JP2003101055A - 太陽電池の製造方法 - Google Patents
太陽電池の製造方法Info
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Abstract
エッチングして拡散層全体をエッチングされないように
することができ、基板表面へのダメージを生じ難くし
て、良好なデバイス特性を得ることができる。 【解決手段】 p型Si基板1の表面部分に不純物のリ
ンを導入して拡散させてn型の拡散層2を形成した後、
p型Si基板1上に形成されたn型拡散層2を、弗化水
素酸と過酸化水素水を混合させた水溶液で浸漬処理する
ことにより、過酸化水素水によるシリコンの酸化処理と
弗化水素酸によるシリコン酸化膜のエッチング処理の2
段階処理を行い、n型拡散層2表面部分のリンの高濃度
領域を除去する。
Description
法に係り、特に、半導体表面における不純物高濃度領域
を除去することにより、発電効率の高いシステムを実現
する技術に関するものである。
ンで構成したシリコン太陽電池になってきているが、そ
の普及には製品コストの低減が必要となっている。太陽
電池の発電効率を向上させることは、製品価格を下げる
手段と言える。また、発電効率の高い太陽電池デバイス
を用いることにより、設置面積を小さくできるという付
加的なメリットもある。
陽電池の製造工程を示す図である。図5において、10
1はp型Si基板であり、102はp型Si基板101
上に形成されたn型拡散層である。102aはn型拡散
層102表面部分に形成されたリンガラスであり、10
3はn型拡散層102上に形成された反射防止膜として
機能する絶縁膜である。
と接続するように形成された表電極であり、105はp
型Si基板101の裏面に形成された裏電極である。1
06は表電極104を覆うように形成されたEVA(E
thylene VinylAcetate)などから
なる充填材膜であり、107は充填材膜106上に形成
されたガラス板である。
1を用い、図5(B)に示すように、例えばリンをp型
Si基板101表面部分中に熱的に拡散させることによ
り、導電型を反転させたリン含有シリコンからなるn型
拡散層102を、p型Si基板101表面部分に形成す
る。この時、n型拡散層102がSi基板101の全面
に形成されるとともに、リンと酸素を含む化合物若しく
は拡散源の一部からなるリンガラス102aがn型拡散
層102表面部分に生じる。
の工夫の無い場合、n型拡散層102は、p型Si基板
101の全面に形成される。次いで、図5(C)に示す
ように、弗化水素酸水溶液に浸漬させることにより、n
型拡散層102表面部分に生じたリンガラス102aを
エッチング除去する。次いで、図5(D)に示すよう
に、p型Si基板101の一主面のみにn型拡散層10
2を残すようにn型拡散層102を選択的にエッチング
除去する。
層102上に反射防止膜として機能する絶縁膜103を
形成する。この絶縁膜103は、反射防止膜として機能
するので、太陽電池デバイスの性能を向上させる。この
後、図6(B)に示すように、絶縁膜103上に銀ペー
ストなどを塗布し、印刷技術により銀ペーストを所定の
パターン形状に形成した後、その銀パターンを焼成して
表電極104を形成する。この表電極104は、焼成に
より絶縁膜103を貫通してn型拡散層102と接続さ
れる。
基板101裏面に銀アルミあるいはアルミペーストなど
を塗布し、印刷技術により所定のパターン形状に形成し
た後、その金属パターンを焼成して、p型Si基板10
1裏面に裏電極105を形成する。そして、表電極10
4を覆うようにEVAなどの充填材膜106、ガラス板
107を順次形成することにより、図6(C)に示すよ
うな構造の太陽電池デバイスを得ることができる。
層102の形成は、気体、液体、固体の何れかを基板1
01表面に付着させ、熱的に拡散する方法が一般的であ
る。この場合、n型拡散層102は、表面部分のリンの
不純物濃度が高く、内部に向かってリンの不純物濃度が
減少していく分布を呈する。
を形成する際に、拡散層102表面部分にリンの不純物
高濃度領域が生じていると、太陽電池のデバイス性能を
低下させてしまう。このため、この拡散層102表面部
分に生じたリンの不純物高濃度領域を取り除くことによ
り、太陽電池デバイスの性能を向上させることができ
る。
除く手法としては、プラズマによるエッチング、弗化水
素酸(HF)と硝酸(HNO3)を混合させた水溶液に
よるエッチング、表面に形成させた酸化膜等を弗化水素
酸(HF)水溶液等で除去する方法が挙げられる。
たような従来の太陽電池の製造方法では、太陽電池デバ
イスの性能を向上させるために、n型拡散層102表面
部分の不純物高濃度領域を除去するのを、プラズマによ
るエッチング、弗化水素酸(HF)と硝酸(HNO3)
を混合させた水溶液によるエッチング、表面に形成させ
た酸化膜等を弗化水素酸(HF)水溶液で除去する方法
を採っていた。
ッチングするため、基板表面にダメージを与え易い。ま
た、弗化水素酸(HF)と硝酸(HNO3)を混合させ
た水溶液によるエッチングは、薬液作成時、エッチング
時に発熱反応を伴い、基板のエッチングレートが加速さ
れ易い。このため、pn接合形成に必要なn型拡散層1
02全体をエッチングし易く、基板表面にダメージを与
え易く、良好なデバイス特性を得る点で問題を残してい
た。
述したように、薬液作成時、エッチング時に発熱反応を
伴うなど、水溶液の安定性、製造工程の煩雑さから、量
産への適用が難しかった。従って、この拡散層102の
表面部分の高濃度領域は、エッチングを行わずに残存さ
れたままであることが多く、太陽電池性能を改善させ難
いという問題があった。
度領域のみを、容易にエッチングして拡散層全体をエッ
チングされないようにすることができ、基板表面へのダ
メージを生じ難くして、良好なデバイス特性を得ること
ができる太陽電池の製造方法を提供することを目的とす
る。
製造方法は、第1の導電型の半導体基板表面部分に不純
物を導入して拡散させて第2の導電型の拡散層を形成す
る工程と、前記第2の導電型の拡散層を、弗化水素酸と
過酸化水素水を混合させた水溶液で浸漬処理する工程と
を含むものである。
溶液の弗化水素濃度は、0.01乃至5重量%であるも
のである。
溶液の過酸化水素濃度は、前記水溶液の弗化水素酸の濃
度より高いものである。
溶液の温度は、5乃至35℃であるものである。
溶液に浸漬する処理時間は、10分以内であるものであ
る。
散層のシート抵抗は、30乃至100Ω/□であるもの
である。
態を、図面を参照して説明する。 実施の形態1.図1、2は本発明に係る実施の形態1に
おける太陽電池の製造方法を示す図である。図1、2に
おいて、1はp型Si基板であり、2はp型Si基板1
上に形成されたn型拡散層である。2aはn型拡散層2
表面部分に形成されたリンガラスであり、3はn型拡散
層2上に形成された反射防止膜として機能する窒化シリ
コンなどからなる絶縁膜である。
れた銀などからなる表電極であり、5はp型Si基板1
の裏面に形成された銀アルミあるいはアルミなどからな
る裏電極である。6は表電極4を覆うように形成された
EVA(EthyleneVinyl Acetat
e)などからなる充填材膜であり、7は充填材膜6上に
形成されたガラス板である。
り製造される単結晶シリコン基板あるいはキャスト法に
より製造される多結晶シリコン基板が用いられる。本実
施の形態における太陽電池には、多結晶シリコンからな
る基板1を用い、インゴットからスライスされたままの
基板1を用いる。導電型はp型のものを用いるが、n型
のものを用いてもよい。
表面の機械加工変質層および汚れを取り除くために、水
酸化カリウム、水酸化ナトリウム水溶液等のアルカリ水
溶液あるいは弗酸と硝酸の混合液などを用いて、およそ
5〜20μm程度、基板1表面をエッチングする(図1
(A))。更に、基板1表面に付着した鉄などの重金属
類を除去するために、塩酸と過酸化水素の混合液で洗浄
する工程を付加しても良い。
型Si基板101を用い、図1(B)に示すように、p
n接合を形成するために、例えばオキシ塩化リン(POCl
3)による熱拡散により、リンをp型Si基板101表
面部分中に熱的に拡散させることにより、導電型を反転
させたリン含有シリコンからなるn型拡散層102を、
p型Si基板101表面部分に形成する。
101の全面に形成されるとともに、リンと酸素を含む
化合物若しくは拡散源の一部からなるリンガラス2aが
n型拡散層102表面部分に生じる。本実施の形態で
は、使用する基板1をp型で構成したので、pn接合を
形成するためにp型Si基板1表面にn型拡散層2を形
成している。
塩化リン(POCl3)による熱拡散を用いたが、その他の
方法としては、例えば、SOD(Spin-On-Dopant)、P
SG(Phospho-Slicate-Glass)、リン酸(H3PO
4)、亜リン酸(H3PO3)、次亜リン酸(H3PO
2)、メタリン酸(HPO3)などのリン酸系水溶液、あ
るいはフィルム拡散源などを拡散供給源として、通常行
われている適切な拡散条件でp型Si基板1表面にリン
を含む不純物を付着させ熱的に拡散させることにより、
p型Si基板1表面にn型拡散層2を形成してもよい。
る方法としては、ガス(気体)、スピンコート、スプレー
方式、ロールコート、浸漬など何れの方法を使用しても
よい。何れにせよ、上記のようなp型Si基板1表面に
拡散源を付着させて熱的な拡散を行う場合、p型Si基
板1表面に形成されるn型拡散層2は、その表面部分の
リン濃度が高く、その表面部分からの距離が進むに連れ
てリン濃度が低下する分布となる。n型拡散層2のシー
ト抵抗は、30Ω/□よりも小さくすると、光電流など
が低下するなど、セル効率が低下して好ましくない。
0Ω/□よりも大きくすると、接合深さが浅くなり、F
F(曲線因子)などが低下するなど、表電極4とのコン
タクト(オーミック接触)が取り難くなり好ましくない。
そこで、n型拡散層2のシート抵抗は、30乃至100
Ω/□で構成することにより、良好なセル効率にするこ
とができるとともに、表電極4との良好なコンタクトを
取り易くすることができる。
後にn型拡散層2上に生じたリンガラス2aを、弗化水
素酸水溶液によりエッチング除去するとともに、リン含
有シリコンからなるn型拡散層2を露出させる。弗化水
素酸水溶液は、リンガラス2aをエッチングするが、シ
リコンをエッチングしないので、リンガラス2aのみを
選択的にエッチングすることができる。リンガラス2a
は、リンと酸素を含む化合物もしくは拡散源の残存物質
からなる。
水素酸水溶液でエッチング除去する場合について説明し
たが、次の工程で説明する弗化水素酸と過酸化水素水を
混合させた水溶液を用いて、リンガラス2aをエッチン
グ除去するように構成してもよい。この方法によれば、
図1(C)で説明した弗化水素酸水溶液によるエッチン
グ工程を省略する事ができる。
にn型拡散層2が形成されたp型Si基板1を、弗化水
素酸と過酸化水素水を混合させた水溶液に浸漬処理する
ことにより、リン濃度が高いn型拡散層2の表面部分の
高濃度不純物領域をエッチング除去する。この工程は、
エッチバック処理と言われる。このエッチバック処理
は、図3の拡散層2におけるエッチバック処理の化学反
応を示す図のように、過酸化水素水によるシリコンの酸
化処理と、弗化水素酸によるシリコン酸化膜のエッチン
グ処理との2段階の処理から構成される。
のエッチング処理との2段階の処理から構成されるエッ
チバック処理により、リン含有シリコンからなるn型拡
散層2を、ゆっくりとエッチングすることができる。こ
のため、n型拡散層2全体を一気にエッチングしてしま
うのではなく、n型拡散層2のリンの高濃度領域である
表面部分のみを容易にエッチングすることができる。従
って、pn接合形成に必要なn型拡散層2全体をエッチ
ングされないようにすることができ、良好なデバイス特
性を得ることができる。
□に相当するn型拡散層2の場合は、拡散層2の表面部
分のリンの高濃度不純物領域をそのままエッチングせず
に残したままでいると、拡散層2表面のリン濃度が1E
+20cm-3以上と高くなり、キャリア再結合速度の増加
ならびに入射光量の減少を引き起こして、太陽電池デバ
イスの性能低下を招く。本実施の形態によれば、このn
型拡散層2の表面部分の高濃度不純物領域のみを除去す
ることができるので、太陽電池デバイスの性能向上を図
ることができる。
せた水溶液の薬液は、発熱反応を伴わないので、薬液作
成時やエッチング時に、温度上昇変化がない。このた
め、温度上昇変化に伴うエッチングレートの上昇がな
く、安定したエッチングを行うことができる。また、本
実施の形態におけるエッチバック処理は、加温の必要が
なく、室温で実現できるので、加温設備など必要なく、
装置コストを低減することができる。
の薬液でも短時間の処理で実現することがきるので、製
造スループットも高く、製造コストを低減することがで
きる。また、上記のエッチバック処理は、ゆっくりとエ
ッチングを進行させることができるので、エッチング量
の制御が容易であり、太陽電池デバイスの所定のシート
抵抗を実現し易い。このため、電極材料ならびに電極パ
ターン設計において自由度を増大させることができる。
溶液によりエッチバックするとき、水溶液の弗化水素濃
度は、0.01重量%より小さくすると、エッチング時
間がかかり過ぎるなど、量産性を加味すると、エッチン
グ時間と薬液寿命の点で好ましくない。また、水溶液の
弗化水素濃度は、5重量%より大きくすると、拡散層2
(基板1)のエッチングレートが速くなり、拡散層2へ
のダメージの点で好ましくない。そこで、水溶液の弗化
水素濃度は、0.01乃至5重量%で構成することによ
り、拡散層2へのダメージを起こすことなく、量産性に
優れた拡散層エッチングを実現することができ好まし
い。
酸化水素濃度は、水溶液の弗化水素酸の濃度より高くす
る。これにより、過酸化水素水によるシリコン酸化を潤
沢に反応促進させることができ、弗化水素酸を変量させ
て適切なエッチングレートを決めることができ好まし
い。水溶液の温度は、5℃よりも低温にすると、エッチ
ングレートが小さくなって好ましくなく、また、35℃
よりも高温にすると、エッチングレートが大きくなって
拡散層2へのダメージの点で好ましくない。そこで、水
溶液の温度は、5乃至35℃で構成することにより、適
切なエッチングレートにすることができ好ましい。
長くすると、拡散層2を全てエッチングし易くなり、拡
散層2へのダメージの点で好ましくない。そこで、水溶
液に浸漬する処理時間は、10分以内で構成することに
より、拡散層2を適切にエッチングすることができ好ま
しい。
は、拡散層2の表面に損傷を与えない条件として決定し
たものである。また、エッチング量の目安としては、シ
ート抵抗の増加量を測定することが簡便な方法と言え
る。即ち、シート抵抗の増加量が大きくなる程、エッチ
ング量が多く、表面のリン濃度が低下したことを意味す
る。これにより所望の効果が大きくなる反面、電極との
良好な接触が得られなくなる不利益が生ずる。
際、電極形成工程の技術的制約によるところが大きいも
のの、一般的に、拡散層2の表面に損傷を与えない範囲
で、シート抵抗の増加量が0.1乃至20Ω/□となる
範囲になるように適宜設定することが好ましい。
n電極となる表電極4がショートしないように実施する
工程である。図1(D)に示すように、前述したスライ
ス工程で得られた基板1表面をエッチングしたときと同
様な薬液を用い、p型Si基板1の一主面のみにn型拡
散層2を残すようにn型拡散層2を選択的にエッチング
する。
除去する方法としては、以上説明した方法以外に、プラ
ズマによるエッチングやサンドブラストによる機械的方
法などで行ってもよい。また、SOD等を基板1の1面
のみに付着する方法に代表される拡散のように、拡散領
域を選択的に形成する場合は、以上説明したpn接合分
離工程を省略することができる。
層2上に反射防止膜として機能する絶縁膜3を形成す
る。この反射防止膜となる絶縁膜3は、太陽電池の入射
光に対する表面反射率を低減させるため、発生電流を増
加させることができる。例えば、この反射防止膜となる
絶縁膜3に窒化シリコン膜を適用する場合、その形成方
法は、減圧熱CVD法やプラズマCVD法を用いて形成
することができる。
る場合は、ジクロルシラン(SiCl2H2)とアンモニ
ア(NH3)を原料ガスとして用いることが多い。この
時、例えば、ガス流量比をNH3/SiCl2H2=10
〜20とし、反応室内の圧力を0.2〜0.5Torr
とし、成膜温度を760℃とした成膜条件で成膜を行
う。
形成する場合、原料ガスとしては、SiH4とNH3の混
合ガスを用いるのが一般的である。成膜条件としては、
例えば、ガス流量比をNH3/SiH4=0.5〜1.5
とし、反応室内の圧力を1〜2Torrとし、成膜温度
を300〜550℃とする。更に、プラズマ放電に必要
な高周波電源の周波数としては、数百kHz以上が適当
である。
上に銀ペーストなどを塗布し、スクリーン印刷技術によ
り銀ペーストを所定のパターン形状に形成した後、その
銀パターンを例えば650〜900℃の温度で数十秒か
ら数分間焼成してn電極となる表電極4を形成する。こ
の表電極4は、焼成により絶縁膜3を貫通してn型拡散
層2とオーミック接続される。
基板1裏面に銀アルミあるいはアルミペーストなどを塗
布し、スクリーン印刷技術により所定のパターン形状に
形成した後、その金属パターンを例えば650〜900
℃の温度で数十秒から数分間焼成して、p型Si基板1
裏面にp電極となる裏電極5を形成する。この裏電極5
は、焼成によりp型Si基板1とオーミック接続され
る。
などの充填材膜106、ガラス板107を順次形成する
ことにより、図2(C)に示すような構造の太陽電池デ
バイスを得ることができる。ここで、図4は上述のよう
に作成した太陽電池と、従来法(比較例)で作成した太陽
電池のデバイス特性を示す図である。この図4におい
て、Vocは開放電圧、Jscは短絡電流、FFは曲線因子、Ef
f.は発電効率である。
ラスを弗化水素酸水溶液でエッチング処理したものであ
り、n型拡散層の表面部分の高濃度不純物領域を除去し
ていない太陽電池の場合である。その他の製造プロセス
は、本実施の形態と同様である。なお、弗化水素酸水溶
液は、シリコンをエッチングしないので、n型拡散層を
除去する能力を有していない。
も開放電圧が増大している。本発明の太陽電池は、拡散
層2のリン濃度が高い領域をエッチングすることで、キ
ャリアの表面再結合速度が減少し、比較例の太陽電池よ
りも、開放電圧が増大されたものと推定される。
りも短絡電流が増大し、発電効率が高くなっている。本
発明の太陽電池は、表面再結合速度減少に加えて、入射
光量が増大したことにより、比較例の太陽電池よりも、
短絡電流が増大したものと推定される。本発明の太陽電
池は、比較例の太陽電池よりも発電効率が高くなってお
り、太陽電池のデバイス性能が向上していることが判っ
た。従って、本発明の太陽電池によれば、製品コストを
低減でき、狭い面積でも所望の電力を得ることができ
る。
基板表面部分に不純物を導入して拡散させて第2の導電
型の拡散層を形成した後、第2の導電型の拡散層を、弗
化水素酸と過酸化水素水を混合させた水溶液で浸漬処理
するように構成することにより、過酸化水素水によるシ
リコンの酸化と弗化水素酸によるシリコン酸化膜のエッ
チングの2段階の処理を行うことにより、ゆっくりエッ
チングすることができる。このため、拡散層の高濃度領
域である表面部分のみをエッチングすることができ、基
板へのダメージを著しく低減することができる。また、
弗化水素酸と過酸化水素水を混合させた水溶液の薬液
は、発熱反応を伴わないので、薬液作成時やエッチング
時に、温度上昇変化がない。このため、温度上昇変化に
伴うエッチングレートの上昇がなく、安定したエッチン
グを行うことができる。
より小さくすると、エッチング時間がかかり過ぎるな
ど、量産性を加味すると、エッチング時間と薬液寿命の
点で好ましくない。また、水溶液の弗化水素濃度は、5
重量%より大きくすると、基板のエッチングレートが速
くなり、基板へのダメージの点で好ましくない。そこ
で、水溶液の弗化水素濃度は、0.01乃至5重量%で
構成することにより、基板へのダメージを起こすことな
く、量産性に優れた基板エッチングを実現することがで
きる。
水素酸の濃度より高くすることにより、過酸化水素水に
よるシリコン酸化を潤沢に反応促進することができ、フ
ッ酸を変量させて適切なエッチングレートを決めること
ができる。
と、エッチングレートが小さくなって好ましくなく、ま
た、35℃よりも高温にすると、エッチングレートが大
きくなって基板へのダメージの点で好ましくない。そこ
で、水溶液の温度は、5乃至35℃で構成することによ
り、適切なエッチングレートにすることができる。
長くすると、拡散層を全てエッチングし易くなり、基板
へのダメージの点で好ましくない。そこで、水溶液に浸
漬する処理時間は、10分以内で構成することにより、
拡散層を適切にエッチングすることができる。
小さくすると、光電流などが低下するなど、セル効率が
低下して好ましくない。また、拡散層のシート抵抗は、
100Ω/□よりも大きくすると、FF(曲線因子)な
どが低下するなど、表電極とのコンタクト(オーミック
接触)が取り難くなり好ましくない。そこで、拡散層の
シート抵抗は、30乃至100Ω/□で構成することに
より、良好なセル効率にすることができるとともに、表
電極との良好なコンタクトを取り易くすることができ
る。
の製造方法を示す図である。
の製造方法を示す図である。
の化学反応を示す図である。
たときの特性効果を示す図である。
ある。
ある。
ス、3 反射防止膜、4表電極、5 裏電極、6 充填
材膜、7 ガラス膜。
Claims (6)
- 【請求項1】 第1の導電型の半導体基板表面部分に不
純物を導入して拡散させて第2の導電型の拡散層を形成
する工程と、 前記第2の導電型の拡散層を、弗化水素酸と過酸化水素
水を混合させた水溶液で浸漬処理する工程とを含むこと
を特徴とする太陽電池の製造方法。 - 【請求項2】 請求項1に記載の太陽電池の製造方法に
おいて、前記水溶液の弗化水素濃度は、0.01乃至5
重量%であることを特徴とする太陽電池の製造方法。 - 【請求項3】 請求項1乃至2の何れかに記載の太陽電
池の製造方法において、前記水溶液の過酸化水素濃度
は、前記水溶液の弗化水素酸の濃度より高いことを特徴
とする太陽電池の製造方法。 - 【請求項4】 請求項1乃至3の何れかに記載の太陽電
池の製造方法において、前記水溶液の温度は、5乃至3
5℃であることを特徴とする太陽電池の製造方法。 - 【請求項5】 請求項1乃至4の何れかに記載の太陽電
池の製造方法において、前記水溶液に浸漬する処理時間
は、10分以内であることを特徴とする太陽電池の製造
方法。 - 【請求項6】 請求項1乃至5の何れかに記載の太陽電
池の製造方法において、前記拡散層のシート抵抗は、3
0乃至100Ω/□であることを特徴とする太陽電池の
製造方法。
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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