JP2003014626A - Ｓｏ３分析計におけるベース補正方法 - Google Patents
Ｓｏ３分析計におけるベース補正方法Info
- Publication number
- JP2003014626A JP2003014626A JP2001196483A JP2001196483A JP2003014626A JP 2003014626 A JP2003014626 A JP 2003014626A JP 2001196483 A JP2001196483 A JP 2001196483A JP 2001196483 A JP2001196483 A JP 2001196483A JP 2003014626 A JP2003014626 A JP 2003014626A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- absorbance
- spectrum
- wavelength
- base
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＳＯ3 分析に際して、吸光度スペクトルのベ
ース補正を正確に行うことができるＳＯ3 分析計におけ
るベース補正方法を提供する。 【解決手段】 煙道中の排ガス中のＳＯ3 を紫外線吸収
分析する際のベース補正方法において、ＳＯ3 の濃度を
変えたガスの吸光度スペクトルをとり、得られた吸光度
スペクトル中の波長２３０〜２６０ｎｍの範囲内での吸
光度がゼロとなるようにベースラインを合わせることで
吸光度スペクトルを補正し、その補正した吸光度スペク
トルを基に多変量解析にてＳＯ3 の検量線を作成するよ
うにしたようにしたものである。
ース補正を正確に行うことができるＳＯ3 分析計におけ
るベース補正方法を提供する。 【解決手段】 煙道中の排ガス中のＳＯ3 を紫外線吸収
分析する際のベース補正方法において、ＳＯ3 の濃度を
変えたガスの吸光度スペクトルをとり、得られた吸光度
スペクトル中の波長２３０〜２６０ｎｍの範囲内での吸
光度がゼロとなるようにベースラインを合わせることで
吸光度スペクトルを補正し、その補正した吸光度スペク
トルを基に多変量解析にてＳＯ3 の検量線を作成するよ
うにしたようにしたものである。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ボイラ、ごみ焼却
器等の燃焼設備の煙道中の排ガス中に含まれるＳＯ3 分
析計に係り、特に、その吸光度スペクトルの吸光度のベ
ースを的確に補正できるＳＯ3 分析計におけるベース補
正方法に関するものである。
器等の燃焼設備の煙道中の排ガス中に含まれるＳＯ3 分
析計に係り、特に、その吸光度スペクトルの吸光度のベ
ースを的確に補正できるＳＯ3 分析計におけるベース補
正方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ボイラやゴミ焼却器などの燃焼設備から
排出されるガスには硫黄酸化物や窒素酸化物の有害な成
分が含まれているため、排煙処理装置などで除去する必
要がある。
排出されるガスには硫黄酸化物や窒素酸化物の有害な成
分が含まれているため、排煙処理装置などで除去する必
要がある。
【０００３】この排煙処理装置は、ボイラーから排出さ
れた排ガスを脱硝装置で窒素酸化物（ＮＯx ）を除去
し、ガス−エアーヒータを通して熱回収し、電気集塵機
の手前でアンモニアを注入し、排ガス中に含まれるＳＯ
3 を硫安としてダストと共に除塵した後、湿式脱硫装置
に導入して排ガス中のＳＯ2 を吸収除去して大気に放出
する。
れた排ガスを脱硝装置で窒素酸化物（ＮＯx ）を除去
し、ガス−エアーヒータを通して熱回収し、電気集塵機
の手前でアンモニアを注入し、排ガス中に含まれるＳＯ
3 を硫安としてダストと共に除塵した後、湿式脱硫装置
に導入して排ガス中のＳＯ2 を吸収除去して大気に放出
する。
【０００４】このＳＯ3 の除去には、排ガス中のＳＯ3
量に応じたアンモニアの注入が必要であり、このために
は排ガス中のＳＯ3 量の測定が必要である。
量に応じたアンモニアの注入が必要であり、このために
は排ガス中のＳＯ3 量の測定が必要である。
【０００５】一般に、紫外線吸収分析でのガス中の濃度
の検出は、既知濃度の紫外線吸収スペクトルをとり、吸
光度を濃度毎にプロットした検量線を作成した後で、未
知濃度の吸光度と対比することで、ガスの濃度を求めて
いる。
の検出は、既知濃度の紫外線吸収スペクトルをとり、吸
光度を濃度毎にプロットした検量線を作成した後で、未
知濃度の吸光度と対比することで、ガスの濃度を求めて
いる。
【０００６】検量線による濃度の測定は、ランベルトベ
ールの法則により作成した検量線が、直線になるので、
その直線の式を求めれば、吸光度の代入で濃度が求めら
れるという原理による。
ールの法則により作成した検量線が、直線になるので、
その直線の式を求めれば、吸光度の代入で濃度が求めら
れるという原理による。
【０００７】この検量線に基づくボイラの排煙中のＳＯ
2 等のガス濃度を紫外線吸収分析により測定する場合、
煙道中の排ガスをポンプの吸引力でガスセル内に導入
し、そのガスセルに紫外線を透過して吸収スペクトルを
求めて計測することが行われている。ＳＯ2 の紫外線吸
収は、波長２８０ｎｍ近辺に吸収があるため、この波長
の吸光度を測定すれば、ＳＯ2 濃度が検出できるが、Ｓ
Ｏ3 に関しては、波長２８０ｎｍ近辺での吸収がなく、
２００〜２３０ｎｍの波長範囲に吸収がみられる。
2 等のガス濃度を紫外線吸収分析により測定する場合、
煙道中の排ガスをポンプの吸引力でガスセル内に導入
し、そのガスセルに紫外線を透過して吸収スペクトルを
求めて計測することが行われている。ＳＯ2 の紫外線吸
収は、波長２８０ｎｍ近辺に吸収があるため、この波長
の吸光度を測定すれば、ＳＯ2 濃度が検出できるが、Ｓ
Ｏ3 に関しては、波長２８０ｎｍ近辺での吸収がなく、
２００〜２３０ｎｍの波長範囲に吸収がみられる。
【０００８】この波長範囲には、ＳＯ2 の吸収もあるた
め、両者の吸収スペクトル帯が同じために、これらを個
々に計測することが困難であったが、本出願人が先に出
願した特願平１１−３７４１０６号（発明の名称：煙道
中のＳＯ3 ガスの濃度算出方法）により、ＳＯ2 とＳＯ
3 の濃度を検出することが可能となった。この濃度算出
方法は、ＳＯ3 の濃度を検出する際に妨害ガスとなるＳ
Ｏ2 を混入したガスで、ＳＯ3 の組成比を変えながら吸
光度スペクトルをとり、その吸光度スペクトルデータを
基に、ＰＬＳ（Partial Least Squares)等による多変量
解析により、ＳＯ2 とＳＯ3 検量線を作成し、その検量
線を基に、煙道中の排ガスを紫外線吸収分析して排ガス
中の、未知濃度のＳＯ2 とＳＯ3 を計測できるようにし
たものである。
め、両者の吸収スペクトル帯が同じために、これらを個
々に計測することが困難であったが、本出願人が先に出
願した特願平１１−３７４１０６号（発明の名称：煙道
中のＳＯ3 ガスの濃度算出方法）により、ＳＯ2 とＳＯ
3 の濃度を検出することが可能となった。この濃度算出
方法は、ＳＯ3 の濃度を検出する際に妨害ガスとなるＳ
Ｏ2 を混入したガスで、ＳＯ3 の組成比を変えながら吸
光度スペクトルをとり、その吸光度スペクトルデータを
基に、ＰＬＳ（Partial Least Squares)等による多変量
解析により、ＳＯ2 とＳＯ3 検量線を作成し、その検量
線を基に、煙道中の排ガスを紫外線吸収分析して排ガス
中の、未知濃度のＳＯ2 とＳＯ3 を計測できるようにし
たものである。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ＳＯ3 分析
において、ガスセルを透過した紫外線を分光器で分光
し、その光強度を検出して得られる生スペクトル（受光
強度スペクトル）を、図１１に示す。
において、ガスセルを透過した紫外線を分光器で分光
し、その光強度を検出して得られる生スペクトル（受光
強度スペクトル）を、図１１に示す。
【００１０】図１１において、ＳＯ2 とＳＯ3 が０ｐｐ
ｍのスペクトルと、ＳＯ2 とＳＯ3の組成比を種々変え
た（ＳＯ3 １０〜５０ｐｐｍ、ＳＯ2 ９５ｐｐｍ）スペ
クトルを示している。
ｍのスペクトルと、ＳＯ2 とＳＯ3の組成比を種々変え
た（ＳＯ3 １０〜５０ｐｐｍ、ＳＯ2 ９５ｐｐｍ）スペ
クトルを示している。
【００１１】この受光強度スペクトルから透過率スペク
トルは、測定するガスが０ｐｐｍのスペクトルのある波
長における受光強度をＰZ とし、対象とするガスの受光
強度をＰとすると、透過率Ｔは、 Ｔ ＝ Ｐ／ＰZ で求められ、図１２に示した透過率スペクトルが求めら
れる。
トルは、測定するガスが０ｐｐｍのスペクトルのある波
長における受光強度をＰZ とし、対象とするガスの受光
強度をＰとすると、透過率Ｔは、 Ｔ ＝ Ｐ／ＰZ で求められ、図１２に示した透過率スペクトルが求めら
れる。
【００１２】この透過率スペクトルから、吸光度スペク
トルを求めるには吸光度をＡとすると、 Ａ＝ −ｌｏｇＴ から求められ、図１３に示すような吸光度スペクトルが
求められる。
トルを求めるには吸光度をＡとすると、 Ａ＝ −ｌｏｇＴ から求められ、図１３に示すような吸光度スペクトルが
求められる。
【００１３】しかし、受光強度レベルは一定にならない
場合があり、そのため以下の容量でレベル補正を行うこ
とが一般に行われている。
場合があり、そのため以下の容量でレベル補正を行うこ
とが一般に行われている。
【００１４】図１４は、ＳＯ2 の吸光度スペクトル（４
００℃、ＳＯ2 濃度０〜９５ｐｐｍ、窒素希釈）を示し
たもので、３４０〜４４０ｎｍの波長の範囲には吸収が
ないが、受光強度レベルが一定とならないため、吸光度
は０とならない。
００℃、ＳＯ2 濃度０〜９５ｐｐｍ、窒素希釈）を示し
たもので、３４０〜４４０ｎｍの波長の範囲には吸収が
ないが、受光強度レベルが一定とならないため、吸光度
は０とならない。
【００１５】また図１４には、波長２８０ｎｍの吸光度
で求めた検量線を同時に示しているが、実際のＳＯ2 濃
度と波長２８０ｎｍの吸光度とは比例関係にならないこ
とを示している。
で求めた検量線を同時に示しているが、実際のＳＯ2 濃
度と波長２８０ｎｍの吸光度とは比例関係にならないこ
とを示している。
【００１６】図１５は、図１４の各スペクトルで、波長
３５０ｎｍ以上の波長領域吸光度をゼロとなるようベー
スラインを合わせて補正した吸光度スペクトルを示した
ものである。
３５０ｎｍ以上の波長領域吸光度をゼロとなるようベー
スラインを合わせて補正した吸光度スペクトルを示した
ものである。
【００１７】この場合の補正は、
Ａ補正（ν） ＝ Ａ（ν）−Ａ（３５０ｎｍ）
で行った。
【００１８】図１５の検量線にみられるようにベースを
補正することで、レベル補正の効果が認めれれる。
補正することで、レベル補正の効果が認めれれる。
【００１９】しかしながら、ＳＯ3 吸収の波長は、２３
０ｎｍにあり、３５０ｍｎから離れており、３５０ｍｎ
でベース補正したのでは、誤差が大きくなる。
０ｎｍにあり、３５０ｍｎから離れており、３５０ｍｎ
でベース補正したのでは、誤差が大きくなる。
【００２０】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、ＳＯ3 分析に際して、吸光度スペクトルのベース補
正を正確に行うことができるＳＯ3 分析計におけるベー
ス補正方法を提供することにある。
し、ＳＯ3 分析に際して、吸光度スペクトルのベース補
正を正確に行うことができるＳＯ3 分析計におけるベー
ス補正方法を提供することにある。
【００２１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１の発明は、煙道中の排ガス中のＳＯ3 を紫
外線吸収分析する際のベース補正方法において、各吸光
度スペクトルを波長２３０〜２６０ｎｍの範囲内で吸光
度をゼロとなるようにベースラインを合わせるようにし
たＳＯ3 分析計におけるベース補正方法である。
に、請求項１の発明は、煙道中の排ガス中のＳＯ3 を紫
外線吸収分析する際のベース補正方法において、各吸光
度スペクトルを波長２３０〜２６０ｎｍの範囲内で吸光
度をゼロとなるようにベースラインを合わせるようにし
たＳＯ3 分析計におけるベース補正方法である。
【００２２】請求項２の発明は、ＳＯ3 の濃度を変えた
ガスの吸光度スペクトルをとり、得られた吸光度スペク
トル中の波長約２４０ｎｍの吸光度がゼロとなるように
ベースラインを合わせることで吸光度スペクトルを補正
し、その補正した吸光度スペクトルを基に多変量解析に
てＳＯ3 の検量線を作成する請求項１記載のＳＯ3 分析
計におけるベース補正方法である。
ガスの吸光度スペクトルをとり、得られた吸光度スペク
トル中の波長約２４０ｎｍの吸光度がゼロとなるように
ベースラインを合わせることで吸光度スペクトルを補正
し、その補正した吸光度スペクトルを基に多変量解析に
てＳＯ3 の検量線を作成する請求項１記載のＳＯ3 分析
計におけるベース補正方法である。
【００２３】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適一実施の形態
を添付図面に基づいて詳述する。
を添付図面に基づいて詳述する。
【００２４】図１により、本発明におけるＳＯ3 ，ＮＨ
3 同時連続濃度計を説明する。
3 同時連続濃度計を説明する。
【００２５】図１において、１０は、ボイラからの排ガ
スが流れる煙道で、その煙道１０の排ガス流れ方向に沿
って、それぞれフランジ１１，１１を介して入口プロー
ブ１２と出口プローブ１３と煙道１０内に、排ガス流と
直交して突出するように設けられ、その出入口プローブ
１２，１３がバイパス配管１４で接続され、そのバイパ
ス配管１４にフィルタ１５とブロア１６が接続される。
スが流れる煙道で、その煙道１０の排ガス流れ方向に沿
って、それぞれフランジ１１，１１を介して入口プロー
ブ１２と出口プローブ１３と煙道１０内に、排ガス流と
直交して突出するように設けられ、その出入口プローブ
１２，１３がバイパス配管１４で接続され、そのバイパ
ス配管１４にフィルタ１５とブロア１６が接続される。
【００２６】フィルタ１５には、除塵後の排ガスをガス
セル１７に導入する導入配管１８が接続され、ガスセル
１７の出口側には、排気手段としての排気管１９が接続
され、その排気管１９にトラップ２０、圧力モニター２
１、制御弁２２、ポンプ２３、フローメータ２４が順次
接続されて排気手段が構成される。
セル１７に導入する導入配管１８が接続され、ガスセル
１７の出口側には、排気手段としての排気管１９が接続
され、その排気管１９にトラップ２０、圧力モニター２
１、制御弁２２、ポンプ２３、フローメータ２４が順次
接続されて排気手段が構成される。
【００２７】導入配管１８には、校正用ガス及び参照用
の標準ガスを供給するガス供給配管２５が接続され、そ
のガス供給配管２５に、開閉弁２６を介してゼロ測定用
の窒素ガス供給ボンベ２７が接続されると共に、開閉弁
２８を介して参照用の標準ガス供給ボンベ２９が接続さ
れる。またボンベ２７，２９には、供給ガス圧を調整す
るレギュレータ３０，３１が設けられている。
の標準ガスを供給するガス供給配管２５が接続され、そ
のガス供給配管２５に、開閉弁２６を介してゼロ測定用
の窒素ガス供給ボンベ２７が接続されると共に、開閉弁
２８を介して参照用の標準ガス供給ボンベ２９が接続さ
れる。またボンベ２７，２９には、供給ガス圧を調整す
るレギュレータ３０，３１が設けられている。
【００２８】導入配管１８とガス供給配管２５には、そ
れぞれ切換弁３２，３３が接続される。また導入配管１
８には、排気弁３４が接続される。
れぞれ切換弁３２，３３が接続される。また導入配管１
８には、排気弁３４が接続される。
【００２９】窒素ガス供給ボンベ２７は、窒素ガスの他
に空気でもよい。標準ガスは、ＳＯ 3 、アンモニア、そ
の他、安定なＳＯ2 ガスでもよい。
に空気でもよい。標準ガスは、ＳＯ 3 、アンモニア、そ
の他、安定なＳＯ2 ガスでもよい。
【００３０】バイパス配管１４、導入配管１８、ガス供
給配管２５には、ガスセル１７に導入するガスを３５０
〜４５０℃に保つための加熱ヒータ３５，３６，３７が
設けられている。またガスセル１７にも加熱ヒータ３８
が設けられる。
給配管２５には、ガスセル１７に導入するガスを３５０
〜４５０℃に保つための加熱ヒータ３５，３６，３７が
設けられている。またガスセル１７にも加熱ヒータ３８
が設けられる。
【００３１】ガスセル１７の一方には、Ｘｅランプ、重
水素ランプ、Ｘｅフラッシュランプなど紫外線を照射す
る光源４０が設けられると共に受光部４１が設けられ、
そのガスセル１７の両側に全反射ミラー４２，４３，４
４が設けられる。
水素ランプ、Ｘｅフラッシュランプなど紫外線を照射す
る光源４０が設けられると共に受光部４１が設けられ、
そのガスセル１７の両側に全反射ミラー４２，４３，４
４が設けられる。
【００３２】この全反射ミラー４２，４３，４４は、図
示のようにガスセル１７の光源４０と受光部４１に位置
して２枚の全反射ミラー４２，４３が、他方側に１枚の
全反射ミラー４４が配置され、光源４０からの紫外線Ｕ
Ｖが、全反射ミラー４２より反射されてガスセル１７を
透過し、他方のガスセル１７側に配置した全反射ミラー
４４で、反射されてガスセル１７を透過し、一方の全反
射ミラー４３より受光部４１に入射するようにされる。
示のようにガスセル１７の光源４０と受光部４１に位置
して２枚の全反射ミラー４２，４３が、他方側に１枚の
全反射ミラー４４が配置され、光源４０からの紫外線Ｕ
Ｖが、全反射ミラー４２より反射されてガスセル１７を
透過し、他方のガスセル１７側に配置した全反射ミラー
４４で、反射されてガスセル１７を透過し、一方の全反
射ミラー４３より受光部４１に入射するようにされる。
【００３３】このように、ガスセル１７内でマルチパス
を形成することで紫外線の吸光路長が長くすることがで
き測定精度を向上できる。
を形成することで紫外線の吸光路長が長くすることがで
き測定精度を向上できる。
【００３４】受光部４１に入射された紫外線ＵＶは、光
ファイバ４５を介して分光器４６で分光されると共にそ
の光強度が検出される。
ファイバ４５を介して分光器４６で分光されると共にそ
の光強度が検出される。
【００３５】分光器４６は、紫外線（領域０〜４００ｎ
ｍ）中の２００〜３５０ｎｍの範囲の波長を分光し、そ
れを光検出素子で検出し、その吸光度データが演算装置
４７に入力されて演算される。
ｍ）中の２００〜３５０ｎｍの範囲の波長を分光し、そ
れを光検出素子で検出し、その吸光度データが演算装置
４７に入力されて演算される。
【００３６】この図１において、煙道１０内の排ガスを
入口プローブ１２よりバイパス配管１４に導入し、フィ
ルタ１５でフライアッシュ等の固形分を除去した後、導
入配管１８よりガスセル１７内に排ガスを導入し、測定
後は、排気管１９よりトラップ２０にて排ガスを冷却し
て排ガス中のＳＯ3 等の腐食性ガス分を除去し、圧力モ
ニター２１で測定圧力をモニターした後、ポンプ２３よ
りフローメータ２４を介して系外に排気する。
入口プローブ１２よりバイパス配管１４に導入し、フィ
ルタ１５でフライアッシュ等の固形分を除去した後、導
入配管１８よりガスセル１７内に排ガスを導入し、測定
後は、排気管１９よりトラップ２０にて排ガスを冷却し
て排ガス中のＳＯ3 等の腐食性ガス分を除去し、圧力モ
ニター２１で測定圧力をモニターした後、ポンプ２３よ
りフローメータ２４を介して系外に排気する。
【００３７】このガスセル１７に排ガスを導入する際、
バイパス配管１４、導入配管１８には加熱ヒータ３５，
３６が設けられているため、排ガス温度が３５０〜４５
０℃に保たれるため、排ガス中のアンモニアとＳＯx が
反応して酸性硫安や硫安となることを防止できる。また
ガスセル１７内は、加熱ヒータ３８で、３５０〜４５０
℃に保たれるため、同様にアンモニアとＳＯx が反応す
ることがない。
バイパス配管１４、導入配管１８には加熱ヒータ３５，
３６が設けられているため、排ガス温度が３５０〜４５
０℃に保たれるため、排ガス中のアンモニアとＳＯx が
反応して酸性硫安や硫安となることを防止できる。また
ガスセル１７内は、加熱ヒータ３８で、３５０〜４５０
℃に保たれるため、同様にアンモニアとＳＯx が反応す
ることがない。
【００３８】計測後の排ガスは、排気管１９よりトラッ
プ２０で１００℃以下に冷却され、そこで、ＳＯ3 等の
腐食性ガスが除去されるため、圧力モニター２１は、腐
食環境から保護され、通常の半導体圧力計などが使用で
きる。
プ２０で１００℃以下に冷却され、そこで、ＳＯ3 等の
腐食性ガスが除去されるため、圧力モニター２１は、腐
食環境から保護され、通常の半導体圧力計などが使用で
きる。
【００３９】また、ＳＯ3 ，ＮＨ3 などの検量線を作成
する際には、窒素ガス供給ボンベ２７から窒素ガスを校
正ガス供給配管２５を介してガスセル１７内に供給して
セル内の透過率のゼロ測定を行い、標準ガス供給ボンベ
２９より、ＳＯ３ ，ＮＨ３,ＳＯ2 等の参照用の標準ガ
スをガスセル１７内に供給すると共にこれらガスを加熱
ヒータ３７で、測定時の温度３５０〜４５０℃に保って
計測を行う、この場合、ガスセル１７内の圧力が変化す
ると吸光度も変化するため、圧力モニター２１にて、測
定圧力が一定となるように排気手段の制御弁２２を制御
する。
する際には、窒素ガス供給ボンベ２７から窒素ガスを校
正ガス供給配管２５を介してガスセル１７内に供給して
セル内の透過率のゼロ測定を行い、標準ガス供給ボンベ
２９より、ＳＯ３ ，ＮＨ３,ＳＯ2 等の参照用の標準ガ
スをガスセル１７内に供給すると共にこれらガスを加熱
ヒータ３７で、測定時の温度３５０〜４５０℃に保って
計測を行う、この場合、ガスセル１７内の圧力が変化す
ると吸光度も変化するため、圧力モニター２１にて、測
定圧力が一定となるように排気手段の制御弁２２を制御
する。
【００４０】また、圧力と吸光度は一定の比例関係にあ
るため、圧力モニター２１で検出した測定時の圧力に応
じて吸光度データを補正するようにしてもよい。
るため、圧力モニター２１で検出した測定時の圧力に応
じて吸光度データを補正するようにしてもよい。
【００４１】さて、上述したように図１３は、ベース補
正を行う前の各サンプルガスの吸光度スペクトル（４０
０℃、ＳＯ3 濃度０〜５０ｐｐｍ、ＳＯ2 濃度９５ｐｐ
ｍ、窒素希釈）であり、これをベース補正する場合を説
明する。
正を行う前の各サンプルガスの吸光度スペクトル（４０
０℃、ＳＯ3 濃度０〜５０ｐｐｍ、ＳＯ2 濃度９５ｐｐ
ｍ、窒素希釈）であり、これをベース補正する場合を説
明する。
【００４２】先ず、図３〜図１０において、図３は、波
長２４２ｎｍでベース補正を行った吸光度スペクトル
を、図４は、波長２３０ｎｍでベース補正を行った吸光
度スペクトルを示し、図５は、波長２０１ｎｍでベース
補正を行った吸光度スペクトルを、図６は、波長２１３
ｎｍでベース補正を行った吸光度スペクトルを、図７
は、波長２６５ｎｍでベース補正を行った吸光度スペク
トルを、図８は、波長２８６ｎｍでベース補正を行った
吸光度スペクトルを、図９は、波長３００ｎｍでベース
補正を行った吸光度スペクトルを、図１０は、波長３５
０ｎｍでベース補正を行った吸光度スペクトルを、それ
ぞれ示す。
長２４２ｎｍでベース補正を行った吸光度スペクトル
を、図４は、波長２３０ｎｍでベース補正を行った吸光
度スペクトルを示し、図５は、波長２０１ｎｍでベース
補正を行った吸光度スペクトルを、図６は、波長２１３
ｎｍでベース補正を行った吸光度スペクトルを、図７
は、波長２６５ｎｍでベース補正を行った吸光度スペク
トルを、図８は、波長２８６ｎｍでベース補正を行った
吸光度スペクトルを、図９は、波長３００ｎｍでベース
補正を行った吸光度スペクトルを、図１０は、波長３５
０ｎｍでベース補正を行った吸光度スペクトルを、それ
ぞれ示す。
【００４３】補正とする波長は、特に吸収がゼロの位置
にする必要はなく、測定したＳＯ2とＳＯ3 の混合ガス
によるＰＬＳ法で求めた検量線の誤差（ＳＥＣ）を、ベ
ースにした波長毎に比較したグラフを図２に示した。図
２（ａ）は、ＳＯ2 の標準誤差を、図２（ｂ）は、ＳＯ
3 の標準誤差を示したものである。
にする必要はなく、測定したＳＯ2とＳＯ3 の混合ガス
によるＰＬＳ法で求めた検量線の誤差（ＳＥＣ）を、ベ
ースにした波長毎に比較したグラフを図２に示した。図
２（ａ）は、ＳＯ2 の標準誤差を、図２（ｂ）は、ＳＯ
3 の標準誤差を示したものである。
【００４４】図２において、ベース位置補正の波長に対
応する誤差（ＳＥＣ ｐｐｍ）は、図３〜図１０の補正
した吸光度スペクトルをＰＬＳ法で解析したときの濃度
と実際のサンプルガスとの濃度から求め、平均は、スペ
クトル全体の平均で、下式のようにしてベース補正した
ものである。
応する誤差（ＳＥＣ ｐｐｍ）は、図３〜図１０の補正
した吸光度スペクトルをＰＬＳ法で解析したときの濃度
と実際のサンプルガスとの濃度から求め、平均は、スペ
クトル全体の平均で、下式のようにしてベース補正した
ものである。
【００４５】Ａ補正（ν） ＝ Ａ（ν） − Ａ（ベ
ース補正波長） 図２（ａ）、図２（ｂ）に示すように、波長３５０ｎｍ
がベース補正によいというものではないことが分かる。
ース補正波長） 図２（ａ）、図２（ｂ）に示すように、波長３５０ｎｍ
がベース補正によいというものではないことが分かる。
【００４６】図２（ａ）のＳＯ2 の標準誤差で、３５０
ｎｍの計測誤差が大きい理由は、計測している波長（２
００〜２６０ｍｎ）から離れているためと、ガスセル１
７が排熱の関係で光学的にオープンであり、３５０ｎｍ
は可視領域に近いため室内の蛍光灯等のノイズの影響が
あることで精度を落としているのが原因と考えられる。
ｎｍの計測誤差が大きい理由は、計測している波長（２
００〜２６０ｍｎ）から離れているためと、ガスセル１
７が排熱の関係で光学的にオープンであり、３５０ｎｍ
は可視領域に近いため室内の蛍光灯等のノイズの影響が
あることで精度を落としているのが原因と考えられる。
【００４７】結果的には、図３に示した波長２４２ｎｍ
でのベース補正が、ＳＯ2 、ＳＯ3共に最も誤差が小さ
くなっている（ＳＯ2 で０．０６ｐｐｍ、ＳＯ3 で０．
２５ｐｐｍ）。
でのベース補正が、ＳＯ2 、ＳＯ3共に最も誤差が小さ
くなっている（ＳＯ2 で０．０６ｐｐｍ、ＳＯ3 で０．
２５ｐｐｍ）。
【００４８】この理由は、以下によるものと考えられ
る。
る。
【００４９】・ＳＯ2 の二つの吸収線の山の谷間で吸光
度が小さいため、調整したガス濃度の誤差によるスペク
トル変動が小さいこと。
度が小さいため、調整したガス濃度の誤差によるスペク
トル変動が小さいこと。
【００５０】・吸収の大きな部分に比較的近いこと。
【００５１】従って、吸収線の山の谷間である２３０〜
２６０ｎｍの範囲の波長でベース補正を行うことで誤差
の少ない吸光度スペクトルに補正し、これを基にＳＯ3
の分析を行うことで、精度のよいガス分析が行える。
２６０ｎｍの範囲の波長でベース補正を行うことで誤差
の少ない吸光度スペクトルに補正し、これを基にＳＯ3
の分析を行うことで、精度のよいガス分析が行える。
【００５２】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、吸収があ
る波長の谷間の波長（２３０〜２６０ｎｍ）でベース補
正を行うことで、計測波長から近い位置でベース補正を
することで、誤差が少なくなり、正確な計測及び測定装
置の簡略化（測定波長を狭くすることができる）が可能
となる。
る波長の谷間の波長（２３０〜２６０ｎｍ）でベース補
正を行うことで、計測波長から近い位置でベース補正を
することで、誤差が少なくなり、正確な計測及び測定装
置の簡略化（測定波長を狭くすることができる）が可能
となる。
【図１】本発明の一実施の形態を示す図である。
【図２】本発明において、各波長でのベース補正に基づ
くＳＯ２ とＳＯ3 の標準誤差を示す図である。
くＳＯ２ とＳＯ3 の標準誤差を示す図である。
【図３】本発明において、波長２４２ｎｍでベース補正
した吸光度スペクトルを示す図図である。
した吸光度スペクトルを示す図図である。
【図４】本発明において、波長２３０ｎｍでベース補正
した吸光度スペクトルを示す図図である。
した吸光度スペクトルを示す図図である。
【図５】本発明において、波長２０１ｎｍでベース補正
した吸光度スペクトルを示す図図である。
した吸光度スペクトルを示す図図である。
【図６】本発明において、波長２１３ｎｍでベース補正
した吸光度スペクトルを示す図図である。
した吸光度スペクトルを示す図図である。
【図７】本発明において、波長２６５ｎｍでベース補正
した吸光度スペクトルを示す図図である。
した吸光度スペクトルを示す図図である。
【図８】本発明において、波長２８６ｎｍでベース補正
した吸光度スペクトルを示す図図である。
した吸光度スペクトルを示す図図である。
【図９】本発明において、波長３００ｎｍでベース補正
した吸光度スペクトルを示す図図である。
した吸光度スペクトルを示す図図である。
【図１０】本発明において、波長３５０ｎｍでベース補
正した吸光度スペクトルを示す図図である。
正した吸光度スペクトルを示す図図である。
【図１１】紫外線分析における受光強度スペクトルを示
す図である。
す図である。
【図１２】図１１の受光強度スペクトルから求めた透過
率スペクトルを示す図である。
率スペクトルを示す図である。
【図１３】図１２の透過率スペクトルから求めた吸光度
スペクトルを示す図である。
スペクトルを示す図である。
【図１４】ベース補正する前のＳＯ2 吸光度スペクトル
と検量線を示す図である。
と検量線を示す図である。
【図１５】従来例に基づいてベース補正した後のＳＯ2
吸光度スペクトルと検量線を示す図である。
吸光度スペクトルと検量線を示す図である。
１０ 煙道
１７ ガスセル
４０ 光源（Ｘｅランプ）
４６ 分光器
４７ 演算装置
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 小林 健
東京都江東区豊洲三丁目１番15号 石川島
播磨重工業株式会社東京エンジニアリング
センター内
(72)発明者 八木 武人
東京都江東区豊洲三丁目１番15号 石川島
播磨重工業株式会社東京エンジニアリング
センター内
(72)発明者 小原 正孝
東京都江東区豊洲三丁目２番16号 石川島
播磨重工業株式会社東京エンジニアリング
センター技術開発本部内
(72)発明者 鈴木 孝平
神奈川県横浜市磯子区新中原町１番地 石
川島播磨重工業株式会社機械・プラント開
発センター内
Ｆターム(参考） 2G059 AA01 BB01 CC06 DD12 DD16
EE01 EE12 FF08 GG10 HH03
HH06 JJ01 JJ13 JJ17 KK01
MM01 MM03 MM12 MM17
Claims (2)
- 【請求項１】 煙道中の排ガス中のＳＯ3 を紫外線吸収
分析する際のベース補正方法において、各吸光度スペク
トルを波長２３０〜２６０ｎｍの範囲内で吸光度をゼロ
とすることでベースラインを合わせることを特徴とする
ＳＯ3 分析計におけるベース補正方法。 - 【請求項２】 ＳＯ3 の濃度を変えたガスの吸光度スペ
クトルをとり、得られた吸光度スペクトル中の波長約２
４０ｎｍの吸光度がゼロとなるようにベースラインを合
わせることで吸光度スペクトルを補正し、その補正した
吸光度スペクトルを基に多変量解析にてＳＯ3 の検量線
を作成する請求項１記載のＳＯ3 分析計におけるベース
補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001196483A JP2003014626A (ja) | 2001-06-28 | 2001-06-28 | Ｓｏ３分析計におけるベース補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001196483A JP2003014626A (ja) | 2001-06-28 | 2001-06-28 | Ｓｏ３分析計におけるベース補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003014626A true JP2003014626A (ja) | 2003-01-15 |
Family
ID=19034289
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001196483A Pending JP2003014626A (ja) | 2001-06-28 | 2001-06-28 | Ｓｏ３分析計におけるベース補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003014626A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2411007A (en) * | 2004-02-09 | 2005-08-17 | Gen Electric | Displaying combustion conditions in boiler exhaust gases |
| JP2010151624A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Toyota Motor Corp | Ｆｔｉｒ法を用いたガス分析装置及びこれに用いるプログラム |
| JP2010210594A (ja) * | 2009-03-12 | 2010-09-24 | Toyota Motor Corp | 炭化水素濃度測定装置および炭化水素濃度測定方法 |
| CN104198416A (zh) * | 2014-09-15 | 2014-12-10 | 南京国电环保科技有限公司 | 一种光谱仪波长漂移引起的测量误差实时补偿方法 |
| CN109827922A (zh) * | 2019-03-20 | 2019-05-31 | 深圳市艾科尔特检测有限公司 | 受铜离子污染水中硝酸盐氮测定时铜离子干扰的校正方法 |
-
2001
- 2001-06-28 JP JP2001196483A patent/JP2003014626A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2411007A (en) * | 2004-02-09 | 2005-08-17 | Gen Electric | Displaying combustion conditions in boiler exhaust gases |
| GB2411007B (en) * | 2004-02-09 | 2008-09-10 | Gen Electric | Method and system for real time reporting of boiler adjustment using emission sensor data mapping |
| JP2010151624A (ja) * | 2008-12-25 | 2010-07-08 | Toyota Motor Corp | Ｆｔｉｒ法を用いたガス分析装置及びこれに用いるプログラム |
| JP2010210594A (ja) * | 2009-03-12 | 2010-09-24 | Toyota Motor Corp | 炭化水素濃度測定装置および炭化水素濃度測定方法 |
| CN104198416A (zh) * | 2014-09-15 | 2014-12-10 | 南京国电环保科技有限公司 | 一种光谱仪波长漂移引起的测量误差实时补偿方法 |
| CN109827922A (zh) * | 2019-03-20 | 2019-05-31 | 深圳市艾科尔特检测有限公司 | 受铜离子污染水中硝酸盐氮测定时铜离子干扰的校正方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101694460B (zh) | 烟气污染物浓度的自适应差分吸收光谱测量方法及装置 | |
| US20200200674A1 (en) | Gas Analyzer For Measuring Nitrogen Oxides And Least One Further Component Of An Exhaust Gas | |
| JPWO2015181879A1 (ja) | ガス分析計 | |
| KR20150022818A (ko) | 추출 암모니아 연속 모니터링 시스템 | |
| KR102114557B1 (ko) | 두개의 기능적 채널을 이용한 ndir 분석기 | |
| JP2003014626A (ja) | Ｓｏ３分析計におけるベース補正方法 | |
| JP2003014637A (ja) | Ｓｏ３濃度計測装置 | |
| JP2001289783A (ja) | 排ガス中のｓｏ３濃度測定方法及び装置 | |
| JP4899259B2 (ja) | Ｓｏ３，ｎｈ３同時連続濃度計 | |
| CN112857961A (zh) | 一种大气有机硝酸酯的分类测量方法及系统 | |
| JP2006284508A (ja) | 車両搭載型排気ガス分析装置 | |
| JP4678107B2 (ja) | ボイラ設備 | |
| JP2003042949A (ja) | 多成分濃度分析装置 | |
| Zhang et al. | An optical system for measuring nitric oxide using spectral separation techniques | |
| JP2003014625A (ja) | Ｓｏ３，ｎｈ３同時連続濃度計 | |
| JP2003014627A (ja) | 多成分分析計の検量線作成方法 | |
| JP4674417B2 (ja) | Ｓｏ３濃度計 | |
| JP4211173B2 (ja) | 煙道中のｓｏ３ガスの濃度算出方法 | |
| JP2003014635A (ja) | Ｓｏ３，ｎｈ３同時連続濃度計 | |
| JP4164972B2 (ja) | Ｓｏ３濃度計 | |
| JP2001188041A (ja) | Ｓｏ３濃度計 | |
| Wang et al. | Applications of optical measurement technology in pollution gas monitoring at thermal power plants | |
| JP2001188043A (ja) | 煙道中のｓｏ３ガスの濃度算出方法 | |
| CN114112936A (zh) | 一种锅炉水冷壁的近壁烟气成分测量装置及方法 | |
| JP2003014632A (ja) | 紫外線吸収等によるガス濃度モニターのガス圧補正方法及び補正システム |