JP2003077678A - 有機el素子及びその製造方法 - Google Patents

有機el素子及びその製造方法

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Masahiro Ito
正博 伊藤
Ketsuki Ri
傑煕 李
Yuji Ichinohe
裕司 一戸
Takashi Komatsu
孝 小松
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    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
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    • H10K59/17Passive-matrix OLED displays
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Abstract

(57)【要約】 【課題】少ない工程で膜質の高い隔壁を形成しうる有機
EL素子の製造技術を提供する。 【解決手段】本発明の有機EL素子は、所定の陰極を隔
てるための隔壁16を有し、この隔壁16は、蒸着重合
によるフッ素含有ポリイミド膜からなる。ポリイミド膜
中には、フッ素が20〜40重量%含まれる。蒸着重合
の原料モノマーとしては、フッ素を含む置換基を有する
モノマーを用いる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、有機EL素子の製
造技術に関するものであり、特に蒸着重合を利用した隔
壁の形成に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、インクジェット法を用いて有機E
Lパネルを製造する方法が提案されている。従来、イン
クジェット法を用いて有機ELパネルの製造する際に
は、ノズルから吐き出したインクを精度よく基板上へ成
膜するため、図5(a)に示すように、ITO電極10
2、SiO2膜103がパターニングされたガラス基板1
01上へ厚さ1〜2μmのポリイミドからなる隔壁10
4を形成するようにしている。
【0003】そして、この基板100に対し、図5
(b)に示すように、ITO電極102に対して親イン
ク性を持たせるためのO2プラズマ処理と、図5(c)
に示すように、隔壁104表面に撥インク性を持たせる
ためのCF系(例えばCF4)プラズマ処理を連続で行う
方法が提案されている(例えば、M&BE分科会主催第
9回講習会資料、p.63,2001)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の方法の場合、隔壁104を形成した後にIT
O電極102表面に対して親インク性処理を行うととも
に、隔壁104表面に対しては撥インク性処理を行わな
ければならず、2回の連続した表面処理が必要になり工
程が複雑になるという問題がある。
【0005】しかも、これらの処理は、相反する機能を
付与するものであるため、隔壁104のポリイミド表面
の撥インク性を持たせるためCF系プラズマ処理を施し
た後では、O2プラズマ処理をして親インク性を施した
ITO電極102表面も撥インク、撥水性になってしま
う。
【0006】このため、従来技術では、ITO電極10
2表面におけるインクの濡れ性が悪く、均一な厚さの膜
を形成することが困難となり、膜の密着強度も落ちてし
まうという課題があった。
【0007】本発明は、このような従来の技術の課題を
解決するためになされたもので、少ない工程で膜質の高
い隔壁を形成しうる有機EL素子の製造技術を提供する
ことを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
になされた請求項1記載の発明は、所定の陰極を隔てる
ための隔壁を有する有機EL素子であって、前記隔壁
が、蒸着重合によるフッ素含有高分子膜を有することを
特徴とする。
【0009】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記フッ素含有高分子膜が、ポリイミド膜
であることを特徴とする。
【0010】請求項3記載の発明は、請求項1又は2の
いずれか1項記載の発明において、前記高分子膜中のフ
ッ素の含有量が、20〜40重量%であることを特徴と
する。
【0011】請求項4記載の発明は、請求項1乃至3の
いずれか1項記載の有機EL素子の製造法であって、前
記フッ素含有高分子膜を形成する際に、原料モノマーと
して、フッ素を含む置換基を有するモノマーを用いるこ
とを特徴とする。
【0012】本発明においては、所定の陰極を隔てるた
めの隔壁が、蒸着重合によるフッ素含有高分子膜を有
し、この高分子膜は撥インク性及び撥水性を有している
ことから、従来技術のようなCF4を用いたポリイミド
プラズマ処理を施す必要がなくなる。
【0013】その結果、本発明によれば、陰極表面上に
おけるインクの濡れ性を向上させることができ、これに
よりインクジェット法によって均一で密着強度の大きい
膜を形成することが可能になる。
【0014】また、本発明によれば、CF4を用いたポ
リイミドプラズマ処理を施す必要がなくなるため、製造
工程を短縮することができるというメリットもある。
【0015】本発明においては、フッ素含有高分子膜
が、ポリイミド膜である場合には、モノマーの蒸発特性
及び反応性の絶縁性の点で有利である。
【0016】また、高分子膜中のフッ素の含有量が20
〜40重量%となるように構成すれば、インクジェット
用のインクに対して十分な撥水(インク)性を有すると
ともに、例えば、SiO2からなる絶縁層に対して密着性
の良好なパターン形成を行うことが可能になる。
【0017】本発明にあっては、蒸着重合の原料モノマ
ーとして、フッ素を含む置換基を有するモノマーを用い
れば、インクジェット用のインクに対して十分な撥水性
を有する隔壁を形成することができる。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施の形
態を図面を参照して詳細に説明する。
【0019】図1は、本発明の有機EL素子の隔壁を形
成するための成膜装置の一例の概略構成を示すものであ
る。図1に示すように、この成膜装置1は、マルチチャ
ンバー方式の枚葉式の装置であり、図示しない搬送ロボ
ットが組み込まれているコア室2の周囲に、Siウェハ
ー等の基板10の出し入れを行うための仕込み取出室3
と、蒸着重合を行うための蒸着重合室4と、加熱処理を
行う加熱処理室5と、エッチングを行うICPドライエ
ッチング室6とが配置され、これらはすべて図示しない
ゲートバルブを介して連結されている。
【0020】また、これらコア室2、仕込み取出室3、
蒸着重合室4、加熱処理室5、ICPドライエッチング
室6は、図示しない真空ポンプ等を有する真空排気系に
連結されている。さらに、基板10は、コア室2内に配
置されるロボットによって仕込み取出室3と蒸着重合室
4、加熱処理室5、ICPドライエッチング室6との間
を自由に搬送できるようになっている。
【0021】図2は、図1に示す成膜装置1の蒸着重合
室4の概略構成を示すものである。図2に示すように、
蒸着重合室4の上方には、2種類の原料モノマーA、B
の蒸発源40A、40Bが導入管41A、41Bを介し
て接続されている。
【0022】各蒸発源40A、40Bのハウジング42
A、42Bには、それぞれ蒸発用容器43A、43Bが
設けられる。そして、蒸発用容器43A、43Bの内部
には、所定量のフッ素を含有する芳香族ポリイミド膜を
形成するための原料モノマーA、Bとして、フッ素を含
む置換基を有するジアミンモノマーと酸成分(無水物)
モノマーがそれぞれ注入されている。
【0023】本発明の場合、フッ素を含む置換基を有す
るジアミンモノマーとしては、例えば、2,2′-ビス(ト
リフルオロメチル)-4,4′-ジアミノビフェニル(TFD
B)、テトラフルオロ-m-フェニレンジアミン(4FMP
D)等を用いることができる。これらのうちでも、TF
DBは、蒸発特性の点から特に好ましいものである。
【0024】一方、フッ素を含む置換基を有する酸成分
モノマーとしては、1,4-ジフルオロ-2,3,5,6-ベンゼン
テトラカルボン酸二無水物(P2FDA)、2,2′-ビス
(3,4-ジカルボキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン二
無水物(6FDA)等の酸二無水物を用いることができ
る。これらのうちでも、6FDAは、蒸発特性の点から
特に好ましいものである。
【0025】また、本発明においては、高分子膜中のフ
ッ素の含有量が、20〜40重量%であることが好まし
い。
【0026】高分子膜中のフッ素の含有量が、20重量
%より少ないと、インクジェット用のインクに対する十
分な撥水性を発現することができず、40重量%より多
いと、SiO2に対する高分子膜の密着性が悪くなり、パ
ターン形成の際に隔壁が剥離してしまうという不都合が
ある。
【0027】なお、ジアミンモノマー又は酸成分モノマ
ーのいずれかにフッ素を含有しないモノマーを用いても
よい。
【0028】このようなモノマーとしては、例えば、ジ
アミンモノマーであるピロメリット酸ニ無水物(PMD
A)や、酸成分モノマーである4,4′-ジアミノジフェニ
ルエーテル(DDE)等があげられる。
【0029】各蒸発用容器43A、43Bの近傍には、
各原料モノマーA、Bを加熱するためのヒーター44
A、44Bが設けられている。
【0030】一方、各導入管41A、41Bの周囲には
ヒーター49が巻き付けられ、これによって原料モノマ
ーA、Bの温度を制御できるように構成されている。ま
た、各導入管41A、41Bの途中には、各原料モノマ
ーA、Bの供給量を調整するためのバルブ45A、45
Bが設けられ、これらを開閉することにより、蒸着重合
膜の形成時に膜厚を制御できるようになっている。
【0031】図2に示すように、蒸着重合室4内の下部
には加熱用のホットプレート46が設けられ、このホッ
トプレート46上に基板10が支持される。そして、蒸
着重合室4の上部には、下方に向って広がるように形成
された混合槽47が設けられている。この混合槽47の
内壁には、原料モノマーA、Bの蒸気を加熱するための
ヒーター48が設けられている。
【0032】図3(a)〜(d)及び図4(e)〜
(g)は、本発明に係る有機EL素子の製造方法の一例
を示す工程図である。
【0033】まず、図3(a)に示すように、本発明に
おいては、ガラス基板11上に、アノード電極であるI
TO電極12と、SiO2膜による絶縁層13のパターン
が形成された基板10を用意する。
【0034】そして、この基板10を、図1の成膜装置
1の仕込み取出室3から蒸着重合室4内に搬入し、以下
に説明する蒸着重合法により、図3(b)に示すよう
に、基板10上にフッ素化ポリイミド膜14を形成す
る。
【0035】この場合、まず、各バルブ45A、45B
を閉じた状態で蒸着重合室4内の圧力を3×10-3Pa
程度の高真空に設定し、ヒーター44A、44Bによっ
て各原料モノマーA、Bを所定の温度に加熱する。
【0036】そして、各原料モノマーA、Bが所定の温
度に達して所要の蒸発量が得られた後に、各バルブ45
A、45Bを開き、所定の蒸発速度で各原料モノマー
A、Bを上方から基板10上に蒸着、堆積させ、ポリア
ミド酸膜を形成した後に各バルブ45A、45Bを閉じ
る。この場合、原料モノマーA、Bの蒸発速度は、化学
量論比で1:1となるように制御する。また、ホットプ
レート46によって基板10の温度を所定の温度に制御
する。
【0037】その後、基板10を加熱処理室5内に搬入
し、基板10上のポリアミド酸膜に対し、ホットプレー
ト50を用いて所定の加熱処理を行う。
【0038】この場合、加熱条件は、昇温速度5℃/m
inで300℃程度まで加熱し、その状態を30分間程
度保持するようにする。また、この加熱処理は例えば真
空中で行う。
【0039】その後、図3(c)に示すように、フォト
レジスト工程により、フッ素化ポリイミド膜14上にレ
ジストパターン15を形成する。
【0040】そして、基板10をICPドライエッチン
グ室6内にセットし、例えばO2ガスを用い、プラズマ
エッチングによってポリイミド膜14上のレジストパタ
ーン15を除去するとともに、ITO電極12の表面に
対して親インク処理を行う。
【0041】これにより、図3(d)に示すように、後
述する陰極を隔てるための隔壁16が形成される。
【0042】さらに、例えばスピンコート法により、隔
壁間のITO電極12上ホール注入材料(例えば、ポリ
テトラヒドロチオフェニルフェニレン等)を乾燥後の厚
さが50〜200nmとなるように塗布する。
【0043】そして、基板10を加熱処理室5内に搬入
し、ホットプレート50を用いて200℃程度の加熱を
行う。
【0044】これにより、図4(e)に示すように、I
TO電極12上にポリフェニレンビニレンからなるホー
ル層17が形成される。
【0045】その後、インクジェット法により、順次、
R(赤)、G(緑)、B(青)の各発光材料(例えば、
R:シアノポリフェニレンビニレン、G:ポリフェニレ
ンビニレン、B:ポリフェニレンビニレン及びポリアル
キルフェニレン等)をホール層17上に吐出する。
【0046】これにより、図4(f)に示すように、各
隔壁16の間に各色の発光層18R、18G、18Bが
形成される。
【0047】そして、基板10を真空蒸着室(図示せ
ず)に搬入し、蒸着材料として例えばMgとAgを用
い、共蒸着法により(例えば、Mg:Ag=10:
1)、陰極の成膜を行う。
【0048】これにより、図4(g)に示すように、隔
壁16及び各発光層18R、18G、18B上にMgA
gからなる陰極19が形成された基板20を得る。
【0049】なお、陰極19は、AlLi、Li/Al
等の材料からなる積層膜により形成することもできる。
【0050】以上述べたように本実施の形態において
は、隔壁16が、蒸着重合によるフッ素化ポリイミド膜
14からなり、このポリイミド膜14はインクジェット
用インクに対する撥水性を有していることから、従来技
術のようなCF4を用いたポリイミドプラズマ処理を施
す必要がなく、また、エッチングでITO電極12表面
の改質(親インク性)が行われる。
【0051】その結果、本実施の形態によれば、ITO
電極12表面におけるインクの濡れ性を向上させること
ができ、これによりインクジェット法によって均一で密
着強度の大きい膜を形成することが可能になる。
【0052】また、本発明によれば、撥水性を持たせる
ための上記ポリイミド膜14上のCF4プラズマ処理を
施す必要がなくなるため、製造工程を短縮することがで
き、かつ、親インク性の改質を行うO2プラズマ処理を
施す必要もなくなるので、さらに製造工程を短縮するこ
とができる。
【0053】また、ポリイミド膜14中のフッ素の含有
量が20〜40重量%となるように構成すれば、インク
ジェット用のインクに対して十分な撥インク性を有する
とともに、例えば、SiO2からなる絶縁層に対して密着
性の良好なパターン形成を行うことができる。
【0054】本実施の形態にあっては、蒸着重合の原料
モノマーとして、フッ素を含む置換基を有するモノマー
を用いることにより、インクジェット用のインクに対し
て十分な撥水性を有する隔壁16を形成することができ
る。
【0055】なお、本発明は、隔壁16の高分子膜の材
料としてポリイミドを用いた場合のみならず、ポリ尿
素、ポリアミドを用いた場合にも適用しうるものである
が、ポリイミドを用いた場合に最も有効なものである。
【0056】
【実施例】以下、本発明の実施例を比較例とともに詳細
に説明する。
【0057】<実施例1>まず、上述のガラス基板11
上へITO電極12とSiO2膜13がパターニングされ
た基板(図3(a)参照)を用意した。
【0058】次いで、図1に示す成膜装置1を用い、蒸
着重合室4において基板10上にフッ素化ポリイミド膜
14を形成した。
【0059】この場合、フッ素を含む置換基を有するジ
アミンモノマー及び酸成分モノマーとして、TFDBと
6FDAを用い、蒸発源40A、40Bにおいて蒸発さ
せた各原料モノマーA、Bの蒸気を蒸着重合室4に導入
して、静電チャック46によって保持された基板10上
へポリイミドの前駆体であるポリアミド酸の膜を厚さ2
μm形成した。
【0060】成膜終了後、基板10を加熱処理室5へ搬
送して、温度300℃、30分の過熱処理を行いイミド
化反応を完結させた(図3(b)参照)。
【0061】その後、基板10を取り出し、通常のレジ
ストパターニング法によりポリイミド膜14上にレジス
トパターン15を形成した(図3(c)参照)。
【0062】この基板10をICPドライエッチング室
6にセットして、O2ガスによりポリイミド膜14をエ
ッチングするとともにレジストパターン15を除去した
(図3(d)参照)。
【0063】なお、レジストパターン15とポリイミド
膜14のO2プラズマエッチングにおける選択比を測定
したところ、ほぼ1:1であることが確認された。その
ため、本発明においては、レジストパターン15の膜厚
は、ポリイミド膜14の膜厚と同等となるように設定す
ることが望ましい。
【0064】ここで、エッチングが終了したポリイミド
膜14を電子顕微鏡で観察したところ、良好な形状、密
着性を保っており、隔壁16としての機能を十分に備え
た膜であることが確認された。本実施例の場合、ポリイ
ミド膜14のフッ素含有率は35重量%であった。
【0065】また、フッ素化ポリイミド膜14表面の撥
インク性の評価として、水に対する接触角を測定した。
【0066】その結果、接触角は90°であり、本実施
例のポリイミド膜14は、撥水性(撥インク性)に優れ
た膜であることが確認された。
【0067】一方、ITO電極12表面の親インク性の
評価としては、ガラス基板上にITO膜及び上述のフッ
素化ポリイミド膜が全面成膜された基板のフッ素化ポリ
イミド膜をエッチングした後、この基板におけるITO
膜表面の水に対する接触角を測定した。
【0068】この場合、エッチング条件は、RFパワー
で500W、反応ガス(O2)の導入量は30sccm、
圧力は0.67Pa、エッチング時間は2分とした。
【0069】その結果、ITO表面の水に対する接触角
は5°となり、親水性(親インク性)に優れた膜である
ことが確認された。
【0070】この基板に対してインクジェット用のイン
クを吹き付けてインクの塗れを観察した。その結果、I
TO膜上にのみ薄膜が形成される一方でフッ素化ポリイ
ミド膜上には薄膜が形成されず、本発明によるフッ素化
ポリイミドからなる隔壁がインクジェット用インクに対
する隔壁として有用であることが確認された。
【0071】<実施例2>フッ素を含む置換基を有する
ジアミンモノマーとして、2,2′-ビス(トリフルオロメ
チル)-4,4′-ジアミノビフェニル(TFDB)を用い、酸
成分モノマーとして、フッ素を含まないピロメリット酸
ニ無水物(PMDA)を用い、実施例1と同様の条件で
蒸着重合を行い、フッ素化ポリイミド膜14を形成し
た。
【0072】本実施例のポリイミド膜14のフッ素含有
量は23重量%であった。また、水に対する接触角は8
8°であった。
【0073】この結果から、本発明においては、フッ素
含有量が少ないポリイミド膜14でも撥インク性に大き
な違いが見られないことが確認された。
【0074】<参考例>実施例1で使用した6FDAと
TFDBのポリアミド酸溶液をスピンコート法により成
膜したものをキュア(300℃、30分)したものをパ
ターニングしても同様の効果が得られた。
【0075】<比較例1>フッ素を含む置換基を有する
ジアミンモノマーとして、5-(パーフルオロノネニルオ
キシ)-1,3-ジアミノベンゼン(17FMPD)と、上記P
2FDAを用い、実施例1と同様の条件で蒸着重合を行
い、フッ素化ポリイミド膜14を形成した。
【0076】本比較例のポリイミド膜のフッ素含有量は
43重量%であった。また、水に対する接触角は90°
であった。
【0077】比較例1の場合、ポリイミド膜におけるフ
ッ素含有量が大きく、水に対する接触角は90°と大き
く変わらなかったが、基板との密着性に問題があるため
に隔壁としては適していなかった。
【0078】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、少な
い工程で膜質の高い隔壁を形成しうる有機EL素子の製
造技術を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の有機EL素子の隔壁を形成するための
成膜装置の一例の概略構成図
【図2】図1に示す成膜装置の蒸着重合室の概略構成図
【図3】(a)〜(d):本発明に係る有機EL素子の
製造方法の一例を示す工程図(その1)
【図4】(e)〜(g):本発明に係る有機EL素子の
製造方法の一例を示す工程図(その2)
【図5】(a)〜(c):従来の有機EL素子の製造方
法の一例を示す工程図
【符号の説明】
1…成膜装置 10…基板 11…ガラス基板 12…
ITO電極 14…ポリイミド膜 16…隔壁
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 李 傑煕 千葉県山武郡山武町横田523 株式会社ア ルバック千葉超材料研究所内 (72)発明者 一戸 裕司 千葉県山武郡山武町横田523 株式会社ア ルバック千葉超材料研究所内 (72)発明者 小松 孝 千葉県山武郡山武町横田523 株式会社ア ルバック千葉超材料研究所内 Fターム(参考) 3K007 AB04 AB15 AB18 BA06 CA01 CB01 DA01 DB03 EB00 FA01

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定の陰極を隔てるための隔壁を有する有
    機EL素子であって、 前記隔壁が、蒸着重合によるフッ素含有高分子膜を有す
    ることを特徴とする有機EL素子。
  2. 【請求項2】前記フッ素含有高分子膜が、ポリイミド膜
    であることを特徴とする請求項1記載の有機EL素子。
  3. 【請求項3】前記高分子膜中のフッ素の含有量が、20
    〜40重量%であることを特徴とする請求項1又は2の
    いずれか1項記載の有機EL素子。
  4. 【請求項4】所定の陰極を隔てるための隔壁を有する機
    EL素子の製造方法であって、 原料モノマーとして、フッ素を含む置換基を有するモノ
    マーを用い、蒸着重合によって前記隔壁を形成する工程
    を有することを特徴とすることを特徴とする有機EL素
    子の製造方法。
  5. 【請求項5】インクジェット法によって所定の発光層を
    形成する工程を有することを特徴とする請求項4記載の
    有機EL素子の製造方法。
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