JP2002254434A - 半導体パッケージの封止樹脂体成形金型 - Google Patents
半導体パッケージの封止樹脂体成形金型Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 封止樹脂体の成形時に配線基板の撓みを抑制
して信頼性の高いLGA半導体パッケージを効率的に製
造する。 【解決手段】 封止樹脂体9を成形するキャビティ14
内に装着された半導体パッケージ中間体8の配線基板2
の主面を支持するキャビティ構成面に、外部接続ランド
4の厚みとほぼ等しい高さを有するとともに各外部接続
ランド4間にそれぞれ位置されて主面を支持する多数個
の基板受け凸部17が形成されてなる。
して信頼性の高いLGA半導体パッケージを効率的に製
造する。 【解決手段】 封止樹脂体9を成形するキャビティ14
内に装着された半導体パッケージ中間体8の配線基板2
の主面を支持するキャビティ構成面に、外部接続ランド
4の厚みとほぼ等しい高さを有するとともに各外部接続
ランド4間にそれぞれ位置されて主面を支持する多数個
の基板受け凸部17が形成されてなる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、配線基板の第1の
主面に半導体素子を搭載するとともに第2の主面に外部
接続端子を構成する多数個のランドを格子状に配列して
形成し、第1の主面上に封止樹脂体を成形して半導体素
子を封止してなるグリッドアレィ型半導体パッケージの
製造工程に用いられる封止樹脂体の成形金型に関する。
主面に半導体素子を搭載するとともに第2の主面に外部
接続端子を構成する多数個のランドを格子状に配列して
形成し、第1の主面上に封止樹脂体を成形して半導体素
子を封止してなるグリッドアレィ型半導体パッケージの
製造工程に用いられる封止樹脂体の成形金型に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置には、電子機器の小型軽量化
の要求に応じて外部端子を二次元的に配置して実装効率
の向上を図るようにした種々の表面実装型半導体パッケ
ージが提供されている。表面実装型半導体パッケージ
は、一般にセラミックや樹脂製の配線基板の一方主面に
半導体素子を搭載するとともに、配線基板の他方主面に
半導体素子の入出力端子や回路パターンとスルーホール
接続された多数個の外部端子を設けてなる。表面実装型
パッケージは、搭載した半導体素子を絶縁樹脂によって
封装することにより、絶縁を保持するとともに機械的保
護を図るように構成される。
の要求に応じて外部端子を二次元的に配置して実装効率
の向上を図るようにした種々の表面実装型半導体パッケ
ージが提供されている。表面実装型半導体パッケージ
は、一般にセラミックや樹脂製の配線基板の一方主面に
半導体素子を搭載するとともに、配線基板の他方主面に
半導体素子の入出力端子や回路パターンとスルーホール
接続された多数個の外部端子を設けてなる。表面実装型
パッケージは、搭載した半導体素子を絶縁樹脂によって
封装することにより、絶縁を保持するとともに機械的保
護を図るように構成される。
【0003】表面実装型半導体パッケージは、外部端子
を半導体素子の搭載領域に対応した配線基板の裏面に設
けることによって全体がいわゆるチップサイズに構成さ
れるとともに端子ピッチも充分に保持され、多ピン集積
回路用に好適に用いられる。また、表面実装型半導体パ
ッケージは、マザー基板等に対して直接実装が可能であ
るとともに多層化の対応も容易に図られる。表面実装型
半導体パッケージとしては、例えば半導体素子を実装し
た配線基板の底面に外部端子を構成する多数個のピン端
子を格子(グリッド)状に配列してなるPGA(pin
grid array)半導体パッケージや、グリッ
ド配列される外部端子が半田ボールによって構成された
BGA(ball grid array)半導体パッ
ケージ等が提供されている。
を半導体素子の搭載領域に対応した配線基板の裏面に設
けることによって全体がいわゆるチップサイズに構成さ
れるとともに端子ピッチも充分に保持され、多ピン集積
回路用に好適に用いられる。また、表面実装型半導体パ
ッケージは、マザー基板等に対して直接実装が可能であ
るとともに多層化の対応も容易に図られる。表面実装型
半導体パッケージとしては、例えば半導体素子を実装し
た配線基板の底面に外部端子を構成する多数個のピン端
子を格子(グリッド)状に配列してなるPGA(pin
grid array)半導体パッケージや、グリッ
ド配列される外部端子が半田ボールによって構成された
BGA(ball grid array)半導体パッ
ケージ等が提供されている。
【0004】また、表面実装型半導体パッケージには、
図2に示したLGA(land grid arra
y)半導体パッケージ1も提供されている。LGA半導
体パッケージ1は、第1の主面に半導体素子3をベア実
装する配線基板2の第2の主面に、多数個の外部接続ラ
ンド4がグリッド配列されて形成されている。配線基板
2には、第1の主面に半導体素子の実装領域を囲んで多
数個のボンディングランド5が形成されるとともに、第
2の主面の外部接続ランド4に対応して各ボンディング
ランド5から第1の主面の全体に分散されるように接続
パターンが形成されている。配線基板2は、第1の主面
の各接続パターンと第2の主面の外部接続ランド4とが
それぞれスルーホール配線されることによって互いに導
通されてなる。
図2に示したLGA(land grid arra
y)半導体パッケージ1も提供されている。LGA半導
体パッケージ1は、第1の主面に半導体素子3をベア実
装する配線基板2の第2の主面に、多数個の外部接続ラ
ンド4がグリッド配列されて形成されている。配線基板
2には、第1の主面に半導体素子の実装領域を囲んで多
数個のボンディングランド5が形成されるとともに、第
2の主面の外部接続ランド4に対応して各ボンディング
ランド5から第1の主面の全体に分散されるように接続
パターンが形成されている。配線基板2は、第1の主面
の各接続パターンと第2の主面の外部接続ランド4とが
それぞれスルーホール配線されることによって互いに導
通されてなる。
【0005】LGA半導体パッケージ1においては、半
導体素子3の上面に形成したボンディングパッド6と配
線基板2のボンディングランド5とがそれぞれボンディ
ングワイヤ7によって接続されてなる。LGA半導体パ
ッケージ1形成工程においては、配線基板2上に複数個
の半導体素子3をダイボンディリング工程にて第1の主
面に貼付け、ワイヤボンディング工程を行った後に、こ
の中間体8に対して図3に示した成形金型50によって
封装樹脂体9の成形が行われる。
導体素子3の上面に形成したボンディングパッド6と配
線基板2のボンディングランド5とがそれぞれボンディ
ングワイヤ7によって接続されてなる。LGA半導体パ
ッケージ1形成工程においては、配線基板2上に複数個
の半導体素子3をダイボンディリング工程にて第1の主
面に貼付け、ワイヤボンディング工程を行った後に、こ
の中間体8に対して図3に示した成形金型50によって
封装樹脂体9の成形が行われる。
【0006】成形金型50は、固定金型51と、この固
定金型51に対して接離自在な可動金型52とによって
封装樹脂体9を成形するキャビティ53を構成してな
る。成形金型50には、固定金型51のキャビティ半体
53a内に配線基板2が支持されて中間体8が装着され
る。成形金型50は、この状態で固定金型51と可動金
型52との型締め動作が行われるとともに、キャビティ
53内に材料樹脂が射出充填される。成形金型50は、
所定時間の経過後に固定金型51と可動金型52との型
開き動作が行われて、配線基板2の第1の主面上に半導
体素子3を封装する封装樹脂体9が成形される。そし
て、ダイシング工程にて、所定の大きさに切り分けら
れ、LGA半導体パッケージ1が形成される。
定金型51に対して接離自在な可動金型52とによって
封装樹脂体9を成形するキャビティ53を構成してな
る。成形金型50には、固定金型51のキャビティ半体
53a内に配線基板2が支持されて中間体8が装着され
る。成形金型50は、この状態で固定金型51と可動金
型52との型締め動作が行われるとともに、キャビティ
53内に材料樹脂が射出充填される。成形金型50は、
所定時間の経過後に固定金型51と可動金型52との型
開き動作が行われて、配線基板2の第1の主面上に半導
体素子3を封装する封装樹脂体9が成形される。そし
て、ダイシング工程にて、所定の大きさに切り分けら
れ、LGA半導体パッケージ1が形成される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、LGA半導
体パッケージ1においては、多数個の外部接続ランド4
が形成されることによって配線基板2の第2の主面が凹
凸面を構成しており、この状態で成形金型50により封
装樹脂体9の成形が行われる。LGA半導体パッケージ
1は、封装樹脂体9の成形時に、キャビティ53内に射
出される材料樹脂の充填圧によって配線基板2が固定金
型51のキャビティ構成面51aに強く押し付けられ
る。
体パッケージ1においては、多数個の外部接続ランド4
が形成されることによって配線基板2の第2の主面が凹
凸面を構成しており、この状態で成形金型50により封
装樹脂体9の成形が行われる。LGA半導体パッケージ
1は、封装樹脂体9の成形時に、キャビティ53内に射
出される材料樹脂の充填圧によって配線基板2が固定金
型51のキャビティ構成面51aに強く押し付けられ
る。
【0008】LGA半導体パッケージ1は、上述したよ
うにキャビティ構成面51aに支持される配線基板2の
第2の主面が外部接続ランド4を形成することによって
凹凸面となっているために、材料樹脂の充填圧によって
配線基板2が撓んで図2矢印で示すように内部に引張り
力が生じる。LGA半導体パッケージ1においては、配
線基板2の撓みによって同図に示すように半導体素子3
にクラックKや一部の破損等が発生するといった問題が
あった。また、LGA半導体パッケージ1においては、
配線基板2の撓みによってボンディングランド5やボン
ディングパッド6とボンディングワイヤ7との接合部位
の剥離或いは接合強度の劣化といった問題も発生する。
うにキャビティ構成面51aに支持される配線基板2の
第2の主面が外部接続ランド4を形成することによって
凹凸面となっているために、材料樹脂の充填圧によって
配線基板2が撓んで図2矢印で示すように内部に引張り
力が生じる。LGA半導体パッケージ1においては、配
線基板2の撓みによって同図に示すように半導体素子3
にクラックKや一部の破損等が発生するといった問題が
あった。また、LGA半導体パッケージ1においては、
配線基板2の撓みによってボンディングランド5やボン
ディングパッド6とボンディングワイヤ7との接合部位
の剥離或いは接合強度の劣化といった問題も発生する。
【0009】LGA半導体パッケージ1においては、上
述した問題によって製品歩留りが悪くなっており、精度
の高い製品検査が必要であった。LGA半導体パッケー
ジ1は、封装樹脂体9によって封装された構造であるた
めに外観検査による良否の判定が困難であり、例えば赤
外線検査装置や導通検査器等を用いた検査が行われるた
めに効率が悪いといった問題があった。
述した問題によって製品歩留りが悪くなっており、精度
の高い製品検査が必要であった。LGA半導体パッケー
ジ1は、封装樹脂体9によって封装された構造であるた
めに外観検査による良否の判定が困難であり、例えば赤
外線検査装置や導通検査器等を用いた検査が行われるた
めに効率が悪いといった問題があった。
【0010】本発明は、上述した従来の問題点を解決し
て、封止樹脂体の成形時に配線基板の撓みを抑制して信
頼性の高いLGA半導体パッケージを効率的に製造する
半導体パッケージの封止樹脂体成形金型を提供すること
を目的としたものである。
て、封止樹脂体の成形時に配線基板の撓みを抑制して信
頼性の高いLGA半導体パッケージを効率的に製造する
半導体パッケージの封止樹脂体成形金型を提供すること
を目的としたものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
本発明にかかる半導体パッケージの封止樹脂体成形金型
は、第1の主面に半導体素子を搭載するとともに第2の
主面に外部接続端子を構成する多数個の外部接続ランド
を格子状に配列して形成した配線基板の第1の主面上に
半導体素子を封止する封止樹脂体を成形する。封止樹脂
体成形金型は、封止樹脂体を成形するキャビティ内に装
着された半導体パッケージ中間体の配線基板の第2の主
面を支持するキャビティ構成面に、外部接続ランドの厚
みとほぼ等しい高さを有するとともに各外部接続ランド
間にそれぞれ位置されて第2の主面を支持する多数個の
基板受け凸部が形成されてなる。
本発明にかかる半導体パッケージの封止樹脂体成形金型
は、第1の主面に半導体素子を搭載するとともに第2の
主面に外部接続端子を構成する多数個の外部接続ランド
を格子状に配列して形成した配線基板の第1の主面上に
半導体素子を封止する封止樹脂体を成形する。封止樹脂
体成形金型は、封止樹脂体を成形するキャビティ内に装
着された半導体パッケージ中間体の配線基板の第2の主
面を支持するキャビティ構成面に、外部接続ランドの厚
みとほぼ等しい高さを有するとともに各外部接続ランド
間にそれぞれ位置されて第2の主面を支持する多数個の
基板受け凸部が形成されてなる。
【0012】また、封止樹脂体成形金型は、多数個の基
板受け凸部が、金型本体に対して着脱自在に組み付けら
れてキャビティを構成するコマ金型に形成されてなる。
さらに、封止樹脂体成形金型は、コマ金型が固定金型側
に組み付けられてなる。
板受け凸部が、金型本体に対して着脱自在に組み付けら
れてキャビティを構成するコマ金型に形成されてなる。
さらに、封止樹脂体成形金型は、コマ金型が固定金型側
に組み付けられてなる。
【0013】以上のように構成された本発明にかかる半
導体パッケージの封止樹脂体成形金型によれば、半導体
パッケージ中間体が配線基板の第2の主面をキャビティ
構成面に支持されてキャビティ内に装着される。封止樹
脂体成形金型によれば、配線基板の第2の主面が多数個
の外部接続ランドが形成されることにより凹凸面として
構成されるが、各基板受け凸部が各外部接続ランド間に
位置されることで配線基板の第2の主面をキャビティ構
成面に対して全体として略平坦面を以って支持するよう
にする。したがって、封止樹脂体成形金型によれば、キ
ャビティ内に射出される材料樹脂の充填圧による配線基
板の撓み現象を抑制する。封止樹脂体成形金型によれ
ば、半導体素子におけるクラックや破損等の発生を低減
し、ボンディングランドやボンディングパッドとボンデ
ィングワイヤとの接合部位の剥離或いは接合強度の劣化
を低減して信頼性の高い半導体パッケージが効率的に製
造されるようにする。
導体パッケージの封止樹脂体成形金型によれば、半導体
パッケージ中間体が配線基板の第2の主面をキャビティ
構成面に支持されてキャビティ内に装着される。封止樹
脂体成形金型によれば、配線基板の第2の主面が多数個
の外部接続ランドが形成されることにより凹凸面として
構成されるが、各基板受け凸部が各外部接続ランド間に
位置されることで配線基板の第2の主面をキャビティ構
成面に対して全体として略平坦面を以って支持するよう
にする。したがって、封止樹脂体成形金型によれば、キ
ャビティ内に射出される材料樹脂の充填圧による配線基
板の撓み現象を抑制する。封止樹脂体成形金型によれ
ば、半導体素子におけるクラックや破損等の発生を低減
し、ボンディングランドやボンディングパッドとボンデ
ィングワイヤとの接合部位の剥離或いは接合強度の劣化
を低減して信頼性の高い半導体パッケージが効率的に製
造されるようにする。
【0014】封止樹脂体成形金型によれば、外部接続ラ
ンド数の仕様を異にする半導体パッケージについても、
金型全体の交換操作を不要としてコマ金型の交換で対応
が可能であり生産効率の向上とともに製作費用の低減が
図られるようになる。また、封止樹脂体成形金型によれ
ば、基板受け凸部の摩耗等による補修等についても容易
に対応が可能である。
ンド数の仕様を異にする半導体パッケージについても、
金型全体の交換操作を不要としてコマ金型の交換で対応
が可能であり生産効率の向上とともに製作費用の低減が
図られるようになる。また、封止樹脂体成形金型によれ
ば、基板受け凸部の摩耗等による補修等についても容易
に対応が可能である。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明について、図面に示
した実施の形態を参照して詳細に説明する。実施の形態
として図1に示した封止樹脂体成形金型10も、上述し
た従来の封止樹脂体成形金型50と同様に、LGA半導
体パッケージ1の中間体8が装着されて半導体素子3を
搭載した配線基板2の第1の主面上にエポキシ樹脂等を
素材として封止樹脂体9を成形する。なお、封止樹脂体
成形金型は、上述したとおりのLGA半導体パッケージ
1を製造することから、このLGA半導体パッケージ1
自体の詳細な説明については省略する。
した実施の形態を参照して詳細に説明する。実施の形態
として図1に示した封止樹脂体成形金型10も、上述し
た従来の封止樹脂体成形金型50と同様に、LGA半導
体パッケージ1の中間体8が装着されて半導体素子3を
搭載した配線基板2の第1の主面上にエポキシ樹脂等を
素材として封止樹脂体9を成形する。なお、封止樹脂体
成形金型は、上述したとおりのLGA半導体パッケージ
1を製造することから、このLGA半導体パッケージ1
自体の詳細な説明については省略する。
【0016】封止樹脂体成形金型10は、固定金型11
と、この固定金型11に対して図示しない駆動機構によ
って接離動作される可動金型12と、固定金型11内に
組み付けられたコマ金型13とを備える。封止樹脂体成
形金型10は、固定金型11に対して可動金型12がパ
ーティング面Lにおいて型締めされた状態において、同
図に示すようにコマ金型13とともに封装樹脂体9を成
形するキャビティ14を構成してなる。封止樹脂体成形
金型10は、コマ金型13及びその付帯構造について特
徴を有し、その他の基本的な構成を従来の封止樹脂体成
形金型50や一般的な成形金型と同様とする。
と、この固定金型11に対して図示しない駆動機構によ
って接離動作される可動金型12と、固定金型11内に
組み付けられたコマ金型13とを備える。封止樹脂体成
形金型10は、固定金型11に対して可動金型12がパ
ーティング面Lにおいて型締めされた状態において、同
図に示すようにコマ金型13とともに封装樹脂体9を成
形するキャビティ14を構成してなる。封止樹脂体成形
金型10は、コマ金型13及びその付帯構造について特
徴を有し、その他の基本的な構成を従来の封止樹脂体成
形金型50や一般的な成形金型と同様とする。
【0017】固定金型11には、キャビティ半体14a
を構成する凹部11aが形成されており、この凹部11
aの底面に詳細を後述するコマ金型13が図示しない複
数個の結合ボルト等によって一体化されて組み付けられ
る。すなわち、固定金型11には、キャビティ半体14
aとコマ金型13の組付部とを構成する凹部11aが形
成されている。固定金型11は、詳細を省略するが各結
合ボルトを外部から操作可能な構造となっており、成形
機の金型取付盤から全体を取り外すことなくコマ金型1
3のみを着脱自在とする。
を構成する凹部11aが形成されており、この凹部11
aの底面に詳細を後述するコマ金型13が図示しない複
数個の結合ボルト等によって一体化されて組み付けられ
る。すなわち、固定金型11には、キャビティ半体14
aとコマ金型13の組付部とを構成する凹部11aが形
成されている。固定金型11は、詳細を省略するが各結
合ボルトを外部から操作可能な構造となっており、成形
機の金型取付盤から全体を取り外すことなくコマ金型1
3のみを着脱自在とする。
【0018】固定金型11には、一端が成形機側の樹脂
供給部に接続された材料樹脂供給孔15が設けられてい
る。材料樹脂供給孔15には、先端部に、キャビティ1
4内に溶融状態とされた材料樹脂を射出充填するゲート
15aが設けられている。固定金型11には、詳細を省
略するがキャビティ14内にLGA半導体パッケージ中
間体8を位置決めして装着するための位置決め機構が設
けられている。位置決め機構は、例えばキャビティ半体
14aに突出する位置決め凸部と中間体8の配線基板2
に形成した位置決め溝等によって構成される。
供給部に接続された材料樹脂供給孔15が設けられてい
る。材料樹脂供給孔15には、先端部に、キャビティ1
4内に溶融状態とされた材料樹脂を射出充填するゲート
15aが設けられている。固定金型11には、詳細を省
略するがキャビティ14内にLGA半導体パッケージ中
間体8を位置決めして装着するための位置決め機構が設
けられている。位置決め機構は、例えばキャビティ半体
14aに突出する位置決め凸部と中間体8の配線基板2
に形成した位置決め溝等によって構成される。
【0019】なお、封止樹脂体成形金型10は、一般に
スブルーブッシュ等の部材も設けられて樹脂射出部が構
成されるが、従来周知の構成であることから詳細につい
て説明を省略する。また、樹脂射出部については、ゲー
ト位置等の条件によって可動金型12側に設けられるこ
ともあることは勿論である。さらに、ゲート15aにつ
いては、材料樹脂の特性、成形条件、外観条件等によっ
て適宜設計され、トンネルゲート等のように自動切断機
能が付されるものであってもよい。
スブルーブッシュ等の部材も設けられて樹脂射出部が構
成されるが、従来周知の構成であることから詳細につい
て説明を省略する。また、樹脂射出部については、ゲー
ト位置等の条件によって可動金型12側に設けられるこ
ともあることは勿論である。さらに、ゲート15aにつ
いては、材料樹脂の特性、成形条件、外観条件等によっ
て適宜設計され、トンネルゲート等のように自動切断機
能が付されるものであってもよい。
【0020】可動金型12には、キャビティ半体14b
を構成する凹部12aが形成されている。固定金型11
と可動金型12は、それぞれの凹部11a、12aとに
よりキャビティ14を構成するが、矩形空間のように単
純な形状である場合にはいずれか一方に所定の形状の凹
部を形成し、他方がこの凹部を閉塞する平面であっても
よい。固定金型11には、この場合コマ金型13を組み
付ける組付凹部を形成する。
を構成する凹部12aが形成されている。固定金型11
と可動金型12は、それぞれの凹部11a、12aとに
よりキャビティ14を構成するが、矩形空間のように単
純な形状である場合にはいずれか一方に所定の形状の凹
部を形成し、他方がこの凹部を閉塞する平面であっても
よい。固定金型11には、この場合コマ金型13を組み
付ける組付凹部を形成する。
【0021】コマ金型13は、平面形状をキャビティ1
4の断面形状と等しく形成され、上述したように固定金
型11の凹部11aの底部に着脱自在に組み合わされて
キャビティ半体14aの底部を構成する。コマ金型13
は、その上面に多数個の基板受け凸部17が一体に突設
されている。各基板受け凸部17は、配線基板2の第2
の主面に形成された各外部接続ランド4間に構成される
各空間部の大きさとほぼ等しい外形を有するとともに各
空間部のピッチと等しいピッチを以って形成されてい
る。各基板受け凸部17は、各外部接続ランド4の厚み
とほぼ等しい高さを有しており、それぞれの上面が同一
面を構成して基板受け面18を構成する。
4の断面形状と等しく形成され、上述したように固定金
型11の凹部11aの底部に着脱自在に組み合わされて
キャビティ半体14aの底部を構成する。コマ金型13
は、その上面に多数個の基板受け凸部17が一体に突設
されている。各基板受け凸部17は、配線基板2の第2
の主面に形成された各外部接続ランド4間に構成される
各空間部の大きさとほぼ等しい外形を有するとともに各
空間部のピッチと等しいピッチを以って形成されてい
る。各基板受け凸部17は、各外部接続ランド4の厚み
とほぼ等しい高さを有しており、それぞれの上面が同一
面を構成して基板受け面18を構成する。
【0022】封止樹脂体成形金型10は、例えば封止樹
脂体9の形状は同一であるが外部接続ランド4の数やピ
ッチ或いは厚み等の仕様を異にしたLGA半導体パッケ
ージ1も製造可能である。すなわち、封止樹脂体成形金
型10は、上述したように固定金型11に対してコマ金
型13が着脱自在に組み合わされるように構成したこと
により、基板受け凸部17を異にした他のコマ金型13
に交換される。封止樹脂体成形金型10は、コマ金型1
3の交換操作の対応によって、成形機に対する全体交換
の操作と比較して作業効率を大幅に向上させるとともに
金型費用が大幅に低減されるようにする。封止樹脂体成
形金型10においては、例えば多数回のショットによっ
て基板受け凸部17が損耗等した場合にもその対応が極
めて簡易に行われる。
脂体9の形状は同一であるが外部接続ランド4の数やピ
ッチ或いは厚み等の仕様を異にしたLGA半導体パッケ
ージ1も製造可能である。すなわち、封止樹脂体成形金
型10は、上述したように固定金型11に対してコマ金
型13が着脱自在に組み合わされるように構成したこと
により、基板受け凸部17を異にした他のコマ金型13
に交換される。封止樹脂体成形金型10は、コマ金型1
3の交換操作の対応によって、成形機に対する全体交換
の操作と比較して作業効率を大幅に向上させるとともに
金型費用が大幅に低減されるようにする。封止樹脂体成
形金型10においては、例えば多数回のショットによっ
て基板受け凸部17が損耗等した場合にもその対応が極
めて簡易に行われる。
【0023】以上のように構成された封止樹脂体成形金
型10には、固定金型11に対して可動金型12が上方
に移動された型開き動作状態で、キャビティ半体14a
内にLGA半導体パッケージ中間体8が供給される。封
止樹脂体成形金型10は、コマ金型13の基板受け面1
8上に配線基板2の第2の主面を支持して中間体8を装
着する。封止樹脂体成形金型10においては、コマ金型
13の各基板受け凸部17がそれぞれ配線基板2の外部
接続ランド4間に構成された空間部内に位置して第2の
主面の底面を支持する。したがって、封止樹脂体成形金
型10は、配線基板2の第2の主面を支持する基板支持
面18が、コマ金型13の各基板受け凸部17と各外部
接続ランド4とが共同して全体として略平坦面を構成す
る。
型10には、固定金型11に対して可動金型12が上方
に移動された型開き動作状態で、キャビティ半体14a
内にLGA半導体パッケージ中間体8が供給される。封
止樹脂体成形金型10は、コマ金型13の基板受け面1
8上に配線基板2の第2の主面を支持して中間体8を装
着する。封止樹脂体成形金型10においては、コマ金型
13の各基板受け凸部17がそれぞれ配線基板2の外部
接続ランド4間に構成された空間部内に位置して第2の
主面の底面を支持する。したがって、封止樹脂体成形金
型10は、配線基板2の第2の主面を支持する基板支持
面18が、コマ金型13の各基板受け凸部17と各外部
接続ランド4とが共同して全体として略平坦面を構成す
る。
【0024】封止樹脂体成形金型10においては、可動
金型12が移動動作されてパーティングラインLにおい
て固定金型11に対して型締めされる。封止樹脂体成形
金型10においては、樹脂射出部から供給された材料樹
脂が材料樹脂供給孔15からゲート15aを介してキャ
ビティ14内に射出充填される。封止樹脂体成形金型1
0においては、材料樹脂が固化する間、固定金型11と
可動金型12との型締め状態を保持する。封止樹脂体成
形金型10は、キャビティ14内で材料樹脂が固化して
配線基板2上に半導体素子3を封止する封止樹脂体9を
成形する。
金型12が移動動作されてパーティングラインLにおい
て固定金型11に対して型締めされる。封止樹脂体成形
金型10においては、樹脂射出部から供給された材料樹
脂が材料樹脂供給孔15からゲート15aを介してキャ
ビティ14内に射出充填される。封止樹脂体成形金型1
0においては、材料樹脂が固化する間、固定金型11と
可動金型12との型締め状態を保持する。封止樹脂体成
形金型10は、キャビティ14内で材料樹脂が固化して
配線基板2上に半導体素子3を封止する封止樹脂体9を
成形する。
【0025】LGA半導体パッケージ中間体8は、キャ
ビティ14内に射出充填される材料樹脂の充填圧によっ
て配線基板2が基板支持面18に強く押し付けられる。
封止樹脂体成形金型10は、上述したように基板支持面
18がコマ金型13の各基板受け凸部17と各外部接続
ランド4とが共同して全体として略平坦面を構成して配
線基板2の第2の主面を支持する。したがって、封止樹
脂体成形金型10は、材料樹脂の充填圧がキャビティ1
4内に装着した中間体8に負荷されるが、配線基板2の
第2の主面を実質的に平坦化された基板支持面18によ
って均一に支持することで、配線基板2に大きな撓みを
生じさせないようにする。
ビティ14内に射出充填される材料樹脂の充填圧によっ
て配線基板2が基板支持面18に強く押し付けられる。
封止樹脂体成形金型10は、上述したように基板支持面
18がコマ金型13の各基板受け凸部17と各外部接続
ランド4とが共同して全体として略平坦面を構成して配
線基板2の第2の主面を支持する。したがって、封止樹
脂体成形金型10は、材料樹脂の充填圧がキャビティ1
4内に装着した中間体8に負荷されるが、配線基板2の
第2の主面を実質的に平坦化された基板支持面18によ
って均一に支持することで、配線基板2に大きな撓みを
生じさせないようにする。
【0026】封止樹脂体成形金型10は、所定の固化時
間が経過すると固定金型11に対して可動金型12が型
開き動作される。封止樹脂体成形金型10は、これによ
って中間体8の配線基板2上に半導体素子3を封止する
封止樹脂体9が成形されてなるLGA半導体パッケージ
1をキャビティ14内から取り出される。
間が経過すると固定金型11に対して可動金型12が型
開き動作される。封止樹脂体成形金型10は、これによ
って中間体8の配線基板2上に半導体素子3を封止する
封止樹脂体9が成形されてなるLGA半導体パッケージ
1をキャビティ14内から取り出される。
【0027】LGA半導体パッケージ1は、上述した封
止樹脂体成形金型10によって配線基板2に大きな撓み
が生じること無く封止樹脂体9を成形されることで、半
導体素子3にクラックや破損等の発生或いはボンディン
グランド5やボンディングパッド6とボンディングワイ
ヤ7との接合部位の剥離や接合強度の劣化等の発生が低
減され信頼性の向上が大幅に図られて歩留りよく製造さ
れる。LGA半導体パッケージ1は、半導体素子3の内
部歪みも低減されて電気的特性の安定化が図られて製造
される。
止樹脂体成形金型10によって配線基板2に大きな撓み
が生じること無く封止樹脂体9を成形されることで、半
導体素子3にクラックや破損等の発生或いはボンディン
グランド5やボンディングパッド6とボンディングワイ
ヤ7との接合部位の剥離や接合強度の劣化等の発生が低
減され信頼性の向上が大幅に図られて歩留りよく製造さ
れる。LGA半導体パッケージ1は、半導体素子3の内
部歪みも低減されて電気的特性の安定化が図られて製造
される。
【0028】上述した封止樹脂体成形金型10において
は、基板受け凸部17を一体に形成したコマ金型13を
固定金型11に組み込んで構成したが、固定金型11の
キャビティ構成面に一体に形成してもよいことは勿論で
ある。また、封止樹脂体成形金型10においては、固定
金型11側にLGA半導体パッケージ中間体8を装着す
るようにしたが、必要によっては可動金型12側に装着
するようにしてもよいことは勿論である。
は、基板受け凸部17を一体に形成したコマ金型13を
固定金型11に組み込んで構成したが、固定金型11の
キャビティ構成面に一体に形成してもよいことは勿論で
ある。また、封止樹脂体成形金型10においては、固定
金型11側にLGA半導体パッケージ中間体8を装着す
るようにしたが、必要によっては可動金型12側に装着
するようにしてもよいことは勿論である。
【0029】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明にか
かる半導体パッケージの封止樹脂体成形金型によれば、
各基板受け凸部が各外部接続ランド間に位置されて凹凸
面として構成される配線基板の第2の主面をキャビティ
構成面に対して全体として略平坦面を以って支持するこ
とから、キャビティ内に射出される材料樹脂の充填圧が
負荷されても配線基板の撓み現象を抑制する。したがっ
て、封止樹脂体成形金型によれば、半導体素子にクラッ
クや破損等の発生或いはボンディングランドやボンディ
ングパッドとボンディングワイヤとの接合部位の剥離や
接合強度の劣化等の発生を低減して信頼性の高い半導体
パッケージを効率的に製造する。
かる半導体パッケージの封止樹脂体成形金型によれば、
各基板受け凸部が各外部接続ランド間に位置されて凹凸
面として構成される配線基板の第2の主面をキャビティ
構成面に対して全体として略平坦面を以って支持するこ
とから、キャビティ内に射出される材料樹脂の充填圧が
負荷されても配線基板の撓み現象を抑制する。したがっ
て、封止樹脂体成形金型によれば、半導体素子にクラッ
クや破損等の発生或いはボンディングランドやボンディ
ングパッドとボンディングワイヤとの接合部位の剥離や
接合強度の劣化等の発生を低減して信頼性の高い半導体
パッケージを効率的に製造する。
【0030】また、封止樹脂体成形金型によれば、外部
接続ランド数の仕様を異にする半導体パッケージについ
ても、金型全体の交換操作を不要としてコマ金型の交換
で対応可能とすることで生産効率の向上とともに製作費
用の低減が図られるようにする。さらに、封止樹脂体成
形金型によれば、基板受け凸部の摩耗等による補修等に
ついても容易に対応を可能とする。
接続ランド数の仕様を異にする半導体パッケージについ
ても、金型全体の交換操作を不要としてコマ金型の交換
で対応可能とすることで生産効率の向上とともに製作費
用の低減が図られるようにする。さらに、封止樹脂体成
形金型によれば、基板受け凸部の摩耗等による補修等に
ついても容易に対応を可能とする。
【図1】本発明の実施の形態として示す半導体パッケー
ジの封止樹脂体成形金型の要部縦断面図である。
ジの封止樹脂体成形金型の要部縦断面図である。
【図2】LGA半導体パッケージの構成を説明する縦断
面図である。
面図である。
【図3】従来の半導体パッケージの封止樹脂体成形金型
の要部縦断面図である。
の要部縦断面図である。
1 LGA半導体パッケージ 2 配線基板 3 半導体素子 4 外部接続ランド 5 ボンディングランド 6 ボンディングパッド 7 ボンディングワイヤ 8 半導体パッケージ中間体 9 封装樹脂体 10 封止樹脂体成形金型 11 固定金型 12 可動金型 13 コマ金型 14 キャビティ 15 材料樹脂供給孔 17 基板受け凸部 18 基板受け面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) B29L 9:00 B29L 9:00 31:34 31:34
Claims (3)
- 【請求項1】 配線基板の第1の主面に半導体素子を搭
載するとともに第2の主面に外部接続端子を構成する多
数個の外部接続ランドを格子状に配列して形成し、前記
第1の主面上に成形した封止樹脂体によって前記半導体
素子を封止してなる半導体パッケージの前記封止樹脂体
を成形する成形金型において、 前記封止樹脂体を成形するキャビティ内に装着された半
導体パッケージ中間体の配線基板の第2の主面を支持す
るキャビティ構成面に、前記外部接続ランドの厚みとほ
ぼ等しい高さを有するとともに各外部接続ランド間にそ
れぞれ位置されて前記第2の主面を支持する多数個の基
板受け凸部が形成されたことを特徴とする半導体パッケ
ージの封止樹脂体成形金型。 - 【請求項2】 前記多数個の基板受け凸部が、金型本体
に対して着脱自在に組み付けられてキャビティを構成す
るコマ金型に形成されることを特徴とする請求項1に記
載の半導体パッケージの封止樹脂体成形金型。 - 【請求項3】 前記コマ金型が固定金型側に組み付けら
れることを特徴とする請求項2に記載の半導体パッケー
ジの封止樹脂体成形金型。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001054084A JP2002254434A (ja) | 2001-02-28 | 2001-02-28 | 半導体パッケージの封止樹脂体成形金型 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001054084A JP2002254434A (ja) | 2001-02-28 | 2001-02-28 | 半導体パッケージの封止樹脂体成形金型 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002254434A true JP2002254434A (ja) | 2002-09-11 |
Family
ID=18914467
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001054084A Pending JP2002254434A (ja) | 2001-02-28 | 2001-02-28 | 半導体パッケージの封止樹脂体成形金型 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002254434A (ja) |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0286716U (ja) * | 1988-12-22 | 1990-07-10 | ||
JPH07169786A (ja) * | 1993-12-15 | 1995-07-04 | Sony Corp | 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法並びに樹脂封止用成形金型 |
JPH08174649A (ja) * | 1994-12-21 | 1996-07-09 | Ikeda Bussan Co Ltd | 車両用ガラス繊維製品の製造方法 |
JPH08335597A (ja) * | 1995-06-06 | 1996-12-17 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法及び半導体装置製造用金型 |
JPH09201826A (ja) * | 1996-01-26 | 1997-08-05 | Chubu Kogyo Kk | 樹脂製成形型とその製造装置 |
JPH10116845A (ja) * | 1996-10-08 | 1998-05-06 | Mitsui High Tec Inc | Bga型半導体装置の製造方法 |
JPH10258445A (ja) * | 1997-03-19 | 1998-09-29 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体装置の樹脂封止用金型 |
JP2000280280A (ja) * | 1999-03-30 | 2000-10-10 | Meio Kasei:Kk | 電子回路コネクタ端子のインサート成形方法 |
-
2001
- 2001-02-28 JP JP2001054084A patent/JP2002254434A/ja active Pending
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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