードであれば、試験回路制御部７は、試験開始信号
を出力せず、セレクタ（Ａ）５Ａの接続をａ−ｃに保持
し、セレクタ（Ｂ）５Ｂの接続をｄ−ｅに保持する。し
たがって、バッファ４に格納された送信データは受信フ
レーム制御部６を介して送信フレームとして出力され
る。

【００１９】一方、もし受信フレーム制御部６の設定が
試験モードであれば試験開始信号がセレクタ（Ａ）５
Ａ，セレクタ（Ｂ）５Ｂへ出力され、セレクタ（Ａ）５
Ａの接続をｂ−ｃに保持し、セレクタ（Ｂ）５Ｂの接続
をｄ−ｆに保持する。したがって、バッファ４に格納さ
れた送信データは、試験回路８、試験回路制御部７、レ
ジスタ９を含む自己診断回路部によって試験され、診断
結果がレジスタ９に保持され、レジスタ９に保持された
診断結果を監視装置１０が読み出すことにより診断結果
を確認する。

【００２０】ここで、通常モードとは、バッファ４から
出力された送信データを受信フレーム制御部６に対して
入力し、受信フレーム制御部６を介して出力された送信
フレームを出力信号線１１に送出する構成をとり、一
方、試験モードとは試験回路８から送出した試験用デー
タが受信フレーム制御部６を介し、出力された試験用フ
レームが再び試験回路８に戻る構成をとる。

【００２１】次に、図３は、この発明の自己診断のシー
ケンスを説明する図である。以下、図３を用いて自己診
断回路部の詳細について説明する。図３において、図１
及び図２と同一の符号は同一もしくは相当の部分を表わ
し、ステップＳ１〜Ｓ１３までは各回路の動作状態を表
す。ここでは、セレクタ（Ａ）５Ａに対する自己診断シ
ーケンスを説明しているが、セレクタ（Ｂ）５Ｂに対す
る自己診断シーケンスも同様に行われる。試験回路制御
部７は以前に実行した自己診断の終了後一定時間経過
し、かつバッファ４の記憶領域に余裕があるという２つ
の条件を満足した時点でステップＳ１に移る。

【００２２】バッファ４に対する自己診断シーケンスと
して、ステップＳ１にて、試験回路制御部７が試験開始
信号をバッファ４に対して出力し、バッファ４の記憶領
域に試験開始信号が格納され、バッファ４からの送信デ
ータの出力を停止する。次に、ステップＳ２では、バッ
ファ４は送信データの出力が停止されたことを試験回路
制御部７に対して通知する。続いて、ステップＳ３に
て、試験回路制御部７は、セレクタ（Ａ）５Ａに対して
通常モード時の接続ａ−ｃから試験モード時の接続ｂ−
ｃとなるように接点を切換える命令を通知する。次に、
ステップＳ４にて、セレクタ（Ａ）５Ａが試験モード時
の接点に切換えを完了したことを試験回路制御部７に対
して通知する。

【００２３】続いて、ステップＳ５にて、試験回路８に
対する自己診断シーケンスとして、試験回路制御部７が
試験回路８に対して試験の実施を命令し、試験回路８か
ら試験用データが送出され、試験回路８は受信フレーム
制御部６を介して出力された試験用フレームを受け取
る。試験用データを基に正常に動作した場合に受信フレ
ーム制御部６から得られるフレームと比較し、試験用フ
レームが一致した場合に正常であると診断する。ここ
で、試験用データを基に正常に動作した場合に、受信フ
レーム制御部６から得られるフレームを正常基準値とす
る。

【００２４】次に、ステップＳ６にて、レジスタ９に対
する自己診断シーケンスとして、試験回路８がレジスタ
９に対して試験の結果得られた診断結果と試験用フレー
ムを送出する。次に、ステップＳ７にて、レジスタ９が
診断結果と試験用フレームをレジスタ９内の記憶領域に
書き込む。次いで、ステップＳ８にて、レジスタ９が書
込みの完了を試験回路制御部７に対して通知する。

【００２５】続いて、ステップＳ９にて、セレクタ
（Ａ）５Ａに対する自己診断シーケンスとして、試験回
路制御部７がセレクタ（Ａ）５Ａに対して接点を通常モ
ード時の接点に切換える命令を通知する。次に、ステッ
プＳ１０にて、セレクタ（Ａ）５Ａが接点切り替え完了
を試験回路制御部７に通知する。

【００２６】次いで、ステップＳ１１にて、バッファ４
に対する自己診断シーケンスとして、試験回路制御部７
がバッファ４に対してバッファ４内に格納されている送
信データの出力を可能にする。次に、ステップＳ１２に
て、バッファ４が試験回路制御部７に対して前記送信デ
ータの出力が可能となったことを通知する。最後に、ス
テップＳ１３に移り、試験回路制御部はタイマーをセッ
トし、試験条件が満たされる時期を待ち、もし、試験条
件が満たされたなら再びステップＳ１に戻りステップＳ
１〜Ｓ１３を同様に実施する。

【００２７】以上のように、本実施の形態１に係る自己
診断装置によれば、不定期にデータが到達する非同期Ｔ
ＤＭ伝送装置においても、受信データ制御回路部に対す
る処理機能試験を能動的に実施することできるため、帯
域利用効率に関係なく自己の正常性を確認できる。か
つ、異常時の試験フレームの確認が可能なため、故障の
改修を迅速に行うこともできる。

【００２８】実施の形態２．本実施の形態２では非同期
ＴＤＭ伝送装置１に含まれる全回路がリセットされた
後、通信可能となった時期を試験回路制御部７の試験開
始条件とする。

【００２９】図４はこの発明の実施の形態２に係る自己
診断回路部を含む受信データ制御回路の構成図であり、
図１、図２と同一の符号は同一もしくは相当の部分を表
す。図４において１２は試験回路８がレジスタ９内に保
持した領域を一定周期毎に読み出すと共に各種設定回路
１４の設定情報をレジスタ９に送出する監視制御装置、
１３はレジスタ９を介し、監視制御装置１２と各種設定
回路１４の間で各種設定情報等を送受信させるＦ／Ｗ
（ファームウェア）、１４は監視制御装置１２から送出
される各種設定を動作するための必要条件とする各種設
定回路である。

【００３０】次に、本実施の形態２に係る自己診断装置
の動作について説明する。はじめに、図４における受信
フレーム制御部６の動作の概要を説明する。非同期ＴＤ
Ｍ伝送装置１において、リセットが掛けられた後、レジ
スタ９、監視制御装置１２、各種設定回路１４、Ｆ／Ｗ
１３によって各種設定が行われる。本動作の詳細につい
ては後述する。各種設定が行われた後、Ｆ／Ｗ１３が通
信可能であることを通知する通信可能信号を試験回路制
御部７に対して出力し、自己診断回路部が作動する。な
お、自己診断回路部の動作は上記実施の形態１と同様で
ある。

【００３１】次に、図５を用いて、リセットが掛けられ
てから通信可能信号がＦ／Ｗ１３より出力されるまでの
動作の詳細について説明する。図５はリセットが掛けら
れてから試験開始条件が出力されるまでを表したシーケ
ンス図である。図５において、図１〜図４までと同一の
符号は、同一もしくは相当の部分を表す。なお、ステッ
プＳ５１〜Ｓ５８までは各回路の動作状態を表す。

【００３２】はじめに、前記リセットが実施された時、
ステップＳ５１にて、Ｆ／Ｗ１３は初期化される。次
に、ステップＳ５２に移り、監視制御装置１２に対する
シーケンスとして、Ｆ／Ｗ１３が動作可能となった時点
で監視制御装置１２に対して動作可能となったことを通
知する。次に、ステップＳ５３にて、監視制御装置１２
は各種設定回路１４に対する各種設定情報をレジスタ９
に対して書き込む。次いで、ステップＳ５４にて、Ｆ／
Ｗ１３がレジスタ９に書き込まれた各種設定情報を読み
込む。

【００３３】続いて、ステップＳ５５に移り、各種設定
回路１４に対するシーケンスとして、Ｆ／Ｗ１３がレジ
スタ９から読み込んだ前記各種設定情報を各種設定回路
１４に送出する。次いで、ステップＳ５６にて、各種設
定回路１４はＦ／Ｗ１３より受信した各種設定情報を自
身が有しているレジスタ内に書き込む。次に、ステップ
Ｓ５７にて、各種設定回路１４がＦ／Ｗ１３に対して各
種設定回路１４内のレジスタへの書込みが完了したこと
を通知する。そして、ステップＳ５８に移り、Ｆ／Ｗ１
３が試験回路制御部７に対して通信可能であることを通
知する。この通信可能であることを表す信号を試験回路
制御部７が受け取ることにより試験を開始する。

【００３４】ここでは、リセット後にＦ／Ｗ１３が通信
可能信号を試験回路制御部７に対して送出するまでの過
程を説明したが、本実施の形態２は一実施の形態にすぎ
ず、他の過程によって生成された通信可能状態を表す信
号であっても良い。

【００３５】以上のように、リセット後の通信可能状態
を表す信号を実施の形態１で用いた試験回路制御部７の
試験開始条件に加えることにより、例えば、電源を投入
することにより装置が起動した場合、リセットによる初
期化を行った後、通信可能信号を出力するようにしてお
けば、伝送装置を起動する度に処理機能試験を自動的に
行うことができ、予め装置の通信機能の信頼性を確保す
ることができる。さらに、運用中の信頼性を実施の形態
１によって確保できることはいうまでもない。

【００３６】実施の形態３．上記実施の形態１及び２に
おいては、異常処理回路６２における異常処理機能に対
する試験が行われない難点があった。本実施の形態３は
上記実施の形態１及び２において処理機能試験を実施し
た上で、更に異常処理回路６２の処理機能試験を実施す
る形態である。

【００３７】図６は本実施の形態３に関する一実施の形
態であり、図１，２，４と同一の符号は同一もしくは相
当の部分を表す。図６において、１５は異常処理回路６
２が試験回路８から受け取った試験用データを処理した
診断結果をレジスタ９へ搬送するための異常処理結果出
力線であり、１６は試験回路８がレジスタ９に対して、
レジスタ９に書き込まれた前記診断結果を読み出すため
の異常処理検知信号線である。

【００３８】次に、本実施の形態３に係る自己診断装置
の動作について説明する。はじめに、通常モードにおけ
る異常処理回路６２の動作について説明する。通常モー
ドにおける異常処理回路６２は、異常なフレームを検出
した場合に、異常フレームを破棄すると共に異常処理出
力線１５を介してレジスタ９に対して異常処理を実行し
たこと表す信号（異常処理信号）を書き込む動作を行
う。

【００３９】次に、本実施の形態３における試験回路８
と異常処理回路６２の動作について説明する。図６にお
いて、自己診断回路部が図３におけるステップＳ８を実
行した後、本実施の形態３では引き続き試験用データを
受信フレーム制御部に対して送出する。このときの試験
用データは異常処理回路６２が想定する異常処理が発動
される条件を備えた試験用データ（以下「異常処理試験
用データ」という。）とする。異常処理試験用データが
受信フレーム制御部６に入力された結果、異常処理が正
常に行われた場合、異常処理信号が通常モードと同様に
レジスタ９の同領域に書き込まれ、フレームは破棄され
る。

【００４０】また、試験回路８は異常処理検知信号線１
６を介し、レジスタ９に書き込まれた異常処理信号を読
み出し、この異常処理信号が有意になっている場合を正
常と診断し、この信号が無意になっている場合を異常と
診断する。さらに、試験回路８は診断結果をレジスタ９
に書き込み、レジスタ９は試験回路制御部７に対して書
き込み完了を通知する。その後、図３におけるステップ
Ｓ９に戻り、ステップＳ９〜Ｓ１３を実行し試験を終了
する。

【００４１】以上のように、上記実施の形態１及び２に
おける試験回路８による試験に本実施の形態３の試験回
路８による異常処理回路６２に対する試験を追加するこ
とにより、基本処理機能の試験のみならず、異常処理機
能の試験をも行うことができる。

【００４２】実施の形態４．上記実施の形態１および２
においては、試験の結果に異常があった場合に故障箇所
の特定ができないという難点があった。本実施の形態４
では、受信フレーム制御部６に対して階層的に試験用デ
ータを送出することにより、故障箇所の特定を行う実施
の形態である。

【００４３】図７は本実施の形態４に係る自己診断装置
の一実施の形態であり、図１，２，４，６と同一の符号
は同一もしくは相当の部分を表す。図７において、１７
は試験回路８がセレクタ（Ｃ）５Ｃの出力を切換える制
御信号を搬送するためのセレクタ制御信号線であり、５
Ｃはセレクタ（Ａ）５Ａからの出力を入力として受け取
り、試験回路８からの制御信号に基づき、セレクタ
（Ｃ）５Ｃの出力端子である５ｃ１，５ｃ２，５ｃ３の
うちいずれかを選択して出力するセレクタ（Ｃ）であ
る。ここで、セレクタ（Ｃ）５Ｃの初期の選択出力端子
は５ｃ１とする。

【００４４】次に、本実施の形態４に係る自己診断装置
の動作について説明する。はじめに、図７における試験
回路８の動作の概要について説明する。試験開始条件は
上記実施の形態１と同様であり、試験回路８が受信フレ
ーム制御部６に対して試験用データを送出するまでのシ
ーケンスは図３におけるステップＳ１〜Ｓ５までと同様
である。

【００４５】ここで、上記実施の形態１の場合、試験結
果によらず、この試験結果をレジスタ９に送出するが、
本実施の形態４では試験結果が異常である場合にはセレ
クタ（Ｃ）５Ｃの出力端子を出力端子５ｃ１から出力端
子５ｃ２に切換え、試験回路８は試験用データを再度送
信して試験を行う。この時、再び試験結果が異常である
場合は、セレクタ（Ｃ）５Ｃの出力端子５ｃ２を出力端
子５ｃ３へ切換え、同様に試験回路８が試験用データを
送信し試験を行う。一方、セレクタ（Ｃ）５Ｃの出力端
子が５ｃ２を選択している時に試験結果が正常であった
場合には、セレクタ（Ｃ）５Ｃにおいて選択されている
出力端子番号から故障箇所を特定する。その結果をレジ
スタ９に送出し、その後のシーケンスは図３のステップ
Ｓ７〜Ｓ１１に基づき試験を終了する。

【００４６】次に、本実施の形態４に係る試験回路８が
異常箇所を特定する詳細なシーケンスについて、図８を
用いて説明する。図８は本実施の形態４に係る試験回路
８が試験用データを送信することによりフレーム制御部
６の処理機能を試験するシーケンスをフローチャートに
より示した図である。

【００４７】はじめに、試験回路８は試験回路制御部７
から試験実施命令を受け取ることにより試験用データを
送出する（ステップ１８１）。試験回路８が送出した試
験用データは受信フレーム制御部６を介し、試験回路８
ヘ試験用フレームとして帰還される。帰還された試験用
フレームから受信フレーム制御部６の正常性を診断する
（ステップ１８２）。

【００４８】次に、ステップ１８３に移り、ステップ１
８２による診断の結果が正常でない場合はステップ１８
４に移り、セレクタ（Ｃ）５Ｃの出力端子５ｃｎがｎ＝
１であればｎ＝２とし（ステップ１８５）、ｎ＝１でな
いならｎの値に１を加算する（ステップ１８６）。ステ
ップ１８５もしくはステップ１８６を実行した後、ステ
ップ１８１に戻り本フローチャートを繰り返す。

【００４９】また、ステップ１８３において、試験結果
が正常である場合には、ステップ１８７に移りセレクタ
（Ｃ）５Ｃの出力端子５ｃｎがｎ＝１であればフレーム
制御部に異常がなかったと診断し、その結果をレジスタ
９に送出する。その後のシーケンスは図３におけるステ
ップＳ７〜Ｓ１３の通りである。また、ステップ１８７
において、ｎ＝１でないなら、その時のｎの値から異常
個所を特定する。例えば、その時のｎの値がｎ＝３であ
れば、図７における受信フレーム制御部６の故障箇所は
異常処理回路６２であると特定できる。このように特定
した異常箇所の情報は、レジスタ９に送出され、その後
のシーケンスは図３におけるステップＳ７〜Ｓ１３の通
りである。

【００５０】以上のように、レジスタ９に格納された情
報は監視装置１０により読み出され、内容を確認するこ
とができる。本実施の形態４ではセレクタ（Ｃ）５Ｃの
出力端子を３端子としたが、被試験部内における測定箇
所に応じて端子数の加減を行い、図８と同様のシーケン
スにより本実施の形態４と同様の効果を得られることは
いうまでもない。

【００５１】したがって、本実施の形態４に係る自己診
断装置によれば、被試験部の故障箇所の特定ができるた
め、故障箇所の改修を迅速に実施することができる

【００５２】実施の形態５．上記実施の形態４では故障
箇所の特定をするまでに同じ試験を繰り返す必要があり
測定箇所の増大により、試験回路８が要する処理時間が
増大し、通常モードの動作の妨げになると共に消費電力
が増大する難点があった。本実施の形態５に係る自己診
断装置では、試験回路８による一度の試験により測定箇
所の全試験データを連続的に試験回路８に吸い上げ、試
験データを連続的に診断する実施の形態である。

【００５３】図９は本実施の形態５に係る自己診断装置
の一実施の形態であり、図１，２，４，６，７と同一の
符号は同一もしくは相当の部分を表す。図９において、
１９は各被試験回路（フレーム抽出回路６１、異常処理
回路６２、フォーマット変換回路６３）が出力するフレ
ームを整列するために、一時的に格納するフレーム整列
バッファである。なお、フレーム整列バッファ１９は試
験モードが選択された瞬間に初期化される構成とする。

【００５４】５Ｄは試験回路制御部７からの接点切替信
号によりｇ−ｌ間の接続とｈ−ｋ間の接続とを切り替え
るセレクタ（Ｄ）５Ｄである。セレクタ（Ｄ）５Ｄは通
常モードでは、ｈ−ｋ間が接続されている経路を選び、
試験モードではｇ−ｌ間が接続されている経路を選択す
る。

【００５５】次に、図９を用いて本実施の形態５に係る
自己診断装置の動作について説明する。試験開始条件は
上記実施の形態１と同様であり、試験回路８が受信フレ
ーム制御部６に対して試験用データを送出するまでのシ
ーケンスは図３におけるステップＳ１〜Ｓ５までと同様
である。

【００５６】試験回路８が受信フレーム制御部６に対し
て試験用データを送出すると、試験用データは受信フレ
ーム制御部６内の回路を順に通過していく。その際の各
被試験回路の出力フレームをフレーム整列バッファ１９
に送出し、フレーム整列バッファ１９に格納されたフレ
ームを試験回路８に対して順に一つづつ送出していく。
試験回路８はフレーム整列バッファ１９から送られてき
たフレームを順に診断し、各診断結果をレジスタ９に送
出する。その後のシーケンスは図３におけるステップＳ
７〜Ｓ１３の通りである。レジスタ９に格納された試験
結果は監視装置１０により読み出され、内容を確認する
ことができる。

【００５７】以上のように、本実施の形態５に係る自己
診断装置によれば、試験回路８は一度に全被測定回路の
試験を行うことができ、例えば被測定回路の増大に対し
て、処理時間、消費電力を上記実施の形態４に比べ抑制
することができる。

【００５８】なお、上記実施の形態１〜５における説明
では、この発明を受信データ制御回路部６に利用する場
合を例示したが、例えば他の制御回路部に応用したとし
ても同様の効果が得られることはいうまでもない。

【００５９】

【発明の効果】この発明に係る自己診断装置は、入力さ
れた入力データを処理し、処理後のデータを出力データ
として出力する回路ブロックと、試験用データと基準デ
ータとを予め格納した格納手段と、実際に試験用データ
を回路ブロックに入力した場合に出力として得られた試
験用出力データと前記基準データとを比較して、一致し
ているか否かにより異常の有無を診断する試験回路と、
試験結果を記憶する記憶手段と、回路ブロックへの入力
データを切換える第１の切換手段と、回路ブロックから
出力された出力データの出力経路を切換える第２の切換
手段と、回路ブロックの通常動作時と試験実行時とで前
記第１の切換手段および第２の切換手段を切換える試験
回路制御手段とを備えたことにより、不定期に到達する
データを扱う回路ブロックであっても自己診断ができる
ので、常に一定の信頼性を確保することができる。さら
に、自己診断において異常を検知した場合に異常のあっ
た試験用フレームを記憶手段に残すことができるので、
再現試験を行うことなく故障の発生した状態を前記異常
試験用フレームから推測することができる。

【００６０】また、設定情報に基づいて回路ブロックの
各種設定を行う各種設定回路と、記憶手段に格納された
試験結果を読み出すと共に、各種設定回路の設定情報を
記憶手段に出力する監視制御装置と、リセット信号の入
力に基づいて記憶手段を介して監視制御装置と各種設定
回路との間における設定情報の送受信を制御すると共
に、各種設定回路による各種設定完了を確認すると試験
回路制御手段に通信可能信号を出力するファームウェア
とをさらに備え、試験回路制御手段は、ファームウェア
からの通信可能信号の受信に応じて、試験回路からの試
験用データが回路ブロックを介して試験回路へ帰還する
よう第１の切換手段および第２の切換手段を切換えるこ
とにより、伝送装置が起動した場合、リセットによる初
期化を行った後通信可能信号を出力するようにしておけ
ば、伝送装置を起動する度に処理機能試験を自動的に行
うことができ、予め伝送装置の通信機能の信頼性を確保
することができる。

【００６１】また、回路ブロックは、受信した入力デー
タをフレーム毎に抽出し、フレーム形式に変換するフレ
ーム抽出回路と、フレーム形式に変換された送信フレー
ムのパリティチェックを実施し、送信フレームに異常が
あれば送信フレームを破棄すると共に、記憶手段に異常
処理信号を出力する異常処理回路とを少なくとも有し、
格納手段は異常処理回路により異常処理信号が出力され
る条件を備えた異常処理試験用データをさらに格納し、
試験回路は試験用出力データと基準データとを比較して
異常の有無を診断した後、異常処理試験用データをフレ
ーム抽出回路へ入力し、異常処理回路による異常処理信
号の受信の有無によって異常を診断することにより、基
本処理機能の試験のみならず、異常処理機能の試験をも
行うことができる。

【００６２】また、回路ブロックは、複数段のブロック
から構成され、第１の切換手段を介した入力用データを
入力とし、回路ブロックの入力側から出力側にかけて階
層的に前記複数段ブロックの間毎に切換えて出力する第
３の切換手段をさらに備え、試験回路は、診断結果が正
常となるまで繰り返して試験用データを第１の切換手段
を介して第３の切換手段に入力することにより、回路ブ
ロックの故障箇所の特定ができるため、故障箇所の改修
が迅速に実施することができる。

【００６３】また、回路ブロックは、複数段のブロック
から構成され、該複数段の各ブロックから出力される出
力フレームを一時的に格納するフレーム整列バッファを
さらに備え、フレーム整列バッファは、格納された複数
の出力フレームからなる試験用出力データを順に試験回
路に出力させることにより、試験回路は一度に回路ブロ
ック内の全被測定回路の試験を行うことができ、例えば
被測定回路の増大に対して、処理時間、消費電力を抑制
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 この発明の実施の形態１に係る自己診断回路
部を含む受信データ制御回路部の構成図である。

【図２】 この発明の実施の形態１に係る受信フレーム
制御部の構成図である。

【図３】 この発明の実施の形態１に係る自己診断回路
部の動作シーケンスを示す図である。

【図４】 この発明の実施の形態２に係る自己診断回路
部を含む受信データ制御回路部の構成図である。

【図５】 この発明の実施の形態２に係るＦ／Ｗから試
験開始信号が出力されるまでの動作シーケンスを示す図
である。

【図６】 この発明の実施の形態３に係る自己診断回路
部を含む受信データ制御回路部の構成図である。

【図７】 この発明の実施の形態４に係る自己診断回路
部を含む受信データ制御回路部の構成図である。

【図８】 この発明の実施の形態４に係る試験回路が試
験用データを送信する際のフローチャートである。

【図９】この発明の実施の形態５に係る自己診断回路部
を含む受信データ制御回路部の構成図である。

【図１０】 従来の自己診断装置の機能ブロック図であ
る。

【符号の説明】

１ 非同期ＴＤＭ伝送装置、２ 光信号線、３ 光・電
気変換回路、４ バッファ、５Ａ セレクタ、５Ｂ セ
レクタ、６ 受信フレーム制御部、７ 試験回路制御
部、８ 試験回路、９ レジスタ、１０ 監視装置、１
１ 出力信号線、１２ 監視制御装置、６１ フレーム
抽出回路、６２ 異常処理回路、６３ フォーマット変
換回路。

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 入力された入力データを処理し、処理後
   のデータを出力データとして出力する回路ブロックと、 前記回路ブロックの処理機能の診断に用いる試験用デー
   タと、前記回路ブロックが試験用データを正常に処理し
   た場合に出力データとして得られる基準データとを予め
   格納した格納手段と、 実際に前記試験用データを前記回路ブロックに入力した
   場合に前記回路ブロックから出力として得られた試験用
   出力データと前記基準データとを比較して、一致してい
   るか否かにより異常の有無を診断する試験回路と、 前記試験回路により診断された試験結果を記憶する記憶
   手段と、 前記回路ブロックへの入力データを、外部からの入力デ
   ータまたは前記試験回路からの試験用入力データのいず
   れかに切換える第１の切換手段と、 前記回路ブロックから出力された出力データを外部へ出
   力する出力経路または前記試験回路へ出力する帰還経路
   のいずれかに切換える第２の切換手段と、 前記回路ブロックの通常動作時には前記回路ブロックに
   外部からの入力データが回路ブロックを介して外部へ出
   力されるよう前記第１の切換手段および第２の切換手段
   を切換え、前記回路ブロックの試験実行時には前記試験
   回路からの試験用データが前記回路ブロックを介して試
   験回路へ帰還するよう前記第１の切換手段および第２の
   切換手段を切換える試験回路制御手段とを備えたことを
   特徴とする自己診断装置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の自己診断装置におい
   て、 設定情報に基づいて前記回路ブロックの各種設定を行う
   各種設定回路と、 前記記憶手段に格納された試験結果を読み出すと共に、
   前記各種設定回路の設定情報を前記記憶手段に出力する
   監視制御装置と、 リセット信号の入力に基づいて前記記憶手段を介して前
   記監視制御装置と各種設定回路との間における設定情報
   の送受信を制御すると共に、前記各種設定回路による各
   種設定完了を確認すると前記試験回路制御手段に通信可
   能信号を出力するファームウェアとをさらに備え、 前記試験回路制御手段は、前記ファームウェアからの通
   信可能信号の受信に応じて、前記試験回路からの試験用
   データが前記回路ブロックを介して試験回路へ帰還する
   よう前記第１の切換手段および第２の切換手段を切換え
   ることを特徴とする自己診断装置。
3. 【請求項３】 請求項１または２に記載の自己診断制御
   装置において、 前記回路ブロックは、受信した入力データをフレーム毎
   に抽出し、フレーム形式に変換するフレーム抽出回路
   と、前記フレーム抽出回路によりフレーム形式に変換さ
   れた上記送信フレームのパリティチェックを実施し、前
   記送信フレームに異常があれば前記送信フレームを破棄
   すると共に、前記記憶手段に異常処理信号を出力する異
   常処理回路とを少なくとも有し、 前記格納手段は、前記異常処理回路により異常処理信号
   が出力される条件を備えた異常処理試験用データをさら
   に格納し、 前記試験回路は、前記試験用出力データと前記基準デー
   タとを比較して異常の有無を診断した後、前記異常処理
   試験用データを前記フレーム抽出回路へ入力し、前記異
   常処理回路からの異常処理信号の受信の有無により異常
   を診断することを特徴とする自己診断装置。
4. 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれかに記載の自己
   診断装置において、 前記回路ブロックは、複数段のブロックから構成され、 前記第１の切換手段を介した入力用データを入力とし、
   前記回路ブロックの入力側から出力側にかけて階層的に
   前記複数段ブロックの間毎に切換えて出力する第３の切
   換手段をさらに備え、 前記試験回路は、診断結果が正常となるまで繰り返して
   前記試験用データを前記第１の切換手段を介して第３の
   切換手段に入力することを特徴とする自己診断装置。
5. 【請求項５】 請求項１乃至３のいずれかに記載の自己
   診断装置において、 前記回路ブロックは、複数段のブロックから構成され、
   該複数段の各ブロックから出力される出力フレームを一
   時的に格納するフレーム整列バッファをさらに備え、 前記フレーム整列バッファは、格納された複数の出力フ
   レームからなる試験用出力データを順に前記試験回路に
   出力させることを特徴とする自己診断装置。