JP2001264255A - マクロ照明装置 - Google Patents
マクロ照明装置Info
- Publication number
- JP2001264255A JP2001264255A JP2000078723A JP2000078723A JP2001264255A JP 2001264255 A JP2001264255 A JP 2001264255A JP 2000078723 A JP2000078723 A JP 2000078723A JP 2000078723 A JP2000078723 A JP 2000078723A JP 2001264255 A JP2001264255 A JP 2001264255A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- illumination
- macro
- unit
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Abstract
照明光を効率的に照明することができ、かつ大型化する
ことがない。 【解決手段】光源1、集光用レンズ3及び投光用レンズ
4を一体化した照明ユニット6を照明姿勢制御手段7に
より一方向及び他方向に揺動させ、照明光2によりガラ
ス基板5上の所望の観察位置を照明する。
Description
えば液晶ディスプレイなどのフラットパネルディスプレ
イに用いられるガラス基板や半導体ウエハ等の大型基板
をマクロ的に照明して異物や汚れ等の外観検査を行うと
きに用いられるマクロ照明装置に関する。
ガラス基板は、その品質の要求からマクロ観察が行われ
る。このマクロ観察は、ガラス基板に対して照明光を照
射し、検査員の目視によりガラス基板上のダスト・粒子
の付着や汚れ、傷、欠け等を検査するものである。
は、例えば特開平5−232032号公報に記載されて
いるように、光源から放射された照明光を集光用フレネ
ルレンズで平行光束に規制し、この平行光束を投光用フ
レネルレンズにより収束光束に規制し、この収束光束を
散乱板によりガラス基板全面に照明するものである。
プレイは、大型化が図られており、それに伴ってガラス
基板も現時点では750mm×950mmと大型化して
いる。このような大型のガラス基板に対するマクロ検査
では、ガラス基板の大型化に伴う検査作業の効率化、す
なわちマクロ観察の容易さと、検査の信頼性に対するニ
ーズが高まっている。又、ガラス基板を載置する検査ス
テージを移動・揺動可能に構成するなどしてマクロ観察
の容易さを向上させている。
ス基板の全面をマクロ照明する構成となっているため、
近年におけるガラス基板の大型化に対し、ガラス基板全
面に照明光を効率的に照明することが困難になりつつあ
る。すなわち、ガラス基板が大型化すると、平行光束又
は収束光束でガラス基板全体を照明したとき、周辺に照
明むらが生じて観察しずらいところが存在することがあ
る。又、ガラス基板の大型化に伴い、基板サイズと同じ
大きさの集光用フレネルレンズが必要となり、レンズ径
を必要以上に大きくすることはレンズ性能の劣化を招
き、照明むらの原因となるばかりか、焦点距離が長くな
り、特に縦型タイプのものは高さ方向の寸法が著しく大
きくなり、検査装置の大型化が避けられないという問題
が生じる。
も所望する観察位置に照明光を効率的に照明することが
でき、かつ大型化することがないマクロ照明装置を提供
することを目的とする。
明は、大型基板の表面をマクロ的に照明して欠陥等の検
査を行う基板検査装置に用いられるマクロ照明装置であ
って、光源と、この光源からの放射光を前記大型基板の
一部に収束させる収束光学系とを一体的に組み込んだマ
クロ照明ユニットと、このマクロ照明ユニットからのマ
クロ照明光を前記大型基板表面上で走査させるように、
前記マクロ照明ユニットを揺動可能に駆動する照明駆動
手段とを具備したことを特徴とするマクロ照明装置であ
る。
のマクロ照明装置において、前記収束光学系は、前記光
源からの放射光を平行光束に規制する集光レンズ又は集
光レンズからの平行光束を収束光束に規制する投光レン
ズからなることを特徴とするものである。
は2記載のマクロ照明装置において、前記収束光学系
は、凸レンズにより構成されることを特徴とする。
は2記載のマクロ照明装置において、前記収束光学系
は、フレネルレンズにより構成されることを特徴とする
ものである。
表面をマクロ的に照明して欠陥等の検査を行う基板検査
装置に用いられるマクロ照明装置であって、光源からの
放射光を集光させる反射球面を備えた光源部と、前記大
型基板の上方に固定配置され前記大型基板のサイズと同
等以上の大きさを有し、前記光源部からの照明光を平行
光束に規制する集光用フレネルレンズと、この集光用フ
レネルレンズに近接して固定は位置され、前記集光用フ
レネルレンズからの平行光束を収束光束に規制する投光
用フレネルレンズと、前記反射球面により集光される照
明光を前記集光用フレネルレンズ面上で走査させるよう
に、前記光源部を揺動可能に駆動する照明駆動手段とを
具備したことを特徴とするマクロ照明装置である。
形態について図面を参照して説明する。
れるガラス基板のマクロ検査装置に用いられるマクロ照
明装置の構成図であって、図1は側面図、図2は正面図
である。照明用の光源1から放射される照明光2の光路
上には、光源1から放射された照明光2をほぼ平行光束
に規制する集光用レンズ3が配置されている。
光路上には、この平行光束を収束光束に規制する投光用
レンズ4が配置されている。この投光用レンズ4は、集
光用レンズ3からの平行光束を液晶ディスプレイに用い
られるガラス基板5に照明するものである。
レンズ4は、一体化されてマクロ照明ユニット6を形成
し、ガラス基板5の一部を照明するものとなっている。
この照明ユニット6は、ガラス基板5の面上に対して照
明光が所定の角度の斜め方向からスポット照射されるよ
うに配置されている。スポット照明の大きさは、観察者
が目を一点に注視して良好に見える視野範囲の大きさ
か、若しくは左右に軽く動かして見える視野範囲の大き
さであれば充分である。
上に対してスポット状の照明光束を二次元的に走査する
ように照明ユニット6を揺動操作する機能を有してい
る。図3はかかる照明姿勢制御手段7の構成図である。
ジョイステックなどの操作部8が制御部9に接続されて
いる。この操作部8は、ジョイステックの操作からガラ
ス基板5の面上の観察位置に照明光束を照射しようとす
る照明ユニット6の姿勢(向き)を読み取り、その姿勢
の情報を制御部9に送る機能を有している。
る照明ユニット6の姿勢の情報を読み込み、この照明ユ
ニット6の姿勢に応じた互いに直交する各方向、すなわ
ち2軸制御により照明ユニット6の姿勢を2次元平面内
で揺動させる機能、具体的には例えば一方向と他方向と
の各回転駆動制御信号をそれぞれ第1の駆動部10、第
2の駆動部11に送出する機能を有している。
向の回転駆動制御信号を入力して第1のアクチュエータ
12を駆動するものであり、第2の駆動部11は、制御
部9からの他方向bの回転駆動制御信号を入力して第2
のアクチュエータ13を駆動するものである。
2、13は、それぞれ例えばモータが用いられている。
第1のアクチュエータ12は、照明ユニット6を照明姿
勢制御手段7の回転軸7aを中心として一方向に揺動さ
せるものであり、第2のアクチュエータ13は、照明ユ
ニット6を照明姿勢制御手段7の回転軸7aを中心とし
て他方向に揺動させるものである。これら第1及び第2
のアクチュエータ12、13の各制御角度の組み合わせ
により照明ユニット6の姿勢が二次元的に自由に設定さ
れるようになっている。
手段7の作用について説明する。
レンズ3により平行光束に規制される。この平行光束
は、投光用レンズ4によりガラス基板5上に所定の大き
さで照明される。この照明領域に対してガラス基板5か
らの光を目視し、ガラス基板5上のダスト・粒子の付着
や汚れ、傷、欠け等を検査するものである。
合、検査員により操作部8のジョイステックが操作され
る。このジョイステックが操作されると、操作部8は、
ジョイステックの操作から照明ユニット6の姿勢を読み
取り、その姿勢の情報を制御部9に送る。
る照明ユニット6の姿勢の情報を読み込み、この照明ユ
ニット6の姿勢に応じた互いに直交する各方向、例えば
一方向と他方向との各回転駆動制御信号をそれぞれ第1
の駆動部10、第2の駆動部11に送出する。
らの一方向の回転駆動制御信号を入力して第1のアクチ
ュエータ12を駆動し、第2の駆動部11は、制御部9
からの他方向の回転駆動制御信号を入力して第2のアク
チュエータ13を駆動する。
ト6を照明姿勢制御手段7の回転軸7aを中心として一
方向に揺動させ、第2のアクチュエータ13は、照明ユ
ニット6を照明姿勢制御手段7の回転軸7aを中心とし
て他方向に揺動させる。これら第1及び第2のアクチュ
エータ12、13の各回転角度の組み合わせにより照明
ユニット6の姿勢が設定される。
の観察位置に照明される。
は、光源1、集光用レンズ3及び投光用レンズ4を一体
化した照明ユニット6を照明姿勢制御手段7により一方
向及び他方向に揺動させるようにしたので、ガラス基板
5が大型化しても、照明光2によりガラス基板5上の所
望の観察位置を照明でき、マクロ観察によりガラス基板
5上のダスト・粒子の付着や汚れ、傷、欠け等を容易に
検査できる。
板に対して照射面積の充分小さな照明ユニットでガラス
基板5全面を走査できるので、集光用及びと投光用のレ
ンズを小型化できると共に、レンズ性能の劣化を招くこ
となく、検査の信頼性を高めることが出来る。さらに、
レンズ径を小さくできることから、照明光学系の焦点距
離を短くでき、検査装置の小型化を容易に図れる。
ニット6を照明姿勢制御手段7の回転軸7aを中心とし
て回転させているが、回転軸は照明ユニット6のいずれ
の位置に設けてもよい。また、基板の大きさに応じて全
面をラスタスキャンできるように照明姿勢制御手段で照
明ユニットの自動制御することも可能である。
いて図面を参照して説明する。なお、図1と同一部分に
は同一符号を付してその詳しい説明は省略する。
ス基板のマクロ検査装置に用いられるマクロ照明装置の
構成図である。光源部20は、照明用の光源21と、こ
の光源21から放射された照明光22を集光する半球状
の反射球面23と、光源21から放射された照明光22
の光路上に配置された熱線吸収フィルタ24、ゲート
(散乱板)25及びフィルタ(グリーン、イエロー、偏
光板など)26とから構成されている。
の光路上には、収束レンズ27及び透過型液晶よりなる
散乱板28が配置されている。収束レンズ27は、集光
用フレネルレンズ29と投光用フレネルレンズ30との
所定の間隔を隔てて配置されている。このうち集光用フ
レネルレンズ29は、光源部20から放射された照明光
22を平行光に規制するものである。投光用フレネルレ
ンズ30は、集光用フレネルレンズ29により規制され
た平行光束を収束光束に規制するものである。
フレネルレンズ30とは、その大きさが光源部20から
放射される照明光22の照射範囲sよりも大きく、ガラ
ス基板5の面上を所定の大きさのスポット照明を満たせ
る大きさに形成されている。
界方向に整列し透明に変化する機能を有し、電圧制御に
より透明状態とな不透明状態とに切替可能となってい
る。
成と同一構成である。
ニットの作用について説明する。
射球面23により集光され、フィルタ24、ゲート25
及びフィルタ26を通って出力される。この照明光22
は、集光用フレネルレンズ29により平行光束に規制さ
れる。この集光用フレネルレンズ29により規制された
平行光束は、投光用フレネルレンズ30により収束光束
に規制される。そして、投光用フレネルレンズ30によ
り規制された収束光束は、散乱板28を通ってガラス基
板5に照明される。
は、ガラス基板5からの光を目視し、ガラス基板5上の
ダスト・粒子の付着や汚れ、傷、欠け等を検査する。
合、検査員により操作部8のジョイステックが操作され
る。このジョイステックが操作されると、操作部8は、
ジョイステックの操作からガラス基板5の面上の観察位
置に照明光束を照射しようとする照明ユニット6の姿勢
を読み取り、その姿勢の情報を制御部9に送る。
る照明ユニット6の姿勢の情報を読み込み、この照明ユ
ニット6の姿勢に応じた互いに直交する各方向、例えば
一方向と他方向との各回転駆動制御信号をそれぞれ第1
の駆動部10、第2の駆動部11に送出する。
らの一方向aの回転駆動制御信号を入力して第1のアク
チュエータ12を駆動し、第2の駆動部11は、制御部
9からの他方向の回転駆動制御信号を入力して第2のア
クチュエータ13を駆動する。
ト6を照明姿勢制御手段7の回転軸7aを中心として一
方向に回転させ、第2のアクチュエータ13は、照明ユ
ニット6を照明姿勢制御手段7の回転軸7aを中心とし
て他方向に回転させる。これら第1及び第2のアクチュ
エータ12、13の各回転角度の組み合わせにより照明
ユニット6の姿勢が設定される。
の観察位置に照明される。
1の実施の形態と同様の作用効果が得られると共に、集
光用レンズ及びと投光用レンズにフレネルレンズを用い
ることにより、凸レンズに比べて大幅に軽量化を図るこ
とかでき、照明姿勢制御手段7の負担も少なくてよい。
さらに、集光用フレネルレンズ29、投光用フレネルレ
ンズ30及び液晶散乱板28を近接して重ね合わせて構
成することができるので,照明光路長を短縮することが
できる。
ニット6を照明姿勢制御手段7の回転軸7aを中心とし
て揺動させているが、光源部20のみを揺動させ、集光
用フレネルレンズ29、投光用フレネルレンズ30、液
晶散乱板28を基板サイズと同等の大きさにし、基板5
の上方に固定してもよい。このように構成すれば、光源
部20のみを姿勢制御し、光源部20からの照明光を集
光用フレネルレンズ29上で走査させることにより、集
光用フレネルレンズ29及び投光用フレネルレンズ30
を介してマクロ照明のスポット光を基板面上で走査する
ことが可能となり、駆動部分のさらなる軽量化を図り、
照明姿勢制御手段7の負担を軽減できる。
ラス基板が大型化しても所望する観察位置に照明光を効
率的に照明することができ、かつ大型化することがない
マクロ照明装置を提供できる。
形態を示す側面から見た構成図。
形態を示す正面から見た構成図。
形態における角度可変機構の構成図。
形態を示す構成図。
Claims (5)
- 【請求項1】 大型基板の表面をマクロ的に照明して欠
陥等の検査を行う基板検査装置に用いられるマクロ照明
装置であって、 光源と、 この光源からの放射光を前記大型基板の一部に収束させ
る収束光学系とを一体的に組み込んだマクロ照明ユニッ
トと、 このマクロ照明ユニットからのマクロ照明光を前記大型
基板表面上で走査させるように、前記マクロ照明ユニッ
トを揺動可能に駆動する照明駆動手段と、を具備したこ
とを特徴とするマクロ照明装置。 - 【請求項2】 前記収束光学系は、前記光源からの放射
光を平行光束に規制する集光レンズ又は集光レンズから
の平行光束を収束光束に規制する投光レンズからなるこ
とを特徴とする請求項1記載のマクロ照明装置。 - 【請求項3】 前記収束光学系は、凸レンズにより構成
されることを特徴とする請求項1又は2記載のマクロ照
明装置。 - 【請求項4】 前記収束光学系は、フレネルレンズによ
り構成されることを特徴とする請求項1又は2記載のマ
クロ照明装置。 - 【請求項5】 大型基板の表面をマクロ的に照明して欠
陥等の検査を行う基板検査装置に用いられるマクロ照明
装置であって、 光源からの放射光を集光させる反射球面を備えた光源部
と、 前記大型基板の上方に固定配置され前記大型基板のサイ
ズと同等以上の大きさを有し、前記光源部からの照明光
を平行光束に規制する集光用フレネルレンズと、 この集光用フレネルレンズに近接して固定は位置され、
前記集光用フレネルレンズからの平行光束を収束光束に
規制する投光用フレネルレンズと、 前記反射球面により集光される照明光を前記集光用フレ
ネルレンズ面上で走査させるように、前記光源部を揺動
可能に駆動する照明駆動手段と、を具備したことを特徴
とするマクロ照明装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000078723A JP4673953B2 (ja) | 2000-03-21 | 2000-03-21 | マクロ照明装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000078723A JP4673953B2 (ja) | 2000-03-21 | 2000-03-21 | マクロ照明装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001264255A true JP2001264255A (ja) | 2001-09-26 |
JP2001264255A5 JP2001264255A5 (ja) | 2007-05-17 |
JP4673953B2 JP4673953B2 (ja) | 2011-04-20 |
Family
ID=18596096
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000078723A Expired - Fee Related JP4673953B2 (ja) | 2000-03-21 | 2000-03-21 | マクロ照明装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4673953B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008164321A (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Olympus Corp | 外観検査用投光装置 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62233710A (ja) * | 1986-04-04 | 1987-10-14 | Nissan Motor Co Ltd | 表面検査装置 |
JPH04301750A (ja) * | 1991-03-29 | 1992-10-26 | Mazda Motor Corp | 表面状態検査用照明装置 |
JPH05232032A (ja) * | 1992-02-19 | 1993-09-07 | Olympus Optical Co Ltd | 外観検査用投光装置 |
JPH08327554A (ja) * | 1995-03-31 | 1996-12-13 | Lintec Corp | 照明装置 |
JPH09231832A (ja) * | 1996-02-23 | 1997-09-05 | Asahi Glass Co Ltd | ガラス物品検査用照明装置 |
JPH10111253A (ja) * | 1996-10-09 | 1998-04-28 | Olympus Optical Co Ltd | 基板検査装置 |
JPH1194756A (ja) * | 1997-09-24 | 1999-04-09 | Olympus Optical Co Ltd | 基板検査装置 |
JPH11166901A (ja) * | 1997-12-03 | 1999-06-22 | Nikon Corp | 検査装置及び方法 |
JP2000066164A (ja) * | 1998-08-25 | 2000-03-03 | Toshiba Electronic Engineering Corp | 基板外観検査装置 |
-
2000
- 2000-03-21 JP JP2000078723A patent/JP4673953B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62233710A (ja) * | 1986-04-04 | 1987-10-14 | Nissan Motor Co Ltd | 表面検査装置 |
JPH04301750A (ja) * | 1991-03-29 | 1992-10-26 | Mazda Motor Corp | 表面状態検査用照明装置 |
JPH05232032A (ja) * | 1992-02-19 | 1993-09-07 | Olympus Optical Co Ltd | 外観検査用投光装置 |
JPH08327554A (ja) * | 1995-03-31 | 1996-12-13 | Lintec Corp | 照明装置 |
JPH09231832A (ja) * | 1996-02-23 | 1997-09-05 | Asahi Glass Co Ltd | ガラス物品検査用照明装置 |
JPH10111253A (ja) * | 1996-10-09 | 1998-04-28 | Olympus Optical Co Ltd | 基板検査装置 |
JPH1194756A (ja) * | 1997-09-24 | 1999-04-09 | Olympus Optical Co Ltd | 基板検査装置 |
JPH11166901A (ja) * | 1997-12-03 | 1999-06-22 | Nikon Corp | 検査装置及び方法 |
JP2000066164A (ja) * | 1998-08-25 | 2000-03-03 | Toshiba Electronic Engineering Corp | 基板外観検査装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008164321A (ja) * | 2006-12-27 | 2008-07-17 | Olympus Corp | 外観検査用投光装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4673953B2 (ja) | 2011-04-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4653500B2 (ja) | 座標検出装置及び被検体検査装置 | |
TWI274183B (en) | Macro illumination apparatus | |
KR100885560B1 (ko) | 기판검사장치 | |
KR101523293B1 (ko) | 레이저 가공 장치 | |
JP4633499B2 (ja) | 外観検査装置及び外観検査方法 | |
TW201028236A (en) | Laser repair apparatus | |
CN106680289A (zh) | 玻璃基板宏观检查系统 | |
JPH0862425A (ja) | ライトガイド装置 | |
JP4383047B2 (ja) | 外観検査用投光装置及び外観検査装置 | |
WO2020080071A1 (ja) | 照明装置 | |
JP2001264255A (ja) | マクロ照明装置 | |
JP4576006B2 (ja) | 外観検査用投光装置 | |
CN1292246C (zh) | 用于检查基片的照明装置 | |
JPH02152103A (ja) | 照明装置 | |
KR100606568B1 (ko) | 기판 외관 검사 장치 | |
JP3255709B2 (ja) | 基板外観検査装置 | |
CN206399854U (zh) | 玻璃基板宏观检查系统 | |
JP3523848B2 (ja) | 外観検査用照明装置 | |
JP2006194896A (ja) | 外観検査用投光装置 | |
TWI527651B (zh) | 雷射照射裝置 | |
JP2008170153A (ja) | マクロ検査装置 | |
KR200238929Y1 (ko) | 기판검사장치 | |
JP2007107887A (ja) | 目視検査用装置 | |
JP4384425B2 (ja) | 欠陥検査装置 | |
JP2008164321A (ja) | 外観検査用投光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070320 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070320 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090831 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090908 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091109 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100511 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100712 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110118 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110124 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140128 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |