JP2002277785A

JP2002277785A - 光走査装置

Info

Publication number: JP2002277785A
Application number: JP2001081314A
Authority: JP
Inventors: Akira Kojima; 晃小嶋
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 2001-03-21
Filing date: 2001-03-21
Publication date: 2002-09-25

Abstract

(57)【要約】【課題】簡単な構成で副走査位置の調整／移動が行
え、しかも環境による悪影響などを効果的に防止するこ
とを可能にする。【解決手段】光学箱３の底面に設置された支点部２
１，２２がミラー１１の反射面の両端に接触し、ミラー
１１は、板バネ２３，２４によって支点部２１，２２で
押さえられた面の裏側が押圧されて、支点部２１，２２
を中心として回動できるようになっている。支点部２
１，２２は走査光がミラー１１の反射面上を通過する軌
跡の延長上に設置されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、カラーおよびモノ
クロのレーザプリンタ，レーザファクシミリ装置，デジ
タル式複写機などの光書込ユニットの走査位置調整機構
に係り、特にラスター方式の走査位置調整機構に適した
光走査装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】特開２０００−１８０７７３号公報に
は、小型で簡単に光学調整を行うことのできる複数ビー
ムの偏向走査を行う光学走査装置を提供することを課題
とし、円筒反射鏡の傾きを調整する調整部を片側に配置
することにより、メインテナンススペースを光学走査装
置の片側にのみ設ければよい構成にし、画像形成装置の
小型化に寄与でき、さらに、円筒反射鏡で反射後の光ビ
ームの副走査方向のずれを検出する副走査位置検出セン
サを設けた同期光・副走査位置検出装置を、円筒反射鏡
の回転支点側に設け、スキュー調整のために円筒反射鏡
の傾きを変えても副走査位置検出センサに入射する光ビ
ームにずれが生じないようにした光学走査装置が記載さ
れている。

【０００３】また、特開平９−２８１４１９号公報に
は、書込用光ビームを用いて複数のドットパターンを形
成し、該ドットパターンの最小幅の１つパターンを認識
することにより、光ビームの焦点位置を調整可能にする
と共に、主・副走査の位置ずれ検知も併用可能にし、コ
ストアップを招来せずに、光書込精度の向上によるシャ
ープな画像を得ることを課題とし、光ビームを偏向させ
て感光体表面への結像位置を移動し、特定のドットパタ
ーンを書き込む偏向ミラーを駆動するアクチェータと、
現像されたドットパターンの幅を検知する位置ずれ検知
器と、位置ずれ検知器の出力からドットパターンの最小
幅パターンを検知・認識する検知回路とを備えた画像形
成装置が記載されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】近年、画像形成装置に
おいては、デジタル処理化が進み、静電写真プロセスを
用いる装置では光走査装置から偏向されたレーザ光を感
光体に書き込むものが一般的になっている。

【０００５】図８を参照しながら従来の単色（モノク
ロ）式の画像形成装置（単色機）の一例を説明する。図
８（ａ）が平面図、図８（ｂ）が図８（ａ）の側面断面
図であり、画像形成装置１の内部に位置する光走査装置
２は、光学素子を所定の位置に設置する光学箱３，光学
箱３の内部を外部に対して遮断して防塵・遮音の機能を
果たすカバー４，ポリゴンモータ５，レーザ発振ユニッ
ト６、および複数の光学素子により構成される。

【０００６】レーザ発振ユニット６から出射された光ビ
ームは、シリンダレンズ７を通って、ポリゴンモータ５
により回転駆動されるポリゴンミラー８に入射する。そ
して、ポリゴンミラー８を反射した光ビームはｆθレン
ズ９を通過した後、長尺レンズ１０を通過し、ミラー１
１にて下方に折り返される。ビーム光は、その後、防塵
ガラス１２を通り感光体１３上に導かれる。ポリゴンミ
ラー８の回転に伴ってビームは直線状に感光体面を走査
し、静電潜像が形成され、画像形成プロセスを経て画像
が形成される。

【０００７】感光体１３に入射する走査光の副走査位置
は設計上の目標からずれないようにしないと異常画像の
原因となる。副走査位置のずれを図９（ａ）にて説明す
る。図９（ａ）の図において、走査光の感光体１３への
入射位置が目標の走査線位置１３０に設定されていると
き、感光体上の走査線１３１が副走査方向に距離Ａだけ
ずれている状態を示している。

【０００８】副走査位置の目標からのずれのうち機械系
が原因するものは、初期的には各光学素子の固有の形状
誤差あるいは支持部の誤差によって、また経時的には温
度変動による膨張／収縮等によって光路がずれることに
よって起こる。これを補正するため、折り返しミラーの
角度調整によって副走査位置を目標の走査線位置１３０
に合わせることが従来よりよく行われている。

【０００９】従来の感光体上の走査光の副走査位置の調
整機構の例を図１０に示す。ミラー１１は次の３点で所
定の角度に位置決めされる。・光学箱３の底面に設置さ
れた位置決め部１２１、すなわち、ミラー１１の奥側端
部中央に当接部（図１０奥側）、・光学箱３の底面に設
置された位置決め部１２２、すなわち、ミラー１１の手
前側端部下側に当接部（図１０手前側）、・位置決め部
１２２の上部に設けられた調整部の調節ネジ１２３の先
端、すなわち、ミラー１１の手前側端部上側に当接部。

【００１０】これらの３点でミラー１１は、図１０中、
α方向とβ方向の角度が所定の量で付勢される。ミラー
１１の固定は押えバネ１１２にて行われる。走査光はミ
ラー１１に水平に入射し、折り返されて感光体１３の走
査線１３１上に到達する。調節ネジ１２３を動かす（β
調整する）ことにより、図９（ａ）で説明した副走査位
置のずれが無くなるように補正でき、すなわち距離Ａを
ゼロにすることができる。

【００１１】しかしながら、前記構成においては両位置
決め部２１，２２における高さ方向の位置が違うので、
調節ネジ２３を動かすことでミラー１１の姿勢の角度の
変化がβ方向だけでなく、α方向にも生じてしまい、副
走査位置ずれが、ある基準位置でゼロになっても基準位
置以外ではゼロにならないということが発生してしま
う。それが「走査線傾き」と「走査線曲がり」である。

【００１２】走査線傾きについて図９（ｂ）に基づいて
説明する。図９（ｂ）において、感光体１３上の走査線
１３１が感光体１３の軸線に対して傾きを持っている状
態を示している。ここで傾き量は距離Ｂである。図９
（ｂ）では前記基準位置が目標の走査線位置１３０の手
前側端部である場合を示している。

【００１３】走査線曲がりついて、図９（ｃ）に基づい
て説明する。図９（ｃ）は、感光体上の走査線１３１が
湾曲している状態を示している。ここで曲がり量は距離
Ｃである。図９（ｃ）では前記基準位置が目標の走査線
位置１３０の手前側端部と奥側端部の２点ある場合を示
している。

【００１４】一般的に走査線傾きが発生すると感光体１
３が円筒であるために走査線曲がりも併発する。またレ
ーザ書き込みにおいては曲がりが、より強まる傾向があ
る。

【００１５】図１１を参照してその理由を説明する。ミ
ラー１１より感光体１３に入射する走査光１３２は、目
標の走査線位置１３０に到達するが、走査線位置１３０
における法線１３３とはオフセット角θを持つ。オフセ
ット角θが必要な理由はθ＝０であると走査光１３２の
感光体１３からの正反射による戻り光によってレーザ発
振ユニット６に光量変動が起こり、レーザダイオード
（ＬＤ）が破壊されるおそれがあるためである。一般に
オフセット角θは、２°＜θ＜１０°程度に設定され
る。このオフセット角θがあるため、感光体面に垂直に
走査光が入射するときに比べると、より大きな角度で感
光体１３の円筒面へ入射するため、走査線曲がりが大き
くなる。θが大きくなればなるほど走査線傾きにより併
発する走査線曲がりも大きくなる。

【００１６】図１０に示す従来例において、一方の位置
決め部２１の高さ方向の位置を他方の位置決め部２２と
同じ高さに下げれば、β調整をしたときのαの変化は起
こらない。しかし、そのようにミラー１１を受ける構造
であると、ミラー１１の四隅のうちの一隅がオーバーハ
ングした形での片持ち支持になるため、ミラー１１の取
り付けが不安定になり、振動が発生しやすくなる等の不
具合が生じる。また、βの変化に連動して走査光の反射
位置が水平方向に移動するため、光路長の変化がミラー
１１の反射部において生じる。すなわち、ミラー１１の
β方向の回動による「サグ（ｓａｇ）」が発生するので
ビームスポット径の変化や倍率誤差の変化が起こる。

【００１７】サグに関する他の問題点を図１２を参照し
ながら説明する。本来の設計上の目標の光軸（一点鎖
線）に対して、いくつかの光学素子の形状あるいは支持
位置の機械系のばらつきによって光軸がずれている場合
（破線の光線）でも、ミラー１１のβ調整によって目標
の走査線位置１３０に走査光１３２を合わせ込むことは
できる。しかしこのようなとき、多くの場合調整前から
光路長も目標の長さからすでにずれており、β調整によ
っても目標の長さにはならない。そのためビームスポッ
ト径の変化あるいは倍率誤差の変化が起こることにな
る。図１２の例の場合、走査光１３２が、図８に示す長
尺レンズ１０を通過した時点で下方にずれており、感光
体上の走査線の位置も下方にずれている。そして光路長
は目標の長さよりも短くなっている。感光体上の副走査
位置を調整するためにミラー１１のβ調整を矢印の方向
に行い、走査光１３２は目標の走査線位置１３０に導か
れる。しかしながら、光路長は本来の目標の長さにはな
らない。

【００１８】上記のように、副走査位置ずれを調整する
ことにより、図８に示すような単色機においては副作用
として走査線傾き，走査線曲がりがもたらされたり、更
には、それらの二次的な作用としてビームスポット径の
太り，倍率誤差，さらには倍率誤差偏差，露光不足，端
部画像欠け等が起こるおそれがある。

【００１９】このため、光走査装置の走査光経路の幾何
的な設定は重要である。近年では画像データの電気的な
タイミング調整あるいは補正によって機械系が原因とな
る走査光位置のずれを補うことも多く行われている。し
かし、位置ずれによってもたらされるビームスポット径
の変化あるいは倍率誤差の変化には対応できないことが
多い。

【００２０】他の従来例として図１３に示す感光体が２
つ設置されたカラー画像形成装置（カラー機）の例を示
す。カラー画像はブラック，マゼンダ，イエロー，シア
ンの４つのトナー像を重ね合わせて形成される。

【００２１】図８に示す装置の構成に加えて感光体１３
の右側に感光体１８が設置されており、それに対応する
第２の光ビームの光路が設けられ、ｆθレンズ９内に２
つの光路が通るようになっている。第１の光路にはミラ
ー１４が図８の例に加えて設置され、光路は２回折り曲
げられて感光体１３に至る。第２の光路の光ビームは長
尺レンズ１５，ミラー１６，防塵ガラス１７を通過し、
右側の感光体１８に至る。

【００２２】まず第１の光ビームにて感光体１３上に静
電潜像が形成され、ブラック現像部１９にてトナー像が
作像される。また、これに一定の間隔を置いて第２の光
ビームにて感光体１８上に静電潜像が形成され、マゼン
ダ現像部３０にてマゼンダのトナー像が作像される。こ
の２つのトナー像は中間転写ベルト３１上に位置が合う
ように転写される。

【００２３】次に、再び第１の光ビームにて感光体１３
にイエローの静電潜像が形成され、イエロー現像部３２
にてトナー像が作像される。同じく、これに一定の間隔
を置いて第２の光ビームにて感光体１８上にシアン現像
部３３にてシアンのトナー像が作像される。中間転写ベ
ルト３１は先の工程のあと一回転し、これら２色のトナ
ー像が先に転写された２色の上に重ね合わせて転写され
る。このようにして形成されたカラー画像は２次転写部
３４にて転写紙に転写され、ハードコピーが得られる。

【００２４】図１３に示すようなカラー機においては、
第１の光路の感光体１３上の走査光と第２の光路の感光
体１８上の走査光の間隔Ｌが目標の値（普通、この値は
両感光体１３，１８の軸ピッチと同一である）を初期お
よび経時ともに保つようにすることが重要である。初
期、すなわち組立工程内あるいはユーザ先での設置時の
間隔Ｌの精度の重要さは図８の単色機において説明した
通りである。経時の間隔Ｌの変動は温度変動による光学
箱３の伸縮によって大きく発生するおそれがある。さら
に、カラー機の場合は単色機の場合に加え、副走査位置
の目標からのずれ、または間隔Ｌの変動により各トナー
像のドット位置のずれが許容量以上になると、縞状画
像，色むら，ざらつき，ボソつき等の画像品質上の問題
が起こるおそれがある。

【００２５】そこで、本発明は、前記従来の課題を解決
し、簡単な構成で副走査位置の調整／移動が行え、しか
も環境による悪影響などを効果的に防止することを可能
にした光走査装置を提供することを目的としたものであ
る。

【００２６】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、請求項１に記載の発明は、少なくとも１つ以上の走
査光を被走査媒体に導く光走査装置において、少なくと
も１つ以上のミラーを有して前記走査光を前記被走査媒
体に入射し、２つの支点により前記ミラーの反射面を支
持し、前記２つの支点を中心として回動可能にした機構
を備え、かつ前記２つの支点を結ぶ回動軸線を、前記ミ
ラー上を移動する前記走査光の軌跡と略一致するように
設定したことを特徴とし、この構成によって、ミラー
が、２つの支点のまわりに回動することによって、感光
体上の走査光における副走査位置を移動することがで
き、簡単な構成で副走査位置の調整／移動機構を提供す
ることができる。

【００２７】請求項２に記載の発明は、請求項１記載の
光走査装置において、ミラーを回動させるためのアーム
部材を、ミラーの略中央部分に備え、アーム部材の設置
角度を調整することにより、被走査媒体上を走査する走
査光を副走査位置に移動可能にしたことを特徴とし、こ
の構成によって、アーム部材の設置角度を調整させるこ
とにより、副走査位置の調整／移動を簡便に行え、かつ
ミラーの共振を効果的に防止することができる。

【００２８】請求項３に記載の発明は、請求項１記載の
光走査装置において、各光学素子を載置する光学ベース
を光走査装置外郭部とは別途に備え、回動の支点を前記
光学ベースに設けたことを特徴とし、この構成によっ
て、ミラーの回動に用いる支点が光学ベースに設けられ
るため、精度や温度の影響による副走査位置のずれを抑
えることができる。

【００２９】請求項４に記載の発明は、請求項１または
３記載の光走査装置において、回動量を該装置内部また
は外部の温度変化に応じて変化させる機構を備えたこと
を特徴とし、この構成によって、温度変動によって起こ
る副走査位置の変動を補正でき、特に複数の感光体を持
つカラー画像システムにおける各トナー像のドットの位
置ずれに起因する画像問題を簡易に回避することができ
る。

【００３０】請求項５に記載の発明は、請求項４記載の
光走査装置において、アーム部材を回転させるために温
度によって形状の変化する駆動部材を備え、該駆動部材
の線膨張係数を、光走査装置の筐体または前記光学ベー
スの線膨張係数より大きく設定したことを特徴とし、こ
の構成によって、駆動部材の線膨張係数が、筐体の線膨
張係数より大きいので、確実かつ低コストに副走査位置
の温度による変動を補正することができる。

【００３１】請求項６に記載の発明は、請求項５記載の
光走査装置において、駆動部材として線膨張係数として
３×１０^-5を超える材質を用いたことを特徴とし、この
構成によって、コンパクトな構成で効果的に効率よく副
走査位置の温度補正を行うことができる。

【００３２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。

【００３３】図１は本発明の第１実施形態を説明するた
めの光走査装置における感光体上の走査光における副走
査位置の調整機構部分を示す斜視図、図２は図１の機構
部分の側面断面図であり、光学箱３の底面に設置された
支点部２１，２２がミラー１１の反射面の両端に接触し
ている。ミラー１１は板バネ２３，２４によって支点部
２１，２２で押さえられた面の裏側が押圧されており、
ミラー１１は支点部２１，２２を中心として回動できる
ようになっている。支点部２１，２２は走査光がミラー
１１の反射面上を通過する軌跡の延長上に設置されてい
る。

【００３４】ミラー１１の中央部にはアーム部材２５が
接着などによって設置され、水平方向に突き出したアー
ム部材２５を調節ネジ２６によって上下させることでβ
調整が行われる。調節ネジ２６は光学箱３の底面に設置
されたネジボス２７に締め込まている。圧縮バネ２８の
押圧力にてアーム部材２５の高さは保たれ、かつ圧縮バ
ネ２８の伸張力が調節ネジ２６の廻り止めの役割を果た
している。

【００３５】調節ネジ２６を回動して上下動することに
よりミラー１１の姿勢の角度の変化はβ方向だけに生
じ、α方向には発生しない。また光路長の変化もミラー
１１の反射部では起こらない。すなわちミラー１１のβ
回動によるサグがないため、これに起因するビームスポ
ット径の変化や倍率誤差の変化による問題は起こらな
い。

【００３６】またミラー１１の中央部を振動の腹とする
ような共振はアーム部材２５が中央に設置されることに
よって防止され、ミラー振動に起因するような縞画像等
の異常画像が起こらない。

【００３７】アーム部材２５の構成例を図３，４の斜視
図にて説明する。図３に示すアーム部材２５では、その
面２５ａの裏面にミラー１１を接着剤あるいは両面テー
プを使用して固定する。調節ネジ２６が通過する穴２５
ｂの短辺がネジの軸径より大きな長穴であり、β調整に
よってアーム部材２５が光軸方向に動くための余裕を持
っている。

【００３８】アーム部材２５の振動に対し、より強固な
構成例を図４に示す。面２５ａは図３の例より大型であ
り、ミラー短辺の把握部２５ｃと２５ｄを備え、把握部
２５ｃの中央部にはネジ穴が形成されており、止めネジ
２５ｅが取り付けられてミラー短辺を確実に挟み込むよ
うになっている。

【００３９】前記実施形態では、ミラー中央部を含む３
点支持を説明したが、振動を抑えることができれば、中
央部以外でもミラー両端間のいずれの位置にアーム部材
２５を設置してもよい。

【００４０】図５にて板バネ２３の構成例を説明する。
板バネ２３はＳＵＳの薄板材等で作成され、押圧部２３
ａにてミラー１１の支点部裏側を押圧する。またミラー
短手方向の規制を上下の押圧部２３ｂで行い、より確実
に固定するようにしている。

【００４１】図６は本発明の第２実施形態を説明するた
めの光走査装置の要部を示す断面図であり、第２実施形
態では図８に示す構成例に対し、光学箱３の内部に光学
ベース２９を装備し、光学ベース２９にはｆθレンズ
９，長尺レンズ１０，ミラー１１が設置されている。こ
れらの光学素子は図示しない位置決め部材や板バネ等の
押圧部材で支持および付勢されている。

【００４２】光学箱３に対する光学ベース２９の支持は
各種の方法が考えられるが、例えば図６に示したように
脚部２９ａを走査光の範囲に干渉しない範囲で、図６に
おける手前側と奥側に設けて固定する。このように光学
素子を光学箱３に直接設置せずに、光学ベース２９に設
置することでミラー１１を所定の位置に精度よく設置す
ることができ、光学箱３が大型樹脂成型品である場合な
どの精度の影響が少ない。

【００４３】また光学箱３が温度変動によって膨張／収
縮したときの光学的変動を抑えることができる。例え
ば、常温から高温に温度上昇すると図８に示す構成で
は、ｆθレンズ９−ミラー１１間の距離が増加し、ミラ
ー１１が相対的に右方向に移動することにより感光体１
３への走査光も右方向へ移動し、副走査位置ずれを起こ
す。第２実施形態ではミラー１１の支持位置が他の光学
素子も載置する光学ベース２９に設けられているため、
ミラー１１の移動を抑えることができ、前記副走査位置
のずれが起こりにくい。また、このように光学ベース上
に光学機能部品をまとめて載置することができるため組
立性も向上する。

【００４４】図７に本発明の第３実施形態を説明するた
めの光走査装置の要部を示す断面図であり、第３実施形
態では第２実施形態の構成と比較してネジボス部の構造
が違っている。すなわち、調節ネジ２６と光学ベース２
９の間にはネジボスとしての伸縮部材２７´が設置され
ている。伸縮部材２７´は、調節ネジ２６がねじ込める
ような雌ねじが切られており、かつ光学ベース２９に設
けられた設置穴部２９ｂに設置されて、図示していない
廻り止めおよび抜け止めにて固定されている。伸縮部材
２７´の線膨張係数は、光学箱３または光学ベース２９
よりも大きく設定されており、温度変化に応じて伸縮し
てアーム部材２５を上下させるようになっている。その
結果、アーム部材２５が回動することによって感光体１
３上の走査線１３１が副走査方向に移動する。

【００４５】ここで、以下の条件を適切に設定すること
により、適切に温度変化時の副走査位置における線形的
な補正を行うことができる。・光学箱の線膨張係数・光学ベースの線膨張係数・伸縮部材の線膨張係数・調節ネジの線膨張係数・伸縮部材の長さ・調整アームの長さ・圧縮バネのバネ常数ここで、伸縮部材の線膨張係数は重要な因子であり、一
般に光学箱がアルミダイキャストの場合の線膨張係数
（≒２．３×１０^-6（１／Ｋ））あるいはポリカーボネ
ートなどの樹脂の場合の線膨張係数（≒２〜８×１０^-6
（１／Ｋ））であるのに比べてできるだけ大きい方がよ
い。というのは、なるべく大きい方が例えばアーム部材
２５の長さを抑えることができ、スペース的に設計が容
易になる。絶対値としては少なくとも３×１０^-6（１／
Ｋ）以上であると設計上の制約が少なくなって有利であ
る。

【００４６】図７に示した構成において、温度変化に応
じて感光体上の走査線の副走査位置を移動させる機構と
して、例えばステッピングモータとピニオンギヤ、およ
び扇形ギヤとの組み合わせのような駆動方式を採用する
ことができ、前記実施形態にて説明した構成例によるも
のに限定されない。

【００４７】また、温度の検知方法および検知位置も機
械的／電気的機構のどちらでも適用できる。例えば、伸
縮部材２７´の設置位置を光学箱３の外部にして、リン
ク機構などを介してアーム部材２５を回動させることも
できる。

【００４８】なお、本実施形態において、ミラー枚数が
１枚のものを例示して説明したが、複数のミラーを有す
る装置にも適用可能であり、それら複数のミラーのうち
どのミラーにも本発明を適用することができるし、２枚
以上のミラーに同時に適用することも可能である。

【００４９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ミラーを２つの支点部のまわりに回動させ、感光体上の
走査光における副走査位置を移動させることができ、非
常に簡単な副走査位置の調整／移動機構を提供すること
ができ、しかも、ミラーの共振を効果的に防止でき、か
つ温度の影響による副走査位置のずれの発生を抑えるこ
とができる光走査装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施形態における副走査位置の調
整機構の斜視図

【図２】第１実施形態における調整機構の側面断面図

【図３】第１実施形態におけるアーム部材の斜視図

【図４】第１実施形態におけるアーム部材の他の例の斜
視図

【図５】第１実施形態における板バネの斜視図

【図６】本発明の第２実施形態における光走査装置の要
部を示す断面図

【図７】本発明の第３実施形態における光走査装置の要
部を示す断面図

【図８】従来の単色画像形成装置の概略図であり、
（ａ）は平面図、（ｂ）は断面図

【図９】従来の副走査線のずれの説明図

【図１０】従来の副走査線の調整機構を説明する斜視図

【図１１】従来の副走査線の調整機構の作動説明図

【図１２】従来の副走査線の調整機構の作動説明図

【図１３】従来のカラー画像形成装置の概略構成図

【符号の説明】

３光学箱８ポリゴンミラー９ｆθレンズ１０長尺レンズ１１ミラー１３感光体２１，２２支点部２３，２４板バネ２５アーム部材２６調整ネジ２７ネジボス２７´ 伸縮部材２８圧縮バネ２９光学ベース

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号ＦＩテーマコート゛(参考）Ｇ０２Ｂ 7/182 Ｇ０２Ｂ 7/18 ＢＨ０４Ｎ 1/036 Ｚ 1/113 Ｈ０４Ｎ 1/04 １０４ＡＦターム(参考） 2C362 AA43 AA45 AA46 AA47 AA48 BA87 BA90 2H043 BC02 BC08 CA04 CD03 2H045 AA01 CB22 DA02 DA04 DA44 5C051 AA02 CA07 DB02 DB04 DB22 DB24 DB35 DC02 DC04 DC07 DE21 EA01 FA01 5C072 AA03 BA02 BA12 DA02 DA04 DA21 DA23 HA02 HA09 HA13 QA14 XA01 XA05

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】少なくとも１つ以上の走査光を被走査媒
体に導く光走査装置において、少なくとも１つ以上のミ
ラーを有して前記走査光を前記被走査媒体に入射し、２
つの支点により前記ミラーの反射面を支持し、前記２つ
の支点を中心として回動可能にした機構を備え、かつ前
記２つの支点を結ぶ回動軸線を、前記ミラー上を移動す
る前記走査光の軌跡と略一致するように設定したことを
特徴とする光走査装置。
【請求項２】前記ミラーを回動させるためのアーム部
材を、前記ミラーの略中央部分に備え、前記アーム部材
の設置角度を調整することにより、前記被走査媒体上を
走査する前記走査光を副走査位置に移動可能にしたこと
を特徴とする請求項１記載の光走査装置。
【請求項３】各光学素子を載置する光学ベースを光走
査装置外郭部とは別途に備え、前記回動の支点を前記光
学ベースに設けたことを特徴とする請求項１記載の光走
査装置。
【請求項４】前記回動量を該装置内部または外部の温
度変化に応じて変化させる機構を備えたことを特徴とす
る請求項１または３記載の光走査装置。
【請求項５】前記アーム部材を回転させるために温度
によって形状が変化する駆動部材を備え、該駆動部材の
線膨張係数を、前記光走査装置の筐体または前記光学ベ
ースの線膨張係数より大きく設定したことを特徴とする
請求項４記載の光走査装置。
【請求項６】前記駆動部材として線膨張係数が３×１
０^-5を超える材質を用いたことを特徴とする請求項５記
載の光走査装置。