JP2002243670A - 粘着性試料のx線分析方法、これに用いる試料保持用の補助具および試料ホルダ - Google Patents

粘着性試料のx線分析方法、これに用いる試料保持用の補助具および試料ホルダ

Info

Publication number
JP2002243670A
JP2002243670A JP2001045046A JP2001045046A JP2002243670A JP 2002243670 A JP2002243670 A JP 2002243670A JP 2001045046 A JP2001045046 A JP 2001045046A JP 2001045046 A JP2001045046 A JP 2001045046A JP 2002243670 A JP2002243670 A JP 2002243670A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
holder
opening
adhesive
cylindrical support
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001045046A
Other languages
English (en)
Inventor
Takao Moriyama
孝男 森山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rigaku Corp
Original Assignee
Rigaku Industrial Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rigaku Industrial Corp filed Critical Rigaku Industrial Corp
Priority to JP2001045046A priority Critical patent/JP2002243670A/ja
Publication of JP2002243670A publication Critical patent/JP2002243670A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 粘着性試料を高感度かつ高精度で分析でき、
正確度が向上するX線分析方法、これに用いる試料保持
用の補助具および試料ホルダを提供する。 【解決手段】 X線分析方法は、筒状支持体4の一方の
開口部41を閉塞する気密性のフィルム5の内面に粘着
性試料Sを付着させ、筒状支持体41の他方の開口部4
2を、試料Sからの揮発成分を吸着して空気を通過させ
るフィルタ材10で覆った状態で、真空環境下で試料S
にX線を照射して分析を行う。試料保持用の補助具2
は、筒状支持体4と、前記筒状支持体4の一方の開口部
41を閉塞し、かつ内面に粘着性試料Sが付着される気
密性のフィルム5と、筒状支持体4の他方の開口部42
を覆い、前記試料Sからの揮発成分を吸着して空気を通
過させるフィルタ材10とを有している。試料ホルダ1
は、補助具2がホルダ本体7内に収納され、ホルダ本体
7の一方の開口端部71に結合されたキャップ8によ
り、筒状支持体4がフィルタ材10を介してホルダ本体
7に押圧して支持されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、グリースのような
粘着性のある試料の蛍光X線分析に関するものである。
【0002】
【従来の技術】蛍光X線分析装置は、試料にX線のよう
な放射線を照射し、試料から発生した蛍光X線を測定す
ることにより、試料の元素分析を行う装置である。この
分析装置においては、通常、放射線の照射位置に試料を
正しくセットするために、試料ホルダを用いている。
【0003】従来の試料ホルダは、試料が機械潤滑用グ
リースのような、一定の形状を持たない粘着性試料であ
る場合、液体試料の測定に用いられている試料ホルダの
中に粘着性試料を詰め、数μmの厚さのポリプロピレン
フィルムや、マイラーフィルムで分析窓を形成し、か
つ、試料の蒸散を避けるために、ヘリウム(He)雰囲
気下でX線を照射して測定を行っている。しかし、この
分析方法では、弗素(F)のような軽い元素の場合は、
検出する蛍光X線がヘリウムガスによって減衰し易いた
め、精度のよい測定が困難であった。
【0004】また、前記粘着性試料を塗り付けた濾紙を
試料ホルダに取り付け、真空雰囲気下で分析することが
行われている。この分析方法では、高感度の分析を行う
ことができるが、X線管からの励起X線やフィラメント
から輻射される熱により粘着性試料が加熱されて揮発成
分が気化し、この揮発成分がX線管のベリリウム(B)
窓やX線分析装置内に付着して、分光結晶、X線検出器
等を汚染するという問題がある。さらに、濾紙の表面に
は凹凸があるため、塗り付けた粘着性試料の表面にも凹
凸が生じる。このため、弗素(F)のように、試料内部
で発生した蛍光X線が試料内部で吸収されるために試料
表面から発生した蛍光X線の検出が主体となる軽い元素
の分析では、個々の試料によりX線強度に差が生じて、
X線分析における正確度が悪くなるという問題があっ
た。
【0005】また、前記問題点を改善するために、粘着
性試料を固化処理してペレット状にし、試料ホルダに保
持させることも行なわれているが、ペレット状に固化す
る前処理が煩わしいという問題があった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、前記問題点
を解決して、粘着性試料を高感度および高精度で分析で
き、かつ分析における正確度が向上するX線分析方法な
らびにこれに用いる試料保持用の補助具および試料ホル
ダを提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のX線分析方法は、筒状支持体の一方の開口
部を閉塞する気密性のフィルムの内面に粘着性試料を付
着させ、前記筒状支持体の他方の開口部を、前記試料か
らの揮発成分を吸着して空気を通過させるフィルタ材で
覆った状態で、真空環境下で前記試料にX線を照射して
分析を行うものである。上記X線分析方法によれば、粘
着性試料のX線照射面の平面性が良いので、高感度およ
び高精度で分析でき、正確度が向上する。さらにX線照
射時に粘着性試料から出る揮発成分をフィルタ材で吸着
するので、X線分析装置内の汚染が生じない。
【0008】本発明の試料保持用の補助具は、筒状支持
体と、前記筒状支持体の一方の開口部を閉塞し、かつ内
面に粘着性試料が付着される気密性のフィルムと、前記
筒状支持体の他方の開口部を覆い、前記試料からの揮発
成分を吸着して空気を通過させるフィルタ材とを有して
いる。上記構成によれば、気密性フィルムを通してX線
が照射される粘着性試料の面が、ほぼ完全な平面となる
ので、高感度および高精度で分析でき、正確度が向上す
る。また、フィルタ材は、補助具をX線分析装置内にセ
ットして真空雰囲気に排気するとき空気を容易に通過さ
せるので、補助具内の排気を妨げることがなく、さら
に、X線照射時に粘着性試料から出る揮発成分を吸着す
るので、X線分析装置内の汚染が生じない。
【0009】本発明の試料ホルダは、前記試料保持用の
補助具が筒状のホルダ本体内に収納され、前記ホルダ本
体の一方の開口端部に結合されたキャップにより、前記
補助具の筒状支持体が弾性材料からなる前記フィルタ材
を介して前記ホルダ本体に押圧して支持されている。上
記構成によれば、ホルダ本体内の補助具は、フィルタ材
を介して前記ホルダ本体に押圧して支持されているので
位置が安定する。このため、前記気密性のフィルムの位
置も安定し、その内面に付着された粘着性試料の位置も
安定するので、分析結果の正確度が向上する。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。まず、蛍光X線分析装置の概略につ
いて説明する。図4において、X線管(放射線源)50
は、一次X線(放射線)B1を出射して、試料ホルダ1
に保持された機械潤滑用グリースのような粘着性を有す
る試料Sに、一次X線B1を照射する。粘着性試料Sに
照射された一次X線B1は、粘着性試料Sの元素を励起
して、その元素固有の蛍光X線B2を発生させる。粘着
性試料Sからの蛍光X線B2は、視野制限スリット51
および第1のソーラスリット52を通過して分光結晶5
3に入射角θで入射し、ブラッグの式を満足する所定の
波長の蛍光X線B2のみが、入射角θと同一の回折角θ
で回折される。回折された蛍光X線B2は、第2のソー
ラスリット54を通過したあと、X線検出器55に入射
して検出される。この検出値に基づいて粘着性試料Sの
元素分析がなされる。試料ホルダ1は、一方向の直線移
動と回転を行うRθテーブルまたは二方向の直線移動を
行うXYテーブルのような試料テーブル56上に載置さ
れ、試料テーブル56の駆動により、粘着性試料Sを照
射位置に移動させてX線を照射する。
【0011】図1は、本発明の一実施形態である試料保
持用の補助具を備えた試料ホルダの縦断面図である。図
1において、試料ホルダ1は、内部に補助具2を着脱自
在に収容している。前記補助具2は、筒状支持体4と、
この筒状支持体4の一端部4aにしわが生じないように
取り付けられて一方の開口部41を閉塞する気密性フィ
ルム5と、筒状支持体4の他端部4bに押し当てられて
他方の開口部42を覆うフィルタ材10とを備えてい
る。前記フィルタ材10は、空気を通し揮発成分を吸着
する機能を有し、かつ弾性に優れた(縦弾性係数の小さ
い)、いわゆる弾性材料からなるもので、例えば、ポリ
ウレタン樹脂製のスポンジを用いるのが好ましい。
【0012】他方、前記ホルダ1は、前記補助具2を内
部に収納する筒状のホルダ本体7と、このホルダ本体7
の一方の開口端部71に、ねじ結合によって着脱される
環状のキャップ8と、前記ホルダ本体7の他方の開口端
部72に形成されたフランジ部7cの内側面に載置され
た環状の支持板9とを備えており、この環状の支持板9
の上に、前記フィルタ材10が載置される。
【0013】つぎに、試料ホルダ1の組立手順を説明す
る。まず、補助具2の筒状支持体4の一方の開口部41
をフィルム5で覆って、フィルム5の端部5aを筒状支
持体4の外側から他方の開口部42の内側にまで回り込
ませて、接着テープ20のような固定手段で支持体内面
4cに固定する。この状態でフィルム5の内面に粘着性
試料Sを付着させる。つぎに、ホルダ本体7内の環状の
支持板9の上に、フィルタ材10を載置し、筒状支持体
4を、その下端の開口部42側からホルダ本体7内に挿
入してフィルタ材10の上に載置する。さらに、開口部
41側に環状の押さえ板11を載せ、その下面に形成さ
れた環状の突起11aの内径側に補助具2の開口部41
を嵌め込む。つぎに、キャップ8をホルダ本体7の開口
端部71にねじ結合する。補助具2の脱着は、上記と逆
の順序で行われる。
【0014】前記のようにして組み立てられた試料ホル
ダ1は、フィルタ材10の周辺部が、環状の支持板9と
筒状支持体4の他端部4bとの間に挟まれ、キャップ8
のねじ結合によって圧縮される。この弾性材料からなる
フィルタ材10の弾性復元力により補助具2の一端部4
aが環状の押さえ板11の下面に押し付けられること
で、試料ホルダ1内の気密性フィルム5の内面に付着し
た粘着性試料Sの軸方向の位置が決まる。また、補助具
2の開口部41側の径方向の位置は、環状の押さえ板1
1の下面に形成された環状の突起11aによって決ま
る。このため、補助具2はホルダ本体7内の所定の高さ
位置に、かつ同軸に保持されるので、試料ホルダ1をX
線分析装置の試料テーブル56上に位置決めすること
で、粘着性試料SのX線照射位置を精度良く決めること
ができる。
【0015】本実施形態において、補助具2の筒状支持
体4はポリプロピレンなどの合成樹脂で形成され、気密
性フィルム5は、約1mm厚さのポリエステル,ポリプ
ロピレン、ポリイミドなどの合成樹脂フィルムで形成さ
れ、ホルダ本体7、キャップ8、環状の押さえ板11お
よび環状の支持板9は、それぞれステンレス鋼またはア
ルミニウムなどで形成される。なお、フィルムの厚さは
機械的強度が保たれれば、薄い方がよい。
【0016】本実施形態の試料ホルダ1は、図4に示し
たように、X線分析装置の試料室内で真空雰囲気下にあ
る試料テーブル56上にセットされる。X線管50から
粘着性試料Sに一次X線B1が照射され、粘着性試料S
からの蛍光X線B2のみがX線検出器55に入射して検
出される。このとき、一次X線B1を照射する粘着性試
料Sの面は気密性フィルム5によってほぼ完全な平面と
なっており、かつ、粘着性試料SのX線照射位置も正確
に決まる。また、このとき、筒状支持体4の中空部はフ
ィルタ材10を通って真空引きされ、粘着性試料Sから
の揮発成分はフィルタ材10で吸着されてX線B1,B
2の経路に侵入しない。したがって、高感度,高精度な
X線分析ができる。さらに、一次X線B1が照射される
粘着性試料Sの照射面は、しわの無いように取り付けら
れた気密性フィルム5の下面に付着されている粘着性試
料Sの平面であり、凹凸がないので、蛍光分析の正確度
が向上する。
【0017】図2は、図1に示した試料ホルダ1を用
い、図4に示したX線分析装置で2種類の機械用のグリ
ースA,Bについて、弗素(F)のF−Kα線強度を測
定した結果の一例を示す。CはFを含まないブランク試
料のF−Kα線強度である。
【0018】図3の下欄は、3種類のグリースA,B,
CについてのX線(F−Kα線)強度の測定値と、この
測定値から算出したFの濃度の計算値と、化学分析値
(標準値)との誤差を示す表で、従来の濾紙にグリース
を塗布した分析方法に比べて誤差が少なく、精度が高い
ことがわかる。Fの濃度算出には、図3のグラフに示し
た検量線を用いた。このグラフにおける○印は、Fの濃
度が既知の標準試料のX線強度を示す。濃度を表す検量
線としてはX線強度の1次式を用いた。繰り返し測定間
の強度を表す正確度は0.09で、濾紙を用いた前記従
来例の0.3に比べて高い。
【0019】なお、前記実施形態では、気密性フィルム
5の内面に粘着性試料を付着し、図4に示したように一
次X線B1を粘着性試料Sの上方から照射したが、試料
ホルダ1を天地逆にして、下方から粘着性試料Sに一次
X線B1を照射する下面照射型とすることもできる。
【0020】
【発明の効果】本発明のX線分析方法およびX線分析用
試料ホルダによれば、簡便に粘着性試料を支持して、高
感度,高精度で、かつ、正確度の高いX線分析を行うこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態である試料保持用の補助具
を備えた試料ホルダを示す縦断面図である。
【図2】同実施形態の補助具を備えた試料ホルダを用い
た粘着性試料のF−Kα線強度測定結果を示す図であ
る。
【図3】同実施形態の補助具を収容した試料ホルダを用
いた粘着性試料の測定値の正確度を示す図である。
【図4】蛍光X線分析装置の概略構成図である。
【符号の説明】
1…試料ホルダ、2…補助具、4…筒状支持体、41…
一端部、42…他端部、4c…支持体の内面、5…気密
性フィルム、7…ホルダ本体、71,72…開口端部、
7c…フランジ部、8…キャップ、9…環状の支持板、
10…フィルタ材、11…環状の押さえ板、11a…環
状の突起、41,42…開口部、71…開口端部、S…
粘着性試料
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成13年2月23日(2001.2.2
3)
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 筒状支持体の一方の開口部を閉塞する気
    密性のフィルムの内面に粘着性試料を付着させ、 前記筒状支持体の他方の開口部を、前記試料からの揮発
    成分を吸着して空気を通過させるフィルタ材で覆った状
    態で、真空環境下で前記試料にX線を照射して分析を行
    うX線分析方法。
  2. 【請求項2】 筒状の支持体と、 前記筒状支持体の一方の開口部を閉塞し、かつ内面に粘
    着性試料が付着される気密性のフィルムと、 前記筒状支持体の他方の開口部を覆い、前記試料からの
    揮発成分を吸着して空気を通過させるフィルタ材とを有
    する試料保持用の補助具。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の補助具が筒状のホルダ
    本体内に収納され、前記ホルダ本体の一方の開口端部に
    結合されたキャップにより、前記補助具の筒状支持体が
    弾性材料からなる前記フィルタ材を介して前記ホルダ本
    体に押圧して支持されている試料ホルダ。
JP2001045046A 2001-02-21 2001-02-21 粘着性試料のx線分析方法、これに用いる試料保持用の補助具および試料ホルダ Pending JP2002243670A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001045046A JP2002243670A (ja) 2001-02-21 2001-02-21 粘着性試料のx線分析方法、これに用いる試料保持用の補助具および試料ホルダ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001045046A JP2002243670A (ja) 2001-02-21 2001-02-21 粘着性試料のx線分析方法、これに用いる試料保持用の補助具および試料ホルダ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002243670A true JP2002243670A (ja) 2002-08-28

Family

ID=18906915

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001045046A Pending JP2002243670A (ja) 2001-02-21 2001-02-21 粘着性試料のx線分析方法、これに用いる試料保持用の補助具および試料ホルダ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002243670A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004245745A (ja) * 2003-02-14 2004-09-02 Tdk Corp 試料容器
CN110487834A (zh) * 2019-07-24 2019-11-22 北京科技大学 一种用于测量表面偏聚挥发量的试样架及其使用方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004245745A (ja) * 2003-02-14 2004-09-02 Tdk Corp 試料容器
CN110487834A (zh) * 2019-07-24 2019-11-22 北京科技大学 一种用于测量表面偏聚挥发量的试样架及其使用方法
CN110487834B (zh) * 2019-07-24 2024-05-07 北京科技大学 一种用于测量表面偏聚挥发量的试样架及其使用方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2838172B2 (ja) 蛍光x線分析装置
JP3793829B2 (ja) 蛍光x線分析用試料保持具ならびにそれを用いる蛍光x線分析方法および装置
JP4522739B2 (ja) 液体試料の濃縮方法及び濃縮用保持台とそれを用いた微量元素分析方法
US6041096A (en) Method and apparatus for total reflection X-ray fluorescence spectroscopy
JPS62255858A (ja) 金属試料表面中の金属痕跡量を非破壊的に測定する装置
JP2007524074A (ja) 加圧サンプルのx線分析のための可動透過性障壁
JP3269039B2 (ja) X線分析用試料ホルダおよびx線分析装置
JP2002243670A (ja) 粘着性試料のx線分析方法、これに用いる試料保持用の補助具および試料ホルダ
JP2551757Y2 (ja) 蛍光x線分析用の試料ホルダ
RU205232U1 (ru) Держатель образцов для регистрации спектров рентгеновского поглощения в инертной атмосфере
JP3635338B2 (ja) X線分析用試料ホルダおよびx線分析装置
JP2001194297A (ja) 環境測定方法及び装置
JP4670589B2 (ja) X線回折装置
JP3918104B2 (ja) 蛍光x線分析装置および蛍光x線検出器
JP2613511B2 (ja) 蛍光x線分析装置
JP2002529699A (ja) X線光学基準チャネルを有するx線回折装置
JP3396460B2 (ja) 蛍光x線分析装置及びそれに使用するx線検出器
JP3242132U (ja) 試料ホルダ及び側面照射型蛍光x線分析装置
JP4190186B2 (ja) X線分析方法及びx線分析装置
JP2615279B2 (ja) 蛍光x線分析装置における窓材の汚染検出方法
JP2524760Y2 (ja) 蛍光x線分析用の試料のパック構造
JP2006518534A5 (ja)
CN220188400U (zh) 一种x射线衍射和x射线荧光光谱同步联用系统及装置
JP2507934Y2 (ja) 蛍光x線分析装置
JPS5928351Y2 (ja) 粉末x線回折用密封容器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070112

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20090113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090330

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090901

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091021

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20091222