JP2003151892A - 半導体製造装置 - Google Patents
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Abstract
置において、フィルター面の偏流を防ぐとともに、装置
のメンテナンス向上と小型化を目的とする。 【解決手段】 ケミカルフィルターを除塵用フィルター
から分離して配置し、供給空気の流れ方向に対し斜に搭
載する。また、入口側に空気整流手段を設け、更にプリ
ーツ折りフィルターの場合は折り目が供給空気の流れ方
向に対し直交する方向にケミカルフィルターを搭載する
ことを特徴とした半導体製造装置。
Description
造に好適に用いられる半導体製造システムの技術分野に
属する。
バイスの製造工程においては、基板(半導体ウエハ基板
やガラス碁板)に対して多くの処理を施すが、中でもパ
ターン焼き付けのための露光プロセスは半導体製造の要
となる重要なプロセスである。このプロセスを行う装置
として、露光装置(ステッパ、スキャナ)が知られてい
る。
線(紫外線、X線、電子線等)を当てると効率良く化学
反応を起こす高分子膜と、露光により触媒(酸)が発生
しベーク処理(PEB)されることで、触媒により像形
成が行われる化学増幅レジストに大別できる。化学増幅
レジストは触媒を用いた像形成のため高感度化が容易で
あり、照度を得にくいエキシマレーザー光用のレジスト
として近年一般的に用いられている。
ウエハ表面に拡散し、更にベーク処理(PEB)するこ
とで触媒作業が促進し、像プロファイルが劣化するた
め、化学増幅レジストを用いるにはレジスト塗布から露
光を経てベーク処理(PEB)に至る環境雰囲気中のア
ミン・アミドなどの塩基性ガスに対する化学汚染の制御
が必要とされる。
をレチクル面に照射する照明光学系をはじめとして、レ
ンズやミラー等種々の光学部材が使用されている。露光
波長の短波長化に伴い、この露光光が透過・照射する光
学部材に曇りが発生し、ウエハ面に到達する露光量が減
少するという問題があった。この曇り材質は有機化合物
や硫安(NH4)2SO4であり、その原因は、空気中に
存在するアンモニウムイオン(NH4)+や硫酸イオン
(SO4 2-)またはそれらの化合物あるいは有機ガス
が、露光光の照射により光化学反応的に光学部材に付着
することにあると考えられる。
や光学部材の曇りという問題に対して、露光装置本体を
取り巻く周囲環境の温度や湿度あるいは塵埃を制御する
環境チャンバに不純物除去フィルターを搭載し、この雰
囲気中に存在する塩基性ガス、硫酸ガス、有機化合ガス
等の物質を除去することが従来から行われてきた。
ン交換繊維を使用したケミカルフィルター、活性炭粒子
や活性炭繊維を使用した活性炭フィルター、更にはこれ
ら活性炭に酸性物質やアルカリ物質を添着したケミカル
フィルターなどが用いられるが、除去するガスの種類や
フィルターの特性を考慮して、最適なフィルターを選択
することが望ましい。また複数種のガスを除去する場合
には、各々のガスに最適なフィルターを重ね合わせて使
用する場合もある。
ター(ULPA等)を設け、チャンバ内をダウンフロー
している。この環境チャンバにケミカルフィルターを設
ける場合、この天井の除塵フィルターに重ねて、ケミカ
ルフィルターが供給空気に対し上流側になるように配置
する。この場合、ケミカルフィルターを交換する際、装
置天井での作業となるため非常に危険であり作業性も悪
かった。
ルターの除去効率を高い状態で使用するためには、少な
くともフィルター通過風速を1m/sec以下で使用す
る必要がある。この通過風速を抑えるために、ある程度
フィルター面積を確保しなければならなかった。
境チャンバ内の別の場所に配置することやケミカルフィ
ルターサイズを大きくすることが考えられるが、どちら
も装置が大型化してしまうという問題があった。
ハニカム、プリーツ折りの2種類に大別され、圧力損失
は通過風達にもよるが10Pa〜100Pa程度と大変
小さいことが利点である。
ラが起こりやすくフィルター寿命に偏りが発生し、結果
として装置性能を低下させる要因にもなっていた。特
に、プリーツ折りフィルター搭載時に顕著に現れ、その
原因としてはプリーツの折り方向による影響が大きいと
いうことが判明している。
が有する課題を解決するものであり、ケミカルフィルタ
ーを効率的に配置することで、従来以上に高精度なデバ
イスの製造と、装置サイズの省スペース化、メンテナン
ス性の向上を可能とした半導体製造装置を提供すること
を目的とする。
本発明では、ケミカルフィルターを除塵用フィルターか
ら分離して配置することを特徴とする。
れ方向に対し斜に搭載し、フィルターの空気入口側に空
気整流手段(ルーバー等)を設けたことを特徴とする。
り目が供給空気の流れ方向に対し直交する方向に搭載す
ることを特徴とする。
内での偏流を防止するとともに、装置の省スペース化と
メンテナンス性の向上が可能となる。したがって、装置
性能の長期維持とクリーンルームの有効活用が図れる。
全体構成図である。
が使用されている。このチャンバ1は主に空気の温度調
整を行う空調機室10及び微小異物を濾過し清浄空気の
均一な流れを形成するフィルターボックス20、また装
置環境を外部と遮断するブース30で構成されている。
ある冷却器11及び再熱ヒーター12により温度調整さ
れた空気が、送風機13によりケミカルフィルター14
と除塵フィルター15を介してブース30に供給され
る。ブース30に供給された空気はリターン口17より
再度空調機室10に取り込まれチャンバ1内を循環す
る。
環系ではなく、ブース14内を常時陽圧に保つため循環
空気量の約1割のブース内の空気を空調機室10に設け
られた外気導入口18により外気導入口用ケミカルフィ
ルター14’と送風機を介して導入している。ブース3
0を陽圧に保つ理由は、ブース30にある微小な隙間を
通してブース30外より微小異物がブース30内に侵入
するのを防止するためである。
フィルター15と分離して上流側に配置される。配置場
所としてはフィルター交換等を考慮してメンテナンス作
業が行いやすい場所であることが望ましい。また、ケミ
カルフィルター14は供給空気の流れに対し斜に搭載さ
れ、フィルター入口側には空気整流手段16(ルーバー
等)が設けられている。更に、フィルターがプリーツ折
りであれば折り目が供給空気の流れ方向に対し直交する
方向に搭載する(図2)。
の偏流を防止するとともに、各々のフィルターに均等な
量の空気を供給することが可能となる。また、フィルタ
ーの除去効率の問題上、決して小さくはないケミカルフ
ィルターを分離して、任意の場所に斜に搭載することに
より、装置内のスペースを有効に活用できるため、非常
に合理的である。
塵フィルターから分離して配置し、供給空気に対して斜
方向に搭載し、更にこの入口側に空気整流手段を設ける
ことで、従来以上に高精度なデバイス製造を可能とした
半導体製造装置を提供することが可能となる。
の小型化によりクリーンルームの有効活用、設備コスト
の削減、生産効率の向上という効果がある。
構成図
ルター詳細図
Claims (5)
- 【請求項1】 露光装置本体と、これが内部に配置され
たチャンバと、このチャンバの空調を行う空調機室とを
備えた半導体露光装置において、 ケミカルフィルターと除塵フィルターをそれぞれ分離し
て配置することを特徴とする半導体製造装置。 - 【請求項2】 前記露光装置において前記ケミカルフィ
ルターを供給空気の流れ方向に対し斜に搭載したことを
特徴とする請求項1記載の半導体製造装置。 - 【請求項3】 前記ケミカルフィルターと前記除塵フィ
ルターの空気入口側に空気整流手段を設けたことを特徴
とする請求項1記載の半導体製造装置。 - 【請求項4】 前記空気整流手段はルーバーやハニカム
等の空気分割手段であることを特徴とする請求項1記載
の半導体製造装置。 - 【請求項5】 前記ケミカルフィルターと前記除塵フィ
ルターがプリーツ折りフィルターの場合、折り目が供給
空気の流れ方向に対し直交する方向に搭載することを特
徴とする請求項1記載の半導体製造装置。
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