JP2002231447A - 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法および有機エレクトロルミネッセンス装置並びに電子機器 - Google Patents

有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法および有機エレクトロルミネッセンス装置並びに電子機器

Info

Publication number
JP2002231447A
JP2002231447A JP2001353682A JP2001353682A JP2002231447A JP 2002231447 A JP2002231447 A JP 2002231447A JP 2001353682 A JP2001353682 A JP 2001353682A JP 2001353682 A JP2001353682 A JP 2001353682A JP 2002231447 A JP2002231447 A JP 2002231447A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
organic electroluminescence
composition
layer
light emitting
electroluminescence device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001353682A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4021177B2 (ja
Inventor
Shunichi Seki
関  俊一
Katsuyuki Morii
克行 森井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2001353682A priority Critical patent/JP4021177B2/ja
Priority to CNB011394986A priority patent/CN1199520C/zh
Priority to US09/994,816 priority patent/US7300686B2/en
Publication of JP2002231447A publication Critical patent/JP2002231447A/ja
Priority to US11/907,219 priority patent/US7488506B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4021177B2 publication Critical patent/JP4021177B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/12Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating
    • H10K71/13Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing
    • H10K71/135Deposition of organic active material using liquid deposition, e.g. spin coating using printing techniques, e.g. ink-jet printing or screen printing using ink-jet printing
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/122Pixel-defining structures or layers, e.g. banks
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/10Organic polymers or oligomers
    • H10K85/111Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
    • H10K85/113Heteroaromatic compounds comprising sulfur or selene, e.g. polythiophene
    • H10K85/1135Polyethylene dioxythiophene [PEDOT]; Derivatives thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】インクジェット法による有機エレクトロルミネ
ッセンス素子の製造において、相分離のない均一な有機
エレクトロルミネッセンス薄膜を形成する。 【解決手段】組成物の基板に対する吐出順序を、組成物
を構成する有機エレクトロルミネッセンス材料の数が少
ない順とする。また、組成物のうち、これを構成する有
機エレクトロルミネッセンス材料の数が同じである組成
物については、基板に対する吐出順序を、組成物を構成
する有機エレクトロルミネッセンス材料が成膜後におい
て相分離しにくい順とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】ディスプレイ、表示光源など
に用いられる電気的発光素子を備えた有機エレクトロル
ミネッセンス装置およびその製造方法並びに電子機器に
関する。
【0002】
【従来の技術】近年液晶ディスプレイに替わる自発発光
型ディスプレイとして有機物を用いた発光素子の開発が
加速している。発光層に有機物を用いた発光素子を備え
た有機エレクトロルミネッセンス装置としては、App
l.Phys.Lett.51(12)、21 Sep
tember 1987の913ページから示されてい
るように低分子を蒸着法で成膜する方法と、Appl.
Phys.Lett.71(1)、7 July 19
97の34ページから示されているように高分子を塗布
する方法が主に報告されている。
【0003】カラー化の手段としては低分子系材料の場
合、マスク越しに異なる発光材料を所望の画素上に蒸着
し形成する方法が行われている。一方、高分子系材料に
ついては、微細かつ容易にパターニングができることか
らインクジェット法を用いたカラー化が注目されてい
る。インクジェット法による有機エレクトロルミネッセ
ンス素子の形成としては以下の公知例が知られている。
特開平7−235378、特開平10−12377、特
開平10−153967、特開平11−40358、特
開平11−54270、特開平11−339957であ
る。
【0004】また、素子構造という観点からは、発光効
率、耐久性を向上させるために、正孔注入/輸送層を陽
極と発光層の間に形成することが多い(Appl.Ph
ys.Lett.51、21 September 1
987の913ページ)。従来、バッファ層や正孔注入
/輸送層としては導電性高分子、例えばポリチオフェン
誘導体やポリアニリン誘導体(Nature,357,
477、1992)を用い、スピンコート等の塗布法に
より膜を形成する。低分子系材料においては正孔注入/
輸送層として、フェニルアミン誘導体を蒸着で形成する
ことが報告されている。
【0005】上記のインクジェット法は、有機エレクト
ロルミネッセンス材料からなる発光層材料を無駄にせ
ず、簡便にかつ微細パターニング成膜する手段として大
変有効である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】有機エレクトロルミネ
ッセンス材料を用いた発光層をインクジエット法により
形成する場合、有機エレクトロルミネッセンス材料等を
溶質成分として、この溶質成分と溶媒とからなる組成物
が用いられている。
【0007】この組成物としては、含まれる有機エレク
トロルミネッセンス材料が1種類のみのもあるが、複数
の有機エレクトロルミネッセンス材料を用いた組成物も
広く用いられている。たとえば、発光材料と蛍光材料と
を混合して、発光材料から発光された光を、蛍光材料に
よって、別の波長の光に変換することが行われている。
このように、有機エレクトロルミネッセンス材料が複数
の場合、所望の発光特性を得るためには、各々の有機エ
レクトロルミネッセンス材料が分離することなく均一に
混合した状態で成膜されることが必要である。
【0008】しかしながら、インクジェット法による薄
膜成膜において用いられている液滴は極めて小さく蒸発
時間が短い。そのため、液滴より蒸発した溶媒分子が基
板近傍から十分に拡散される前に飽和に達してしまい、
すでに成膜された薄膜さえも再溶解させてしまう。そし
て、再溶解の際に、各々の有機エレクトロルミネッセン
ス材料が相分離してしまい、その結果、有機エレクトロ
ルミネッセンス装置の表示性能が劣化してしまう問題が
しばしば生じていた。
【0009】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
ので、インクジェット法による相分離のない均一な発光
層形成を可能とし、これにより、表示特性に優れた有機
エレクトロルミネッセンス装置を製造可能な製造方法を
提供することを課題とする。また、均一な発光層を有
し、表示作成に優れた有機エレクトロルミネッセンス装
置を提供することを課題とする。さらに、この有機エレ
クトロルミネッセンス装置を用いた電子機器を提供する
ことを課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の有機エレクトロ
ルミネッセンス装置の製造方法は、有機エレクトロルミ
ネッセンス材料を含む組成物2種類以上を、基板上に吐
出成膜する発光層形成工程を有する有機エレクトロルミ
ネッセンス装置の製造方法であって、前記2種類以上の
組成物の基板に対する吐出順序を、前記組成物を構成す
る有機エレクトロルミネッセンス材料の数が少ない順と
し、吐出成膜することを特徴とする。
【0011】本発明によれば、有機エレクトロルミネッ
センス材料の数が多い組成物ほど相分離の問題を生じや
すいことに着目し、その吐出成膜を、有機エレクトロル
ミネッセンス材料の数が少ない組成物よりも後から行う
こととした。そのため、吐出成膜後の再溶解による相分
離を防ぐことができ、表示特性の優れた有機エレクトロ
ルミネッセンス装置を製造することができる。
【0012】また、本発明の有機エレクトロルミネッセ
ンス装置の製造方法は、有機エレクトロルミネッセンス
材料を含む組成物2種類以上を、基板上に吐出成膜する
発光層形成工程を有する有機エレクトロルミネッセンス
装置の製造方法であって、前記2種類以上の組成物のう
ち、前記組成物を構成する有機エレクトロルミネッセン
ス材料の数が同じである組成物の、基板に対する吐出順
序を、前記組成物を構成する有機エレクトロルミネッセ
ンス材料が成膜後において相分離しにくい順とし、吐出
成膜することを特徴とする。
【0013】本発明によれば、成膜後において相分離し
やすい組成物の吐出成膜を、成膜後において相分離しに
くい組成物よりも後から行うこととした。そのため、吐
出成膜後の再溶解による相分離を防ぐことができ、表示
特性の優れた有機エレクトロルミネッセンス装置を製造
することができる。
【0014】本発明において、連続する2回の組成物の
吐出において、先に吐出した組成物を乾燥させた後、次
の組成物の吐出を行うことが好ましい。これにより、再
溶解による相分離をより確実に防止できる。
【0015】本発明は、前記基板上に、複数の画素領域
に対応する第1電極と、該複数の画素領域を隔てる隔壁
と、前記複数の第1電極上に、正孔注入/輸送層と、を
形成する工程の後、前記発光層を形成する工程を含み、
前記発光層上に第2電極を形成することを特徴とするこ
とが好ましい。この場合は隔壁を設けることにより、画
素領域毎に2種類以上の組成物を完全に分離して吐出成
膜することができる。そのため、各発光層毎の独立性を
確保しやすく、表示性能の優れた有機エレクトロルミネ
ッセンス装置を得ることができる。また、正孔注入/輸
送層とを形成するので、発光効率や耐久性を向上させる
ことができる。なお、第2電極は、第1電極が陽極の場
合には陰極、第1電極が陰極の場合には陽極である。
【0016】また、本発明の有機エレクトロルミネッセ
ンス装置は、上記本発明に係る有機エレクトロルミネッ
センス装置の形成方法を用いて得られたことを特徴とす
る。本発明によれば、均一な発光層を有し、表示性能に
優れた有機エレクトロルミネッセンス装置とすることが
できる。
【0017】さらに、本発明の電子機器によれば、上記
本発明に係る有機エレクトロルミネッセンス装置を具備
してなることを特徴とする。本発明によれば、表示性能
に優れた表示装置を備えた電子機器とすることができ
る。
【0018】
【発明の実施の形態】次に、本実施形態の有機エレクト
ロルミネッセンス装置の製造方法を図1〜図7を参照し
て説明する。本実施形態の製造方法は、隔壁形成工程
と、プラズマ処理工程と、正孔注入/輸送層形成工程
と、表面改質工程と、発光層形成工程と、陰極形成工程
と、封止工程とを具備して構成されている。
【0019】図1に示すように、隔壁形成工程では、必
要に応じてTFT等(図示せず)が予め設けられている
基板10に形成されたITO等からなる透明電極11上
に、無機物バンク層12aと有機物バンク層12bを順
次積層することにより、各画素領域を隔てるバンク層
(隔壁)12を形成する。
【0020】無機物バンク層12aは、例えばCVD
法、スパッタ法、蒸着法等によって基板10及び透明電
極11の全面にSiO2、TiO2、SiN等の無機物膜
を形成し、次にこの無機物膜をエッチング等によりパタ
ーニングして、透明電極11上の画素領域に開口部13
aを設けることにより形成する。ただし、このとき、無
機物バンク層12aを透明電極11の周縁部まで残して
おくものとする。また、無機物バンク層12aの膜厚は
50〜200nmの範囲が好ましく、特に150nmが
よい。
【0021】次に、基板10、透明電極11、無機物バ
ンク層12aの全面に、有機物バンク層12bを形成す
る。また、有機物バンク層12bは、アクリル樹脂、ポ
リイミド樹脂等の有機樹脂を溶媒に溶かしたものを、ス
ピンコート、ディップコート等により塗布して形成す
る。そして、有機物バンク層12bをフォトリソグラフ
ィ技術等によりエッチングして開口部13bを設ける。
この有機物バンク層12bの開口部13bは、図1に示
すように、無機物バンク層12aの開口部13aよりや
や広く形成することが好ましい。これにより、透明電極
11上に、無機物バンク層12a及び有機物バンク層1
2bを貫通する開口部13が形成される。なお、開口部
13の平面形状は、円形、楕円、四角、ストライプいず
れの形状でも構わないが、インク組成物には表面張力が
あるため、四角形等の場合には、角部に丸みを持たせる
方が好ましい。
【0022】次にプラズマ処理工程では、バンク部12
の表面に、親インク性を示す領域と、撥インク性を示す
領域を形成する。このプラズマ処理工程は、予備加熱工
程と、全面を親インク性にする親インク化工程と、有機
物バンク層12bを撥インク性にする撥インク化工程
と、冷却工程とに大別される。
【0023】予備加熱工程では、バンク部12を含む基
板10を所定の温度まで加熱する。加熱は、例えばプラ
ズマ処理室内にて基板10を載せるステージにヒータを
取り付け、このヒータで当該ステージごと基板10を、
例えば70〜80℃に加熱することにより行う。予備加
熱を行うことにより、多数の基板にプラズマ処理を連続
的に行った場合でも、処理開始直後と処理終了直前での
プラズマ処理条件をほぼ一定にすることができる。これ
により、基板10間のバンク部12のインク組成物に対
する親和性を均一化することができ、一定の品質を有す
る表示装置を製造することができる。また、基板10を
予め予備加熱しておくことで、後のプラズマ処理におけ
る処理時間を短縮することができる。
【0024】親インク化工程では、大気雰囲気中で酸素
を反応ガスとするプラズマ処理(O2プラズマ処理)を
行う。具体的には、バンク部12を含む基板10は加熱
ヒータ内蔵の試料ステージ上に載置され、これにプラズ
マ状態の酸素が照射される。O2プラズマ処理の条件
は、例えば、プラズマパワー100〜800kW、酸素
ガス流量50〜100cc/min、基板搬送速度0.
5〜10mm/sec、基板温度70〜90℃の条件で
行われる。このO2プラズマ処理により、透明電極11
及び無機物バンク層12aの露出面、並びに有機物バン
ク層12bの全面に水酸基が導入されて親インク性が付
与される。
【0025】つぎに、撥インク化工程では、大気雰囲気
中でテトラフルオロメタン(四フッ化炭素)を反応ガス
とするプラズマ処理(CF4プラズマ処理)を行う。具
体的には、バンク部12を含む基板10は加熱ヒータ内
蔵の試料ステージ上に載置され、これにプラズマ状態の
テトラフルオロメタン(四フッ化炭素)が照射される。
CF4プラズマ処理の条件は、例えば、プラズマパワー
100〜800kW、テトラフルオロメタン(四フッ化
炭素)ガス流量50〜100SCCM、基板搬送速度
0.5〜10mm/sec、基板温度70〜90℃の条
件で行われる。なお、試料ステージによる加熱は、第1
プラズマ処理室52の場合と同様に、主として予備加熱
された基板10の保温のために行われる。なお、処理ガ
スは、テトラフルオロメタン(四フッ化炭素)に限ら
ず、他のフルオロカーボン系のガスを用いることができ
る。CF4プラズマ処理により、先の工程で親インク性
が付与された有機物バンク層にフッ素基が導入されて撥
インク性が付与される。有機物バンク層12bを構成す
るアクリル樹脂、ポリイミド樹脂等の有機物は、プラズ
マ状態のフルオロカーボンを照射することで容易に水酸
基がフッ素基で置換され、撥インク化させることができ
るものである。一方、透明電極11及び無機物バンク層
12aの露出面もこのCF4プラズマ処理の影響を多少
受けるが、親和性に影響を与えることはない。
【0026】次に冷却処理室54では、冷却工程とし
て、プラズマ処理のために加熱された基板10を室温ま
で冷却する。具体的には、例えば、プラズマ処理後の基
板10を、水冷プレート上に載置して冷却する。プラズ
マ処理後の基板10を室温、または所定の温度(例えば
インクジェット工程を行う管理温度)まで冷却すること
により、次の正孔注入/輸送層形成工程を一定の温度で
行うことができる。これにより、インクジェット法で正
孔注入/輸送層材料を含むインク組成物を吐出させる際
に、インク滴を一定の容積で連続して吐出させることが
でき、正孔注入/輸送層を均一に形成することができ
る。
【0027】上記のプラズマ処理工程では、材質が異な
る有機物バンク層12a及び無機物バンク層12bに対
して、O2プラズマ処理とCF4プラズマ処理とを順次行
うことにより、バンク部12に親インク性の領域と撥イ
ンク性の領域を容易に設けることができる。
【0028】次に、正孔注入/輸送層形成工程では、イ
ンクジェット法により、正孔注入/輸送層材料を含むイ
ンク組成物15を透明電極11上の開口部13に吐出し
た後に乾燥処理及び熱処理を行い、正孔注入/輸送層1
6を形成する。なお、この正孔注入/輸送層形成工程以
降は、水分、酸素の無い、窒素雰囲気、アルゴン雰囲気
等の不活性ガス雰囲気で行うことが好ましい。図2に示
すように、インクジェットヘッド14に正孔注入/輸送
層材料を含むインク組成物15を充填し、インクジェッ
トヘッド14の吐出ノズルを開口部13に対向させ、イ
ンクジェットヘッド14と基板10とを相対移動させな
がら、インクジェットヘッド14から1滴当たりの液量
が制御されたインク組成物15を透明電極11上に吐出
する。
【0029】ここで用いるインク組成物15としては、
例えば、ポリエチレンジオキシチオフェン(PEDOT)等の
ポリチオフェン誘導体とポリスチレンスルホン酸(PSS)
等の混合物を、極性溶媒に溶解させたインク組成物を用
いることができる。極性溶媒としては、例えば、イソプ
ロピルアルコール(IPA)、ノルマルブタノール、γ−ブ
チロラクトン、N−メチルピロリドン(NMP)、1,3−
ジメチル−2−イミダゾリジノン(DMI)及びその誘導
体、カルビト−ルアセテート、ブチルカルビト−ルアセ
テート等のグリコールエーテル類等を挙げることができ
る。より具体的なインク組成物15の組成としては、PE
DOT/PSS混合物(PEDOT/PSS=1:20):12.52重量%、P
SS:1.44重量%、IPA:10重量%、NMP:27.4
8重量%、DMI:50重量%のものを例示できる。尚、
インク組成物の粘度は2〜20Ps程度が好ましく、特
に7〜10cPs程度が良い。上記のインク組成物を用
いることにより、インクジェットヘッド14の吐出ノズ
ルに詰まりが生じることがなく安定吐出できる。なお、
正孔注入/輸送層16の材料は、R・G・Bの各発光層
に対して同じ材料を用いても良く、各発光層毎に変えて
も良い。
【0030】吐出されたインク組成物15は、開口部1
3の親インク処理された透明電極11及び無機物バンク
層12aに広がる。そして、インク組成物15が所定の
吐出位置からはずれて有機物バンク層12b上に吐出さ
れたとしても、有機物バンク層12bがインク組成物1
5で濡れることがなく、はじかれたインク組成物15が
開口部13内に転がり込む。
【0031】インク組成物15の吐出量は、開口部13
の大きさ、形成しようとする正孔注入/輸送層の厚さ、
インク組成物中15の正孔注入/輸送層材料の濃度等に
より決定される。また、インク組成物15は1回のみな
らず、数回に分けて同一の開口部13に吐出しても良
い。この場合、各回におけるインク組成物15の量は同
一でも良く、各回毎にインク量を変えても良い。更に同
一の開口部13内の同一箇所のみならず、各回毎に開口
部13内の異なる箇所にインク組成物15を吐出しても
良い。
【0032】次に、図3に示すように、吐出後のインク
組成物15を乾燥処理してインク組成物15に含まれる
極性溶媒を蒸発させることにより、正孔注入/輸送層1
6を形成する。この乾燥処理は、例えば窒素雰囲気中、
室温で圧力を133.3Pa(1Torr)程度にして
行う。圧力が低すぎるとインク組成物15が突沸してし
まうので好ましくない。また、インク組成物15はバン
ク12の周壁面にも若干残留して付着するが、温度が室
温を越えると、極性溶媒の蒸発速度が高まり、この残留
付着量が過剰になってしまう。したがって、乾燥処理の
温度は室温以下とすることが好ましい。乾燥処理後は、
窒素中、好ましくは真空中で200℃で10分程度加熱
する熱処理を行うことで、正孔注入/輸送層16内に残
存する極性溶媒や水を除去することが好ましい。
【0033】上記の正孔注入/輸送層形成工程では、吐
出されたインク組成物15が、親インク性の透明電極1
1及び無機物バンク層12aの露出面部になじむ一方
で、撥インク処理された有機物バンク層12bにはほと
んど付着しないので、インク組成物15が有機物バンク
層12bの上に誤って吐出された場合でも、インク組成
物15がはじかれて透明電極11及び無機物バンク層1
2aの露出面部に転がり込む。これにより、透明画素電
極電極11上に正孔注入/輸送層16を確実に形成する
ことができる。
【0034】次に、発光層形成工程に先立ち表面改質工
程を行う。すなわち、発光層形成工程では、正孔注入/
輸送層16の再溶解を防止するために、発光層形成の際
に用いるインク組成物の溶媒として、正孔注入/輸送層
16に対して不溶な非極性溶媒を用いる。しかしその一
方で正孔注入/輸送層16は、非極性溶媒に対する親和
性が低いため、非極性溶媒を含む発光層のインク組成物
を正孔注入/輸送層16上に吐出しても、正孔注入/輸
送層16によりインク組成物がはじかれ、正孔注入/輸
送層16と発光層とを密着させることができなくなる
か、あるいは発光層を均一に塗布できないおそれがあ
る。そこで、非極性溶媒に対する正孔注入/輸送層16
の表面の親和性を高めるために、発光層形成の前に表面
改質工程を行うことが好ましい。
【0035】表面改質工程は、発光層形成の際に用いる
インク組成物の非極性溶媒と同一溶媒またはこれに類す
る溶媒である表面改質用溶媒を、インクジェット法、ス
ピンコート法またはディップ法により正孔注入/輸送層
16上に塗布した後に乾燥することにより行う。インク
ジェット法による塗布は、インクジェットヘッドに表面
改質用溶媒を充填し、インクジェットヘッドの吐出ノズ
ルを正孔注入/輸送層16に対向させ、インクジェット
ヘッドと基板10とを相対移動させながら、表面改質用
溶媒を正孔注入/輸送層16上に吐出することにより行
う。また、スピンコート法による塗布は、基板10を例
えば回転ステージ上に載せ、上方から表面改質用溶媒を
基板10上に滴下した後、基板10を回転させて表面改
質用溶媒を基板10上の正孔注入/輸送層16の全体に
広げることにより行う。なお、表面改質用溶媒は撥イン
ク処理された有機物バンク層12b上にも一時的に広が
るが、回転による遠心力で飛ばされてしまい、正孔注入
/輸送層16上のみに塗布される。更にディップ法によ
る塗布は、基板10を例えば表面改質用溶媒に浸積させ
た後に引き上げて、表面改質用溶媒を正孔注入/輸送層
16の全体に広げることにより行う。この場合も表面改
質用溶媒が撥インク処理された有機物バンク層12b上
に一時的に広がるが、引き上げの際に表面改質用溶媒が
有機物バンク層12bからはじかれて正孔注入/輸送層
16のみに塗布される。
【0036】ここで用いる表面改質用溶媒としては、イ
ンク組成物の非極性溶媒と同一なものとして例えば、シ
クロへキシルベンゼン、ジハイドロベンゾフラン、トリ
メチルベンゼン、テトラメチルベンゼン等を例示でき、
インク組成物の非極性溶媒に類するものとして例えば、
トルエン、キシレン等を例示できる。特に、インクジェ
ット法により塗布する場合には、ジハイドロベンゾフラ
ン、トリメチルベンゼン、テトラメチルベンゼン、シク
ロヘキシルベンゼン、またはこれらの混合物、特にイン
ク組成物と同じ溶媒混合物等を用いることが好ましく、
スピンコート法またはディップ法による場合は、トルエ
ン、キシレン等が好ましい。
【0037】乾燥は、インクジェット法で塗布した場合
はホットプレート上に基板10を載せて200℃以下の
温度で加熱して表面改質用溶媒を乾燥させることが好ま
しく、スピンコート法またはディップ法による場合は、
基板10に窒素を吹き付けるか、あるいは基板を回転さ
せて基板10表面に気流を発生させることで乾燥させる
ことが好ましい。
【0038】尚、表面改質用溶媒の塗布を、正孔注入/
輸送層入層形成工程の乾燥処理の後に行い、塗布後の表
面改質用溶媒を乾燥させた後に、正孔注入/輸送層形成
工程の熱処理を行っても良い。
【0039】このような表面改質工程を行うことで、正
孔注入/輸送層16の表面が非極性溶媒になじみやすく
なり、この後の工程で、発光層材料を含むインク組成物
を正孔注入/輸送層16に均一に塗布することができ
る。
【0040】尚、上記の表面改質用溶媒に、正孔輸送層
材料として一般に用いられるアリールアミン系化合物等
を溶解してインク組成物とし、このインク組成物をイン
クジェット法により正孔注入/輸送層上に塗布して乾燥
させることにより、正孔注入/輸送層上に極薄の正孔輸
送層を形成しても良い。正孔輸送層の大部分は、後の工
程で塗布する発光層に溶け込むが、一部が正孔注入/輸
送層16と発光層の間に薄膜状に残存し、これにより正
孔注入/輸送層16と発光層との間のエネルギー障壁を
下げて正孔の移動を容易にし、発光効率を向上させるこ
とができる。
【0041】次に発光層形成工程では、インクジェット
法により、有機エレクトロルミネッセンス材料等の溶質
成分と溶媒とからなるインク組成物17a、17b、1
7c(17cは図示を省略)を、後述する順番に従っ
て、表面改質後の正孔注入/輸送層16上に吐出した後
に乾燥処理及び熱処理して、発光層18a、18b、1
8cを順次形成する。
【0042】有機エレクトロルミネッセンス材料として
は、[化1]〜[化5]に示すフルオレン系高分子誘導
体や、(ポリ)パラフェニレンビニレン誘導体、ポリフ
ェニレン誘導体、ポリフルオレン誘導体、ポリビニルカ
ルバゾール、ポリチオフェン誘導体、ペリレン系色素、
クマリン系色素、ローダミン系色素、その他ベンゼン誘
導体に可溶な低分子有機EL材料、高分子有機EL材料
等も用いることができる。例えば、ルブレン、ペリレ
ン、9,10-ジフェニルアントラセン、テトラフェニ
ルブタジエン、ナイルレッド、クマリン6、キナクリド
ン等を用いることができる。なお、[化1]〜[化5]
においてnは重合度で、[化1]ではnは1000〜5
0万、[化2]ではnは1000〜50万、[化3]で
はnは1000〜50万、[化4]ではnは1000〜
50万、[化5]ではnは1000〜50万である。ま
た、[化5]においてRはH、CH3、C25などであ
る。
【0043】
【化1】
【0044】
【化2】
【0045】
【化3】
【0046】
【化4】
【0047】
【化5】
【0048】非極性溶媒としては、正孔注入/輸送層1
6に対して不溶なものが好ましく、例えば、シクロへキ
シルベンゼン、ジハイドロベンゾフラン、トリメチルベ
ンゼン、テトラメチルベンゼン等を用いることができ
る。このような非極性溶媒を発光層のインク組成物に用
いることにより、正孔注入/輸送層16を再溶解させる
ことなくインク組成物を塗布できる。なお、溶質成分と
しては、有機エレクトロルミネッセンス材料の他に、バ
インダー、界面活性剤、粘度調整剤等が適宜含まれてい
ても差し支えない。
【0049】図4に示すように、インクジェットヘッド
14に、インク組成物17aを充填し、インクジェット
ヘッド14の吐出ノズルを正孔注入/輸送層16に対向
させ、インクジェットヘッド14と基板10とを相対移
動させながら、吐出ノズルから1滴当たりの液量が制御
されたインク滴として吐出し、インク組成物17aを正
孔注入/輸送層16上に吐出する。この場合、吐出され
たインク組成物17aは、正孔注入/輸送層16上に広
がってなじむ一方で、撥インク処理された有機物バンク
層12bにはほとんど付着しないので、インク組成物1
7aが有機物バンク層12bの上に誤って吐出された場
合でも、インク組成物17aがはじかれて正孔注入/輸
送層16上に転がり込む。これにより、正孔注入/輸送
層16に密着してインク組成物17aの層を形成するこ
とができる。
【0050】インク組成物17aの量は、形成しようと
する発光層18aの厚さ、インク組成物中の発光層材料
の濃度等により決定される。また、インク組成物17a
の滴下は1回のみならず、数回に分けて同一の正孔注入
/輸送層16上に吐出しても良い。この場合、各回にお
けるインク滴の量は同一でも良く、各回毎にインク量を
変えても良い。更に正孔注入/輸送層16の同一箇所の
みならず、各回毎に正孔注入/輸送層16内の異なる箇
所にインク滴を吐出しても良い。
【0051】次に、吐出後のインク組成物17aを乾燥
処理することによりインク組成物に含まれる非極性溶媒
を蒸発させて、図5に示すような発光層18aが形成さ
れる。乾燥条件は、例えば、窒素雰囲気中、室温で圧力
を133.3Pa(1Torr)程度として5〜10分
行う条件としたり、40℃で窒素の吹き付けを5〜10
分行う条件としたりすることができる。その他の乾燥の
手段としては、遠赤外線照射法、高温窒素ガス吹付法等
を例示できる。
【0052】続けて、図6に示すように、インク組成物
17aの場合と同様にして、インク組成物17bを滴
下、乾燥して発光層18bを形成し、最後にインク組成
物17cを滴下、乾燥して、発光層18cを形成し、図
7に示すように、3種類の発光層18a、18b、18
cが形成された基板とする。
【0053】ここで、3種類の発光層18a、18b、
18cの形成順序は、以下のように決定する。まず、有
機エレクトロルミネッセンス材料の数が異なる場合に
は、有機エレクトロルミネッセンス材料の数が少ないも
のから順に行う。成分数の多い色の発光層を先に形成す
ると、後から形成した別の色の発光層のインク組成物か
ら蒸発した溶媒蒸気によって、先に形成した発光層が再
溶解して成分分離を起こすおそれがあるからである。ま
た、インク組成物を構成する有機エレクトロルミネッセ
ンス材料の数が同じ場合には、成膜後において相分離し
にくいものから順に行う。この相分離のしにくさは、比
較すべきインク組成物を同一の乾燥条件の下に乾燥し
て、得られた発光層の相分離の度合いを比較することに
より判断することができる。このとき、同一の乾燥条件
としては、自然放置、加熱乾燥、減圧乾燥があげられる
が、特に自然放置を選択することが好ましい。相分離の
度合いは、例えば得られた発光層による発光スペクトル
中に、完全に相分離してしまったときに得られる波長の
光がどの程度残存するかによって判断することができ
る。また、得られた発光層による発光スペクトル中にお
ける完全に相分離が生じなかったときに得られる波長の
光の割合によって判断しても良い。
【0054】次に陰極形成工程では、発光層18a、1
8b、18c及び有機物バンク層12bの全面に、陰極
19を形成する。陰極19は、複数の材料を積層して形
成しても良い。例えば、発光層に近い側には仕事関数が
小さい材料で形成することが好ましく、例えばCa、B
a等を用いることが可能であり、また材料によっては下
層にLiFを薄く形成した方がよい場合もある。また、
上部側(封止側)には下部側(発光層側)の陰極層より
も仕事関数が高いものが好ましく、例えばAl膜、Ag
膜、Mg/Ag積層膜等からなることが好ましい。ま
た、その厚さは、例えば100〜1000nmの範囲が
好ましく、特に200〜500nm程度がよい。がよ
い。これらの陰極(陰極層)は、例えば蒸着法、スパッ
タ法、CVD法等で形成することが好ましく、特に蒸着
法で形成することが、発光層18a、18b、18cの
熱による損傷を防止できる点で好ましい。また、フッ化
リチウムは、発光層18a、18b、18c上のみに形
成しても良く、特定の何れかの発光層上のみに形成して
も良い。この場合、他の発光層には、カルシウムからな
る陰極が接することとなる。また反射層上に、酸化防止
のためにSiO、SiO2、SiN等の保護層を設けて
も良い。
【0055】最後に封止工程では、陰極19上の全面に
熱硬化樹脂または紫外線硬化樹脂からなる封止材を塗布
し、封止層20を形成する。さらに、封止層20上に封
止用基板(図示せず)を積層する。封止工程は、窒素、
アルゴン、ヘリウム等の不活性ガス雰囲気で行うことが
好ましい。大気中で行うと、反射層にピンホール等の欠
陥が生じていた場合にこの欠陥部分から水や酸素等が陰
極19に侵入して陰極19が酸化されるおそれがあるの
で好ましくない。このようにして、図8に示すような有
機エレクトロルミネッセンス装置が得られる。
【0056】本実施形態によれば、有機エレクトロルミ
ネッセンス材料の数が多いインク組成物の吐出成膜を、
有機エレクトロルミネッセンス材料の数が少ないインク
組成物よりも後から行うこととすると共に、有機エレク
トロルミネッセンス材料の数が同じであるインク組成物
の、基板に対する吐出順序を、インク組成物を構成する
有機エレクトロルミネッセンス材料が成膜後において相
分離しにくい順とした。そのため、吐出成膜後の再溶解
による相分離を防ぐことができ、表示特性の優れた有機
エレクトロルミネッセンス装置を製造することができ
る。
【0057】次に、上記実施形態で製造された有機エレ
クトロルミネッセンス装置備えた電子機器の具体例につ
いて説明する。図10(a)は、携帯電話の一例を示し
た斜視図である。図10(a)において、符号600は
携帯電話本体を示し、符号601は表示部としての有機
エレクトロルミネッセンス装置を示している。図10
(b)は、ワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装
置の一例を示した斜視図である。図10(b)におい
て、符号700は情報処理装置、符号701はキーボー
ドなどの入力部、符号703は情報処理装置本体、符号
702は表示部としての有機エレクトロルミネッセンス
装置を示している。図10(c)は、腕時計型電子機器
の一例を示した斜視図である。図10(c)において、
符号800は時計本体を示し、符号801は表示部とし
ての有機エレクトロルミネッセンス装置を示している。
本実施形態にによれば、表示性能に優れた表示装置を備
えた電子機器とすることができる。
【0058】
【実施例】上記実施形態に沿って、実施例、比較例に係
る有機エレクトロルミネッセンス装置を製造した。具体
的な製造条件は下記のとおりであるが、発光層形成工程
における順番以外の条件は、各実施例、比較例とも共通
である。
【0059】(隔壁形成工程)ITOからなる透明画素
電極上が開口するように、バンク層(隔壁)形成した。
透明電極は70.5μmピッチでマトリクス状に形成さ
れているので、バンク層(隔壁)の開口部も同様にマト
リクス状に70.5μmピッチで形成されている。バン
ク層(隔壁)は、SiO2からなる無機物バンク層と、
ポリイミドからなる有機物バンク層とを積層して形成し
た。それぞれのバンク層は、フォトリソグラフィ工程の
後、エッチングすることにより形成した。バンク層の開
口部の形状は円形とし、有機物バンク層の開口部の径は
28μm、無機物バンク層の開口部の径は44μmとし
た。また、無機物バンク層の高さは、150nm、有機
物バンク層の高さは2μmとした。
【0060】(プラズマ処理工程)親インク化工程とし
てO2プラズマ処理を行った。O2プラズマ処理の条件
は、室温、大気圧下で、パワー300W、電極−基板間
距離1mm、酸素ガス流量100ccm、ヘリウムガス
流量10SLM、テーブル搬送速度10mm/sで行っ
た。続けて撥インク化工程としてCF4プラズマ処理を
行った。CF4プラズマ処理の条件は、CF4ガス流量1
00SCCM、ヘリウムガス流量10SLM、テーブル
搬送速度3mm/sの往復で行った。
【0061】(正孔注入/輸送層形成工程)表1に示し
た正孔注入/輸送層用インク組成物(バイエル社製のバ
イトロンPと、ポリエチレンスルフォン酸の混合物)を
インクジェットプリント装置のヘッド(エプソン社製M
J−930C)から15pl吐出しパターン塗布。真空
中(1torr)、室温、20分という条件で溶媒を除
去した。続けて、同じ正孔注入/輸送層用インク組成物
を15pl吐出しパターン塗布した。真空中(1tor
r)、室温、20分という条件で溶媒を除去し、大気
中、200℃(ホットプレート上)、10分の熱処理に
より正孔注入/輸送層を形成した。
【0062】
【表1】
【0063】(表面改質工程)1,2,3,4−テトラ
メチルベンゼンをインクジェットプリント装置(エプソ
ン社製MJ−930C)から吐出して塗布し、その後、
ホットプレート上において200℃以下の温度で加熱し
て乾燥させた。
【0064】(発光層形成工程)表2〜表4に示すイン
ク組成物を調製した。表2は発光層(緑色)組成物、表
3は発光層(青色)組成物、表4は発光層(赤色)組成
物を各々示すものである。なお、表中の化合物1,2.
4.5は、各々[化1]〜[化5]として上述したもの
である。
【0065】
【表2】
【0066】
【表3】
【0067】
【表4】
【0068】実施例1 まず、表3に示した1%(wt/vol)濃度の発光層
(青色)組成物をインクジェットプリント装置(エプソ
ン社製MJ−930C)から、N2ガスをフローしなが
ら20pl吐出し25℃、1atmの条件で乾燥し、青
色発光層を得た。次に、表2に示した1%(wt/vo
l)濃度の発光層(緑色)組成物を、N 2ガスをフロー
しながら隣の開口部13に20pl吐出してから25
℃、1atmの条件で乾燥し、緑色発光層を得た。
【0069】実施例2 まず、表3に示した1%(wt/vol)濃度の発光層
(青色)組成物をインクジェットプリント装置(エプソ
ン社製MJ−930C)から、N2ガスをフローしなが
ら20pl吐出してから25℃、1atmの条件で乾燥
し、青色発光層を得た。次に、表4に示した1%(wt
/vol)濃度の発光層(赤色)組成物を、N 2ガスを
フローしながら隣の開口部13に20pl吐出してから
25℃、1atmの条件で乾燥し、赤色発光層を得た。
次に、表2に示した1%(wt/vol)濃度の発光層
(緑色)組成物を、N 2ガスをフローしながら、さらに
隣の開口部13に20pl吐出してから25℃、1at
mの条件で乾燥し、緑色発光層を得た。
【0070】比較例 まず、表2に示した1%(wt/vol)濃度の発光層
(緑色)組成物をインクジェットプリント装置(エプソ
ン社製MJ−930C)から、N2ガスをフローしなが
ら20pl吐出してから25℃、1atmの条件で乾燥
し、緑色発光層を得た。次に、表3に示した1%(wt
/vol)濃度の発光層(青色)組成物を、N 2ガスを
フローしながら隣の開口部に20pl吐出してから25
℃、1atmの条件で乾燥し、青色発光層を得た。
【0071】(陰極形成工程)陰極層として、蒸着法に
より2nmのLiF層を形成した後、さらに、蒸着法に
より20nmのカルシウム層を形成した。その後さらに
陰極層としてスパッタリング法により200nmのアル
ミニウム層を形成した。
【0072】(封止工程)陰極上の全面にエポキシ樹脂
からなる封止材を塗布し、封止層を形成した。さらに、
封止層上に封止用基板を積層し、各実施例、比較例に係
る有機エレクトロルミネッセンス装置とした。
【0073】(評価)図9に比較例と実施例1に係る有
機エレクトロルミネッセンス装置の緑色発光層の発光ス
ペクトルを示す。図9(A)に示すように、比較例の緑
色発光層は、化合物1由来の青色発光(430nm)が
残り、斑のある水色発光を示した。これに対して、図9
(B)に示すように、実施例1の緑色発光層は、緑色の
蛍光発光(530nm)の、ほぼ均一なスペクトルを示
した。また、比較例、実施例1共に、青色発光層は、化
合物1由来の青色発光(430nm)の均一なスペクト
ルを示した。このことから、有機エレクトロルミネッセ
ンス材料の数が少ない発光層から順に形成することの有
効性が確認された。
【0074】次に、実施例2に係る有機エレクトロルミ
ネッセンス装置は、青色発光層(430nm)、赤色発
光層(640nm)、緑色発光層(530nm)、のい
ずれも均一なスペクトルを示した。発光層(赤色)組成
物と発光層(緑色)組成物とは、共に有機エレクトロル
ミネッセンス材料の数が3であるが、両組成物相分離の
しにくさをN2フロー乾燥の条件で比較したところ、発
光層(赤色)組成物の方が相分離しにくかった。このこ
とから、有機エレクトロルミネッセンス材料の数が同じ
場合には、成膜後において相分離しにくい発光層から順
に形成することの有効性が確認された。
【0075】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の有
機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法によれば、
吐出成膜後の再溶解による相分離を防ぐことができ、表
示特性の優れた有機エレクトロルミネッセンス装置を製
造することができる。また、本発明の有機エレクトロル
ミネッセンス装置は、均一な発光層を有し、表示作成に
優れた有機エレクトロルミネッセンス装置とすることが
できる。また、本発明の電子機器は、表示性能に優れた
表示装置を備えた電子機器とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態に係る有機エレクトロルミ
ネッセンス装置の製造方法の工程を示す断面図である。
【図2】 本発明の実施形態に係る有機エレクトロルミ
ネッセンス装置の製造方法の工程を示す断面図である。
【図3】 本発明の実施形態に係る有機エレクトロルミ
ネッセンス装置の製造方法の工程を示す断面図である。
【図4】 本発明の実施形態に係る有機エレクトロルミ
ネッセンス装置の製造方法の工程を示す断面図である。
【図5】 本発明の実施形態に係る有機エレクトロルミ
ネッセンス装置の製造方法の工程を示す断面図である。
【図6】 本発明の実施形態に係る有機エレクトロルミ
ネッセンス装置の製造方法の工程を示す断面図である。
【図7】 本発明の実施形態に係る有機エレクトロルミ
ネッセンス装置の製造方法の工程を示す断面図である。
【図8】 本発明の実施形態に係る有機エレクトロルミ
ネッセンス装置の製造方法の工程を示す断面図である。
【図9】 本発明の比較例及び実施例に係る緑色発光層
の発光スペクトル。(A)は比較例の発光スペクトルで
あり、(B)は実施例の発光スペクトルである。
【図10】本発明に係る製造方法によって製造された有
機エレクトロルミネッセンス装置を備える電子機器を示
す斜視図である。
【符号の説明】
10.ガラス基板 11.透明電極 12.バンク層 13.開口部 14.インクジェットヘッド 15.インク組成物(正孔注入/輸送用) 16.正孔注入/輸送層 17.インク組成物(発光層用) 18.発光層 19.陰極 20.封止層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05B 33/14 H05B 33/14 A 33/22 33/22 D Z Fターム(参考) 3K007 AB04 AB17 AB18 BA06 CA01 CB01 DA01 DB03 EB00 FA01 5C094 AA08 AA43 AA48 BA12 BA27 CA19 CA24 DA13 EA05 EB02 FA01 FA02 FB01 FB20 GB10 5G435 AA04 AA17 BB05 CC09 CC12 HH01 HH20 KK05 KK10

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 有機エレクトロルミネッセンス材料を含
    む組成物2種類以上を、基板上に吐出成膜する発光層形
    成工程を有する有機エレクトロルミネッセンス装置の製
    造方法であって、 前記2種類以上の組成物の基板に対する吐出順序を、前
    記組成物を構成する有機エレクトロルミネッセンス材料
    の数が少ない順とし、吐出成膜することを特徴とする有
    機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
  2. 【請求項2】 有機エレクトロルミネッセンス材料を含
    む組成物2種類以上を、基板上に吐出成膜する発光層形
    成工程を有する有機エレクトロルミネッセンス装置の製
    造方法であって、 前記2種類以上の組成物のうち、前記組成物を構成する
    有機エレクトロルミネッセンス材料の数が同じである組
    成物の、基板に対する吐出順序を、前記組成物を構成す
    る有機エレクトロルミネッセンス材料が成膜後において
    相分離しにくい順とし、吐出成膜することを特徴とする
    有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 連続する2回の組成物の吐出において、
    先に吐出した組成物を乾燥させた後、次の組成物の吐出
    を行うことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の
    有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記基板上に、複数の画素領域に対応す
    る第1電極と、該複数の画素領域を隔てる隔壁と、前記
    複数の第1電極上に、正孔注入/輸送層と、を形成する
    工程の後、 前記発光層を形成する工程を含み、前記発光層上に第2
    電極を形成することを特徴とする請求項3に記載の有機
    エレクトロルミネッセンス装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 請求項1から請求項4のいずれかに記載
    の有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法を用い
    て得られた有機エレクトロルミネッセンス装置。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載の有機エレクトロルミネ
    ッセンス装置を具備してなることを特徴とする電子機
    器。
JP2001353682A 2000-11-28 2001-11-19 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法および有機エレクトロルミネッセンス装置並びに電子機器 Expired - Fee Related JP4021177B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001353682A JP4021177B2 (ja) 2000-11-28 2001-11-19 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法および有機エレクトロルミネッセンス装置並びに電子機器
CNB011394986A CN1199520C (zh) 2000-11-28 2001-11-27 有机场致发光装置及其制造方法和电子设备
US09/994,816 US7300686B2 (en) 2000-11-28 2001-11-28 Organic electro-luminescent device, manufacturing method for the same, and electronic equipment
US11/907,219 US7488506B2 (en) 2000-11-28 2007-10-10 Organic electro-luminescent device, manufacturing method for the same, and electronic equipment

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000361559 2000-11-28
JP2000-361559 2000-11-28
JP2001353682A JP4021177B2 (ja) 2000-11-28 2001-11-19 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法および有機エレクトロルミネッセンス装置並びに電子機器

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004038297A Division JP4285264B2 (ja) 2000-11-28 2004-02-16 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002231447A true JP2002231447A (ja) 2002-08-16
JP4021177B2 JP4021177B2 (ja) 2007-12-12

Family

ID=26604739

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001353682A Expired - Fee Related JP4021177B2 (ja) 2000-11-28 2001-11-19 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法および有機エレクトロルミネッセンス装置並びに電子機器

Country Status (3)

Country Link
US (2) US7300686B2 (ja)
JP (1) JP4021177B2 (ja)
CN (1) CN1199520C (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004227944A (ja) * 2003-01-23 2004-08-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置の製造方法
JP2005251529A (ja) * 2004-03-03 2005-09-15 Seiko Epson Corp 積層型有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法及び表示装置
JP2005310799A (ja) * 2002-10-03 2005-11-04 Seiko Epson Corp 表示パネル及びその表示パネルを備えた電子機器並びに表示パネルの製造方法
JP2006116437A (ja) * 2004-10-21 2006-05-11 Seiko Epson Corp 機能液供給装置、これに用いられる機能液タンクおよび機能液補充ユニット、液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置、電子機器
JP2006142145A (ja) * 2004-11-17 2006-06-08 Seiko Epson Corp バルブユニット、液滴吐出装置、電気光学装置の製造装置及び液滴吐出方法
JP2006142146A (ja) * 2004-11-17 2006-06-08 Seiko Epson Corp バルブユニット、液滴吐出装置、電気光学装置の製造装置及び液滴吐出方法
US7294960B2 (en) 2003-08-08 2007-11-13 Seiko Epson Corporation Organic electroluminescent device with HIL/HTL specific to each RGB pixel
US7300686B2 (en) 2000-11-28 2007-11-27 Seiko Epson Corporation Organic electro-luminescent device, manufacturing method for the same, and electronic equipment
US8004183B2 (en) 2002-01-25 2011-08-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and method for manufacturing thereof
CN103715370A (zh) * 2013-12-26 2014-04-09 合肥京东方光电科技有限公司 微胶囊和包括该微胶囊的有机电致发光显示装置
US8932666B2 (en) 2002-09-24 2015-01-13 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Method and apparatus for manufacturing active-matrix organic el display, active matrix organic el display, method for manufacturing liquid crystal array, liquid crystal array, method and apparatus for manufacturing color filter substrate, and color filter substrate

Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI226205B (en) * 2000-03-27 2005-01-01 Semiconductor Energy Lab Self-light emitting device and method of manufacturing the same
US6810919B2 (en) * 2002-01-11 2004-11-02 Seiko Epson Corporation Manufacturing method for display device, display device, manufacturing method for electronic apparatus, and electronic apparatus
US6858464B2 (en) * 2002-06-19 2005-02-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of manufacturing light emitting device
GB0218202D0 (en) * 2002-08-06 2002-09-11 Avecia Ltd Organic light emitting diodes
KR100489590B1 (ko) * 2002-09-19 2005-05-16 엘지.필립스 엘시디 주식회사 투과형 유기전계발광 소자 및 그의 제조방법
AU2003277541A1 (en) * 2002-11-11 2004-06-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Process for fabricating light emitting device
JP2004311406A (ja) * 2003-03-26 2004-11-04 Seiko Epson Corp 電子放出素子とその製造方法及び電気光学装置並びに電子機器
KR101115291B1 (ko) 2003-04-25 2012-03-05 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 액적 토출 장치, 패턴의 형성 방법, 및 반도체 장치의 제조 방법
JP2005063763A (ja) * 2003-08-08 2005-03-10 Seiko Epson Corp 有機el装置とその製造方法、及び電子機器
JP4407225B2 (ja) * 2003-10-07 2010-02-03 セイコーエプソン株式会社 描画方法
US7273773B2 (en) * 2004-01-26 2007-09-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device, method for manufacturing thereof, and television device
DE202005002110U1 (de) * 2004-02-19 2005-05-04 Hong-Yuan Technology Co., Ltd., Yonghe Lichtemittierende Vorrichtung
US7462514B2 (en) 2004-03-03 2008-12-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same, liquid crystal television, and EL television
US20050196710A1 (en) * 2004-03-04 2005-09-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for forming pattern, thin film transistor, display device and method for manufacturing the same, and television apparatus
US7615488B2 (en) * 2004-03-19 2009-11-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for forming pattern, thin film transistor, display device and method for manufacturing the same, and television device
US7642038B2 (en) 2004-03-24 2010-01-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for forming pattern, thin film transistor, display device, method for manufacturing thereof, and television apparatus
US8158517B2 (en) 2004-06-28 2012-04-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing wiring substrate, thin film transistor, display device and television device
US20060022174A1 (en) * 2004-07-27 2006-02-02 General Electric Company Electroactive chemical composition and method of coating
US6992326B1 (en) * 2004-08-03 2006-01-31 Dupont Displays, Inc. Electronic device and process for forming same
TWI291309B (en) * 2004-10-28 2007-12-11 Pioneer Corp Organic electroluminescent display panel and method for manufacturing same
JP4168999B2 (ja) * 2004-11-30 2008-10-22 セイコーエプソン株式会社 発光材料及び有機el装置の製造方法
KR100705319B1 (ko) * 2004-12-01 2007-04-10 엘지전자 주식회사 유기 전계발광표시소자 및 그 제조방법
US7166860B2 (en) * 2004-12-30 2007-01-23 E. I. Du Pont De Nemours And Company Electronic device and process for forming same
KR100745332B1 (ko) * 2005-09-28 2007-08-02 삼성에스디아이 주식회사 유기 발광표시장치 및 그 제조방법
CN101030536B (zh) * 2006-03-02 2010-06-23 株式会社半导体能源研究所 电路图案、薄膜晶体管及电子设备的制造方法
JP4415971B2 (ja) * 2006-05-10 2010-02-17 カシオ計算機株式会社 表示装置及びその製造方法
US20080286445A1 (en) * 2007-05-17 2008-11-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Composition, and method of fabricating light-emitting element
TW201005813A (en) 2008-05-15 2010-02-01 Du Pont Process for forming an electroactive layer
GB2462688B (en) * 2008-08-22 2012-03-07 Cambridge Display Tech Ltd Opto-electrical devices and methods of manufacturing the same
JP4664446B2 (ja) 2009-02-10 2011-04-06 パナソニック株式会社 有機elディスプレイの製造方法
CN102318040B (zh) * 2009-03-06 2014-09-17 E.I.内穆尔杜邦公司 形成电活性层的方法
KR20110134461A (ko) 2009-03-09 2011-12-14 이 아이 듀폰 디 네모아 앤드 캄파니 전기활성 층을 형성하기 위한 방법
EP2406813A4 (en) * 2009-03-09 2012-07-25 Du Pont METHOD FOR FORMING AN ELECTROACTIVE LAYER
CN102870235B (zh) 2009-11-10 2016-11-23 免疫之光有限责任公司 用于从包括用于上变频的射频、微波能量和磁感应源的各种能量源产生发射光的上下变频系统
JP5317126B2 (ja) * 2010-03-05 2013-10-16 独立行政法人産業技術総合研究所 イオン価数弁別高速粒子検出器
US20140335639A1 (en) * 2011-12-15 2014-11-13 Panasonic Corporation Method for producing organic el display panel
WO2013088745A1 (ja) * 2011-12-15 2013-06-20 パナソニック株式会社 有機el表示パネルの製造方法
CN102779831B (zh) * 2012-07-10 2015-09-02 京东方科技集团股份有限公司 一种有机显示器件及制作的方法
US9382615B2 (en) 2012-10-12 2016-07-05 Asm Ip Holding B.V. Vapor deposition of LiF thin films
KR102171023B1 (ko) * 2014-07-21 2020-10-29 삼성전자주식회사 반도체 소자 제조방법
CN105739210A (zh) * 2016-03-29 2016-07-06 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、显示面板及其制备方法、显示装置
CN106207012B (zh) * 2016-08-15 2018-07-06 京东方科技集团股份有限公司 像素打印结构及其制作方法、显示装置和喷墨打印方法
CN106783939B (zh) * 2017-03-03 2020-04-03 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及其制造方法

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3796930A (en) * 1968-07-15 1974-03-12 Westinghouse Electric Corp Thin film high voltage switch
ATE158754T1 (de) * 1990-12-19 1997-10-15 Canon Kk Herstellungsverfahren für flüssigkeitsausströmenden aufzeichnungskopf
JP3463362B2 (ja) 1993-12-28 2003-11-05 カシオ計算機株式会社 電界発光素子の製造方法および電界発光素子
JP3113212B2 (ja) * 1996-05-09 2000-11-27 富士通株式会社 プラズマディスプレイパネルの蛍光体層形成装置および蛍光体塗布方法
JP3036436B2 (ja) 1996-06-19 2000-04-24 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリックス型有機el表示体の製造方法
JP3899566B2 (ja) * 1996-11-25 2007-03-28 セイコーエプソン株式会社 有機el表示装置の製造方法
JP3911775B2 (ja) 1997-07-30 2007-05-09 セイコーエプソン株式会社 有機el素子の製造方法
JP3941169B2 (ja) 1997-07-16 2007-07-04 セイコーエプソン株式会社 有機el素子の製造方法
JP3886607B2 (ja) * 1997-07-18 2007-02-28 Tdk株式会社 有機elディスプレイ
US6403236B1 (en) * 1997-09-04 2002-06-11 Sumitomo Chemical Company, Limited Polymer light emitting device
JP3812144B2 (ja) 1998-05-26 2006-08-23 セイコーエプソン株式会社 発光ディスプレイの製造方法
JP3031356B1 (ja) * 1998-10-05 2000-04-10 日本電気株式会社 有機elパネル及びその製造方法
JP3287344B2 (ja) * 1998-10-09 2002-06-04 株式会社デンソー 有機el素子
JP4141552B2 (ja) 1998-11-19 2008-08-27 セイコーエプソン株式会社 電界発光素子およびその製造方法
US6127004A (en) * 1999-01-29 2000-10-03 Eastman Kodak Company Forming an amorphous fluorocarbon layer in electroluminescent devices
CN1310930A (zh) 1999-03-29 2001-08-29 精工爱普生株式会社 组合物及膜的制造方法以及功能元件及其制造方法
US6174613B1 (en) * 1999-07-29 2001-01-16 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for fabricating polymer-based electroluminescent displays
JP4048687B2 (ja) 2000-04-07 2008-02-20 セイコーエプソン株式会社 有機el素子および有機el素子の製造方法
JP4021177B2 (ja) 2000-11-28 2007-12-12 セイコーエプソン株式会社 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法および有機エレクトロルミネッセンス装置並びに電子機器
JP4075425B2 (ja) * 2002-03-20 2008-04-16 セイコーエプソン株式会社 有機el装置、有機el装置の製造方法、有機el装置の製造装置、及び電子機器

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7300686B2 (en) 2000-11-28 2007-11-27 Seiko Epson Corporation Organic electro-luminescent device, manufacturing method for the same, and electronic equipment
US7488506B2 (en) 2000-11-28 2009-02-10 Seiko Epson Corporation Organic electro-luminescent device, manufacturing method for the same, and electronic equipment
US8004183B2 (en) 2002-01-25 2011-08-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and method for manufacturing thereof
US8450925B2 (en) 2002-01-25 2013-05-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and method for manufacturing thereof
JP2016167640A (ja) * 2002-01-25 2016-09-15 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
US8747178B2 (en) 2002-01-25 2014-06-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing method of light emitting device
US8937429B2 (en) 2002-01-25 2015-01-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and method for manufacturing thereof
US8932666B2 (en) 2002-09-24 2015-01-13 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Method and apparatus for manufacturing active-matrix organic el display, active matrix organic el display, method for manufacturing liquid crystal array, liquid crystal array, method and apparatus for manufacturing color filter substrate, and color filter substrate
JP2005310799A (ja) * 2002-10-03 2005-11-04 Seiko Epson Corp 表示パネル及びその表示パネルを備えた電子機器並びに表示パネルの製造方法
JP2004227944A (ja) * 2003-01-23 2004-08-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置の製造方法
US7294960B2 (en) 2003-08-08 2007-11-13 Seiko Epson Corporation Organic electroluminescent device with HIL/HTL specific to each RGB pixel
US7656084B2 (en) 2004-03-03 2010-02-02 Seiko Epson Corporation Method of producing laminated type organic electroluminescent element and display apparatus
JP2005251529A (ja) * 2004-03-03 2005-09-15 Seiko Epson Corp 積層型有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法及び表示装置
JP4639751B2 (ja) * 2004-10-21 2011-02-23 セイコーエプソン株式会社 機能液供給装置、これに用いられる機能液タンクおよび機能液補充ユニット、液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法
JP2006116437A (ja) * 2004-10-21 2006-05-11 Seiko Epson Corp 機能液供給装置、これに用いられる機能液タンクおよび機能液補充ユニット、液滴吐出装置、並びに電気光学装置の製造方法、電気光学装置、電子機器
JP2006142146A (ja) * 2004-11-17 2006-06-08 Seiko Epson Corp バルブユニット、液滴吐出装置、電気光学装置の製造装置及び液滴吐出方法
JP4617842B2 (ja) * 2004-11-17 2011-01-26 セイコーエプソン株式会社 バルブユニット、液滴吐出装置、電気光学装置の製造装置及び液滴吐出方法
JP2006142145A (ja) * 2004-11-17 2006-06-08 Seiko Epson Corp バルブユニット、液滴吐出装置、電気光学装置の製造装置及び液滴吐出方法
CN103715370A (zh) * 2013-12-26 2014-04-09 合肥京东方光电科技有限公司 微胶囊和包括该微胶囊的有机电致发光显示装置
US10312463B2 (en) 2013-12-26 2019-06-04 Boe Technology Group Co., Ltd. Light emitting microcapsule, method of preparing the same and OLED display device comprising the same

Also Published As

Publication number Publication date
CN1199520C (zh) 2005-04-27
US20080107823A1 (en) 2008-05-08
US7488506B2 (en) 2009-02-10
US7300686B2 (en) 2007-11-27
CN1359253A (zh) 2002-07-17
US20020109456A1 (en) 2002-08-15
JP4021177B2 (ja) 2007-12-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4021177B2 (ja) 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法および有機エレクトロルミネッセンス装置並びに電子機器
JP4048687B2 (ja) 有機el素子および有機el素子の製造方法
JP3890053B2 (ja) 表示装置の製造方法、表示装置、電子機器の製造方法および電子機器
US6087196A (en) Fabrication of organic semiconductor devices using ink jet printing
US6911773B2 (en) Display apparatus, electric device, and manufacturing method of display apparatus
US7273637B2 (en) Thin film, thin film manufacturing method, thin film manufacturing apparatus, organic EL device, organic EL device manufacturing method and electronic equipment
JP2000323276A (ja) 有機el素子の製造方法、有機el素子およびインク組成物
KR100706093B1 (ko) 발광 재료 및 유기 el 장치와 그 제조 방법
JP2002252083A (ja) 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法および有機エレクトロルミネッセンス装置並びに電子機器
JP3951701B2 (ja) 表示装置の製造方法、電子機器の製造方法、表示装置および電子機器
JP4285264B2 (ja) 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法
JP2009064642A (ja) 有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法、および製造装置
JP2005056614A (ja) 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造装置及びその製造方法
JP4765857B2 (ja) 有機el発光材料、及び有機el装置の製造方法
JP2003272840A (ja) 電気光学装置の製造方法及び電気光学装置の製造装置、電気光学装置、並びに電子機器
JP2008078181A (ja) 有機el発光材料、及び有機el装置の製造方法
JP2007095595A (ja) 機能層の形成方法、有機半導体素子、発光素子及び電子機器
JP4148085B2 (ja) 電気光学装置の製造方法、電気光学装置の製造方法で製造された電気光学装置、電気光学装置を搭載した電子機器。
JP4354674B2 (ja) 薄膜製造装置
JP2007103381A (ja) 有機el素子の製造方法、有機el素子およびインク組成物
JP2006156258A (ja) 有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法、有機エレクトロルミネッセンス装置
JP2003249377A (ja) 表示装置及び電子機器並びに表示装置の製造方法
JP2003217843A (ja) 表示装置の製造方法、電子機器の製造方法、表示装置および電子機器
JP2006156848A (ja) 有機エレクトロルミネッセンス装置、有機エレクトロルミネッセンス装置の製造方法
JP2005322436A (ja) 有機el素子の製造方法及び装置、並びに有機el素子

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20051004

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051128

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20051202

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20070316

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20070410

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070926

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101005

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101005

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111005

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121005

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121005

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131005

Year of fee payment: 6

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees