JP2002359312A - 電子部品容器 - Google Patents
電子部品容器Info
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/161—Cap
- H01L2924/1615—Shape
- H01L2924/16195—Flat cap [not enclosing an internal cavity]
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- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
Abstract
いられるはんだ封止に変えて、鉛ふりはんだを用いた場
合のはんだ強度とはんだ(ぬれ)性を改善することを目
的とする。 【解決手段】 課題を解決するために本発明は、少なく
とも接合面に鉛フリーはんだを塗布したフタ部により密
閉容器構造を成す電子部品容器において、該フタ部に塗
布する鉛フリーはんだ部と当接する容器部には、金スズ
合金めっき膜を形成することにより課題を解決する。
Description
面波素子をはんだ封止により収納する容器に用いる鉛フ
リーはんだ付け性の改善に関する。
された容器においては、フタ部と容器部ははんだの塗布
の信頼性と安定を考慮しセラミック材料などにメタライ
ズ処理により金属メッキがなされてる。この場合、フタ
部の少なくとも片面にはんだ処理がなされ、容器部の封
止面であるセラミック封止面に処理される、はんだ封止
の接合を考慮したメタライズ層とによるはんだ封止がな
されている。この容器部とフタ部とを所定の位置に合わ
せトンネル炉内を通過させ、弾性表面波素子を収納する
気密容器の封止を行っている。この場合、フタ部と容器
のはんだ封止には、はんだ濡れ性、耐熱性、密着性等の
特性が要求されることから、はんだの材質としては、鉛
はんだを現行製品に広く多用している現状にある。
封止に用いるはんだは、鉛はんだであることから、近年
の環境問題の中で鉛による環境汚染が大きな問題となっ
ている。鉛はんだに関しては、家電製品、自動車部品な
どの電機部品の接合材料として広く使用されており、こ
れらが廃棄物として放置されたとき、例えば雨水(酸性
雨等)の酸性雰囲気に曝されると、はんだ中の鉛が溶出
して、地下水を汚染することが問題となってきている。
そこで、鉛を含まないいわゆる鉛フリーはんだの開発が
進められ、Sn−Ag−Cu系、Sn−Ag−Bi系、
Sn−Ag−Bi−Cu系、Sn−Cu系等の鉛フリー
はんだが開発されている。
た場合、鉛フリーはんだを用いたはんだ封止の機械的強
度(封止強度)が、従来のはんだ封止強度より劣るとい
う周知の事実があり、本発明の目的は、上記の従来のは
んだ封止に対し、鉛フリーはんだ技術の現状の課題であ
る、はんだ封止時のクラックの発生を防止して濡れ性の
低下が無い、はんだ封止強度など高い信頼性のはんだ封
止を実現することにある。
ために、少なくとも接合面に鉛フリーはんだを塗布した
フタ部により密閉容器構造を成す電子部品容器におい
て、該フタ部に塗布する鉛フリーはんだ部と当接する容
器部には、金スズ合金めっき膜を形成する電子部品容器
であり、前記スズ合金めっき膜が施されている。
たはんだ封止のはんだ封止強度を改善するもので、鉛フ
リーはんだと最も相性のよい金スズ合金めっき膜を施し
たことを発明者が探求したものである。本発明により、
従来のはんだ封止と同様のはんだ封止強度を確保し、鉛
フリーはんだ化することにより環境汚染問題をも解消す
ることを達成するものである。
明の実施例を説明する。なお、各図において同一の符号
は同様の対象を示すものとする。図1は本発明の電子部
品容器2の構造を示す部分断面図である。フタ部1と容
器部3はセラミック材料、あるいは樹脂材料で構成され
ており、フタ部1と容器部3との接合部(封止部)は鉛
フリーはんだ5(Sn−Ag−Cu系、Sn−Ag−B
i系、Sn−Ag−Bi−Cu系、Sn−Cu系等の)
により接合し気密容器を形成するものである。
断面図である。鉛フリーはんだ5を用いない従来の封止
の場合と全く変わるものではなく、フタ部1と容器部3
と鉛フリーはんだ5の封止状態は良好である。
5と接合する容器部3の状態を示すものである。この電
子部品容器2の封止に用いる鉛フリーはんだ5は、金ス
ズ合金めっき膜4を形成することを特徴とし、このめっ
き膜については合金含有率(重量比wt%、厚みμm)
について上層(41:鉛フリーはんだと直接接する面)
部と下層(42)を要するものの、下層部についての処
理状態には特に制約はなく、鉛フリーはんだ5とのはん
だ密着性を考慮した金スズ合金めっき膜4を施すもので
ある。
で、フタ部1と容器部3とはトンネル炉などの加熱雰囲
気中を移動することで、鉛フリーはんだ5が溶解し、フ
タ部1と容器部3とがはんだ封止され気密構造を持つ電
子部品容器2ができる。本実施例では特に図示しない
が、電子部品容器2の中には圧電素子や弾性表面波素子
が搭載されている。
の接合面に銅めっき処理を施す一実施例を挙げている
が、はんだ性を考慮し銅めっきに変えてニッケルメッキ
でもはんだメッキなどを施しても同様の効果を得ること
は言うまでもない。
容器部とのいわゆるはんだぬれ性が改善され、はんだの
浸透性が向上することにより、はんだ封止の強度と品質
が改善できた。
である。
Claims (1)
- 【請求項1】 少なくとも接合面に鉛フリーはんだを塗
布したフタ部により密閉容器構造を成す電子部品容器に
おいて、 該フタ部に塗布する鉛フリーはんだ部と当接する容器部
には、金スズ合金めっき膜を形成することを特徴とする
電子部品容器。
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2001
- 2001-05-31 JP JP2001165655A patent/JP4685274B2/ja not_active Expired - Fee Related
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