JP2003142125A - イオン伝導膜 - Google Patents
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Abstract
細に制御するすることによって、イオン伝導チャネルを
安定に確保し、安価なポリマーを用いても優れたイオン
伝導性を示す固体電解質膜を得ることを目的とする。 【解決手段】 (1)イオン伝導性成分を有するポリマ
ーセグメント(A)とイオン伝導性成分を有さないポリ
マーセグメント(B)からなる膜であること、(2)A
とBの体積比が30/70〜40/60であること、
(3)該膜中でAとBがミクロ相分離構造を形成するこ
と、及び(4)Aからなるチャネルが膜を貫通するよう
に配置せしめられていることを特徴するイオン伝導膜。
Description
し、特に燃料電池に好適に使用される固体電解質膜に関
する。
電極に挟まれた固体電解質膜から構成される。燃料であ
る水素は一方の電極でイオン化され、この水素イオンは
固体電解質膜中を拡散した後に他方の電極で酸素と結合
する。このとき2つの電極を外部回路で接続している
と、電流が流れ、外部回路に電力を供給する。ここで固
体電解質膜は、水素イオンを拡散させると同時に、燃料
ガスの水素と酸素を物理的に隔離し且つ電子の流れを遮
断する機能を担っている。
社のナフィオン膜のようなパーフルオロスルホン酸膜が
広く用いられている。ナフィオン膜では、例えば文献
Gierke,T.D.;Munn,G.E.;Wil
son,F.C.;J.Polym.Sci.198
1,19,1687 に示されるように、ポリテトラフ
ルオロエチレン(PTFE)からなるマトリックス中に
数nm程度のサイズの親水性チャネル(イオン伝導チャ
ネル)が膜を貫通して存在し、前記のチャネルを通して
水素イオンが拡散するとされている。PTFEマトリッ
クスは膜を安定に保持するために必要であるといわれて
いる。しかしパーフルオロポリマーは非常に高価であ
り、より安価で且つ機械的に安定でしかも固体電解質膜
として優れたイオン伝導性を示す材料が待望されてき
た。
性成分が形成するチャネル構造が極めて重要であると考
えられている。文献 Edmondson,C.A.;
ADReport 2000,18 では、プロトン伝
導膜中に分散している水素イオンが拡散可能な部位(イ
オン伝導部位)のパーコレーションによってイオン伝導
が説明されているが、チャネルを通してイオンが伝導す
るという視点からは、膜中におけるイオン伝導部位の空
間配置が重要になる。本発明の目的は、膜中におけるイ
オン伝導部位の空間配置を制御することによって、優れ
たイオン伝導性を示す固体電解質膜を得ることである。
ロック鎖)が共有結合して1つのポリマー鎖を形成して
いるブロックコポリマーを用いると、ナノメートルスケ
ールのサイズで化学的に異なる成分の配置を制御するこ
とができる。ブロックコポリマーにおいては、化学的に
異なるブロック鎖間の反発から生じる短距離相互作用に
より、それぞれのブロック鎖からなる領域(ミクロドメ
イン)に相分離するが、ブロック鎖がお互いに共有結合
していることから生じる長距離相互作用の効果により、
各ミクロドメインが特定の秩序を持って配置せしめられ
る。各ブロック鎖からなるミクロドメインが集合して作
り出す構造は、ミクロ相分離構造と呼ばれる。
媒に溶かしたブロックコポリマーの溶液を適当な基板の
上に展開した後、溶媒を除去して作製される。作製され
た直後の膜内部には、文献 Hashimoto,
T.;Koizumi,S.;Hasegawa,
H.;Izumitani,T.;Hyde,S.
T.;Macromolecules 1992(2
5)1433 で示されているような、ミクロドメイン
がお互いに入り組んでスポンジ状の構造を取っている状
態がしばしば見られる。このスポンジ状のミクロ相分離
構造は、文献 Sakamoto,N;Hashimo
to,T.;Macromolecules 199
8,31,3815 に示されているが如く、熱に対し
て不安定でありブロックコポリマーのガラス転移点以上
の温度に曝されると他のミクロ相分離構造へと容易に変
化する。
構造は極めて秩序性の高いものとなり、文献 Bate
s,F.S.;Fredrickson,G.H.;A
nnu.Res.Phys.Chem.1990(4
1)525 に開示されているように、構成成分の組成
や雰囲気によって、球状ミセル構造、シリンダー構造、
ラメラ構造などの結晶状構造を示す。このようなミクロ
相分離構造を利用すれば、膜中におけるイオン伝導部位
の空間配置を制御することができる。
性高分子固体電解質の例が特開平8−20704号公報
に開示されているが、この例はブロック鎖として特定の
化学構造の組合わせを開示したもので、本願発明が目的
とするイオン伝導部位の空間配置の制御によるイオン伝
導性改良を開示したものではない。
に、約50000の数平均分子量を有するポリ(スチレ
ン−(エチレン−ブチレン)−スチレン)トリブロック
コポリマーのスチレンユニットをスルホン化した固体電
解質膜の例が開示されている。この例で該トリブロック
コポリマーは、スチレンユニットを約30乃至35重量
%含んだものであり、ポリスチレンブロックがシリンダ
ー状のミクロドメインを形成するものである。イオン伝
導性を担うスルホン酸基はポリスチレンドメイン中に分
布するため、前記のシリンダー状構造は非伝導性を示す
ことが予想されるが、この例では水を取り込んだシリン
ダー同士が夫々接触することによりイオン伝導性が発現
しているとされる。
前記のシリンダー同士の接触が保たれる保証はない。本
発明人らが上記の例と同種のポリ(スチレン−(エチレ
ン−ブチレン)−スチレン)トリブロックコポリマー膜
について行った実験によれば、該膜の内部はミクロドメ
インの界面が鮮明でなくぼんやりと広がった状態であっ
て、ミクロドメインがお互いに入り組んだ構造をしてお
り、先に述べたスポンジ状構造に類似していた。この膜
を80℃にて熱処理すると、ミクロドメインの界面が鮮
明となり、スルホン酸基を含むポリスチレンからなるシ
リンダー状の構造がはっきりと現れ、シリンダー間の接
触は低下した。この構造変化に伴って、膜のイオン伝導
率は低下した。これはイオン伝導チャネルが熱的に不安
定な構造に大きく依存していたことを示唆している。そ
こでより安定にイオン伝導性を示す安価な材料が望まれ
てきた。
るイオン伝導部位の配置をより詳細に制御するすること
によって、イオン伝導チャネルを安定に確保し、安価な
ポリマーを用いても優れたイオン伝導性を示す固体電解
質膜を得ることを目的とする。
伝導性成分を有するポリマーセグメント(A)とイオン
伝導性成分を有さないポリマーセグメント(B)からな
る膜であること、(2)AとBの体積比が30/70〜
40/60であること、(3)該膜中でAとBがミクロ
相分離構造を形成すること、及び(4)Aからなるチャ
ネルが膜を貫通するように配置せしめられていることを
特徴するイオン伝導膜に関する。
るブロック共重合体であることを特徴とする上記のイオ
ン伝導膜に関する。
(C)かつ該Aと同じモノマー成分からなるホモポリマ
ーA’の混合物からなる膜であり、AとA’の体積の和
とBの体積の比が30/70〜40/60であり、該膜
中でAとBはミクロ相分離構造を形成しており、及びA
からなるチャネルが膜を貫通するように配置せしめられ
ていることを特徴とする上記のイオン伝導膜に関する。
合度が、該ブロック共重合体(C)中におけるAブロッ
クの重合度を超えないことを特徴とする上記のイオン伝
導膜に関する。
(C)がポリ(スチレン−(エチレン−プロピレン)−
スチレン)トリブロックコポリマーであり、かつスチレ
ンユニットの30モル%以上がスルホン化されているこ
とを特徴とする上記のイオン伝導膜に関する。
レン−プロピレン)−スチレン)トリブロックコポリマ
ーのスチレンユニットの30モル%以上がスルホン化さ
れてなるブロックコポリマーと、スチレンユニットの3
0モル%以上がスルホン化されたポリスチレンのブレン
ドからなる上記のイオン伝導膜に関する。
るポリマーセグメントに選択的な溶媒であって沸点が8
0℃以上の溶媒を成分として含有する溶媒からキャスト
されたことを特徴とする上記のイオン伝導膜に関する。
分を有するポリマー(A)と、イオン伝導性成分を有さ
ないポリマー(B)からなる膜であって、AとBのミク
ロドメインが互いに連続相を形成する体積組成(共連続
組成)乃至は共連続組成にごく近い組成になるようにA
とBの体積比を調整したポリマーを用いる。
Matsen,M.W.;Bates,F.S.;Ma
cromolecules 1996,29,1091
に開示されるように、特定の体積組成でミクロドメイ
ンが共連続構造を形成することが予測されている。例え
ば文献 Khandpur,A.K.;Foerste
r,S;Bates,F.S.;Hamley,I.
W.;Ryan,A.J.;Bras,W.;Almd
al,K.;Mortensen,K.;Macrom
olecules 1995,28,8796 に開示
されているポリ(スチレン−イソプレン)ジブロックコ
ポリマーにおいては、ポリスチレンとポリイソプレンの
体積比が32/68〜35/65及び61/39〜64
/36の範囲で共連続構造が観察されている。
導性成分を有するポリマー(A)と、イオン伝導性成分
を有さないポリマー(B)からなるブロックコポリマー
を用い、前記AとBの体積比を、先に示した共連続組成
乃至はその周辺の組成である、30/70〜40/6
0、好ましくは、34/66〜38/62 に調節する
ことにより、イオン伝導チャネルを安定に確保できるこ
とを見出した。
さい場合、イオン伝導性部位の連続性が損なわれるた
め、上記の体積組成の範囲が好適である。ポリマーAの
体積組成が上記の範囲にあれば、膜の内部構造がスポン
ジ状のミクロドメイン構造であっても、熱による構造変
化に対して膜を貫通するイオン伝導チャネルをより安定
に確保することができる。
体積組成が50/50に近くなると、交互に並んだAの
ラメラ及びBのラメラからなる層状のミクロドメイン構
造が膜内部に形成され、特にこの層状構造は膜の表面近
傍で膜表面に対して平行に配列する。このような膜内部
の構造は、膜を貫通してのイオン伝導チャネルを阻害し
望ましくないため、上記の体積組成の範囲が好適であ
る。本発明のミクロドメイン構造は、ネットワーク状に
連結し、その構造の長周期は10〜100nmのものが
好ましく得られる。
湿環境下では膜形状の安定性が損なわれるため、上記の
Bリッチな組成が好適である。
ビニルスルホン酸ナトリウム、アルスルホン酸ナトリウ
ム、2−アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン
酸、ビニルホスホン酸、ビニルベンゼンホスホン酸など
スルホン酸基やホスホン酸基のついたビニルモノマーの
ようなイオン伝導性モノマー(MA)と、スチレン、2
−ビニルピリジン、ステアリン酸ビニル、ラウリン酸ビ
ニルなどの非イオン伝導性モノマー(MB)をアニオン
重合法などにより、MAからなるブロック鎖とMBから
なるブロック鎖の体積比が30/70〜40/60の範
囲になるように、ブロック共重合して得ることができ
る。
ましい組合わせとしては、例えば、スチレンスルホン酸
−2−ビニルピリジン、2−アクリルアミド−2−メチ
ルプロパンスルホン酸−アクリロニトリルなどがある。
ブロック鎖(A0)と、イオン伝導性部位を有さないブ
ロック鎖(B)からなるブロックコポリマーで、A0と
Bの体積比が30/70〜40/60の範囲にあるもの
を用い、ブロックコポリマーのA0部分にイオン伝導性
部位を後から導入する方法を取ることができる。この目
的に用いられるブロックコポリマーとして、比較的安価
に入手できることより、ポリ(スチレン−(エチレン−
プロピレン)−スチレン)トリブロックコポリマー、ポ
リ(スチレン−(エチレン−ブチレン)−スチレン)ト
リブロックコポリマー、ポリ(スチレン−ブタジエン−
スチレン)トリブロックコポリマー、ポリ(スチレン−
イソプレン−スチレン)トリブロックコポリマーなどの
ようなトリブロックコポリマーが好適である。
ン−プロピレン))ジブロックコポリマー、ポリ(スチ
レン−ブタジエン)ジブロックコポリマーなどの、ジブ
ロックコポリマーも本願発明に用いることができるが、
トリブロックコポリマーの方が膜の力学的安定性の面か
ら好適に用いられる。
ク鎖(A0)にイオン伝導部位が導入され供される。例
えば、文献 Carretta,N.;et al.;
J.Mem.Sci.2000,166,189 の方
法を用いて選択的にポリスチレンブロックにスルホン酸
基を導入することができる。
マーの溶液を調整し、この溶液にアセチルサルフェート
を添加することによって、スルホン酸基が選択的にポリ
スチレンブロック鎖に導入される。この方法を用いて導
入されたスルホン酸基のスチレンユニットに対する量
(スルホン化率)は、上記文献によれば概略15モル%
とされているが、本発明人らの実験によれば添加するア
セチルサルフェートのスチレンユニットに対するモル比
を1/1に近付けることによって、スルホン化率を30
モル%程度以上にすることができる。
号公報に開示されている方法を用いてポリスチレンブロ
ックにスルホン酸基を導入することができる。
るポリマー(A)と、イオン伝導性成分を有さないポリ
マー(B)からなるブロックコポリマー(C)が得られ
る。ここで、ブロックコポリマー(C)へAと同じモノ
マー成分からなり且つイオン伝導性成分を有するポリマ
ー(A’)を添加することができる。この場合において
は、最終的にイオン伝導性部位を有するポリマーの組成
が上記の範囲であれば、A’添加前のブロックコポリマ
ー中におけるAとBの体積比は、上記の30/70〜4
0/60の範囲に限定されない。
記のポリマー(A’)の重合度が大きい場合、ブロック
コポリマーとA’がマクロに相分離し易くなり、添加し
たA’がイオン伝導チャネルの確保に寄与しなくなる。
の範囲は、ブロックコポリマー中におけるAブロックの
重合度を超えない範囲、更に望ましくはAブロックの重
合度の1/2乗乃至はそれ以下の重合度である。但し
A’の重合度が低くなると、A’が膜表面に析出してし
まう恐れがあるため、A’の重合度としては、Aブロッ
クの重合度の1/2乗乃至はその近傍が望ましい。ここ
でCとして両側にAブロックを有するABA型のトリブ
ロックコポリマーを用いる場合、Aブロックの重合度と
は両側のブロックの重合度の和ではなく、各ブロックの
重合度をいう。
且つAブロックの重合度を越えない重合度のポリマー
(A’)を添加する方法は、本願発明に供し得るブロッ
クコポリマーの種類を広げるものである。好適なポリマ
ー(A’)の具体例としては、ポリスチレンスルホン
酸、ポリビニルベンゼンホスホン酸などがある。
るブロックコポリマー(C)乃至はブロックコポリマー
(C)とホモポリマー(A’)のブレンドは、有機溶媒
に溶解した後、適当な基板上にキャストされ製膜され
る。溶液をキャストする方法としては、バーコーター
法、基板を溶液に浸漬する方法、スピンキャスト法など
を用いることができる。
を有するブロック鎖(A)に選択的な表面を有する基板
を用いる。
有する基板とは、Aと基板との界面張力が、イオン伝導
性部位を有さないブロック鎖(B)と基板との界面張力
に比べて小さいことを意味する。例えば、Aとしてスル
ホン化したポリ(スチレン−(エチレン−プロピレン)
−スチレン)トリブロックコポリマーに対しては、ガラ
ス基板などが好適に用いられる。イオン伝導性部位を有
さないブロック鎖(B)に選択的な基板を用いた場合、
基板と接していた側の膜表面がB成分によって覆われる
ことによって、イオン伝導性が阻害されるため好ましく
ない。
である。例えば、スルホン化したポリ(スチレン−(エ
チレン−プロピレン)−スチレン)トリブロックコポリ
マーをテトラヒドロフラン(THF)溶液からバーコー
ター法などによりガラス基板上に製膜した場合、大気中
への急激なTHFの蒸発に伴って、膜に多数の欠陥(亀
裂など)が生じる。更に膜表面が粗面化する。この故
に、THFのような揮発性の高い溶媒を用いる場合に
は、基板にキャストしたブロックコポリマー溶液を乾燥
する際、溶液からの溶媒の蒸発速度を抑制する。
ば密封槽に調節可能なガス導出路を設けたものを用い、
この槽中で該溶液を乾燥することによって行うことがで
きる。槽内部は、溶液から蒸発した溶媒によって概ね溶
媒の飽和蒸気下に保たれ、溶媒蒸気はガス導出路を通し
てゆっくりと排出される。
わりに、N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)等の
比較的揮発性の低い溶媒が好適に用いられる。ここで前
記揮発性の低い溶媒は、THFなどの揮発性の高い溶媒
と混合して用いることができる。
面には通常、文献 Hasegawa,H.;Hash
imoto,T.;Polymer 1992,33,
475 に開示されているように、表面張力の小さいブ
ロック鎖からなる濡れ層が膜の表面に形成される。大気
中では通常、イオン伝導性部位の方がイオン伝導性を有
さない部位に対して表面張力が大きいため、上記の濡れ
層は非イオン伝導層であり、膜の表面でイオン伝導チャ
ネルを阻害し、望ましくない効果を生じる。しかし本発
明人らの実験によれば、イオン伝導性部位を有するブロ
ック鎖(A)に選択的な溶媒(S1)を溶媒とした該ブ
ロックコポリマーの溶液をキャストに用いれば、イオン
伝導チャネルに対する望ましくない効果が抑制できるこ
とが分かった。
ク鎖(A)に選択的な溶媒(S1)とは、イオン伝導部
位を有さないブロック鎖(B)と比べて、S1がよりA
の方に親和的であることをいう。
ャストされた溶液の膜から蒸発などによって取り除かれ
る際、Bからなるミクロドメイン中に含まれるS1の量
と、Aからなるミクロドメイン中に含まれるS1の量を
比較したとき、後者が前者に比べ多くなることを意味す
る。すなわち、溶媒S1は先ずBのミクロドメイン中か
ら除かれ、最後にAのミクロドメイン中から除かれる。
成分、溶媒の溶解度パラメータの差を用いて求めること
ができ、一般に溶解度パラメータの差の絶対値が小さい
ほど親和性は高い。溶解度パラメータの値は公知の文献
Brandrup,J.;Immergut,E.
H.;Grulke,E.A.;Polymer Ha
ndbook,4th ed.,John Wiley
&Sons,New York,1999 などにより
容易に知ることができる。
ール、エタノール、1−ブタノール、1−プロパノール
などのアルコール類、DMF、N,N−ジメチルアセト
アミド(DMAc)、N−メチル−2−ピロリドン(N
MP)などが挙げられる。S1として高揮発性の溶媒を
用いると、イオン伝導性部位(A)に選択的な溶媒を用
いた効果が損なわれ、表面に非伝導性成分(B)が生じ
やすくなる。このため、比較的揮発性の低い溶媒を用い
る。ここで揮発性が低いとは、乾燥条件にも依存する
が、本発明人らが行った実験によれば概略80℃以上、
望ましくは90℃以上の沸点を有する1−プロパノール
やDMFなどの溶媒が、膜表面におけるイオン伝導部位
の確保の点で好適に用いられる。このような低揮発性の
溶媒は、先に述べた製膜時に生じる欠陥防止の点からも
望ましい。
ず、複数の溶媒の混合溶媒を用いることが出来る。例え
ばスルホン化ポリ(スチレン−(エチレン−プロピレ
ン)−スチレン)トリブロックコポリマーにポリスチレ
ンスルホン酸を添加したブレンドをキャストする場合、
DMFとアルコール類の混合溶媒などが好適に用いられ
る。S1として混合溶媒を用いる場合、全ての溶媒成分
が先に述べた80℃以上の沸点を有する必要はなく、最
も低揮発性の成分(S1V)についてその沸点が80℃
以上の範囲にあればよい。この時S1中のS1Vの量
は、溶液中のポリマーに対する重量の比が1/99以上
になるように調整する。
(A)に選択的な溶媒(S1)のみを溶媒に用いた場
合、ブロックコポリマー(C)を均一に溶解させること
が必ずしも容易ではない。そこでS1より揮発性の高い
溶媒であってCを溶解する溶媒S2を混合して用いるこ
とができる。S2として、例えばスルホン化ポリ(スチ
レン−(エチレン−プロピレン)−スチレン)トリブロ
ックコポリマーや、そのポリスチレンスルホン酸とのブ
レンドに対してTHF、1,2−ジクロロエタンなどが
挙げられる。ここでS2は必ずしも単一の溶媒を意味せ
ず、複数の溶媒からなる混合溶媒を用いることができ
る。
す膜が得られる。イオン伝導性は、例えば、相対湿度6
0%の雰囲気で測定して、10−4〜10−1S/cm
の好ましく得られる。この膜は、製膜に用いた基板から
剥離して、燃料電池用の固体電解質膜として用いること
ができる。あるいは燃料電池のガス拡散電極を基板とし
て製膜し、燃料電池に組み込むことができる。
ン−プロピレン)−スチレン)トリブロックコポリマー
で、スチレンブロック(A0)と(エチレン−プロピレ
ン)ブロック(B)の体積比が26/74のもの(C
0)を用いた。ブロックコポリマーC1において、両側
のスチレンブロックの重合度は共に約130であった。
またC1へ添加するため、重合度15のポリスチレン
(A0’)を用いた。無水酢酸14.9mlと濃硫酸
5.6mlを0℃で混合攪拌し、アセチルサルフェート
溶液(AS)を作製した。
1,2−ジクロロエタン(DCE)100mlに溶解
し、50℃に保持した。この溶液(SC0)に、ポリマ
ーC中のスチレンユニットに対してアセチルサルフェー
トのモル比が1/1になるように、前記アセチルサルフ
ェート溶液ASを加え、溶液温度を50℃に保持したま
ま、3時間攪拌を行った。
mlを注入し、反応を停止させた。溶液SC0を50℃
で乾燥させ、固形物を析出させた。前記固形物をメタノ
ールで洗浄した後乾燥させ、スルホン化トリブロックコ
ポリマーCを得た。ホモポリマーA0’の1gをDCE
3mlに溶解し、50℃に保持した。この溶液(SA
0’)にポリマーA0’のスチレンユニットに対してア
セチルサルフェートのモル比が1/1になるように、前
記アセチルサルフェート溶液ASを加え、溶液温度を5
0℃に保持したまま、3時間攪拌を行った。
注入し、反応を停止させた。溶液SA0’を50℃で乾
燥させ、スルホン化ポリスチレンA’を得た。ポリマー
C1中のポリスチレンブロックA1及びホモポリマー
A’のスルホン化率をプロトンNMRにて測定したとこ
ろ、それぞれスチレンユニットに対して28mol%、
55mol%のスルホン酸基が導入されていることが分
かった。スルホン化ポリスチレンA’の重合度は、プレ
ポリマーA0’の重合度15と等しく、スルホン化ブロ
ックコポリマーC中におけるスルホン化ポリスチレンブ
ロックAの重合度を超えていない。更にポリマーA’の
重合度は、Aの重合度の1/2乗(11)に近い値とな
っていた。
ように混合し溶媒Sを作製した。トリブロックコポリマ
ーCとポリマーA’を、ブロック鎖AとポリマーA’が
ポリマー中で占める体積が30%となるように、前記溶
媒Sに溶解した。ここでポリマー濃度は5重量%となる
ように調整した。
法によりキャストし、弁を設けた密閉槽中で、槽内を溶
媒の飽和蒸気圧に保ちながら1日かけて乾燥した後、均
一且つ透明な固体電解質フィルムF1を得た。このフィ
ルムの膜厚は160μmであった。フィルムの内部構造
は、フィルムの超薄切片を切り出し、該切片を四酸化オ
スミウムで染色した後、日立製作所製HF−100FA
透過型電子顕微鏡(以下TEM)で観察した。
B1からなるドメインとイオン伝導性部位を有するA又
はA’からなるドメインがミクロ相分離を生じている様
子が観察された。Bからなるドメインはマトリックスを
なし、その中でA又はA’からなるドメインはネットワ
ーク状に連結し、膜を貫いて連続したドメインを形成し
ていることが観察された。
を、リガク社製回転対陰極型X線回折装置RINT25
00型を用いて測定した。小角X線散乱スペクトルのピ
ーク位置から求めた前記ネットワーク状の構造の長周期
は31nmであった。膜表面をデジタルインスツルメン
ツ社製原子間力顕微鏡(以下AFM)で観察した。AF
Mで測定した膜の局所的な表面粗さは概略4.0nmで
あった。AFMチップを共振点近傍で振動させながら膜
の表面と接触させると、文献Zhong,Q.;Inn
is,D.;Kjoller,K.;Elings,
V.B.;Surf.Sci.Lett.1993,2
90,L688 で指摘されているように、表面がガラ
ス状かゴム状かによって前記のチップ振動に位相のずれ
が生じる。この位相のずれにより、室温でガラス状態に
あるAとゴム状態にあるBの、膜表面における分布を調
べることができる。
よって占められている面積は全表面積の47%に及んで
いた。フィルムのイオン伝導度は、得られた固体電解質
をステンレスシートで挟み込み、電極間に交流を印加し
て抵抗部分を測定する交流インピーダンス法を用いてお
こない、コール・コールプロットの実数インピーダンス
切片から計算して求めた。測定は50℃で行った。フィ
ルムF1のイオン伝導度を相対湿度40%、60%、9
0%の各雰囲気で測定したところ、それぞれ3.5×1
0−4S/cm、3.5×10−3S/cm、3.1×
10−2S/cmであった。
度80%の雰囲気下で2週間熱処理を行った。このフィ
ルムをFA1とする。
nmとなり、熱処理前に比べて少し低下していた。この
フィルムの内部構造をTEMで観察すると、Bからなる
マトリックスと、A又はA’からなるドメインの界面が
熱処理前に比べて鮮明になっており、熱処理前の構造が
非平衡状態であったことを示した。しかし、熱処理後に
おいても、A又はA’からなるドメインはネットワーク
状の構造を維持していた。フィルムFA1のイオン伝導
度を相対湿度40%、60%、90%の各雰囲気で測定
したところ、それぞれ4.8×10−4S/cm、3.
9×10−3S/cm、3.1×10−2S/cmであ
り、熱処理前と同等以上であり、イオン伝導チャネルが
安定に維持されていることが示された。
重量比90/10/0.1となるように混合したものを
用いた以外は、実施例1と同様にして、均一且つ透明な
固体電解質フィルムF2を得た。フィルムF2の膜厚は
160μmであった。
ろ、間隔25nm程度で分散したA又はA’からなるド
メインがネットワーク状の構造を形成していた。AFM
で測定したこのフィルムの局所的な表面粗さは1.7n
m程度と良好な平滑性を示した。またAFM位相像にお
いて位相が小さい成分(A)によって占められている面
積は全表面積の67%程度に達し、DMFを用いない場
合(実施例1)に比べて向上した。このフィルムのイオ
ン伝導度を相対湿度40%、60%、90%の各雰囲気
で測定したところ、それぞれ1.3×10−3S/c
m、7.8×10−3S/cm、7.1×10−2S/
cmと実施例1より向上し、低揮発性且つスルホン化ポ
リスチレンに選択的な溶媒(DMF)を添加することに
よってイオン伝導率が向上する効果が見られた。
チレンA’の占める体積の和とポリ(エチレン−プロピ
レン)ブロックBの体積の比が35/65になるよう
に、A’を添加した以外は実施例1と同様にして、均一
な透明フィルムF3を得た。このフィルムの内部構造を
観察すると、イオン伝導性部位を有さないBからなるマ
トリックス中で、イオン伝導性部位を有するA又はA’
からなるドメインがミクロ相分離を生じている様子が観
察された。ここでA又はA’からなるドメインは、ネッ
トワーク状に連結し、膜を貫いて連続したドメインを形
成していた。小角X線散乱スペクトルのピーク位置から
求めた前記のネットワーク状の構造の長周期は33nm
であった。
った以外は実施例1と同様にして、均一な透明フィルム
F4を得た。このフィルムの内部構造をTEMで観察す
ると、イオン伝導性部位を有さないBからなるマトリッ
クス中で、イオン伝導性部位を有するAからなるドメイ
ンがミクロ相分離を生じている様子が観察された。また
AFM位相像において位相が小さい成分(A)によって
占められている面積は全表面積の42%であり、A’を
添加した場合(実施例1)に比べて低下した。フィルム
F4のイオン伝導度を相対湿度40%、60%、90%
の各雰囲気で測定したところ、それぞれ1.7×10
−5S/cm、2.2×10−4S/cm、2.6×1
0−3S/cmであり、実施例1と比較して著しく低い
伝導率を示した。
チレン(A1’)を用いた以外は実施例1と同様にして
固体電解質フィルムF5を得た。フィルムF5の内部を
観察すると、所々にポリマーA1’からなると見られる
粗大ドメインが形成されており、粗大ドメイン間には比
較例1と同様の構造が観察された。フィルムF4のイオ
ン伝導度を測定したところ、比較例1とほぼ同じ伝導率
を示し、ポリマーA1’添加の効果が見られなかった。
比較例3ブロックコポリマーとして、ポリ(スチレン−
(エチレン−ブタジエン)−スチレン)トリブロックコ
ポリマーで、スチレンブロック(A0)と(エチレン−
プロピレン)ブロック(B)の体積比が26/74のも
の(C0)を用いた以外は実施例1と同様にして、均一
な透明フィルムF6を得た。このフィルムの内部構造を
TEMで観察すると、ミクロドメインがお互いに入り組
んだネットワーク状の構造をしていた。またAFM位相
像において位相が小さい成分(A)によって占められて
いる面積は全表面積の42%であった。フィルムF6に
対して温度80℃、相対湿度80%の雰囲気下で2週間
熱処理を行いフィルムFA6を得た。このフィルムの内
部構造をTEMで観察すると、ミクロドメインの界面が
鮮明となり、スルホン酸基を含むAドメインからなるシ
リンダー状の構造がはっきりと現れ、熱処理前に見られ
たAドメインが互いに連結した構造が損なわれた。
そのイオン伝導性能と耐熱安定性を向上させることがで
きる。
M観察像(300nm×300nm)を示す。イオン伝
導性部位を有するA又はA’からなるドメインがミクロ
相分離を生じている様子が観察できる。
AFM観察像(位相像、2000nm×2000nm)
を示す。ところどころBドメインに覆われた部分がある
一方で、イオン伝導性部位を有するA又はA’からなる
ドメインが表面に現れている様子が観察できる。
M観察像(300nm×300nm)を示す。
M観察像(300nm×300nm)を示す。
AFM観察像(位相像、2000nm×2000nm)
を示す。イオン伝導性部位を有するA又はA’からなる
ドメインがほぼ均一に表面に現れている様子が観察でき
る。
(1500nm×1500nm)を示す。A’からなる
ドメインがマクロ相分離を生じている。
膜のTEM観察像(300nm×300nm)を示す。
イオン伝導性部位を有するA又はA’からなるドメイン
がミクロ相分離を生じている様子が観察できる。
膜のTEM観察像(300nm×300nm)を示す。
ドメイン界面が明瞭になると共に、Aドメインが平行に
並んだシリンダー状になることにより、Aドメイン相互
の連結性が損なわれている様子が観察できる。
Claims (7)
- 【請求項1】(1)イオン伝導性成分を有するポリマー
セグメント(A)とイオン伝導性成分を有さないポリマ
ーセグメント(B)からなる膜であること、(2)Aと
Bの体積比が30/70〜40/60であること、
(3)該膜中でAとBがミクロ相分離構造を形成するこ
と、及び(4)Aからなるチャネルが膜を貫通するよう
に配置せしめられていることを特徴するイオン伝導膜。 - 【請求項2】AとBが共有結合しているブロック共重合
体であることを特徴とする請求項1に記載のイオン伝導
膜。 - 【請求項3】該ブロック共重合体(C)かつ該Aと同じ
モノマー成分からなるホモポリマーA’の混合物からな
る膜であり、AとA’の体積の和とBの体積の比が30
/70〜40/60であり、該膜中でAとBはミクロ相
分離構造を形成しており、及びAからなるチャネルが膜
を貫通するように配置せしめられていることを特徴とす
る請求項2に記載のイオン伝導膜。 - 【請求項4】該ホモポリマーA’の重合度が、該ブロッ
ク共重合体(C)中におけるAブロックの重合度を超え
ないことを特徴とする請求項3に記載のイオン伝導膜。 - 【請求項5】該ブロック共重合体(C)がポリ(スチレ
ン−(エチレン−プロピレン)−スチレン)トリブロッ
クコポリマーであり、かつスチレンユニットの30モル
%以上がスルホン化されていることを特徴とする請求項
2〜4記載のイオン伝導膜。 - 【請求項6】ポリ(スチレン−(エチレン−プロピレ
ン)−スチレン)トリブロックコポリマーのスチレンユ
ニットの30モル%以上がスルホン化されてなるブロッ
クコポリマーと、スチレンユニットの30モル%以上が
スルホン化されたポリスチレンのブレンドからなる請求
項3〜5に記載のイオン伝導膜。 - 【請求項7】イオン伝導性成分を有するポリマーセグメ
ントに選択的な溶媒であって沸点が80℃以上の溶媒を
成分として含有する溶媒からキャストされたことを特徴
とする請求項1〜6に記載のイオン伝導膜。
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