JP2002005979A - 配線基板検査機の誤配線対応方法 - Google Patents
配線基板検査機の誤配線対応方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 探針Ｐとコネクタ４との端子Ｔとの間を接
続する導線３に誤配線が生じたとき、その誤配線による
不都合を迅速に回避できるようにする。 【解決手段】例えば１００番（Ｎ：１００）の探針Ｔ
100とコネクタ４の例えば１０１番（Ｍ：１０１）の端
子Ｔ101が接続された誤配線があった場合、配線の修正
をすることなく、その１０１番の端子Ｔ101からの信号
を上記１００番の端子Ｔ100からの信号として認識する
ように上記テスター装置の検査に用いるアドレスデータ
を変更することにより誤配線の実質的修正を行う。
続する導線３に誤配線が生じたとき、その誤配線による
不都合を迅速に回避できるようにする。 【解決手段】例えば１００番（Ｎ：１００）の探針Ｔ
100とコネクタ４の例えば１０１番（Ｍ：１０１）の端
子Ｔ101が接続された誤配線があった場合、配線の修正
をすることなく、その１０１番の端子Ｔ101からの信号
を上記１００番の端子Ｔ100からの信号として認識する
ように上記テスター装置の検査に用いるアドレスデータ
を変更することにより誤配線の実質的修正を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、配線基板の各配線
膜の各検出ポイントに対応した探針群と、該探針群の各
探針と導線を介して接続された端子を配設したコネクタ
と、該コネクタに装着されて上記配線膜と電気的に接続
され各検出ポイント間のオープンかショートに関する検
査用配線データ及び上記各検出ポイントと上記コネクタ
の端子との対応関係を示すアドレスデータに基づいて上
記配線基板の検査を行うテスター回路とを少なくとも有
する配線基板検査機の上記探針と上記コネクタの上記端
子との間の誤配線に対しての対応をする配線基板検査機
の誤配線対応方法に関する。
膜の各検出ポイントに対応した探針群と、該探針群の各
探針と導線を介して接続された端子を配設したコネクタ
と、該コネクタに装着されて上記配線膜と電気的に接続
され各検出ポイント間のオープンかショートに関する検
査用配線データ及び上記各検出ポイントと上記コネクタ
の端子との対応関係を示すアドレスデータに基づいて上
記配線基板の検査を行うテスター回路とを少なくとも有
する配線基板検査機の上記探針と上記コネクタの上記端
子との間の誤配線に対しての対応をする配線基板検査機
の誤配線対応方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】配線基板は、ＩＣ等の半導体素子、トラ
ンジスタ、コンデンサ、抵抗、容量素子等が装着されて
所定の種々の機能を果たすベースとなるもので、配線の
微細化、高集積化が進む傾向にあり、この微細化、高集
積化が進む程、検査が難しくなる。しかし、配線基板は
不良があるとＩＣ等所定の電子部品を正しく装着しても
所定の機能を正常に果たすことができなくなるので、配
線基板の検査は極めて重要である。
ンジスタ、コンデンサ、抵抗、容量素子等が装着されて
所定の種々の機能を果たすベースとなるもので、配線の
微細化、高集積化が進む傾向にあり、この微細化、高集
積化が進む程、検査が難しくなる。しかし、配線基板は
不良があるとＩＣ等所定の電子部品を正しく装着しても
所定の機能を正常に果たすことができなくなるので、配
線基板の検査は極めて重要である。
【０００３】配線基板の検査は、配線基板の配線ルール
（ランド／スペースのルール）等によって決まる配置密
度を以て多数の探針を配置し、該各探針により被検査配
線基板の総ての配線膜の検出すべきポイントを電気的に
外部に導出できるようにし、該各探針とコネクタのその
探針と対応する各端子とを導線を介して接続し、そのコ
ネクタにテスター回路を装着した配線基板検査機を用い
て行われている。図３はその配線基板検査機の概略構成
図である。
（ランド／スペースのルール）等によって決まる配置密
度を以て多数の探針を配置し、該各探針により被検査配
線基板の総ての配線膜の検出すべきポイントを電気的に
外部に導出できるようにし、該各探針とコネクタのその
探針と対応する各端子とを導線を介して接続し、そのコ
ネクタにテスター回路を装着した配線基板検査機を用い
て行われている。図３はその配線基板検査機の概略構成
図である。
【０００４】図面において、１は配線基板、２は検査機
構で、図示しない保持機構により保持された配線基板１
の各検出ポイントＤ1〜Ｄ2、・・・Ｄｘ（Ｄの添え
字1、2・・・ｘは検出ポイントに与えられた番号）と接
する探針Ｐ1、Ｐ2、・・・Ｐｘを備えており、その各探
針Ｐ1、Ｐ2、・・・Ｐｘにはそれぞれ各導線３の一端が
接続されている。４はコネクタで、これにはテスター回
路５が装着される。Ｔ1、Ｔ2、・・・Ｔｘ（Ｔの添え字
1、2・・・ｘはコネクタ４の各端子に与えられた番号）
は該コネクタ４の端子で、各探針Ｐ1、Ｐ2、・・・Ｐｘ
と一端が接続された導線４の他端が接続されており、探
針Ｐ1と端子Ｔ1、探針Ｐ1と端子Ｔ1というように対応す
る同じ番号のもの同士が導線３を介して接続されてい
る。
構で、図示しない保持機構により保持された配線基板１
の各検出ポイントＤ1〜Ｄ2、・・・Ｄｘ（Ｄの添え
字1、2・・・ｘは検出ポイントに与えられた番号）と接
する探針Ｐ1、Ｐ2、・・・Ｐｘを備えており、その各探
針Ｐ1、Ｐ2、・・・Ｐｘにはそれぞれ各導線３の一端が
接続されている。４はコネクタで、これにはテスター回
路５が装着される。Ｔ1、Ｔ2、・・・Ｔｘ（Ｔの添え字
1、2・・・ｘはコネクタ４の各端子に与えられた番号）
は該コネクタ４の端子で、各探針Ｐ1、Ｐ2、・・・Ｐｘ
と一端が接続された導線４の他端が接続されており、探
針Ｐ1と端子Ｔ1、探針Ｐ1と端子Ｔ1というように対応す
る同じ番号のもの同士が導線３を介して接続されてい
る。
【０００５】上記テスター回路５は、予め記憶されてい
るその機種（配線基板の機種）用の検査用配線データ
と、各検出ポイントＤとコネクタ４の各端子Ｔとの関係
を示すアドレスデータ（上記検査用配線データにおける
各検出ポイントＤと検査機構２の各端子Ｔとの対応を示
すデータ）と、その探針Ｐから導線３、コネクタ４を介
して入力された信号とを、インストールされた上記プロ
グラムに従って処理して検査を行うようになっており、
具体的には、配線基板１の各検出ポイント間がオープン
かショートかを検出することにより検査を行う。この検
査に関して図４を参照して説明する。
るその機種（配線基板の機種）用の検査用配線データ
と、各検出ポイントＤとコネクタ４の各端子Ｔとの関係
を示すアドレスデータ（上記検査用配線データにおける
各検出ポイントＤと検査機構２の各端子Ｔとの対応を示
すデータ）と、その探針Ｐから導線３、コネクタ４を介
して入力された信号とを、インストールされた上記プロ
グラムに従って処理して検査を行うようになっており、
具体的には、配線基板１の各検出ポイント間がオープン
かショートかを検出することにより検査を行う。この検
査に関して図４を参照して説明する。
【０００６】配線基板１の配線膜の各検出ポイントＤ・
Ｄ間はオープンでなければならないか或いはショートで
なければならない。図４に示すデータにおいては、例え
ばＤ 1・Ｄ100間、Ｄ1・Ｄ2間、Ｄ1・Ｄ3間、Ｄ1・Ｄ101
間等はオープンＯＰであり、Ｄ2・Ｄ3間、Ｄ2・Ｄ
101間、Ｄ3・Ｄ101間はショートである。従って、各検
出ポイントＤ・Ｄ間毎にオープンＯＰであるべきか、シ
ョートＳＴであるべきかを検査用配線データとして記憶
しておき、配線基板１の各検出ポイントＤ・Ｄ間につい
てショートＳＴかオープンＯＰかの検出を行い、その検
出結果と、あるべき状態を示すその検出ポイントＤ・Ｄ
間についての検査用配線データとを照合し、一致してい
れば合格、不一致であれば不合格という検出結果を出力
する処理を順次行えば、配線基板１の配線の検査ができ
る。配線基板１の検査は将にこのような原理で行うよう
になっているのである。
Ｄ間はオープンでなければならないか或いはショートで
なければならない。図４に示すデータにおいては、例え
ばＤ 1・Ｄ100間、Ｄ1・Ｄ2間、Ｄ1・Ｄ3間、Ｄ1・Ｄ101
間等はオープンＯＰであり、Ｄ2・Ｄ3間、Ｄ2・Ｄ
101間、Ｄ3・Ｄ101間はショートである。従って、各検
出ポイントＤ・Ｄ間毎にオープンＯＰであるべきか、シ
ョートＳＴであるべきかを検査用配線データとして記憶
しておき、配線基板１の各検出ポイントＤ・Ｄ間につい
てショートＳＴかオープンＯＰかの検出を行い、その検
出結果と、あるべき状態を示すその検出ポイントＤ・Ｄ
間についての検査用配線データとを照合し、一致してい
れば合格、不一致であれば不合格という検出結果を出力
する処理を順次行えば、配線基板１の配線の検査ができ
る。配線基板１の検査は将にこのような原理で行うよう
になっているのである。
【０００７】そして、上述した検査用配線データは、一
般に配線基板のメーカー側からその配線基板をＣＡＤ(C
omputer Aided Design)により設計する過程で得たデー
タの提供を検査機メーカー側が受け、検査機メーカー側
がそのデータをＣＡＭにより処理することによってつく
られるというケースが増えつつある。その検査用データ
は、ＣＡＤによる設計により得られたデータをＣＡＭ
((Computer Aided Manufacture)を用いて処理すること
によりマッピングし、各検出ポイントＤにアドレス（番
号）を付与し、各アドレス間毎にオープンＯＰかショー
トＳＴかを示すものである。そして、検査機構２のコネ
クタ４の各番号の端子Ｔ（これは取りも直さず各番号の
探針Ｐ）と、検査用配線データの各検出ポイントＤの番
号との間の対応関係を示す表のアドレスデータも作成
し、その上で一定のプログラムに従って各検出ポイント
間についてオープンＯＰかショートＳＴかを検出してゆ
くようになっている。
般に配線基板のメーカー側からその配線基板をＣＡＤ(C
omputer Aided Design)により設計する過程で得たデー
タの提供を検査機メーカー側が受け、検査機メーカー側
がそのデータをＣＡＭにより処理することによってつく
られるというケースが増えつつある。その検査用データ
は、ＣＡＤによる設計により得られたデータをＣＡＭ
((Computer Aided Manufacture)を用いて処理すること
によりマッピングし、各検出ポイントＤにアドレス（番
号）を付与し、各アドレス間毎にオープンＯＰかショー
トＳＴかを示すものである。そして、検査機構２のコネ
クタ４の各番号の端子Ｔ（これは取りも直さず各番号の
探針Ｐ）と、検査用配線データの各検出ポイントＤの番
号との間の対応関係を示す表のアドレスデータも作成
し、その上で一定のプログラムに従って各検出ポイント
間についてオープンＯＰかショートＳＴかを検出してゆ
くようになっている。
【０００８】検査機メーカー側は、導線３を介してコネ
クタ４が接続された検査機構２と、テスター用回路５に
セットする検査用配線データ及びアドレスデータ（場合
によってはその他に検査用アプリケーションソフト）を
配線基板メーカー或いはテスト専用業者に提供する。そ
れに対して、配線基板メーカー側はその配線基板検査機
及びコンピュータを使用して配線基板のテストをするの
である。
クタ４が接続された検査機構２と、テスター用回路５に
セットする検査用配線データ及びアドレスデータ（場合
によってはその他に検査用アプリケーションソフト）を
配線基板メーカー或いはテスト専用業者に提供する。そ
れに対して、配線基板メーカー側はその配線基板検査機
及びコンピュータを使用して配線基板のテストをするの
である。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところで、配線基板検
査機の製造過程で、探針Ｐとコネクタ３との端子Ｔとの
間を接続する導線３による配線に誤配線が生じることが
あった。即ち、上述したように、配線基板１の各検出ポ
イントＤと接してテスター用回路５に電気的に接続する
各探針Ｔと、コネクタ４の各端子Ｔにはそれぞれ番号が
設定され、互いに対応する探針Ｐとコネクタ４の端子Ｔ
同士は同じ番号になるようになっており、導線で互いに
接続されるべきものとなる。例えば１番の探針Ｐ1はコ
ネクタ４の１番目の端子Ｔ1と、２番目の探針Ｐ2はコネ
クタ４の２番の端子Ｔ2というようにである。
査機の製造過程で、探針Ｐとコネクタ３との端子Ｔとの
間を接続する導線３による配線に誤配線が生じることが
あった。即ち、上述したように、配線基板１の各検出ポ
イントＤと接してテスター用回路５に電気的に接続する
各探針Ｔと、コネクタ４の各端子Ｔにはそれぞれ番号が
設定され、互いに対応する探針Ｐとコネクタ４の端子Ｔ
同士は同じ番号になるようになっており、導線で互いに
接続されるべきものとなる。例えば１番の探針Ｐ1はコ
ネクタ４の１番目の端子Ｔ1と、２番目の探針Ｐ2はコネ
クタ４の２番の端子Ｔ2というようにである。
【００１０】しかし、この導線による配線は人により手
作業で行われ、しかも１台の配線基板検査機で端子数が
数百本にもなるので、誤配線が生じることがある。図５
に示すように、例えば１００番の探針Ｐ100と１００番
の端子Ｔ100とを、１０１番の探針Ｐ101と１０１番の端
子Ｔ101とを接続しなければならないのに、誤って１０
０番の探針Ｐ100と１０１番の端子Ｔ101とを、１０１番
の探針Ｐ101と１００番の端子Ｔ100とを接続してしまう
ということがある。尚、図５において破線はあるべき配
線を示す。
作業で行われ、しかも１台の配線基板検査機で端子数が
数百本にもなるので、誤配線が生じることがある。図５
に示すように、例えば１００番の探針Ｐ100と１００番
の端子Ｔ100とを、１０１番の探針Ｐ101と１０１番の端
子Ｔ101とを接続しなければならないのに、誤って１０
０番の探針Ｐ100と１０１番の端子Ｔ101とを、１０１番
の探針Ｐ101と１００番の端子Ｔ100とを接続してしまう
ということがある。尚、図５において破線はあるべき配
線を示す。
【００１１】斯かる誤配線があると、当然のことなが
ら、正しく検査を行うことができない。従って、配線基
板メーカー側が使用している段階でこのような誤配線が
発見された場合、当然に配線基板メーカー側から検査機
メーカー側へクレームがくることになり、斯かるクレー
ムが来た場合、検査機メーカー側は正しく検査ができる
ようにできるだけ迅速に対応をしなければならない。
ら、正しく検査を行うことができない。従って、配線基
板メーカー側が使用している段階でこのような誤配線が
発見された場合、当然に配線基板メーカー側から検査機
メーカー側へクレームがくることになり、斯かるクレー
ムが来た場合、検査機メーカー側は正しく検査ができる
ようにできるだけ迅速に対応をしなければならない。
【００１２】従来においては、斯かる誤配線に対して
は、探針Ｐとコネクタ４の端子Ｔとの接続を正しくやり
直すことによって対応していた。即ち、図５に示した例
においては誤配線したものを破線に示す正しい配線にし
直すようにしていた。
は、探針Ｐとコネクタ４の端子Ｔとの接続を正しくやり
直すことによって対応していた。即ち、図５に示した例
においては誤配線したものを破線に示す正しい配線にし
直すようにしていた。
【００１３】しかし、このような方法では、配線基板検
査機が据え付けられた検査作業現場で配線のし直しとい
う面倒な作業をする必要があり、作業にも時間がかかっ
た。大体、２〜４時間というかなり長い時間がかかり、
これは検査機メーカー側にとってもその検査機を使用す
る配線基板製造メーカー側にとっても大きなマイナスに
なる。また、配線のし直しの過程で断線やショートがお
きることもあり、その場合にはもっと修正に時間がかか
った。というのは、導線が細く、多数密集して配線され
ているので、修正作業によって別の導線が断線されてし
まったり、端子間隔が短いためにショート事故が起き易
いからである。
査機が据え付けられた検査作業現場で配線のし直しとい
う面倒な作業をする必要があり、作業にも時間がかかっ
た。大体、２〜４時間というかなり長い時間がかかり、
これは検査機メーカー側にとってもその検査機を使用す
る配線基板製造メーカー側にとっても大きなマイナスに
なる。また、配線のし直しの過程で断線やショートがお
きることもあり、その場合にはもっと修正に時間がかか
った。というのは、導線が細く、多数密集して配線され
ているので、修正作業によって別の導線が断線されてし
まったり、端子間隔が短いためにショート事故が起き易
いからである。
【００１４】本発明はこのような問題点を解決すべく為
されたものであり、探針とコネクタとの端子との間を接
続する導線に誤配線が生じたとき、その後配線による不
都合を迅速に回避できる新規な配線基板検査機の誤配線
対応方法を提供することを目的とする。
されたものであり、探針とコネクタとの端子との間を接
続する導線に誤配線が生じたとき、その後配線による不
都合を迅速に回避できる新規な配線基板検査機の誤配線
対応方法を提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本発明配線基板検査機の
誤配線対応方法は、ある番号Ｎ（例えば１００番）の探
針ＴN（例えばＴ100）とコネクタの前記番号Ｎとは異な
る番号Ｍ（例えば１０１番）の端子ＴMと（例えば
Ｔ101）が接続された誤配線があった場合、配線の修正
をすることなく、その番号M（例えば１０１番）の端子
ＴM（例えばＴ101）からの信号を上記ある番号Ｎ（例え
ば１００番）の端子ＴM（例えばＴ100）からの信号とし
て認識するように上記テスター装置の検査に用いるアド
レスデータを変更することにより誤配線の実質的修正を
行うことを特徴とする。
誤配線対応方法は、ある番号Ｎ（例えば１００番）の探
針ＴN（例えばＴ100）とコネクタの前記番号Ｎとは異な
る番号Ｍ（例えば１０１番）の端子ＴMと（例えば
Ｔ101）が接続された誤配線があった場合、配線の修正
をすることなく、その番号M（例えば１０１番）の端子
ＴM（例えばＴ101）からの信号を上記ある番号Ｎ（例え
ば１００番）の端子ＴM（例えばＴ100）からの信号とし
て認識するように上記テスター装置の検査に用いるアド
レスデータを変更することにより誤配線の実質的修正を
行うことを特徴とする。
【００１６】従って、本発明配線基板検査機の誤配線対
応方法によれば、誤配線に対しては、探針とコネクタと
の間の配線の修正をすることなく、上記テスター装置の
検査に用いるデータの誤配線に係る部分のアドレスデー
タを変更することにより誤配線の実質的修正を行うの
で、単に検査用のアドレスデータの修正のみで誤配線に
対する対応ができる。依って、誤配線による不都合を迅
速に解消することができ、配線基板検査機に生じる遊び
時間を短くすることができる。勿論、誤配線を直す配線
修正作業で別の配線に不良が生じるというおそれもな
い。
応方法によれば、誤配線に対しては、探針とコネクタと
の間の配線の修正をすることなく、上記テスター装置の
検査に用いるデータの誤配線に係る部分のアドレスデー
タを変更することにより誤配線の実質的修正を行うの
で、単に検査用のアドレスデータの修正のみで誤配線に
対する対応ができる。依って、誤配線による不都合を迅
速に解消することができ、配線基板検査機に生じる遊び
時間を短くすることができる。勿論、誤配線を直す配線
修正作業で別の配線に不良が生じるというおそれもな
い。
【００１７】
【発明の実施の形態】本発明配線基板検査機の誤配線対
応方法においては、その検査に用いる配線データは、被
検査配線基板のＣＡＤによる設計の際に生じたデータを
ＣＡＭにより処理することにより作成すると良い。とい
うのは、前述から明らかなように、できた配線基板の配
線膜パターンに基づいて検査用配線データをつくるより
も極めて迅速にデータ作成ができ、データのミスも極め
て少なくすることができるからである。
応方法においては、その検査に用いる配線データは、被
検査配線基板のＣＡＤによる設計の際に生じたデータを
ＣＡＭにより処理することにより作成すると良い。とい
うのは、前述から明らかなように、できた配線基板の配
線膜パターンに基づいて検査用配線データをつくるより
も極めて迅速にデータ作成ができ、データのミスも極め
て少なくすることができるからである。
【００１８】
【実施例】以下、本発明を図示実施例に従って詳細に説
明する。図１は本発明配線基板検査機の誤配線対応方法
の一つの実施例を示すフローチャートである。先ず、治
具等の検査機構を製作し［ステップ（１）］、更に検査
用の配線データを、配線基板メーカー側が配線基板のＣ
ＡＤによる設計の過程で生じたデータの提供を受け、そ
の提供を受けたデータをＣＡＭにより処理することによ
り作成する［ステップ（２）］。更に、上記検査機構２
のコネクタ３の各端子Ｔと検査用配線データとの対応関
係を示すアドレスデータを作成する［ステップ
（３）］。
明する。図１は本発明配線基板検査機の誤配線対応方法
の一つの実施例を示すフローチャートである。先ず、治
具等の検査機構を製作し［ステップ（１）］、更に検査
用の配線データを、配線基板メーカー側が配線基板のＣ
ＡＤによる設計の過程で生じたデータの提供を受け、そ
の提供を受けたデータをＣＡＭにより処理することによ
り作成する［ステップ（２）］。更に、上記検査機構２
のコネクタ３の各端子Ｔと検査用配線データとの対応関
係を示すアドレスデータを作成する［ステップ
（３）］。
【００１９】その後、納品する［ステップ（４）］。こ
の納品は、具体的に、治具等及びコネクタ４を含む検査
機構２と、上記ＣＡＭを用いて作成した検査用データ
と、アドレスデータである。なお、その制御に用いるコ
ンピュータ、ＯＳ（オペレーション・システム）及び検
査用アプリケーション・ソフトは配線基板メーカー側が
持っている場合が多い。尤も、配線基板検査機メーカー
側がコンピュータやＯＳ等をも含め配線基板メーカー側
に提供する場合もある。
の納品は、具体的に、治具等及びコネクタ４を含む検査
機構２と、上記ＣＡＭを用いて作成した検査用データ
と、アドレスデータである。なお、その制御に用いるコ
ンピュータ、ＯＳ（オペレーション・システム）及び検
査用アプリケーション・ソフトは配線基板メーカー側が
持っている場合が多い。尤も、配線基板検査機メーカー
側がコンピュータやＯＳ等をも含め配線基板メーカー側
に提供する場合もある。
【００２０】納品を受けた配線基板製造メーカー側は、
先ず、配線基板検査機の外観チェックを行い、良品か否
かを判定する［ステップ（５）］。その判定結果がＮｏ
（ＮＧ：良品ではない）である場合には、配線基板検査
機或いは配線基板検査機の外観不良に係る部品等を配線
基板検査機メーカー側に戻し、修理する［ステップ
（６）］。なお、配線基板メーカー側の配線基板検査機
を据え付けたところで直せる場合には、配線基板検査機
メーカー側の作業員が配線基板メーカー側に行きそこで
修理作業を行うようにしても良く、ケースバイケースが
良い。この修理が済むとステップ（６）の納品が再度行
われることになる。
先ず、配線基板検査機の外観チェックを行い、良品か否
かを判定する［ステップ（５）］。その判定結果がＮｏ
（ＮＧ：良品ではない）である場合には、配線基板検査
機或いは配線基板検査機の外観不良に係る部品等を配線
基板検査機メーカー側に戻し、修理する［ステップ
（６）］。なお、配線基板メーカー側の配線基板検査機
を据え付けたところで直せる場合には、配線基板検査機
メーカー側の作業員が配線基板メーカー側に行きそこで
修理作業を行うようにしても良く、ケースバイケースが
良い。この修理が済むとステップ（６）の納品が再度行
われることになる。
【００２１】上記ステップ（５）の外観チェックの判定
結果がＹｅｓ（ＯＫ：良品）の場合、提供を受けた検査
機構２とコンピュータ等との組み込みを行い、必要な設
定をしてオープンＯＰ、ショートＳＴの検出により配線
基板検査機についての自己診断テストをする［ステップ
（７）］。このテストは、検査機の持つ治具または機械
自体の検査であり、具体的には、治具、機械自体がショ
ートしていないか、ケーブル等に断線がないかを調べる
ものであり、従って、検査用配線データやアドレスデー
タをセットしないで行われる。そして、そのテストの結
果がＮｏ（ＮＧ：異常あり）のときは、異常をなくす修
理をし［ステップ（８）］、その後、ステップ（７）の
テストを再度行う。
結果がＹｅｓ（ＯＫ：良品）の場合、提供を受けた検査
機構２とコンピュータ等との組み込みを行い、必要な設
定をしてオープンＯＰ、ショートＳＴの検出により配線
基板検査機についての自己診断テストをする［ステップ
（７）］。このテストは、検査機の持つ治具または機械
自体の検査であり、具体的には、治具、機械自体がショ
ートしていないか、ケーブル等に断線がないかを調べる
ものであり、従って、検査用配線データやアドレスデー
タをセットしないで行われる。そして、そのテストの結
果がＮｏ（ＮＧ：異常あり）のときは、異常をなくす修
理をし［ステップ（８）］、その後、ステップ（７）の
テストを再度行う。
【００２２】上記ステップ（７）のテストの結果がＹｅ
ｓ（ＯＫ）の場合には、配線基板検査機に検査用データ
及びアドレスデータを入力した状態で、配線基板をテス
トする［ステップ（９）］。そのテストの結果がＮｏ
（ＮＧ：異常あり）の場合には、その異常が配線基板検
査機側が提供した検査に用いるデータ（検査用配線デー
タとアドレスデータ）に異常があるのか否かの判定をす
る［ステップ（１０）］。そして、その判定の結果がＹ
ｅｓ（：データに異常がある。）の場合には、そのデー
タを再作成する。この再作成は配線基板検査機メーカー
側がネットワークを利用してパーソナルコンピュータに
より行うことができる［ステップ（１１）］。
ｓ（ＯＫ）の場合には、配線基板検査機に検査用データ
及びアドレスデータを入力した状態で、配線基板をテス
トする［ステップ（９）］。そのテストの結果がＮｏ
（ＮＧ：異常あり）の場合には、その異常が配線基板検
査機側が提供した検査に用いるデータ（検査用配線デー
タとアドレスデータ）に異常があるのか否かの判定をす
る［ステップ（１０）］。そして、その判定の結果がＹ
ｅｓ（：データに異常がある。）の場合には、そのデー
タを再作成する。この再作成は配線基板検査機メーカー
側がネットワークを利用してパーソナルコンピュータに
より行うことができる［ステップ（１１）］。
【００２３】そのステップ（１０）の判定結果がＮ
ｏ（：データに異常がない）の場合には、配線に誤り、
即ち誤配があるか否かの判定をする［ステップ（１
２）］。その判定結果がＹｅｓ（：誤配がある）のとき
はそれに対応する必要があるが、それはアドレスデータ
を修正することにより行う［ステップ（１３）］。それ
は具体的には、ある番号Ｎ（例えば１００番）の探針Ｔ
N（例えばＴ100）とコネクタの前記番号Ｎとは異なる番
号Ｍ（例えば１０１番）の端子ＴMと（例えばＴ101）が
接続された誤配線があった場合、図２に示すように、そ
の番号M（例えば１０１番）の端子ＴM（例えばＴ101）
からの信号を上記ある番号Ｎ（例えば１００番）の端子
ＴM（例えばＴ100）からの信号として認識するように上
記テスター装置の検査に用いるアドレスデータを変更す
ることにより誤配線の実質的修正を行う。つまり、Ｔ1
とＤ1、Ｔ2とＤ2、Ｔ3とＤ3、・・・Ｔ100とＤ100と、
Ｔ101とＤ101、Ｔ102とＤ102という対応関係を、Ｔ1と
Ｄ1、Ｔ2とＤ2、Ｔ3とＤ3、・・・Ｔ10 0とＤ101と、Ｔ
101とＤ100、Ｔ102とＤ102という対応関係に変更する
と、導線３による配線に全く手を加えることなく、配線
を修正したと全く同じ効果を得ることができる。
ｏ（：データに異常がない）の場合には、配線に誤り、
即ち誤配があるか否かの判定をする［ステップ（１
２）］。その判定結果がＹｅｓ（：誤配がある）のとき
はそれに対応する必要があるが、それはアドレスデータ
を修正することにより行う［ステップ（１３）］。それ
は具体的には、ある番号Ｎ（例えば１００番）の探針Ｔ
N（例えばＴ100）とコネクタの前記番号Ｎとは異なる番
号Ｍ（例えば１０１番）の端子ＴMと（例えばＴ101）が
接続された誤配線があった場合、図２に示すように、そ
の番号M（例えば１０１番）の端子ＴM（例えばＴ101）
からの信号を上記ある番号Ｎ（例えば１００番）の端子
ＴM（例えばＴ100）からの信号として認識するように上
記テスター装置の検査に用いるアドレスデータを変更す
ることにより誤配線の実質的修正を行う。つまり、Ｔ1
とＤ1、Ｔ2とＤ2、Ｔ3とＤ3、・・・Ｔ100とＤ100と、
Ｔ101とＤ101、Ｔ102とＤ102という対応関係を、Ｔ1と
Ｄ1、Ｔ2とＤ2、Ｔ3とＤ3、・・・Ｔ10 0とＤ101と、Ｔ
101とＤ100、Ｔ102とＤ102という対応関係に変更する
と、導線３による配線に全く手を加えることなく、配線
を修正したと全く同じ効果を得ることができる。
【００２４】尚、ステップ（１２）の判定の結果がＮｏ
（：誤配線ではない）の場合には、ステップ（９）にお
いて検出された異常は、その他の異常であり、これには
その異常に対応した修理を行い［ステップ（１４）］、
その後、ステップ（９）の検査に戻る。
（：誤配線ではない）の場合には、ステップ（９）にお
いて検出された異常は、その他の異常であり、これには
その異常に対応した修理を行い［ステップ（１４）］、
その後、ステップ（９）の検査に戻る。
【００２５】本配線基板検査機の誤配線対応方法によれ
ば、誤配線に対しては、探針Ｐとコネクタの端子Ｔとの
間の配線の修正をすることなく、上記テスター装置の検
査に用いるデータの誤配線に係る部分のデータを変更す
ることにより誤配線の実質的修正を行うので、単に検査
用データの修正のみで誤配線に対する対応ができる。依
って、誤配線による不都合を迅速に解消することがで
き、配線基板検査機に生じる遊び時間を短くすることが
できる。勿論、誤配線を直す配線修正作業で別の配線に
不良が生じるというおそれもない。
ば、誤配線に対しては、探針Ｐとコネクタの端子Ｔとの
間の配線の修正をすることなく、上記テスター装置の検
査に用いるデータの誤配線に係る部分のデータを変更す
ることにより誤配線の実質的修正を行うので、単に検査
用データの修正のみで誤配線に対する対応ができる。依
って、誤配線による不都合を迅速に解消することがで
き、配線基板検査機に生じる遊び時間を短くすることが
できる。勿論、誤配線を直す配線修正作業で別の配線に
不良が生じるというおそれもない。
【００２６】
【発明の効果】請求項１の配線基板検査機の誤配線対応
方法によれば、誤配線に対しては、探針とコネクタとの
間の配線の修正をすることなく、上記テスター装置の検
査に用いるデータの誤配線に係る部分のデータを変更す
ることにより誤配線の実質的修正を行うので、単に検査
用データの修正のみで誤配線に対する対応ができる。依
って、誤配線による不都合を迅速に解消することがで
き、配線基板検査機に生じる遊び時間を短くすることが
できる。勿論、誤配線を直す配線修正作業で別の配線に
不良が生じるというおそれもない。
方法によれば、誤配線に対しては、探針とコネクタとの
間の配線の修正をすることなく、上記テスター装置の検
査に用いるデータの誤配線に係る部分のデータを変更す
ることにより誤配線の実質的修正を行うので、単に検査
用データの修正のみで誤配線に対する対応ができる。依
って、誤配線による不都合を迅速に解消することがで
き、配線基板検査機に生じる遊び時間を短くすることが
できる。勿論、誤配線を直す配線修正作業で別の配線に
不良が生じるというおそれもない。
【００２７】請求項２の配線基板検査機の誤配線対応方
法によれば、その検査に用いるデータを、被検査配線基
板のＣＡＤによる設計の際に生じたデータをＣＡＭによ
り作成するので、できた配線基板の配線膜パターンに基
づいて検査用データをつくるよりも極めて迅速にデータ
作成ができ、データのミスも極めて少なくすることがで
きる。
法によれば、その検査に用いるデータを、被検査配線基
板のＣＡＤによる設計の際に生じたデータをＣＡＭによ
り作成するので、できた配線基板の配線膜パターンに基
づいて検査用データをつくるよりも極めて迅速にデータ
作成ができ、データのミスも極めて少なくすることがで
きる。
【図１】本発明配線基板検査機の誤配線対応方法の第１
の実施例を示すフローチャートである。
の実施例を示すフローチャートである。
【図２】本発明の原理説明図である。
【図３】配線基板検査機の原理説明図である。
【図４】配線基板のテスト原理の説明図である。
【図５】誤配線の発生例を示す説明図である。
（１３）…データ修正ステップ、１…配線基板、２…検
査機構、４…コネクタ、５…テスト回路、Ｄ…検出ポイ
ント、Ｐ…探針、Ｔ…端子。
査機構、４…コネクタ、５…テスト回路、Ｄ…検出ポイ
ント、Ｐ…探針、Ｔ…端子。
Claims (2)
- 【請求項１】 配線基板の各配線膜の各検出ポイントに
対応した探針群と、該探針群の各探針と導線を介して接
続された端子を配設したコネクタと、該コネクタに装着
されて上記配線膜と電気的に接続され各検出ポイント間
のオープンかショートに関する検査用配線データ及び上
記各検出ポイントと上記コネクタの端子との対応関係を
示すアドレスデータに基づいて上記配線基板の検査を行
うテスター回路とを少なくとも有する配線基板検査機の
上記探針と上記コネクタの上記端子との間の誤配線に対
しての対応をする配線基板検査機の誤配線対応方法にお
いて、 或る番号Ｎの探針とコネクタの前記番号Ｎとは異なる番
号Ｍの端子とが接続された誤配線があった場合、配線の
修正をすることなく、その番号Ｍの端子からの信号を上
記或る番号Ｎの端子からの信号として認識するようにア
ドレスデータを変更することにより誤配線の実質的修正
を行うことを特徴とする配線基板検査機の誤配線対応方
法。 - 【請求項２】 上記検査用配線データを、配線基板のＣ
ＡＤによる設計をする過程で得たデータを処理して得る
ことを特徴とする請求項１記載の配線基板検査機の誤配
線対応方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000180774A JP2002005979A (ja) | 2000-06-16 | 2000-06-16 | 配線基板検査機の誤配線対応方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000180774A JP2002005979A (ja) | 2000-06-16 | 2000-06-16 | 配線基板検査機の誤配線対応方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002005979A true JP2002005979A (ja) | 2002-01-09 |
Family
ID=18681795
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000180774A Pending JP2002005979A (ja) | 2000-06-16 | 2000-06-16 | 配線基板検査機の誤配線対応方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002005979A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009156729A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Espec Corp | 計測システム |
| JP2018091733A (ja) * | 2016-12-05 | 2018-06-14 | 株式会社三社電機製作所 | 電気機器システム |
-
2000
- 2000-06-16 JP JP2000180774A patent/JP2002005979A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009156729A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Espec Corp | 計測システム |
| JP2018091733A (ja) * | 2016-12-05 | 2018-06-14 | 株式会社三社電機製作所 | 電気機器システム |
| JP7060322B2 (ja) | 2016-12-05 | 2022-04-26 | 株式会社三社電機製作所 | 電気機器システム |
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