JP2002229306A - 帯電装置、画像形成装置及びプロセスカートリッジ - Google Patents
帯電装置、画像形成装置及びプロセスカートリッジInfo
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- G03G15/0216—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern for laying down a uniform charge, e.g. for sensitising; Corona discharge devices by contact, friction or induction, e.g. liquid charging apparatus by bringing a charging member into contact with the member to be charged, e.g. roller, brush chargers
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Abstract
(57)【要約】
【課題】ローラ帯電方式・ＤＣ帯電方式の接触帯電装
置、該帯電装置を用いた画像形成装置等において、帯電
ローラ（導電性・弾性ローラ）４と被帯電体３の長期圧
接放置によって帯電ローラ４が永久変形した場合でも、
低コストかつ簡易な手段構成にて、帯電ローラの回転周
期で発生する帯電ムラや、画像形成装置にあっては「Ｃ
セット」といった濃度むらを発生させないようにする。 【解決手段】帯電ローラ４に対する電圧印加手段１００
は、帯電ローラ表面に形成された放置跡が被帯電体３と
帯電ローラ４との放電領域を通過する時、帯電ローラ４
に印加する直流電圧の振れ幅Ｆ［＝（実出力帯電バイア
スの最大値−実出力帯電バイアスの最小値）／印加帯電
バイアス×１００］を１（％）以下に制御可能であるこ
と。
置、該帯電装置を用いた画像形成装置等において、帯電
ローラ（導電性・弾性ローラ）４と被帯電体３の長期圧
接放置によって帯電ローラ４が永久変形した場合でも、
低コストかつ簡易な手段構成にて、帯電ローラの回転周
期で発生する帯電ムラや、画像形成装置にあっては「Ｃ
セット」といった濃度むらを発生させないようにする。 【解決手段】帯電ローラ４に対する電圧印加手段１００
は、帯電ローラ表面に形成された放置跡が被帯電体３と
帯電ローラ４との放電領域を通過する時、帯電ローラ４
に印加する直流電圧の振れ幅Ｆ［＝（実出力帯電バイア
スの最大値−実出力帯電バイアスの最小値）／印加帯電
バイアス×１００］を１（％）以下に制御可能であるこ
と。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、帯電装置、画像形
成装置及びプロセスカートリッジに関する。より詳しく
は、 ａ．弾性ローラを接触帯電部材として用いた接触タイプ
の帯電装置 ｂ．該帯電装置を静電潜像担持体の帯電工程手段として
用いた、電子写真方式や静電記録方式等の画像形成装置 ｃ．静電潜像担持体と、該静電潜像担持体を接触帯電す
る弾性ローラを包含し、画像形成装置本体に対して着脱
自在なプロセスカートリッジ に関するものである。
成装置及びプロセスカートリッジに関する。より詳しく
は、 ａ．弾性ローラを接触帯電部材として用いた接触タイプ
の帯電装置 ｂ．該帯電装置を静電潜像担持体の帯電工程手段として
用いた、電子写真方式や静電記録方式等の画像形成装置 ｃ．静電潜像担持体と、該静電潜像担持体を接触帯電す
る弾性ローラを包含し、画像形成装置本体に対して着脱
自在なプロセスカートリッジ に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、電子写真方式や静電記録方式等の
画像形成装置において、電子写真感光体・静電記録誘電
体等の静電潜像担持体（像担持体）の帯電処理手段とし
ては、非接触タイプであるコロナ帯電器が使用されてき
た。
画像形成装置において、電子写真感光体・静電記録誘電
体等の静電潜像担持体（像担持体）の帯電処理手段とし
ては、非接触タイプであるコロナ帯電器が使用されてき
た。
【０００３】近年は、低オゾン、低電力等の利点を有す
ることから、接触帯電装置、即ち被帯電体に電圧を印加
した帯電部材を当接させて被帯電体の帯電を行う方式の
装置が実用化されてきている。特に、接触帯電部材とし
て導電性の弾性ローラ（以下、帯電ローラと記す）を用
いたローラ帯電方式の装置が帯電の安定化という点から
好ましく用いられている。これは帯電ローラを被帯電体
に加圧当接させて回転させ、これに電圧を印加すること
によって被帯電体を帯電処理する。
ることから、接触帯電装置、即ち被帯電体に電圧を印加
した帯電部材を当接させて被帯電体の帯電を行う方式の
装置が実用化されてきている。特に、接触帯電部材とし
て導電性の弾性ローラ（以下、帯電ローラと記す）を用
いたローラ帯電方式の装置が帯電の安定化という点から
好ましく用いられている。これは帯電ローラを被帯電体
に加圧当接させて回転させ、これに電圧を印加すること
によって被帯電体を帯電処理する。
【０００４】図６の（ａ）にこのローラ帯電方式の帯電
装置の概略構成を示した。３は被帯電体、４はこの被帯
電体３に当接させて配設した接触帯電部材としての帯電
ローラである。
装置の概略構成を示した。３は被帯電体、４はこの被帯
電体３に当接させて配設した接触帯電部材としての帯電
ローラである。
【０００５】被帯電体３は例えば電子写真画像形成装置
における静電潜像担持体としての回転ドラム型の電子写
真感光体であり、矢印の時計方向に所定の周速度にて回
転駆動される。
における静電潜像担持体としての回転ドラム型の電子写
真感光体であり、矢印の時計方向に所定の周速度にて回
転駆動される。
【０００６】帯電ローラ４は基本的には、導電性の芯金
４０と、この芯金回りに同心一体にローラ状に形成具備
させた導電性・弾性層４１からなる。この帯電ローラ４
は、芯金両端部を回転自由に軸受保持させると共に付勢
手段にて感光体方向に所定の押圧力をもって付勢させる
ことで、感光体３に対して弾性層４１の弾性に抗して所
定の圧接ニップ部Ｎを形成させて当接させてあり、感光
体３の回転に従動して回転する。
４０と、この芯金回りに同心一体にローラ状に形成具備
させた導電性・弾性層４１からなる。この帯電ローラ４
は、芯金両端部を回転自由に軸受保持させると共に付勢
手段にて感光体方向に所定の押圧力をもって付勢させる
ことで、感光体３に対して弾性層４１の弾性に抗して所
定の圧接ニップ部Ｎを形成させて当接させてあり、感光
体３の回転に従動して回転する。
【０００７】そして帯電ローラ４に対して電源Ｓから所
定の帯電バイアスが印加されることで、回転する感光ド
ラム３の外周面が所定の表面電位に接触帯電処理され
る。
定の帯電バイアスが印加されることで、回転する感光ド
ラム３の外周面が所定の表面電位に接触帯電処理され
る。
【０００８】被帯電体である感光体３の帯電ローラ４に
よる帯電は、主として、帯電ローラ４と感光体３との圧
接ニップ部Ｎの両脇部の、帯電ローラ４と感光体３の微
小ギャップ間を微小放電領域ａとして帯電ローラ４から
感光体３への放電によって行われるため、ある閾値電圧
以上の電圧を帯電ローラ４に印加することによって帯電
が開始される。
よる帯電は、主として、帯電ローラ４と感光体３との圧
接ニップ部Ｎの両脇部の、帯電ローラ４と感光体３の微
小ギャップ間を微小放電領域ａとして帯電ローラ４から
感光体３への放電によって行われるため、ある閾値電圧
以上の電圧を帯電ローラ４に印加することによって帯電
が開始される。
【０００９】一例を示すと、被帯電体としての厚さ１５
μｍの電子写真ＯＰＣ感光体３に対して帯電ローラ４を
加圧当接させて帯電処理を行わせる場合には、帯電ロー
ラ４に対して約−５６０Ｖ程度の電圧を印加すれば感光
体３の表面電位が上昇し始め、それ以降は印加電圧に対
して傾き１の一次線形に感光体表面電位が増加する。こ
の閾値電圧を帯電開始電圧Ｖｔｈと定義する。
μｍの電子写真ＯＰＣ感光体３に対して帯電ローラ４を
加圧当接させて帯電処理を行わせる場合には、帯電ロー
ラ４に対して約−５６０Ｖ程度の電圧を印加すれば感光
体３の表面電位が上昇し始め、それ以降は印加電圧に対
して傾き１の一次線形に感光体表面電位が増加する。こ
の閾値電圧を帯電開始電圧Ｖｔｈと定義する。
【００１０】つまり、電子写真に必要とされる感光体表
面電位ＶＤを得るためには帯電ローラ４には帯電電位：
Ｖｔｈ＋ＶＤなるＤＣ電圧を印加することが必要とな
る。このようにＤＣ電圧のみを接触帯電部材に印加して
被帯電体の帯電を行う接触帯電方式をＤＣ帯電方式と称
する。
面電位ＶＤを得るためには帯電ローラ４には帯電電位：
Ｖｔｈ＋ＶＤなるＤＣ電圧を印加することが必要とな
る。このようにＤＣ電圧のみを接触帯電部材に印加して
被帯電体の帯電を行う接触帯電方式をＤＣ帯電方式と称
する。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、接触
帯電部材である帯電ローラ４によって被帯電体である感
光体１を帯電させる場合、帯電ローラ４と感光体１の微
小ギャップ間の微小放電領域ａでの放電により感光体３
を帯電するのであるから、均一な帯電を行うためにはギ
ャップ間の距離を均一に保持しなければならない。その
ため、帯電部材の表面は平滑であることが望ましい。
帯電部材である帯電ローラ４によって被帯電体である感
光体１を帯電させる場合、帯電ローラ４と感光体１の微
小ギャップ間の微小放電領域ａでの放電により感光体３
を帯電するのであるから、均一な帯電を行うためにはギ
ャップ間の距離を均一に保持しなければならない。その
ため、帯電部材の表面は平滑であることが望ましい。
【００１２】しかしながら、このローラ帯電方式を用い
た場合、帯電ローラ４を感光体３に圧接したままの長期
間放置、例えば、帯電ローラを備えるプロセスカートリ
ッジの使用前状態での長期間放置などで、感光体３に当
接していた位置に沿って帯電ローラ４が永久変形してし
まうことがある。
た場合、帯電ローラ４を感光体３に圧接したままの長期
間放置、例えば、帯電ローラを備えるプロセスカートリ
ッジの使用前状態での長期間放置などで、感光体３に当
接していた位置に沿って帯電ローラ４が永久変形してし
まうことがある。
【００１３】図６の（ｂ）と（ｃ）において、４ａはそ
の帯電ローラ４の永久変形部（放置跡、当接跡）を示し
ている。
の帯電ローラ４の永久変形部（放置跡、当接跡）を示し
ている。
【００１４】このような放置跡４ａが生じた帯電ローラ
４を用いて感光体１に帯電を行った場合、帯電ローラ４
の回転で放置跡部４ａが微小放電領域ａを通過する際
に、上述の均一な微小放電ギャップが維持出来なくな
り、帯電ローラ４の放置跡部４ａの変形に応じた帯電ロ
ーラ周期の画像濃度ムラ、いわゆる「帯電ローラ放置
跡」（以後、Ｃセットと呼ぶ）」と呼ばれる画像弊害が
発生してしまう。
４を用いて感光体１に帯電を行った場合、帯電ローラ４
の回転で放置跡部４ａが微小放電領域ａを通過する際
に、上述の均一な微小放電ギャップが維持出来なくな
り、帯電ローラ４の放置跡部４ａの変形に応じた帯電ロ
ーラ周期の画像濃度ムラ、いわゆる「帯電ローラ放置
跡」（以後、Ｃセットと呼ぶ）」と呼ばれる画像弊害が
発生してしまう。
【００１５】上述の感光体３との圧接による帯電ローラ
４の放置跡４ａの発生を防止するには、放置時において
帯電ローラ４と感光ドラム３を離間状態に保持する手段
を具備させればよい。具体的には、．クラッチによる
初期放置圧接回避手段（プリンタ本体内にて感光ドラム
が回転すると同時に、クラッチ機構を介して、帯電ロー
ラが感光ドラムへ圧接する手段）、．圧接離間部材挿
入による初期放置圧接回避手段（プリンタ本体にカート
リッジを挿入する前に、ユーザーが圧接離間部材を除去
する手段）、といった手段などが挙げられるが、複雑な
構成によるコストアップ及びユーザビリティに欠けると
いった問題がある。
４の放置跡４ａの発生を防止するには、放置時において
帯電ローラ４と感光ドラム３を離間状態に保持する手段
を具備させればよい。具体的には、．クラッチによる
初期放置圧接回避手段（プリンタ本体内にて感光ドラム
が回転すると同時に、クラッチ機構を介して、帯電ロー
ラが感光ドラムへ圧接する手段）、．圧接離間部材挿
入による初期放置圧接回避手段（プリンタ本体にカート
リッジを挿入する前に、ユーザーが圧接離間部材を除去
する手段）、といった手段などが挙げられるが、複雑な
構成によるコストアップ及びユーザビリティに欠けると
いった問題がある。
【００１６】本発明は前記問題点を解決するものであ
り、その目的とするところは、接触帯電部材である帯電
ローラと被帯電体の長期圧接放置によって帯電ローラが
永久変形した場合でも、低コストかつ簡易な手段構成に
て、帯電ローラ周期で発生する帯電ムラや、画像形成装
置にあっては「Ｃセット」といった濃度むらを発生させ
ないように工夫した、ローラ帯電方式・ＤＣ帯電方式の
接触帯電装置、及び該帯電装置を備えた画像形成装置及
びプロセスカートリッジを提供することである。
り、その目的とするところは、接触帯電部材である帯電
ローラと被帯電体の長期圧接放置によって帯電ローラが
永久変形した場合でも、低コストかつ簡易な手段構成に
て、帯電ローラ周期で発生する帯電ムラや、画像形成装
置にあっては「Ｃセット」といった濃度むらを発生させ
ないように工夫した、ローラ帯電方式・ＤＣ帯電方式の
接触帯電装置、及び該帯電装置を備えた画像形成装置及
びプロセスカートリッジを提供することである。
【００１７】
【課題を解決するための手段】本発明は下記の構成を特
徴とする、帯電装置、画像形成装置及びプロセスカート
リッジである。
徴とする、帯電装置、画像形成装置及びプロセスカート
リッジである。
【００１８】（１）接触帯電部材として弾性ローラを被
帯電体に接触させて回転させ、該弾性ローラに電圧印加
手段から帯電バイアスとして直流電圧を印加して被帯電
体を帯電する帯電装置において、前記電圧印加手段は、
被帯電体と弾性ローラとの長期圧接放置により弾性ロー
ラ表面に形成された放置跡が被帯電体と弾性ローラとの
放電領域を通過する時、弾性ローラに印加する直流電圧
の振れ幅Ｆ［＝（実出力帯電バイアスの最大値−実出力
帯電バイアスの最小値）／印加帯電バイアス×１００］
を１（％）以下に制御可能であることを特徴とする帯電
装置。
帯電体に接触させて回転させ、該弾性ローラに電圧印加
手段から帯電バイアスとして直流電圧を印加して被帯電
体を帯電する帯電装置において、前記電圧印加手段は、
被帯電体と弾性ローラとの長期圧接放置により弾性ロー
ラ表面に形成された放置跡が被帯電体と弾性ローラとの
放電領域を通過する時、弾性ローラに印加する直流電圧
の振れ幅Ｆ［＝（実出力帯電バイアスの最大値−実出力
帯電バイアスの最小値）／印加帯電バイアス×１００］
を１（％）以下に制御可能であることを特徴とする帯電
装置。
【００１９】（２）前記弾性ローラの表面に形成された
放置跡は、被帯電体と弾性ローラとの所定の当接条件に
て、４０℃・９５％ＲＨ環境下で３０日間放置された後
に弾性ローラ表面に形成された永久変形部であることを
特徴とする（１）に記載の帯電装置。
放置跡は、被帯電体と弾性ローラとの所定の当接条件に
て、４０℃・９５％ＲＨ環境下で３０日間放置された後
に弾性ローラ表面に形成された永久変形部であることを
特徴とする（１）に記載の帯電装置。
【００２０】（３）静電潜像担持体に帯電工程を含む作
像プロセスを適用して画像形成を実行する画像形成装置
において、前記静電潜像担持体の帯電工程手段は、接触
帯電部材として弾性ローラを静電潜像担持体に接触させ
て回転させ、該弾性ローラに電圧印加手段から帯電バイ
アスとして直流電圧を印加して静電潜像担持体を帯電す
る帯電装置であり、前記電圧印加手段は、静電潜像担持
体と弾性ローラとの長期圧接放置により弾性ローラ表面
に形成された放置跡が静電潜像担持体と弾性ローラとの
放電領域を通過する時、弾性ローラに印加する直流電圧
の振れ幅Ｆ［＝（実出力帯電バイアスの最大値−実出力
帯電バイアスの最小値）／印加帯電バイアス×１００］
を１（％）以下に制御可能であることを特徴とする画像
形成装置。
像プロセスを適用して画像形成を実行する画像形成装置
において、前記静電潜像担持体の帯電工程手段は、接触
帯電部材として弾性ローラを静電潜像担持体に接触させ
て回転させ、該弾性ローラに電圧印加手段から帯電バイ
アスとして直流電圧を印加して静電潜像担持体を帯電す
る帯電装置であり、前記電圧印加手段は、静電潜像担持
体と弾性ローラとの長期圧接放置により弾性ローラ表面
に形成された放置跡が静電潜像担持体と弾性ローラとの
放電領域を通過する時、弾性ローラに印加する直流電圧
の振れ幅Ｆ［＝（実出力帯電バイアスの最大値−実出力
帯電バイアスの最小値）／印加帯電バイアス×１００］
を１（％）以下に制御可能であることを特徴とする画像
形成装置。
【００２１】（４）静電潜像担持体に帯電工程を含む作
像プロセスを適用して画像形成を実行する画像形成装置
において、前記静電潜像担持体の帯電工程手段は、接触
帯電部材として弾性ローラを静電潜像担持体に接触させ
て回転させ、該弾性ローラに電圧印加手段から帯電バイ
アスとして直流電圧を印加して静電潜像担持体を帯電す
る帯電装置であり、前記電圧印加手段は、静電潜像担持
体と弾性ローラとの長期圧接放置により弾性ローラ表面
に形成された放置跡が静電潜像担持体と弾性ローラとの
放電領域を通過する時、弾性ローラに印加する直流電圧
の振れ幅Ｆ［＝（実出力帯電バイアスの最大値−実出力
帯電バイアスの最小値）／印加帯電バイアス×１００］
を１（％）以下に制御可能であり、少なくとも前記静電
潜像担持体と前記弾性ローラは画像形成装置本体に対し
て一体的に着脱自在なプロセスカートリッジに包含され
ていることを特徴とする画像形成装置。
像プロセスを適用して画像形成を実行する画像形成装置
において、前記静電潜像担持体の帯電工程手段は、接触
帯電部材として弾性ローラを静電潜像担持体に接触させ
て回転させ、該弾性ローラに電圧印加手段から帯電バイ
アスとして直流電圧を印加して静電潜像担持体を帯電す
る帯電装置であり、前記電圧印加手段は、静電潜像担持
体と弾性ローラとの長期圧接放置により弾性ローラ表面
に形成された放置跡が静電潜像担持体と弾性ローラとの
放電領域を通過する時、弾性ローラに印加する直流電圧
の振れ幅Ｆ［＝（実出力帯電バイアスの最大値−実出力
帯電バイアスの最小値）／印加帯電バイアス×１００］
を１（％）以下に制御可能であり、少なくとも前記静電
潜像担持体と前記弾性ローラは画像形成装置本体に対し
て一体的に着脱自在なプロセスカートリッジに包含され
ていることを特徴とする画像形成装置。
【００２２】（５）前記弾性ローラの表面に形成された
放置跡は、被帯電体と弾性ローラとの所定の当接条件に
て、４０℃・９５％ＲＨ環境下で３０日間放置された後
に弾性ローラ表面に形成された永久変形部であることを
特徴とする（３）または（４）に記載の画像形成装置。
放置跡は、被帯電体と弾性ローラとの所定の当接条件に
て、４０℃・９５％ＲＨ環境下で３０日間放置された後
に弾性ローラ表面に形成された永久変形部であることを
特徴とする（３）または（４）に記載の画像形成装置。
【００２３】（６）少なくとも、静電潜像担持体と、該
静電潜像担持体に接触して回転し、電圧印加手段から帯
電バイアスとして直流電圧が印加されて静電潜像担持体
を帯電する弾性ローラを包含し、画像形成装置本体に対
して着脱自在なプロセスカートリッジであり、前記電圧
印加手段は、静電潜像担持体と弾性ローラとの長期圧接
放置により弾性ローラ表面に形成された放置跡が静電潜
像担持体と弾性ローラとの放電領域を通過する時、弾性
ローラに印加する直流電圧の振れ幅Ｆ［＝（実出力帯電
バイアスの最大値−実出力帯電バイアスの最小値）／印
加帯電バイアス×１００］を１（％）以下に制御可能で
あることを特徴とするプロセスカートリッジ。
静電潜像担持体に接触して回転し、電圧印加手段から帯
電バイアスとして直流電圧が印加されて静電潜像担持体
を帯電する弾性ローラを包含し、画像形成装置本体に対
して着脱自在なプロセスカートリッジであり、前記電圧
印加手段は、静電潜像担持体と弾性ローラとの長期圧接
放置により弾性ローラ表面に形成された放置跡が静電潜
像担持体と弾性ローラとの放電領域を通過する時、弾性
ローラに印加する直流電圧の振れ幅Ｆ［＝（実出力帯電
バイアスの最大値−実出力帯電バイアスの最小値）／印
加帯電バイアス×１００］を１（％）以下に制御可能で
あることを特徴とするプロセスカートリッジ。
【００２４】（７）前記弾性ローラの表面に形成された
放置跡は、被帯電体と弾性ローラとの所定の当接条件に
て、４０℃・９５％ＲＨ環境下で３０日間放置された後
に弾性ローラ表面に形成された永久変形部であることを
特徴とする（６）に記載のプロセスカートリッジ。
放置跡は、被帯電体と弾性ローラとの所定の当接条件に
て、４０℃・９５％ＲＨ環境下で３０日間放置された後
に弾性ローラ表面に形成された永久変形部であることを
特徴とする（６）に記載のプロセスカートリッジ。
【００２５】〈作 用〉たとえば、弾性ローラに対する
電圧印加手段としての直流帯電バイアス用高圧電源回路
内の整流回路のコンデンサ容量を最適化し、弾性ローラ
の放置跡が放電領域を通過する際の弾性ローラに対する
印加帯電バイアスの波形の振れ幅Ｆを１％以下と小さく
することで、弾性ローラに放置跡が生じていても被帯電
体上を均一に帯電することが出来できる。
電圧印加手段としての直流帯電バイアス用高圧電源回路
内の整流回路のコンデンサ容量を最適化し、弾性ローラ
の放置跡が放電領域を通過する際の弾性ローラに対する
印加帯電バイアスの波形の振れ幅Ｆを１％以下と小さく
することで、弾性ローラに放置跡が生じていても被帯電
体上を均一に帯電することが出来できる。
【００２６】従って、従来の技術で説明したような初期
放置圧接回避手段の付加は必要がなく、また使用後の長
期放置の場合にも問題なく、低コストかつ簡易な手段構
成にて、弾性ローラの放置跡に起因する、弾性ローラ回
転周期で発生する帯電ムラや、画像形成装置やプロセス
カートリッジにあっては「Ｃセット」といった濃度むら
を発生させないようにすることが可能である。
放置圧接回避手段の付加は必要がなく、また使用後の長
期放置の場合にも問題なく、低コストかつ簡易な手段構
成にて、弾性ローラの放置跡に起因する、弾性ローラ回
転周期で発生する帯電ムラや、画像形成装置やプロセス
カートリッジにあっては「Ｃセット」といった濃度むら
を発生させないようにすることが可能である。
【００２７】
【発明の実施の形態】（１）画像形成装置 図１は本実施例の画像形成装置の概略構成模型図であ
る。本実施例の画像形成装置は、転写方式電子写真プロ
セス利用、ローラ帯電方式、ＤＣ帯電方式、プロセスカ
ートリッジ着脱方式、のレーザープリンタである。
る。本実施例の画像形成装置は、転写方式電子写真プロ
セス利用、ローラ帯電方式、ＤＣ帯電方式、プロセスカ
ートリッジ着脱方式、のレーザープリンタである。
【００２８】３は静電潜像担持体としての回転ドラム型
の電子写真感光体（以下、感光ドラムと記す）であり、
矢印の時計方向に所定の周速度（プロセススピード）を
もって回転駆動される。
の電子写真感光体（以下、感光ドラムと記す）であり、
矢印の時計方向に所定の周速度（プロセススピード）を
もって回転駆動される。
【００２９】４は接触帯電部材としての帯電ローラ（導
電性・弾性ローラ）であり、感光ドラム３に所定の押圧
力をもって圧接させて配設してあり、感光ドラム３の回
転に従動して回転する。そして帯電ローラ４に対して電
圧印加手段である直流帯電バイアス用高圧電源１００か
ら所定のＤＣ帯電バイアスが印加されることで、回転す
る感光ドラム３の外周面が所定の表面電位に均一に接触
帯電処理される。
電性・弾性ローラ）であり、感光ドラム３に所定の押圧
力をもって圧接させて配設してあり、感光ドラム３の回
転に従動して回転する。そして帯電ローラ４に対して電
圧印加手段である直流帯電バイアス用高圧電源１００か
ら所定のＤＣ帯電バイアスが印加されることで、回転す
る感光ドラム３の外周面が所定の表面電位に均一に接触
帯電処理される。
【００３０】５は現像装置であり、感光ドラム５面に形
成された静電潜像はこの現像装置５内のトナー２４によ
ってトナー像として現像されて顕像化される。
成された静電潜像はこの現像装置５内のトナー２４によ
ってトナー像として現像されて顕像化される。
【００３１】一方、カセット７１内に収納された記録材
７は、給紙ローラ７２によって感光ドラム３での潜像の
形成と同期してレジストローラ７３まで供給される。そ
して、この記録材７は、レジストローラ７３によって感
光ドラム３上に形成された潜像の先端と同期して、転写
ローラからなる転写帯電器６に搬送され、転写帯電器６
によって感光ドラム５上の前記トナー像が該記録材７に
転写される。
７は、給紙ローラ７２によって感光ドラム３での潜像の
形成と同期してレジストローラ７３まで供給される。そ
して、この記録材７は、レジストローラ７３によって感
光ドラム３上に形成された潜像の先端と同期して、転写
ローラからなる転写帯電器６に搬送され、転写帯電器６
によって感光ドラム５上の前記トナー像が該記録材７に
転写される。
【００３２】トナー像を転写された記録材７は感光ドラ
ム５の面から分離され、定着器８によってトナー像を永
久定着された後、最後に装置外部に排出される。
ム５の面から分離され、定着器８によってトナー像を永
久定着された後、最後に装置外部に排出される。
【００３３】感光ドラム３上に残留した転写残トナーは
弾性ブレードを有するクリーニング装置９によって感光
ドラム３上から除去される。
弾性ブレードを有するクリーニング装置９によって感光
ドラム３上から除去される。
【００３４】（２）プロセスカートリッジ１１ １１は画像形成装置本体（プリンタ本体）に対して着脱
可能なプロセスカートリッジである。本例における該プ
ロセスカートリッジ１１は、前記の感光ドラム３、帯電
ローラ４、現像装置５、クリーニング装置９の４つのプ
ロセス機器（構成要素）を一括してユニット化したプロ
セスカートリッジである。図２はこのプロセスカートリ
ッジ１１の拡大図である。
可能なプロセスカートリッジである。本例における該プ
ロセスカートリッジ１１は、前記の感光ドラム３、帯電
ローラ４、現像装置５、クリーニング装置９の４つのプ
ロセス機器（構成要素）を一括してユニット化したプロ
セスカートリッジである。図２はこのプロセスカートリ
ッジ１１の拡大図である。
【００３５】上記の４つのプロセス機器３・４・５・９
はカートリッジ１１内で所定の相互配置関係を持って組
み付けられており、カートリッジ１１は画像形成装置本
体内の所定部に対して所定の要領で挿入装着され、また
反対に装置本体から抜き外しできるようになっている。
はカートリッジ１１内で所定の相互配置関係を持って組
み付けられており、カートリッジ１１は画像形成装置本
体内の所定部に対して所定の要領で挿入装着され、また
反対に装置本体から抜き外しできるようになっている。
【００３６】カートリッジ１１が画像形成装置本体内の
所定部に対して所定の要領で挿入装着されることで、カ
ートリッジ１１と画像形成装置本体とが機械的・電気回
路的に接続化して、カートリッジ１１側の感光ドラム３
の回転駆動、現像装置５の現像ローラの回転駆動、帯電
ローラ４への帯電バイアスの印加、現像装置５の現像ロ
ーラへの現像バイアスの印加等が可能となり、画像形成
動作可能状態になる。
所定部に対して所定の要領で挿入装着されることで、カ
ートリッジ１１と画像形成装置本体とが機械的・電気回
路的に接続化して、カートリッジ１１側の感光ドラム３
の回転駆動、現像装置５の現像ローラの回転駆動、帯電
ローラ４への帯電バイアスの印加、現像装置５の現像ロ
ーラへの現像バイアスの印加等が可能となり、画像形成
動作可能状態になる。
【００３７】画像形成装置を長時間使用していると、感
光ドラム、帯電装置、現像装置、クリーニング装置など
の各種要素が消耗して印字品質を低下させてしまうが、
このプロセスカートリッジ着脱方式の画像形成装置の場
合にはユーザーがプロセスカートリッジ１１を交換すれ
ばよく、ユーザーのメンテナンスフリーが実現可能であ
る。
光ドラム、帯電装置、現像装置、クリーニング装置など
の各種要素が消耗して印字品質を低下させてしまうが、
このプロセスカートリッジ着脱方式の画像形成装置の場
合にはユーザーがプロセスカートリッジ１１を交換すれ
ばよく、ユーザーのメンテナンスフリーが実現可能であ
る。
【００３８】（２）帯電ローラ４ 図３は本実施例で使用している帯電ローラ４の層構成を
示す横断面模型図である。この帯電ローラ４は、外径１
２ｍｍ、回転軸及び画像形成装置本体からの帯電バイア
ス印加用支持導電体としての芯金４０、第１の導電性弾
性層４１（ａ）、第２の導電性弾性層４１（ｂ）、表面
層４２の多層構造体である。
示す横断面模型図である。この帯電ローラ４は、外径１
２ｍｍ、回転軸及び画像形成装置本体からの帯電バイア
ス印加用支持導電体としての芯金４０、第１の導電性弾
性層４１（ａ）、第２の導電性弾性層４１（ｂ）、表面
層４２の多層構造体である。
【００３９】帯電ローラ４は、プロセスカートリッジ内
に、芯金４０の両端部を、感光ドラム方向にスライド移
動可能に設けた導電性軸受け部材４５（図２）により回
転自由に軸受保持させると共に、その軸受け部材４５を
加圧バネ４４にて片側荷重１．９〜９．８Ｎ（２００〜
１０００ｇｆ）で感光ドラム方向に押圧付勢させること
で、感光ドラム３に対して弾性層４１の弾性に抗して所
定の圧接ニップ部Ｎを形成させて当接させてあり、感光
体１の回転に従動して回転する。
に、芯金４０の両端部を、感光ドラム方向にスライド移
動可能に設けた導電性軸受け部材４５（図２）により回
転自由に軸受保持させると共に、その軸受け部材４５を
加圧バネ４４にて片側荷重１．９〜９．８Ｎ（２００〜
１０００ｇｆ）で感光ドラム方向に押圧付勢させること
で、感光ドラム３に対して弾性層４１の弾性に抗して所
定の圧接ニップ部Ｎを形成させて当接させてあり、感光
体１の回転に従動して回転する。
【００４０】画像形成装置本体にプロセスカートリッジ
１１が所定に装着された状態において、プロセスカート
リッジ１１側の一次高圧接点（不図示）と、画像形成装
置本体側の一次高圧接点４６（図４）が接触することに
より、帯電ローラ４には、芯金４０に接触させた接点バ
ネ（不図示）を介して、画像形成装置本体側の電圧印加
手段である直流帯電バイアス用高圧電源１００から所定
の直流帯電バイアス（一次高圧）が印加可能状態にな
る。
１１が所定に装着された状態において、プロセスカート
リッジ１１側の一次高圧接点（不図示）と、画像形成装
置本体側の一次高圧接点４６（図４）が接触することに
より、帯電ローラ４には、芯金４０に接触させた接点バ
ネ（不図示）を介して、画像形成装置本体側の電圧印加
手段である直流帯電バイアス用高圧電源１００から所定
の直流帯電バイアス（一次高圧）が印加可能状態にな
る。
【００４１】（４）放置跡対策 図４に、本実施例における画像形成装置本体に具備され
た直流帯電バイアス用高圧電源１００の回路図（一次高
圧回路）を示す。図において、矢印Ａから高圧クロック
が入力され、直流帯電バイアスは一次高圧接点４６より
出力される。また、４７は高圧トランス、４８はコンパ
レーター、Ｖａ（２４Ｖ）及びＶｂ（５Ｖ）は基準電
位、４９は整流回路内における高耐圧コンデンサであ
る。
た直流帯電バイアス用高圧電源１００の回路図（一次高
圧回路）を示す。図において、矢印Ａから高圧クロック
が入力され、直流帯電バイアスは一次高圧接点４６より
出力される。また、４７は高圧トランス、４８はコンパ
レーター、Ｖａ（２４Ｖ）及びＶｂ（５Ｖ）は基準電
位、４９は整流回路内における高耐圧コンデンサであ
る。
【００４２】本実施例においては、感光ドラム３との長
期圧接放置（４０℃・９５％ＲＨ、３０日間放置）によ
り、永久変形し、放置跡４ａが形成された帯電ローラ４
を用いた。この放置跡４ａは、図６の（ｂ）と（ｃ）に
示すように、帯電ローラ上長手方向に０．５〜２ｍｍの
幅ｗをもって形成されており、その変形量Δは５〜１０
０μｍである。変形量Δの定義式は、以下に従うものと
した。
期圧接放置（４０℃・９５％ＲＨ、３０日間放置）によ
り、永久変形し、放置跡４ａが形成された帯電ローラ４
を用いた。この放置跡４ａは、図６の（ｂ）と（ｃ）に
示すように、帯電ローラ上長手方向に０．５〜２ｍｍの
幅ｗをもって形成されており、その変形量Δは５〜１０
０μｍである。変形量Δの定義式は、以下に従うものと
した。
【００４３】変形量Δ＝（非当接部最大ローラ外径ｒ
１）−（当接部最小ローラ外径ｒ２） Ｏは芯金４０の中心である。また、変形量Δの測定に
は、東京光電子工業（株）製、レーザー測長機ＬＭＧ１
５０２ＬＤを用いた。
１）−（当接部最小ローラ外径ｒ２） Ｏは芯金４０の中心である。また、変形量Δの測定に
は、東京光電子工業（株）製、レーザー測長機ＬＭＧ１
５０２ＬＤを用いた。
【００４４】また、感光ドラム３のＣＴ膜厚は１５μ
ｍ、プロセススピードは９４．２ｍｍ／ｓである。ま
た、帯電バイアスとして、ＤＣ−１２６０Ｖを印加し感
光ドラム３の帯電を行った。この場合、２３．５℃・６
０％環境では、感光ドラム帯電電位は、約−７４０
（Ｖ）である。
ｍ、プロセススピードは９４．２ｍｍ／ｓである。ま
た、帯電バイアスとして、ＤＣ−１２６０Ｖを印加し感
光ドラム３の帯電を行った。この場合、２３．５℃・６
０％環境では、感光ドラム帯電電位は、約−７４０
（Ｖ）である。
【００４５】図５に、図４の直流帯電バイアス用高圧電
源回路１００中の整流回路の高耐圧コンデンサ４９の静
電容量値と、上述の帯電ローラ上放置跡４ａが感光ドラ
ム１との微小放電領域ａを通過する際における、帯電バ
イアスの波形を示す。帯電バイアスの波形は、図４中の
一次高圧接点４６において測定した。
源回路１００中の整流回路の高耐圧コンデンサ４９の静
電容量値と、上述の帯電ローラ上放置跡４ａが感光ドラ
ム１との微小放電領域ａを通過する際における、帯電バ
イアスの波形を示す。帯電バイアスの波形は、図４中の
一次高圧接点４６において測定した。
【００４６】図５から分かるもように、高耐圧コンデン
サ４９の静電容量値が小さい場合、帯電バイアスが大き
く振れていることが分かる。
サ４９の静電容量値が小さい場合、帯電バイアスが大き
く振れていることが分かる。
【００４７】帯電バイアスの振れは、帯電ローラ４によ
る感光ドラム３への安定した放電が行えず、感光ドラム
３上の均一な帯電電位の形成の妨げにつながる。
る感光ドラム３への安定した放電が行えず、感光ドラム
３上の均一な帯電電位の形成の妨げにつながる。
【００４８】しかしながら、高耐圧コンデンサ４９の静
電容量値を大きくすると、前記帯電バイアスの振れは小
さくなっていることが分かる。この帯電バイアスの波形
の振れに応じて、Ｃセット画像のレベルも変化した。な
お、画像評価パターンとしては、ハーフトーン画像（６
００ｄｐｉ、縦線１ｄ２ｓ）を用いた。
電容量値を大きくすると、前記帯電バイアスの振れは小
さくなっていることが分かる。この帯電バイアスの波形
の振れに応じて、Ｃセット画像のレベルも変化した。な
お、画像評価パターンとしては、ハーフトーン画像（６
００ｄｐｉ、縦線１ｄ２ｓ）を用いた。
【００４９】表１に、高耐圧コンデンサ４９の静電容量
値と、帯電バイアスの振れ幅：Ｆ（％）及びＣセット画
像のレベルを示す。
値と、帯電バイアスの振れ幅：Ｆ（％）及びＣセット画
像のレベルを示す。
【００５０】
【表１】
【００５１】ここで、帯電バイアスの振れ幅：Ｆ％を、
以下のように定義する。
以下のように定義する。
【００５２】帯電バイアスの振れ幅：Ｆ＝（実帯電バイ
アス最大値−実帯電バイアス最小値）／印加帯電バイア
ス×１００すなわち、高耐圧コンデンサ４９の静電容量
値を大きくすることにより、帯電ローラ４と感光ドラム
１の長期圧接放置により発生した帯電ローラ４上の放置
跡４ａが微小放電領域ａを通過する際の帯電バイアスの
振れを抑制し、感光ドラム３上を均一に帯電することが
出来ることが分かる。
アス最大値−実帯電バイアス最小値）／印加帯電バイア
ス×１００すなわち、高耐圧コンデンサ４９の静電容量
値を大きくすることにより、帯電ローラ４と感光ドラム
１の長期圧接放置により発生した帯電ローラ４上の放置
跡４ａが微小放電領域ａを通過する際の帯電バイアスの
振れを抑制し、感光ドラム３上を均一に帯電することが
出来ることが分かる。
【００５３】本実施例においては、前記高耐圧コンデン
サ４９の静電容量値を３０００ｐＦ以上にすることで、
即ち、帯電ローラ４の表面に形成された放置跡４ａが感
光ドラム１と帯電ローラ４との放電領域ａを通過する
時、帯電ローラ４に印加する直流電圧の振れ幅Ｆが１％
以下に制御されて、Ｃセットは解決できることが分か
る。
サ４９の静電容量値を３０００ｐＦ以上にすることで、
即ち、帯電ローラ４の表面に形成された放置跡４ａが感
光ドラム１と帯電ローラ４との放電領域ａを通過する
時、帯電ローラ４に印加する直流電圧の振れ幅Ｆが１％
以下に制御されて、Ｃセットは解決できることが分か
る。
【００５４】ただ、高耐圧コンデンサ４９の静電容量値
を大きくした場合、高圧の立ち上がりが鈍くなってしま
い（時定数が大きくなる）、感光ドラム１周目と２周目
の帯電電位差による画像濃度むら、すなわち「帯電能」
といった問題が発生してしまう。表２に、高耐圧コンデ
ンサ４９の静電容量値と、Ｃセット画像レベル及び帯電
能の関係を示す。
を大きくした場合、高圧の立ち上がりが鈍くなってしま
い（時定数が大きくなる）、感光ドラム１周目と２周目
の帯電電位差による画像濃度むら、すなわち「帯電能」
といった問題が発生してしまう。表２に、高耐圧コンデ
ンサ４９の静電容量値と、Ｃセット画像レベル及び帯電
能の関係を示す。
【００５５】
【表２】
【００５６】高耐圧コンデンサ４９の静電容量値を１０
０００ｐＦ以下にすることで、帯電能による画像弊害は
解決できる。
０００ｐＦ以下にすることで、帯電能による画像弊害は
解決できる。
【００５７】したがって、帯電ローラ４に対する電圧印
加手段としての図４に示す直流帯電バイアス用高圧電源
回路（一次高圧回路）の、整流回路内における高耐圧コ
ンデンサ４９の静電容量値を、３０００ｐＦ以上、１０
０００ｐＦ以下にすることで、帯電ローラ４の表面に形
成された放置跡４ａが感光ドラム１と帯電ローラ４との
放電領域ａを通過する時、帯電ローラ４に印加する直流
電圧の振れ幅Ｆが１％以下に制御されて、感光ドラム３
との長期圧接放置による帯電ローラ４の永久変形によっ
て生じる帯電ローラ周期の濃度むらを防止できるととも
に、感光ドラム１周目と２周目の帯電電位差による画像
濃度むらをも防止できる。
加手段としての図４に示す直流帯電バイアス用高圧電源
回路（一次高圧回路）の、整流回路内における高耐圧コ
ンデンサ４９の静電容量値を、３０００ｐＦ以上、１０
０００ｐＦ以下にすることで、帯電ローラ４の表面に形
成された放置跡４ａが感光ドラム１と帯電ローラ４との
放電領域ａを通過する時、帯電ローラ４に印加する直流
電圧の振れ幅Ｆが１％以下に制御されて、感光ドラム３
との長期圧接放置による帯電ローラ４の永久変形によっ
て生じる帯電ローラ周期の濃度むらを防止できるととも
に、感光ドラム１周目と２周目の帯電電位差による画像
濃度むらをも防止できる。
【００５８】かくして、本実施例では、帯電ローラ４に
対する電圧印加手段としての直流帯電バイアス用高圧電
源回路のコンデンサ容量を最適化し、帯電ローラ４の放
置跡４ａが放電領域ａを通過する際の帯電ローラ４に対
する印加帯電バイアスの波形の振れ幅Ｆを１％以下と小
さくすることで、帯電ローラ４に放置跡４ａが生じてい
ても感光ドラム３上を均一に帯電することが出来、Ｃセ
ットは解決できるから、従来の技術で説明したような初
期放置圧接回避手段の付加は必要がなく、また使用後の
長期放置の場合にも問題なく、低コストかつ簡易な手段
構成にて対応できる。
対する電圧印加手段としての直流帯電バイアス用高圧電
源回路のコンデンサ容量を最適化し、帯電ローラ４の放
置跡４ａが放電領域ａを通過する際の帯電ローラ４に対
する印加帯電バイアスの波形の振れ幅Ｆを１％以下と小
さくすることで、帯電ローラ４に放置跡４ａが生じてい
ても感光ドラム３上を均一に帯電することが出来、Ｃセ
ットは解決できるから、従来の技術で説明したような初
期放置圧接回避手段の付加は必要がなく、また使用後の
長期放置の場合にも問題なく、低コストかつ簡易な手段
構成にて対応できる。
【００５９】（５）その他の実施の形態 １）上記の実施例では、帯電ローラ４は感光ドラム３に
従動する場合について説明したが、回転駆動させる場
合、すなわち感光ドラム３と周速差を持たせた場合に
も、実施例で説明した効果は同じである。
従動する場合について説明したが、回転駆動させる場
合、すなわち感光ドラム３と周速差を持たせた場合に
も、実施例で説明した効果は同じである。
【００６０】２）帯電ローラ４は３層構成４１（ａ）・
４１（ｂ）・４２のものを用いて説明したが、材料構成
を限定するものではなく、他の材料構成の帯電ローラで
も同等の効果を得ることが出来る。
４１（ｂ）・４２のものを用いて説明したが、材料構成
を限定するものではなく、他の材料構成の帯電ローラで
も同等の効果を得ることが出来る。
【００６１】３）本発明の帯電装置は画像形成装置の静
電潜像担持体の帯電処理手段としてばかりでなく、広く
被帯電体の帯電手段として有効である。
電潜像担持体の帯電処理手段としてばかりでなく、広く
被帯電体の帯電手段として有効である。
【００６２】４）プロセスカートリッジとは、現像手
段、帯電手段と電子写真感光体とを一体的にカ一卜リッ
ジ化し、このカートリッジを画像形成装置本体に対して
着脱可能とするものである。及び、帯電手段と電子写真
感光体とを一体的にカートリッジ化して画像形成装置本
体に着脱可能とするものである。
段、帯電手段と電子写真感光体とを一体的にカ一卜リッ
ジ化し、このカートリッジを画像形成装置本体に対して
着脱可能とするものである。及び、帯電手段と電子写真
感光体とを一体的にカートリッジ化して画像形成装置本
体に着脱可能とするものである。
【００６３】５）画像形成装置はレーザービームプリン
タを例示したが、これに限定する必要はなく、例えば電
子写真プロセスや静電記録プロセスの複写機、ファクシ
ミリ装置、或はワードプロセッサ等の他の画像形成装置
であってもよい。に使用することも当然可能である。
タを例示したが、これに限定する必要はなく、例えば電
子写真プロセスや静電記録プロセスの複写機、ファクシ
ミリ装置、或はワードプロセッサ等の他の画像形成装置
であってもよい。に使用することも当然可能である。
【００６４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ロ
ーラ帯電方式・ＤＣ帯電方式の接触帯電装置、該帯電装
置を用いた画像形成装置等において、接触帯電部材であ
る弾性ローラと被帯電体の長期圧接放置によって弾性ロ
ーラ４が永久変形した場合でも、低コストかつ簡易な手
段構成にて、弾性ローラの回転周期で発生する帯電ムラ
や、画像形成装置やプロセスカートリッジにあっては
「Ｃセット」といった濃度むらを発生させないようにす
ることが可能である。
ーラ帯電方式・ＤＣ帯電方式の接触帯電装置、該帯電装
置を用いた画像形成装置等において、接触帯電部材であ
る弾性ローラと被帯電体の長期圧接放置によって弾性ロ
ーラ４が永久変形した場合でも、低コストかつ簡易な手
段構成にて、弾性ローラの回転周期で発生する帯電ムラ
や、画像形成装置やプロセスカートリッジにあっては
「Ｃセット」といった濃度むらを発生させないようにす
ることが可能である。
【図１】 実施例の画像形成装置の概略図
【図２】 プロセスカートリッジ部分の拡大図
【図３】 帯電ローラの層構成を示す横断面模型図
【図４】 直流帯電バイアス用高圧電源回路図
【図５】 高耐圧コンデンサの静電容量と帯電バイアス
波形の相関図
波形の相関図
【図６】 ローラ帯電と、帯電ローラの放置跡の説明図
４０は帯電ローラ４の芯金、４５は導電性軸受け部材、
４６は画像形成装置本体に具備された一次高圧接点、４
７は高圧トランス、４８はコンパレーター、４９は高耐
圧コンデンサ
４６は画像形成装置本体に具備された一次高圧接点、４
７は高圧トランス、４８はコンパレーター、４９は高耐
圧コンデンサ
Claims (7)
- 【請求項１】 接触帯電部材として弾性ローラを被帯電
体に接触させて回転させ、該弾性ローラに電圧印加手段
から帯電バイアスとして直流電圧を印加して被帯電体を
帯電する帯電装置において、 前記電圧印加手段は、被帯電体と弾性ローラとの長期圧
接放置により弾性ローラ表面に形成された放置跡が被帯
電体と弾性ローラとの放電領域を通過する時、弾性ロー
ラに印加する直流電圧の振れ幅Ｆ［＝（実出力帯電バイ
アスの最大値−実出力帯電バイアスの最小値）／印加帯
電バイアス×１００］を１（％）以下に制御可能である
ことを特徴とする帯電装置。 - 【請求項２】 前記弾性ローラの表面に形成された放置
跡は、被帯電体と弾性ローラとの所定の当接条件にて、
４０℃・９５％ＲＨ環境下で３０日間放置された後に弾
性ローラ表面に形成された永久変形部であることを特徴
とする請求項１に記載の帯電装置。 - 【請求項３】 静電潜像担持体に帯電工程を含む作像プ
ロセスを適用して画像形成を実行する画像形成装置にお
いて、 前記静電潜像担持体の帯電工程手段は、接触帯電部材と
して弾性ローラを静電潜像担持体に接触させて回転さ
せ、該弾性ローラに電圧印加手段から帯電バイアスとし
て直流電圧を印加して静電潜像担持体を帯電する帯電装
置であり、 前記電圧印加手段は、静電潜像担持体と弾性ローラとの
長期圧接放置により弾性ローラ表面に形成された放置跡
が静電潜像担持体と弾性ローラとの放電領域を通過する
時、弾性ローラに印加する直流電圧の振れ幅Ｆ［＝（実
出力帯電バイアスの最大値−実出力帯電バイアスの最小
値）／印加帯電バイアス×１００］を１（％）以下に制
御可能であることを特徴とする画像形成装置。 - 【請求項４】 静電潜像担持体に帯電工程を含む作像プ
ロセスを適用して画像形成を実行する画像形成装置にお
いて、 前記静電潜像担持体の帯電工程手段は、接触帯電部材と
して弾性ローラを静電潜像担持体に接触させて回転さ
せ、該弾性ローラに電圧印加手段から帯電バイアスとし
て直流電圧を印加して静電潜像担持体を帯電する帯電装
置であり、 前記電圧印加手段は、静電潜像担持体と弾性ローラとの
長期圧接放置により弾性ローラ表面に形成された放置跡
が静電潜像担持体と弾性ローラとの放電領域を通過する
時、弾性ローラに印加する直流電圧の振れ幅Ｆ［＝（実
出力帯電バイアスの最大値−実出力帯電バイアスの最小
値）／印加帯電バイアス×１００］を１（％）以下に制
御可能であり、 少なくとも前記静電潜像担持体と前記弾性ローラは画像
形成装置本体に対して一体的に着脱自在なプロセスカー
トリッジに包含されていることを特徴とする画像形成装
置。 - 【請求項５】 前記弾性ローラの表面に形成された放置
跡は、被帯電体と弾性ローラとの所定の当接条件にて、
４０℃・９５％ＲＨ環境下で３０日間放置された後に弾
性ローラ表面に形成された永久変形部であることを特徴
とする請求項３または４に記載の画像形成装置。 - 【請求項６】 少なくとも、静電潜像担持体と、該静電
潜像担持体に接触して回転し、電圧印加手段から帯電バ
イアスとして直流電圧が印加されて静電潜像担持体を帯
電する弾性ローラを包含し、画像形成装置本体に対して
着脱自在なプロセスカートリッジであり、前記電圧印加
手段は、静電潜像担持体と弾性ローラとの長期圧接放置
により弾性ローラ表面に形成された放置跡が静電潜像担
持体と弾性ローラとの放電領域を通過する時、弾性ロー
ラに印加する直流電圧の振れ幅Ｆ［＝（実出力帯電バイ
アスの最大値−実出力帯電バイアスの最小値）／印加帯
電バイアス×１００］を１（％）以下に制御可能である
ことを特徴とするプロセスカートリッジ。 - 【請求項７】 前記弾性ローラの表面に形成された放置
跡は、被帯電体と弾性ローラとの所定の当接条件にて、
４０℃・９５％ＲＨ環境下で３０日間放置された後に弾
性ローラ表面に形成された永久変形部であることを特徴
とする請求項６に記載のプロセスカートリッジ。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001024324A JP2002229306A (ja) | 2001-01-31 | 2001-01-31 | 帯電装置、画像形成装置及びプロセスカートリッジ |
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