JP2006194896A - 外観検査用投光装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】液晶基板などの大型基板の外観検査用投光装置において、装置の高さを押さえ、小型化を図る。
【解決手段】本発明の外観検査用投光装置は、照明光源と、この照明光源からの光を被検査部材に向けて反射させる反射光学系と、この反射光学系の反射光路に配置される集光光学系と、を具備し、前記集光光学系は少なくとも2分割され、これら分割された各集光光学系からの照明光束により前記被検査部材の全面を照射可能とした。
【選択図】図1
【解決手段】本発明の外観検査用投光装置は、照明光源と、この照明光源からの光を被検査部材に向けて反射させる反射光学系と、この反射光学系の反射光路に配置される集光光学系と、を具備し、前記集光光学系は少なくとも2分割され、これら分割された各集光光学系からの照明光束により前記被検査部材の全面を照射可能とした。
【選択図】図1
Description
本発明は、液晶ガラス基板などの大型基板の外観検査に用いられる外観検査用投光装置に関するものである。
従来、液晶ディスプレイのガラス基板の品質を安定した状態に保つため、基板上のレジストなどの膜厚のむらやITO膜上のピンホールなどの外観検査を始め、基板上に印刷されたパターンの乱れやむら、あるいは基板表面に付着したごみや傷などの外観検査が極めて重要になっている。このような基板の外観検査には、特開平5−232040号公報、特開平5−232032号公報、特開平9−273996号公報、特開2000−97864号公報に開示された外観検査用投光装置が用いられている。
図7は、特開平5−232032号公報に開示された外観検査用投光装置の概略構成を示す図である。図7に示す外観検査用投光装置では、ガラス基板上のレジストなどの膜厚のむらやITO膜上のピンホールなどの外観検査が行なわれる。
光源101の背部には、楕円回転ミラー102が配置されている。光源101からの照明光は、楕円回転ミラー102で反射され、熱線吸収フィルタ103を介してゲート104に集められる。さらに照明光は、フィルタ105を介して集光用フレネルレンズ106に入射され、平行光束に規制される。この集光用フレネルレンズ106により規制される平行光束中に、被検査部材であるガラス基板107が、光軸に対し所定の角度を有して配置されている。
このような構成をなす外観検査用投光装置では、ガラス基板107の表面がむらなく照明され、観察者108は、ガラス基板107の表面から発生する微小な散乱光を、目視により観察することができる。これにより、ガラス基板107上のレジストなどの膜厚のむらや、ITO膜上のピンホールなどの欠陥部109が検出される。
図8は、特開平5−232032号公報に開示された外観検査用投光装置の概略構成を示す図である。図8において図7と同一な部分には同符号を付してある。図8に示す外観検査用投光装置では、ガラス基板上に印刷されたパターンの乱れやむら、あるいは基板表面に付着したごみや傷などの外観検査が行なわれる。
図8では、図7の構成に加え、集光用フレネルレンズ106により規制される平行光束中に、さらに投光用フレネルレンズ110が配置されている。この投光用フレネルレンズ110による光束の収束位置Aの手前の光路中に、被検査部材であるガラス基板107が、光軸に対し所定の角度を有して配置されている。
このような構成をなす外観検査用投光装置では、ガラス基板107の表面がむらなく照明され、観察者108は、ガラス基板107からの反射光の収束位置Sの近傍で、ガラス基板107の表面から発生する微小な散乱光を、目視により観察することができる。これにより、ガラス基板107上に印刷されたパターンの乱れやむら、あるいはガラス基板107表面に付着したごみや傷などの欠陥部111が検出される。
ところで、最近、液晶ディスプレイは、ますます大型化の傾向にある。これにともない、液晶ディスプレイに用いられるガラス基板は大型化され、1000mm×1200mmの大きさのものもある。
ところが、上述した構成をなすいずれの外観検査用投光装置でも、ガラス基板が大型化されると、そのガラス基板の大きさと同等以上の集光用フレネルレンズ106や投光用フレネルレンズ110が必要となる。このため、これら集光用フレネルレンズ106や投光用フレネルレンズ110は、ますます大型化する傾向にある。
現在の技術では、レンズ径を必要以上に大きくすることは、レンズ性能を一定に保つ上で製作上困難であり、これによりガラス基板107上をむらなく照明することも難しくなる。このため、大型基板の外観検査の信頼性が低下するという問題がある。また大型の集光用フレネルレンズ106や投光用フレネルレンズ110を使用すると、自重によるレンズの撓みが生じないよう、装置に取り付けることが困難になるとともに、装置の大型化も避けられないという問題が生じる。
本発明の目的は、光源からの光を折り返すことで、装置の高さを抑え小型化を図ることができる外観検査用投光装置を提供することにある。また本発明の目的は、集光光学系を複数に分割して照明系の焦点距離を短くすることで、装置の高さを抑えて小型化を図ることができる外観検査用投光装置を提供することにある。
(1)本発明の外観検査用投光装置は、大型基板の表面を照射して基板面に対してマクロ検査を行う外観検査用投光装置において、装置本体内部で前後方向に起傾するように回動可能に設けられ、前記大型基板を保持するホルダと、前記装置本体の壁面に沿って配置され、前記大型基板の表面を照明するための照明光源と、前記照明光源の出射光軸上に配置され、前記照明光源から出射される照明光を斜め上方に反射する第1の反射ミラーと、前記ホルダの上方に配置され、前記第1の反射ミラーにより反射された照明光を前記ホルダに保持された前記大型基板の基板面に向けて反射する第2の反射ミラーと、前記第2の反射ミラーと前記ホルダとの間に配置され、前記第2の反射ミラーで反射された照明光を収束させて前記大型基板の表面を照射する集光光学系と、を具備している。
(2)本発明の外観検査用投光装置は上記(1)に記載の装置であり、かつ前記照明光源を出射光軸が前記装置本体の壁面に対してほぼ平行になるように配置し、前記第1の反射ミラーを前記照明光源の出射光軸上に移動可能に設け、前記第1の反射ミラーを前記出射光軸に沿って移動させることにより、前記照明光源からの照明光を前記第2の反射ミラーを介して前記大型基板の表面に対して走査する。
(3)本発明の外観検査用投光装置は上記(1)に記載の装置であり、かつ前記照明光源を出射光軸がほぼ水平になるように配置し、かつ前記照明光源を前記出射光軸に沿って移動可能に設け、前記第1の反射ミラーを、前記照明光源に連動して前記出射光軸に沿って移動可能に設け、前記第2の反射ミラーを、前記第1の反射ミラーの移動方向と交差する方向に回動可能に設け、前記照明光源及び前記第1の反射ミラーの移動と前記第2の反射ミラーの回動により、前記第1及び第2の反射ミラーで反射された照明光を前記大型基板上で走査する。
(4)本発明の外観検査用投光装置は上記(1)に記載の装置であり、かつ前記照明光源を出射光軸がほぼ水平になるように配置し、かつ前記照明光源を前記出射光軸に沿って前記装置本体の正面に向かって左右方向に移動可能に設け、前記第1の反射ミラーを、前記照明光源に連動して前記出射光軸に沿って前記左右方向に移動可能に設け、更に前記第2の反射ミラーを、前記左右方向に対して前後方向に回動可能に設け、前記照明光源及び前記第1の反射ミラーを前記左右方向に移動させると共に、前記第2の反射ミラーを前記前後方向に回動させることにより、前記第1及び第2の反射ミラーで反射された照明光を前記大型基板上で前後左右方向に走査する。
(5)本発明の外観検査用投光装置は上記(1)に記載の装置であり、かつ前記集光光学系は、前記第2の反射ミラーと前記大型基板の間の反射光路中に少なくとも2分割されて配置され、分割された各集光光学系を、該各集光光学系からの収束光の一部が前記大型基板上で互いに重なるように傾斜させる。
(6)本発明の外観検査用投光装置は上記(1)に記載の装置であり、かつ前記照明光源及び前記第1の反射ミラーを、前記装置本体の正面に対して左右方向に2組配置し、前記第2の反射ミラーを、前記各第1の反射ミラーの各反射光路に対応させて左右方向に2個配置し、前記集光光学系を、前記各第2の反射ミラーの反射光路に対応させて左右方向に2分割にして配置した。
(7)本発明の外観検査用投光装置は上記(5)又は(6)に記載の装置であり、かつ前記集光光学系は、前記各第2の反射ミラーに対応して複数に分割されたフレネルレンズからなり、前記各第2の反射ミラーで反射された前記照明光を収束させて前記大型基板の表面を照明する。
(8)本発明の外観検査用投光装置は上記(1)に記載の装置であり、かつ前記集光光学系は、前記第2の反射ミラーに対応させて複数に分割されたフレネルレンズからなり、このフレネルレンズにより収束された光束に対して散乱特性を与える透過型液晶板を備えた。
(9)本発明の外観検査用投光装置は上記(2)乃至(4)のいずれかに記載の装置であり、かつ前記第1の反射ミラーは、前記照明光源に連動して前記出射光軸に沿って移動するとともに、前記第1の反射ミラーの反射面が、カム機構により前記第2の反射ミラーに向くように回動する。
(10)本発明の外観検査用投光装置は上記(1)に記載の装置であり、かつ前記照明光源及び第1の反射ミラーは、前記装置本体の上方に対称に2組配置され、前記各照明光源及び前記各第1の反射ミラーを、前記各照明光源の射光軸に沿って移動可能に設けるとともに、前記各第1の反射ミラーに対応する前記各第2の反射ミラーを、前記各第1の反射ミラーの移動方向と交差する方向に回動可能に設け、前記各第1及び第2の反射ミラーを独立に移動及び回動させることにより、前記集光光学系を介して前記大型基板の全面を2次元的に走査する。
(11)本発明の外観検査用投光装置は上記(1)に記載の装置であり、かつ前記第1の反射ミラーと対応する前記照明光源との間隔を変えて、前記第1及び第2の反射ミラーを介して前記大型基板面に照射される照明光の照射範囲を調整する。
(12)本発明の外観検査用投光装置は上記(1)に記載の装置であり、かつ前記集光光学系と対応する前記第2の反射ミラーとの間隔を変えて、前記第1及び第2の反射ミラーを介して前記大型基板面に照射される照明光の照射範囲を調整する。
本発明によれば、光源からの光を折り返すことで、装置の高さを抑え小型化を図ることができる外観検査用投光装置を提供できる。また本発明によれば、集光光学系を複数に分割して照明系の焦点距離を短くすることで、装置の高さを抑えて小型化を図ることができる外観検査用投光装置を提供できる。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る外観検査用投光装置の概略構成を示す側面図である。図1において、装置本体1の内部には、ホルダ2が配置されている。このホルダ2は、被検査部材として、例えばLCDなどのフラットディスプレイに用いられる大型のガラス基板3を保持する。ホルダ2は、その中心部が回転自在に支持され、その支持部を中心に所定角度の範囲で前後方向に起倒(揺動)または反転が可能である。さらに、ホルダ2を左右方向に、または前後と左右方向に揺動させることもできる。
装置本体1内部の上方には、複数個の第1の照明光源4が設けられている。照明光源4は、例えばメタルハライドランプからなる。照明光源4は、装置本体1の正面側から向かって前後左右方向に合計4個配置されている。図1では、便宜上、左側前後の2個の照明光源4,4のみを図示している。
また、装置本体1内部の上方には、反射光学系である複数個の反射ミラー5が、それぞれ各照明光源4に個別に対応して設けられている。反射ミラー5は、正面側から向かって前後左右方向に合計4個配置されている。各反射ミラー5は、水平方向に対して所定の角度傾けて配置されている。前側の二つの反射ミラー5は、それぞれ前側の各照明光源4からの光を後述するガラス基板方向に反射するよう、表面が前側下方に向けられている。後側の二つの反射ミラー5は、それぞれ後側の各照明光源4からの光を後述するガラス基板方向に反射するよう、表面が後側下方に向けられている。
これら反射ミラー5の各反射光路には、4分割された集光光学系6が配置されている。各集光光学系6は、矩形状に形成された第1のフレネルレンズ61と第2のフレネルレンズ62を有している。第1のフレネルレンズ61は、反射ミラー5から照明光を入射して平行光束を出射する。第2のフレネルレンズ62は、第1のフレネルレンズ61から入射される平行光束を収束させて照明光束7としてガラス基板3上に照射する。
これら4個の集光光学系6(6FL,6FR,6RL,6RR)は、装置本体1の前後方向と左右方向に2個ずつ並べて配置されている。図1では、便宜上、左側前後の2個の集光光学系6(6FL,6RL)のみを図示している。装置本体1の前側に左右対称に位置された2個の集光光学系6(6FL,6FR)は、後側に左右対称に位置された2個の集光光学系6(6RL,6RR)に対して、幅寸法(左右寸法)が同じであり、奥行き寸法(前後寸法)がやや短めに形成されている。装置本体1の後側に左右対称に位置された2個の集光光学系6(6RL,6RR)は、前側の2個の集光光学系6(6FL,6FR)に対して、幅寸法が同じであり、奥行き寸法がやや長めに形成されている。
また、装置本体1内部の上方には、複数個の第2の照明光源8が設けられている。照明光源8は、例えばナトリウムランプからなる。照明光源8は、装置本体1の正面側から向かって前後左右方向に合計4個配置されている。これら照明光源8は、照明光源4のメタルハライドランプと異なる波長の光を、それぞれ対応する反射ミラー5、集光光学系6を介してガラス基板3上に照射する。
図2は、上記外観検査用投光装置の概略構成を示す正面図である。図2において図1と同一な部分には同符号を付してある。図2に示すように、装置本体1前側の2個の集光光学系6(6FL,6FR)の各一側縁は、装置本体1の幅方向の中心付近で互いに接している。そして、前側に配列された各集光光学系6(6FL,6FR)は、接する各側縁を中心に、下方へ所定の角度θ1傾斜している。このとき、各集光光学系6(6FL,6FR)からの照明光束7,7が、ガラス基板3上で一部が互いに重なるように、各集光光学系6の光軸を焦点近傍で交差もしくは集中させる。これにより、ガラス基板3上の前側半分の領域31が部分照明される。
また、装置本体1後側の2個の集光光学系6(6RL,6RR)の各一側縁は、上述したと同様に装置本体1の幅方向の中心付近で互いに接している。そして、後側に配列された各集光光学系6(6RL,6RR)は、接する各側縁を中心に、下方へ所定の角度θ1傾斜している。このとき、各集光光学系6(6RL,6RR)からの照明光束7,7が、ガラス基板3上で一部が互いに重なるように、各集光光学系6の光軸を焦点近傍で交差もしくは集中させる。これにより、ガラス基板3上の後側半分の領域32が部分照明される。
さらに、装置本体1後側に位置する2個の集光光学系6(6RL,6RR)は、装置本体1前側に位置する2個の集光光学系6(6FL,6FR)に対しても、下方へ所定の角度傾斜している。これにより、前後に配列された各集光光学系6FRと6FL、または6RRと6RLの各収束光は、焦点近傍で、それぞれ異なる位置A,A’、B,B’で収束する。
これにより、前後左右に配列された4個の集光光学系6(6FL,6FR,6RL,6RR)の収束光は、ガラス基板3上で全ての収束光の一部が重なる。
なお、これら集光光学系6の前後と左右の傾斜角度は、ホルダ2とともにガラス基板3を回転させた際にも、各集光光学系6を透過した照明光束7によりガラス基板3全面を均一に照明できるよう、任意の角度に設定される。また、装置本体1前側に位置する2個の集光光学系6(6FL,6FR)と装置本体1後側に位置する2個の集光光学系6(6RL,6RR)は、各焦点距離がほぼ等しいものを用いている。しかし、例えば装置本体1前側に位置する2個の集光光学系6(6FL,6FR)の焦点距離を短く設定し、装置本体1後側に位置する2個の集光光学系6(6RL,6RR)の焦点距離を長く設定してもよい。
次に、以上のように構成された外観検査用投光装置の動作を説明する。まず、観察者は、被検査部材であるガラス基板3をホルダ2上に載置して保持させる。次に観察者は、図1に示すように、ホルダ2を視線の高さに対応させて立ち上げ、所定角度に傾斜させる。
この状態で、各照明光源4からの光は、それぞれ各反射ミラー5で反射され、4個の各集光光学系6に入射される。すると、これら集光光学系6では、それぞれ第1のフレネルレンズ61から平行光束を出射し、第2のフレネルレンズ62から照明光束7を出射して、ホルダ2上のガラス基板3の部分領域を均一に照射する。これにより観察者は、各照明光束7で照明されたガラス基板3全面について、目視により傷や汚れなどのマクロ検査を行なうことができる。
本第1の実施の形態によれば、各照明光源4からの光を、それぞれ反射ミラー5でガラス基板3側へ反射させるとともに、その反射光路に集光光学系6が配置されている。このような集光光学系6を4個設けて、これら集光光学系6からの照明光束7をガラス基板3の部分領域に照射することで、ガラス基板3全面が照明される。このため、ガラス基板3が大型になっても、基板全面をむらなく照明することができ、傷や汚れなどを検査するマクロ観察を精度良く行なうことができる。
図3は、本発明の第2の実施の形態に係る外観検査用投光装置の概略構成を示す側面図である。図3において、図1と同一な部分には、同符号を付してある。
図3では、装置本体1の前後方向に2個づつ並べて配置される4個の集光光学系6の上方に、2個の照明光源10が設けられている。照明光源10は、例えばメタルハライドランプからなる。照明光源10は、装置本体1の正面側から向かって左右方向に並べて配置されている。なお、各集光光学系6(6FL,6FR,6RL,6RR)は、第1の実施の形態と同様に、ガラス基板3の中心に向けて傾斜しており、各収束光は収束点近傍でそれぞれ異なる位置A,A’、B,B’で収束し、全ての収束光の一部がガラス基板3上で重なる。
図3では、便宜上、左側の1個の照明光源10のみを図示している。これら照明光源10は、図示しない駆動機構により、鉛直方向に対して図中矢印方向へ180゜の範囲で回動可能である。
図4は、上記外観検査用投光装置の概略構成を示す正面図である。図4において図3と同一な部分には同符号を付してある。この構成では、各照明光源10を同じ一方向に180°回動させ、それぞれ装置本体1前側の各反射ミラー5に向けた状態で、各照明光源10からの光が、それぞれ各反射ミラー5及び各集光光学系6を介してガラス基板3上の前側半分の領域31に照射される。
また、各照明光源10を同じ他方向に180°回動させ、それぞれ装置本体1後側の各反射ミラー5に向けた状態で、各照明光源10からの光が、それぞれ各反射ミラー5及び各集光光学系6を介してガラス基板3上の後側半分の領域32に照射される。
すなわち、各照明光源10を180゜回動することにより照射方向を切換えることで、ガラス基板3の前側半分と後側半分の各領域を交互に照明することができる。これにより、ガラス基板3の傷や汚れなどを検査するマクロ観察を精度良く行なうことができる。
本第2の実施の形態によれば、2個の照明光源10で構成できるので、第1の実施の形態に比べて部品点数が少なくなり、装置を小型化できるとともに、価格的にも安価に製作できる。
図5は、本発明の第3の実施の形態に係る外観検査用投光装置の概略構成を示す側面図である。図5において、図1と同一な部分には、同符号を付してある。図5では、装置本体1内部の上方に、照明光源21と反射ミラー22からなる駆動式の照明光学系20が複数組(図示例では2組)設けられている。照明光源21は、例えばメタルハライドランプからなる。照明光学系20は、装置本体1の正面側から向かって後側の左右方向に合計2組配置されている。図5では、便宜上、左側の照明光学系20(20L)のみを図示している。
また、装置本体1内部の上方には、反射光学系である複数個の反射ミラー51が、それぞれ各照明光学系20(20L,20R)に個別に対応して設けられている。反射ミラー51は、正面側から向かって後側の左右方向に合計2個配置されている。各反射ミラー51は、支持部52を中心に所定角度の範囲で前後方向に揺動可能であり、各照明光学系20(20L,20R)からの光を後述するガラス基板方向に反射する。
これら反射ミラー51の各反射光路には、2分割された集光光学系6が配置されている。これら2個の集光光学系6(6L,6R)は、下方へ所定の角度傾斜して装置本体1の左右方向に並べて配置されている。このとき、各集光光学系6L,6Rの各収束光は、収束点の近傍でそれぞれ異なる位置A,A’で収束し、全ての収束光の一部がガラス基板3上で重なる。図5では、便宜上、左側の1個の集光光学系6(6L)のみを図示している。
図6は、上記外観検査用投光装置の概略構成を示す下面図である。図6において図5と同一な部分には同符号を付してある。各照明光学系20(20L,20R)では、照明光源21と反射ミラー22が連動して左右方向へ駆動されるとともに、反射ミラー22が図示しないカム機構により回動される。照明光学系20(20L,20R)の各照明光源21は、それぞれ左方向、右方向へ光を照射する。各照明光源21の光路には、それぞれ反射ミラー22が配置されている。各反射ミラー22は、各照明光源21からの光をそれぞれ反射ミラー51に向け斜め上方向へ反射する。
各照明光学系20(20L,20R)がAの状態からBの状態へ駆動された場合、各照明光源21がそれぞれ装置本体1の外側方向(左方向,右方向)へ移動する。各照明光源21に連動して各反射ミラー22は、該外側方向へ移動するとともに、上記カム機構によりやや外側方向へ回動する。各照明光源21からの光は、それぞれ反射ミラー22により斜め上方向へ照射される。これにより、各照明光学系20(20L,20R)からの光が、それぞれ各反射ミラー51及び各集光光学系6を介してガラス基板3上の外側(左側,右側)の領域に照射される。各照明光学系20L,20Rは、独立して駆動したり、または同一方向に連動させて駆動することもできる。
また、各照明光学系20(20L,20R)がBの状態からAの状態へ駆動された場合、各照明光源21がそれぞれ装置本体1の内側方向(左方向,右方向)へ移動する。各照明光源21に連動して各反射ミラー22は、該内側方向へ移動するとともに、上記カム機構によりやや内側方向へ回動する。各照明光源21からの光は、それぞれ反射ミラー22により斜め上方向へ照射される。これにより、各照明光学系20(20L,20R)からの光が、それぞれ各反射ミラー51及び各集光光学系6を介してガラス基板3上の内側(右側,左側)の領域に照射される。
すなわち、照明光源21と反射ミラー22からなり左右対称に配置された各照明光学系20(20L,20R)を、左右方向へ移動可能とし、さらに各反射ミラー51を前後方向へ回動可能とすることにより、照射光を前後左右に走査し、ガラス基板3上の各領域を任意に照明することができる。これにより、各反射ミラー22と51によりガラス基板3の全面に対して照明光を走査でき、ガラス基板3の傷や汚れなどを検査するマクロ観察を精度良く行なうことができる。
本第3の実施の形態によれば、2個の照明光源21と2個の反射ミラー51で構成できるので、第1,第2の実施の形態に比べて部品点数が少なくなり、装置を小型化できるとともに、価格的にも安価に製作できる。
上述した第1〜第3の実施の形態では、集光光学系6を4個または2個用いて、ガラス基板3上の全面を均一に照明している。これに限らず、集光光学系6を3個以上用いて、ガラス基板3上での部分照明の領域をさらに細分化してもよい。また、照明領域の細分割化により集光光学系6の光束径を小さくできれば、集光光学系6をフレネルレンズに代えて凸レンズで構成することも可能である。
また、上記第2の実施の形態では、照明光源10のみを回動させるようにしたが、1個の照明光源10と1個の反射ミラー5とを連動して駆動可能とし、ガラス基板3上の前側半分と後側半分の各領域を交互に照明してもよい。このように構成すれば、さらに部品点数が少なくなり、装置を小型化できるとともに、価格的にも安価に製作できる。
また、上記第1〜第3の実施の形態における照明光源4,10,21を、図示しない駆動機構により、それぞれ反射ミラー5,5,22(光軸方向)に対して移動可能としてもよい。この場合、照明光源4,10,21を反射ミラー5,5,22に近づけるに従い、反射ミラー5,5,22から反射される光束が広がるため、ガラス基板3上の照射範囲が大きくなる。また、照明光源4,10,21を反射ミラー5,5,22から遠ざけるに従い、反射ミラー5,5,22から反射される光束が狭まるため、ガラス基板3上の照射範囲が小さくなる。
同様に、集光光学系6を、図示しない駆動機構により、反射ミラー5,5,51(光軸方向)に対して移動可能としてもよい。この場合、集光光学系6を反射ミラー5,5,51に近づけるに従い、反射ミラー5,5,51から反射される光束が広がるため、ガラス基板3上の照射範囲が大きくなる。また、集光光学系6を反射ミラー5,5,51から遠ざけるに従い、反射ミラー5,5,51から反射される光束が狭まるため、ガラス基板3上の照射範囲が小さくなる。なお、各照明光源と各集光光学系を、それぞれ個別に移動可能とし、さらに各集光光学系の傾斜角度を、個別に調整可能とすることもできる。
このように、照明光源と集光光学系とを相対的に移動させ、集光光学系の焦点位置に対して照明光源の位置を光軸方向にずらすことで、ガラス基板3のサイズに合わせた照射範囲の調整が可能になる。
また、集光光学系から導光された収束光束に所定の光学的特性を与える目的で、不透明または透明に切換え可能な液晶散乱板(透過型液晶板)を設けることもできる。この液晶散乱板を用いたシャーカス照明により、大型基板の全面を斑なく照明でき、膜厚のむらや透明導電膜上のピンホールなどの欠陥を良好に検出できる。
以上のように本発明によれば、大型の被検査部材の全面をむらなく照明することができ、傷や汚れなどのマクロ検査を精度良く行なうことができる。また、照明系からの光をミラーで折り返し、さらに集光光学系を複数に分割して照明系の焦点距離を短くし、装置の高さを抑えることにより、装置の小型化を図ることできる。
本発明によれば、大型の被検査部材に対して全体をむらなく照明できる小型の外観検査用投光装置を提供できる。
本発明は上記各実施の形態のみに限定されず、要旨を変更しない範囲で適時変形して実施できる。
Claims (12)
- 大型基板の表面を照射して基板面に対してマクロ検査を行う外観検査用投光装置において、
装置本体内部で前後方向に起傾するように回動可能に設けられ、前記大型基板を保持するホルダと、
前記装置本体の壁面に沿って配置され、前記大型基板の表面を照明するための照明光源と、
前記照明光源の出射光軸上に配置され、前記照明光源から出射される照明光を斜め上方に反射する第1の反射ミラーと、
前記ホルダの上方に配置され、前記第1の反射ミラーにより反射された照明光を前記ホルダに保持された前記大型基板の基板面に向けて反射する第2の反射ミラーと、
前記第2の反射ミラーと前記ホルダとの間に配置され、前記第2の反射ミラーで反射された照明光を収束させて前記大型基板の表面を照射する集光光学系と、
を具備したことを特徴とする外観検査用投光装置。 - 前記照明光源を出射光軸が前記装置本体の壁面に対してほぼ平行になるように配置し、前記第1の反射ミラーを前記照明光源の出射光軸上に移動可能に設け、前記第1の反射ミラーを前記出射光軸に沿って移動させることにより、前記照明光源からの照明光を前記第2の反射ミラーを介して前記大型基板の表面に対して走査することを特徴とする請求項1に記載の外観検査用投光装置。
- 前記照明光源を出射光軸がほぼ水平になるように配置し、かつ前記照明光源を前記出射光軸に沿って移動可能に設け、前記第1の反射ミラーを、前記照明光源に連動して前記出射光軸に沿って移動可能に設け、前記第2の反射ミラーを、前記第1の反射ミラーの移動方向と交差する方向に回動可能に設け、前記照明光源及び前記第1の反射ミラーの移動と前記第2の反射ミラーの回動により、前記第1及び第2の反射ミラーで反射された照明光を前記大型基板上で走査することを特徴とする請求項1に記載の外観検査用投光装置。
- 前記照明光源を出射光軸がほぼ水平になるように配置し、かつ前記照明光源を前記出射光軸に沿って前記装置本体の正面に向かって左右方向に移動可能に設け、前記第1の反射ミラーを、前記照明光源に連動して前記出射光軸に沿って前記左右方向に移動可能に設け、更に前記第2の反射ミラーを、前記左右方向に対して前後方向に回動可能に設け、前記照明光源及び前記第1の反射ミラーを前記左右方向に移動させると共に、前記第2の反射ミラーを前記前後方向に回動させることにより、前記第1及び第2の反射ミラーで反射された照明光を前記大型基板上で前後左右方向に走査することを特徴とする請求項1に記載の外観検査用投光装置。
- 前記集光光学系は、前記第2の反射ミラーと前記大型基板の間の反射光路中に少なくとも2分割されて配置され、分割された各集光光学系を、該各集光光学系からの収束光の一部が前記大型基板上で互いに重なるように傾斜させることを特徴とする請求項1に記載の外観検査用投光装置。
- 前記照明光源及び前記第1の反射ミラーを、前記装置本体の正面に対して左右方向に2組配置し、前記第2の反射ミラーを、前記各第1の反射ミラーの各反射光路に対応させて左右方向に2個配置し、前記集光光学系を、前記各第2の反射ミラーの反射光路に対応させて左右方向に2分割にして配置したことを特徴とする請求項1に記載の外観検査用投光装置。
- 前記集光光学系は、前記各第2の反射ミラーに対応して複数に分割されたフレネルレンズからなり、前記各第2の反射ミラーで反射された前記照明光を収束させて前記大型基板の表面を照明することを特徴とする請求項5又は6に記載の外観検査用投光装置。
- 前記集光光学系は、前記第2の反射ミラーに対応させて複数に分割されたフレネルレンズからなり、このフレネルレンズにより収束された光束に対して散乱特性を与える透過型液晶板を備えたことを特徴とする請求項1に記載の外観検査用投光装置。
- 前記第1の反射ミラーは、前記照明光源に連動して前記出射光軸に沿って移動するとともに、前記第1の反射ミラーの反射面が、カム機構により前記第2の反射ミラーに向くように回動することを特徴とする請求項2乃至4のいずれかに記載の外観検査用投光装置。
- 前記照明光源及び第1の反射ミラーは、前記装置本体の上方に対称に2組配置され、前記各照明光源及び前記各第1の反射ミラーを、前記各照明光源の射光軸に沿って移動可能に設けるとともに、前記各第1の反射ミラーに対応する前記各第2の反射ミラーを、前記各第1の反射ミラーの移動方向と交差する方向に回動可能に設け、前記各第1及び第2の反射ミラーを独立に移動及び回動させることにより、前記集光光学系を介して前記大型基板の全面を2次元的に走査することを特徴とする請求項1に記載の外観検査用投光装置。
- 前記第1の反射ミラーと対応する前記照明光源との間隔を変えて、前記第1及び第2の反射ミラーを介して前記大型基板面に照射される照明光の照射範囲を調整することを特徴とする請求項1に記載の外観検査用投光装置。
- 前記集光光学系と対応する前記第2の反射ミラーとの間隔を変えて、前記第1及び第2の反射ミラーを介して前記大型基板面に照射される照明光の照射範囲を調整することを特徴とする請求項1記載の外観検査用投光装置。
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