JP2002319609A - 半導体集積回路装置の製造方法 - Google Patents
半導体集積回路装置の製造方法Info
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Abstract
ンのウエハ搬送システムを提供する。 【解決手段】 クリーンルームのベイ(装置群)内にお
けるウエハの搬送は、クリーンルームの床に敷設された
搬送レール3上を高速で直線走行するRGV(Rail Guid
ed Vehicle)11によって行われる。RGV11が走行
する搬送エリアは、仕切り(パーティション)4によっ
て人の作業領域と分離され、ラインの稼働時には人が搬
送エリアに入れない構造になっている。
Description
置の製造技術に関し、特に、半導体製造ラインにおける
ウエハ搬送システムに適用して有効な技術に関する。
の短寿命化に伴い、半導体製造ラインにおいては、TA
T(Turn Around Time)のさらなる短縮や、プロセス処理
時間の短縮が要求されている。また、半導体ウエハ(以
下、ウエハという)の大口径化に伴って、ウエハ一枚当
たりの重量が増大しつつあることから、直径300mm
のウエハを扱う半導体製造ラインにおいては、ウエハ搬
送の機械による自動処理化が必須の要求となっている。
体製造ラインでは、各種製造装置がベイとよばれる装置
群に分けられ、ベイ単位でクリーンルーム内に配置され
る。そのため、ウエハ自動搬送システムもこれに応じ
て、ベイ間搬送、ベイ内搬送、ストッカといった要素
(コンポーネント)に分けて構成される。
送には、一般にOHS(Over Head Shuttle)と呼ばれる
天井搬送方式が用いられる。また、ベイ内搬送には、軌
道上を自動走行するRGV(Rail Guided Vehicle)と呼
ばれる搬送車、無軌道上を自動走行するAGV(Automat
ic Guided Vehicle)と呼ばれる搬送車、あるいは天井搬
送方式の一つであるOHT(Over-head Hoist transpor
t)などが用いられる。
中継場所に配置され、ウエハ搬送手段(ウエハキャリ
ア)に収容されたウエハは、ここに一時的に保管された
後、ベイ内に搬送される。また、300mmウエハの搬
送手段(ウエハキャリア)には、ウエハカセットとポッ
ド(箱)とを一体化し、複数枚のウエハを密封状態で搬
送できるようにしたフープ(FOUP:Front Opening
Unified Pod)と呼ばれるもの、あるいはウエハがクリ
ーンルームに露出したオープンカセット(Open Cassett
e;OC)と呼ばれるものが使用される。
製造ラインのウエハ搬送システムについては、株式会社
プレスジャーナル社、平成9年12月20日発行の「月
刊セミコンダクターワールド」131頁〜149頁など
に記載がある。
れば、従来提唱されてきた300mmウエハ対応の半導
体製造ラインにおけるウエハ搬送システムには、次のよ
うな問題点があるために、ウエハ搬送時間の短縮やライ
ン稼働率の向上を実現することが難しく、特に、納入期
間の短い製品のTAT短縮が阻害されていた。 (1)200mmウエハ世代までの半導体製造ラインに
導入されていた地上走行型のウエハ搬送システムは、搬
送エリア内における搬送車(AGV、RGV)と人との
共存を可能とするために、最高走行速度を制限するこ
と、および搬送車に対する業界規定の安全対策を施すこ
とが必要であった。しかし、搬送車と人との共存を前提
とした搬送システムでは、安全対策が搬送車の走行速度
アップを妨げるため、ウエハ搬送時間の短縮が制約を受
ける。 (2)AGV、RGVを用いた地上走行型のウエハ搬送
システムでは、ウエハの搬送能力を上げるために、複数
台の搬送車の共同運行や、複雑な搬送ルートを実現する
システム(アルゴリズム)の構築が必要となる。しか
し、このような複雑なシステムでは、搬送車の待ち時間
が頻繁に発生するため、ライン稼働率の向上を実現する
ことが難しい。
ることのできるウエハ搬送システムを提供することにあ
る。
稼働率を向上させることのできるウエハ搬送システムを
提供することにある。
縮することのできるウエハ搬送システムを提供すること
にある。
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
発明のうち、代表的なものの概要について説明すれば、
次のとおりである。
複数のベイ(装置群)に区画されてクリーンルーム内に
設置された半導体製造ラインと、ベイ間搬送、ベイ内搬
送およびそれらを中継するベイステーションを含んだウ
エハ搬送システムとを使ってウエハに集積回路を形成す
るにあたり、ウエハのベイ内搬送を、人の作業エリアと
分離された搬送エリア内の単一直線搬送レールを往復動
するRGVによって行うものである。
ルは、要求されるウエハの搬送量および搬送形態に応じ
て複数台のRGVで共用され、前記複数台のRGVのそ
れぞれの走行領域は、他のRGVの走行領域と互いに隔
てられているものである。
送は、フープ(FOUP)に密封して行うものである。
を少なくすることによって、ウエハ1枚当たりの処理時
間を短縮するものである。
に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明す
るための全図において、同一の機能を有する部材には同
一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
た半導体製造ラインのウエハ全自動搬送システムを示す
全体平面図、図2は、この搬送システムの一部(3ベイ
分の領域)を示す平面図である。
ン注入装置、エッチング装置、成膜装置、洗浄装置、フ
ォトレジスト塗布装置、露光装置などの各種製造装置1
は、複数のベイ(装置群)に分けられてクリーンルーム
CR内に配置されている。そして、クリーンルームCR
内のウエハ搬送システムは、この配置に対応し、ベイ間
搬送、ベイ内搬送およびそれらを中継するベイステーシ
ョン(ストッカ)BSによって構成されている。
井に設置した軌道2を介してウエハを搬送するOHS(O
ver Head Shuttle)によって行われる。一方、ベイ内搬
送は、クリーンルームCRの床に敷設した搬送レール3
上を走行するRGV(Rail Guided Vehicle)(ウエハ搬
送手段)11によって行われる。この搬送レール3は、
要求されるウエハの搬送量および搬送形態に応じて複数
台のRGV11で共用されている。RGV11は、無軌
道上を走行するAGV(Automatic Guided Vehicle)の速
度(60m/s)に比べて2倍以上の高速走行が可能で
ある。
記搬送レール3をベイに沿って真っ直ぐに敷設すること
によって、装置間を移動するRGV11の走行を単純な
直線往復運動としたことにある。RGV11の走行を直
線的な往復運動に限定したことにより、搬送エリアの省
スペースを実現することができ、かつ複雑な搬送経路を
実現するためのアルゴリズムを構築する必要もなくな
る。さらに、製造装置1のレイアウトを後から変更した
場合でも、フレキシブルに対応することができる。
は、各RGV11の走行領域を仕切り(パーティショ
ン)4で隔てると共に、1台のRGV11に1台のベイ
ステーションBSを割り当てている。これにより、搬送
レール3を共用する他のRGV11との相互干渉が発生
しなくなるため、他のRGV11に対する待ち時間が発
生せず、製造ライン全体の生産効率を向上させることが
できる。また、1台のRGV11に1台のベイステーシ
ョンBSを割り当てることにより、OHSを介してベイ
ステーションBSに運ばれてきたウエハを速やかにRG
V11に受け渡すことができる。すなわち、ウエハの一
時保管を目的としたストッカを介さずにウエハの受け渡
しを行えるので、ウエハ搬送時間を短縮することができ
る。また、ベイステーションBSの小型化も可能とな
り、クリーンルームの省スペースを実現することができ
る。
は、搬送レール3が敷設された搬送エリアを仕切り(パ
ーティション)5で囲むと共に、製造装置1と製造装置
1との間にドア6を設けることによって、搬送エリアと
人の作業エリアとを分離し、ラインの稼働時に人が搬送
エリアに入れない構造になっている。装置間のドア6
は、図3に示すようなRGV11のインターロック制御
システムに接続され、ドア6が開けられるとRGV11
が直ちに停止することによって、不用意に搬送エリアに
進入した人の安全が確保される。ラインの非稼働時に、
製造装置1やRGV11のメンテナンスなどを目的とし
て搬送エリアに人が入るときは、ドア6のロックを外し
てから入る。
ステムは、搬送エリア内が人との共存を前提としない設
計になっているので、RGV11に対する業界規定の安
全対策(例えば走行表示灯や安全センサの設置など)を
緩和することができ、RGV11の走行最高速度を向上
させて搬送時間を短縮することができる。また、RGV
11の走行を直線的な往復運動に限定したことにより、
カーブや分岐などでRGV11を減速する要因が無くな
るので、目的とする場所まで最高速度を維持した走行が
可能となり、この点でもウエハの搬送時間を短縮するこ
とができる。
とにより、RGV11の待ち時間が製造ライン全体の生
産性に及ぼす影響が低減される。このため、例えば特定
のロットの搬送のためにRGV11を待機させておくこ
とも可能になり、受注から納入までの期間が短い製品の
TATを大幅に短縮することができる。
エハの搬送エリアと人の作業エリアとが完全に分離され
ているので、クリーンルーム内に新たな製造装置1を搬
入したり、償却済みの製造装置1をクリーンルーム外に
搬出したりする場合の経路は、図4に示すように、製造
装置1を挟んで搬送エリアと反対側に設けられる。本実
施の形態のウエハ搬送システムは、搬送エリアの省スペ
ースを図ることができるので、その分、装置の搬入/搬
出路を広く確保することができる。また、装置の端末操
作、モニタ、装置のメンテナンス(チャンバクリーニン
グ、部品の交換、修理、パラメータの調整)といった人
の作業も、ここで行うことができる。
ウエハプロセスの全工程を枚葉方式で処理することを前
提として設計されている。
エハカセットとポッド(箱)を一体化し、最大で25枚
程度のウエハを密封状態で収容することのできるフープ
(FOUP:Front Opening Unified Pod)が使用され
る。フープは、ウエハを密封状態で搬送するウエハキャ
リアであるため、周囲の環境に依存せずにウエハの清浄
度をクラス1以下に保つことができる。これにより、ク
リーンルームCR全体をクラス1以下まで清浄化せずに
済むため、クリーンルームCRの設備コストを低減した
り、設計自由度を向上したりすることができる。また、
フープは、ウエハをクリーンルームCRに対して開放状
態で収容するオープンカセットに比べてウエハを確実に
固定できるので、耐衝撃性が高く、高速搬送に適してい
る。
ムCR内の天井に設置したOHSによって所定のベイの
ベイステーションBSに搬送され、ここでRGV11に
搭載されてベイ内の製造装置1に搬送される。フープ
は、製造装置1と向き合う正面にドアが設けられ、製造
装置1のローダにドアを密着させて一枚のウエハを装置
内に搬入する。製造装置1にはフープのドアを開閉する
ドアオープナーが設けられる。従って、製造装置1のロ
ードロック室構成は、従来のように、搬送ロボットを中
心としてその周囲に複数のチャンバを放射状に配置する
方式ではなく、例えば図5に示すように、複数台のフー
プ7とロードロック室8との間に設けた単一の搬送ロボ
ット9を介してウエハ10を移載する方式が採用され
る。また、図6に示すように、複数台のフープ7と製造
装置1との間に設けた単一の搬送ロボット9を介してウ
エハ10を移載したり、図7に示すように、1台のフー
プ7と複数台の製造装置1との間に設けた搬送ロボット
9を介してウエハ10を移載したりすることもできる。
枚葉処理に付された後、製造装置1からアンロードされ
てフープに収容され、RGV11に搭載されてベイ内の
他の製造装置1に搬送される。所定のベイ内での処理が
完了したウエハは、フープに収容されてベイステーショ
ンBSに搬送され、OHSによって次工程のベイのベイ
ステーションBSに搬送され、次の枚葉処理に附され
る。
以上のウエハを一括処理する従来のバッチ処理設備が枚
葉設備に置き換わることにより、製品(ウエハ)のロッ
ト構成を25枚/フープから、13枚/フープといった
少数編成に代えることができ、その結果、1フープ当た
りの処理時間を短縮することができる。また、1〜3枚
/フープといった極端な少数編成とすることで、納入期
間の短い製品のTATを大幅に短縮することができる。
記実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前
記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸
脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもな
い。
外に、使用頻度の高い製造装置群で構成した副製造ライ
ンを設け、例えば納入期間の短い製品用にこのラインを
使用することにより、TATを大幅に短縮することがで
きる。
全行程を枚葉方式で処理した場合にTAT短縮効果が最
大となるが、サイクルタイムが短い一部の製造装置につ
いては、バッチ式製造装置で構成することもできる。
いエリアについては、搬送レールを直線状に敷設しなく
ともよく、複数RGVの相互乗り入れ、カーブ走行、分
岐傍流走行、低速走行などを併用してもよい。
ンの数は1台に限定されるものではなく、複数台を割り
当てることもできる。また、ウエハストッカ機能を備え
た大容量のベイステーションを部分的に設置してもよ
い。
仕切り(パーティション)を移動可能とすることによっ
て、搬送エリアと人の作業エリアの相対面積を自由に変
更できるようにすることもできる。
ついても、全てのベイで同じではなく、製造装置の能力
に応じてベイ毎に異なる台数を割り当てることもでき
る。、また、運用中に割り当てを簡単に変更したりする
フレキシビリティを持たせることもできる。
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下の通りである。
で、納入期間の短い半導体製品のTATを短縮すること
ができる。
とができるので、納入期間の短い半導体製品のTATを
短縮することができる。
のウエハ全自動搬送システムを示す全体平面図である。
ある。
方式を説明する平面図である。
アと人の作業エリアとを示す平面図である。
装置のウエハ移載方法の説明図である。
装置のウエハ移載方法の説明図である。
装置のウエハ移載方法の説明図である。
説明する図である。
Claims (21)
- 【請求項1】 複数の半導体製造装置が複数のベイ(装
置群)に区画されてクリーンルーム内に設置された半導
体製造ラインと、ベイ間搬送、ベイ内搬送およびそれら
を中継するベイステーションを含んだウエハ搬送システ
ムとを使って1枚または複数枚のウエハに集積回路を形
成する半導体集積回路装置の製造方法であって、前記ウ
エハのベイ内搬送は、単一直線の走行路を往復動するウ
エハ搬送手段によって行われることを特徴とする半導体
集積回路装置の製造方法。 - 【請求項2】 前記ウエハ搬送手段は、前記クリーンル
ームの床に敷設された搬送レール上または搬送レールに
沿ってを走行するRGVであることを特徴とする請求項
1記載の半導体集積回路装置の製造方法。 - 【請求項3】 前記搬送レールは、要求されるウエハの
搬送量および搬送形態に応じて複数台のRGVで共用さ
れ、前記複数台のRGVのそれぞれの走行領域は、他の
RGVの走行領域と互いに隔てられていることを特徴と
する請求項2記載の半導体集積回路装置の製造方法。 - 【請求項4】 前記ベイステーションは、1台のRGV
に1台ずつ割り当てられていることを特徴とする請求項
3記載の半導体集積回路装置の製造方法。 - 【請求項5】 前記ウエハのベイ間搬送は、前記クリー
ンルーム内の天井に設置された軌道を介して行われるこ
とを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路装置の製
造方法。 - 【請求項6】 前記ウエハのベイ内搬送およびベイ間搬
送は、フープ(FOUP)に密封された状態で行われる
ことを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路装置の
製造方法。 - 【請求項7】 複数の半導体製造装置が複数のベイ(装
置群)に区画されてクリーンルーム内に設置された半導
体製造ラインと、ベイ間搬送、ベイ内搬送およびそれら
を中継するベイステーションを含んだウエハ搬送システ
ムとを使って1枚または複数枚のウエハに集積回路を形
成する半導体集積回路装置の製造方法であって、前記ウ
エハのベイ間搬送は、前記クリーンルーム内の天井に設
置された軌道を介して行われ、前記ウエハのベイ内搬送
は、人の作業エリアと分離された搬送エリア内で行われ
ることを特徴とする半導体集積回路装置の製造方法。 - 【請求項8】 前記搬送エリア内における前記ウエハの
搬送は、前記クリーンルームの床に設けられた単一直線
の走行路を往復動するウエハ搬送手段によって行われる
ことを特徴とする請求項7記載の半導体集積回路装置の
製造方法。 - 【請求項9】 前記人の作業エリアは、前記ベイを挟ん
で前記搬送エリアの反対側に設けられていることを特徴
とする請求項8記載の半導体集積回路装置の製造方法。 - 【請求項10】 前記人の作業エリアの面積は、前記搬
送エリアの面積よりも広いことを特徴とする請求項9記
載の半導体集積回路装置の製造方法。 - 【請求項11】 前記ウエハ搬送手段は、前記搬送エリ
アに敷設された搬送レール上を走行するRGVであるこ
とを特徴とする請求項8記載の半導体集積回路装置の製
造方法。 - 【請求項12】 前記搬送レールは、要求されるウエハ
の搬送量および搬送形態に応じて複数台のRGVで共用
され、前記複数台のRGVのそれぞれの走行領域は、他
のRGVの走行領域と互いに隔てられていることを特徴
とする請求項11記載の半導体集積回路装置の製造方
法。 - 【請求項13】 前記ベイステーションは、1台のRG
Vに1台ずつ割り当てられていることを特徴とする請求
項12記載の半導体集積回路装置の製造方法。 - 【請求項14】 前記ウエハのベイ内搬送およびベイ間
搬送は、フープ(FOUP)に密封された状態で行われ
ることを特徴とする請求項7記載の半導体集積回路装置
の製造方法。 - 【請求項15】 複数の枚葉式半導体製造装置が複数の
ベイ(装置群)に区画されてクリーンルーム内に設置さ
れた半導体製造ラインと、ベイ間搬送、ベイ内搬送およ
びそれらを中継するベイステーションを含んだウエハ搬
送システムとを使ってウエハに集積回路を形成する半導
体集積回路装置の製造方法であって、前記ウエハのベイ
内搬送は、人の作業エリアと分離された搬送エリア内に
設けられた単一直線の走行路を往復動するウエハ搬送手
段によって行われることを特徴とする半導体集積回路装
置の製造方法。 - 【請求項16】 前記ウエハのベイ内搬送およびベイ間
搬送は、ウエハキャリアに密封された状態で行われるこ
とを特徴とする請求項15記載の半導体集積回路装置の
製造方法。 - 【請求項17】 前記ウエハキャリアに収容するウエハ
の枚数を変えることによって、ウエハ1枚当たりの処理
時間を最適化することを特徴とする請求項16記載の半
導体集積回路装置の製造方法。 - 【請求項18】 前記ウエハ搬送手段は、前記搬送エリ
アに敷設された搬送レール上を走行するRGVであるこ
とを特徴とする請求項15記載の半導体集積回路装置の
製造方法。 - 【請求項19】 前記人の作業エリアは、前記ベイを挟
んで前記搬送エリアの反対側に設けられていることを特
徴とする請求項15記載の半導体集積回路装置の製造方
法。 - 【請求項20】 前記ウエハのベイ間搬送は、前記クリ
ーンルーム内の天井に設置された軌道を介して行われる
ことを特徴とする請求項15記載の半導体集積回路装置
の製造方法。 - 【請求項21】 前記ウエハの直径は、300mm以上
であることを特徴とする請求項15記載の半導体集積回
路装置の製造方法。
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JPH06236914A (ja) * | 1993-02-09 | 1994-08-23 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体製造設備 |
JPH0936198A (ja) * | 1995-07-19 | 1997-02-07 | Hitachi Ltd | 真空処理装置およびそれを用いた半導体製造ライン |
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US20020025244A1 (en) * | 2000-04-12 | 2002-02-28 | Kim Ki-Sang | Transfer system and apparatus for workpiece containers and method of transferring the workpiece containers using the same |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005223031A (ja) * | 2004-02-04 | 2005-08-18 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路装置の製造方法 |
JP4705757B2 (ja) * | 2004-02-04 | 2011-06-22 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体集積回路装置の製造方法 |
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