JP2002023712A - 表示装置及びその駆動方法 - Google Patents
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Abstract
が固定される欠陥を検出し、その欠陥を修復することが
できる表示装置を提供することを課題とする。 【解決手段】 本発明の表示装置は、複数の走査線を有
する表示部(2)と、表示部の走査線の両端に走査信号
を供給するための出力線を有する第1及び第2の走査ド
ライバ(4a,4b)とを有する。第1又は第2の走査
ドライバ等の異常により、第1又は第2の走査ドライバ
の出力線のうちの一又は複数の出力線の電位が固定又は
開放されているときには、該固定又は開放されている電
位の出力線と表示部の走査線との間の接続を切断する。
Description
駆動方法に関し、特に走査ドライバから供給される走査
信号に応じて表示を行う表示装置及びその駆動方法に関
する。
は、低コスト化のための技術開発競争が熾烈を極めてい
る。中でも、低温プロセスでポリシリコン薄膜トランジ
スタを形成する技術は、安価なガラス基板上に、表示領
域だけでなく、周辺回路(例えばドライバ)をも形成す
ることを可能とする。このため、従来のようなドライバ
用ICの実装費用が削減され、大幅なコスト削減を期待
できることから注目を浴びている。これまでにポリシリ
コン薄膜トランジスタをガラス基板上に形成して大型で
かつ高精細の液晶表示装置を作成する試みがなされてき
ている。
置の構成を示す。表示領域100は、二次元に配列され
た薄膜トランジスタを有し、各薄膜トランジスタが各画
素の表示を制御する。第1の走査ドライバ101aは表
示領域100の左に設けられ、第2の走査ドライバ10
1bは表示領域100の右に設けられる。第1の走査ド
ライバ101aはn本の出力線GL1〜GLnを介し
て、第2の走査ドライバ101bはn本の出力線GR1
〜GRnを介して、それぞれ表示領域100の走査線の
両端に同一の走査信号を供給する。第1のデータドライ
バ102a及び第2のデータドライバ102bは、表示
領域100の上下に設けられ、データ信号を表示領域1
00に供給する。
バ101aの出力線GL3と第2の走査ドライバ101
bの出力線GR3とを接続する表示領域100内の走査
線上で断線されたポイントである。この場合、表示領域
103aには、第1の走査ドライバ101aから走査信
号が供給されるので、表示領域103aでの表示が可能
になる。一方、表示領域103bには、第2の走査ドラ
イバ101bから走査信号が供給されるので、表示領域
103bでの表示が可能になる。すなわち、断線ポイン
ト103で断線が生じたとしても、表示領域103a及
び103bの両方で表示が可能になる。この点に、第1
及び第2の2つの走査ドライバ101a,101bを設
ける意味がある。
走査ドライバ101a及び101bの出力線GL1〜G
Ln及びGR1〜GRnの数が増加している。その結
果、走査ドライバ101a及び101b内に製造プロセ
ス上の欠陥が発生する確率が高くなっている。
ス上の欠陥等により、走査ドライバ101b内の短絡ポ
イント104で出力線GR3が電源線又はグランド線等
に短絡されてしまうことがある。この場合、走査ドライ
バ101b内の出力線GR3は電源電位やグランド電位
等に固定されてしまい、正常な走査信号が走査ドライバ
101bから表示領域100に供給されなくなってしま
う。その結果、上記の出力線GR3に対応する表示領域
100内の水平ラインの右側の領域は、常に白又は黒の
表示になってしまい、正常な表示が行われなくなってし
まう。
ったとしても、走査ドライバ101a又は101bに欠
陥が生じてしまえば、これらが同一ガラス基板上に形成
されるために、液晶表示装置全体が不良品になってしま
う。そこで、走査ドライバ101a,101bの欠陥を
修復するための技術が提案されている。次に、その技術
を説明する。
示される第2の従来例による液晶表示装置の構成を示
す。第2の従来例による液晶表示装置は、第1の従来例
による液晶表示装置(図22及び図23)に対して、n
チャネルMOSトランジスタ111a及び111bを付
加したものである。トランジスタ111aのゲートに
は、制御信号用端子CLを介して制御信号が供給され
る。トランジスタ111aのソース及びドレインには、
第1の走査ドライバ101aの出力線GL1〜GLn及
び表示領域100の走査線が接続される。同様に、トラ
ンジスタ111bのゲートには、制御信号用端子CRを
介して制御信号が供給される。トランジスタ111bの
ソース及びドレインには、第2の走査ドライバ101b
の出力線GR1〜GRn及び表示領域100の走査線が
接続される。
ライバ101b内の短絡ポイント112で出力線GR2
が電源線又はグランド線等に短絡していることが検出で
きたとする。その場合、制御信号用端子CLにハイレベ
ルの電圧を印加し、制御信号用端子CRにローレベルの
電圧を印加する。
11aのゲートにはハイレベルが供給され、n個のトラ
ンジスタ111aはオンし、走査ドライバ101aの出
力線GL1〜GLnと表示領域100の走査線とを接続
する。表示領域100には、走査ドライバ101aから
走査信号が供給される。
bのゲートにはローレベルが供給され、n個のトランジ
スタ111bはオフし、走査ドライバ101bの出力線
GR1〜GRnと表示領域100の走査線との間の接続
を切断する。走査ドライバ101bから表示領域100
には、走査信号が供給されない。
イバ101aからのみ正常な走査信号が供給され、正常
な表示を行うことができる。しかし、上記の公報には、
短絡ポイント112の検出方法が記載されていない。ま
た、仮に、第2ラインに欠陥があることを表示画面上の
目視により発見できたとしても、その第2ラインでの欠
陥が第1の走査ドライバ101a内での短絡によるもの
か、或いは第2の走査ドライバ101b内での短絡によ
るものかを判断することができない。その判断方法が示
されなければ、第1及び第2の走査ドライバ101a,
101bのいずれに欠陥があるのかがわからず、制御信
号用端子CL及びCRの電圧レベルを決定することがで
きない。
ライバ101b内の短絡ポイント113で出力線GR2
の短絡が発生し、さらに表示領域100内の断線ポイン
ト114で走査線の断線が発生することがある。この場
合、短絡ポイント113を修復するために、上記と同様
に、制御信号用端子CLにハイレベルを供給し、制御信
号用端子CRにローレベルを供給するとする。
査ドライバ101aから走査信号が供給されるが、表示
領域114bには、走査ドライバ101a及び101b
のいずれからも走査信号が供給されなくなり、表示領域
114bでは、正常な表示を行うことができなくなって
しまう。
ライバ101a内の短絡ポイント115で出力線GL4
の短絡が発生し、第2の走査ドライバ101b内の短絡
ポイント116で出力線GR1の短絡が発生し、表示領
域100内の断線ポイント117で走査線の断線が発生
した場合を考える。
制御信号用端子CRにローレベルの電圧を印加し、制御
信号用端子CLにハイレベルの電圧を印加することが考
えられる。しかし、その場合、トランジスタ111bが
オフになり、表示領域117bに走査信号が供給され
ず、表示領域117bでは正常な表示が行われない。ま
た、第1の走査ドライバ101a内の短絡ポイント11
5で出力線GL4が短絡しているために、表示領域10
0の第4ラインの走査線には、第2の走査ドライバ10
1bから走査信号が供給されないのみならず、第1の走
査ドライバ101aからも正常な走査信号が供給されな
い。そのため、第4ラインでは正常な表示を行うことが
できない。
には、制御信号用端子CLにローレベルを印加し、制御
信号用端子CRにハイレベルを印加することが考えられ
る。しかし、その場合、トランジスタ111aがオフに
なり、表示領域117aに走査信号が供給されず、表示
領域117aでは正常な表示が行われない。また、第2
の走査ドライバ101b内の短絡ポイント116で出力
線GR1が短絡しているために、表示領域100の第1
ラインには、第1の走査ドライバ101a及び第2の走
査ドライバ101bの双方から正常な走査信号が供給さ
れない。そのため、第1ラインでは正常な表示を行うこ
とができない。
全に修復することができない。また、上記の公報では、
上述のように、欠陥の検出方法が示されていない。次
に、欠陥の検出方法を示した公報について説明する。
示される第3の従来例による液晶表示装置の構成を示
す。この第3の従来例による液晶表示装置は、第1の従
来例による液晶表示装置(図22及び図23)に対し
て、nチャネルMOSトランジスタ121a,121b
を付加したものである。
は、第1の走査ドライバ101aの出力線GL1〜GL
nが接続される。n個のトランジスタ121aのソース
及びドレインには、入力端子Lin及び出力端子Lou
tが接続される。
トには、第2の走査ドライバ101bの出力線GR1〜
GRnが接続される。n個のトランジスタ121bのソ
ース及びドレインには、入力端子Rin及び出力端子R
outが接続される。
端子Loutの信号を調べることにより、トランジスタ
121aのゲートに印加される走査信号の状態を知るこ
とができる。また、入力端子Rinに検査信号を入力
し、出力端子Routの信号を調べることにより、トラ
ンジスタ121bのゲートに印加される走査信号の状態
を知ることができる。しかし、第3の従来例の公報に
は、検査方法のみが示されており、修復方法が示されて
いない。
従来例の公報には、修復方法が示されているが、検査方
法が示されていない。また、その修復方法には、限界が
あり、図25に示す欠陥及び図26に示す欠陥に対して
は修復することができない。
が示されているが、修復方法が示されていない。さら
に、その検査方法は具体的なものが示されておらず、す
べての欠陥を検出できるものではない。また、仮に、欠
陥を検出できたとしても、その欠陥をどのように修復で
きるかが示されていない。
電位が固定又は開放される欠陥を検出し、その欠陥を自
動的に修復することができる表示装置及びその駆動方法
を提供することである。本発明の他の目的は、走査ドラ
イバの出力線の電位が固定又は開放される欠陥を確実に
検出することができる表示装置及びその駆動方法を提供
することである。本発明のさらに他の目的は、走査ドラ
イバの出力線の電位が固定又は開放される欠陥を確実に
修復することができる表示装置及びその駆動方法を提供
することである。
数の走査線を有する表示部と、表示部の走査線に走査信
号を供給するための出力線を有する走査ドライバとを有
する。走査ドライバ等の異常により、走査ドライバの出
力線のうちの一又は複数の出力線の電位が固定又は開放
されているときには、該固定又は開放されている電位の
出力線と表示部の走査線との間の接続を切断する。
放されているときには、該固定又は開放されている電位
の出力線と表示部の走査線との間の接続のみを切断する
ことが可能になる。例えば、第1の走査ドライバの出力
線と表示部の走査線との間の接続が切断されたときに
は、表示部の走査線には第2の走査ドライバの出力線か
ら正常な走査信号が供給される。第1又は第2の走査ド
ライバのすべての走査線と表示部のすべての走査線との
間の接続を切断するのではなく、電位が固定又は開放さ
れている出力線と表示部の走査線との間の接続のみを切
断することができるので、第1又は第2の走査ドライバ
の正常な出力線と表示部の走査線との間は接続され、正
常な表示を行うことができる。また、第1の走査ドライ
バと第2の走査ドライバとで、個別に出力線の電位が固
定又は開放されているか否かを判定し、必要に応じて個
別に出力線と走査線との間の接続を切断するので、図2
5及び図26に示した様な欠陥でも修復することができ
る。すなわち、第1又は第2の走査ドライバと表示部の
両方に欠陥がある場合や、第1及び第2の走査ドライバ
と表示部とに欠陥がある場合でも、修復が可能になり、
正常な表示を行うことができる。
基づいて説明する。 (第1の実施形態)図1は、本発明の第1の実施形態に
よる液晶表示装置の構成例を示すブロック図である。第
1の実施形態による液晶表示装置は、第1又は第2の走
査ドライバ4a,4b内の出力線がグランド線に短絡又
は断線等が生じて、その出力線がローレベルに固定され
るか又は開放になる欠陥が生じた場合に、その欠陥を検
出し、自動的に修復することができる。
走査ドライバ4a、第2の走査ドライバ4b、第1のデ
ータドライバ3a、第2のデータドライバ3bの他に、
判定手段5a,5b、nチャネルMOSトランジスタ7
a,7b,8a,8bが一体化して形成される。ガラス
基板1と対向基板6との間には液晶が充填されており、
対向基板6の全面には対向電極が形成されている。後に
説明する第2〜5の実施形態においても、同様の対向基
板6が用いられる。なお、本明細書で述べるトランジス
タは、すべてポリシリコン薄膜トランジスタである。
構成を図2に示す。表示領域2は、二次元マトリックス
状に配列されたnチャネルMOSトランジスタ21を有
する。走査線の左端部L1と走査線の右端部R1とが相
互に接続され、第1の走査線を構成する。走査線の左端
部L2と走査線の右端部R2とが相互に接続され、第2
の走査線を構成する。同様に、走査線の左端部Lnと走
査線の右端部Rnとが相互に接続され、第nの走査線を
構成する。各トランジスタ21は、ゲートが水平方向に
延びる走査線(L1,R1)〜(Ln,Rn)に接続さ
れ、ソース及びドレインが垂直方向に延びるデータ線D
1〜Dn及び画素電極22に接続される。画素電極22
に所定の電位を印加することにより、各画素の表示を制
御することができる。
バ4a,4bは、表示領域2を挟むように表示領域2の
両側に設けられ、表示領域2の走査線L1〜Ln,R1
〜Rnの両端に同一の走査信号を供給するための出力線
GL1〜GLn,GR1〜GRnを有する。
左に設けられ、n本の出力線GL1〜GLnを有する。
第1の走査ドライバ4aの出力線GL1〜GLnは、n
個のnチャネルMOSトランジスタ(スイッチング手
段)8aを介して、表示領域2の走査線L1〜Lnに接
続される。すなわち、n個のトランジスタ8aのソース
及びドレインは、出力線GL1〜GLn及び走査線L1
〜Lnに接続される。
右に設けられ、n本の出力線GR1〜GRnを有する。
第2の走査ドライバ4bの出力線GR1〜GRnは、n
個のnチャネルMOSトランジスタ(スイッチング手
段)8bを介して、表示領域2の走査線R1〜Rnに接
続される。すなわち、n個のトランジスタ8bのソース
及びドレインは、出力線GR1〜GRn及び走査線R1
〜Rnに接続される。
は、表示領域2を挟むように表示領域2の両側に設けら
れる。第1のデータドライバ3aは、表示領域2の上に
設けられ、表示領域2の奇数番目のデータ線D1,D
3,D5,・・・,Dn−1にデータ信号を供給する。
第2のデータドライバ3bは、表示領域2の下に設けら
れ、表示領域2の偶数番目のデータ線D2,D4,D
6,・・・,Dnにデータ信号を供給する。なお、第1
及び第2のデータドライバ3a,3bは、2つに分離せ
ずに、2つを統合して1つのデータドライバで構成して
もよい。ただし、2つに分離することにより、第1及び
第2のデータドライバ3a,3bのそれぞれの配線間ピ
ッチを大きくすることができるので、製造プロセス条件
を緩和でき、製造し易くなる。
ライバ3a,3bとの関係を説明する。第1の走査ドラ
イバ4aは、表示領域2の走査線(L1,R1)〜(L
n,Rn)を順次選択するための走査信号を出力線GL
1〜GLn上に出力する。同様に、第2の走査ドライバ
4bは、表示領域2の走査線(L1,R1)〜(Ln,
Rn)を順次選択するための走査信号を出力線GR1〜
GRn上に出力する。
線L1,R1が選択されているときには、第1の走査線
L1,R1のラインに対応するデータD1〜Dnを出力
し、同様に、第2の走査線L2,R2が選択されている
ときには、第2の走査線L2,R2のラインに対応する
データD1〜Dnを出力し、以後、順次、第nの走査線
Ln,Rnのラインまで同様にして出力を行う。
ネルMOSトランジスタ)7aのゲートには、それぞれ
第1の走査ドライバ4aの出力線GL1〜GLnが接続
される。n個の第1の検査用トランジスタ7aのソース
及びドレインの一方には、検査入力端子Linが接続さ
れ、他方には判定手段5aの入力端子が接続される。
する。出力線GL1〜GLnのうちのいずれかが選択さ
れると、その選択された出力線が接続されるトランジス
タ7aがオンする。すると、トランジスタ7aは、検査
入力端子Linから入力された検査信号を判定手段5a
へ出力(伝達)する。第1の走査ドライバ4aが正常で
あれば、n個のトランジスタ7aは、第1の出力線GL
1に対応するものから第nの出力線GLnに対応するも
のまでが順番にオンする。
合を説明する。トランジスタ7aは、各出力線GL1〜
GLn上の走査信号がハイレベルになる度に(出力線が
選択される度に)、オンする。すると、判定手段5a
は、上記の検査信号を正常に入力し、第1の走査ドライ
バ4aの出力線GL1〜GLn上の走査信号が正常であ
ると判定し、ハイレベルを出力する。これらの判定は、
各出力線GL1〜GLnのタイミング毎に順次行われ
る。
ネルMOSトランジスタ)8aのゲートは、判定手段5
aの出力端子に接続される。n個のスイッチングトラン
ジスタ8aのソース及びドレインは、一方が走査ドライ
バ4aの出力線GL1〜GLnに接続され、他方が表示
領域2の走査線L1〜Lnに接続される。
nチャネルトランジスタ8aは、オンし、走査ドライバ
4aの出力線GL1〜GLnと表示領域2の走査線L1
〜Lnとを相互に接続する。これにより、表示領域2
は、第1の走査ドライバ4aから走査信号を入力し、正
常な表示を行うことができる。
のうちの一又は複数の出力線がグランド線に短絡し、そ
の出力線上の走査信号がローレベルに固定されてしまっ
た欠陥、又は一又は複数の出力線が断線して開放状態に
なる欠陥を考える。走査信号がローレベルに固定又は開
放されると、その走査信号に対応するトランジスタ7a
は、オフ状態を維持する。すると、判定手段5aは、端
子Linから入力された検査信号を得ることができず、
第1の走査ドライバ4aの出力線GL1〜GLnのうち
の所定の出力線がグランド線に短絡しているか又は開放
していると判定し、ローレベルを出力する。上記の判定
は、出力線GL1〜GLnの各出力線毎に判定を行い、
出力する。すなわち、正常な出力線のタイミングではハ
イレベルを出力し、異常な出力線のタイミングではロー
レベルを出力する。
nチャネルMOSトランジスタ8aは、オフし、走査ド
ライバ4aの出力線GL1〜GLnと表示領域2の走査
線L1〜Lnとの間の接続を切断する。また、正常な出
力線については、判定手段5aがハイレベルを出力し、
トランジスタ8aはオンし、出力線GL1〜GLnと走
査線L1〜Lnとの間を接続する。これにより、表示領
域2は、第1の走査ドライバ4aの正常な出力線のみか
ら走査信号を入力する。異常な出力線については、第2
の走査ドライバ4bから走査信号を入力し、正常な表示
を行うことができる。
スタ7a,8a及び第1の判定手段5aについて説明し
たが、第2の走査ドライバ4b、トランジスタ7b,8
b及び第2の判定手段5bについても同様である。
は、第2の走査ドライバ4bの出力線GR1〜GRnが
接続される。トランジスタ7bのソース及びドレイン
は、一方が検査入力端子Rinに接続され、他方が判定
手段5bの入力端子に接続される。
5bの出力が接続される。トランジスタ8bのソース及
びドレインは、一方が第2の走査ドライバ4bの出力線
GR1〜GRnに接続され、他方が表示領域2の走査線
R1〜Rnに接続される。
4bの出力線GR1〜GRn上の走査信号に応じてスイ
ッチングを行う。判定手段5bは、トランジスタ7bの
スイッチングの状態に応じて、第2の走査ドライバ4b
内の出力線GR1〜GRnがグランド線に短絡又は開放
しているか否かを判定し、判定結果を出力する。トラン
ジスタ8bは、判定手段5bの出力に応じて、第1の走
査ドライバ4bの出力線GR1〜GRnと表示領域2の
走査線R1〜Rnとの間の接続のスイッチングを行う。
場合を説明する。第1の欠陥は、第1の走査ドライバ4
a内の出力線GLnが短絡ポイント10でグランド線に
短絡している欠陥である。第2の欠陥は、第2の走査ド
ライバ4b内の出力線GR2が短絡ポイント11でグラ
ンド線に短絡している欠陥である。第3の欠陥は、表示
領域2の走査線L5,R5が断線ポイント12で断線し
ている欠陥である。
ライバ4aの第nの出力線GLnのみがグランド線に短
絡し、その他の出力線GL1〜GLn−1は正常である
と判定する。トランジスタ8aは、第nの出力線GLn
に対応するもののみがオフし、その他の出力線GL1〜
GLn−1に対応するものはオンする。
バ4bの第2の出力線GR2のみがグランド線に短絡
し、その他の出力線GR1,GR3〜GRnは正常であ
ると判定する。トランジスタ8bは、第2の出力線GR
2に対応するもののみがオフし、その他の出力線GR
1,GR3〜GRnに対応するものはオンする。
2,R2には、第1の走査ドライバ4aのみから走査信
号が供給され、第nの走査線Ln,Rnには、第2の走
査ドライバ4bのみから走査信号が供給される。また、
残りの走査線(L1,R1)、(L3,R3)〜(Ln
−1,Rn−1)には、第1及び第2の走査ドライバ4
a,4bの両方から走査信号が供給される。
aは、第1の走査ドライバ4aから走査信号を受けて、
正常な表示を行うことができる。一方、表示領域12b
は、第2の走査ドライバ4bから走査信号を受けて、正
常な表示を行うことができる。このように、上記の3ポ
イント10〜12の欠陥があったとしても、すべてのラ
インについて正常な表示を行うことができる。
の構成を示す回路図である。データドライバ3aの構成
を説明するが、データドライバ3bの構成もそれと同様
である。データドライバ3aは、シフトレジスタ31、
ビデオアナログ線32、及びアナログスイッチ33を有
する。
SI、クロック端子CLK、及びクロックバー(反転)
端子/CLKの3つの入力端子に各信号を入力し、出力
線37,38,・・・から順次パルスを出力する。すな
わち、まず、出力線37が選択され、次に出力線38が
選択され、順次後段の出力線が選択されていく。出力線
37,38,・・・は、2本だけでなく、実際には多数
存在する。なお、上記の記号「/」は、バー(反転)信
号を意味する。
デオアナログ線32a〜32hからなり、例えば256
階調のデータ信号のアナログ電圧を供給する。アナログ
スイッチ33は、nチャネルMOSトランジスタ34と
pチャネルMOSトランジスタ35とが一組のスイッチ
を構成し、水平方向に並ぶ8組のスイッチが1ユニット
になる。すなわち、左端の8組のユニットでは、nチャ
ネルMOSトランジスタ34のゲートに出力線37が接
続され、pチャネルMOSトランジスタ35のゲートに
は、論理反転回路(インバータ)36を介して出力線3
7が接続される。その右隣の8組のユニットは、nチャ
ネルMOSトランジスタ34のゲートに出力線38が接
続され、pチャネルMOSトランジスタ35のゲート
に、論理反転回路(インバータ)36を介して出力線3
8が接続される。
ャネルMOSトランジスタ35のソース及びドレイン
は、ビデオアナログ線32a〜32h及び表示領域2の
データ線D1,D3,・・・,Dn−1に接続される。
と、アナログスイッチ33内の左端の8組のスイッチユ
ニットがオンし、8本のビデオアナログ線32a〜32
hと8本のデータ線D1,D3,・・・,D15とが接
続され、8本のデータ信号が表示領域2に供給される。
後、ビデオアナログ線32に新たなデータ信号が供給さ
れ、出力線38が選択されてハイレベルになる。する
と、アナログスイッチ33内の左端から2番目の8組の
スイッチユニットがオンし、8本のビデオアナログ線3
2a〜32hと8本のデータ線D17,D19,・・
・,D31とが接続され、新たな8本のデータ信号が表
示領域2に供給される。以上のようにして、データ線D
n−1まで順次データが供給され、1ライン分のデータ
供給が完了する。この動作を表示領域2の各ラインにつ
いて行う。
4a,4b内で使用するクロックドインバータを示す図
である。クロックドインバータは、クロック信号CLK
及びクロックバー信号/CLKを制御信号として、入力
端子INから入力される信号を反転して、出力端子OU
Tから出力する。
クドインバータの構成を示す回路図である。pチャネル
MOSトランジスタ41は、ゲートがクロックバー信号
端子/CLKに接続され、ソースが正電位Vddに接続
され、ドレインがpチャネルMOSトランジスタ42の
ソースに接続される。pチャネルMOSトランジスタ4
2は、ゲートが入力端子INに接続され、ドレインが出
力端子OUTに接続される。nチャネルMOSトランジ
スタ43は、ゲートが入力端子INに接続され、ドレイ
ンが出力端子OUTに接続され、ソースがnチャネルM
OSトランジスタ44のドレインに接続される。nチャ
ネルMOSトランジスタ44は、ゲートがクロック信号
端子CLKに接続され、ソースがグランド電位GNDに
接続される。
4aの構成を示す回路図である。第1の走査ドライバ4
aの構成を説明するが、第2の走査ドライバ4bの構成
もそれと同様である。第1のクロックドインバータ5
1,56は、クロック信号端子CLK及びクロックバー
信号端子/CLKの位置が図4(B)に示すものと同じ
である。一方、第2のクロックドインバータ53,54
は、クロック信号端子CLK及びクロックバー信号端子
/CLKの位置が図4(B)に示すものと逆であり、ト
ランジスタ41のゲートにクロック信号端子CLKが接
続され、トランジスタ44のゲートにクロックバー信号
端子/CLKが接続される。
ート信号端子SIに接続され、出力がインバータ52の
入力に接続される。クロックドインバータ53は、入力
がインバータ52の出力に接続され、出力がインバータ
52の入力に接続される。クロックドインバータ54
は、入力がインバータ52の出力に接続され、出力がイ
ンバータ55の入力に接続される。クロックドインバー
タ56は、入力がインバータ55の出力に接続され、出
力がインバータ55の入力に接続される。上記のクロッ
クドインバータ51,53及びインバータ52が奇数番
目ユニットを構成し、クロックドインバータ54,56
及びインバータ55が偶数番目ユニットを構成する。図
の右側には、上記の奇数番目ユニットと偶数番目ユニッ
トとが交互に水平方向に繰り返し接続される。
52の出力とインバータ55の出力との論理積をとっ
て、第1の出力線GL1に出力する。論理積回路58
は、インバータ55の出力と後段のインバータの出力と
の論理積をとって、第2の出力線GL2に出力する。
4aの動作を説明するためのタイミングチャートであ
る。走査ドライバ4aは、シフトレジスタと同様の機能
を果たす。すなわち、スタート信号端子SIにスタート
信号のパルスを入力すると、順次、第1の出力線GL
1、第2の出力線GL2〜第nの出力線GLnにパルス
を出力する。
の周辺部分の回路図である。走査ドライバ4aは、上記
の図5(A)に示した走査ドライバ4aの回路と同一で
ある。nチャネルMOSトランジスタ7aは、図1のト
ランジスタ7aに対応する。nチャネルMOSトランジ
スタ8aは、図1のトランジスタ8aに対応する。判定
手段5aは、図1の判定手段5aに対応し、2つのイン
バータ61,62を直列に接続することにより構成さ
れ、線Loutより受け取った信号をH/Lに整形する
機能を果たす。判定手段5b及びその周辺部分も、上記
の判定手段5a及びその周辺部分の回路と同様である。
表示装置(図1)の動作を示すタイミングチャートであ
る。ここでは、図1に示したように、短絡ポイント1
0,11及び断線ポイント12の欠陥がある場合を例に
説明する。
ぞれパルス状の検査信号が供給される。出力線GL1〜
GLn−1には、正常なパルスが順次出力される。すな
わち、第1の出力線GL1にはタイミングT1でパルス
が発生し、第2の出力線GL2にはタイミングT2でパ
ルスが発生し、第3の出力線GL3にはタイミングT3
でパルスが発生する。
でグランド線に短絡しているため、本来、パルスが発生
すべきタイミングTnでパルスが発生せず、ローレベル
に固定されている。
は、正常なパルスが順次供給される。すなわち、第1の
出力線GR1にはタイミングT1でパルスが発生し、第
3の出力線GR3にはタイミングT3でパルスが発生
し、第nの出力線GRnにはタイミングTnでパルスが
発生する。
でグランド線に短絡しているため、本来、パルスが発生
すべきタイミングT2でパルスが発生せず、ローレベル
に固定されている。
には、トランジスタ7aを介して検査入力端子Linの
信号が伝達される。出力線GL1〜GLn−1が正常で
あるので、タイミングT1〜Tn−1では、検査入力端
子Linの信号がそのまま出力線Lout上に現れる。
しかし、出力線GLnがローレベルに固定されているた
めに、タイミングTnでは、トランジスタ7aがオフ
し、出力線Loutがローベルになってしまう。
には、トランジスタ7bを介して検査入力端子Rinの
信号が伝達される。出力線GR1,GR3〜GRnが正
常であるので、タイミングT1,T3〜Tnでは、検査
入力端子Rinの信号がそのまま出力線Rout上に現
れる。しかし、出力線GR2がローレベルに固定されて
いるために、タイミングT2では、トランジスタ7bが
オフし、出力線Routがローベルになってしまう。
タイミングT2で、出力線GR2が切断され、第1の走
査ドライバ4aの出力線GL2から走査信号が供給され
てパルスが現れる。また、第nの走査線Ln,Rnに
は、タイミングTnで、出力線GLnが切断され、第2
の走査ドライバ4bの出力線GRnから走査信号が供給
されてパルスが現れる。以上のようにして、欠陥ポイン
ト10〜12が自動修復され、全ラインが正常に表示さ
れる。
ベルに固定せずに、各タイミング毎に短いローレベル期
間を設けたパルスにしている理由を説明する。例えば、
タイミングT1において、トランジスタ7aのゲートに
接続される出力線GL1の選択期間が終了する直前のハ
イレベルの時に、検査入力端子Linの信号をローレベ
ルにしている。この時、トランジスタ7aはオンし、入
力端子Linの信号が判定手段5aへの出力線Lout
に伝達され、ローレベルにリセットされる。これによ
り、判定手段5aの出力線Loutから不必要な電荷を
放電させ、前の状態を消すことができる。仮に、入力端
子Linの信号をハイレベルに固定すると、出力線Lo
utがリセットされずに、不安定な状態となる。すなわ
ち、トランジスタ8aを一度オフさせないと、出力線G
L1〜GLnの判定の際に出力線GR1〜GRnの影響
が出てしまい、走査ドライバ4a,4bのどちらのドラ
イバを判定しているのかわからなくなってしまう。以上
の理由により、入力端子Lin及びRinの信号をパル
ス状にする必要がある。
の実施形態による液晶表示装置の構成例を示すブロック
図である。第2の実施形態は、第1の実施形態における
スイッチングトランジスタ8a,8bの代わりに、nチ
ャネルMOSトランジスタ14a,14b、pチャネル
MOSトランジスタ15a,15b、及びインバータ1
3a,13bを設けた点のみが第1の実施形態と異な
る。
ついて説明する。nチャネルMOSトランジスタ14a
とpチャネルMOSトランジスタ15aとで構成される
CMOSトランジスタがスイッチを構成する。トランジ
スタ14a及び15aのソース及びドレインは、一方が
第1の走査ドライバ4aの出力線GL1〜GLnに接続
され、他方が表示領域2の走査線L1〜Lnに接続され
る。nチャネルMOSトランジスタ14aのゲートに
は、判定手段5aの出力が接続される。pチャネルMO
Sトランジスタ15aのゲートには、判定手段5aの出
力をインバータ13aで論理反転した信号が入力され
る。CMOSトランジスタ14a,15aが出力線GL
1〜GLnと走査線L1〜Lnとの間を接続又は切断す
るスイッチング手段として機能する。
においても、nチャネルMOSトランジスタ14b及び
pチャネルMOSトランジスタ15bのソース及びドレ
インは、一方が第2の走査ドライバ4bの出力線GR1
〜GRnに接続され、他方が表示領域2の走査線R1〜
Rnに接続される。nチャネルMOSトランジスタ14
bのゲートには、判定手段5bの出力が接続され、pチ
ャネルMOSトランジスタ15bのゲートには、判定手
段5bの出力をインバータ13bで論理反転した信号が
入力される。CMOSトランジスタ14b,15bが出
力線GR1〜GRnと走査線R1〜Rnとの間を接続又
は切断するスイッチング手段として機能する。
タ14a,15a及び14b,15bでスイッチング手
段を構成することにより、nチャネルMOSトランジス
タ8a,8bを用いる第1の実施形態に比べて、スイッ
チング速度を高速化することができる。スイッチング速
度を高速化することにより、表示領域2に走査信号を所
定のタイミングで確実に供給し、動作を安定化させるこ
とができる。
の実施形態による液晶表示装置の構成例を示すブロック
図である。第3の実施形態では、第1又は第2の走査ド
ライバ71a,71b内の出力線が電源線に短絡等し
て、その出力線がハイレベルに固定される欠陥が生じた
場合に、その欠陥を検出し、自動的に修復することがで
きる。
データドライバ3a、第2のデータドライバ3b、第1
の走査ドライバ71a、第2の走査ドライバ71bの他
に、判定手段72a,72b、NAND(否定論理積)
回路73a,73b、インバータ74a,74b,76
a,76b、nチャネルMOSトランジスタ75a,7
5b,77a,77b、pチャネルMOSトランジスタ
78a,78bが一体化して形成される。
バ3a,3bは、第1の実施形態(図1)と同じであ
る。第1の走査ドライバ71aは、第1の実施形態(図
1)の第1の走査ドライバ4aに対して、第0の出力線
GL0及び第n+1の出力線GLn+1がダミーとして
付加されたものである。出力線GL0及びGLn+1
は、表示領域2には接続されないが、第1の走査ドライ
バ71aの出力線GL0〜GLn+1が電源線に短絡し
ているか否かを検出するために用いられる。同様に、第
2の走査ドライバ71bは、第1の実施形態(図1)の
第2の走査ドライバ4bに対して、第0の出力線GR0
及び第n+1の出力線GRn+1がダミーとして付加さ
れたものである。
OSトランジスタ77a,77b及びpチャネルMOS
トランジスタ78a,78bは、第2の実施形態(図
8)のインバータ13a,13b、nチャネルMOSト
ランジスタ14a,14b,pチャネルMOSトランジ
スタ15a,15bに対応する。
8aのソース及びドレインは、第1の走査ドライバ71
aの出力線GL1〜GLn及び表示領域2の走査線L1
〜Lnに接続される。また、nチャネルMOSトランジ
スタ77aのゲートには、判定手段72aの出力が接続
され、pチャネルMOSトランジスタ78aのゲートに
は、インバータ76aを介して判定手段72aの出力が
接続される。
のソース及びドレインは、第2の走査ドライバ71bの
出力線GR1〜GRn及び表示領域2の走査線R1〜R
nに接続される。また、nチャネルMOSトランジスタ
77bのゲートには、判定手段72bの出力が接続さ
れ、pチャネルMOSトランジスタ78bのゲートに
は、インバータ76bを介して判定手段72bの出力が
接続される。
査ドライバ71aの出力線GL0〜GLn+1のうちの
それぞれ隣接する2本の出力線が接続され、その2本の
出力線上の走査信号の否定論理積を出力する。インバー
タ74aは、NAND回路73aの出力を入力し、その
論理反転信号を出力する。
aは、第1の実施形態(図1)の検査用トランジスタ7
aに対応する。検査用トランジスタ75aのゲートに
は、インバータ74aの出力が接続される。検査用トラ
ンジスタ75aのソース及びドレインの一方には、検査
入力端子Linが接続され、他方には判断手段72aの
入力端子が接続される。
する。出力線GL0〜GLn+1のうちのいずれかが選
択されると、その選択状態に応じてトランジスタ75a
がオン又はオフする。トランジスタ75aがオンする
と、検査入力端子Linから入力された検査信号は判定
手段72aへ出力される。
に応じて、第1の走査ドライバ71aの出力線GL0〜
GLn+1のうちの一又は複数の出力線が電源線に短絡
してハイレベルに固定されているか否かを判定し、ハイ
レベルに固定されている場合にはローレベルを出力し、
ハイレベルに固定されていない場合にはハイレベルを出
力する。
と、トランジスタ77a,78aは、オンし、第1の走
査ドライバ71aの出力線GL1〜GLnと表示領域2
の走査線L1〜Lnとを接続する。これにより、表示領
域2は、第1の走査ドライバ71aから走査信号を入力
し、正常な表示を行うことができる。
すると、異常な出力線に対応するトランジスタ77a,
78aがオフし、第1の走査ドライバ71aの出力線G
L1〜GLnのうち異常な出力線と表示領域2の走査線
L1〜Lnとの間を切断する。これにより、異常な走査
信号を表示領域2に供給することを防止できる。
D回路73a、インバータ74a,76a、トランジス
タ75a,77a,78a及び第1の判定手段72aに
ついて説明したが、第2の走査ドライバ71b、NAN
D回路73b、インバータ74b,76b、トランジス
タ75b,77b,78b及び第2の判定手段72bに
ついても同様である。
びその周辺部分の回路図である。判定手段72a及びそ
の周辺部分の回路を説明するが、判定手段72b及びそ
の周辺部分の回路もそれと同様である。走査ドライバ7
1aは、上記の図5(A)に示した走査ドライバ4aに
対して、ダミー出力線GL0を出力するためのユニット
回路AAが付加されており、ダミー出力線GLn+1を
出力するためのユニット回路も付加されている。ユニッ
ト回路AAは、クロックドインバータ81,83、イン
バータ82及び論理積回路84を有し、これらは奇数番
目ユニットとしてクロックドインバータ54,56、イ
ンバータ55、論理積回路58に対応するものである。
クロックドインバータ81,53,54は、図4(B)
において、クロックバー信号端子/CLKがトランジス
タ41のゲートに接続され、クロック信号端子CLKが
トランジスタ44のゲートに接続される。クロックドイ
ンバータ83,51,56は、図4(B)において、ク
ロックバー信号端子/CLKがトランジスタ44のゲー
トに接続され、クロック信号端子CLKがトランジスタ
41のゲートに接続される。
73a及びインバータ74aの組み合わせに対応する。
nチャネルMOSトランジスタ75a,77a、pチャ
ネルMOSトランジスタ78a及びインバータ76a
は、図9の同一の符号の素子に対応する。
87、インバータ88、NAND回路89、pチャネル
MOSトランジスタ90及びnチャネルMOSトランジ
スタ86,92を有する。D型フリップフロップ87
は、クロック端子CKに、信号線OHを介してnチャネ
ルMOSトランジスタ75aのソースが接続され、入力
端子DFに、自己の反転出力端子/Qが接続される。n
チャネルMOSトランジスタ86は、ゲートにリセット
端子RSが接続され、ドレインに上記の入力端子DFが
接続され、ソースにグランド端子が接続される。
続され、その入力信号の論理反転信号を出力する。NA
ND回路89は、一方の入力信号線Aにインバータ88
の出力が接続され、他方の入力信号線BにD型フリップ
フロップ87の出力端子Qが接続される。pチャネルM
OSトランジスタ90は、ゲートに端子SSが接続さ
れ、ソースにNAND回路89の出力が接続され、ドレ
インにインバータ76aの入力が接続される。nチャネ
ルMOSトランジスタ92は、ゲートに端子SSが接続
され、ドレインにインバータ76aの入力が接続され、
ソースにグランド端子が接続される。
装置の動作を示すタイミングチャートであり、液晶表示
装置に欠陥がない場合を例に説明する。図11及び図1
2では、第1の走査ドライバ71a側のタイミングを示
すが、第2の走査ドライバ71b側のタイミングも同様
である。
の実施形態(図7)と同様に、パルス状の検査信号が供
給される。出力線GL0〜GLn+1,GR0〜GRn
+1には、正常なパルス状の走査信号が順次出力され
る。
L1の信号と出力線GL2の信号との論理積の信号にな
るので、ローレベルを保持する。信号線H2(図10)
の信号は、出力線GL2の信号と出力線GL3の信号と
の論理積の信号になるので、ローレベルを保持する。信
号線H1,H2等がローレベルを保持すると、すべての
nチャネルMOSトランジスタ75aがオフし、信号線
OHはローレベルを保持する。
トタイミングよりも前にパルス状のリセット信号が供給
される。D型フリップフロップ87のクロック端子CK
は、信号線OHに接続されているので、信号線OHと同
じくローレベルを保持する。D型フリップフロップ87
の入力端子DFは、リセット端子RSにリセット信号が
入力されることにより、ローレベルを保持する。
なるので、ハイレベルを保持する。入力信号線Bは、D
型フリップフロップ87の出力端子Qに接続されている
ので、ローレベルを保持する。信号線Cは、信号線Aの
信号と信号線Bの信号との否定論理積の信号レベルにな
るので、ハイレベルを保持する。
インバータ76aの入力線Eは、端子SSの信号がハイ
レベルのときにはローレベルになり、端子SSの信号が
ローレベルのときには信号線Cの信号と同じ信号レベル
になる。インバータ76aの出力線Fは、入力線Eの信
号の反転信号レベルになる。
き(すなわち信号線Fがローレベルのとき)に出力線G
L1と同じ信号レベルになり、信号線Eがローレベルの
ときにローレベルになる。同様に、走査線L2は、信号
線Eがハイレベルのときに出力線GL2と同じ信号レベ
ルになり、信号線Eがローレベルのときにローレベルに
なる。
GL1〜GLn上の走査信号が順次パルスとして正常に
供給される。同様に、走査線R1〜Rnには、出力線G
R1〜GRn上の走査信号が順次パルスとして正常に供
給される。
装置において、走査ドライバ71aの出力線GL2が電
源線に短絡してハイレベルに固定された場合の動作を示
すタイミングチャートである。
ス状の検査信号が供給される。出力線GL2のみがハイ
レベルに固定され、それ以外の出力線GL0,GL1,
GL3〜GLn+1は、正常なパルス状の走査信号を順
次出力する。
と出力線GL2の信号との論理積の信号になるので、タ
イミングT1でパルスが現れる。信号線H2の信号は、
出力線GL2の信号と出力線GL3の信号との論理積の
信号になるので、タイミングT3でパルスが現れる。
がハイレベルになったときに検査入力端子Linの信号
と同じ信号レベルになり、それ以外ではローレベルにな
る。その結果、信号線OHは、タイミングT1及びT3
でのみパルスが現れ、それ以外ではローレベルを保持す
る。端子RS及びSSの信号は、図11に示したものと
同じである。
CKは、信号線OHの信号レベルと同じになる。D型フ
リップフロップ87の入力端子DFは、タイミングT3
で、クロック端子CKの信号の2回目の立上がりに応じ
て、ローレベルからハイレベルに変わる。
転信号が供給される。入力信号線Bは、D型フリップフ
ロップ87のクロック端子CKの立上がりに応じて、信
号レベルが反転する。すなわち、タイミングT1でロー
レベルからハイレベルに変化し、タイミングT3でハイ
レベルからローレベルに変化する。信号線Cは、信号線
Aの信号と信号線Bの信号との否定論理積の信号レベル
になる。
の信号がハイレベルのときにはローレベルになり、端子
SSの信号がローレベルのときには信号線Cの信号と同
じ信号レベルになる。インバータ76aの出力線Fは、
入力線Eの信号の反転信号レベルになる。
きに出力線GL1と同じ信号レベルになり、信号線Eが
ローレベルのときにローレベルになる。同様に、走査線
L2は、信号線Eがハイレベルのときに出力線GL2と
同じ信号レベルになり、信号線Eがローレベルのときに
ローレベルになる。
と同様に、タイミングT1でパルスが現れる。しかし、
走査線L2では、出力線GL2が電源線に短絡されてい
るために、本来パルスが現れるべきタイミングT2でパ
ルスが現れない。その代わり、タイミングT2では、第
2の走査ドライバ71bの出力線GR2から表示領域2
の走査線R2に正常な走査信号が供給され、正常な表示
が行われる。
態による液晶表示装置は、第3の実施形態(図9)に対
して判定手段72a,72bの構成のみが異なる。第4
の実施形態によれば、第1又は第2の走査ドライバ71
a,71bの隣接(連続)する2本以上の出力線が電源
線に短絡等して、それらの出力線がハイレベルに固定さ
れる欠陥が生じた場合に、その欠陥を検出し、自動的に
修復することができる。この際、第1の走査ドライバ7
1aの隣接する2本以上の出力線が電源線に短絡してい
るときには、第1の走査ドライバ71aの全出力線を表
示領域2から切り離し、第2の走査ドライバ71bの出
力線から表示領域2に走査信号を供給する。一方、第2
の走査ドライバ71bの隣接する2本以上の出力線が電
源線に短絡しているときには、第2の走査ドライバ71
bの全出力線を表示領域2から切り離し、第1の走査ド
ライバ71aの出力線から表示領域2に走査信号を供給
する。
72a及びその周辺部分の回路図である。判定手段72
a及びその周辺部分の回路を説明するが、判定手段72
b及びその周辺部分もそれと同様である。判定手段72
aは、第3の実施形態による判定手段72a(図10)
に対して、N進カウンタ133、nチャネルMOSトラ
ンジスタ132、ラッチ回路134、インバータ135
及び論理積(AND)回路136を付加したものであ
る。
信号線OHに接続され、リセット端子NRがnチャネル
MOSトランジスタ132のドレインに接続され、N個
のパルスをカウントすると出力端子NQからハイレベル
を出力する。nチャネルMOSトランジスタ132は、
ソースがグランド端子に接続され、ゲートがリセット端
子RSに接続される。
像度が600の場合はN=600になる。N進カウンタ
133は、1フレーム内でN個のパルスをカウントする
と、その後に出力端子NQからハイレベルを出力し、1
フレーム内のパルスがN個未満のときには、フレーム毎
にリセットし、出力端子NQからローレベルを出力す
る。
カウンタ133の出力端子NQに接続され、リセット端
子Rがグランド端子に接続され、セット端子Sにハイレ
ベルが入力されると出力端子Q0からハイレベルを出力
する。インバータ135は、入力端子がラッチ回路13
4の出力端子Q0に接続され、その入力信号を反転した
出力信号を信号線Nに出力する。
定手段72aのNAND回路89(図10)と同様に、
出力端子が信号線Cに接続される。論理積回路136
は、入力端子が信号線Cと信号線Nに接続され、それら
の論理積を演算して出力信号を信号線Gに出力する。p
チャネルMOSトランジスタ90は、ソースが信号線G
に接続され、ドレインが信号線Eに接続され、ゲートが
端子SSに接続される。nチャネルMOSトランジスタ
92は、ソースがグランド端子に接続され、ドレインが
信号線Eに接続され、ゲートが端子SSに接続される。
インバータ76aは、入力端子が信号線Eに接続され、
その入力信号を反転した出力信号を信号線Fに出力す
る。nチャネルMOSトランジスタ77aのゲートには
信号線Eが接続され、pチャネルMOSトランジスタ7
8aのゲートには信号線Fが接続される。
装置の動作を示すタイミングチャートであり、液晶表示
装置に欠陥がない場合を例に説明する。図14〜図16
では、第1の走査ドライバ71a側のタイミングを示す
が、第2の走査ドライバ71b側のタイミングも同様で
ある。
(図11)と同様に、パルス状の検査信号が供給され
る。出力線GL0〜GLn+1は、正常なパルス状の走
査信号を順次出力する。
線GL2の信号との論理積の信号レベルになるので、ロ
ーレベルを保持する。信号線H2は、出力線GL2の信
号と出力線GL3の信号との論理積の信号レベルになる
ので、ローレベルを保持する。すると、トランジスタ7
5aがすべてオフし、信号線OHもローレベルを保持す
る。
る信号は、第3の実施形態(図11)と同じである。D
型フリップフロップ87のクロック端子CKは、信号線
OHと同じ信号レベルであり、ローレベルを保持する。
D型フリップフロップ87の入力端子DFは、リセット
端子RSにリセット信号が入力されることにより、ロー
レベルを保持する。
となるので、ハイレベルを保持する。入力信号線Bは、
D型フリップフロップ87の出力端子Qに接続されてい
るので、ローレベルを保持する。信号線Cは、信号線A
の信号と信号線Bの信号との否定論理積の信号レベルに
なるので、ハイレベルを保持する。
続される信号線OHはローレベルを保持するので、その
出力端子NQもローレベルを保持する。ラッチ回路13
4のセット端子Sに接続される上記の出力端子NQがロ
ーレベルを保持しているので、ラッチ回路134の出力
端子Q0もローレベルを保持する。信号線Nは、出力端
子Q0の信号の反転信号レベルになるので、ハイレベル
を保持する。
信号との論理積の信号レベルとなるので、ハイレベルを
保持する。インバータ76aの入力線Eは、端子SSの
信号がハイレベルのときにはローレベルになり、端子S
Sの信号がローレベルのときには信号線Gの信号と同じ
信号レベルになる。インバータ76aの出力線Fは、入
力線Eの信号の反転信号レベルになる。
きに出力線GL1と同じ信号レベルになり、信号線Eが
ローレベルのときにローレベルになるので、タイミング
T1でパルスが現れる。同様に、走査線L2は、信号線
Eがハイレベルのときに出力線GL2と同じ信号レベル
になり、信号線Eがローレベルのときにローレベルにな
るので、タイミングT2でパルスが現れる。
GL1〜GLn上の走査信号が正常に供給される。同様
に、走査線R1〜Rnには、出力線GR1〜GRn上の
走査信号が正常に供給される。
装置において、走査ドライバ71aの出力線GL2が電
源線に短絡してハイレベルに固定された場合の動作を示
すタイミングチャートである。
信号が供給される。出力線GL2のみがハイレベルに固
定され、それ以外の出力線GL0,GL1,GL3〜G
Ln+1は、正常なパルス状の走査信号を順次出力す
る。
線GL2の信号との論理積の信号レベルになり、タイミ
ングT1でパルスが現れる。信号線H2は、出力線GL
2の信号と出力線GL3の信号との論理積の信号レベル
になり、タイミングT3でパルスが現れる。
がハイレベルになったときに検査入力端子Linの信号
と同じ信号レベルになり、それ以外ではローレベルにな
る。その結果、信号線OHは、タイミングT1及びT3
でのみパルスが現れ、それ以外ではローレベルを保持す
る。端子RS及びSSの信号は、図14に示したものと
同じである。
CKは、信号線OHの信号と同じ信号レベルになる。D
型フリップフロップ87の入力端子DFは、タイミング
T3で、クロック端子CKの信号の2回目の立上がりに
応じて、ローレベルからハイレベルに変わる。
レベルになる。入力線Bは、フリップフロップ87のク
ロック端子CKの信号の立上がりに応じて、信号レベル
が反転する。すなわち、タイミングT1でローレベルか
らハイレベルに変化し、タイミングT3でハイレベルか
らローレベルに変化する。信号線Cは、信号線Aの信号
と信号線Bの信号との否定論理積の信号レベルになる。
の入力端子NCKに接続される信号線OHは1フレーム
当たり2個のパルスしか含まないので、N進カウンタ1
33はフレーム毎にリセットを行い、その出力端子NQ
はローレベルを保持する。ラッチ回路134のセット端
子Sに接続される上記の出力端子NQがローレベルを保
持しているので、ラッチ回路134の出力端子Q0もロ
ーレベルを保持する。信号線Nは、出力端子Q0の信号
の反転信号レベルになるので、ハイレベルを保持する。
信号との論理積の信号レベルとなるので、信号線Cの信
号と同じ信号レベルになる。インバータ76aの入力線
Eは、端子SSの信号がハイレベルのときにはローレベ
ルになり、端子SSの信号がローレベルのときには信号
線Gの信号と同じ信号レベルになる。インバータ76a
の出力線Fは、入力線Eの信号の反転信号レベルにな
る。
きには出力線GL1と同じ信号レベルになり、信号線E
がローレベルのときにはローレベルになる。同様に、走
査線L2は、信号線Eがハイレベルのときには出力線G
L2と同じ信号レベルになり、信号線Eがローレベルの
ときにはローレベルになる。
と同様に、タイミングT1でパルスが現れる。しかし、
走査線L2では、出力線GL2が電源線に短絡されてい
るために切断され、本来パルスが現れるべきタイミング
T2でパルスが現れない。その代わり、タイミングT2
では、第2の走査ドライバ71bの出力線GR2から表
示領域2の走査線R2に正常な走査信号が供給され、正
常な表示が行われる。
装置において、走査ドライバ71aの隣接(連続)する
出力線GL2及びGL3が電源線に短絡してハイレベル
に固定された場合の動作を示すタイミングチャートであ
る。
信号が供給される。出力線GL2及びGL3のみがハイ
レベルに固定され、それ以外の出力線GL0,GL1,
GL4〜GLn+1は、正常なパルス状の走査信号を順
次出力する。
線GL2の信号との論理積の信号レベルになるので、タ
イミングT1でパルスが現れる。信号線H2は、出力線
GL2の信号と出力線GL3の信号との論理積の信号レ
ベルになるので、ハイレベルを保持する。
その信号線H2が接続されるトランジスタ75aがオン
状態を保持し、信号線OHは、検査入力端子Linの信
号と同じ信号レベルになる。端子RS及びSSの信号
は、図14に示したものと同じである。
CKは、信号線OHの信号と同じ信号レベルになる。D
型フリップフロップ87の入力端子DFは、クロック端
子CKの信号の2回目以降の立上がりに応じて、信号レ
ベルが反転する。
号が供給される。入力信号線Bは、クロック端子CKの
信号の立上がりに応じて信号レベルが反転する。信号線
Cは、信号線Aの信号と信号線Bの信号との否定論理積
の信号レベルになる。
00)の場合、N進カウンタ(N=600)133の入
力端子NCKに接続される信号線OHは1フレーム当た
り600個のパルスを含むので、N進カウンタ133は
タイミングTnで600個目の信号線OHのパルスをカ
ウントし、出力端子NQがローレベルからハイレベルに
変化する。
の出力端子NQが接続されているので、ラッチ回路13
4の出力端子Q0は、第1フレームでは信号141とな
り、第2フレーム以降では信号142となる。第1フレ
ームの信号141は、タイミングTnで、N進カウンタ
133の出力端子NQの信号の立上がりに応じて、ロー
レベルからハイレベルに変化する。第2フレーム以降の
信号142は、引き続きハイレベルを保持する。第2フ
レーム以降、信号線Nは、出力端子Q0の信号の反転信
号レベルになるので、ローレベルを保持する。
信号との論理積の信号レベルとなるので、ローレベルに
なる。インバータ76aの入力線Eは、端子SSの信号
がハイレベルのときにはローレベルになり、端子SSの
信号がローレベルのときには信号線Gの信号と同じ信号
レベルになる。その結果、入力線Eは、ローレベルを保
持する。インバータ76aの出力線Fは、入力線Eの信
号の反転信号レベルになるので、ハイレベルを保持す
る。
きには出力線GL1と同じ信号レベルになり、信号線E
がローレベルのときにはローレベルになるので、本来パ
ルスが現れるべきタイミングT1でパルスが現れずにロ
ーレベルを保持する。走査線L2は、信号線Eがハイレ
ベルのときには出力線GL2と同じ信号レベルになり、
信号線Eがローレベルのときにはローレベルになるの
で、本来パルスが現れるべきタイミングT2でパルスが
現れずにローレベルを保持する。
出力線GL1〜GLnが表示領域2から切り離され、走
査線L1〜Lnには第1の走査ドライバ71aからパル
スが供給されない。その代わり、第2の走査ドライバ7
1bから表示領域2の全走査線R1〜Rnに正常な走査
信号が供給され、正常な表示が行われる。
びGL3のように、出力線GL0〜GLn+1のうちの
隣接する2本以上の出力線がハイレベルに固定された場
合には、第1の走査ドライバ71aのすべての出力線G
L1〜GLnと表示領域2のすべての走査線L1〜Ln
との間をスイッチングトランジスタにより切断する。そ
の代わりに、第2の走査ドライバ71bが出力線GR1
〜GRnを介して表示領域2のすべての走査線R1〜R
nに走査信号を供給する。これにより、液晶表示装置
は、全ラインについて正常な表示を行うことができる。
5の実施形態による液晶表示装置の構成例を示すブロッ
ク図である。第5の実施形態は、第2の実施形態(図
8)及び第3の実施形態(図9)を統合したものであ
る。第5の実施形態では、第1又は第2の走査ドライバ
71a,71b内の出力線がグランド線又は電源線に短
絡又は開放等して、その出力線がローレベル又はハイレ
ベルに固定される欠陥が生じた場合に、その欠陥を検出
し、自動的に修復することができる。
バ3a,3b、走査ドライバ71a,71b、NAND
回路73a,73b、インバータ74a,74b,76
a,76b、MOSトランジスタ75a,75b,77
a,77b,78a,78bは、第3の実施形態(図
9)に示したものと同じである。検査用nチャネルMO
Sトランジスタ93a,93bは、第2の実施形態(図
8)の検査用nチャネルMOSトランジスタ7a,7b
に対応する。
ンジスタ75aのソース及びnチャネルMOSトランジ
スタ93aのソースから信号を入力し、nチャネルMO
Sトランジスタ77aのゲート及びインバータ76aの
入力端子に出力する。判定手段94bも、判定手段94
aと同様の構成を有する。
及びその周辺部分の回路図である。判定手段94a及び
その周辺部分の回路を説明するが、判定手段94b及び
その周辺部分の回路もそれと同様である。走査ドライバ
71aは、第3の実施形態(図10)に示したものと同
じである。
路73a及びインバータ74aの組み合わせに対応す
る。その他の符号で示す素子は、図17に示す同一符号
の素子と同一のものである。
0)に示した判定手段72aに対して、論理積回路95
を付加したものである。論理積回路95は、一方の入力
線CがNAND回路89の出力に接続され、他方の入力
線Dが信号線OLを介してnチャネルMOSトランジス
タ93aのソースに接続される。論理積回路95の出力
は、pチャネルMOSトランジスタ90のソースに接続
される。nチャネルMOSトランジスタ92は、第3の
実施形態(図10)と同様に接続される。
装置において、液晶表示装置に欠陥がない場合の動作を
示すタイミングチャートである。図19〜図21では、
第1の走査ドライバ71a側のタイミングを示すが、第
2の走査ドライバ71b側のタイミングも同様である。
の実施形態(図7)と同様に、パルス状の検査信号が供
給される。出力線GL0〜GLn+1,GR0〜GRn
+1は、正常なパルス状の走査信号を順次出力する。
線GL2の信号との論理積の信号レベルとなるので、ロ
ーレベルを保持する。信号線H2は、出力線GL2の信
号と出力線GL3の信号との論理積の信号レベルとなる
ので、ローレベルを保持する。信号線H1,H2等がロ
ーレベルを保持するので、トランジスタ75aのすべて
がオフになり、信号線OHはローレベルを保持する。
に応じてトランジスタ93aがオンするので、トランジ
スタ93aのソースに接続されている信号線OLには、
検査入力端子Linの信号と同一の信号が現れる。端子
RS及びSSには、第3の実施形態(図11)と同じ信
号が供給される。
CKは、信号線OHの信号と同じ信号レベルになり、ロ
ーレベルを保持する。D型フリップフロップ87の入力
端子DFは、リセット端子RSにリセット信号が入力さ
れることにより、ローレベルを保持する。
レベルとなるので、ハイレベルを保持する。入力線B
は、D型フリップフロップ87の出力端子Qに接続され
ているので、ローレベルを保持する。
信号との否定論理積の信号レベルになるので、ハイレベ
ルを保持する。信号線Dは、上記の信号線OLの信号と
同じ信号レベルである。信号線Gは、信号線Cの信号と
信号線Dの信号との論理積の信号であるので、信号線D
の信号レベルと同じになる。インバータ76aの入力線
Eは、端子SSの信号がハイレベルのときにはローレベ
ルになり、端子SSの信号がローレベルのときには信号
線Gの信号と同じ信号レベルになる。インバータ76a
の出力線Fは、入力線Eの信号の反転信号レベルにな
る。
きに出力線GL1と同じ信号レベルになり、信号線Eが
ローレベルのときにローレベルになるので、タイミング
T1でパルスが現れる。走査線L2は、信号線Eがハイ
レベルのときに出力線GL2と同じ信号レベルになり、
信号線Eがローレベルのときにローレベルになるので、
タイミングT2でパルスが現れる。
GL1〜GLn上の走査信号が正常に供給される。同様
に、走査線R1〜Rnには、出力線GR1〜GRn上の
走査信号が正常に供給される。
装置において、走査ドライバ71aの出力線GL2がグ
ランド線に短絡してローレベルに固定された場合又は断
線によって開放となった場合の動作を示すタイミングチ
ャートである。
信号が供給される。出力線GL2のみがローレベルに固
定され、それ以外の出力線GL0,GL1,GL3〜G
Ln+1は、正常なパルス状の走査信号を順次出力す
る。
線GL2の信号との論理積の信号レベルとなるので、ロ
ーレベルを保持する。信号線H2は、出力線GL2の信
号と出力線GL3の信号との論理積の信号レベルとなる
ので、ローレベルを保持する。信号線H1,H2等がロ
ーレベルを保持するので、トランジスタ75aのすべて
がオフになり、信号線OHはローレベルを保持する。
GL3等がハイレベルのときに、検査入力端子Linの
信号レベルと同じになる。その結果、信号線OLは、タ
イミングT2でローレベルを保持し、それ以外のタイミ
ングT1,T3〜Tnではパルスが現れる。端子RS及
びSSの信号は、図19に示したものと同じである。
CKは、信号線OHの信号と同一の信号レベルになるの
で、ローレベルを保持する。D型フリップフロップ87
の入力端子DFは、リセット端子RSのリセット信号に
応じて、ローレベルを保持する。
レベルになるので、ハイレベルを保持する。入力線B
は、フリップフロップ87の出力端子Qに接続されてい
るので、ローレベルを保持する。論理積回路95の一方
の入力線Cは、信号線Aの信号と信号線Bの信号との否
定論理積の信号レベルになるので、ハイレベルを保持す
る。その他方の入力線Dは、信号線OLの信号と同じ信
号レベルである。信号線Gは、入力線Cの信号と入力線
Dの信号との論理積の信号になるので、入力線Dの信号
レベルと同じになる。
の信号がハイレベルのときにはローレベルになり、端子
SSの信号がローレベルのときには信号線Gの信号と同
じ信号レベルになる。インバータ76aの出力線Fは、
入力線Eの信号の反転信号レベルになる。
きに出力線GL1と同じ信号レベルになり、信号線Eが
ローレベルのときにローレベルになるので、タイミング
T1でパルスが現れる。走査線L2は、信号線Eがハイ
レベルのときに出力線GL2と同じ信号レベルになり、
信号線Eがローレベルのときにローレベルになるが、本
来パルスが現れるべきタイミングT2でパルスが現れな
い。
出力線GL1,GL3〜GLn上の正常な走査信号が供
給される。しかし、走査線L2では、出力線GL2がグ
ランド線に短絡されているために、本来パルスが現れる
べきタイミングT2でパルスが現れない。その代わり、
タイミングT2では、第2の走査ドライバ71bから表
示領域2の走査線R2に正常な走査信号が供給され、正
常な表示が行われる。
装置において、走査ドライバ71aの出力線GL2が電
源線に短絡してハイレベルに固定された場合の動作を示
すタイミングチャートである。
信号が供給される。出力線GL2のみがハイレベルに固
定され、それ以外の出力線GL0,GL1,GL3〜G
Ln+1は、正常なパルス状の走査信号を順次出力す
る。
線GL2の信号との論理積の信号レベルとなるので、タ
イミングT1でパルスが現れる。信号線H2は、出力線
GL2の信号と出力線GL3の信号との論理積の信号レ
ベルとなるので、タイミングT3でパルスが現れる。信
号線OHは、信号線H1又はH2がハイレベルになった
ときに、検査入力端子Linの信号と同じ信号レベルに
なる。その結果、信号線OHは、タイミングT1及びT
3でパルスが現れる。出力線GL2がハイレベルに固定
されているため、トランジスタ93aがオン状態を保持
し、信号線OLには、検査入力端子Linの信号と同じ
信号が現れる。端子RS及びSSの信号は、図19に示
したものと同じである。
CKは、信号線OHの信号と同じ信号レベルになる。D
型フリップフロップ87の入力端子DFは、タイミング
T3で、クロック端子CKの信号の2回目の立上がりに
応じて、ローレベルからハイレベルに変わる。
号が供給される。入力線Bは、フリップフロップ87の
クロック端子CKの信号の立上がりに応じて信号レベル
が反転するため、タイミングT1でローレベルからハイ
レベルに変化し、タイミングT3でハイレベルからロー
レベルに変化する。
線Aの信号と信号線Bの信号との否定論理積の信号レベ
ルになるので、タイミングT2の期間ではローレベルを
保持する。その他方の入力線Dは、信号線OLの信号と
同じ信号レベルである。信号線Gは、入力線Cの信号と
入力線Dの信号との論理積の信号レベルになる。
の信号がハイレベルのときにはローレベルになり、端子
SSの信号がローレベルのときには信号線Gの信号と同
じ信号レベルになる。インバータ76aの出力線Fは、
入力線Eの信号の反転信号レベルになる。
きに出力線GL1と同じ信号レベルになり、信号線Eが
ローレベルのときにローレベルになる。同様に、走査線
L2は、信号線Eがハイレベルのときに出力線GL2と
同じ信号レベルになり、信号線Eがローレベルのときに
ローレベルになる。その結果、走査線L1では、タイミ
ングT1でパルスが現れる。しかし、走査線L2では、
出力線GL2が電源線に短絡されているために、本来パ
ルスが現れるべきタイミングT2でパルスが現れない。
その代わり、タイミングT2では、第2の走査ドライバ
71bの出力線GR2から表示領域2の走査線R2に正
常な走査信号が供給され、正常な表示が行われる。
走査ドライバ71a,71bの出力線がグランド線に短
絡等してローレベルに固定された欠陥が生じたとして
も、出力線が電源線に短絡等してハイレベルに固定され
た欠陥が生じたとしても、いずれの欠陥であってもそれ
らの欠陥を検出し、自動的に修復することができる。こ
れにより、液晶表示装置は、全ラインについて正常な表
示を行うことができる。
(図17)に、第4の実施形態による液晶表示装置の判
定手段72a(図13)を適用してもよい。その場合、
例えば、第1の走査ドライバ71aの出力線のうちの隣
接する2本以上の出力線がハイレベル又はローレベルに
固定された場合に、第1の走査ドライバ71aのすべて
の出力線GL1〜GLnと表示領域2のすべての走査線
L1〜Lnとの間をスイッチングトランジスタにより切
断し、第2の走査ドライバ71bから表示領域2のすべ
ての走査線R1〜Rnに走査信号を供給することができ
る。
よれば、走査ドライバの出力線がグランド線に短絡等し
てローレベルに固定された場合又は断線等により開放に
なった場合に、その固定又は開放された出力線を検出
し、自動的に修復することができる。第3及び第4の実
施形態によれば、走査ドライバの出力線が電源線に短絡
等してハイレベルに固定された場合に、その固定された
出力線を検出し、自動的に修復することができる。第5
の実施形態によれば、走査ドライバの出力線がグランド
線又は電源線に短絡等してローレベル又はハイレベルに
固定された場合又は断線等により開放された場合に、そ
の固定又は開放された出力線を検出し、自動的に修復す
ることができる。
ランジスタは、判定手段により、第1の走査ドライバの
隣接する2以上の出力線の電位が固定されていると判定
されたときには、第1の走査ドライバのすべての出力線
と表示領域のすべての走査線との間の接続を切断し、第
2の走査ドライバから表示領域にすべての走査信号を供
給することができる。また、第2の走査ドライバの隣接
する2以上の出力線の電位が固定されていると判定され
たときには、第2の走査ドライバのすべての出力線と表
示領域のすべての走査線との間の接続を切断し、第1の
走査ドライバから表示領域にすべての走査信号を供給す
ることができる。これにより、液晶表示装置は、正常な
表示を行うことができる。
第2の走査ドライバの出力線の電位が固定されていると
きには、該固定されている出力線と表示領域の走査線と
の間の接続のみを切断することが可能になる。例えば、
第1の走査ドライバの出力線と表示領域の走査線との間
の接続が切断されたときには、表示領域の走査線には第
2の走査ドライバの出力線から正常な走査信号が供給さ
れる。第1又は第2の走査ドライバのすべての出力線と
表示領域のすべての走査線との間の接続を切断するので
はなく、電位が固定されている出力線と表示領域の走査
線との間の接続のみを切断することができるので、第1
又は第2の走査ドライバの正常な出力線と表示領域の走
査線との間は接続され、正常な表示を行うことができ
る。また、第1の走査ドライバと第2の走査ドライバと
で、個別に出力線の電位が固定されているか否かを判定
し、必要に応じて個別に出力線と走査線との間の接続を
切断するので、図25及び図26に示した様な欠陥であ
っても修復することができる。すなわち、第1又は第2
の走査ドライバと表示領域の両方に欠陥がある場合や、
第1及び第2の走査ドライバと表示領域とに欠陥がある
場合等のように、複数箇所に欠陥がある場合でも、確実
に欠陥を検出して自動的に修復することが可能になり、
正常な表示を行うことができる。
液晶表示装置の歩留まりを上げることができ、生産性を
向上し、液晶表示装置の価格を下げることができる。
信号の良否を判定し、その判定結果に応じて出力線と走
査線との間の接続を切断する場合を説明したが、同様の
構成を第1及び第2のデータドライバに適用してもよ
い。すなわち、第1及び第2のデータドライバは同じデ
ータ信号を表示領域に供給し、第1及び第2のデータド
ライバのデータ信号の良否を判定し、その判定結果に応
じてデータドライバと表示領域との間のデータ線の接続
を切断してもよい。
にあたっての具体化のほんの一例を示したものに過ぎ
ず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈
されてはならないものである。すなわち、本発明はその
技術思想、またはその主要な特徴から逸脱することな
く、様々な形で実施することができる。
ようになる。 (付記1)複数の走査線を有する表示部と、前記表示部
の走査線に走査信号を供給するための出力線を有する走
査ドライバと、前記走査ドライバから供給される前記走
査信号の良否を判定し、該判定結果を出力する判定手段
と、前記判定手段により、不良と判定された走査信号を
供給する出力線と前記表示部の走査線との間の接続を切
断するスイッチング手段とを備えたことを特徴とする表
示装置。
イバの出力線のうちの一又は複数の出力線の電位がグラ
ンド電位に固定されているか否かを判定し、前記スイッ
チング手段は、前記判定手段により、前記走査ドライバ
の出力線のうちの一又は複数の出力線の電位がグランド
電位に固定されていると判定されたときには、該固定さ
れている電位の出力線と前記表示部の走査線との間の接
続を切断することを特徴とする付記1記載の表示装置。
イバの出力線のうちの一又は複数の出力線の電位が電源
電位に固定されているか否かを判定し、前記スイッチン
グ手段は、前記判定手段により、前記走査ドライバの出
力線のうちの一又は複数の出力線の電位が電源電位に固
定されていると判定されたときには、該固定されている
電位の出力線と前記表示部の走査線との間の接続を切断
することを特徴とする付記1記載の表示装置。
イバの出力線のうちの一又は複数の出力線が開放されて
いるか否かを判定し、前記スイッチング手段は、前記判
定手段により、前記走査ドライバの出力線のうちの一又
は複数の出力線が開放されていると判定されたときに
は、該開放されている電位の出力線と前記表示部の走査
線との間の接続を切断することを特徴とする付記1記載
の表示装置。
判定手段により、前記走査ドライバの隣接する2以上の
出力線の走査信号が不良と判定されたときには、前記走
査ドライバのすべての出力線と前記表示部のすべての走
査線との間の接続を切断することを特徴とする付記1記
載の表示装置。
ス及びドレインを含む検査用トランジスタであって前記
走査ドライバの出力線上の走査信号に応じた信号が該ゲ
ートに供給される検査用トランジスタと、前記検査用ト
ランジスタのゲートに供給される信号に応じて前記検査
用トランジスタのソース及びドレイン間に検査信号が伝
達されるか否かを調べることにより、前記走査ドライバ
の出力線の走査信号が不良か否かを判定する判定部とを
有することを特徴とする付記1記載の表示装置。
トには、前記走査ドライバの出力線が接続されることを
特徴とする付記6記載の表示装置。
イバの隣接する2つの出力線上の走査信号の論理積を演
算する論理積回路をさらに含み、前記検査用トランジス
タのゲートには、前記論理積回路の出力が接続されるこ
とを特徴とする付記6記載の表示装置。
走査ドライバの出力線と前記表示部の走査線との間の接
続を切断するためのトランジスタを含むことを特徴とす
る付記6記載の表示装置。
記出力線と前記走査線との間の接続を切断するためのn
チャネルMOSトランジスタ及びpチャネルMOSトラ
ンジスタからなるCMOSトランジスタを含むことを特
徴とする付記9記載の表示装置。
ジスタのゲートには、前記判定手段の出力が供給され、
前記pチャネルMOSトランジスタのゲートには、前記
判定手段の出力の論理反転信号が供給され、前記nチャ
ネル及びpチャネルMOSトランジスタのソース及びド
レインには、前記走査ドライバの出力線及び前記表示部
の走査線が接続されることを特徴とする付記10記載の
表示装置。
バ、前記判定手段、並びに前記スイッチング手段は、同
一基板上に一体化して形成されることを特徴とする付記
9記載の表示装置。
ることを特徴とする付記12記載の表示装置。
含み、該表示部内のトランジスタ、前記判定手段内の検
査用トランジスタ及び前記スイッチング手段内のトラン
ジスタは、ポリシリコン薄膜トランジスタであることを
特徴とする付記13記載の表示装置。
及び複数のデータ線を有し、前記表示部のデータ線に接
続され、前記表示部にデータ信号を供給するための第1
及び第2のデータドライバをさらに備えたことを特徴と
する付記1記載の表示装置。
ータドライバから供給される前記データ信号の良否を判
定し、該判定結果を出力するデータ信号判定手段と、前
記データ信号判定手段により不良と判定されたデータ信
号を供給するデータ線と前記表示部のデータ線との間の
接続を切断するデータ線スイッチング手段とをさらに備
えたことを特徴とする付記15記載の表示装置。
及び複数のデータ線を有し、前記表示部のデータ線に接
続され、前記表示部にデータ信号を供給するためのデー
タドライバをさらに備えたことを特徴とする付記1記載
の表示装置。
表示部の一部のデータ線にデータ信号を供給する第1の
データドライバ部と、前記表示部の残りのデータ線にデ
ータ信号を供給する第2のデータドライバ部とを含むこ
とを特徴とする付記17記載の表示装置。
と、前記表示部の走査線に走査信号を供給するための出
力線を有する走査ドライバとを備えた表示装置の駆動方
法であって、(a)前記走査ドライバから供給される前
記走査信号の良否を判定するステップと、(b)前記走
査信号が不良と判定された走査信号を供給する出力線と
前記表示部の走査線との間の接続を切断するステップと
を備えたことを特徴とする表示装置の駆動方法。
査ドライバに欠陥がある場合や、走査ドライバと表示部
に欠陥がある場合等のように複数箇所に欠陥がある場合
でも、自動的に修復することが可能になり、正常な表示
を行うことができる。また、表示装置の自動修復が可能
であるので、表示装置の歩留まりを上げることができ、
生産性を向上し、表示装置の価格を下げることができ
る。
構成例を示すブロック図である。
あり、図4(B)はクロックドインバータの構成を示す
回路図である。
であり、図5(B)は走査ドライバの動作を示すタイミ
ングチャートである。
分の回路図である。
すタイミングチャートである。
構成例を示すブロック図である。
構成例を示すブロック図である。
部分の回路図である。
場合の動作を示すタイミングチャートである。
ライバ内の走査線がハイレベルに固定された場合の動作
を示すタイミングチャートである。
の判定手段及びその周辺部分の回路図である。
場合の動作を示すタイミングチャートである。
ライバ内の走査線がハイレベルに固定された場合の動作
を示すタイミングチャートである。
ライバ内の隣接する2本の走査線がハイレベルに固定さ
れた場合の動作を示すタイミングチャートである。
の構成例を示すブロック図である。
部分の回路図である。
場合の動作を示すタイミングチャートである。
ライバ内の走査線がローレベルに固定された場合の動作
を示すタイミングチャートである。
ライバ内の走査線がハイレベルに固定された場合の動作
を示すタイミングチャートである。
に欠陥がある場合を示す図である。
イバに欠陥がある場合を示す図である。
イバに欠陥がある場合を示す図である。
及び走査ドライバに欠陥がある場合を示す図である。
並びに第1及び第2の走査ドライバに欠陥がある場合を
示す図である。
すブロック図である。
査ドライバ 5a,5b,72a,72b,94a,94b 判定手
段 7a,7b,8a,8b,14a,14b,21,3
4,43,44,75a,75b,77a,77b,8
6,92,93a,93b,111a,111b,12
1a,121b,132 nチャネルMOSトランジス
タ 10,11,104,112,113,115,116
短絡ポイント 12,103,114,117 断線ポイント 13a,13b,36,74a,74b,76a,76
b,52,55,61,62,82,88,135 イ
ンバータ 15a,15b,35,78a,78b,41,42,
90 pチャネルMOSトランジスタ 22 画素電極 31 シフトレジスタ 32 ビデオアナログ線 33 アナログスイッチ 51,53,54,56,81,83 クロックドイン
バータ 57,58,84,85a,95,136 論理積回路 73a,73b,89 NAND回路 87 D型フリップフロップ 133 N進カウンタ 134 ラッチ回路
Claims (5)
- 【請求項1】 複数の走査線を有する表示部と、 前記表示部の走査線に走査信号を供給するための出力線
を有する走査ドライバと、 前記走査ドライバから供給される前記走査信号の良否を
判定し、該判定結果を出力する判定手段と、 前記判定手段により、不良と判定された走査信号を供給
する出力線と前記表示部の走査線との間の接続を切断す
るスイッチング手段とを備えたことを特徴とする表示装
置。 - 【請求項2】 前記判定手段は、前記走査ドライバの出
力線のうちの一又は複数の出力線の電位がグランド電位
に固定されているか否かを判定し、 前記スイッチング手段は、前記判定手段により、前記走
査ドライバの出力線のうちの一又は複数の出力線の電位
がグランド電位に固定されていると判定されたときに
は、該固定されている電位の出力線と前記表示部の走査
線との間の接続を切断することを特徴とする請求項1記
載の表示装置。 - 【請求項3】 前記判定手段は、前記走査ドライバの出
力線のうちの一又は複数の出力線の電位が電源電位に固
定されているか否かを判定し、 前記スイッチング手段は、前記判定手段により、前記走
査ドライバの出力線のうちの一又は複数の出力線の電位
が電源電位に固定されていると判定されたときには、該
固定されている電位の出力線と前記表示部の走査線との
間の接続を切断することを特徴とする請求項1記載の表
示装置。 - 【請求項4】 前記判定手段は、前記走査ドライバの出
力線のうちの一又は複数の出力線が開放されているか否
かを判定し、 前記スイッチング手段は、前記判定手段により、前記走
査ドライバの出力線のうちの一又は複数の出力線が開放
されていると判定されたときには、該開放されている電
位の出力線と前記表示部の走査線との間の接続を切断す
ることを特徴とする請求項1記載の表示装置。 - 【請求項5】 複数の走査線を有する表示部と、前記表
示部の走査線に走査信号を供給するための出力線を有す
る走査ドライバとを備えた表示装置の駆動方法であっ
て、 (a)前記走査ドライバから供給される前記走査信号の
良否を判定するステップと、 (b)前記走査信号が不良と判定された走査信号を供給
する出力線と前記表示部の走査線との間の接続を切断す
るステップとを備えたことを特徴とする表示装置の駆動
方法。
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