JP2002171143A - 高周波用電力増幅器 - Google Patents

高周波用電力増幅器

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JP2002171143A JP2000365425A JP2000365425A JP2002171143A JP 2002171143 A JP2002171143 A JP 2002171143A JP 2000365425 A JP2000365425 A JP 2000365425A JP 2000365425 A JP2000365425 A JP 2000365425A JP 2002171143 A JP2002171143 A JP 2002171143A
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智之 浅田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 バイアス回路への信号電力の漏れ電力が小さ
く、安価な構成の高周波電力増幅器を提供する。 【解決手段】 増幅用のバイポーラトランジスタ20と
バイアス回路26とこのバイアス回路26に接続された
バイアス回路出力端子32とバイポーラトランジスタ2
0に接続されたベース電極接続端子34とを半絶縁性G
aAs基板18上に配置し、バイアス回路出力端子32
とベース電極接続端子34との間にチップインダクタ1
6を接続するとともに、半絶縁性GaAs基板18とチ
ップインダクタ16とを実装基板12上に併設したもの
である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、高周波用電力増
幅器に関するもので、特にバイポーラトランジスタを用
いた高周波用電力増幅器の安定性の改善に関する。
【0002】
【従来の技術】最近の携帯端末機、例えば携帯電話の普
及においては、小型軽量化が開発の重要なポイントとな
っており、高出力の高周波電力増幅器がキーパーツにな
ってきている。ヘテロ接合バイポーラトランジスタ(He
terojunction bipolor transistor、以下HBTとい
う) は高い電流利得βを有し、エミッタをAlGaA
sで、ベースをGaAsで構成したGaAs系のHBT
ではその高速性と合わせて、携帯電話の高出力の高周波
電力増幅器に多く用いられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】図5は従来の高周波電
力増幅器の回路図である。図5において、100は高周
波電力増幅器、102は実装基板、104はMMICチ
ップ、106は高周波電力増幅用のHBT、108はH
BT106に対する入力側整合回路、110はHBT1
06に対する出力側整合回路、112はHBT106へ
印加されるベース電位を制御するためのバイアス回路、
114はバイアス回路112のアイソレート用抵抗、1
16は高周波電力の信号入力端子、118は高周波電力
の信号出力端子、120は出力制御入力端子、122及
び124は直流電圧電位の電源端子、126は接地端子
である。
【0004】信号入力端子116に入力された高周波の
信号電力は入力側整合回路108を経てHBT106で
増幅され、出力側整合回路110を経て信号出力端子1
18から出力される。このときHBT106のベース電
極には出力制御入力端子120から入力された制御信号
により制御されたバイアス回路112から所定の電圧の
ベース電流が供給される。このバイアス回路112とH
BT106のベース電極との間には、アイソレート用抵
抗114が設けられており、信号電力の一部がバイアス
回路112へ漏れる漏れ電力の回り込みを抑制してい
る。バイアス回路112へ漏れ電力の回り込みが起きる
と、バイアス回路が不安定になり、電力増幅器の安定性
が低下し、不要発振による過電流が流れ、信頼性が劣化
する場合がある。
【0005】増幅器が高出力化されるに伴ってHBT1
06に入力される信号電力も大きくなり、漏れ電力も大
きくなるのでこれを抑制するため、アイソレート用抵抗
114の抵抗値R1を大きくする必要に迫られる。一
方、HBT106のベース電極に供給されるベース電流
Ibは所定の電流値が必要で、また所望のベース電位V2
が必要である。しかしながら、漏れ電力を抑制するため
アイソレート用抵抗114の抵抗値R1を大きくする
と、次式で示されるように、ベース電極に印加される電
位V2が低下する。
【0006】すなわち、V2=V1−Ib×R1 となる。
ここでV1はバイアス回路112の出力電圧、またベー
ス電流Ibは一定である。このため場合によっては所望
のベース電位V2を印加できなくなるということが起き
る。この対策としてアイソレート用抵抗114に変えて
所望の周波数帯域で高インピーダンス特性が得られるイ
ンダクタをMMICチップ104上に形成すると、HB
T106のベースに印加される電位V2を低下させずに
信号電力のバイアス回路112への漏れ電力量を抑制す
ることは可能となるが、MMICチップのチップサイズ
が大きくなり、MMICチップ104のチップコストが
増加するという問題点があった。
【0007】この発明はこのような問題点を解消するた
めになされたもので、この発明の第1の目的は、信号電
力のバイアス回路への漏れ電力が小さく、安定性が高く
安価な高周波電力増幅器を提供することである。なお、
特開平11−274867号公報および特開平10−3
22145号公報に、増幅用トランジスタとして、FE
Tを使用し、FETのゲートバイアス抵抗器が用いられ
た記載があるが、本発明はバイポーラトランジスタに関
するもので、構成を異にする。
【0008】また、三菱電機技報・VOl74・No.
6・2000・p43(401)〜p46(404)に
デュアルバンドHBT MMIC増幅器の記載がある
が、以下に述べる本発明の記載はない。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明に係る高周波用
電力増幅器は、半絶縁性半導体基板と、この半導体基板
上に配設され、入力整合回路を介して信号が入力される
ベース電極と増幅された信号を出力整合回路に出力する
コレクタ電極とを有する第1のバイポーラトランジスタ
と、半導体基板上に配設され、第1のバイポーラトラン
ジスタにベース電流を供給するバイアス回路と、半導体
基板上に配設され、バイアス回路の出力端に接続された
第1の端子と、半導体基板上に配設され、第1のバイポ
ーラトランジスタのベース電極に接続された第2の端子
と、第1、第2の端子の間に接続されたリアクタンス要
素と、このリアクタンス要素と半導体基板とが配設され
た実装基板と、を備えたもので、この構成により半絶縁
性半導体基板の面積を大きくすることなく、信号電力の
バイアス回路への漏れ電力を小さくすることができ、こ
のためバイアス回路が安定して動作する。
【0010】さらに、増幅された出力信号が第1のバイ
ポーラトランジスタの入力整合回路に入力される第2の
バイポーラトランジスタをさらに備えたもので、多段増
幅器における後段側の第1のバイポーラトランジスタに
おいて、半絶縁性半導体基板の面積を大きくすることな
く、信号電力のバイアス回路への漏れ電力を小さくする
ことが出来る。
【0011】さらに、リアクタンス要素をチップインダ
クタとしたもので、インダクタ値の調整が簡単で実装面
積が小さくなる。
【0012】またさらに、リアクタンス要素をマイクロ
ストリップ線路としたもので、パターンを実装基板上で
形成でき部品点数が少なくなる。
【0013】
【発明の実施の形態】実施の形態1.この実施の形態1
は、増幅用のバイポーラトランジスタとバイアス回路と
このバイアス回路の出力端に接続されたバイアス回路出
力端子と増幅用のバイポーラトランジスタのベース電極
に接続されたベース電極接続端子とを半絶縁性GaAs
基板上に配置し、バイアス回路出力端子とベース電極接
続端子との間にチップインダクタを接続するとともに、
半絶縁性GaAs基板とチップインダクタとを実装基板
上に併設したものである。
【0014】図1はこの実施の形態1に係る高周波用電
力増幅器の回路図である。図1において、10は高周波
用電力増幅器、12はセラミックやガラスエポキシの実
装基板、14はMMICチップ、16はリアクタンス要
素としてのチップインダクタ、でMMICチップ14と
チップインダクタ16は実装基板12上に接着されて併
置されている。
【0015】18はMMICチップ14の基板である半
絶縁性のGaAs基板、20はこのGaAs基板18上
に形成された第1のバイポーラトランジスタとしての高
周波電力増幅用のHBTで、エミッタをAlGaAs
で、ベースをGaAsで構成したGaAs系のHBTで
ある。22はGaAs基板18上に形成されたHBT2
0に対する入力側整合回路でHBT20のベース電極と
接続され、24はHBT20に対する出力側整合回路で
HBT20のコレクタと接続されている。26はHBT
20へ印加されるベース電位を制御するためのバイアス
回路である。
【0016】図2はバイアス回路の一例を示す回路図で
ある。図2において、26a及び26bは抵抗分割によ
ってバイアス回路の出力端26cの出力電圧V1を定
め、オン・オフを行うバイポーラトランジスタ、26d
は電源端、26eは制御端、26fは抵抗である。図1
に戻って、28は高周波信号電力が入力される信号入力
端子で入力側整合回路22と接続され、30は高周波信
号電力が出力される信号出力端子で出力側整合回路と接
続されている。32は第1の端子としてのバイアス回路
出力端子でバイアス回路26の出力端26cと接続され
ている。34は第2の端子としてのベース電極接続端子
でHBT20のベース電極と接続されている。
【0017】36はボンディングワイヤで、ボンディン
グワイヤ36aはチップインダクタ16の一端とバイア
ス回路出力端子32とを接続し、ボンディングワイヤ3
6bはチップインダクタ16の他端とベース電極接続端
子34とを接続している。38は接地端子でこの接地端
子38はHBT20のエミッタ電極と接続されている。
40は出力制御入力端子でバイアス回路26の制御端2
6eに接続され、HBT20へ印加されるベース電流の
レベル調整とHBT20のオン・オフを制御する制御信
号が入力される。42,44は直流電圧電位Vcが印加
される電源端子で、電源端子42はバイアス回路26の
電源端26dと接続されている。
【0018】また電源端子44はHBT20のコレクタ
電極と接続されコレクタバイアスを印加する。信号入力
端子28に入力された高周波の信号電力は入力側整合回
路22を経てHBT20で増幅され、出力側整合回路2
4を経て信号出力端子30から出力される。このとき出
力制御入力端子40に入力された制御信号に制御され、
ベース電流が所定の電位でバイアス回路26からHBT
20のベース電極に供給される。このベース電流は、バ
イアス回路26の出力端からバイアス回路出力端子32
に接続され、バイアス回路出力端子32からボンディン
グワイヤ36aを経てチップインダクタ16の一端に接
続され、チップインダクタ16を介してその他端からボ
ンディングワイヤ36bを経てベース電極接続端子34
と接続され、さらにHBT20のベース電極に接続され
た経路を介して、HBT20のベース電極に供給されて
いる。
【0019】このベース電流が経由する回路には入力信
号の漏れ電力を抑制するためのアイソレート用抵抗は使
用されていない。アイソレート用抵抗に変えてチップイ
ンダクタ16が使用されている。それ故高周波の入力信
号電力の周波数が高くなり、また入力信号電力の電力量
が大きくなったとしても、チップインダクタ16に所望
の高周波の周波数帯域で高いインピーダンス特性を持た
せることができ、入力信号がバイアス回路26に回り込
む漏れ電力を抑制することができる。しかもチップイン
ダクタ16はHBT20のベース電極に印加されるベー
ス電位を低下させることはない。
【0020】そしてチップインダクタ16は、GaAs
基板18上には設けられず、MMICチップ14と併置
され、実装基板上に設けられているので、チップインダ
クタ16の平面積に関わらず、GaAs基板18の寸法
が大きくなることはない。例えば、従来のアイソレート
用抵抗を用いた場合のMMICチップのGaAs基板の
面積は0.8mm2である。この実施の形態1のように
チップインダクタ16を実装基板12上に設けMMIC
チップ14と併置した場合はMMICチップ14のGa
As基板18の寸法はやはり0.8mm2である。
【0021】今仮にMMICチップ上に例えばスパイラ
ルインダクタを形成するとして、この場合についてその
必要面積を計算する。例えばこの高周波電力増幅器を携
帯電話に用いるとして、入力信号の周波数を1GHz仮
定すると、HBT20とバイアス回路26のバイアスト
ランジスタ26a、26bとを高周波的に分離するため
に必要なインピーダンス値を30Ωとすると、インダク
タンス値は30nH(ナノヘンリー)となる。これをス
パイラルインダクタで構成した場合、MMICチップの
GaAs基板の寸法は2.5mm2となり、チップイン
ダクタ16を実装基板12上に設けたときのMMICチ
ップ14のGaAs基板18の寸法に比べて、約3倍必
要になる。
【0022】以上のように、この実施の形態1では、高
価なMMICチップのGaAs基板の基板面積を増加す
ることなしに、バイアス回路へ回り込む高周波信号の漏
れ電力量を有効に抑制することができ、バイアス回路の
動作の安定性を確保することができる。しかもチップイ
ンダクタを実装基板上にMMICチップと併置すること
により、MMICチップの高価なGaAs基板の基板面
積を増加することなく、安価に構成することができる。
従ってこの実施の形態1に架かる高周波用電力増幅器に
おいては、バイアス回路が安定して動作し安定性が高
く、安価で信頼性の高い高周波用電力増幅器を構成する
ことができる。
【0023】特にチップインダクタを使用する場合は、
インダクタ値の調整が部品交換で簡単に行うことができ
最適化が容易であり、また実装基板上における実装面積
を小さくできるので、小型化に適している。
【0024】変形例 図3はこの実施の形態1の変形例である高周波用電力増
幅器の回路図である。この変形例は、先の高周波用電力
増幅器10におけるチップインダクタ16に変えて、マ
イクロストリップ線路を用いた場合である。図3におい
て50は高周波用電力増幅器、52はリアクタンス要素
としてのマイクロストリップ線路である。
【0025】この変形例の高周波用電力増幅器50にお
いても高周波用電力増幅器10と同様に動作し、高価な
MMICチップのGaAs基板の必要面積を増加するこ
となしに、バイアス回路へ回り込む高周波信号の漏れ電
力量を少なくできる。このためバイアス回路が安定して
動作し、安価で信頼性の高い高周波用電力増幅器を構成
することができる。特にマイクロストリップ線路にする
ことにより、パターンを実装基板12上で形成できるた
め、部品点数が少なくなる。
【0026】実施の形態2.実施の形態2は多段構成の
高周波用電力増幅器の入力信号電力が大きくなる後段に
おいて、バイアス回路と増幅用のバイポーラトランジス
タのベース電極との間に信号電力の回り込みを防止する
チップインダクタを接続するとともに、前段の電力増幅
器及び後段の増幅用のバイポーラトランジスタとバイア
ス回路とを配設した半絶縁性半導体基板とチップインダ
クタとを実装基板上に併設したものである。
【0027】図4はこの発明に係る多段構成の高周波用
電力増幅器の回路図である。図4において、60は高周
波用電力増幅器、62は増幅器後段で破線によって囲ま
れている部分である。この増幅器後段62が実施の形態
1の高周波用電力増幅器10に相当する部分である。増
幅器後段62の符号は高周波用電力増幅器10の符号に
対応させている。64は高周波用電力増幅器60におい
て新たに付け加えられた増幅器前段で、この部分も破線
で囲まれている。66は増幅器前段64の増幅用のHB
T、68は前段増幅用のHBT66の入力整合回路、7
0はHBT66のバイアス回路、72は増幅器前段64
のHBT66とバイアス回路70との間に設けられた入
力信号電力の回り込みを防止するアイソレート用抵抗、
76はHBT66のエミッタ電極に接続された接地電
極、78はバイアス回路70の制御入力端子、80,8
2は直流電圧電位Vcが印加される電源端子である。
【0028】信号入力端子28から入力した高周波の入
力信号電力はまず増幅器前段64で増幅される。増幅器
前段64ではHBT66に入力される入力信号電力はま
だ小さく、ベース電流も少なくてよいので、入力信号の
漏れ電力がバイアス回路70に回り込むのを防止するた
めにアイソレート用抵抗72を用いても支障はない。増
幅器前段64で増幅された入力信号電力は整合回路22
を経て増幅器後段62の増幅用のHBT20に供給され
る。
【0029】このときHBT20に供給される入力信号
電力は大きくなっているので、バイアス回路26への漏
れ電力も大きくなり、またベース電流も多く流すととも
に電圧降下が起きないようにすることが必要であり、こ
の漏れ電力を抑制するためにはアイソレート用抵抗の抵
抗値を大きくしなければならず、アイソレート用抵抗で
は十分なベース電位を確保できない。
【0030】このためこの高周波用電力増幅器60で
は、増幅器後段62の増幅用のHBT20に供給される
ベース電流は、バイアス回路26の出力端からバイアス
回路出力端子32に接続され、バイアス回路出力端子3
2からボンディングワイヤ36aを経てチップインダク
タ16の一端に接続され、チップインダクタ16を介し
てその他端からボンディングワイヤ36bを経てベース
電極接続端子34と接続され、さらにHBT20のベー
ス電極に接続される経路を介して、HBT20のベース
電極に供給されている。
【0031】従ってチップインダクタ16に所望の高周
波の周波数帯域で高いインピーダンス特性を持たせるこ
とができ、増幅器後段62の増幅用のHBT20に入力
される入力信号電力が大きくなっても、また周波数が高
くなっても、バイアス回路26に回り込む漏れ電力を抑
制することができる。しかもチップインダクタ16はH
BT20のベース電極に印加されるベース電位を低下さ
せることはない。
【0032】そしてチップインダクタ16は、GaAs
基板18上には設けられず、MMICチップ14と併置
されて実装基板上に設けられているので、チップインダ
クタ16の平面積に関わらず、GaAs基板18の寸法
が大きくなることはない。
【0033】このように多段構成の高周波用電力増幅器
においては、必ずしも出力段だけではなく、信号電力が
大きくなる電力増幅器後段において、信号電力の漏れ電
力によるバイアス回路への回り込みを抑制することに効
果がある。そして高価なMMICチップのGaAs基板
の必要面積を増加することなしに、バイアス回路へ回り
込む高周波信号の漏れ電力量を少なくでき、バイアス回
路が安定して動作し、電力増幅器の安定性を確保するこ
とができる。延いては安価で安定性が高く、信頼性の高
い多段の高周波用電力増幅器を構成することができる。
【0034】
【発明の効果】この発明に係る高周波用電力増幅器は、
以上に説明したような構成を備えているので、以下のよ
うな効果を有する。この発明に係る高周波用電力増幅器
によれば、半絶縁性半導体基板と、この半導体基板上に
配設され、入力整合回路を介して信号が入力されるベー
ス電極と増幅された信号を出力整合回路に出力するコレ
クタ電極とを有する第1のバイポーラトランジスタと、
半導体基板上に配設され、第1のバイポーラトランジス
タにベース電流を供給するバイアス回路と、半導体基板
上に配設され、バイアス回路の出力端に接続された第1
の端子と、半導体基板上に配設され、第1のバイポーラ
トランジスタのベース電極に接続された第2の端子と、
第1、第2の端子の間に接続されたリアクタンス要素
と、このリアクタンス要素と半導体基板とが配設された
実装基板と、を備えたもので、この構成により半絶縁性
半導体基板の面積を大きくすることなく、信号電力のバ
イアス回路への漏れ電力が小さくすることができ、この
ためバイアス回路が安定して動作する。延いては安価で
信頼性の高い高周波用電力増幅器を構成することができ
る。
【0035】さらに、増幅された出力信号が第1のバイ
ポーラトランジスタの入力整合回路に入力される第2の
バイポーラトランジスタをさらに備えたもので、多段増
幅器における後段側の第1のバイポーラトランジスタに
おいて、半絶縁性半導体基板の面積を大きくすることな
く、信号電力のバイアス回路への漏れ電力を小さくする
ことができ、後段側の第1のバイポーラトランジスタの
バイアス回路が安定して動作する。延いては安価で信頼
性の高い多段構成の高周波用電力増幅器を構成すること
ができる。
【0036】さらに、リアクタンス要素をチップインダ
クタとしたもので、部品交換によって簡単にインダクタ
値の調整ができ、また実装面積が小さくなる。延いては
小型で信頼性の高い構成とすることができる。
【0037】またさらに、リアクタンス要素をマイクロ
ストリップ線路としたもので、パターンを実装基板上で
形成でき部品点数が少なくなる。延いては安価な構成と
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明に係る高周波用電力増幅器の回路図
である。
【図2】 この発明に係る高周波用電力増幅器のバイア
ス回路の回路図である。
【図3】 この発明に係る高周波用電力増幅器の回路図
である。
【図4】 この発明に係る多段の高周波用電力増幅器の
回路図である。
【図5】 従来の高周波用電力増幅器の回路図である。
【符号の説明】
18 半絶縁性GaAs基板、 22 入力側整合回
路、 20 HBT、 26 バイアス回路、
32 バイアス回路出力端子、 34 ベース電極接
続端子、 16 チップインダクタ、 12 実装
基板、 66前段増幅用のHBT。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H03F 3/21 H01L 27/04 F 3/60 Fターム(参考) 5F038 AV05 AZ01 AZ04 BG09 DF02 EZ02 EZ20 5J011 CA12 CA15 5J067 AA01 AA04 AA41 CA36 CA87 FA16 FA20 HA02 HA06 HA24 HA25 HA33 KA12 KA29 KA66 KA68 KS11 KS35 LS12 MA08 QA04 QS04 SA14 TA01 5J091 AA01 AA04 AA41 CA36 CA87 FA16 FA20 HA02 HA06 HA24 HA25 HA33 KA12 KA29 KA66 KA68 MA08 QA04 SA14 TA01 UW08 5J092 AA01 AA04 AA41 CA36 CA87 FA16 FA20 HA02 HA06 HA24 HA25 HA33 KA12 KA29 KA66 KA68 MA08 QA04 SA14 TA01

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半絶縁性半導体基板と、 この半導体基板上に配設され、入力整合回路を介して信
    号が入力されるベース電極と増幅された信号を出力整合
    回路に出力するコレクタ電極とを有する第1のバイポー
    ラトランジスタと、 上記半導体基板上に配設され、上記第1のバイポーラト
    ランジスタにベース電流を供給するバイアス回路と、 上記半導体基板上に配設され、上記バイアス回路の出力
    端に接続された第1の端子と、 上記半導体基板上に配設され、上記第1のバイポーラト
    ランジスタのベース電極に接続された第2の端子と、 上記第1、第2の端子の間に接続されたリアクタンス要
    素と、 このリアクタンス要素と上記半導体基板とが配設された
    実装基板と、を備えた高周波用電力増幅器。
  2. 【請求項2】 増幅された出力信号が第1のバイポーラ
    トランジスタの入力整合回路に入力される第2のバイポ
    ーラトランジスタをさらに備えたことを特徴とする請求
    項1記載の高周波用電力増幅器。
  3. 【請求項3】 リアクタンス要素がチップインダクタで
    あることを特徴とする請求項1または2に記載の高周波
    用電力増幅器。
  4. 【請求項4】 リアクタンス要素がマイクロストリップ
    線路であることを特徴とする請求項1または2に記載の
    高周波用電力増幅器。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005107063A1 (ja) * 2004-04-28 2005-11-10 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha バイアス回路
US7154336B2 (en) 2003-10-14 2006-12-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. High-frequency power amplifier
WO2011092910A1 (ja) * 2010-01-26 2011-08-04 株式会社村田製作所 電力増幅器

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004296719A (ja) * 2003-03-26 2004-10-21 Renesas Technology Corp 半導体装置
JP2005020476A (ja) * 2003-06-27 2005-01-20 Renesas Technology Corp 高周波電力増幅回路および無線通信システム
US7342456B2 (en) * 2006-04-19 2008-03-11 Northrop Grumman Corporation DC-bias network for a distributed amplifier
WO2011111130A1 (ja) * 2010-03-09 2011-09-15 パナソニック株式会社 半導体装置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3434070A (en) * 1966-01-14 1969-03-18 Sylvania Electric Prod Shunt feed for increasing amplifier output power
FR2205777B1 (ja) * 1972-11-02 1977-03-11 Sony Corp
US3940706A (en) * 1974-05-13 1976-02-24 Communications Satellite Corporation (Comsat) Microwave transistor amplifier
US4771247A (en) * 1987-09-24 1988-09-13 General Electric Company MMIC (monolithic microwave integrated circuit) low noise amplifier
US5117203A (en) * 1990-12-13 1992-05-26 General Electric Company Phase stable limiting power amplifier
JPH05167302A (ja) * 1991-12-18 1993-07-02 Hitachi Ltd 高周波電力増幅回路装置およびそれを含む高周波モジュール
US5208554A (en) * 1992-01-24 1993-05-04 Systron Donner Corporation High power compact microwave amplifier
JP2513146B2 (ja) * 1993-09-20 1996-07-03 日本電気株式会社 高効率増幅回路
JP3208118B2 (ja) 1994-03-10 2001-09-10 松下電器産業株式会社 電力増幅器
JPH09121127A (ja) * 1995-10-26 1997-05-06 Murata Mfg Co Ltd 高周波増幅集積回路装置
JP3327783B2 (ja) * 1996-08-30 2002-09-24 シャープ株式会社 トランジスタ電力増幅器
JPH10135750A (ja) * 1996-11-01 1998-05-22 Mitsubishi Electric Corp マイクロ波帯アンプ
DE69813049T2 (de) * 1997-01-21 2004-02-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Kadoma Hochfrequenzleistungsverstärker
FI971180A (fi) * 1997-03-20 1998-12-23 Micronas Oy Stripe-line-kela
JPH10322145A (ja) 1997-05-16 1998-12-04 Kyocera Corp 高周波用電力増幅器
US5939941A (en) * 1997-09-25 1999-08-17 Motorola, Inc. High efficiency power amplifier using HITFET driver circuit
JP3175823B2 (ja) * 1998-04-24 2001-06-11 日本電気株式会社 高周波増幅装置
DE19916569C2 (de) 1999-04-13 2002-03-21 Infineon Technologies Ag Mit einer oder mehreren Verstärkerschaltungen chipintegrierte Stromspiegel-Spannungsreferenzschaltung zur Arbeitspunkteinstellung
JP2001332935A (ja) * 2000-05-19 2001-11-30 Fujitsu Ltd マイクロ波増幅器
US6424223B1 (en) * 2001-01-19 2002-07-23 Eic Corporation MMIC power amplifier with wirebond output matching circuit

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7154336B2 (en) 2003-10-14 2006-12-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. High-frequency power amplifier
WO2005107063A1 (ja) * 2004-04-28 2005-11-10 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha バイアス回路
JPWO2005107063A1 (ja) * 2004-04-28 2008-03-21 三菱電機株式会社 バイアス回路
US7501914B2 (en) 2004-04-28 2009-03-10 Mitsubishi Electric Corporation Bias circuit
JP4588699B2 (ja) * 2004-04-28 2010-12-01 三菱電機株式会社 バイアス回路
WO2011092910A1 (ja) * 2010-01-26 2011-08-04 株式会社村田製作所 電力増幅器

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