JP2002314130A - 窒化物半導体素子 - Google Patents

窒化物半導体素子

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 微小発光面積でも均一に発光し、高出力でか
つ応答性の良い窒化物半導体素子を提供する。 【解決手段】 p側電極は、透明電極とp側ボンディン
グパッド電極とが離れて形成され、さらにp側拡散電極
をp側ボンディングパッド電極から延伸して透明電極の
少なくとも外周を覆って形成する。またn側電極は、n
側ボンディングパッド電極と、n側ボンディングパッド
電極から延伸して、透明電極および透明電極とp側拡散
電極の接触部を囲むようなn側拡散電極とを形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体素子の構造に係わ
り、特に絶縁基板上に形成された窒化物半導体素子の構
造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】今日、低消費電力で高輝度に発光し、小
型、かつ軽量な発光素子や受光素子として、種々の分野
で光半導体素子が利用され始めている。とくに近紫外か
ら赤外まで高輝度に発光可能な発光素子として窒化物半
導体(AlInGa1−x −yN、0≦x≦1、0
≦y≦1)を利用した発光ダイオードが実用化されたこ
とから種々の分野に急速に利用され始めている。発光ダ
イオードは小型で発光効率が良く、半導体素子であるた
め球切れなどの心配はない。さらに、初期駆動特性に優
れ、振動や点滅に強いという特徴を有する。そしてこれ
らの発光ダイオードの特徴を生かして、様々な発光装置
への応用が考えられる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】発光ダイオードを用い
た発光装置の1つとして光ファイバモジュールがある。
光ファイバモジュールなどの光通信、または光情報処理
等の分野で発光ダイオードを用いる場合、必要とされる
特性としては電流投入時から発光するまでの応答性が良
く、高出力でありかつ微小発光面積でも均一に発光する
発光ダイオードが、さらにはそれぞれの目的、発光装置
としての実装にあわせた発光面を有することである。
【0004】ところで、窒化物半導体のうち、例えば一
般に窒化ガリウム系窒化物半導体と呼ばれるAlIn
Ga1−x−yN(0≦x≦1、0≦y≦1)からな
る窒化物半導体は、基板としてサファイア基板などの絶
縁性基板が用いられており、窒化物半導体層成長面側か
らn電極およびp電極の両方を取り出す必要がある。こ
の発光ダイオードの光取り出し面を窒化物半導体層の成
長面側に設けるとき、電流はpn接合部を均一に流れに
くいので、透光性のある全面電極をpn接合部上の全面
にわたって形成している。従来良く用いられる発光ダイ
オードとしては全面電極の一部にボンディングパッド電
極が設けられた図6のような構造の発光ダイオードが用
いられている。
【0005】しかしながら、微小発光面積を必要とした
発光ダイオードを作製しようとした場合、ボンディング
パッド電極はワイヤやリードフレームなどに接続するた
めの端子として用いており、接続するためにはある程度
の面積が必要となり、発光面積を小さくすることに限界
があり、従来の素子構造では微小発光面積を実現するこ
とは困難であった。例えばワイヤボンディングに必要な
ボンディングパッド電極の面積は少なくとも50μmを
必要とする。
【0006】本発明はこのような問題点に鑑み、高出力
でありかつ微小発光面積でも均一に発光が可能となる窒
化物半導体素子として新規な素子構造を提供するもので
ある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明では、窒化物半導
体素子の構造を以下の構成(1)〜(14)とすること
により、本発明における課題を解決するに至った。 (1) 基板上にn型窒化物半導体層、p型窒化物半導
体層が積層され、p型窒化物半導体層の一部がエッチン
グされてn型窒化物半導体層が露出されてかつ、それぞ
れの露出面にn側電極およびp側電極を有する窒化物半
導体素子において、前記p側電極は、p型窒化物半導体
層表面の一部に接して該p型窒化物半導体層とオーミッ
ク接触をなす透光性電極と、透光性電極から離れて形成
されたp側ボンディングパッド電極と、該p側ボンディ
ングパッド電極から延伸して該透光性電極の少なくとも
外周を覆って形成されたp側拡散電極とを有し、前記透
光性電極のp型窒化物半導体層に対するオーミック特性
が、前記p側拡散電極のp型窒化物半導体層に対するオ
ーミック特性に対して良くなるようにそれぞれの電極材
料が選定されていることを特徴とする。
【0008】(2) 前記透光性電極はp型窒化物半導
体層に対してオーミック接触で形成され、前記p側拡散
電極はp型窒化物半導体層に対してショットキー接触で
形成されていることを特徴とする。
【0009】(3) 前記透光性電極は透光性を示すこ
とを特徴とする。
【0010】(4) 前記透光性電極とp側拡散電極と
の接触部において、該接触部の内周の形状は円形である
ことを特徴とする。
【0011】(5) 前記透光性電極とp側拡散電極と
の接触部において、該接触部の内周および外周は同心円
形状であることを特徴とする。
【0012】(6) 前記p側拡散電極は複数の金属層
からなり、少なくともp型窒化物半導体層側からタング
ステン、タングステンに接して白金が積層されているこ
とを特徴とする。
【0013】(7) 前記透光性電極はp型窒化物半導
体層側からニッケル/金を積層してアニーリングされた
合金層であることを特徴とする。
【0014】(8) 前記n側電極は、n側ボンディン
グパッド電極と、該n側ボンディングパッド電極から延
伸して前記透光性電極および該透光性電極と前記p側拡
散電極との接触部を囲むように形成されたn側拡散電極
とを有することを特徴とする
【0015】(9) 前記窒化物半導体素子の外形は四
角形状であり、前記p側ボンディングパッド電極とn側
ボンディングパッド電極は素子を形成する一辺の両端に
それぞれが形成されていることを特徴とする。
【0016】(10) 前記窒化物半導体素子の外形は
四角形状であり、前記p側ボンディングパッド電極とn
側ボンディングパッド電極は素子の対角線上の両端にそ
れぞれが形成されていることを特徴とする。
【0017】(11) 前記p側ボンディングパッドと
n側ボンディングパッド電極は同一の製造工程で形成さ
れた同一の材料からなることを特徴とする。
【0018】(12) 前記透光性電極と透光性電極を
覆って形成されたp側拡散電極とが接触する面積の透光
性電極の面積に対する比が、0.15以上0.50以下
であることを特徴とする。
【0019】(13) 前記ボンディングパッド部を除
くすべての電極および窒化物半導体層の全面が透光性を
有する絶縁膜で覆われていることを特徴とする。
【0020】(14) 少なくとも一対のリードフレー
ムと電気的に接続された前記(1)〜(13)のいずれ
かに記載の窒化物半導体素子が、エポキシ系の樹脂でモ
ールドされてなる窒化物半導体装置であって、該窒化物
半導体層の発光面に対向する樹脂の表面は凸となりレン
ズを形成し、該発光面に対向する樹脂表面のレンズ部を
除く全面は平面である窒化物半導体装置であることを特
徴とする。
【0021】以上のように、p側電極は、透光性電極と
p側ボンディングパッド電極とが離れて形成され、さら
にp側拡散電極をp側ボンディングパッド電極から延伸
して透光性電極の少なくとも外周を覆って形成し、透光
性電極のp型窒化物半導体層に対するオーミック特性
が、p側拡散電極のp型窒化物半導体層に対するオーミ
ック特性に対して良くなるようにする。またn側電極
は、n側ボンディングパッド電極と、n側ボンディング
パッド電極から延伸して透光性電極および透光性電極と
p側拡散電極との接触部を囲むようなn側拡散電極とを
形成する。これにより、応答性が良く、高出力でありか
つ微小発光面積でも均一に発光が可能となり、さらに本
発明の素子構造にすることで、微小面積の窒化物半導体
素子に適用できるだけでなく種々の窒化物半導体素子で
も本発明による独特の効果が得られる素子ができた。
【0022】
【発明の実施の形態】次に図を用いて本発明をさらに詳
細に説明する。図1は本発明の一実施の形態を模式的に
示した平面図である。また図2は図1のB−B'で切断
したときの模式的に示した断面図、図3は図1のA−
A'で切断したときの模式的に示した断面図、図4は図
1のC−C'で切断したときの断面図よりp側拡散電極
と透光性電極との接触部104について示す模式図であ
り、図5は本発明の他の実施の形態を模式的に示した平
面図である。
【0023】本発明は図1に示すように、本発明の窒化
物半導体素子は、p型窒化物半導体層3上に透光性電極
101とp側ボンディングパッド電極103とが離れて
形成され、さらにp側拡散電極102をp側ボンディン
グバッド電極103から延伸して透光性電極101の少
なくとも外周を覆って形成されている。またn型窒化物
半導体層2上にn側ボンディングパッド電極202と、
n側ボンディングパッドから延伸して透光性電極101
および透光性電極とp側拡散電極との接触部104を囲
むようにn側拡散電極201が形成されている。
【0024】このように発光面を形成する透光性電極と
p側ボンディングパッド電極とが離れて形成されること
により、発光面積をボンディングパッドの面積の大きさ
にとらわれることなく、微小化、さらには自由に大きさ
を変えることが可能となる。
【0025】ところで発光面を形成する透光性電極とp
側ボンディングパッド電極とを離して形成するために、
これらの電極を電気的に接続する目的としてp側拡散電
極が設けられる。このp側拡散電極はp型窒化物半導体
層に直接接して形成することはできるが、その場合透光
性電極下部に位置するpn接合部に電流が流れるだけで
なく、p側拡散電極とp型窒化物半導体層がその接する
部分の下部に位置するpn接合部でも電流が流れてしま
う。ここに電流が流れてしまうと、素子に投入される電
流に対し、発光面からの発光効率は低くなってしまう。
そこで、p側拡散電極とp型窒化物半導体層とが接触し
ないように、p側ボンディングパッド電極と透光性電極
との間に絶縁膜を介し、その上にp側拡散電極を設ける
方法が考えられるが、この場合p側拡散電極と絶縁膜と
の接触面積が大きく、絶縁膜と拡散電極として用いる金
属との密着性が悪いため、剥がれが生じてしまい、短絡
してしまい、構造としては好ましいものではない。そこ
で鋭意研究した結果、p側拡散電極102とそれに接す
るp型窒化物半導体層とのオーミック性を、少なくとも
透光性電極101とそれに接するp型窒化物半導体層と
のオーミック性よりも悪くなるように形成することで、
素子に投入される電流が、ほとんど透光性電極を通るよ
うになり、透光性電極とp側ボンディングパッド電極と
を離した構造でも発光面からの発光効率を高く維持でき
る素子を得ることができるようになった。さらに、p側
拡散電極102がp型窒化物半導体層に対してショット
キー接触となるようなp側拡散電極の材料を選定するこ
とで、さらに発光効率の高い窒化物半導体素子を得るこ
とが可能となった。
【0026】さらに本発明の透光性電極101は透光性
を示すように電極材料を選定、もしくは膜厚を制御する
ことにより、発光が透光性電極の発光面に集中し、さら
に高効率の発光素子を得ることができる。
【0027】また本発明は透光性電極とp側拡散電極と
の接触部104において、接触部の内周の形状を円形と
することで、電流投入時から発光するまでの応答性が良
く、発光面全面に渡って均一に電流が流れるようにな
り、高出力である上に発光面において均一に発光する素
子が得られる。この場合、接触部における外周の形状は
特に限定されないが、好ましい形態としては接触部の外
周の形状は接触部の内周の円と同心円となるような円形
とする。このように形成することで、透光性電極の発光
面の周りを均一に電流が流れるようになり、効率よく均
一な発光を得ることができ、さらに応答性も良くなる。
【0028】また本発明のp側拡散電極102は複数の
金属層からなり、その材料としては例えばタングステ
ン、白金、ニッケル、金などが挙げられる。これらは好
ましくはp型窒化物半導体層上に形成して少なくとも、
p型窒化物半導体層に対してのオーミック性が透光性電
極のそれに対してのオーミック性よりも悪くなるよう
に、好ましくはp型窒化物半導体とショットキー接触と
する。なかでも最も好ましい材料として、p型窒化物半
導体層に接してタングステン、さらに白金を選定し形成
する。特にタングステンはp型窒化物半導体層とショッ
トキー接触を示し、白金はタングステンと密着性が良
く、さらには厚膜を積むことで導電性の高い膜となり、
p側ボンディングパッド電極と透光性電極とを導電性よ
く電気的に接続できる。複数の金属層を有するp側拡散
電極のうち、さらに好ましくはp側拡散電極の最も上の
層にニッケルを100オングストローム以下の膜厚で形
成する。ニッケルを最も上に形成することで、後に素子
を覆うように形成する保護膜301との密着性が良くな
る。
【0029】また本発明の透光性電極101は例えば、
ニッケル、クロム、鉄、銅、アルミニウム、マグネシウ
ム、タンタル、バナジウム、パラジウム、金など、また
はこれらの合金が挙げられる。これらはp型窒化物半導
体層と良好なオーミック特性を示す材料で、好ましくは
p型窒化物半導体層上に形成して透光性のある膜厚で形
成することが好ましい。なかでもニッケルと金を積層
し、アニーリングすることで合金化させることで、最も
オーミック特性のよい透光性電極を得ることができる。
【0030】また本発明のn側電極は、n型窒化物半導
体層2が露出する面に形成し、そのn型窒化物半導体層
はp側ボンディングパッド電極102、透光性電極10
1、さらにはp側拡散電極を形成しない部位をできるだ
け最大限にエッチングして露出させる。n側電極はn側
ボンディングパッド電極202とn側拡散電極201と
から成り、n側拡散電極201はn型窒化物半導体層露
出面のほぼ全面に形成することで、例えば図1に示すよ
うに、透光性電極101および透光性電極とp側拡散電
極との接触部104を囲むように形成できる。このよう
にn側拡散電極を形成することで、n側拡散電極とp電
極上における接触部との距離をほぼ一定にすることがで
き、電流投入時から発光するまでの応答性を良くする点
で最も効果的で、さらに発光面を均一に発光させること
ができる。
【0031】また本発明の窒化物半導体素子の外形を四
角形状とし、p側ボンディングパッド電極103とn側
ボンディングパッド電極202の位置を素子を形成する
一辺の両端に形成することが好ましい(図1)。このよ
うに形成することで、ある一定の発光面を有する窒化物
半導体素子のなかで、最もチップを最小にすることがで
きる。またさらに、一辺の両端にp側およびn側の両方
のボンディングパッド電極を形成するため、ワイヤボン
ディングを行う工程において、ワイヤボンダーの動きが
最小限となるため、ボンディングの時間短縮がはかれ、
歩留の点でも好ましい。
【0032】また本発明の窒化物半導体素子の外形を四
角形状とし、p側ボンディングパッド電極103とn側
ボンディングパッド電極202の位置を素子の対角線上
の両端に形成してもよい(図5)。これは上記素子の一
辺の両端にボンディングパッド電極を設けたときほどで
はないが、チップを最小にすることができる。この形態
は、例えば複数のチップを一方向に配列させたアレイと
して用いるとき、一方に一方のワイヤ、他方にもう一つ
のワイヤをボンディングすることができるので、アレイ
として最も密にチップを配列することが可能となる。こ
のような構造としたとき、n側ボンディングパッド電極
が、p側窒化物半導体層を囲むn側拡散電極の中心付近
に形成されるので、即時に均一な電流が流れるようにな
りやすく、応答速度を高くするのに好ましい。
【0033】また本発明ではp側ボンディングパッド電
極103とn側ボンディングパッド電極202とは異な
る材料であってもよいが、同一の材料であってもよい。
それぞれのボンディングパッド電極はどちらも、拡散電
極上に形成されており接触抵抗について検討する必要は
ない。よって、それぞれに密着性のよい材料を選定すれ
ばよく、好ましくは、チタン、白金、金、ニッケル、ま
たはこれらを複数積層したものがよく、好ましくは最上
層を金を積層することで、金ワイヤとのボンディングが
容易になり、最も好ましくは白金と白金の上に金を積層
した構造とする。ボンディングパッド電極はそれぞれの
拡散電極上に一部絶縁膜を介して形成することから、絶
縁膜と密着性の良い材料を白金より下に形成した3層構
造とすることが好ましい。絶縁膜として例えばSiO
を用いた場合、好ましくはチタン/白金/金の3層構造
とする。
【0034】また本発明は図4に示すように、透光性電
極101と透光性電極を覆って形成されたp側拡散電極
102とが接触する面積104の透光性電極の面積に対
する比が、0.15以上0.50以下とする。特に微小
面積を発光させる窒化物半導体素子においては、発光面
の面積が小さくなればなるほど発光面の面積に対して、
透光性電極とp側拡散電極との接触する面積の割合が大
きくなってしまう。この割合が大きくなると、電流は透
光性電極の発光部にはほとんど流れず、接触部にほとん
ど流れてしまうようになり、素子に投入する電流に対す
る発光面での発光効率は低くなってしまい、好ましくな
い。とくに透光性電極と透光性電極を覆って形成された
p側拡散電極とが接触する面積の透光性電極の面積に対
する比が0.50よりも大きくなるとその影響が顕著に
現れる。また透光性電極と透光性電極を覆って形成され
たp側拡散電極とが接触する面積の透光性電極の面積に
対する比が0.15より小さくなると、p側ボンディン
グパッド電極からp側拡散電極を通って、透光性電極に
到達する電流の経路が小さくなり、電流が流れにくくな
ってしまい駆動電圧が高くなってしまったり、さらには
透光性電極とp側拡散電極とが接触する部位において、
電流密度が異常に高くなり、素子劣化が早くなってしま
うなどの原因で、好ましくない。
【0035】また本発明の窒化物半導体素子はp側ボン
ディングパッド電極103、n側ボンディングパッド電
極202形成部分を除く、少なくともすべての電極およ
び窒化物半導体層の全面が透光性のある絶縁膜301で
覆われていることが好ましい。これにより素子が保護さ
れ、短絡等の問題を防ぐことができる。好ましい絶縁膜
301の材料としては、SiO、SiNなどが挙げら
れるが、最も好ましくはSiOを、1μm程度形成す
る。
【0036】また本発明の窒化物半導体素子は特徴とし
て、応答性が良く、微小発光面積でも高出力でかつ均一
に発光できることから、光ファイバに接続する光源とし
て用いることに大きな効果を発揮する。例えば、実装基
板402を介して少なくとも一対のリードフレーム40
3と電気的に接続された本発明の窒化物半導体素子10
0が、エポキシ系の樹脂401でモールドされており、
その窒化物半導体層の発光面に対向する樹脂の表面は凸
となるレンズ404を形成し、かつ発光面に対向する樹
脂表面のレンズ部を除く全面は平面とする。このような
窒化物半導体発光装置は発光面に対向する樹脂401の
表面は凸となるレンズ404を形成していることから、
接続される光ファイバに均一に光を提供することがで
き、また発光面に対向する樹脂表面のレンズ部を除く全
面を平面とすることで、光ファイバに接続しやすくな
る。また、樹脂401に形成した凸状のレンズ404は
樹脂最表面より内側に形成してもよく、このような凸は
樹脂を形成する際にリードフレーム403に接続された
窒化物半導体素子を所定の金型に入れ、樹脂を流し込む
ことで形成することができる。
【0037】本発明の実施の形態としては窒化物半導体
発光素子について説明したが、これが受光素子等、種々
の素子として用いることができることはいうまでもな
い。
【0038】
【実施例】以下、本発明に係る実施例を示す。なお、本
発明はこれに限定されるものではない。 [実施例1]サファイア(C面)よりなる基板をMOV
PEの反応容器内にセットし、水素を流しながら、基板
の温度を1050℃まで上昇させ、基板のクリーニング
を行う。この基板としては他にA面、R面を主面とする
サファイア基板、スピネル(MgAl)のような
絶縁性基板などでもよい。
【0039】(n型窒化物半導体層)基板をクリーニン
グ後、n型窒化物半導体層を次の構成で成長させる。基
板の温度を510℃まで下げ、基板上にGaNよりなる
バッファ層を100Å成長させる。次にバッファ層成長
後、温度を1050℃まで上昇させ、アンドープGaN
層を1.5μmの膜厚で成長させる。続いて1050℃
で、Siを4.5×1018/cmドープしたGaN
層を2.2μmの膜厚で成長させる。続いて1050℃
で、アンドープGaN層を3000Åの膜厚で、さらに
Siを4.5×1018/cmドープしたGaN層を
300Å、さらにアンドープGaN層を50Åの膜厚で
成長させる。続いて同様の温度で、アンドープGaNよ
りなる第1の層を40Å、温度を800℃にして、続い
てアンドープIn0.13Ga0.87Nよりなる第2
の層を20Åの膜厚で成長させ、これらの操作を繰り返
し、第1+第2+の順で交互に10層ずつ積層させ、最
後に第1の層を積層させた、n型多層膜層を成長させ
る。
【0040】次にn型窒化物半導体層を成長後、アンド
ープGaNよりなる障壁層を200Åの膜厚で成長さ
せ、続いて温度800℃にして、Siを5×1017
cmドープしたIn0.3Ga0.7Nよりなる井戸
層を30Åの膜厚で成長させる。そして障壁+井戸+障
壁+井戸+…の順で書へ気相を6層と、井戸層を5層を
交互に積層して、総膜厚1350Åの多重量子井戸より
なる活性層を積層させる。この活性層は図1〜図6にお
いて図示していない。
【0041】活性層成長後、p型窒化物半導体を次の構
成で成長させる。次に1050℃で、Mgを5×10
19/cmドープしたp型Al0.1Ga0.9Nよ
りなる第3の層を25Åの膜厚で成長させ、続いてアン
ドープGaNよりなる第4の層を25Åの膜厚で成長さ
せ、これらの操作を繰り返し、第3+第4の順で交互に
4層ずつ積層した超格子よりなるp型多層膜層を200
Åの膜厚で成長させる。続いて1050℃で、Mgを1
×1020/cmドープしたp型GaNよりなる層を
2700Åの膜厚で成長させる。
【0042】反応終了後、温度を室温まで下げ、窒素雰
囲気中で700℃でアニーリングを行い、p型層をさら
に低抵抗化する。以上のようにして窒化物半導体を成長
させたウエハーを反応容器から取り出し、n型窒化物半
導体層を露出するために、露出させる部分を除くp型窒
化物半導体層の上にSiOマスクを形成し、RIE
(反応性イオンエッチング)によってエッチングを行
い、n型窒化物半導体層(SiドープGaN層)の表面
を露出させる。
【0043】次にp型窒化物半導体層の一部を開口さ
せ、他の部分を覆うようにレジストを塗布し、開口させ
たp型窒化物半導体層上にNiを60Å、Auを200
Å積層後、レジストを除去し、さらにアニールして透光
性電極を形成する。さらにp側拡散電極の形成部分を開
口させたレジストを形成し、その形成面のほぼ全面にW
を200Å、Ptを3000Å、Niを60Åからなる
p側拡散電極を形成する。
【0044】次にレジストを除去し、今度はn型窒化物
半導体層上にWを200Å、Alを1000Å、Wを1
000Å、Ptを3000Å、Niを60Åの膜厚で積
層したn側拡散電極を形成する。
【0045】次にp側ボンディングパッド形成部を除く
p側拡散電極、n側ボンディングパッド形成部を除くn
側拡散電極、透光性電極および窒化物半導体層露出部全
面にSiOよりなる絶縁膜を1μmの膜厚で形成す
る。
【0046】最後に絶縁膜の開口部にTiを200Å、
Ptを1000Å、Auを3000Åからなるボンディ
ングパッド電極を形成する。このボンディングパッド電
極はp側拡散電極上のp側ボンディングパッド電極およ
びn側拡散電極上のn側ボンディングパッド電極とも、
同一の工程で作成する。以上のような工程で、窒化物半
導体素子を作製したところ、発光部において、均一に発
光する高出力の窒化物半導体素子を得ることができた。
【0047】[実施例2]実施の形態1で得られた窒化
物半導体素子を一対のリードフレームに接続する。この
ときp側ボンディングパッドは一方のリードフレームに
直接ワイヤボンディングし、n側ボンディングパッド電
極は他方のリードフレームと電気的に接続された実装基
板にワイヤボンディングする。次にリードフレームがつ
いた窒化物半導体素子をあらかじめモールドしたい形状
に型取られた金型に入れ、樹脂を流し込み、硬化させる
ことで、窒化物半導体装置を得る。
【0048】
【発明の効果】以上示したように、本発明ではp側電極
は、透光性電極とp側ボンディングパッド電極とが離れ
て形成され、さらにp側拡散電極をp側ボンディングパ
ッド電極から延伸して透光性電極の少なくとも外周を覆
って形成し、透光性電極のp型窒化物半導体層に対する
オーミック特性が、p側拡散電極のp型窒化物半導体層
に対するオーミック特性に対して良くなるようにする。
またn側電極は、n側ボンディングパッド電極と、n側
ボンディングパッド電極から延伸して透光性電極および
透光性電極とp側拡散電極との接触部を囲むようなn側
拡散電極とを形成する。これにより、応答性が良く、高
出力でありかつ微小発光面積でも均一に発光が可能とな
る窒化物半導体素子が得られた。また、これらの効果は
微小面積の発光素子に限らず適用できるので、本発明の
素子構造は微小な発光面積以外の素子にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施の形態を模式的に示した平面
図である。
【図2】 図1のB−B'で切断したときの模式的に示
した断面図である。
【図3】 図1のA−A'で切断したときの模式的に示
した断面図である。
【図4】 図1のC−C'で切断したときの断面図より
p側拡散電極と透光性電極との接触部について示す模式
図である。
【図5】 本発明の他の実施の形態を模式的に示した平
面図である。
【図6】 従来の窒化物半導体素子の形態を模式的に示
した平面図である。
【図7】 本発明の窒化物半導体素子をモールドした窒
化物半導体発光装置の斜視図を模式的に示した図であ
る。
【図8】 図7の窒化物半導体発光装置を上面から見た
図である。
【図9】 図7の窒化物半導体装置を側面から見た図で
ある。
【符号の説明】
1・・・絶縁性基板 2・・・n型窒化物半導体層 3・・・p型窒化物半導体層 100・・・窒化物半導体素子 101・・・透光性電極(全面電極) 102・・・p側拡散電極 103・・・p側ボンディングパッド電極 201・・・n側拡散電極 202・・・n側ボンディングパッド電極 301・・・絶縁膜(保護膜) 401・・・モールド樹脂 402・・・実装基板 403・・・リードフレーム 404・・・レンズ(部)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/28 H01L 21/28 301R Fターム(参考) 4M104 AA04 AA09 BB02 BB04 BB05 BB06 BB07 BB08 BB09 BB13 BB14 BB15 BB17 BB18 BB36 CC01 CC03 DD78 DD83 EE06 EE09 EE16 EE17 FF01 FF11 FF13 GG04 HH08 HH15 5F041 AA02 CA05 CA34 CA40 CA46 CA65 CA74 CA82 CA88 CA92 DA07 DA17 DA44 DB09 EE17 FF14 5F045 AA04 AB14 AB17 AB32 AC19 AD09 AD12 AD14 AF09 AF13 BB16 CA10 CB05 CB10 DA53 DA55 EB15 HA13 HA16

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上にn型窒化物半導体層、p型窒化
    物半導体層が積層され、p型窒化物半導体層の一部がエ
    ッチングされてn型窒化物半導体層が露出されてかつ、
    それぞれの露出面にn側電極およびp側電極を有する窒
    化物半導体素子において、 前記p側電極は、p型窒化物半導体層表面の一部に接し
    て該p型窒化物半導体層とオーミック接触をなす透光性
    電極と、透光性電極から離れて形成されたp側ボンディ
    ングパッド電極と、該p側ボンディングパッド電極から
    延伸して該透光性電極の少なくとも外周を覆って形成さ
    れたp側拡散電極とを有し、 前記透光性電極のp型窒化物半導体層に対するオーミッ
    ク特性が、前記p側拡散電極のp型窒化物半導体層に対
    するオーミック特性に対して良くなるようにそれぞれの
    電極材料が選定されていることを特徴とする窒化物半導
    体素子。
  2. 【請求項2】 前記透光性電極はp型窒化物半導体層に
    対してオーミック接触で形成され、前記p側拡散電極は
    p型窒化物半導体層に対してショットキー接触で形成さ
    れていることを特徴とする請求項1に記載の窒化物半導
    体素子。
  3. 【請求項3】 前記透光性電極は透光性を示すことを特
    徴とする請求項1または請求項2のいずれかに記載の窒
    化物半導体素子。
  4. 【請求項4】 前記透光性電極とp側拡散電極との接触
    部において、該接触部の内周の形状は円形であることを
    特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の窒
    化物半導体素子。
  5. 【請求項5】 前記透光性電極とp側拡散電極との接触
    部において、該接触部の内周および外周は同心円形状で
    あることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか
    に記載の窒化物半導体素子。
  6. 【請求項6】 前記p側拡散電極は複数の金属層からな
    り、少なくともp型窒化物半導体層側からタングステ
    ン、タングステンに接して白金が積層されていることを
    特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の窒
    化物半導体素子。
  7. 【請求項7】 前記透光性電極はp型窒化物半導体層側
    からニッケル/金を積層してアニーリングされた合金層
    であることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれ
    かに記載の窒化物半導体素子。
  8. 【請求項8】 前記n側電極は、n側ボンディングパッ
    ド電極と、該n側ボンディングパッド電極から延伸して
    前記透光性電極および該透光性電極と前記p側拡散電極
    との接触部を囲むように形成されたn側拡散電極とを有
    することを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか
    に記載の窒化物半導体素子。
  9. 【請求項9】 前記窒化物半導体素子の外形は四角形状
    であり、前記p側ボンディングパッド電極とn側ボンデ
    ィングパッド電極は素子を形成する一辺の両端にそれぞ
    れが形成されていることを特徴とする請求項1乃至請求
    項8のいずれかに記載の窒化物半導体素子。
  10. 【請求項10】 前記窒化物半導体素子の外形は四角形
    状であり、前記p側ボンディングパッド電極とn側ボン
    ディングパッド電極は素子の対角線上の両端にそれぞれ
    が形成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項
    8のいずれかに記載の窒化物半導体素子。
  11. 【請求項11】 前記p側ボンディングパッドとn側ボ
    ンディングパッド電極は同一の製造工程で形成された同
    一の材料からなることを特徴とする請求項1乃至請求項
    10のいずれかに記載の窒化物半導体素子。
  12. 【請求項12】 前記透光性電極と透光性電極を覆って
    形成されたp側拡散電極とが接触する面積の透光性電極
    の面積に対する比が、0.15以上0.50以下である
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項11のいずれかに
    記載の窒化物半導体素子。
  13. 【請求項13】 前記ボンディングパッド部を除くすべ
    ての電極および窒化物半導体層の全面が透光性を有する
    絶縁膜で覆われていることを特徴とする請求項1乃至請
    求項12のいずれかに記載の窒化物半導体素子。
  14. 【請求項14】 少なくとも一対のリードフレームと電
    気的に接続された請求項1乃至請求項13のいずれかに
    記載の窒化物半導体素子が、エポキシ系の樹脂でモール
    ドされてなる窒化物半導体装置であって、該窒化物半導
    体層の発光面に対向する樹脂の表面は凸となりレンズを
    形成し、該発光面に対向する樹脂表面のレンズ部を除く
    全面は平面であることを特徴とする窒化物半導体発光装
    置。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011142349A (ja) * 2007-01-03 2011-07-21 Samsung Led Co Ltd 窒化物半導体発光素子
CN105742465A (zh) * 2016-04-15 2016-07-06 深圳大道半导体有限公司 半导体发光芯片
CN105742469A (zh) * 2016-04-15 2016-07-06 深圳大道半导体有限公司 半导体发光芯片
CN105895756A (zh) * 2016-05-16 2016-08-24 华南师范大学 多电极可见光通讯发光器件及其制备方法
US10069039B2 (en) 2015-09-21 2018-09-04 Toyoda Gosei Co., Ltd Light-emitting device
US10096646B2 (en) 2015-09-15 2018-10-09 Toyoda Gosei Co., Ltd. Light-emitting unit
KR20190022110A (ko) * 2017-08-25 2019-03-06 엘지이노텍 주식회사 반도체 소자

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06125113A (ja) * 1992-10-12 1994-05-06 Toyoda Gosei Co Ltd 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JPH0794783A (ja) * 1993-09-21 1995-04-07 Nichia Chem Ind Ltd 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JPH09232632A (ja) * 1995-12-22 1997-09-05 Toshiba Corp 半導体発光素子及びその製造方法
JPH10190055A (ja) * 1996-12-24 1998-07-21 Rohm Co Ltd 半導体発光素子
JPH10242516A (ja) * 1997-02-21 1998-09-11 Sharp Corp 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子及びその製造方法
JPH10341039A (ja) * 1997-04-10 1998-12-22 Toshiba Corp 半導体発光素子およびその製造方法
JP2000022210A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Sharp Corp 半導体発光素子および半導体発光装置
JP2000188421A (ja) * 1998-12-21 2000-07-04 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物系化合物半導体素子
JP2001024220A (ja) * 1999-07-13 2001-01-26 Showa Denko Kk Iii族窒化物半導体発光ダイオード

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06125113A (ja) * 1992-10-12 1994-05-06 Toyoda Gosei Co Ltd 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JPH0794783A (ja) * 1993-09-21 1995-04-07 Nichia Chem Ind Ltd 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JPH09232632A (ja) * 1995-12-22 1997-09-05 Toshiba Corp 半導体発光素子及びその製造方法
JPH10190055A (ja) * 1996-12-24 1998-07-21 Rohm Co Ltd 半導体発光素子
JPH10242516A (ja) * 1997-02-21 1998-09-11 Sharp Corp 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子及びその製造方法
JPH10341039A (ja) * 1997-04-10 1998-12-22 Toshiba Corp 半導体発光素子およびその製造方法
JP2000022210A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Sharp Corp 半導体発光素子および半導体発光装置
JP2000188421A (ja) * 1998-12-21 2000-07-04 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物系化合物半導体素子
JP2001024220A (ja) * 1999-07-13 2001-01-26 Showa Denko Kk Iii族窒化物半導体発光ダイオード

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011142349A (ja) * 2007-01-03 2011-07-21 Samsung Led Co Ltd 窒化物半導体発光素子
US10096646B2 (en) 2015-09-15 2018-10-09 Toyoda Gosei Co., Ltd. Light-emitting unit
US10069039B2 (en) 2015-09-21 2018-09-04 Toyoda Gosei Co., Ltd Light-emitting device
CN105742465A (zh) * 2016-04-15 2016-07-06 深圳大道半导体有限公司 半导体发光芯片
CN105742469A (zh) * 2016-04-15 2016-07-06 深圳大道半导体有限公司 半导体发光芯片
CN105895756A (zh) * 2016-05-16 2016-08-24 华南师范大学 多电极可见光通讯发光器件及其制备方法
KR20190022110A (ko) * 2017-08-25 2019-03-06 엘지이노텍 주식회사 반도체 소자
KR102410809B1 (ko) 2017-08-25 2022-06-20 쑤저우 레킨 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드 반도체 소자

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