JP2003007432A - セラミックスヒータ - Google Patents
セラミックスヒータInfo
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Abstract
ミックスヒータを提供する。 【解決手段】 セラミックスヒータ10は、窒化アルミ
ニウムからなる円形のヒータプレート12と、厚さが1
00μmから175μmの高融点金属からなる金属箔ヒ
ータ線13とを備えている。金属箔ヒータ線13はヒー
タプレート12に埋設されている。このヒータ線13
は、ヒータプレート12の中心12a寄りの位置におい
てヒータプレート12の周方向に第1のピッチP1でジ
グザグ形状に形成された内側部分13aと、ヒータプレ
ート12の外周12b寄りの位置においてヒータプレー
ト12の周方向に第2のピッチP2でジグザグ形状に形
成された外側部分13bとを有している。第2のピッチ
P2は第1のピッチP1よりも小さい。
Description
造プロセス等においてウエハーやガラス基板等のワーク
を加熱するために使用されるセラミックスヒータに関す
る。
(Chemical Vapor Deposition)やPVD(Plasma Vapo
r Deposition)、エッチング等の処理を行うために、ウ
エハーを加熱するセラミックスヒータが使われている。
また、ガラス基板に薄膜を形成するための成膜装置にお
いても、セラミックスヒータが使われている。
第3011528号公報に記載されているように、セラ
ミックスからなるヒータプレートと、ヒータプレートに
埋設された金属箔ヒータ線などを含んでいる。ヒータプ
レートは、窒化けい素や窒化アルミニウムなどの焼結体
によって構成されている。タングステン等の高融点金属
からなる金属箔ヒータ線は、ヒータプレートの内部に同
心円状あるいは渦巻き状に埋設されている。
ータ、特に厚さ50μm以下の金属箔ヒータ線が、焼結
セラミックスに埋設されている。セラミックスヒータ
は、以下に述べる問題が発生する可能性があった。
さいため、下記面積比(S1/S2)がかなり小さくな
る。ここでS1はヒータ線の総表面積、S2はヒータプ
レートのワーク載置面の面積である。この場合、ヒータ
プレートの径方向にヒータ線が存在しない領域が多く存
在することから、図4に2点鎖線L1で示すように、ヒ
ータプレートの中心から外周に向かって、径方向の温度
変化が大きくなる。すなわち均熱性に劣る。
を加熱するヒータプレートは、温度分布を均一に保つ必
要があるため、ヒータプレートの温度むらは大きな問題
である。さらに、ヒータプレートに温度むらが生じる
と、温度分布が均一な場合に比べて大きな熱応力がヒー
タプレートに作用し、ヒータプレートが破損する原因と
なる。
料粉に埋設し焼結する過程で、ヒータ線の表面層がセラ
ミックス原料中の炭素と反応し、炭化することによって
粒界割れが発生することがある。ここでヒータ線の厚さ
が薄いと、図7あるいは図8に示すように、ヒータ線1
とセラミックス2との間の反応層3から、粒界割れ4が
ヒータ線1の内部に進行してしまう。図7に示すヒータ
線1の厚さは25μm、図8に示すヒータ線1の厚さは
50μmである。図7と図8は、いずれもSEM写真
(走査電子顕微鏡写真)をもとにして描いた断面図であ
る。
ミックス原料粉を焼結する過程で、ヒータ線の電気抵抗
が正常値よりも高くなる原因となる。ヒータ線の電気抵
抗値が大きくなると、電流が十分に流れることができ
ず、セラミックスヒータの温度特性に悪影響を与える。
積が小さいため、ヒータ線の負荷密度(Q/S1)が高
い。ここでQはヒータ線の発熱量、S1はヒータ線の総
表面積である。負荷密度が高いと、使用時(電流が流れ
たとき)にヒータ線が断線する可能性がある。また、ヒ
ータ線が薄いために、ヒータ線の厚みのばらつきが、発
熱量の大きな変動を引き起こし、均熱性に悪影響を与え
る。しかも、ヒータ線をセラミックス原料中に埋設する
際に十分注意しないと、埋設の際、あるいは焼結時にヒ
ータ線が切れるおそれがある。
発熱量が安定しているセラミックスヒータを提供するこ
とにある。
ータは、セラミックスからなるヒータプレートと、厚さ
が100μmから175μmの高融点金属からなり前記
ヒータプレートに埋設された金属箔ヒータ線とを具備し
ている。前記ヒータプレートは、例えば窒化アルミニウ
ム(AlN)からなる。この発明の金属箔ヒータ線は厚
さが100μm以上であるため、従来の金属箔ヒータ線
(厚さ50μm以下)と比較して、同一発熱量であれば
長いヒータ線を用いることができる。このヒータ線は、
例えば、同一平面上にジグザグ形状に形成される。
性をさらに高めるために、前記金属箔ヒータ線が、前記
ヒータプレートの中心寄りの位置において該ヒータプレ
ートの周方向に第1のピッチでジグザグ形状に形成され
た内側部分と、前記ヒータプレートの外周寄りの位置に
おいて該ヒータプレートの周方向に第2のピッチでジグ
ザグ形状に形成された外側部分とを有し、前記第2のピ
ッチを前記第1のピッチよりも小さくしている。
て、図1から図6を参照して説明する。図1と図2に示
すように、セラミックスヒータ10は、窒化アルミニウ
ム等のセラミックス11からなる略円形のヒータプレー
ト12と、ヒータプレート12に埋設された金属箔ヒー
タ線13とを備えている。ヒータプレート12はセラミ
ックス原料粉を所定の形状に焼結したものである。な
お、図1においてはヒータプレート12の輪郭のみが示
されている。
導体製造装置あるいはガラス基板の成膜装置などに使用
される。ヒータプレート12の上面は半導体ウエハー等
のワークを乗せる平坦なワーク載置面14となってい
る。ヒータプレート12の直径は例えば250mm前後
である。ヒータプレート12の厚さは、例えば15mm
〜30mmである。ただしこれらの寸法は加熱すべきワ
ークの寸法等の仕様に応じて適宜設定されるため、上記
の値に制約されることはない。ヒータプレート12の材
料として、窒化アルミニウム以外に、例えばアルミナや
マグネシア等を用いてもよい。
ト12に金属箔ヒータ線13が埋設されている。金属箔
ヒータ線13の厚さTは、後述する理由により、100
μmから175μmの範囲としている。このヒータ線1
3は、高融点金属(例えばモリブデンあるいはタングス
テン)からなり、エッチング等の製造方法によって、同
一平面上にジグザグ形状に形成されている。ヒータ線1
3の幅Wは、例えば2〜3mm前後である。
に模式的に示したように、第1の方向Xに延びる部分X
1と、この部分X1の端から第2の方向Yに延びる部分
Y1と、この部分Y1の端から再び第1の方向Xに延び
る部分X2と、この部分X2の端から第1の方向Yとは
逆方向に延びる第4の部分Y2とが、順次連なる形状で
ある。第1の方向Xと第2の方向Yとのなす角度は90
度以外でもよい。各部分X1,Y1,X2,Y2は、湾
曲していてもよい。
の中心12a寄りの位置に形成された内側部分13a
と、ヒータプレート12の外周12b寄りの位置に形成
された外側部分13bとを有している。内側部分13a
は、ヒータプレート12の周方向に、第1のピッチP1
でジグザグ形状に形成されている。外側部分13bは、
ヒータプレート12の周方向に、第2のピッチP2でジ
グザグ形状に形成されている。
中間部分13cが形成されている。中間部分13cのピ
ッチP3は、内側部分13aのピッチP1よりも小さ
く、外側部分13bのピッチP2よりも大きい。これら
内側部分13aと外側部分13bと中間部分13cは、
互いに電気的に直列に接続されている。
が設けられている。金属端子15,16は、ヒータプレ
ート12に、ろう付け等によって固定されている。金属
端子15,16に電圧を印加し、ヒータ線13に電流を
流すことによって、ヒータ線13が発熱する。ヒータ線
13が発熱することにより、ヒータプレート12が加熱
され、ワーク載置面14上のワークが加熱される。
分は、中心12a寄りの部分よりも放熱しやすい。しか
しこの実施形態では、外側部分13bのピッチP2を内
側部分13aのピッチP1よりも大きくすることによ
り、ヒータプレート12の径方向の温度分布を、より均
等なものにすることができる。
m以上であり、従来の金属箔ヒータ線と比較して断面積
が数倍以上ある。例えばヒータ線13の厚さが100μ
mの場合、厚さが25μmの従来のヒータ線と同じ電気
抵抗値にするためには、ヒータ線13の長さが4倍以上
必要である。
れだけ前記面積比(S1/S2)が大きく、ヒータプレ
ート12の径方向にヒータ線13が存在しない領域が減
ることになる。この実施形態のセラミックスヒータ10
は、図4に実線L2で示すように、従来のヒータ線を用
いたセラミックスヒータの温度分布L1と比較して、ヒ
ータプレート12の径方向の温度変化が小さくなる。す
なわち均熱性に優れている。
ックス11を焼結する過程で、ヒータ線13の表面層が
セラミックス原料中の炭素と反応し、炭化することによ
って粒界割れが生じることがある。しかしこの実施形態
のセラミックスヒータ10はヒータ線13が100μm
以上と厚いため、ヒータ線13の内部にまで粒界割れが
進行することを回避できる。
SEM写真(走査電子顕微鏡写真)をもとにして描いた
断面図である。図5に示すヒータ線13の厚さは100
μmである。図6に示すヒータ線13の厚さは150μ
mである。図5と図6のいずれの場合も、ヒータ線13
はモリブデン、セラミックス11は窒化アルミニウムで
ある。
タ線13の表面層20に生じる粒界割れはヒータ線13
の表面層20にとどまっている。ヒータ線13の内部に
見られる微小欠陥21は粒界割れとは無関係であり、ヒ
ータ線13の性能に悪影響を与えるほどではない。
μm以上にすることにより、粒界割れがヒータ線13の
断面全体に及ぶことが回避された。このため、セラミッ
クス原料粉の焼結過程でヒータ線13の電気抵抗が正常
値よりも高くなってしまうことを防止でき、セラミック
スヒータ10の温度特性が向上する。
μmから200μmまで種々に変えた場合に、ヒータ線
の割れの有無と、ヒータプレート(セラミックス)の割
れの有無を調べた結果をそれぞれ示している。表1と表
2中の×は割れが見られた場合を示し、○は割れが見ら
れなかった場合を示している。
25μmと50μの場合は、ヒータ線が割れることがあ
った。ヒータ線の厚さが100μm以上になると、ヒー
タ線が割れることはなかった。表2に示されるように、
ヒータ線の厚さが200μmを越えると、ヒータ線に通
電したとき(発熱時)に、セラミックスが割れてしまっ
た。セラミックスが割れた理由は、ヒータ線が厚くなる
ほど、ヒータ線とセラミックスとの熱膨張差の影響が大
きくなるためと考えられる。
は、ヒータ線13が100μm以上と厚く、断面積が大
きいため、従来のヒータ線よりも負荷密度が低く、使用
時にヒータ線13が断線する可能性が抑制された。ま
た、ヒータ線13が厚いため、ヒータ線13の厚さのば
らつきによって発熱量が大きく変動することも回避で
き、均熱性をさらに高めることができた。
いため、セラミックス原料粉に埋設する際に取扱いが容
易であり、ヒータ線13を所定の位置に埋設することが
容易となる。このため、ヒータ線13を埋設する際にヒ
ータ線13が切れたり、セラミックス11の焼結時にヒ
ータ線13が切れる危険性を抑制できる。
ヒータ線の厚さを100μm〜175μmの範囲に限定
する。
ータプレートや金属箔ヒータ線の形状や材質、ヒータ線
のパターンなど、発明の構成要素を本発明の要旨を逸脱
しない範囲で適宜に変形して実施できることは言うまで
もない。
の金属箔ヒータ線を用いたセラミックスヒータと比較し
て、十分長い金属箔ヒータ線をヒータプレートに埋設す
ることができる。このためヒータプレートの均熱性が向
上する。本発明によれば、セラミックスの焼結時にヒー
タ線の表面層に生じることのある粒界割れがヒータ線の
断面全体に及ぶことを回避できる。このためヒータ線が
割れることによる発熱量のばらつきを抑制することがで
きる。
ルミニウムからなるヒータプレートにおいて、ヒータプ
レートの均熱性が向上するとともに、ヒータ線が割れる
ことによる発熱量のばらつきを抑制することができる。
請求項3に記載した発明によれば、長い金属箔ヒータ線
をヒータプレート内の同一平面上にレイアウトすること
が可能となり、均熱性をさらに向上させることができ
る。請求項4に記載した発明によれば、ヒータプレート
の径方向の温度分布をさらに均一にすることができる。
属箔ヒータ線を示す平面図。
タの一部の断面図。
ラミックスヒータの径方向の温度分布をそれぞれ示す
図。
ミックスヒータの一部を拡大して示す断面図。
ミックスヒータの一部を拡大して示す断面図。
セラミックスヒータの一部を拡大して示す断面図。
セラミックスヒータの一部を拡大して示す断面図。
Claims (4)
- 【請求項1】セラミックスからなるヒータプレートと、 厚さが100μmから175μmの高融点金属からなり
前記ヒータプレートに埋設された金属箔ヒータ線と、 を具備したことを特徴とするセラミックスヒータ。 - 【請求項2】前記ヒータプレートが窒化アルミニウムか
らなることを特徴とする請求項1記載のセラミックスヒ
ータ。 - 【請求項3】前記金属箔ヒータ線が同一平面上にジグザ
グ形状に形成されていることを特徴とする請求項1記載
のセラミックスヒータ。 - 【請求項4】前記金属箔ヒータ線が、前記ヒータプレー
トの中心寄りの位置において該ヒータプレートの周方向
に第1のピッチで形成された内側部分と、前記ヒータプ
レートの外周寄りの位置において該ヒータプレートの周
方向に第2のピッチで形成された外側部分とを有し、前
記第2のピッチが前記第1のピッチよりも小さいことを
特徴とする請求項3記載のセラミックスヒータ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001188285A JP3642746B2 (ja) | 2001-06-21 | 2001-06-21 | セラミックスヒータ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2003007432A true JP2003007432A (ja) | 2003-01-10 |
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ID=19027415
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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