JP2001102254A - 固体電解コンデンサ及びその製造方法 - Google Patents
固体電解コンデンサ及びその製造方法Info
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Abstract
た電気的特性を得ることができる固体電解コンデンサ及
びその製造方法を提供する。 【解決手段】 化成、コンデンサ素子形成に続いて、こ
のコンデンサ素子のサイズに合わせて最適な含浸量を選
定し、その含浸量で、EDTと酸化剤をコンデンサ素子
に含浸する。具体的には、コンデンサ素子の長さが径よ
り小さい場合には、EDTと酸化剤の含浸量を、コンデ
ンサ素子に含浸し得る液体の最大容量の85%以上と
し、特に、コンデンサ素子の長さと径の比が0.9以下
の場合には、90%以上とする。また、この含浸は、コ
ンデンサ素子に対してEDTと酸化剤の混合溶液(重合
液)を注入するか、コンデンサ素子に対してEDTと酸
化剤溶液を交互に注入することによって行う。含浸後、
重合反応させ、PEDTからなる固体電解質層を生成す
る。続いて、コンデンサ素子を外装ケースへ挿入し、樹
脂封止した後、エージングを行う。
Description
サ及びその製造方法に係り、特に、優れた電気的特性を
得ることができるように、コンデンサ素子のサイズによ
って、モノマー及び酸化剤の含浸量を変えた固体電解コ
ンデンサ及びその製造方法に関するものである。
電性を有する固体の電解質を用いるもので、なかでも二
酸化マンガンや7,7,8,8−テトラシアノキノジメ
タン(TCNQ)錯体を用いた固体電解コンデンサが知
られている。その一方で、固体電解質として各種の導電
性高分子についての検討が重ねられており、反応速度が
緩やかで、かつ陽極電極の酸化皮膜層との密着性に優れ
たポリエチレンジオキシチオフェン(以下、PEDTと
記す)に着目した技術(特開平2−15611号公報)
が存在している。
Tからなる固体電解質層を形成するタイプの固体電解コ
ンデンサは、化成→コンデンサ素子形成→浸漬法による
EDTと酸化剤の含浸→重合→外装ケースへの挿入→樹
脂封止→エージングという製造工程によって作製され
る。以下には、この製造工程について、図5および図6
を参照して簡単に説明する。
の弁作用金属からなる陽極箔1の表面を塩化物水溶液中
での電気化学的なエッチング処理により粗面化して、多
数のエッチングピット8を形成した後、ホウ酸アンモニ
ウム等の水溶液中で電圧を印加して誘電体となる酸化皮
膜層4を形成する(化成)。陽極箔1と同様に、図5に
示すような陰極箔2も、アルミニウム等の弁作用金属か
らなるが、その表面にはエッチング処理を施すのみであ
る。また、図5に示すように、陽極箔1および陰極箔2
には、それぞれの電極を外部に接続するためのリード線
6、7を、ステッチ、超音波溶接等の公知の手段により
接続する。
4が形成された陽極箔1とエッチングピット8のみが形
成された陰極箔2とを、図5に示すようにセパレータ3
を介して巻回して、コンデンサ素子10を形成する。そ
して、このコンデンサ素子10を3,4−エチレンジオ
キシチオフェン(以下、EDTと記す)と酸化剤の混合
溶液(重合液)に浸漬することにより、この重合液をコ
ンデンサ素子10に含浸する。あるいはまた、コンデン
サ素子10をEDTと酸化剤溶液に交互に浸漬して含浸
する。いずれの場合でも、コンデンサ素子10にEDT
と酸化剤を含浸した後、重合反応させ、図6に示すよう
なPEDTからなる固体電解質層5を生成する。
い外装ケースに挿入し、この外装ケース内にエポキシ樹
脂等の熱硬化性樹脂を付着して熱硬化させることによっ
て、コンデンサ素子10の外周に外装樹脂を被覆し(樹
脂封止)、固体電解コンデンサを完成する。なお、この
ように樹脂封止を行うと、酸化皮膜層4が損傷して漏れ
電流特性が低下するため、樹脂封止後に、コンデンサ定
格電圧に応じた電圧を印加して高温のエージングを行う
ことにより酸化皮膜層4を修復し、特性の向上を計って
いる。
ショートの発生及び静電容量が小さく、等価直列抵抗
(ESR)が高く、バラツキも大きいといった問題を解
決するために、本出願人は、コンデンサ素子に対するE
DTと酸化剤の含浸量の最適範囲に関する発明につい
て、先に特許出願した。
法によるコンデンサの製造段階において、コンデンサ素
子の状態の詳細な観察と電気的特性の測定とを重ねるこ
とにより、ショートの発生や電気的特性の低下の原因が
PEDTの形成不良にあるものと推測し、この不良の分
析と状態改善のために検討した結果、なされたものであ
る。
と酸化剤の含浸量を、コンデンサ素子に含浸し得る液体
の最大容量の75〜85%の範囲内に限定することによ
り、コンデンサ素子内部にPEDTが良好に形成される
ため、十分な静電容量を保持できると共に、等価直列抵
抗(ESR)を低く維持することができるというもので
ある。
解コンデンサのタイプは種々あることから、本発明者
は、種々の固体電解コンデンサについて、モノマーと酸
化剤の含浸量をコンデンサ素子が含浸し得る量の75〜
85%の範囲内として、それぞれ電気的特性を調べたと
ころ、コンデンサ素子のサイズによって、ESRの値が
変動することが判明した。
を解決するために提案されたものであり、その目的は、
コンデンサ素子のサイズによって、モノマーと酸化剤の
含浸量を適切に調整することにより、ショートの発生を
防止し、しかも、十分な静電容量を保持すると共に、等
価直列抵抗(ESR)を低く維持することができる固体
電解コンデンサ及びその製造方法を提供することにあ
る。
解決すべく、コンデンサ素子のサイズ(長さと径の比)
と、モノマーと酸化剤の含浸量及びESRとの関係につ
いて鋭意検討を重ねた結果、本発明を完成するに至った
ものである。すなわち、本発明者は、コンデンサ素子の
長さ(L)と径(R)の比を種々変え、所望のESR値
が得られる含浸量を調べた結果、コンデンサ素子の長さ
が径より小さい場合に、コンデンサ素子に対するモノマ
ーと酸化剤の含浸量を、コンデンサ素子に含浸し得る液
体の最大容量の85%以上とすることが望ましく、特
に、コンデンサ素子の長さと径の比(L/R)が0.9
以下の場合には、モノマーと酸化剤の含浸量を、コンデ
ンサ素子に含浸し得る液体の最大容量の90%以上とす
ることが望ましいことが判明した。
剤の含浸量は、以下のようにして変化させた。すなわ
ち、まず、ブタノールをコンデンサ素子に染み込ませ、
その重量を測定し、密度から体積に換算することで、素
子の溶液保持体積を計算した。その体積から、モノマー
及び酸化剤の注入量(含浸量)を計算し、その値に基づ
いて重合液の注入量を種々変化させた。
(R)の比が大きい場合 巻回したコンデンサ素子が横置きタイプで、コンデンサ
素子の長さが径より大きい場合、言い換えれば、コンデ
ンサ素子の長さと径の比が大きい場合に、含浸量を90
%以上とすると、ESRは上昇することが分かった。例
えば、本出願人が先に特許出願した明細書に示したよう
に、コンデンサ素子の長さが4.0L、径が3.5φ
(L/R=1.1)の場合、EDTと酸化剤の含浸量が
コンデンサ素子が含浸し得る量の75〜85%である
と、ESRは0.045〜0.049であったのに対
し、含浸量を90%以上とすると、ESRは0.062
〜0.080に上昇した。
なわち、固体電解質の重合反応の際に、コンデンサ素子
内の酸化剤の溶媒が蒸発するが、コンデンサ素子の径が
長さに対して小さいので、この溶媒の外部への蒸散経路
は長く、狭くなる。このため、含浸量を90%以上とす
ると、コンデンサ素子内の酸化剤の溶媒が蒸発する際
に、モノマー、酸化剤又はポリマーをコンデンサ素子の
外部へ押し出す要因となり、ポリマーの形成が良好に行
われず、ESRが上昇すると考えられる。
5%とすると、酸化剤の溶媒の量も少なくなり、乾燥、
揮発する溶媒の量も減少するので、溶媒が揮発する際に
コンデンサ素子の外表面に押し出されるEDTもしくは
酸化剤の量も少なくなる。その結果、コンデンサ素子内
部に形成されるPEDTの量が減少することはなく、十
分な量のPEDTが良好に形成されるため、静電容量が
低下することもなく、等価直列抵抗(ESR)が上昇す
ることもないと考えられる。
(R)の比が小さい場合 巻回したコンデンサ素子が縦置きタイプで、コンデンサ
素子の長さが径より小さい場合、言い換えれば、コンデ
ンサ素子の長さと径の比が小さい場合に、含浸量を75
〜85%とするとESRが上昇し、含浸量を85%以上
とすると、ESRは低下することが判明した。その理由
は、以下の通りと考えられる。すなわち、コンデンサ素
子の径が長さに対して大きいので、コンデンサ素子内の
酸化剤の溶媒の外部への蒸散経路は短く、広くなる。こ
のため、含浸量を85%以上としても、この溶媒が蒸発
する際に、モノマー、酸化剤又はポリマーがコンデンサ
素子の外部へ押し出されることはなく、また、含浸量を
多くしたことにより、コンデンサ素子内に形成されるポ
リマーは多くなるので、ESRは低下すると考えられ
る。
5〜85%とした場合にESRが上昇したのは、巻回し
た電極箔を伸ばした状態において、電極箔の幅に対して
その長さが長くなるために、電極箔の抵抗分が大きくな
るためであると考えられる。
した従来技術の手順と同様である。すなわち、図6に示
すように、陽極箔1を粗面化してその表面に酸化皮膜層
4を形成する(化成)と共に、陰極箔2を粗面化し、こ
れらの陽極箔1と陰極箔2をセパレータ3を介して巻回
して、コンデンサ素子10を形成する。
合わせて最適な含浸量を選定し、その含浸量で、EDT
と酸化剤をコンデンサ素子10に含浸する。この含浸
は、コンデンサ素子10に対してEDTと酸化剤の混合
溶液(重合液)を注入することによって行う。あるいは
また、コンデンサ素子10に対してEDTと酸化剤溶液
を交互に注入するか、酸化剤溶液とEDTを交互に注入
することによって行う。いずれの場合でも、注入は、コ
ンデンサ素子10に対してシリンジから液体を吐出する
方法で行う。このようにして、コンデンサ素子10にE
DTと酸化剤を含浸した後、重合反応させ、図6に示す
ようなPEDTからなる固体電解質層5を生成する。
サ素子1を、図示していない外装ケースに挿入し、この
外装ケース内にエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を付着し
て熱硬化させることによって、コンデンサ素子10の外
周に外装樹脂を被覆し(樹脂封止)、固体電解コンデン
サを完成する。そして、この後に、コンデンサ定格電圧
に応じた電圧を印加して高温のエージングを行うことに
より、樹脂封止に起因して損傷した酸化皮膜層4を修復
する。
剤を含浸する際の含浸法を検討したところ、EDTと酸
化剤の混合溶液を含浸することもできるし、EDTと酸
化剤を個別に順次含浸する(EDTを含浸した後に酸化
剤溶液を含浸するか、あるいは、酸化剤溶液を含浸した
後にEDTを含浸する)こともできることが判明した。
EDTの含有率の許容可能な範囲は、5〜40wt%で
あり、酸化剤溶液の含有率の許容可能な範囲は、60〜
95wt%である。また、EDTを含浸した後に酸化剤
溶液を含浸する場合に、EDTのみを含浸することも可
能であるが、EDTと揮発性溶媒とを混合したモノマー
溶液を含浸することも可能である。このモノマー溶液の
溶媒としては、炭化水素類、エーテル類、ケトン類、ア
ルコール類、窒素化合物等の揮発性溶媒が用いられる。
釈することにより以下のような利点がある。すなわち、
コンデンサ素子の容量に対して、含浸するEDTの量が
少ないと、EDTを注入しても素子全体に含浸されない
ことがある。しかしながら、このような場合、揮発性溶
媒で希釈すれば、注入する容量を増加させることがで
き、このことによって、コンデンサ素子全体に含浸させ
ることができ、コンデンサ素子の内部により緻密で均一
なPEDTを形成することができる。
と酸化剤の含浸に際して、シリンジから含浸液を吐出し
てコンデンサ素子に注入しているが、含浸液の具体的な
注入法は適宜選択可能である。また、EDTと酸化剤の
含浸は、このような注入法に限定されるものではなく、
浸漬法を採用することも可能であるが、一般的には注入
法を採用することが望ましい。すなわち、注入法を採用
した場合の方が、第1に、含浸する液量の管理が容易で
あり、第2に、原料効率が低下することがない。第3
に、酸化剤の特性の変化がないので、安定した特性を得
ることができる。また、ショートの発生もない。
によって、コンデンサ素子に含浸し得る液体の最大容量
に対してEDTと酸化剤の含浸量の範囲を限定するもの
であるため、具体的な酸化剤や溶媒の種類は適宜選択可
能である。これに関連して、コンデンサ素子に含浸する
重合液中におけるEDTと酸化剤の含有率は、前述した
許容範囲内で自由に選択可能である。すなわち、EDT
の含有率の許容可能な範囲は5〜40wt%であり、酸
化剤溶液の含有率の許容可能な範囲は60〜95wt%
である。
ンデンサとして、次の表1に示す製造仕様により、ED
Tと酸化剤の含浸量の異なる複数種類の固体電解コンデ
ンサを作製した。
ち、重合液の注入量の異なる複数種類の固体電解コンデ
ンサとしては、コンデンサ素子に含浸し得る液体の最大
容量に対して、重合液の注入量をそれぞれ、81%(比
較例1)、88%(比較例2)、94%(実施例1)と
してPEDTを形成してなる3種類の固体電解コンデン
サを、それぞれ20個作製した。
いて、静電容量(Cap)、tanδ、漏れ電流(L
C)、等価直列抵抗(ESR)の初期特性をそれぞれ測
定したところ、図1〜図4に示す結果が得られた。な
お、図1〜図4に示した値は、20個の試料の平均値で
ある。また、各測定条件は、Cap:120Hz、ta
nδ:120Hz、LC:定格電圧2分、ESR:10
0kHzである。また、次の表2は、図1〜図4の結果
を集計した表である。
コンデンサ素子の長さ(L)と径(R)の比が“0.4
5”の場合、静電容量(Cap)については、比較例1
が36.5(μF)であるのに対し、比較例2が37.
5(μF)、本発明に係る実施例1は37.8(μF)
と高い値を示し、含浸量が多い方が良好な結果が得られ
た。また、表2および図4から明らかなように、等価直
列抵抗(ESR)については、比較例1及び比較例2が
それぞれ0.0238Ω、0.0228Ωとかなり高い
のに対し、実施例1は、0.0195Ωと格段に低くな
っている。
て、本発明に係る実施例1は、十分に高い静電容量を保
持すると共に、等価直列抵抗(ESR)を低く維持する
ことができることが分かった。
例1について、コンデンサ素子の保持体積に対する重合
液の注入量の割合と、生成されるPEDTの量を調べた
ところ、表3に示す結果が得られた。
素子の長さ(L)と径(R)の比が“0.45”の場
合、重合液の注入量が81%、88%ではPEDTの生
成量はそれぞれ4.5mg、4.7mgと少なかった
が、重合液の注入量を94%とした場合には、PEDT
の生成量は5.5mgと、比較例に比べて約22%も増
大した。
コンデンサ素子のサイズによって、モノマーと酸化剤の
含浸量を適切に調整することにより、ショートの発生を
防止し、しかも、十分な静電容量を保持すると共に、等
価直列抵抗(ESR)を低く維持することができる固体
電解コンデンサ及びその製造方法を提供することができ
る。
ンデンサについて、静電容量の初期特性を測定した結果
を示す図
ンデンサについて、tanδの初期特性を測定した結果
を示す図
ンデンサについて、漏れ電流(LC)の初期特性を測定
した結果を示す図
ンデンサについて、等価直列抵抗(ESR)の初期特性
を測定した結果を示す図
す分解斜視図
図
Claims (5)
- 【請求項1】 陽極電極箔と陰極電極箔とをセパレータ
を介して巻回したコンデンサ素子に、3,4−エチレン
ジオキシチオフェン(EDT)と酸化剤とを含浸してポ
リエチレンジオキシチオフェン(PEDT)を生成して
なる固体電解コンデンサにおいて、 前記コンデンサ素子の長さが径より小さい場合に、コン
デンサ素子に対する3,4−エチレンジオキシチオフェ
ン(EDT)と酸化剤の含浸量を、コンデンサ素子に含
浸し得る液体の最大容量の85%以上としたことを特徴
とする固体電解コンデンサ。 - 【請求項2】 コンデンサ素子の長さをL、径をRとし
たとき、L/Rが0.9以下の場合に、3,4−エチレ
ンジオキシチオフェン(EDT)と酸化剤の含浸量を、
コンデンサ素子に含浸し得る液体の最大容量の90%以
上としたことを特徴とする請求項1に記載の固体電解コ
ンデンサ。 - 【請求項3】 陽極電極箔と陰極電極箔とをセパレータ
を介して巻回したコンデンサ素子に、3,4−エチレン
ジオキシチオフェン(EDT)と酸化剤とを含浸してポ
リエチレンジオキシチオフェン(PEDT)を生成する
固体電解コンデンサの製造方法において、 コンデンサ素子の長さが径より小さい場合に、コンデン
サ素子に対する3,4−エチレンジオキシチオフェン
(EDT)と酸化剤の含浸量を、コンデンサ素子に含浸
し得る液体の最大容量の85%以上としたことを特徴と
する固体電解コンデンサの製造方法。 - 【請求項4】 コンデンサ素子の長さをL、径をRとし
たとき、L/Rが0.9以下の場合に、3,4−エチレ
ンジオキシチオフェン(EDT)と酸化剤の含浸量を、
コンデンサ素子に含浸し得る液体の最大容量の90%以
上とすることを特徴とする請求項3に記載の固体電解コ
ンデンサの製造方法。 - 【請求項5】 コンデンサ素子への液体の含浸を、コン
デンサ素子に対して液体を注入する注入法によって行う
ことを特徴とする請求項3又は請求項4に記載の固体電
解コンデンサの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27741399A JP5000795B2 (ja) | 1999-09-29 | 1999-09-29 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
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JP2001102254A true JP2001102254A (ja) | 2001-04-13 |
JP5000795B2 JP5000795B2 (ja) | 2012-08-15 |
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JP (1) | JP5000795B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100439061B1 (ko) * | 2001-07-13 | 2004-07-05 | 장관식 | 고체 전해질 및 그의 제조방법 |
JP2004303941A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 導電性セパレータおよびそれを用いた電解コンデンサ |
JP2005109076A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Nippon Chemicon Corp | 固体電解コンデンサの製造方法 |
-
1999
- 1999-09-29 JP JP27741399A patent/JP5000795B2/ja not_active Expired - Fee Related
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KR100439061B1 (ko) * | 2001-07-13 | 2004-07-05 | 장관식 | 고체 전해질 및 그의 제조방법 |
JP2004303941A (ja) * | 2003-03-31 | 2004-10-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 導電性セパレータおよびそれを用いた電解コンデンサ |
JP4507500B2 (ja) * | 2003-03-31 | 2010-07-21 | パナソニック株式会社 | 電解コンデンサの製造方法 |
JP2005109076A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Nippon Chemicon Corp | 固体電解コンデンサの製造方法 |
JP4720074B2 (ja) * | 2003-09-30 | 2011-07-13 | 日本ケミコン株式会社 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
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