CN114594371A - 适用于led线路板不良缺陷检修方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种适用于LED线路板不良缺陷检修方法,通过高精自动测试机,对LED线路板进行检测,生成测试结果数据文件。对测试结果数据文件进行转换,生成适用于连线飞针机的连线测试数据。通过连线飞针机对连线测试数据进行检测。生成最终检测结果。由此,只需要制作一套治具即可测试几十万点的LED板,测试后所得到的开路缺陷数据。可以通过软件来实现测试结果数据文件的转化,让缺陷数据成为飞针机可读取的检修数据。能够利用连线飞针机针对每片板一次性完成连线检修,大幅度提高测试检修效率,杜绝因多次测试带来的漏测风险。可以实现自动化的检测,免去繁杂的人工操作。
Description
技术领域
本发明涉及一种检修方法,尤其涉及一种适用于LED线路板不良缺陷检修方法。
背景技术
目前已有的连线测试系统及方法只能解决常规的主板、内存条板、汽车板、以及早期普通LED板等,并且板子各个单元为一次测试完成的相对比较简单的线路板,由于测试时所用的模具受到极大的使用限制,从而无法安全、有效、快速、低成本的解决连线测试的目的。
比如,一款LED基板尺寸为132.5*170mm,灯珠焊接面有60000个焊接点(即测试点),因现有的常规PCB测试设备本身能力,以及配套的测试治具(或称为模具)制作能力,无法做到只制作一套治具就将此板60000个测试点全部测完,按照板子内部线路的网络关系,可能要分成5套或6套治具制作,即同一片板子要使用5-6套不同的治具分别测试5-6次,也就是每次测完需拆下设备上的治具,再换另一套治具安装上再进行测试,如此往复5-6次。如果每次测试都有开路缺陷,同一片板子需要进行5-6次的连线测试。
以上现有方法带来的弊端显而易见,不仅制作治具的费用成倍增加,因为同一片板子需往复测试多次,测试效率大幅降低,对测试现场管理带来很大麻烦,从很大程度上增加漏测的风险。
如果以现在更高精密和更高密度的LED板、mini LED板(灯珠面测点数量从10万-30万不等,测点直径0.08mm左右)以现有的方法根本不可能分成更多套的治具,同时因板子点数和网络的关系也无法分成更多套治具去解决测试问题。
简单来说,现有技术存在以下技术缺陷:
(1)LED线路板的特殊性,即测试点位数量达到数万或数十万,目前没有任何治具测试机一次测完,必须使用LED线路板专用分步测试法进行分步多次测试完成。
(2)LED线路板的灯珠面焊盘密度高,因为图形一致性的原因,即便通过人工利用显微镜也很难找到准确的对应点位,所以无法进行检修。
(3)LED线路板测试及检修需要同时对上下两面线路进行电性能确认,所以必须用特定的设备才可以进行准确定位测试,实施成本高。
有鉴于上述的缺陷,本设计人,积极加以研究创新,以期创设一种适用于 LED线路板不良缺陷检修方法,使其更具有产业上的利用价值。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明的目的是提供一种适用于LED线路板不良缺陷检修方法。
本发明的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其包括以下步骤:
步骤一,通过高精自动测试机,对LED线路板进行检测,生成测试结果数据文件;
步骤二,对测试结果数据文件进行转换,生成适用于连线飞针机的连线测试数据;
步骤三,通过连线飞针机及转换后得到的连线测试数据,对存在不良缺陷的LED线路板进行检测;
步骤四,生成最终检测结果。
进一步地,上述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其中,所述测试结果数据文件为包含缺陷Log的数据包,采用高精度检测机惯用的dat格式进行封装保存。
更进一步地,上述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其中,所述数据包的内容包括,料号名、批号板序号、日期时间、测试台面编号、测试块编号、不良代码、测试pcs跳过数量、测试结果排版。
更进一步地,上述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其中,所述步骤二中,对测试结果数据文件进行转换的过程为,
(1)、接收测试结果数据文件;
(2)、通过工程设计部门提供产品的点位坐标文件;
(3)、设定测试结果数据文件的导入位置及点位坐标文件的目录位置,设置输出连线飞针机Log数据的保存位置;
(4)、根据需要转换料号的实际密度设定下部起始点,根据需要转换料号分步测试的移动量,输入对应的移动补偿值,根据实际测试步数设定分步数值;
(5)数据转换,生成适用于连线飞针机的连线测试数据。
更进一步地,上述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其中,所述连线测试数据转化为二维码进行打印输出;或是,所述连线测试数据转化为条形码进行打印输出。
更进一步地,上述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其中,所述连线飞针机扫描连线测试数据,解析后获取飞针连线数据内坐标点位,对LED线路板上的开路缺陷点位进行定位。
更进一步地,上述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其中,所述高精自动测试机为ICT检测设备,或是为TPC检测设备,或是为AOI检测设备,或是为自动影响检测仪。
再进一步地,上述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其中,所述高精自动测试机配置有独立的检测治具,所述检测治具包括有治具本体,所述治具本上设置有若干焊接点感应插针。
借由上述方案,本发明至少具有以下优点:
1、只需要制作一套治具即可测试几十万点的LED板,测试后所得到的开路缺陷数据。
2、可以通过软件来实现测试结果数据文件的转化,让缺陷数据成为飞针机可读取的检修数据。
3、能够利用连线飞针机针对每片板一次性完成连线检修,大幅度提高测试检修效率,杜绝因多次测试带来的漏测风险。
4、可以实现自动化的检测,免去繁杂的人工操作。
5、连线测试数据转可以采用电子数据格式或是纸质条码格式,适应不同的传输录入需要,提高泛用性。
上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本发明的较佳实施例详细说明如后。
具体实施方式
下面结合实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。
适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其与众不同之处在于包括以下步骤:
步骤一,通过高精自动测试机,对LED线路板进行检测,生成测试结果数据文件。考虑到实施的便利,测试结果数据文件为包含缺陷Log的数据包,采用高精度检测机惯用的dat格式进行封装保存,便于后续的处理。实施期间,数据包的内容可包括:料号名、批号板序号、日期时间、测试台面编号、测试块编号、不良代码、测试pcs跳过数量、测试结果排版。当然,还可以进行适当的扩展。
比如,dat格式的数据包,其包含如下内容:
Model Name:S42F008--2W;
Lot SheetNo:0001 0002;
Date:01/20/22 15:53:22;
Shuttle No:1;
***TestBlock No:5***;
***Result IO:OPEN***;
1O:449/2250(>100);
***T/T=1.57S;
[PIECE]PCS Skip:0;
PPP O O P PPPP。
实际表述的意思为:
料号名,Model Name:S42F008--2W。
批号板序号,Lot SheetNo:0001 0002。
日期时间,Date:01/20/22 15:53:13。
测试台面编号,Shuttle No:1。
测试编号,***TestBlock No:4***。*只是为了提高辨识率,也可以采用其他字符替代。
不良代码,可表示不良点位1/不良点位2判定结果,可表示为,1O:449/ 1799(>100)。
测试pcs跳过数量(决定是否转换),[PIECE]PCS Skip:0。
测试结果排版,PPP O OP PPPP。
步骤二,对测试结果数据文件进行转换,生成适用于连线飞针机的连线测试数据,其转换过程如下:
(1)、接收由高精测试机自动生成的测试结果数据文件(LogData);。
(2)、通过工程设计部门提供产品的点位坐标文件(ADR)。
(3)、设定测试结果数据文件的导入位置及点位坐标文件的目录位置,设置输出连线飞针机Log数据的保存位置。
(4)、根据需要转换料号的实际密度设定下部起始点,根据需要转换料号分步测试的移动量,输入对应的移动补偿值,根据实际测试步数设定分步数值。
(5)数据转换,生成适用于连线飞针机的连线测试数据。
在实际实施期间,可通过数据转换软件,数据转换软件自动计算每一步测试所对应的点位和坐标,构成连线测试数据。同时,数据转换软件可根据条件自动计算飞针机连线数据的坐标补偿。并且,在将所有相关条件设定完成后即可开始转换相关数据。所有数据转换完成后软件界面会显示每个LogData是否成功,便于用户知晓当前状态。
由于高精测试机使用治具分为上模和下模,起点1为上模不变,按照顺序下部起始点会有不同。为此,可以按照下表来进行下步起始点的转换。
密度 | 8K | 16K | 32K |
下部起始点 | 4097 | 8193 | 16385 |
步骤三,通过连线飞针机及转换后得到的连线测试数据,对存在不良缺陷的LED线路板进行检测。
步骤四,生成最终检测结果。
结合本发明一较佳的实施方式来看,连线测试数据转化为二维码进行打印输出;或是,连线测试数据转化为条形码进行打印输出。这样,无需进行繁杂的手动输入,可以通过扫码器或是摄像头等进行便捷化的识别,配合后续的数据还原进行最快录入。
进一步来看,连线飞针机扫描连线测试数据,解析后获取飞针连线数据内坐标点位,对LED线路板上的开路缺陷点位进行定位。考虑到实施的便利,高精自动测试机为ICT检测设备。也可以是TPC检测设备,或是为AOI检测设备。对于某些特殊的LED线路板,还可以采用自动影响检测仪。当然,为了配合不同的LED线路板,也可以采用其他型号类别的高精度自动测试机,比如四线测试检查机(BBT)再此不再赘述。并且,考虑到稳定的放置检测,高精自动测试机配置有独立的检测治具,检测治具包括有治具本体,治具本上设置有若干焊接点感应插针。
再进一步来看,本发明在实施期间可以借由数据转换软件的设定实现适当的防呆功能。实际实施时能够发现、感知以下常见的错误现象:
可以感知“下部起始点”设定错误。可通过数据转换软件提示“Adr文件缺少行数与板边点数量不一致”。
可以感知“Block数”设定错误。可通过数据转换软件提示“Block数错误”。
可以感知“下部起始点补偿”设定错误。可通过数据转换软件提示“Adr 文件缺少行数与板边点数量不一致”。
可以感知“板边点数量”设定错误。可通过数据转换软件提示“Adr文件缺少行数与板边点数量不一致”。
这样,可以防止设定错误导致转出的坐标位置不是真实的缺陷点坐标,最终影响飞针连线测试结果或判定错误。
需要注意的是,本发明所提及的数据转换软件,可采用不同的编程语言或是载体在构成,不作为本发明所要保护的内容。说明书中进行表述,只是为了让本领域技术人员更好的实施本发明,在此不再赘述。
本发明的工作原理如下:
通过可以进行分步测试的高精自动测试机对于LED线路板进行测试,如有开路缺陷测试机自动生成测试结果数据文件可简称为缺陷Log数据,并打印出缺点条形码打印纸。
通过数据转换软件将缺陷Log数据转换为飞针机可以读取的连线数据。实施期间,因为测试是使用分步测试法,一套治具进行多步移动测试,数据转换软件根据条件设定会自动计算每一步测试所对应的点位和坐标。之后,使用飞针机上配备的条码扫描枪扫描治具测试机打印的缺陷点打印。在此期间,飞针机会自动读取转换后所得到的连线专用数据,连线时会根据转换后所得到的飞针连线数据内坐标点位,准确无误的测到板子上相对应的开路缺陷点位。并且,数据转换软件转换缺陷数据可批量进行,并有防呆功能,可以杜绝漏转、少转等现象发生,使每一片需要连线检修的板子得到安全的准确无误的保障。
通过上述的文字表述可以看出,采用本发明后,拥有如下优点:
1、只需要制作一套治具即可测试几十万点的LED板,测试后所得到的开路缺陷数据。
2、可以通过软件来实现测试结果数据文件的转化,让缺陷数据成为飞针机可读取的检修数据。
3、能够利用连线飞针机针对每片板一次性完成连线检修,大幅度提高测试检修效率,杜绝因多次测试带来的漏测风险。
4、可以实现自动化的检测,免去繁杂的人工操作。
5、连线测试数据转可以采用电子数据格式或是纸质条码格式,适应不同的传输录入需要,提高泛用性。
术语“主”、“副”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“主”、“副”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中,“若干”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
同样,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“连接”、“设置”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个组件内部的连通或两个组件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。并且它可以直接在另一个组件上或者间接在该另一个组件上。当一个组件被称为是“连接于”另一个组件,它可以是直接连接到另一个组件或间接连接至该另一个组件上。
需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或组件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,并不用于限制本发明,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变型,这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。
Claims (8)
1.适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其特征在于包括以下步骤:
步骤一,通过高精自动测试机,对LED线路板进行检测,生成测试结果数据文件;
步骤二,对测试结果数据文件进行转换,生成适用于连线飞针机的连线测试数据;
步骤三,通过连线飞针机及转换后得到的连线测试数据,对存在不良缺陷的LED线路板进行检测;
步骤四,生成最终检测结果。
2.根据权利要求1所述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其特征在于:所述测试结果数据文件为包含缺陷Log的数据包,采用高精度检测机惯用的dat格式进行封装保存。
3.根据权利要求1所述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其特征在于:所述数据包的内容包括,料号名、批号板序号、日期时间、测试台面编号、测试块编号、不良代码、测试pcs跳过数量、测试结果排版。
4.根据权利要求1所述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其特征在于:所述步骤二中,对测试结果数据文件进行转换的过程为,
(1)、接收测试结果数据文件;
(2)、通过工程设计部门提供产品的点位坐标文件;
(3)、设定测试结果数据文件的导入位置及点位坐标文件的目录位置,设置输出连线飞针机Log数据的保存位置;
(4)、根据需要转换料号的实际密度设定下部起始点,根据需要转换料号分步测试的移动量,输入对应的移动补偿值,根据实际测试步数设定分步数值;
(5)数据转换,生成适用于连线飞针机的连线测试数据。
5.根据权利要求1所述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其特征在于:所述连线测试数据转化为二维码进行打印输出;或是,所述连线测试数据转化为条形码进行打印输出。
6.根据权利要求1所述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其特征在于:所述连线飞针机扫描连线测试数据,解析后获取飞针连线数据内坐标点位,对LED线路板上的开路缺陷点位进行定位。
7.根据权利要求1所述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其特征在于:所述高精自动测试机为ICT检测设备,或是为TPC检测设备,或是为AOI检测设备,或是为自动影响检测仪。
8.根据权利要求1所述的适用于LED线路板不良缺陷检修方法,其特征在于:所述高精自动测试机配置有独立的检测治具,所述检测治具包括有治具本体,所述治具本上设置有若干焊接点感应插针。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Family
ID=81811257
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