JP2002222788A - 基板洗浄具及び基板洗浄装置 - Google Patents

基板洗浄具及び基板洗浄装置

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JP2002222788A
JP2002222788A JP2001020181A JP2001020181A JP2002222788A JP 2002222788 A JP2002222788 A JP 2002222788A JP 2001020181 A JP2001020181 A JP 2001020181A JP 2001020181 A JP2001020181 A JP 2001020181A JP 2002222788 A JP2002222788 A JP 2002222788A
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cleaning
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cleaning liquid
flow path
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Application number
JP2001020181A
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English (en)
Inventor
Keizo Hirose
圭蔵 廣瀬
Kenji Sekiguchi
賢治 関口
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 洗浄液を安定して吐出でき,基板の汚染や損
傷を防止し,かつ形状が崩れない基板洗浄具及びこの基
板洗浄具を用いる基板洗浄装置を提供する。 【解決手段】 基板洗浄装置7では,純水供給路35か
ら供給される純水を,下部部材33の流路36及び取付
具33の流路37に流して洗浄ブラシ24内に供給す
る。洗浄ブラシ24は,本体60と,透水性の芯材62
と,芯材62に被覆された樹脂シート63とを備え,芯
材62は,純水を芯材62の下面に流す流路66と,芯
材の側面への純水の漏水を防止する遮蔽シート68とを
備えている。下部部材33の流路36にはエア排気路3
8が接続され,流路36,37内のエアを適宜排気す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は,基板の洗浄に用い
られる基板洗浄具及び基板洗浄装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの製造プロセスにおいて
は,半導体デバイスが形成される半導体ウェハ(以下
「ウェハ」という)の表面の清浄度を高く維持する必要が
ある。このため,各々の製造プロセス,処理プロセスの
前後や,成膜工程,研磨工程の後などに,基板洗浄装置
を用いてウェハの表面を洗浄している。
【0003】かかる基板洗浄装置として,従来,例えば
特許第2875213号が開示されている。この装置で
は,ウェハを回転させながら,ウェハの表面にブラシを
押圧し,ウェハとブラシとを相対的に移動させることに
より,ウェハの表面から粒子汚染物を除去している。
【0004】そして,前述の特許第2875213号の
基板洗浄装置では,ブラシとして例えばセル構造の発砲
PVA(ポリビニルアルコール)の表面に保護膜を被覆
した構成になっている。またその他にも,従来の基板洗
浄装置で用いられるブラシとして,例えば毛足の硬いナ
イロンブラシ等からなる硬質なブラシや,毛足の柔らか
いモヘアブラシ等からなる軟質なブラシが,洗浄の種類
に応じて,適宜使い分けられて使用されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら,特許第
2875213号に開示された基板洗浄装置では,前記
保護膜に粒子汚染物等のパーティクルが付着しやすく,
そのパーティクルがウェハに転写されて,洗浄後のウェ
ハにパーティクルが残存するおそれがあった。また,ナ
イロンブラシやモヘアブラシ等からなるブラシは,その
ようなパーティクルの転写によるウェハの汚染の他に,
特に硬質なブラシの場合は,摩擦やスクラッチ(ひっか
き傷)によりウェハの表面に損傷を与えるおそれがあっ
た。そしてこれら従来のブラシは,何れも洗浄回数を重
ねるに従ってブラシの表面が削れることにより,偏りや
「くせ」が生じてしまい,当初の接触圧力を維持し難く
なり,洗浄不良を起こすおそれがあった。
【0006】従って本発明の目的は,パーティクルの付
着が少なく,また摩擦やスクラッチによる損傷を与える
こともなく,更に表面が削れることによる偏りや「く
せ」も生じずに,当初の接触圧力を維持して基板を良好
に洗浄でき,さらに洗浄液を安定して吐出することがで
きる基板洗浄具,このような基板洗浄具を用いる基板洗
浄装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に,請求項1の発明は,基板を洗浄する洗浄具であっ
て,洗浄液を基板に供給するための洗浄液供給路と,前
記洗浄液供給路から洗浄液が供給される透水性の芯材と
を備え,前記芯材は,芯材内に設けられた前記洗浄液供
給路から供給される洗浄液を芯材の下面に流す流路と,
芯材の側面への洗浄液の漏水を防止する遮蔽シートを備
え,前記芯材には透水性の多孔質膜が被覆されているこ
とを特徴としている。
【0008】この請求項1に記載の基板洗浄具にあって
は,洗浄液供給路を介して洗浄液を供給しながら,基板
洗浄具の下面を基板に対して押圧し,基板と基板洗浄具
を相対的に移動させることにより,洗浄を行う。基板洗
浄具では,洗浄液供給路を介して供給された洗浄液を,
芯材内に設けられた流路により芯材の下面に容易に導
き,多孔質膜に形成された微細な孔を通して基板に吐出
する。また遮蔽シートにより,芯材の側面から洗浄液が
漏水することを防止する。このため基板洗浄具では,基
板洗浄具の下面のみから洗浄液を集中して吐出すると共
に,基板洗浄具の側面から洗浄液が漏れて純水の吐出量
がぶれるのを防止し,洗浄液の吐出を安定させることが
できる。
【0009】ここで,基板洗浄具の下面からは常に洗浄
液が吐出された状態となるので,基板洗浄具の下面(ち
ょうど芯材の下面にあたる多孔質膜の表面)にはパーテ
ィクルが付着する心配がない。このため,多孔質膜の内
部にパーティクルが入り込む心配がなく,基板の洗浄の
際には,多孔質膜に付着したパーティクルが基板に転写
され,基板が汚染されるといった問題も生じない。ま
た,吐出された洗浄液によって基板の表面に液膜を形成
した状態で多孔質膜を基板に接触させるので,多孔質膜
と基板との接触を滑らかにすることができる。例えば基
板の表面に形成した液膜を挟んで多孔質膜を間接的に基
板に接触させ,多孔質膜と基板との接触を滑らかにす
る。このように多孔質膜と基板の接触が滑らかであるの
で,洗浄回数を重ねても,摩耗などによって形状が崩れ
ることがなく,さらに基板に対して損傷を与えることが
ない。また,このように液膜を挟んで多孔質膜を間接的
に基板に接触させた状態で基板洗浄具を押圧することが
好ましいが,基板の汚染状況によっては多孔質膜を基板
に直接接触させ,基板洗浄具を押し当てて洗浄しても良
い。また,芯材に多孔質膜を被覆させているので,洗浄
液の供給圧などによって多孔質膜が変形する心配もな
く,多孔質膜は常に所定の形状を保つことができる。
【0010】請求項2の発明は,基板を洗浄する洗浄具
であって,洗浄液を基板に供給するための洗浄液供給路
と,前記洗浄液供給路から洗浄液が供給される透水性の
芯材とを備え,前記芯材は,芯材内に設けられた前記洗
浄液供給路から供給される洗浄液を芯材の下面に流す流
路を備え,前記芯材の下面に,純水を吐出させる複数の
吐出口を下面中央部から下面周辺部に渡って放射状に配
置し,これら複数の吐出口の各々に通じるように前記芯
材の流路を複数の流路に分岐させ,前記芯材には透水性
の多孔質膜が被覆されていることを特徴としている。
【0011】この請求項2に記載の基板洗浄具にあって
は,洗浄液供給路を介して洗浄液を供給しながら,基板
洗浄具の下面を基板に対して押圧し,基板と基板洗浄具
を相対的に移動させることにより,洗浄を行う。基板洗
浄具では,洗浄液供給路を介して供給された洗浄液を,
芯材内に設けられた流路により芯材の下面に容易に導
き,多孔質膜に形成された微細な孔を通して基板に吐出
する。芯材の流路は,複数の流路に分岐して芯材の下面
の複数の吐出口の各々に通じるので,この流路は,芯材
の下面中央部から下面周辺部に渡って洗浄液を広く容易
に導くことができる。このため,基板洗浄具は,下面全
体から洗浄液を漏れなく吐出させることができる。
【0012】請求項3の発明は,基板を洗浄する洗浄具
であって,洗浄液を基板に供給するための洗浄液供給路
と,前記洗浄液供給路から洗浄液が供給される透水性の
芯材とを備え,前記芯材は,芯材内に設けられた前記洗
浄液供給路から供給される洗浄液を芯材の下面に流す流
路を備え,前記芯材の流路に対して前記芯材の流路内の
エアを排気するためのエア排気路が接続され,前記芯材
には透水性の多孔質膜が被覆されていることを特徴とし
ている。
【0013】この請求項3に記載の基板洗浄具にあって
は,洗浄液供給路を介して洗浄液を供給しながら,基板
洗浄具の下面を基板に対して押圧し,基板と基板洗浄具
を相対的に移動させることにより,洗浄を行う。基板洗
浄具では,洗浄液供給路を介して供給された洗浄液を,
芯材内に設けられた流路により芯材の下面に容易に導
き,多孔質膜に形成された微細な孔を通して基板に吐出
する。また,洗浄液供給路から供給される洗浄液中に気
泡が混合されている場合,逃げ場がないと気泡は次第に
溜まって圧縮されて芯材の流路内に圧力をかけるように
なり,基板洗浄具の下面から必要以上の純水を吐出する
ことになり,好ましくない。しなしながら,エア排気路
によってエアを適宜排気することにより,芯材の流路内
の圧力を保ち,基板洗浄具の下面から所定の吐出量の純
水を吐出することが可能となる。また,このようにエア
排気路によってエアを適宜排気するので,流路内を洗浄
液で充満することができ,基板洗浄具は,気泡が混入さ
れた洗浄液を基板に吐出することがない。気泡が混入さ
れた洗浄液を吐出してしまうと,基板の表面に形成され
る液膜中にも気泡が混合してしまい洗浄不良を起こすお
それがあるが,このように流路内を純水で充満すること
により,洗浄不良を防止することができる。
【0014】請求項1〜3に記載の基板洗浄具におい
て,請求項4に記載したように,前記芯材の下面に平面
部が形成され,該平面部に前記多孔質膜が被覆されてい
ることが好ましい。かかる構成によれば,芯材の下面に
形成された平面部に被覆された多孔質膜を,基板に対し
て面接触させることができる。このため,基板への接触
面積を拡大させ,基板の特定箇所に過度の接触圧力がか
かることを防止でき,スクラッチ(ひっかき傷)を無く
して基板を損傷させずに良好な洗浄を行うことができ
る。
【0015】請求項2又は3に記載の基板洗浄具は,請
求項5に記載したように,前記芯材の側面への洗浄液の
漏水を防止する遮蔽シートを備えても良い。
【0016】請求項1又は3に記載の基板洗浄具では,
請求項6に記載したように,前記芯材の下面に,純水を
吐出させる複数の吐出口を下面中央部から下面周辺部に
渡って放射状に配置し,これら複数の吐出口の各々に通
じるように前記芯材の流路を複数の流路に分岐させても
良い。
【0017】請求項7に記載したように,前記芯材を本
体に取り付けても良い。この場合,請求項8に記載した
ように,前記本体に対して前記芯材を脱着自在に取り付
け,更に請求項9に記載したように前記多孔質膜を締め
付け部材を用いて前記本体に取り付けることが好まし
い。そうすれば,本体に対して芯材を取り付ける際に,
芯材と本体の隙間を塞ぎ,この隙間から洗浄液が漏れて
基板洗浄具の下面からの純水の吐出が不安定になった
り,この隙間から漏れる洗浄液の供給圧によって多孔質
膜が変形することを防止することができる。更に芯材か
ら多孔質膜が剥がれ落ちるのを防止することができる。
【0018】請求項10に記載したように,前記芯材
は,例えば微細な孔を多数有する樹脂であっても良い。
芯材に形成された微細な孔を通して洗浄液を透過させ
る。もちろん,前述したように芯材は遮蔽シートを備え
ているので,芯材の下面のみから洗浄液を通過させる。
【0019】芯材から多孔質膜が剥がれ落ちるのを防止
するために,請求項11に記載したように前記芯材に対
して前記多孔質膜を固着させても良い。
【0020】請求項12に記載したように,前記多孔質
膜は,親水性の樹脂であっても良い。また請求項13に
記載したように,前記多孔質膜は,撥水性の樹脂であっ
ても良い。樹脂からなる多孔質膜は,その外面の摩擦係
数が小さくでき,パーティクルが発生し難い。なお,洗
浄液供給路内を通ってきた洗浄液中にパーティクルが混
入されていることがあっても,前述したように多孔質膜
の孔が微細であるために,このパーティクルが多孔質膜
の外側に出て基板を汚染するようなことがない。そして
多孔質膜が親水性であれば,多孔質膜の微細な孔から洗
浄液を通しやすくなる。多孔質膜が撥水性であれば,洗
浄によって基板から剥がれたパーティクルを洗浄液と共
にはじくことができ,多孔質膜にパーティクルが付着す
ることをより確実に防止することができる。
【0021】請求項14の発明は,基板を洗浄する装置
であって,請求項1,2,3,4,5,6,7,8,
9,10,11,12又は13のいずれかに記載の基板
洗浄具と,前記基板洗浄具を支持する支持部材と,前記
支持部材を介して前記基板洗浄具を押圧する押圧軸に対
して推力を付与する駆動部とを備え,前記支持部材に前
記洗浄液供給路は接続され,前記支持部材内に,前記洗
浄液供給路から供給される洗浄液を前記芯材内に流す流
路が設けられていることを特徴としている。
【0022】この請求項14に記載の基板洗浄装置によ
れば,駆動部によって押圧軸に対して推力を付与し,所
定の接触圧力で基板洗浄具を基板に間接的又は直接的に
接触させる。また,洗浄液供給路を支持部材に接続し,
洗浄液供給路から供給される洗浄液を支持部材の流路に
流して芯材内に供給する。
【0023】請求項14に記載の基板洗浄装置におい
て,請求項15に記載したように,前記支持部材に,前
記支持部材の流路内のエアを排気するエア排気路が接続
されていることが好ましい。洗浄液供給路から供給され
る洗浄液中に気泡が混合されていると,この気泡は支持
部材の流路内に溜まり,この流路内の空気(エア)は圧
縮される。支持部材の流路内をこのまま放置しておく
と,圧縮された空気により支持部材の流路内に圧力がか
かり,基板洗浄具の下面から必要以上の純水を吐出する
ことになり,好ましくない。しなしながら,エア排気路
によって支持部材の流路内から空気を適宜排気すること
により,支持部材の流路内の圧力を保ち,基板洗浄具の
下面から所定の吐出量の純水を吐出することが可能とな
る。また,洗浄液で充満された流路から洗浄液を芯材内
に流すので,基板洗浄具は,気泡が混入された洗浄液を
基板に吐出することがない。気泡が混入された洗浄液を
吐出してしまうと,基板の表面に形成される液膜中にも
気泡が混合してしまい洗浄不良を起こすおそれがある
が,このように流路内を純水で充満することにより,洗
浄不良を防止することができる。
【0024】請求項16に記載したように,前記支持部
材の流路に,該支持部材の流路内の液面の高さが前記洗
浄液供給路の開口位置に到達したことを検出する液面セ
ンサと,該支持部材の流路内の液面の高さが該支持部材
の流路の天井に到達したことを検出すると共に,該支持
部材の流路内にエアが溜まっているか否かを検出する泡
センサが設けられ,前記液面センサから出力される検出
信号と前記泡センサから出力される検出信号に基づいて
前記エア排気路に設けられた開閉弁を制御する制御部を
備えても良い。例えば洗浄液供給路から供給された洗浄
液が支持部材の流路内に溜まって液面が上昇し,この液
面の高さが洗浄液供給路の開口位置にまで上昇すると,
これを液面センサは検出して検出信号を制御部に出力す
る。この検出信号を受けた制御部は,開閉弁を開けるよ
うに制御し,支持部材の流路内に溜まった空気をエア排
気路に逃がす。また,液面の高さは支持部材の流路の天
井にまで到達すると,これを泡センサは検出して検出信
号を制御部に出力する。この検出信号を受けた制御部
は,開閉弁を閉じるように制御する。こうして,支持部
材の流路内は洗浄液により充満される。以後,洗浄液供
給路から供給される洗浄液中に気泡が混入されて支持部
材の流路の天井に空気が溜まると,液面の高さも下がる
ことになるので,例えば泡センサから検出信号は制御部
に対して出力されなくなる。すると制御部は,開閉弁を
開けるように制御して,支持部材の流路の天井に溜まっ
た空気をエア排気路に適宜逃がし,支持部材の流路内の
圧力を保つ。
【0025】請求項17に記載したように,前記支持部
材の流路を通る洗浄液に超音波を発振させて振動させる
超音波発振機構を備えていることが好ましい。かかる構
成によれば,洗浄液を超音波振動させた状態で基板の表
面に供給するので,洗浄力が向上する。
【0026】
【発明の実施の形態】以下,本発明の好ましい実施の形
態を,基板の一例としてウェハの表裏面を洗浄するよう
に構成された基板洗浄装置に基づいて説明する。図1
は,本実施の形態にかかる基板(表面)洗浄装置7を組
み込んだ洗浄システム1の斜視図である。洗浄システム
1は,キャリアC単位でウェハWを搬入し,ウェハWを
一枚ずつ洗浄,乾燥し,キャリア単位でウェハWを搬出
するように構成されている。
【0027】この洗浄システム1には,ウェハWを収納
したキャリアCを4個分載置できる載置部2が設けられ
ている。洗浄システム1の中央には,載置部2に載置さ
れたキャリアCから洗浄工程前のウェハWを一枚ずつ取
り出し,また,洗浄工程後のウェハWをキャリアCに収
納する取出収納アーム3が配置されている。この取出収
納アーム3の背部には,取出収納アーム3との間でウェ
ハWの授受を行う搬送機構である搬送アーム4が待機し
ている。搬送アーム4は,洗浄システム1の中央に設け
られた搬送路6に沿って移動可能に設けられている。搬
送路6の両側には,各種の処理装置が配置されている。
具体的には,搬送路6の一方の側方には,ウェハWの表
面を洗浄するための前記基板洗浄装置7と,ウェハWの
裏面を洗浄するための基板(裏面)洗浄装置8とが並ん
で配置されている。これら基板洗浄装置7,8では,ウ
ェハWを回転させてスピン乾燥させるように構成されて
いる。また,搬送路6の他方の側方には,加熱装置9が
4基積み重ねて設けられている。この加熱装置9は,ウ
ェハWを加熱して乾燥させるための手段である。この加
熱装置9に隣接して2基のウェハ反転装置10が積み重
ねて設けられている。
【0028】ここで,基板洗浄装置7の構成について説
明する。図2は,基板洗浄装置7の平面図であり,図3
は,その縦断面図である。ケース20のほぼ中央に,ウ
ェハWを水平に吸着保持した状態でモータ21によって
回転するスピンチャック22と,このスピンチャック2
2及びウェハWを包囲しウェハWの表面に供給した洗浄
液等が周囲に飛び散ることを防止するカップ23とを備
えている。そして,ケース20の一側近傍に,基板洗浄
具としての洗浄ブラシ24を備えてウェハWを洗浄する
スクラブ洗浄機25が配置されている。図2で示したス
クラブ洗浄機25は,ウェハWから離れた位置で待機し
た状態を示している。また,ケース20の前面側には,
図示しないシャッタによって開閉自在な搬入出口7aが
設けられており,この搬入出口7aを介して,搬送アー
ム4によりウェハWが基板洗浄装置7に対して搬入出さ
れるようになっている。なお,スピンチャック22以外
に,例えばウェハWの周縁部を爪やリングを用いて保持
するメカニカルチャックを用いて,ウェハWを水平に保
持するようにしても良い。
【0029】スクラブ洗浄機25は,洗浄ブラシ24を
アーム部材26の先端部に取り付けており,このアーム
部材26をシャフト27の上端に水平姿勢で固定してい
る。そして,シャフト27は,駆動機構(図示せず)に
よって昇降及び回転自在な構成となっている。従って,
アーム部材26は,駆動機構の回転稼働によって,図2
中のθ方向に旋回し,ウェハWの上方を往復移動できる
ようになっている。
【0030】図4に示すように,アーム部材26は,フ
レーム26aと,カバー26bとを有している。アーム
部材26の先端部には,洗浄ブラシ24を昇降させる駆
動部としてのエアベアリングシリンダ30が,フレーム
26a上に固定されて配置されている。エアベアリング
シリンダ30では,押圧軸としてのロッド31をエアベ
アリングシリンダ30の上方及び下方の両方に突出さ
せ,このロッド31をエアベアリングシリンダ30内部
で空気圧を利用して中空に浮上させ,摩擦がない状態で
昇降させるようになっている。このためエアベアリング
シリンダ30は,摺動抵抗が零に等しく耐耗性に優れて
いる。アーム部材26内には洗浄ブラシ24を回転駆動
させるためのモータ,プーリ,ベルト等の部品が設けら
れていない。このため,スクラブ洗浄機25は,洗浄ブ
ラシ24を回転させずにウェハWを洗浄するようになっ
ている。また一方で,洗浄ブラシ24を回転駆動させる
ためのモータ,プーリ,ベルト等の部品をアーム部材2
6内に設け,洗浄ブラシ24を回転させてウェハWを洗
浄するようにしても良い。
【0031】一方,ロッド31の下端部に,下部部材3
2,取付具33を介して前記洗浄ブラシ24は支持さ
れ,これら下部部材32,取付具33は,支持部材とし
ての役割を果たす。従って,エアベアリングシリンダ3
0の稼働に伴い,ロッド31及び洗浄ブラシ24とを一
体となって上下方向(図4中の往復矢印Aの方向)に昇
降させるように構成なっている。なお,この下部部材3
2に対して取付具33が,ネジ構造によって着脱自在と
なっている。従って,古い洗浄ブラシ24の製品寿命が
尽きた際には,新しい洗浄ブラシ24に簡単に交換する
ことができる。また,種々の洗浄に合わせて,様々な洗
浄ブラシをスクラブ洗浄機25に簡単に取り付けること
ができる。
【0032】図5は,ロッド31,下部部材32,取付
具33,洗浄ブラシ24の断面説明図である。図5に示
すように,下部部材32には,例えば洗浄液として純水
をウェハWに供給するための洗浄液供給路としての純水
供給路35が接続されている。下部部材32内には,純
水供給路35から供給される純水を芯材62内に流すた
めの流路36が設けられている。流路36は,取付具3
3内に設けられた流路37に通じ,これら流路36,3
7を経た純水は洗浄ブラシ24内に流れて,後述するよ
うに平面部65からウェハWに吐出される。また下部部
材32には,流路36,37内に溜まったエアを排気す
るためのエア排気路38が流路36の上端部に接続され
ている。エア排気路38には,開閉弁39が設けられて
いる。
【0033】図6に示すように,純水供給路35には,
エアオペバルブ40と,マスフローコントローラ等から
なる可変レギュレータ41と,フィルタ42と,デジタ
ル流量計等からなるフローメータ43が順次設けられて
いる。エアオペバルブ40は,開閉(ON・OFF)自
在であり,純水供給路35を導通または遮断させる。可
変レギュレータ41は,プロセスレシピ等に基づいて,
純水供給路35の純水流量を適宜変更する。プロセスレ
シピでは,ウェハ洗浄の種類や処理の進行状況等により
純水流量が設定される。フィルタ42は,純水供給路3
5内を流れる純水を浄化し,フローメータ43は,純水
流量が実際にプロセスレシピ等で設定された流量がどう
か監視する。こうして純水供給路35からは,ウェハ洗
浄の種類や処理の進行状況等に合わせて最適な流量に調
整された純水が供給されるようになっている。
【0034】また流路36には,先の図5に示すよう
に,液面センサ45と,泡センサ46が取り付けられて
いる。液面センサ45は,流路36内の液面の高さがち
ょうど純水供給路35が接続された位置(高さ),即ち
純水供給路35の開口位置まで上昇したことを検出し,
泡センサ46は,流路36内の液面の高さが流路36の
天井まで上昇したことを検出する共に,流路36の天井
に気泡が溜まっていないかどうか検出するように構成さ
れている。液面センサ45,泡センサ46からの検出信
号は,制御部としてのコントローラ47に出力され,コ
ントローラ47は,これら液面センサ45,泡センサ4
6からの検出信号に基づいて前記開閉弁39の開閉を制
御するようになっている。
【0035】ここで,コントローラ47による開閉弁3
9の開閉制御について,図7〜図9に基づいて説明す
る。先ず前記エアオペバルブ40が開き(オン),純水
供給路35から純水を下部部材32の流路36に供給す
る。供給された純水は,流路36,37を経て芯材62
内を流れて洗浄ブラシ24の平面部65からウェハWに
吐出される。例えば純水供給路35から純水を供給し始
めの頃,洗浄ブラシ24の吐出量よりも純水供給路35
の供給量が多い場合,図7に示すように,流路36内に
純水が溜まって液面が上昇する。一方,コントローラ4
7は,開閉弁39を閉じるように制御し,純水中に混入
された気泡は流路36内に徐々に溜まり,流路36内の
空気(エア)は圧縮される。
【0036】図8に示すように,流路36の液面の高さ
は,純水供給路35の開口位置に上昇すると,これを液
面センサ45は検出して検出信号をコントローラ47に
出力する。この検出信号を受けたコントローラ47は,
開閉弁39を開けるように制御する。すると,流路36
内から圧縮された空気がエア排気路38内に流入して外
部に排気される。
【0037】その後,図9に示すように,流路36の液
面の高さは流路36の天井にまで到達し,これを泡セン
サ46は検出して検出信号をコントローラ47に出力す
る。この検出信号を受けたコントローラ47は,開閉弁
39を閉じるように制御する。こうして,流路36,3
7内は純水により充満される。また,このように流路3
6,37内を純水で充満することにより,洗浄ブラシ2
4から吐出される純水中には,気泡が混入されることが
ない。以後,例えば純水供給路35の供給量を下げて純
水供給路35の供給量と洗浄ブラシ24の吐出量を均衡
させて流路36,37内を純水により充満させつつ,洗
浄ブラシ24から気泡が混入されていない純水を吐出さ
せるか,若しくは純水供給路35の供給量をそのまま維
持することにより流路36,37内の水圧を上げて洗浄
ブラシ24の吐出量を増加させ,純水供給路35の供給
量と洗浄ブラシ24の吐出量を均衡させて流路36内を
純水により充満させつつ,洗浄ブラシ24から気泡が混
入されていない純水を吐出させる。
【0038】一方,流路36,37内を純水で充満した
後も,純水供給路35から供給される純水中に気泡が混
入されて流路36の天井に空気が溜まる場合がある。こ
のように流路36の天井に空気が溜まると,液面のレベ
ルも下がることになるので,例えば泡センサ46から検
出信号はコントローラ47に対して出力されなくなる。
すると,コントローラ47は,開閉弁39を開けるよう
に制御して,流路36の天井に溜まった空気をエア排気
路38に逃がす。液面の高さは再び流路36の天井に到
達すると,泡センサ46から検出信号はコントローラ4
7に対して出力され,コントローラ47は再び開閉弁3
9を閉じるように制御する。流路36の天井に溜まった
空気を逃がさない場合,溜まった空気は圧縮されて流路
36,37内に圧力がかかるようになる。そうなると,
洗浄ブラシ24から流量や流速等が過大となった純水を
吐出する事態が起こり,洗浄に悪影響を及ぼす。しかし
ながら,このように流路36の天井に溜まった空気を適
宜逃がすことにより,洗浄ブラシ24の平面部65から
正常に純水を吐出させることができる。
【0039】図10に示すように,取付具33の流路3
7の先端部には,超音波発振機構50が設けられてお
り,この超音波発振機構50の内部には,流路37を囲
むリング状の超音波発振子51が複数個設けられてい
る。この場合,超音波発振機構50は,図示しない電源
制御部によりオン・オフできるように構成してもよい。
また超音波発振機構50の超音波振動の強弱を調整でき
るように構成してよい。さらに洗浄ブラシ24の外部に
超音波発振機構50を設けることも可能である。
【0040】次いで,洗浄ブラシ24の構成について説
明する。図10に示すように,洗浄ブラシ24は,前記
取付具33の下端部に装着される円柱状の本体60を備
えている。本体60の材質には例えばPTFE(ポリテ
トラフルオロエチレン)等の樹脂が用いられ,本体60
内には流路61が設けられている。この本体60には,
透水性の芯材62がネジ込み方式により着脱自在に取り
付けられている。芯材62の外周面には樹脂シート63
が被膜されている。
【0041】芯材62の材質には,純水を供給する際に
水圧がかかっても変形を起こさずに所定の形状を留めて
おくことができ,また純水中に材質成分が溶解せず,更
に必要に応じて切削加工して形を自由かつ容易に変えら
れるように,樹脂を用いることが好ましい。このような
樹脂の材質として例えばPE(ポリエチレン)等の樹脂
がある。なお,洗浄液として薬液が用いられる場合にお
いても,芯材62の材質に同様のことが要求される。図
示の例では,芯材62は円形筒状に形成されており,上
部には本体60内に挿入されるネジ部64が形成され,
ウェハWと対向する面,即ち下面に平面部65が形成さ
れている。こうして,芯材62内に純水が流れ込んでく
ると,芯材62は,変形や溶解することなく,樹脂シー
ト63に純水を透過させる。なお,芯材63に多数の微
細な孔が形成され,これら多数の微細な孔を通して純水
を透過させると良い。また,洗浄液として薬液が用いら
れる場合においても,芯材62の材質に同様のことが要
求される。
【0042】また短時間で純水を透過させるために,芯
材62内には,純水供給路35から供給される純水を芯
材62の下面に流す流路66が設けられている。流路6
6は,流路36,37を介して前記エア排気路38に通
じており,流路36,37と同様に純水で充満される。
また,芯材の流路66は,ネジ部64から途中まで鉛直
軸方向に沿って直線状に形成されているが,その後に複
数の流路66a,66b,66c,66d,66e,6
6f,66g……に分岐する。一方,図11に示すよう
に,芯材62の下面には,複数の吐出口67a,67
b,67c,67d,67e,67f,67g……が下
面中央部から下面周辺部に渡って放射状に配置されてい
る。これら複数の吐出口67a,67b,67c,67
d,67e,67f,67g……において,芯材62の
下面中央部に形成されたものと下面周辺部に形成された
ものでは,下面周辺部にいくに従って,その形状は円形
状から楕円形状に次第に変形するようになっている。そ
して,前記複数の流路66a,66b,66c,66
d,66e,66f,66g……は,各々対応する複数
の吐出口67a,67b,67c,67d,67e,6
7f,67g……にそれぞれ接続されている。こうして
芯材62は,下面中央部から下面周辺部に渡って純水を
広く容易に導き,樹脂シート63に純水を透過させるよ
うになっている。また,例えば芯材62の下面中央部に
形成された吐出口67dに接続された流路66dは,直
線状に形成されて距離が短いのに対し,例えば芯材62
の下面周辺部に形成された吐出口67aに接続された流
路66aは,斜めに傾斜するように形成されて距離が長
く圧力損失が生じるおそれがあるが,このように下面周
辺部にいくに従って,吐出口の形状を楕円形状に次第に
変形させて開口面積を広くとることにより,芯材62の
下面全体,ひいては平面部65全体から等しく純水を吐
出させることが可能となる。
【0043】芯材62の側面には防水用の遮蔽シート6
8が設けられ,この遮蔽シート68を挟んで樹脂シート
63は芯材62に固着される。このように遮蔽シート6
8を設けることにより,芯材の側面から純水を透過させ
て洗浄ブラシ24の側面から純水を漏水させることを防
止し,純水を芯材62の下面に集中的に導くようにして
洗浄ブラシ24の平面部65から安定して吐出させるよ
うになっている。また,樹脂シート63は,本体60ま
で及んで本体60の外周面も被覆し,芯材62から剥が
れ落ちないようにクランプリング69により本体60の
下部でかしめられている。前述したように本体60内に
芯材62がねじ込まれ,本体60に対して樹脂シート6
3をクランプリング69により締め付けることにより,
本体60と芯材62の隙間を塞ぎ,この隙間から純水が
漏水するのを防止して同様に平面部65から純水をより
安定して吐出させるようになっている。さらに隙間から
漏れる純水の供給圧によって樹脂シート63が変形する
ことを防止する。なお,樹脂シート63の固着は,例え
ば熱溶着により行い,芯材62及び遮蔽シート68に樹
脂シート63を気密に被覆する。その他,固着の方法
が,接着剤(純水中に接着剤成分が溶解しないもの)を
用いて芯材62及び遮蔽シート68に対して樹脂シート
63を接着しても良いし,また例えば芯材62及び遮蔽
シート68に対して樹脂シート63を圧着しても良い。
【0044】樹脂シート63の材質には,その表面の摩
擦係数が小さくして摩耗によりパーティクルを発生し難
くすることができ,純水を吐出できるように微細な孔が
多数形成された多孔質体の樹脂を用いる。このような樹
脂としては例えばフッ素樹脂やポリオレフィン樹脂など
が挙げられる。一例を挙げると例えば厚さが0.1mm
〜数mm,孔の大きさが0.01〜数百μm程度の例え
ばPTFE製のシート等が用いられる。こうして,樹脂
シート63は透水性の多孔質膜として機能し,磨り減り
難く長期に渡って使用することができる。
【0045】スクラブ洗浄機25は,洗浄ブラシ24か
ら吐出された純水によりウェハWに液膜を形成して洗浄
処理を実施する。この液膜の厚さは,ウェハWの回転
数,洗浄ブラシ24の接触圧力(加重),洗浄ブラシ2
4の純水の吐出量の3つの要因によって決定される。即
ち,図12に示すように,コントローラ47に対して,
モータ21から回転数が,例えば前記純水供給路35の
フローメータ43から純水の供給量(吐出量)が,エア
ベアリングシリンダ30からロッド31を通して洗浄ブ
ラシ24に付与する上下方向の推力(即ち洗浄ブラシ2
4の押圧力)がそれぞれ入力される。なお,洗浄ブラシ
24の接触圧力は,洗浄ブラシ24の重量と洗浄ブラシ
24の押圧力の合計であり,洗浄ブラシ24の重量は既
知の値であることから,エアベアリングシリンダ30か
ら前記推力が入力されると,洗浄ブラシ24の接触圧力
は自動的に判明する。これら3つの入力に基づいてコン
トローラ47は,洗浄ブラシ24を所定の高さに保つよ
うにエアベアリングシリンダ30を制御し,液膜70の
厚さL(ウェハWと洗浄ブラシ24の距離)を決定する
ようになっている。
【0046】その他,基板洗浄装置7には,スピンチャ
ック22を挟んでスクラブ洗浄機25と対称位置に,図
2中のθ’方向に往復自在な純水供給ノズル80が配置
されている。純水供給ノズル80の先端にはノズル81
が取り付けられ,このノズル81によって純水が供給さ
れるようになっている。
【0047】次に,以上のように構成された基板洗浄装
置7を備えた洗浄システム1において行われるウェハW
の洗浄工程を説明する。まず,図示しない搬送ロボット
が未だ洗浄されていないウェハWを例えば25枚ずつ収
納したキャリアCを載置部2に載置する。そして,この
載置部2に載置されたキャリアCから一枚ずつウェハW
が取り出され,取出搬入アーム3を介して搬送アーム4
に受け渡される。そして,基板洗浄装置7及び基板洗浄
装置8を用いて,ウェハWを一枚ずつ洗浄し,ウェハW
の表裏面に付着している粒子汚染物等のパーティクルを
除去する。所定の洗浄工程が終了したウェハWは,搬送
アーム4から取出収納アーム3に受け渡され,再びキャ
リアCに収納される。
【0048】ここで,基板洗浄装置7での洗浄について
説明する。スピンチャック22によってウェハWを回転
させる。一方,図2の待機状態にあったスクラブ洗浄機
25において,アーム部材26を旋回させ,洗浄ブラシ
24をウェハWの上方,例えばウェハWの中心付近にま
で移動させる。次いで,純水供給路35を介して純水を
供給しながら,エアベアリングシリンダ30の稼働によ
って洗浄ブラシ24をウェハWの表面に対して押圧し,
ウェハWと洗浄ブラシ24を相対的に移動させることに
より,洗浄を行う。例えばアーム部材26をウェハWの
中心から周縁部まで往復回動させることにより,ウェハ
Wの表面を均一に洗浄する。
【0049】純水供給路35から供給された純水は,下
部部材32の流路36及び取付部33の流路37を経て
芯材62内を流れる。そして樹脂シート63に形成され
た微細な孔を通して洗浄ブラシ24の平面部65からウ
ェハWに吐出され,ウェハWの表面に液膜70は形成さ
れる。必要であれば,純水供給ノズル80もウェハWの
上方に移動させ,純水をウェハWの表面に供給するよう
にしても良い。
【0050】純水供給路35から供給される純水中に気
泡が混合されていると,この気泡は流路36の上部に溜
まり,流路36内の空気(エア)は圧縮される。流路3
6内をこのまま放置しておくと,圧縮された空気により
流路36,37内ひいては流路66内に圧力がかかり,
洗浄ブラシ24の下面から必要以上の純水を吐出するこ
とになり,好ましくない。しなしながら,エア排気路3
8によって流路36内から空気を適宜排気することによ
り,流路36,37,66内の圧力を保ち,洗浄ブラシ
24の下面から所定の吐出量の純水を吐出することが可
能となり,所望の洗浄処理を実施することができる。
【0051】例えば図7に示したように,純水供給路3
5から供給された純水は流路36内に溜まって液面が上
昇し,図8に示したように,この液面の高さが純水供給
路35の開口位置にまで上昇すると,これを液面センサ
45は検出して検出信号をコントローラ47に出力す
る。この検出信号を受けたコントローラ47は,開閉弁
39を開けるように制御し,流路36内に溜まった空気
をエア排気路38に逃がす。また図9に示したように,
液面の高さは流路36の天井にまで到達すると,これを
泡センサ46は検出して検出信号をコントローラ47に
出力する。この検出信号を受けたコントローラ47は,
開閉弁39を閉じるように制御する。こうして,流路3
6,37,66内は純水により充満される。以後,純水
供給路35から供給される純水中に気泡が混入されて流
路36の天井に空気が溜まると,液面の高さも下がるこ
とになるので,例えば泡センサ46から検出信号はコン
トローラ47に対して出力されなくなる。するとコント
ローラ47は,開閉弁39を開けるように制御して,流
路36の天井に溜まった空気をエア排気路38に適宜逃
がし,流路36内の圧力を保つ。
【0052】純水で充満された流路36,37から純水
を芯材62内に流して流路66も純水で充満させるの
で,洗浄ブラシ24は,気泡が混入された洗浄液をウェ
ハWに吐出することがない。気泡が混入された純水を吐
出してしまうと,液膜70中にも気泡が混合してしまい
洗浄不良を起こすおそれがあるが,このように流路3
6,37,66内を純水で充満することにより,洗浄不
良を防止することができる。
【0053】流路37の先端部では,純水に超音波発振
子51から超音波が発振され,純水は超音波により振動
した状態でウェハWに吐出される。このように振動した
純水をウェハWの表面に供給すると,振動していない純
水を供給したときに比べ,洗浄力を向上させることがで
きる。
【0054】洗浄ブラシ24内では,純水を本体60の
流路61から芯材62の流路66に流す。この流路66
は,複数の流路66a,66b,66c,66d,66
e,66f,66g……に分岐して芯材62の下面の複
数の吐出口67a,67b,67c,67d,67e,
67f,67g……の各々に通じるので,芯材62の下
面中央部から下面周辺部に渡って純水を広く容易に導く
ことができる。このため,洗浄ブラシ24は下面全体か
ら純水を漏れなく吐出することができる。また遮蔽シー
ト68により,芯材62の側面から純水が漏水すること
を防止する。このため洗浄ブラシ24では,洗浄ブラシ
24の下面のみから純水を集中して吐出すると共に,洗
浄ブラシ24の側面から純水は漏れて純水の吐出量がぶ
れるのを防止し,純水の吐出を安定させることができ
る。
【0055】本体60に芯材62をネジ込んで固着さ
せ,芯材62及び本体60に樹脂シート63を被覆さ
せ,この樹脂シート63をクランプリング69を用いて
本体60に取り付けているので,芯材62と本体60の
隙間を塞ぐことができ,この隙間から純水が漏れて洗浄
ブラシ24の下面からの純水の吐出が不安定になった
り,この隙間から漏れる純水の供給圧によって樹脂シー
ト63が変形することを防止することができる。また,
芯材62から樹脂シート63が剥がれ落ちるのを防止す
ることができる。
【0056】ウェハWの表面に洗浄ブラシ24を接触さ
せる際には,図12に示したように,洗浄ブラシ24を
所定の高さに降ろし,ウェハWの表面に形成した液膜7
0を通して樹脂シート63を間接的にウェハWに接触さ
せ,樹脂シート63とウェハWの接触を滑らかにする。
このため,ウェハWに対して損傷を与えることがない。
このように間接的に接触させた状態で,ウェハWの表面
に所定の接触圧力を加える。ここで,所定の接触圧力に
なるように,洗浄ブラシ24の押圧力を調整する。例え
ば洗浄ブラシ24の重量が約30gfである場合,エア
ベアリングシリンダ30によりロッド31に例えば20
gfの下向きの推力を付与すれば(洗浄ブラシ24の押
圧力はプラス20gf),洗浄ブラシ24の接触圧力を
50gfに調整することが可能であり,また洗浄ブラシ
24の重量が約100gfである場合,エアベアリング
シリンダ30によりロッド31に例えば80gfの上向
きの推力を付与すれば(洗浄ブラシ24の押圧力はマイ
ナス80gf),洗浄ブラシ24の接触圧力を20gf
に調整することが可能である。
【0057】洗浄ブラシ24を所定の高さに降ろす際に
は,コントローラ47には,モータ21から回転数が,
純水供給路35のフローメータ43から純水の供給量
(吐出量)が,エアベアリングシリンダ30からロッド
31を通して洗浄ブラシ24に付与した推力がそれぞれ
入力され,これら3つの入力に基づいてコントローラ4
7は,ウェハWと洗浄ブラシ24の距離L,即ち液膜7
0の厚さLを決定する。
【0058】また洗浄ブラシ24の表面からは常に純水
が吐出された状態となるので,洗浄ブラシ24の下面
(ちょうど芯材62の下面にあたる樹脂シート63の表
面)にはパーティクルが付着する心配がない。このた
め,樹脂シート63の内部にパーティクルが入り込む心
配がなく,また,ウェハWの洗浄の際に,樹脂シート6
3に付着したパーティクルがウェハWに転写され,ウェ
ハWが汚染されるといった問題も生じない。
【0059】しかも,PTFE性の樹脂シート63で
は,そのシート表面の摩擦係数が小さくなるので,樹脂
シート63の表面とパーティクルとの密着力が小さくな
り,パーティクルが確実に付着し難くなる。なお,PT
FEは薬液に対する耐薬品性が強いので,例えば洗浄液
としてオゾン水,電解イオン水,塩酸過水,アンモニア
過水,リン酸溶液,硫酸溶液,フッ酸溶液等の薬液を洗
浄液として用いることができる。このため洗浄効果を高
めることができる。
【0060】芯材62に樹脂シート63を被覆させてい
るので,純水の供給圧などによって樹脂シート63が変
形する心配もなく,樹脂シート63は常に所定の形状を
保つことができる。また樹脂シート63とウェハWとの
接触が滑らかであるので,洗浄回数を重ねても,摩耗な
どによって形状が崩れることがない。このように,洗浄
ブラシ24に偏りや「くせ」が生じることがなく,当初
の接触圧力を維持することが可能となる。
【0061】さらにこの場合,芯材62に形成された平
面部65を被覆している樹脂シート63を,ウェハWに
対して面接触させることができる。このため,ウェハW
への接触面積を拡大させ,ウェハWの特定箇所に過度の
接触圧力がかかることを防止でき,スクラッチ(ひっか
き傷)を無くしてウェハWを損傷させずに良好な洗浄を
行うことができる。
【0062】なお,本発明の実施の形態の一例について
説明したが,本発明はこの例に限らずに種々の態様を取
りうるものである。例えば図13に純水供給路の変形例
を示す。図13に示す純水供給路90では,エアオペバ
ルブ40と,定量レギュレータ91と,フィルタ42
と,切替バルブ92が順次設けられ,切替バルブ92か
ら純水供給路90は100ミリリットル(mL)/mi
nのフローメータ93が設けられた管路94と,500
ミリリットル(mL)/minのフローメータ95が設
けられた管路96に分岐し,これら管路94,96は前
記下部部材32の流路36にそれぞれ通じている。定量
レギュレータ91の出力は,100ミリリトル(mL)
/minの場合と500ミリリットル(mL)/min
の場合に2段階に分けられ,切替バルブ92は,定量レ
ギュレータ91の出力に応じて管路94,96を切り替
えるようになっている。
【0063】洗浄ブラシから本体を取り外すことも可能
である。このような洗浄ブラシの例を図14に示す。図
14に示す洗浄ブラシ100では,芯材62は取付具3
3に着脱自在に取り付けられている。この場合,取付具
33の下部には,芯材62のネジ部64がネジ込めるよ
うにメスネジ部101が形成される。また,樹脂シート
63は,クランプリング69を用いて取付具33の下部
に取り付けられている。このような本体が取り外された
洗浄ブラシ100では,サイズを小型化することができ
る。なお,本体を取り外した点を除けば,この洗浄ブラ
シ100は先に説明した洗浄ブラシ24と概ね同一の構
成を有するため,図14において,先に説明した図10
と共通の構成要素については同じ符号を付することによ
り,重複説明を省略する。
【0064】例えば樹脂シート63の材質としては,前
述したPTFE以外に,孔の大きさが数μm〜数十μm
である,耐電防止処理を行ったポリオレフィン樹脂等の
多孔質材料も用いることができる。
【0065】PTFEをアルコールに浸漬させて親水性
にした樹脂シート63を用いることができる。この場合
には,樹脂シート63が親水性になるので,樹脂シート
63の微細な孔から純水を通しやすくなる。ここで,純
水供給路35内を通ってきた純水中にパーティクルが混
入されていることがあっても,前述したように樹脂シー
ト63の孔が微細であるため,このパーティクルが樹脂
シート63の外側に出てウェハWを汚染するようなこと
がない。
【0066】一方,PTFEに撥水処理を施して撥水性
(疎水性)にした樹脂シート63を用いることもでき
る。この場合には,樹脂シート63が撥水性になるの
で,洗浄によってウェハWから剥がれたパーティクルを
純水と共にはじくことができる。従って,樹脂シート6
3にパーティクルが付着することをより確実に防止する
ことができる。
【0067】また,本発明は,フッ酸溶液により酸化膜
をエッチングする場合や例えばリン酸溶液によって窒化
膜をエッチングする場合,リン酸,酢酸,硝酸の混合液
によってアルミニウムをエッチングする場合の後の洗浄
処理に適用できる。その他,洗浄処理としては,APM
溶液(アンモニア+過酸化水素水+純水)によりパーテ
ィクルの除去を行う場合や,HPM溶液(塩酸+過酸化
水素水+純水)により金属汚染を清浄する場合,SPM
溶液(硝酸+過酸化水素水)によりレジスト膜の有機物
を除去する場合等に適用できる。
【0068】さらに,鉛直方向を軸として洗浄ブラシを
回転させながらウェハに直接に接触させ,洗浄ブラシと
ウェハを相対的に移動させて洗浄を行うことも可能であ
る。また,基板を上記した本発明の実施の形態のように
ウェハに限定せずに,LCD基板,CD基板,プリント
基板,セラミック基板等であってもよい。
【0069】
【発明の効果】本発明によれば,基板洗浄具の下面から
洗浄液を安定して吐出させることができる。また,基板
の汚染や損傷を防止でき,かつ基板洗浄具を常に所定の
形状に保つことができる。従って,当初の接触圧力を維
持して基板を良好に洗浄できる。さらに基板洗浄具から
基板に供給される洗浄液中には,気泡が混入されること
がないので,洗浄不良を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態にかかる基板洗浄装置を備
えた洗浄装置の斜視図である。
【図2】本発明の実施の形態にかかる基板洗浄装置の平
面図である。
【図3】本発明の実施の形態にかかる基板洗浄装置の縦
断面図である。
【図4】スクラブ洗浄機の縦断面図である。
【図5】ロッド,下部部材,取付具,洗浄ブラシの縦断
面図である。
【図6】純水供給路の管路図である。
【図7】純水供給路から純水が供給され,下部部材の流
路内の液面の高さが上昇している様子を示す説明図であ
る。
【図8】純水供給路から純水が供給され,下部部材の流
路内の液面の高さが純水供給路の開口位置まで上昇した
様子を示す説明図である。
【図9】純水供給路から純水が供給され,下部部材の流
路内の液面の高さが下部部材の流路の天井まで上昇した
様子を示す説明図である。
【図10】取付具の一部及び洗浄ブラシを拡大して示し
た縦断面図である。
【図11】芯材の下面の説明図である。
【図12】コントローラにより,膜厚の厚さ(洗浄ブラ
シとウェハの距離)が制御される様子を示す説明図であ
る。
【図13】純水供給路の変形例を示す管路図である。
【図14】洗浄ブラシの変形例を示す縦断面図である。
【符号の説明】
1 洗浄システム 7 基板洗浄装置 24 洗浄ブラシ 30 エアベアリングシリンダ 31 ロッド 32 下部部材 33 取付具 35 純水供給路 36,37,61,66 流路 38 エア排気路 51 超音波振動機構 60 本体 62 芯材 63 樹脂シート 65 平面部 68 遮蔽シート 69 クランプリング 70 液膜 W ウェハ

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を洗浄する洗浄具であって,洗浄液
    を基板に供給するための洗浄液供給路と,前記洗浄液供
    給路から洗浄液が供給される透水性の芯材とを備え,前
    記芯材は,芯材内に設けられた前記洗浄液供給路から供
    給される洗浄液を芯材の下面に流す流路と,芯材の側面
    への洗浄液の漏水を防止する遮蔽シートを備え,前記芯
    材には透水性の多孔質膜が被覆されていることを特徴と
    する,基板洗浄具。
  2. 【請求項2】 基板を洗浄する洗浄具であって,洗浄液
    を基板に供給するための洗浄液供給路と,前記洗浄液供
    給路から洗浄液が供給される透水性の芯材とを備え,前
    記芯材は,芯材内に設けられた前記洗浄液供給路から供
    給される洗浄液を芯材の下面に流す流路を備え,前記芯
    材の下面に,純水を吐出させる複数の吐出口を下面中央
    部から下面周辺部に渡って放射状に配置し,これら複数
    の吐出口の各々に通じるように前記芯材の流路を複数の
    流路に分岐させ,前記芯材には透水性の多孔質膜が被覆
    されていることを特徴とする,基板洗浄具。
  3. 【請求項3】 基板を洗浄する洗浄具であって,洗浄液
    を基板に供給するための洗浄液供給路と,前記洗浄液供
    給路から洗浄液が供給される透水性の芯材とを備え,前
    記芯材は,芯材内に設けられた前記洗浄液供給路から供
    給される洗浄液を芯材の下面に流す流路を備え,前記芯
    材の流路に対して前記芯材の流路内のエアを排気するエ
    ア排気路が接続され,前記芯材には透水性の多孔質膜が
    被覆されていることを特徴とする,基板洗浄具。
  4. 【請求項4】 前記芯材の下面に平面部が形成され,該
    平面部に前記多孔質膜が被覆されていることを特徴とす
    る,請求項1,2又は3のいずれかに記載の基板洗浄
    具。
  5. 【請求項5】 前記芯材の側面への洗浄液の漏水を防止
    する遮蔽シートを備えていることを特徴とする,請求項
    2又は3に記載の基板洗浄具。
  6. 【請求項6】 前記芯材の下面に,純水を吐出させる複
    数の吐出口を下面中央部から下面周辺部に渡って放射状
    に配置し,これら複数の吐出口の各々に通じるように前
    記芯材の流路を複数の流路に分岐させたことを特徴とす
    る,請求項1又は3に記載の基板洗浄具。
  7. 【請求項7】 前記芯材を本体に取り付けたことを特徴
    とする,請求項1,2,3,4,5又は6のいずれかに
    記載の基板洗浄具。
  8. 【請求項8】 前記本体に対して前記芯材を脱着自在に
    取り付けたことを特徴する,請求項7に記載の基板洗浄
    具。
  9. 【請求項9】 前記多孔質膜を締め付け部材を用いて前
    記本体に取り付けたことを特徴とする,請求項7又は8
    に記載の基板洗浄具。
  10. 【請求項10】 前記芯材は,微細な孔を多数有する樹
    脂であることを特徴とする,請求項1,2,3,4,
    5,6,7,8又は9のいずれかに記載の基板洗浄具。
  11. 【請求項11】 前記芯材に対して前記多孔質膜を固着
    させたことを特徴とする,請求項1,2,3,4,5,
    6,7,8,9又は10のいずれかに記載の基板洗浄
    具。
  12. 【請求項12】 前記多孔質膜は,親水性の樹脂である
    ことを特徴とする,請求項1,2,3,4,5,6,
    7,8,9,10又は11のいずれかに記載の基板洗浄
    具。
  13. 【請求項13】 前記多孔質膜は,撥水性の樹脂である
    ことを特徴とする,請求項1,2,3,4,5,6,
    7,8,9,10又は11のいずれかに記載の基板洗浄
    具。
  14. 【請求項14】 基板を洗浄する装置であって,請求項
    1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11,1
    2又は13のいずれかに記載の基板洗浄具と,前記基板
    洗浄具を支持する支持部材と,前記支持部材を介して前
    記基板洗浄具を押圧する押圧軸に対して推力を付与する
    駆動部とを備え,前記支持部材に前記洗浄液供給路は接
    続され,前記支持部材内に,前記洗浄液供給路から供給
    される洗浄液を前記芯材内に流す流路が設けられている
    ことを特徴とする,基板洗浄装置。
  15. 【請求項15】 前記支持部材に,前記支持部材の流路
    内のエアを排気するエア排気路が接続されていることを
    特徴とする,請求項14に記載の基板洗浄装置。
  16. 【請求項16】 前記支持部材の流路に,該支持部材の
    流路内の液面の高さが前記洗浄液供給路の開口位置に到
    達したことを検出する液面センサと,該支持部材の流路
    内の液面の高さが該支持部材の流路の天井に到達したこ
    とを検出すると共に,該支持部材の流路内にエアが溜ま
    っているか否かを検出する泡センサが設けられ,前記液
    面センサから出力される検出信号と前記泡センサから出
    力される検出信号に基づいて前記エア排気路に設けられ
    た開閉弁を制御する制御部を備えていることを特徴とす
    る,請求項15に記載の基板洗浄装置。
  17. 【請求項17】 前記支持部材の流路を通る洗浄液に超
    音波を発振させて振動させる超音波発振機構を備えてい
    ることを特徴とする,請求項14,15又は16のいず
    れかに記載の基板洗浄装置。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005191511A (ja) * 2003-12-02 2005-07-14 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
WO2007032414A1 (en) * 2005-09-15 2007-03-22 Ebara Corporation Cleaning member, substrate cleaning apparatus and substrate processing apparatus
JP2011031508A (ja) * 2009-08-03 2011-02-17 Kyokuei Kenma Co Ltd 硬脆材料の研削方法
JP2011142300A (ja) * 2009-12-09 2011-07-21 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置、基板処理方法及びこの基板処理方法を実行させるためのプログラムを記録した記録媒体
JP2012250232A (ja) * 2011-05-31 2012-12-20 Semes Co Ltd 基板処理設備及び基板処理方法
KR101522765B1 (ko) * 2012-12-07 2015-05-26 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 웨이퍼 세정
WO2016067405A1 (ja) * 2014-10-30 2016-05-06 本多電子株式会社 超音波流水式洗浄機
US20190228991A1 (en) * 2018-01-25 2019-07-25 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate cleaning brush and substrate cleaning apparatus
US10821483B2 (en) 2016-09-21 2020-11-03 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate treatment apparatus
CN116078733A (zh) * 2023-02-10 2023-05-09 中环领先半导体材料有限公司 一种新型的防止硅片烧结的喷淋装置

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005191511A (ja) * 2003-12-02 2005-07-14 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
WO2007032414A1 (en) * 2005-09-15 2007-03-22 Ebara Corporation Cleaning member, substrate cleaning apparatus and substrate processing apparatus
JP2008541413A (ja) * 2005-09-15 2008-11-20 株式会社荏原製作所 洗浄部材、基板洗浄装置、基板処理装置
TWI452616B (zh) * 2005-09-15 2014-09-11 Ebara Corp 洗淨構件、基板洗淨裝置及基板處理裝置
JP2011031508A (ja) * 2009-08-03 2011-02-17 Kyokuei Kenma Co Ltd 硬脆材料の研削方法
JP2011142300A (ja) * 2009-12-09 2011-07-21 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置、基板処理方法及びこの基板処理方法を実行させるためのプログラムを記録した記録媒体
US9153464B2 (en) 2011-05-31 2015-10-06 Semes Co., Ltd. Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP2012250232A (ja) * 2011-05-31 2012-12-20 Semes Co Ltd 基板処理設備及び基板処理方法
US9781994B2 (en) 2012-12-07 2017-10-10 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited Wafer cleaning
KR101522765B1 (ko) * 2012-12-07 2015-05-26 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 웨이퍼 세정
WO2016067405A1 (ja) * 2014-10-30 2016-05-06 本多電子株式会社 超音波流水式洗浄機
US10821483B2 (en) 2016-09-21 2020-11-03 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate treatment apparatus
US20190228991A1 (en) * 2018-01-25 2019-07-25 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate cleaning brush and substrate cleaning apparatus
JP2019129248A (ja) * 2018-01-25 2019-08-01 株式会社Screenホールディングス 基板洗浄ブラシおよび基板洗浄装置
CN110076105A (zh) * 2018-01-25 2019-08-02 株式会社斯库林集团 基板清洗刷以及基板清洗装置
KR20190090686A (ko) * 2018-01-25 2019-08-02 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 세정 브러시 및 기판 세정 장치
US10892174B2 (en) 2018-01-25 2021-01-12 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate cleaning brush and substrate cleaning apparatus
KR102219420B1 (ko) * 2018-01-25 2021-02-23 가부시키가이샤 스크린 홀딩스 기판 세정 브러시 및 기판 세정 장치
JP7091076B2 (ja) 2018-01-25 2022-06-27 株式会社Screenホールディングス 基板洗浄ブラシおよび基板洗浄装置
CN116078733A (zh) * 2023-02-10 2023-05-09 中环领先半导体材料有限公司 一种新型的防止硅片烧结的喷淋装置

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