JP2003051739A - 起動回路 - Google Patents

起動回路

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JP2003051739A JP2001237060A JP2001237060A JP2003051739A JP 2003051739 A JP2003051739 A JP 2003051739A JP 2001237060 A JP2001237060 A JP 2001237060A JP 2001237060 A JP2001237060 A JP 2001237060A JP 2003051739 A JP2003051739 A JP 2003051739A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本体回路が何らかの原因で正常動作をしなか
ったり、正常動作後に動作停止をしたときにも、本体回
路を再起動する起動回路を提供する。 【解決手段】 スタンバイ信号が待機レベルのときは本
体回路20の動作を停止する停止信号を供給し、スタン
バイ信号が待機レベルから起動レベルに変化したときは
本体回路20の回路起動ノード22に起動信号を供給す
ると共に停止信号の供給を停止する起動信号供給手段1
1と、スタンバイ信号が起動レベルの状態であって、本
体回路20の電圧モニターノード21の電圧が所定の値
に達したとき、起動信号供給手段11に対して起動信号
の供給を停止する起動制御手段12と、スタンバイ信号
が起動レベルの状態であって、本体回路20の電圧モニ
ターノード21の電圧が異常値に変動したときに、本体
回路20の回路起動ノード22に再起動信号を供給する
ための再起動信号生成手段13を設けた起動回路。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、本体回路、例えば
バンドギャップ基準電圧回路に組み込み、本体回路起動
時および異常動作時に動作することにより、本体回路を
確実に起動および再起動させる起動回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、演算増幅器(Operational Amplif
ier、以下「オペアンプ」と略称する)の帰還を利用し
たバンドギャップ基準電圧回路のように、回路起動時に
オペアンプの帰還ループ内に何らかの信号を与えなけれ
ば正常に動作を開始しない回路においては、回路構成が
簡単で、かつ確実に回路を起動させることができる起動
回路が必要とされている。
【0003】図8は従来の起動回路の一例(以下従来例
1という)を示し、図9はこの起動回路で起動される本
体回路の例であるバンドギャップ基準電圧回路の例を示
している。
【0004】図8に示すように、従来例1の起動回路1
0uは、インバータINV1,INV2、NANDゲー
トNA1、遅延回路D101およびpMOSトランジス
タPT2,PT3により構成されている。インバータI
NV1,INV2および遅延回路D101の入力側は、
ノードND2に接続されており、インバータINV1の
出力側ノードND5はpMOSトランジスタPT3のゲ
ートに接続されている。インバータINV2の出力側ノ
ードND4と遅延回路D101の出力側ノードND7は
それぞれNANDゲートNA1の入力側に接続され、N
ANDゲートNA1の出力側ノードND6はpMOSト
ランジスタPT2のゲートに接続されている。pMOS
トランジスタPT2およびPT3のドレイン側は、それ
ぞれ出力端子OUT1および信号端子SN1として、次
に述べるバンドギャップ基準電圧回路20uの電圧監視
ポイントであるノードn2に接続される端子Tn2および
トランジスタT101,T102,T103の共通ゲー
トであるノードn3に接続される端子Tn3にそれぞれ接
続される。
【0005】バンドギャップ基準電圧回路20uは、図
9に示すように、オペアンプOPA1、pMOSトラン
ジスタT101,T102,T103およびダイオード
接続されているnpnトランジスタB101,B10
2,B103により構成されている。トランジスタT1
01、抵抗素子R101およびダイオード接続されてい
るトランジスタB101は電源電圧VCCの供給線と基準
電位、例えば、接地電位GNDの供給線との間に直列接
続され、トランジスタT102とダイオード接続されて
いるトランジスタB102は電源電圧VCCの供給線と接
地電位GND間に直列接続され、トランジスタT10
3、抵抗素子R102およびダイオード接続されている
トランジスタB103は電源電圧VCCの供給線と接地電
位GND間に直列接続されている。トランジスタT10
1,T102,T103はゲート同士がともにオペアン
プOPA1の出力端子n3に接続されている。
【0006】オペアンプOPA1の非反転入力端子
(+)は、トランジスタT101と抵抗素子R101と
の接続中点からなるノードn1に接続され、その反転入
力端子(−)は、トランジスタT102とトランジスタ
B102との接続中点からなるノードn2に接続されて
いる。一方、オペアンプOPA1の出力信号は、トラン
ジスタT101,T102およびT103のゲートにそ
れぞれ印加されている。このためオペアンプOPA1に
より帰還ループが形成され、当該帰還ループにより、正
常動作時に、ノードn1とn2の電圧が等しくなるよう
に、トランジスタT101,T102およびT103の
電流I1,I2およびI3が制御される。その結果、出
力端子Toutから電源電圧VCCおよび温度依存性のない
安定した電圧Voutが出力される。
【0007】以上は、バンドギャップ基準電圧回路20
uが正常動作をする場合の動作を説明したものである
が、起動回路10uがない単独のバンドギャップ基準電
圧回路20uでは、起動時の電圧上昇のばらつきによ
り、ノードn1の電圧Vn1がノードn2の電圧Vn2より
高くなる場合、即ち、Vn1>Vn2となる場合がある。そ
のような場合、オペアンプOPA1は、非反転入力端子
(+)に入力された信号電圧がその反転入力端子(−)
に印加される信号電圧より高いので、ハイレベルの信号
を出力し続けて、トランジスタT101,T102およ
びT103がオフのままとなる。このような状態では、
バンドギャップ基準電圧回路20uは正常に動作できな
い。
【0008】そこで起動回路10uにより、起動時にノ
ードn2の電圧Vn2をノードn1の電圧Vn1よりも強制
的に高くして、バンドギャップ基準電圧回路20uが正
常動作状態となるようにし、その間はトランジスタT1
01,T102およびT103がオフになるようにす
る。バンドギャップ基準電圧回路20uが正常動作状態
となれば、トランジスタT101,T102およびT1
03のオフ状態を解除する。
【0009】図8に示した従来の起動回路10uでは、
起動回路10uの入力端子IN1にスタンバイ(動作停
止)状態でハイレベル、電圧供給状態でローレベルにな
るスタンバイ信号STBが入力される。スタンバイ信号
STBがハイレベルであるときは、インバータINV2
の出力端子ND4はローレベルとなり、遅延回路D10
1の出力端子ND7は定常状態ではハイレベルである。
したがって、NANDゲートNA1の出力側ノードND
6の電圧はハイレベルとなる。そうすると、pMOSト
ランジスタPT2がオフになり、pMOSトランジスタ
PT2のドレイン−ソース間はハイインピーダンスとな
る。同時に、スタンバイ信号STBがハイレベルである
ので、インバータINV1の出力側のノードND5はロ
ーレベル、pMOSトランジスタPT3はオン状態とな
るため、信号端子SN1がハイレベルとなり、バンドギ
ャップ基準電圧回路20uのトランジスタT101,T
102およびT103はオフ状態となって、出力トラン
ジスタT103のソース側に電流は流れず、出力端子T
OUTには定電圧出力は出ない。
【0010】入力端子IN1に入力される信号の電圧が
ハイレベルからローレベルに転じると、インバータIN
V1の出力側ノードND5がハイレベルとなり、pMO
SトランジスタPT3がオフとなるため、バンドギャッ
プ基準電圧回路20uのノードn3の電位はオペアンプ
OPA1の出力電圧となる。一方、インバータINV2
の出力側ノードND4はハイレベルとなり、遅延回路D
101の出力側ノードND7は遅延時間Δtdの間はハ
イレベルとなる。したがってNANDゲートNA1の出
力側ノードND6の電位はローレベルとなる。そうする
と、pMOSトランジスタPT2はオンになり、OUT
1端子がハイレベルになる。これにより、ノードn2の
電位が強制的にVCCのレベル近くまで引き上げられる。
オペアンプOPA1の反転入力端子(−)に印加される
電圧がハイレベルになるため、オペアンプOA1の出力
側のノードn3がローレベルになり、3つのトランジス
タT101,T102,T103は作動状態となる。遅
延時間Δtdの後、遅延回路D101の出力はローレベ
ルとなるので、NANDゲートNA1の出力側ノードN
D6はハイレベルとなり、pMOSトランジスタPT2
はオフになって、バンドギャップ基準電圧回路20uと
は切り離され、バンドギャップ基準電圧回路20uが単
独で動作開始する。
【0011】上述した従来のバンドギャップ基準電圧回
路20uは、回路起動後、起動回路10uによりトラン
ジスタPT3をオフさせ、且つある一定時間だけトラン
ジスタPT2をオンさせた後、オフさせるような制御に
より、停止しているときのノードn1とn2の電圧にか
かわらず、正常に起動可能となる。ここで、トランジス
タPT2がオンのままだと、オペアンプOPA1からな
る帰還ループが正常に動作できず、オペアンプOPA1
はトランジスタT101,T012およびT103を制
御できないため、遅延回路D101の遅延時間によりト
ランジスタPT2のオン時間を制御する制御信号S1を
発生する。
【0012】しかし、この従来の起動回路10uにおい
ては、信号S1のレベルの切り換えはバンドギャップ基
準電圧回路20uの動作状態を確認してから行われるの
ではなく、遅延時間が経験的に設定されるものであるた
め、かならずしも最適な値に設定されているわけではな
い。この切り換えの時間が長すぎると、バンドギャップ
基準電圧回路20uの立ち上がり時間が必要以上に延び
て、立ち上がり特性が悪化し、また短すぎるとノードn
2の電圧Vn2が十分高くなる前に起動回路10uが停止
してしまい、バンドギャップ基準電圧回路20uが正常
に起動しない可能性がある。したがって、この起動回路
10uは設計時に細心な注意が必要であり、しかも、製
造時のバラツキ、回路動作条件の変動に影響されやすい
という不利益がある。
【0013】このような図8に示した従来例1の起動回
路10uの問題点に対し、本願出願人は、特開2000
−267749号公報に開示されているような、遅延時
間によらず、バンドギャップ基準電圧回路が安定したこ
とを確認してからバンドギャップ基準電圧回路と切り離
すようにした起動回路(以下従来例2という)を発明し
た。図10はその従来例2の構成を示す回路図である。
【0014】図示のように、この従来例2の起動回路1
0vは、pMOSトランジスタPT1,PT2,PT
3、nMOSトランジスタNT1、インバータINV
1,INV2およびNANDゲートNA1により構成さ
れている。
【0015】pMOSトランジスタPT1とnMOSト
ランジスタNT1は、電源電圧VCCの供給線と接地電位
GND間に直列接続されている。トランジスタPT1の
ゲートは信号端子SN1に接続され、トランジスタNT
1のゲートは入力端子IN1に接続されている。トラン
ジスタPT1とNT1のドレイン同士の接続点は、ノー
ドND1に接続されている。インバータINV1の入力
端子は入力端子IN1に接続され、インバータINV2
の入力端子はノードND1に接続されている。NAND
ゲートNA1の両方の入力端子はそれぞれインバータI
NV1とINV2の出力端子に接続されている。トラン
ジスタPT2のゲートはNANDゲートNA1の出力端
子に接続され、そのソースは電源電圧VCCの供給線に接
続され、ドレインは出力端子OUT1に接続されてい
る。トランジスタPT3のゲートはインバータINV1
の出力端子に接続され、そのソースは電源電圧VCCの供
給線に接続され、ドレインは信号端子SN1に接続され
ている。出力端子OUT1は、従来例1と同様に、本体
回路、例えば図9のバンドギャップ基準電圧回路20u
において、起動するために一時的に電圧を上げる必要の
ある動作ノードn2に接続され、信号端子SN1は、動
作停止時に電源電圧VCCの電圧に固定され、動作開始後
電源電圧VCCからpMOSトランジスタT101,T1
02,T103をオンさせるのに十分な電圧まで低下さ
せる必要のある動作ノードn3に接続されている。
【0016】図11は、図10に示す従来例2における
起動回路10vの起動時の動作を示すタイミングチャー
トである。以下、図11および図10ならびに本体回路
の例として示した図9のバンドギャップ基準電圧回路2
0uを参照しつつ、従来例2の起動回路10vの動作を
説明する。
【0017】図11(a)に示すように、起動回路10
vの入力端子IN1には、スタンバイ時(停止時)にハ
イレベル、時刻t0からの動作開始後にローレベルに切
り替わるスタンバイ信号STBが印加される。
【0018】スタンバイ状態においては、入力端子IN
1のノードND2の電位がハイレベルであるため、イン
バータINV1の出力側のノードND5はローレベルに
ある。また、トランジスタNT1はオン状態であるの
で、ノードND1はローレベル、例えば、接地電位GN
Dのレベルに保持される。インバータINV1,INV
2の出力信号に応じてNANDゲートNA1の出力端子
がハイレベルに保持されているので、トランジスタPT
2はオフ状態である。一方、トランジスタPT3のゲー
トがローレベルにあるので、当該トランジスタPT3は
オン状態であり、信号端子SN1はハイレベル、例え
ば、電源電圧VCCまたはそれに近いレベルに保持されて
いる。
【0019】図11(a)に示すように、時刻t0でス
タンバイ信号STBがハイレベルからローレベルに切り
換わると、同図(b)に示すように、スタンバイ信号S
TBの立ち下がりから少し遅れて(時刻t1)、インバ
ータINV1の出力側ノードND5の電位がローレベル
からハイレベルに切り換わる。これに伴い、トランジス
タPT3がオフするが、信号端子SN1から新たな信号
が入ってこない限り当該信号端子SN1はハイレベルの
ままに保持される。
【0020】前記のように、スタンバイ信号STBがロ
ーレベルになると、トランジスタNT1がオンからオフ
に転じるが、信号端子SN1がハイレベルのまま保持さ
れるので、トランジスタPT1も同時にオフすることに
なり、ノードND1はハイインピーダンス状態となる。
したがって、図11(c)に示すように、ノードND1
の電圧は変化せず、ローレベルに保持されたままとな
る。
【0021】このとき、NANDゲートNA1の両方の
入力端子がともにハイレベルにあるので、図11(e)
に示すように、NANDゲートNA1の出力側ノードN
D5がローレベルに保持される。これに応じてトランジ
スタPT2がオンし、出力端子OUT1に起動電流IST
が供給される。出力端子OUT1から供給された電流I
STに応じて、例えば、図9に示すバンドギャップ基準電
圧回路20uが動作し始める。図11(g)は、ノード
n1とn2の電圧Vn1,Vn2に応じてオペアンプOPA
1の出力電圧、即ち、ノードn3の電圧を示している。
図示のように、ノードn2の電圧Vn2の上昇に伴い、図
11(g)に示すように、ノードn3の電圧すなわち信
号端子SN1の電圧が低下し始める。これに伴い、pM
OSトランジスタPT1のソース−ドレイン間抵抗が減
少し始め、図11(c)に示すようにノードND1の電
位が時刻t2の時点から上昇する。
【0022】ノードND1の電圧がインバータINV2
のロジックしきい値Vtを越えると、図11(d)に示
すようにt3の時点でインバータINV2の出力端子が
ハイレベルからローレベルに切り換わり、これに少し遅
れたt4の時点で、同図(e)に示すように、NAND
ゲートNA1の出力端子がローレベルからハイレベルに
切り換わる。これにより、pMOSトランジスタPT2
がオフになり、同図(f)に示すようにバンドギャップ
基準電圧回路20uのノードn2の電圧Vn2が降下し、
オペアンプOPA1の反転入力であるVn2と非反転入力
であるVn1の電位が同レベルとなった時点(t5)でオ
ペアンプOPA1の動作による基準電圧発生の正常動作
に復帰する(同図(g)、(h))。
【0023】このように、図10に示す従来例2に係る
起動回路10vによれば、予め設定された遅延時間によ
らず、バンドギャップ基準電圧回路20uの要監視ノー
ドの電圧が所定の値に納まったことを確認してから起動
回路10vの動作を完了するので、確実な起動が行われ
るようになった。
【0024】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図10に示
す従来例2では、回路動作停止時にハイレベルで、回路
動作開始時にローレベルとなるスタンバイ信号STBを
起動時に起動回路10vに与えることで前記の動作を行
うようにしている。
【0025】しかしながら、バンドギャップ基準電圧な
どの本体回路においては、電源投入時に正常動作を開始
しない場合、あるいは本体回路が正常動作時に何らかの
原因で動作を停止する場合もあり得る。
【0026】図12は、その状態を示すタイムチャート
である。同図(a)は端子IN1に与えられているスタ
ンバイ信号STBを示すもので、起動後はローレベルが
保持されている。したがって、同図(b)に示すよう
に、インバータINV1の出力側ノードND5の電位は
ハイレベルである。また同図(c)に示すように、nM
OSトランジスタNT1の出力側ノードND1の電位は
nMOSトランジスタNT1がオフでありそのソース−
ドレイン間のインピーダンスが高いのでハイレベルであ
る。したがって、同図(d)に示すようにインバータI
NV2の出力側ノードND4はローレベルであり、NA
NDゲートNA1の出力側ノードND6の電位は同図
(e)に示すようにハイレベルである。この状態では、
pMOSトランジスタPT2もPT3もオフであり、図
9に示すバンドギャップ基準電圧回路20uのノードn
1,n2,n3の電位は図12(f),(g)に示すよ
うに正常動作をしており、出力電圧VOUTは同図(h)
に示すように所定の一定電圧を出力している。
【0027】この正常動作状態において、時刻t10にお
いて何らかの原因でトランジスタT101,T102が
異常動作し、図12(f)に示すようにバンドギャップ
基準電圧回路20uのオペアンプOPA1の非反転入力
側ノードn1の電圧と反転入力側ノードn2の電圧に差
が生じ、ノードn2側がn1側よりも低電圧になった場
合、同図(g)に示すようにオペアンプOPA1がその
偏差電圧を増幅して最大電圧である電源電圧VCC近くま
で達することになる。そうすると、トランジスタT10
1,T102,T103がオフ状態になって、オペアン
プOPA1によるフィードバックが行われなくなり、図
12(h)に示すように、出力電圧VOU Tが所定の定電
圧にならなくなる。
【0028】バンドギャップ基準電圧回路20uがこの
ような異常状態になっても、起動回路10vはpMOS
トランジスタPT2,PT3がオフ状態であるので、バ
ンドギャップ基準電圧回路20uに対して何らの作用も
生じさせない。
【0029】このように、起動時のみにスタンバイ信号
STBで動作開始する従来の起動回路では、起動後に本
体回路が異常動作状態になった場合には、再起動動作を
行うことができないという問題があった。
【0030】そこで本発明が解決しようとする課題は、
予め設定された遅延時間によらずに本体回路の迅速な起
動を行うことのできる従来例2の利点に加え、バンドギ
ャップ基準電圧回路等の本体回路が何らかの原因で正常
動作をしなかったり、正常動作後に動作停止をしたとき
にも、本体回路の再起動動作を行うことのできる起動回
路を提供することにある。
【0031】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明の起動回路は、本体回路における所定の電圧
モニターノードと所定の回路起動ノードに接続される起
動回路であって、起動時に待機レベルから起動レベルに
電圧が二値的に変化するスタンバイ信号を受けて、この
スタンバイ信号が待機レベルのときは前記本体回路の動
作を停止する停止信号を供給し、前記スタンバイ信号が
待機レベルから起動レベルに変化したときは前記本体回
路の前記回路起動ノードに起動信号を供給すると共に前
記停止信号の供給を停止する起動信号供給手段と、前記
スタンバイ信号が起動レベルの状態であって、前記本体
回路の前記電圧モニターノードの電圧が所定の値に達し
たとき、前記起動信号供給手段に対して前記起動信号の
供給を停止する起動制御手段とを備え、かつ、前記スタ
ンバイ信号が起動レベルの状態であって、前記本体回路
の前記電圧モニターノードの電圧が前記所定の値から異
常値に変動したときに、前記本体回路の前記回路起動ノ
ードに再起動信号を供給するための再起動信号生成手段
を設けている。
【0032】この発明においては、上記構成の再起動信
号生成手段を備えたことにより、もし、本体回路が正常
動作を開始しない場合、あるいは本体回路が正常動作時
に何らかの原因で動作を停止した場合、本体回路の電圧
モニターノードの電圧が異常値になるので、再起動信号
生成手段が作動し、本体回路の回路起動ノードに再起動
信号を供給し、本体回路を再起動する。本体回路の電圧
モニターノードの電圧が所定の値に達すれば、再起動信
号が停止し、本体回路は正常動作状態になる。
【0033】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。
【0034】<第1の実施形態>図1は本発明の第1実
施形態を示す機能ブロック図である。本実施形態の起動
回路10は、起動信号供給手段11と、起動制御手段1
2と、再起動信号生成手段13とから構成されている。
起動回路10に接続される本体回路20は、電圧モニタ
ーノード21と、回路起動ノード22と、出力端子T
OUTを有している。
【0035】起動信号供給手段11は、起動時に待機レ
ベルから起動レベルに電圧が二値的に変化するスタンバ
イ信号を受けて、このスタンバイ信号が待機レベルのと
きは本体回路20の動作を停止する停止信号を供給し、
スタンバイ信号が待機レベルから起動レベルに変化した
ときは本体回路20の回路起動ノード22に起動信号を
供給し、同時に停止信号の供給を停止する。
【0036】起動制御手段12は、スタンバイ信号が起
動レベルの状態になった後、本体回路20の電圧モニタ
ーノード21の電圧が所定の値に達したとき、起動信号
供給手段11に対して起動信号の供給を停止する。
【0037】再起動信号生成手段13は、スタンバイ信
号が起動レベルの状態になった後、本体回路20の電圧
モニターノード21の電圧が所定の値から異常値に変動
したときに、起動信号供給手段11を介して本体回路2
0の回路起動ノード22に再起動信号を供給する。
【0038】これにより、スタンバイ信号が待機レベル
から起動レベルに変化した後において、本体回路20が
正常動作を開始しない場合、あるいは本体回路20が正
常動作時に何らかの原因で動作を停止した場合、本体回
路20の電圧モニターノード21の電圧が異常値になる
ので、再起動信号生成手段13が作動し、本体回路20
の回路起動ノード22に再起動信号を供給し、本体回路
20を再起動する。本体回路20の電圧モニターノード
21の電圧が所定の値に達すれば、再起動信号生成手段
13がこれを検出して再起動信号が停止し、本体回路2
0は正常動作状態になって、出力端子TOUTから所定の
電圧を出力する。
【0039】<第2の実施形態>図2は本発明の第2の
実施形態に係る起動回路を示すものである。この起動回
路10aは、起動信号供給手段11を構成するインバー
タINV1,NANDゲートNA1,pMOSトランジ
スタPT2およびPT3と、起動制御手段12を構成す
るpMOSトランジスタPT1,nMOSトランジスタ
NT1,インバータINV2と、再起動信号生成手段1
3を構成するNT2とからなっている。これらのトラン
ジスタは、電界効果トランジスタ、特にMOS(金属酸
化物・半導体)電界効果トランジスタとすることによ
り、低消費電力の回路を実現することができる。
【0040】トランジスタPT1とNT1は、電源電圧
CCの供給線と接地電位GND間に直列接続されてい
る。トランジスタPT1のゲートは信号端子SN1に接
続され、トランジスタNT1のゲートは入力端子IN1
に接続されている。トランジスタPT1とNT1のドレ
イン同士の接続点は、ノードND1に接続されている。
インバータINV1の入力端子は入力端子IN1に接続
され、インバータINV2の入力端子はノードND1に
接続されている。NANDゲートNA1の両方の入力端
子はそれぞれインバータINV1とINV2の出力端子
に接続されている。トランジスタPT2のゲートはNA
NDゲートNA1の出力端子に接続され、そのソースは
電源電圧VCCの供給線に接続され、ドレインは出力端子
OUT1に接続されている。トランジスタPT3のゲー
トはインバータINV1の出力端子に接続され、そのソ
ースは電源電圧VCCの供給線に接続され、ドレインは信
号端子SN1に接続されている。ノードND1と接地電
位GND間にはnMOSトランジスタNT2のドレイン
とソースが接続され、そのゲートは信号端子IN1に接
続されている。
【0041】このように構成されている起動回路10a
は、ハイレベルで動作を停止し、ローレベルで動作を開
始するスタンバイ信号STBが入力端子IN1に与えら
れ、図9のバンドギャップ基準電圧回路20uのような
本体回路を起動させるために、一時的に電圧を上げるポ
イントであるノードn2に出力端子OUT1が接続さ
れ、本体回路の中で動作停止時は電源電圧VCCに固定さ
れていて本体回路が動き出すとその電圧が電源電圧VCC
からpMOSトランジスタPT1をオンさせるのに十分
な電圧まで下降するポイントであるノードn3に信号端
子SN1が接続されている。
【0042】次に、この起動回路10aの起動時の動作
について説明する。まず、起動回路10aの入力端子に
は、スタンバイ時(回路動作停止時)にハイレベル、動
作開始後にローレベルになるスタンバイ信号STBが与
えられる。
【0043】スタンバイ状態においては、入力端子IN
1のノードND2の電位がハイレベルであるため、イン
バータINV1の出力側のノードND5はローレベルに
ある。また、トランジスタNT1はオン状態であるの
で、ノードND1はローレベル、例えば、接地電位GN
Dのレベルに保持される。インバータINV1,INV
2の出力信号に応じてNANDゲートNA1の出力端子
がハイレベルに保持されているので、トランジスタPT
2はオフ状態である。一方、トランジスタPT3のゲー
トがローレベルにあるので、当該トランジスタPT3は
オン状態であり、信号端子SN1はハイレベル、例え
ば、電源電圧VCCまたはそれに近いレベルに保持されて
いる。このとき、ゲート電位がハイレベルであるpMO
SトランジスタPT1はオフ、nMOSトランジスタN
T2はオン状態にある。
【0044】スタンバイ信号STBがハイレベルからロ
ーレベルに切り換わると、スタンバイ信号STBの立ち
下がりから少し遅れて、インバータINV1の出力側ノ
ードND5の電位がローレベルからハイレベルに切り換
わる。これに伴い、トランジスタPT3がオフするが、
信号端子SN1から新たな信号が入ってこない限り当該
信号端子SN1はハイレベルのままに保持される。
【0045】前記のように、スタンバイ信号STBがロ
ーレベルになると、トランジスタNT1がオンからオフ
に転じるが、信号端子SN1がハイレベルのまま保持さ
れるので、トランジスタPT1も同時にオフすることに
なる。一方、信号端子SN1がハイレベルのままである
ので、トランジスタNT2はオン状態であり同トランジ
スタのソース−ゲート間は低インピーダンス状態であ
り、したがって、ノードND1の電圧は変化せず、ロー
レベルに保持されたままとなる。
【0046】このとき、NANDゲートNA1の両方の
入力端子がともにハイレベルにあるので、NANDゲー
トNA1の出力側ノードND5がローレベルに保持され
る。これに応じてトランジスタPT2がオンし、出力端
子OUT1に起動電流ISTが供給される。出力端子OU
T1から供給された電流ISTに応じて、本体回路、例え
ば図9に示すバンドギャップ基準電圧回路20uが動作
し始める。本体回路が正常動作状態になると、信号端子
SN1の電圧、例えばバンドギャップ基準電圧回路20
uのノードn3の電圧が低下し始める。これに伴い、p
MOSトランジスタPT1のソース−ドレイン間抵抗が
減少し始める。同時に、nMOSトランジスタNT2の
ソース−ドレイン間抵抗が増加し始める。これにより、
ノードND1の電位が上昇し、ある時点でインバータI
NV2の出力端子ND4がハイレベルからローレベルに
切り換わり、NANDゲートNA1の出力端子がローレ
ベルからハイレベルに切り換わる。これにより、pMO
SトランジスタPT2がオフになり、本体回路、例えば
バンドギャップ基準電圧回路20uが正常動作に復帰す
る。
【0047】次に、本体回路が正常動作している状態か
ら、何らかの原因でスタンバイ信号STBがローレベル
のまま本体回路が動作を停止したときの起動回路10a
の動作について説明する。
【0048】まずスタンバイ端子IN1がローレベルで
本体回路が正常動作している時、ノードND2はローレ
ベル、ノードND5はハイレベルである。また信号端子
SN1は本体回路が正常動作時、pMOSトランジスタ
PT1をオンさせるのに十分な電圧まで下降するポイン
ト(n3)に接続されているので、ノードND3はpM
OSトランジスタPT1がオンするのに十分な電圧まで
下がっている。このとき、pMOSトランジスタPT3
はノードND5がハイレベルであるためオフである。
【0049】また、ノードND3がローレベルであるの
で、pMOSトランジスタPT1はオン、nMOSトラ
ンジスタNT1はオフであり、nMOSトランジスタN
T2はこの時ゲート電圧であるノードND3がローレベ
ルであるので、ハイレベルのときと比べゲート−ソース
間電圧Vgsが小さいので、トランジスタNT2のオン抵
抗が大きく見える領域であり、ノードND1はハイレベ
ルである。よってインバータINV2の出力側のノード
ND4はローレベルであるので、NANDゲートNA1
の出力側ノードND6はハイレベルであり、したがっ
て、pMOSトランジスタPT2はオフである。
【0050】次に、スタンバイ信号STBはローレベル
のままで、本体回路が正常動作時から、何らかの原因で
動作を停止したとき、入力端子IN1のノードND2は
ローレベルのまま、インバータINV1の出力側ノード
ND5はハイレベルのまま、したがってpMOSトラン
ジスタPT3もオフのままである。一方、信号端子SN
1は本体回路が動作停止時、異常状態を表すハイレベル
となる。このとき、pMOSトランジスタPT1とnM
OSトランジスタNT1はともにオフ、nMOSトラン
ジスタNT2はゲート電圧がハイレベルであるのでオン
になる。ここで、nMOSトランジスタNT2のゲート
−ソース間電圧Vgsが大きいので、同トランジスタのオ
ン抵抗が小さく見えることになり、ノードND1はロー
レベルとなる。よってインバータINV2の出力側ノー
ドND4はハイレベルとなり、NANDゲートNA1の
出力側ノードND6はローレベルとなる。したがって、
pMOSトランジスタPT2はオンし、出力端子OUT
1から端子Tn2を介して本体回路、例えばバンドギャッ
プ基準電圧回路20uに起動電流ISTを流し、本体回路
を動作を開始する。
【0051】これにより本体回路が正常動作に復帰し始
めると、信号端子SN1の電圧が、PT1がオンするの
に十分な電圧まで再び下降し始める。ノードND3の電
圧がPT1をオンさせるのに十分な電圧まで下降した
時、上述したようにpMOSトランジスタPT1はオ
ン、nMOSトランジスタNT1はオフとなる。nMO
SトランジスタNT2はこの時ゲート電圧がハイレベル
の時と比べVgsが小さくなり、トランジスタのオン抵抗
が大きく見える領域になるので、ノードND1の電位が
ハイレベルに充電される。よってインバータINV2の
出力側ノードND4はローレベルとなるので、NAND
ゲートNA1の出力側ND6の電位はハイレベルとなり
pMOSトランジスタPT2は再びオフになり、本体回
路であるバンドギャップ基準電圧回路20uは正常動作
を開始する。
【0052】このように、図2の第2の実施形態の起動
回路10aは、本体回路が起動時に正常動作しない場
合、あるいは本体回路が正常動作時に何らかの原因で動
作を停止してしまった場合、常にそれを監視し自動的に
動き出すようになっているので、従来例2で述べたよう
な問題が発生しない。
【0053】また上述したように、本第2の実施形態の
起動回路10aは、ノードND1をローレベルにすべき
ときはトランジスタNT2のオン抵抗が小さくなり、ノ
ードND1をハイレベルにすべきときはトランジスタN
T2のオン抵抗が大きくなるように、必要に応じてトラ
ンジスタNT2のオン抵抗が効率よく変化するように構
成されており、より低消費電力で実現している。この第
2の実施形態における再起動信号生成手段13を構成す
る回路は、nMOSトランジスタNT2を1個、従来例
2の回路に追加するのみで実現できる。
【0054】<第3の実施形態>図3は、本発明の第3
の実施形態に係る起動回路10bを示すものである。こ
こにおいて、nMOSトランジスタNT2のゲートが信
号端子SN1ではなく電源電圧VCCに接続されている以
外は図2の第2の実施形態と共通している。この第3の
実施形態では、nMOSトランジスタNT2はゲート電
圧が電源電圧VCCに固定されており、nMOSトランジ
スタNT2はオン状態で作動する。したがって、ノード
ND1とGNDの間に、nMOSトランジスタNT2の
オン抵抗が接続された状態になっている。このオン抵抗
は、第2の実施形態と異なり、信号端子SN1がハイレ
ベルでもローレベルでも変化しないが、オン抵抗値を、
pMOSトランジスタPT1およびnMOSトランジス
タNT1のオン抵抗値よりも大きくオフ抵抗値よりも小
さく設定することにより、次のような動作で、第2の実
施形態と同様に作動する。
【0055】次に、この第3の実施形態の起動時の動作
について説明する。まず、起動回路10bの入力端子に
は、スタンバイ時(回路動作停止時)にハイレベル、動
作開始後にローレベルになるスタンバイ信号STBが与
えられる。
【0056】スタンバイ状態においては、入力端子IN
1のノードND2の電位がハイレベルであるため、イン
バータINV1の出力側のノードND5はローレベルに
ある。また、トランジスタNT1はオン状態であるの
で、ノードND1はローレベル、例えば、接地電位GN
Dのレベルに保持される。インバータINV1,INV
2の出力信号に応じてNANDゲートNA1の出力端子
がハイレベルに保持されているので、トランジスタPT
2はオフ状態である。一方、トランジスタPT3のゲー
トがローレベルにあるので、当該トランジスタPT3は
オン状態であり、信号端子SN1はハイレベル、例え
ば、電源電圧VCCまたはそれに近いレベルに保持されて
いる。このとき、ゲート電位がハイレベルであるpMO
SトランジスタPT1はオフ状態にある。一方、nMO
SトランジスタNT2はオン状態にあるが、ソース−ド
レイン間のオン抵抗はハイインピーダンス、例えばMΩ
オーダーに設定されている。
【0057】スタンバイ信号STBがハイレベルからロ
ーレベルに切り換わると、スタンバイ信号STBの立ち
下がりから少し遅れて、インバータINV1の出力側ノ
ードND5の電位がローレベルからハイレベルに切り換
わる。これに伴い、トランジスタPT3がオフするが、
信号端子SN1から新たな信号が入ってこない限り当該
信号端子SN1はハイレベルのままに保持される。
【0058】前記のように、スタンバイ信号STBがロ
ーレベルになると、トランジスタNT1がオンからオフ
に転じるが、信号端子SN1がハイレベルのまま保持さ
れるので、トランジスタPT1も同時にオフすることに
なる。一方、トランジスタNT2はオン状態であり同ト
ランジスタのソース−ゲート間はハイインピーダンス状
態であるので、ノードND1の電圧は変化せず、ローレ
ベルに保持されたままとなる。
【0059】このとき、NANDゲートNA1の両方の
入力端子がともにハイレベルにあるので、NANDゲー
トNA1の出力側ノードND5がローレベルに保持され
る。これに応じてトランジスタPT2がオンし、出力端
子OUT1に起動電流ISTが供給される。出力端子OU
T1から供給された電流ISTに応じて、本体回路、例え
ば図9に示すバンドギャップ基準電圧回路20uが動作
し始める。本体回路が正常動作状態になると、信号端子
SN1の電圧、例えばバンドギャップ基準電圧回路20
uのノードn3の電圧が低下し始める。これに伴い、p
MOSトランジスタPT1のソース−ドレイン間抵抗が
減少し始める。これにより、ノードND1の電位が上昇
し、ある時点でインバータINV2の出力端子ND4が
ハイレベルからローレベルに切り換わり、NANDゲー
トNA1の出力端子がローレベルからハイレベルに切り
換わる。これにより、pMOSトランジスタPT2がオ
フになり、本体回路、例えばバンドギャップ基準電圧回
路20uが動作を開始する。
【0060】次に、本体回路が正常動作している状態か
ら、何らかの原因でスタンバイ信号STBがローレベル
のまま本体回路が動作を停止したときの起動回路10b
の動作について説明する。
【0061】まずスタンバイ端子IN1がローレベルで
本体回路が正常動作している時、ノードND2はローレ
ベル、ノードND5はハイレベルである。また信号端子
SN1は本体回路が正常動作時、pMOSトランジスタ
PT1をオンさせるのに十分な電圧まで下降するポイン
ト(n3)に接続されているので、ノードND3はpM
OSトランジスタPT1がオンするのに十分な電圧まで
下がっている。このとき、pMOSトランジスタPT3
はノードND5がハイレベルであるためオフである。
【0062】また、ノードND3がローレベルであるの
で、pMOSトランジスタPT1はオン、nMOSトラ
ンジスタNT1はオフであるので、ノードND1はハイ
レベルである。よってインバータINV2の出力側のノ
ードND4はローレベルであるので、NANDゲートN
A1の出力側ノードND6はハイレベルであり、したが
って、pMOSトランジスタPT2はオフである。な
お、nMOSトランジスタNT2のオン抵抗はトランジ
スタPT1のオン抵抗に比べて大きいので、ノードND
1がハイレベルであっても、上記の動作に影響を及ぼさ
ない。
【0063】次に、スタンバイ信号STBはローレベル
のままで、本体回路が正常動作時から、何らかの原因で
動作を停止したとき、入力端子IN1のノードND2は
ローレベルのまま、インバータINV1の出力側ノード
ND5はハイレベルのまま、したがってpMOSトラン
ジスタPT3もオフのままである。一方、信号端子SN
1は本体回路が動作停止時、異常状態を表すハイレベル
となる。このとき、pMOSトランジスタPT1とnM
OSトランジスタNT1はともにオフになる。ここで、
nMOSトランジスタNT2のオン抵抗は、pMOSト
ランジスタPT1のオフ抵抗よりも小さいので、ノード
ND1はローレベルとなる。よってインバータINV2
の出力側ノードND4はハイレベルとなり、NANDゲ
ートNA1の出力側ノードND6はローレベルとなる。
したがって、pMOSトランジスタPT2はオンし、出
力端子OUT1から端子Tn2を介して本体回路、例えば
バンドギャップ基準電圧回路20uに起動電流ISTを流
し、本体回路は動作を開始する。
【0064】これにより本体回路が正常動作に復帰し始
めると、信号端子SN1の電圧が、PT1がオンするの
に十分な電圧まで再び下降し始める。ノードND3の電
圧がPT1をオンさせるのに十分な電圧まで下降した
時、上述したようにpMOSトランジスタPT1はオ
ン、nMOSトランジスタNT1はオフとなる。nMO
SトランジスタNT2はこの時pMOSトランジスタP
T1のオン抵抗よりもオン抵抗が大きく見える領域にな
るので、ノードND1の電位がハイレベルに充電され
る。よってインバータINV2の出力側ノードND4は
ローレベルとなるので、NANDゲートNA1の出力側
ND6の電位はハイレベルとなりpMOSトランジスタ
PT2は再びオフになり、本体回路であるバンドギャッ
プ基準電圧回路20uは正常動作を開始する。
【0065】このように、図3の第3の実施形態の起動
回路10bは、図2に示した第2の実施形態の起動回路
10aと比較して、トランジスタNT2のオン抵抗をア
クティブに変化させることができない部分を除けば、図
2の回路と同様に機能する。
【0066】<第4の実施形態>前記の第3の実施形態
では、nMOSトランジスタNT2は、ゲート電圧が固
定されているのでオン抵抗が固定している。この考えを
拡張すれば、第3の実施形態におけるnMOSトランジ
スタNT2を、図4に示す第4の実施形態に係る起動回
路10cのように固定抵抗R1に置き換えることが可能
である。この第4の実施形態では、nMOSトランジス
タNT2を使用しないため、構成が簡素化され、コスト
が低減する。その動作については第3の実施形態と同様
であるので説明を省略する。この第4の実施形態と前記
の第3の実施形態とを比較すると、第4の実施形態の起
動回路10cの場合、低消費電力にするためには固定抵
抗R1には、MΩオーダーの抵抗を用いなければなら
ず、集積回路で実現しようとするとセル面積が大きくな
る。またセル面積を小さくするために抵抗の値を小さく
してしまうと、かなりの消費電力が必要となる。これに
対して、第3の実施形態に係る起動回路10bでは、n
MOSトランジスタNT2のオン抵抗を固定抵抗として
用いるように構成しており、集積回路で実現するときに
セル面積が小さくて済み、また消費電力も小さくなると
いう利点がある。
【0067】<第5の実施形態>図5は、本発明の第5
の実施形態に係る起動回路10dを示すものである。こ
こにおいて、nMOSトランジスタNT2が複数個に分
割して形成されている以外は図2の第2の実施形態と共
通している。
【0068】この第5の実施形態では、集積回路でnM
OSトランジスタNT2を形成する際、基板上にnMO
Sトランジスタを複数形成し、それぞれを直列接続し、
それぞれのゲートを一括してノードND3に接続するこ
とにより、基板バイアス効果が働き、図2に示した第2
の実施形態の起動回路10aよりも、よりトランジスタ
のオン抵抗が大きく見えるようになる。回路の動作につ
いては、第2の実施形態と同様である。
【0069】なお、この第5の実施形態においては、第
2の実施形態におけるnMOSトランジスタNT2を複
数個に分割したものであるが、第3の実施形態における
nMOSトランジスタNT2を複数個に分割した場合
は、第3の実施形態の回路動作が同様に行われることは
勿論である。
【0070】<第6の実施形態>図6は、上述した第2
の実施形態に係る起動回路10aを、バンドギャップ基
準電圧回路20aに適用した場合の回路図である。ま
ず、バンドギャップ基準電圧回路20aについて説明す
る。
【0071】図6に示すバンドギャップ基準電圧回路2
0aは、演算増幅回路OPA1、pMOSトランジスタ
T101,T102、抵抗素子R101,R102およ
びダイオード接続されているnpnトランジスタB10
1,B102により構成されている。
【0072】トランジスタT101、抵抗素子R101
およびダイオード接続されているトランジスタB101
は電源電圧VCCの供給線とノードn4との間に直列接続
され、トランジスタT102とダイオード接続されてい
るトランジスタB102は電源電圧VCCの供給線とノー
ドn4との間に直列接続されている。トランジスタT1
01及びT102は、ゲートがオペアンプOPA1の出
力端子に接続され、オペアンプOPA1の出力信号に応
じて電流I1及びI2をそれぞれ出力する。オペアンプ
OPA1の非反転入力端子(+)は、トランジスタT1
01と抵抗素子R101との接続中点からなるノードn
1に接続され、その反転入力端子(−)は、トランジス
タT102とトランジスタB102との接続中点からな
るノードn2に接続されている。さらにノードn2はバ
ンドギャップ基準電圧回路20aの出力端子が形成さ
れ、正常動作のとき当該出力端子から電源電圧および温
度依存性のない定電圧VOUT が出力される。
【0073】オペアンプOPA1の出力信号は、トラン
ジスタT101及びT102のゲートにそれぞれ印加さ
れる。このため、オペアンプOPA1により帰還ループ
が構成され、当該帰還ループの制御により、正常動作時
にノードn1,n2の電圧V n1及びVn2が等しくなるよ
うに、トランジスタT101及びT102の出力電流I
1及びI2が制御される。ここで、トランジスタT10
1とT102のチャネル幅が等しく設定されているとす
ると、これらのトランジスタの出力電流I1とI2も等
しくなる。トランジスタB101のエミッタサイズは、
トランジスタB102のエミッタサイズの10倍に形成
されている。
【0074】図9に示すバンドギャップ基準電圧回路2
0uに比べると、本例のバンドギャップ基準電圧回路2
0aは、トランジスタT103、抵抗素子R102及び
トランジスタB103が省略され、トランジスタT10
2とB102との接続点n2から基準電圧VOUTが出力
される。さらに、トランジスタB101とB102のエ
ミッタ同士の接続点が抵抗素子R102を介して接地さ
れている。
【0075】次に、図6に示す回路の動作について説明
する。図6に示すバンドギャップ基準電圧回路20aで
は、オペアンプOPA1の制御によって、ノードn1と
n2の電圧Vn1とVn2が等しく保持されるので、 Vn1−VE =Vn2−VE が成り立つ。ここで、VE はノードn4の電圧である。
これによって、次式が成立する。 I11 +VBE1 =VBE2 ・・・(1)
【0076】ここで、I1は電流I1の電流値、R1は抵
抗素子R101の抵抗値、VBE1及びVBE2 はそれぞれ
トランジスタB101とB102のベース−エミッタ間
電圧を表す。即ち、次の式が成立する。 VBE1 =VTln(IC1/IS1) ・・・(2) VBE2 =VTln(IC2/IS2) ・・・(3)
【0077】ここでVT=kT/qであり、kはボルツ
マン定数、Tは絶対温度、qは電子の電荷、IC1はトラ
ンジスタB101のコレクタ電流、IS1はトランジスタ
B101のエミッタサイズに比例する定電流値、IC2
トランジスタB102のコレクタ電流、IS2はトランジ
スタB102のエミッタサイズに比例する定電流値であ
る。
【0078】式(2)、(3)を式(1)に代入し、さ
らに、Ic1=I1 ,IC2=I2 、かつ、トランジスタB
101のエミッタサイズがトランジスタB102のエミ
ッタサイズの10倍に形成されていること、即ち、IS1
=10IS2の条件を用いると、次式が得られる。 I1 =VT (ln10)/R1 ・・・(4)
【0079】ここで、抵抗素子R102の抵抗値をR10
とする。抵抗素子R102を流れる電流I3は、電流I
1とI2の和である。即ち、電流I3の電流値をI3
すると、I3 =(I1 +I2 )=2I1 が得られる。た
だし、I1 =I2 としている。このため、出力電圧V
OUT は、次式によって求められる。 VOUT=VBE2+I310=VBE2+2VT(ln10)R10/R1・・・(5)
【0080】トランジスタのベース−エミッタ間電圧V
BE2 は、負の温度特性を持ち、例えば、d(VBE2 )/
dT=−2mV/Kである。このため、式(5)右辺の
第2項の温度特性を2mV/Kに設定することにより、
出力電圧VOUTの温度依存性を完全になくすことができ
る。なお、VT=kT/qであるので、出力電圧VOUT
温度依存性を解消する条件は、次式により求められる。 2ln10(R10/R1)(k/q)=2mV/K・・・(6)
【0081】抵抗素子R102とR101が式(6)に
示す条件を満足するとき、出力電圧VOUT は温度変化に
依存せず、常に一定の電圧値になる。なお、式(6)を
満たす場合、温度Tが300K(摂氏27℃)のとき、
式(5)の右辺第2項は、 (2VT(ln10)R10/R1 )=0.6V となる。さらに、トランジスタB102のベース−エミ
ッタ間電圧VBE2を0.65Vとすると、式(5)によ
ってバンドギャップ基準電圧回路20aの出力電圧V
OUTは1.25Vとなる。
【0082】上述したように、本例のバンドギャップ基
準電圧回路20aにおいて、温度変化に依存せず一定の
出力電圧VOUT が得られる。さらに、正常に動作すると
き、オペアンプOPA1の帰還制御によって、トランジ
スタT101とT102のドレイン電位が等しくなるよ
うに制御される。即ち、トランジスタT101とT10
2のドレイン−ソース間電圧Vdsが等しく制御されるの
で、これらのトランジスタを流れる電流I1とI2が常
に等しく設定される。このため、出力電圧VOU Tの電源
電圧依存性を抑制できる。
【0083】次に、起動回路10aとバンドギャップ基
準電圧回路20aを組み合わせたときの動作について説
明する。図6のように起動回路10aの出力端子OUT
1をバンドギャップ基準電圧回路20aのノードn2
に、信号端子SN1をバンドギャップ基準電圧回路20
aのノードn3に接続し、入力端子IN1にはスタンバ
イ時にハイレベル、起動時にローレベルとなるスタンバ
イ信号STBを印加する。
【0084】スタンバイ状態においては、入力端子IN
1のノードND2の電位がハイレベルであるため、イン
バータINV1の出力側のノードND5はローレベルに
ある。また、トランジスタNT1はオン状態であるの
で、ノードND1はローレベル、例えば、接地電位GN
Dのレベルに保持される。インバータINV1,INV
2の出力信号に応じてNANDゲートNA1の出力端子
がハイレベルに保持されているので、トランジスタPT
2はオフ状態である。一方、トランジスタPT3のゲー
トがローレベルにあるので、当該トランジスタPT3は
オン状態であり、信号端子SN1はハイレベル、例え
ば、電源電圧VCCまたはそれに近いレベルに保持されて
いる。このとき、ゲート電位がハイレベルであるpMO
SトランジスタPT1はオフ、nMOSトランジスタN
T2はオン状態にある。
【0085】スタンバイ信号STBがハイレベルからロ
ーレベルに切り換わると、スタンバイ信号STBの立ち
下がりから少し遅れて、インバータINV1の出力側ノ
ードND5の電位がローレベルからハイレベルに切り換
わる。これに伴い、トランジスタPT3がオフするが、
信号端子SN1から新たな信号が入ってこないので当該
信号端子SN1はハイレベルのままに保持される。
【0086】前記のように、スタンバイ信号STBがロ
ーレベルになると、トランジスタNT1がオンからオフ
に転じるが、信号端子SN1がハイレベルのまま保持さ
れているので、トランジスタPT1も同時にオフするこ
とになる。一方、信号端子SN1がハイレベルのままで
あるので、トランジスタNT2はオン状態であり同トラ
ンジスタのソース−ゲート間は低インピーダンス状態で
あり、したがって、ノードND1の電圧は変化せず、ロ
ーレベルに保持されたままとなる。
【0087】このとき、NANDゲートNA1の両方の
入力端子がともにハイレベルにあるので、NANDゲー
トNA1の出力側ノードND5がローレベルに保持され
る。これに応じてトランジスタPT2がオンし、出力端
子OUT1がハイレベルとなり、バンドギャップ基準電
圧回路20aが動作し始める。バンドギャップ基準電圧
回路20aが正常動作状態になると、バンドギャップ基
準電圧回路20aのノードn3の電圧が低下し始める。
これに伴い、信号端子SN1にゲートがつながっている
pMOSトランジスタPT1のソース−ドレイン間抵抗
が減少し始める。同時に、nMOSトランジスタNT2
のソース−ドレイン間抵抗が増加し始める。これによ
り、ノードND1の電位が上昇し、ある時点でインバー
タINV2の出力端子ND4がハイレベルからローレベ
ルに切り換わり、NANDゲートNA1の出力端子がロ
ーレベルからハイレベルに切り換わる。これにより、p
MOSトランジスタPT2がオフになり、バンドギャッ
プ基準電圧回路20aが正常動作を開始する。
【0088】次に、本体回路が正常動作している状態か
ら、何らかの原因でスタンバイ信号STBがローレベル
のまま本体回路が動作を停止したときの起動回路10a
の動作について、図7のタイムチャートを参照しながら
説明する。図7において、Aの範囲は正常動作時、Bは
回路動作が停止してから回路動作が開始する範囲、Cは
正常動作時を示している。
【0089】まず入力端子IN1がローレベルでバンド
ギャップ基準電圧回路20aが動作開始後は、図7
(a)に示すように、A,B,Cの全範囲においてノー
ドND2はローレベル、ノードND5はハイレベルであ
る。
【0090】信号端子SN1は、バンドギャップ基準電
圧回路20aが正常動作時、pMOSトランジスタPT
1をオンさせるのに十分な電圧まで下降するポイントで
あるノードn3に接続されているので、正常動作時Aに
おいては、図7(g)に示すように、ノードND3はp
MOSトランジスタPT1がオンするのに十分な電圧ま
で下がっている。このとき、pMOSトランジスタPT
3はノードND5がハイレベルであるためオフである。
【0091】また、ノードND3がローレベルであるの
で、pMOSトランジスタPT1はオン、nMOSトラ
ンジスタNT1はオフであり、nMOSトランジスタN
T2はこの時ゲート電圧であるノードND3がローレベ
ルであるので、ハイレベルのときと比べゲート−ソース
間電圧Vgsが小さいので、トランジスタNT2のオン抵
抗が大きく見える領域であり、ノードND1はハイレベ
ルである。よってインバータINV2の出力側のノード
ND4はローレベルであるので、NANDゲートNA1
の出力側ノードND6はハイレベルであり、したがっ
て、pMOSトランジスタPT2はオフである。
【0092】次に、スタンバイ信号STBはローレベル
のままで、図7に示した時刻t10において、バンドギャ
ップ基準電圧回路20aが正常動作時から、何らかの原
因でノードn1の電位がノードn2の電位よりも高くな
り(図7(f)参照)、これを補償しようとしてオペア
ンプOPA1が図7(g)に示すように主力電圧の上限
値まで上昇し、トランジスタT101,T102がオフ
となって動作を停止したようなときも、入力端子IN1
のノードND2はローレベルのまま、インバータINV
1の出力側ノードND5はハイレベルのまま、したがっ
てpMOSトランジスタPT3もオフのままである。一
方、ノードn3に接続されている信号端子SN1は、図
7(g)に示すように、バンドギャップ基準電圧回路2
0aが動作停止時、異常状態を表すハイレベルとなるの
で、pMOSトランジスタPT1とnMOSトランジス
タNT1はともにオフ、nMOSトランジスタNT2は
ゲート電圧がハイレベルであるのでオンになる。ここ
で、nMOSトランジスタNT2のゲート−ソース間電
圧Vgsが大きいので、同トランジスタのオン抵抗が小さ
く見えることになり、ノードND1は図7(c)に示す
ように下降し始める。所定のしきい値に達するt11時点
で、インバータINV2の出力側ノードND4はハイレ
ベルとなり、NANDゲートNA1の出力側ノードND
6はローレベルとなる(図7(d),(e)参照)。し
たがって、pMOSトランジスタPT2はオンし、出力
端子OUT1から端子Tn2を介してバンドギャップ基準
電圧回路20aに起動電流ISTを流し、回路動作を開始
させる。
【0093】これによりバンドギャップ基準電圧回路2
0aが正常動作に復帰し始めると、信号端子SN1の電
圧が、時刻t12の時点で、PT1がオンするのに十分な
電圧まで再び下降し始める。ノードND3の電圧がPT
1をオンさせるのに十分な電圧まで下降したt13の時点
で、上述したようにpMOSトランジスタPT1はオ
ン、nMOSトランジスタNT1はオフとなる。nMO
SトランジスタNT2はこの時ゲート電圧がハイレベル
の時と比べVgsが小さくなり、トランジスタのオン抵抗
が大きく見える領域になるので、ノードND1の電位が
ハイレベルに充電される。よってインバータINV2の
出力側ノードND4はローレベルとなるので、NAND
ゲートNA1の出力側ND6の電位はハイレベルとなり
(図7(d),(e)参照)、pMOSトランジスタP
T2は再びオフになり、バンドギャップ基準電圧回路2
0aは正常動作を開始する。
【0094】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
本体回路の回路起動ノードに再起動信号を供給するため
の再起動信号生成手段を設けたことにより、スタンバイ
信号が起動レベルになった後も、電圧モニターモードの
電圧を常にモニターし、バンドギャップ基準電圧回路等
の本体回路が何らかの原因で正常動作をしなかったり、
正常動作後に動作停止をしたときには、自動的に本体回
路の再起動動作を行うことができる。再起動信号生成手
段は、起動制御手段の論理素子の入力側または電源電圧
線と接地線との間に出力端子が接続され、ゲートが電圧
モニターノードに接続されたトランジスタないし固定抵
抗で構成することができ、従来の回路にトランジスタを
1個追加するのみで実現できる。また、これらの再起動
信号生成回路を構成するトランジスタを、電界効果トラ
ンジスタ、特にMOS電界効果トランジスタで構成し、
そのゲート電圧を必要に応じて制御することにより、低
消費電力の回路を実現することができる。さらに、再起
動信号生成回路を構成するMOS電界効果トランジスタ
を形成する際、基板上にMOS電界効果トランジスタを
複数形成し、それぞれを直列接続して見かけ上1つのM
OS電界効果トランジスタとして使用することにより、
基板バイアス効果が働き、単独のトランジスタで構成す
るよりも、トランジスタのオン抵抗が大きく見えるよう
になり、低消費電力の高抵抗回路を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施形態を示す機能ブロック
図である。
【図2】 本発明の第2の実施形態を示す回路図であ
る。
【図3】 本発明の第3の実施形態を示す回路図であ
る。
【図4】 本発明の第4の実施形態との比較例を示す回
路図である。
【図5】 本発明の第5の実施形態を示す回路図であ
る。
【図6】 本発明の第2の実施形態に係る起動回路をバ
ンドギャップ基準電圧回路と組み合わせた例を示す回路
図である。
【図7】 図6の回路における回路動作停止後の各部の
電圧変化を示すタイムチャートである。
【図8】 従来例1に係る起動回路の構成を示す回路図
である。
【図9】 バンドギャップ基準電圧回路の例を示す回路
図である。
【図10】 従来例2に係る起動回路の構成を示す回路
図である。
【図11】 従来例2の起動時の動作を示すタイムチャ
ートである。
【図12】 従来例2の回路動作停止後の各部の電圧変
化を示すタイムチャートである。
【符号の説明】
10,10a,10b,10c,10d…起動回路、1
1…起動信号供給手段、12…起動制御手段、13…再
起動信号生成手段、20…本体回路、21…電圧モニタ
ーノード、22…回路起動ノード、20a…バンドギャ
ップ基準電圧回路(本体回路)、SN1…信号端子、I
N1…入力端子、OUT1…出力端子、STB…スタン
バイ信号、INV1…インバータ(第1のインバー
タ)、INV2…インバータ(第2のインバータ)、N
A1…NANDゲート、PT1…pMOSトランジスタ
(第1の電界効果トランジスタ)、NT1…nMOSト
ランジスタ(第2の電界効果トランジスタ)、PT3…
pMOSトランジスタ(第3の電界効果トランジス
タ)、PT2…pMOSトランジスタ(第4の電界効果
トランジスタ)、NT2…nMOSトランジスタ(第5
の電界効果トランジスタ)、OPA1…オペアンプ(演
算増幅器)、T101,T102,T103…トランジ
スタ、n3…電圧モニターモード、n2…回路起動ノー
ド、VCC…電源電圧、GND…接地電位
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5H420 BB12 CC02 DD02 EA11 EA14 EA18 EA24 FF03 KK02 NA16 NA23 NA24 NA28 NB02 NB36 NC22 NC23 NC26 NC32 NE03 NE23 NE26 NE27 5J055 AX57 AX66 BX42 CX23 DX22 DX52 EX01 EX07 EX11 EX21 EY01 EY21 EZ00 EZ07 EZ25 FX12 FX17 FX35 GX01 GX02

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 本体回路における所定の電圧モニターノ
    ードと所定の回路起動ノードに接続される起動回路であ
    って、 起動時に待機レベルから起動レベルに電圧が二値的に変
    化するスタンバイ信号を受けて、このスタンバイ信号が
    待機レベルのときは前記本体回路の動作を停止する停止
    信号を供給し、前記スタンバイ信号が待機レベルから起
    動レベルに変化したときは前記本体回路の前記回路起動
    ノードに起動信号を供給すると共に前記停止信号の供給
    を停止する起動信号供給手段と、 前記スタンバイ信号が起動レベルの状態であって、前記
    本体回路の前記電圧モニターノードの電圧が所定の値に
    達したとき、前記起動信号供給手段に対して前記起動信
    号の供給を停止する起動制御手段とを備え、 かつ、前記スタンバイ信号が起動レベルの状態であっ
    て、前記本体回路の前記電圧モニターノードの電圧が前
    記所定の値から異常値に変動したときに、前記本体回路
    の前記回路起動ノードに再起動信号を供給するための再
    起動信号生成手段を設けたことを特徴とする起動回路。
  2. 【請求項2】 前記起動制御手段は、 電源電圧線と接地線との間に出力端子が直列接続された
    第1の電界効果トランジスタと第2の電界効果トランジ
    スタとを有し、 前記第1の電界効果トランジスタのゲートに前記電圧モ
    ニターノードの電圧が供給され、 前記第2の電界効果トランジスタのゲートに前記スタン
    バイ信号が供給され、 前記第1のトランジスタの出力端子と前記第2のトラン
    ジスタの出力端子の接続点の電圧を所定のしきい値で二
    値化する論理素子を設けたものであり、 前記再起動信号生成手段は、 前記起動制御手段の前記論理素子の入力側と接地線との
    間に出力端子が接続され、ゲートが前記電圧モニターノ
    ードに接続された第3の電界効果トランジスタであり、 前記起動信号供給手段は、 前記スタンバイ信号を反転する第1のインバータと、 前記起動制御手段の論理素子の出力と前記第1のインバ
    ータの出力の論理積の反転出力を演算するNANDゲー
    トと、 このNANDゲートの出力にゲートが接続され、電源電
    圧線と前記本体回路の前記回路起動ノードとの間に出力
    端子が接続された第4の電界効果トランジスタと、 前記第1のインバータの出力にゲートが接続され、電源
    電圧線と前記電圧モニターノードとの間に出力端子が接
    続された第5の電界効果トランジスタとを備えたもので
    ある請求項1記載の起動回路。
  3. 【請求項3】 前記起動制御手段は、 電源電圧線と接地線との間に出力端子が直列接続された
    第1の電界効果トランジスタと第2の電界効果トランジ
    スタとを有し、 前記第1の電界効果トランジスタのゲートに前記電圧モ
    ニターノードの電圧が供給され、 前記第2の電界効果トランジスタのゲートに前記スタン
    バイ信号が供給され、 前記第1のトランジスタの出力端子と前記第2のトラン
    ジスタの出力端子の接続点の電圧を所定のしきい値で二
    値化する論理素子を設けたものであり、 前記再起動信号生成手段は、 前記起動制御手段の前記論理素子の入力側と接地線との
    間に接続された抵抗要素であり、 前記起動信号供給手段は、 前記スタンバイ信号を反転する第1のインバータと、 前記起動制御手段の論理素子の出力と前記第1のインバ
    ータの出力の論理積の反転出力を演算するNANDゲー
    トと、 このNANDゲートの出力にゲートが接続され、電源電
    圧線と前記本体回路の前記回路起動ノードとの間に出力
    端子が接続された第4の電界効果トランジスタと、 前記第1のインバータの出力にゲートが接続され、電源
    電圧線と前記電圧モニターノードとの間に出力端子が接
    続された第5の電界効果トランジスタとを備えたもので
    ある請求項1記載の起動回路。
  4. 【請求項4】 前記再起動信号生成手段における抵抗要
    素は、前記起動制御手段の前記論理素子の入力側と接地
    線との間に出力端子が接続され、ゲートが電源電圧線に
    接続された第3の電界効果トランジスタである請求項3
    記載の起動回路。
  5. 【請求項5】 前記起動制御手段における第1の電界効
    果トランジスタがpMOS電界効果トランジスタであ
    り、 第2の電界効果トランジスタがnMOS電界効果トラン
    ジスタであり、 前記論理素子がインバータであり、 前記再起動信号生成手段における第3の電界効果トラン
    ジスタがnMOS電界効果トランジスタである請求項2
    記載の起動回路。
  6. 【請求項6】 前記起動制御手段における第1の電界効
    果トランジスタがpMOS電界効果トランジスタであ
    り、 第2の電界効果トランジスタがnMOS電界効果トラン
    ジスタであり、 前記論理素子がインバータであり、 前記再起動信号生成手段における第3の電界効果トラン
    ジスタがnMOS電界効果トランジスタである請求項4
    記載の起動回路。
  7. 【請求項7】 前記再起動信号生成手段のnMOS電界
    効果トランジスタは、回路形成基板の上に分割して形成
    された複数のnMOS電界効果トランジスタからなり、 各複数のnMOS電界効果トランジスタの出力側が直列
    に接続され、 各複数のnMOS電界効果トランジスタのゲートが共通
    に接続されている請求項5記載の起動回路。
  8. 【請求項8】 前記再起動信号生成手段のnMOS電界
    効果トランジスタは、回路形成基板の上に分割して形成
    された複数のnMOS電界効果トランジスタからなり、 各複数のnMOS電界効果トランジスタの出力側が直列
    に接続され、 各複数のnMOS電界効果トランジスタのゲートが共通
    に接続されている請求項6記載の起動回路。
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