JP2001325753A - スタンパ製造方法及び光記録媒体製造方法 - Google Patents

スタンパ製造方法及び光記録媒体製造方法

Info

Publication number
JP2001325753A
JP2001325753A JP2000141556A JP2000141556A JP2001325753A JP 2001325753 A JP2001325753 A JP 2001325753A JP 2000141556 A JP2000141556 A JP 2000141556A JP 2000141556 A JP2000141556 A JP 2000141556A JP 2001325753 A JP2001325753 A JP 2001325753A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
photoresist layer
stamper
manufacturing
recording medium
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000141556A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiko Nakano
和彦 中野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Columbia Co Ltd
Original Assignee
Nippon Columbia Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Columbia Co Ltd filed Critical Nippon Columbia Co Ltd
Priority to JP2000141556A priority Critical patent/JP2001325753A/ja
Publication of JP2001325753A publication Critical patent/JP2001325753A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】良好な形状のピットを備えたスタンパ及び光記
録媒体を得ることができるスタンパ製造方法及び光記録
媒体製造方法を提供する。 【解決手段】露光工程において、フォトレジスト層が形
成された基板は、フォトレジスト層側に配置された透明
基板とターンテーブルにより狭持し、レーザ光を前記透
明基板を介してフォトレジスト層を露光するようにし
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、オーディオ情報又
はビデオ情報等を記録した光記録媒体の製造方法及びス
タンパ製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は、従来のスタンパの製造工程を説
明する図である。図中、401はガラス原盤、402は
密着層、403はフォトレジスト層、404は露光部、
405はレジストパターン、406は導電膜、407は
電鋳層、408はスタンパである。
【0003】図3(a)に示す工程では、ガラス原盤4
01と後述するフォトレジスト層403との密着力を高
めるために、ガラス原盤401上にヘキサメチルジシラ
ザン(以下、HMDSという。)又はシラン系カップリ
ング剤を塗布して単分子膜の密着層402を形成し、続
いて密着層402上にフォトレジスト層403を形成す
る。
【0004】図3(b)に示す工程では、フォトレジス
ト層403が形成されたガラス原盤401を図示しない
カッティングマシンのターンテーブルに取付け取り付
け、記録情報に従って変調されたレーザ光を照射しフォ
トレジスト層403を露光し、露光部404を形成す
る。図3(c)に示す工程では、現像液によりフォトレ
ジスト層403を現像する。露光部404のフォトレジ
スト層403が除去され、ガラス原盤401上にレジス
トパターン405が形成される。
【0005】図3(d)に示す工程では、ガラス原盤4
01をスパッタリング装置に設置し、スパッタリングに
より、レジストパターン405の表面にニッケル、クロ
ム等の導電膜406を形成する。図3(e)に示す工程
では、導電膜406が形成されたガラス原盤401を電
鋳槽の陰極に設置し、ニッケル電鋳を行い、ガラス原盤
401の導電膜406上に電鋳層407を形成する。
【0006】図3(f)に示す工程では、ガラス原盤4
01からレジストパターン405が転写された電鋳層4
07を剥離する。図3(g)に示す工程では、電鋳層4
07に付着したレジストパターン405を酸素アッシン
グ等により除去し、電鋳層407を所望の形状に加工
し、電鋳層407の裏面を鏡面研磨することによりスタ
ンパ408を得る。スタンパ408を射出成形機の金型
に取付け取り付け、樹脂基板を成形することによりレプ
リカ基板が得られる。
【0007】ところで、光記録媒体製造工程に対する要
求の一つに、光記録媒体製造工程の時間短縮がある。現
在、光記録媒体製造工程の時間短縮の妨げとなっている
のは、図3の(e)に示すスタンパ製造工程における電
鋳工程である。一般的に、コンパクトディスクの製造プ
ロセスにおける電鋳工程では、スタンパとして必要な厚
さである約0.3mmの厚さの電鋳層を得るために約2
時間の時間が費やされている。
【0008】上述した問題点を解決するために、特開昭
63−50937号公報及び特開平4−205936号
公報に電鋳工程を含まない光記録媒体製造工程が開示さ
れている。図4は、従来の電鋳工程を含まない光ディス
ク製造工程におけるスタンパの製造工程を説明する図で
ある。図中、501は基板、502はネガ型フォトレジ
スト層、503は露光部、504はマスクパターン、5
05はピット、506はスタンパである。
【0009】図4(a)に示す工程では、ニッケル等の
金属からなる厚さ約0.3mmの基板501上にネガ型
フォトレジスト層502を形成する。図3の製造工程で
用いたHMDSやシランカップリング剤は、ガラス原盤
とフォトレジスト層との密着力を高めるためのものであ
り、金属基板とフォトレジスト層との密着力を高める作
用はないため用いない。ネガ型フォトレジストを用いる
のは、後述するエッチング工程後の基板501の凹凸パ
ターンを、図3に示した凹凸パターンと同じにするため
である。
【0010】図4(b)に示す工程では、ネガ型フォト
レジスト層502が形成された基板501を図示しない
カッティングマシンのターンテーブルに取付け取り付
け、記録情報に従って変調されたレーザ光を照射しネガ
型フォトレジスト層502を露光し、露光部503を形
成する。
【0011】図4(c)に示す工程では、露光されたネ
ガ型フォトレジスト層502を現像する。露光部503
以外の部分のネガ型フォトレジスト層が除去され、基板
501上にマスクパターン504が形成される。
【0012】図4(d)及び図4(e)に示す工程で
は、基板501上に形成されたマスクパターン504を
用いてエッチングを行う。図4(f)に示すように、基
板501に所定の高さのピット505が得られたら、エ
ッチングを終了する。図3(e)に示した電鋳工程が約
2時間かかるのに対し、本工程におけるエッチング時間
は10分間から30分間で終了する。
【0013】図4(g)に示す工程では、基板501に
付着したマスクパターン504を酸素アッシング等によ
り除去し、基板501を所望の形状に加工することによ
りスタンパ506を得る。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】図4(b)に示す露光
工程では、厚さが約0.3mmの基板501をカッティ
ングマシンのターンテーブルに固定し、ターンテーブル
を回転させて、ネガ型フォトレジスト層502にレーザ
光を露光する。ターンテーブルへの基板501の固定方
法としては真空吸着が一般的である。
【0015】しかしながら、厚さが約0.3mmと薄い
基板501を真空吸着によりターンテーブルに固定する
と、基板501の吸着部分に撓みが発生し、撓んでいる
部分でレーザ光のフォーカスが外れ、この部分に形成さ
れているネガ型フォトレジスト層502に記録されるパ
ターンの形状が大きくなってしまう。
【0016】また、前記特開平4−205936号公報
に開示されている製造方法では、基板を、表面の平坦度
が10μm以下に精度よく加工された支持板に接着層に
より貼り付け、カッティングマシンのターンテーブルに
当該支持板を固定することにより、露光工程における基
板の平坦度を得ている。しかしながら、接着層により基
板を支持板に貼り付けた場合、露光後に基板を支持板か
ら剥離する際に、基板が変形してしまう虞がある。ま
た、剥離を容易にするために、更に剥離層を形成する方
法も考えられるが、工程が複雑となり好ましくない。
【0017】本発明は、エッチングにより基板に直接ピ
ットを形成するスタンパ製造方法及び当該スタンパを用
いて光記録媒体を製造する光記録媒体製造方法におい
て、良好な形状のピットを備えたスタンパ及び光記録媒
体を得ることができるスタンパ製造方法及び光記録媒体
製造方法を提供することを目的とする。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本願の請求項1記載の発明は、スタンパ製造方法にお
いて、基板の一方の面にフォトレジスト層を形成するレ
ジスト形成工程と、前記フォトレジスト層が形成された
前記基板を前記フォトレジスト層側に配置された透明基
板とターンテーブルとにより狭持し、記録情報に応じて
変調されたレーザ光を前記透明基板を介して前記フォト
レジスト層に照射する露光工程と、露光された前記フォ
トレジスト層を現像する現像工程と、現像された前記フ
ォトレジスト層をマスクパターンとして前記基板をエッ
チングするエッチング工程と、エッチングされた前記基
板から前記フォトレジスト層を除去し前記基板を洗浄す
る洗浄工程とを備えたことを特徴とする。
【0019】本願の請求項2記載の発明は、記録情報が
凹凸のピット列として記録されたスタンパを作製するス
タンパ作製工程と、前記スタンパを用い前記ピット列を
転写したレプリカ基板を作製するレプリカ基板作製工程
と、前記レプリカ基板の前記ピット列が転写された面上
に反射膜を形成する反射膜形成工程とを備えた光記録媒
体製造方法において、前記スタンパ作製工程は、基板の
一方の面にフォトレジスト層を形成するレジスト形成工
程と、前記フォトレジスト層が形成された前記基板を前
記フォトレジスト層側に配置された透明基板とターンテ
ーブルにより狭持し、記録情報に応じて変調されたレー
ザ光を前記透明基板を介して前記フォトレジスト層に照
射する露光工程と、露光された前記フォトレジスト層を
現像する現像工程と、現像された前記フォトレジスト層
をマスクパターンとして前記基板をエッチングするエッ
チング工程と、エッチングされた前記基板から前記フォ
トレジスト層を除去し前記基板を洗浄する洗浄工程とを
備えたことを特徴とする。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について具体的に説明する。図1は、本発明の
スタンパ製造方法及び光記録媒体製造方法を用いた製造
工程の一実施例を説明する図である。図2は、本実施例
のカッティング工程及びスタンパ製造工程を説明する図
である。図中、201はニッケル基板、202はネガ型
フォトレジスト層、203は露光部、204はマスクパ
ターン、205はピット、206はスタンパ、207は
ターンテーブル、208はガラス基板、209は固定治
具、210はレーザ光である。
【0021】まず、図1(a)は、プリマスタリング工
程である。この工程では、スタジオ等で録音された楽曲
データに、リードイン情報、リードアウト情報、インデ
ックス情報及びアドレス情報等が付加されて、光ディス
クやマスターテープ等に記録される。
【0022】図1(b)のカッティング工程及び図1
(c)のスタンパ製造工程については、図2を用いて具
体的に説明する。図2(a)に示す工程では、両面が2
0μm程度の平坦度に研磨され厚さが約0.3mmのニ
ッケル基板201上にネガ型フォトレジスト層202を
スピンコート法により形成する。平坦度を20μm程度
とするのは、後述するカッティングマシンのフォーカス
サーボの可動範囲が50〜100μm程度であるためで
ある。
【0023】ニッケル基板201は、後述する射出成形
工程においてスタンパとして用いるため、成形装置の金
型とのマッチング及び成形特性を考慮して約0.3mm
の厚さとした。ニッケル基板201が約0.3mmより
厚くなると金型とのマッチングが悪くなり、成形する樹
脂への熱の伝わり方が不均一になるため、ピットを均一
な形状で成形できない。また、射出成形中は、ニッケル
基板201の温度が70〜200℃の範囲で変化するた
め、基板厚が厚いと歪みによるクラックが発生しやすく
なる。一方、ニッケル基板201の厚さが約0.3mm
より薄いと機械的な強度を保つことができなくなる。
【0024】基板材料としては、ニッケルの他に、銅、
アルミニウム、シリコン等の金属または合金を用いるこ
とができる。基板材料として、従来の光記録媒体のスタ
ンパとして用いられているニッケルを用いれば、従来の
光記録媒体の製造工程における射出成形条件と同じ条件
で射出成形を行うことができる。
【0025】ネガ型フォトレジスト層202の膜厚は、
後述するエッチング処理の条件(ネガ型フォトレジスト
層202及びニッケル基板201のエッチングレート
と、エッチング処理により形成するピットの深さ)によ
り決定する。
【0026】ネガ型フォトレジスト層202が形成され
たニッケル基板201は、クリーンオーブン内におい
て、90℃の温度で30分間プリベイクされ、ネガ型フ
ォトレジスト層202内に残存している溶媒が除去され
る。
【0027】図2(b)に示す工程では、ネガ型フォト
レジスト層202が形成されたニッケル基板201をカ
ッティングマシンのターンテーブル207に取付ける。
このとき真空吸着によりニッケル基板201を固定しよ
うとした場合、ニッケル基板201の厚さが0.3mm
と薄いため、ニッケル基板201の吸着されている部分
に撓みが発生し、20μmの平坦度を保てない。
【0028】そこで、本実施例の製造方法では、図2
(b)に示すように、ニッケル基板201を、ガラス基
板208とターンテーブル207によって狭持するよう
にした。ガラス基板208とターンテーブル207は、
固定治具209によって少なくとも3点で固定される。
ガラス基板208及びターンテーブル207は、10μ
m20μm以下の平坦度に仕上げられていることが望ま
しい。(10μm以下の平坦度とする理由を補足願いま
す。)また、ガラス基板208の厚さは、0.10.5
〜0.3mm1.0mm程度が望ましい。これは、カッ
ティングマシンのワーキングディスタンスが0.2〜
1.5mm程度であるからである。(0.1〜0.3m
mの厚さとする理由を補足願います。)また、ガラス基
板208はに代わり、十分な硬度、強度及び平坦度が有
ればを備えた樹脂基板であってもを用いても良い。
【0029】図2(c)に示す工程では、記録情報に従
って変調されたレーザ光210を、ガラス基板207を
介してネガ型フォトレジスト層202に照射し、露光部
203を形成する。以上、図2(a)乃至(c)迄の工
程が、図1(b)のカッティング工程にあたる。
【0030】次に、露光が終わったニッケル基板201
は、クリーンオーブン内において、110℃で20分間
リバーサルベイクされ、ネガ型フォトレジスト層202
の露光部203をアルカリ不溶性にする。
【0031】図2(d)に示す工程では、ニッケル基板
201を現像装置に取り付け、有機アルカリ現像液を用
いてスピン現像を行い、ネガ型フォトレジスト層202
を現像する。その後、有機アルカリ現像液の塗布を停止
し、スピン乾燥を行う。ネガ型フォトレジスト層202
が現像され、ニッケル基板201上にマスクパターン2
04が形成される。
【0032】図2(e)及び(f)に示す工程では、ニ
ッケル基板201上に形成されたマスクパターン204
を用いてエッチング(反応性イオンエッチング又はイオ
ンミリング)を行う。ニッケル基板201に所定の高さ
のピット205が得られたら、エッチングを終了する。
【0033】図2(g)に示す工程では、ニッケル基板
201に付着したレジストパターン204をアセトン洗
浄及び酸素アッシング等により除去し、ニッケル基板2
01を所望の形状に加工することによりスタンパ206
を得る。以上、図2(c)〜(g)迄の工程が、図1
(c)のスタンパ製造工程にあたる。
【0034】以上のように、10μm20μm以下の平
坦度を有するガラス基板208及びターンテーブル20
7によりニッケル基板201を狭持するため、カッティ
ング工程においてニッケル基板201が部分的に撓んだ
りすることがなく、ネガ型フォトレジスト層202を露
光するレーザ光210を安定してフォーカス制御するこ
とができるため、良好な形状のマスクパターンを形成す
ることができる。
【0035】次に、図1(d)に示す射出成形工程で
は、スタンパ206を射出成形機の金型に取り付け、ポ
リカーボネート等の樹脂を成形し、レプリカ基板を得
る。図1(e)に示す反射膜、保護膜形成工程では、レ
プリカ基板をスパッタリング装置に取り付け、スパッタ
リング法により、レプリカ基板のピットが転写されてい
る面にアルミニウム、金等の反射膜を50〜100nm
の厚さに形成する。反射膜が形成されたレプリカ基板を
スピンコート装置に取り付け、スピンコート法により紫
外線硬化樹脂等の保護膜を反射膜上に形成する。
【0036】以上のように、本実施例のスタンパ製造方
法及び光記録媒体製造方法では、カッティング工程にお
いて、ニッケル基板201をターンテーブル207に固
定する際、10μm20μm以下の平坦度を有するガラ
ス基板208及びターンテーブル207によりニッケル
基板201を狭持して固定するため、ニッケル基板20
1が部分的に撓んだりすることがなく、ネガ型フォトレ
ジスト層202を露光するレーザ光210を安定してフ
ォーカス制御することができるため、良好な形状のマス
クパターンを形成することができる。また、ターンテー
ブル207へのニッケル基板201の固定手段として接
着層等を用いないため、剥離時にニッケル基板201が
変形する等の事故が発生しない。
【0037】
【発明の効果】本発明によれば、エッチングにより基板
に直接ピットを形成するスタンパ製造方法及び当該スタ
ンパを用いて光記録媒体を製造する光記録媒体製造方法
において、良好な形状のピットを備えたスタンパ及び光
記録媒体を得ることができるスタンパ製造方法及び光記
録媒体製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のスタンパ製造方法及び光記録媒体製造
方法を用いた製造工程の一実施例を説明する図。
【図2】本実施例のカッティング工程及びスタンパ製造
工程を説明する図。
【図3】従来のスタンパの製造工程を説明する図。
【図4】従来の電鋳工程を含まない光ディスク製造工程
におけるスタンパの製造工程を説明する図。
【符号の説明】
201 ニッケル基板 202 ネガ型フォトレジスト層 203 露光部 204 マスクパターン 205 ピット 206 スタンパ 207 ターンテーブル 208 ガラス基板 209 固定治具 210 レーザ光 401 ガラス原盤 402 密着層 403 フォトレジスト層 404 露光部 405 レジストパターン 406 導電膜 407 電鋳層 408 スタンパ 501 基板 502 ネガ型フォトレジスト層 503 露光部 504 マスクパターン 505 ピット 506 スタンパ
フロントページの続き Fターム(参考) 2H096 AA30 BA01 EA04 FA01 GA08 HA23 JA04 LA01 2H097 AA03 AB07 BA10 CA17 EA01 LA20 5D121 AA02 BA01 BA05 BB04 BB08 BB33 BB34 CA03 CB03 CB08 GG04 GG10

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板の一方の面にフォトレジスト層を形成
    するレジスト形成工程と、 前記フォトレジスト層が形成された前記基板を前記フォ
    トレジスト層側に配置された透明基板とターンテーブル
    とにより狭持し、記録情報に応じて変調されたレーザ光
    を前記透明基板を介して前記フォトレジスト層に照射す
    る露光工程と、 露光された前記フォトレジスト層を現像する現像工程
    と、 現像された前記フォトレジスト層をマスクパターンとし
    て前記基板をエッチングするエッチング工程と、 エッチングされた前記基板から前記フォトレジスト層を
    除去し前記基板を洗浄する洗浄工程とを備えたことを特
    徴とするスタンパ製造方法。
  2. 【請求項2】記録情報が凹凸のピット列として記録され
    たスタンパを作製するスタンパ作製工程と、 前記スタンパを用い前記ピット列を転写したレプリカ基
    板を作製するレプリカ基板作製工程と、 前記レプリカ基板の前記ピット列が転写された面上に反
    射膜を形成する反射膜形成工程とを備えた光記録媒体製
    造方法において、 前記スタンパ作製工程は、 基板の一方の面にフォトレジスト層を形成するレジスト
    形成工程と、 前記フォトレジスト層が形成された前記基板を前記フォ
    トレジスト層側に配置された透明基板とターンテーブル
    とにより狭持し、記録情報に応じて変調されたレーザ光
    を前記透明基板を介して前記フォトレジスト層に照射す
    る露光工程と、 露光された前記フォトレジスト層を現像する現像工程
    と、 現像された前記フォトレジスト層をマスクパターンとし
    て前記基板をエッチングするエッチング工程と、 エッチングされた前記基板から前記フォトレジスト層を
    除去し前記基板を洗浄する洗浄工程とを備えたことを特
    徴とする光記録媒体製造方法。
JP2000141556A 2000-05-15 2000-05-15 スタンパ製造方法及び光記録媒体製造方法 Pending JP2001325753A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000141556A JP2001325753A (ja) 2000-05-15 2000-05-15 スタンパ製造方法及び光記録媒体製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000141556A JP2001325753A (ja) 2000-05-15 2000-05-15 スタンパ製造方法及び光記録媒体製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001325753A true JP2001325753A (ja) 2001-11-22

Family

ID=18648653

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000141556A Pending JP2001325753A (ja) 2000-05-15 2000-05-15 スタンパ製造方法及び光記録媒体製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001325753A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100248442B1 (ko) 광디스크의 제조방법
JP3104699B1 (ja) 細溝付き成形基板の製造方法
WO1986006198A1 (en) Process for fabricating optical recording disk
JPS6126952A (ja) 情報記録担体の製造法
JPS6295749A (ja) 光メモリ用スタンパの製造方法
JP2001338445A (ja) スタンパ製造方法、光記録媒体製造方法及び支持板
JP2001325753A (ja) スタンパ製造方法及び光記録媒体製造方法
JP2004136692A (ja) 金属製第3成形型を大量に製造する方法、樹脂基板を製造する方法及び樹脂基板
JPH11102541A (ja) 光ディスク用原盤の製造方法
JP3237291B2 (ja) 光記録媒体用スタンパの製造方法、凹凸パターンの形成方法および原盤露光装置
JP2001220692A (ja) スタンパ製造方法及び光記録媒体製造方法
JP2003272252A (ja) スタンパの製造方法
JP2001307386A (ja) スタンパ製造方法及び光記録媒体製造方法
JP3221627B2 (ja) 光ディスク用スタンパの製造方法
JPH10312584A (ja) ディスク用金属原盤の製造方法
JPH04259937A (ja) 情報記録媒体製作用スタンパの製作方法
JP2003272254A (ja) スタンパの製造方法
JP2000251335A (ja) 光情報記録媒体製造方法
JP2003272253A (ja) スタンパの製造方法
JP2002092981A (ja) スタンパ製造方法及び光記録媒体製造方法
JP2002298451A (ja) スタンパ製造方法及び光記録媒体製造方法
US20060147843A1 (en) Fabrication process for ultra high density optical disc
JP2000215529A (ja) マスタスタンパ及びその製造方法
JP2003067985A (ja) 光ディスク用成形金型及びそれによる光ディスク
JPH01235044A (ja) 光ディスク基板およびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20060201

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20060202

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20060203

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20060207