JP2001240482A - 耐プラズマ部材、高周波透過部材およびプラズマ装置 - Google Patents

耐プラズマ部材、高周波透過部材およびプラズマ装置

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JP2001240482A
JP2001240482A JP2000054852A JP2000054852A JP2001240482A JP 2001240482 A JP2001240482 A JP 2001240482A JP 2000054852 A JP2000054852 A JP 2000054852A JP 2000054852 A JP2000054852 A JP 2000054852A JP 2001240482 A JP2001240482 A JP 2001240482A
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plasma
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corrosion
resistant
oxide
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Kenichi Tajima
健一 田島
Kazuhiro Nishizono
和博 西薗
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Kyocera Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】プラズマに対する耐食性が高く、低誘電損失・
高強度であり、製品寿命が長く信頼性の高い耐プラズマ
部材を提供する。 【解決手段】窒化珪素質焼結体からなる基体11の表面
に、SiO2または周期律表第3a族元素と珪素との複
合酸化物からなる中間層12を介して、金属のフッ化
物、酸化物および窒化物のうち少なくとも1種からなる
耐食性表面層13を形成してなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、反応性ガスに高電
力あるいはマイクロ波を印加してプラズマを発生させる
装置に使用される耐プラズマ部材および高周波透過部材
とこれらを用いたプラズマ装置に関するものであり、例
えば、半導体製造装置、液晶製造装置、感光ドラム製造
装置、ダイヤモンド成膜装置、核融合装置等に用いられ
る耐プラズマ部材、特に高周波を透過する導入窓、シャ
ワーヘッド、クランプリング等に好適なものであり、プ
ラズマ装置はCVDやPVDなどの成膜装置やエッチン
グ装置などのプラズマを発生する装置である。
【0002】
【従来技術】現在、プラズマ装置は半導体や液晶などの
デバイスを製造する工程、エッチングを用いて形成され
るマイクロマシンの製造工程、配線基板を形成する電子
回路の製造工程、スパッタリングやプラズマCVDなど
の薄膜製造工程およびその他のエッチングを伴う工程な
ど、広範な製造工程においてプラズマ装置が用いられて
いる。
【0003】プラズマ装置とは、特定のガスの一部をイ
オン化し、電子とイオンと中性粒子からなる気体を形成
するための装置であって、少なくとも真空容器と、ガス
導入装置とプラズマ発生装置と、被処理物を保持する固
定治具とを具備する装置であり、具体的には核融合装
置、プラズマCVDやスパッタやイオンプレーティング
などの薄膜形成装置、RIE(反応性イオンエッチン
グ)や高密度イオンエッチング装置などのエッチャーな
どが挙げられる。
【0004】プラズマは、直流、交流、高周波などによ
り電磁場を形成し、ガスをイオン化することによって発
生するが、中でも、0.4〜13.56MHzの高周波
や0.4〜10GHzのマイクロ波を用いて反応性ガス
のプラズマを発生させるプラズマ処理装置が多用されて
いる。
【0005】例えば、半導体製造工程や他のエッチング
工程を伴う製造工程において用いられるエッチング装置
においては、装置内のガスに平板電極やコイル状の誘導
電極に高周波を印加したり、高周波透過部材を通してマ
イクロ波を装置内に導入してプラズマを発生させ、腐食
性ガスのプラズマ雰囲気中で被処理物の表面のエッチン
グ処理等を行っている。
【0006】特に、最近の半導体製造においてはスルー
プットや成膜の均一性を向上させるため、プラズマの高
密度化が急速に進んでおり、そのために高電力で処理が
行われる。その結果、プラズマの周囲に配置している部
材の温度が高くなるとともに、化学的な活性種の濃度が
高まり、その結果プラズマの腐食性が高くなっている。
【0007】これらプラズマに晒される部分の多くには
耐プラズマ性に優れるアルミニウムやその他の金属また
は各種のセラミックスが用いられてきた。しかし、近年
の高密度プラズマの利用により、これらの部材には処理
に使用されるハロゲンガスプラズマに対する耐食性と同
時に信頼性が要求されている。
【0008】特に、マイクロ波、ミリ波等の高周波を用
いてプラズマを生成する装置の高周波導入部には、高周
波を反射する金属を用いることができないため高周波の
透過性の良いセラミックスで構成された高周波透過部材
が用いられている。この高周波透過部材は、装置内部が
真空になるため、高周波透過性(低誘電率、低誘電損失
性)とともに、温度上昇や急激な温度変化に耐える耐熱
性、耐熱衝撃性及び真空気密性が必要とされるが、近年
のプラズマの高温化、高密度化に伴って、耐プラズマ部
材、特に透過部材において、さらに高性能、高信頼性が
要求されている。
【0009】これら高周波透過部材には、これまで高周
波透過性、真空気密性を重視し低誘電率、低誘電損失で
緻密体である石英ガラス、アルミナセラミックス、単結
晶アルミナ(サファイア)、窒化アルミニウム(Al
N)、ベリリア(BeO)が主に用いられている。ま
た、特開平2−26872号公報には、耐食性の高い窒
化アルミニウムセラミックスにて導入窓を構成する方法
が、特開平9−67166号公報には、高強度で低誘電
損失の窒化珪素の上にアルミナや窒化アルミニウム等の
耐プラズマ性に優れる膜を被覆する手法が提案されてい
る。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
アルミナなどの耐プラズマ部材あるいは高周波透過部材
に使用されるサファイアでは、機械的特性、耐熱衝撃性
が悪いためプラズマの高温化に対応できず、また透過部
材には大電力の高周波を透過させると、導入窓の局部的
な温度上昇により、例えば導入窓にクラックや溶融によ
るピンホールが発生しやすいという問題があった。
【0011】また、アルミナや窒化珪素などの材料で
は、耐プラズマ性が十分とは言えず、特に半導体、液晶
のエッチング工程ではCF系、Cl系ガスを使用するた
め、F、Clプラズマにより導入窓もエッチングされ、
その結果プラズマが不安定となり、信頼性に欠けるとい
う問題があった。
【0012】また、特開平2−26872号公報に記載
されているAlNは、耐プラズマ性に優れるものの、誘
電損失が窒化珪素やアルミナに比べて大きく、結晶粒径
にもよるが1GHz付近で誘電損失が極大を持つため、
部材が必要以上に発熱し、破壊したり、部材表面での腐
食が急激に進んで部材寿命が短くなるという問題があっ
た。
【0013】さらに、特開平9−67166号公報のよ
うに、機械的強度が高く低誘電損失の窒化珪素上に耐食
性の高い被覆膜を形成することが記載されているが、基
板と被覆膜との熱膨張率差が大きいため、被覆膜が剥離
しやすいという問題があった。
【0014】本発明は、プラズマに対する耐食性が高
く、低誘電損失・高強度であり、信頼性の高い耐プラズ
マ部材、高周波透過部材およびプラズマ装置を提供する
ことを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明は、基体と、中間
層と、耐食性表面層とによって構成し、それらを適切な
材料によって形成することで、耐食性と、高強度と、低
誘電損失とを実現でき、部材および装置の信頼性を向上
できるという知見に基づくものである。
【0016】すなわち、本発明の耐プラズマ部材は、窒
化珪素質焼結体からなる基体の表面に、SiO2または
周期律表第3a族元素と珪素との複合酸化物からなる中
間層を介して、金属のフッ化物、酸化物および窒化物の
うち少なくとも1種からなる耐食性表面層を形成してな
ることを特徴とする。
【0017】基体として、高強度、低誘電損失である窒
化珪素質焼結体を用い、表面層として耐食性の高い金属
のフッ化物、酸化物および窒化物のうち少なくとも1種
からなる耐食性表面層を配置すると共に、基体と耐食性
表面層間の中間層としてSiO2または周期律表第3a
族元素と珪素との複合酸化物を用いることによって、基
体と耐食性表面層との密着性を向上することができる。
【0018】特に、前記窒化珪素質焼結体が、窒化珪素
を主成分とし、少なくとも周期律表第3a族元素を含有
し、アルミニウムの含有量が酸化物換算量で全量中3重
量%以下であるとともに、相対密度が97%以上である
ことが好ましい。これにより、窒化珪素質焼結体がより
低損失で高強度になるため、耐食性がさらに改善し、破
壊に対する信頼性も高まる効果がある。
【0019】また、本発明の高周波透過部材は、10G
Hzにおける前記基体の誘電損失が1×10-3以下であ
る本発明の耐プラズマ部材からなることを特徴とする。
これにより、クラックやピンホールなどの発生が抑制さ
れ、機械的破壊に対して信頼性が高く、かつ耐食性が高
く寿命の長い高周波透過部材を実現できる。
【0020】さらに、本発明のプラズマ装置は、少なく
とも真空容器と、ガス導入装置と、プラズマ発生装置
と、被処理物を保持する固定治具とを具備するプラズマ
装置であって、該プラズマ装置の真空容器内に配置され
たプラズマに接する部材のうち少なくとも一つに本発明
の耐プラズマ部材、特に高周波透過部材として用いたこ
とを特徴とする。この構成により、信頼性の高いプラズ
マ装置が実現できる。
【0021】
【発明の実施の形態】本発明の耐プラズマ部材は、基体
と、中間層と、耐食性表面層とから構成される。基体
は、窒化珪素質焼結体からなり、中間層は、酸化珪素お
よび/または周期律表第3a族元素と珪素との複合酸化
物を少なくとも含んでいる。また、耐食性表面層は、金
属のフッ化物、酸化物および窒化物のうち少なくとも1
種からなることが重要である。
【0022】特に、基体の窒化珪素質焼結体は、窒化珪
素を主成分とし、少なくとも周期律表第3a族元素を含
有し、アルミニウムの含有量が酸化物換算量で全量中3
重量%以下であることが、低誘電損失で高強度を実現す
る上で好ましい。そして、この窒化珪素質焼結体の相対
密度が97%以上であることが望ましい。
【0023】本発明における基体を構成する窒化珪素質
焼結体は、窒化珪素からなる主結晶粒子とその粒界相に
より構成され、周期律表第3a族元素は、焼結体の粒界
を構成する成分としてガラス相あるいは結晶相を形成す
る。主結晶粒子の窒化珪素はα型、β型のいずれの結晶
相でも問題は無いが、粒界相は、耐熱性、耐熱衝撃性の
更なる向上のためには結晶質であることが好ましい。そ
して、基体の強度としては500MPa以上、好ましく
は800MPa以上、さらには1000MPa以上が好
ましく、耐熱衝撃性は500℃の急冷でも強度劣化しな
いことが望ましい。
【0024】例えば、周期律表第3a族化合物(以下R
Eで示すことがある)としては、Y、La、Ce、S
m、Dy、Ho、Er、Yb、LuおよびScなどの希
土類元素を含有していることが挙げられるが、これらの
中でも強度の点からイオン半径の小さいDy、Y、E
r、Yb、Lu等が望ましく、さらにY、Luが最も望
ましい。
【0025】窒化珪素質焼結体中の周期律表第3a族化
合物の含有量は、酸化物(RE23)換算で全量中1〜
10mol%が適当で、望ましくは1.5〜5mol
%、さらに好適には2〜4mol%である。また、相対
密度が97%以上、特に98%以上、さらには99%以
上であることが、耐熱衝撃性および強度を高める点で好
ましい。これは、相対密度が97%以上では、機械的強
度が高く、信頼性を高めることができるからである。
【0026】また、本発明の耐食性表面層は、高融点を
有することが必要であり、例えばフッ化物としては周期
律表第2a、3aおよび3b族元素、すなわち、Ca、
Mg、Ba、Sr、Sc、La、Ce、Y、Yb、A
l、InおよびFe、Ni、Co、Crなどの遷移金属
の群から選ばれる少なくとも1種のフッ化物、酸化物と
しては、周期律表第2a族、3a族、3b族元素からな
る酸化物、Si、Pb、Fe、Cr、Tiのうち少なく
とも1種と周期律表3b族元素との複合酸化物、窒化物
としてAlN、YNなどが挙げられる。これらの中で、
耐食性表面層は、製造の容易さからAl、Mg、Yおよ
びCaのうち少なくとも1種の金属からなる化合物(フ
ッ化物、酸化物および窒化物)が好ましく、特に耐プラ
ズマ性の観点からAlF3、MgF2、CaF2、Al2
3、MgO、Y23、Al3512(YAG)、MgA
24、AlNが好ましい。
【0027】これらの化合物(フッ化物、酸化物および
窒化物)は、プラズマと接してその一部が不純物となっ
て飛散するため、高純度であることが好ましい。そし
て、化合物を構成する元素以外の金属元素を100pp
m以下、特に10ppm以下、さらには1ppm以下で
あることが好ましい。また、主結晶相と粒界結晶相が異
なる場合にはエッチング速度が異なるため、粒界結晶相
のない構造、例えば気相合成で製造した膜がパーティク
ルを発生せず、耐食性を向上するために好ましい。
【0028】耐食性表面層は、プラズマに曝されて時間
と共に徐々に消耗していく。したがって、耐食性表面層
の厚みは、製品にもよるが、最低厚みは1μm、特に1
0μm、さらに30μmが好ましく、50μm以上が最
も好適である。また、最大厚みは2000μm、特に1
000μm、さらに500μmが好ましく、300μm
が最も好適である。
【0029】さらに、本発明の中間層は、基体と耐食性
表面層との密着性を改善するために基体と耐食性表面層
との間に設けられており、酸化珪素および/または周期
律表第3a族元素(以下REと示すことがある)と珪素
(以下Siと示すことがある)との複合酸化物であるこ
とが重要である。特に、希土類モノシリケート(RES
iO5)、希土類ダイシリケート(RESi27)等の
希土類シリケートの群から選ばれる少なくとも1種を中
間層に用いればよい。この中で、特に希土類モノシリケ
ートおよび/または希土類ダイシリケートが好適であ
る。
【0030】この中間層の厚みは、製品にもよるが、最
低厚みが、0.1μm、好ましくは0.5μm、さらに
は1μm、特に2μmであり、最大厚みが200μm、
好ましくは100μm、さらに50μm、特に30μm
である。
【0031】以上のように構成された本発明の耐プラズ
マ部材では、耐熱性、耐熱衝撃性および耐食性に優れ、
高強度かつ低誘電損失であるため、プラズマに与える影
響を小さくし、部材の信頼性を高めるとともに長い製品
寿命を実現できる。そして、反応性ガスに高電力あるい
はマイクロ波を印加してプラズマを発生させる装置に使
用される耐プラズマ部品、マイクロ波導入部品などに好
適に用いることができ、その結果、プラズマ装置の信頼
性を格段に高められると同時に、より高電力のマイクロ
波、ミリ波の導入、出力が可能になり、製造装置等の高
効率化、高性能化が図れる。
【0032】次に、プラズマ装置について、図1の概略
断面図に基づき説明する。図1のプラズマ装置1におい
て用いられるプラズマ装置1は、真空容器2と、ガス導
入装置に接続されたガス導入口3および排気口4と、プ
ラズマ発生装置に接続された導波管5と、ウエハ6を吸
着して固定する固定治具7と、マイクロ波を透過し、プ
ラズマ装置1内にプラズマを導くための高周波透過部材
8と、プラズマ容器9から構成されている。
【0033】本発明によれば、高周波透過部材8を図2
に示すように、窒化珪素質焼結体からなる基体11と、
SiO2または希土類元素と珪素との複合酸化物からな
る中間層12と、金属のフッ化物、酸化物および窒化物
のうち少なくとも1種からなる耐食性表面層13とから
構成し、取付治具14に固定している。
【0034】このような高周波透過部材として用いる場
合、基体11に用いられる窒化珪素質焼結体の周波数1
0GHzにおける誘電損失は、高周波透過特性の向上の
ため1×10-3以下であることが重要で、特に5×10
-4以下、さらには1×10-4以下あることが好ましい。
これは、10GHzにおける誘電損失が1×10-3以下
では、電磁波を透過し、耐プラズマ部材の温度上昇を抑
制することができ、その結果、プラズマエッチングは温
度に依存するため、耐プラズマ部材のエッチング速度を
小さく保つことができる。
【0035】また、基体11に用いられる窒化珪素質焼
結体中に存在するアルミニウムの酸化物換算量が3重量
%以下、特に2重量%以下、さらには1重量%以下、よ
り好適には0.5%以下、さらには実質的に含まれない
(0.1%以下)であることが望ましい。このアルミニ
ウム含有量は、焼結体の誘電損失に影響を与え、Al量
が少ないときに低誘電損失が得られやすく、アルミニウ
ムの酸化物換算量が3重量%以下であると、10GHz
における誘電損失が1×10-3以下に保つことが容易に
なる。
【0036】さらに、基体11に用いられる窒化珪素質
焼結体の相対密度は、耐熱衝撃性、強度および真空気密
性の点から相対密度が97%以上が好ましく、特に98
%以上、さらには99%以上が望ましい。これは、窓材
としての高周波透過特性が十分高く、透過部材の温度上
昇を抑制することができるからである。
【0037】このように構成された高周波透過部材は、
機械的特性、耐熱衝撃性に優れる窒化珪素質焼結体を基
体とし、耐プラズマ性を有する耐食性表面層を少なくと
もプラズマに晒される面に形成し、更に耐食性表面層と
基体との間に中間層が形成されることで過酷なプラズマ
条件にも耐えうる高信頼性を有する。また、10GHz
の高周波でも誘電損失(tanδ)が1×10-3以下の
低損失性の素材を使用することで優れた高周波透過性を
示すと同時に、これまで知られる窓材に比較して格段に
優れた耐熱衝撃性、耐熱性、高強度及び耐プラズマ性を
有する。したがって、かかる部材を用いることにより高
周波透過部材にクラック等が入ったり、真空気密性が低
下することを防ぎ、プラズマ装置の信頼性を格段に高め
られると同時に、より高電力のマイクロ波、ミリ波の導
入、出力が可能になり、製造装置等の高効率化、長寿命
化、高性能化が図れる。
【0038】なお、本発明の耐プラズマ部材および高周
波透過部材では、Si、REおよびAl以外の金属も基
体の窒化珪素質焼結体中に不純物として含有していても
構わない。しかし、多量に混入すると強度や誘電損失に
影響を与える恐れがあり、Si、REおよびAl以外の
金属含有量は合計で3重量%以下が好ましく、さらに好
ましくは2重量%以下、特に1重量%以下、より好適に
は0.5重量%以下、最も好適には0.1重量%以下で
ある。
【0039】特に、アルミニウムなどの陽イオン不純物
は、強度、耐熱性の点からも少ないほうが好ましく、F
e、Ni、Zn等の遷移金属は酸化物換算の合計で1重
量%以下、好ましくは0.5重量%以下、さらには0.
1重量%以下が良い。また、NaやKなどのアルカリ金
属は、誘電損失に影響を与える場合があるため、アルカ
リ金属量は0.1重量%以下であることが望ましい。
【0040】また、窒化珪素原料に吸着しているフッ素
(F)、塩素(Cl)は市販されている窒化珪素レベ
ル、即ち、0.1重量%以下であれば問題ないが、少な
いほうが好ましい。
【0041】さらに、本発明のプラズマ装置は、図1の
ように、少なくとも真空容器2と、ガス導入装置とプラ
ズマ発生装置と、被処理物を保持する固定治具7とを具
備するプラズマ装置1であって、本発明による耐プラズ
マ部材などを高周波透過部材8や耐プラズマ部材9など
のプラズマに接する部材に適用することを特徴としてい
る。
【0042】真空容器2とは、大気から分離され、容器
内部を1気圧未満の減圧状態を可能とするものであり、
特に、残留ガスの影響を考慮し、100Pa以下、さら
には1Pa以下の真空度が好ましい。そのためには、真
空排気を行うための真空ポンプを用いて、排気口4から
大気を排気して真空状態を達成し、ガスの導入に対して
は排気により容器内の圧力を一定に保つことができるも
のである。
【0043】また、ガス導入装置とは、少なくとも所望
のガスを真空容器2内に導入するための設備であり、一
般には、ガスボンベなどのガス供給設備から所定の流量
のガスを真空容器2内に導入する設備であり、ガス導入
口3はその一部となる。また、ガス流量は、通常マスフ
ローコントローラなどにより調整されている。
【0044】さらに、プラズマ発生装置とは、プラズマ
を発生するために必要な電場を形成するための設備で、
特に1MHz〜10GHz、特に0.4〜5GHz、さ
らには0.7〜2.6GHzの高周波の発生装置と、発
生した高周波を電極または装置に導く配線または導波管
である。図1において、マイクロ波発振機は図示してな
いが、発振機と接続した導波管5がプラズマ発生装置の
一部となる。
【0045】さらにまた、被処理物の固定治具7とは、
ウエハ6などの被処理物に対してエッチングや成膜など
の処理を行うために、ウエハ6を一定の位置に固定する
ものであり、サセプタや静電チャックなどを用いること
ができる。また、真空容器2内の真空度が低い場合に
は、真空チャックを用いても差し支えない。
【0046】なお、プラズマに接する部材とは、プラズ
マ中のイオンや活性種の影響を受け、腐食が進行する部
材をいい、特にプラズマ内部に配置された部材、プラズ
マを閉じこめる容器、あるいはプラズマとの間に遮断す
る物体の存在しないような部材などである。
【0047】このように構成されたプラズマ装置におい
て、前記のように本発明の耐プラズマ材や高周波透過部
材を用いることにより、過酷な環境に曝された部材の寿
命を長くし、部品交換までの時間を長くすることによっ
て、交換時の装置停止回数を減らしてスループットを高
めるとともに、部材にかかる費用を節約でき、その結果
低コストに大きく貢献できる。また、プラズマ中への不
純物混入を低下できるため、安定した処理が可能とな
る。
【0048】次に、本発明の耐プラズマ部材および高周
波透過部材を製造する方法について説明する。
【0049】まず、窒化珪素粉末を準備する。窒化珪素
粉末としては、α−Si34、β−Si34のいずれの
結晶でも良く、その粒径が0.4〜1.2μmでかつ酸
素を0.5〜1.5重量%の範囲で含有しているものを
用いることが好ましい。
【0050】そして、この窒化珪素粉末に対し、焼結助
剤として周期律表第3a族元素の酸化物を2〜15重量
%、酸化アルミニウムは無添加または添加する場合には
3重量%以下の割合でそれぞれ添加するとともに、所望
により酸化珪素を加える。
【0051】これらの範囲で調合した原料粉末に対し
て、エタノールやイソプロピルアルコール等の有機溶剤
及びバインダーを加えたあと、公知の粉砕方法、例えば
ボールミル、振動ミル、回転ミル、バレルミル等により
原料粉末を均一に混合粉砕したものを、一軸加圧成形法
や等加圧成形法、あるいは鋳込み成形法、押出成形法、
射出成形法、冷間静水圧プレス等の公知のセラミック成
形手段にて所望の形状に形成した成形体を製作する。こ
の時、必要に応じて成形体に切削加工を施して良い。
【0052】次に、得られた成形体を、窒素中で窒化珪
素の分解を抑制し得る条件下で焼成することが必要で、
常圧焼成(PLS)法、窒素ガス加圧焼成(GPS)
法、熱間静水圧焼成(HIP)法など周知の焼成法を採
用することができる。例えば、1600〜2000℃の
温度範囲で相対密度97%以上が達成されるように焼成
する。得られた焼結体を任意の形状に加工して基体とし
て用いることができる。
【0053】そして、基体の少なくとも一方の表面に、
まず中間層としてRESiO5、RESi27等の希土
類シリケートまたは酸化珪素を形成する。これらの酸化
物は2種以上の混合物であっても何ら問題はない。この
中間層は、スパッタ法やCVD等の気相合成法で被覆し
ても良いが、製造方法の容易さから酸化雰囲気中での熱
処理、例えば1100℃以上の温度で1〜48時間保持
することで容易にRESiO5、RESi27等の希土
類シリケートまたは酸化珪素を形成できる。この中間層
の厚さは、熱処理温度と保持時間を調整して決定でき
る。
【0054】次に、この中間層の上にAlF3、Mg
2、Al23、MgO、Y23、Al 3512(YA
G)、MgAl24およびAlNなどからなる耐食性表
面層を、CVD法、PVD法、プラズマ溶射法等周知の
方法で形成する。膜厚を5〜2000μmと厚くするた
め、高速成長を容易に行うことができるCVD法が好ま
しい。ここで、耐食性表面層は、非晶質よりも結晶質が
耐食性の面で好ましいため、膜製造時の温度を調整して
結晶を得ることが好ましい。
【0055】また、特に、透過部材に供する場合には、
耐食性表面層と中間層、中間層と基体の境界には密着不
良等による隙間等がなく、中間層の内部にも気孔の極め
て少なくなるように製造条件を調整することが望まし
い。そのような隙間があると高周波が隙間で変化した
り、エネルギーが集中したりし、高周波透過性に大きく
影響するからである。また、耐食性表面層と中間層との
厚さはそれぞれ均一であることが好ましい。また、高真
空下で揮発する有機化合物成分が残存しないようにする
必要がある。
【0056】
【実施例】実施例1 イミド分解法にて製造されたα率95%で平均粒径0.
7μmの高純度窒化珪素原料(遷移金属不純物総量10
0ppm以下、Al量20ppm以下)と焼結助剤とし
て純度99.9%以上、平均粒径1.0μmのAl
23、平均粒径0.1μmのSiO2、平均粒径1.5
μmの周期律表第3a族元素酸化物(RE2 3)を使用
し、表1に示す組成に秤量した。このうち、SiO2
窒化珪素原料中の不純物酸素をSiO2換算したものも
含めた。
【0057】秤量した粉末を所定量ポリエチレン製50
0mlポットにいれウレタンボールを用い、IPA(イ
ソプロパノール)を有機溶媒としてバインダーと共に7
2時間回転ミルにて混合、粉砕し、得たスラリーをスプ
レードライして造粒粉末を得た。この造粒粉末を、金型
プレスを用いて1ton/cm2の成形圧で直径80m
m、厚さ4mmの形状に成形し、得られた成形体を50
0℃にて脱脂後、焼成した。焼成は、1900℃で5時
間の9気圧窒素中(GPS法)にて行った。
【0058】得られた窒化珪素質焼結体と、市販のアル
ミナ焼結体(Al23)、炭化珪素焼結体(SiC)お
よび酸化ジルコニウム焼結体(ZrO2)とを20mm
×20mm×5mm形状に加工した。次に、中間層を2
通りの方法で作製した。まず、一方では、Al23、S
iC、ZrO2を厚さ0.3〜0.5μmになるように
CVDでコーティングし、中間層を形成した。また、他
方では、基体表面に珪素と第3a族元素酸化物を塗布し
て1000℃〜1300℃の大気中熱処理により希土類
元素のモノシリケート、ダイシリケートまたは酸化珪素
を基体上に形成した。そして、耐食性表面層としてAl
23とAlF3をプラズマ溶射法にて表1の厚さになる
ようコーティングし、中間層を形成した。
【0059】中間層の結晶性は、X線回折により同定し
た。中間層厚さは断面を切断後SEM(走査電子顕微
鏡)で測定した。表中で、YSは希土類モノシリケート
を、また、Y2Sは希土類ダイシリケートを表してい
る。
【0060】また、窒化珪素の相対密度はアルキメデス
法により測定した嵩密度と調合組成から算出した理論密
度比から求めた。
【0061】さらに、2.45GHz、2kWの出力が
可能なECRプラズマリアクターを用いて、得られた試
料の耐プラズマテストを行った。試料はAlF3がプラ
ズマと面するように設置し、CF4、CHF3及びArの
混合ガス中で2時間プラズマにさらし、厚みの変化をマ
イクロメーターで測定して、エッチング率を算出した。
【0062】また、更に同一条件で耐久テストを最大2
00時間行い、耐食性表面層のクラックまたは剥離まで
の時間を測定した。さらに、焼結体の一部から中心部を
切り出し、ICP分析からAl量を定量しアルミナ(A
23)換算した。結果を表1に示す。
【0063】
【表1】
【0064】本発明の試料No.8〜24は、エッチン
グ率が6nm/min以下、耐久テストは200時間で
も変化がなかった。
【0065】一方、基体単体からなる本発明の範囲外の
試料No.1、中間層を持たない本発明の範囲外の試料
No.2および3、中間層としてAl23、SiCおよ
びZrO2を用いた本発明の範囲外の試料No.4〜7
は、エッチング率が11nm/min以上と大きく、ま
た耐久テストは13時間以下で剥離またはクラックが発
生していた。 実施例2 高周波透過部材としての材料テストを行った。すなわ
ち、まず、表2に示す組成の基体を、実施例1と同様の
方法で作製した。得られた焼結体に平面研削を施し、誘
電損失特性測定用として直径60mm、厚さ2mmの試
料に加工して、評価用試料とした。誘電損失の測定は空
洞共振器測定法により10GHzの共振周波数にて測定
した。
【0066】次に、直径60mmの誘電特性評価試料に
対して、1200℃24時間大気中で酸化処理し、厚さ
1μmのRE2Si27とRESiO5からなる中間層と
して被膜した。その後、各種セラミック粉末を減圧プラ
ズマ溶射法あるいはCVD法により表2に示した厚みで
被膜し耐食性表面層を形成させた。
【0067】耐プラズマ高周波透過性は、2.45GH
z、2kWのECRプラズマリアクター中のマイクロ波
の高周波透過部材として耐食性表面層がプラズマに面す
るように固定し、実施例1と同様の条件で2時間プラズ
マを発生させ、高周波透過部材のプラズマに晒された面
のエッチング率を算出し、試料の外観観察を行ってクラ
ックとパーティクル発生状況を調べた。なお、高周波透
過部材の温度は、外周部を熱電対で測定し、最大温度を
選んだ。
【0068】なお、他の評価法は実施例1と同様の方法
で行った。評価結果を表2に示した。
【0069】
【表2】
【0070】本発明の試料No.28〜35、37〜4
1、43〜51は、高周波透過部材の温度が39℃以
下、テスト後の外観は異常が見られなかった。
【0071】一方、耐食性表面相が金属(Al)で本発
明の範囲外の試料No.36は、耐食性表面相が剥離し
た。また、耐食性表面層がなく、誘電損失が10×10
-4を越え、本発明の範囲外の試料No.42は、高周波
透過部材の温度が80℃で、テスト後の外観に異常が見
られた。さらに、耐食性表面層のない本発明の範囲外の
試料No.52は、テスト後にの外観でパーティクルが
見られた。
【0072】
【発明の効果】本発明の耐プラズマ部材および高周波透
過部材は、窒化珪素を基体とし、基体上に中間層を介し
て耐食性表面層を形成し、密着性を向上することによっ
て、プラズマに対する耐食性が高く、低誘電損失、高強
度であり、製品寿命の長い耐プラズマ部材および高周波
透過部材が可能である。また、本発明のプラズマ装置
は、上記の耐プラズマ部材および/または高周波透過部
材を用いることによって信頼性を高くできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のプラズマ装置の概略断面図である。
【図2】本発明の高周波透過部材の断面図である。
【符号の説明】
1・・・プラズマ装置 2・・・真空容器 3・・・ガス導入口 4・・・排気口 5・・・導波管 6・・・ウエハ 7・・・固定治具 8・・・高周波透過部材 9・・・耐プラズマ部材 11・・・基体 12・・・中間層 13・・・耐食性表面層 14・・・取付治具

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】窒化珪素質焼結体からなる基体の表面に、
    SiO2または周期律表第3a族元素と珪素との複合酸
    化物からなる中間層を介して、金属のフッ化物、酸化物
    および窒化物のうち少なくとも1種からなる耐食性表面
    層を形成してなることを特徴とする耐プラズマ部材。
  2. 【請求項2】前記窒化珪素質焼結体が、窒化珪素を主成
    分とし、少なくとも周期律表第3a族元素を含有し、ア
    ルミニウムの含有量が酸化物換算量で全量中3重量%以
    下であるとともに、相対密度が97%以上であることを
    特徴とする請求項1記載の耐プラズマ部材。
  3. 【請求項3】前記基体の10GHzにおける誘電損失が
    1×10-3以下である請求項1または2記載の耐プラズ
    マ部材からなることを特徴とする高周波透過部材。
  4. 【請求項4】少なくとも真空容器と、ガス導入装置と、
    プラズマ発生装置と、被処理物を保持する固定治具とを
    具備するプラズマ装置であって、該プラズマ装置の真空
    容器内に配置されたプラズマに接する部材のうち少なく
    とも一つが、請求項1または2記載の耐プラズマ部材で
    あることを特徴とするプラズマ装置。
  5. 【請求項5】前記プラズマ装置の真空容器内に配置され
    たプラズマに接する部材のうち少なくとも一つが、請求
    項3の高周波透過部材であることを特徴とするプラズマ
    装置。
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