JP2002105137A - 有機反射防止膜の組成物及びその製造方法 - Google Patents
有機反射防止膜の組成物及びその製造方法Info
- Publication number
- JP2002105137A JP2002105137A JP2001200453A JP2001200453A JP2002105137A JP 2002105137 A JP2002105137 A JP 2002105137A JP 2001200453 A JP2001200453 A JP 2001200453A JP 2001200453 A JP2001200453 A JP 2001200453A JP 2002105137 A JP2002105137 A JP 2002105137A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hydrogen
- chemical formula
- acrylate
- methyl
- poly
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/09—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
- G03F7/091—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers characterised by antireflection means or light filtering or absorbing means, e.g. anti-halation, contrast enhancement
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F220/00—Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
- C08F220/02—Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
- C08F220/10—Esters
- C08F220/40—Esters of unsaturated alcohols, e.g. allyl (meth)acrylate
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F220/00—Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical or a salt, anhydride ester, amide, imide or nitrile thereof
- C08F220/02—Monocarboxylic acids having less than ten carbon atoms; Derivatives thereof
- C08F220/10—Esters
- C08F220/34—Esters containing nitrogen, e.g. N,N-dimethylaminoethyl (meth)acrylate
- C08F220/36—Esters containing nitrogen, e.g. N,N-dimethylaminoethyl (meth)acrylate containing oxygen in addition to the carboxy oxygen, e.g. 2-N-morpholinoethyl (meth)acrylate or 2-isocyanatoethyl (meth)acrylate
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Polymers & Plastics (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Architecture (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
Abstract
ける反射防止膜で使用し、ウェーハ上の下部膜層の光学
的性質及びフォトレジスト厚さの変動による定在波、反
射及び下部膜によるCD変動を除去して、安定した超微
細パターンが形成できて、製品の収率が増大できるだけ
でなく、また有機反射防止膜のk値が自由に調節できる
反射防止膜を提供する。 【解決手段】 以下の化学式[化1]の構造を有するこ
とを特徴とする有機反射防止重合体及びその合成方法、
前記有機反射防止重合体を含む反射防止膜の組成物、こ
れを利用した反射防止膜の製造方法である。 【化1】
Description
および193nm ArFを用いたリソグラフィー用フ
ォトレジストを使用する超微細パターン形成工程におい
て、下部膜層の反射を防止して光およびフォトレジスト
自体の厚さの変化による定在波(standing wave)を除
去することができる反射防止用有機物質に関し、特に、
64M、256M、1G、4GDRAMの超微細パター
ンの形成時に使用できる有機反射防止化合物およびその
製造方法に関する。また、本発明はこのような有機反射
防化合物を含む反射防止の組成物と、これを用いた反射
防止膜およびその製造方法に関する。
形成工程ではウェーハ上の下部膜層の光学的性質および
減光膜厚さの変動による定在波、反射ノッチング(refl
ectivenotching)と、下部膜からの回折光および反射光
によるCD(critical dimension)の変動が不可避に起
こる。したがって、露光源で使用する光の波長帯におい
て光を良好に吸収する有機物質を導入して下部膜層で反
射を防止できるようにする反射防止膜の導入が提案され
て来た。
て無機系反射防止膜と有機系反射防止膜に区分するか、
その機構(mechanism)によって吸収系反射防止膜と干
渉系反射防止膜に分類する。365nm波長のI−線
(I−line)を用いた微細パターンの形成工程では主に
無機系反射防止膜が使用され、吸収系としてはTiNお
よび無定型カーボン(Amorphous C)が、干渉系として
は主にSiONが使用されて来た。
程では主に無機系としてSiONが使用されて来たが、
無機系反射防止膜の場合は光源である193nmにおけ
る干渉現状を制御する物質がまだ発表されていなかった
ので、近年では、反射防止膜として有機系化合物を使用
する努力が続いている。
する。
溶媒によって溶解されて剥がれる現象が起こらないこ
と。そのためには成形膜が架橋構造をなすように設計さ
れる必要があり、この時副産物として化学物質が生じて
はならない。
ような化学物質の出入りがあってはならない。万一、反
射防止膜から酸が移行すれば、パターンの下面にアンダ
ーカッティング(undercutting)が発生し、アミンのよう
な塩基が移行すれば、フッティング(footing)現象が生
ずる傾向があるからである。
利用してエッチングプロセスを効果的に行い得るため
に、反射防止膜は上部のフォトレジスト層に比べて速い
エッチング速度を持たなければならない。
薄膜でも十分に反射防止膜として役目を果たすべきであ
る。
発色団を含有した重合体と、これを互い架橋させる架橋
剤(単分子物)及び添加剤(熱変酸化剤)、または、第二
に、自ら架橋反応が可能で発色団を含有した重合体及び
添加剤(熱変酸化剤)の2種類の形態で大きく区別できる
が、前記2種類の形態の有機反射防止膜は重合反応時に
設計された比率によって発色団の含有量が決まるので、
k値の調節がほとんど不可能であり、k値を変化させる
ためには更に合成しなければならない問題点がある。
るために本発明は、新規な反射防止膜用重合体及びその
製造方法と、前記重合体を用いた反射防止膜及びその製
造方法を提供することにその目的がある。
射防止膜で使われる化合物の基本構造式を下記化学式
[化3]及び化学式[化4]に表した。
に本発明は、下記化学式[化5]で表される化合物を提
供する。
はそれぞれ水素またはメチル基、R aないしRd、R1な
いしR9はそれぞれ−H、−OH、−OCOCH3、−C
OOH、−CH2OH、または炭素数1ないし5の置換
若しくは非置換された直鎖若しくは分岐鎖のアルキルま
たはアルコキシアルキル、l、m、nはそれぞれ1〜5
の定数、x、y、zはそれぞれ0.01〜0.99のモ
ル比をそれぞれ示す。また、R10およびR11はそれぞれ
分岐鎖若しくは直鎖置換されたC1〜C10のアルコキシ
基、R12は水素またはメチル基を示す。
クロレインを重合させてポリ(メト)アクロレインを製造
した後、製造された結果物を側鎖または主鎖置換された
炭素数1ないし10のアルキルアルコールと反応させて
製造する。
を有機溶媒に溶かして、ここに重合開始剤を添加した
後、真空状態下で60ないし70℃の温度で4ないし6
時間の間、重合反応させた後、その結果物に側鎖または
主鎖置換された炭素数1ないし10のアルキルアルコー
ルを、トリフルオロメチルスルフェン酸を触媒として常
温で20ないし30時間反応させて製造する。
ヒドロフラン(THF)、シクロヘキサノン、ジメチルフ
ォルムアミド、ジメチルサルホキシド、ジオキサン、メ
チルエチルケトン、ベンジン、トルエン及びザイレンか
らなるグループから選択されたいずれかまたは1種以上
を混合して使用することが好ましく、重合開始剤は、
2,2−アゾビスイソブチロニトリル(AIBM)、過酸
化ベンゾイル、過酸化アセチル、過酸化ラウリル、t−
ブチルパーアセタート、t−過酢酸ブチル及びジ−t−
過酸化ブチルからなるグループから選択されたいずれか
を使用することが好ましい。また、前記炭素数1ないし
10のアルキルアルコールはメタノールまたはエタノー
ルを使用することが好ましい。
[化6]ないし化学式[化9]の化合物からなるグルー
プから選択されたいずれかを使用することが好ましい。
の化合物はアルコール基を有する他の重合体と酸の存在
下で硬化が非常によく起きる。
る化合物は、9−アントラセンメチルイミンアルキルア
クリレート系単量体と、ヒドロキシアルキルアクリレー
ト系単量体と、グリシジルアクリレート系単量体とを溶
媒中で反応させた後、開始剤を入れて重合反応させて製
造し、この時、前記溶媒は、一般的な有機溶媒が使用す
ることができ、テトラヒドロフラン、トルエン、ベンゼ
ン、メチルエチルケトン及びジオキサンからなるグルー
プから選択されたいずれか1種以上を使用することが好
ましい。また、開始剤は、2、2'−アゾビスイソブチ
ロニトリル、過酸化アセチル、t−過酸化ブチルからな
るグループから選択されたいずれかを使用することが好
ましい。また、記重合反応は、50ないし90℃で行わ
れることが好ましくて、各単量体のモル比は0.01〜
0.99が好ましい。
造を有する化合物の中のいずれかと、前記化学式[化
4]の構造を有する化合物の中のいずれかを含むことを
特徴とする反射防止膜の組成物を提供する。
の構造を有する化合物の中のいずれかと前記化学式[化
4]の構造を有する化合物の中のいずれかを含め、アン
トラセン、9−アントラセンメタノール、9−アントラ
センカルボニトリル、9−アントラセンカルボキシル
酸、ジトラノール、1,2,10−アントラセントリオ
ル、アントラフラボン酸、9−アントラアルデヒドオキ
シム、9−アントラアルデヒド、2−アミノ−7−メチ
ル−5−沃素−5H−[1]ベンゾピラノ[2,3−b]ピ
リジン−3−カルボニトリル、1−アミノアントラキノ
ン、アントラキノン−2−カルボキシル酸、1,5−ジ
ヒドロキシアントラキノン、アントロン、9−アントリ
ルトリフルオロメチルケトン、下記化学式[化10]の
9−アルキルアントラセン誘導体、下記化学式[化1
1]の9−カルボキシルアントラセン誘導体及び下記化
学式[化12]の1−カルボキシルアントラセン誘導体
からなるグループから選択されたいずれか1種以上の化
合物を含めている反射防止膜の組成物を提供する。
−OH、−CH2OH、または炭素数1ないし5の置換
若しくは非置換された直鎖若しくは分岐鎖のアルキルま
たはアルコキシアルキルを示す。
造を有する化合物の中のいずれかと前記化学式[化4]
の構造を有する化合物の中のいずれかを有機溶媒に溶解
させた後、この溶液を単独でまたは前記アントラセン誘
導体グループから選択されたいずれか1種以上の化合物
を添加した溶液を濾過し、下部層に塗布した後、次いで
ハードベーキングして製造することを特徴とする反射防
止膜を提供する。この時、前記有機溶媒は、エチル−3
−エトキシプロピオネート、メチル−3−メトキシプロ
ピオネート、シクロヘキサノン、プロピレングリコール
メチルエーテルアセテートからなるグループから選択さ
れ、該有機溶媒を使用して、前記溶媒で反射防止膜樹脂
の200〜5000重量%の量を使用することが好まし
くて、ハードベーキング時の温度は100〜300℃で
あることが好ましい。
止膜の組成物のいずれかを使用して提供されたことを特
徴とする半導体素子を提供する。
合体の自体が248nmの波長で吸収がよく起きるよう
に吸光度が大きい発色団を有した単量体を合成した。ま
た、有機反射防止膜の成形性、気密性、耐溶解性を与え
るためにコーティングの後、ハードベーク時架橋反応が
起きることができるようにエポキシ基を導入し、これに
よって、架橋できる高分子の第1の重合体(前記化学式
[化3]の構造を有する化合物)を合成する。また、樹
脂内のアルコール基と反応して架橋結合を持つことがで
きる新たな高分子の第2の重合体(化学式[化4]の構
造を有する化合物)を合成して、前記第1の重合体と共
に混合して熱反応により架橋物を形成できるようにした
ものである。
の形態で架橋反応において効率性が極大化されるように
設計したので、第1の重合体の比率を調節することによ
って、有機反射防止膜のk値を自由に調節することが可
能である。
ロカーボン系の全ての溶媒に対して良好な溶解性を持っ
ており、ハードベーク時にはいかなる溶媒でも溶解され
ない耐溶解性を持っている。更に、パターンの形成時、
アンダーカッティング及びフーチングが起きないだけで
なく、特にアクリレート系の高分子で形成されているの
で、エッチング時フォトレジスト膜に比べて良好なエッ
チング速度を持つことによって、エッチング選択比を増
加させた。
いて説明する。本実施例は本発明の権利範囲を限定する
ものではなく、ただ例示として提示されたものである。
イミンエチルアクリレート(2−ヒドロキシエチルアク
リレート)−グリシジルメタクリレート]の製造
リレート単量体0.5モル、2−ヒドロキシエチルアク
リレート0.3モル、グリシジルメタクリレート0.2
モルを500mlの丸底フラスコに入れて混合する。続
いて、予め準備したテトラヒドロフラン300gを撹拌
させながら前記混合物に加える。続いて、2,2−アゾ
ビスイソブチルロニトリルを0.1g〜3.0g入れた
後、前記混合物を窒素雰囲気下で60℃ないし75℃温
度で5〜20時間反応させる。反応の終了後、この溶液
をエチルエーテルまたはノルマル−ヘキサン溶媒に沈殿
させた後、濾過して乾燥させると、下記化学式[化1
3]のようなポリ[9−アントラセンメチルイミンエチ
ルアクリレート (2−ヒドロキシエチルアクリレート)
−グリシジルメタクリレート]の樹脂が得られる(収率:
80%)。
イミンエチルアクリレート(2−ヒドロキシエチルメタ
クリレート)−グリシジルメタクリレート]の製造
リレート単量体0.5モル、2−ヒドロキシエチルメタ
クリレート0.3モル、グリシジルメタクリレート0.
2モルを500mlの丸底フラスコに入れて混合する。
続いて、予め準備したテトラヒドロフラン300gを撹
拌させながら前記混合物に加える。続いて、2,2−ア
ゾビスイソブチルロニトリルを0.1g〜3.0g入れ
た後、前記混合物を窒素雰囲気下で60℃ないし75℃
温度で5〜20時間反応させる。反応の終了後、この溶
液をエチルエーテルまたはノルマル−ヘキサン溶媒に沈
殿させた後、濾過して乾燥させると、下記化学式[化1
4]のようなポリ[9−アントラセンメチルイミンエチ
ルアクリレート (2−ヒドロキシエチルメタクリレー
ト)−グリシジルメタクリレート]の樹脂が得られる(収
率:85%)。
イミンエチルメタクリレート(2−ヒドロキシエチルア
クリレート)−グリシジルメタクリレート]の製造
クリレート単量体0.5モル、2−ヒドロキシエチルア
クリレート0.3モル、グリシジルメタクリレート0.
2モルを500mlの丸底フラスコに入れて混合する。
続いて、予め準備したテトラヒドロフラン300gを撹
拌させながら前記混合物に加える。続いて、2,2−ア
ゾビスイソブチルロニトリルを0.1g〜3.0g入れ
た後、前記混合物を窒素雰囲気下で60℃ないし75℃
温度で5〜20時間反応させる。反応の終了後、この溶
液をエチルエーテルまたはノルマル−ヘキサン溶媒に沈
殿させた後、濾過して乾燥させると、下記化学式[化1
5]のようなポリ[9−アントラセンメチルイミンエチ
ルメタクリレート (2−ヒドロキシエチルアクリレー
ト)−グリシジルメタクリレート]の樹脂が得られる(収
率:85%)。
イミンエチルメタクリレート(2−ヒドロキシエチルメ
タクリレート)−グリシジルアクリレート]の製造
クリレート単量体0.5モル、2−ヒドロキシエチルメ
タクリレート0.3モル、グリシジルメタクリレート
0.2モルを500mlの丸底フラスコに入れて混合す
る。続いて、予め準備したテトラヒドロフラン300g
を撹拌させながら前記混合物に加える。続いて、2,2
−アゾビスイソブチルロニトリルを0.1g〜3.0g
入れた後、前記混合物を窒素雰囲気下で60℃ないし7
5℃温度で5〜20時間反応させる。反応の終了後、こ
の溶液をエチルエーテルまたはノルマル−ヘキサン溶媒
に沈殿させた後、濾過して乾燥させると、下記化学式
[化16]のようなポリ[9−アントラセンメチルイミ
ンエチルメタクリレート (2−ヒドロキシエチルメタク
リレート)−グリシジルメタクリレート]の樹脂が得られ
る(収率:86%)。
イミンエチルメタクリレート(3−ヒドロキシプロピル
アクリレート)−グリシジルメタクリレート] の製造
クリレート単量体0.5モル、3−ヒドロキシプロピル
アクリレート0.3モル、グリシジルメタクリレート
0.2モルを500mlの丸底フラスコに入れて混合す
る。続いて、予め準備したテトラヒドロフラン300g
を撹拌させながら前記混合物に加える。続いて、2,2
−アゾビスイソブチルロニトリルを0.1g〜3.0g
入れた後、前記混合物を窒素雰囲気下で60℃ないし7
5℃温度で5〜20時間反応させる。反応の終了後、こ
の溶液をエチルエーテルまたはノルマル−ヘキサン溶媒
に沈殿させた後、濾過して乾燥させると、下記化学式
[化17]のようなポリ[9−アントラセンメチルイミ
ンエチルメタクリレート (3−ヒドロキシプロピルアク
リレート)−グリシジルメタクリレート]の樹脂が得られ
る(収率:82%)。
イミンプロピルアクリレート(2−ヒドロキシエチルア
クリレート)−グリシジルメタクリレート]の製造
クリレート単量体0.5モル、2−ヒドロキシエチルア
クリレート0.3モル、グリシジルメタクリレート0.
2モルを500mlの丸底フラスコに入れて混合する。
続いて、予め準備したテトラヒドロフラン300gを撹
拌させながら前記混合物に加える。続いて、2,2−ア
ゾビスイソブチルロニトリルを0.1g〜3.0g入れ
た後、前記混合物を窒素雰囲気下で60℃ないし75℃
温度で5〜20時間反応させる。反応の終了後、この溶
液をエチルエーテルまたはノルマル−ヘキサン溶媒に沈
殿させた後、濾過して乾燥させると、下記化学式[化1
8]のようなポリ[9−アントラセンメチルイミンプロ
ピルアクリレート (2−ヒドロキシエチルアクリレー
ト)−グリシジルメタクリレート]の樹脂が得られる(収
率:79%)。
イミンプロピルアクリレート(2−ヒドロキシエチルメ
タクリレート)−グリシジルアクリレート]の製造
クリレート単量体0.5モル、2−ヒドロキシエチルメ
タクリレート0.3モル、グリシジルアクリレート0.
2モルを500mlの丸底フラスコに入れて混合する。
続いて、予め準備したテトラヒドロフラン300gを撹
拌させながら前記混合物に加える。続いて、2,2−ア
ゾビスイソブチルロニトリルを0.1g〜3.0g入れ
た後、前記混合物を窒素雰囲気下で60℃ないし75℃
温度で5〜20時間反応させる。反応の終了後、この溶
液をエチルエーテルまたはノルマル−ヘキサン溶媒に沈
殿させた後、濾過して乾燥させると、下記化学式[化1
9]のようなポリ[9−アントラセンメチルイミンプロ
ピルアクリレート (2−ヒドロキシエチルメタクリレー
ト)−グリシジルアクリレート]の樹脂が得られる(収率:
78%)。
イミンプロピルアクリレート(3−ヒドロキシプロピル
アクリレート)−グリシジルメタクリレート]の製造
クリレート単量体0.5モル、3−ヒドロキシプロピル
アクリレート0.3モル、グリシジルメタクリレート
0.2モルを500mlの丸底フラスコに入れて混合す
る。続いて、予め準備したテトラヒドロフラン300g
を撹拌させながら前記混合物に加える。続いて、2,2
−アゾビスイソブチルロニトリルを0.1g〜3.0g
入れた後、前記混合物を窒素雰囲気下で60℃ないし7
5℃温度で5〜20時間反応させる。反応の終了後、こ
の溶液をエチルエーテルまたはノルマル−ヘキサン溶媒
に沈殿させた後、濾過して乾燥させると、下記化学式
[化20]のようなポリ[9−アントラセンメチルイミ
ンエチルメタクリレート (3−ヒドロキシプロピルアク
リレート)−グリシジルメタクリレート]の樹脂が得られ
る(収率:74%)。
イミンプロピルアクリレート(3−ヒドロキシプロピル
メタクリレート)−グリシジルメタクリレート]の製造
クリレート単量体0.5モル、3−ヒドロキシプロピル
メタクリレート0.3モル、グリシジルメタクリレート
0.2モルを500mlの丸底フラスコに入れて混合す
る。続いて、予め準備したテトラヒドロフラン300g
を撹拌させながら前記混合物に加える。続いて、2,2
−アゾビスイソブチルロニトリルを0.1g〜3.0g
入れた後、前記混合物を窒素雰囲気下で60℃ないし7
5℃温度で5〜20時間反応させる。反応の終了後、こ
の溶液をエチルエーテルまたはノルマル−ヘキサン溶媒
に沈殿させた後、濾過して乾燥させると、下記化学式
[化21]のようなポリ[9−アントラセンメチルイミ
ンエチルメタクリレート (3−ヒドロキシプロピルメタ
クリレート)−グリシジルメタクリレート]の樹脂が得ら
れる(収率:80%)。
ルイミンプロピルアクリレート(4−ヒドロキシブチル
アクリレート)−グリシジルメタクリレート]の製造
クリレート単量体0.5モル、4−ヒドロキシブチルア
クリレート0.3モル、グリシジルメタクリレート0.
2モルを500mlの丸底フラスコに入れて混合する。
続いて、予め準備したテトラヒドロフラン300gを撹
拌させながら前記混合物に加える。続いて、2,2−ア
ゾビスイソブチルロニトリルを0.1g〜3.0g入れ
た後、前記混合物を窒素雰囲気下で60℃ないし75℃
温度で5〜20時間反応させる。反応の終了後、この溶
液をエチルエーテルまたはノルマル−ヘキサン溶媒に沈
殿させた後、濾過して乾燥させると、下記化学式[化2
2]のようなポリ[9−アントラセンメチルイミンプロ
ピルアクリレート (4−ヒドロキシブチルアクリレー
ト)−グリシジルメタクリレート]の樹脂が得られる(収
率:76%)。
ルイミンブチルアクリレート(2−ヒドロキシエチルメ
タクリレート)−グリシジルメタクリレート]の製造
リレート単量体0.5モル、2−ヒドロキシエチルメタ
クリレート0.3モル、グリシジルメタクリレート0.
2モルを500mlの丸底フラスコに入れて混合する。
続いて、予め準備したテトラヒドロフラン300gを撹
拌させながら前記混合物に加える。続いて、2,2−ア
ゾビスイソブチルロニトリルを0.1g〜3.0g入れ
た後、前記混合物を窒素雰囲気下で60℃ないし75℃
温度で5〜20時間反応させる。反応の終了後、この溶
液をエチルエーテルまたはノルマル−ヘキサン溶媒に沈
殿させた後、濾過して乾燥させると、下記化学式[化2
3]のようなポリ[9−アントラセンメチルイミンブチ
ルアクリレート (2−ヒドロキシエチルメタクリレー
ト)−グリシジルメタクリレート]の樹脂が得られる(収
率:79%)。
1ないし11により製造された重合体(樹脂)のいずれか
と化学式[化4]の構造を有する重合体の中のいずれか
をプロピレングリコールメチルエーテルアセタートの溶
媒に溶解する。この溶液に、単独でまたは前記アントラ
セン誘導体グループから選択されたいずれか1種以上の
添加剤の0.1〜30重量%を添加して完全に溶かす
る。続いて、この溶液を濾過してウェーハ上に塗布し、
コーティングされたウェーハを、100〜300℃で1
0〜1000秒の間ハードベーキングする。その後、形
成された反射防止膜の上に、感光物質を塗布して超微細
パターンの形成工程を行う。
は、重合体の形態で架橋反応において効率性が極大化さ
れるように設計したので、第1の重合体の比率を調節す
ることによって、有機反射防止膜のk値を自由に調節す
ることが可能である。
の自体が248nmの波長で吸収が起きるように吸光度
が大きい発色団を有した単量体を含み、エポキシ基が含
まれているので、架橋が可能である。
ロカーボン系の全ての溶媒に対して良好な溶解性を持っ
ており、ハードベーク時にはいかなる溶媒でも溶解され
ない耐溶解性を持っている。更に、パターンの形成時、
アンダーカッティング及びフーチングがおきないだけで
なく、特にアクリレート系の高分子で形成されているの
で、エッチング時フォトレジスト膜に比べて良好なエッ
チング速度を持つことによって、エッチング選択比を増
加させた。
Claims (22)
- 【請求項1】 以下に示す化学式[化1]の構造を有す
る化合物。 【化1】 (式中、RaないしRCは水素またはメチル基、Raないし
Rd、R1ないし R9はそれぞれ−H、−OH、−OCO
CH3、−COOH、−CH2OH、または炭素数1ない
し5の置換若しくは非置換された直鎖若しくは分岐鎖の
アルキルまたはアルコキシアルキル、l、m、nはそれ
ぞれ1〜5の定数、x、y、zはそれぞれ0.01〜
0.99のモル比をそれぞれ示す。) - 【請求項2】 請求項1に記載の化学式[化1]で表さ
れる化合物において、Ra、Rbはそれぞれ水素、RCは
メチル基、RaないしRd、R1ないしR9はそれぞれ水
素、l、m、nはそれぞれ2、2、1、x、y、zはそ
れぞれ0.5、0.3、0.2である請求項1に記載の
ポリ[アントラセンメチルイミンエチルアクリレート(2
−ヒドロキシエチルアクリレート)−グリシジルメタク
リレート]。 - 【請求項3】 請求項1に記載の化学式[化1]で表さ
れる化合物において、 Raは水素、Rb、RCはそれぞれメチル基、RaないしR
d、R1ないしR9はそれぞれ水素、l、m、nはそれぞ
れ2、2、1、x、y、zはそれぞれ0.5、0.3、
0.2である請求項1に記載のポリ[アントラセンメチ
ルイミンエチルアクリレート(2−ヒドロキシエチルメ
タクリレート)−グリシジルメタクリレート]。 - 【請求項4】 請求項1に記載の化学式[化1]で表さ
れる化合物において、 Ra、RCはそれぞれメチル基、Rbは水素、RaないしR
d、R1ないしR9はそれぞれ水素、l、m、nはそれぞ
れ2、2、1、x、y、zはそれぞれ0.5、0.3、
0.2である請求項1に記載のポリ[アントラセンメチ
ルイミンエチルメタクリレート(2−ヒドロキシエチル
アクリレート)−グリシジルメタクリレート]。 - 【請求項5】 請求項1に記載の化学式[化1]で表さ
れる化合物において、 Ra、Rbはそれぞれメチル基、RCは水素、RaないしR
d、R1ないしR9はそれぞれ水素、l、m、nはそれぞ
れ2、2、1、x、y、zはそれぞれ0.5、0.3、
0.2である請求項1に記載のポリ[アントラセンメチ
ルイミンエチルメタクリレート(2−ヒドロキシエチル
メタクリレート)−グリシジルアクリレート]。 - 【請求項6】 請求項1に記載の化学式[化1]で表さ
れる化合物において、 Ra、RCはそれぞれメチル基、Rbは 水素、Raないし
Rd、R1ないしR9はそれぞれ水素、l、m、nはそれ
ぞれ2、3、1、x、y、zはそれぞれ0.5、0.
3、0.2である請求項1に記載のポリ[アントラセン
メチルイミンエチルメタクリレート(3−ヒドロキシプ
ロピルアクリレート)−グリシジルメタクリレート] - 【請求項7】 請求項1に記載の化学式[化1]で表さ
れる化合物において、 Ra、Rbはそれぞれ水素、RCはメチル基、RaないしR
d、R1ないしR9はそれぞれ水素、l、m、nはそれぞ
れ3、2、1、x、y、zはそれぞれ0.5、0.3、
0.2である請求項1に記載のポリ[アントラセンメチ
ルイミンプロピルアクリレート(4−ヒドロキシエチル
アクリレート)−グリシジルメタクリレート]。 - 【請求項8】 請求項1に記載の化学式[化1]で表さ
れる化合物において、 Ra、RCはそれぞれ水素、Rbはメチル基、RaないしR
d、R1ないしR9はそれぞれ水素、l、m、nはそれぞ
れ3、2、1、x、y、zはそれぞれ0.5、0.3、
0.2である請求項1に記載のポリ[アントラセンメチ
ルイミンプロピルアクリレート(2−ヒドロキシエチル
メタクリレート)−グリシジルアクリレート]。 - 【請求項9】 請求項1に記載の化学式[化1]で表さ
れる化合物において、 Ra、Rbはそれぞれ水素、RCは水素、RaないしRd、
R1ないしR9はそれぞれ水素、l、m、nはそれぞれ
3、3、1、x、y、zはそれぞれ0.5、0.3、
0.2である請求項1に記載のポリ[アントラセンメチ
ルイミンプロピルアクリレート(3−ヒドロキシプロピ
ルアクリレート)−グリシジルメタクリレート]。 - 【請求項10】 請求項1に記載の化学式[化1]で表
される化合物において、 Raはそれぞれ水素、Rb、RCはメチル基、RaないしR
d、R1ないしR9はそれぞれ水素、l、m、nはそれぞ
れ3、3、1、x、y、zはそれぞれ0.5、0.3、
0.2である請求項1に記載のポリ[アントラセンメチ
ルイミンプロピルアクリレート(3−ヒドロキシプロピ
ルメタクリレート)−グリシジルメタクリレート]。 - 【請求項11】 請求項1に記載の化学式[化1]で表
される化合物において、 Ra、Rbはそれぞれ水素、RCはメチル基、RaないしR
d、R1ないしR9はそれぞれ水素、l、m、nはそれぞ
れ3、4、1、x、y、zはそれぞれ0.5、0.3、
0.2である請求項1に記載のポリ[アントラセンメチ
ルイミンプロピルアクリレート(4−ヒドロキシブチル
アクリレート)−グリシジルメタクリレート]。 - 【請求項12】 請求項1に記載の化学式[化1]で表
される化合物において、 Raは水素、Rb、RCはそれぞれメチル基、RaないしR
d、R1ないしR9はそれぞれ水素、l、m、nはそれぞ
れ4、2、1、x、y、zはそれぞれ0.5、0.3、
0.2である請求項1に記載のポリ[アントラセンメチ
ルイミンブチルアクリレート(2−ヒドロキシエチルメ
タクリレート)−グリシジルメタクリレート]。 - 【請求項13】 9−アントラセンメチルイミンアルキ
ルアクリレート系単量体と、ヒドロキシアルキルアクリ
レート系単量体と、グリシジルアルキルアクリレート系
単量体とを溶媒中で反応させた後、開始剤を入れて重合
反応させることを特徴とする請求項1に記載の化合物の
製造方法。 - 【請求項14】 前記溶媒は、テトラヒドロフラン、ト
ルエン、ベンゼン、メチルエチルケトン、ジオキサンか
らなるグループから選択されたいずれか1種以上を使用
することを特徴とする請求項13に記載の製造方法。 - 【請求項15】 前記開始剤は、2、2'−アゾビスイ
ソブチロニトリル、過酸化アセチル、過酸化ラウリル及
びt−過酸化ブチルからなるグループから選択されたい
ずれか1種以上を使用することを特徴とする請求項13
に記載の製造方法。 - 【請求項16】 前記重合反応は、50ないし90℃で
行われることを特徴とする請求項13に記載の製造方
法。 - 【請求項17】 前記化学式[化1]の構造を有する化
合物の中のいずれかと、下記化学式[化2]の構造を有
する化合物の中のいずれかとを共に含むことを特徴とす
る反射防止膜の組成物。 【化2】 (上式中、R10およびR11はそれぞれ分岐鎖若しくは直
鎖置換されたC1〜C1 0のアルコキシ基、R12は水素ま
たはメチル基を示す。) - 【請求項18】 前記化学式[化1]の構造を有する化
合物の中のいずれかと前記化学式[化2]の構造を有す
る化合物の中のいずれかを含み、更にアントラセン、9
−アントラセンメタノール、9−アントラセンカルボニ
トリル、9−アントラセンカルボキシル酸、ジトラノー
ル、1,2,10−アントラセントリオル、アントラフラ
ボン酸、9−アントラアルデヒドオキシム、9−アント
ラアルデヒド、2−アミノ−7−メチル−5−沃素−5
H−[1]ベンゾピラノ[2,3−b]ピリジン−3−カル
ボニトリル、1−アミノアントラキノン、アントラキノ
ン−2−カルボキシル酸、1,5−ジヒドロキシアント
ラキノン、アントロン、9−アントリルトリフルオロメ
チルケトン、9−アルキルアントラセン誘導体、9−カ
ルボキシルアントラセン誘導体、1−カルボキシルアン
トラセン誘導体からなるグループから選択されたいずれ
か1種以上の化合物を含む請求項17に記載の反射防止
膜の組成物。 - 【請求項19】 前記化学式[化1]の構造を有する化
合物の中のいずれかと前記化学式[化2]の構造を有す
る化合物の中のいずれかを有機溶媒に溶解させた後、こ
の溶液を単独でまたはアントラセン、9−アントラセン
メタノール、9−アントラセンカルボニトリル、9−ア
ントラセンカルボキシル酸、ジトラノール、1,2,10
−アントラセントリオル、アントラフラボン酸、9−ア
ントラアルデヒドオキシム、9−アントラアルデヒド、
2−アミノ−7−メチル−5−沃素−5H−[1]ベンゾ
ピラノ[2,3−b]ピリジン−3−カルボニトリル、1
−アミノアントラキノン、アントラキノン−2−カルボ
キシル酸、1,5−ジヒドロキシアントラキノン、アン
トロン、9−アントリルトリフルオロメチルケトン、9
−アルキルアントラセン誘導体、9−カルボキシルアン
トラセン誘導体及び1−カルボキシルアントラセン誘導
体からなるグループから選択されたいずれか1つ以上の
化合物を添加した溶液を濾過した後、下部層に塗布し、
次いでハードベークしてなることを特徴とする反射防止
膜の製造方法。 - 【請求項20】 前記有機溶媒は、エチル−3−エトキ
シプロピオネート、メチル−3−メトキシプロピオネー
ト、シクロヘキサノン、プロピレングリコールメチルエ
ーテルアセテートからなるグループから選択され、該有
機溶媒を使用して、前記溶媒を反射防止膜樹脂の200
〜5000重量%の量で使用することを特徴とする請求
項19に記載の製造方法。 - 【請求項21】 ハードベーク時の温度は、100〜3
00℃であることを特徴とする請求項19に記載の製造
方法。 - 【請求項22】 請求項17または18に記載の反射防
止膜の組成物のいずれかを使用して製造されたことを特
徴とする半導体素子。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020000037273A KR100721181B1 (ko) | 2000-06-30 | 2000-06-30 | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 |
KR2000-37273 | 2000-06-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002105137A true JP2002105137A (ja) | 2002-04-10 |
JP3602076B2 JP3602076B2 (ja) | 2004-12-15 |
Family
ID=19675507
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001200453A Expired - Fee Related JP3602076B2 (ja) | 2000-06-30 | 2001-07-02 | 有機反射防止膜の組成物及びその製造方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6582883B2 (ja) |
JP (1) | JP3602076B2 (ja) |
KR (1) | KR100721181B1 (ja) |
CN (1) | CN1185268C (ja) |
DE (1) | DE10133716B4 (ja) |
GB (1) | GB2364315B (ja) |
TW (1) | TW593365B (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004090640A1 (ja) * | 2003-04-02 | 2004-10-21 | Nissan Chemical Industries, Ltd. | エポキシ化合物及びカルボン酸化合物を含むリソグラフィー用下層膜形成組成物 |
WO2005013601A1 (ja) * | 2003-07-30 | 2005-02-10 | Nissan Chemical Industries, Ltd. | 保護されたカルボキシル基を有する化合物を含むリソグラフィー用下層膜形成組成物 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100721182B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2007-05-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 |
CN100351309C (zh) * | 2003-07-30 | 2007-11-28 | 日产化学工业株式会社 | 含有具有被保护的羧基的化合物的形成光刻用下层膜的组合物 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3100077A1 (de) | 1981-01-03 | 1982-08-05 | Hoechst Ag, 6000 Frankfurt | Lichtempfindliches gemisch, das einen naphthochinondiazidsulfonsaeureester enthaelt, und verfahren zur herstellung des naphthochinondiazidsulfonsaeureesters |
US4413052A (en) * | 1981-02-04 | 1983-11-01 | Ciba-Geigy Corporation | Photopolymerization process employing compounds containing acryloyl group and anthryl group |
US4822718A (en) | 1982-09-30 | 1989-04-18 | Brewer Science, Inc. | Light absorbing coating |
US5674648A (en) | 1984-08-06 | 1997-10-07 | Brewer Science, Inc. | Anti-reflective coating |
US5525457A (en) | 1994-12-09 | 1996-06-11 | Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. | Reflection preventing film and process for forming resist pattern using the same |
TW406215B (en) * | 1996-08-07 | 2000-09-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | Composition for anti-reflective coating material in lithographic process, and process for forming resist pattern |
US5919599A (en) * | 1997-09-30 | 1999-07-06 | Brewer Science, Inc. | Thermosetting anti-reflective coatings at deep ultraviolet |
JP4053631B2 (ja) * | 1997-10-08 | 2008-02-27 | Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 | 反射防止膜又は光吸収膜用組成物及びこれに用いる重合体 |
TW457403B (en) | 1998-07-03 | 2001-10-01 | Clariant Int Ltd | Composition for forming a radiation absorbing coating containing blocked isocyanate compound and anti-reflective coating formed therefrom |
KR100465864B1 (ko) * | 1999-03-15 | 2005-01-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기 난반사방지 중합체 및 그의 제조방법 |
KR100395904B1 (ko) * | 1999-04-23 | 2003-08-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기 반사방지 중합체 및 그의 제조방법 |
KR100310252B1 (ko) * | 1999-06-22 | 2001-11-14 | 박종섭 | 유기 반사방지 중합체 및 그의 제조방법 |
GB2351588B (en) * | 1999-07-01 | 2003-09-03 | Ibm | Security for network-connected vehicles and other network-connected processing environments |
KR100359862B1 (ko) * | 1999-12-23 | 2002-11-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 난반사 방지막용 중합체와 그 제조방법 |
KR100427440B1 (ko) * | 1999-12-23 | 2004-04-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기 반사방지 화합물 및 그의 제조방법 |
FR2803850B1 (fr) * | 2000-06-13 | 2002-05-17 | Hyundai Electronics Ind | Composition de revetement anti-reflechissant, procede de preparation et dispositif a semiconducteur |
KR100721182B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2007-05-23 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기반사방지막 조성물 및 그의 제조방법 |
-
2000
- 2000-06-30 KR KR1020000037273A patent/KR100721181B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2001
- 2001-06-25 US US09/891,029 patent/US6582883B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-28 GB GB0115797A patent/GB2364315B/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-06-28 DE DE10133716A patent/DE10133716B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2001-06-30 CN CNB011232951A patent/CN1185268C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2001-07-02 JP JP2001200453A patent/JP3602076B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2001-08-17 TW TW090120256A patent/TW593365B/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004090640A1 (ja) * | 2003-04-02 | 2004-10-21 | Nissan Chemical Industries, Ltd. | エポキシ化合物及びカルボン酸化合物を含むリソグラフィー用下層膜形成組成物 |
JPWO2004090640A1 (ja) * | 2003-04-02 | 2006-07-06 | 日産化学工業株式会社 | エポキシ化合物及びカルボン酸化合物を含むリソグラフィー用下層膜形成組成物 |
US7794919B2 (en) | 2003-04-02 | 2010-09-14 | Nissan Chemical Industries, Ltd. | Composition for forming underlayer coating for lithography containing epoxy compound and carboxylic acid compound |
US8460855B2 (en) | 2003-04-02 | 2013-06-11 | Nissan Chemical Industries, Ltd. | Composition for forming underlayer coating for litography containing epoxy compound and carboxylic acid compound |
WO2005013601A1 (ja) * | 2003-07-30 | 2005-02-10 | Nissan Chemical Industries, Ltd. | 保護されたカルボキシル基を有する化合物を含むリソグラフィー用下層膜形成組成物 |
US7226721B2 (en) | 2003-07-30 | 2007-06-05 | Nissan Chemical Industries, Ltd. | Underlayer coating forming composition for lithography containing compound having protected carboxyl group |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1185268C (zh) | 2005-01-19 |
US20020093069A1 (en) | 2002-07-18 |
DE10133716A1 (de) | 2002-02-07 |
GB2364315B (en) | 2002-06-05 |
TW593365B (en) | 2004-06-21 |
GB2364315A (en) | 2002-01-23 |
CN1331254A (zh) | 2002-01-16 |
DE10133716B4 (de) | 2007-12-27 |
JP3602076B2 (ja) | 2004-12-15 |
GB0115797D0 (en) | 2001-08-22 |
KR100721181B1 (ko) | 2007-05-23 |
US6582883B2 (en) | 2003-06-24 |
KR20020002909A (ko) | 2002-01-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4808597B2 (ja) | 有機反射防止重合体およびその製造方法 | |
JP3851476B2 (ja) | 有機反射防止重合体およびその製造方法 | |
JP4791433B2 (ja) | 反射防止膜用組成物、反射防止膜の製造方法、および半導体素子の製造方法 | |
JP3860411B2 (ja) | 乱反射防止膜用重合体とその製造方法 | |
JP2000204115A (ja) | 有機反射防止膜塗布重合体およびその準備方法 | |
JP2001194799A (ja) | 乱反射防止膜用化合物とその製造方法 | |
JP3457653B2 (ja) | 有機反射防止膜の組成物及びその製造方法 | |
JP4107937B2 (ja) | 反射防止膜の組成物、反射防止膜の製造方法及び半導体素子 | |
JP3602077B2 (ja) | 有機反射防止膜の組成物及びその製造方法 | |
JP4463417B2 (ja) | 有機反射防止膜用重合体及びその製造方法 | |
JP3960750B2 (ja) | 有機反射防止化合物及びその製造方法 | |
JP3848551B2 (ja) | 有機反射防止膜の組成物及びその製造方法 | |
JP4162389B2 (ja) | 有機反射防止膜の組成物及びその製造方法 | |
JP2001048859A (ja) | 有機反射防止重合体およびその製造方法 | |
JP3602075B2 (ja) | 有機反射防止膜の組成物及びその製造方法 | |
JP2002105137A (ja) | 有機反射防止膜の組成物及びその製造方法 | |
KR100871781B1 (ko) | 이미다졸계 유도체를 포함하는 공중합체, 상기 공중합체의제조방법, 상기 공중합체를 포함하는 유기반사방지막조성물 및 상기 조성물을 포함하는 유기반사방지막 | |
KR100515485B1 (ko) | I-라인 포토레지스트용 유기반사방지막 조성물 | |
TW593409B (en) | Chemically amplified polymer having pendant group with camphoryl and resist composition comprising the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20031216 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20040312 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20040317 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040616 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040907 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040921 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081001 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091001 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101001 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111001 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111001 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121001 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121001 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131001 Year of fee payment: 9 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |