JP2001004492A - 投写レンズ検査装置および投写レンズ検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 投写レンズの特性を正確に検査することがで
きる技術を提供する。 【解決手段】 投写レンズ検査装置は、画像光射出部
と、スクリーンと、撮像部と、フォーカス状態調整部
と、特性値算出部とを備える。画像光射出部は、テスト
パターンを有しており、テストパターンを表す画像光を
射出する。投写レンズが画像光をスクリーン上に照射す
ると、テストパターンの画像がスクリーン上に表示され
る。特性値算出部は、撮像部によって撮像されたテスト
パターン画像の明暗の変化に基づいて投写レンズの特性
値を算出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、投写レンズを検査
するための技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】投写型表示装置では、照明光学系から射
出された光を、液晶パネルなどを用いて画像情報（画像
信号）に応じて変調し、変調された光を投写レンズを用
いてスクリーン上に投写することにより画像表示を実現
している。

【０００３】図１は、投写型表示装置の一例を示す概略
構成図である。投写型表示装置１０００は、照明光学系
１００と、色光分離光学系２００と、リレー光学系２２
０と、３枚の液晶ライトバルブ３００Ｒ，３００Ｇ，３
００Ｂと、クロスダイクロイックプリズム３２０と、投
写レンズ３４０とを備えている。

【０００４】照明光学系１００は、略平行な光を射出す
る光源装置２０の他に、偏光発生光学系を備えており、
偏光方向の揃った１種類の直線偏光光を射出する。照明
光学系１００から射出された光は、色光分離光学系２０
０において赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色の色光
に分離される。分離された各色光は、液晶ライトバルブ
３００Ｒ，３００Ｇ，３００Ｂにおいて画像情報に応じ
て変調される。液晶ライトバルブ３００Ｒ，３００Ｇ，
３００Ｂは、液晶パネルと、その光入射面側および光射
出面側に配置された偏光板とによって構成されている。
液晶ライトバルブ３００Ｒ，３００Ｇ，３００Ｂにおい
て変調された各色光は、クロスダイクロイックプリズム
３２０で合成され、投写レンズ３４０によってスクリー
ンＳＣ上に投写される。これにより、スクリーンＳＣ上
に画像が表示されることとなる。なお、図１に示すよう
な投写型表示装置の各部の構成および機能については、
例えば、本願出願人によって開示された特開平１０−３
２５９５４号公報に詳述されているので、本明細書にお
いて詳細な説明は省略する。

【０００５】ところで、投写型表示装置１０００に用い
られる投写レンズ３４０は、その製造工程等のばらつき
により、その特性にもばらつきが生じることがある。投
写レンズの特性のばらつきは、投写型表示装置１０００
によって表示される画像の品質に影響するため、投写型
表示装置の出荷前には、投写レンズの特性が検査されて
いる。

【０００６】従来では、投写レンズの特性の良否は、検
査対象となる投写レンズを所定の投写型表示装置などに
実装し、投写表示される画像を目視で確認することによ
り判断されていた。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、投写画像を目
視で確認することによって投写レンズの特性を検査する
場合には、投写レンズの正確な特性値を得ることができ
ず、また、その良否の判断基準も曖昧であるという問題
があった。

【０００８】この発明は、従来技術における上述の課題
を解決するためになされたものであり、投写レンズの特
性を正確に検査することができる技術を提供することを
目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段およびその作用・効果】上
述の課題の少なくとも一部を解決するため、本発明の装
置は、投写型表示装置に用いられる投写レンズを検査す
るための投写レンズ検査装置であって、テストパターン
を有し、前記テストパターンを表す画像光を射出する画
像光射出部と、前記投写レンズによって前記画像光が照
射され、前記画像光の照射により前記テストパターンの
画像を表示するスクリーンと、前記スクリーン上に表示
される前記テストパターンの画像を撮像する撮像部と、
前記テストパターンの画像のフォーカス状態を自動調整
するフォーカス状態調整部と、前記テストパターンの画
像の明暗の変化に基づいて、前記投写レンズの特性値を
算出する特性値算出部と、を備えることを特徴とする。

【００１０】本発明の投写レンズ検査装置では、スクリ
ーン上に表示された画像のフォーカス状態を調整した後
に、調整後のテストパターン画像の明暗の変化に基づい
て特性値を算出することができるので、投写レンズの特
性を正確に検査することができる。

【００１１】上記の装置において、前記フォーカス状態
調整部は、前記画像光射出部における前記テストパター
ンの空間的な位置を調整することによって前記フォーカ
ス状態の調整を実行するようにしてもよい。

【００１２】こうすれば、スクリーン上に表示されたテ
ストパターン画像のフォーカス状態の調整を容易に行う
ことができる。

【００１３】上記の装置において、前記スクリーンは、
画像光が投写される投写面の裏側から画像を観察可能な
透過型スクリーンであり、前記撮像部は、前記投写面の
裏側に配置されていることが好ましい。

【００１４】このように、透過型スクリーンを用いて、
撮像部を投写面の裏側に配置すれば、撮像部がスクリー
ン上におけるテストパターン画像の表示を妨げてしまう
という可能性を排除できる。したがって、テストパター
ン画像のフォーカス状態をうまく調整し、投写レンズの
特性値を正確に算出することが可能となる。

【００１５】上記の装置において、前記テストパターン
は、前記テストパターンの画像内に周期的な明暗を形成
するための第１の局所パターンを含み、前記投写レンズ
の特性値は、前記スクリーン上に表示される前記第１の
局所パターンの画像の周期的な明暗の変化に基づいて決
定される画像の解像度に関する値であるようにしてもよ
い。

【００１６】こうすれば、投写レンズの特性値として、
画像の解像度に関する値を求めることが可能となる。

【００１７】また、上記の装置において、前記テストパ
ターンは、前記テストパターンの画像内に孤立した明領
域を形成するための第２の局所パターンを含み、前記投
写レンズの特性値は、前記スクリーン上に表示される前
記第２の局所パターンの画像の前記明領域を用いて算出
される画像のフレアに関連する値であるようにしてもよ
い。

【００１８】こうすれば、投写レンズの特性値として、
画像のフレアに関連する値を算出することが可能とな
る。

【００１９】本発明の方法は、投写型表示装置に用いら
れる投写レンズを検査する方法であって、（ａ）テスト
パターンを表す画像光を射出する工程と、（ｂ）前記投
写レンズによって前記画像光をスクリーン上に照射し、
前記スクリーン上に前記テストパターンの画像を表示す
る工程と、（ｃ）前記スクリーン上に表示される前記テ
ストパターンの画像を撮像する工程と、（ｄ）前記テス
トパターンの画像のフォーカス状態を自動調整する工程
と、（ｅ）前記テストパターンの画像の明暗の変化に基
づいて、前記投写レンズの特性値を算出する工程と、を
備えることを特徴とする。

【００２０】本発明の方法を用いた場合にも、上記の装
置と同様の作用・効果を有し、テストパターン画像の明
暗の変化に基づいて特性値を算出することができる。

【００２１】

【発明の実施の形態】Ａ．投写レンズ検査装置：図２
は、本発明を適用した投写レンズ検査装置の一例を示す
説明図である。この装置は、図１の投写型表示装置に用
いられる投写レンズを検査するための装置である。投写
レンズ検査装置は、検査対象である投写レンズ４８０が
搭載される投写部４００と、ミラー５１０と、スクリー
ン５００と、検査部６００とを備えている。この装置に
おいて、検査対象である投写レンズ４８０は、取り外し
可能であり、他の投写レンズに容易に交換することがで
きる。

【００２２】投写部４００から射出された画像光（画像
を表す光）は、ミラー５１０において反射され、スクリ
ーン５００を照射する。スクリーン５００は、画像光が
投写される投写面５００ａの裏面５００ｂ側から画像を
観察可能な透過型スクリーンである。検査部６００は、
スクリーン５００上に表示された画像を用いて、投写レ
ンズ４８０の検査を行う。

【００２３】なお、以下の説明では、図２に示すよう
に、検査装置は、スクリーン５００の表示面５００ｂと
平行な面をＸＹ平面とするＸＹＺ直交座標系で表され
る。また、投写部４００は、検査装置において、図示し
ない保持部によって、ＸＺ平面に対し所定の角度だけ傾
けて配置されている。このため、以下の説明では、投写
部４００を、ＸＹＺ直交座標系をＸ軸を中心として上記
の所定の角度だけ回転させたＳＴＵ直交座標系で表す。
なお、投写レンズ４８０の中心軸ｎ１はＳＵ平面に対し
平行となっている。

【００２４】図３は、図２の投写部４００を＋Ｔ方向か
ら見たときの様子を示す説明図である。図３に示すよう
に、投写部４００は、投写レンズ４８０の他に、光源装
置４１０と、色光フィルタ４２０と、第１および第２の
ミラー４３０，４４２と、検査シート４５０と、検査シ
ート保持部４４０と、検査シート保持部４４０の配置を
調整するための６軸調整部４６０と、ダミープリズム４
７０とを備えている。なお、検査シート保持部４４０
は、第２のミラー４４２に触れないように検査シート４
５０を保持している。図２では、図３に示す光源装置４
１０と色光フィルタ４２０と第１のミラー４３０とは、
６軸調整部４６０と検査シート保持部４４０とダミープ
リズム４７０と投写レンズ４８０よりも、＋Ｓ方向（紙
面奥手方向）に存在するため、便宜上、図示を省略して
いる。

【００２５】なお、図３に示すように、投写部４００
は、図１の投写型表示装置において投写レンズが使用さ
れる場合とほぼ同様な光が投写レンズ４８０に入射され
るように構成されている。すなわち、光源装置４１０は
図１の光源装置２０に対応し、検査シート４５０は図１
の液晶ライトバルブ３００Ｒ，３００Ｇ，３００Ｂに対
応し、ダミープリズム４７０は図１のクロスダイクロイ
ックプリズム３２０に対応している。このような投写部
４００を備える検査装置を用いれば、投写型表示装置に
おいて投写レンズを使用する場合と同じような環境で、
投写レンズを検査することができると考えられる。

【００２６】図３の光源装置４１０は、光源ランプ４１
２と放物面リフレクタ４１４とを備えている。放物面リ
フレクタ４１４は、その凹面が回転放物面形状となって
いる。光源ランプ４１２は、回転放物面形状の凹面の焦
点位置近傍に配置されている。この構成により、光源ラ
ンプ４１２から射出され、放物面リフレクタ４１４で反
射された光は、略平行な光線束となって光源装置４１０
から射出される。なお、光源ランプ４１２としては、メ
タルハライドランプや高圧水銀ランプなどが用いられ
る。また、放物面リフレクタ４１４としては、例えば、
ガラスセラミックスで形成された回転放物体の凹面上
に、誘電体多層膜や金属膜などの反射膜が形成されても
のが利用される。

【００２７】色光フィルタ４２０は、光源装置４１０か
ら射出される光に含まれる所定の色の色光を抽出する機
能を有している。本実施例の色光フィルタ４２０は、略
円板状の形状を有しており、中心軸４２０ｃを中心に回
転可能である。色光フィルタ４２０には、Ｒフィルタ、
Ｇフィルタ、Ｂフィルタ、Ｗフィルタの４種類のフィル
タおよび遮光部が５等分に区分して形成されている。な
お、遮光部は、光源装置４１０から光が射出されている
状態のままで、光を遮断したいときに用いられる。Ｒフ
ィルタは、光源装置４１０から射出された光のうち、赤
色の色光のみを透過させる機能を有している。同様に、
ＧフィルタおよびＢフィルタは、それぞれ緑色の色光、
青色の色光のみを透過させる機能を有している。また、
Ｗフィルタは、すべての色光（以下、白色の色光とも呼
ぶ）を透過させる機能、すなわち、光源装置４１０から
射出された光をそのまま射出する機能を有している。４
種類のフィルタとしては、例えば、略円形のガラス板上
に、４種類の色光をそれぞれ透過させるような誘電体多
層膜を形成したものを利用できる。なお、Ｗフィルタと
しては、誘電体多層膜が形成されていないガラス領域を
そのまま利用してもよい。

【００２８】第１および第２のミラー４３０，４４２
は、光源装置４１０から射出され、色光フィルタ４２０
を通過した色光を投写レンズ４８０に導くための導光手
段としての機能を有している。第１および第２のミラー
としては、すべての色光を反射するような誘電体多層膜
が形成されたミラーや金属ミラーなどを用いることがで
きる。

【００２９】検査シート保持部４４０は、検査シート４
５０を保持する機能を有している。検査シート４５０
は、ガラスなどの透光性の板材に、遮光領域となるテス
トパターンが形成されたものである。

【００３０】図４は、テストパターンＴＰが形成された
検査シート４５０を示す説明図である。図４に示す検査
シート４５０には、その周辺部の四隅に４つの略正方形
状の局所パターン（以下、「正方局所パターン」とも呼
ぶ）ＰＳａ〜ＰＳｄが形成されている。また、複数の罫
線状の局所パターン（以下、「罫線局所パターン」とも
呼ぶ）ＰＬが格子状に形成されており、２０個の矩形の
ブロックに区分されている。２０個のブロックのそれぞ
れには、投写レンズの特性を評価するための第１の測定
用局所パターンＰＭ１〜ＰＭ２０が形成されている。さ
らに、図中、破線で示す斜線Ｌ１，Ｌ２に沿って、投写
レンズの特性を評価するための第２の測定用局所パター
ンＰＭＣ１〜ＰＭＣ４が形成されている。本明細書にお
いては、正方局所パターンＰＳａ〜ＰＳｄや罫線局所パ
ターンＰＬ、第１および第２の測定用局所パターンＰＭ
１〜ＰＭ２０，ＰＭＣ１〜ＰＭＣ４などの全てパターン
をまとめてテストパターンＴＰと呼んでいる。なお、図
４のテストパターンＴＰでは、４つの正方局所パターン
ＰＳａ〜ＰＳｄと複数の罫線局所パターンＰＬと第１お
よび第２の測定用局所パターンＰＭ１〜ＰＭ２０，ＰＭ
Ｃ１〜ＰＭＣ４とが形成されている領域以外には、局所
パターンが全く形成されていないが、他の局所パターン
を形成するようにしてもよい。

【００３１】図５は、図４のテストパターンＴＰに含ま
れる１つの正方局所パターンＰＳａを拡大して示す説明
図である。なお、図中、ハッチが付された領域は、光が
通過しない遮光領域であり、ハッチが付されていない領
域は、光が通過する透光領域である。図示するように、
正方局所パターンＰＳａは、その内側に９つの正方形の
透光領域を含んでいる。図５に示すパターンは、図４の
他の正方局所パターンＰＳｂ〜ＰＳｄについても同じで
ある。

【００３２】図６は、図４のテストパターンＴＰに含ま
れる１つの第１の測定用局所パターンＰＭ１を拡大して
示す説明図である。図６に示すように、第１の測定用局
所パターンＰＭ１には、２つの領域ＷＡ，ＷＢのそれぞ
れに複数のパターンが含まれている。なお、領域ＷＡ内
のパターンは、遮光領域によって特定の形状が形成され
たパターンであり、領域ＷＢ内のパターンは、透光領域
によって特定の形状が形成されたパターンである。図
中、領域ＷＡには、「２０」，「２５」などの数字が形
成された文字パターンと、８種類の平行線パターンＰＴ
Ａａ〜ＰＴＡｈとが含まれている。各平行線パターンＰ
ＴＡａ〜ＰＴＡｈは、短冊形の透光領域と遮光領域とが
周期的に配列されたものであり、各パターンの大きさ、
あるいは、向きは相互に異なっている。一方、領域ＷＢ
には、「Ａ」，「Ｂ」などのアルファベットが形成され
た文字パターンと、４種類の平行線パターンＰＴＢａ〜
ＰＴＢｄと、略円形の透光領域である４種類の小孔パタ
ーンＰＨａ〜ＰＨｄとが含まれている。図６に示すパタ
ーンは、図４の他の第１の測定用局所パターンＰＭ２〜
ＰＭ２０についても同じである。

【００３３】図７は、図４のテストパターンＴＰに含ま
れる１つの第２の測定用局所パターンＰＭＣ１を拡大し
て示す説明図である。第２の測定用局所パターンＰＭＣ
１は、図６に示す第１の測定用局所パターンＰＭ１の領
域ＷＡに含まれる平行線パターンＰＴＡａ〜ＰＴＡｈと
同様の４種類の平行線パターンが形成されている。ただ
し、第２の測定用局所パターンＰＭＣ１では、図４の斜
線Ｌ１に沿って短冊状の透光領域と遮光領域とが配列さ
れているため、第１の測定用局所パターンＰＭ１（図
６）に含まれる各平行線パターンと向きが異なってい
る。図７に示すパターンは、図４の他の第２の測定用局
所パターンＰＭＣ２〜ＰＭＣ４についても同様である。

【００３４】なお、図４に示すテストパターンＴＰは、
図１の液晶ライトバルブ３００Ｒ，３００Ｇ，３００Ｂ
において画像光が形成される有効表示領域とほぼ同じ大
きさ（約２６．６４mm×約１９．９８mm）に設定されて
いる。テストパターンＴＰに含まれる罫線局所パターン
ＰＬは、約０．１〜約０．２mmの線幅で形成されてい
る。また、４つの正方局所パターンＰＳａ〜ＰＳｄは、
図５に示すように、その一辺が約０．４mmの大きさで形
成されている。第１の測定用局所パターンＰＭ１〜ＰＭ
２０は、図６に示すように、約０．８mm×約１．４mmの
大きさで形成されている。第２の測定用局所パターンＰ
ＭＣ１〜ＰＭＣ４は、図７に示すように、約０．３９mm
×約０．３２mmの大きさで形成されている。また、第１
および第２の測定用局所パターン（図６，図７）に含ま
れる各平行線パターンは、短冊状の遮光領域および透光
領域がそれぞれ約１０〜約２５μｍの幅で形成されてお
り、第１の測定用局所パターン（図７）に含まれる各小
孔パターンは、直径約５〜約３０μｍの大きさで形成さ
れている。

【００３５】検査シート保持部４４０（図３）は、６軸
調整部４６０に固定されており、６軸調整部４６０を制
御することによって、検査シート保持部４４０の配置が
調整される。６軸調整部４６０は、図中、Ｓ方向，Ｔ方
向，Ｕ方向の平行移動、および、Ｓ軸，Ｔ軸，Ｕ軸を中
心とする回転の可能な６つの可動ステージが組み合わさ
れたものである。この６軸調整部４６０を制御すること
により、検査シート保持部４４０に保持された検査シー
ト４５０の空間的な配置を調整することができる。換言
すれば、６軸調整部４６０の制御によって、テストパタ
ーンＴＰの空間的な配置が調整される。

【００３６】ダミープリズム４７０は、前述したよう
に、図１の投写型表示装置のクロスダイクロイックプリ
ズム３２０を模擬するために設けられている。図１に示
すクロスダイクロイックプリズム３２０では、３つの液
晶ライトバルブ３００Ｒ，３００Ｇ，３００Ｂから射出
された光を合成するために「Ｘ」字状の薄膜が内部に設
けられている。しかし、本検査装置においてはこの薄膜
は不要なため、クロスダイクロイックプリズム３２０と
同じ立方体形状のガラス体に反射防止コーティングを施
したものが、ダミープリズム４７０として用いられてい
る。

【００３７】検査対象である投写レンズ４８０は、順次
取り替えて検査装置に実装される。本実施例において、
投写レンズ４８０は、図示しない保持部に固定して設置
される。

【００３８】以上の投写部４００の構成により、光源装
置２０（図３）から射出された光は、色光フィルタ４２
０を通過した後に、第１および第２のミラー４３０，４
４２で反射される。第２のミラー４４２で反射された光
は、検査シート４５０を通過することによって、テスト
パターンＴＰの画像を表す画像光となって射出される。
この画像光は、ダミープリズム４７０を通過した後、投
写レンズ４８０によって投写される。この説明からも分
かるように、本実施例における投写レンズ４８０を除く
投写部４００が、本発明の画像光射出部に相当する。

【００３９】ところで、図２に示すように、本実施例の
投写部４００では、投写レンズ４８０の中心軸ｎ１と、
検査シート４５０の中心を通る法線ｎ２とが、所定の距
離だけずれている。これは、投写型表示装置における
「あおり投写」の状態を模擬するためである。投写レン
ズ４８０は、このようなあおり投写状態において、歪み
のない画像を投写表示するように設計されている。な
お、投写レンズ４８０の中心軸ｎ１と検査シート４５０
の中心を通る法線ｎ２とが一致しないような投写は、通
常、「あおり投写」と呼ばれている。

【００４０】図２の検査部６００は、処理部６１０と、
スクリーン５００の四隅の近傍に配置された４つの調整
用撮像部６２０ａ〜６２０ｄと、１つの測定用撮像部６
４０とを備えている。処理部６１０は、調整用撮像部６
２０ａ〜６２０ｄおよび測定用撮像部６４０と電気的に
接続されているとともに、投写部４００の６軸調整部４
６０とも電気的に接続されている。処理部６１０は、調
整用撮像部６２０ａ〜６２０ｄによって得られる画像デ
ータを解析し、その解析結果に基づいて、６軸調整部４
６０を制御する。なお、上述したように、６軸調整部４
６０を制御することによって、テストパターンＴＰの空
間的な配置が調整され、これによってテストパターン画
像のフォーカス状態（後述する）が調整されることとな
る。また、処理部６１０は、測定用撮像部６４０によっ
て得られる画像データを処理して、投写レンズの特性値
を算出する機能を有している。

【００４１】この説明からも分かるように、本実施例の
処理部６１０が本発明における特性値算出部に相当す
る。また、調整用撮像部６２０ａ〜６２０ｄと測定用撮
像部６４０とは本発明における撮像部に相当し、調整用
撮像部６２０ａ〜６２０ｄと処理部６１０と６軸調整部
４６０とがフォーカス状態調整部に相当する。

【００４２】図８は、スクリーン５００を＋Ｚ方向から
見たときの調整用撮像部６２０ａ〜６２０ｄおよび測定
用撮像部６４０の配置を示す説明図である。図示するよ
うに、４つの調整用撮像部６２０ａ〜６２０ｄは、スク
リーン５００の四隅にそれぞれが設けられており、図示
しない移動機構によってＸＹ平面内で移動可能である。
また、測定用撮像部６４０は、スクリーン５００の中央
付近に設けられており、図示しない移動機構によってＸ
Ｙ平面内で移動可能である。ただし、測定用撮像部６４
０は、図２に示すように、各調整用撮像部６２０ａ〜６
２０ｄから＋Ｚ方向にずらして配置されているので、各
調整用撮像部６２０ａ〜６２０ｄと干渉しないように移
動させることができる。調整用撮像部６２０ａ〜６２０
ｄおよび測定用撮像部６４０は、スクリーン５００上に
表示されたテストパターンＴＰの画像を撮像し、撮像し
た画像データを処理部６１０（図２）に伝送する。

【００４３】処理部６１０は、調整用撮像部６２０ａ〜
６２０ｄおよび測定用撮像部６４０から伝送された画像
データを処理して、以下に説明するような手法で投写レ
ンズ４８０の特性値を求める。

【００４４】Ｂ．投写レンズの特性検査：図９は、投写
レンズの検査を行う際の一連の処理手順を示すフローチ
ャートである。ステップＳ１０１では、スクリーン５０
０上に表示された画像のフォーカス状態の調整と、表示
された画像の位置合わせを行う。ステップＳ１０１の処
理では、図４のテストパターンＴＰに含まれる４つの正
方局所パターンＰＳａ〜ＰＳｄ（図５）が利用される。
なお、ステップＳ１０１においては、図３の光源装置４
１０から射出された光は、色光フィルタ４２０において
Ｗフィルタを通過するように設定されている。このと
き、図４の検査シート４５０から射出された画像光に従
ってスクリーン５００上に表示されるテストパターン画
像は、テストパターンＴＰの透光領域に対応する領域が
白色（明領域）となり遮光領域に対応する領域が黒色
（暗領域）となる白黒画像となっている。

【００４５】図１０は、スクリーン５００上に表示され
たテストパターンＴＰ（図４）の画像ＩＴＰを示す説明
図である。ただし、図１０のテストパターン画像ＩＴＰ
には、図４のテストパターンＴＰに含まれる４つの正方
局所パターンＰＳａ〜ＰＳｄに従って表示される４つの
正方局所パターン画像ＩＰＳａ〜ＩＰＳｄと、テストパ
ターンＴＰの外縁を構成する罫線局所パターンＰＬに従
って表示される罫線局所パターン画像ＩＰＬのみが図示
されている。なお、４つの正方局所パターン画像ＩＰＳ
ａ〜ＩＰＳｄは、説明の便宜上、かなり拡大して描かれ
ている。

【００４６】テストパターン画像ＩＴＰをスクリーン５
００上に最初に表示した際には、フォーカス状態が悪く
画像がぼけている場合がある。このため、ステップＳ１
０１（図９）では、まず、テストパターン画像ＩＴＰの
フォーカス状態を調整する。なお、本明細書において、
「フォーカス状態が良い」とは、合焦点状態となってい
ることを意味し、「フォーカス状態が悪い」とは、合焦
点状態となっていないことを意味する。

【００４７】フォーカス状態の調整においては、まず、
図８の４つの調整用撮像部６２０ａ〜６２０ｄを用いて
４つの正方局所パターン画像ＩＰＳａ〜ＩＰＳｄをそれ
ぞれ探す。正方局所パターン画像ＩＰＳａ〜ＩＰＳｄの
探索は、処理部６１０にテストパターンＴＰのパターン
情報を予め入力しておき、正方局所パターンＰＳａ〜Ｐ
Ｓｄのパターン情報とほぼ一致するような画像領域をパ
ターンマッチングによって自動的に探すことによって行
われる。あるいは、ユーザが調整用撮像部６２０ａ〜６
２０ｄによって撮像された画像を確認しながら行うよう
にしてもよい。

【００４８】４つの正方局所パターン画像ＩＰＳａ〜Ｉ
ＰＳｄが見つかると、撮像された４つの正方局所パター
ン画像のフォーカス状態の良否を調べる。フォーカス状
態の良否は、撮像された画像データを用いて判断され
る。例えば、撮像された画像データを用いて、白黒画像
の白色領域（明領域）と黒色領域（暗領域）の境界にお
けるエッジ強度を調べ、エッジ強度の大小によってフォ
ーカス状態の良否を判断することができる。すなわち、
エッジ強度のようなフォーカス状態の良否を示す特定の
指標値を用いることによって、合焦点状態か否かを判断
できる。

【００４９】各正方局所パターン画像ＩＰＳａ〜ＩＰＳ
ｄについての合焦点指標値が得られると、４つの合焦点
指標値に基づいて６軸調整部４６０を制御し、検査シー
ト４５０（テストパターンＴＰ）の空間的な配置を調整
する。この後、再度、各正方局所パターン画像ＩＰＳａ
〜ＩＰＳｄについての合焦点指標値を求める。このよう
にして、６軸調整部４６０の調整と、４つの合焦点指標
値の算出とを繰り返しながら、４つの正方局所パターン
画像ＩＰＳａ〜ＩＰＳｄについての合焦点指標値がほぼ
等しくなり、かつ、最も大きくなるような配置を、テス
トパターン画像ＩＴＰのフォーカス状態が良好となる検
査シート４５０の配置として決定する。

【００５０】また、図１０に示すように、テストパター
ン画像ＩＴＰをスクリーン５００上に最初に表示した際
には、テストパターン画像ＩＴＰの中心ＩＴＰｃが、ス
クリーン５００の中心５００ｃとずれている場合があ
る。本実施例において、テストパターン画像の中心ＩＴ
Ｐｃとは、４つの正方局所パターン画像ＩＰＳａ〜ＩＰ
Ｓｄの位置を頂点とする四角形領域の２つの対角線の交
点を意味している。ステップＳ１０１（図９）において
は、画像のフォーカス状態が調整された後に、画像の位
置合わせを行う。

【００５１】具体的には、図１０に示すテストパターン
画像ＩＴＰの中心ＩＴＰｃが、スクリーン５００の中心
５００ｃと一致するように、６軸調整部４６０を制御
し、検査シート４５０（テストパターンＴＰ）の配置を
調整する。また、本実施例においては、スクリーン５０
０上に表示された２つの正方局所パターン画像ＩＰＳ
ａ，ＩＰＳｂの位置が、Ｘ方向にほぼ平行となるよう
に、検査シート４５０（テストパターンＴＰ）の配置が
調整される。こうすれば、検査シート４５０が、検査シ
ート保持部４４０の所定の位置にうまく取り付けられて
いない場合にも、実質的に所定の位置に取り付けられた
ように補正をすることができる。なお、画像の位置合わ
せが行われた際には、再度、４つの正方局所パターン画
像ＩＰＳａ〜ＩＰＳｄのフォーカス状態が確認される。

【００５２】ステップＳ１０１（図９）においてテスト
パターン画像ＩＴＰのフォーカス状態の調整および位置
合わせが終了すると、ステップＳ１０２，Ｓ１０３にお
いて、投写レンズの特性を検査する。

【００５３】ステップＳ１０２（図９）では、投写レン
ズの特性値として、画像の解像度を測定する。ステップ
Ｓ１０２の処理では、図４のテストパターンＴＰに含ま
れる第１の測定用局所パターンＰＭ１〜ＰＭ２０（図
６）が利用される。ただし、画像の解像度の測定におい
ては、第１の測定用局所パターン（図６）に含まれる平
行線パターンＰＴＡａ〜ＰＴＡｈ，ＰＴＢａ〜ＰＴＢｄ
が利用される。なお、本実施例において、画像の解像度
の測定は、色光フィルタ４２０（図３）においてＲフィ
ルタ、Ｇフィルタ、Ｂフィルタを通過した各色光につい
て行われる。ただし、色光フィルタを変更する場合に
は、各色光の画像のフォーカス状態を調整した後に画像
の解像度を測定することが望ましい。こうすれば、各色
光に応じた画像の解像度を正確に求めることが可能とな
る。

【００５４】図１１は、スクリーン上に表示されたテス
トパターン画像に含まれる平行線パターンの画像とその
平行線パターン画像の明暗の変化を示す説明図である。
なお、図１１のＸ方向は、図１０に示すスクリーン５０
０上に表示されたテストパターン画像ＩＴＰのＸ方向と
同じである。

【００５５】図１１（Ａ−１）は、図６の領域ＷＡに含
まれる平行線パターンＰＴＡｄに従って表示された平行
線パターン画像ＩＰＴＡｄを示している。図中、ハッチ
を付した領域は、平行線パターンＰＴＡｄの遮光領域に
よって光が遮られた暗領域を示しており、他の領域は明
領域を示している。なお、図１１（Ａ−１）では、図示
の便宜上、明領域と暗領域との境界がはっきりと区分し
て描かれているが、実際には、明領域から暗領域へと次
第に変化している。図１１（Ａ−２）は、図１１（Ａ−
１）の画像データから得られるＸ方向の光の強度変化を
示しており、図１１（Ａ−１）の暗領域が強度の比較的
小さい部分に対応し、明領域が強度の比較的大きい部分
に対応している。

【００５６】同様に、図１１（Ｂ−１）は、図６の領域
ＷＢに含まれる平行線パターンＰＴＢａに従って形成さ
れた平行線パターン画像ＩＰＴＢａを示している。図１
１（Ｂ−２）は、図１１（Ｂ−１）の画像データから得
られるＸ方向の光の強度変化を示している。

【００５７】図１１（Ａ−２），（Ｂ−２）に示すよう
な光の強度変化が得られると、画像の解像度を評価する
ための値であるＭＴＦ値（％）を、次の式（１）によっ
て算出する。

【００５８】 ＭＴＦ＝［（ＬＭmax−ＬＭmin）／（ＬＭmax＋ＬＭmin）］×１００ …（１）

【００５９】ここで、図１１（Ａ−２），（Ｂ−２）に
示すように、ＬＭmax は、周期的に光の強度が変化する
領域における光の強度の最大値であり、ＬＭmin は、周
期的に光の強度が変化する領域における光の強度の最小
値である。

【００６０】なお、図１１（Ａ−２）に示すような光の
強度変化に基づくＭＴＦ値は、図１１（Ａ−１）から分
かるように、画像の明領域中に暗領域が表示される場合
の画像の解像度を評価するために求められる。一方、図
１１（Ｂ−２）に示すような光の強度変化に基づくＭＴ
Ｆ値は、図１１（Ｂ−１）から分かるように、画像の暗
領域中に明領域が表示される場合の画像の解像度を評価
するために求められる。図１１（Ａ−２），（Ｂ−２）
では、このような２種類の明暗の変化に基づいてＭＴＦ
値を求める場合を示しているが、画像の解像度を評価す
るためには、少なくとも一方の種類のＭＴＦ値を求めれ
ばよい。

【００６１】通常、平行線パターンのピッチが小さいほ
ど、図１１（Ａ−１），（Ｂ−１）に示すような光の強
度の変化量（ＬＭmax −ＬＭmin ）が小さくなり、その
結果、ＭＴＦ値が小さくなる傾向がある。光の強度の変
化量が小さい場合には、スクリーン上に表示される平行
線パターンの画像の明領域と暗領域とを明確に区別でき
なくなる。したがって、式（１）によって求められるＭ
ＴＦ値が所定の値よりも大きくなる場合には、その平行
線パターンの画像がうまく表示されていると判断するこ
とができ、一方、ＭＴＦ値が所定の値より小さな場合に
は、その平行線パターンの画像がうまく表示されていな
いと判断することができる。

【００６２】このように、図６のテストパターンＴＰに
含まれる複数の平行線パターンによって表される平行線
パターンの画像を用いて、ＭＴＦ値を順次求めてゆけ
ば、検査対象である投写レンズ４８０によってうまく表
示することのできる画像の解像度を知ることができる。
例えば、図６の比較的大きなピッチの平行線パターンＰ
ＴＡａについてのＭＴＦ値が所定の値より大きく、比較
的小さなピッチの平行線パターンＰＴＡｄについてのＭ
ＴＦ値が所定の値よりも小さくなるような場合には、平
行線パターンＰＴＡａのピッチに相当する解像度まで、
うまく画像を表示できると判断することができる。

【００６３】図６に示すように、本実施例のテストパタ
ーンＴＰでは、領域ＷＡ，ＷＢのそれぞれに、パターン
の向きが異なる平行線パターンが設けられている。した
がって、向きの異なる平行線パターン（例えば、ＰＴＡ
ｂ）を用いることによって、スクリーン上におけるＸ方
向の画像の解像度だけでなく、Ｙ方向の画像の解像度も
測定することが可能である。さらに、本実施例のテスト
パターンＴＰ（図４）には、図７に示すような第２の測
定用局所パターンＰＭＣ１〜ＰＭＣ４が含まれている。
したがって、第２の測定用局所パターンＰＭＣ１〜ＰＭ
Ｃ４を用いれば、第１の測定用局所パターンＰＭ１〜Ｐ
Ｍ２０内に含まれる各平行線パターンを用いた場合と異
なる方向（法線方向）についての画像の解像度を測定す
ることが可能となる。第１の測定用局所パターンＰＭ１
〜ＰＭ２０および第２の測定用局所パターンＰＭＣ１〜
ＰＭＣ４に含まれる各平行線パターンは、本発明におけ
る第１の局所パターンに相当する。このように、第１の
局所パターンとしては、スクリーン上に表示される画像
において周期的な明暗を形成するようなものであればよ
い。

【００６４】なお、本実施例では、図４の２０個のブロ
ックのそれぞれにおいて、第１の測定用局所パターンＰ
Ｍ１〜ＰＭ２０に含まれる平行線パターンを用いてＭＴ
Ｆ値を求めている。また、各ブロックにおいては、第１
の測定用局所パターンに含まれる少なくとも２種類のピ
ッチの異なる平行線パターンについてのＭＴＦ値を求め
ることとしている。このように求められた各ＭＴＦ値を
総合的に評価することによって、検査対象である投写レ
ンズ４８０について画像の解像度が決定される。

【００６５】また、本実施例において検査対象としてい
る投写レンズ４８０は、その内部のレンズ系の配置（す
なわち、レンズ間の距離）を変更することにより、投写
される画像の大きさをワイド（大）、ミドル（中）、テ
レ（小）の３段階に変更することができる。このため、
本実施例においては、投写レンズ４８０のこのような複
数の表示倍率のそれぞれに関して、画像の解像度を測定
することとしている。こうすれば、投写レンズ４８０の
画像の解像度に関する特性を、使用状態に応じて調べる
ことができる。

【００６６】以上のように、ステップＳ１０２では、式
（１）を用いてＭＴＦ値を求めているが、画像の解像度
を評価するための値としては、他の式を用いてもよい。
例えば、式（１）に外部からの光などに起因する外乱ノ
イズを補正するための補正式を追加したものを用いても
よい。一般には、画像の周期的な明暗の変化に基づいて
画像の解像度に関する値が決定されていればよい。

【００６７】ステップＳ１０３（図９）では、投写レン
ズの特性値として、画像のフレア（広がり量）を求め
る。画像のフレアは、投写レンズ４８０の内部において
画像光の一部が反射されることに起因して発生する。す
なわち、投写レンズ内部のレンズ表面等において画像光
の一部が複数回反射されて射出されると、その画像光の
一部は、本来照射すべき領域と異なる領域を照射する場
合がある。このとき、スクリーン上に表示される画像
は、画像光の一部が反射されない場合に表示される画像
よりも大きくなる。ステップＳ１０３では、このような
画像のフレアを測定する。

【００６８】ステップＳ１０３の処理では、ステップＳ
１０２の処理と同じく、図４のテストパターンＴＰに含
まれる第１の測定用局所パターンＰＭ１〜ＰＭ２０（図
６）が利用される。ただし、ステップＳ１０３では、図
６に示す第１の測定用局所パターンのうち、領域ＷＢに
含まれる４種類の小孔パターンＰＨａ〜ＰＨｄのみが利
用される。なお、本実施例の画像のフレアの測定は、色
光フィルタ４２０（図３）においてＷフィルタを通過し
た白色の色光のみを用いて行われるが、Ｒフィルタ、Ｇ
フィルタ、Ｂフィルタを通過した色光について行うよう
にしてもよい。

【００６９】図１２は、スクリーン上に表示されたテス
トパターン画像に含まれる小孔パターンの画像の一例を
示す説明図である。なお、図１２では、図８のスクリー
ン５００の左上付近に表示される小孔パターンＰＨａ
（図６）の画像ＩＰＨａが示されている。なお、小孔パ
ターン画像ＩＰＨａの形状は、図１２に示すような卵形
に限られず、投写レンズによって種々の形状となり得
る。

【００７０】図中、略円形の領域ＨＡ１は、画像光の一
部が投写レンズ内部で反射されないと仮定した場合に、
小孔パターンＰＨａによって照射されるべき明領域を示
している。領域ＨＡ１を含む卵形の領域ＨＡ２は、画像
光の一部が投写レンズ内部で実際に反射される場合に、
小孔パターンＰＨａによって照射される明領域を示して
いる。また、領域ＨＡ２の外側の領域ＢＡは、光が照射
されていない暗領域を示しており、明領域ＨＡ２は暗領
域ＢＡ内で孤立している。この説明から分かるように、
本実施例の各小孔パターンＰＨａ〜ＰＨｄ（図６）が本
発明における第２の局所パターンに相当する。なお、第
２の局所パターンとしては、図６に示すような、略円形
の小孔パターンに限られず、他の形状のパターンを用い
てもよい。各領域における光の強度分布は、領域ＨＡ１
内で比較的大きく、領域ＨＡ１を除く領域ＨＡ２で比較
的小さくなっている。また、図１２では、図示の便宜
上、各領域ＨＡ１，ＨＡ２，ＢＡの境界がはっきりと区
分して描かれているが、実際には、それぞれ領域の境界
において光の強度は次第に変化している。

【００７１】本実施例において、画像のフレアＥ（％）
は、次の式（２）で与えられる。

【００７２】 Ｅ＝（Ｓ_HA2 ／Ｓ_HA1 ）×１００ …（２）

【００７３】ここで、Ｓ_HA1 は領域ＨＡ１の面積であ
り、Ｓ_HA2 は領域ＨＡ１を含む領域ＨＡ２の面積であ
る。面積Ｓ_HA1 は、図６の小孔パターンＰＨａの小孔の
面積と、画像の拡大率とを用いて決定することができ
る。なお、画像の拡大率は、例えば、図４のテストパタ
ーンＴＰに含まれる２つの正方局所パターンＰＳａ，Ｐ
Ｓｄ間の距離と、図１０のテストパターン画像ＩＴＰに
含まれる２つの正方局所パターン画像ＩＰＳａ，ＩＰＳ
ｄ間の距離とを用いて計算することができる。また、面
積Ｓ_HA2 は、図１２に示すように撮像された画像データ
を、所定の閾値で２値化することによって求めることが
できる。

【００７４】上記のように、本実施例では、領域ＨＡ１
の面積と領域ＨＡ２の面積とを用いて画像のフレアＥを
決定しているが、他の方法を用いてもよい。例えば、領
域ＨＡ１の面積と、領域ＨＡ１を除いた領域ＨＡ２の面
積とを用いて画像のフレアを決定するようにしてもよ
い。あるいは、領域ＨＡ１の外周上の２点間の距離の最
大値（すなわち、領域ＨＡ１の直径）と、領域ＨＡ２の
外周上の２点間の距離の最大値とを用いて決定してもよ
い。一般には、画像内に孤立した明領域を用いて画像の
フレアに関連する値が決定されていればよい。

【００７５】なお、本実施例では、図４の２０個のブロ
ックのそれぞれにおいて、第１の測定用局所パターンＰ
Ｍ１〜ＰＭ２０に含まれる小孔パターンを用いて画像の
フレアを測定することとしている。しかし、画像のフレ
アＥは、投写レンズの中心軸から離れるに連れて、換言
すれば、スクリーン上に表示される画像の周辺に向かう
に連れて大きくなる傾向がある。したがって、スクリー
ン上に表示されるテストパターン画像の周辺に位置する
小孔パターン画像のみを用いて、画像のフレアを評価す
るようにしてもよい。

【００７６】以上のステップＳ１０２，Ｓ１０３におい
て求められた投写レンズに起因する画像の解像度に関す
る特性値、および、画像のフレアに関連する特性値を用
いれば、投写レンズの良否を容易に判断することができ
る。なお、本実施例では、ステップＳ１０２，Ｓ１０３
において、順次、投写レンズの特性値を測定している
が、測定の順序は不問である。

【００７７】以上、説明したように、本発明の投写レン
ズ検査装置は、スクリーン上に表示された画像のフォー
カス状態を調整した後に、調整後のテストパターン画像
の明暗の変化に基づいて特性値を算出する。これによ
り、投写レンズの特性を正確に検査することが可能とな
る。

【００７８】なお、本発明は上記の実施例や実施形態に
限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲にお
いて種々の態様において実施することが可能であり、例
えば次のような変形も可能である。

【００７９】（１）上記実施例では、図２に示すよう
に、画像光射出部としてテストパターンＴＰが形成され
た検査シート４５０（図４）を備える投写部４００が用
いられているが、検査シート４５０に代えて、液晶ライ
トバルブを用いてもよい。こうしても、液晶ライトバル
ブに画像信号を供給することによって、図４のテストパ
ターンＴＰと同様のテストパターンを表す画像光を射出
することができる。また、テストパターンを複数種類用
いるような場合には、それに応じた画像信号を供給する
ことによって、容易にテストパターンの内容を変更する
ことが可能である。

【００８０】また、上記実施例では、投写部４００に光
源装置４１０が備えられているが、光源装置４１０を用
いずに画像光射出部を構成するようにしてもよい。例え
ば、画像光射出部として、高輝度ブラウン管を用いれ
ば、光源装置を省略することができる。また、高輝度ブ
ラウン管を用いる場合には、上記の液晶ライトバルブを
用いる場合と同様に、供給する画像信号に応じて、容易
にテストパターンの内容を変更することが可能である。

【００８１】なお、液晶ライトバルブや高輝度ブラウン
管を用いる場合には、図９のステップＳ１０１における
画像の位置合わせは、液晶ライトバルブや高輝度ブラウ
ン管におけるテストパターンの表示位置を変更すること
によっても行うことができる。

【００８２】（２）上記実施例では、スクリーン５００
が投写面の裏側に画像を表示する透過型スクリーンであ
る場合について説明したが、スクリーンとしては、投写
面側に画像を表示するようなものを用いてもよい。ただ
し、この場合には、調整用撮像部や測定用撮像部などに
よって、スクリーン上におけるテストパターン画像の表
示が妨げられないように注意する必要がある。本実施例
のように、透過型スクリーン５００を用いて、調整用撮
像部６２０ａ〜６２０ｄや測定用撮像部６４０などを投
写面の裏側に配置すれば、容易にテストパターン画像を
撮像することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】投写型表示装置の一例を示す概略構成図であ
る。

【図２】本発明を適用した投写レンズ検査装置の一例を
示す説明図である。

【図３】図２の投写部４００を＋Ｔ方向から見たときの
様子を示す説明図である。

【図４】テストパターンＴＰが形成された検査シート４
５０を示す説明図である。

【図５】図４のテストパターンＴＰに含まれる１つの正
方局所パターンＰＳａを拡大して示す説明図である。

【図６】図４のテストパターンＴＰに含まれる１つの第
１の測定用局所パターンＰＭ１を拡大して示す説明図で
ある。

【図７】図４のテストパターンＴＰに含まれる１つの第
２の測定用局所パターンＰＭＣ１を拡大して示す説明図
である。

【図８】スクリーン５００を＋Ｚ方向から見たときの調
整用撮像部６２０ａ〜６２０ｄおよび測定用撮像部６４
０の配置を示す説明図である。

【図９】投写レンズの検査を行う際の一連の処理手順を
示すフローチャートである。

【図１０】スクリーン５００上に表示されたテストパタ
ーンＴＰ（図４）の画像ＩＴＰを示す説明図である。

【図１１】スクリーン上に表示されたテストパターン画
像に含まれる平行線パターンの画像とその平行線パター
ン画像の明暗の変化を示す説明図である。

【図１２】スクリーン上に表示された図６の小孔パター
ンの画像の一例を示す説明図である。

【符号の説明】

２０…光源装置 １００…照明光学系 １０００…投写型表示装置 ２００…色光分離光学系 ２２０…リレー光学系 ３００Ｒ，３００Ｇ，３００Ｂ…液晶ライトバルブ ３２０…クロスダイクロイックプリズム ３４０…投写レンズ ＳＣ…スクリーン ４００…投写部 ４１０…光源装置 ４１２…光源ランプ ４１４…放物面リフレクタ ４２０…色光フィルタ ４２０ｃ…中心軸 ４３０，４４２…ミラー（全反射ミラー） ４４０…検査シート保持部 ４５０…検査シート ４６０…６軸調整部 ４７０…ダミープリズム ４８０…投写レンズ（被検レンズ） ５００…スクリーン ５００ａ…投写面 ５００ｂ…表示面 ５１０…ミラー（全反射ミラー） ６００…検査部 ６１０…処理部 ６２０ａ〜６２０ｄ…調整用撮像部 ６４０…測定用撮像部 ＴＰ…テストパターン ＩＴＰ…テストパターン画像 ＰＳａ〜ＰＳｄ…正方局所パターン ＩＰＳａ〜ＩＰＳｄ…正方局所パターン画像 ＰＬ…罫線局所パターン ＩＰＬ…罫線局所パターン画像 ＰＭ１〜ＰＭ２０…第１の測定用局所パターン ＰＭＣ１〜ＰＭＣ４…第２の測定用局所パターン ＰＴＡａ〜ＰＴＡｈ…平行線パターン ＰＴＢａ〜ＰＴＢｄ…平行線パターン ＩＰＴＡｄ，ＩＰＴＢａ…平行線パターン画像 ＰＨａ〜ＰＨｄ…小孔パターン ＩＰＨａ…小孔パターン画像 ｎ１…中心軸 ｎ２…法線

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 投写型表示装置に用いられる投写レンズ
   を検査するための投写レンズ検査装置であって、 テストパターンを有し、前記テストパターンを表す画像
   光を射出する画像光射出部と、 前記投写レンズによって前記画像光が照射され、前記画
   像光の照射により前記テストパターンの画像を表示する
   スクリーンと、 前記スクリーン上に表示される前記テストパターンの画
   像を撮像する撮像部と、 前記テストパターンの画像のフォーカス状態を自動調整
   するフォーカス状態調整部と、 前記テストパターンの画像の明暗の変化に基づいて、前
   記投写レンズの特性値を算出する特性値算出部と、を備
   えることを特徴とする投写レンズ検査装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の投写レンズ検査装置であ
   って、 前記フォーカス状態調整部は、前記画像光射出部におけ
   る前記テストパターンの空間的な位置を調整することに
   よって前記フォーカス状態の調整を実行する、投写レン
   ズ検査装置。
3. 【請求項３】 請求項２記載の投写レンズ検査装置であ
   って、 前記スクリーンは、画像光が投写される投写面の裏側か
   ら画像を観察可能な透過型スクリーンであり、 前記撮像部は、前記投写面の裏側に配置されている、投
   写レンズ検査装置。
4. 【請求項４】 請求項３記載の投写レンズ検査装置であ
   って、 前記テストパターンは、前記テストパターンの画像内に
   周期的な明暗を形成するための第１の局所パターンを含
   み、 前記投写レンズの特性値は、前記スクリーン上に表示さ
   れる前記第１の局所パターンの画像の周期的な明暗の変
   化に基づいて決定される画像の解像度に関する値であ
   る、投写レンズ検査装置。
5. 【請求項５】 請求項３記載の投写レンズ検査装置であ
   って、 前記テストパターンは、前記テストパターンの画像内に
   孤立した明領域を形成するための第２の局所パターンを
   含み、 前記投写レンズの特性値は、前記スクリーン上に表示さ
   れる前記第２の局所パターンの画像の前記明領域を用い
   て算出される画像のフレアに関連する値である、投写レ
   ンズ検査装置。
6. 【請求項６】 投写型表示装置に用いられる投写レンズ
   を検査する方法であって、（ａ）テストパターンを表す
   画像光を射出する工程と、（ｂ）前記投写レンズによっ
   て前記画像光をスクリーン上に照射し、前記スクリーン
   上に前記テストパターンの画像を表示する工程と、
   （ｃ）前記スクリーン上に表示される前記テストパター
   ンの画像を撮像する工程と、（ｄ）前記テストパターン
   の画像のフォーカス状態を自動調整する工程と、（ｅ）
   前記テストパターンの画像の明暗の変化に基づいて、前
   記投写レンズの特性値を算出する工程と、を備えること
   を特徴とする投写レンズ検査方法。