JP5726425B2 - メモリデバイスにおいてデータを反転させるための方法および装置 - Google Patents
メモリデバイスにおいてデータを反転させるための方法および装置 Download PDFInfo
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従来技術はメモリデバイスへの書き込み時にデータ遷移の数を低減するために「データ反転」として知られる方式を提供している。このデータ反転方式では1バイトと次のバイトとの間のデータ遷移の数を決定し、解析する。遷移の数が4よりも多ければ、送るバイトのデータを反転する。このようにすることにより遷移の数は4未満にされる。この方式は最大50%の遷移に対し、バイト毎に生じ得る遷移の最大数の限度を4に設定できる。次の表を参照してデータ反転方式の動作について説明する。
現在のところ、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)システムにおいて、データを反転させるための効率的な方式は提供されていない。システムにおいてDRAMを使用する利点の1つは、DRAMが低コストであり、かかるメモリデバイスの商品性にある。データ反転方式を使用するDRAMが反転情報のためのエクストラピンを必要とする場合、ジェオグラフィが少数のピンしか有しないDRAM用となっている多くのアプリケーションではDRAMを使用することができない。同様に、エクストラピンを有するDRAMを製造し、販売するための出費によってDRAMは商業的な発展性がなくなる。
DRAMへの書き込み動作は入進データを反転するか、反転しないかの表示を伴なっていなければならない。DRAMが真の状態のデータを記憶できるように、書き込むべきデータと共にデータ反転マスク(DIM)ビットが含まれる。図2にはこれを行うための1つの実現例が示されている。DIMビット202と共に、排他的ORゲート203に入力信号201として入進データが加えられる。DIMビットが高レベルであると、入進データは反転されているので、データアレイ204に記憶する前にXORゲート203を通してこれを再反転する。
図3は本発明に係わるDRAM用読み出し回路を示す。データの各バイトは関連するDMピンを有する。例えばデータバイトD[7:0]はDM0に関連しており、バイトD[15:8]はDM1に関連しており、バイトD[23:16]はDM2に関連しており、バイトD[31:24]はDM3に関連している。読み出し動作中、アレイ300からデータ入力ピンおよびDIM発生器、例えば発生器301.1〜301.4へ直接データが与えられる。DM発生器は読み出し動作中のデータの遷移を減少させるためにデータを反転すべきか否かを判断する。DIM発生器の出力信号はデータビットに関連するDMピンに出力される。
DRAMからはバーストモードで読み出しが行われることが多い。図5はバーストモードの読み出し動作中の本発明の作動を示すフローチャートである。ブロック500でバースト読み出しがスタートする。ブロック510では前のデータレジスタの信号およびDM信号が低レベルにセットされる。ブロック520では現在のデータと前のデータとが比較され、現在のデータを送る際に生じる遷移の数を決定する。判断ブロック530では、遷移の数が4よりも多くなるかどうかを見るために遷移の数をチェックする。YESであれば、ブロック540でデータを反転し、DMを反転する。判断ブロック530での結果がNOであれば、ブロック550でデータを反転せず、前のDMの値を維持する。
本発明は、特に読み出し動作のために過剰に多いピン数を必要とすることなく、DRAMのためにデータを反転できる能力を提供する利点を有する。通常、読み出し動作では使用されないピン、例えばDMピンを使用することにより、本発明は読み出し動作用の増設ピンを用いないでデータ反転を利用するバイト読み出しを可能にしている。
バースト読み出しの例を参照して既に説明したように、バースト読み出し動作が開始した時にバスは低レベル状態にあったとみなした。このことは必要なことではなく、本発明はかかる方式または仮定に限定されるものではない。バスのターミネーションは下記の多数の方法のうちのいずれかでよい。
DRAMに関連して本発明について説明したが、本発明は他の用途も有する。例えばデータ反転方式を使用できるようにマイクロプロセッサのインターフェースロジックに関連してこの方式を使用できる。図6にはかかる一実施例が示されている。
図7Aには本発明の読み出しブロックの一実施例が示されている。この実施例はI/Oがオープンドレイン(すなわちバスは論理1にターミネートされている)の場合、DCパワー最適化を行うようになっている。図7Aを参照すると、フリップフロップ702、コンパレータ703およびNORゲート704へは読み出しデータ701(8ビット)が結合される。フリップフロップ702のイネーブル入力端へは負荷信号705が結合される。ORゲート706の入力端にはDC最適化信号707と共にフリップフロップ702の出力信号が結合される。DC最適化信号は論理「1」であり、この信号はコンパレータブロック703の前のデータフィールドへOR演算入力される。このOR演算は、コンパレータブロック703の出力信号が論理「1」である値の半分よりも大きくなるようにし、DCパワーを節約するのを保証するものである。コンパレータ703は現在のデータフィールドと前のデータフィールドとを比較し、異なる値を有するビット数が5以上であるかどうかを見る。そうである場合、出力(DIN)は論理「1」であり、NORゲート704へ与えられ、データの適当な反転が行われる。
102 データレシーバー
401 最終データレジスタ
402 新データレジスタ
403 コンパレータ
604 メモリコントローラ
608 マイクロプロセッサ
Claims (7)
- 各々が第1レベル値または第2レベル値を有する複数のビットを有する、読み出すべき同期式メモリデバイス内の現在のワードを検査する工程と、
前記現在のワードと前のワードとを比較し、前記前のワードにおける前記第1レベル値を有するビットから前記現在のワードにおける前記第2レベル値を有するビット又は前記前のワードにおける前記第2レベル値を有するビットから前記現在のワードにおける前記第1レベル値を有するビットへの遷移の数を決定する工程と、
前記遷移の数が閾値以上である時に、前記現在のワードを反転する工程と、
前記メモリデバイスから前記現在のワードを読み出す工程と、
現在のワードが反転されたかを示すために、各ワードに前記同期式メモリデバイスからデータ反転マスクビットを付与する工程とを備え、
該データ反転マスクビットは、書き込み動作中にデータ入力をマスクするために使用される前記同期式メモリデバイスのピンで送られる、同期式メモリデバイスから情報を読み出す方法。 - I/Oピンを有するデータアレイとデータ反転マスク発生器とを含む同期式メモリデバイスであって、
前記データ反転マスク発生器は、前記I/Oピンに作動的に結合され、少なくとも第1のビットセットと第2のビットセット間の遷移数に基づいて、選択的にデータ反転マスクビットを生成し、該データ反転マスクビットは、書き込み動作中にデータ入力をマスクするために使用される前記同期式メモリデバイスのピンで送られる、前記同期式メモリデバイス。 - 同期式メモリデバイスであって、
フリップフロップの入力に接続されている読み取りデータバスと、
比較器の第1の入力と、
排他的ORゲートの第1の入力とを含み、
負荷信号は、前記フリップフロップのイネーブル入力に接続され
前記フリップフロップの出力は、ORゲートの第1の入力に接続され、
DC最適化信号は、前記ORゲートの第2の入力に接続され、
前記ORゲートの出力は、前記比較記の第2の入力に接続され、
前記比較器の出力は、読み出し動作中にデータ入力をマスクするために使用される前記同期式メモリデバイスのピンと、前記排他的ORゲートの第2の入力とに接続され、
前記排他的ORゲートの出力は、I/Oピンに接続され、
前記比較器は、現在のビットセットと前のビットセットとを比較し、該現在のビットセットと該前のビットセットとの間の遷移数が閾値を超える場合に高レベルのデータ反転マスクビットを生成する、前記同期式メモリデバイス。 - DRAMを含む同期式メモリデバイスであって、前記DRAMは
データが読み出される第1のデータバンクと、
データが読み出される第2のデータバンクと、
前記第1のデータバンクからの出力バスと前記第2のデータバンクからの出力バスを結合させて結合バスを形成するメモリコントローラとを含み、
前記結合バスはマイクロプロセッサの第1の入力に接続され、
書き込み動作中にデータ入力をマスクするために使用される前記第1のデータバンクのデータマスクピンは、排他的ORゲートの第1の入力に接続され、
書き込み動作中にデータ入力をマスクするために使用される前記第2のデータバンクのデータマスクピンは、前記排他的ORゲートの第2の入力に接続され、
前記第1及び第2のデータバンクのデータマスクピンは前記排他的ORゲートにデータ反転ビットを与え、
前記排他的ORゲートの出力は、前記マイクロプロセッサの第2の入力に接続されている、
前記同期式メモリデバイス。 - 同期式メモリデバイスであって、
I/Oピンを有するデータアレイと、
前記I/Oピンに作動的に結合されているデータ反転マスク発生器とを含み、更に
第1の複数のビットを蓄積する第1のレジスタと、
第2の複数のビットを蓄積する第2のレジスタと、を含み、
前記データ反転マスク発生器は、前記第1のレジスタと前記第2のレジスタに作動的に接続され、データ反転マスクビットを書き込み動作中にデータをマスクするために使用されるピンに出力する比較器を有し、
前記比較器は、前記第1の複数のビットと前記第2の複数のビットとの間の遷移数が閾値を超える場合に高い論理レベルを出力する、前記同期式メモリデバイス。 - 同期式メモリデバイスを含む装置であって、前記メモリデバイスは、
第1のビットセットと第2のビットセットを蓄積するよう作動するデータアレイと、
前記第1のビットセットと前記第2のビットセットに基づいて、書き込み動作中にデータをマスクするために使用されるピンで選択的にビット反転情報を提供するよう作動する、データ反転マスク発生器と、
前記メモリデバイスに作動的に結合されており、前記第1のビットセットに基づく出力データと、前記ビット反転情報に基づくビット反転出力とを提供するよう作動するメモリコントローラとを含む、前記装置。 - 同期式メモリデバイスであって、
フリップフロップの入力に作動的に結合されているデータバスと、
比較器の第1の入力と、
ロジックゲートの第1の入力とを含み、
前記フリップフロップのイネーブル入力は、負荷信号を受けるよう作動し、
前記フリップフロップの出力は、ORゲートの第1の入力に作動的に結合され、
前記ORゲートの第2の入力は、DC最適化信号を受けるよう作動し、
前記ORゲートの出力は、前期比較器の第2の入力に作動的に結合され、
前期比較器の出力は、書き込み動作中にデータをマスクするために使用されるピンであってデータ反転マスクビットが与えられる該ピンと、前記ロジックゲートの第2の入力とに作動的に結合され、
前記ロジックゲートの出力は、I/Oピンに作動的に結合されている、
前記同期式メモリデバイス。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010048024A JP5726425B2 (ja) | 2010-03-04 | 2010-03-04 | メモリデバイスにおいてデータを反転させるための方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2010048024A JP5726425B2 (ja) | 2010-03-04 | 2010-03-04 | メモリデバイスにおいてデータを反転させるための方法および装置 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003129584A Division JP4505195B2 (ja) | 2003-04-01 | 2003-04-01 | メモリデバイスにおいてデータを反転させるための方法および装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
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JP2010118087A JP2010118087A (ja) | 2010-05-27 |
JP2010118087A5 JP2010118087A5 (ja) | 2010-07-08 |
JP5726425B2 true JP5726425B2 (ja) | 2015-06-03 |
Family
ID=42305676
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010048024A Expired - Lifetime JP5726425B2 (ja) | 2010-03-04 | 2010-03-04 | メモリデバイスにおいてデータを反転させるための方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5726425B2 (ja) |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08314589A (ja) * | 1995-05-15 | 1996-11-29 | Hitachi Ltd | 信号伝達装置 |
JP3346999B2 (ja) * | 1996-01-08 | 2002-11-18 | 株式会社東芝 | 入出力装置 |
KR100272171B1 (ko) * | 1998-08-19 | 2000-12-01 | 윤종용 | 저전류 동작 출력 회로 및 입출력 시스템과이를 이용한 데이터입출력 방법 |
JP3259696B2 (ja) * | 1998-10-27 | 2002-02-25 | 日本電気株式会社 | 同期型半導体記憶装置 |
JP4279404B2 (ja) * | 1999-06-17 | 2009-06-17 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置およびこの半導体記憶装置の試験方法 |
JP4025002B2 (ja) * | 2000-09-12 | 2007-12-19 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
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2010
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Publication number | Publication date |
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JP2010118087A (ja) | 2010-05-27 |
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