JP2002281399A - 撮像装置、撮像方法、プログラム、及び記憶媒体 - Google Patents

撮像装置、撮像方法、プログラム、及び記憶媒体

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博人 北井
Toshikazu Tamura
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 撮影しようとしてから実際の撮影を行うまで
の待ち時間が少なくても、誤差の少ない撮影出力を得る
ことを可能とする。 【解決手段】 撮影モードと補正モードとを有する撮像
装置であって、被写体像11を撮像する撮像手段20
と、補正モード時に得られる撮像手段20からの補正信
号に基づき、撮影モード時に得られる撮像手段20から
の撮像信号を補正する補正手段とを有し、撮像手段20
内に生じるノイズ成分の時間的変化に基づいて補正を行
うようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、可視光もしくは放
射線により像を形成する撮像装置及び撮像方法に係り、
たとえばファクシミリ、デジタル複写機、スチールカメ
ラあるいは放射線撮像装置等の一次元もしくは二次元の
撮像装置及び撮像方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、CCD型センサ、MOS型センサ
で代表されるSi単結晶センサや、水素化アモルファス
シリコン(以下、a−Siと記す)のPIN型センサを
用いた撮像素子を、一次元、もしくは二次元に並べた大
型センサを用いた撮像装置が各種生産されている。
【0003】これらの撮像装置は、可視光の像を形成す
るのみならず、原子力開発、放射線医療機器および非破
壊検査の発達にともない放射線像を電気信号に変換する
撮像装置も開発されている。
【0004】しかしながら、それらS/Nは2〜3桁の
ものが多く、それ以上のS/Nは求められていなかっ
た。これは、高S/Nの出力を高精度でデジタル化する
のに適したA/D変換器がなかったり、また変換後のデ
ータ量が大量になりメモリの制限や通信の制限を受け使
い勝手が悪く、結果、高S/Nの撮像装置の必要性が小
さかったためである。
【0005】ところが近年、大容量のメモリや高速な通
信の開発がめざましく、これにともない、4〜5桁の高
S/Nを持つ撮像装置の要求が高まっている。
【0006】しかしながら、通常、生産工程のばらつき
により固定パターンや感度ばらつきによるS/Nの低下
は避けられず、これを防ぐため、工場出荷時に固定パタ
ーンや感度ばらつきをメモリに記憶させて、実際に使う
場合に撮影出力とこのメモリとの情報で補正する手法が
とられていたが、この方法では補正に使うデータが撮影
より前にとられているため、撮像を実際に行った条件と
補正に使用するデータを作った条件とは異なっており、
S/Nの低下の原因となる固定パターンや感度ばらつき
はこれら条件で微妙に異なるため、撮影出力に含まれる
誤差は完全に補正されなかった。
【0007】そこで、特開平10-327317号公報では一次
元もしくは二次元に配列した複数の光電変換素子を含む
撮像手段を有する撮像装置において、撮影モード時の撮
影出力を記憶しておき、次に光が入射しない状態で撮影
モード時と同じ撮影条件を用いて動作させる補正モード
で得た補正出力を用いて撮影出力を補正する方法を開示
している。以下、そのような従来例について図面に基づ
いて説明する。
【0008】図1は従来例の撮像装置の全体システムブ
ロック図である。この従来例では医療用X線診断を目的
とする放射線撮像装置が構成されている。
【0009】図1において、10はX線13をパルス状
に発することができるX線源であり、撮影条件制御手段
として働くAEコントローラ30によりX線パルスのオ
ン、オフやX線源内の管球の管電圧、管電流が制御され
る。X線源10で発したX線13は診断対象となる患者
である被写体11を透過しX線を可視光に変換するCs
I、Gd2 O2 S等で構成される蛍光体12に入射す
る。このとき被写体11を透過するX線は被写体11の
内部の骨や内蔵の大きさや形、病巣の有無により透過量
が異なりそれらの像情報が含まれている。このX線13
は蛍光体12により可視光に変換され像情報光14とし
て撮像手段として働く二次元エリアセンサ20に入射す
る。二次元エリアセンサ20は二次元に配列した複数の
光電変換素子とそれらを駆動する駆動回路からなり、像
情報光14を二次元情報を含む電気信号に変換して出力
する。
【0010】二次元エリアセンサ20は、AEコントロ
ーラ30により蓄積時間や駆動スピードが制御される。
二次元エリアセンサ20の出力はゲイン調整回路21に
入力されるとともにAEコントローラ30にも撮影条件
を制御するための情報として入力される。
【0011】AEコントローラ30には、撮影条件を制
御するために制御パネル32や温度センサ33およびフ
ォトタイマ31の出力も入力されている。制御パネル3
2は医師もしくは技師が患者の症状、体格、年齢や得た
い情報を考慮し撮影露光の度に最適な撮影出力が得られ
るように条件をパネル操作で入力し、電気信号に変換さ
れAEコントローラ30に入力される。
【0012】温度センサ33は撮影露光時における部屋
の温度や管球の温度および二次元エリアセンサ20等
の、温度により特性が変化し最適な動作条件が変化する
構成部品の温度を検出しAEコントローラ30に入力さ
れる。これら検出される温度はまさに撮影露光されてい
る時点の温度であることが好ましい。
【0013】フォトタイマ31は、被写体11と二次元
エリアセンサ20との間におかれ撮影露光中に被写体1
1の基準部分(例えば肺胞部)を透過するX線の量を検
知しAEコントローラ30に入力される。フォトタイマ
31でのX線の吸収は微少なため撮影露光にほとんど悪
影響しない。
【0014】AEコントローラ30は、これら入力の撮
影露光の直前の値もしくは撮影露光中の値をもとにX線
源10のX線パルス幅や二次元エリアセンサ20の蓄積
時間・駆動スピードおよびゲイン調整回路21の増幅率
を自動制御および設定制御できる。これら制御によりゲ
イン調整回路21の出力を適切な撮影出力にすることが
可能である。
【0015】また、このときAEコントローラ30が撮
影露光時に制御・設定した条件は条件記憶手段として働
く条件メモリ回路40に条件値として記憶しておくこと
が可能である。この条件メモリ回路40は条件を記憶で
きると同時に、逆に記憶した条件値をAEコントローラ
30に入力することも可能である。このときAEコント
ローラ30は条件メモリ回路40から入力された条件値
をもとにX線源10、二次元エリアセンサ20およびゲ
イン調整回路21を制御・設定し動作させることができ
る。つまり、過去の撮影露光条件と同じ制御・設定で再
び撮影露光することが可能となっている。このとき一部
の条件や制御・設定を異ならすことにより補正露光とし
ゲイン調整回路21の出力を補正出力とすることができ
る。つまり、X線パルスを発せずに他は前回の撮影露光
時と同じにしシステムを動作させれば、二次元エリアセ
ンサ20の暗時出力の補正出力が得られる。
【0016】図1中、補正回路80の破線内は補正回路
であり、撮影露光時に得られる撮影出力はスイッチ51
を介し撮影出力記憶手段であるフレームメモリ50に一
度記録でき、補正露光時に得られる補正出力Bとフレー
ムメモリ50に記憶された撮影出力Aにより演算処理回
路60で処理し撮影時の誤差を取り除いた像情報出力O
とすることができる。この像情報出力Oは画像処理シス
テム等に電送される。
【0017】70はシステム制御回路であり撮影露光開
始ボタン71が押されたことを検知し、図示はしていな
いがAEコントローラ30を介してX線源10、二次元
エリアセンサ20、ゲイン調整回路21を制御し撮影露
光や補正露光を行ない、また、スイッチ51、フレーム
メモリ50および演算処理回路60を制御し補正回路8
0として動作させる。
【0018】図2は、二次元エリアセンサ20の構成を
示す全体回路図である。なお、図1と同一機能の部分に
は同一符号を付している。
【0019】図2において、S11〜S33は光電変換
素子で下部電極側をG、上部電極側をDで示している。
C11〜C33は蓄積用コンデンサ、T11〜T33は
転送用TFTである。Vsは読み出し用電源、Vgはリ
フレッシュ用電源であり、それぞれスイッチSWs、S
Wgを介して光電変換素子S11〜S33のG電極に接
続されている。スイッチSWsはインバータを介して、
スイッチSWgは直接にリフレッシュ制御回路RFに接
続されており、リフレッシュ期間はSWgがon、その
他の期間はSWsがonするよう制御されている。
【0020】1画素は1個の光電変換素子とコンデン
サ、およびTFTで構成され、その信号出力は信号配線
SIGにより検出用集積回路ICに接続されている。こ
の二次元エリアセンサは計9個の画素を3つのブロック
に分け1ブッロクあたり3画素の出力を同時に転送しこ
の信号配線を通して検出用集積回路によって順次出力に
変換され出力される。また1ブロック内の3画素を横方
向に配置し、3ブロックを順に縦に配置することにより
各画素を二次元的に配置している。
【0021】次に図1、図2によって従来例の放射線撮
像装置の動作について説明する。前述の説明のように従
来例においての光電変換素子は定期的にリフレッシュす
れば光電変換モードにおいては入射した光に比例した光
電流を出力する光センサとして動作する。図3は撮像装
置の動作を示すタイミングチャートである。
【0022】まず、医師または技師は診断対象である患
者、つまり被写体11をX線源10と二次元エリアセン
サ20の間に置き診断したい部位が観察できるように被
写体にポーズさせる。同時に前もって問診等で得た患者
の症状、体格、年齢や得たい情報を考慮し最適な撮影出
力が得られるように条件を制御パネル32に入力する。
この信号は電気信号でAEコントローラ30に電送され
る。同時に条件メモリ回路40にこれら条件が記憶され
る。
【0023】この状態で医師または技師が撮影露光開始
ボタン71を押すと撮影モードが開始される。まずシス
テム制御回路70は二次元エリアセンサ20をリフレッ
シュ動作させる。ここでリフレッシュ動作を説明する。
まずシフトレジスタSR1およびSR2により制御配線
g1〜g3、s1〜s2にHiが印可される。すると転
送用TFT・T11〜T33とスイッチM1〜M3がo
nし導通し、光電変換素子S11〜S33のD電極はG
ND電位になる(積分検出器Ampの入力端子はGND
電位に設計されているため)。同時にリフレッシュ制御
回路RFがHiを出力しスイッチSWgがonし光電変
換素子S11〜S33のG電極はリフレッシュ用電源V
gにより正電位になる。すると光電変換素子S11〜S
33はリフレシュモードになりリフレッシュされる。つ
ぎにリフレッシュ制御回路RFがLoを出力しスイッチ
SWsがonし光電変換素子S11〜S33のG電極は
読み取り用電源Vsにより負電位になる。すると光電変
換素子S11〜S33は光電変換モードになり同時にコ
ンデンサC11〜C33は初期化される。この状態でシ
フトレジスタSR1およびSR2により制御配線g1〜
g3、s1〜s2にLoが印可される。すると転送用T
FT・T11〜T33とスイッチM1〜M3がoff
し、光電変換素子S11〜S33のD電極はDC的には
オープンになるがコンデンサC11〜C13によって電
位は保持される。しかしこの時点ではX線は入射されて
いないため光電変換素子S11〜S33には光は入射さ
れず光電流は流れない。これでリフレッシュ動作は終了
する。
【0024】この時点で温度センサ33は撮影露光時に
おける部屋の温度や管球の温度および二次元エリアセン
サ20等の、温度により特性が変化し最適な動作条件が
変化する構成部品の温度を検出しAEコントローラ30
に入力される。これら検出される温度はまさに撮影露光
される直前の温度である。同時に条件メモリ回路40に
これら温度が条件として記憶される。
【0025】ここでAEコントローラは制御パネル32
からの情報と温度センサ33からの情報で撮影露光時に
おける初期条件を決定する。同時に条件メモリ回路40
にこれら初期条件が記憶される。初期条件の内容はX線
源10の管球の電圧、電流および最大パルス幅や二次元
エリアセンサ20の駆動スピードである。例えば、制御
パネル32で胸部が設定されていればX線源10の管球
の電圧は高く、腹部の場合は低く条件を設定する。ま
た、制御パネル32で患者が子どもや妊婦が指示されて
いれば、フォトタイマ31による終了条件を短く設定
し、最大パルス幅も短く設定される。二次元エリアセン
サ20の温度が高い場合は光電変換素子の暗電流が高い
がTFTの能力が高いため駆動スピードを速くし暗電流
の蓄積を抑えS/Nの低下を防ぐ最適条件にしたり、逆
に温度が低いときはTFTの能力が低いが光電変換素子
の暗電流も低いため駆動スピードを低くしTFTの電荷
の転送の低下による画像の歪みを抑える。
【0026】この初期条件でX線が出射され被写体11
を通過し蛍光体12に入射すると光に変換され、その光
がそれぞれの光電変換素子S11〜S33に入射する。
同時に被写体11と二次元エリアセンサ20との間にお
かれたフォトタイマ31にも入射する。これら光は人体
等の内部構造の情報が含まれている。フォトタイマ31
の出力は随時AEコントローラ30に入力され、この値
の積分が初期条件で決められた一定値を越えるとAEコ
ントローラ30はX線をストップさせる。これにより撮
影露光において最適な露光量が得られる。また、もし初
期条件で決められた最大パルス幅になった場合はフォト
センサ31にかかわらずAEコントローラ30はX線を
ストップさせる。このとき、条件メモリ回路40にはこ
れら実際に出射されたパルス幅を露光時間として記憶さ
れる。
【0027】ある一定量この光により流れた光電流は電
荷としてそれぞれのコンデンサC11〜C33に蓄積さ
れX線の入射終了後も保持される。つぎに二次元エリア
センサ20は読み出し動作をする。シフトレジスタSR
1により制御配線g1にHiの制御パルスが印可され、
シフトレジスタSR2の制御配線s1〜s3への制御パ
ルス印可によって転送用TFT・T11〜T13、スイ
ッチM1〜M3を通してv1〜v3が順次出力される。
同様にシフトレジスタSR1、SR2の制御により他の
光信号も出力される。これにより人体等の内部構造の二
次元情報がv1〜v9として得られる。
【0028】これら出力はゲイン調整回路21に入力さ
れると共にAEコントローラ30にも入力される。AE
コントローラ30ではこれら出力を適切な値にするため
のゲインを随時判断し、その値を条件メモリ回路40に
記憶させると同時にゲイン調整回路21に指示する。こ
れによりゲイン調整回路21の出力は後にそれらを処理
するのに最適な撮影出力となる。この撮影出力はシステ
ム制御回路70によって制御されたスイッチ51を介し
撮影出力記憶手段であるフレームメモリ50に一度記録
される。
【0029】以上の説明のとおり、AEコントローラ3
0は制御パネル32、温度センサ33、フォトタイマ3
1および二次元エリアセンサ20の設定や出力によりX
線源10や二次元エリアセンサ20やゲイン調整回路2
1をほぼリアルタイムに自動制御し、その結果、最適に
近い各種条件で撮影出力を得ることができる。これで撮
影モードは終了する。
【0030】次に、システム制御回路70は補正モード
に入り再び二次元エリアセンサ20をリフレッシュ動作
させる。リフレッシュ終了後、撮影露光時に条件メモリ
回路40に記憶された各種条件をAEコントローラ30
に呼び出す。そして、X線源10以外は撮影モード時と
全く同じ条件で動作させる。つまり、温度センサ33や
フォトタイマ31の出力は使わずに条件メモリ回路40
に記憶された値に基づき動作させる。X線源10は補正
モードでは動作させず、X線は出射しない。ただし、X
線源10を動かさなくとも撮影モード時の露光時間に相
当する時間を待ってから二次元エリアセンサ20は読み
出し動作を行う。駆動スピードやゲイン調整回路21の
ゲインは撮影モードと同じ条件で動作させる。この時の
ゲイン調整回路21の出力を補正出力とする。つまり、
X線源10や二次元エリアセンサ20やゲイン調整回路
21を条件メモリ回路40の記憶された値に設定制御し
補正出力を得ることができる。
【0031】この補正出力は各画素のダーク時の電流
や、転送時の固定パターンノイズや、二次元エリアセン
サ20の内部のアンプやゲイン調整回路21のオフセッ
ト電圧などを反映した出力である。この補正出力は撮影
モード時と同じ蓄積時間であるからダーク時の電流の蓄
積による影響量も同じである。また、この補正出力は駆
動スピードも同じであるからクロックリーク等の影響に
よる固定パターンの影響量も同じである。さらにゲイン
も同じためオフセット電圧の影響量も同じである。つま
り、条件メモリ回路40により撮影モードと補正モード
でX線源以外全く同じ動作であるから先に述べた影響量
のみならずX線の出射、非出射以外の撮影にとって好ま
しくない影響量が全て同じになる。したがって、補正出
力は撮影出力中の好ましくない誤差だけが同じ量含まれ
ていることになる。
【0032】よって、フレームメモリ50に記憶されて
いる撮影出力をAとし、補正モードで得られた補正出力
をBとし、演算処理回路60で減算処理し、O=A−B
とすると、撮影モード時に得られた撮影出力の固定パタ
ーン等の誤差を取り除いた良好な像情報出力Oとするこ
とができる。
【0033】しかし、上記のような事が言えるのは2次
元エリアセンサの電源をon、つまり光電変換素子S1
1〜S33のG電極は読み取り用電源Vsにより負電位
にしてから所定時間経過して安定した状態になっている
場合である。そのため装置の電源投入時に光電変換素子
S11〜S33のG電極を読み取り用電源Vsにより負
電位にして安定した状態にした後以降、装置の電源を切
断するまでG電極に負電圧印加した状態を保っていた。
【0034】しかしこのような二次元エリアセンサは光
電変換素子S11〜S33のG電極に電圧を印加した状
態を長時間続けると性能が劣化するという欠点があっ
た。これを改善するために、撮影時以外では、光電変換
素子S11〜S33のG電極に電圧印加を中止するスリ
−プ状態にし、撮影時では、光電変換素子S11〜S3
3のG電極に電圧印加を行うレディ状態にするという駆
動方法を用いる必要がある。
【0035】図4は、そのような駆動制御を示すタイミ
ング図である。mは撮影モードや補正モードを示し、p
は上記スリープ状態やレディ状態を示し、xはX線曝射
を示し、dはダーク電流の変化を示している。スリープ
状態(光電変換素子S11〜S33のG電極に電圧印加
を中止する)からa点でレディ状態(光電変換素子S1
1〜S33のG電極に電圧印加を行なう)とした後、か
なり長い所定時間(10sec程度)経過後以降にb点
からc点までを撮影モード、d点からe点までを補正モ
ードとしていた。
【0036】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例では光電変換素子のG電極に電圧印加を行なう事に
起因するダーク電流の変化があるために、以下のような
欠点があった。図4のdkは光電変換素子のG電極に電
圧印加を行う事に起因するダーク電流の変化を示してお
り、スリープ状態からレディ状態にしたa点でダーク電
流は大きくなった後、時間の経過とともに減少していく
様子を表している。図4でダーク電流がほぼ一定に落ち
着いたb点〜e点にて撮影や補正を行う事により上記の
ようなダーク電流の変化の影響を避けていた。しかしな
がらレディ状態にしてからダーク電流をほぼ一定に落ち
着かす為には待ち時間を大きく(通常10sec程度)
設定する必要があり、その結果、撮影しようとしてから
実際の撮影を行うまでに長時間待たねばならず、使い勝
手の悪い装置になるという欠点があった。
【0037】また、逆に上記欠点を回避して待ち時間を
少なくしようとして、スリープ状態からレディ状態にし
たa点からすぐに撮影モードや補正モードを行うと、ダ
ーク電流が変化している時に補正を行おうとするので、
その変化分だけ誤差が発生してしまい精度良い補正が出
来ないという欠点があった。図5は上記のような待ち時
間を少なくした時の誤差を説明した信号図である。dk
のダーク電流の変化が急な時にAの撮影モードやBの補
正モードを行っている。このAの撮影モードやBの補正
モードは図3のA,Bに対応するものであり、dkのよ
うにダーク電流が変化している事を考慮してA、Bのv
1〜v9までの出力を考え、v1(A)−v1(B)≡
v1(A−B)と表記すると、v1(A―B)>v2
(A−B)>・・・・・>v9(A−B)のような関係
となり補正誤差が出ることになる。
【0038】図6は、そのような補正誤差を図示したも
のであり、図2のS11〜S33に対応させてその出力
v1〜v9の(A−B)の大きさを棒グラフに表してい
る。このようにスリープ状態からレディ状態にしたa点
からすぐに撮影モードや補正モードを行うと、ダーク電
流の変化の影響を受け、図6のように強度分布が発生し
てしまう。これを画像で見ると左上が明るく、右下が暗
い画像になってしまい、求めようとする画像に好ましく
ない影響を与えてしまっていた。(図4のようにdkの
ダーク電流が一定になった時にAの撮影モードやBの補
正モードを行った場合は、図6のv1(A−B)〜v9
(A−B)はゼロとなりダーク電流の変化の影響はゼロ
となり補正出力は撮影出力中の好ましくない誤差だけが
同じ量含まれていることになる。)
【0039】本発明はこのような問題を解決するために
成されたものであり、撮影しようとしてから実際の撮影
を行うまでの待ち時間が少なくても、誤差の少ない撮影
出力を得ることを可能とした撮像装置、撮像方法及び記
憶媒体を提供することを目的とする。
【0040】
【課題を解決するための手段】本発明の撮像装置は、撮
影モードと補正モードとを有する撮像装置であって、被
写体像を撮像する撮像手段と、前記補正モード時に得ら
れる前記撮像手段からの補正信号に基づき、前記撮影モ
ード時に得られる前記撮像手段からの撮像信号を補正す
る補正手段とを有し、前記補正手段は、前記撮像手段内
に生じるノイズ成分の時間的変化に基づき補正を行う。
【0041】本発明の撮像装置の一態様例において、前
記撮像信号と前記補正信号は、前記撮像手段を駆動状態
とした後、前記ノイズ成分の時間的変化が所定値以上の
期間内に得られたものである。
【0042】本発明の撮像装置の一態様例においては、
前記撮像手段により放射線撮影を行う。
【0043】本発明の撮像装置は、撮影モードと補正モ
ードとを有し、二次元に配列した複数の光電変換素子を
含む撮像手段を有する撮像装置であって、前記撮影モー
ド時の撮影出力を記憶する手段と、前記撮影モード時の
撮影条件を記憶する手段と、前記補正モードにおいて、
前記記憶しておいた前記撮影条件を用いて前記撮像手段
を動作させた際に得られる補正出力を記憶する手段と、
前記補正出力を用いて前記撮影出力を補正する手段を有
する。
【0044】本発明の撮像装置の一態様例においては、
前記光電変換素子はその一部に光を検出しないダミーの
光電変換素子を有しており、前記補正出力を用いた前記
撮影出力の補正は、前記ダミーの光電変換素子を除いた
前記光電変換素子における前記撮影出力と前記補正出力
との差分を、前記ダミーの変換素子の前記撮影出力と前
記補正出力との差分に基づいて補正する。
【0045】本発明の撮像装置の一態様例において、前
記ダミーの光電変換素子は、前記光電変換素子の一部に
光が入射しないようにマスクすることにより構成したも
のである。
【0046】本発明の撮像装置の一態様例において、前
記ダミーの光電変換素子は、前記光電変換素子の一部の
領域をパターン形成しないことにより構成したものであ
る。
【0047】本発明の撮像装置の一態様例においては、
前記ダミーの光電変換素子は、前記光電変換素子の周辺
部に設けられている。
【0048】本発明の撮像装置の一態様例においては、
前記ダミーの光電変換素子の撮影出力と補正出力との差
分に基づいての補正は、読み取りラインの先頭又は最後
における前記ダミーの光電変換素子の補正出力を用いて
行う。
【0049】本発明の撮像装置の一態様例においては、
前記ダミーの光電変換素子の撮影出力と補正出力との差
分に基づいての補正は、読み取りラインの先頭及び最後
における前記ダミーの変換素子の補正出力の双方を用い
て行う。
【0050】本発明の撮像装置の一態様例においては、
前記補正出力を用いた前記撮影出力の補正は、前記補正
出力と前記撮影モードとの時間間隔と前記補正出力に基
づいて行う。
【0051】本発明の撮像装置の一態様例においては、
前記補正出力に基づいての補正を、予め求めておいた所
定の関数を用いて行う。
【0052】本発明の撮像装置の一態様例においては、
前記補正出力に基づいての補正を、予め求めておいた所
定のデータテーブルを用いて行う。
【0053】本発明の撮像方法は、撮影モードと補正モ
ードとを有し、被写体像を撮像する撮像手段を備えた撮
像装置を用いた撮像方法であって、前記補正モード時に
前記撮像手段から補正信号を得て、当該補正信号に基づ
いて、前記撮影モード時に前記撮像手段から得られる撮
像信号を補正する。
【0054】本発明の撮像方法の一態様例においては、
前記撮像手段内に生じるノイズ成分の時間的変化に基づ
いて前記撮像信号を補正する。
【0055】本発明の撮像方法の一態様例においては、
前記撮像信号と前記補正信号を、前記撮像手段を駆動状
態とした後、前記ノイズ成分の時間的変化が所定値以上
の期間内に得る。
【0056】本発明の撮像方法の一態様例においては、
前記撮像手段を用いて放射線撮影を行う。
【0057】本発明のプログラムは、上記の撮像方法の
手順をコンピュータに実行させるためのプログラムであ
る。
【0058】本発明の記憶媒体は、上記撮像方法の手順
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記憶し
たコンピュータ読み取り可能な記憶媒体である。
【0059】
【作用】本発明においては、ダミー変換素子を光電変換
素子面の周辺部に設けた撮像装置を用いて各種自動制御
された条件で、先ず撮影を行い、撮影出力を得て、この
撮影出力と、撮影条件を記憶しておき、この撮影時に記
憶しておいた撮影条件と、得たい補正出力により、条件
を設定して再度動作させることにより得た補正出力を記
憶しておき、「前記ダミー光電変換素子を除いた前記光
電変換素子の撮影出力と補正出力との差分」を「前記ダ
ミー変換素子の撮影出力と補正出力との差分」に基づい
て補正することにより、より誤差の少ない撮影出力を得
ることが可能となり、高S/Nの像情報を得ることがで
きる。
【0060】また、本発明によれば、各種自動制御され
た条件で、先ず撮影を行い、撮影出力を得て、この撮影
出力と、撮影条件を記憶しておき、この撮影時に記憶し
ておいた撮影条件と、得たい補正出力により、条件を設
定して再度動作させることにより得た補正出力を記憶し
ておき、前記記憶した補正出力と、記憶モードと補正モ
ードの時間間隔から、予め求めておいた関数又はデータ
テーブルを用いて補正値を計算し、前記記憶した撮影出
力を前記補正値を用いて補正することにより、より誤差
の少ない撮影出力を得ることが可能となり、高S/Nの
像情報を得ることができる。
【0061】
【発明の実施の形態】(第1の実施形態)先ず、本発明
の第1の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。図
7は本発明の第1の実施形態に係る撮像装置の全体シス
テムブロック図である。なお、図1と同一機能の部分に
は同一符号を付している。本実施形態では医療用X線診
断を目的とする放射線撮像装置が構成されている。
【0062】図7において、10はX線13をパルス状
に発することができるX線源であり、撮影条件制御手段
として働くAEコントローラ30によりX線パルスのオ
ン、オフやX線源内の管球の管電圧、管電流が制御され
る。X線源10で発したX線13は診断対象となる患者
である被写体11を透過しX線を可視光に変換するCs
I、Gd2 O2 S等で構成される蛍光体12に入射す
る。このとき被写体11を透過するX線は被写体11の
内部の骨や内蔵の大きさや形、病巣の有無により透過量
が異なりそれらの像情報が含まれている。このX線13
は蛍光体12により可視光に変換され像情報光14とし
て撮像手段として働く二次元エリアセンサ20に入射す
る。二次元エリアセンサ20は二次元に配列した複数の
光電変換素子とそれらを駆動する駆動回路からなり、像
情報光14を二次元情報を含む電気信号に変換して出力
する。
【0063】二次元エリアセンサ20は、AEコントロ
ーラ30により蓄積時間や駆動スピードが制御される。
二次元エリアセンサ20の出力はゲイン調整回路21に
入力されるとともにAEコントローラ30にも撮影条件
を制御するための情報として入力される。
【0064】AEコントローラ30には、撮影条件を制
御するために制御パネル32や温度センサ33およびフ
ォトタイマ31の出力も入力されている。制御パネル3
2は医師もしくは技師が患者の症状、体格、年齢や得た
い情報を考慮し撮影露光の度に最適な撮影出力が得られ
るように条件をパネル操作で入力し、電気信号に変換さ
れAEコントローラ30に入力される。
【0065】温度センサ33は撮影露光時における部屋
の温度や管球の温度および二次元エリアセンサ20等
の、温度により特性が変化し最適な動作条件が変化する
構成部品の温度を検出しAEコントローラ30に入力さ
れる。これら検出される温度はまさに撮影露光されてい
る時点の温度であることが好ましい。
【0066】フォトタイマ31は、被写体11と二次元
エリアセンサ20との間におかれ撮影露光中に被写体1
1の基準部分(例えば肺胞部)を透過するX線の量を検
知しAEコントローラ30に入力される。フォトタイマ
31でのX線の吸収は微少なため撮影露光にほとんど悪
影響しない。
【0067】AEコントローラ30は、これら入力の撮
影露光の直前の値もしくは撮影露光中の値をもとにX線
源10のX線パルス幅や二次元エリアセンサ20の蓄積
時間・駆動スピードおよびゲイン調整回路21の増幅率
を自動制御および設定制御できる。これら制御によりゲ
イン調整回路21の出力を適切な撮影出力にすることが
可能である。
【0068】また、このときAEコントローラ30が撮
影露光時に制御・設定した条件は条件記憶手段として働
く条件メモリ回路40に条件値として記憶しておくこと
が可能である。この条件メモリ回路40は条件を記憶で
きると同時に、逆に記憶した条件値をAEコントローラ
30に入力することも可能である。このときAEコント
ローラ30は条件メモリ回路40から入力された条件値
をもとにX線源10、二次元エリアセンサ20およびゲ
イン調整回路21を制御・設定し動作させることができ
る。つまり、過去の撮影露光条件と同じ制御・設定で再
び撮影露光することが可能となっている。このとき一部
の条件や制御・設定を異ならすことにより補正露光とし
ゲイン調整回路21の出力を補正出力とすることができ
る。つまり、X線パルスを発せずに他は前回の撮影露光
時と同じにしシステムを動作させれば、二次元エリアセ
ンサ20の暗時出力の補正出力が得られる。
【0069】図7中、80内は補正回路であり、撮影露
光時に得られる撮影出力はスイッチ56を介し撮影出力
記憶手段であるフレームメモリ50に一度記録でき、補
正露光時に得られる補正出力はスイッチ56を介し補正
出力記憶手段であるフレームメモリ57に一度記録で
き、フレームメモリ50に記憶された撮影出力Aとフレ
ームメモリ57に記憶された補正出力Bにより演算処理
回路60で処理し撮影時の誤差を取り除いた像情報出力
Oとすることができる。この像情報出力Oは画像処理シ
ステム等に電送される。
【0070】70はシステム制御回路であり撮影露光開
始ボタン71が押されたことを検知し、図示はしていな
いがAEコントローラ30を介してX線源10、二次元
エリアセンサ20、ゲイン調整回路21を制御し撮影露
光や補正露光を行い、また、スイッチ51、フレームメ
モリ50および演算処理回路60を制御し補正回路80
として動作させる。
【0071】すなわち、図7に示す構成は、二次元に配
列した複数の光電変換素子を含む撮像手段20と、前記
光電変換素子に像情報光の入射を制御可能な像情報入射
手段10と、撮影条件を自動制御および設定制御可能な
撮影条件制御手段30と、および前記撮影条件制御手段
が自動制御された条件を記憶する条件記憶手段40とを
有する撮像装置において、先ず、自動制御で所望の撮影
出力が得られるよう前記撮影条件制御手段30を動作さ
せながら前記像情報入射手段31により像情報光を前記
撮像手段20に入射させ、このときの撮影出力を撮影出
力記憶手段50に記憶させると同時に前記撮影条件制御
手段30が選択した設定値を前記条件記憶手段40に記
憶させ、その後、前記条件記憶手段40に記憶された設
定値により前記撮影条件制御手段30を設定動作させ、
このときの出力を補正出力とし、このときの補正出力を
補正出力記憶手段57に記憶させこれと前記撮影出力記
憶手段50に記憶された撮影出力と前記補正出力記憶手
段57に記憶された補正出力により演算処理回路60で
処理し、撮像手段20の誤差を取り除いた出力とするこ
とを特徴とする撮像装置、及び撮像方法である。
【0072】図2は、二次元エリアセンサ20の構成を
示す全体回路図である。図2において、S11〜S33
は光電変換素子で下部電極側をG、上部電極側をDで示
している。C11〜C33は蓄積用コンデンサ、T11
〜T33は転送用TFTである。Vsは読み出し用電
源、Vgはリフレッシュ用電源であり、それぞれスイッ
チSWs、SWgを介して光電変換素子S11〜S33
のG電極に接続されている。スイッチSWsはインバー
タを介して、スイッチSWgは直接にリフレッシュ制御
回路RFに接続されており、リフレッシュ期間はSWg
がon、その他の期間はSWsがonするよう制御され
ている。1画素は1個の光電変換素子とコンデンサ、お
よびTFTで構成され、その信号出力は信号配線SIG
により検出用集積回路ICに接続されている。本実施形
態の二次元エリアセンサは計9個の画素を3つのブロッ
クに分け1ブッロクあたり3画素の出力を同時に転送し
この信号配線を通して検出用集積回路によって順次出力
に変換され出力される。また1ブロック内の3画素を横
方向に配置し、3ブロックを順に縦に配置することによ
り各画素を二次元的に配置している。
【0073】S11は光電変換素子、T11はTFT、
C11はコンデンサ、およびSIGは信号配線である。
本実施形態においてはコンデンサC11と光電変換素子
S11とは特別に素子を分離しておらず光電変換素子S
11の電極の面積を大きくすることによりコンデンサC
11を形成している。これは本実施形態の光電変換素子
とコンデンサが同じ層構成であるから可能で本実施形態
の特徴でもある。画素上部にはパッシベーション用窒化
シリコン膜SiN8 とCsI、Gd2 O2 S等の蛍光体
12が形成されている。上方より像情報の含まれるX線
13が入射すると蛍光体12により像情報光14に変換
され、この光が光電変換素子に入射される。
【0074】前記光電変換素子はその一部に光が入射し
ないよう受光面を遮光膜や遮光板などでマスクしたダミ
ー光電変換素子を設けておく。この第1の実施形態では
図2、8において左端部のS11、S21、S31をダ
ミー光電変換素子部としている。
【0075】次に図7、図2および図3によって本実施
形態の放射線撮像装置の動作について説明する。前述の
説明のように本実施形態においての光電変換素子は定期
的にリフレッシュすれば光電電変換モードにおいては入
射した光に比例した光電流を出力する光センサとして動
作する。図3は撮像装置の動作を示すタイミングチャー
トである。
【0076】まず、医師または技師は診断対象である患
者、つまり被写体11をX線源10と二次元エリアセン
サ20の間に置き診断したい部位が観察できるように被
写体にポーズさせる。同時に前もって問診等で得た患者
の症状、体格、年齢や得たい情報を考慮し最適な撮影出
力が得られるように条件を制御パネル32に入力する。
この信号は電気信号でAEコントローラ30に電送され
る。同時に条件メモリ回路40にこれら条件が記憶され
る。
【0077】この状態で医師または技師が撮影露光開始
ボタン71を押すと撮影モードが開始される。
【0078】図5のa点でレディ状態、つまり2次元エ
リアセンサの電源をon、つまり光電変換素子S11〜
S33のG電極は読み取り用電源Vsにより負電位にす
る。次にシステム制御回路70は二次元エリアセンサ2
0をリフレッシュ動作させる。ここでリフレッシュ動作
を説明する。まずシフトレジスタSR1およびSR2に
より制御配線g1〜g3、s1〜s2にHiが印可され
る。すると転送用TFT・T11〜T33とスイッチM
1〜M3がonし導通し、光電変換素子S11〜S33
のD電極はGND電位になる(積分検出器Ampの入力
端子はGND電位に設計されているため)。同時にリフ
レッシュ制御回路RFがHiを出力しスイッチSWgが
onし光電変換素子S11〜S33のG電極はリフレッ
シュ用電源Vgにより正電位になる。すると光電変換素
子S11〜S33はリフレシュモードになりリフレッシ
ュされる。つぎにリフレッシュ制御回路RFがLoを出
力しスイッチSWsがonし光電変換素子S11〜S3
3のG電極は読み取り用電源Vsにより負電位になる。
すると光電変換素子S11〜S33は光電変換モードに
なり同時にコンデンサC11〜C33は初期化される。
この状態でシフトレジスタSR1およびSR2により制
御配線g1〜g3、s1〜s2にLoが印可される。す
ると転送用TFT・T11〜T33とスイッチM1〜M
3がoffし、光電変換素子S11〜S33のD電極は
DC的にはオープンになるがコンデンサC11〜C13
によって電位は保持される。しかしこの時点ではX線は
入射されていないため光電変換素子S11〜S33には
光は入射されず光電流は流れない。これでリフレッシュ
動作は終了する。
【0079】この時点で温度センサ33は撮影露光時に
おける部屋の温度や管球の温度および二次元エリアセン
サ20等の、温度により特性が変化し最適な動作条件が
変化する構成部品の温度を検出しAEコントローラ30
に入力される。これら検出される温度はまさに撮影露光
される直前の温度である。同時に条件メモリ回路40に
これら温度が条件として記憶される。
【0080】ここでAEコントローラは制御パネル32
からの情報と温度センサ33からの情報で撮影露光時に
おける初期条件を決定する。同時に条件メモリ回路40
にこれら初期条件が記憶される。初期条件の内容はX線
源10の管球の電圧、電流および最大パルス幅や二次元
エリアセンサ20の駆動スピードである。例えば、制御
パネル32で胸部が設定されていればX線源10の管球
の電圧は高く、腹部の場合は低く条件を設定する。ま
た、制御パネル32で患者が子どもや妊婦が指示されて
いれば、フォトタイマ31による終了条件を短く設定
し、最大パルス幅も短く設定される。二次元エリアセン
サ20の温度が高い場合は光電変換素子の暗電流が高い
がTFTの能力が高いため駆動スピードを速くし暗電流
の蓄積を抑えS/Nの低下を防ぐ最適条件にしたり、逆
に温度が低いときはTFTの能力が低いが光電変換素子
の暗電流も低いため駆動スピードを低くしTFTの電荷
の転送の低下による画像の歪みを抑える。
【0081】この初期条件でX線が出射され被写体11
を通過し蛍光体12に入射すると光に変換され、その光
がそれぞれの光電変換素子S11〜S33に入射する。
同時に被写体11と二次元エリアセンサ20との間にお
かれたフォトタイマ31にも入射する。これら光は人体
等の内部構造の情報が含まれている。フォトタイマ31
の出力は随時AEコントローラ30に入力され、この値
の積分が初期条件で決められた一定値を越えるとAEコ
ントローラ30はX線をストップさせる。これにより撮
影露光において最適な露光量が得られる。また、もし初
期条件で決められた最大パルス幅になった場合はフォト
センサ31にかかわらずAEコントローラ30はX線を
ストップさせる。このとき、条件メモリ回路40にはこ
れら実際に出射されたパルス幅を露光時間として記憶さ
れる。
【0082】ある一定量この光により流れた光電流は電
荷としてそれぞれのコンデンサC11〜C33に蓄積さ
れX線の入射終了後も保持される。つぎに二次元エリア
センサ20は読み出し動作をする。シフトレジスタSR
1により制御配線g1にHiの制御パルスが印可され、
シフトレジスタSR2の制御配線s1〜s3への制御パ
ルス印可によって転送用TFT・T11〜T13、スイ
ッチM1〜M3を通してv1〜v3が順次出力される。
同様にシフトレジスタSR1、SR2の制御により他の
光信号も出力される。これにより人体等の内部構造の二
次元情報がv1〜v9として得られる。
【0083】これら出力はゲイン調整回路21に入力さ
れると共にAEコントローラ30にも入力される。AE
コントローラ30ではこれら出力を適切な値にするため
のゲインを随時判断し、その値を条件メモリ回路40に
記憶させると同時にゲイン調整回路21に指示する。こ
れによりゲイン調整回路21の出力は後にそれらを処理
するのに最適な撮影出力となる。この撮影出力はシステ
ム制御回路70によって制御されたスイッチ56を介し
撮影出力記憶手段であるフレームメモリ50に一度記録
される。
【0084】以上の説明のとおり、AEコントローラ3
0は制御パネル32、温度センサ33、フォトタイマ3
1および二次元エリアセンサ20の設定や出力によりX
線源10や二次元エリアセンサ20やゲイン調整回路2
1をほぼリアルタイムに自動制御し、その結果、最適に
近い各種条件で撮影出力を得ることができる。これで撮
影モードは終了する。
【0085】次に、システム制御回路70は補正モード
に入り再び二次元エリアセンサ20をリフレッシュ動作
させる。リフレッシュ終了後、撮影露光時に条件メモリ
回路40に記憶された各種条件をAEコントローラ30
に呼び出す。そして、X線源10以外は撮影モード時と
全く同じ条件で動作させる。つまり、温度センサ33や
フォトタイマ31の出力は使わずに条件メモリ回路40
に記憶された値に基づき動作させる。X線源10は補正
モードでは動作させず、X線は出射しない。ただし、X
線源10を動かさなくとも撮影モード時の露光時間に相
当する時間を待ってから二次元エリアセンサ20は読み
出し動作を行う。駆動スピードやゲイン調整回路21の
ゲインは撮影モードと同じ条件で動作させる。この時の
ゲイン調整回路21の出力を補正出力とする。つまり、
X線源10や二次元エリアセンサ20やゲイン調整回路
21を条件メモリ回路40の記憶された値に設定制御し
補正出力を得ることができる。この補正出力はシステム
制御回路70によって制御されたスイッチ56を介し補
正出力記憶手段であるフレームメモリ57に記録され
る。
【0086】この補正出力は各画素のダーク時の電流
や、転送時の固定パターンノイズや、二次元エリアセン
サ20の内部のアンプやゲイン調整回路21のオフセッ
ト電圧などを反映した出力である。この補正出力は駆動
スピードも同じであるからクロックリーク等の影響によ
る固定パターンの影響量も同じである。さらにゲインも
同じためオフセット電圧の影響量も同じである。しか
し、この補正出力は撮影モード時と同じ蓄積時間である
がレディになってからすぐなのでダーク時の電流の蓄積
による影響量が異なっている。つまり、条件メモリ回路
40により撮影モードと補正モードでX線源以外全く同
じ動作であるから先に述べた各画素のダーク時の電流以
外はX線の出射、非出射以外の撮影にとって好ましくな
い影響量が同じになる。
【0087】そこで、上記のダーク時の電流の蓄積によ
る影響を下記のようにして補正する。図8は図2のよう
に配置された光電変換素子の出力値との補正方法を示す
図である。
【0088】撮影出力Aは撮影出力記憶手段であるフレ
ームメモリ50に記録された撮影時の出力を示す二次元
情報がv1(A)〜v9(A)であり、補正出力Bは補
正出力記憶手段であるフレームメモリ57に記録された
補正時の出力を示す二次元情報がv1(B)〜v9
(B)である。
【0089】図8の補正1の図は図7の演算処理回路6
0で減算処理(撮影出力A−補正出力B)した値であ
る。なおv1(A)−v1(B)はv1(A−B)等の
ように簡略化して記している。ここで図8において左端
部のS11、S21、S31をダミー光電変換素子部と
するとv1(A−B)、v4(A−B)、v7(A−
B)はダミー光電変換素子部の撮影出力と補正出力の差
分であり、これはダーク時の電流の蓄積による影響を表
している。また、v2(A−B)、v3(A−B)、v
5(A−B)、v6(A−B)、v8(A−B)、v9
(A−B)は従来どおりに補正した結果である。
【0090】そこで図8の補正2−1は従来どおりに補
正した結果であるv2(A−B)、v3(A−B)、v
5(A−B)、v6(A−B)、v8(A−B)、v9
(A−B)から対応する行の左端部のダミー光電変換素
子部の撮影出力と補正出力の差分を引いて補正した値で
ある。つまりv2(A−B)、v3(A−B)からはv
1(A−B)を引き、v5(A−B)、v6(A−B)
からはv4(A−B)を引き、v8(A−B)、v9
(A−B)からはv7(A−B)を引いたものである。
【0091】これはv2(A−B)、v3(A−B)に
は、ダーク時の電流の蓄積による影響が、その左端のv
1(A−B)の量だけ影響が及んでいるものとして補正
を行うものである。同様に、v5(A−B)、v6(A
−B)には、ダーク時の電流の蓄積による影響が、その
左端のv4(A−B)の量だけ影響が及んでいるものと
し、v8(A−B)、v9(A−B)には、ダーク時の
電流の蓄積による影響が、その左端のv7(A−B)の
量だけ影響が及んでいるものとして補正を行う。
【0092】このようにして撮影モード時に得られた撮
影出力の固定パターン等の誤差及びダーク時の電流の蓄
積による影響を取り除いた良好な像情報出力を得ること
ができる。図6においてs12、s22、s32をダミ
ー光電変換素子とすると、左部のs11、s21、s3
1の部分と右部のs13、s23、s33の部分が連続
しないので、s12、s22、s32の位置に不感部が
出来てしまい、画像部にタテ筋が入ったようになってし
まうが、本実施形態ではダミー光電変換素子の位置を2
次元配置の端部に設けているので、実際に光を検知でき
る光電変換素子を連続して配置可能となり、2次元配置
の内部にダミー素子部を無くせるので、画像内に不感部
の無い良好な画像となる。
【0093】(第2の実施形態)次に、本発明の第2の
実施形態について説明する。第1の実施形態に比較して
第2の実施形態の異なる大きな点は、図8の補正方法で
ある。他は第1の実施形態とほぼ同じため図9に基づき
異なる部分のみ説明する。
【0094】図9は図2のように配置された光電変換素
子の出力値と第2の実施形態の補正方法を示す図であ
る。補正はフレームメモリ50に記憶されている撮影出
力をAとし、フレームメモリ57に記憶されている補正
出力をBとし、演算処理回路60で減算処理して行う。
【0095】ここで図9において右端部のS13、S2
3、S33をダミー光電変換素子部とすると図9の補正
1の図においてv3(A−B)、v6(A−B)、v9
(A−B)はダミー光電変換素子部の撮影出力と補正出
力の差分であり、これはダーク時の電流の蓄積による影
響を表している。第1の実施形態を示す図9と異なる点
はダミー光変換素子を左端部の代わりに右端部としてい
る点である。そしてv1(A−B)、v2(A−B)、
v4(A−B)、v5(A−B)、v7(A−B)、v
8(A−B)は従来どおりに補正した結果である。補正
1は第1の実施形態と同様であるので説明は省略する。
【0096】図9の補正2−2は従来どおりに補正した
結果であるv1(A−B)、v2(A−B)、v4(A
−B)、v5(A−B)、v7(A−B)、v8(A−
B)から対応する行の右端部のダミー光電変換素子部の
撮影出力と補正出力の差分を引いて補正した値である。
つまりv1(A−B)、v2(A−B)からはv3(A
−B)を引き、v4(A−B)、v5(A−B)からは
v6(A−B)を引き、v7(A−B)、v8(A−
B)からはv9(A−B)を引いたものである。
【0097】これはv1(A−B)、v2(A−B)に
は、ダーク時の電流の蓄積による影響が、その右端のv
3(A−B)の量だけ影響が及んでいるものとして補正
を行うものである。同様に、v4(A−B)、v5(A
−B)には、ダーク時の電流の蓄積による影響が、その
右端のv6(A−B)の量だけ影響が及んでいるものと
し、v7(A−B)、v8(A−B)には、ダーク時の
電流の蓄積による影響が、その右端のv9(A−B)の
量だけ影響が及んでいるものとして補正を行う。
【0098】このようにして撮影モード時に得られた撮
影出力の固定パターン等の誤差及びダーク時の電流の蓄
積による影響を取り除いた良好な像情報出力を得ること
ができる。
【0099】(第3の実施形態)次に、本発明の第3の
実施形態について説明する。第1、2の実施形態に比較
して第3の実施形態の異なる大きな点は、図8、9の補
正方法である。他は第1、2の実施形態とほぼ同じため
図10に基づき異なる部分のみ説明する。
【0100】図10は図2のように配置された光電変換
素子の出力値と第3の実施形態の補正方法を示す図であ
る。補正はフレームメモリ50に記憶されている撮影出
力をAとし、フレームメモリ57に記憶されている補正
出力をBとし、演算処理回路60で減算処理及び下記に
示す演算を行う。
【0101】ここで図10において左端部のS11、S
21、S31、右端部のS13、S23、S33をダミ
ー光電変換素子部とすると図9の補正1の図においてv
1(A−B)、v4(A−B)、v7(A−B)とv3
(A−B)、v6(A−B)、v9(A−B)はダミー
光電変換素子部の撮影出力と補正出力の差分であり、こ
れはダーク時の電流の蓄積による影響を表している。第
1及び第2の実施形態1、2を示す図8、9と異なる点
はダミー光変換素子を左端部や右端部の代わりに左右の
両端部としている点である。そしてv2(A−B)、v
5(A−B)、v8(A−B)は従来どおりに補正した
結果である。補正1は第1及び第2の実施形態と同様で
あるので説明は省略する。
【0102】図10の補正2−3は従来どおりに補正し
た結果であるv2(A−B)、v5(A−B)、v8
(A−B)から対応する行の左右端部のダミー光電変換
素子部の撮影出力と補正出力の差分を平均化した値を引
いて補正した値である。つまりv2(A−B)からは
(v1(A−B)+v3(A−B))/2を引き、v5
(A−B)からは(v4(A−B)+v6(A−B))
/2を引き、v8(A−B)からは(v7(A−B)+
v9(A−B))/2を引いたものである。
【0103】これはv2(A−B)には、ダーク時の電
流の蓄積による影響が、その左右端のv1(A−B)と
v3(A−B)の中間の量だけ影響が及んでいるものと
して補正を行うものである。同様に、v5(A−B)に
は、ダーク時の電流の蓄積による影響が、その左右端の
v4(A−B)とv6(A−B)の中間の量だけ影響が
及んでいるものとし、v8(A−B)には、ダーク時の
電流の蓄積による影響が、その左右端のv7(A−B)
とv9(A−B)の中間の量だけ影響が及んでいるもの
として補正を行う。
【0104】このようにして撮影モード時に得られた撮
影出力の固定パターン等の誤差及びダーク時の電流の蓄
積による影響を取り除いた良好な像情報出力を得ること
ができる。
【0105】なおこの第3の実施形態では3×3の光電
変換素子で説明を行っているため、v2(A−B)、v
5(A−B)、v8(A−B)の補正は左右の各ダミー
部の補正1の平均値を使用しているが、m×nの光電変
換素子では左右のダミー部の間のマスクしていない光電
変換素子のダーク時の電流の蓄積による変化がリニアに
変化しているとして、左右の各ダミー部の補正1の値を
直線補間して、その各光電変換素子の位置に応じて補正
を行っても差し支えない。
【0106】またm×nの光電変換素子であっても左右
の各ダミー部の補正1の平均値を使用しても差し支えな
い。
【0107】(第4の実施形態)上記第3の実施形態で
は補正を、m×nの光電変換素子では左右のダミー部の
間のマスクしていない光電変換素子のダーク時の電流の
蓄積による変化がリニアに変化しているとして、左右の
ダミー部の補正1の値を直線補間して、その各光電変換
素子の位置に応じて補正を行ったが、左右のダミー部の
間のマスクしていない光電変換素子のダーク時の電流の
蓄積による変化がある関数に従って変化している場合
は、左右又は左端部、又は右端部のダミー部の補正1の
値を使用して関数補間して行っても良い。
【0108】本実施形態の二次元エリアセンサでは9個
の画素を3×3に二次元配置し3画素ずつ同時に、3回
に分割して転送・出力したがこれに限らず、例えば縦横
1mmあたり5×5個の画素を2000×2000個の
画素を二次元的に配置すれば40cm×40cmの二次
元エリアセンサが得られ、医療用X線診断を目的とする
放射線撮像装置が構成できる。するとフィルムと異なり
瞬時にその出力をCRTで映し出すことが可能で、さら
に出力をディジタルに変換しコンピュータで画像処理し
て目的に合わせた出力に変換することも可能である。ま
た光磁気ディスクに保管もでき、過去の画像を瞬時に検
索することもできる。また感度もフィルムより良く人体
に影響の少ない微弱なX線で鮮明な画像を得ることもで
きる。
【0109】本実施形態ではダミー光電変換素子を読み
取り行の開始点と終了点の左右端部としているが、たと
えば読み取り開始行や最終行、つまり上下端部をダミー
光電変換素子として補正しても差し支えない。また、2
次元配置の4隅や、上又は下端部の両端部、2次元配置
の1隅として補正しても差し支えない。
【0110】(第5の実施形態)第5の実施形態では、
第1の実施形態に比較して第2の実施形態では、撮影モ
ードと補正モードの時間間隔Δtを測定するようにして
いる。以下第1の実施形態に基づいて相違点を中心に説
明する。この時間間隔はX線照射時間設定などにより変
化するものであるので、その度毎に測定を行う。
【0111】この補正出力は各画素のダーク時の電流
や、転送時の固定パターンノイズや、二次元エリアセン
サ20の内部のアンプやゲイン調整回路21のオフセッ
ト電圧などを反映した出力である。この補正出力は駆動
スピードも同じであるからクロックリーク等の影響によ
る固定パターンの影響量も同じである。さらにゲインも
同じためオフセット電圧の影響量も同じである。しか
し、この補正出力は撮影モード時と同じ蓄積時間である
がレディになってからすぐなのでダーク時の電流の蓄積
による影響量が異なっている。つまり、条件メモリ回路
40により撮影モードと補正モードでX線源以外全く同
じ動作であるから先に述べた各画素のダーク時の電流以
外はX線の出射、非出射以外の撮影にとって好ましくな
い影響量が同じになる。
【0112】そこで、上記のダーク時の電流の蓄積によ
る影響を下記のようにして補正する。図11は、駆動制
御を示すタイミングと補正方法を示す図である。これは
補正出力であるv1(B)〜v9(B)からX線照射が
無いと仮定した時の撮影出力の値であるv01(A)〜
09(A)を推定し、撮影出力に対して補正を行うも
のである。
【0113】図11において、あらかじめ求めておいた
ダーク電流の変化をv=f(t)とする。vがダーク電
流であり、tがレディからの時間である。ここでは説明
を容易にするためにv1についてのみ説明を行うがv2
〜v9についても同様に計算を行う。
【0114】フレームメモリ57から補正出力である
v1(B)を読み出す。 v=f(t)とv1(B)が既知となるのでt1≡f
-1(v1(B)) 上記にあるように撮影モードと補正モードの時間間隔
Δtは測定しておく 撮影モードでのv01(A)のレディからの時間はt
1−Δtとなる v=f(t)とt1−Δtが既知となるのでX線照射
が無いと仮定した時撮影出力v01(A)(=補正値)
を下記のように算出する。 v01(A)=f(t1−Δt) フレームメモリ50からの撮影出力v1(A)を下記
のように補正する。v1(A)−v01(A)
【0115】図12は上記の補正方法に従って補正した
時のフレームメモリ50,57、演算処理回路60の演
算結果を示す図である。
【0116】図12において「撮影出力A」は撮影出力
記憶手段であるフレームメモリ50に記録された撮影時
の出力を示す二次元情報がv1(A)〜v9(A)であ
り、「補正出力B」は補正出力記憶手段であるフレーム
メモリ57に記録された補正時の出力を示す二次元情報
がv1(B)〜v9(B)である。「補正値1」は演算
処理回路60による〜の計算結果、「補正」は同じ
く演算処理回路60によるの補正結果である。このよ
うに、第5の実施形態では各ポイントに対して個々に補
正を行う。
【0117】このようにして撮影モード時に得られた撮
影出力の固定パターン等の誤差及びダーク時の電流の蓄
積による影響を取り除いた良好な像情報出力を得ること
ができる。本実施形態では補正出力v1(B)〜v9
(B)の全てを使用して補正を行っているので、2次元
配置全面に渡って正確に補正できるので精度良い画像と
なる。
【0118】また、このダーク時の電流の変化のグラフ
は、例えばレディからの時間を変化させて何回かv1
(B)〜v9(B)の出力を得てプロットすれば簡単に
求めることが出来る。そしてこの得たグラフを基に、通
常は指数関数で近似した関数を求めても良いし、さらに
はもっと高度な関数を用いて表してもよい。
【0119】(第6の実施形態)次に、本発明における
第6の実施形態を説明する。第5の実施形態に比較して
第6の実施形態の異なる大きな点は、図12の補正方法
のうち補正値1の設定方法である。他は第5の実施形態
とほぼ同じため図13の補正値2の図に基づき異なる部
分のみ説明する。
【0120】図13の補正値2の図は第5の実施形態に
基づいて計算した演算処理回路60による計算結果であ
る。この第6の実施形態では同じ読み取りラインの補正
は、第5の実施形態の〜に従って算出した左端部の
補正値であるv01(A)、v04(A)、v07(A)
をその各読み取りライン上の補正値として、以降第5の
実施形態と同様に補正を行うものである。
【0121】これは、ダーク時の電流の蓄積による影響
のを、読み取りラインの左端の補正値を代表値として近
似的に補正するものであって、各ポイントに対して計算
する必要が無いので処理時間を短縮することが出来る。
【0122】(第7の実施形態)次に、本発明における
第3の実施形態を説明する。第5の実施形態に比較して
第7の実施形態の異なる大きな点は、図12の補正方法
のうち補正値1の設定方法である。他は第5の実施形態
とほぼ同じため図13の補正値3の図に基づき異なる部
分のみ説明する。
【0123】図13の補正値3の図は第7の実施形態に
基づいて計算した演算処理回路60による計算結果であ
る。この第7の実施形態では同じ読み取りラインの補正
は、第5の実施形態の〜に従って算出した右端部の
補正値であるv03(A)、v06(A)、v09(A)
をその各読み取りライン上の補正値として、以降第5の
実施形態と同様に補正を行うものである。
【0124】これは、ダーク時の電流の蓄積による影響
を、読み取りラインの右の補正値を代表値として近似的
に補正するものであって、各ポイントに対して計算する
必要が無いので処理時間を短縮することが出来る。
【0125】(第8の実施形態)次に、本発明における
第8の実施形態を説明する。第5の実施形態に比較して
第8の実施形態の異なる大きな点は、図12の補正方法
のうち補正値1の設定方法である。他は第5の実施形態
とほぼ同じため図13の補正値4の図に基づき異なる部
分のみ説明する。
【0126】図13の補正値4の図は第8の実施形態に
基づいて計算した演算処理回路60による計算結果であ
る。この第8の実施形態では例えばs11、s12、s
13の同じ読み取りラインの補正は、第5の実施形態の
〜に従って算出した各補正値であるv01(A)、
02(A)、v03(A)の平均値をその各読み取りラ
イン上の補正値とし、またs21、s22、s23の同
じ読み取りラインの補正は、第5の実施形態の〜に
従って算出した各補正値であるv04(A)、v0
(A)、v06(A)の平均値をその各読み取りライン
上の補正値とし、またs31、s32、s33の同じ読
み取りラインの補正は、第5の実施形態の〜に従っ
て算出した各補正値であるv07(A)、v08(A)、
09(A)の平均値をその各読み取りライン上の補正
値とし、以降第5の実施形態と同様に補正を行うもので
ある。
【0127】これは、ダーク時の電流の蓄積による影響
を、読み取りラインの各補正値の平均値を代表値として
近似的に補正するものであって、光電変換素子の感度な
どの特異的バラツキ等の影響を受けないので誤差の少な
い良好な像情報を得ることが出来る。
【0128】(第9の実施形態)次に、本発明における
第9の実施形態を説明する。上記第5〜8の実施形態で
は補正を、あらかじめ求めておいたダーク電流の変化を
v=f(t)として補正値を算出したが、予めこのv=
f(t)を計算し、データテーブルにして準備してお
き、テーブルから求めることも可能である。図14はそ
のような本発明の第9の実施形態に係る撮像装置の全体
システムブロック図である。第5〜8の実施形態に比較
して第5の実施形態の異なる大きな点は、図7のように
演算処理回路60が接続したデータテーブル用メモリ5
8からテーブルにしたv=f(t)の値を得る事が出来
るようになっている点である。
【0129】準備するデータテーブルはレディからの時
間である各tの値に対応してダーク電流のvの値を示す
ものである。補正値の算出は第5の実施形態と同様な方
法で行う。データテーブルから補正出力であるv=v1
(B)に対応するt=t1を読み出し、測定しておいた
ところの撮影モードと補正モードの時間間隔Δtを用い
て、t1−Δtを算出し、同じテーブルから、このt=
t1−Δtに対応するvを読み出し補正値v01(A)
を得て、第5の実施形態と同様にv1(A)−v0
(A)のように補正する。このようにテーブルを使用す
る事によって、計算処理に要する時間が短縮出来る。
【0130】(その他の実施形態1)上述した第5、第
6の実施形態では、左又は右端部の補正値をその各読み
取りライン上の補正値として補正を行っているが、読み
取りラインの中点位置やその他の位置の補正値を使用し
ても差し支えない。
【0131】本実施形態の二次元エリアセンサでは9個
の画素を3×3に二次元配置し3画素ずつ同時に、3回
に分割して転送・出力したがこれに限らず、例えば縦横
1mmあたり5×5個の画素を2000×2000個の
画素を二次元的に配置すれば40cm×40cmの二次
元エリアセンサが得られ、医療用X線診断を目的とする
放射線撮像装置が構成できる。するとフィルムと異なり
瞬時にその出力をCRTで映し出すことが可能で、さら
に出力をディジタルに変換しコンピュータで画像処理し
て目的に合わせた出力に変換することも可能である。ま
た光磁気ディスクに保管もでき、過去の画像を瞬時に検
索することもできる。また感度もフィルムより良く人体
に影響の少ない微弱なX線で鮮明な画像を得ることもで
きる。
【0132】なお、上述の第1、2,3の実施形態で
は、前記光電変換素子の一部に光が入射しないようにす
るために受光面をマスクしたダミー光変換素子を設けた
が、図2において、一部の光電変換素子をパターン上初
めから形成しないようなダミー変換素子を用いても同様
の効果が得られる。また、形成しない部分に光電変換素
子と同等のコンデンサを形成しておいても良い。さらに
光電変換素子だけではなくTFTも形成しない構成にす
る事も可能である。
【0133】(その他の実施形態2)上記様々な実施形
態に示した各機能ブロックおよび処理手順は、上述のよ
うにハードウェアにより構成しても良いし、CPUあるい
はMPU、ROMおよびRAM等からなるマイクロコンピュータ
システムによって構成し、その動作をROMやRAMに格納さ
れた作業プログラムに従って実現するようにしても良
い。また、上記各機能ブロックの機能を実現するように
当該機能を実現するためのソフトウェアのプログラムを
RAMに供給し、そのプログラムに従って上記各機能ブロ
ックを動作させることによって実施したものも、本発明
の範疇に含まれる。
【0134】この場合、上記ソフトウェアのプログラム
自体が上述した各実施形態の機能を実現することにな
り、そのプログラム自体、及びそのプログラムをコンピ
ュータに供給するための手段、例えばかかるプログラム
を格納した記録媒体は本発明を構成する。かかるプログ
ラムを記憶する記憶媒体としては、上記ROMやRAMの他
に、例えばフロッピー(登録商標)ディスク、ハードデ
ィスク、光ディスク、光磁気ディスク、CD-ROM、CD-I、
CD-R、CD-RW、DVD、zip、磁気テープ、あるいは不揮発
性のメモリカード等を用いることができる。
【0135】また、コンピュータが供給されたプログラ
ムを実行することにより、上述の実施形態の機能が実現
されるだけでなく、そのプログラムがコンピュータにお
いて稼働しているOS(オペレーティングシステム)あ
るいは他のアプリケーションソフト等の共同して上述の
実施形態の機能が実現される場合にもかかるプログラム
は本発明の実施形態に含まれることは言うまでもない。
【0136】さらに、供給されたプログラムがコンピュ
ータの機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能
拡張ユニットに備わるメモリに格納された後、そのプロ
グラムの指示に基づいてその機能拡張ボードや機能拡張
ユニットに備わるCPU等が実際の処理の一部または全部
を行い、その処理によって上述した実施形態の機能が実
現される場合にも本発明に含まれることは言うまでもな
い。
【0137】
【発明の効果】本発明によれば、撮影しようとしてから
実際の撮影を行うまでに待ち時間が少なくても誤差の少
ない撮影出力を得ることが可能となり、高S/Nの像情
報を得ることができる。
【0138】また、本発明によれば、光電変換素子の一
部に光が入射しないように受光面をマスクしたダミーの
光変換素子を用いたため、より実際に近い補正出力を得
ることが出来るので精度良い画像となる。この際、一部
の光電変換素子をパターン上初めから形成しないでダミ
ーの変換素子を構成することにより、より構造が簡単で
コストの低い装置を提供できる。
【0139】また、本発明によれば、ダミーの光電変換
素子を光電変換素子面の周辺部に設けることにより、欠
けの無い連続した画像を得ることができるので精度良い
画像を得ることが可能となる。
【0140】また、本発明によれば、読み取りラインの
先頭又は最終のダミー変換素子の補正出力値を用いて補
正することにより、2次元に配置した光電変換素子を有
効かつ最大限に使用する事ができ、小型の装置を提供す
ることが可能となる。
【0141】また、本発明によれば、読み取りラインの
先頭と最終のダミー変換素子補正出力値を用いて補正す
ることにより精度の高い補正を行うことができ、高S/
Nの像情報を得ることができる。
【0142】また、本発明によれば、予め求めておいた
所定の関数を用いて撮像信号の補正を行うため、精度の
良い画像を得ることが可能となる。
【0143】また、本発明によれば、予め準備しておい
たデータテーブルを用いて撮像信号の補正を行うため、
計算処理に要する時間が短縮出来、使い勝手の良い装置
を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の撮像装置のシステムを示すブロック図で
ある。
【図2】二次元エリアセンサの構成を示す全体回路図で
ある。
【図3】撮像装置の動作を示すタイミングチャートであ
る。
【図4】従来例の駆動制御を示すタイミングチャートで
ある。
【図5】従来例の問題点を説明した駆動制御を示すタイ
ミングチャートである。
【図6】従来例の問題点となる補正誤差を示す模式図で
ある。
【図7】本発明の第1の実施形態に係る撮像装置のシス
テムを示すブロック図である。
【図8】本発明の第1の実施形態に係る光電変換素子の
出力値との補正方法を示す模式図である。
【図9】本発明の第2の実施形態に係る光電変換素子の
出力値との補正方法を示す模式図である。
【図10】本発明の第3の実施形態に係る光電変換素子
の出力値との補正方法を示す模式図である。
【図11】本発明の第5の実施形態に係る補正方法を示
すタイミングチャートである。
【図12】本発明の第5の実施形態に係る光電変換素子
の出力値と補正方法を示す模式図である。
【図13】本発明の第6〜8の実施形態に係る光電変換
素子の出力値と補正方法を示す模式図である。
【図14】本発明の第9の実施形態に係る撮像装置のシ
ステムを示すブロック図である。
【符号の説明】
10 X線源 11 被写体 12 蛍光体 13 X線 14 像情報光 20 二次元エリアセンサ 21 ゲイン調整回路 30 AEコントローラ 31 フォトタイマ 32 制御パネル 33 温度センサ 40 条件メモリ回路 50 フレームメモリ 51 スイッチ 60 演算処理回路 70 システム制御回路 71 撮影露光開始ボタン S11〜S33 光電変換素子 T11〜T33 転送用TFT C11〜C33 コンデンサ SR1、SR2 シフトレジスタ IC 検出用集積回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5C022 AA08 AB38 AB51 AB54 5C024 AX11 CX32 CX33 CY27 EX15 GX09 HX50 HX57 5C077 LL00 LL02 MM02 MP01 PP07 PP47

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 撮影モードと補正モードとを有する撮像
    装置であって、 被写体像を撮像する撮像手段と、 前記補正モード時に得られる前記撮像手段からの補正信
    号に基づき、前記撮影モード時に得られる前記撮像手段
    からの撮像信号を補正する補正手段とを有し、 前記補正手段は、前記撮像手段内に生じるノイズ成分の
    時間的変化に基づき補正を行うことを特徴とする撮像装
    置。
  2. 【請求項2】 前記撮像信号と前記補正信号は、前記撮
    像手段を駆動状態とした後、前記ノイズ成分の時間的変
    化が所定値以上の期間内に得られたものであることを特
    徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 【請求項3】 前記撮像手段により放射線撮影を行うこ
    とを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像装置。
  4. 【請求項4】 撮影モードと補正モードとを有し、二次
    元に配列した複数の光電変換素子を含む撮像手段を有す
    る撮像装置であって、 前記撮影モード時の撮影出力を記憶する手段と、 前記撮影モード時の撮影条件を記憶する手段と、 前記補正モードにおいて、前記記憶しておいた前記撮影
    条件を用いて前記撮像手段を動作させた際に得られる補
    正出力を記憶する手段と、 前記補正出力を用いて前記撮影出力を補正する手段を有
    することを特徴とする撮像装置。
  5. 【請求項5】 前記光電変換素子はその一部に光を検出
    しないダミーの光電変換素子を有しており、 前記補正出力を用いた前記撮影出力の補正は、 前記ダミーの光電変換素子を除いた前記光電変換素子に
    おける前記撮影出力と前記補正出力との差分を、前記ダ
    ミーの変換素子の前記撮影出力と前記補正出力との差分
    に基づいて補正することを特徴とする請求項4に記載の
    撮像装置。
  6. 【請求項6】 前記ダミーの光電変換素子は、前記光電
    変換素子の一部に光が入射しないようにマスクすること
    により構成したものであることを特徴とする請求項5に
    記載の撮像装置。
  7. 【請求項7】 前記ダミーの光電変換素子は、前記光電
    変換素子の一部の領域をパターン形成しないことにより
    構成したものであることを特徴とする請求項5に記載の
    撮像装置。
  8. 【請求項8】 前記ダミーの光電変換素子は、前記光電
    変換素子の周辺部に設けられていることを特徴とする請
    求項5に記載の撮像装置。
  9. 【請求項9】 前記ダミーの光電変換素子の撮影出力と
    補正出力との差分に基づいての補正は、読み取りライン
    の先頭又は最後における前記ダミーの光電変換素子の補
    正出力を用いて行うことを特徴とする請求項5〜8のい
    ずれか1項に記載の撮像装置。
  10. 【請求項10】 前記ダミーの光電変換素子の撮影出力
    と補正出力との差分に基づいての補正は、読み取りライ
    ンの先頭及び最後における前記ダミーの変換素子の補正
    出力の双方を用いて行うことを特徴とする請求項6に記
    載の撮像装置。
  11. 【請求項11】 前記補正出力を用いた前記撮影出力の
    補正は、前記補正出力と前記撮影モードとの時間間隔と
    前記補正出力に基づいて行うことを特徴とする請求項4
    に記載の撮像装置。
  12. 【請求項12】 前記補正出力に基づいての補正を、予
    め求めておいた所定の関数を用いて行うことを特徴とす
    る請求項11に記載の撮像装置。
  13. 【請求項13】 前記補正出力に基づいての補正を、予
    め求めておいた所定のデータテーブルを用いて行うこと
    を特徴とする請求項11に記載の撮像装置。
  14. 【請求項14】 撮影モードと補正モードとを有し、被
    写体像を撮像する撮像手段を備えた撮像装置を用いた撮
    像方法であって、前記補正モード時に前記撮像手段から
    補正信号を得て、当該補正信号に基づいて、前記撮影モ
    ード時に前記撮像手段から得られる撮像信号を補正する
    ことを特徴とする撮像方法。
  15. 【請求項15】 前記撮像手段内に生じるノイズ成分の
    時間的変化に基づいて前記撮像信号を補正することを特
    徴とする請求項14に記載の撮像方法。
  16. 【請求項16】 前記撮像信号と前記補正信号を、前記
    撮像手段を駆動状態とした後、前記ノイズ成分の時間的
    変化が所定値以上の期間内に得ることを特徴とする請求
    項15に記載の撮像方法。
  17. 【請求項17】 前記撮像手段を用いて放射線撮影を行
    うことを特徴とする請求項14〜16のいずれか1項に
    記載の撮像方法。
  18. 【請求項18】 請求項14〜17のいずれか1項に記
    載の撮像方法の手順をコンピュータに実行させるための
    プログラム。
  19. 【請求項19】 請求項14〜17のいずれか1項に記
    載の撮像方法の手順をコンピュータに実行させるための
    プログラムを記憶したことを特徴とするコンピュータ読
    み取り可能な記憶媒体。
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