JP2003157983A - 発光装置およびその作製方法 - Google Patents
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Abstract
と共に、極性の異なる電圧が交互に印加された場合のい
ずれにおいても常に発光が得られる発光素子およびその
作製方法を提供する。 【解決手段】 陽極、有機化合物層、および陰極からな
る第1の発光素子107、および第2の発光素子108
が形成され、これらの発光素子は、同一の有機化合物層
104を挟んで形成され、第1の発光素子の陽極102
と第2の発光素子の陽極106、および第1の発光素子
の陰極105と第2の発光素子の陰極103は、有機化
合物層104を挟んでそれぞれ反対側に形成されてい
る。なお、交流駆動により逆極性の電圧が交互に印加さ
れるため、第1の発光素子107と第2の発光素子10
8のいずれか一方を常に発光させることができる。
Description
機化合物を含む膜(以下、「有機化合物層」と記す)を
設けた素子に電界を加えることで、蛍光又は燐光が得ら
れる発光素子を用いた発光装置及びその作製方法に関す
る。なお、本明細書中における発光装置とは、画像表示
デバイス、発光デバイス、もしくは光源を指す。また、
発光素子にコネクター、例えばFPC(Flexible printed
circuit)もしくはTAB(Tape Automated Bonding)テー
プもしくはTCP(Tape Carrier Package)が取り付けら
れたモジュール、TABテープやTCPの先にプリント配線板
が設けられたモジュール、または発光素子にCOG(Chip
On Glass)方式によりIC(集積回路)が直接実装された
モジュールも全て発光装置に含むものとする。
ることにより発光する素子である。その発光機構は、電
極間に有機化合物層を挟んで電圧を印加することによ
り、陰極から注入された電子および陽極から注入された
正孔が有機化合物層中で再結合して、励起状態の分子
(以下、「分子励起子」と記す)を形成し、その分子励
起子が基底状態に戻る際にエネルギーを放出して発光す
ると言われている。
化合物層は1μmを下回るほどの薄膜で形成される。ま
た、発光素子は、有機化合物層そのものが光を放出する
自発光型の素子であるため、従来の液晶ディスプレイに
用いられているようなバックライトも必要ない。したが
って、発光素子は極めて薄型軽量に作製できることが大
きな利点である。
機化合物層において、キャリアを注入してから再結合に
至るまでの時間は、有機化合物層のキャリア移動度を考
えると数十ナノ秒程度であり、キャリアの再結合から発
光までの過程を含めてもマイクロ秒以内のオーダーで発
光に至る。したがって、非常に応答速度が速いことも特
長の一つである。
あるため、直流電圧での駆動(直流駆動)が可能であ
り、ノイズが生じにくい。駆動電圧に関しては、まず有
機化合物層の厚みを100nm程度の均一な超薄膜とし、ま
た、有機化合物層に対するキャリア注入障壁を小さくす
るような電極材料を選択し、さらにはヘテロ構造(積層
構造)を導入することによって、5.5Vで100cd/m2の十分
な輝度が達成されたという報告がある(文献1:C. W.
Tang and S. A. VanSlyke, "Organic electroluminesce
nt diodes", Applied Physics Letters, vol. 51, No.1
2, 913-915 (1987))。
電圧駆動などの特性から、発光素子は次世代のフラット
パネルディスプレイ素子として注目されている。また、
自発光型であり視野角が広いことから、視認性も比較的
良好であり、電気器具の表示画面に用いる素子として有
効と考えられている。
光素子において、有機化合物層に常に一定方向のバイア
スが印加される直流駆動を用いる場合には、有機化合物
層にチャージが蓄積されるため、輝度が低下するといっ
た問題が生じる。
正孔注入層を挿入し、さらに直流駆動ではなく矩形波の
交流駆動にすることによって、輝度の低下を抑えること
ができるという報告がある((文献1:S. A. VanSlyk
e, C. H. Chen, and C. W. Tang, "Organic electrolum
inescent devices with improved stability", Appl.Ph
ys.Lett.,69,(15)2160-2162(1996))。
エネルギー障壁の緩和と、交流駆動によって有機化合物
層に極性の異なる電圧が交互に印加されるため、有機化
合物層の内部におけるチャージの蓄積が緩和されるため
に、輝度の低下を抑えることができるという実験的な裏
付けであり、発光素子の素子寿命を向上させるために
は、交流駆動が適していることを示唆するものである。
る場合において、発光素子は通常、陽極、有機化合物
層、および陰極からなる積層構造を有しているため陽極
側から正の電圧(順バイアス)が印加され、陰極側に負
の電圧(逆バイアス)が印加されたときにのみ電流が流
れ、発光が得られる。つまり、交流駆動を用いた場合に
は、逆バイアスが印加されたときには、発光素子は発光
しないことになる。
表示が暗くなるため、所定の輝度を維持しようと高い電
圧を印加すると、発光素子の劣化が進むという問題が生
じる。
して交流駆動を用いると共に、極性の異なる電圧が交互
に印加された場合のいずれにおいても常に発光が得られ
る発光素子およびその作製方法を提供することを目的と
する。
化合物層、および陰極からなる第1の発光素子、および
第2の発光素子が形成され、これらの発光素子は、同一
の有機化合物層を挟んで、陽極、および陰極が形成さ
れ、第1の発光素子の陽極と第2の発光素子の陽極、お
よび第1の発光素子の陰極と第2の発光素子の陰極は、
有機化合物層を挟んでそれぞれ反対側に形成され、第1
の発光素子および第2の発光素子のいずれか一方によ
り、一つの階調表示を行うことを特徴とする。
り発光素子を発光させるものであり、第1の発光素子と
第2の発光素子に逆極性の電圧が交互に印加される。そ
して、正の極性の電圧(順バイアス)が印加された一方
の発光素子が発光し、負の極性の電圧(逆バイアス)が
印加された他方の発光素子は発光しない。つまり、2つ
の発光素子が印加される電圧の極性によって交互に発光
するため、発光素子を常に発光させることができる。
り有機化合物層におけるチャージの蓄積を緩和すること
ができるために、輝度の低下を抑え、素子寿命を向上さ
せることができる。さらに、本発明における発光装置
は、交流駆動の場合においても常に画素の発光素子を発
光させることができるので、直流駆動における素子劣化
を防ぐことができる一方で、直流駆動の場合と同様な階
調表示が可能となる。
1の発光素子と、第2の発光素子を有する発光装置であ
って、前記第1の発光素子は、第1の画素電極と、有機
化合物層と、第1の対向電極と、を有し、前記第2の発
光素子は、第2の画素電極と、前記有機化合物層と、第
2の対向電極と、を有し前記第1の画素電極および前記
第2の対向電極は、陽極または陰極のいずれか一方であ
り、前記第2の画素電極および前記第1の対向電極は、
陽極または陰極のいずれか他方であることを特徴とする
発光装置である。
成された第1のTFTおよび第2のTFTと、前記第1
のTFTおよび前記第2のTFT上に形成された層間絶
縁膜と、前記層間絶縁膜上に形成された第1の画素電極
および第2の画素電極と、前記第1の画素電極と前記第
1のTFTとの接続部、および第2の画素電極と前記第
2のTFTとの接続部を覆って形成された絶縁膜と、前
記第1の画素電極および前記第2の画素電極上に形成さ
れた有機化合物層と、前記有機化合物層上に形成された
第1の対向電極、および第2の対向電極と、を有する発
光装置であって、前記第1の画素電極、および前記第2
の対向電極は、陽極または陰極のいずれか一方であり、
前記第2の画素電極、および前記第1の対向電極は、陽
極または陰極のいずれか他方であることを特徴とする発
光装置である。
形成された第1のTFTおよび第2のTFTと、前記第
1のTFTおよび前記第2のTFT上に形成された層間
絶縁膜と、前記層間絶縁膜上に形成された第1の画素電
極および第2の画素電極と、前記第1の画素電極と前記
第1のTFTとの接続部、および第2の画素電極と前記
第2のTFTとの接続部を覆って形成された絶縁膜と、
前記第1の画素電極および前記第2の画素電極上に形成
された有機化合物層と、前記有機化合物層上に形成され
た第1の対向電極、および第2の対向電極と、を有する
発光装置であって、前記第1のTFTおよび前記第2の
TFTは、ソース領域およびドレイン領域をそれぞれ有
し、第1の画素電極は第1の電極からなり、第2の画素
電極は第2の電極および第1の補助電極からなり、前記
第1の電極および前記第2の電極は、前記層間絶縁膜に
形成された開口部において、前記ソース領域または前記
ドレイン領域のいずれか一方と電気的に接続され、前記
第1の画素電極、および前記第2の対向電極は、陽極ま
たは陰極のいずれか一方であり、前記第2の画素電極、
および前記第1の対向電極は、陽極または陰極のいずれ
か他方であることを特徴とする発光装置である。
形成された第1のTFTおよび第2のTFTと、前記第
1のTFTおよび前記第2のTFT上に形成された層間
絶縁膜と、前記層間絶縁膜上に形成された第1の画素電
極および第2の画素電極と、前記第1の画素電極と前記
第1のTFTとの接続部、および第2の画素電極と前記
第2のTFTとの接続部を覆って形成された絶縁膜と、
前記第1の画素電極および前記第2の画素電極上に形成
された有機化合物層と、前記有機化合物層上に形成され
た第1の対向電極、および第2の対向電極と、を有する
発光装置であって、前記第1のTFTおよび前記第2の
TFTは、ソース領域およびドレイン領域をそれぞれ有
し、第1の画素電極は第1の電極からなり、第2の画素
電極は第2の電極および第1の補助電極からなり、前記
第1の電極および前記第2の電極は、前記層間絶縁膜に
形成された開口部において、前記ソース領域または前記
ドレイン領域のいずれか一方と電気的に接続され、前記
第1の電極および前記第2の電極は、陽極または陰極の
いずれか一方を形成する材料からなり、前記第1の補助
電極は、陽極または陰極のいずれか他方を形成する材料
からなることを特徴とする発光装置である。
形成された第1のTFTおよび第2のTFTと、前記第
1のTFTおよび前記第2のTFT上に形成された層間
絶縁膜と、前記層間絶縁膜上に形成された第1の画素電
極および第2の画素電極と、前記第1の画素電極と前記
第1のTFTとの接続部、および第2の画素電極と前記
第2のTFTとの接続部を覆って形成された絶縁膜と、
前記第1の画素電極および前記第2の画素電極上に形成
された有機化合物層と、前記有機化合物層上に形成され
た第1の対向電極、および第2の対向電極と、を有する
発光装置であって、第1の対向電極は第2の補助電極お
よび第3の電極からなり、第2の対向電極は第3の電極
からなり、前記第1の画素電極、および前記第2の対向
電極は、陽極または陰極のいずれか一方であり、前記第
2の画素電極、および前記第1の対向電極は、陽極また
は陰極のいずれか他方であることを特徴とする発光装置
である。
形成された第1のTFTおよび第2のTFTと、前記第
1のTFTおよび前記第2のTFT上に形成された層間
絶縁膜と、前記層間絶縁膜上に形成された第1の画素電
極および第2の画素電極と、前記第1の画素電極と前記
第1のTFTとの接続部、および第2の画素電極と前記
第2のTFTとの接続部を覆って形成された絶縁膜と、
前記第1の画素電極および前記第2の画素電極上に形成
された有機化合物層と、前記有機化合物層上に形成され
た第1の対向電極、および第2の対向電極と、を有する
発光装置であって、第1の対向電極は第2の補助電極お
よび第3の電極からなり、第2の対向電極は第3の電極
からなり、前記第3の電極は、陽極または陰極のいずれ
か一方を形成する材料からなり、前記第2の補助電極
は、陽極または陰極のいずれか他方を形成する材料から
なることを特徴とする発光装置である。
は、正孔輸送性および電子輸送性を有するバイポーラ性
の材料からなることを特徴とする。
第1の電極および第2の電極を形成し、第2の電極上の
みに第1の補助電極を蒸着法により形成した後、これら
の電極上に同一の材料で、同一の層からなる有機化合物
層を形成することができる。
表面上に第1の電極および第2の電極を形成し、前記第
2の電極上に第1の補助電極を形成し、前記第1の電
極、前記第2の電極および前記第1の補助電極上に有機
化合物層を形成し、前記有機化合物層上であって、前記
第1の電極と重なる位置に第2の補助電極を形成し、前
記有機化合物層、および前記第2の補助電極上に第3の
電極を形成する発光装置の作製方法であって、前記第1
の電極からなる第1の画素電極と、前記有機化合物層
と、前記第2の補助電極および前記第3の電極とからな
る第1の対向電極と、を有する第1の発光素子と、前記
第2の電極および前記第1の補助電極とからなる第2の
画素電極と、前記有機化合物層と、前記第3の電極から
なる第2の対向電極と、を有する第2の発光素子とを形
成することを特徴とする発光装置の作製方法である。
面上に第1のTFTおよび第2のTFTを形成し、前記
第1のTFTおよび前記第2のTFT上に層間絶縁膜を
形成し、前記層間絶縁膜上に第1の電極および第2の電
極を形成し、前記第2の電極上に第1の補助電極を形成
し、前記第1の電極と前記第1のTFTとの接続部、お
よび第2の電極と前記第2のTFTとの接続部を覆って
絶縁膜を形成し、前記第1の電極、前記第2の電極およ
び前記第1の補助電極上に有機化合物層を形成し、前記
有機化合物層上であって、前記第1の電極と重なる位置
に第2の補助電極を形成し、前記有機化合物層、および
前記第2の補助電極上に第3の電極を形成する発光装置
の作製方法であって、前記第1の電極からなる第1の画
素電極と、前記有機化合物層と、前記第2の補助電極お
よび前記第3の電極とからなる第1の対向電極と、を有
する第1の発光素子と、前記第2の電極および前記第1
の補助電極とからなる第2の画素電極と、前記有機化合
物層と、前記第3の電極からなる第2の対向電極と、を
有する第2の発光素子とを形成することを特徴とする発
光装置の作製方法である。
Tおよび前記第2のTFTは、ソース領域およびドレイ
ン領域をそれぞれ有し、前記第1の電極および前記第2
の電極は、前記層間絶縁膜に形成された開口部におい
て、前記ソース領域または前記ドレイン領域のいずれか
一方と電気的に接続されることを特徴とする。
素電極および前記第2の対向電極は、陽極または陰極の
いずれか一方であり、前記第2の画素電極および前記第
1の対向電極は、陽極または陰極のいずれか他方である
ことを特徴とする。
は、一重項励起状態又は三重項励起状態のいずれか一
方、またはその両者による発光を含むものとする。
1(A)(B)を用いて説明する。なお、図1(A)に
は、本発明において、各画素が有する発光素子の素子構
造について示す。
極102、および陰極103の2種類の電極が形成さ
れ、これらの電極(102、103)と接して有機化合
物層104が形成され、有機化合物層104と接して陰
極105、および陽極106が形成される。つまり、共
通の有機化合物層104を挟んで両側に陰極、および陽
極がそれぞれ形成される構造を有する。別の言い方をす
れば、陽極102と有機化合物層104と陰極105と
を有する第1の発光素子107と、陰極103と有機化
合物層104と陽極106とを有する第2の発光素子1
08が形成されている。
成する前に形成される電極を画素電極と呼ぶことにす
る。具体的には、陽極102、および陰極103をそれ
ぞれ画素電極(1)、および画素電極(2)と呼ぶこと
にする。
で形成される電極を対向電極と呼ぶことにする。具体的
には、陰極105、および陽極106をそれぞれ対向電
極(1)、および対向電極(2)と呼ぶことにする。
陽極よりも低い電圧が印加され、陽極に陰極よりも高い
電圧が印加されると、すなわち、順バイアスが印加され
ると、陰極から有機化合物層に電子が注入され、陽極か
らは有機化合物層に正孔が注入されることにより、有機
化合物層に電流が流れる。また、有機化合物層104に
おいて、正孔と電子が再結合することにより発光が得ら
れる。
は、バイポーラ性を有している。なお、バイポーラ性と
はキャリアである電子および正孔のいずれに対しても輸
送性を有することをいう。
(107、108)は、交流電源109に接続される。
そして、画素電極と対向電極に印加される電圧の大小関
係を交互に反転させることにより、2種類の発光素子
(107、108)の一方に交互に順バイアスが印加さ
れ、他方に交互に逆バイアスが印加される。
アスが印加され、電流が流れる状態になることを発光素
子が機能すると呼ぶことにする。つまり、発光素子に逆
バイアスが印加された場合には、発光素子は機能しない
ことになる。
場合における具体的な方法について説明する。
の電極112、および第2の電極113を形成する。な
お、本実施の形態においては、第1の電極112、およ
び第2の電極113が陽極となりうる材料で形成される
場合について説明する。ここで用いる導電性の材料とし
ては、仕事関数が4.5eV以上の仕事関数の大きい材
料を用いることができる。具体的には、ITO(indium
tin oxide)、IZO(indium zinc oxide)、または
IDIXO(In2O3−ZnO)といった透光性の導電
膜の他、金(Au)、白金(Pt)、ニッケル(N
i)、タングステン(W)、チタン(Ti)等の長周期
型の周期表における3〜11族に属する元素を導電性材
料として用いることができる。なお、ここで形成される
電極(112、113)から光を透過させるような素子
構造の場合には、透光性の導電性材料を用いて形成す
る。
導電性の材料を用いて第1の補助電極114を形成す
る。なお、第1の補助電極114に用いる仕事関数の小
さい(具体的には、仕事関数が3.8eV以下)材料と
しては、元素周期律の1族または2族に属する元素、す
なわちアルカリ金属及びアルカリ土類金属、およびこれ
らを含む合金や化合物の他、希土類金属を含む遷移金属
を用いることができる。第1の補助電極114は、蒸着
法又はスパッタリング法により形成することができる。
電極114上にバイポーラ性を有する有機化合物層10
4を形成する。なお、有機化合物層104を形成する材
料としては、低分子系の材料であっても良いし、高分子
系の材料であっても良い。
送性の有機化合物と、電子輸送性の有機化合物とを重量
比(wt%)が1:1となるように共蒸着することにより
形成することができる。
4,4'−ビス[N−(1−ナフチル)−N−フェニル
−アミノ]−ビフェニル(以下、α−NPDと示す)と
電子輸送性の性質を有するトリス(8−キノリノラト)
アルミニウム(以下、Alq3と示す)とを共蒸着する
ことにより形成することができる。なお、有機化合物層
の一部にドーパントとなる材料をドーピングすることに
より発光領域を限定することもできる。
送性の有機化合物と、電子輸送性の有機化合物とを溶媒
中に所定のモル比で混合することにより形成することが
できる。
リビニルカルバゾール(以下、PVKと示す)と電子輸
送性の性質を有する1,3,4−オキサジアゾール誘導
体である(2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t−
ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール(以
下、PBDと示す)とをトルエン中に混合して形成した
塗布液を塗布することにより形成することができる。な
お、ドーパントとなる材料を塗布液中に混合しておいて
もよい。
1の電極112と重なる位置に陰極となる導電性の材料
を用いて、第2の補助電極115を形成する。なお、こ
こで用いる導電性の材料としては、先に1の補助電極1
14を形成する際に用いたものと同じ材料を用いること
ができる。但し、ここで形成される第2の補助電極11
5は有機化合物層104上に形成されるため、蒸着法に
より形成されることが望ましい。
補助電極115を覆って第3の電極116が形成され
る。なお、第3の電極116を形成する材料としては、
陽極を形成しうる導電性の材料を用いるが、先に第1の
電極112、および第2の電極113を形成する際に用
いたものと同じ材料を用いることができる。但し、ここ
で形成される第3の電極116は有機化合物層104上
に形成されるため、蒸着法により形成されることが望ま
しい。
物層104、第2の補助電極115、および第3の電極
とからなる第1の発光素子117と第2の電極113、
第1の補助電極114、有機化合物層104、および第
3の電極116とからなる第2の発光素子118を形成
することができる。
極となりうる導電性材料からなる第1の電極112が、
図1(A)における陽極102であり、画素電極(1)
である。これに対して、陰極となりうる導電性材料から
なる第2の補助電極115が仕事関数の点から陰極とな
りうるが、極薄膜で形成されるために問題となる膜抵抗
を第3の電極116との積層により低くすることができ
るため、ここでは、第2の補助電極115と第3の電極
116を積層したものを、図1(A)における陰極10
5であり、対向電極(1)とする。
2の電極113上に陰極となりうる導電性材料からなる
第1の補助電極114が仕事関数の点から陰極となりう
るが、極薄膜で形成されるために問題となる膜抵抗を第
2の電極113上に積層されることにより低くすること
ができるため、ここでは、第2の電極113と第1の補
助電極114とを積層したものが、図1(A)における
陰極103であり、対向電極(2)とする。これに対し
て、陽極となりうる導電性材料からなる第3の電極11
6が、図1(A)における陽極106であり、対向電極
(2)である。
トランジスタ)と発光素子とが電気的に接続されたアク
ティブマトリクス型であって、発光素子の画素電極が透
光性の材料で形成され、有機化合物層で生じた光を画素
電極から取り出す構造(いわゆる、下方出射型)の場合
について説明する。
形成する画素の断面図を示す。基板201上には、2種
類のTFT(電流制御用TFTともいう)が形成されて
おり、TFT1(202)には、配線204を介して第
1の電極205が電気的に接続され、TFT2(20
3)には、配線206を介して第2の電極(2)207
が電気的に接続されている。なお、本実施例の場合に
は、TFT1(202)は、pチャネル型TFTで形成
され、TFT2(203)は、nチャネル型TFTで形
成されている。
続部、および配線206と第2の電極207の接続部
は、絶縁材料からなる絶縁層214により覆われてい
る。なお、絶縁層214の形成において、酸化珪素、窒
化珪素および窒化酸化珪素等の珪素を含む材料の他、ポ
リイミド、ポリアミド、アクリル(感光性アクリルを含
む)、BCB(ベンゾシクロブテン)といった有機樹脂
膜を用いたり、シリコン酸化膜として、塗布シリコン酸
化膜(SOG:Spin On Glass)を用いて絶縁膜を形成
する。なお、膜厚は、0.1〜2μmで形成することが
できるが、特に酸化珪素、窒化珪素および窒化酸化珪素
等の珪素を含む材料を用いる場合には0.1〜0.3μ
mの膜厚で形成することが望ましい。
および第2の電極207と対応する位置に開口部を形成
して、絶縁層214が形成される。
mの絶縁膜を形成し、フォトリソグラフィ−法によりパ
ターニングを行った後で、エッチング処理を行うことに
より絶縁層214を形成する。
209と、第2の補助電極210と、第3の電極211
とが積層され、第1の発光素子212が形成されてい
る。また、第2の電極207上には、第1の補助電極2
08と、有機化合物層209と、第3の電極211とが
積層され、第2の発光素子213が形成されている。
7、および第3の電極211は、陽極となりうる仕事関
数の大きい材料で形成され、第1の補助電極208、お
よび第2の補助電極210は、陰極となりうる仕事関数
の小さい材料で形成されている。そのため、第1の発光
素子212においては、第1の電極205が第1の画素
電極(陽極)217となり、第2の補助電極210、お
よび第3の電極211の積層されたものが第1の対向電
極(陰極)218となる。また、第2の発光素子213
においては、第2の電極207、および第1の補助電極
208の積層されたものが第2の画素電極(陰極)21
9となり、第3の電極211が第2の対向電極(陽極)
220となる。
子213の具体的な素子構成について図2(B)に示
し、これらの作製方法について以下に説明する。
線の形成までは、後の実施例で詳細に説明するため本実
施例では省略し、本実施例では、配線形成後に形成され
る発光素子の作製について説明する。
5、配線206に接して第2の電極207が形成され
る。なお、本実施例における第1の電極205、および
第2の電極207は、光を出射する電極となるため、透
光性であり、仕事関数が4.5eV以上の材料を用いて
形成する。具体的には、ITO、IZO、またはIDI
XOといった材料を用いることができるが、ここではI
TOをスパッタリング法により100nmの膜厚で成膜
した後、パターニングすることにより形成する。
電極208を形成する。なお、第1の補助電極208も
透光性の材料で形成されている。本実施例における第1
の補助電極208の材料としては、フッ化バリウム(B
aF2)、フッ化カルシウム(CaF)、フッ化セシウ
ム(CsF)等を用いることができるが、膜厚を1nm
程度で形成する必要がある。その他にもセシウム(C
s)、バリウム(Ba)、カルシウム(Ca)、マグネ
シウム合金(Mg:Ag)およびランタノイド系の材料
を用いることができる。なお、この場合には、20nm
以下の膜厚で形成すればよい。ここでは、フッ化バリウ
ム(BaF2)を1nmの膜厚で成膜し、第1の補助電
極208を形成する。また、メタルマスクを用いて蒸着
することにより、第2の電極207上にのみ第1の補助
電極208を形成することができる。
本実施例では、低分子系の材料を用い、正孔輸送性の有
機化合物と、電子輸送性の有機化合物とを重量比(wt
%)が1:1となるように共蒸着することにより形成す
ることができる。また、本実施例における有機化合物層
209の膜厚は、100nmである。
4,4'−ビス[N−(1−ナフチル)−N−フェニル
−アミノ]−ビフェニル(以下、α−NPDと示す)と
電子輸送性の性質を有するトリス(8−キノリノラト)
アルミニウム(以下、Alq3と示す)とを重量比(wt
%)が1:1となるように共蒸着することにより形成す
ることができる。ここで形成された層をバイポーラ層2
15と呼ぶことにする。
215を形成する途中で、ドーパントとなる4−ジシア
ノメチレン−2−メチル−6−(ジュロリジン−4−イ
ル−ビニル)−4H−ピラン(以下、DCM2と示す)
をドーピングすることにより発光領域となるドープ領域
216を形成する。なお、この時のドープ領域216に
おける重量比(wt%)が、(α−NPD):(Al
q3):(DCM)=50:50:1となるように共蒸
着して形成することができる。
ーラ層215を形成することにより有機化合物層209
における発光領域を限定することができる。なお、この
ような材料により有機化合物層209を形成した場合に
は、赤色発光を示す有機化合物層を形成することができ
る。
する場合には、バイポーラ層215を同様の材料(α−
NPDとAlq3)で形成し、ドープ領域216にジメ
チルキナクリドンをドーピングすることにより形成する
ことができる。なお、この時のドープ領域216におけ
る重量比(wt%)が、(α−NPD):(Alq3):
(キナクリドン)=50:50:1となるように共蒸着
して形成することができる。
成する場合には、バソキュプロイン(以下、BCPと示
す)と、4,4',4''−トリス[N−(3−メチルフ
ェニル)−N−フェニル−アミノ]−トリフェニルアミ
ン(以下、MTDATAと示す)とを重量比(wt%)が
1:1となるように共蒸着することによりバイポーラ層
215を形成する。そして、ドープ領域216にペリレ
ンをドーピングすることにより形成することができる。
なお、この時のドープ領域216における重量比(wt
%)が、(BCP):(MTDATA):(ペリレン)
=50:50:5となるように共蒸着して形成すること
ができる。
〜30nmの膜厚で形成される。
層、緑色発光を示す有機化合物層、青色発光を示す有機
化合物層209を有する画素が画素部に形成されること
により、フルカラー表示が可能となる。
9は、ドープ領域216が発光領域となっていたが、ド
ープ領域216を設けるのではなく、全く別の材料から
なる発光層をバイポーラ層215の間に形成することも
できる。この場合において、バイポーラ層215を形成
する材料としては、先に示したものを用いれば良く、発
光層を形成する材料としては、4,4'−ビス(2,2
−ジフェニル−ビニル)−ビフェニル(以下、DPVB
iと示す)等が挙げられる。
PVK、およびPBDをトルエン中に1:0.3のモル
比で混合し、ドーパントであるトリス(2−フェニルピ
リジン)イリジウム(以下、Ir(ppy)3と示す)
をPVK、およびPBDの全モル数に対して3mol%
のモル分率となるように混合することにより塗布液を形
成し、これを塗布することにより形成する。
助電極210を形成する。なお、第2の補助電極210
も第1の補助電極208と同じ材料で形成することがで
きるが、ここでは、バリウム(Ba)を20nmの膜厚
で成膜し、第2の補助電極210を形成する。また、メ
タルマスクを用いて蒸着することにより、第1の電極2
05上にのみ第2の補助電極210を形成することがで
きる。
お、第3の電極211を形成する導電性の材料として
は、仕事関数が4.5eV以上の仕事関数の大きい材料
を用いる。また、本実施例において、発光素子の発光効
率を低下させないためには第3の電極211から光が出
射されない構造とするのが望ましいので、遮光性の材料
を用いて形成する。具体的には、金(Au)、白金(P
t)、ニッケル(Ni)、タングステン(W)、チタン
(Ti)等の長周期型の周期表における3〜11族に属
する元素を導電性材料として用いることができる。な
お、本実施例では、金(Au)を100nmの膜厚で成
膜して第3の電極211を形成する。
子212、および第2の発光素子213を有し、どちら
の発光素子においても、画素電極側から光を出射するこ
とができる下面出射型の発光装置を形成することができ
る。
なり、対向電極が透光性の材料で形成され、有機化合物
層で生じた光を対向電極から取り出す構造(いわゆる、
上方出射型)の場合について説明する。
形成する画素の断面図を示す。基板301上には、2種
類のTFT(電流制御用TFTともいう)が形成されて
おり、TFT1(302)には、配線304を介して第
1の電極305が電気的に接続され、TFT2(30
3)には、配線306を介して第2の電極(2)307
が電気的に接続されている。なお、本実施例の場合に
は、TFT1(302)は、pチャネル型TFTで形成
され、TFT2(303)は、nチャネル型TFTで形
成されている。
続部、および配線306と第2の電極307の接続部
は、実施例1と同様に絶縁材料からなる絶縁層314に
より覆われている。なお、絶縁層314を形成する材料
としては、実施例1で示したものと同様のものを用いれ
ばよい。また、同様に、この絶縁膜の第1の電極30
5、および第2の電極307と対応する位置に開口部を
形成して、絶縁層314が形成される。
309と、第2の補助電極310と、第3の電極311
とが積層され、第1の発光素子312が形成されてい
る。また、第2の電極307上には、第1の補助電極3
08と、有機化合物層309と、第3の電極311とが
積層され、第2の発光素子313が形成されている。
7、および第3の電極311は、陽極となりうる仕事関
数の大きい材料で形成され、第1の補助電極308、お
よび第2の補助電極310は、陰極となりうる仕事関数
の小さい材料で形成されている。そのため、第1の発光
素子312においては、第1の電極305が第1の画素
電極(陽極)317となり、第2の補助電極310、お
よび第3の電極311の積層されたものが第1の対向電
極(陰極)318となる。また、第2の発光素子313
においては、第2の電極307、および第1の補助電極
308の積層されたものが第2の画素電極(陰極)31
9となり、第3の電極311が第2の対向電極(陽極)
320となる。
子313の具体的な素子構成について図3(B)に示
し、これらの作製方法について以下に説明する。
線の形成までは、後の実施例で詳細に説明するため本実
施例では省略し、本実施例では、配線形成後に形成され
る発光素子の作製について説明する。
5、配線306に接して第2の電極307が形成され
る。なお、本実施例において、発光素子の発光効率を低
下させないためには第1の電極305、および第2の電
極307から光が出射されない構造とするのが望ましい
ので、遮光性であり、仕事関数が4.5eV以上の材料
を用いて形成する。ここでは窒化チタン(TiN)をス
パッタリング法により100nmの膜厚で成膜した後、
パターニングすることにより形成する。
電極308を形成する。なお、本実施例における第1の
補助電極308の材料としては、フッ化バリウム(Ba
F2)、フッ化カルシウム(CaF)、フッ化セシウム
(CsF)等を用いることができるが、膜厚を1nm程
度で形成する必要がある。その他にもセシウム(C
s)、バリウム(Ba)、カルシウム(Ca)、マグネ
シウム合金(Mg:Ag)およびランタノイド系の材料
を用いることができる。なお、この場合には、20nm
以下の膜厚で形成すればよい。ここでは、マグネシウム
合金(Mg:Ag)を20nmの膜厚で成膜し、第1の
補助電極308を形成する。また、メタルマスクを用い
て蒸着することにより、第2の電極307上にのみ第1
の補助電極308を形成することができる。
本実施例においても実施例1と同様にして、低分子系の
材料を用い、正孔輸送性の有機化合物と、電子輸送性の
有機化合物とを重量比(wt%)が1:1となるように共
蒸着することにより形成することができる。なお、本実
施例における有機化合物層309の膜厚は、100nm
である。
4,4'−ビス[N−(1−ナフチル)−N−フェニル
−アミノ]−ビフェニル(以下、α−NPDと示す)と
電子輸送性の性質を有するトリス(8−キノリノラト)
アルミニウム(以下、Alq3と示す)とを重量比(wt
%)が1:1となるように共蒸着することにより形成す
ることができる。ここで形成された層をバイポーラ層3
15と呼ぶことにする。
215を形成する途中で、ドーパントとなる4−ジシア
ノメチレン−2−メチル−6−(ジュロリジン−4−イ
ル−ビニル)−4H−ピラン(以下、DCM2と示す)
をドーピングすることにより発光領域となるドープ領域
316を形成する。なお、この時のドープ領域316に
おける重量比(wt%)が、(α−NPD):(Al
q3):(DCM)=50:50:1となるように共蒸
着して形成することができる。
ーラ層315を形成することにより有機化合物層309
における発光領域を限定することができる。なお、この
ような材料により有機化合物層309を形成した場合に
は、赤色発光を示す有機化合物層を形成することができ
る。
する場合には、バイポーラ層315を同様の材料(α−
NPDとAlq3)で形成し、ドープ領域316にジメ
チルキナクリドンをドーピングすることにより形成する
ことができる。なお、この時のドープ領域316におけ
る重量比(wt%)が、(α−NPD):(Alq3):
(キナクリドン)=50:50:1となるように共蒸着
して形成することができる。
成する場合には、バソキュプロイン(以下、BCPと示
す)と、4,4',4''−トリス[N−(3−メチルフ
ェニル)−N−フェニル−アミノ]−トリフェニルアミ
ン(以下、MTDATAと示す)とを重量比(wt%)が
1:1となるように共蒸着することによりバイポーラ層
315を形成する。そして、ドープ領域316にペリレ
ンをドーピングすることにより形成することができる。
なお、この時のドープ領域316における重量比(wt
%)が、(BCP):(MTDATA):(ペリレン)
=50:50:5となるように共蒸着して形成すること
ができる。
〜30nmの膜厚で形成される。
層、緑色発光を示す有機化合物層、青色発光を示す有機
化合物層309を有する画素が画素部に形成されること
により、フルカラー表示が可能となる。
9は、ドープ領域316が発光領域となっていたが、ド
ープ領域316を設けるのではなく、全く別の材料から
なる発光層をバイポーラ層315の間に形成することも
できる。この場合において、バイポーラ層315を形成
する材料としては、先に示したものを用いれば良く、発
光層を形成する材料としては、4,4'−ビス(2,2
−ジフェニル−ビニル)−ビフェニル(以下、DPVB
iと示す)等が挙げられる。
PVK、およびPBDをトルエン中に1:0.3のモル
比で混合し、ドーパントであるトリス(2−フェニルピ
リジン)イリジウム(以下、Ir(ppy)3と示す)
をPVK、およびPBDの全モル数に対して3mol%
のモル分率となるように混合することにより塗布液を形
成し、これを塗布することにより形成する。
助電極310を形成する。なお、第2の補助電極310
も第1の補助電極308と同じ材料で形成することがで
きるが、ここでは、フッ化バリウム(BaF2)を1n
mの膜厚で成膜し、第2の補助電極310を形成する。
また、メタルマスクを用いて蒸着することにより、第1
の電極305上にのみ第2の補助電極310を形成する
ことができる。
お、第3の電極311を形成する導電性の材料として
は、仕事関数が4.5eV以上の仕事関数の大きい材料
を用いる。なお、本実施例における第3の電極311
は、光を出射する電極となるため、透光性であり、仕事
関数が4.5eV以上の材料を用いて形成する。具体的
には、ITO、IZO、またはIDIXOといった材料
を用いることができるが、ここではITOを蒸着法、も
しくはスパッタリング法により100nmの膜厚で成膜
して第3の電極311を形成する。
子312、および第2の発光素子313を有し、どちら
の発光素子においても、対向電極側から光を出射するこ
とができる上方出射型の発光装置を形成することができ
る。
したのと同じ上面出射型の発光装置であるが、その素子
構造が異なる場合について説明する。
形成する画素の断面図を示す。基板401上には、2種
類のTFT(電流制御用TFTともいう)が形成されて
おり、TFT1(402)には、配線404を介して第
1の電極405が電気的に接続され、TFT2(40
3)には、配線406を介して第2の電極(2)407
が電気的に接続されている。なお、本実施例の場合に
は、TFT1(402)は、nチャネル型TFTで形成
され、TFT2(403)は、pチャネル型TFTで形
成されている。
続部、および配線406と第2の電極407の接続部
は、実施例1と同様に絶縁材料からなる絶縁層414に
より覆われている。なお、絶縁層414を形成する材料
としては、実施例1で示したものと同様のものを用いれ
ばよい。また、同様に、この絶縁膜の第1の電極40
5、および第2の電極407と対応する位置に開口部を
形成して、絶縁層414が形成される。
409と、第2の補助電極410と、第3の電極411
とが積層され、第1の発光素子412が形成されてい
る。また、第2の電極407上には、第1の補助電極4
08と、有機化合物層409と、第3の電極411とが
積層され、第2の発光素子413が形成されている。
7、および第3の電極411は、陰極となりうる仕事関
数の小さい材料で形成され、第1の補助電極408、お
よび第2の補助電極410は、陽極となりうる仕事関数
の大きい材料で形成されている。そのため、第1の発光
素子412においては、第1の電極405が第1の画素
電極(陰極)417となり、第2の補助電極410、お
よび第3の電極411の積層されたものが第1の対向電
極(陽極)418となる。また、第2の発光素子413
においては、第2の電極407、および第1の補助電極
408の積層されたものが第2の画素電極(陽極)41
9となり、第3の電極411が第2の対向電極(陰極)
420となる。
子413の具体的な素子構成について図4(B)に示
し、これらの作製方法について以下に説明する。
線の形成までは、後の実施例で詳細に説明するため本実
施例では省略し、本実施例では、配線形成後に形成され
る発光素子の作製について説明する。
5、配線406に接して第2の電極407が形成され
る。なお、本実施例において、発光素子の発光効率を低
下させないためには第1の電極405、および第2の電
極407から光が出射されない構造とするのが望ましい
ので、遮光性であり、仕事関数が3.8eV以下の材料
を用いて形成する。ここではマグネシウム合金(Mg:
Ag)をスパッタリング法により100nmの膜厚で成
膜した後、パターニングすることにより形成する。
電極408を形成する。なお、本実施例における第1の
補助電極408の材料としては、金(Au)、白金(P
t)、ニッケル(Ni)、タングステン(W)、チタン
(Ti)等の長周期型の周期表における3〜11族に属
する元素を導電性材料として用いることができる。ここ
では、金(Au)を20nmの膜厚で成膜し、第1の補
助電極408を形成する。また、メタルマスクを用いて
蒸着することにより、第2の電極407上にのみ第1の
補助電極408を形成することができる。
なお、本実施例における有機化合物層309の膜厚は、
100nmである。
4'−ビス[N−(1−ナフチル)−N−フェニル−ア
ミノ]−ビフェニル(以下、α−NPDと示す)と電子
輸送性の性質を有するトリス(8−キノリノラト)アル
ミニウム(以下、Alq3と示す)とを重量比(wt%)が
1:1となるように共蒸着することによりバイポーラ層
415を形成する。
215を形成する途中で、発光領域となる発光層416
を形成する。なお、本実施例において、発光層416を
形成する材料としては、4,4'−ビス(2,2−ジフ
ェニル−ビニル)−ビフェニル(以下、DPVBiと示
す)を用いる。また、発光層416は、20〜30nm
の膜厚で形成する。
層415を形成することにより有機化合物層409にお
ける発光領域を限定することができる。
に発光層416を形成する場合について示したが、実施
例1や実施例2で示したようなドープ領域を設ける構造
としても良いし、また、低分子系の材料だけでなく高分
子系の材料を用いることにより形成することも可能であ
る。
助電極410を形成する。なお、第2の補助電極410
も第1の補助電極408と同じ材料で形成することがで
きるが、ここでは、フッ化バリウム(BaF2)を1n
mの膜厚で成膜し、第2の補助電極410を形成する。
また、メタルマスクを用いて蒸着することにより、第1
の電極405上にのみ第2の補助電極410を形成する
ことができる。
お、第3の電極411を形成する導電性の材料として
は、仕事関数が3.8eV以下の仕事関数の小さい材料
を用いる。なお、本実施例における第3の電極411
は、光を出射する電極となるため、透光性であり、仕事
関数が3.8eV以下の材料を用いて形成する。具体的
には、元素周期律の1族または2族に属する元素、すな
わちアルカリ金属及びアルカリ土類金属、およびこれら
を含む合金や化合物の他、希土類金属を含む遷移金属を
用いることができるが、ここではセシウム(Cs)と銀
(Ag)とを蒸着法、もしくはスパッタリング法により
積層形成し、20nmの膜厚で成膜して第3の電極41
1を形成する。
子312、および第2の発光素子313を有し、どちら
の発光素子においても、対向電極側から光を出射するこ
とができる上方出射型の発光装置を形成することができ
る。
を用いて説明する。ここでは、同一基板上に画素部と、
画素部の周辺に設ける駆動回路のTFT(nチャネル型
TFT及びpチャネル型TFT)を同時に作製する方法
について詳細に説明する。
形成し、結晶構造を有する第1の半導体膜を得た後、所
望の形状にエッチング処理して島状に分離された半導体
層602〜605を形成する。
37)を用い、下地絶縁膜601としては、プラズマC
VD法で成膜温度400℃、原料ガスSiH4、NH3、
N2Oから作製される酸化窒化シリコン膜601a(組
成比Si=32%、O=27%、N=24%、H=17
%)を50nm(好ましくは10〜200nm)形成する。
次いで、表面をオゾン水で洗浄した後、表面の酸化膜を
希フッ酸(1/100希釈)で除去する。次いでプラズ
マCVD法で成膜温度400℃、原料ガスSiH4、N2
Oから作製される酸化窒化シリコン膜601b(組成比
Si=32%、O=59%、N=7%、H=2%)を1
00nm(好ましくは50〜200nm)の厚さに積層形
成し、さらに大気解放せずにプラズマCVD法で成膜温
度300℃、成膜ガスSiH4で非晶質構造を有する半
導体膜(ここではアモルファスシリコン膜)を54nm
の厚さ(好ましくは25〜80nm)で形成する。
て示したが、前記絶縁膜の単層膜または2層以上積層さ
せた構造として形成しても良い。また、半導体膜の材料
に限定はないが、好ましくはシリコンまたはシリコンゲ
ルマニウム(SiXGe1-X(X=0.0001〜0.0
2))合金などを用い、公知の手段(スパッタ法、LP
CVD法、またはプラズマCVD法等)により形成すれ
ばよい。また、プラズマCVD装置は、枚葉式の装置で
もよいし、バッチ式の装置でもよい。また、同一の成膜
室で大気に触れることなく下地絶縁膜と半導体膜とを連
続成膜してもよい。
面を洗浄した後、オゾン水で表面に約2nmの極薄い酸
化膜を形成する。次いで、TFTのしきい値を制御する
ために微量な不純物元素(ボロンまたはリン)のドーピ
ングを行う。ここでは、ジボラン(B2H6)を質量分離
しないでプラズマ励起したイオンドープ法を用い、ドー
ピング条件を加速電圧15kV、ジボランを水素で1%
に希釈したガス流量30sccm、ドーズ量2×1012
/cm2で非晶質シリコン膜にボロンを添加した。
を含む酢酸ニッケル塩溶液をスピナーで塗布する。塗布
に代えてスパッタ法でニッケル元素を全面に散布する方
法を用いてもよい。
構造を有する半導体膜を形成する。この加熱処理は、電
気炉の熱処理または強光の照射を用いればよい。電気炉
の熱処理で行う場合は、500℃〜650℃で4〜24
時間で行えばよい。ここでは脱水素化のための熱処理
(500℃、1時間)の後、結晶化のための熱処理(5
50℃、4時間)を行って結晶構造を有するシリコン膜
を得る。なお、ここでは炉を用いた熱処理を用いて結晶
化を行ったが、短時間での結晶化が可能なランプアニー
ル装置で結晶化を行ってもよい。なお、ここではシリコ
ンの結晶化を助長する金属元素としてニッケルを用いた
結晶化技術を用いたが、他の公知の結晶化技術、例えば
固相成長法やレーザー結晶化法を用いてもよい。
の酸化膜を希フッ酸等で除去した後、結晶化率を高め、
結晶粒内に残される欠陥を補修するためのレーザー光
(XeCl:波長308nm)の照射を大気中、または
酸素雰囲気中で行う。レーザー光には波長400nm以
下のエキシマレーザー光や、YVO4レーザーの第2高
調波、第3高調波を用いる。いずれにしても、繰り返し
周波数10〜1000Hz程度のパルスレーザー光を用
い、当該レーザー光を光学系にて100〜500mJ/
cm2に集光し、90〜95%のオーバーラップ率をも
って照射し、シリコン膜表面を走査させればよい。ここ
では、繰り返し周波数30Hz、エネルギー密度393
mJ/cm2でレーザー光の照射を大気中で行う。な
お、大気中、または酸素雰囲気中で行うため、レーザー
光の照射により表面に酸化膜が形成される。
酸化膜を希フッ酸で除去した後、第2のレーザー光の照
射を窒素雰囲気、或いは真空中で行い、半導体膜表面を
平坦化してもよい。その場合、このレーザー光(第2の
レーザー光)には波長400nm以下のエキシマレーザ
ー光や、YAGレーザーの第2高調波、第3高調波を用
いる。第2のレーザー光のエネルギー密度は、第1のレ
ーザー光のエネルギー密度より大きくし、好ましくは3
0〜60mJ/cm2大きくする。
膜を形成して後のスパッタ法による成膜の際、結晶構造
を有するシリコン膜への希ガス元素の添加を防止する上
でも、ゲッタリング効果を増大させる上でも非常に重要
である。次いで、レーザー光の照射により形成された酸
化膜に加え、オゾン水で表面を120秒処理して合計1
〜5nmの酸化膜からなるバリア層を形成する。
タリングサイトとなるアルゴン元素を含む非晶質シリコ
ン膜を膜厚150nmで形成する。本実施例のスパッタ
法による成膜条件は、成膜圧力を0.3Paとし、ガス
(Ar)流量を50(sccm)とし、成膜パワーを3
kWとし、基板温度を150℃とする。なお、上記条件
での非晶質シリコン膜に含まれるアルゴン元素の原子濃
度は、3×1020/cm3〜6×1020/cm3、酸素の
原子濃度は1×1019/cm3〜3×1019/cm3であ
る。その後、ランプアニール装置を用いて650℃、3
分の熱処理を行いゲッタリングする。
として、ゲッタリングサイトであるアルゴン元素を含む
非晶質シリコン膜を選択的に除去した後、バリア層を希
フッ酸で選択的に除去する。なお、ゲッタリングの際、
ニッケルは酸素濃度の高い領域に移動しやすい傾向があ
るため、酸化膜からなるバリア層をゲッタリング後に除
去することが望ましい。
ン膜(ポリシリコン膜とも呼ばれる)の表面にオゾン水
で薄い酸化膜を形成した後、レジストからなるマスクを
形成し、所望の形状にエッチング処理して島状に分離さ
れた半導体層を形成する。半導体層を形成した後、レジ
ストからなるマスクを除去する。
きい値(Vth)を制御するためにp型あるいはn型を
付与する不純物元素を添加してもよい。なお、半導体に
対してp型を付与する不純物元素には、ボロン(B)、
アルミニウム(Al)、ガリウム(Ga)など周期律第
13族元素が知られている。なお、半導体に対してn型
を付与する不純物元素としては周期律15族に属する元
素、典型的にはリン(P)または砒素(As)が知られ
ている。
ン膜(ポリシリコン膜とも呼ばれる)の表面にオゾン水
で薄い酸化膜を形成した後、レジストからなるマスクを
形成し、所望の形状にエッチング処理して島状に分離さ
れた半導体層602〜605を形成する。半導体層を形
成した後、レジストからなるマスクを除去する。
膜を除去すると同時にシリコン膜の表面を洗浄した後、
ゲート絶縁膜607となる珪素を主成分とする絶縁膜を
形成する。本実施例では、プラズマCVD法により11
5nmの厚さで酸化窒化シリコン膜(組成比Si=32
%、O=59%、N=7%、H=2%)で形成する。
絶縁膜607上に膜厚20〜100nmの第1の導電膜
608と、膜厚100〜400nmの第2の導電膜60
9とを積層形成する。本実施例では、ゲート絶縁膜60
7上に膜厚50nmの窒化タンタル膜、膜厚370nm
のタングステン膜を順次積層する。
導電性材料としてはTa、W、Ti、Mo、Al、Cu
から選ばれた元素、または前記元素を主成分とする合金
材料もしくは化合物材料で形成する。また、第1の導電
膜及び第2の導電膜としてリン等の不純物元素をドーピ
ングした多結晶シリコン膜に代表される半導体膜や、A
g:Pd:Cu合金を用いてもよい。また、2層構造に
限定されず、例えば、膜厚50nmのタングステン膜、
膜厚500nmのアルミニウムとシリコンの合金(Al
−Si)膜、膜厚30nmの窒化チタン膜を順次積層し
た3層構造としてもよい。また、3層構造とする場合、
第1の導電膜のタングステンに代えて窒化タングステン
を用いてもよいし、第2の導電膜のアルミニウムとシリ
コンの合金(Al−Si)膜に代えてアルミニウムとチ
タンの合金膜(Al−Ti)を用いてもよいし、第3の
導電膜の窒化チタン膜に代えてチタン膜を用いてもよ
い。また、単層構造であってもよい。
によりレジストからなるマスク610〜613を形成
し、ゲート電極及び配線を形成するための第1のエッチ
ング処理を行う。第1のエッチング処理では第1及び第
2のエッチング条件で行う。エッチングにはICP(In
ductively Coupled Plasma:誘導結合型プラズマ)エッ
チング法を用いると良い。ICPエッチング法を用い、
エッチング条件(コイル型の電極に印加される電力量、
基板側の電極に印加される電力量、基板側の電極温度
等)を適宜調節することによって所望のテーパー形状に
膜をエッチングすることができる。なお、エッチング用
ガスとしては、Cl2、BCl3、SiCl4、CCl4な
どを代表とする塩素系ガスまたはCF4、SF6、NF3
などを代表とするフッ素系ガス、またはO2を適宜用い
ることができる。
も150WのRF(13.56MHz)電力を投入し、実質的に
負の自己バイアス電圧を印加する。なお、基板側の電極
面積サイズは、12.5cm×12.5cmであり、コ
イル型の電極面積サイズ(ここではコイルの設けられた
石英円板)は、直径25cmの円板である。この第1の
エッチング条件によりW膜をエッチングして第1の導電
層の端部をテーパー形状とする。第1のエッチング条件
でのWに対するエッチング速度は200.39nm/m
in、TaNに対するエッチング速度は80.32nm
/minであり、TaNに対するWの選択比は約2.5
である。また、この第1のエッチング条件によって、W
のテーパー角は、約26°となる。この後、レジストか
らなるマスク610〜613を除去せずに第2のエッチ
ング条件に変え、エッチング用ガスにCF4とCl2とを
用い、それぞれのガス流量比を30/30(sccm)
とし、1Paの圧力でコイル型の電極に500WのRF
(13.56MHz)電力を投入してプラズマを生成し
て約30秒程度のエッチングを行った。基板側(試料ス
テージ)にも20WのRF(13.56MHz)電力を
投入し、実質的に負の自己バイアス電圧を印加する。C
F4とCl2を混合した第2のエッチング条件ではW膜及
びTaN膜とも同程度にエッチングされる。第2のエッ
チング条件でのWに対するエッチング速度は58.97
nm/min、TaNに対するエッチング速度は66.
43nm/minである。なお、ゲート絶縁膜上に残渣
を残すことなくエッチングするためには、10〜20%
程度の割合でエッチング時間を増加させると良い。
からなるマスクの形状を適したものとすることにより、
基板側に印加するバイアス電圧の効果により第1の導電
層及び第2の導電層の端部がテーパー形状となる。この
テーパー部の角度は15〜45°とすればよい。
1の導電層と第2の導電層から成る第1の形状の導電層
615〜618(第1の導電層615a〜618aと第
2の導電層615b〜618b)を形成する。ゲート絶
縁膜となる絶縁膜607は、10〜20nm程度エッチ
ングされ、第1の形状の導電層615〜618で覆われ
ない領域が薄くなったゲート絶縁膜620となる。
ずに第2のエッチング処理を行う。ここでは、エッチン
グ用ガスにSF6とCl2とO2とを用い、それぞれのガ
ス流量比を24/12/24(sccm)とし、1.3
Paの圧力でコイル型の電極に700WのRF(13.
56MHz)電力を投入してプラズマを生成してエッチ
ングを25秒行った。基板側(試料ステージ)にも10
WのRF(13.56MHz)電力を投入し、実質的に
負の自己バイアス電圧を印加する。第2のエッチング処
理でのWに対するエッチング速度は227.3nm/m
in、TaNに対するエッチング速度は32.1nm/
minであり、TaNに対するWの選択比は7.1であ
り、絶縁膜620であるSiONに対するエッチング速
度は33.7nm/minであり、SiONに対するW
の選択比は6.83である。このようにエッチングガス
用ガスにSF6を用いた場合、絶縁膜620との選択比
が高いので膜減りを抑えることができる。本実施例では
絶縁膜620において約8nmしか膜減りが起きない。
パー角は70°となった。この第2のエッチング処理に
より第2の導電層621b〜624bを形成する。一
方、第1の導電層は、ほとんどエッチングされず、第1
の導電層621a〜624aとなる。なお、第1の導電
層621a〜624aは、第1の導電層615a〜61
8aとほぼ同一サイズである。実際には、第1の導電層
の幅は、第2のエッチング処理前に比べて約0.3μm
程度、即ち線幅全体で0.6μm程度後退する場合もあ
るがほとんどサイズに変化がない。
タングステン膜、膜厚500nmのアルミニウムとシリ
コンの合金(Al−Si)膜、膜厚30nmの窒化チタ
ン膜を順次積層した3層構造とした場合、第1のエッチ
ング処理における第1のエッチング条件としては、BC
l3とCl2とO2とを原料ガスに用い、それぞれのガス
流量比を65/10/5(sccm)とし、基板側(試
料ステージ)に300WのRF(13.56MHz)電
力を投入し、1.2Paの圧力でコイル型の電極に45
0WのRF(13.56MHz)電力を投入してプラズ
マを生成して117秒のエッチングを行えばよく、第1
のエッチング処理における第2のエッチング条件として
は、CF4とCl2とO2とを用い、それぞれのガス流量
比を25/25/10(sccm)とし、基板側(試料
ステージ)にも20WのRF(13.56MHz)電力
を投入し、1Paの圧力でコイル型の電極に500Wの
RF(13.56MHz)電力を投入してプラズマを生
成して約30秒程度のエッチングを行えばよく、第2の
エッチング処理としてはBCl3とCl2を用い、それぞ
れのガス流量比を20/60(sccm)とし、基板側
(試料ステージ)には100WのRF(13.56MH
z)電力を投入し、1.2Paの圧力でコイル型の電極
に600WのRF(13.56MHz)電力を投入して
プラズマを生成してエッチングを行えばよい。
た後、第1のドーピング処理を行って図6(A)の状態
を得る。ドーピング処理はイオンドープ法、もしくはイ
オン注入法で行えば良い。イオンドープ法の条件はドー
ズ量を1.5×1014atoms/cm2とし、加速電圧を60
〜100keVとして行う。n型を付与する不純物元素
として、典型的にはリン(P)または砒素(As)を用
いる。この場合、第1の導電層及び第2の導電層621
〜624がn型を付与する不純物元素に対するマスクと
なり、自己整合的に第1の不純物領域626〜629が
形成される。第1の不純物領域626〜629には1×
1016〜1×1017/cm3の濃度範囲でn型を付与する不
純物元素を添加する。ここでは、第1の不純物領域と同
じ濃度範囲の領域をn--領域とも呼ぶ。
クを除去した後、第1のドーピング処理を行ったが、レ
ジストからなるマスクを除去せずに第1のドーピング処
理を行ってもよい。
からなるマスク631〜633を形成し第2のドーピン
グ処理を行う。マスク631は駆動回路のpチャネル型
TFTを形成する半導体層のチャネル形成領域及びその
周辺の領域を保護するマスクであり、マスク632は画
素部のTFTを形成する半導体層のチャネル形成領域及
びその周辺の領域とを保護するマスクである。
プ法の条件はドーズ量を1.5×1015atoms/cm2と
し、加速電圧を60〜100keVとしてリン(P)を
ドーピングする。ここでは、第2の導電層621bをマ
スクとして各半導体層に不純物領域が自己整合的に形成
される。勿論、マスク631〜633で覆われた領域に
は添加されない。こうして、第2の不純物領域634、
635と、第3の不純物領域637が形成される。第2
の不純物領域634、635には1×1020〜1×10
21/cm3の濃度範囲でn型を付与する不純物元素を添加さ
れている。ここでは、第2の不純物領域と同じ濃度範囲
の領域をn+領域とも呼ぶ。
より第2の不純物領域よりも低濃度に形成され、1×1
018〜1×1019/cm3の濃度範囲でn型を付与する不純
物元素を添加されることになる。なお、第3の不純物領
域は、テーパー形状である第1の導電層の部分を通過さ
せてドーピングを行うため、テーパ−部の端部に向かっ
て不純物濃度が増加する濃度勾配を有している。ここで
は、第3の不純物領域と同じ濃度範囲の領域をn-領域
とも呼ぶ。また、マスク632で覆われた領域は、第2
のドーピング処理で不純物元素が添加されず、第1の不
純物領域638となる。
633を除去した後、新たにレジストからなるマスク6
39、640を形成して図6(C)に示すように第3の
ドーピング処理を行う。
処理により、pチャネル型TFTを形成する半導体層お
よび保持容量を形成する半導体層にp型の導電型を付与
する不純物元素が添加された第4の不純物領域641、
642及び第5の不純物領域643、644を形成す
る。
は1×1020〜1×1021/cm3の濃度範囲でp型を付与
する不純物元素が添加されるようにする。尚、第4の不
純物領域641、642には先の工程でリン(P)が添
加された領域(n--領域)であるが、p型を付与する不
純物元素の濃度がその1.5〜3倍添加されていて導電
型はp型となっている。ここでは、第4の不純物領域と
同じ濃度範囲の領域をp+領域とも呼ぶ。
第2の導電層125aのテーパー部と重なる領域に形成
されるものであり、1×1018〜1×1020/cm3の濃度
範囲でp型を付与する不純物元素が添加されるようにす
る。ここでは、第5の不純物領域と同じ濃度範囲の領域
をp-領域とも呼ぶ。
型またはp型の導電型を有する不純物領域が形成され
る。導電層621〜624はTFTのゲート電極とな
る。
い)を形成する。本実施例では、プラズマCVD法によ
り膜厚50nmの酸化シリコン膜を形成した。勿論、こ
の絶縁膜は酸化シリコン膜に限定されるものでなく、他
のシリコンを含む絶縁膜を単層または積層構造として用
いても良い。
不純物元素を活性化処理する工程を行う。この活性化工
程は、ランプ光源を用いたラピッドサーマルアニール法
(RTA法)、或いはYAGレーザーまたはエキシマレ
ーザーを裏面から照射する方法、或いは炉を用いた熱処
理、或いはこれらの方法のうち、いずれかと組み合わせ
た方法によって行う。
縁膜を形成した例を示したが、上記活性化を行った後、
絶縁膜を形成する工程としてもよい。
間絶縁膜645を形成して熱処理(300〜550℃で
1〜12時間の熱処理)を行い、半導体層を水素化する
工程を行う(図7(A))。この工程は第1の層間絶縁
膜645に含まれる水素により半導体層のダングリング
ボンドを終端する工程である。酸化シリコン膜からなる
絶縁膜(図示しない)の存在に関係なく半導体層を水素
化することができる。ただし、本実施例では、第2の導
電層としてアルミニウムを主成分とする材料を用いてい
るので、水素化する工程において第2の導電層が耐え得
る熱処理条件とすることが重要である。水素化の他の手
段として、プラズマ水素化(プラズマにより励起された
水素を用いる)を行っても良い。
絶縁物材料から成る第2の層間絶縁膜646を形成す
る。本実施例では膜厚1.6μmのアクリル樹脂膜を形
成する。次いで、各不純物領域に達するコンタクトホー
ルを形成する。本実施例では複数のエッチング処理を順
次行う。本実施例では第1の層間絶縁膜をエッチングス
トッパーとして第2の層間絶縁膜をエッチングした後、
絶縁膜(図示しない)をエッチングストッパーとして第
1の層間絶縁膜をエッチングしてから絶縁膜(図示しな
い)をエッチングした。
て配線を形成する。また、場合によっては、配線と接し
て形成される発光素子の画素電極を同時に形成すること
もできる。これらの電極及び画素電極の材料は、Alま
たはAgを主成分とする膜、またはそれらの積層膜等の
反射性の優れた材料を用いることが望ましい。こうし
て、配線650〜657が形成される。
1、pチャネル型TFT702を有する駆動回路705
と、nチャネル型TFTからなるスイッチング用TFT
703、pチャネル型TFTからなる電流制御用TFT
704とを有する画素部706を同一基板上に形成する
ことができる(図7(C))。本明細書中ではこのよう
な基板を便宜上アクティブマトリクス基板と呼ぶ。
FT703(nチャネル型TFT)にはチャネル形成領
域503、ゲート電極を形成する導電層623の外側に
形成される第1の不純物領域(n--領域)638とソー
ス領域、またはドレイン領域として機能する第2の不純
物領域(n+領域)635を有している。
TFT704(pチャネル型TFT)にはチャネル形成
領域504、ゲート電極を形成する導電層624の外側
に形成される第4の不純物領域(n--領域)644とソ
ース領域、またはドレイン領域として機能する第5の不
純物領域(n+領域)642を有している。なお、本発
明においては、第5の不純物領域(n+領域)642と
電気的に接続された配線656を介して、発光素子の電
極と接続される。本実施例の場合においては、電流制御
用TFT704がpチャネル型TFTで形成されている
ため、発光素子の陽極が形成されるのが好ましい。
ル型TFT701はチャネル形成領域501、ゲート電
極を形成する導電層621の一部と絶縁膜を介して重な
る第3の不純物領域(n-領域)637とソース領域、
またはドレイン領域として機能する第2の不純物領域
(n+領域)634を有している。
ル型TFT702にはチャネル形成領域502、ゲート
電極を形成する導電層622の一部と絶縁膜を介して重
なる第5不純物領域(p-領域)643と、ソース領域
またはドレイン領域として機能する第4の不純物領域
(p+領域)641を有している。
合わせてシフトレジスタ回路、バッファ回路、レベルシ
フタ回路、ラッチ回路などを形成し、駆動回路705を
形成すればよい。例えば、CMOS回路を形成する場合
には、nチャネル型TFT701とpチャネル型TFT
702を相補的に接続して形成すればよい。
ゲート絶縁膜を介してLDD(LDD:Lightly Doped
Drain)領域をゲート電極と重ねて配置させた、いわゆ
るGOLD(Gate-drain Overlapped LDD)構造である
nチャネル型TFT701の構造が適している。
チャネル型TFT、pチャネル型TFT)は、高い駆動
能力(オン電流:Ion)およびホットキャリア効果に
よる劣化を防ぎ信頼性を向上させることが要求されてい
ることから本実施例では、ホットキャリアによるオン電
流値の劣化を防ぐのに有効である構造として、ゲート電
極がゲート絶縁膜を介して低濃度不純物領域と重なる領
域(GOLD領域)を有するTFTを用いている。
ッチング用TFT703は、低いオフ電流(Ioff)
が要求されていることから、本実施例ではオフ電流を低
減するためのTFT構造として、ゲート電極がゲート絶
縁膜を介して低濃度不純物領域と重ならない領域(LD
D領域)を有するTFTを用いている。
程においては、回路の構成および工程の関係上、ゲート
電極を形成している材料を用いてソース信号線を形成
し、ソース、ドレイン電極を形成している配線材料を用
いてゲート信号線を形成しているが、それぞれ異なる材
料を用いることは可能である。
圧は、1.2〜10Vであり、好ましくは、2.5〜
5.5Vである。
(動画表示の場合)には、発光素子が発光している画素
により背景の表示を行い、発光素子が非発光となる画素
により文字表示を行えばよいが、画素部の動画表示があ
る一定期間以上静止している場合(本明細書中では、ス
タンバイ時と呼ぶ)には、電力を節約するために表示方
法が切り替わる(反転する)ようにしておくと良い。具
体的には、発光素子が発光している画素により文字を表
示し(文字表示ともいう)、発光素子が非発光となる画
素により背景を表示(背景表示ともいう)するようにす
る。
電圧方式で駆動させた場合について図8及び図9を用い
て説明する。
ブロック図を示す。801はソース信号線駆動回路、8
02はゲート信号線駆動回路、803は画素部を示して
いる。本実施例ではソース信号線駆動回路とゲート信号
線駆動回路とを1つずつ設けたが、本発明はこの構成に
限定されない。ソース信号線駆動回路を2つ設けても良
いし、ゲート信号線駆動回路を2つ設けても良い。
ジスタ801a、レベルシフタ801b、サンプリング
回路801cを有している。なおレベルシフタ801b
は必要に応じて用いればよく、必ずしも用いなくとも良
い。また本実施例においてレベルシフタ801bはシフ
トレジスタ801aとサンプリング回路801cとの間
に設ける構成としたが、本発明はこの構成に限定されな
い。シフトレジスタ801aの中にレベルシフタ801
bが組み込まれている構成にしても良い。
トレジスタ、バッファ(いずれも図示せず)を有してい
る。また、レベルシフタを有していても良い。なお、ゲ
ート信号線駆動回路802には、ゲート信号線805が
接続されている。
K)、スタートパルス信号(SP)がシフトレジスタ8
01aに入力される。シフトレジスタ801aからビデ
オ信号をサンプリングするためのサンプリング信号が出
力される。出力されたサンプリング信号はレベルシフタ
801bに入力され、その電位の振幅が大きくなって出
力される。
プリング信号は、サンプリング回路801cに入力され
る。そして同時に、ビデオ信号線を介してビデオ信号が
サンプリング回路801cに入力される。
されたビデオ信号がサンプリング信号によってサンプリ
ングされ、それぞれソース信号線804に入力される。
の画素部803の画素構造を示す。なお、画素部803
は図9(A)の900で示す構造の画素を複数有してお
り、画素900は、ソース信号線(S)と、電流供給線
(V)と、ゲート信号線(G)とを有している。
T901と、電流制御用TFT(1)902と、電流制
御用TFT(2)903と、発光素子(1)904と、
発光素子(2)905とを有している。
はゲート信号線(G)に接続されている。またスイッチ
ング用TFT901のソース領域とドレイン領域は、一
方はソース信号線(S)に、もう一方は電流制御用TF
T(1)902および電流制御用TFT(2)903の
ゲート電極に接続されている。
制御用TFT(2)903のソース領域は電流供給線
(V)に接続されており、電流制御用TFT(1)90
2のドレイン領域は発光素子(1)904が有する陽
極、または陰極のいずれか一方に接続される。また、電
流制御用TFT(2)903のドレイン領域は、電流制
御用TFT(1)902のドレイン領域と接続されたの
とは異なる種類の電極(陽極、または陰極のいずれか他
方)と接続される。なお、この電極は、発光素子(2)
905を形成する一方の電極である。
(1)902のドレイン領域と接続された上記電極を画
素電極(1)とよび、電流制御用TFT(2)903の
ドレイン領域と接続された上記電極を画素電極(2)と
よぶことにする。つまり、画素900が有する発光素子
(1)904は画素電極(1)を有し、発光素子(2)
905は、画素電極(2)を有している。また、画素電
極(1)および画素電極(2)には、電流供給線(V)
から電圧が入力される。なお、電流供給線(V)から入
力される電圧を電源電圧と呼ぶ。
子(2)905は、これらの画素電極ともう一方の電極
により形成される。なお、もう一方の電極のことを対向
電極と呼ぶことにする。すなわち、発光素子(1)90
4は、対向電極(1)を有し、発光素子(2)905
は、対向電極(2)を有している。
(2)は、それぞれ所定の電圧に保たれており、本明細
書において、対向電極(1)および対向電極(2)から
入力される電圧を対向電圧と呼ぶ。なお対向電極(1)
に対向電圧を与える電源を対向電源(1)906と呼
び、対向電極(2)に対向電圧を与える電源を対向電源
(2)907と呼ぶ。
との電圧差が発光素子駆動電圧であり、この発光素子駆
動電圧が有機化合物層にかかる。
TFT(1)902および電流制御用TFT(2)90
3のゲート電極と、電流供給線(V)との間にコンデン
サが形成される構造としても良い。
900の対向電源(1)906と対向電源(2)907
とから入力される信号を制御するための回路構成を示
す。すなわち、回路908に切り換え信号909を入力
することにより、切り換えスイッチ910が切り替わ
り、対向電源(1)906と対向電源(2)907のど
ちらか一方が選択され、選択された対向電源から電圧が
入力されるようになっている。
電源(2)907から入力される電圧を図9(C)にそ
れぞれ示す。つまり、対向電源(1)906と対向電源
(2)907からは、それぞれ発光素子駆動電圧の極性
が異なるような2種類の対向電圧が交互に入力されるよ
うになっており、また、対向電源(1)906、対向電
源(2)907から同時に入力される電圧が異なる構成
になっている。
ング用TFT901がオンの状態になると、電流制御用
TFT(1)902および電流制御用TFT(2)90
3は共にオンの状態になる。なお、電流供給線(V)か
らは一定の電源電圧が入力され、発光素子(1)904
および発光素子(2)905の画素電極(1)および画
素電極(2)に一定の電圧が印加される。
れ、画素電極(2)が陰極で形成されているとすると、
対向電源(1)906から対向電極(1)に入力される
対向電圧が、電源電圧よりも低い場合には発光素子
(1)904に正の発光素子駆動電圧が印加されるため
発光素子(1)904に所望の電流が流れるが、対向電
極(1)に入力される対向電圧が、電源電圧よりも高い
場合には発光素子(1)904に負の発光素子駆動電圧
が印加されるため発光素子(1)904に電流が流れな
い。なお、本明細書中では、このように発光素子に電流
が流れる状態になることを発光素子が機能すると呼ぶこ
とにする。
対向電極(2)に入力される対向電圧が、電源電圧より
も高い場合には発光素子(2)905に正の発光素子駆
動電圧が印加されるため発光素子(2)905に所望の
電流が流れ、発光素子(2)が機能するが、対向電極
(2)に入力される対向電圧が、電源電圧よりも低い場
合には発光素子(1)904に負の発光素子駆動電圧が
印加されるため発光素子(1)904に電流が流れず、
発光素子(2)は機能しない。
の発光素子がそれぞれ有する2種類の対向電源からは、
発光素子駆動電圧の極性が逆になるような2種類の対向
電圧が交互に入力され、かつどちらか一方の対向電源か
らのみ電圧が入力されるようにすることにより、2種類
の発光素子のうち一方を常に機能させることができる。
施例5で示したのとは異なる方法で駆動させた場合につ
いて図10及び図11を用いて説明する。
ック図を示す。1001はソース信号線駆動回路
(A)、1002はソース信号線駆動回路(B)、10
03はゲート信号線駆動回路、1004は画素部を示し
ている。
シフトレジスタ1001a、レベルシフタ1001b、
サンプリング回路1001cを有している。なおレベル
シフタ1001bは必要に応じて用いればよく、必ずし
も用いなくとも良い。また本実施例においてレベルシフ
タ1001bはシフトレジスタ1001aとサンプリン
グ回路1001cとの間に設ける構成としたが、本発明
はこの構成に限定されない。シフトレジスタ1001a
の中にレベルシフタ1001bが組み込まれている構成
にしても良い。なお、本実施例では、ソース信号線駆動
回路(B)1002を有しているがこれらの構成は、ソ
ース信号線駆動回路(A)1001と同じ構成とするこ
とができる。
フトレジスタ、バッファ(いずれも図示せず)を有して
いる。また、レベルシフタを有していても良い。なお、
ゲート信号線駆動回路1003には、ゲート信号線10
05が接続されている。
K)、スタートパルス信号(SP)がシフトレジスタ1
001aに入力される。シフトレジスタ1001aから
ビデオ信号をサンプリングするためのサンプリング信号
が出力される。出力されたサンプリング信号はレベルシ
フタ1001bに入力され、その電位の振幅が大きくな
って出力される。
ンプリング信号は、サンプリング回路1001cに入力
される。そして同時に、ビデオ信号線を介してビデオ信
号がサンプリング回路1001cに入力される。
力されたビデオ信号がサンプリング信号によってサンプ
リングされ、それぞれソース信号線(1)1006に入
力される。なお、ソース信号線駆動回路(B)1002
からは、同様にしてソース信号線(2)1007に入力
される。
の画素部1004の画素構造を示す。なお、画素部10
04は図11の1100で示す構造の画素を複数有して
おり、画素1100は、2種類のソース信号線(S)、
すなわちソース信号線(1)(S)とソース信号線
(2)(S’)、2種類の電流供給線(V)、すなわち
電流供給線(1)(V)と電流供給線(2)(V’)
と、ゲート信号線(G)とを有している。
ング用TFT、すなわちスイッチング用TFT(1)
(1101)、スイッチング用TFT(2)(110
2)、2種類の電流制御用TFT、すなわち電流制御用
TFT(1)(1103)と、電流制御用TFT(2)
1104と、2種類の発光素子、すなわち発光素子
(1)1105と、発光素子(2)1106とを有して
いる。
よびスイッチング用TFT(2)1102のゲート電極
は、ゲート信号線(G)に接続されている。またスイッ
チング用TFT(1)1101のソース領域とドレイン
領域は、一方はソース信号線(1)(S)に、もう一方
は電流制御用TFT(1)1103のゲート電極に接続
されている。さらに、スイッチング用TFT(2)11
02のソース領域とドレイン領域は、一方はソース信号
線(2)(S’)に、もう一方は電流制御用TFT
(2)1104のゲート電極に接続されている。
領域は電流供給線(1)(V)に接続されており、電流
制御用TFT(1)1103のドレイン領域は発光素子
(1)1105が有する陽極、または陰極となる電極に
接続される。なお、この電極は、発光素子(1)110
5を形成する一方の電極である。また、電流制御用TF
T(2)1104のソース領域は電流供給線(2)
(V’)に接続されており、電流制御用TFT(2)1
104のドレイン領域は、電流制御用TFT(1)11
03のドレイン領域と接続されたのとは異なる種類(陽
極、または陰極)の電極と接続される。なお、この電極
は、発光素子(2)1106を形成する一方の電極であ
る。
(1)1103のドレイン領域と接続された上記電極を
画素電極(1)とよび、電流制御用TFT(2)110
4のドレイン領域と接続された上記電極を画素電極
(2)とよぶことにする。つまり、画素1100が有す
る発光素子(1)1105は画素電極(1)を有し、発
光素子(2)1106は、画素電極(2)を有してい
る。また、画素電極(1)には、電流供給線(1)
(V)から電圧が入力され、画素電極(2)には、電流
供給線(2)(V’)から電圧が入力される。なお、電
流供給線(1)(V)、および電流供給線(2)
(V’)から入力される電圧をそれぞれ電源電圧
(1)、および電源電圧(2)と呼ぶ。
素子(2)1106は、これらの画素電極ともう一方の
電極により形成される。なお、もう一方の電極のことを
対向電極と呼ぶことにする。すなわち、発光素子(1)
1105は、対向電極(1)を有し、発光素子(2)1
106は、対向電極(2)を有している。
(2)は、それぞれ所定の電圧に保たれており、本明細
書において、対向電極(1)および対向電極(2)から
入力される電圧を対向電圧と呼ぶ。なお対向電極(1)
に対向電圧を与える電源を対向電源(1)1107と呼
び、対向電極(2)に対向電圧を与える電源を対向電源
(2)1108と呼ぶ。本実施例においては、対向電源
(1)1107、および対向電極(2)1108は一定
の電圧に保持されている。
も高いことが望ましい。そのため対向電圧は、これらの
対向電極が陽極か陰極かによって変わってくる。例えば
対向電極が陽極の場合、対向電圧は電源電圧よりも高く
することが望ましい。逆に対向電極が陰極の場合、対向
電圧は電源電圧よりも低くすることが望ましい。
との電圧差が発光素子駆動電圧であり、この発光素子駆
動電圧が有機化合物層にかかる。
させる場合のタイミングチャートを図12に示す。1つ
のゲート信号線が選択されてから、その次に別のゲート
信号線が選択されるまでの期間を1ライン期間(L)と
呼ぶ。なお本明細書においてゲート信号線が選択される
とは、スイッチング用TFTがオンの状態になるような
電位を有する選択信号がゲート信号線に入力されること
を意味する。
が表示されるまでの期間が1フレーム期間(F)に相当
する。例えば、y本のゲート信号線を有する発光装置に
は、1フレーム期間中にy個のライン期間(L1〜L
y)が設けられている。
ト信号線駆動回路1003から入力される選択信号によ
ってゲート信号線(G(1)〜G(y))が選択され、
ゲート信号線(G)に接続されている全てのスイッチン
グ用TFTが全てオンの状態になる。そして、ソース信
号線駆動回路(A)1001からx本のソース信号線
(1)(S(1)〜S(x))、およびソース信号線駆
動回路(B)1002からx本のソース信号線(2)
(S’(1)〜S’(x))に順にビデオ信号が入力さ
れる。ここでは、ゲート信号線(G(1))、ソース信
号線(1)(S(1))、ソース信号線(2)(S’
(1))について示している。なお、ソース信号線
(1)(S(1)〜S(x))に入力されたビデオ信号
は、スイッチング用TFT(1)1101を介して電流
制御用TFT(1)1103のゲート電極に入力され、
ソース信号線(2)(S’(1)〜S’(x))に入力
されたビデオ信号は、スイッチング用TFT(2)11
02を介して電流制御用TFT(2)1104のゲート
電極に入力される。
は、x本の電流供給線(1)(V(1)〜V(x))か
ら電源電圧(1)が入力され、画素電極(2)には、x
本の電流供給線(2)(V’(1)〜V’(x))から
電源電圧(2)が入力される。ここでは、電流供給線
(1)(V(1))、電流供給線(2)(V’(1))
について示している。
流制御用TFT(2)1104のチャネル形成領域を流
れる電流の量は、これらのゲート電極とソース領域の電
圧差であるゲート電圧Vgsによって制御される。よっ
て、発光素子(1)1105、および発光素子(2)1
106のそれぞれの画素電極に与えられる電圧は、各電
流制御用TFTのゲート電極に入力されたビデオ信号の
電圧の高さによって決まる。したがって、発光素子
(1)1105、および発光素子(2)1106はビデ
オ信号の電圧に制御されて発光する。
(1)(S(1)〜S(x))、およびソース信号線
(2)(S’(1)〜S’(x))へのビデオ信号の入
力が終了すると、第1のライン期間(L1)が終了す
る。そして次に第2のライン期間(L2)が開始され、
選択信号によってゲート信号線(G2)が選択され、第
1のライン期間(L1)と同様にソース信号線(1)
(S(1)〜S(x))、およびソース信号線(2)
(S’(1)〜S’(x))に順にビデオ信号が入力さ
れる。
が選択されると、全てのライン期間(L1〜Ly)が終
了する。全てのライン期間(L1〜Ly)が終了する
と、1フレーム期間が終了する。1フレーム期間中にお
いて全ての画素が表示を行い、1つの画像が形成され
る。なお、本実施例において、1フレーム毎に電流供給
線(1)から入力される電源電圧(1)および電流供給
線(2)から入力される電源電圧(2)の電圧が交互に
入れ替わるため、それに伴い発光素子(1)1105、
および発光素子(2)1106が交互に機能する。
発光素子(1)1105および発光素子(2)1106
の発光量が制御され、その発光量の制御によって階調表
示がなされる。
ティブマトリクス型発光装置の外観図について図13を
用いて説明する。なお、図13(A)は、発光装置を示
す上面図、図13(B)は図13(A)をA−A’で切
断した断面図である。点線で示された1301はソース
信号線駆動回路、1302は画素部、1303はゲート
信号線駆動回路である。また、1304は封止基板、1
305はシール剤であり、シール剤1305で囲まれた
内側は、空間1307になっている。
301及びゲート信号線駆動回路1303に入力される
信号を伝送するための配線であり、外部入力端子となる
FPC(フレキシブルプリントサーキット)1309か
らビデオ信号やクロック信号を受け取る。なお、ここで
はFPCしか図示されていないが、このFPCにはプリ
ント配線基盤(PWB)が取り付けられていても良い。
本明細書における発光装置には、発光装置本体だけでな
く、それにFPCもしくはPWBが取り付けられた状態
をも含むものとする。
いて説明する。基板1310上には駆動回路及び画素部
が形成されているが、ここでは、駆動回路としてソース
信号線駆動回路1301と画素部1302が示されてい
る。
チャネル型TFT1313とpチャネル型TFT131
4とを組み合わせたCMOS回路が形成される。また、
駆動回路を形成するTFTは、公知のCMOS回路、P
MOS回路もしくはNMOS回路で形成しても良い。ま
た、本実施例では、基板上に駆動回路を形成したドライ
バー一体型を示すが、必ずしもその必要はなく、基板上
ではなく外部に形成することもできる。
1311とそのドレインに電気的に接続された陽極13
12を含む複数の画素により形成される。
13が形成され、陽極1312上には有機化合物層13
14が形成される。さらに、有機化合物層1314上に
は陰極1316が形成される。これにより、陽極131
2、有機化合物層1314、及び陰極1316からなる
発光素子1318が形成される。
も機能し、接続配線1308を経由してFPC1309
に電気的に接続されている。
子1318を封止するためにシール剤1305により封
止基板1304を貼り合わせる。なお、封止基板130
4と発光素子1318との間隔を確保するために樹脂膜
からなるスペーサを設けても良い。そして、シール剤1
305の内側の空間1307には窒素等の不活性気体が
充填されている。なお、シール剤1305としてはエポ
キシ系樹脂を用いるのが好ましい。また、シール剤13
05はできるだけ水分や酸素を透過しない材料であるこ
とが望ましい。さらに、空間1307の内部に酸素や水
を吸収する効果をもつ物質を含有させても良い。
成する材料としてガラス基板や石英基板の他、FRP
(Fiberglass-Reinforced Plastics)、PVF(ポリビ
ニルフロライド)、マイラー、ポリエステルまたはアク
リル等からなるプラスチック基板を用いることができ
る。また、シール剤1305を用いて封止基板1304
を接着した後、さらに側面(露呈面)を覆うようにシー
ル剤で封止することも可能である。
に封入することにより、発光素子を外部から完全に遮断
することができ、外部から水分や酸素といった有機化合
物層の劣化を促す物質が侵入することを防ぐことができ
る。従って、信頼性の高い発光装置を得ることができ
る。
例6に示したいずれの構成と自由に組み合わせて実施す
ることが可能である。
造を有するパッシブ型(単純マトリクス型)の発光装置
を作製した場合について説明する。説明には図14を用
いる。図14において、1401はガラス基板、140
2は陽極材料からなる第1の電極である。本実施例で
は、第1の電極1402としてITOをスパッタリング
法により形成する。なお、図14では図示されていない
が、複数本の第1の電極が紙面と平行にストライプ状に
配列されている。
極1402と交差するように絶縁材料からなるバンク1
403が形成される。バンク1403は陽極1402と
接して紙面に垂直な方向に形成されている。
2の一部に第1の補助電極1404を蒸着法により形成
する。なお、第1の補助電極1404の形成に用いる材
料としては、実施例1〜実施例3で示した陰極となりう
る材料を用いることができる。また、第1の補助電極1
404形成時にこれらの材料がバンク上に成膜されたと
しても何ら問題はない。
補助電極1404上に有機化合物層1405が形成され
る。有機化合物層1405を形成する材料としては、実
施例1〜実施例3で示した材料を用いることができる。
色発光を示す有機化合物層及び青色発光を示す有機化合
物層をそれぞれ形成することにより、3種類の発光を有
する発光装置を形成することができる。なお、これらの
有機化合物層1405はバンク1403で形成された溝
に沿って形成されるため、紙面に垂直な方向にストライ
プ状に配列される。
第1の補助電極1404と重ならない位置に第2の補助
電極1406を形成する。なお、第2の補助電極140
6も第1の補助電極と同じ材料を用い、同様にして形成
する。
の補助電極1406上に第2の電極1407が形成され
る。なお陰極1407は、蒸着法により形成する。ま
た、本実施例では、第2の電極1407には、遮光性の
材料を用いて形成する。
透光性の材料で形成されているため、有機化合物層14
05で発生した光は下側(基板1401の側)に出射さ
れる。
を用意する。本実施例ではその他にもプラスチックや石
英からなる基板を用いることが可能である。さらに、遮
光性の基板を用いることもできる。
外線硬化樹脂からなるシール剤1410により貼り合わ
される。なお、シール剤1410の内側1408は密閉
された空間になっており、窒素やアルゴンなどの不活性
ガスが充填されている。また、この密閉された空間14
08の中に酸化バリウムに代表される吸湿剤を設けるこ
とも有効である。最後に異方導電性フィルム(FPC)
1411を取り付けてパッシブ型の発光装置が完成す
る。
示した素子構造(アクティブマトリクス型)に関連する
もの以外の材料等を自由に組み合わせて実施することが
可能である。
自発光型であるため、液晶表示装置に比べ、明るい場所
での視認性に優れ、視野角が広い。従って、本発明の発
光装置を用いて様々な電気器具を完成させることができ
る。
製された電気器具として、ビデオカメラ、デジタルカメ
ラ、ゴーグル型ディスプレイ(ヘッドマウントディスプ
レイ)、ナビゲーションシステム、音響再生装置(カー
オーディオ、オーディオコンポ等)、ノート型パーソナ
ルコンピュータ、ゲーム機器、携帯情報端末(モバイル
コンピュータ、携帯電話、携帯型ゲーム機または電子書
籍等)、記録媒体を備えた画像再生装置(具体的にはデ
ジタルビデオディスク(DVD)等の記録媒体を再生
し、その画像を表示しうる表示装置を備えた装置)など
が挙げられる。特に、斜め方向から画面を見る機会が多
い携帯情報端末は、視野角の広さが重要視されるため、
発光素子を有する発光装置を用いることが好ましい。そ
れら電気器具の具体例を図15に示す。
01、支持台2002、表示部2003、スピーカー部
2004、ビデオ入力端子2005等を含む。本発明に
より作製した発光装置をその表示部2003に用いるこ
とにより作製される。発光素子を有する発光装置は自発
光型であるためバックライトが必要なく、液晶表示装置
よりも薄い表示部とすることができる。なお、表示装置
は、パソコン用、TV放送受信用、広告表示用などの全
ての情報表示用表示装置が含まれる。
り、本体2101、表示部2102、受像部2103、
操作キー2104、外部接続ポート2105、シャッタ
ー2106等を含む。本発明により作製した発光装置を
その表示部2102に用いることにより作製される。
ュータであり、本体2201、筐体2202、表示部2
203、キーボード2204、外部接続ポート220
5、ポインティングマウス2206等を含む。本発明に
より作製した発光装置をその表示部2203に用いるこ
とにより作製される。
り、本体2301、表示部2302、スイッチ230
3、操作キー2304、赤外線ポート2305等を含
む。本発明により作製した発光装置をその表示部230
2に用いることにより作製される。
画像再生装置(具体的にはDVD再生装置)であり、本
体2401、筐体2402、表示部A2403、表示部
B2404、記録媒体(DVD等)読み込み部240
5、操作キー2406、スピーカー部2407等を含
む。表示部A2403は主として画像情報を表示し、表
示部B2404は主として文字情報を表示するが、本発
明により作製した発光装置をこれら表示部A、B240
3、2404に用いることにより作製される。なお、記
録媒体を備えた画像再生装置には家庭用ゲーム機器など
も含まれる。
(ヘッドマウントディスプレイ)であり、本体250
1、表示部2502、アーム部2503を含む。本発明
により作製した発光装置をその表示部2502に用いる
ことにより作製される。
2601、表示部2602、筐体2603、外部接続ポ
ート2604、リモコン受信部2605、受像部260
6、バッテリー2607、音声入力部2608、操作キ
ー2609、接眼部2610等を含む。本発明により作
製した発光装置をその表示部2602に用いることによ
り作製される。
体2701、筐体2702、表示部2703、音声入力
部2704、音声出力部2705、操作キー2706、
外部接続ポート2707、アンテナ2708等を含む。
本発明により作製した発光装置をその表示部2703に
用いることにより作製される。なお、表示部2703は
黒色の背景に白色の文字を表示することで携帯電話の消
費電力を抑えることができる。
なれば、出力した画像情報を含む光をレンズ等で拡大投
影してフロント型若しくはリア型のプロジェクターに用
いることも可能となる。
ATV(ケーブルテレビ)などの電子通信回線を通じて
配信された情報を表示することが多くなり、特に動画情
報を表示する機会が増してきている。有機材料の応答速
度は非常に高いため、発光装置は動画表示に好ましい。
を消費するため、発光部分が極力少なくなるように情報
を表示することが好ましい。従って、携帯情報端末、特
に携帯電話や音響再生装置のような文字情報を主とする
表示部に発光装置を用いる場合には、非発光部分を背景
として文字情報を発光部分で形成するように駆動するこ
とが好ましい。
製された発光装置の適用範囲は極めて広く、本発明の発
光装置を用いてあらゆる分野の電気器具を作製すること
が可能である。また、本実施例の電気器具は実施例1〜
実施例8を実施することにより作製された発光装置を用
いることにより完成させることができる。
作製することにより、直流駆動の場合に問題となってい
た有機化合物層におけるチャージの蓄積を防ぐことがで
きる。これにより、発光素子の輝度低下といった問題が
改善されるため発光素子の素子特性の向上と長寿命化が
可能となった。また、本発明の発光装置は、構造の異な
る2種類の発光素子を設け、交流駆動において、極性の
異なる電圧が印加されても常にどちらか一方の発光素子
が機能するような構造を有しているので、直流駆動の場
合と同様の階調表示を行うことができる。
図。
図。
図。
図。
図。
図。
図。
する図。
する図。
タイミングチャート。
る図。
Claims (13)
- 【請求項1】第1の発光素子と、第2の発光素子を有す
る発光装置であって、 前記第1の発光素子は、第1の画素電極と、有機化合物
層と、第1の対向電極と、を有し、 前記第2の発光素子は、第2の画素電極と、前記有機化
合物層と、第2の対向電極と、を有し 前記第1の画素電極および前記第2の画素電極は同一表
面上に形成され、 前記第1の対向電極および前記第2の対向電極は同一表
面上に形成され、 前記第1の画素電極および前記第2の対向電極は、陽極
または陰極のいずれか一方であり、 前記第2の画素電極および前記第1の対向電極は、陽極
または陰極のいずれか他方であることを特徴とする発光
装置である。 - 【請求項2】絶縁表面上に形成された第1のTFTおよ
び第2のTFTと、 前記第1のTFTおよび前記第2のTFT上に形成され
た層間絶縁膜と、 前記層間絶縁膜上に形成された第1の画素電極および第
2の画素電極と、 前記第1の画素電極と前記第1のTFTとの接続部、お
よび第2の画素電極と前記第2のTFTとの接続部を覆
って形成された絶縁膜と、 前記第1の画素電極および前記第2の画素電極上に形成
された有機化合物層と、 前記有機化合物層上に形成された第1の対向電極、およ
び第2の対向電極と、を有する発光装置であって、 前記第1の画素電極、および前記第2の対向電極は、陽
極または陰極のいずれか一方であり、 前記第2の画素電極、および前記第1の対向電極は、陽
極または陰極のいずれか他方であることを特徴とする発
光装置。 - 【請求項3】絶縁表面上に形成された第1のTFTおよ
び第2のTFTと、 前記第1のTFTおよび前記第2のTFT上に形成され
た層間絶縁膜と、 前記層間絶縁膜上に形成された第1の画素電極および第
2の画素電極と、 前記第1の画素電極と前記第1のTFTとの接続部、お
よび第2の画素電極と前記第2のTFTとの接続部を覆
って形成された絶縁膜と、 前記第1の画素電極および前記第2の画素電極上に形成
された有機化合物層と、 前記有機化合物層上に形成された第1の対向電極、およ
び第2の対向電極と、を有する発光装置であって、 前記第1のTFTおよび前記第2のTFTは、ソース領
域およびドレイン領域をそれぞれ有し、 第1の画素電極は第1の電極からなり、 第2の画素電極は第2の電極および第1の補助電極から
なり、 前記第1の電極および前記第2の電極は、前記層間絶縁
膜に形成された開口部において、前記ソース領域または
前記ドレイン領域のいずれか一方と電気的に接続され、 前記第1の画素電極、および前記第2の対向電極は、陽
極または陰極のいずれか一方であり、 前記第2の画素電極、および前記第1の対向電極は、陽
極または陰極のいずれか他方であることを特徴とする発
光装置。 - 【請求項4】絶縁表面上に形成された第1のTFTおよ
び第2のTFTと、 前記第1のTFTおよび前記第2のTFT上に形成され
た層間絶縁膜と、 前記層間絶縁膜上に形成された第1の画素電極および第
2の画素電極と、 前記第1の画素電極と前記第1のTFTとの接続部、お
よび第2の画素電極と前記第2のTFTとの接続部を覆
って形成された絶縁膜と、 前記第1の画素電極および前記第2の画素電極上に形成
された有機化合物層と、 前記有機化合物層上に形成された第1の対向電極、およ
び第2の対向電極と、を有する発光装置であって、 前記第1のTFTおよび前記第2のTFTは、ソース領
域およびドレイン領域をそれぞれ有し、 第1の画素電極は第1の電極からなり、 第2の画素電極は第2の電極および第1の補助電極から
なり、 前記第1の電極および前記第2の電極は、前記層間絶縁
膜に形成された開口部において、前記ソース領域または
前記ドレイン領域のいずれか一方と電気的に接続され、
前記第1の電極および前記第2の電極は、陽極または陰
極のいずれか一方を形成する材料からなり、前記第1の
補助電極は、陽極または陰極のいずれか他方を形成する
材料からなることを特徴とする発光装置。 - 【請求項5】絶縁表面上に形成された第1のTFTおよ
び第2のTFTと、 前記第1のTFTおよび前記第2のTFT上に形成され
た層間絶縁膜と、 前記層間絶縁膜上に形成された第1の画素電極および第
2の画素電極と、 前記第1の画素電極と前記第1のTFTとの接続部、お
よび第2の画素電極と前記第2のTFTとの接続部を覆
って形成された絶縁膜と、 前記第1の画素電極および前記第2の画素電極上に形成
された有機化合物層と、 前記有機化合物層上に形成された第1の対向電極、およ
び第2の対向電極と、を有する発光装置であって、 第1の対向電極は第2の補助電極および第3の電極から
なり、 第2の対向電極は第3の電極からなり、 前記第1の画素電極、および前記第2の対向電極は、陽
極または陰極のいずれか一方であり、 前記第2の画素電極、および前記第1の対向電極は、陽
極または陰極のいずれか他方であることを特徴とする発
光装置。 - 【請求項6】絶縁表面上に形成された第1のTFTおよ
び第2のTFTと、 前記第1のTFTおよび前記第2のTFT上に形成され
た層間絶縁膜と、 前記層間絶縁膜上に形成された第1の画素電極および第
2の画素電極と、 前記第1の画素電極と前記第1のTFTとの接続部、お
よび第2の画素電極と前記第2のTFTとの接続部を覆
って形成された絶縁膜と、 前記第1の画素電極および前記第2の画素電極上に形成
された有機化合物層と、 前記有機化合物層上に形成された第1の対向電極、およ
び第2の対向電極と、を有する発光装置であって、 第1の対向電極は第2の補助電極および第3の電極から
なり、 第2の対向電極は第3の電極からなり、 前記第3の電極は、陽極または陰極のいずれか一方を形
成する材料からなり、 前記第2の補助電極は、陽極または陰極のいずれか他方
を形成する材料からなることを特徴とする発光装置。 - 【請求項7】請求項1乃至請求項6のいずれか一におい
て、 前記有機化合物層は、正孔輸送性および電子輸送性を有
するバイポーラ性の材料からなることを特徴とする発光
装置。 - 【請求項8】請求項1乃至請求項6のいずれか一におい
て、 前記有機化合物層は、正孔輸送性材料および電子輸送性
材料からなることを特徴とする発光装置。 - 【請求項9】請求項1乃至請求項8のいずれか一におい
て、 前記発光装置は、表示装置、デジタルスチルカメラ、ノ
ート型パーソナルコンピュータ、モバイルコンピュー
タ、記録媒体を備えた携帯型の画像再生装置、ゴーグル
型ディスプレイ、ビデオカメラ、携帯電話から選ばれた
一種であることを特徴とする発光装置。 - 【請求項10】絶縁表面上に第1の電極および第2の電
極を形成し、 前記第2の電極上に第1の補助電極を形成し、 前記第1の電極、前記第2の電極および前記第1の補助
電極上に有機化合物層を形成し、 前記有機化合物層上であって、前記第1の電極と重なる
位置に第2の補助電極を形成し、 前記有機化合物層、および前記第2の補助電極上に第3
の電極を形成する発光装置の作製方法であって、 前記第1の電極からなる第1の画素電極と、前記有機化
合物層と、前記第2の補助電極および前記第3の電極と
からなる第1の対向電極と、を有する第1の発光素子
と、 前記第2の電極および前記第1の補助電極とからなる第
2の画素電極と、前記有機化合物層と、前記第3の電極
からなる第2の対向電極と、を有する第2の発光素子と
を形成することを特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項11】絶縁表面上に第1のTFTおよび第2の
TFTを形成し、 前記第1のTFTおよび前記第2のTFT上に層間絶縁
膜を形成し、 前記層間絶縁膜上に第1の電極および第2の電極を形成
し、 前記第2の電極上に第1の補助電極を形成し、 前記第1の電極と前記第1のTFTとの接続部、および
第2の電極と前記第2のTFTとの接続部を覆って絶縁
膜を形成し、 前記第1の電極、前記第2の電極および前記第1の補助
電極上に有機化合物層を形成し、 前記有機化合物層上であって、前記第1の電極と重なる
位置に第2の補助電極を形成し、 前記有機化合物層、および前記第2の補助電極上に第3
の電極を形成する発光装置の作製方法であって、 前記第1の電極からなる第1の画素電極と、前記有機化
合物層と、前記第2の補助電極および前記第3の電極と
からなる第1の対向電極と、を有する第1の発光素子
と、 前記第2の電極および前記第1の補助電極とからなる第
2の画素電極と、前記有機化合物層と、前記第3の電極
からなる第2の対向電極と、を有する第2の発光素子と
を形成することを特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項12】請求項11において、 前記第1のTFTおよび前記第2のTFTは、ソース領
域およびドレイン領域をそれぞれ有し、 前記第1の電極および前記第2の電極は、前記層間絶縁
膜に形成された開口部において、前記ソース領域または
前記ドレイン領域のいずれか一方と電気的に接続される
ことを特徴とする発光装置の作製方法。 - 【請求項13】請求項10乃至請求項12のいずれか一
において、 前記第1の画素電極および前記第2の対向電極は、陽極
または陰極のいずれか一方であり、 前記第2の画素電極および前記第1の対向電極は、陽極
または陰極のいずれか他方であることを特徴とする発光
装置の作製方法。
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