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Abstract
【課題】表示領域内を延伸する配線の検査機能を有する表示装置において、額縁領域の小面積化を図る。【解決手段】本開示の表示装置は、表示領域と、前記表示領域の周囲に配置された額縁領域と、を備えた表示装置であって、前記表示領域において、第1の方向に延伸する複数の第1の配線と、前記複数の第1の配線の一端に電気的に接続された第1の駆動回路と、前記複数の第1の配線の他端のそれぞれに、複数の検査用薄膜トランジスタを介して電気的に接続された第1の検査用配線と、前記複数の検査用薄膜トランジスタのゲート電極に接続された第2の検査用配線と、前記第2の検査用配線に電気的に接続された検査用駆動回路と、前記第1の検査用配線に電気的に接続された検査用回路と、を含み、前記第2の検査用配線の少なくとも一部が、前記表示領域内において、前記第1の方向に延伸する。【選択図】図2
Description
本発明は、表示装置に関する。
特許文献1に記載の表示装置は、ゲート線及びデータ線の断線を検査するために接続された複数の検査用トランジスタを有している。断線検査工程においては、検査用トランジスタをオン状態にし、当該検査用トランジスタを介して流れる電流量や、電荷量を測定することにより、ゲート線及びデータ線の断線を検査することが可能な構成が開示されている。
しかし、上記従来の表示装置では、表示装置の表示領域の周囲に配置された額縁領域の面積が大きくなってしまうことが課題となっていた。即ち、上記従来の構成においては、検査用トランジスタをオン状態とするための配線を配置する面積に応じて、額縁領域の面積が大きくなってしまっていた。
本開示は、上記実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、表示領域内を延伸する配線の検査機能を有する表示装置において、額縁領域の小面積化を図ることにある。
上記課題を解決するために、本開示に係る表示装置は、表示領域と、前記表示領域の周囲に配置された額縁領域と、を備えた表示装置であって、前記表示領域において、第1の方向に延伸する複数の第1の配線と、前記複数の第1の配線の一端に電気的に接続された第1の駆動回路と、前記複数の第1の配線の他端のそれぞれに、複数の検査用薄膜トランジスタを介して電気的に接続された第1の検査用配線と、前記複数の検査用薄膜トランジスタのゲート電極に接続された第2の検査用配線と、前記第2の検査用配線に電気的に接続された検査用駆動回路と、前記第1の検査用配線に電気的に接続された検査用回路と、を含み、前記第2の検査用配線の少なくとも一部が、前記表示領域内において、前記第1の方向に延伸する。
本開示に係る表示装置によれば、額縁領域の小面積化を図ることができる。
本開示の第1の実施形態について、図面を用いて以下に説明する。なお、本実施形態では、表示装置として、液晶表示装置を例に挙げるが、本発明はこれに限定されず、例えば有機EL表示装置等であってもよい。
図1は、本実施形態の表示装置100の概略構成を示す平面図である。図1に示すように、本実施形態の表示装置100は、画像を表示する表示領域10と、この表示領域10の周囲に配置された額縁領域20と、を備えている。額縁領域20には、第1の駆動回路30と、検査用回路50と、検査用駆動回路60と、が配置されている。第1の駆動回路30は、例えばソース線駆動回路、又はゲート線駆動回路であり、本実施形態においては、第1の駆動回路30がソース線駆動回路である例を用いて説明する。
図2は、本実施形態の表示装置100における各種配線の配置関係を示す模式図である。図2に示すように、表示装置100は、表示領域10において、第1の方向に延伸する複数の第1の配線31を有している。第1の配線31は、例えばソース線、又はゲート線であり、本実施形態においては、第1の配線31がソース線である例について説明する。これら複数の第1の配線31の一端は、図1に示した第1の駆動回路30と、電気的に接続されている。
図2に示すように、複数の第1の配線31の他端のそれぞれには、複数の検査用薄膜トランジスタ53が配置されており、この検査用薄膜トランジスタ53を介して、複数の第1の配線31が、第1の検査用配線51と接続される構成となっている。第1の検査用配線51の他端は、図1に示した検査用回路50に電気的に接続されている。
また、図2に示すように、複数の検査用薄膜トランジスタ53のゲート電極には第2の検査用配線52が接続されている。第2の検査用配線の一端は、図1に示した検査用駆動回路60に接続され、第2の検査用配線52の少なくとも一部が、表示領域10内において、第1の方向に延伸する構成としている。
このような構成とすることにより、表示領域10内を延伸する配線の検査機能を有する表示装置100において、図1に示した額縁領域20の小面積化を図ることができる。即ち、本開示の表示装置100においては、検査用薄膜トランジスタ53をオン状態とするための信号を伝達する第2の検査用配線52の少なくとも一部が、表示領域10内に配置される構成としているため、額縁領域20において第2の検査用配線52を配置するスペースを小さくすることが可能となり、その結果として、額縁領域20の小面積化を図ることが可能となる。
以下、本実施形態の表示装置100のより具体的な構成について、図面を用いて説明する。
図1に示すように、本実施形態の表示装置100は、額縁領域20において、上述した第1の駆動回路30、検査用回路50に加えて、第2の駆動回路40が配置されている。図1に示す例においては、検査用回路50、及び検査用駆動回路60が、額縁領域20における第1の端辺領域20Aに配置される構成としている。また、額縁領域20における、第1の駆動回路30が配置された第1の端辺領域20Aと交差する端辺領域20Cにおいて、第2の駆動回路40が配置される構成としている。第2の駆動回路40は、例えばゲート線駆動回路、又はソース線駆動回路であり、本実施形態においては、第2の駆動回路40がゲート線駆動回路である例を用いて説明する。
図2に示すように、表示装置100は、表示領域10において、第1の方向と交差する第2の方向に延伸する複数の第2の配線41を有している、第2の配線41は、例えばゲート線、又はソース線であり、本実施形態においては、第2の配線41がゲート線である例について説明する。これら複数の第2の配線41は、図1に示した第2の駆動回路40と、電気的に接続されている。
図3は、本実施形態の表示装置100の概略構成を示す等価回路図である。図2を用いて上述した通り、表示装置100には、第1の方向に延伸する複数の第1の配線31としてのソース線と、第2の方向に延伸する複数の第2の配線41としてのゲート線とが設けられている。各ソース線と各ゲート線との各交差部には、薄膜トランジスタ13が設けられている。
表示装置100には、各ソース線と各ゲート線との各交差部に対応して、複数の画素14が第1の方向及び第2の方向に配列されている。なお、図示はしないが、表示装置100は、薄膜トランジスタ基板と、カラーフィルタ基板と、両基板間に挟持された液晶層とを含んでいる。薄膜トランジスタ基板には、各画素14に対応して、複数の画素電極15が設けられている。カラーフィルタ基板には、各画素14に共通する共通電極16が設けられている。なお、共通電極16は薄膜トランジスタ基板に設けられてもよい。
各ソース線(第1の配線31)には、図1に示した第1の駆動回路30からソース信号が供給される。各ゲート線(第2の配線41)には、図1に示した第2の駆動回路40からゲートオン電圧が供給される。共通電極16には、共通電極駆動回路(図示せず)から共通配線17を介して共通電圧が供給される。ゲートオン電圧がゲート線に供給されると、ゲート線に接続された薄膜トランジスタ13がオン状態となり、薄膜トランジスタ13に接続されたソース線を介して、ソース信号であるソース電圧が画素電極15に供給される。画素電極15に供給されたソース電圧と、共通電極16に供給された共通電圧との差により電界が生じる。表示装置100は、この電界により液晶を駆動してバックライトの光の透過率を制御することによって画像表示を行う。なお、カラー表示を行う場合は、ストライプ状のカラーフィルタで形成された赤色、緑色、青色に対応するそれぞれの画素14の画素電極15に接続されたそれぞれのソース線に、所望のソース電圧を供給することにより実現される。
続いて、本実施形態における、検査方法の一例について説明する。
まず、図1に示した検査用駆動回路60から検査用ゲートオン電圧が出力され、当該検査用ゲートオン電圧が、図2に示す第2の検査用配線52を介して、第2の端辺領域20B(図1参照)に配置された検査用薄膜トランジスタ53のゲート電極に供給され、当該検査用ゲートオン電圧が供給された検査用薄膜トランジスタ53がオン状態となる。本実施形態においては、図2に示すように、複数の第2の検査用配線52の内の一つが、二つ以上の検査用薄膜トランジスタ53に接続されているため、一つの第2の検査用配線52に検査用ゲートオン電圧が供給されると、二以上の検査用薄膜トランジスタ53がオン状態となる。例えば、図2において左から2番目に配置された第2の検査用配線52Bに検査用ゲートオン電圧が供給されると、図2において左から1番目から9番目に配置された9個の検査用薄膜トランジスタ53がオン状態となる。
図2において左から1番目から9番目に配置された9個の検査用薄膜トランジスタ53がオン状態となると、例えば、左から1番目、4番目、7番目に配置された第1の配線31と、第2の方向に延伸する配線54Aとが、3つの検査用薄膜トランジスタ53を介して導通する。図2に示すように、第2の方向に延伸する配線54Aと第1の検査用配線51Aとは電気的に接続されているため、第1の検査用配線51Aには、左から1番目、4番目、7番目に配置された第1の配線31からの信号が伝達される。そして、第1の検査用配線51Aに接続された検査用回路50により電圧値、又は電流値などを測定することにより、左から1番目、4番目、7番目に配置された第1の配線31における、例えばショートなどの不具合の有無を検査することが可能である。このように、本実施形態においては、複数の第1の検査用配線51の内の一つが、二以上の検査用薄膜トランジスタ53と電気的に接続されており、当該二以上の検査用薄膜トランジスタ53に接続された二以上の第1の配線31の検査を、一つの第1の検査用配線51を用いて行うことができる。このような構成とすることにより、第1の検査用配線51の本数を削減することができ、表示領域10内の限られたスペースに、この複数の第1の検査用配線51を配置することが可能となる。
同様に、左から2番目、5番目、8番目に配置された第1の配線31における、不具合の有無については、3つの検査用薄膜トランジスタ53、及び配線54Bを介して電気的に接続された第1の検査用配線51Bの電圧値、電流値を、検査用回路50により測定することで、検査することが可能である。また、左から3番目、6番目、9番目に配置された第1の配線31における不具合の有無については、3つの検査用薄膜トランジスタ53、及び配線54Cを介して電気的に接続された第1の検査用配線51Cの電圧値、電流値を、検査用回路50により測定することで、検査することが可能である。
続いて、図2において左から1番目に配置された第2の検査用配線52Aに検査用ゲートオン電圧が供給されると、図2において左から10番目から18番目に配置された9個の検査用薄膜トランジスタ53がオン状態となり、これらに接続された9本の第1の配線31における不具合の有無について検査することができる。
このように、各エリアに対応した複数の第2の検査用配線52から、検査用ゲートオン電圧を供給することにより、この第2の検査用配線52にゲート電極が接続された複数の検査用薄膜トランジスタ53をオン状態とさせる。そして、オン状態となった複数の検査用薄膜トランジスタ53に接続された複数の第1の配線31における不具合の有無を、第1の検査用配線51を介して伝達された電流値、電圧値等を測定することにより、検査することができる。
なお、図1に示す例においては、額縁領域20における、第1の駆動回路30が配置された第1の端辺領域20Aと交差する端辺領域20Cにおいて、第2の駆動回路40が配置される構成を示したが、図4に示すように、第2の駆動回路40が、第1の駆動回路30が配置された第1の端辺領域20Aに配置されるか、又は額縁領域20を構成し第1の端辺領域20Aと対向する第2の端辺領域20Bに配置された構成としても構わない。図4、5に示す例においては、第2の駆動回路40が、第1の駆動回路30が配置された第1の端辺領域20Aに配置される例を示している。
この実施例においては、図5に示すように、表示装置100は、表示領域10において、第1の方向に延伸する複数の引出線42を含む構成としている。複数の引出線42は、複数の第2の配線41のそれぞれと、第2の駆動回路40と、を電気的に接続する。第2の駆動回路40から、複数の引出線42にゲートオン電圧が供給されると、引出線42に接続された第2の配線41にゲートオン電圧が供給され、図3を用いて上述した薄膜トランジスタ13がオン状態となる。
この図4、5に示す実施例においては、図1、2を用いて上述した検査用駆動回路60と、第2の駆動回路40とが同じ第1の端辺領域20Aに配置されるため、検査用駆動回路60を、第2の駆動回路40に含ませる構成とすることが可能である。
以下、この図4、5に示す実施例における、表示領域10における画像表示と、第1の配線31の検査に関する一連の動作の一例について説明する。
まず、検査用駆動回路60を含む第2の駆動回路40は、引出線42Aにゲートオン電圧を供給する。ゲートオン電圧が引出線42Aに供給されると、引出線42Aを介して、第2の配線41Aにゲートオン電圧が供給される。このデート電圧供給に伴い、第2の配線41Aに接続された薄膜トランジスタ13(図3参照)がオン状態となり、薄膜トランジスタ13に接続されたソース線を介して、ソース信号であるソース電圧が画素電極15に供給される。画素電極15に供給されたソース電圧と、共通電極16に供給された共通電圧との差により電界が生じる。この電界により液晶を駆動してバックライトの光の透過率を制御することによって画像表示を行う。
続いて、第2の駆動回路40は、引出線42Bにゲートオン電圧を供給する。このゲートオン電圧の供給により、引出線42Bに電気的に接続された薄膜トランジスタ13をオン状態にし、薄膜トランジスタ13に接続されたソース線を介して、ソース信号であるソース電圧が画素電極15に供給する。
この動作を、第2の駆動回路40が、引出線42Aに対するゲートオン電圧の供給から引出線42Gに対するゲートオン電圧の供給まで、順に繰り返すことにより、表示領域10において画像を表示させることができる。
表示領域10に一つの画像を表示した後、次の画像を表示するまでのブランクタイムの間に、検査用駆動回路60を含む第2の駆動回路40は、第1の配線31の検査を行う。
具体的には、第2の駆動回路40は、引出線42A〜42Gに対するゲートオン電圧の供給の後、第2の検査用配線52A〜52Eに検査用ゲートオン電圧を供給する。例えば、図5において左から2番目に配置された第2の検査用配線52Bに検査用ゲートオン電圧が供給されると、図5において左から1番目から9番目に配置された9個の検査用薄膜トランジスタ53がオン状態となる。
その後の検査の流れは、図2を用いて上述した通りである。
このように、図4、5に示す構成によれば、第2の駆動回路40が検査用駆動回路60を含む構成とすることができ、表示領域10に一つの画像を表示した後、次の画像を表示するまでのブランクタイムの間に、第1の配線31の検査を行うことが可能となる。
なお、複数の第2の検査用配線52の配置場所としては、複数の引出線42が配置されていない画素電極間に配置することが望ましい。具体例としては、図5に示すように、第2の方向に互いに隣り合う第1の画素電極15Aと第2の画素電極15Bとの間に引出線42Gが配置されている場合には、第1の画素電極15Aと第2の画素電極15Bとの間には、第2の検査用配線52を配置しない構成とすることが望ましい。また、互いに隣り合う第3の画素電極15Cと第4の画素電極15Dとの間に第2の検査用配線52Aを配置する場合には、第3の画素電極15Cと第4の画素電極15Dとの間には、引出線42が配置されない構成とすることが望ましい。更に、第2の検査用配線52、引出線42の配置は、一つの画素に含まれるサブ画素の構成に応じて決定することが望ましい。一つの画素に、例えばRGBのように3つのサブ画素が第2の方向に並べて配置される場合、3本の第1の配線31に対して、1本の第2の検査用配線52、又は1本の引出線42が配置される構成とすることが望ましい。また、一つの画素に、例えばRGBWのように4つのサブ画素が第2の方向に並べて配置される場合、2本、又は4本の第1の配線31に対して、1本の第2の検査用配線52、又は1本の引出線42が配置される構成とすることが望ましい。
このような構成とすることにより、表示装置100に含まれる複数の画素間の開口率の不均一を抑制することができる。即ち、このような構成とすることにより、一つの画素を横切る、第2の検査用配線52、引出線42の合計本数が不均一となることを抑制することができるため、表示装置100に含まれる複数の画素間の開口率の不均一を抑制することができる。
また、図5に示すように、複数の第1の検査用配線51の少なくとも一部が、表示領域10内において、第1の方向に延伸する構成とすることにより、額縁領域20において第1の検査用配線51を配置するスペースを小さくすることが可能となり、その結果として、更なる額縁領域20の小面積化を図ることができ望ましい。
このように、複数の第1の検査用配線51の少なくとも一部を表示領域10内に配置する構成においては、複数の第1の検査用配線51が、複数の第2の検査用配線52、及び複数の引出線42が配置されていない画素電極間に配置することが望ましい。具体例としては、図5に示すように、第2の方向に互いに隣り合う第5の画素電極15Eと第6の画素電極15Fとの間に第1の検査用配線51Aが配置されている場合には、第5の画素電極15Eと第6の画素電極15Fとの間には、第2の検査用配線52、及び引出線42を配置しない構成とすることが望ましい。また、引出線42Gが配置された第1の画素電極15A、第2の画素電極15B間においては、第1の検査用配線51を配置しないことが望ましい。同様に、第2の検査用配線52Aが配置された第3の画素電極15C、第4の画素電極15D間においても、第1の検査用配線51を配置しないことが望ましい。更に、第1の検査用配線51、第2の検査用配線52、及び引出線42の配置は、一つの画素に含まれるサブ画素の構成に応じて決定することが望ましい。一つの画素に、例えばRGBのように3つのサブ画素が第2の方向に並べて配置される場合、3本の第1の配線31に対して、1本の第1の検査用配線51、1本の第2の検査用配線52、及び1本の引出線42の内のいずれか一つが配置される構成とすることが望ましい。また、一つの画素に、例えばRGBWのように4つのサブ画素が第2の方向に並べて配置される場合、2本、又は4本の第1の配線31に対して、1本の第1の検査用配線51、1本の第2の検査用配線52、及び1本の引出線42の内のいずれか一つが配置される構成とすることが望ましい。
このような構成とすることにより、表示装置100に含まれる複数の画素間の開口率の不均一を抑制することができる。即ち、このような構成とすることにより、一つの画素を横切る、第1の検査用配線51、第2の検査用配線52、及び引出線42の合計本数が不均一となることを抑制することができるため、表示装置100に含まれる複数の画素間の開口率の不均一を抑制することができる。
なお、図5に示した例においては、複数の第2の検査用配線52と、複数の引出線42とが、それぞれ別の領域に配置される構成、即ち、図5における左側の領域に複数の引出線42が配置され、中央から右側の領域に複数の第2の検査用配線52が配置される構成を示したが、本開示はこのような例に限定されない。
例えば、図6に示す構成においては、複数の第2の検査用配線52の少なくとも1つが、平面視で、複数の引出線42の内、互いに隣り合う二つの引出線42の間を延伸する構成としている。具体例としては、第2の検査用配線52Bは、互いに隣り合う引出線42B、42Cの間を延伸しており、また、第2の検査用配線52Cは、互いに隣り合う引出線42D、42Eの間を延伸している。同様に、第2の検査用配線52Dは、互いに隣り合う引出線42F、42Gの間を延伸している。
このような構成とすることにより、第2の方向において、複数の第2の検査用配線52を分散して配置することが可能となるため、図4に示した第2の端辺領域20Bにおける、第2の検査用配線52の引き回しをシンプルにすることが可能となる。即ち、複数の第2の検査用配線52のそれぞれを、それらが対応するエリアに近い位置に配置することが可能となるため、第2の端辺領域20Bにおける、第2の検査用配線52の引き回しをシンプルにすることが可能となる。
なお、上記図6に示す構成例においては、上述したブランクタイムの間に、検査用駆動回路60を含む第2の駆動回路40が、第1の配線31の検査を行う構成としてもよいが、表示領域10に一つの画像を表示する間に、複数の第1の配線31の検査を行う構成としても構わない。具体例としては、第2の駆動回路40が、図6に示す第2の方向において、左から順番に、第2の検査用配線52A、引出線42A、42B、第2の検査用配線52B、引出線42C、42D、・・・第2の検査用配線52Eの順に、ゲートオン電圧、または検査用ゲートオン電圧を供給する構成とし、表示領域10に一つの画像を表示する間に、複数の第1の配線31の検査を行ってもよい。
なお、図2、5、6に示した例においては、複数の第1の検査用配線51が、例えば図2、5、6における右側の領域にまとめて配置される構成を示したが、本開示はこのような例に限定されない。
例えば、図7に示す構成においては、複数の第1の検査用配線51の少なくとも1つが、平面視で、複数の引出線42の内、互いに隣り合う二つの引出線42の間を延伸する構成としている。具体例としては、第1の検査用配線51Aは、互いに隣り合う引出線42B、42Cの間を延伸しており、また、第1の検査用配線51Bは、互いに隣り合う引出線42F、42Gの間を延伸している。
このような構成とすることにより、第2の方向において、複数の第1の検査用配線51を分散して配置することが可能となるため、図4に示した第2の端辺領域20Bにおける、第2の検査用配線52の引き回しを、さらにシンプルにすることが可能となる。即ち、第1の検査用配線51がまとめて配置される領域を無くすことで、第1の検査用配線51がまとめて配置されていた領域に、第2の検査用配線52を配置することが可能となる。そのため、複数の第2の検査用配線52のそれぞれを、それらが対応するエリアに、より近い位置に配置することが可能となり、第2の端辺領域20Bにおける、第2の検査用配線52の引き回しをシンプルにすることが可能となる。
即ち、図2、5、6に示した構成においては、第2の端辺領域20B(図4参照)において、第2の検査用配線52の一部が引き回される構成となっているが、図7に示す構成においては、この第2の検査用配線52の引き回しをシンプルにすることが可能となり、額縁領域20のさらなる小面積化を図ることが可能となる。
以上、本開示の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で上記実施形態から当業者が適宜変更した形態も本発明の技術的範囲に含まれることは言うまでもない。
10 表示領域、13 薄膜トランジスタ、14 画素、15 画素電極、15A 第1の画素電極、15B 第2の画素電極、15C 第3の画素電極、15D 第4の画素電極、15E 第5の画素電極、15F 第6の画素電極、16 共通電極、17 共通配線、20 額縁領域、20A 第1の端辺領域、20B 第2の端辺領域、20C 端辺領域、30 第1の駆動回路、31 第1の配線、40 第2の駆動回路、41 第2の配線、42 引出線、50 検査用回路、51 第1の検査用配線、52 第2の検査用配線、53 検査用薄膜トランジスタ、54A 配線、54B 配線、54C 配線、60 検査用駆動回路、100 表示装置。
Claims (12)
- 表示領域と、前記表示領域の周囲に配置された額縁領域と、を備えた表示装置であって、
前記表示領域において、第1の方向に延伸する複数の第1の配線と、
前記複数の第1の配線の一端に電気的に接続された第1の駆動回路と、
前記複数の第1の配線の他端のそれぞれに、複数の検査用薄膜トランジスタを介して電気的に接続された第1の検査用配線と、
前記複数の検査用薄膜トランジスタのゲート電極に接続された第2の検査用配線と、
前記第2の検査用配線に電気的に接続された検査用駆動回路と、
前記第1の検査用配線に電気的に接続された検査用回路と、
を含み、
前記第2の検査用配線の少なくとも一部が、前記表示領域内において、前記第1の方向に延伸する、
表示装置。 - 前記表示領域において、前記第1の方向と交差する第2の方向に延伸する複数の第2の配線と、
前記複数の第2の配線に電気的に接続された第2の駆動回路と、
前記表示領域において、前記第1の方向に延伸し、前記複数の第2の配線のそれぞれと、前記第2の駆動回路と、を電気的に接続する複数の引出線と、
を更に含み、
前記検査用駆動回路が、前記第2の駆動回路に含まれた、
請求項1に記載の表示装置。 - 複数の前記第1の検査用配線と、
複数の前記第2の検査用配線と、
前記表示領域において、前記第1の方向及び前記第2の方向に配列された複数の画素電極と、
を更に含み、
前記複数の画素電極が、
前記第2の方向に互いに隣り合う第1の画素電極と第2の画素電極と、
前記第2の方向に互いに隣り合う第3の画素電極と第4の画素電極と、を含み、
前記複数の引出線のいずれかが、平面視で、前記第1の画素電極と前記第2の画素電極との間を延伸し、
前記複数の第2の検査用配線のいずれかが、平面視で、前記第3の画素電極と前記第4の画素電極との間を延伸し、
前記第1の画素電極と前記第2の画素電極との間においては、前記複数の第2の検査用配線のいずれも配置されず、
前記第3の画素電極と前記第4の画素電極との間においては、前記複数の引出線のいずれも配置されない、
請求項2に記載の表示装置。 - 前記複数の第2の検査用配線の少なくとも1つが、平面視で、前記複数の引出線の内、互いに隣り合う二つの引出線の間を延伸する、
請求項3に記載の表示装置。 - 前記複数の画素電極が、
前記第2の方向に互いに隣り合う第5の画素電極と第6の画素電極を更に含み、
前記複数の第1の検査用配線の少なくとも一部が、前記表示領域内において、前記第1の方向に延伸し、
前記複数の第1の検査用配線のいずれかが、平面視で、前記第5の画素電極と前記第6の画素電極との間を延伸し、
前記第1の画素電極と前記第2の画素電極との間、及び前記第3の画素電極と前記第4の画素電極との間においては、前記複数の第1の検査用配線のいずれも配置されず、
前記第5の画素電極と前記第6の画素電極との間においては、前記複数の第2の検査用配線、及び前記複数の引出線のいずれも配置されない、
請求項3に記載の表示装置。 - 前記複数の第1の検査用配線の少なくとも1つが、平面視で、前記複数の引出線の内、互いに隣り合う二つの引出線の間を延伸する、
請求項5に記載の表示装置。 - 前記第1の駆動回路が、前記額縁領域を構成する第1の端辺領域に配置され、
前記第2の駆動回路が、前記第1の端辺領域に配置されるか、又は前記額縁領域を構成し前記第1の端辺領域と対向する第2の端辺領域に配置された、
請求項2に記載の表示装置。 - 前記第1の検査用配線の少なくとも一部が、前記表示領域内において、前記第1の方向に延伸する、
請求項1に記載の表示装置。 - 前記第2の検査用配線が、前記複数の検査用薄膜トランジスタに含まれる二以上の検査用薄膜トランジスタのゲート電極に接続された、
請求項1に記載の表示装置。 - 前記第1の検査用配線が、前記複数の検査用薄膜トランジスタに含まれる二以上の検査用薄膜トランジスタに電気的に接続された、
請求項1に記載の表示装置。 - 前記検査用駆動回路が、前記額縁領域を構成する第1の端辺領域に配置され、
前記複数の検査用薄膜トランジスタが、前記額縁領域を構成し前記第1の端辺領域と対向する第2の端辺領域に配置され、
前記第2の検査用配線の少なくとも一部が、前記第2の端辺領域に配置された、
請求項1に記載の表示装置。 - 前記検査用駆動回路が、前記額縁領域を構成する第1の端辺領域に配置され、
前記検査用回路が、前記第1の端辺領域に配置された、
請求項1に記載の表示装置。
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