JP2003063894A - タンタル酸リチウム単結晶及びその製造方法 - Google Patents

タンタル酸リチウム単結晶及びその製造方法

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JP2003063894A JP2001259313A JP2001259313A JP2003063894A JP 2003063894 A JP2003063894 A JP 2003063894A JP 2001259313 A JP2001259313 A JP 2001259313A JP 2001259313 A JP2001259313 A JP 2001259313A JP 2003063894 A JP2003063894 A JP 2003063894A
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lithium tantalate
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健次 堀
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来にない化学量論組成に近いコングルエン
ト組成を有し結晶性の良好なタンタル酸リチウム単結
晶、及びその製造方法を提供すること。 【解決手段】 コングルエント組成のモル比Li/Ta
が0.95より大で、かつキュリー温度が610℃より
高いタンタル酸リチウム単結晶は、酸素ガス分圧が5〜
20hPa、及び不活性ガス分圧が900hPa以下の
単結晶育成炉内で、ガス圧力変動幅を10hPa以下に
制御しながらチョクラルスキー法により単結晶を育成す
ることにより、欠陥が少ない高品質で均一組成の単結晶
を育成できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、弾性表面波(SA
W)素子用基板や光学素子等として好適に用られるタン
タル酸リチウム単結晶及びその製造方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来、タンタル酸リチウム単結晶の製造
には、一般にチョクラルスキー法が用いられている。こ
の方法では、坩堝内に充填された原料を加熱溶融した
後、種結晶をその融液に接触させ、しかる後に種結晶を
引き上げながら温度操作により目的とする結晶径まで成
長させ、その後は結晶径を一定に保つような温度操作に
より、種結晶と同じ方位のタンタル酸リチウム単結晶を
得ることができる。
【0003】タンタル酸リチウムの融点は約1650℃
であるので、通常、高融点金属の高価なイリジウムが坩
堝材として用いられ、高周波加熱による坩堝の加熱で原
料を溶融させるが、イリジウムの消耗を抑制するために
酸素濃度をできるだけ少なく(例えば、2体積%)にす
る必要がある。雰囲気制御は酸素と不活性ガスの混合ガ
スを結晶育成室である単結晶育成炉内に投入することに
よって行うが、単結晶育成炉排気口は開放しているた
め、天候により外気圧が30〜40hPaも変動すると
単結晶育成炉内の圧力も同様に変動してしまう。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】一般に大気圧すなわち
1013hPaの条件下では、タンタル酸リチウム単結
晶のコングルエント組成は、Li:Ta=48.3:5
1.7程度であるとされているが、圧力が40hPa程
度下がるとコングルエント組成はLi:Ta=48.
5:51.5程度まで変動してしまう。
【0005】このように、単結晶育成炉内の圧力が変動
すると、コングルエント組成が変動するので、原料と育
成結晶の組成ずれが発生するだけでなく、坩堝内に残留
している原料組成もずれることになるので、原料を連続
して充填すると大きな組成ずれが生じる。これを防止す
るために、その都度、原料組成の調整や原料の入れ替え
が必要となる。また、大気圧下でのコングルエント組成
は、Liの含有量が少ないため、結晶中のLi欠陥が多
く結晶性が低下し、電子部品等の基板や光学素子用とし
て好ましくない。
【0006】そこで本発明では、従来にない化学量論組
成に近いコングルエント組成を有し結晶性の良好なタン
タル酸リチウム単結晶、及びその製造方法を提供するこ
とを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明のタンタル酸リチウム単結晶は、コングルエ
ント組成のモル比Li/Taが、0.95より大で、か
つキュリー温度が610℃より高いことを特徴とする。
【0008】また、上記タンタル酸リチウム単結晶の製
造方法は、チョクラルスキー法により単結晶を育成する
製造方法であって、酸素ガス分圧が5〜20hPa、及
び不活性ガス分圧が900hPa以下の単結晶育成炉内
で、ガス圧力変動幅を10hPa以下に制御しながら育
成単結晶を融液から引き上げるようにしたことを特徴と
する。
【0009】これにより、常に、欠陥が少ない高品質で
均一組成の単結晶を連続して育成することが可能とな
る。
【0010】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施形態につい
て模式的にあらわした図面に基づいて詳細に説明する。
【0011】図1は本発明で用いる高周波加熱式の単結
晶育成装置の断面図である。
【0012】まず、ガスの吸気口1及び排気口2を備え
た単結晶育成炉3内に、円筒状に配設された耐火セラミ
ックス11で包囲されたイリジウム製の坩堝4に、コン
グルエント組成のタンタル酸リチウム原料を充填した状
態で、吸気口1より酸素(0.5〜2体積%)と不活性
ガス(窒素またはアルゴンを98〜99.5体積%)の
混合ガスを単結晶育成炉3に吸入する。
【0013】次に、排気口2の近傍に設けた圧力計8に
より、単結晶育成炉3内の圧力を測定しながら排気ポン
プ7を制御して、酸素ガス分圧が5〜20hPa、及び
不活性ガス分圧が900hPa以下の単結晶育成炉内
で、ガス圧力変動幅を10hPa以下に制御しながら単
結晶育成炉内で、ガス圧力変動幅が10hPa以下の一
定圧になるように制御する。
【0014】そして、坩堝4の周囲に設けたコイル5に
より、坩堝4に対して高周波加熱を行い、坩堝4内の原
料を溶融して融液6とする。その後、支持棒9の先端に
設けた所定方位の種結晶10を融液6に接触させ、高周
波出力を制御し加熱温度を制御しながら支持棒9を引き
上げ回転させ結晶を成長させる。
【0015】上記製造において、酸素ガス分圧が5〜2
0hPa、及び不活性ガス分圧が900hPa以下の単
結晶育成炉内で、ガス圧力変動幅を10hPa以下に制
御しながら単結晶を育成する理由は、900hPa以下
のガス雰囲気中で単結晶を育成すると、一般に知られて
いるコングルエント組成よりもLiリッチになることが
判明し、また、組成変動を±0.05%以内に制御する
ためには、圧力変動を10hPa以下に制御する必要が
あることが判明したからである。
【0016】以上により、欠陥が極めて少なく高品質で
且つ均一組成の単結晶、すなわち、コングルエント組成
のモル比Li/Taが0.95より大で、かつキュリー
温度が610℃より高く、キュリー温度のばらつきがほ
とんど無い、優れた単結晶を得ることができる。また、
キュリー温度が高くばらつきが無いので、非線形光学定
数の大きい優れた光学用途に適用が可能である。
【0017】
【実施例】次に、本発明のより具体的な実施例について
説明する。
【0018】<実施例1>純度99.99%の炭酸リチ
ウムと五酸化タンタルの原料を48.8:51.2の割
合で混合した後に電気炉で焼成(雰囲気:大気)して原
料組成のモル比Li/Taが0.953のタンタル酸リ
チウム原料を作製した。
【0019】作製した原料を内径180mm、高さ18
0mmのイリジウム製の坩堝4に充填し、引き上げ方位
をY軸からZ軸方向に34°〜44°傾けた方位で、先
端部の径が6mmの種結晶10とともに、図1に示す高
周波加熱式単結晶育成装置にセットした。
【0020】その後、吸気口1から酸素ガス1体積%、
窒素ガス99体積%の混合ガスを吸入し、圧力計8でガ
ス圧力を測定しながら排気ポンプ7の排気制御を行っ
て、単結晶育成炉3内のガス圧力が900hPa±5h
Paになるように制御した。
【0021】次いで、コイル5により坩堝4に対し高周
波加熱を行い、タンタル酸リチウム原料を溶融した。原
料が溶けた後、融液表面温度を融点の1650℃より3
0〜40℃高い1680〜1690℃まで昇温し、1時
間保持した後、融液温度を融点まで下げた。
【0022】次いで、種結晶10を9.5rpmで回転
させながらゆっくりと降下させ液面に接触させた後、種
結晶先端部の径が5mmになるように高周波出力により
液面温度を制御した。そして、種結晶10を2mm/h
rで回転させながら引き上げ、徐々に温度を下げて4時
間程度で結晶径10cmまで結晶頭部を育成させた後
に、直胴部を11cmまで育成させた。このようにして
育成した結晶を融液から切り離した後、室温まで30時
間で徐冷し結晶を取り出した。
【0023】また、同様にして、原料組成のモル比Li
/Taが0.96のタンタル酸リチウム原料を溶融し
て、図1に示す単結晶育成装置で単結晶を育成した。
【0024】かくして、いずれの育成単結晶もモル比L
i/Taが0.95より大のコングルエント組成で、こ
のときの組成変動を±0.05%以内に抑えることがで
き、キュリー温度が610℃より高く、しかもキュリー
温度のばらつきが0.2℃以下の、欠陥が無い結晶性の
非常に優れたタンタル酸リチウム単結晶を育成できた。
【0025】<実施例2>実施例1と同様な坩堝、単結
晶育成装置、種結晶を用いて、単結晶育成炉3内のガス
圧力を500hPa±5hPaに制御して結晶育成を行
った。
【0026】純度99.99%の炭酸リチウムと五酸化
タンタルを49.1:50.9の割合で混合した後に電
気炉で焼成し(雰囲気:大気)てモル比Li/Taが
0.97の原料6を作製した。
【0027】作製した原料6を実施例1と同様な大きさ
形状のイリジウム製の坩堝4に充填し、引き上げ方位を
実施例1と同様な方位で先端部の径が6mmの種結晶1
0とともに、図1に示す単結晶育成装置にセットした。
【0028】吸気口1から酸素ガス2体積%、窒素ガス
98体積%の混合ガスを吸入し圧力計8で圧力を測定し
ながら排気ポンプ7を排気制御して単結晶育成炉3内の
圧力が500hPa±5hPaになるように制御した。
【0029】コイル5により坩堝4を高周波加熱し、タ
ンタル酸リチウム原料6を溶融した。原料が溶けた後、
融液表面温度を融点の1650℃より30〜40℃高い
1680〜1690℃まで昇温し、1時間保持した後、
融液温度を融点まで下げた。
【0030】種結晶10を9.5rpmで回転させなが
らゆっくりと降下させ、液面に接触させた後、種結晶先
端部の径が5mmになるように高周波出力により液面温
度を制御した。
【0031】種結晶10を2mm/hrで回転引き上げ
を行いながら、徐々に温度を下げて4時間程度で結晶径
10cmまで結晶頭部を育成した後に直胴部を11cm
に育成させた。育成した結晶を融液から切り離した後室
温まで30時間で徐冷し結晶を取り出した。
【0032】かくして、モル比Li/Taが0.97の
コングルエント組成で、このときの組成変動を±0.0
5%以内に抑えることができ、キュリー温度が624
℃、しかもキュリー温度のばらつきが0.2℃以下の、
欠陥の無い結晶性の非常に優れたタンタル酸リチウム単
結晶を育成できた。 <実施例3>実施例2と同様にして、原料組成をLi:
Ta=50:50(モル比1)、5hPa±1hPaの
酸素雰囲気下で結晶育成を行った。
【0033】かくして、モル比Li/Taが1.0のコ
ングルエント組成で、このときの組成変動を±0.05
%以内に抑えることができ、キュリー温度が675℃
で、キュリー温度のばらつきが0.2℃以下の、欠陥の
無い結晶性の優れたタンタル酸リチウム単結晶を育成で
きた。
【0034】<比較例>原料組成を実施例1〜3と同一
にして、大気中で結晶育成を行ったところ、組成の変動
が0.1%以上で、さらにキュリー温度のバラツキが
1.5℃以上もあり、原料チャージ回数が多くなるにし
たがってこのバラツキが大きくなる傾向がみられた。こ
れは天候等の原因で圧力が大きく変化し、結晶のコング
ルエント組成が変動したため、結晶と坩堝に残留した原
料の組成にずれが生じたためと思われる。
【0035】また、育成結晶は直胴部付近から曲がり、
黒く着色していた。これは酸素分圧が2hPa程度まで
低下したため酸素欠陥により黒く着色し、結晶が炉内の
輻射熱を吸収し固液界面での温度勾配が低下したためと
考えられる。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のタンタル
酸リチウム単結晶及びその製造方法によれば、欠陥が極
めて少なく高品質で且つ均一組成の単結晶、すなわち、
キュリー温度のばらつきがほとんど無く、結晶性に優れ
た単結晶を得ることができる。特に、キュリー温度が高
くそのばらつきが無い単結晶を得ることができるので、
非線形光学定数の大きい光学用途に好適な単結晶を提供
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る単結晶育成装置を模式的に説明す
る一部断面図である。
【符号の説明】
1:吸気口 2:排気口 3:単結晶育成炉 4:坩堝 5:コイル 6:融液 7:排気ポンプ 8:圧力計 9:支持棒 10:種結晶 11:耐火セラミックス

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 コングルエント組成のモル比Li/Ta
    が、0.95より大で、かつキュリー温度が610℃よ
    り高いタンタル酸リチウム単結晶。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のタンタル酸リチウム単
    結晶をチョクラルスキー法により育成する製造方法であ
    って、酸素ガス分圧が5〜20hPa、及び不活性ガス
    分圧が900hPa以下の単結晶育成炉内で、ガス圧力
    変動幅を10hPa以下に制御しながら育成単結晶を融
    液から引き上げるようにしたことを特徴とするタンタル
    酸リチウム単結晶の製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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