JP2001257473A - 多層セラミック基板およびその製造方法 - Google Patents
多層セラミック基板およびその製造方法Info
- Publication number
- JP2001257473A JP2001257473A JP2000064381A JP2000064381A JP2001257473A JP 2001257473 A JP2001257473 A JP 2001257473A JP 2000064381 A JP2000064381 A JP 2000064381A JP 2000064381 A JP2000064381 A JP 2000064381A JP 2001257473 A JP2001257473 A JP 2001257473A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conductive paste
- ceramic
- green
- multilayer ceramic
- layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Devices For Post-Treatments, Processing, Supply, Discharge, And Other Processes (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 配線導体を形成するための導電性ペースト体
を備える生の積層体を焼成したとき、得られた多層セラ
ミック基板の外表面において、導電性ペースト体が設け
られた位置に関連して隆起が生じることがある。 【解決手段】 多層セラミック基板22を得るために焼
成される生の積層体21において、セラミックグリーン
シート23が低温焼結セラミック材料を含む組成とし、
セラミックグリーンシート23に含まれる低温焼結セラ
ミック材料の焼結温度では焼結しない収縮抑制用セラミ
ック材料を含む収縮抑制用グリーン層25を、導電性ペ
ースト体24に関連して形成する。このような構成の生
の積層体21を、低温焼結セラミック材料が焼結する温
度で焼成すると、収縮抑制用グリーン層25は、導電性
ペースト体24を厚み方向にのみ実質的に収縮させるよ
うに作用し、それによって隆起の発生を抑制する。
を備える生の積層体を焼成したとき、得られた多層セラ
ミック基板の外表面において、導電性ペースト体が設け
られた位置に関連して隆起が生じることがある。 【解決手段】 多層セラミック基板22を得るために焼
成される生の積層体21において、セラミックグリーン
シート23が低温焼結セラミック材料を含む組成とし、
セラミックグリーンシート23に含まれる低温焼結セラ
ミック材料の焼結温度では焼結しない収縮抑制用セラミ
ック材料を含む収縮抑制用グリーン層25を、導電性ペ
ースト体24に関連して形成する。このような構成の生
の積層体21を、低温焼結セラミック材料が焼結する温
度で焼成すると、収縮抑制用グリーン層25は、導電性
ペースト体24を厚み方向にのみ実質的に収縮させるよ
うに作用し、それによって隆起の発生を抑制する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、多層セラミック
基板およびその製造方法に関するもので、特に、たとえ
ば導体膜やビアホール導体のような配線導体を形成する
ための導電性ペーストの、焼成工程における挙動によっ
てもたらされる、多層セラミック基板の表面での凹凸を
低減するための改良に関するものである。
基板およびその製造方法に関するもので、特に、たとえ
ば導体膜やビアホール導体のような配線導体を形成する
ための導電性ペーストの、焼成工程における挙動によっ
てもたらされる、多層セラミック基板の表面での凹凸を
低減するための改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】多層セラミック基板は、複数の積層され
たセラミック層を備えている。このような多層セラミッ
ク基板には、種々の態様の配線導体が設けられている。
配線導体としては、たとえば、多層セラミック基板の内
部においてセラミック層間の特定の界面に沿って延びる
内部導体膜や、特定のセラミック層を貫通するように延
びるビアホール導体や、多層セラミック基板の外表面上
に形成される外部導体膜などがある。
たセラミック層を備えている。このような多層セラミッ
ク基板には、種々の態様の配線導体が設けられている。
配線導体としては、たとえば、多層セラミック基板の内
部においてセラミック層間の特定の界面に沿って延びる
内部導体膜や、特定のセラミック層を貫通するように延
びるビアホール導体や、多層セラミック基板の外表面上
に形成される外部導体膜などがある。
【0003】上述した内部導体膜やビアホール導体の一
部は、たとえばコンデンサ素子やインダクタ素子のよう
な受動部品を構成されるために利用されることがある。
また、外部導体膜は、他の電子部品との電気的接続のた
めに利用されたり、この多層セラミック基板をマザーボ
ード上に実装するために利用されたりしている。
部は、たとえばコンデンサ素子やインダクタ素子のよう
な受動部品を構成されるために利用されることがある。
また、外部導体膜は、他の電子部品との電気的接続のた
めに利用されたり、この多層セラミック基板をマザーボ
ード上に実装するために利用されたりしている。
【0004】このような多層セラミック基板を得るため
には、生の積層体が用意され、これを焼成することが行
なわれる。生の積層体には、上述したような配線導体、
たとえば内部導体膜やビアホール導体を形成するための
導電性ペースト体が予め設けられている。
には、生の積層体が用意され、これを焼成することが行
なわれる。生の積層体には、上述したような配線導体、
たとえば内部導体膜やビアホール導体を形成するための
導電性ペースト体が予め設けられている。
【0005】図4には、この発明にとって興味ある多層
セラミック基板1を製造するための従来の方法に備える
典型的な工程が順次断面図で示されている。
セラミック基板1を製造するための従来の方法に備える
典型的な工程が順次断面図で示されている。
【0006】まず、図4(1)に示すような生の積層体
2が用意される。生の積層体2は、複数の積層されたセ
ラミックグリーンシート3と、導電性ペーストからな
り、かつセラミックグリーンシート3の特定のものに関
連して設けられる、配線導体を形成するための導電性ペ
ースト体4とを備えている。
2が用意される。生の積層体2は、複数の積層されたセ
ラミックグリーンシート3と、導電性ペーストからな
り、かつセラミックグリーンシート3の特定のものに関
連して設けられる、配線導体を形成するための導電性ペ
ースト体4とを備えている。
【0007】上述の導電性ペースト体4としては、より
具体的には、セラミックグリーンシート3の特定の界面
に沿って形成される膜状の導電性ペースト膜5および6
があり、また、特定のセラミックグリーンシート3を貫
通するように形成されるビアホール導体用の柱状の導電
性ペースト柱7がある。また、複数の導電性ペースト膜
5が、生の積層体2の積層方向に重なるように形成され
ている。
具体的には、セラミックグリーンシート3の特定の界面
に沿って形成される膜状の導電性ペースト膜5および6
があり、また、特定のセラミックグリーンシート3を貫
通するように形成されるビアホール導体用の柱状の導電
性ペースト柱7がある。また、複数の導電性ペースト膜
5が、生の積層体2の積層方向に重なるように形成され
ている。
【0008】次に、上述の生の積層体2は、積層方向に
プレスされた後、焼成工程に付される。図4(2)に
は、焼成後の焼結積層体8が示されている。
プレスされた後、焼成工程に付される。図4(2)に
は、焼成後の焼結積層体8が示されている。
【0009】図4(2)に示すように、焼結積層体8
は、前述したセラミックグリーンシート3に由来するセ
ラミック層9、導電性ペースト膜5および6に由来する
内部導体膜10および11、ならびに導電性ペースト柱
7に由来するビアホール導体12を備えている。
は、前述したセラミックグリーンシート3に由来するセ
ラミック層9、導電性ペースト膜5および6に由来する
内部導体膜10および11、ならびに導電性ペースト柱
7に由来するビアホール導体12を備えている。
【0010】図4(1)に示した生の積層体2にあって
は、プレス工程を経ることによって、その外表面が平坦
であるにも関わらず、図4(2)に示した焼結積層体8
にあっては、内部導体膜10および11ならびにビアホ
ール導体12が設けられた位置において、隆起13、1
4および15が生じている。
は、プレス工程を経ることによって、その外表面が平坦
であるにも関わらず、図4(2)に示した焼結積層体8
にあっては、内部導体膜10および11ならびにビアホ
ール導体12が設けられた位置において、隆起13、1
4および15が生じている。
【0011】次に、上述した隆起13、14および15
を除去することによって、外表面を平坦にするため、焼
結積層体8は研磨される。この研磨後の状態が、図4
(3)に示されている。
を除去することによって、外表面を平坦にするため、焼
結積層体8は研磨される。この研磨後の状態が、図4
(3)に示されている。
【0012】次に、研磨後の焼結積層体8の外表面上
に、図4(4)に示すように、外部導体膜16が、導電
性ペーストを印刷によって付与し、再び焼成することに
よって形成される。図示した外部導体膜16は、ビアホ
ール導体12と接続された状態となっている。
に、図4(4)に示すように、外部導体膜16が、導電
性ペーストを印刷によって付与し、再び焼成することに
よって形成される。図示した外部導体膜16は、ビアホ
ール導体12と接続された状態となっている。
【0013】このようにして、目的とする多層セラミッ
ク基板1が完成される。
ク基板1が完成される。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】上述した多層セラミッ
ク基板1の製造方法によれば、外部導体膜6を形成すべ
き面を平坦にするため、焼成後の焼結積層体8に対して
研磨を実施しているが、この焼結積層体8には、焼成後
の段階で、反りやうねり等の不所望な変形が生じている
ことが多い。そのため、研磨における研磨代が変動し、
その結果、研磨後において、焼結積層体8の厚みが小さ
くなりすぎたり、内部導体膜10の一部が露出してしま
ったりするなどの問題を引き起こすことがある。
ク基板1の製造方法によれば、外部導体膜6を形成すべ
き面を平坦にするため、焼成後の焼結積層体8に対して
研磨を実施しているが、この焼結積層体8には、焼成後
の段階で、反りやうねり等の不所望な変形が生じている
ことが多い。そのため、研磨における研磨代が変動し、
その結果、研磨後において、焼結積層体8の厚みが小さ
くなりすぎたり、内部導体膜10の一部が露出してしま
ったりするなどの問題を引き起こすことがある。
【0015】また、研磨によって、焼結積層体8にチッ
ピングや欠けなどの損傷がもたらされることもある。
ピングや欠けなどの損傷がもたらされることもある。
【0016】また、外部導体膜16は、内部導体膜10
および11のように、生の積層体2の段階で形成してお
くことができず、焼成および研磨の各工程を終えた後に
形成する必要があるため、外部導体膜16の形成のため
の工程が煩雑になる。
および11のように、生の積層体2の段階で形成してお
くことができず、焼成および研磨の各工程を終えた後に
形成する必要があるため、外部導体膜16の形成のため
の工程が煩雑になる。
【0017】そこで、この発明の目的は、上述したよう
な問題を解決し得る、多層セラミック基板の製造方法お
よびその製造方法によって得られた多層セラミック基板
を提供しようとすることである。
な問題を解決し得る、多層セラミック基板の製造方法お
よびその製造方法によって得られた多層セラミック基板
を提供しようとすることである。
【0018】
【課題を解決するための手段】この発明は、焼成後の段
階で、焼結積層体の外表面に隆起が生じにくくすること
によって、上述したような技術的課題を解決しようとす
るものである。
階で、焼結積層体の外表面に隆起が生じにくくすること
によって、上述したような技術的課題を解決しようとす
るものである。
【0019】この発明に係る多層セラミック基板の製造
方法は、上述した技術的課題を解決するため、低温焼結
セラミック材料を含む、複数の積層されたセラミックグ
リーンシートと、導電性ペーストからなり、かつセラミ
ックグリーンシートの特定のものに関連して設けられ
る、配線導体を形成するための導電性ペースト体とを備
える、生の積層体を用意する工程と、この生の積層体
を、低温焼結セラミック材料が焼結する温度で焼成する
工程とを備え、上述したように用意される生の積層体に
は、低温焼結セラミック材料の焼結温度では焼結しない
収縮抑制用セラミック材料を含む、収縮抑制用グリーン
層が、導電性ペースト体の少なくとも一部を覆い、かつ
セラミックグリーンシートの特定の界面の一部に沿うよ
うにさらに形成されていることを特徴としている。
方法は、上述した技術的課題を解決するため、低温焼結
セラミック材料を含む、複数の積層されたセラミックグ
リーンシートと、導電性ペーストからなり、かつセラミ
ックグリーンシートの特定のものに関連して設けられ
る、配線導体を形成するための導電性ペースト体とを備
える、生の積層体を用意する工程と、この生の積層体
を、低温焼結セラミック材料が焼結する温度で焼成する
工程とを備え、上述したように用意される生の積層体に
は、低温焼結セラミック材料の焼結温度では焼結しない
収縮抑制用セラミック材料を含む、収縮抑制用グリーン
層が、導電性ペースト体の少なくとも一部を覆い、かつ
セラミックグリーンシートの特定の界面の一部に沿うよ
うにさらに形成されていることを特徴としている。
【0020】この発明において、上述した導電性ペース
ト体としては、種々の態様のものがある。
ト体としては、種々の態様のものがある。
【0021】導電性ペースト体が、セラミックグリーン
シートの特定の界面に沿って形成される膜状の導電性ペ
ースト膜である場合には、収縮抑制用グリーン層は、こ
の導電性ペースト膜の少なくとも一部に接するように形
成されることが好ましい。
シートの特定の界面に沿って形成される膜状の導電性ペ
ースト膜である場合には、収縮抑制用グリーン層は、こ
の導電性ペースト膜の少なくとも一部に接するように形
成されることが好ましい。
【0022】また、生の積層体において、上述したよう
な複数の導電性ペースト膜が積層方向に重なるように形
成されているとき、この発明の意義がより顕著なものと
なる。
な複数の導電性ペースト膜が積層方向に重なるように形
成されているとき、この発明の意義がより顕著なものと
なる。
【0023】導電性ペースト膜が形成された生の積層体
を用意する場合、好ましくは、複数のセラミックグリー
ンシートを用意する工程と、特定のセラミックグリーン
シート上に、導電性ペースト膜を形成する工程と、導電
性ペースト膜の少なくとも一部を覆うようにセラミック
グリーンシート上に収縮抑制用グリーン層を形成する工
程とが実施される。
を用意する場合、好ましくは、複数のセラミックグリー
ンシートを用意する工程と、特定のセラミックグリーン
シート上に、導電性ペースト膜を形成する工程と、導電
性ペースト膜の少なくとも一部を覆うようにセラミック
グリーンシート上に収縮抑制用グリーン層を形成する工
程とが実施される。
【0024】また、他の実施態様として、複数のセラミ
ックグリーンシートを用意する工程と、特定のセラミッ
クグリーンシート上に、収縮抑制用グリーン層を形成す
る工程と、収縮抑制用グリーン層の少なくとも一部を覆
うようにセラミックグリーンシート上に導電性ペースト
膜を形成する工程とが実施されてもよい。
ックグリーンシートを用意する工程と、特定のセラミッ
クグリーンシート上に、収縮抑制用グリーン層を形成す
る工程と、収縮抑制用グリーン層の少なくとも一部を覆
うようにセラミックグリーンシート上に導電性ペースト
膜を形成する工程とが実施されてもよい。
【0025】前述した導電性ペースト膜が、特定のセラ
ミックグリーンシートを貫通するように形成されるビア
ホール導体用の柱状の導電性ペースト柱である場合に
は、収縮抑制用グリーン層は、この導電性ペースト柱の
少なくとも一方端側を覆うように形成されることが好ま
しい。
ミックグリーンシートを貫通するように形成されるビア
ホール導体用の柱状の導電性ペースト柱である場合に
は、収縮抑制用グリーン層は、この導電性ペースト柱の
少なくとも一方端側を覆うように形成されることが好ま
しい。
【0026】上述したように導電性ペースト柱が形成さ
れた生の積層体を用意する場合には、複数のセラミック
グリーンシートを用意する工程と、特定のセラミックグ
リーンシートに貫通孔を設ける工程と、貫通孔内に導電
性ペーストを付与することによって導電性ペースト柱を
形成する工程と、導電性ペースト柱の一方端側を覆うよ
うにセラミックグリーンシート上に収縮抑制用グリーン
層を形成する工程とが実施される。
れた生の積層体を用意する場合には、複数のセラミック
グリーンシートを用意する工程と、特定のセラミックグ
リーンシートに貫通孔を設ける工程と、貫通孔内に導電
性ペーストを付与することによって導電性ペースト柱を
形成する工程と、導電性ペースト柱の一方端側を覆うよ
うにセラミックグリーンシート上に収縮抑制用グリーン
層を形成する工程とが実施される。
【0027】また、この発明において、生の積層体に
は、キャビティが設けられていてもよい。このようにキ
ャビティが設けられている場合には、導電性ペースト体
として、キャビティの底面上に形成される膜状の導電性
ペースト膜を含んでいてもよい。
は、キャビティが設けられていてもよい。このようにキ
ャビティが設けられている場合には、導電性ペースト体
として、キャビティの底面上に形成される膜状の導電性
ペースト膜を含んでいてもよい。
【0028】また、この発明において、導電性ペースト
体は、生の積層体の外表面上に形成される膜状の導電性
ペースト膜を含んでいてもよい。
体は、生の積層体の外表面上に形成される膜状の導電性
ペースト膜を含んでいてもよい。
【0029】この発明は、また、上述したような製造方
法によって得られた、多層セラミック基板にも向けられ
る。
法によって得られた、多層セラミック基板にも向けられ
る。
【0030】このようなこの発明に係る多層セラミック
基板は、低温焼結セラミック材料の焼結体からなる、複
数の積層されたセラミック層と、セラミック層の特定の
ものに関連して設けられた、配線導体と、配線導体の少
なくとも一部を覆い、かつセラミック層の特定の界面の
一部に沿うように形成された、収縮抑制層とを備え、収
縮抑制層は、低温焼結セラミック材料の焼結温度では焼
結しない収縮抑制用セラミック材料を含み、かつ、収縮
抑制層の少なくとも一部には、セラミック層に含まれる
材料の一部が浸透している。
基板は、低温焼結セラミック材料の焼結体からなる、複
数の積層されたセラミック層と、セラミック層の特定の
ものに関連して設けられた、配線導体と、配線導体の少
なくとも一部を覆い、かつセラミック層の特定の界面の
一部に沿うように形成された、収縮抑制層とを備え、収
縮抑制層は、低温焼結セラミック材料の焼結温度では焼
結しない収縮抑制用セラミック材料を含み、かつ、収縮
抑制層の少なくとも一部には、セラミック層に含まれる
材料の一部が浸透している。
【0031】上述した多層セラミック基板において、配
線導体が、セラミック層の特定の界面に沿って形成され
る内部導体膜を含む場合には、収縮抑制層は、この内部
導体膜の少なくとも一部に接するように形成されること
が好ましい。
線導体が、セラミック層の特定の界面に沿って形成され
る内部導体膜を含む場合には、収縮抑制層は、この内部
導体膜の少なくとも一部に接するように形成されること
が好ましい。
【0032】また、配線導体が、特定のセラミック層を
貫通するように形成されるビアホール導体を含む場合に
は、収縮抑制層は、このビアホール導体の少なくとも一
方端側を覆うように形成されることが好ましい。
貫通するように形成されるビアホール導体を含む場合に
は、収縮抑制層は、このビアホール導体の少なくとも一
方端側を覆うように形成されることが好ましい。
【0033】また、この発明に係る多層セラミック基板
には、キャビティが設けられていてもよい。このよう
に、キャビティが設けられている場合、配線導体は、キ
ャビティの底面上に形成される導電ランドを含んでいて
もよい。
には、キャビティが設けられていてもよい。このよう
に、キャビティが設けられている場合、配線導体は、キ
ャビティの底面上に形成される導電ランドを含んでいて
もよい。
【0034】また、配線導体は、この多層セラミック基
板の外表面上に形成される外部導体膜を含んでいてもよ
い。
板の外表面上に形成される外部導体膜を含んでいてもよ
い。
【0035】
【発明の実施の形態】図1は、この発明の一実施形態に
よる多層セラミック基板の製造方法に含まれる典型的な
工程を順次示す断面図である。
よる多層セラミック基板の製造方法に含まれる典型的な
工程を順次示す断面図である。
【0036】図1を参照して、この実施形態による製造
方法を簡単に説明すると、図1(1)に示すような生の
積層体21が用意され、この生の積層体21が焼成され
ることによって、図1(2)に示すような多層セラミッ
ク基板22が得られる。
方法を簡単に説明すると、図1(1)に示すような生の
積層体21が用意され、この生の積層体21が焼成され
ることによって、図1(2)に示すような多層セラミッ
ク基板22が得られる。
【0037】図1(1)に示した生の積層体21は、低
温焼結セラミック材料を含む、複数の積層されたセラミ
ックグリーンシート23と、導電性ペーストからなり、
かつセラミックグリーンシート23の特定のものに関連
して設けられる、配線導体を形成するための導電性ペー
スト体24とを備えている。
温焼結セラミック材料を含む、複数の積層されたセラミ
ックグリーンシート23と、導電性ペーストからなり、
かつセラミックグリーンシート23の特定のものに関連
して設けられる、配線導体を形成するための導電性ペー
スト体24とを備えている。
【0038】また、生の積層体21には、上述した低温
焼結セラミック材料の焼結温度では焼結しない収縮抑制
用セラミック材料を含む、収縮抑制用グリーン層25
が、導電性ペースト体24の少なくとも一部を覆い、か
つセラミックグリーンシート23の特定の界面の一部に
沿うようにさらに形成されている。
焼結セラミック材料の焼結温度では焼結しない収縮抑制
用セラミック材料を含む、収縮抑制用グリーン層25
が、導電性ペースト体24の少なくとも一部を覆い、か
つセラミックグリーンシート23の特定の界面の一部に
沿うようにさらに形成されている。
【0039】上述した導電性ペースト体24としては、
種々の態様のものがあり、図示の実施形態では、セラミ
ックグリーンシートの特定の界面に沿って形成される膜
状の導電性ペースト膜26および27、特定のセラミッ
クグリーンシート23を貫通するように形成されるビア
ホール導体用の柱状の導電性ペースト柱28、ならびに
生の積層体21の外表面上に形成される膜状の導電性ペ
ースト膜29がある。また、複数の導電性ペースト膜2
6が、積層方向に重なるように並んで配列されている。
種々の態様のものがあり、図示の実施形態では、セラミ
ックグリーンシートの特定の界面に沿って形成される膜
状の導電性ペースト膜26および27、特定のセラミッ
クグリーンシート23を貫通するように形成されるビア
ホール導体用の柱状の導電性ペースト柱28、ならびに
生の積層体21の外表面上に形成される膜状の導電性ペ
ースト膜29がある。また、複数の導電性ペースト膜2
6が、積層方向に重なるように並んで配列されている。
【0040】導電性ペースト膜26および27に対して
は、収縮抑制用グリーン層25が、これら導電性ペース
ト膜26および27の各々に接するように形成されてい
る。また、導電性ペースト柱28に対しては、導電性ペ
ースト膜27に接するように形成された収縮抑制用グリ
ーン層25の状態からわかるように、この収縮抑制用グ
リーン層25が、導電性ペースト柱28の一方端側を覆
うように形成されている。
は、収縮抑制用グリーン層25が、これら導電性ペース
ト膜26および27の各々に接するように形成されてい
る。また、導電性ペースト柱28に対しては、導電性ペ
ースト膜27に接するように形成された収縮抑制用グリ
ーン層25の状態からわかるように、この収縮抑制用グ
リーン層25が、導電性ペースト柱28の一方端側を覆
うように形成されている。
【0041】このような生の積層体21を得るため、た
とえば、次のような工程が実施される。なお、図2に
は、図1(1)に示した複数のセラミックグリーンシー
ト23のうちの特定のセラミックグリーンシート23
(A)に関連する製造工程が順次示されている。
とえば、次のような工程が実施される。なお、図2に
は、図1(1)に示した複数のセラミックグリーンシー
ト23のうちの特定のセラミックグリーンシート23
(A)に関連する製造工程が順次示されている。
【0042】まず、複数のセラミックグリーンシート2
3が用意される。セラミックグリーンシート23は、前
述したように、低温焼結セラミック材料を含むものであ
るが、低温焼結セラミック材料としては、たとえば10
00℃以下の温度で焼結され得るものが用いられる。こ
のような低温焼結セラミック材料は、たとえば、結晶化
ガラス、またはガラスとセラミックとの混合物をもって
構成され、より具体的には、BaO−Al2 O3 −Si
O2 系低温焼結セラミック材料が有利に用いられる。図
2(1)には、前述したように、特定のセラミックグリ
ーンシート23(A)が示されている。
3が用意される。セラミックグリーンシート23は、前
述したように、低温焼結セラミック材料を含むものであ
るが、低温焼結セラミック材料としては、たとえば10
00℃以下の温度で焼結され得るものが用いられる。こ
のような低温焼結セラミック材料は、たとえば、結晶化
ガラス、またはガラスとセラミックとの混合物をもって
構成され、より具体的には、BaO−Al2 O3 −Si
O2 系低温焼結セラミック材料が有利に用いられる。図
2(1)には、前述したように、特定のセラミックグリ
ーンシート23(A)が示されている。
【0043】次に、図2(2)に示すように、特定のセ
ラミックグリーンシート23(A)に、貫通孔30が設
けられる。
ラミックグリーンシート23(A)に、貫通孔30が設
けられる。
【0044】次に、図2(3)に示すように、貫通孔3
0内に導電性ペーストを付与することによって導電性ペ
ースト柱28が形成される。
0内に導電性ペーストを付与することによって導電性ペ
ースト柱28が形成される。
【0045】次に、図2(4)に示すように、セラミッ
クグリーンシート23(A)上に、導電性ペースト膜2
6および27が、導電性ペーストをたとえばスクリーン
印刷することによって形成される。
クグリーンシート23(A)上に、導電性ペースト膜2
6および27が、導電性ペーストをたとえばスクリーン
印刷することによって形成される。
【0046】なお、導電性ペースト膜26および27の
形成と導電性ペースト柱28の形成とを同時に行なって
もよい。
形成と導電性ペースト柱28の形成とを同時に行なって
もよい。
【0047】次に、図2(5)に示すように、導電性ペ
ースト膜26および27の各々を覆うようにセラミック
グリーンシート23(A)上に収縮抑制用グリーン層2
5が形成される。収縮抑制用グリーン層25は、収縮抑
制用セラミック材料を含むセラミックペーストをたとえ
ばスクリーン印刷によって付与することによって形成さ
れる。収縮抑制用グリーン層25の厚みは、たとえば、
1〜20μmの範囲内に選ばれる。
ースト膜26および27の各々を覆うようにセラミック
グリーンシート23(A)上に収縮抑制用グリーン層2
5が形成される。収縮抑制用グリーン層25は、収縮抑
制用セラミック材料を含むセラミックペーストをたとえ
ばスクリーン印刷によって付与することによって形成さ
れる。収縮抑制用グリーン層25の厚みは、たとえば、
1〜20μmの範囲内に選ばれる。
【0048】上述の収縮抑制用セラミック材料として
は、前述した低温焼結セラミック材料が1000℃以下
の温度で焼結され得るものである場合には、たとえばア
ルミナまたはジルコニアを主成分とするものが有利に用
いられる。さらに、MgO、TiO2 、BaTiO3 、
SiCまたはAlNを主成分とするものを、収縮抑制用
セラミック材料として用いてもよい。
は、前述した低温焼結セラミック材料が1000℃以下
の温度で焼結され得るものである場合には、たとえばア
ルミナまたはジルコニアを主成分とするものが有利に用
いられる。さらに、MgO、TiO2 、BaTiO3 、
SiCまたはAlNを主成分とするものを、収縮抑制用
セラミック材料として用いてもよい。
【0049】なお、収縮抑制用グリーン層25は、図示
したように、導電性ペースト膜26および27の各々を
全面的に覆うように形成するのではなく、その一部のみ
を覆うように形成してもよい。たとえば、導電性ペース
ト膜が、比較的広い面積のランド部と細線状のライン部
とを有している場合、ランド部のみを収集抑制用グリー
ン層で覆うようにしてもよい。
したように、導電性ペースト膜26および27の各々を
全面的に覆うように形成するのではなく、その一部のみ
を覆うように形成してもよい。たとえば、導電性ペース
ト膜が、比較的広い面積のランド部と細線状のライン部
とを有している場合、ランド部のみを収集抑制用グリー
ン層で覆うようにしてもよい。
【0050】また、図2に示した製造手順では、導電性
ペースト膜26および27を形成した後に、収縮抑制用
グリーン層25を形成するようにしたが、ビアホール導
体用の導電性ペースト柱28に接続される導電性ペース
ト膜27を除く、導電性ペースト膜26については、先
に収縮抑制用グリーン層25をセラミックグリーンシー
ト23(A)上に形成し、次いで、収縮抑制用グリーン
層25を覆うようにセラミックグリーンシート23
(A)上に導電性ペースト膜26を形成するようにして
もよい。
ペースト膜26および27を形成した後に、収縮抑制用
グリーン層25を形成するようにしたが、ビアホール導
体用の導電性ペースト柱28に接続される導電性ペース
ト膜27を除く、導電性ペースト膜26については、先
に収縮抑制用グリーン層25をセラミックグリーンシー
ト23(A)上に形成し、次いで、収縮抑制用グリーン
層25を覆うようにセラミックグリーンシート23
(A)上に導電性ペースト膜26を形成するようにして
もよい。
【0051】図1(1)に示した他のセラミックグリー
ンシート23についても、図2に示した工程と実質的に
同様な工程を経て処理され、これら複数のセラミックグ
リーンシート23が積層され、次いで、積層方向にプレ
スされることによって、生の積層体21が得られる。
ンシート23についても、図2に示した工程と実質的に
同様な工程を経て処理され、これら複数のセラミックグ
リーンシート23が積層され、次いで、積層方向にプレ
スされることによって、生の積層体21が得られる。
【0052】なお、図1(1)に示した生の積層体21
にあっては、導電性ペースト膜26および27のすべて
にそれぞれ関連して収縮抑制用グリーン層23が形成さ
れたが、生の積層体に形成される導電性ペースト膜のい
くつかについては、収縮抑制用グリーン層が形成されな
い場合も、この発明の範囲内にあるものと理解すべきで
ある。
にあっては、導電性ペースト膜26および27のすべて
にそれぞれ関連して収縮抑制用グリーン層23が形成さ
れたが、生の積層体に形成される導電性ペースト膜のい
くつかについては、収縮抑制用グリーン層が形成されな
い場合も、この発明の範囲内にあるものと理解すべきで
ある。
【0053】次に、生の積層体21は、セラミックグリ
ーンシート23に含まれる低温焼結セラミック材料が焼
結する温度で焼成され、それによって、図1(2)に示
すような多層セラミック基板22が得られる。
ーンシート23に含まれる低温焼結セラミック材料が焼
結する温度で焼成され、それによって、図1(2)に示
すような多層セラミック基板22が得られる。
【0054】この多層セラミック基板22は、前述した
セラミックグリーンシート23に由来するセラミック層
31と、導電性ペースト膜26および27に由来する内
部導体膜32および33と、導電性ペースト柱28に由
来するビアホール導体34と、導電性ペースト膜29に
由来する外部導体膜35とを備えている。また、収縮抑
制用グリーン層25は、収縮抑制層36として残存して
いる。
セラミックグリーンシート23に由来するセラミック層
31と、導電性ペースト膜26および27に由来する内
部導体膜32および33と、導電性ペースト柱28に由
来するビアホール導体34と、導電性ペースト膜29に
由来する外部導体膜35とを備えている。また、収縮抑
制用グリーン層25は、収縮抑制層36として残存して
いる。
【0055】多層セラミック基板22を得るための焼成
工程において、収縮抑制用グリーン層25は、それ自身
実質的に収縮しないため、導電性ペースト膜26および
27ならびに導電性ペースト柱28に対して、セラミッ
クグリーンシート23の主面方向での収縮を抑制するよ
うな拘束力を及ぼす。他方、導電性ペースト膜26およ
び27ならびに導電性ペースト柱28においては、あく
までも焼結が進み、体積収縮が生じる。
工程において、収縮抑制用グリーン層25は、それ自身
実質的に収縮しないため、導電性ペースト膜26および
27ならびに導電性ペースト柱28に対して、セラミッ
クグリーンシート23の主面方向での収縮を抑制するよ
うな拘束力を及ぼす。他方、導電性ペースト膜26およ
び27ならびに導電性ペースト柱28においては、あく
までも焼結が進み、体積収縮が生じる。
【0056】しかしながら、上述のように体積収縮が生
じようとしている導電性ペースト膜26および27なら
びに導電性ペースト柱28は、前述したように、収縮抑
制用グリーン層25による拘束力のために、その主面方
向での収縮が抑制されるため、実質的にセラミックグリ
ーンシート23の厚み方向にのみ収縮することになる。
じようとしている導電性ペースト膜26および27なら
びに導電性ペースト柱28は、前述したように、収縮抑
制用グリーン層25による拘束力のために、その主面方
向での収縮が抑制されるため、実質的にセラミックグリ
ーンシート23の厚み方向にのみ収縮することになる。
【0057】他方、導電性ペースト膜26および27な
らびに導電性ペースト柱28の周囲に存在するセラミッ
クグリーンシート23にあっては、その大部分が収縮抑
制用グリーン層25によって拘束されることがないの
で、主面方向および厚み方向の双方に関して収縮する。
らびに導電性ペースト柱28の周囲に存在するセラミッ
クグリーンシート23にあっては、その大部分が収縮抑
制用グリーン層25によって拘束されることがないの
で、主面方向および厚み方向の双方に関して収縮する。
【0058】ここで、厚み方向の収縮について注目する
と、厚み方向にのみ収縮する導電性ペースト膜26およ
び27ならびに導電性ペースト柱28の方が、主面方向
および厚み方向の双方に収縮するセラミックグリーンシ
ート23に比べて、その収縮の度合いが高い。
と、厚み方向にのみ収縮する導電性ペースト膜26およ
び27ならびに導電性ペースト柱28の方が、主面方向
および厚み方向の双方に収縮するセラミックグリーンシ
ート23に比べて、その収縮の度合いが高い。
【0059】このような焼成時の収縮の挙動の差によっ
て、図4(2)に示した隆起13〜15のような隆起
が、焼成後の多層セラミック基板22において生じよう
とする傾向が減じられ、そのため、得られた多層セラミ
ック基板22において、その外表面をより平坦な状態に
近づけることができる。
て、図4(2)に示した隆起13〜15のような隆起
が、焼成後の多層セラミック基板22において生じよう
とする傾向が減じられ、そのため、得られた多層セラミ
ック基板22において、その外表面をより平坦な状態に
近づけることができる。
【0060】したがって、焼成後の研磨工程を省略する
ことが可能となり、この実施形態のように、外部導体膜
35となるべき導電性ペースト膜29を生の積層体21
の段階で形成しておくことが可能になる。
ことが可能となり、この実施形態のように、外部導体膜
35となるべき導電性ペースト膜29を生の積層体21
の段階で形成しておくことが可能になる。
【0061】また、得られた多層セラミック基板22に
おいて、収縮抑制層36は、収縮抑制用セラミック材料
を含むが、その少なくとも一部には、セラミック層31
に含まれる材料の一部が浸透することによって、固着さ
れた状態となっている。
おいて、収縮抑制層36は、収縮抑制用セラミック材料
を含むが、その少なくとも一部には、セラミック層31
に含まれる材料の一部が浸透することによって、固着さ
れた状態となっている。
【0062】図3は、この発明の他の実施形態による多
層セラミック基板の製造方法を説明するためのもので、
キャビティ40が設けられた生の積層体41を断面図で
示している。
層セラミック基板の製造方法を説明するためのもので、
キャビティ40が設けられた生の積層体41を断面図で
示している。
【0063】生の積層体41は、図1(1)に示した生
の積層体21の場合と同様、低温焼結セラミック材料を
含む、複数の積層されたセラミックグリーンシート42
および43を備えている。ここで、セラミックグリーン
シート42には、キャビティ40を与えるための貫通孔
44が設けられている点で、図1(1)に示した生の積
層体21と異なっている。
の積層体21の場合と同様、低温焼結セラミック材料を
含む、複数の積層されたセラミックグリーンシート42
および43を備えている。ここで、セラミックグリーン
シート42には、キャビティ40を与えるための貫通孔
44が設けられている点で、図1(1)に示した生の積
層体21と異なっている。
【0064】また、生の積層体41は、導電性ペースト
からなる導電性ペースト体45として、セラミックグリ
ーンシート43の特定の界面に沿って形成される膜状の
導電性ペースト膜46を備えている。この実施形態で
は、複数の導電性ペースト膜46が、キャビティ40の
下方において、積層方向に重なるように形成されてい
る。
からなる導電性ペースト体45として、セラミックグリ
ーンシート43の特定の界面に沿って形成される膜状の
導電性ペースト膜46を備えている。この実施形態で
は、複数の導電性ペースト膜46が、キャビティ40の
下方において、積層方向に重なるように形成されてい
る。
【0065】また、生の積層体41には、収縮抑制用セ
ラミック材料を含む収縮抑制用グリーン層47が、導電
性ペースト膜46に接するように形成されている。
ラミック材料を含む収縮抑制用グリーン層47が、導電
性ペースト膜46に接するように形成されている。
【0066】さらに、キャビティ40の底面上には、導
電性ペースト体45としての膜状の導電性ペースト膜4
8が形成されている。この導電性ペースト膜48は、焼
成後において、キャビティ40の底面上に形成される導
電ランドを与えるものである。なお、導電性ペースト膜
48に関連して収縮抑制用グリーン層が形成されていな
いが、このような導電性ペースト膜48に接するよう
に、収集抑制用グリーン層が形成されていてもよい。
電性ペースト体45としての膜状の導電性ペースト膜4
8が形成されている。この導電性ペースト膜48は、焼
成後において、キャビティ40の底面上に形成される導
電ランドを与えるものである。なお、導電性ペースト膜
48に関連して収縮抑制用グリーン層が形成されていな
いが、このような導電性ペースト膜48に接するよう
に、収集抑制用グリーン層が形成されていてもよい。
【0067】生の積層体41は、低温焼結セラミック材
料が焼結する温度で焼成されることによって、目的とす
る多層セラミック基板が得られる。この多層セラミック
基板においても、導電性ペースト膜46等に起因する隆
起の発生が抑制され、したがって、キャビティ40の底
面においても、平坦な面を与えることができる。キャビ
ティ40の底面は、通常の方法では、研磨を行なうこと
が不可能であるので、焼成後の段階で、平坦な面が与え
られていることには大きな意義がある。
料が焼結する温度で焼成されることによって、目的とす
る多層セラミック基板が得られる。この多層セラミック
基板においても、導電性ペースト膜46等に起因する隆
起の発生が抑制され、したがって、キャビティ40の底
面においても、平坦な面を与えることができる。キャビ
ティ40の底面は、通常の方法では、研磨を行なうこと
が不可能であるので、焼成後の段階で、平坦な面が与え
られていることには大きな意義がある。
【0068】すなわち、キャビティ40内に収容される
電子部品(図示せず。)と導電性ペースト膜48によっ
て与えられる導電ランドとの間で適正な電気的接続を達
成することができる。
電子部品(図示せず。)と導電性ペースト膜48によっ
て与えられる導電ランドとの間で適正な電気的接続を達
成することができる。
【0069】なお、図3に示した実施形態とは異なり、
焼成後において、導電性ペースト膜48を形成すること
によって導電ランドを設けるようにする場合にあって
は、導電性ペースト膜48の形成のための印刷を問題な
く行なうことが可能になる。
焼成後において、導電性ペースト膜48を形成すること
によって導電ランドを設けるようにする場合にあって
は、導電性ペースト膜48の形成のための印刷を問題な
く行なうことが可能になる。
【0070】以上、この発明を、図示した実施形態に関
連して説明したが、この発明の範囲内において、その
他、種々の変形例が可能である。
連して説明したが、この発明の範囲内において、その
他、種々の変形例が可能である。
【0071】たとえば、図示の実施形態では、図1に示
すように、外部導体膜35となるべき導電性ペースト膜
29が生の積層体21の段階で形成されていたが、この
ような外部導体膜の少なくとも一部は、焼成後の段階
で、多層セラミック基板22の外表面上に形成するよう
にしてもよい。この場合であっても、多層セラミック基
板22において隆起が生じることが抑制されるので、研
磨工程を経ずに、外部導体膜を形成することが可能にな
る。
すように、外部導体膜35となるべき導電性ペースト膜
29が生の積層体21の段階で形成されていたが、この
ような外部導体膜の少なくとも一部は、焼成後の段階
で、多層セラミック基板22の外表面上に形成するよう
にしてもよい。この場合であっても、多層セラミック基
板22において隆起が生じることが抑制されるので、研
磨工程を経ずに、外部導体膜を形成することが可能にな
る。
【0072】また、たとえば生の積層体21を得るた
め、各々別個に用意された複数のセラミックグリーンシ
ート23を積層することを行なったが、セラミックスラ
リーの印刷を繰り返すことによって、生の積層体を得る
ようにしてもよい。この場合、繰り返されるセラミック
スラリーの印刷工程の間に、導電性ペーストの印刷や収
縮抑制用セラミック材料の印刷が実施されることにな
る。
め、各々別個に用意された複数のセラミックグリーンシ
ート23を積層することを行なったが、セラミックスラ
リーの印刷を繰り返すことによって、生の積層体を得る
ようにしてもよい。この場合、繰り返されるセラミック
スラリーの印刷工程の間に、導電性ペーストの印刷や収
縮抑制用セラミック材料の印刷が実施されることにな
る。
【0073】また、図示した配線導体は、典型的なもの
のみを図示したものと理解すべきである。すなわち、実
際の多層セラミック基板にあっては、配線導体がより複
雑な形態をもって形成されていることが多い。
のみを図示したものと理解すべきである。すなわち、実
際の多層セラミック基板にあっては、配線導体がより複
雑な形態をもって形成されていることが多い。
【0074】
【発明の効果】以上のように、この発明に係る多層セラ
ミック基板の製造方法によれば、焼成されるべき生の積
層体には、収縮抑制用グリーン層が、導電性ペースト体
の少なくとも一部を覆い、かつセラミックグリーンシー
トの特定の界面の一部に沿うように形成されているの
で、焼成工程において、収縮抑制用グリーン層による収
縮抑制効果が導電性ペースト体に及ぼされることによっ
て、導電性ペースト体の主面方向での収縮が抑制され
る。そのため、導電性ペースト体の厚み方向の収縮の度
合いを、周囲のセラミックグリーンシートの厚み方向の
収縮の度合いよりも高くすることができ、その結果、導
電性ペースト体が形成された位置において、多層セラミ
ック基板の表面に隆起を生じにくくすることができる。
ミック基板の製造方法によれば、焼成されるべき生の積
層体には、収縮抑制用グリーン層が、導電性ペースト体
の少なくとも一部を覆い、かつセラミックグリーンシー
トの特定の界面の一部に沿うように形成されているの
で、焼成工程において、収縮抑制用グリーン層による収
縮抑制効果が導電性ペースト体に及ぼされることによっ
て、導電性ペースト体の主面方向での収縮が抑制され
る。そのため、導電性ペースト体の厚み方向の収縮の度
合いを、周囲のセラミックグリーンシートの厚み方向の
収縮の度合いよりも高くすることができ、その結果、導
電性ペースト体が形成された位置において、多層セラミ
ック基板の表面に隆起を生じにくくすることができる。
【0075】したがって、焼成後において、研磨工程を
省略することが可能になるので、前述したような研磨工
程に起因する問題、たとえば、研磨代の変動、それによ
る多層セラミック基板の厚みの過度の減少、内部導体膜
の露出、さらには、チッピングや欠けなどの損傷等の問
題に遭遇することはない。
省略することが可能になるので、前述したような研磨工
程に起因する問題、たとえば、研磨代の変動、それによ
る多層セラミック基板の厚みの過度の減少、内部導体膜
の露出、さらには、チッピングや欠けなどの損傷等の問
題に遭遇することはない。
【0076】この発明に係る多層セラミック基板の製造
方法において、導電性ペースト体として、セラミックグ
リーンシートの特定の界面に沿って形成される膜状の導
電性ペースト膜が形成される場合、収縮抑制用グリーン
層が、この導電性ペースト膜の少なくとも一部に接する
ように形成されると、上述したような隆起発生を抑制す
る効果がより高められる。
方法において、導電性ペースト体として、セラミックグ
リーンシートの特定の界面に沿って形成される膜状の導
電性ペースト膜が形成される場合、収縮抑制用グリーン
層が、この導電性ペースト膜の少なくとも一部に接する
ように形成されると、上述したような隆起発生を抑制す
る効果がより高められる。
【0077】また、複数の導電性ペースト膜が積層方向
に重なるように形成されている場合には、より隆起が生
じやすいので、この発明による効果がより顕著に現れ
る。
に重なるように形成されている場合には、より隆起が生
じやすいので、この発明による効果がより顕著に現れ
る。
【0078】また、導電性ペースト膜として、特定のセ
ラミックグリーンシートを貫通するように形成されるビ
アホール導体用の柱状の導電性ペースト柱が形成される
場合、収縮抑制用グリーン層が、この導電性ペースト柱
の少なくとも一方端側を覆うように形成されると、前述
したような隆起抑制の効果がより高められる。
ラミックグリーンシートを貫通するように形成されるビ
アホール導体用の柱状の導電性ペースト柱が形成される
場合、収縮抑制用グリーン層が、この導電性ペースト柱
の少なくとも一方端側を覆うように形成されると、前述
したような隆起抑制の効果がより高められる。
【0079】また、生の積層体にキャビティが設けられ
ている場合、この発明に係る製造方法を適用すれば、キ
ャビティの底面での平坦性を確保することができる。し
たがって、キャビティの底面上に膜状の導電性ペースト
膜を形成しておけば、焼成後において、この導電性ペー
スト膜によって平坦な導電ランドを与えることができ、
他の電子部品との適正な電気的接続を達成することがで
きる。
ている場合、この発明に係る製造方法を適用すれば、キ
ャビティの底面での平坦性を確保することができる。し
たがって、キャビティの底面上に膜状の導電性ペースト
膜を形成しておけば、焼成後において、この導電性ペー
スト膜によって平坦な導電ランドを与えることができ、
他の電子部品との適正な電気的接続を達成することがで
きる。
【0080】また、生の積層体の外表面上に膜状の導電
性ペースト膜を形成しておけば、得られた多層セラミッ
ク基板の外表面に隆起が生じにくいので、この導電性ペ
ースト膜をもって適正な外部導体膜を形成することが可
能となる。したがって、焼成後における外部導体膜を形
成する煩雑さを解消することができる。
性ペースト膜を形成しておけば、得られた多層セラミッ
ク基板の外表面に隆起が生じにくいので、この導電性ペ
ースト膜をもって適正な外部導体膜を形成することが可
能となる。したがって、焼成後における外部導体膜を形
成する煩雑さを解消することができる。
【0081】また、この発明に係る多層セラミック基板
によれば、配線導体に関連して設けられる収縮抑制層に
対して、セラミック層とは異なる電気的特性を与えるこ
とが可能であるので、多層セラミック基板において特性
の調整または多様化を、このような収縮抑制層によって
図ることも可能になる。
によれば、配線導体に関連して設けられる収縮抑制層に
対して、セラミック層とは異なる電気的特性を与えるこ
とが可能であるので、多層セラミック基板において特性
の調整または多様化を、このような収縮抑制層によって
図ることも可能になる。
【図1】この発明の一実施形態による多層セラミック基
板の製造方法に含まれる典型的な工程を順次図解的に示
す断面図である。
板の製造方法に含まれる典型的な工程を順次図解的に示
す断面図である。
【図2】図1に示した特定のセラミックグリーンシート
23(A)に関連して施される処理を順次図解的に示す
断面図である。
23(A)に関連して施される処理を順次図解的に示す
断面図である。
【図3】この発明の他の実施形態による多層セラミック
基板の製造方法において用意される生の積層体41を図
解的に示す断面図である。
基板の製造方法において用意される生の積層体41を図
解的に示す断面図である。
【図4】この発明にとって興味ある多層セラミック基板
の従来の製造方法に含まれる典型的な工程を順次図解的
に示す断面図である。
の従来の製造方法に含まれる典型的な工程を順次図解的
に示す断面図である。
21,41 生の積層体 22 多層セラミック基板 23,42,43 セラミックグリーンシート 24,45 導電性ペースト体 25,47 収縮抑制用グリーン層 26,27,29,46,48 導電性ペースト膜 28 導電性ペースト柱 30 貫通孔 31 セラミック層 32,33 内部導体膜 34 ビアホール導体 35 外部導体膜 36 収縮抑制層
Claims (17)
- 【請求項1】 低温焼結セラミック材料を含む、複数の
積層されたセラミックグリーンシートと、導電性ペース
トからなり、かつ前記セラミックグリーンシートの特定
のものに関連して設けられる、配線導体を形成するため
の導電性ペースト体とを備える、生の積層体を用意する
工程と、 前記生の積層体を、前記低温焼結セラミック材料が焼結
する温度で焼成する工程とを備え、 用意される前記生の積層体には、前記低温焼結セラミッ
ク材料の焼結温度では焼結しない収縮抑制用セラミック
材料を含む、収縮抑制用グリーン層が、前記導電性ペー
スト体の少なくとも一部を覆い、かつ前記セラミックグ
リーンシートの特定の界面の一部に沿うようにさらに形
成されていることを特徴とする、多層セラミック基板の
製造方法。 - 【請求項2】 前記導電性ペースト体は、前記セラミッ
クグリーンシートの特定の界面に沿って形成される膜状
の導電性ペースト膜を含み、前記収縮抑制用グリーン層
は、前記導電性ペースト膜の少なくとも一部に接するよ
うに形成される、請求項1に記載の多層セラミック基板
の製造方法。 - 【請求項3】 前記生の積層体において、複数の前記導
電性ペースト膜が積層方向に重なるように形成されてい
る、請求項2に記載の多層セラミック基板の製造方法。 - 【請求項4】 前記生の積層体を用意する工程は、複数
の前記セラミックグリーンシートを用意する工程と、特
定の前記セラミックグリーンシート上に、前記導電性ペ
ースト膜を形成する工程と、前記導電性ペースト膜の少
なくとも一部を覆うように前記セラミックグリーンシー
ト上に前記収縮抑制用グリーン層を形成する工程とを備
える、請求項2または3に記載の多層セラミック基板の
製造方法。 - 【請求項5】 前記生の積層体を用意する工程は、複数
の前記セラミックグリーンシートを用意する工程と、特
定の前記セラミックグリーンシート上に、前記収縮抑制
用グリーン層を形成する工程と、前記収縮抑制用グリー
ン層の少なくとも一部を覆うように前記セラミックグリ
ーンシート上に前記導電性ペースト膜を形成する工程と
を備える、請求項2または3に記載の多層セラミック基
板の製造方法。 - 【請求項6】 前記導電性ペースト体は、特定の前記セ
ラミックグリーンシートを貫通するように形成されるビ
アホール導体用の柱状の導電性ペースト柱を含み、前記
収縮抑制用グリーン層は、前記導電性ペースト柱の少な
くとも一方端側を覆うように形成される、請求項1ない
し5のいずれかに記載の多層セラミック基板の製造方
法。 - 【請求項7】 前記生の積層体を用意する工程は、複数
の前記セラミックグリーンシートを用意する工程と、特
定の前記セラミックグリーンシートに貫通孔を設ける工
程と、前記貫通孔内に導電性ペーストを付与することに
よって前記導電性ペースト柱を形成する工程と、前記導
電性ペースト柱の一方端側を覆うように前記セラミック
グリーンシート上に前記収縮抑制用グリーン層を形成す
る工程とを備える、請求項6に記載の多層セラミック基
板の製造方法。 - 【請求項8】 前記生の積層体には、キャビティが設け
られている、請求項1ないし7のいずれかに記載の多層
セラミック基板の製造方法。 - 【請求項9】 前記導電性ペースト体は、前記キャビテ
ィの底面上に形成される膜状の導電性ペースト膜を含
む、請求項8に記載の多層セラミック基板の製造方法。 - 【請求項10】 前記導電性ペースト体は、前記生の積
層体の外表面上に形成される膜状の導電性ペースト膜を
含む、請求項1ないし9のいずれかに記載の多層セラミ
ック基板の製造方法。 - 【請求項11】 請求項1ないし10のいずれかに記載
の製造方法によって得られた、多層セラミック基板。 - 【請求項12】 低温焼結セラミック材料の焼結体から
なる、複数の積層されたセラミック層と、 前記セラミック層の特定のものに関連して設けられた、
配線導体と、 前記配線導体の少なくとも一部を覆い、かつ前記セラミ
ック層の特定の界面の一部に沿うように形成された、収
縮抑制層とを備え、 前記収縮抑制層は、前記低温焼結セラミック材料の焼結
温度では焼結しない収縮抑制用セラミック材料を含み、
かつ、前記収縮抑制層の少なくとも一部には、前記セラ
ミック層に含まれる材料の一部が浸透している、多層セ
ラミック基板。 - 【請求項13】 前記配線導体は、前記セラミック層の
特定の界面に沿って形成される内部導体膜を含み、前記
収縮抑制層は、前記内部導体膜の少なくとも一部に接す
るように形成されている、請求項12に記載の多層セラ
ミック基板。 - 【請求項14】 前記配線導体は、特定の前記セラミッ
ク層を貫通するように形成されるビアホール導体を含
み、前記収縮抑制層は、前記ビアホール導体の少なくと
も一方端側を覆うように形成されている、請求項12ま
たは13に記載の多層セラミック基板。 - 【請求項15】 当該多層セラミック基板には、キャビ
ティが設けられている、請求項12ないし14のいずれ
かに記載の多層セラミック基板。 - 【請求項16】 前記配線導体は、前記キャビティの底
面上に形成される導電ランドを含む、請求項15に記載
の多層セラミック基板。 - 【請求項17】 前記配線導体は、当該多層セラミック
基板の外表面上に形成される外部導体膜を含む、請求項
12ないし16のいずれかに記載の多層セラミック基
板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000064381A JP2001257473A (ja) | 2000-03-09 | 2000-03-09 | 多層セラミック基板およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000064381A JP2001257473A (ja) | 2000-03-09 | 2000-03-09 | 多層セラミック基板およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001257473A true JP2001257473A (ja) | 2001-09-21 |
Family
ID=18584093
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000064381A Pending JP2001257473A (ja) | 2000-03-09 | 2000-03-09 | 多層セラミック基板およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001257473A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003249756A (ja) * | 2002-02-26 | 2003-09-05 | Kyocera Corp | ガラスセラミック基板の製造方法 |
JP2007066933A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Murata Mfg Co Ltd | 多層セラミック基板およびその製造方法 |
JP2008258214A (ja) * | 2007-03-31 | 2008-10-23 | Sumitomo Metal Electronics Devices Inc | 発光素子実装用多層配線基板とその製造方法 |
JP2012015177A (ja) * | 2010-06-29 | 2012-01-19 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック多層基板 |
CN104284531A (zh) * | 2013-07-04 | 2015-01-14 | 株式会社村田制作所 | 多层布线基板的制造方法、及具备利用该方法制造出的多层布线基板的探针卡、以及多层布线基板 |
-
2000
- 2000-03-09 JP JP2000064381A patent/JP2001257473A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003249756A (ja) * | 2002-02-26 | 2003-09-05 | Kyocera Corp | ガラスセラミック基板の製造方法 |
JP2007066933A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Murata Mfg Co Ltd | 多層セラミック基板およびその製造方法 |
JP4687333B2 (ja) * | 2005-08-29 | 2011-05-25 | 株式会社村田製作所 | 多層セラミック基板およびその製造方法 |
JP2008258214A (ja) * | 2007-03-31 | 2008-10-23 | Sumitomo Metal Electronics Devices Inc | 発光素子実装用多層配線基板とその製造方法 |
JP2012015177A (ja) * | 2010-06-29 | 2012-01-19 | Murata Mfg Co Ltd | セラミック多層基板 |
CN104284531A (zh) * | 2013-07-04 | 2015-01-14 | 株式会社村田制作所 | 多层布线基板的制造方法、及具备利用该方法制造出的多层布线基板的探针卡、以及多层布线基板 |
JP2015015339A (ja) * | 2013-07-04 | 2015-01-22 | 株式会社村田製作所 | 多層配線基板の製造方法およびこの方法により製造される多層配線基板を備えるプローブカード並びに多層配線基板 |
US9523709B2 (en) | 2013-07-04 | 2016-12-20 | Murata Manufcaturing Co., Ltd. | Method of manufacturing multilayer wiring board, probe card including multilayer wiring board manufactured by the method, and multilayer wiring board |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2001196228A (ja) | 積層セラミック電子部品の製造方法及び積層セラミック電子部品 | |
JPH08130160A (ja) | 積層セラミック電子部品の製造方法 | |
JP2001230548A (ja) | 多層セラミック基板の製造方法 | |
JP2002164654A (ja) | 多層セラミック基板およびその製造方法 | |
JP2004063664A (ja) | キャビティ付き多層セラミック基板 | |
US20020026978A1 (en) | Multilayer ceramic substrate and manufacturing method therefor | |
JP3646587B2 (ja) | 多層セラミック基板およびその製造方法 | |
KR100896609B1 (ko) | 다층 세라믹 기판의 제조 방법 | |
JP2004071852A (ja) | 積層基板 | |
JP2001257473A (ja) | 多層セラミック基板およびその製造方法 | |
JP4000050B2 (ja) | セラミック積層体の製法 | |
JP4432170B2 (ja) | 多層セラミック基板およびその製造方法 | |
JP2001156454A (ja) | 多層セラミック基板およびその製造方法 | |
JPH11354924A (ja) | 多層セラミック基板の製造方法 | |
JP4599706B2 (ja) | 多層セラミック基板の製造方法 | |
JP2004095767A (ja) | セラミック多層基板およびその製造方法 | |
JP2004165343A (ja) | 積層型セラミック電子部品およびその製造方法 | |
JPH1187918A (ja) | 多層セラミック基板およびその製造方法 | |
JPH10112417A (ja) | 積層セラミック電子部品及びその製造方法 | |
JP3413880B2 (ja) | 多層セラミック焼結体の製造方法 | |
JPH04125990A (ja) | 多層セラミックス回路基板およびその製造方法 | |
JP2001160683A (ja) | 多層セラミック基板およびその製造方法 | |
JPH06252556A (ja) | 多層セラミック基板 | |
JP3876720B2 (ja) | キャビティ付き多層セラミック基板の製造方法 | |
JP2010050390A (ja) | 積層型コイル部品の製造方法 |