JP2002093168A5 - - Google Patents
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Description
さらに、本発明の半導体記憶装置は、第1のアドレス信号に応じて第1のバーストレングスを生成する第1の生成回路と、第1のマスク法と第2のマスク法の一方を設定する設定回路と、前記第1の生成回路により生成された第1のバーストレングスと、レジスタに保持された第2のバーストレングスが供給され、前記設定回路により前記第1のマスク法が設定された場合、前記第1のバーストレングスを選択し、第2のマスク法が設定された場合、前記第2のバーストレングスを選択する第1の選択回路と、前記第1の選択回路により選択された第1又は第2のバーストレングスに応じてライトイネーブル信号を生成する第2の生成回路と、外部から供給される信号に従ってデータのマスク位置を示す第1のマスク信号を生成する第3の生成回路と、第2のアドレス信号に応じてデータのマスク位置を示す第2のマスク信号を生成する第4の生成回路と、前記第3、第4の生成回路の出力信号が供給され、前記設定回路により、前記第1のマスク方法が設定されている場合、前記第4の生成回路から供給される前記第2のマスク信号を選択し、前記設定回路により、前記第2のマスク方法が設定されている場合、前記第3の生成回路から供給される前記第1のマスク信号を選択する第2の選択回路と、前記設定回路により、前記第2のマスク方法が設定されている場合、前記第2の選択回路から供給される前記第1のマスク信号に従ってライトパルス信号を生成し、前記設定回路により、前記第1のマスク方法が選択されている場合、前記第2の選択回路から供給される前記第2のマスク信号及び前記第2の生成回路から供給されるライトイネーブル信号に従ってライトパルス信号を生成する第5の生成回路とを具備している。
また、本発明の半導体記憶装置は、第1のマスク法と第2のマスク法の一方を設定する設定回路と、前記第1のマスク法に対応した信号を生成する第1の生成回路と、前記第2のマスク法に対応した信号を生成する第2の生成回路と、前記第1、第2の生成回路の出力端に接続され、前記設定回路により前記第1のマスク法が設定された場合、前記第1の生成回路の出力信号に基づいてライトパルス信号を生成し、前記設定回路により第2のマスク方法が選択されている場合、前記第2の生成回路の出力信号に基づいてライトパルス信号を生成する第3の生成回路とを具備している。
また、本発明の半導体記憶装置は、第1のマスク法と第2のマスク法の一方を設定する設定回路と、前記第1のマスク法に対応した信号を生成する第1の生成回路と、前記第2のマスク法に対応した信号を生成する第2の生成回路と、前記第1、第2の生成回路の出力端に接続され、前記設定回路により前記第1のマスク法が設定された場合、前記第1の生成回路の出力信号に基づいてライトパルス信号を生成し、前記設定回路により第2のマスク方法が選択されている場合、前記第2の生成回路の出力信号に基づいてライトパルス信号を生成する第3の生成回路とを具備している。
(第2の実施形態)
図10、図11は、本発明の第2の実施形態を示している。第2の実施形態は、DM法と、DM法及びVW法とは異なるプログラマブル・データ・マスク(Programmable Data Mask)法(以下PDM法と称す)、及びこのPDM法をVW法に適用したマスク法(Variable Write Burst Length Programmable Data Mask)(以下、VWPDM法と称す)を切替え可能としている。
図10、図11は、本発明の第2の実施形態を示している。第2の実施形態は、DM法と、DM法及びVW法とは異なるプログラマブル・データ・マスク(Programmable Data Mask)法(以下PDM法と称す)、及びこのPDM法をVW法に適用したマスク法(Variable Write Burst Length Programmable Data Mask)(以下、VWPDM法と称す)を切替え可能としている。
Claims (6)
- アドレス信号に応じて第1のバーストレングスを生成する第1の生成回路と、
第1のマスク法と第2のマスク法の一方を設定する設定回路と、
前記第1の生成回路により生成された第1のバーストレングスと、レジスタに保持された第2のバーストレングスが供給され、前記設定回路により前記第1のマスク法が設定された場合、前記第1のバーストレングスを選択し、第2のマスク法が設定された場合、前記第2のバーストレングスを選択する選択回路と、
前記選択回路により選択された第1又は第2のバーストレングスに応じてライトイネーブル信号を生成する第2の生成回路と、
外部から供給される信号に従ってデータのマスク位置を示すマスク信号を生成する第3の生成回路と、
前記設定回路により、前記第2のマスク方法が選択されている場合、前記第3の生成回路から供給されるマスク信号に従ってライトパルス信号を生成し、前記設定回路により、第1のマスク方法が選択されている場合、前記第2の生成回路から供給されるライトイネーブル信号に従ってライトパルス信号を生成する第4の生成回路と
を具備することを特徴とする半導体記憶装置。 - 前記第1の生成回路は、前記アドレス信号をデコードするデコーダであることを特徴とする請求項1記載の半導体記憶装置。
- 第1のアドレス信号に応じて第1のバーストレングスを生成する第1の生成回路と、
第1のマスク法と第2のマスク法の一方を設定する設定回路と、
前記第1の生成回路により生成された第1のバーストレングスと、レジスタに保持された第2のバーストレングスが供給され、前記設定回路により前記第1のマスク法が設定された場合、前記第1のバーストレングスを選択し、第2のマスク法が設定された場合、前記第2のバーストレングスを選択する第1の選択回路と、
前記第1の選択回路により選択された第1又は第2のバーストレングスに応じてライトイネーブル信号を生成する第2の生成回路と、
外部から供給される信号に従ってデータのマスク位置を示す第1のマスク信号を生成する第3の生成回路と、
第2のアドレス信号に応じてデータのマスク位置を示す第2のマスク信号を生成する第4の生成回路と、
前記第3、第4の生成回路の出力信号が供給され、前記設定回路により、前記第1のマスク方法が設定されている場合、前記第4の生成回路から供給される前記第2のマスク信号を選択し、前記設定回路により、前記第2のマスク方法が設定されている場合、前記第3の生成回路から供給される前記第1のマスク信号を選択する第2の選択回路と、
前記設定回路により、前記第2のマスク方法が設定されている場合、前記第2の選択回路から供給される前記第1のマスク信号に従ってライトパルス信号を生成し、前記設定回路により、前記第1のマスク方法が選択されている場合、前記第2の選択回路から供給される前記第2のマスク信号及び前記第2の生成回路から供給されるライトイネーブル信号に従ってライトパルス信号を生成する第5の生成回路と
を具備することを特徴とする半導体記憶装置。 - 第1のマスク法と第2のマスク法の一方を設定する設定回路と、
前記第1のマスク法に対応した信号を生成する第1の生成回路と、
前記第2のマスク法に対応した信号を生成する第2の生成回路と、
前記第1、第2の生成回路の出力端に接続され、前記設定回路により前記第1のマスク法が設定された場合、前記第1の生成回路の出力信号に基づいてライトパルス信号を生成し、前記設定回路により第2のマスク方法が選択されている場合、前記第2の生成回路の出力信号に基づいてライトパルス信号を生成する第3の生成回路と
を具備することを特徴とする半導体記憶装置。 - 前記設定回路は、
オプションパッドと、
前記オプションパッドに接続され、前記オプションパッドが所定の電位に接続された場合、前記第1のマスク方法を示す信号を発生し、前記オプションパッドがオープンの場合、前記第2のマスク方法を示す信号を発生する信号発生回路と
を具備することを特徴とする請求項1、3、4のいずれかに記載の半導体記憶装置。 - 前記第2の生成回路は、前記第1又は第2のバーストレングスをカウントし、前記ライトイネーブル信号を出力するカウンタを具備することを特徴とする請求項1又は3記載の半導体記憶装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000277108A JP4025002B2 (ja) | 2000-09-12 | 2000-09-12 | 半導体記憶装置 |
US09/951,230 US6483772B2 (en) | 2000-09-12 | 2001-09-12 | Semiconductor memory device capable of masking data to be written |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000277108A JP4025002B2 (ja) | 2000-09-12 | 2000-09-12 | 半導体記憶装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002093168A JP2002093168A (ja) | 2002-03-29 |
JP2002093168A5 true JP2002093168A5 (ja) | 2005-06-02 |
JP4025002B2 JP4025002B2 (ja) | 2007-12-19 |
Family
ID=18762487
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000277108A Expired - Fee Related JP4025002B2 (ja) | 2000-09-12 | 2000-09-12 | 半導体記憶装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6483772B2 (ja) |
JP (1) | JP4025002B2 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6671212B2 (en) | 2002-02-08 | 2003-12-30 | Ati Technologies Inc. | Method and apparatus for data inversion in memory device |
US7149824B2 (en) | 2002-07-10 | 2006-12-12 | Micron Technology, Inc. | Dynamically setting burst length of memory device by applying signal to at least one external pin during a read or write transaction |
US6957308B1 (en) | 2002-07-11 | 2005-10-18 | Advanced Micro Devices, Inc. | DRAM supporting different burst-length accesses without changing the burst length setting in the mode register |
JP2004213337A (ja) * | 2002-12-27 | 2004-07-29 | Nec Computertechno Ltd | 半導体記憶装置及び実装型半導体装置 |
JP4505195B2 (ja) * | 2003-04-01 | 2010-07-21 | エイティアイ テクノロジーズ インコーポレイテッド | メモリデバイスにおいてデータを反転させるための方法および装置 |
US20070206586A1 (en) * | 2006-03-02 | 2007-09-06 | Matti Floman | Method, mobile device, system and software for flexible burst length control |
US20080059748A1 (en) * | 2006-08-31 | 2008-03-06 | Nokia Corporation | Method, mobile device, system and software for a write method with burst stop and data masks |
JP2008198280A (ja) * | 2007-02-13 | 2008-08-28 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置及びその動作方法 |
KR20100101449A (ko) * | 2009-03-09 | 2010-09-17 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치, 그것의 마스크 데이터 전송 방법 및 입력 데이터 정렬 방법 |
JP5726425B2 (ja) * | 2010-03-04 | 2015-06-03 | エイティアイ テクノロジーズ インコーポレイテッド | メモリデバイスにおいてデータを反転させるための方法および装置 |
KR101133686B1 (ko) * | 2010-05-28 | 2012-04-12 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치와 그의 동작 방법 |
US10846253B2 (en) | 2017-12-21 | 2020-11-24 | Advanced Micro Devices, Inc. | Dynamic page state aware scheduling of read/write burst transactions |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3756231B2 (ja) | 1995-12-19 | 2006-03-15 | 株式会社ルネサステクノロジ | 同期型半導体記憶装置 |
KR100364127B1 (ko) * | 1997-12-29 | 2003-04-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 칩-세트 |
US6219747B1 (en) * | 1999-01-06 | 2001-04-17 | Dvdo Inc | Methods and apparatus for variable length SDRAM transfers |
-
2000
- 2000-09-12 JP JP2000277108A patent/JP4025002B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-09-12 US US09/951,230 patent/US6483772B2/en not_active Expired - Fee Related
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