JP2003066868A - 表示パネルおよびそれを用いた情報表示装置 - Google Patents
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
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- Control Of El Displays (AREA)
Abstract
(SD電圧)間でオフリーク電流が発生、キンク現象が
発生する。 【解決手段】 各色の有機ELを塗り分けたメタルマス
クを用いてカソード電極53aを蒸着し、同時にコンタ
クトホール52aで接続を取る。コンタクトホール52
aによりBカソード配線51aと電気的接続を取ること
ができる。カソード電極53bも同様に蒸着し、同時に
コンタクトホール52bで接続を取る。コンタクトホー
ル52bによりRGカソード配線51bと電気的接続を
取ることができる。
Description
像を表示するEL表示パネルおよびこれらのEL表示パ
ネルを用いた携帯電話等の情報表示装置に関するもので
ある。
いう利点から、携帯用機器等に多く採用されており、ま
たワードプロセッサやパーソナルコンピュータ、テレビ
等の機器や、ビデオカメラのビューファインダ、モニタ
ー等にも広く用いられている。
ルは、自発光デバイスではないため、バックライトを用
いないと画像を表示できないという問題点がある。その
バックライトを構成するためには所定の厚みが必要であ
るため、表示モジュールの厚みが大きくならざるを得な
かった。また、液晶表示パネルでカラー表示を行うため
には、カラーフィルタを使用する必要がある。そのた
め、光利用効率が低くなるという問題点があった。
に、本発明はEL表示パネルに、反射型の画素電極と、
透明電極と、前記画素電極に接続された薄膜トランジス
タと、前記画素電極と前記透明電極間に形成されたEL
膜と、前記画素電極間に位置し、前記透明電極と積層さ
れた金属薄膜からなる薄膜パターンとを具備している。
マトリックス状に配置されたEL素子を有する画素と、
前記EL素子の薄膜トランジスタのゲート信号線に接続
されたゲートドライバと、前記EL素子に流す電流をプ
ログラムする電流を出力するソースドライバとを具備
し、前記ゲートドライバのシフトレジスタの出力と前記
ゲート信号線間に複数のインバータ回路が直列に形成さ
れ、前記インバータ回路のPチャンネルのチャンネル幅
をW、チャンネル長をLとし、インバータの段数をnと
した時、25≦(Wn−1/Ln−1)/(Wn/L
n)≦0.75の関係を満たし、1つの画素は、少なく
とも、EL膜に流す電流を制御する駆動薄膜トランジス
タと、ドライバから出力した電流を前記駆動薄膜トラン
ジスタに流す経路を構成する第1のスイッチング薄膜ト
ランジスタと、前記駆動薄膜トランジスタからの電流を
前記EL膜に流す経路を構成する第2のスイッチング薄
膜トランジスタから構成されている。
マトリックス状にEL素子が形成されたアレイ基板と、
封止基板とを具備し、前記アレイ基板の表示領域の外周
部に第1の凹凸が形成され、前記封止基板において、前
記第1の凹凸に対応する位置に第2の凹凸が形成され、
前記第1の凹凸と前記第2の凹凸の周期が略一致し、前
記第1の凹凸と前記第2の凹凸間にシール樹脂が配置さ
れている。
第1の色で発光する第1のEL素子と、第2の色で発光
する第2のEL素子がマトリックス状に形成されたアレ
イ基板を具備し、前記第1のEL素子のカソード電極と
前記第2のEL素子のカソード電極には異なる電圧が印
加できるように構成されている。
マトリックス状に配置されたEL素子を有する画素と、
前記EL素子の薄膜トランジスタのゲート信号線に接続
されたゲートドライバと、前記EL素子に流す電流をプ
ログラムする電流を出力するソースドライバとを具備
し、前記ゲートドライバは前記画素を構成する薄膜トラ
ンジスタ素子の形成プロセスと同時に形成され、前記ゲ
ートドライバ上にEL膜が形成され、前記EL膜上にカ
ソード電極が形成されている。
1つの画素は、少なくとも、EL膜に流す電流を制御す
る駆動薄膜トランジスタと、ドライバから出力した電流
を前記駆動薄膜トランジスタに流す経路を構成する第1
のスイッチング薄膜トランジスタと、前記駆動薄膜トラ
ンジスタからの電流を前記EL膜に流す経路を構成する
第2のスイッチング薄膜トランジスタから構成されてい
る。
トリックス状に配置されたEL素子を有する画素と、前
記EL素子の薄膜トランジスタのゲート信号線に接続さ
れたゲートドライバと、前記EL素子に流す電流をプロ
グラムする電流を出力するソースドライバと、電源発生
回路と、画像メモリを有するコントロール回路とを具備
し、前記ゲートドライバは前記画素を構成する薄膜トラ
ンジスタ素子の形成プロセスと同時に形成され、前記ゲ
ートドライバの制御信号は前記電源発生回路が出力し、
映像信号は前記コントロール回路から前記ソースドライ
バに印加される。
トリックス状に配置されたEL素子を有する画素と、前
記EL素子の薄膜トランジスタのゲート信号線に接続さ
れたゲートドライバと、前記EL素子に流す電流をプロ
グラムする電流を出力するソースドライバと、電源発生
回路と、画像メモリを有するコントロール回路とを具備
し、前記ゲートドライバは前記画素を構成する薄膜トラ
ンジスタ素子の形成プロセスと同時に形成され、前記ゲ
ートドライバの制御信号は前記コントロール回路が発生
し、前記コントロール回路が発生した信号は前記ソース
ドライバでレベルシフトした後、前記ゲートドライバに
印加されている。
L表示パネルと、ダウンコンバータと、アップコンバー
タと、受話器と、スピーカとを具備している。
容易にまたは作図を容易にするため、省略や拡大縮小し
た箇所がある。例えば、図3の表示パネルの断面図では
封止膜73等を十分厚く図示している。また、図5等で
は画素電極に信号を印加する薄膜トランジスタ(TF
T)等を省略している。また、本発明の表示パネル等で
は、位相補償のための位相フィルム等を省略している
が、適時付加することが望ましい。以上のことは他の図
面に対しても同様である。
同一の材料あるいは機能もしくは動作を有するものであ
る。
がなくとも、他の実施例と組み合わせることができる。
例えば、図5の表示パネルにタッチパネル等を付加し、
情報表示装置とすることができる。また、拡大レンズを
取り付け、ビデオカメラ等のビューファインダを構成す
ることもできる。また、本発明は各画素にTFTが形成
されたアクティブマトリックス型表示パネルを主として
説明するがこれに限定されるものではなく、単純マトリ
ックス型にも適用できるということはいうまでもない。
このように、明細書、図面で説明した事項、内容、仕様
は、特に例示されていなくとも、互いに組み合わせて適
用させることができる。
高表示品質であり、更に薄型化が可能な表示パネルとし
て、複数の有機エレクトロルミネッセンス(EL)素子
をマトリックス状に配列して構成される有機EL表示パ
ネルが注目されている。
に、画素電極としての透明電極48が形成されたアレイ
基板49上に、電子輸送層、発光層、正孔輸送層等から
なる少なくとも1層の有機EL層47、及び反射膜46
(金属電極)が積層されたものである。透明電極48
(陽極(アノード))にプラス、反射膜46(陰極(カ
ソード))にマイナスの電圧を加え、両者間に直流電流
を印加させることにより、有機EL層47が発光する。
とのできる有機化合物を有機EL層に使用することによ
って、EL表示パネルが実用に耐え得るものになってい
る。
O電極に誘電体多層膜からなる光学的干渉膜を形成した
ものでもよい。誘電体多層膜とは低屈折率の誘電体膜と
高屈折率の誘電体膜とを交互に多層形成したもの、つま
り誘電体ミラーと呼ばれるものである。この誘電体多層
膜は有機EL構造から放射される光の色調を良好なもの
にする機能(フィルタ効果)を有する。
ム、マグネシウム、インジウム、銅または各々の合金等
の仕事関数が小さいもの、特にAl−Li合金を用いる
ことが好ましい。
プ酸化インジウム)等の仕事関数が大きい導電性材料ま
たは金等を用いることができる。なお、金を電極材料と
して用いた場合、電極は半透明の状態となる。
際は、アルゴン雰囲気中で有機EL膜を成膜するとよ
い。また、画素電極46としてのITO上にカーボン膜
20〜50nmを成膜した場合、界面の安定性が向上
し、発光輝度および発光効率も良好なものとなる。
パネル構造の理解を容易とするため、まず、本発明の有
機EL表示パネルの製造方法について説明をする。
サファイアガラスで形成してもよい。
形成したりしてもよい。例えば、ダイヤモンド薄膜を形
成した基板を使用することが例示される。もちろん、石
英ガラス基板、ソーダガラス基板を用いてもよい。その
他、アルミナ等のセラミック基板や銅等からなる金属板
を使用したり、絶縁膜に金属膜を蒸着あるいは塗布等、
コーティングしたものを用いてもよい。画素電極を反射
型とする場合は、基板材料としては基板の表面方向より
光が出射されるので、ガラス、石英や樹脂等の透明ない
し半透明材料の他、ステンレス等の非透過材料を用いる
こともできる。この構成を図3に図示する。図3ではカ
ソード電極をITO等の透明電極72で形成している。
用いてもよい。プラスチック基板は割れにくく、また、
軽量のため携帯電話の表示パネル用基板として最適であ
る。プラスチック基板は、芯材となるベース基板の一方
の面に補助の基板を接着剤で貼り合わせて積層基板とし
て用いることが好ましい。もちろん、これらの基板は板
に限定するものではなく、厚さ0.05mm以上0.3
mm以下のフィルムでもよい。
フィン樹脂を用いることが好ましい。このような脂環式
ポリオレフィン樹脂として日本合成ゴム社製のARTO
N(厚さ200μmの1枚板)が例示される。ベース基
板の一方の面に、耐熱性、耐溶剤性または耐透湿性機能
を持つハードコート層、および耐透気性機能を持つガス
バリア層が形成されたポリエステル樹脂、ポリエチレン
樹脂あるいはポリエーテルスルホン樹脂等からなる補助
の基板(あるいはフィルムもしくは膜)を配置する。
は電流制御素子としての薄膜トランジスタ(TFT)を
形成する。形成するTFTは、同じ種類のTFTであっ
てもよいし、Pチャンネル型とNチャンネル型のTFT
というように、違う種類のTFTであってもよいが望ま
しくはスイッチング薄膜トランジスタ、駆動用薄膜トラ
ンジスタとも同極性のものが望ましい。またTFTの構
造は、プレーナー型のTFTに限定されるものではな
く、スタガー型でも逆スタガー型でもよく、また、セル
フアライン方式を用いて不純物領域(ソース、ドレイ
ン)が形成されたものでも、非セルフアライン方式によ
るものでもよい。
に、ホール注入電極(画素電極)となるITOと、1種
以上の有機層と、電子注入電極とが順次積層されたEL
構造体を有し、前記アレイ基板にはTFTが設けられて
いる。
ず、基板上にTFTのアレイを所望の形状に形成する。
そして、平滑化膜上の画素電極として透明電極であるI
TOをスパッタ法で成膜、パターニングする。その後、
有機EL層、電子注入電極等を積層する。
FTを用いればよい。TFTは、EL構造体の各画素の
端部に設けられ、その大きさは10〜30μm程度であ
る。なお、画素の大きさは20μm×20μm〜300
μm×300μm程度である。
けられる。配線電極は抵抗が低く、しかもホール注入電
極を電気的に接続して抵抗値を低く抑える機能があり、
一般的にその配線電極は、Al、Alおよび遷移金属
(ただしTiを除く)、Tiまたは窒化チタン(Ti
N)のいずれか1種または2種以上を含有するものが使
われるが、本発明においてはこの材料に限られるもので
はない。EL構造体の下地となるホール注入電極とTF
Tの配線電極とを併せた全体の厚さとしては、特に制限
はないが、通常100〜1000nm程度とすればよ
い。
の間には絶縁層を設ける。絶縁層は、SiO2等の酸化
ケイ素、窒化ケイ素等の無機系材料をスパッタや真空蒸
着で成膜したもの、SOG(スピン・オン・グラス)で
形成した酸化ケイ素層、フォトレジスト、ポリイミド、
アクリル樹脂等の樹脂系材料の塗膜等、絶縁性を有する
ものであればいずれであってもよいが、この中ではポリ
イミドが好ましい。また、絶縁層は、配線電極を水分や
腐食から守る耐食・耐水膜の役割も果たす。
てもかまわない。例えば、本発明のEL表示素子におけ
る緑および青色発光部は、青緑色発光のEL構造体と、
緑色透過層または青色透過層との組み合わせにより得ら
れる。赤色発光部は、青緑色発光のEL構造体と、この
EL構造体の青緑発光を赤色に近い波長に変換する蛍光
変換層により得ることができる。
L構造体について説明する。本発明のEL構造体は、透
明電極である電子注入電極と、1種以上の有機層と、ホ
ール注入電極とを有する。有機層は、それぞれ少なくと
も1層のホール輸送層および発光層を有し、例えば、電
子注入輸送層、発光層、正孔輸送層、正孔注入層を順次
有する。もしくは、ホール輸送層はなくてもよい。本発
明のEL構造体の有機層は、種々の構成とすることがで
き、電子注入輸送層を省略したり、あるいは発光層と一
体としたり、正孔注入輸送層と発光層とを混合してもよ
い。
発光した光を取り出す構造であるため、ITO(錫ドー
プ酸化インジウム)、IZO(亜鉛ドープ酸化インジウ
ム)、ZnO、SnO2、In2O3等が例として挙げら
れるが、特にITO、IZOが好ましい。ホール注入電
極の厚さは、ホール注入を十分行える一定以上の厚さを
有すれば良く、通常10〜500nm程度とすることが
好ましい。また、ホール注入電極は素子の信頼性を向上
させるために駆動電圧が低いことが必要であるが、好ま
しいものとして、10〜30Ω/□(膜厚50〜300
nm)のITOが挙げられる。実際に使用する場合に
は、ITO等のホール注入電極界面での反射による干渉
効果が、光取り出し効率や色純度を十分に満たすよう
に、電極の膜厚や光学定数を設定すればよい。このホー
ル注入電極は、蒸着法等によっても形成できるが、スパ
ッタ法により形成されることが好ましい。スパッタガス
としては、特に限定されるものはなく、Ar、He、N
e、Kr、Xe等の不活性ガス、あるいはこれらの混合
ガスを用いればよい。
は蒸着法で成膜される仕事関数の小さい金属、化合物ま
たは合金を用いた材料で構成される。例えば、K、L
i、Na、Mg、La、Ce、Ca、Sr、Ba、A
l、Ag、In、Sn、Zn、Zr等の金属元素単体、
または安定性を向上させるためにそれらを含む2成分、
または3成分の合金系を用いることが好ましい。合金系
としては、例えばAg・Mg(Ag:1〜20at
%)、Al・Li(Li:0.3〜14at%)、In
・Mg(Mg:50〜80at%)、Al・Ca(C
a:5〜20at%)等が好ましい。電子注入電極薄膜
の厚さは、電子注入を十分行える一定以上の厚さとすれ
ば良く、0.1nm以上、好ましくは1nm以上とすれ
ばよい。また、その上限値に特に制限はないが、通常、
膜厚は100〜500nm程度とすればよい。
の注入を容易にする機能を有し、正孔輸送層は、正孔を
輸送する機能および電子を妨げる機能を有し、電荷注入
層、電荷輸送層とも称される。
の電子注入輸送機能がさほど高くないとき等に設けら
れ、電子注入電極からの電子の注入を容易にする機能、
電子を輸送する機能および正孔を妨げる機能を有する。
子注入輸送層は、発光層へ注入される正孔や電子を増大
・封止し、再結合領域を最適化させ、発光効率を改善す
る。なお、電子注入輸送層は、注入機能を持つ層と輸送
機能を持つ層とに別個に設けてもよい。
を併せた厚さおよび電子注入輸送層の厚さは特に限定さ
れず、形成方法によっても異なるが、通常5〜100n
m程度とすることが好ましい。
注入輸送層の厚さは、再結合・発光領域の設計による
が、発光層の厚さと同程度もしくは1/10〜10倍程
度とすればよい。また、正孔注入層、正孔輸送層の厚
さ、および電子注入層と電子輸送層とを分ける場合のそ
れぞれの厚さは、注入層は1nm以上、輸送層は20n
m以上とするのが好ましい。このときの注入層、輸送層
の厚さの上限は、通常、注入層で100nm程度、輸送
層で100nm程度である。このような膜厚については
注入輸送層を2層設けるときも同じである。
層や正孔注入輸送層のキャリア移動度やキャリア密度
(イオン化ポテンシャル・電子親和力により決まる)を
考慮しながら膜厚をコントロールすることで、再結合領
域・発光領域を自由に設計することが可能であり、発光
色の設計や、両電極の干渉効果による発光輝度・発光ス
ペクトルの制御や、発光の空間分布の制御を可能にでき
る。
を有する化合物である蛍光性物質を含有させる。この蛍
光性物質としては、例えば、特開昭63−264692
号公報等に開示されているようなトリス(8−キノリノ
ラト)アルミニウム(Alq3)等の金属錯体色素、特
開平6−110569号公報(フェニルアントラセン誘
導体)、特開平6−114456号公報(テトラアリー
ルエテン誘導体)、特開平6−100857号公報、特
開平2−247278号公報等に開示されているような
青緑色発光材料が挙げられる。
ば、特開昭63−295695号公報、特開平2−19
1694号公報、特開平3−792号公報、特開平5−
234681号公報、特開平5−239455号公報、
特開平5−299174号公報、特開平7−12622
5号公報、特開平7−126226号公報、特開平8−
100172号公報、EP0650955A1等に記載
されている各種有機化合物を用いることができる。
層および電子注入輸送層の形成には、均質な薄膜が形成
できることから真空蒸着法を用いることが好ましい。
パネルの製造方法および構造についてさらに詳しく説明
する。先にも説明したように、まず、アレイ基板49に
画素を駆動するTFT11を形成する。1つの画素は4
個または5個のTFTで構成される。また、画素は電流
プログラムされ、そのプログラムされた電流がEL素子
に供給される。このTFT11の組合せ等画素構成につ
いては後に説明をする。次に、TFT11に正孔注入電
極としての画素電極(透明電極)を形成する。透明電極
48はフォトリソグラフィーによりパターン化する。
のレジスト剥離液(ジメチルスルホキシドとnメチル2
ピロリドンとの混合溶液)に浸漬して剥離を行った後、
アセトンでリンスし、さらに発煙硝酸中に1分間浸漬し
て完全にレジストを除去する。透明電極48であるIT
O表面の洗浄は、基板の表裏両面に対して十分に行い、
テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイドの0.2
38%水溶液を十分に供給しながら、ナイロンブラシに
よる機械的な擦り洗浄を行うとよい。その後、純水で十
分にすすぎ、スピン乾燥を行う。また有機薄膜EL素子
の蒸着前には、市販のプラズマリアクター(ヤマト科学
株式会社製、PR41型)中で、酸素流量20scc
m、圧力0.2Torr(26.6Pa)、高周波出力
300Wの条件で1分間の酸素プラズマ処理を行ってか
ら、EL蒸着槽内に配置するとよい。
シャーを使用すると、透明電極48の周辺部の平滑化膜
71も同時にアッシングされ、透明電極48の周辺部が
えぐられてしまう。この課題を解決するために、本発明
では図4で示すように透明電極48周辺部にアクリル樹
脂からなるエッジ保護膜81を形成している。エッジ保
護膜81の構成材料としては、平滑化膜71を構成する
アクリル系樹脂、ポリイミド樹脂等の有機材料と同一の
材料が例示され、その他、SiO2、SiNx等の無機
材料やAl2O3等も例示される。
ニング後、透明電極48間を埋めるように形成される。
もちろん、このエッジ保護膜81を2μm以上4μm以
下の高さに形成し、有機EL材料を塗り分ける際のメタ
ルマスクの土手(メタルマスクが透明電極48と直接接
しないようにするスペーサ)としてもよいことは言うま
でもない。
本真空技術株式会社製、EBV−6DA型)を改造した
装置を用いる。主たる排気装置は排気速度1500リッ
トル/minのターボ分子ポンプ(大阪真空株式会社
製、TC1500)であり、到達真空度は約1×10e
-6Torr(133.322×10e−6Pa)以下で
あり、全ての蒸着は2〜3×10e-6Torr(26
6.6〜399.9×10−6Pa)の範囲で行う。ま
た、全ての蒸着はタングステン製の抵抗加熱式蒸着ボー
トに直流電源(菊水電子株式会社製、PAK10−70
A)を接続して行うとよい。
基板上に、カーボン膜20〜50nmを成膜する。次
に、正孔注入層として4−(N,N−ビス(p−メチル
フェニル)アミノ)−α−フェニルスチルベンを0.3
nm/sの蒸着速度で膜厚約5nmに形成する。
−ジフェニルアミノ−4−ビフェニリル)−N,N’−
ジフェニルベンジジン(保土ヶ谷化学株式会社製)と、
4−N,N−ジフェニルアミノ−α−フェニルスチルベ
ンを、それぞれ0.3nm/sおよび0.01nm/s
の蒸着速度で共蒸着して膜厚約80nmに形成する。
キノリノラト)アルミニウム(同仁化学株式会社製)を
0.3nm/sの蒸着速度で膜厚約40nmに形成す
る。
(高純度化学株式会社製、Al/Li重量比99/1)
から低温でLiのみを、約0.1nm/sの蒸着速度で
膜厚約1nmに形成し、続いてそのAlLi合金をさら
に昇温し、Liが出尽くした状態から、Alのみを約
1.5nm/sの蒸着速度で膜厚約100nmに形成
し、積層型の電子注入電極とした。
は、蒸着槽内を乾燥窒素でリークした後、乾燥窒素雰囲
気下で、コーニング7059ガラス製の封止フタ41を
シール剤45(アネルバ株式会社製、商品名スーパーバ
ックシール953−7000)で貼り付けて表示パネル
とした。なお、封止フタ41とアレイ基板49との空間
には乾燥剤55を配置する。これは、有機EL膜が湿度
に弱いため、乾燥剤55によりシール剤45を浸透する
水分を吸収し有機EL膜47の劣化を防止している。
ためには外部からの経路(パス)を長くすることが良好
な対策である。このため、本発明の表示パネルでは、表
示領域の周辺部に微細な凹部43、凸部44を形成して
いる。アレイ基板49の周辺部に形成した凸部44は少
なくとも2重に形成する。凸と凸との間隔(形成ピッ
チ)は100μm以上500μm以下に、また、凸の高
さは30μm以上300μm以下に形成することが好ま
しい。この凸部はスタンパ技術で形成する。
る。凹部43の形成ピッチは凸部44の形成ピッチと同
一にする。このようにすることで、凹部43に凸部44
がちょうどはまり込むので、表示パネルの製造時に封止
フタ41とアレイ基板49との位置ずれが発生しない。
凹部43と凸部44間にはシール剤45を配置する。シ
ール剤45は封止フタ41とアレイ基板49とを接着す
るとともに、外部からの水分の浸入を防止する。
型でアクリル系の樹脂からなるものを用いることが好ま
しい。また、アクリル樹脂はフッ素基を有するものを用
いることが好ましい。その他、エポキシ系の接着剤ある
いは粘着剤を用いてもよい。接着剤あるいは粘着剤の屈
折率は1.47以上1.54以下のものを用いることが
好ましい。特にシール接着剤は酸化チタンの微粉末、酸
化シリコン等の微粉末を重量比で65%以上95%以下
の割合で添加し、この微粉末の粒子径を平均直径20μ
m以上100μm以下とすることが好ましい。これは微
粉末の重量比が多くなるほど外部からの湿度の進入を抑
制する効果が高くなるからである。しかし、あまりに多
いと気泡等が入りやすく、かえって空間が大きくなりシ
ール効果が低下してしまう。
り0.04g以上0.2g以下、できれば0.06g以
上0.15g以下とすることが望ましい。これは乾燥剤
の量が少なすぎると水分防止効果が薄れ、すぐに有機E
L層が劣化するためである。逆に多すぎると乾燥剤がシ
ールをする際に障害となり、良好なシールを行うことが
できない。
る構成であるが、図3のようにフィルムを用いた封止で
あってもよい。例えば、封止フィルムとしては電解コン
デンサのフィルムにDLC(ダイヤモンド ライク カ
ーボン)を蒸着したものを用いることが例示される。こ
のフィルムは水分浸透性が極めて悪い(防湿)ので、封
止膜73として使用可能である。また、DLC膜を透明
電極72の表面に直接蒸着する構成でも可能である。
反射膜46で反射され、アレイ基板49を透過して出射
される。しかし、反射膜46は外光を反射するため写り
込みが発生し、表示コントラストを低下させる。この対
策のために、アレイ基板49にλ/4板50および偏光
板54を配置している。なお、画素が反射電極の場合は
有機EL層47から発生した光は上方向に出射される。
したがって、λ/4板50および偏光板54は光出射側
に配置されなければならない。なお、反射型画素は、透
明電極48を、アルミニウム、クロム、銀等で構成され
ている。また、透明電極48の表面に、凸部(もしくは
凹凸部)を設けることで有機EL層との界面が広くなっ
て発光面積が大きくなり、発光効率が向上する。
54間には1枚あるいは複数の位相フィルム(位相板、
位相回転手段、位相差板、位相差フィルム)が配置され
る。位相フィルムとしてはポリカーボネートを使用する
ことが好ましい。この位相フィルムは入射光を出射光に
対して位相差を発生させ、効率よく光変調を行うのに寄
与する。
ル樹脂、PVA樹脂、ポリサルホン樹脂、塩化ビニール
樹脂、ゼオネックス樹脂、アクリル樹脂、ポリスチレン
樹脂等の有機樹脂板あるいは有機樹脂フィルム等を用い
てもよい。その他、水晶等の結晶を用いてもよい。1つ
の位相板の位相差は一軸方向に50nm以上350nm
以下、できれば80nm以上220nm以下とすること
が好ましい。
と偏光板とを一体化した円偏光板74(円偏光フィル
ム)を用いてもよい。
いは顔料で着色し、カラーフィルタとしての機能をもた
せることが好ましい。特に有機EL層は赤(R)の純度
が悪いので、着色したλ/4板50で一定の波長範囲を
カットして色温度を調整する。カラーフィルタは、染色
フィルタとして顔料分散タイプの樹脂で設けられるのが
一般的であり、この顔料が特定の波長帯域の光を吸収
し、吸収されなかった波長帯域の光を透過する。
は全体を着色したり、一部もしくは全体に拡散機能をも
たせてもよい。また、表面をエンボス加工したり、反射
防止のために反射防止膜を形成してもよい。また、画像
表示に有効でない箇所もしくは支障のない箇所に、遮光
膜もしくは光吸収膜を形成し、表示画像の黒レベルをひ
きしめたり、ハレーション防止によるコントラスト向上
効果を発揮させたりすることが好ましい。また、位相フ
ィルムの表面に凹凸を形成することによりかまぼこ状あ
るいはマトリックス状にマイクロレンズを形成してもよ
い。マイクロレンズは1つの画素電極あるいは3原色の
画素にそれぞれ対応するように配置しておく。
時に圧延、もしくは光重合により一定の方向に位相差を
発生させることができるので、位相フィルムの機能はカ
ラーフィルタに持たせてもよい。その他、図3の平滑化
膜71を光重合させることにより位相差を持たせてもよ
い。このように構成すれば位相フィルムを基板外に構成
あるいは配置する必要がなくなり、表示パネルの構成も
簡易になり低コスト化が望める。なお、以上の事項は偏
光板にも適用できる。
たる材料としてはTACフィルム(トリアセチルセルロ
ースフィルム)が最適である。TACフィルムは、優れ
た光学特性、表面平滑性および加工適性を有するからで
ある。TACフィルムの製造については、溶液流延製膜
技術で作製することが最適である。
ル(PVA)樹脂に添加した樹脂フィルムのものが例示
される。一対の偏光分離手段の偏光板は入射光のうち特
定の偏光軸方向と異なる方向の偏光成分を吸収すること
により偏光分離を行うので、光の利用効率が比較的悪
い。そこで、入射光のうち特定の偏光軸方向と異なる方
向の偏光成分(reflective polariz
er:リフレクティブ・ポラライザー)を反射すること
により偏光分離を行う反射偏光子を用いてもよい。この
ように構成すれば、反射偏光子により光の利用効率が高
まって、偏光板を用いた上述の例よりもより明るい表示
が可能となる。
にも、本発明の偏光分離手段としては、コレステリック
液晶層と(1/4)λ板を組み合わせたもの、ブリュー
スターの角度を利用して反射偏光と透過偏光とに分離す
るもの、ホログラムを利用するもの、偏光ビームスプリ
ッタ(PBS)等を用いることも可能である。
表面にはAIRコートを施している。AIRコートは誘
電体単層膜もしくは多層膜で形成する構成が例示され
る。その他、1.35〜1.45の低屈折率の樹脂を塗
布してもよい。例えば、フッ素系のアクリル樹脂等が例
示される。特に屈折率が1.37以上1.42以下のも
のが良好である。
2層構成がある。3層構成は広い可視光の波長帯域での
反射を防止するために用いられ、これをマルチコートと
呼ぶ。2層構成は特定の可視光の波長帯域での反射を防
止するために用いられ、これをVコートと呼ぶ。マルチ
コートとVコートは表示パネルの用途に応じて使い分け
る。なお、AIRコートは2層構成以上のものと限定さ
れるものではなく、1層構成でもよい。
(Al2O3)を光学的膜厚nd=λ/4、ジルコニウム
(ZrO2)をnd1=λ/2、フッ化マグネシウム
(MgF2)をnd1=λ/4積層して形成する。通
常、薄膜はλ=520nmもしくはその近傍の値として
形成される。Vコートの場合は一酸化シリコン(Si
O)を光学的膜厚nd1=λ/4とフッ化マグネシウム
(MgF2)をnd1=λ/4、もしくは酸化イットリ
ウム(Y2O3)とフッ化マグネシウム(MgF2)をn
d1=λ/4積層して形成する。SiOは青色側に吸収
帯域があるため青色光を変調する場合は物質の安定性か
ら見てもY2O3を用いた方がよい。また、SiO2薄膜
を使用してもよい。もちろん、低屈折率の樹脂等を用い
てAIRコートとしてもよい。例えば、フッ素等のアク
リル樹脂が例示される。これらは紫外線硬化タイプを用
いることが好ましい。
ることを防止するため、表示パネル等の表面に親水性の
樹脂を塗布しておくことが好ましい。その他、表面反射
を防止するため、偏光板54の表面等にエンボス加工を
行ってもよい。
るとしたがこれに限定されるものではない。アクティブ
マトリックスは、スイッチング素子として薄膜トランジ
スタ(TFT)の他、ダイオード方式(TFD)、バリ
スタ、サイリスタ、リングダイオード、PLZT素子等
でも可能である。また、TFTはLDD(ロー ドーピ
ング ドレイン)構造を採用することが好ましい。な
お、TFTとは、FETなどスイッチング等のトランジ
スタ動作をするすべての素子一般を意味する。また、E
L膜の構成、パネル構造等は単純マトリックス型表示パ
ネルにも適用できる。また、本明細書ではEL素子とし
て有機EL素子を例にあげて説明したがこれに限定され
るものではなく、無機EL素子でも適用できる。
トリックス方式は、(1)特定の画素を選択し、必要な
表示情報を与えられること、(2)1フレーム期間を通
じてEL素子に電流を流すことができることという2つ
の条件を満たさせなければならない。この2つの条件を
満たすため、図22に示す従来の有機ELの素子構成に
おいて、第1のTFT11aは画素を選択するためのス
イッチング用薄膜トランジスタ、第2のTFT11bは
EL素子15に電流を供給するための駆動用薄膜トラン
ジスタとする。ここで液晶に用いられるアクティブマト
リックス方式と比較すると、スイッチング用TFT11
aは液晶用にも必要であるが、駆動用TFT11bはE
L素子15を点灯させるために必要である。この理由と
して、液晶の場合は、電圧を印加することでオン状態を
保持することができるが、EL素子15の場合は、電流
を流し続けなければ画素16の点灯状態を維持できない
からである。
し続けるために駆動用TFT11bをオンさせ続けなけ
ればならない。走査線、データ線が両方ともオンになる
と、スイッチング用TFT11aを通してキャパシタ1
9に電荷が蓄積される。このキャパシタ19が駆動用T
FT11bのゲートに電圧を加え続けるため、スイッチ
ング用TFT11aがオフになっても、電流供給線20
から電流が流れ続け、1フレーム期間にわたり画素16
をオンできる。
駆動用TFT11bのゲート電圧として階調に応じた電
圧を印加する必要がある。したがって、駆動用TFT1
1bのオン電流のばらつきがそのまま表示に現れる。
れたトランジスタであれば、きわめて均一であるが、安
価なガラス基板に形成することのできる、形成温度が4
50度以下の低温ポリシリコン技術で形成した低温多結
晶トランジスタでは、±0.2V〜0.5Vの範囲でそ
の閾値のばらつきを持つため、駆動用TFT11bを流
れるオン電流がこれに対応してばらつき、表示ムラが発
生する。これらのムラは、閾値電圧のばらつきのみなら
ず、TFTの移動度、ゲート絶縁膜の厚み等でも発生す
る。
る方法では、均一な表示を得るために、デバイスの特性
を厳密に制御する必要があり、現状の低温多結晶ポリシ
リコンTFTではこのばらつきを所定範囲以内に抑える
というスペックを満たせない。この問題を解決するため
に、1画素内に4つのトランジスタを設けて、閾値電圧
のばらつきをコンデンサにより補償させて均一な電流を
得る方法や、定電流回路を1画素ごとに形成し電流の均
一化を図る方法等が考えられる。
ムされる電流がEL素子15を通じてなされるため、電
流経路が変化した場合に電源ラインに接続されるスイッ
チングトランジスタに対し駆動電流を制御するトランジ
スタがソースフォロワとなり駆動マージンが狭くなる。
そのため、駆動電圧が高くなるという課題を有すること
になる。
ジスタをインピーダンスの低い領域で使用する必要があ
り、この動作範囲がEL素子15の特性変動により影響
を受けるという課題もある。その上、飽和領域における
電圧電流特性にキンク電流が発生した場合、またはトラ
ンジスタの閾値電圧の変動が発生した場合、記憶された
電流値が変動するとう課題もある。
て、EL素子15に流れる電流を制御するトランジスタ
が、ソースフォロワ構成とならず、かつそのトランジス
タにキンク電流があっても、キンク電流の影響を最小限
に抑えることができ、記憶される電流値の変動をも小さ
くすることができる構成である。
(a)に示すように単位画素が最低4つからなる複数の
TFT11ならびにEL素子により形成される。なお、
画素電極はソース信号線と重なるように構成する。つま
り、ソース信号線18上に絶縁膜あるいはアクリル材料
からなる平滑化膜を形成して絶縁し、この絶縁膜上に画
素電極を形成する。このようにソース信号線18上に画
素電極を重ねる構成をハイアパーチャ(HA)構造と呼
ぶ。
aをアクティブ(ON電圧を印加)とすることにより第
1のTFT(あるいはスイッチング素子)11aおよび
第3のTFT(あるいはスイッチング素子)11cを通
して、前記EL素子15に流すべき電流値を流し、第1
のTFTのゲートとドレイン間を短絡するように第2の
TFT11bが第1のゲート信号線17aをアクティブ
(ON電圧を印加)とすることで開くと共に、第1のT
FT11aのゲートとソース間に接続されたキャパシタ
19に、前記電流値を流すように第1のTFT11aの
ゲート電圧(あるいはドレイン電圧)を記憶させる。
ト間容量であるキャパシタ19は0.2pF以上の容量
とすることが好ましい。他の構成として、別途キャパシ
タを形成する例もある。これはキャパシタ電極レイヤー
とゲート絶縁膜およびゲートメタルから蓄積容量を形成
する構成例である。M3トランジスタ11cのリークに
よる輝度低下を防止する観点、表示動作を安定化させる
ための観点からはこのように別途キャパシタを構成する
方が好ましい。
非表示領域に形成されることが好ましい。一般的に、フ
ルカラー有機EL層を作成する場合、有機EL層をメタ
ルマスクによるマスク蒸着で形成するため、EL層の形
成位置に位置ずれが発生し、各色の有機EL層が重なる
危険性がある。そのため、各色の隣接する画素間の非表
示領域は10μm以上離れていなければならず、またこ
の部分は発光に寄与しない部分となる。したがって、キ
ャパシタ19をこの領域に形成することは開口率向上の
ために有効な手段となる。
ティブ(OFF電圧を印加)、第2のゲート信号線17
bをアクティブとして、電流の流れる経路を前記第1の
TFT11aならびにEL素子15に接続された第4の
TFT11dならびに前記EL素子15を含む経路に切
り替えて、記憶した電流を前記EL素子15に流すよう
に動作する。
有しており、第1のトランジスタM1のゲートは第2の
トランジスタM2のソースに接続されており、第2のト
ランジスタM2および第3のトランジスタM3のゲート
は第1のゲート信号線17aに、第2のトランジスタM
2のドレインは第3のトランジスタM3のソースならび
に第4のトランジスタM4のソースに接続され、第3の
トランジスタM3のドレインはソース信号線18に接続
されている。第4のトランジスタM4のゲートは第2の
ゲート信号線17bに接続され、第4のトランジスタM
4のドレインはEL素子15のアノード電極に接続され
ている。
ネルで構成している。Pチャンネルは多少Nチャンネル
のTFTに比較してモビリティが低いが、耐圧が大きく
また劣化も発生しにくいので好ましい。しかし、本発明
はEL素子構成をPチャンネルで構成することのみに限
定するものではない。Nチャンネルのみで構成してもよ
く、また、NチャンネルとPチャンネルの両方を用いて
構成してもよい。
一の極性、かつNチャンネルで構成し、第1および第2
のトランジスタはPチャンネルで構成することが好まし
い。一般的にPチャンネルトランジスタはNチャンネル
トランジスタと比較して、信頼性が高い、キンク電流が
少ない等の特長があり、電流を制御することによって目
的とする発光強度を得るEL素子に対しては、第1のT
FT11aをPチャンネルにすると効果が大きくなる。
を用いて説明する。本発明のEL素子構成は2つのタイ
ミングにより制御される。第1のタイミングは必要な電
流値を記憶させるタイミングである。このタイミングで
TFT11bならびにTFT11cがONすることによ
り、等価回路として図6(a)となる。ここで、信号線
より所定の電流I1が書き込まれる。これによりTFT
11aはゲートとドレインが接続された状態となり、こ
のTFT11aとTFT11cを通じて電流I1が流れ
る。従って、TFT11aのソース−ゲート間の電圧は
電流I1が流れるようにV1となる。
11cが閉じ、TFT11dが開くタイミングであり、
そのときの等価回路は図6(b)となる。この場合、M
1のTFT11aは常に飽和領域で動作するため、電流
I1は一定となり、TFT11aのソース−ゲート間の
電圧V1は保持されたままとなる。
cのゲートは同一のゲート信号線11aに接続してい
る。しかし、TFT11aのゲートとTFT11cのゲ
ートとを異なるゲート信号線11に接続してもよい(S
A1とSA2とを個別に制御できるようにする)。つま
り、1画素のゲート信号線は3本となってもよい(図5
の構成は2本である)。TFT11aのゲートのON/
OFFタイミングとTFT11cのゲートのON/OF
Fタイミングを個別に制御することにより、TFT11
のばらつきによるEL素子15の電流値ばらつきをさら
に低減することができる。
信号線17bとを共通にし、第3および第4のトランジ
スタを異なった導電型(NチャンネルとPチャンネル)
とすると、駆動回路の簡略化、ならびに画素の開口率を
向上させることが出来る。このように構成すれば、本発
明の動作タイミングとしては信号線からの書き込み経路
がオフになる。すなわち所定の電流が記憶される際に、
電流の流れる経路に分岐があると正確な電流値がM1の
ソース−ゲート間容量(コンデンサ)に記憶されない。
TFTM3とTFTM4を異なった導電形とし、お互い
の閾値を制御することによって走査線の切り替わりのタ
イミングで必ずM3がオフした後にM4がオンすること
が可能になる。ただしこの場合、お互いの閾値を正確に
コントロールするため、プロセスの注意が必要である。
ジスタで実現可能であるが、より正確なタイミングのコ
ントロールあるいは後述するように、ミラー効果低減の
ためにTFT11e(M5)を図5(b)に示すように
カスケード接続してトランジスタの総数が4以上になっ
ても動作原理は同じである。このようにTFT11eを
加えた構成とすることにより、トランジスタM3を介し
てプログラムした電流をより精度よくEL素子15に流
すことができるようになる。
の飽和領域における電流値Idsが下式の条件を満たす
ことがさらに好ましい。なお、下式においてλの値は、
隣接する画素間において0.01以上0.06以下の条
件を満たすものである。
するが、一般的に飽和領域におけるトランジスタ特性
は、理想的な特性より外れ、ソース−ドレイン間電圧の
影響を受ける(ミラー効果)。
1aにΔVtなる閾値のシフトが発生した場合を考え
る。この場合、記憶される電流値は同じである。閾値の
シフトをΔLとすれば、約ΔV×λはTFT11aの閾
値が変動することによるEL素子15の電流値のずれに
相当する。したがって、電流のずれをx(%)以下に抑
えるためには、閾値のシフトの許容量を隣接する画素間
でy(V)として、λは0.01×x/y以下でなけれ
ばならないことが判る。この許容値はアプリケーション
の輝度により変化する。輝度が100cd/m2から1
000cd/m2までの輝度領域においては、変動量が
2%以上あれば人間は変動した境界線を認識する。した
がって、輝度(電流量)の変動量が2%以内であること
が必要である。輝度が100cd/cm2より高い場合
は隣接する画素の輝度変動量は2%以上となる。本発明
のEL表示素子を携帯端末用ディスプレイとして用いる
場合、その要求輝度は100cd/m2程度である。実
際に図5の画素構成を試作し、閾値の変動を測定する
と、隣接する画素のTFT11aにおいては閾値の変動
の最大値は0.3Vであることが判った。したがって、
輝度の変動を2%以内に抑えるためにλは0.06以下
でなければならない。しかし、人間が変化を認識するこ
とができないので、0.01以下にする必要はない。ま
た、この閾値のばらつきを達成するためにはトランジス
タサイズを十分大きくする必要があり、非現実的であ
る。
ける電流値Idsが下式を満たすように構成されること
が好ましい。なお、λの変動が隣接する画素間において
1%以上5%以下とする。
い場合でも上記式のλに変動があれば、EL素子を流れ
る電流値が変動する。変動を±2%以内に抑えるために
は、λの変動を±5%に抑えなければならない。しか
し、人間が変化を認識することができないので、1%以
下にする必要はない。また、1%以下を達成するために
はトランジスタサイズを相当に大きくする必要があり、
非現実的である。
ば第1のTFT11aのチャンネル長を10μm以上2
00μm以下とすることが好ましい。さらに好ましく
は、第1のTFT11aのチャンネル長を15μm以上
150μm以下とすることが好ましい。これは、チャン
ネル長Lを長くした場合、チャンネルに含まれる粒界が
増えることによって電界が緩和され、キンク効果が低く
抑えられるためであると考えられる。
ザ再結晶化方法(レーザアニ−ル)により形成されたポ
リシリコンTFTで形成され、すべてのトランジスタに
おけるチャンネルの方向がレーザの照射方向に対して同
一の方向であることが好ましい。
つきが表示に影響を与えない回路構成を提案するもので
あり、そのために4トランジスタ以上が必要となる。こ
れらのトランジスタ特性により、回路定数を決定する場
合、4つのトランジスタの特性がそろわなければ、適切
な回路定数を求めることが困難である。レーザ照射の長
軸方向に対して、チャンネル方向が水平の場合と垂直の
場合では、トランジスタ特性の閾値と移動度が異なって
形成される。なお、どちらの場合もばらつきの程度は同
じである。水平方向と垂直方向では、移動度、閾値の平
均値が異なる。したがって、画素を構成するすべてのト
ランジスタのチャンネル方向は同一である方が望まし
い。
2のTFT11bのオフ電流値をIoffとした場合、
次式を満たすことが好ましい。
り、EL素子を流れる電流値の変化を2%以下に抑える
ことが可能である。これはリーク電流が増加すると、電
圧非書き込み状態においてゲート−ソース間(コンデン
サの両端)に貯えられた電荷を1フィールド間保持でき
ないためである。したがって、キャパシタ19の蓄積用
容量が大きければオフ電流の許容量も大きくなる。前記
式を満たすことによって隣接画素間の電流値の変動を2
%以下に抑えることができる。
トランジスタがp−chポリシリコン薄膜トランジスタ
によって構成され、TFT11bがデュアルゲート以上
であるマルチゲート構造とされることが好ましい。TF
T11bは、TFT11aのソース−ドレイン間のスイ
ッチとして作用するため、できるだけON/OFF比の
高い特性が要求される。TFT11bのゲートの構造を
デュアルゲート構造以上のマルチゲート構造とすること
によりON/OFF比の高い特性を実現できる。
トランジスタがポリシリコン薄膜トランジスタで構成さ
れており、各トランジスタの(チャンネル幅W)*(チ
ャンネル長L)を54μm2以下とすることが好まし
い。(チャンネル幅W)*(チャンネル長L)とトラン
ジスタ特性のばらつきとは相関がある。トランジスタ特
性におけるばらつきの原因は、レーザの照射によるエネ
ルギーのばらつき等に起因するものが多く、これを吸収
するためには、できるだけレーザの照射ピッチ(一般的
には10数μm)をチャンネル内により多く含む構造が
望ましい。そこで、各トランジスタの(チャンネル幅
W)*(チャンネル長L)を54μm2以下とすると、
レーザ照射に起因するばらつきがなく、特性のそろった
薄膜トランジスタを得ることができる。なお、あまりに
もトランジスタサイズが小さくなると面積による特性ば
らつきが発生するので、各トランジスタの(チャンネル
幅W)*(チャンネル長L)は9μm2以上、さらに好
ましくは、各トランジスタの(チャンネル幅W)*(チ
ャンネル長L)は16μm2以上45μm2以下となるよ
うにする。
11aの移動度変動を20%以下にすることが好まし
い。なぜなら、移動度が不足することによりスイッチン
グトランジスタの充電能力が劣化し、時間内に必要な電
流値を流すまでに、M1のゲート−ソース間の容量を充
電できないからである。したがって、移動のばらつきを
20%以内に抑えることで画素間の輝度のばらつきを認
知限以下にすることができる。
図7、図8に図示する構成にも適用することができる。
以下、図7等の画素構成について説明をする。
FT11aに流す信号電流をIw、その結果TFT11
aに生ずるゲート−ソース間電圧をVgsとする。書き
込み時はTFT11dによってTFT11aのゲート−
ドレイン間が短絡されているので、TFT11aは飽和
領域で動作する。よって、信号電流Iwは、以下の数式
で与えられる。
h1)2 ここでのCoxは単位面積当たりのゲート容量であり、
Cox=ε0・εr/dで与えられる。VthはTFT
の閾値、μはキャリアの移動度、Wはチャンネル幅、L
はチャンネル長、ε0は真空の移動度、εrはゲート絶
縁膜の比誘電率を示し、dはゲート絶縁膜の厚みであ
る。
と、Iddは、EL素子15と直列に接続されるTFT
11bによって電流レベルが制御される。本発明では、
そのゲート−ソース間電圧が(数1)のVgsに一致す
るので、TFT11bが飽和領域で動作すると仮定すれ
ば、以下の数式が成り立つ。
Vth2)2 絶縁ゲート電界効果型の薄膜トランジスタ(TFT)が
飽和領域で動作するための条件は、Vdsをドレイン−
ソース間電圧として、一般に以下の数式で与えられる。
部に近接して形成されるため、大略μ1=μ2及びCo
x1=Cox2であり、特に工夫を凝らさない限り、V
th1=Vth2と考えられる。すると、このとき(数
1)及び(数2)から容易に以下の数式が導かれる。
て、μ、Cox、Vthの値自体は、画素毎、製品毎、
あるいは製造ロット毎にばらつくのが普通であるが、
(数4)はこれらのパラメータを含まないので、Idr
v/Iwの値はこれらのばらつきに依存しないというこ
とである。仮にW1=W2、L1=L2と設計すれば、
Idrv/Iw=1、すなわちIwとIdrvが同一の
値となり、EL素子15に流れる駆動電流Iddは、T
FTの特性ばらつきによらず、正確に信号電流Iwと同
一になるので、結果としてEL素子15の発光輝度を正
確に制御できる。
h1と駆動用TFT11bのVth2は基本的に同一で
ある為、両TFTにおける共通電位が存在するゲートに
対してカットオフレベルの信号電圧が印加されると、T
FT11a及びTFT11bは共に非導通状態になるは
ずである。ところが、実際には画素内でもパラメータの
ばらつき等の要因により、Vth1よりもVth2が低
くなってしまうことがある。この時、駆動用TFT11
bにはサブスレッショルドレベルのリーク電流が流れる
為、EL素子15が微発光を呈する。この微発光により
画面のコントラストが低下し表示特性が損なわれる。
電圧Vth2が画素内で対応する変換用TFT11aの
閾電圧Vth1より低くならないように設定している。
例えば、TFT11bのゲート長L2をTFT11aの
ゲート長L1よりも長くして、これらの薄膜トランジス
タのプロセスパラメータが変動しても、Vth2がVt
h1よりも低くならないようにしており、微少な電流リ
ークを抑制することが可能となっている。以上の事項は
図5のTFT11aとTFT11dの関係にも適用され
る。
信号電流が流れる変換用TFT11a、EL素子15等
からなる発光素子に流れる駆動電流を制御する駆動用T
FT11bの他、第1の走査線scanA(SA)の制
御によって画素回路とデータ線dataとを接続もしく
は遮断する取込用TFT11c、第2の走査線scan
B(SB)の制御によって書き込み期間中にTFT11
aのゲート−ドレインを短絡するスイッチ用TFT11
d、TFT11aのゲート−ソース間電圧を書き込み終
了後も保持するためのキャパシタ19および発光素子と
してのEL素子15等から構成される。このように、ゲ
ート信号線は各画素2本であることから、前述した図
5、図10、図11等に基づく本発明の明細書全体の構
成、機能、動作等を適用することができる。
(NMOS)、その他のトランジスタはPチャンネルM
OS(PMOS)で構成しているが、これは一例であっ
て、必ずしもこの通りである必要はない。キャパシタ1
9は、その一方の端子をTFT11aのゲートに接続さ
れ、他方の端子はVdd(電源電位)に接続されている
が、Vddに限らず任意の一定電位でも良い。EL素子
15のカソード(陰極)は接地電位に接続されている。
したがって、以上の事項は図5等にも適用されることは
言うまでもない。
anBを順次選択する走査線駆動回路と、輝度情報に応
じた電流レベルを有する信号電流Iwを生成して逐次デ
ータ線dataに供給する電流源CSを含むデータ線駆
動回路と、各走査線scanA、scanB及び各デー
タ線dataの交差部に配されて、駆動電流の供給を受
けて発光する電流駆動型のEL素子15を含む複数の画
素とを備えている。
は、当該走査線scanAが選択された時、当該データ
線dataから信号電流Iwを取り込む受入部と、取り
込んだ信号電流Iwの電流レベルを一旦電圧レベルに変
換して保持する変換部と、保持された電圧レベルに応じ
た電流レベルを有する駆動電流を当該発光素子OLED
に流す駆動部とからなる。具体的には、前記受入部は取
込用TFT11cから構成されている。
及びチャネルを備えた変換用TFT11aと、そのゲー
トに接続したキャパシタとを含んでいる。変換用TFT
11a、受入部によって取り込まれた信号電流Iwをチ
ャネルに流して変換された電圧レベルをゲートに発生さ
せ、キャパシタ19に生じた電圧レベルを保持する。
レインとゲートとの間に挿入されたスイッチング用TF
T11dを含んでいる。スイッチング用TFT11d
は、信号電流Iwの電流レベルを電圧レベルに変換する
時に導通し、変換用TFT11aのドレインとゲートを
電気的に接続してソースを基準とする電圧レベルをTF
T11aのゲートに生ぜしめる。又、スイッチング用T
FT11dは、電圧レベルをキャパシタ19に保持する
時に遮断され、変換用TFT11aのゲート及びこれに
接続したキャパシタ19を変換用TFT11aのドレイ
ンから切り離す。
ソース及びチャネルを備えた駆動用TFT11bを含ん
でいる。駆動用TFT11bは、キャパシタ19に保持
された電圧レベルをゲートに受け入れ、それに応じた電
流レベルを有する駆動電流をチャネルを介してEL素子
15に流す。変換用TFT11aのゲートと駆動用TF
T11bのゲートとが直接接続されてカレントミラー回
路を構成し、信号電流Iwの電流レベルと駆動電流の電
流レベルとが比例関係となるようにしている。
そのゲートに印加された電圧レベルと閾電圧との差に応
じた駆動電流をEL素子15に流す。
内で対応する変換用TFT11aの閾電圧より低くなら
ないように設定されている。具体的には、駆動用TFT
11bは、そのゲート長が変換用TFT11aのゲート
長より短くならないように設定されている。あるいは、
駆動用TFT11bは、そのゲート絶縁膜が画素内で対
応する変換用TFT11aのゲート絶縁膜より薄くなら
ないように設定されても良い。
ルに注入される不純物濃度を調整して、閾電圧が画素内
で対応する変換用TFT11aの閾電圧より低くならな
いように設定されてもよい。仮に、変換用TFT11a
と駆動用TFT11bの閾電圧が同一となるように設定
した場合、共通接続された両薄膜トランジスタのゲート
にカットオフレベルの信号電圧が印加されると、変換用
TFT11a及び駆動用TFT11bは両方共オフ状態
になるはずである。ところが、実際には画素内にも僅か
ながらプロセスパラメータのばらつきがあり、変換用T
FT11aの閾電圧より駆動用TFT11bの閾電圧が
低くなる場合がある。
電圧でもサブスレッショルドレベルの微弱電流が駆動用
TFT11bに流れる為、EL素子15は微発光し画面
のコントラスト低下が現れる。そこで、駆動用TFT1
1bのゲート長を変換用TFT11aのゲート長よりも
長くしている。これにより、薄膜トランジスタのプロセ
スパラメータが画素内で変動しても、駆動用TFT11
bの閾電圧が変換用TFT11aの閾電圧よりも低くな
らない。
域Aでは、ゲート長Lの増加に伴いTFTの閾値Vth
が上昇する。一方、ゲート長Lが比較的大きな抑制領域
Bではゲート長Lに関わらずTFTの閾値Vthはほぼ
一定である。この特性を利用して、駆動用TFT11b
のゲート長を変換用TFT11aのゲート長よりも長く
している。例えば、変換用TFT11aのゲート長が7
μmの場合、駆動用TFT11bのゲート長を10μm
程度にする。
ル効果領域Aに属する一方、駆動用TFT11bのゲー
ト長が抑制領域Bに属するようにしても良い。これによ
り、駆動用TFT11bにおける短チャネル効果を抑制
することができるとともに、プロセスパラメータの変動
による閾電圧低減を抑制することが可能となる。
サブスレッショルドレベルのリーク電流を抑制してEL
素子15の微発光を抑え、コントラスト改善に寄与可能
である。
説明する。先ず、書き込み時には第1の走査線scan
A、第2の走査線scanBを選択状態とする。両走査
線が選択された状態でデータ線dataに電流源CSを
接続することにより、変換用TFT11aに輝度情報に
応じた信号電流Iwが流れる。電流源CSは輝度情報に
応じて制御される可変電流源である。このとき、変換用
TFT11aのゲート−ドレイン間はTFT11dによ
って電気的に短絡されているので(数3)が成立し、変
換用TFT11aは飽和領域で動作する。従って、その
ゲート−ソース間には(数1)で与えられる電圧Vgs
が生ずる。
態とする。詳しく述べると、まずscanBを低レベル
としてTFT11dをoff状態とする。これによって
電圧Vgsがキャパシタ19によって保持される。次に
scanAを高レベルにしてoff状態とすることによ
り、画素回路とデータ線dataとが電気的に遮断され
るので、その後はデータ線dataを介して別の画素へ
の書き込みを行うことができる。ここで、電流源CSが
信号電流の電流レベルとして出力するデータは、sca
nBが非選択となる時点では有効である必要があるが、
その後は任意のレベル(例えば次の画素の書き込みデー
タ)とされて良い。
とゲート及びソースが共通接続されており、かつ共に小
さな画素内部に近接して形成されているので、駆動用T
FT11bが飽和領域で動作していれば、駆動用TFT
11bを流れる電流は(数2)で与えられ、これがすな
わちEL素子15に流れる駆動電流Iddとなる。駆動
用TFT11bを飽和領域で動作させるには、EL素子
15での電圧降下を考慮してもなお(数3)が成立する
よう、十分な電源電位をアノード電圧Vddに与えれば
良い。
ンスを増大させること等を目的として、図9に図示する
ように、TFT11e、11fを付加しても良く、これ
によりより良好な電流駆動を実現できる。他の事項は図
5で説明しているので省略する。
明したEL表示素子に直流電圧を印加し、10mA/c
m2の一定電流密度でEL表示素子を連続駆動させた。
EL構造体においては、7.0V、200cd/cm2
の緑色(発光極大波長λmax=460nm)の発光が
確認できた。青色発光部では、輝度100cd/cm 2
で、色座標がx=0.129、y=0.105、緑色発
光部では、輝度200cd/cm2で、色座標がx=
0.340、y=0.625、赤色発光部では、輝度1
00cd/cm2で、色座標がx=0.649、y=
0.338の発光色が得られた。
等を用いた表示装置、表示モジュール、情報表示装置お
よびその駆動回路と駆動方法等について説明をする。
向上が重要な開発課題になる。開口率を高めると光の利
用効率が上がり、高輝度化や長寿命化につながるためで
ある。開口率を高めるためには、有機EL層からの光を
遮るTFTの面積を小さくすればよい。低温多結晶Si
−TFTはアモルファスシリコンと比較して10〜10
0倍の性能を持ち、その上、電流の供給能力が高いた
め、TFTのサイズを非常に小さくできる。したがっ
て、有機ELパネルでは、画素トランジスタ、周辺駆動
回路を低温ポリシリコン技術で作製することが好まし
い。もちろん、アモルファスシリコン技術で形成しても
よいが画素開口率はかなり小さくなってしまう。
バ14等の駆動回路をアレイ基板49上に形成すること
により、電流駆動の有機ELパネルで特に問題になる抵
抗を下げることができる。TCPの接続抵抗がなくなる
うえに、TCP接続の場合に比べて電極からの引き出し
線が2〜3mm短くなり配線抵抗が小さくなるからであ
る。さらに、TCP接続のための工程がなくなる、材料
コストが下がるという利点もある。
L表示装置について説明をする。図10はEL表示装置
の回路を中心とした説明図である。画素16がマトリッ
クス状に配置または形成されている。各画素16には各
画素の電流プログラムを行う電流を出力するソースドラ
イバ14が接続されている。ソースドライバ14の出力
段には映像信号のビット数に対応したカレントミラー回
路が形成されている。例えば、64階調であれば、63
個のカレントミラー回路が各ソース信号線ごとに形成さ
れ、これらのカレントミラー回路の個数を選択すること
により所望の電流をソース信号線18に印加できるよう
に構成されている。なお、カレントミラー回路の最小出
力電流は2nA以上10nA以下にしている。また、ソ
ース信号線18の電荷を強制的に放出または充電するプ
リチャージあるいはディスチャージ回路を内蔵する。
(温特)があることが知られている。この温特による発
光輝度変化を調整するため、カレントミラー回路に出力
電流を変化させるサーミスタあるいはポジスタ等の非直
線素子を付加し、温特による変化を前記サーミスタ等で
調整することによりアナログ的に基準電流を作成する。
この場合は、選択するEL材料で一義的に決定されるか
ら、ソフト制御するマイコン等を必要としない場合が多
い。つまり、液晶材料により、一定のシフト量等に固定
しておいてもよいということである。重要なのは発光色
材料により温特が異なっている点であり、発光色ごとに
最適な温特補償を行う必要がある点である。
い。温度センサでEL表示パネルの温度を測定し、測定
した温度によりマイコン(図示せず)等で変化させる。
また、切り替え時に基準電流などをマイコン制御等によ
り自動的に切り替えてもよいし、特定のメニューを表示
できるように制御してもよい。また、マウス等を用いて
切り替えたり、EL表示装置の表示画面をタッチパネル
にし、かつメニューを表示して特定箇所を押さえること
により切り替えできるように構成してもよい。
シリコンチップで形成され、ガラスオンチップ(CO
G)技術でアレイ基板49のソース信号線18の端子と
接続されている。ソース信号線18等の信号線の配線は
クロム、アルミニウム、銀等の金属配線が用いられる。
これは細い配線幅で低抵抗の配線が得られるからであ
る。金属配線は画素が反射型の場合は工程が簡略できる
ので、画素の反射膜を構成する材料で、反射膜と同時に
形成することが好ましい。
なく、チップオンフィルム(COF)技術に前述のソー
スドライバ14等を積載し、表示パネルの信号線と接続
した構成としてもよい。また、ソースドライバ14は電
源IC102と別途作製し、3チップ構成としてもよ
い。
Fテープ向けフィルムは、ポリイミド・フィルムと銅
(Cu)箔を、接着剤を使わずに熱圧着することができ
る。また、TCPテープ向けフィルムにはこの他、Cu
箔の上に溶解したポリイミドを重ねてキャスト成型する
方法と、ポリイミド・フィルム上にスパッタリングで形
成した金属膜の上にCuをメッキや蒸着で付ける方法が
ある。これらのいずれでもよいが、接着剤を使わずにポ
リイミド・フィルムにCuを付けるTCPテープを用い
る方法が最も好ましい。30μm以下のリード・ピッチ
には、接着剤を使わないCu張り積層板で対応する。接
着剤を使わないCu張り積層板のうち、Cu層をメッキ
や蒸着で形成する方法はCu層の薄型化に適しているた
め、リード・ピッチの微細化に有利である。
コン技術で、画素のTFTと同一のプロセスで形成され
ている。これは、ソースドライバ14と比較して内部の
構造が容易で、動作周波数も低いためである。したがっ
て、低温ポリシリコン技術でも容易に形成することがで
き、また、狭額縁化を実現できる。もちろん、ゲートド
ライバ12をシリコンチップで形成し、COG技術等を
用いてアレイ基板49上に実装してもよい。また、画素
TFT、ゲートドライバ等は高温ポリシリコン技術で形
成してもよく、有機材料で形成(有機TFT)してもよ
い。
用のシフトレジスタ22aと、ゲート信号線17b用の
シフトレジスタ22bとを内蔵する。各シフトレジスタ
22は正相と負相のクロック信号(CLKxP、CLK
xN)と、スタートパルス(STx)で制御される。そ
の他、ゲート信号線の出力、非出力を制御するイネーブ
ル(ENABL)信号、シフト方向を上下逆転させるア
ップダウン(UPDWM)信号を付加することが好まし
い。他に、スタートパルスがシフトレジスタにシフトさ
れ、そして出力されていることを確認する出力端子等を
設けることが好ましい。なお、シフトレジスタのシフト
タイミングはコントロールIC(図示せず)からの信号
で制御される。また、外部データのレベルシフトを行う
レベルシフト回路と検査回路を内蔵する。
いため直接、ゲート信号線17を駆動することができな
い。そのため、シフトレジスタ22の出力とゲート信号
線17を駆動する出力ゲート24間には少なくとも2つ
以上のインバータ回路23が形成されている。
のポリシリコン技術でアレイ基板49上に直接形成する
場合も同様であり、ソース信号線を駆動するトランスフ
ァーゲート等のアナログスイッチのゲートとソースドラ
イバのシフトレジスタ間には複数のインバータ回路が形
成される。以下の事項(シフトレジスタの出力と、信号
線を駆動する出力段(出力ゲートあるいはトランスファ
ーゲート等の出力段間に配置されるインバータ回路に関
する事項)は、ソースドライバおよびゲートドライバ回
路に共通の事項である。例えば、図10ではソースドラ
イバ14の出力が直接、ソース信号線18に接続されて
いるように図示したが、実際には、ソースドライバのシ
フトレジスタの出力は多段のインバータ回路が接続され
て、インバータの出力がトランスファーゲート等のアナ
ログスイッチのゲートに接続されている。
SトランジスタとNチャンネルのMOSトランジスタか
ら構成される。先にも説明したように、ゲートドライバ
12のシフトレジスタ22の出力端にはインバータ回路
23が多段に接続されており、その最終出力が出力ゲー
ト24に接続されている。なお、インバータ回路23は
Pチャンネルのみで構成してもよい。ただし、この場合
は、インバータではなく単なるゲート回路として構成し
てもよい。
ネルまたはNチャンネルのTFTのチャンネル幅をW、
チャンネル長をL(ダブルゲート以上の場合は構成する
チャンネルの幅もしくはチャンネル長を加算する)と
し、シストレジスタに近いインバータの次数を1、表示
側に近いインバータの次数をN(N段目)とする。
続されているインバータ回路23の特性差が多重(積み
重なり)され、シフトレジスタ22から出力ゲート24
までの伝達時間に差が生じる(遅延時間ばらつき)。例
えば、極端な場合では、図10において出力ゲート24
aは1.0μsec後(シフトレジスタからパルスが出
力されてから起算して)にオンしている(出力電圧が切
リ替わっている)のに、出力ゲート24bは1.5μs
ec後(シフトレジスタからパルスが出力されてから起
算して)にオンしている(出力電圧が切リ替わってい
る)という状態が生じる。
ート24間に作製するインバータ回路23の数は少ない
方がよいが、出力ゲート24を構成するTFTのチャン
ネルのゲート幅Wは非常に大きい方がよい。また、シス
トレジスタ22の出力段のゲート駆動能力は小さいの
で、シフトレジスタを構成するゲート回路(NAND回
路等)で直接、出力ゲート24を駆動することは不可能
である。そのため、インバータを多段接続する必要があ
るが、例えば、図10のインバータ回路23dのW4/
L4(Pチャンネルのチャンネル幅/Pチャンネルのチ
ャンネル長)の大きさと、インバータ回路23cのW3
/L3のサイズ比が大きいと遅延時間が長くなり、ま
た、インバータの特性がばらつきをも大きくする。
時間比(実線)の関係を示す。横軸は(Wn−1/Ln
−1)/(Wn/Ln)で示す。例えば、図10でイン
バータ回路23dとインバータ回路23cのLが同一で
2W3=W4であれば(W3/L3)/(W4/L4)
=0.5である。図11のグラフにおいて遅延時間比は
(Wn−1/Ln−1)/(Wn/Ln)=0.5のと
きを1とし、遅延同様に時間ばらつきも1としている。
n/Ln)が大きくなるほどインバータ回路23の接続
段数が多くなり、遅延時間ばらつきも大きくなることを
示している。また、(Wn−1/Ln−1)/(Wn/
Ln)が小さくなるほどインバータ回路23から次段へ
のインバータ回路23への遅延時間が長くなることを示
している。このグラフから遅延時間比および遅延時間ば
らつきを2以内にすることが設計上有利であることがわ
かる。したがって、次式の条件を満たせればよい。
n/Ln)≦0.75 また、各インバータ回路23のPチャンネルのW/L比
(Wp/Lp)とnチャンネルのW/L比(Ws/L
s)とは以下の関係を満たす必要がある。
いはトランスファーゲート)間に形成するインバータ回
路23の段数nは次式を満たすと遅延時間のばらつきも
少なく良好である。
タのモビリティμnが小さいとTGおよびインバータの
サイズが大きくなり、消費電力等も大きくなる。また、
ドライバの形成面積が大きくなり、そのため、パネルサ
イズも大きくなってしまう。一方、モビリティμnが大
きいとトランジスタの特性劣化を引き起こしやすので、
モビリティμnは以下の範囲がよい。
ートは、500V/μsec以下にする。スルーレート
が高いとnチャンネルトランジスタの劣化が激しくなる
からである。
インバータ回路23を多段に接続するとしたが、NAN
D回路でもよい。NAND回路でもインバータを構成す
ることができるからである。つまり、インバータ回路2
3の接続段数とはゲートの接続段数と考えればよい。こ
の場合も今まで説明したW/L比等の関係が適用され
る。
ソードはVs1電位に接続されている。しかし、各色を
構成する有機ELの駆動電圧が異なるという問題があ
る。例えば、単位平方センチメートルあたり0.01A
の電流を流した場合、青(B)ではEL素子の端子電圧
は5Vであるが、緑(G)および赤(R)では9Vであ
る。つまり、端子電圧が、B、GとRで異なる。したが
って、B、GとRでは保持するTFT11c、11dの
ソース−ドレイン電圧(SD電圧)が異なり、各色でト
ランジスタのソース−ドレイン電圧(SD電圧)間のオ
フリーク電流も異なることになる。オフリーク電流が発
生し、かつオフリーク特性が各色で異なると、色バラン
スのずれた状態でフリッカが発生する、発光色に相関し
てガンマ特性がずれるという複雑な表示状態となる。
に図示するように、少なくともR、G、B色のうち、1
つのカソード電極の電位を他色のカソード電極の電位と
異ならせるように構成している。具体的には図1では、
Bをカソード電極53aとし、GとRをカソード電極5
3bとしている。
塗り分けたメタルマスク技術を用いて形成する。メタル
マスクを用いるのは、有機ELが水に弱くエッチング等
を行うことができないからである。メタルマスク(図示
せず)を用いて、カソード電極53aを蒸着し、同時に
コンタクトホール52aで接続する。コンタクトホール
52aによりBカソード配線51aと電気的接続を取る
ことができる。
ELを塗り分けたメタルマスク技術を用いて形成する。
メタルマスク(図示せず)を用いて、カソード電極53
bを蒸着し、同時にコンタクトホール52bで接続す
る。コンタクトホール52bによりRGカソード配線5
1bと電気的接続を取ることができる。なお、カソード
電極のアルミ膜厚は70nm以上200nm以下となる
ように形成するとよい。
53bには異なる電圧を印加することができるから、図
5のアノード電圧Vddが各色共通であっても、RGB
のうち、少なくとも1色のEL素子に印加する電圧を変
化させることができる。なお、図1においてR、Gは同
一のカソード電極53bとしたがこれに限定されるもの
ではなく、RとGで異なるカソード電極となるように構
成してもよい。
トランジスタのソース−ドレイン電圧(SD電圧)間の
オフリーク電流の発生、キンク現象を防止することがで
きる。したがって、フリッカが発生せず、発光色に相関
してガンマ特性がずれるということもなく、良好な画像
表示を実現できる。
このカソード電圧を各色で異なるようにするとしたがこ
れに限定されるものではなく、アノード電圧Vddを各
色で異なるように構成してもよい。例えば、R画素のア
ノード電圧Vddを電圧8Vにし、Gを6V、Bを10
Vとする構成でもよい。これらのアノード電圧、カソー
ド電圧は±1Vの範囲で調整できるように構成されるこ
とが好ましい。
Vddと接続されるアノードからは100mA近くの電
流が出力される。そのため、アノード配線(電流供給
線)20の低抵抗化は必須である。この課題に対応する
ため、本発明では図12で図示するようにアノード配線
63を表示領域の上側と下側から供給している(両端給
電)。以上のように両端給電することにより画面の上下
での輝度傾斜の発生がなくなる。
粗面化するとよい。この構成を図3に示す。まず、透明
電極48を形成する箇所にスタンパ技術を用いて微細な
凹凸を形成する。画素が反射型の場合は、スパッタリン
グ法で約200nmのアルミニウムの金属薄膜を形成し
て透明電極48を形成する。透明電極48が有機ELと
接する箇所には凸部が設けられ、粗面化される。なお、
単純マトリックス型表示パネルの場合は、透明電極48
はストライプ状電極とする。また、凸部は凸状だけに限
定するものではなく、凹状でもよい。また、凹と凸とを
同時に形成してもよい。
離の平均値は10μm、20μm、40μmにして、そ
れぞれ突起の単位面積密度を1000〜1200個/m
m2、100〜120個/mm2、600〜800個/m
m2として輝度測定を行ったところ、突起の単位面積密
度が大きくなるほど発光輝度が強くなることがわかっ
た。したがって、透明電極48上の突起の単位面積密度
を変えることで、透明電極の表面状態を変えて発光輝度
を調整できることがわかった。検討によれば、突起の単
位面積密度を100個/mm2以上800個/mm2以下
とすることで良好な結果を得ることができた。
による光がスイッチング素子としてのTFTに入射する
とホトコンダクタ現象(ホトコン)が発生する。ホトコ
ンとは、光励起によりTFT等のスイッチング素子のオ
フ時でのリーク(オフリーク)が増える現象を言う。
3に示すようにゲートドライバ12(場合によってはソ
ースドライバ14)の下層、TFT11の下層の遮光膜
91を形成している。遮光膜91はクロム等の金属薄膜
で形成し、その膜厚は50nm以上150nm以下にす
る。膜厚が薄いと遮光効果が乏しく、厚いと凹凸が発生
して上層のTFT11のパターニングが困難になるから
である。
下の無機材料からなる平滑化膜71aを形成する。この
遮光膜91のレイヤーを用いてキャパシタ19の一方の
電極を形成してもよい。この場合、平滑化膜71aは極
力薄く作りキャパシタの容量値を大きくすることが好ま
しい。また、遮光膜91をアルミで形成し、陽極酸化技
術を用いて酸化シリコン膜を遮光膜91の表面に形成
し、この酸化シリコン膜をキャパシタ19の誘電体膜と
して用いてもよい。平滑化膜71b上にはHA構造の画
素電極が形成される。
表面からの光の進入も抑制するべきである。これはホト
コンの影響により誤動作するからである。したがって、
本発明では、カソード電極が金属膜の場合は、ゲートド
ライバ12等の表面にもカソード電極を形成し、この電
極を遮光膜として用いている。
ド電極を形成すると、このカソード電極からの電界によ
るドライバの誤動作あるいはカソード電極とドライバ回
路の電気的接触が発生する可能性がある。この課題に対
処するため、本発明ではゲートドライバ12等の上に少
なくとも1層、好ましくは複数層の有機EL膜を画素電
極上の有機EL膜形成と同時に形成する。基本的に有機
EL膜は絶縁物であるから、ゲートドライバ上に有機E
L膜を形成することにより、カソードとゲートドライバ
間が隔離される。したがって、前述の課題を解消するこ
とができる。
透明電極のシート抵抗値が問題となる。透明電極は高抵
抗であるが、有機ELのカソードには高い電流密度で電
流を流す必要がある。したがって、ITO膜の単層でカ
ソード電極を形成すると発熱により加熱状態となった
り、表示画面に極度の輝度傾斜が発生したりする。
表面に金属薄膜からなる低抵抗化配線92を形成してい
る。低抵抗化配線92は液晶表示パネルのブラックマト
リックス(BM)と同様の構成(クロムまたはアルミ材
料で50nm〜200nmの膜厚)で、かつ同様の位置
(画素電極間、ゲートドライバ12の上等)である。し
かし、有機ELではBMを形成する必要はないから機能
は全く異なる。なお、低抵抗化配線92は透明電極72
の表面に限定するものではなく、裏面(有機EL膜と接
する面)に形成してもよい。
る。プリント基板103にはコントロールIC101と
電源IC102が実装されている。プリント基板103
とアレイ基板49とはフレキシブル基板104で電気的
に接続される。このフレキシブル基板104を介して電
源電圧、電流、制御信号、映像データがアレイ基板49
のソースドライバ14およびゲートドライバ12に供給
される。
2の制御信号である。ゲートドライバ12には少なくと
も5V以上の振幅の制御信号を印加する必要がある。し
かし、コントロールIC101の電源電圧は2.5Vあ
るいは3.3Vであるため、コントロールIC101か
ら直接、ゲートドライバ12に制御信号を印加すること
ができない。
動される電源IC102からゲートドライバ12の制御
信号を印加する。電源IC102はゲートドライバ12
の動作電圧も発生させるので、当然ながらゲートドライ
バ12に最適な振幅の制御信号を発生させることができ
る。
はコントロールIC101で発生させ、ソースドライバ
14で一旦レベルシフトを行った後、ゲートドライバ1
2に印加している。ソースドライバ14の駆動電圧は5
〜8Vであるから、コントロールIC101から出力さ
れた3.3V振幅の制御信号を、ゲートドライバ12が
受け取れる5V振幅に変換することができる。
装置の説明図である。図17はソースドライバ14内に
内蔵表示メモリ151を持たせた構成である。内蔵表示
メモリ151は8色表示(各色1ビット)、256色表
示(RGは3ビット、Bは2ビット)、4096色表示
(RGBは各4ビット)の容量を有する。この8色、2
56色または4096色表示で、かつ静止画の時は、ソ
ースドライバ14内に配置されたドライバコントローラ
はこの内蔵表示メモリ151の画像データを読み出すの
で、超低消費電力化を実現できる。もちろん、内蔵表示
メモリ151は26万色以上の多色の表示メモリであっ
てもよい。また、動画の時も内蔵表示メモリ151の画
像データを用いてもよい。
拡散処理あるいはディザ処理を行った後のデータをメモ
リしてもよい。誤差拡散処理、ディザ処理等を行うこと
により、26万色表示データを4096色等に変換する
ことができ、内蔵表示メモリ151の容量を小さくする
ことができる。誤差拡散処理等は誤差拡散コントローラ
141で行うことができる。
イバと記載したが、単なるドライバだけでなく、電源I
C102、バッファ回路154(シフトレジスタ等の回
路を含む)、データ変換回路、ラッチ回路、コマンドデ
コーダ、シフト回路、アドレス変換回路、内蔵表示メモ
リ151からの入力を処理してソース信号線に電圧ある
いは電流を出力する様々な機能あるいは回路が構成され
たものである。これらの事項は、本発明の他の実施例で
も同様である。
電力と関係する。つまり、フレ−ムレートを高くすれば
ほぼ比例して消費電力は増大する。携帯電話等は待ち受
け時間を長くする等の観点から消費電力の低減を図る必
要がある。一方、表示色を多くする(階調数を多くす
る)ためにはソースドライバ14等の駆動周波数を高く
しなければならない。しかし、消費電力の問題から消費
電力を増大させることは困難である。
は、表示色数よりも低消費電力化が優先される。表示色
数を増加させる回路の動作周波数が高くなる、あるいは
EL素子に印加する電圧(電流)波形の変化が多くなる
等の理由から、消費電力が増加する。したがって、あま
り表示色数を多くすることはできない。この課題に対し
て、本発明は画像データを誤差拡散処理あるいはディザ
処理を行って画像を表示するものである。
示していないが、筐体の裏側にCCDカメラを備えてい
る。CCDカメラで撮影した画像およびデータは即時に
表示パネルの表示画面21に表示できる。CCDカメラ
の画像データは24ビット(1670万色)、18ビッ
ト(26万色)、16ビット(6.5万色)、12ビッ
ト(4096色)、8ビット(256色)をキー入力で
切り替えることができる。
拡散処理を行って表示する。つまり、CCDカメラから
の画像データが内蔵表示メモリ151の容量以上の時
は、誤差拡散処理等を実施し、表示色数を内蔵表示メモ
リ151の容量以下となるように画像処理を行う。
(RGB各4ビット)で1画面の内蔵表示メモリ151
を具備しているとして説明する。モジュール外部から送
られてくる画像データが4096色の場合は、直接ソー
スドライバ14の内蔵表示メモリ151に格納され、こ
の内蔵表示メモリ151から画像データを読み出し、表
示画面21に画像を表示する。
R,B:5ビットの計16ビット)の場合は、図16お
よび図17に示すように誤差拡散コントローラ141の
演算メモリ152に一旦格納され、かつ同時に演算回路
153で誤差拡散あるいはディザ処理が行われる。この
誤差拡散処理等により16ビットの画像データは内蔵表
示メモリ151のビット数である12ビットに変換され
てソースドライバ14に転送される。ソースドライバ1
4はRGB各4ビット(4096色)の画像データを出
力し、表示画面21に画像を表示する。
号VDを用いて(垂直同期信号VDで処理方法を変化さ
せて)、フィールドあるいはフレームごとに誤差拡散処
理あるいはディザ処理方法を変化させてもよい。例え
ば、ディザ処理では、第1フレームでBayer型を用
い、次の第2フレームではハーフトーン型を用いる。こ
のようにフレームごとにディザ処理を変化させ、切り替
えるようにすることにより誤差拡散処理等に伴うドット
むらが目立ちにくくなるという効果が発揮される。
拡散処理等の処理係数を変化させてもよい。また、第1
フレームで誤差拡散処理をし、第2フレームでディザ処
理をし、さらに第3フレームで誤差拡散処理をする等処
理を組み合わせても良い。また、乱数発生回路を具備
し、乱数の値でフレームごとに処理を実施する処理方法
を選択してもよい。
フォーマットに記載するようにしておけば、この記載さ
れたデータをデコードあるいは検出することにより、自
動でフレームレート等が変更できるようになる。特に、
伝送されてくる画像が動画か静止画かを記載しておくこ
と、さらに動画の場合は、動画の1秒あたりのコマ数を
記載しておくことが好ましい。また、伝送パケットに携
帯電話の機種番号を記載しておくことが好ましい。な
お、本明細書では伝送パケットとして説明するがパケッ
トである必要はない。つまり、送信あるいは発信するデ
ータ中に図21等で説明する情報(表示色数、フレーム
レート等)が記載されたものであればいずれでもよい。
る伝送フォーマットである。伝送とは受信するデータ
と、送信するデータの双方を含む。つまり、携帯電話は
受話器からの音声あるいは携帯電話に付属のCCDカメ
ラで撮影した画像を他の携帯電話等に送信する場合もあ
るからである。したがって、図21等で説明する伝送フ
ォーマット等に関連する事項は送信、受信の双方に適用
される。
ジタル化されてパケット形式で伝送される。図19およ
び図20で記載しているように、フレームの中は、フラ
グ部(F)、アドレス部(A)、コントロール部
(C)、情報部(I)、及びフレームチェックシーケン
ス(FCS)からなる。コントロール部(C)のフォー
マットは図20のように情報転送(Iフレーム)、監視
(Sフレーム)、及び非番号制(Uフレーム)の3つの
形式をとる。
送する時に使用するコントロールフィールドの形式で、
非番号性形式の一部を除けば、情報転送形式がデータフ
ィールドを有する唯一の形式である。この形式によるフ
レームを情報フレーム(Iフレーム)という。
御機能、すなわち情報フレームの受信確認、情報フレー
ムの再送要求等を行うために使用する形式である。この
形式によるフレームを、監視フレーム(Sフレーム)と
いう。
グ制御機能を遂行するために使用するコントロールフィ
ールドの形式で、この形式によるフレームを非番号制フ
レーム(Uフレーム)という。
信シーケンス番号(S)と受信シーケンスN(R)で管
理する。N(S)、N(R)とも3ビットで構成され、
0〜7までの8個を循環番号として使い、7の次は0と
なるモジュラス構成をとっている。したがって、この場
合のモジュラスは8、連続送信できるフレーム数は7で
あり、応答フレームは受信しない。
のデータとフレームレートを示す8ビットのデータが記
載される。これらの例を図21(a)、(b)に示す。
また、表示色の色数には静止画と動画の区別を記載して
おくことが好ましい。また、携帯電話の機種名、送受信
する画像データの内容(人物等の自然画、メニュー画
面)等を図19のパケットに記載しておくことが望まし
い。データを受け取った機種はデータをデコードし、そ
れが自身(該当機種番号)のデータであると認識したと
き、記載された内容によって、表示色、フレームレート
等に自動的に変更する。また、記載された内容を表示装
置の表示画面21に表示するように構成してもよい。ユ
ーザーは表示画面21の記載内容(表示色、推奨フレー
ムレート)を見て、キー等を操作し、最適な表示状態に
マニュアルで変更すればよい。
の3はフレームレート80Hzと一例をあげて記載して
いるがこれに限定されるものではなく、40〜60Hz
等の一定範囲を示すものであってもよい。また、データ
領域に携帯電話の機種等を記載しておいてもよい。機種
により性能等が異なり、フレームレートを変化させる必
要性も発生するからである。また、画像が漫画であると
か、宣伝(CM)であるとかの情報を記載しておくこと
も好ましい。また、パケットに視聴料金や、パケット長
等の情報を記載しておいてもよい。ユーザーが視聴料金
を確認して情報を受信するか否かを判断できるからであ
る。また、画像データが誤差拡散処理をされているか否
かのデータも記載しておくことが好ましい。
ザ処理等の種別、重み付け関数の種類とそのデータ、ガ
ンマの係数等)、機種番号等の情報が伝送されるフォー
マットに記載しておけばよい。また、画像データがCC
Dで撮影されたデータか、JPEGデータか、またその
解像度、MPEGデータか、BITMAPデータか等の
情報を記載しておくとこれを基に、データをデコードあ
るいは検出し、自動受信した携帯電話等を最適な状態に
変更できるようになる。
止画かを記載しておくこと、さらに動画の場合は、動画
の1秒あたりのコマ数を記載しておくことが好ましい。
また、受信端末で推奨する再生コマ数/秒等の情報も記
載しておくことが好ましい。
でも同様である。また、本明細書では伝送パケットとし
て説明しているがパケットである必要はない。つまり、
送信あるいは発信するデータ中に図21等で説明する情
報が記載されたものであればいずれでもよい。
差処理されて送られてきたデータに対して逆誤差拡散処
理を行い、元データに戻してから再度、誤差拡散処理を
行う機能を付加することが好ましい。誤差拡散処理の有
無は図19のパケットデータに載せておく。また、誤差
拡散(ディザ等の方式も含む)の処理方法、形式など逆
誤差拡散処理に必要なデータも載せておく。
処理の過程において、ガンマカーブの補正も実現できる
からである。データを受けたEL表示装置等のガンマカ
ーブと、送られてきたガンマカーブとが適応しない場合
や、送信されてきたデータが誤差拡散等の処理をすでに
実施した画像データである場合がある。この事態に対応
するために、逆誤差拡散処理を実施し、元データに変換
してガンマカーブ補正の影響が出ないようにする。その
後、受信したEL表示装置等で誤差拡散処理を行い、受
信表示パネルに最適なガンマカーブになり、かつ最適な
誤差拡散処理となるように誤差拡散処理等を実施する。
り替えたい場合は、携帯電話等の装置にユーザボタンを
配置し、ボタン等を用いて表示色等を切り替えられるよ
うにすればよい。
電話の平面図である。筐体193にアンテナ191、テ
ンキー192等が取り付けられている。194は表示色
切り替えキーあるいは電源オンオフ、フレームレート切
り替えキーである。
す。回路は主としてアップコンバータ205とダウンコ
ンバータ204のブロック、デェプレクサ201のブロ
ック、LOバッファ203等のブロックから構成され
る。
モードに、続いて同一キー194を押さえると表示色は
256色モード、さらに同一キー194を押さえると表
示色は4096色モードとなるようにシーケンスを組ん
でもよい。キーは押さえるごとに表示色モードが変化す
るトグルスイッチとする。なお、別途表示色に対する変
更キーを設けてもよい。この場合、キー194は3つ
(以上)となる。
イドスイッチ等の他のメカニカルなスイッチでもよく、
また、音声認識等により切り替えるものでもよい。例え
ば、4096色を受話器に音声入力することや、「高品
位表示」、「256色モード」あるいは「低表示色モー
ド」と受話器に音声入力することにより表示パネルの表
示画面21に表示される色が変化するように構成する。
これは現行の音声認識技術を採用することにより容易に
実現することができる。
わるスイッチでもよく、表示パネルの表示画面21に表
示させたメニューを触れることにより選択するタッチパ
ネルでも良い。また、スイッチを押さえる回数で切り替
える、あるいはクリックボールのように回転あるいは方
向により切り替えるように構成してもよい。
レームレートを切り替えるキー等としてもよい。また、
動画と静止画とを切り換えるキー等としてもよい。ま
た、動画と静止画とフレームレート等の複数の要件を同
時に切り替えてもよい。また、押さえ続けると徐々に
(連続的に)フレームレートが変化するように構成して
もよい。この場合は発振器を構成するコンデンサC、抵
抗Rのうち、抵抗Rを可変抵抗にしたり、電子ボリウム
にしたりすることにより実現できる。また、コンデンサ
はトリマコンデンサとすることにより実現できる。ま
た、半導体チップに複数のコンデンサを形成しておき、
1つ以上のコンデンサを選択し、これらを回路的に並列
に接続することにより実現してもよい。
り替えるという技術的思想は携帯電話に限定されるもの
ではなく、パームトップコンピュータや、ノートパソコ
ン、デスクトップパソコン、携帯時計など表示画面を有
する機器に広く適用することができる。また、液晶表示
装置に限定されるものではなく、液晶表示パネル、有機
ELパネルや、TFTパネル、PLZTパネルや、CR
Tにも適用することができる。
デオカメラ、液晶プロジェクター、立体テレビ、プロジ
ェクションテレビ等に適用できる。また、ビューファイ
ンダ、携帯電話のモニター、PHS、携帯情報端末およ
びそのモニター、デジタルカメラおよびそのモニターに
も適用できる。また、電子写真システム、ヘッドマウン
トディスプレイ、直視モニターディスプレイ、ノートパ
ーソナルコンピュータ、ビデオカメラ、電子スチールカ
メラにも適用できる。また、現金自動引き出し機のモニ
ター、公衆電話、テレビ電話、パーソナルコンピュー
タ、液晶腕時計およびその表示装置にも適用できる。さ
らに、家庭電器機器の液晶表示モニター、ポケットゲー
ム機器およびそのモニター、表示パネル用バックライト
等にも適用あるいは応用展開できることは言うまでもな
い。
らびに歩留まりをおとす要因である電流供給線を不要と
することで、開口率を大きくすると共に、層間ショー
ト、層内ショートによる線欠陥の発生を防止し高い歩留
まりを得ることができる。その上、製造が容易で、EL
構造体の破壊がなく、信頼性が高く、低コストのアクテ
ィブマトリックス駆動タイプのEL表示素子を提供でき
る。
は、高画質、低消費電力、低コスト化、高輝度化等のそ
れぞれの構成に応じて特徴ある効果を発揮する。
報表示装置を構成できるので、電力を消費しない。ま
た、小型軽量化できるので、資源を消費しない。したが
って、地球環境、宇宙環境に優しいこととなる。
Claims (10)
- 【請求項1】 反射型の画素電極と、 透明電極と、 前記画素電極に接続された薄膜トランジスタと、 前記画素電極と前記透明電極間に形成されたEL膜と、 前記画素電極間に位置し、前記透明電極と積層された金
属薄膜からなる薄膜パターンとを具備することを特徴と
するEL表示パネル。 - 【請求項2】 マトリックス状に配置されたEL素子を
有する画素と、 前記EL素子の薄膜トランジスタのゲート信号線に接続
されたゲートドライバと、 前記EL素子に流す電流をプログラムする電流を出力す
るソースドライバとを具備し、 前記ゲートドライバのシフトレジスタの出力と前記ゲー
ト信号線間に複数のインバータ回路が直列に形成され、 前記インバータ回路のPチャンネルのチャンネル幅を
W、チャンネル長をLとし、インバータの段数をnとし
た時、 25≦(Wn−1/Ln−1)/(Wn/Ln)≦0.
75 の関係を満たし、 1つの画素は、少なくとも、EL膜に流す電流を制御す
る駆動薄膜トランジスタと、ドライバから出力した電流
を前記駆動薄膜トランジスタに流す経路を構成する第1
のスイッチング薄膜トランジスタと、前記駆動薄膜トラ
ンジスタからの電流を前記EL膜に流す経路を構成する
第2のスイッチング薄膜トランジスタから構成されてい
ることを特徴とするEL表示パネル。 - 【請求項3】 マトリックス状にEL素子が形成された
アレイ基板と、 封止基板とを具備し、 前記アレイ基板の表示領域の外周部に第1の凹凸が形成
され、 前記封止基板において、前記第1の凹凸に対応する位置
に第2の凹凸が形成され、 前記第1の凹凸と前記第2の凹凸の周期が略一致し、 前記第1の凹凸と前記第2の凹凸間にシール樹脂が配置
されていることを特徴とするEL表示パネル。 - 【請求項4】 第1の色で発光する第1のEL素子と、
第2の色で発光する第2のEL素子がマトリックス状に
形成されたアレイ基板を具備し、 前記第1のEL素子のカソード電極と前記第2のEL素
子のカソード電極には異なる電圧が印加できるように構
成されていることを特徴とするEL表示パネル。 - 【請求項5】 マトリックス状に配置されたEL素子を
有する画素と、 前記EL素子の薄膜トランジスタのゲート信号線に接続
されたゲートドライバと、 前記EL素子に流す電流をプログラムする電流を出力す
るソースドライバとを具備し、 前記ゲートドライバは前記画素を構成する薄膜トランジ
スタ素子の形成プロセスと同時に形成され、 前記ゲートドライバ上にEL膜が形成され、前記EL膜
上にカソード電極が形成されていることを特徴とするE
L表示パネル。 - 【請求項6】 1つの画素は、少なくとも、 EL膜に流す電流を制御する駆動薄膜トランジスタと、 ドライバから出力した電流を前記駆動薄膜トランジスタ
に流す経路を構成する第1のスイッチング薄膜トランジ
スタと、 前記駆動薄膜トランジスタからの電流を前記EL膜に流
す経路を構成する第2のスイッチング薄膜トランジスタ
から構成されていることを特徴とする請求項1から請求
項5のいずれかに記載のEL表示パネル。 - 【請求項7】 EL素子のカソード電極またはアノード
電極は、表面が粗面化されていることを特徴とする請求
項1から請求項5のいずれかに記載のEL表示パネル。 - 【請求項8】 マトリックス状に配置されたEL素子を
有する画素と、 前記EL素子の薄膜トランジスタのゲート信号線に接続
されたゲートドライバと、 前記EL素子に流す電流をプログラムする電流を出力す
るソースドライバと、 電源発生回路と、 画像メモリを有するコントロール回路とを具備し、 前記ゲートドライバは前記画素を構成する薄膜トランジ
スタ素子の形成プロセスと同時に形成され、 前記ゲートドライバの制御信号は前記電源発生回路が出
力し、 映像信号は前記コントロール回路から前記ソースドライ
バに印加されることを特徴とする情報表示装置。 - 【請求項9】 マトリックス状に配置されたEL素子を
有する画素と、 前記EL素子の薄膜トランジスタのゲート信号線に接続
されたゲートドライバと、 前記EL素子に流す電流をプログラムする電流を出力す
るソースドライバと、 電源発生回路と、 画像メモリを有するコントロール回路とを具備し、 前記ゲートドライバは前記画素を構成する薄膜トランジ
スタ素子の形成プロセスと同時に形成され、 前記ゲートドライバの制御信号は前記コントロール回路
が発生し、前記コントロール回路が発生した信号は前記
ソースドライバでレベルシフトした後、前記ゲートドラ
イバに印加されることを特徴とする情報表示装置。 - 【請求項10】 請求項1から請求項7のいずれかに記
載のEL表示パネルと、 ダウンコンバータと、 アップコンバータと、 受話器と、 スピーカとを具備することを特徴とする情報表示装置。
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