JP2001310357A - リリースフィルム使用樹脂成形用モールド金型装置並びにその樹脂注入方法及び樹脂硬化方法 - Google Patents

リリースフィルム使用樹脂成形用モールド金型装置並びにその樹脂注入方法及び樹脂硬化方法

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JP2001310357A
JP2001310357A JP2000126728A JP2000126728A JP2001310357A JP 2001310357 A JP2001310357 A JP 2001310357A JP 2000126728 A JP2000126728 A JP 2000126728A JP 2000126728 A JP2000126728 A JP 2000126728A JP 2001310357 A JP2001310357 A JP 2001310357A
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resin
mold
release film
molding
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JP2000126728A
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Fumio Miyajima
文夫 宮島
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Apic Yamada Corp
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Publication date
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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】リリースフィルムに樹脂注入用貫通孔を確実に
開ける。 【解決手段】 一方の金型3の樹脂成形部4に成形用キ
ャビティ7を設け、他方の金型3の樹脂成形部5に樹脂
を圧送する樹脂通路22を設けた上下金型2、3を備
え、その樹脂通路22を設けた金型3の樹脂成形部5に
金型3より成形品を離型するためのリリースフィルム2
4を被覆する。そして、上記金型3の樹脂通路22付近
に、その樹脂成形部5を被うリリースフィルム24に樹
脂通路22から成形用キャビティ7へ樹脂を注入する樹
脂注入用貫通孔29を開ける貫通用針23を突出、後退
動作自在に設置する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は金型より半導体パッ
ケージ等の成形品を分離するためのリリースフィルムを
使用するリリースフィルム使用樹脂成形用モールド金型
装置並びにその樹脂注入方法及び樹脂硬化方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、基板の片面中央部にフリップチッ
プ型半導体チップを搭載し、その半導体チップと基板間
の空隙を樹脂封止して、基板の片面のみに樹脂封止部を
形成した半導体パッケージが使用されている。このよう
な半導体パッケージの製作時、樹脂成形用モールド金型
装置を用い、半導体チップ搭載基板を被成形品として樹
脂封止部の成形を行なう。その際、モールド金型を構成
する上下金型の成形用キャビティ内面とその内面に連続
する樹脂成形面とをリリースフィルムにて被覆すると、
樹脂をキャビティ内面等に接触させることなく樹脂封止
部を成形できる。しかも、成形品をリリースフィルムに
て容易に離型できるため、エジェクターピン等が不要に
なって金型構造を簡素化でき、製品に最適な樹脂材料を
使用することができる等の利点がある。
【0003】このようなリリースフィルム使用による樹
脂成形法の場合、ポットから成形用キャビティに延設さ
れる樹脂通路を基板のチップ搭載面の一部を通過させ、
成形用キャビティに到達させているが、基板のチップ搭
載面には回路パターン等が高密度に形成されているた
め、チップ搭載面に樹脂通路を配置すると、回路パター
ンを痛めたり、基板の表面に樹脂ばりが生じる等といっ
た問題がある。
【0004】そこで、本出願人は特開平11―7773
3号としてモールド金型を構成する一方の金型の樹脂成
形部に設けた成形用キャビティ内面等をリリースフィル
ムで被覆し、更に他方の金型の樹脂成形部に設けた樹脂
成形面等を他のリリースフィルムで被覆して、その成形
用キャビティ内に基板上に形成される樹脂封止部の被着
範囲内に基板を厚さ方向に貫く樹脂注入孔を設けた半導
体チップ搭載基板を収容し、ポットから成形用キャビテ
ィに延設される樹脂通路を基板のチップ非搭載面の一部
を通過させて樹脂注入孔に到達させ、その樹脂注入孔を
経てキャビティに樹脂を充填するモールド金型装置を提
示した。
【0005】又、本出願人は上記モールド金型装置の改
良として、先に特願平11―327734号において、
一方の金型の樹脂成形部に、両面中央付近を厚み方向に
貫く樹脂注入孔を設け、その片面中央部に半導体チップ
を搭載した基板を被成形品として収容する成形用キャビ
ティを設け、他方の金型の樹脂成形部に、基板の樹脂注
入孔に樹脂を圧送する樹脂通路を設けた上下金型を備
え、一方の金型の樹脂成形部に設けた成形用キャビティ
の内面とその内面に連続する近傍の樹脂成形面をリリー
スフィルムで被覆し、他方の金型の樹脂成形部の樹脂成
形面を他のリリースフィルムで被覆して、成形時にリリ
ースフィルムで被覆した成形用キャビティ内に半導体チ
ップを奥側、基板を入口側に配置して被成形品を収容
し、その基板のチップ非搭載面を被う他のリリースフィ
ルムを基板と樹脂通路間に介在して、その樹脂通路のゲ
ートを樹脂注入孔のゲート近傍に設けたモールド金型装
置を提示した。
【0006】それ故、後者のモールド金型装置による
と、溶融樹脂を樹脂通路のゲートに向って圧送すること
により、リリースフィルムのゲートに臨む局所を樹脂圧
力によって突き破って樹脂注入用貫通孔を開け、樹脂通
路から溶融樹脂をその貫通孔を通じて成形用キャビティ
内に充填できる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな樹脂圧力による孔開けはフィルム強度の設定を誤る
と破れない恐れがあり、確実性に問題がある。この点に
関し、特開2000−36507号には下金型に成形用
キャビティとそのキャビティに樹脂を圧送する樹脂通路
を設け、更にその樹脂通路のゲートに所要数の突起を設
けることにより、真空引きによる吸引力によってリリー
スフィルムをキャビティ内に引き込む際に、その引き込
み移動によりリリースフィルムが突起によって突き破ら
れ貫通孔が形成され、その貫通孔を通じて樹脂通路から
キャビティへ樹脂注入を行えるようにしたものが記載さ
れている。
【0008】しかし、それ等の突起はいずれも下金型に
固定されて設けられているため、リリースフィルムの孔
開けについていま一つ確実性の点で問題がある。なお、
上記の樹脂通路は基板のチップ搭載面の一部を通過させ
ているので、回路パターンを傷めたり、基板の表面に樹
脂ばりが生じる。又、樹脂をチップ側面から成形用キャ
ビティ内に注入するため、リリースフィルムを使用して
も基板上にゲート痕がそのまま突出して残り、外観が悪
くなりばり取りを必要とする。
【0009】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであり、リリースフィルムに樹脂注入用
貫通孔を確実に開けることのできるリリースフィルム使
用樹脂成形用モールド金型装置並びにその樹脂注入方法
及び樹脂硬化方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によるリリースフィルム使用樹脂成形用モー
ルド金型装置には、一方の金型の樹脂成形部に成形用キ
ャビティを設け、他方の金型の樹脂成形部に樹脂を圧送
する樹脂通路を設けた上下金型を備え、その樹脂通路を
設けた金型の樹脂成形部に金型より成形品を離型するた
めのリリースフィルムを被覆する。そして、上記金型の
樹脂通路付近に、その樹脂成形部を被うリリースフィル
ムに樹脂通路から成形用キャビティへ樹脂を注入する樹
脂注入用貫通孔を開ける貫通用針を突出、後退動作自在
に設置する。
【0011】又、本発明によるリリースフィルム使用樹
脂成形用モールド金型装置には、一方の金型の樹脂成形
部に、両面中央付近を厚み方向に貫く樹脂注入孔を設
け、その片面中央部に半導体チップを搭載した基板を被
成形品として収容する成形用キャビティを設け、他方の
金型の樹脂成形部に、基板の樹脂注入孔に樹脂を圧送す
る樹脂通路を設けた上下金型を備え、その樹脂通路を設
けた金型の樹脂成形部に金型より成形品を離型するため
のリリースフィルムを被覆する。そして、上記金型の基
板に設けた樹脂注入孔のゲート付近にある樹脂通路付近
に、その樹脂成形部を被うリリースフィルムに樹脂通路
から成形用キャビティへ樹脂を注入する樹脂注入用貫通
孔を開ける貫通用針を突出、後退動作自在に設置する。
【0012】又、上記成形用キャビティを設けた金型の
樹脂成形部にリリースフィルムを被覆すると好ましくな
る。
【0013】又、本発明によるリリースフィルム使用樹
脂成形用モールド金型装置には、一方の金型の樹脂成形
部に成形用キャビティと、その成形用キャビティへ樹脂
を圧送する樹脂通路を設けた上下金型を備え、その樹脂
通路を設けた金型の樹脂成形部に金型より成形品を離型
するためのリリースフィルムを被覆する。そして、上記
金型の樹脂通路付近に、その樹脂成形部を被うリリース
フィルムに樹脂通路から成形用キャビティへ樹脂を注入
する樹脂注入用貫通孔を開ける貫通用針を突出、後退動
作自在に設置する。
【0014】又、本発明による上記リリースフィルム使
用樹脂成形用モールド金型装置の樹脂注入方法では、樹
脂通路を設けた金型の樹脂成形部を被うリリースフィル
ムを貫通用針を突出させて突き破り、その貫通用針を後
退させて、そのリリースフィルムに開いた樹脂注入用貫
通孔を通じ、樹脂通路から成形用キャビティへ樹脂を注
入するという工程を踏む。
【0015】又、本発明による上記リリースフィルム使
用樹脂成形用モールド金型装置の樹脂硬化方法では、貫
通用針の先端部を樹脂流入動作終了時にリリースフィル
ム貫通の所定位置で停止させ、溶融樹脂を硬化又は半硬
化させるという工程を踏む。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、添付の図1〜12に基づい
て、本発明の実施の形態を説明する。図1は本発明を適
用したリリースフィルム使用樹脂成形用モールド金型装
置のモールド金型によるフリップチップ型半導体チップ
搭載基板の樹脂封止部成形開始直前の貫通用針によるリ
リースフィルム突き破り状態を示す右部分の要部断面図
である。この樹脂成形用モールド金型装置はプレス装置
に樹脂成形用モールド金型1を装着して構成する。そし
て、樹脂成形用モールド金型1を上下金型2、3から構
成し、その上下金型2、3に左右の両側で同時に同一の
樹脂成形を行わせるため、左右対称構造にした上下樹脂
成形部4、5を備える。
【0017】そこで、以下上下樹脂成形部4、5の右部
分の要部について主に説明する。この上樹脂成形部4に
はその右部分中央部に一定範囲で上下動するフロートキ
ャビティインサート6を備えた成形用キャビティ7を設
け、そのキャビティ7を下側に配置し、そのキャビティ
7と連通する上側空間8内にフロートキャビティインサ
ート6を収容する。そして、フロートキャビティインサ
ート6を圧縮コイルスプリング9により下方向に付勢す
る。その際、成形用キャビティ7に収容する被成形品と
して、両面中央を厚み方向に貫く樹脂注入孔10を設
け、その片面中央部にフリップチップ型半導体チップ1
1を搭載した基板12を用いる。
【0018】この半導体チップ11には接続用リードと
してその片面にハンダボール13或いはハンダバンプを
設置しておき、搭載時にそのハンダボール13等を基板
12のチップ搭載面に接続する。又、基板12にはその
チップ非搭載面にハンダボール14を設置し、更に樹脂
注入孔10のゲート周辺に注入時の樹脂ばり発生を防止
するため、リング状突部5又はリング状凹部を設けてお
き、そこに金等の金属メッキを施しておく。なお、基板
12のチップ非搭載面にはプリント印刷を施した基板1
2と均等の高さの電極が存在してもよい。
【0019】そこで、成形用キャビティ7の入口側を基
板12の収容に備えて広く、その奥側を半導体チップ1
1の収容に備えて狭くする。又、フロートキャビティイ
ンサート6の収容空間8の下部をチップ収容空間に合せ
て狭く、その上部を広くして、上部空間内にフロートキ
ャビティインサート6の下動ストッパーとなる鍔部16
を収容し、更に圧縮コイルスプリング9を収容する。そ
の際、圧縮コイルスプリング9の下端部をフロートキャ
ビティインサート6の鍔部16の中央に固設し、その上
端部を上部空間の天井壁に固設する。
【0020】又、下樹脂成形部5にはその中央部にタブ
レット17とそのタブレット押し出し用プランジャー1
8を収納する筒状ポット19を設置し、その樹脂成形面
20にポット19の出口に連なる樹脂通路21、22を
左右に延ばして配設する。そして、基板12の樹脂注入
孔10の真下に中心線を同一にして貫通用針23を垂直
に備え付け、その貫通用針23を樹脂注入孔10に対
し、矢印方向に突出、後退により上下動自在に設置す
る。なお、貫通用針23を突出、後退動作自在にする
と、後退させることにより、貫通用針23が後述する下
リリースフィルムの被覆時に邪魔にならず、下リリース
フィルム突き破り後における樹脂注入の邪魔にもならな
い。
【0021】樹脂成形時には、このようなモールド金型
1の上下金型2、3に対し、先にその下樹脂成形部5の
樹脂成形面20をパーティングラインに沿って配置した
下リリースフィルム24で被覆し、上樹脂成形部4の成
形用キャビティ7の内面とその内面に連続する近傍の樹
脂成形面25とを上リリースフィルム26で被覆する。
その際、上下樹脂成形部4、5に設けた多数の吸引孔2
7の各開口を樹脂成形面20、25、キャビティ7の内
面等の必要個所に分散配設して、それ等の各開口よりエ
アを矢印方向に吸引することにより、上下リリースフィ
ルム24、26を所定箇所にそれぞれ吸着する。但し、
下リリースフィルム24は張ることにより、下樹脂成形
面20に設けた樹脂通路22の溝内を被覆せず、その溝
を単に閉じるよう基板12のハンダボール14との間に
配置する。
【0022】それ故、下リリースフィルム24を樹脂通
路22のゲートに位置合せする必要がなく、上下のリリ
ースフィルム24、26の位置合せを簡単に行なえる。
従って、装置の自動化に適し、被成形品の成形サイクル
を短くできる。なお、上下リリースフィルム24、26
にはエチレン四ふっ化エチレンコポリマー(ETF
E)、ポリ四ふっ化エチレン(PTFE)等を用いると
よい。
【0023】次に、上下樹脂成形部4、5間の所定位置
に、被成形品を配置し、その全体を上下リリースフィル
ム24、26で被ってクランプする。すると、その基板
12に搭載した半導体チップ11を上リリースフィルム
26を介して圧縮コイルスプリング9から付勢力を受け
るフロートキャビティインサート6により上から下に向
けて押圧することができる。それ故、被成形品を構成す
る半導体チップ11と基板12の厚み等のばらつきを吸
収して良好にクランプでき、それ等のチップ11や基板
12に無理な力が加わらず破損しない。そして、下リリ
ースフィルム24により基板12のチップ非搭載面を被
覆でき、その下リリースフィルム24を基板12のハン
ダボール14と樹脂通路22間に介在して、その樹脂通
路22のゲートを樹脂注入孔10のゲート近傍に配置で
きる。すると、エア吸着によって下リリースフィルム2
4を上リリースフィルム26の周辺部等と良好に当接さ
せ、基板12を下リリースフィルム24を介して下樹脂
成形部5に強く固定できる。
【0024】このようにして、被成形品を所定位置に配
置しクランプした後、プランジャー18によりタブレッ
ト17を押圧して樹脂を溶融状態にし、その溶融樹脂2
8を樹脂通路22のゲートに向けて圧送する。そして、
溶融樹脂28が基板12に設けた樹脂注入孔20の真下
付近に達した時、貫通用針23を垂直に突出させ、その
先端部が樹脂通路22のゲートを通って樹脂注入孔10
のゲートから少し内部に入るように上動する。すると、
貫通用針23の先端部で下リリースフィルム24のゲー
トに臨む局所を確実に突き破って、形成された貫通孔2
9の縁部に当たるフィルムがリング状突部15を被覆
し、その貫通孔29を通じて図2に示すように溶融樹脂
28が成形用キャビティ7内に入る。そして、キャビテ
ィ7内には樹脂通路22のゲートの近傍に基板12に設
けた樹脂注入孔10のゲートが配置されているため、溶
融樹脂28はその注入孔10を通過し、更に半導体チッ
プ11と基板12との間にある空隙30内へと押し込ま
れて行く。なお、貫通用針23は一度下リリースフィル
ム24を破ったら直ちに少し後退し、或いはその設置孔
内において元の収納位置まで戻る。
【0025】その際、被成形品たる半導体チップ11を
搭載した基板12は2枚の上、下リリースフィルム2
4、26によって被覆されて包み込まれ、下リリースフ
ィルム24の突き破りにより形成された貫通孔29の縁
部がリング状突部15を被覆しているので、そのリング
状突部15より外側にある基板12のチップ非搭載面と
下リリースフィルム24との間の空隙に溶融樹脂が充填
されることがない。それ故、基板12のチップ非搭載面
にハンダボール14等を設置してある場合には、それ等
のボール14等に樹脂が付着しない。又、樹脂封止後に
基板12のチップ非搭載面にハンダボール14等を設置
する場合にもそのチップ非搭載面を清浄に保つことがで
きる。そして、半導体チップ11と基板12との間から
溶融樹脂の流れ出しを防ぐことができ、外観を良好にす
ることができる。
【0026】しかも、基板12の中央を厚み方向に貫く
樹脂注入孔10を設け、そのゲート近傍に貫通用針23
を備えることにより、半導体チップ11と基板12との
間の空隙30内における樹脂到達距離がほぼ均等にな
り、樹脂粘度を高く設定することが可能になって、樹脂
封止部の密度を高く、ボイド(泡)の発生を少なくでき
る。樹脂注入動作終了後、貫通用針23を突出させ、そ
の先端部を下リリースフィルム24を貫通した所定の位
置例えば樹脂注入孔10のゲート部分で停止させ、樹脂
注入孔10を塞いで溶融樹脂を硬化又は半硬化させる。
【0027】すると、半導体チップ11と基板12間の
空隙30内にあるハンダボール13等を良好に樹脂封止
して樹脂封止部を成形できるばかりでなく、図3に示す
ように基板12の樹脂注入孔10に充填した封止樹脂3
1の下端部に貫通用針23の先端部に相当する凹所32
ができ、リング状突部15よりゲート痕が突出しない。
それ故、離型後に従来のような実装に際して邪魔なゲー
ト痕を取り除くばり取り工程が不用になる。そして、上
下金型2、3を開放すると、上、下リリースフィルム2
4、26にて良好に離型でき、下リリースフィルム24
にて樹脂通路22のランナー内樹脂を分離したフリップ
チップ型半導体パッケージが得られる。なお、基板12
のチップ非搭載面にハンダボール等を設置しなければな
らない場合には離型後に接続する。
【0028】図4は本発明を適用した変形例によるリリ
ースフィルム使用樹脂成形用モールド金型装置のモール
ド金型によるフリップチップ型半導体チップ搭載基板の
樹脂封止部成形開始直前における貫通用針のリリースフ
ィルム突き破り直後の後退位置を示す左部分の要部断面
図である。この樹脂成形用モールド金型装置もプレス装
置に樹脂成形用モールド金型33を装着して構成し、そ
のモールド金型33をモールド金型1の左右、上下を反
対にした構造にした。それ故、このようなモールド金型
33とモールド金型1の作用効果はほぼ同一である。な
お、図4ではモールド金型33のフリップチップ型半導
体チップ搭載基板12の樹脂注入孔10のゲート周辺に
リング状突部を設けず、基板12のチップ非搭載面にハ
ンダボールを設置しない場合を示している。
【0029】図5は本発明を適用した応用例によるリリ
ースフィルム使用樹脂成形用モールド金型装置のモール
ド金型による片面凹所内チップ搭載基板の樹脂封止部成
形開始前の状態を示す右部分の要部断面図である。この
樹脂成形用モールド金型装置もプレス装置に樹脂成形用
モールド金型34を装着して構成する。そして、樹脂成
形用モールド金型34をやはり上下金型35、36から
構成し、その上下金型35、36に左右の両側で同時に
同一の樹脂成形を行わせるため、左右対称構造にした上
下樹脂成形部37、38を備える。そこで、以下上下樹
脂成形部37、38の右部分の要部について主に説明す
る。
【0030】この上樹脂成形部37の右部分中央部付近
に成形用キャビティ39を設け、下樹脂成形部38には
その中央部にタブレット40とそのタブレット押し出し
用プランジャー41を収容する筒状ポット42を設置
し、その樹脂成形面43にポット42の出口に連なる樹
脂通路44等を左右に延ばして配設する。そして、樹脂
通路44のゲート近傍に貫通用針45を垂直に備え付
け、その貫通用針45を突出、後退により矢印方向に上
下動自在に設置する。
【0031】樹脂成形時には、モールド金型34の上下
金型35、36に対し、その下樹脂成形部38のみ樹脂
成形面43をパーティングライン等に沿って配置したリ
リースフィルム46で被覆する。その際、下樹脂成形部
38に設けた多数の吸引孔(図示なし)の各開口を樹脂
成形面43等に分散配設して、それ等の各開口よりエア
を吸引することにより、リリースフィルム46を所定箇
所にそれぞれ吸着する。但し、リリースフィルム46は
張ることにより、下樹脂成形面43に設けた樹脂通路4
4の溝内面を被覆せず、その溝を閉じるように配置す
る。それ故、リリースフィルム46を樹脂通路44のゲ
ート位置に合せる必要がなく、位置合わせを簡単に行え
る。なお、リリースフィルム46の被覆時に貫通用針4
5の先端が誤ってリリースフィルム46に触れて破るこ
とがないように後退させて設置孔内に格納しておき、先
端が樹脂通路44の内部に突出しないようにする。
【0032】次に、上下樹脂成形部37、38間の所定
位置に、被成形品としてその片面中央部に設けた凹所4
7内に半導体チップ48を搭載した基板49を配置しク
ランプする。なお、図5では半導体チップ48と基板4
9とを金線等のリード線50(50a、50b)で接続
し、その基板49のチップ搭載面に接続用リードとして
ハンダボール51或いはハンダバンプを設置したものを
示している。すると、リリースフィルム46により、基
板49のチップ搭載面を被覆でき、そのリリースフィル
ム46を基板49と樹脂通路44間に介在し、その樹脂
通路44のゲートを基板49に設けたチップ搭載用凹所
47の範囲近傍の任意の位置に配置できる。そこで、図
6に示すように樹脂通路44のゲートをチップ搭載用凹
所47の範囲中央の近傍に配置し、そこに貫通用針45
を位置決めする。
【0033】このようにして、被成形品を所定位置に配
置しクランプした後、プランジャー41によりタブレッ
ト40を押圧して樹脂を溶融状態にし、その溶融樹脂を
樹脂通路44のゲートに向けて圧送する。そして、貫通
用針45を突出させ、その先端部がチップ搭載用凹所4
7に入るように上動する。すると、貫通用針45の先端
部でリリースフィルム46の局所を確実に突き破って貫
通させることができる。そこで、図7に示すように矢印
方向へ貫通用針45を後退させると、その樹脂注入用貫
通孔52を通じて溶融樹脂53が成形用キャビティ39
内に入る。
【0034】しかも、そのキャビティ39内では樹脂通
路44のゲートの近傍にチップ搭載用凹所47の範囲中
央が配置されているため、溶融樹脂53はチップ搭載用
凹所47内へと押し込まれて行く。それ故、基板49の
チップ搭載面とリリースフィルム46との間の空隙に溶
融樹脂が入らず、半導体チップ48等を良好に樹脂封止
して樹脂封止部を成形できる。なお、上樹脂成形部37
の成形用キャビティ39の内面等には溶融樹脂が接触し
ないので、リリースフィルムの被覆を必要としない。
【0035】このように樹脂通路44のゲートをチップ
搭載用凹所47の範囲中央の近傍に配設し、基板49と
樹脂通路44との間にリリースフィルム46を介在する
と、基板49のチップ搭載面を直接樹脂通路44のラン
ナーが通過しないため、そのチップ搭載面に設置するハ
ンダボール51等の接続用リードの位置規制の必要がな
く自由に設置できる。そして、チップ搭載用凹所47内
における樹脂到達距離が均等となり、樹脂通路44のゲ
ートから一部のみ到達距離が遠くなることがない。それ
故、溶融樹脂53の粘度を高く設定することも可能にな
り、樹脂封止部の樹脂密度を高く、ボイドの発生を少な
くできる。
【0036】樹脂注入動作終了後、貫通用針45をその
先端部が下リリースフィルム46を貫通した所定の位置
で停止させ、溶融樹脂を硬化又は半硬化させる。する
と、基板49のチップ搭載用凹所47内にある半導体チ
ップ48等を良好に樹脂封止して樹脂封止部を成形でき
るばかりでなく、その樹脂封止部よりゲート痕を突出し
ないようにすることができる。そして、上下金型35、
36を開放すると、良好に離型でき、同時に樹脂通路4
4のランナー内樹脂も分離できて、ランナー内樹脂を分
離した片面凹所内チップ搭載型半導体パッケージが得ら
れる。
【0037】図8は本発明を適用した他の応用例による
リリースフィルム使用樹脂成形用モールド金型装置のモ
ールド金型による被成形品である片面凹所内チップ搭載
基板の樹脂封止部成形樹脂充填直後における貫通用針の
停止位置を示す右部分の要部断面図である。この樹脂成
形用モールド金型装置もプレス装置に樹脂成形用モール
ド金型54を装着して構成する。そして、そのモールド
金型54により片面凹所内チップ搭載基板の樹脂封止を
モールド金型34と同様にして行なう。そこで、図8で
はモールド金型34と対応する部分には同一符号を用い
て表示した。
【0038】しかし、モールド金型54では被成形品と
して、両面を厚み方向に貫く樹脂注入孔55を設け、そ
の片面中央部に設けた樹脂注入孔55を有する凹所47
内に半導体チップ48を搭載した基板49を用いる。そ
して、上リリースフィルム56で被覆した成形用キャビ
ティ39内に基板49のチップ搭載面を奥側に配置して
収容し、その基板49のチップ非搭載面を下リリースフ
ィルム46で被覆し、その下リリースフィルム46を基
板49と樹脂通路44間に介在し、図9に示すようにそ
の樹脂通路44のゲートをチップ搭載用凹所47の範囲
一隅部に設けた樹脂注入孔55のゲート近傍に設ける。
【0039】すると、成形時に樹脂通路44のゲート近
傍に設置した貫通用針45を垂直に突出し、その先端部
が樹脂注入孔55に入るように上動させ、その貫通用針
45で下リリースフィルム46の局所を確実に突き破っ
て樹脂注入用貫通孔を開けることができる。そして、貫
通用針45を後退させると、貫通孔を通じて溶融樹脂5
3が成形用キャビティ39内に入り、そのキャビティ3
9内では樹脂通路44のゲート近傍にチップ搭載用凹所
47に設けた樹脂注入孔55のゲートが配置されている
ため、溶融樹脂53はチップ搭載用凹所47内へと押し
込まれて行く。
【0040】樹脂注入動作終了後、貫通用針45を突出
し、その先端部を下リリースフィルム46を貫通した所
定の位置で停止させ、樹脂注入孔55を塞いで溶融樹脂
を硬化又は半硬化させる。すると、基板49のチップ搭
載用凹所47内にある半導体チップ48等を良好に樹脂
封止して樹脂封止部を成形できるばかりでなく、図10
に示すように樹脂注入孔55に充填した封止樹脂57の
下端部に貫通用針45の先端部に相当する凹所58がで
きゲート痕が突出しない。そして、上下金型35、36
を開放すると、良好に離型でき、同時に樹脂通路44の
ランナー内樹脂も分離できて、ランナー内樹脂を分離し
た片面凹所内チップ搭載型半導体パッケージが得られ
る。なお、上樹脂成形部35は上リリースフィルム56
によって被覆されているため、その樹脂成形面44、成
形用キャビティ56の内面等には樹脂が付着しない。
【0041】図11は本発明を適用した別の応用例によ
るリリースフィルム使用樹脂成形用モールド金型装置の
モールド金型による片面凹所内チップ搭載基板の樹脂封
止部成形開始直後における貫通用針の後退状態を示す右
部分の要部断面図、図12はその片面凹所内チップ搭載
基板と下金型の成形用キャビティ、樹脂通路等を示す要
部斜視図である。この樹脂成形用モールド金型装置もプ
レス装置に樹脂成形用モールド金型59を装着して構成
する。そして、その樹脂成形用モールド金型59により
片面凹所内チップ搭載基板の樹脂封止をモールド金型3
4と同様にして行なう。そこで、図11、12ではモー
ルド金型34と対応する部分には同一符号を用いて表示
した。
【0042】しかし、モールド金型59では上金型35
の上樹脂成形部37に設ける樹脂成形面60をパーティ
ングラインに沿った平面のみにする。そして、下金型3
6の下樹脂成形部38にはその中央部にタブレット40
とそのタブレット押し出し用プランジャー41を収納す
る筒状ポット42を設置し、その樹脂成形面43に成形
用キャビティ39を設ける。又、ポット42の出口に連
なる樹脂通路44を設け、その樹脂通路44を成形用キ
ャビティ39の側壁と底壁に設けた屈曲溝にして形成
し、ゲートが底壁中央に達するまで延設する。更に、樹
脂通路44のゲート近傍に貫通用針45を垂直に備え付
け、その貫通用針45を突出、後退により上下動自在に
設置する。なお、上樹脂成形部37の樹脂成形面60を
平面のみにすると成形用キャビティ等の凹部を設けなく
てもよいため、研削加工が少なくて済む。
【0043】樹脂成形時には、モールド金型34の上下
金型35、36に対し、その下樹脂成形部38のみ成形
用キャビティ39の内面とその内面に連続する近傍の樹
脂成形面43とをリリースフィルム46で被覆する。そ
の際、リリースフィルム46を成形用キャビティ39の
周囲側壁、底壁に対して張ることにより、それ等の側
壁、底壁に設けた樹脂通路44の溝内を被覆せず、その
溝を単に閉じるように配置できる。
【0044】次に、上下樹脂成形部37、38間の所定
位置に、被成形品としてその片面中央部に設けた凹所4
7内に半導体チップ48を搭載した基板49を配置しク
ランプする。すると、リリースフィルム46により、基
板49のチップ搭載面を被覆でき、そのリリースフィル
ム46を基板49と樹脂通路44間に介在できる。そこ
で、樹脂通路44のゲートを基板49に設けたチップ搭
載用凹所47の範囲中央の近傍に配置し、そこに貫通用
針45を位置決めしておくと、やはり貫通用針45を突
出させ、その先端部でリリースフィルム46の局所を確
実に突き破って貫通させることができる。それ故、溶融
樹脂53をその樹脂注入用貫通孔52を通じて成形用キ
ャビティ39内に入れチップ搭載用凹所47内へと押し
込み、半導体チップ48等を良好に樹脂封止して樹脂封
止部を成形できる。
【0045】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、請求項1
記載の発明では金型の樹脂通路付近に貫通用針を突出、
後退動作自在に設置することにより、その貫通用針を突
出させて、樹脂成形部を被うリリースフィルムの任意の
位置に、樹脂通路から成形用キャビティへ樹脂を注入す
る樹脂注入用貫通孔を確実に開けることができる。しか
も、金型の樹脂成形部にリリースフィルムを被覆する際
に、貫通用針を後退させておくと、金型に貫通用針を設
置しておいても邪魔にならず、リリースフィルムに針が
触れて誤って破るようなことがない。
【0046】又、請求項2記載の発明では請求項1記載
の発明による作用効果が得られるばかりでなく、基板の
中央付近に樹脂注入孔を設け、樹脂通路のゲートをその
樹脂注入孔のゲート近傍に設けることにより、半導体チ
ップと基板間の空隙内における樹脂到達距離がほぼ均等
になり、ゲートから一部のみ到達距離が遠くなることが
ない。それ故、溶融樹脂の粘度を高く設定することも可
能になり、樹脂封止部の樹脂密度を高く、ボイドの発生
を少なくできる。
【0047】又、請求項3記載の発明では成形用キャビ
ティを設けた金型の樹脂成形部にリリースフィルムを被
覆することにより、半導体チップを搭載した基板の全体
を2枚のリリースフィルムにより被覆して包み込むこと
ができる。それ故、基板のチップ非搭載面等の接合端子
面にハンダボール等を設置してある場合にはそれ等のボ
ール等に樹脂が付着しない。又、樹脂封止後に基板のチ
ップ非搭載面等の接合端子面にハンダボール等を設置す
る場合にもその接合端子面を清浄に保つことができる。
しかも、半導体チップと基板の間から溶融樹脂の側方へ
の流れ出しを防ぐことができる等、外観を良好にするこ
とができる。
【0048】又、請求項4記載の発明では請求項1記載
の発明による作用効果が得られるばかりでなく、他方の
金型の樹脂成形部に設ける樹脂成形面に成形用キャビテ
ィ等の凹部を設けなくてもよくなり、研削加工が少なく
て済む。
【0049】又、請求項5記載の発明では貫通用針を突
出させて、樹脂成形部を被うリリースフィルムの任意の
位置に、樹脂注入用貫通孔を確実に開けることができる
ばかりでなく、その貫通用針を後退させることによっ
て、樹脂注入の邪魔にならず、樹脂注入用貫通孔を通じ
て樹脂通路から成形用キャビティへ樹脂を円滑に注入す
ることができる。
【0050】又、請求項6記載の発明では貫通用針の先
端部を樹脂流入動作終了時にリリースフィルム貫通の所
定位置で停止させ、溶融樹脂を硬化又は半硬化させると
いう工程を踏むことにより、封止樹脂に貫通用針の先端
部に相当する凹所を形成することができる。それ故、ゲ
ート痕が突出せず、ばり取り工程を必要としなくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用したリリースフィルム使用樹脂成
形用モールド金型装置のモールド金型によるフリップチ
ップ型半導体チップ搭載基板の樹脂封止部成形開始直前
の貫通用針によるリリースフィルム突き破り状態を示す
右部分の要部断面図である。
【図2】同フリップチップ型半導体チップ搭載基板の樹
脂封止部成形開始直後における樹脂注入状態を示す要部
断面図である。
【図3】同フリップチップ型半導体チップ搭載基板の樹
脂注入孔ゲート付近の樹脂硬化又は半硬化状態を示す要
部断面図である。
【図4】本発明を適用した変形例によるリリースフィル
ム使用樹脂成形用モールド金型装置のモールド金型によ
るフリップチップ型半導体チップ搭載基板の樹脂封止部
成形開始直前における貫通用針のリリースフィルム突き
破り直後の後退位置を示す左部分の要部断面図である。
【図5】本発明を適用した応用例によるリリースフィル
ム使用樹脂成形用モールド金型装置のモールド金型によ
る片面凹所内チップ搭載基板の樹脂封止部成形開始前の
状態を示す右部分の要部断面図である。
【図6】同片面凹所内チップ搭載基板のチップ搭載用凹
所に対する樹脂通路のゲートと貫通用針の位置を示す要
部平面図である。
【図7】同片面凹所内チップ搭載基板の樹脂封止部成形
開始直後における貫通用針の後退状態を示す右部分の要
部断面図である。
【図8】本発明を適用した他の応用例によるリリースフ
ィルム使用樹脂成形用モールド金型装置のモールド金型
による片面凹所内チップ搭載基板の樹脂封止部成形樹脂
充填直後における貫通用針の停止位置を示す右部分の要
部断面図である。
【図9】同片面凹所内チップ搭載基板のチップ搭載用凹
所に対する樹脂通路のゲートと貫通用針の位置を示す要
部平面図である。
【図10】同片面凹所内チップ搭載基板の樹脂注入孔ゲ
ート付近の樹脂硬化又は半硬化状態を示す要部断面図で
ある。
【図11】本発明を適用した別の応用例によるリリース
フィルム使用樹脂成形用モールド金型装置のモールド金
型による片面凹所内チップ搭載基板の樹脂封止部成形開
始直後における貫通用針の後退状態を示す右部分の要部
断面図である。
【図12】同片面凹所内チップ搭載基板と下金型の成形
用キャビティ、樹脂通路等を示す要部斜視図である。
【符号の説明】
1、33、34、54、59…モールド金型 2、35
…上金型 3、36…下金型 4、37…上樹脂成形部
5、38…下樹脂成形部 6…フロートキャビティイ
ンサート 7、39…成形用キャビティ 9…圧縮コイ
ルスプリング10、55…樹脂注入孔 11、48…半
導体チップ 12、49… 基板 13、14、51…
ハンダボール 15…リング状突部 17、40…タブ
レット18、41…プランジャー 19、42…ポット
20、25、43、60…樹脂成形面 21、22、
44…樹脂通路 23、45…貫通用針 24、26、
46、56…リリースフィルム 28、53…溶融樹脂
29、52…樹脂注入用貫通孔 30…半導体チップ
と基板間の空隙 31、57…封止樹脂 32、58…
凹所 50…リード線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) B29L 31:34 B29L 31:34 Fターム(参考) 4F202 AD02 AD05 AD08 AD35 AH37 CA11 CB17 CK90 CM72 4F206 AD02 AD05 AD08 AD35 AH37 JA07 JB17 JL02 JM04 JN25 JN41 JQ81 5F061 AA01 BA03 BA07 CA21 DA09 EA02

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一方の金型の樹脂成形部に成形用キャビ
    ティを設け、他方の金型の樹脂成形部に樹脂を圧送する
    樹脂通路を設けた上下金型を備え、その樹脂通路を設け
    た金型の樹脂成形部に金型より成形品を離型するための
    リリースフィルムを被覆してなるリリースフィルム使用
    樹脂成形用モールド金型装置において、上記金型の樹脂
    通路付近に、その樹脂成形部を被うリリースフィルムに
    樹脂通路から成形用キャビティへ樹脂を注入する樹脂注
    入用貫通孔を開ける貫通用針を突出、後退動作自在に設
    置することを特徴とするリリースフィルム使用樹脂成形
    用モールド金型装置。
  2. 【請求項2】 一方の金型の樹脂成形部に、両面中央付
    近を厚み方向に貫く樹脂注入孔を設け、その片面中央部
    に半導体チップを搭載した基板を被成形品として収容す
    る成形用キャビティを設け、他方の金型の樹脂成形部
    に、基板の樹脂注入孔に樹脂を圧送する樹脂通路を設け
    た上下金型を備え、その樹脂通路を設けた金型の樹脂成
    形部に金型より成形品を離型するためのリリースフィル
    ムを被覆してなるリリースフィルム使用樹脂成形用モー
    ルド金型装置において、上記金型の基板に設けた樹脂注
    入孔のゲート付近にある樹脂通路付近に、その樹脂成形
    部を被うリリースフィルムに樹脂通路から成形用キャビ
    ティへ樹脂を注入する樹脂注入用貫通孔を開ける貫通用
    針を突出、後退動作自在に設置することを特徴とするリ
    リースフィルム使用樹脂成形用モールド金型装置。
  3. 【請求項3】成形用キャビティを設けた金型の樹脂成形
    部にリリースフィルムを被覆することを特徴とする請求
    項1又は2記載のリリースフィルム使用樹脂成形用モー
    ルド金型装置。
  4. 【請求項4】 一方の金型の樹脂成形部に成形用キャビ
    ティと、その成形用キャビティへ樹脂を圧送する樹脂通
    路を設けた上下金型を備え、その樹脂通路を設けた金型
    の樹脂成形部に金型より成形品を離型するためのリリー
    スフィルムを被覆してなるリリースフィルム使用樹脂成
    形用モールド金型装置において、上記金型の樹脂通路付
    近に、その樹脂成形部を被うリリースフィルムに樹脂通
    路から成形用キャビティへ樹脂を注入する樹脂注入用貫
    通孔を開ける貫通用針を突出、後退動作自在に設置する
    ことを特徴とするリリースフィルム使用樹脂成形用モー
    ルド金型装置。
  5. 【請求項5】 樹脂通路を設けた金型の樹脂成形部を被
    うリリースフィルムを貫通用針を突出させて突き破り、
    その貫通用針を後退させて、そのリリースフィルムに開
    いた樹脂注入用貫通孔を通じ、樹脂通路から成形用キャ
    ビティへ樹脂を注入することを特徴とする請求項1、
    2、3又は4記載のリリースフィルム使用樹脂成形用モ
    ールド金型装置の樹脂注入方法。
  6. 【請求項6】 貫通用針の先端部を樹脂流入動作終了時
    にリリースフィルム貫通の所定位置で停止させ、溶融樹
    脂を硬化又は半硬化させることを特徴とする請求項1、
    2、3又は4記載のリリースフィルム使用樹脂成形用モ
    ールド金型装置の樹脂硬化方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007307769A (ja) * 2006-05-17 2007-11-29 Kitagawa Ind Co Ltd 合成樹脂成形品のパッケージ製造方法及び合成樹脂成形品のパッケージ
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