JP2002184812A - 電子部品装置 - Google Patents

電子部品装置

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JP2002184812A
JP2002184812A JP2000381624A JP2000381624A JP2002184812A JP 2002184812 A JP2002184812 A JP 2002184812A JP 2000381624 A JP2000381624 A JP 2000381624A JP 2000381624 A JP2000381624 A JP 2000381624A JP 2002184812 A JP2002184812 A JP 2002184812A
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    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation

Abstract

(57)【要約】 【課題】超音波振動による配線の歪み量のばらつきを抑
え、すべての配線でほぼ均等な接合状態を得ることがで
きる電子部品装置を提供する。 【解決手段】電子部品20の電極と基板10Aの配線1
1〜14とをバンプ15を介して超音波振動を用いて一
括して接合する。超音波振動による各配線11〜14の
歪み量がほぼ同一になるように、超音波振動の方向Xと
のなす角度θが大きい方の配線13,14の接続部13
aを角度θが小さい方の配線11,12の接続部11
a,12aより幅広に形成した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子部品を基板上に
バンプを介して実装してなる電子部品装置、特にフリッ
プチップボンディング方法を用いて実装した電子部品装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体チップの電極部に形成され
たバンプと、加熱ステージ上に配置された基板の配線パ
ターンとを位置合わせし、チップの裏面にツールを介し
て圧力と超音波とを付加し、バンプと基板の配線パター
ンとを接合するフリップチップボンディング方法が提案
されている(特開昭63−288031号公報)。
【0003】図1は電子部品装置の一例を示し、図2は
その接合方法、図3は基板を示している。1は基板、2
a,2bは配線、3はバンプ、4は電子部品である。基
板1には、配線2a,配線2bが縦横に形成され、バン
プ3はこれら配線2a,2bの内側端部に予め形成され
ている。ボンディングツール5で電子部品4の上面を押
圧し、かつ水平方向Xの超音波振動を与えることで、バ
ンプ3を電子部品4の電極部に接合する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、電子部
品4の電極部と基板1の配線パターンとを一括して接合
する関係で、どうしても超音波振動の方向Xに対して直
交方向に延びる配線2aと平行に延びる配線2bとが生
じてしまう。特に、超音波振動の方向Xと直交方向に設
けられた配線2aでは、超音波振動による配線2aの歪
みが大きく、平行な配線2bと比較して接合が不完全に
なるという欠点があった。
【0005】図4の(a)は超音波振動の方向Xと直交
方向に設けられた配線2aに対して電子部品4を接合す
る状態を示し、(b)は超音波振動の方向Xと平行に設
けられた配線2bに対して電子部品4を接合する状態を
示す。図4において、6は電子部品4の電極部である。
【0006】直交方向に設けられた配線2aでは、超音
波振動の方向Xに対する剛性が低いため、平行に設けら
れた配線2bに比較して、配線2aの歪み量δが大き
く、接合が不完全になる。上記のように配線の方向によ
って接合性にばらつきがあると、早く接合する配線(ま
たは電極)とそうでない配線(または電極)とが混在し
てしまい、歪み量の大きな配線2aが完全に接合するよ
うに超音波印加時間を長くした場合、早く接合した配線
(または電極)2bからクラックが発生し始めるという
問題があった。
【0007】そこで、本発明の目的は、超音波振動によ
る配線の歪み量のばらつきを抑え、すべての配線でほぼ
均等な接合状態を得ることができる電子部品装置を提供
することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1に記載の発明は、基板上に互いに異なる方
向に形成された複数の配線に対し、電子部品の複数の電
極をバンプを介して超音波振動を用いて一括して接合し
てなる電子部品装置において、上記超音波振動による上
記配線の歪み量がほぼ同一になるように、上記配線の形
状が設定されていることを特徴とする電子部品装置を提
供する。
【0009】例えば直交方向に延びる複数の配線上(ま
たは電子部品の電極上)にバンプを形成しておき、この
バンプを対面する電極(または配線)に対して超音波振
動を利用して接合する。この場合、超音波振動の方向と
のなす角度θが大きい配線と、角度θが小さい配線とが
生じるが、本発明では超音波振動による配線の歪み量が
ほぼ同一になるように配線の形状を設定したので、超音
波の伝達効率もほぼ均等になり、全ての配線においてほ
ぼ均等な接合状態を得ることができる。そのため、不完
全接合やクラックの発生を防止できる。
【0010】超音波振動による配線の歪み量をほぼ同一
にするため、請求項2のように、基板に超音波振動の方
向とのなす角度θが異なる複数の配線を形成し、上記角
度θが大きい方の配線を角度θが小さい方の配線より幅
広に形成するのがよい。つまり、超音波振動の方向との
角度θが大きい配線ほど、超音波振動による歪みが大き
くなるので、角度θが大きい配線を幅広とすることで、
歪み量を少なくし、全ての配線における接合性を均一化
することができる。
【0011】請求項3のように、基板の少なくとも1本
の配線を、電子部品の電極と接続される部位の近傍でL
字形に屈曲させ、このL字形配線の電子部品の電極と接
続される部位の幅D3を、超音波振動の方向とのなす角
度θが45°以上の配線の幅D2より狭くしてもよい。
すなわち、電子部品との接続部近傍でL字形に屈曲する
配線とした場合には、配線の接続部の長さが短いので、
超音波振動の方向とのなす角度θが45°以上の配線に
比べて超音波振動による歪みが相対的に小さい。そこ
で、L字形配線の接続部の幅D3を、超音波振動に対す
る剛性の低い45°以上の配線の幅D2より狭くするこ
とで、歪み量をほぼ同一に近づけることができる。
【0012】請求項4のように、基板の少なくとも1本
の配線をL字形に屈曲させ、このL字形配線の電子部品
の電極と接続される部位の長さLを超音波振動が波及す
る範囲より長く設定してもよい。すなわち、請求項4で
は、歪み量を同一にするための手段として、接続部の幅
寸法を調整する方法に代えて、長さ寸法を調整する方法
を用いている。つまり、電子部品との接合部近傍でL字
形に屈曲するのではなく、接続部を超音波振動が波及す
る範囲より長く設定することで、他の接合部と同様な剛
性を持つようにしたものである。
【0013】請求項5のように、基板に、超音波振動の
方向とのなす角度θが45°以上の配線と45°未満の
配線とを形成し、角度θが45°未満の配線の電子部品
の電極と接続される部位の近傍部に、角度θが変化する
屈曲部あるいは湾曲部を形成するのが望ましい。すなわ
ち、角度θが45°未満の配線は45°以上の配線に比
べて超音波振動に対する剛性が高いので、剛性の高い4
5°未満の配線の接続部近傍に屈曲部あるいは湾曲部を
形成することで、接続部近傍の剛性を低くしてある。そ
のため、歪み量の均一化を図り、接合状態をほぼ均一に
できる。
【0014】請求項6のように、基板に互いに直交方向
に延びる複数の配線を形成し、これら配線の電子部品の
電極と接続される部位の近傍部に、45°ずつ複数箇所
で屈曲した部分を形成してもよい。すなわち、配線の幅
を変更せず、配線の接続部の近傍部位を45°ずつ複数
箇所で屈曲させれば、超音波振動の方向に関係なく、全
ての配線の歪み量を均一化させることが可能である。こ
の場合には、配線の幅およびピッチをほぼ均一にできる
ので、電気的特性が変化せず、基板が大型化しないで済
むという利点がある。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明にかかる電子部品装置の第
1実施例を図5〜図8を用いて説明する。図5は電子部
品装置の平面図、図6は電子部品装置の側面図、図7は
基板の平面図、図8は基板の部分拡大図である。
【0016】基板10Aは、ガラスエポキシ樹脂、BT
レジンなどの樹脂基板、アルミナなどのセラミック基
板、さらにはシリコンなどの結晶基板であり、この基板
10A上に互いに直交方向に延びる複数の配線11〜1
4が形成されている。ここで、基板10Aの形状は特に
限定されない。配線11〜14は、薄膜形成法あるいは
厚膜形成法により形成され、その厚みは数μm〜数十μ
mとするのが望ましいが、この限りではない。また、配
線11〜14の接続部11a〜14a以外の部分は、レ
ジスト等の絶縁物で覆われていてもよい。
【0017】配線11〜14の内側端部に設けられた接
続部11a〜14aには、めっき法、ワイヤボンディン
グ法などを用いてバンプ15が形成されている。これら
バンプ15は、Au,Ag,Pd,Cuを主成分とする
金属バンプや、はんだなどを用いることができる。
【0018】20は半導体チップなどの電子部品であ
り、その下面にはバンプ15に対応した位置に電極部
(図示せず)が形成されている。電子部品20の電極部
は、バンプ15に対して超音波振動を用いて一括して接
合されている。
【0019】図8に示すように、接続部11a,12a
は、超音波振動の方向Xに対して平行に近い方向(θ1
<45°)に形成された配線11,12に設けられてお
り、接続部13a,14aは超音波振動の方向Xに対し
て垂直に近い方向(θ2 >45°)に形成された配線1
3,14に設けられている。接続部を除く配線11〜1
4の幅D0はすべて同一に形成され、接続部11a,1
2aの幅をD1、接続部13a,14aの幅をD2とす
ると、超音波振動による接続部11a〜14aの歪み量
がほぼ同一になるように、次の関係に設定されている。 D0=D1<D2 上記のように設定する理由は、超音波振動とほぼ直交す
る配線13,14の接続部13a,14aは、ほぼ平行
な配線11,12の接続部11a,12aに比べて振動
方向Xに対する剛性が低いので、接続部13a,14a
の幅D2を接続部11a,12aの幅D1より広くし、
振動方向Xに対する剛性をほぼ等しくして超音波振動に
よる配線の歪み量をほぼ同一にしたものである。なお、
幅広に形成された接続部13a,14aの長さLは、ボ
ンディングツール30による超音波振動が波及する範囲
より長く設定されている。したがって、配線13,14
全体が接続部13a,14aと同様な幅D2で形成され
ていてもよい。
【0020】次に、電子部品20を配線11〜14上に
フリップチップボンディングする方法について、説明す
る。まず、基板10Aの配線11〜14の接続部11a
〜14aにバンプ15を形成する。次に、電子部品20
の上面をボンディングツール30によって吸着し、電子
部品20をピックアップして電極部とバンプ15とを高
精度に位置合わせする。次に、電子部品20の電極部と
バンプ15とを接触させ、ツール30を介して基板10
Aの表面に平行な方向Xとなるように超音波振動を与
え、電極部とバンプ15とを金属接合する。なお、接合
に際して、基板10Aと電子部品20との間に圧力を付
加したり、加熱してもよい。このとき、超音波振動Xに
対して各接続部11a〜14aの歪み量がほぼ等しくな
るように、幅D1,D2が設定されているので、接続部
11a〜14aに設けられたバンプ15の接合性のばら
つきが少なく、ほぼ均等な接合強度を得ることができ
る。したがって、不完全接合や電極部にクラック等が発
生するのを防止できる。上記のように接合した後、接合
信頼性を確保するため、電子部品20と基板10Aの線
膨張差を緩和し、かつ接合部を保護するための樹脂封止
を、電子部品20と基板10Aとの隙間に行ってもよ
い。なお、バンプ15は、基板10Aの配線11〜14
に形成する場合に限らず、電子部品20の電極上に形成
しておき、このバンプを基板の配線に対して接合しても
よい。
【0021】上記実施例では、配線11,12と振動方
向Xとのなす角度θ1 を0<θ1 <45°とし、配線1
3,14と振動方向Xとのなす角度θ2 を45°<θ2
<90°としたが、θ1 =0°、θ2 =90°としても
よい。この場合には、接続部の幅D1とD2との差をよ
り大きくすればよい。また、θ1 =θ2 =45°である
場合には、接続部の幅D1とD2をほぼ等しくすればよ
い。
【0022】図9は本発明にかかる基板の第2実施例を
示す。この実施例の基板10Bは、その表面に互いに直
交方向に延びる複数の配線11〜14が形成されてお
り、その内、一本の配線16が接続部近傍でL字形に折
れ曲がった形状に形成されている点を除いて、図7に示
す基板10Aと同様である。したがって、図7の基板1
0Aと同一部分には同一符号を付して重複説明を省略す
る。L字形の配線16の接続部16aの幅D3は、振動
方向Xとほぼ直角な配線13,14の接続部13a,1
4aの幅D2に比べて狭く設定されている。 D3<D2 L字形の配線16の場合、接続部16aの長さが短く、
しかも配線部16bの方向が振動方向Xに対してほぼ平
行であるため、配線部16bが接続部16aの歪みを抑
制する働きをし、接続部16aの幅D3が接続部13a
の幅D2より狭くても、接続部13aと同様な剛性を持
つことができるからである。
【0023】なお、接続部16aの幅D3を接続部11
aの幅D1より小さくすると、接続部16aの歪み量が
大きくなり過ぎるので、振動方向Xとほぼ平行な配線1
1,12の接続部11a,12aの幅D1に比べて広く
するのが望ましい。すなわち、次のような設定にするこ
とで、全ての接続部11a〜16aの歪み量をほぼ均等
にできる。 D1<D3<D2 なお、配線部16bの幅D4は、他の配線の幅D0と同
等であってもよいし、これより幅狭あるいは幅広であっ
てもよい。
【0024】図10は本発明にかかる基板の第3実施例
を示す。この実施例の基板10Cも、その表面に互いに
直交方向に延びる複数の配線11〜14が形成されてお
り、その内、一本の配線16が接続部近傍でL字形に折
れ曲がった形状に形成されている点を除いて、図7に示
す基板10Aと同様である。したがって、図7の基板1
0Aと同一部分には同一符号を付して重複説明を省略す
る。この実施例では、超音波振動の方向Xが配線11〜
14に対してほぼ45°の方向にある。したがって、接
続部11a〜14aは全て同一幅D5に設定されてい
る。また、L字形の配線16の接続部16aの幅D6は
他の配線の接続部11a〜14aに比べて幅狭に形成さ
れている。 D6<D5 その理由は、L字形配線16の接続部16aと配線部1
6bが直角方向に形成されているため、超音波振動に対
して最も変形しにくく(剛性が高く)、そのため、配線
16の接続部16aが他の配線の接続部より歪み量が少
なくなる。したがって、歪み量をほぼ均等にするため、
接続部16aの幅D6を他の接続部より幅狭としたもの
である。なお、この実施例では、配線11〜14の接続
部11a〜14aを他の部分に比べて幅広としたが、同
一幅としてもよいことは勿論である。
【0025】図11は本発明にかかる基板の第4実施例
を示す。この実施例の基板10Dも、その表面に互いに
直交方向に延びる複数の配線11〜14が形成されてお
り、その内、一本の配線16が接続部近傍でL字形に折
れ曲がった形状に形成されている点を除いて、図7に示
す基板10Aと同様である。この実施例では、超音波振
動の方向Xが配線11〜14に対してほぼ45°の方向
にある。したがって、接続部11a〜14a,16aは
全て同一幅D7に設定されている。この場合、接続部1
1a〜14a,16aの歪み量がほぼ同一になるよう
に、接続部16aの長さLは、ボンディングツール30
による超音波振動が波及する範囲より長く設定されてい
る。その理由は、L字形配線16の接続部16aと配線
部16bが直角方向に形成されているため、電子部品と
の接合部近傍でL字形に屈曲すると超音波振動に対して
最も変形しにくく(剛性が高く)、そのため配線16の
接続部16aが他の配線の接続部より歪み量が小さくな
る。したがって、接続部16aの長さLを超音波振動の
波及する範囲より長く設定することにより、他の接合部
と同様な剛性を持つことができるからである。
【0026】図12は本発明にかかる配線形状の第5実
施例を示す。この実施例では、超音波振動による配線1
1,13の接続部11a,13aの歪み量をほぼ同一に
するため、歪み量が小さい接続部11aの側部に矩形の
凹部11bを形成し、歪み量が大きい接続部13aの側
部に矩形の凸部13bを形成したものである。また、L
字形に折れ曲がった配線16の接続部16aは、歪み量
が接続部11aに比べて大きいが、接続部13aに比べ
て小さいので、少ない数または小さな凸部16cを形成
したものである。
【0027】図13は本発明にかかる配線形状の第6実
施例を示す。この実施例では、図12と同様に、超音波
振動による配線11,13の接続部11a,13aの歪
み量をほぼ同一にするため、歪み量が小さい接続部11
aの側部にはV字形の凹部11bを形成し、歪み量が大
きい接続部13aの側部には山形あるいは半円状の凸部
13bを形成したものである。歪み量に応じて、凹部1
1bや凸部13bの形状、大きさ、数を任意に変更でき
る。
【0028】図14は本発明にかかる配線形状の第7実
施例を示す。この実施例では、超音波振動による配線1
1,13の接続部11a,13aの歪み量をほぼ同一に
するため、歪み量が小さい接続部11aをV字形に屈曲
させたものである。すなわち、接続部11aを屈曲させ
ることで、振動方向Xに対して角度を持つ部分11a1
を形成し、この部分11a1 で歪み量を大きくすること
で、接続部13aの歪み量とほぼ均等化させたものであ
る。
【0029】図15は本発明にかかる配線形状の第8実
施例を示す。この実施例も第6実施例と同様に、超音波
振動による配線11,13の接続部11a,13aの歪
み量をほぼ同一にするため、歪み量が小さい接続部11
aをアーチ状に湾曲させたものである。すなわち、接続
部11aを湾曲させることで、振動方向Xに対して角度
を持つ部分11a2 を形成し、この部分11a2 で歪み
量を大きくすることで、接続部13aの歪み量とほぼ均
等化させたものである。
【0030】図16は本発明にかかる基板の第9実施例
を示す。この実施例の基板10Eは、配線11〜14お
よび接続部11a〜14aの幅を同一とし、接続部11
a〜14aに45°ずつ屈曲した複数の部分11a3
14a3 を形成したものである。これら屈曲部11a3
〜14a3 は同一形状に形成されている。この場合に
は、超音波振動の方向がいかなる方向であっても、全て
の接続部11a〜14aで歪み量がほぼ同一になるの
で、超音波振動の方向の選択性が向上する。また、歪み
量がほぼ同一になるように、格別な配線設計を必要とし
ない。なお、屈曲部11a3 〜14a3 に代えてアーチ
部としてもよい。
【0031】第5実施例〜第9実施例の場合には、配線
11,13の幅寸法を一定にし、接続部に凸部や凹部を
設けたり、屈曲あるいは湾曲させることで、歪み量をほ
ぼ均等にしているので、配線間や接続部間のピッチを変
更する必要がない。したがって、電子部品装置が大型化
することがないという利点がある。
【0032】本発明は上記実施例に限定されるものでは
ない。本発明において、超音波振動の方向Xは一方向の
みに限ることなく、ある程度の角度範囲でひねるような
回転振動であってもよい。また、振動方向や周波数の異
なる振動が合成されたものでもよい。基板の材質は特に
問わないが、樹脂基板を用い、かつ超音波振動を併用し
た熱圧着により接合する場合に、本発明は効果的であ
る。なぜなら、樹脂基板の場合、超音波振動を併用した
熱圧着を行うと、基板が変形するので、配線の歪み量が
大きくなるからである。本発明の電子部品装置は、電子
部品素子として半導体チップを用いたものに限らず、抵
抗素子、コンデンサ、圧電部品など如何なるチップ部品
のフェースダウン実装にも適用可能である。
【0033】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、請求項1
に記載の発明によれば、基板上に互いに異なる方向に形
成された複数の配線に対し、電子部品の複数の電極をバ
ンプを介して超音波振動を用いて一括して接合する場合
に、超音波振動による配線の歪み量がほぼ同一になるよ
うに配線の形状を設定したので、超音波の伝達効率がほ
ぼ均等になり、全ての配線においてほぼ均等な接合状態
を得ることができる。そのため、不完全接合やクラック
の発生を防止でき、信頼性の高い電子部品装置を得るこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】一般的な電子部品装置の構成を示す斜視図であ
る。
【図2】図1の電子部品装置を接合する方法を示す斜視
図である。
【図3】図1の電子部品装置に用いられる基板の斜視図
である。
【図4】図1の電子部品装置において、超音波振動を与
えた時の拡大図である。
【図5】本発明にかかる電子部品装置の一例の平面図で
ある。
【図6】図5に示す電子部品装置の接合時の側面図であ
る。
【図7】図5に示す電子部品装置に用いられる基板の平
面図である。
【図8】図7に示す基板の部分拡大図である。
【図9】本発明にかかる基板の第2実施例の平面図であ
る。
【図10】本発明にかかる基板の第3実施例の平面図で
ある。
【図11】本発明にかかる基板の第4実施例の平面図で
ある。
【図12】本発明にかかる配線形状の第5実施例の平面
図である。
【図13】本発明にかかる配線形状の第6実施例の平面
図である。
【図14】本発明にかかる配線形状の第7実施例の平面
図である。
【図15】本発明にかかる配線形状の第8実施例の平面
図である。
【図16】本発明にかかる基板の第9実施例の平面図で
ある。
【符号の説明】
10A,10B,10C,10D 基板 11〜14,16 配線 15 バンプ 20 電子部品 30 ボンディングツール

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に互いに異なる方向に形成された複
    数の配線に対し、電子部品の複数の電極をバンプを介し
    て超音波振動を用いて一括して接合してなる電子部品装
    置において、上記超音波振動による上記配線の歪み量が
    ほぼ同一になるように、上記配線の形状が設定されてい
    ることを特徴とする電子部品装置。
  2. 【請求項2】上記基板に上記超音波振動の方向とのなす
    角度θが異なる複数の配線を形成し、上記角度θが大き
    い方の配線を角度θが小さい方の配線より幅広に形成し
    たことを特徴とする請求項1に記載の電子部品装置。
  3. 【請求項3】上記基板の少なくとも1本の配線を、電子
    部品の電極と接続される部位の近傍でL字形に屈曲さ
    せ、上記L字形配線の電子部品の電極と接続される部位
    の幅D3を、超音波振動の方向とのなす角度θが45°
    以上の配線の幅D2より狭くしたことを特徴とする請求
    項1に記載の電子部品装置。
  4. 【請求項4】上記基板の少なくとも1本の配線をL字形
    に屈曲させ、このL字形配線の電子部品の電極と接続さ
    れる部位の長さLを超音波振動が波及する範囲より長く
    設定したことを特徴とする請求項1に記載の電子部品装
    置。
  5. 【請求項5】上記基板に、上記超音波振動の方向とのな
    す角度θが45°以上の配線と45°未満の配線とを形
    成し、上記角度θが45°未満の配線の電子部品の電極
    と接続される部位の近傍部に、上記角度θが変化する屈
    曲部あるいは湾曲部を形成したことを特徴とする請求項
    1に記載の電子部品装置。
  6. 【請求項6】上記基板に互いに直交方向に延びる複数の
    配線を形成し、これら配線の電子部品の電極と接続され
    る部位の近傍部に、45°ずつ複数箇所で屈曲した部分
    を形成したことを特徴とする請求項1に記載の電子部品
    装置。
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